JP2000137114A - 光フィルタの製造方法 - Google Patents
光フィルタの製造方法Info
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- JP2000137114A JP2000137114A JP11238875A JP23887599A JP2000137114A JP 2000137114 A JP2000137114 A JP 2000137114A JP 11238875 A JP11238875 A JP 11238875A JP 23887599 A JP23887599 A JP 23887599A JP 2000137114 A JP2000137114 A JP 2000137114A
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Abstract
に変化し、かつ該角度θのほとんどすべての範囲にわた
って、利用可能な光フィルタの製造方法を提供するこ
と。 【解決手段】 誘電体材料による製膜時に、開口4aを
設けたマスク4あるいは基板1の一部の角度範囲を覆う
マスク5を用い、基板1に対してマスク4、5を相対的
に回転させながら誘電体材料を基板1上に堆積させて誘
電体膜2を形成する。これによって、光フィルタの回転
角度θに対して透過波長が直線的に変化し、かつ、回転
角度θのほとんどすべての範囲にわたって使用可能な光
フィルタを製造できる。
Description
料を単層あるいは多層堆積させてなる光フィルタの製造
方法に関するものである。
させてなる誘電体単層膜フィルタあるいは誘電体多層膜
フィルタは波長選択用光フィルタとして用いられる。こ
のような光フィルタにおいては、誘電体の膜厚を面内方
向に関して変化させることによって、透過波長の可変性
が実現されている。このような光フィルタは、図1のよ
うに円盤状の基板1上に誘電体膜2を堆積させる時に、
該誘電体膜厚を面内分布を与えて誘電体材料を堆積する
ことにより製造する。これにより、基板1の回転方向の
角度θ(=0〜2π)に対して透過波長が可変である光
フィルタを実現することが可能となる。
回転角度θに対して透過波長が直線的に変化することが
望ましい。従来の製造方法では、図2のような扇状に開
閉するシャッタ3を用いて、誘電体材料の堆積時間を角
度θに対して直線的に変化、すなわち、らせん階段状に
変化させる製膜方法が用いられていた。
扇状のシャッタ3を用いる方法では、基板1上に誘電体
が堆積されない角度θの領域が残ってしまう。すなわ
ち、シャッタ3を開き終えた状態においても、図3のよ
うに、最後までシャッタ3に覆われる領域が残るため、
その領域を光フィルタとして利用することができなかっ
た。またこの方法では、シャッタ3を開き終わるまで、
滑らかに動かすことが困難なため、十分な精度で誘電体
を堆積させることができなかった。このため、角度θの
ほとんどすべての範囲にわたって、利用可能である光フ
ィルタが実現できなかった。
回転方向の角度θに対して透過波長が直線的に変化し、
かつ該角度θのほとんどすべての範囲にわたって、利用
可能な光フィルタの製造方法を提供することにある。
め、本発明は、ディスク状光フィルタの製造方法であっ
て、基板に対して同軸回転中心で相対的に面内回転可能
で、半径方向に沿って開口角φの開口を有するマスクを
用い、基板に対してマスクを一定でない角速度で少なく
とも一回相対回転させながら、製膜室内でマスク側から
基板上に誘電体材料を単層あるいは多層に堆積させるこ
とを特徴とする光フィルタの製造方法を提供する。
に対する相対回転方向の角度θに対する前記誘電体材料
の所望の膜厚がT(θ)(0≦θ≦2π−φ)で、単位
時間当たりに堆積する前記誘電体材料の膜厚がaである
とき、前記基板に対する前記マスクの相対回転角度θの
関数として表された時間t(θ)が T(θ)=a[t(θ+φ)−t(θ)] を満たすように、前記基板に対して前記マスクを相対的
に1回回転させることを特徴とする。
に対する相対回転方向の角度θに対する前記誘電体材料
の所望の膜厚がT(θ)(0≦θ≦2π−φ)で、単位
時間当たりに堆積する前記誘電体材料の膜厚がaである
とき、前記基板に対する前記マスクの相対回転角度θの
関数として表された時間t(θ)が T(θ)=aN[t(θ+φ)−t(θ)] を満たすように、前記基板に対して前記マスクを相対的
にN回回転させることを特徴とする。
の製造方法であって、基板に対して同軸回転中心で相対
的に面内回転可能で、半径方向に沿って角度φの範囲を
覆うマスクを用い、基板に対してマスクを一定でない角
速度で少なくとも一回相対回転させながら、製膜室内で
マスク側から基板上に誘電体材料を単層あるいは多層に
堆積させることを特徴とする光フィルタの製造方法を提
供する。
に対する相対回転方向の角度θに対する前記誘電体材料
の所望の膜厚がT(θ)(0≦θ≦2π−φ)で、単位
時間当たりに堆積する前記誘電体材料の膜厚がaである
とき、前記基板に対する前記マスクの相対回転角度θの
関数として表された時間t(θ)が T(θ)=a[(t(2π)−t(0))−(t(θ+
φ)−t(θ))] を満たすように、前記基板に対して前記マスクを相対的
に1回回転させることを特徴とする。
に対する相対回転方向の角度θに対する前記誘電体材料
の所望の膜厚がT(θ)(0≦θ≦2π−φ)で、単位
時間当たりに堆積する前記誘電体材料の膜厚がaである
とき、前記基板に対する前記マスクの相対回転角度θの
関数として表された時間t(θ)が T(θ)=aN[(t(2π)−t(0))−(t(θ
+φ)−t(θ))] を満たすように、前記基板に対して前記マスクを相対的
にN回回転させることを特徴とする。
を異なる屈折率を有する誘電体材料を用いて繰り返すこ
とにより、基板上に多層構造を形成することを特徴とす
る。
速度をモニタ手段を用いてモニタし、該モニタ手段の出
力に基づいて前記マスクの前記基板に対する相対回転速
度を帰還制御することを特徴とする。
たエンコーダマークを読み取り手段を用いて読み取り、
該読み取り手段の出力に基づいて前記マスクの前記基板
に対する相対回転を制御することを特徴とする。
は、気密保持手段を介して製膜室の外部から前記マスク
または基板に接続されたモータにより回転されることを
特徴とする。
またはマスクに前記モータからの回転力を伝達する手段
とからなる搬送ユニットの形で、前記基板を製膜室にセ
ットすることを特徴とする。
まれた前記基板上の回転中心を前記モータから基板に回
転力を伝達する回転軸に一致させて前記搬送ユニットを
製膜室内にセットすることを特徴とする。
トを製膜室の前室に収納し、前記誘電体材料の堆積の前
後において、製膜室の真空状態を破ることなく該前室か
ら各搬送ユニットを製膜室に順次搬入および搬出するこ
とを特徴とする。
は、電子ビーム蒸着法、電子サイクロトロン共鳴スパッ
タリング法、イオンアシスト電子ビーム蒸着法、真空蒸
着法、イオンビームスパッタリング法、高周波スパッタ
リング法のいづれか一つの方法により前記誘電体材料を
堆積させることを特徴とする。
て、本発明の光フィルタ製造方法の第一の実施形態につ
いて説明する。
誘電体を堆積させる際に、基板1の回転方向に対し角度
φの開口4aを設けたマスク4を用いて基板1を覆い、
基板1に対してマスク4を回転させるようにした。
を、回転方向に関して直線的に表した原理図である。図
5では、簡単のためマスク4の開講4a周辺部分のみを
示しているが、実際には開口4a下の範囲以外はすべて
マスク4によって覆われているものである。角度θ=0
から出発して角度θに達する時刻をt(θ)とする。誘
電体が単位時間に対し一定の膜厚で堆積される場合、角
度θ(=0〜2π−φ)における膜厚T(θ)は開口4
a下にさらされる時間に比例する。従って、膜厚T
(θ)と時刻t(θ)の関係は差分方程式 T(θ)=a[t(θ+φ)−t(θ)] (1) で表される。但し、aは単位時間当たりに堆積する膜厚
である。
足するt(θ)を求めることにより実現可能である。マ
スク4の運動θ(t)はt(θ)の逆関数で与えられる
ため、t(θ)は0≦θ≦2πにおいて単調増加関数で
あることが要求される。
りに対応する角度2π−φ≦θ≦2π範囲で、所望の膜
厚変化T(θ)との食い違いが生じるが、φを2πに対
し十分小さくすることにより、θのほとんどすべての範
囲で所望の膜厚分布T(θ)を実現することが可能とな
る。
位置θの膜厚は、開口の右端がθを通過してから左端が
θを通過するまでの時間に比例する。これとは逆に、角
度範囲2π−φ≦θ<2πでは、角度位置θを先に開口
の左端が通過し、開口の一回転の最後に右端が通過す
る。開口が図8、9に従って運動する時、角度範囲0≦
θ<2π−φでは開口の右端の通過速度は左端の通過速
度より常に速いので、角度位置θが大きくなるにつれて
膜厚は増加する。これとは逆に、角度範囲2π−φ≦θ
<2πでは、開口の右端の通過速度は左端の通過速度よ
り遅いので、角度位置θが大きくなるにつれて膜厚は減
少する。以上の理由により、図5に示すように、角度範
囲2π−φ≦θ<2πにおける膜厚の傾斜は、角度範囲
0≦θ<2π−φのそれとは異なる。
の光フィルタ製造方法の第二の実施形態について説明す
る。
誘電体を堆積させる際に、基板1の回転方向に対し角度
φの範囲を覆うマスク5を用い、基板1に対してマスク
5を回転させる。
ク5の回転を、回転方向に関して直線的に表した原理図
である。この場合、膜厚T(θ)と時刻t(θ)の関係
は差分方程式 で表される。ここでt(2π)−t(0)はマスク5の
回転周期を意味する。この場合も前述の方法と同様に、
任意の膜厚分布Tθ)を(2)式を満足するt(θ)を
求めることにより実現可能である。
る角度2π−φ≦θ≦2πの範囲で、所望の膜厚変化T
(θ)との食い違いが生じるが、φを2πに対し十分小
さくすることにより、θのほとんどすべての範囲で所望
の膜厚分布T(θ)を実現することが可能となる。
位置θの膜厚は、マスクの右端がθを通過してから左端
がθを通過するまでの時間に比例する。これとは逆に、
角度範囲2π−φ≦θ<2πでは、角度位置θを先にマ
スクの左端が通過し、マスクの一回転の最後に右端が通
過する。開口が図10、11に従って運動する時、角度
範囲0≦θ<2π−φではマスクの右端の通過速度は左
端の通過速度より常に遅いので、角度位置θが大きくな
るにつれて膜厚は増加する。これとは逆に、角度範囲2
π−φ≦θ<2πでは、マスクの右端の通過速度は左端
の通過速度より速いので、角度位置θが大きくなるにつ
れて膜厚は減少する。以上の理由により、図7に示すよ
うに、角度範囲2π−φ≦θ<2πにおける膜厚の傾斜
は、角度範囲0≦θ<2π−φのそれとは異なる。
いて、堆積すべき誘電体材料に対してt(θ)を選択す
ることにより、1つマスク4または5で様々な膜厚分布
T(θ)を実現することが可能である。
際に、図4または図6に示すように、固定された基板1
に対してマスク4または5を回転させたが、逆に、固定
されたマスク4または5に対して基板1を回転させるよ
うにしてもよい。
の光フィルタ製造方法の具体例について説明する。
4aをもつマスク4を用いて、図5に示されるような回
転角度θ(0≦θ≦2π−φ)に対し直線的に変化する
膜厚分布 T(θ)=αθ+β を実現する第一の具体例を示しており、この場合、マス
ク4を(1)式を満足する解 t(θ)=pθ2 +qθ に従って回転させる。t(θ)は図8に示されるような
グラフを描く。時間に対する角度変化はt(θ)の逆関
数で、図9のように表される。但し、p=α/(2a
φ)、および、q=1/a(β/φ−α/2)である。
t(θ)は単調関数であるため、αおよびβは、β/α
≦φ/2の関係を満足する必要がある。
覆うマスク5を用いて、図7に示されるような回転角度
θ(0≦θ≦2π−φ)に対し直線的に変化する膜厚分
布 T(θ)=αθ+β を実現する第二の具体例を示しており、この場合、マス
クを(2)式を満足する解 t(θ)=pθ2 +qθ に従って回転させる。t(θ)は図10に示されるよう
なグラフを描く。但し、p=−α/(2aφ)、およ
び、q=1/a((aτ−β)/φ+α/2)で、τは
マスクの回転周期t(2π)−t(0)を表す。時間に
対する角度変化はt(θ)の逆関数で、図11のように
表される。第一の具体例と同様に、t(θ)は単調関数
であるため、αおよびβは、(β−aτ)/α<φ/2
の関係を満足する必要がある。
対し均一、すなわち、 T(θ)=T0 である第三の具体例を示しており、この場合、 t(θ)=T0θ/α は(1)式を満足する。図12に示されるように、マス
クの運動θ(t)は等速運動であるため、角度2π−φ
≦θ≦2πの範囲における、膜厚のT(θ)からの食い
違いは生じない。
ク4、5を1回転させて所望の膜厚分布T(θ)を得て
いるが、図13に示す第四の具体例では、同じ膜厚分布
T(θ)を得るのにマスク4、5を複数回回転させる。
図4のように角度φの開口4aをもつマスク4を用いる
場合、このマスク4の一回転でT(θ)/Nの膜厚分布
が得られる条件 T(θ)=aN[t(θ+φ)−t(θ)] (3) を満足するt(θ)を求め、図13で示されるような周
期的な回転速度でマスク4をN回転させれば、第一およ
び第二の具体例の場合と同様にT(θ)の膜厚分布を得
ることが可能となる。同様に、図6のように角度φを覆
うマスク5を用いる場合、このマスク5の1回転でT
(θ)/Nの膜厚分布が得られる条件 を満足するt(θ)を求め、マスク5をN回転させれ
ば、同様にT(θ)の膜厚分布を得ることが可能とな
る。
の角速度は、1回転で得る場合と比べてN倍になる。
せる際に、図4あるいは図6に示すように、固定された
基板1に対してマスク4または5を回転させたが、逆
に、固定されたマスク4または5に対して基板1を回転
させる方法も可能である。開口4aをもつマスク4を用
いる場合、マスク4の開口部分4aは固定されていて、
その面積も比較的小さいため、膜厚分布の制御がより容
易になる。
誘電体材料で単層の誘電体膜を作成する場合について述
べたが、上記工程を異なる屈折率を有する複数の誘電体
材料を用いて繰り返すことにより基板上に多様な膜厚分
布の多層構造を形成することも可能である。この場合も
多様な膜厚分布を1種類のマスクを用いて実現すること
が可能である。また、マスクの基板に対する角速度を各
層毎に異なるようにして、各層の膜厚分布が異なるよう
にしてもよいし、一定膜厚の層を含むようにしてもよ
い。
場合には、製膜室内に堆積速度をモニタするモニタ手段
を設け、このモニタ手段の出力に基づいてマスクまたは
基板の回転速度を帰還制御してもよい。モニタ手段とし
ては、例えば、誘電体材料が水晶の振動面に堆積すると
振動周波数が小さくなる水晶振動子を用いることができ
る。帰還制御は、堆積速度が時間的に変動する場合、差
分方程式によりマスクの回転速度を堆積速度に比例して
増減させ、堆積速度が大きいときに回転速度が大きくな
るように行うことができる。これにより、堆積速度が一
定の場合と同様の製膜が可能となる。
は、誘電体材料の堆積時に基板を回転させる駆動手段
(モータ)に与える制御信号から検出できるが、より正
確には基板の回転を直接検出することが望ましい。この
ため、基板にエンコーダマークを付与しておき、製膜室
内にエンコーダマークを読み取る手段を設けて、このエ
ンコーダマークを読み取る手段から出力される信号に基
づいて、基板とマスクの相対回転を制御してもよい。即
ち、基板の回転方向に沿って設けられたエンコーダマー
クを光学的にカウントして実際の回転量を測定し、測定
値をモータの制御系にフィードバックすることができ
る。
製膜室内で行う必要があり、この場合、マスクまたは基
板の回転は製膜室の外部から駆動することになる。図1
4に電子ビーム蒸着法を用いる場合の本発明の光学フィ
ルタ製造方法を実現するための光学フィルタ製造装置の
一構成例を示す。図14の構成において、製膜室10は
真空ポンプ13により真空状態に保たれ、この製膜室1
0内において電子ビーム銃11からの電子ビーム12を
誘電体材料14上に照射することにより基板1上にマス
ク4または5側から堆積される遊離した誘電体材料15
を生成している。基板1は以下で説明する搬送ユニット
16の形で製膜室10内にマウントされ、この基板1ま
たはその上に設けられたマスク4または5が製膜室10
の外部にあって回転制御手段18により制御されるモー
タ17によって回転されられる。ここで、図15に示す
ように、マスクまたは基板は、一般にハーメチックシー
ルと呼ばれる気密保持手段23を介して製膜室の外部か
らモータで回転させることができる。
うに、基板とマスクの回転軸の位置決め精度を保つた
め、基板1と、それに対する偏心を除去して基板1が取
り付けられたスピンドル21と、このスピンドル21に
製膜室の外部のモータ17からの回転力(torqu
e)を伝達するトルク伝達アタッチメント22〜構成さ
れる。
に含まれた基板の回転中心を、製膜室の外部から基板を
回転させるモータの回転力を伝達する回転軸に一致させ
る機構を製膜室内に設けてもよい。例えば、トルク伝達
アタッチメント22の搬送ユニット側とモータ側に位置
決め用の凹凸部を設け、搬送ユニット16をセットした
時にこれら凹凸部が係合することによって搬送ユニット
16がモータ17に対して自動的に位置決めされるよう
にできる。また、図15に示すようにエンコーダマーク
を設けたKIBAN1を用いる場合には、基板1を回転させ
ながらエンコーダマークをモニタすることにより基板1
の回転中心を光学的に検出し、この検出結果に基づい
て、予め設けられた調整機構により回転軸を適宜調整す
ることができる。
ることは製造時間および製造コストを増大させるため、
製膜室の真空状態を保ったまま基板を交換できる機構を
設けるようにしてもよい。例えば、光学薄膜を形成する
製膜室とは独立に複数の搬送ユニットを収納する前室を
設け、そこから製膜室に搬送ユニットを順次搬入および
搬出できるようにしてもよい。即ち、図16に示すよう
に、真空ポンプ33を備えた前室30を製膜室10にエ
アロック31を備えた通路32を介して接続し、搬送ユ
ニット16をこの前室30に収納し、この前室30に設
けられたユニット搬送装置34によって前室30から製
膜室10に対して搬送ユニット16を搬入または搬出で
きるようにする。図16の構成において、製膜室10は
高真空状態に保たれ、前室30は複数の搬送ユニット1
6が収納された後に、製膜室と同程度またはそれより低
い真空状態にされる。そして、前室30に収納された搬
送ユニット16の各々について以下の動作を繰り返す。
即ち、製膜室10と前室30の間のエアロック31を開
き、一つの搬送ユニット16を前室30から製膜室10
に搬入して製膜室10内にセットする。次いで、エアロ
ック31を閉じ、製膜室10を製膜条件に合った真空状
態にして、製膜室10内で製膜を行う。製膜後には、エ
アロック31を開き、搬送ユニット16を製膜室10か
ら搬出する。これにより製膜室の真空を破らずに順次光
フィルタを製造することが可能となるので、この手法は
量産化に好適である。
ビーム蒸着法を用いることができる。この方法は、誘電
体材料に電子ビームを照射して加熱、蒸発させ、基板上
に誘電体材料を堆積する方法であり、光学薄膜の製造方
法として一般的なものである。
て、電子サイクロトロン共鳴(ECR)スパッタリング
法を用いることもできる。この方法は、マイクロ波によ
り電子を共鳴振動させてガスをプラズマ化し、そのプラ
ズマガスと誘電体材料とを反応させて、光学薄膜を堆積
する方法である。この方法は、緻密な膜が形成でき、か
つ膜組成を自由に変えられるという特徴を有している。
誘電体材料をマイクロ波によってイオン化させて堆積す
るイオンアシスト電子ビーム蒸着法や、電気抵抗器を用
いてジュール熱により誘電体材料を蒸発させる真空蒸着
法や、製膜室に導入した希ガスにマイクロ波ビームを照
射してイオン化させ、そのイオンを誘電体材料に衝突さ
せて遊離させるイオンビームスパッタリング法や、製膜
室に導入した希ガスに高周波電界を印加してイオン化さ
せ、そのイオンを誘電体材料に衝突させて遊離させる高
周波(RF)スパッタリング法などの堆積方法を用いる
ことも可能である。
は、図4および図6に示されるように回転の中心から伸
びた形状である必然性はなく、必要に応じて所望の長さ
だけ半径方向に沿って伸びた形状としても良い。
電体材料による製膜時に、開口を設けたマスクあるいは
基板の一部の角度範囲を覆うマスクを用い、基板に対し
てマスクを相対的に回転させることによって誘電体を堆
積するので、光フィルタの回転角度θに対して透過波長
が直線的に変化し、かつ、回転角度θのほとんどすべて
の範囲にわたって使用可能な光フィルタを製造できる。
また、マスクあるいは基板の回転運動を選択すること
で、1種類のマスクで多様な膜厚分布を実現することが
可能である。
す図。
の製造方法の示す図。
状態を示す図。
で用いる構成を示す図。
の動作原理を示す図。
で用いる構成を示す図。
の動作原理を示す図。
示す図。
示す図。
を示す図。
を示す図。
を示す図。
を示す図。
ィルタ製造装置の一構成例を示す図。
れる搬送ユニットに関連した部分の構成を示す図。
ィルタ製造装置の他の構成例を示す図。
Claims (14)
- 【請求項1】 ディスク状光フィルタの製造方法であっ
て、 基板に対して同軸回転中心で相対的に面内回転可能で、
半径方向に沿って開口角φの開口を有するマスクを用
い、 基板に対してマスクを一定でない角速度で少なくとも一
回相対回転させながら、製膜室内でマスク側から基板上
に誘電体材料を単層あるいは多層に堆積させることを特
徴とする光フィルタの製造方法。 - 【請求項2】 前記マスクの前記基板に対する相対回転
方向の角度θに対する前記誘電体材料の所望の膜厚がT
(θ)(0≦θ≦2π−φ)で、単位時間当たりに堆積
する前記誘電体材料の膜厚がaであるとき、 前記基板に対する前記マスクの相対回転角度θの関数と
して表された時間t(θ)が T(θ)=a[t(θ+φ)−t(θ)] を満たすように、前記基板に対して前記マスクを相対的
に1回回転させることを特徴とする請求項1記載の光フ
ィルタの製造方法。 - 【請求項3】 前記マスクの前記基板に対する相対回転
方向の角度θに対する前記誘電体材料の所望の膜厚がT
(θ)(0≦θ≦2π−φ)で、単位時間当たりに堆積
する前記誘電体材料の膜厚がaであるとき、 前記基板に対する前記マスクの相対回転角度θの関数と
して表された時間t(θ)が T(θ)=aN[t(θ+φ)−t(θ)] を満たすように、前記基板に対して前記マスクを相対的
にN回回転させることを特徴とする請求項1記載の光フ
ィルタの製造方法。 - 【請求項4】 ディスク状光フィルタの製造方法であっ
て、 基板に対して同軸回転中心で相対的に面内回転可能で、
半径方向に沿って角度φの範囲を覆うマスクを用い、 基板に対してマスクを一定でない角速度で少なくとも一
回相対回転させながら、製膜室内でマスク側から基板上
に誘電体材料を単層あるいは多層に堆積させることを特
徴とする光フィルタの製造方法。 - 【請求項5】 前記マスクの前記基板に対する相対回転
方向の角度θに対する前記誘電体材料の所望の膜厚がT
(θ)(0≦θ≦2π−φ)で、単位時間当たりに堆積
する前記誘電体材料の膜厚がaであるとき、 前記基板に対する前記マスクの相対回転角度θの関数と
して表された時間t(θ)が T(θ)=a[(t(2π)−t(0))−(t(θ+
φ)−t(θ))] を満たすように、前記基板に対して前記マスクを相対的
に1回回転させることを特徴とする請求項4記載の光フ
ィルタの製造方法。 - 【請求項6】 前記マスクの前記基板に対する相対回転
方向の角度θに対する前記誘電体材料の所望の膜厚がT
(θ)(0≦θ≦2π−φ)で、単位時間当たりに堆積
する前記誘電体材料の膜厚がaであるとき、 前記基板に対する前記マスクの相対回転角度θの関数と
して表された時間t(θ)が T(θ)=aN[(t(2π)−t(0))−(t(θ
+φ)−t(θ))] を満たすように、前記基板に対して前記マスクを相対的
にN回回転させることを特徴とする請求項4記載の光フ
ィルタの製造方法。 - 【請求項7】 前記誘電体材料の堆積を異なる屈折率を
有する誘電体材料を用いて繰り返すことにより、基板上
に多層構造を形成することを特徴とする請求項1または
4記載の光フィルタの製造方法。 - 【請求項8】 前記誘電体材料の堆積速度をモニタ手段
を用いてモニタし、 該モニタ手段の出力に基づいて前記マスクの前記基板に
対する相対回転速度を帰還制御することを特徴とする請
求項1または4記載の光フィルタの製造方法。 - 【請求項9】 前記基板上に設けられたエンコーダマー
クを読み取り手段を用いて読み取り、 該読み取り手段の出力に基づいて前記マスクの前記基板
に対する相対回転を制御することを特徴とする請求項1
または4記載の光フィルタの製造方法。 - 【請求項10】 前記マスクまたは基板は、気密保持手
段を介して製膜室の外部から前記マスクまたは基板に接
続されたモータにより回転されることを特徴とする請求
項1または4記載の光フィルタの製造方法。 - 【請求項11】 前記基板と、前記基板またはマスクに
前記モータからの回転力を伝達する手段とからなる搬送
ユニットの形で、前記基板を製膜室にセットすることを
特徴とする請求項10記載の光フィルタの製造方法。 - 【請求項12】 前記搬送ユニットに含まれた前記基板
上の回転中心を前記モータから基板に回転力を伝達する
回転軸に一致させて前記搬送ユニットを製膜室内にセッ
トすることを特徴とする請求項11記載の光フィルタの
製造方法。 - 【請求項13】 複数の前記搬送ユニットを製膜室の前
室に収納し、 前記誘電体材料の堆積の前後において、製膜室の真空状
態を破ることなく該前室から各搬送ユニットを製膜室に
順次搬入および搬出することを特徴とする請求項11記
載の光フィルタの製造方法。 - 【請求項14】 前記誘電体材料の堆積は、電子ビーム
蒸着法、電子サイクロトロン共鳴スパッタリング法、イ
オンアシスト電子ビーム蒸着法、真空蒸着法、イオンビ
ームスパッタリング法、高周波スパッタリング法のいづ
れか一つの方法により前記誘電体材料を堆積させること
を特徴とする請求項1または4記載の光フィルタの製造
方法。
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