JP2000079109A - Radioactive rays image processing method and radioactive rays image processing device - Google Patents
Radioactive rays image processing method and radioactive rays image processing deviceInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】この発明は、放射線画像処理
方法および放射線画像処理装置に関する。The present invention relates to a radiation image processing method and a radiation image processing apparatus.
【０００２】[0002]
【従来の技術】従来、疾病の診断等のため、放射線画像
を得ることができる放射線画像読取装置が知られてい
る。この放射線画像読取装置では、例えば放射線エネル
ギーの一部を蓄積して、その後可視光等の励起光を照射
すると蓄積されたエネルギーに応じて輝尽発光を示す輝
尽性蛍光体をシート状とした輝尽性蛍光体シートが用い
られる。この輝尽性蛍光体シートを用いる装置では、被
写体を透過した放射線を輝尽性蛍光体シートに照射する
ことで被写体の放射線画像情報を記録し、この情報が記
録された輝尽性蛍光体シートにレーザ光等を照射して得
られる輝尽発光を集光して光電素子で電気信号に変換す
ることにより、この電気信号に基づいて放射線画像の画
像データが生成される。さらに、Ｆｌａｔ Ｐａｎｅｌ
Ｄｅｔｅｃｔｏｒ(ＦＰＤ)と呼ばれる、２次元的に配列
された複数の検出素子で照射された放射線の線量に応じ
た電気信号を生成し、この電気信号に基づいて画像デー
タが生成される装置も使用される。2. Description of the Related Art Conventionally, there has been known a radiation image reading apparatus capable of obtaining a radiation image for diagnosing a disease or the like. In this radiation image reading device, for example, a part of radiation energy is stored, and then a stimulable phosphor that emits stimulable light in accordance with the stored energy when irradiated with excitation light such as visible light is formed into a sheet. A stimulable phosphor sheet is used. In an apparatus using the stimulable phosphor sheet, radiation image information of the subject is recorded by irradiating radiation transmitted through the subject to the stimulable phosphor sheet, and the stimulable phosphor sheet on which this information is recorded. By stimulating stimulated emission obtained by irradiating a laser beam or the like with the laser beam and converting it into an electric signal by a photoelectric element, image data of a radiation image is generated based on the electric signal. In addition, Flat Panel
An apparatus called an Detector (FPD) that generates an electric signal corresponding to the dose of radiation irradiated by a plurality of two-dimensionally arranged detection elements and generates image data based on the electric signal is also used. You.
【０００３】[0003]
【発明が解決しようとする課題】ところで、複数の検出
素子が２次元的に配列されているＦＰＤでは、照射され
た放射線の線量に対する電気信号の信号レベル（信号
値）が全ての検出素子で均一ではなく、破損した素子や
不良な素子など信号レベルが他の検出素子とは異なった
レベル、すなわち異常なレベルとなってしまう検出素子
（以下「欠陥画素」という）を含む場合がある。このよ
うな欠陥画素を含む場合には、撮像パネルから読み出さ
れた信号に基づく画像データにおいて画像欠陥が生じて
しまうことから、撮影画像から病変等の読影をする際
に、その妨げとなってしまう場合が生じてしまう。In an FPD in which a plurality of detection elements are two-dimensionally arranged, the signal level (signal value) of an electric signal with respect to the dose of irradiated radiation is uniform in all the detection elements. Rather, the detection level may include a detection element whose signal level is different from other detection elements, such as a damaged element or a defective element, that is, an abnormal level (hereinafter, referred to as a “defective pixel”). When such a defective pixel is included, an image defect occurs in the image data based on the signal read from the imaging panel, which hinders the interpretation of a lesion or the like from the captured image. In some cases.
【０００４】そこで、この発明では、画像データに画像
欠陥が生じた場合であっても良好な放射線画像を得るこ
とができる放射線画像処理方法および放射線画像処理装
置を提供するものである。Accordingly, the present invention provides a radiation image processing method and a radiation image processing apparatus capable of obtaining a good radiation image even when an image defect occurs in image data.
【０００５】[0005]
【課題を解決するための手段】この発明に係る放射線画
像処理方法は、２次元的に配列された複数の放射線検出
素子から各放射線検出素子を１画素とする出力信号を得
るものとし、出力信号に基づいて作成された第１の画像
データから画像欠陥を検出すると共に、検出された画像
欠陥の位置を示す欠陥情報を生成し、被写体を透過した
放射線を複数の放射線検出素子に照射して作成した第２
の画像データでの欠陥情報で示された画像欠陥の画像デ
ータを補正するものである また放射線画像処理装置は、２次元的に配列された複数
の放射線検出素子から各放射線検出素子を１画素とする
出力信号に基づいて作成された第１の画像データから画
像欠陥を検出すると共に、検出された画像欠陥の位置を
示す欠陥情報を生成する欠陥検出手段と、欠陥検出手段
で生成された欠陥情報を記憶する欠陥情報記憶手段と、
欠陥情報記憶手段に記憶した欠陥情報に基づき、被写体
を透過した放射線を複数の放射線検出素子に照射して作
成した第２の画像データの画像欠陥を補正する欠陥補正
手段とを有するものである。According to the radiation image processing method of the present invention, an output signal having one pixel for each radiation detection element is obtained from a plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally. Detecting image defects from the first image data generated based on the image data, generating defect information indicating the positions of the detected image defects, and irradiating the radiation transmitted through the subject to a plurality of radiation detecting elements. Second
The radiation image processing apparatus corrects each radiation detection element from a plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally into one pixel. Defect detecting means for detecting an image defect from the first image data generated based on the output signal to be generated, and generating defect information indicating a position of the detected image defect; and defect information generated by the defect detecting means. Defect information storage means for storing
Defect correction means for correcting an image defect of the second image data created by irradiating a plurality of radiation detection elements with radiation transmitted through the subject based on the defect information stored in the defect information storage means.
【０００６】この発明においては、放射線を照射せずに
作成した画像データ、放射線を一様に照射して作成した
画像データ、被写体を透過させて放射線を照射して作成
した画像データの少なくとも１種類以上の画像データが
第１の画像データとされる。また、トレンド除去が行わ
れた画像データが第１の画像データとされる。In the present invention, at least one type of image data created without irradiating radiation, image data created by uniformly irradiating radiation, and image data created by irradiating radiation through a subject is used. The above image data is set as first image data. The image data from which the trend has been removed is used as first image data.
【０００７】ここで、第１のしきい値と第１のしきい値
よりもレベルの高い第２のしきい値が設けられて、第１
の画像データの画素毎のレベルが第１のしきい値よりも
低い場合、あるいは第２のしきい値よりも高い場合、こ
の画素を画像欠陥と判別する検出処理、第１の画像デー
タの画素毎のレベルが周囲の画素の画像データの平均レ
ベルよりも所定量以上異なる場合、この画素を画像欠陥
と判別する検出処理、第１の画像データとして、縦方向
または横方向に所定ライン数の画像データの平均レベル
を用いるものとし、平均レベルが第１のしきい値よりも
低い場合、あるいは第２のしきい値よりも高い場合に、
所定ライン数分の画素を画像欠陥と判別する検出処理、
第１の画像データとして、縦方向または横方向に所定ラ
イン数の画像データの平均レベルを用いるものとし、平
均レベルが周囲の画素の画像データの平均レベルよりも
所定量以上異なる場合に、所定ライン数分の画素を画像
欠陥と判別する検出処理のうち、いずれか１つの検出処
理あるいは複数の検出処理が行われて、検出された画像
欠陥の画素位置を示す欠陥情報が生成される。被写体を
透過した放射線を複数の放射線検出素子に照射して作成
した第２の画像データに対して欠陥情報で示された画像
欠陥の画像データが、例えば欠陥画素の周囲の正常画素
の画像データの平均レベルに置き換えて画像欠陥の補正
が行われる。Here, a first threshold value and a second threshold value higher than the first threshold value are provided, and the first threshold value is set.
If the level of each pixel of the image data is lower than the first threshold value or higher than the second threshold value, a detection process of determining this pixel as an image defect; If each level is different from the average level of the image data of the surrounding pixels by a predetermined amount or more, a detection process of discriminating this pixel as an image defect is performed. The average level of the data shall be used, and if the average level is lower than the first threshold or higher than the second threshold,
Detection processing for determining pixels of a predetermined number of lines as image defects,
As the first image data, the average level of the image data of a predetermined number of lines in the vertical direction or the horizontal direction is used, and when the average level is different from the average level of the image data of the surrounding pixels by a predetermined amount or more, the predetermined line Any one or a plurality of detection processes among the detection processes for determining several pixels as image defects are performed, and defect information indicating a pixel position of the detected image defect is generated. The image data of the image defect indicated by the defect information with respect to the second image data generated by irradiating the radiation transmitted through the subject to the plurality of radiation detection elements is, for example, the image data of the normal pixel around the defective pixel. The image defect is corrected by replacing the average level.
【０００８】[0008]
【発明の実施の形態】次に、この発明の実施の一形態に
ついて図を用いて詳細に説明する。被写体の放射線画像
を得るために放射線発生器から出力された放射線は、被
写体を通じて画像処理装置の撮像パネル１１に照射され
る。撮像パネル１１の領域は、図１に示すように複数の
ブロックＡＲ-(0,0)〜ＡＲ-(m,n)に区分されている。１
つのブロック、例えばブロックＡＲ-(0,0)では、図２に
示すように、照射された放射線の線量に応じて電気信号
を出力する検出素子ＤＴ(0,0)〜ＤＴ(j,k)が２次元配置
されていると共に、走査線１１４-0〜１１４-kと信号線
１１６-0〜１１６-jが例えば直交するように配設され
る。Next, an embodiment of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. Radiation output from the radiation generator to obtain a radiation image of the subject is applied to the imaging panel 11 of the image processing apparatus through the subject. The area of the imaging panel 11 is divided into a plurality of blocks AR- (0,0) to AR- (m, n) as shown in FIG. 1
In one block, for example, block AR- (0,0), as shown in FIG. 2, detection elements DT (0,0) to DT (j, k) that output electric signals in accordance with the dose of the irradiated radiation. Are two-dimensionally arranged, and the scanning lines 114-0 to 114-k and the signal lines 116-0 to 116-j are arranged to be orthogonal, for example.
【０００９】走査線１１４-0〜１１４-kは走査駆動部１
４と接続されており、走査駆動部１４では後述する制御
部４０から供給された制御信号ＣＴＡに基づき読出信号
ＲＳを生成して走査線１１４-0〜１１４-kのうちの１つ
走査線１１４-p（pは0〜kのいずれかの値）に出力す
る。この読出信号ＲＳによって、走査線１１４-pに接続
された検出素子ＤＴ(0,p)〜ＤＴ(j,p)から、照射された
放射線の線量に応じた電気信号ＳＶ-0〜ＳＶ-jが出力さ
れて、信号線１１６-0〜１１６-jを介して画像データ生
成部１６-(0,0)に供給される。The scanning lines 114-0 to 114-k correspond to the scanning driving unit 1.
4, the scanning drive unit 14 generates a readout signal RS based on a control signal CTA supplied from a control unit 40 described later, and generates one of the scanning lines 114-0 to 114-k. Output to -p (p is any value from 0 to k). In response to the read signal RS, the electric signals SV-0 to SV-j corresponding to the dose of the irradiated radiation are output from the detection elements DT (0, p) to DT (j, p) connected to the scanning line 114-p. Is output and supplied to the image data generator 16- (0,0) via the signal lines 116-0 to 116-j.
【００１０】他のブロックＡＲ-(0,1)〜ＡＲ-(0,n)，Ａ
Ｒ-(1,0)〜ＡＲ-(1,n)，・・・，ＡＲ-(m,n)もブロック
ＡＲ-(0,0)と同様に、走査駆動回路１４からの読出信号
ＲＳによって各ブロック内の（ｊ×ｋ）個の検出素子か
ら、照射された放射線の線量に応じた電気信号ＳＶが出
力されて、各ブロックに対応する画像データ生成部１６
-(0,1)〜１６-(0,n)，１６-(1,0)〜１６-(1,n)，・・
・，１６-(m,n）に供給される。The other blocks AR- (0,1) to AR- (0, n), A
R- (1,0) to AR- (1, n),..., AR- (m, n) similarly to the block AR- (0,0) by the read signal RS from the scan driving circuit 14. From (j × k) detection elements in each block, an electric signal SV corresponding to the irradiated radiation dose is output, and the image data generation unit 16 corresponding to each block is output.
-(0,1) to 16- (0, n), 16- (1,0) to 16- (1, n), ...
, 16- (m, n).
【００１１】なお、ブロックＡＲ-(0,0)で用いた走査線
１１４-0〜１１４-kを他の各ブロックでもブロックＡＲ
-(0,0)と同様に用いるものとすれば、各ブロックの例え
ば同じ列番号の検出素子から同じタイミングで電気信号
ＳＶを簡単に出力させることができる。Note that the scanning lines 114-0 to 114-k used in the block AR- (0,0) are also used in other blocks as the block AR- (0,0).
If used in the same way as-(0,0), the electric signal SV can be easily output at the same timing from, for example, the detection elements of the same column number in each block.
【００１２】ここで、検出素子ＤＴは、照射された放射
線の線量に応じた電気信号を出力するものであれば良
い。例えば放射線が照射されたときに電子−正孔対が生
成されて抵抗値が変化する光導電層を用いて検出素子が
形成されている場合、この光導電層で生成された放射線
量に応じた量の電荷が電荷蓄積コンデンサに蓄えられ
て、この電荷蓄積コンデンサに蓄えられた電荷が電気信
号として画像データ生成部１６に供給される。なお、光
導電層としては暗抵抗値が高いものが望ましく、アモル
ファスセレン、酸化鉛、硫化カドミウム、ヨウ化第２水
銀、または光導電性を示す有機材料（Ｘ線吸収コンパウ
ンドが添加された光伝導性ポリマを含む）などが用いら
れ、特にアモルファスセレンが望ましい。Here, the detection element DT may be any element that outputs an electric signal corresponding to the dose of the irradiated radiation. For example, when a detection element is formed using a photoconductive layer in which an electron-hole pair is generated when radiation is irradiated and the resistance value changes, the amount of radiation generated in the photoconductive layer depends on the amount of radiation generated in the photoconductive layer. An amount of charge is stored in the charge storage capacitor, and the charge stored in the charge storage capacitor is supplied to the image data generator 16 as an electric signal. It is preferable that the photoconductive layer has a high dark resistance value, such as amorphous selenium, lead oxide, cadmium sulfide, mercuric iodide, or a photoconductive organic material (a photoconductive layer to which an X-ray absorbing compound is added). And the like, and amorphous selenium is particularly desirable.
【００１３】また、検出素子ＤＴが、例えば放射線が照
射されることにより蛍光を生ずるシンチレータ等を用い
て形成されている場合、フォトダイオードにおいて、こ
のシンチレータで生じた蛍光強度に基づく電気信号を生
成して画像データ生成部１６に供給するものとしてもよ
い。なお、シンチレータとしては、Ｇｄ2Ｏ2Ｓ：Ｔｂ、
ＭＸ：Ｔｌ（Ｍ＝Ｒｂ、Ｃｓ：Ｘ＝Ｃｌ、Ｂｒ、Ｉ）、
ＢａＦＸ：Ｅｕ（Ｘ＝Ｃｌ、Ｂｒ、Ｉ）、ＬａＯＢｒ：
Ａ（Ａ＝Ｔｂ、Ｔｍ）、ＹＴａＯ4、〔Ｙ,Ｓｒ〕ＴａＯ
4：Ｎｂ、ＣａＷＯ4などが用いられ、特にＧｄ2Ｏ2Ｓ：
Ｔｂ、ＣｓＩ：Ｔｌ、ＢａＦＣｌ：Ｅｕが望ましい。When the detecting element DT is formed using, for example, a scintillator or the like that generates fluorescence when irradiated with radiation, the photodiode generates an electric signal based on the intensity of the fluorescent light generated by the scintillator. May be supplied to the image data generator 16. It should be noted that, as the scintillator, Gd 2 O 2 S: Tb ,
MX: Tl (M = Rb, Cs: X = Cl, Br, I),
BaFX: Eu (X = Cl, Br, I), LaOBr:
A (A = Tb, Tm), YTaO 4 , [Y, Sr] TaO
4 : Nb, CaWO 4 and the like are used, and in particular, Gd 2 O 2 S:
Tb, CsI: Tl, and BaFCl: Eu are desirable.
【００１４】撮像パネル１１の１つの検出素子は１画素
とされて、画像データ生成部１６-(0,0)では、制御部４
０から供給された制御信号ＣＴＢに基づき、供給された
電気信号ＳＶ-0〜ＳＶ-jを順次選択してディジタルの画
素データＳＤ-(0,0)に変換する。また画像データ生成部
１６-(0,1)〜１６-(0,n)，１６-(1,0)〜１６-(1,n)，・
・・，１６-(m,n)でも同様にして、画像データＳＤ-(0,
1)〜ＳＤ-(0,n)，ＳＤ-(1,0)〜ＳＤ-(1,n)，・・・，Ｓ
Ｄ-(m,n)を生成する。画像データ生成部１６−(0,0)〜
１６−(m,n)で生成された１画面分（１画像分）の画像
データＳＤ-(0,0)〜ＳＤ-(m,n)は、制御部４０からの制
御信号ＣＴＣに基づいて画像メモリ部２０に書き込まれ
る。One detection element of the imaging panel 11 is one pixel, and the image data generation unit 16- (0,0) controls the control unit 4
Based on the control signal CTB supplied from 0, the supplied electric signals SV-0 to SV-j are sequentially selected and converted into digital pixel data SD- (0,0). The image data generation units 16- (0,1) to 16- (0, n), 16- (1,0) to 16- (1, n),.
.., 16- (m, n) in the same manner as the image data SD- (0,
1) to SD- (0, n), SD- (1,0) to SD- (1, n), ..., S
Generate D- (m, n). Image data generator 16- (0,0)-
The image data SD- (0,0) to SD- (m, n) for one screen (one image) generated by 16- (m, n) are based on the control signal CTC from the control unit 40. The data is written to the image memory unit 20.
【００１５】この画像メモリ部２０には欠陥検出部２４
と欠陥補正部２８が接続されており、欠陥検出部２４で
は、制御部４０からの制御信号ＣＴＤに基づき画像メモ
リ部２０に書き込まれている画像データＳＤを用いて、
電気信号ＳＶの信号レベルが他の検出素子とは異なるレ
ベルとなる検出素子からの画像データの検出、すなわち
画像欠陥の検出を行う。ここで、欠陥検出部２４で画像
欠陥が検出されたときには、画像欠陥の位置を示す情報
ＦＤが生成されて欠陥情報メモリ部２６に記憶される。The image memory section 20 has a defect detecting section 24
And the defect correction unit 28 are connected. The defect detection unit 24 uses the image data SD written in the image memory unit 20 based on the control signal CTD from the control unit 40.
The detection of the image data from the detection element in which the signal level of the electric signal SV is different from the other detection elements, that is, the detection of the image defect is performed. Here, when an image defect is detected by the defect detection unit 24, information FD indicating the position of the image defect is generated and stored in the defect information memory unit 26.
【００１６】また、欠陥補正部２８では、制御部４０か
らの制御信号ＣＴＥに基づき、放射線を被写体に照射し
て作成されて画像データＳＤが画像メモリ部２０に書き
込まれたときには、欠陥情報メモリ部２６に記憶されて
いる画像欠陥の位置を示す情報ＦＤを用いて、画像メモ
リ部２０の画像欠陥の画像データを補正する。In the defect correction unit 28, when the image data SD is created by irradiating the subject with radiation based on the control signal CTE from the control unit 40 and the image data SD is written in the image memory unit 20, the defect information memory unit The image data of the image defect in the image memory unit 20 is corrected using the information FD indicating the position of the image defect stored in the image memory 26.
【００１７】その後、画像メモリ部２０に書き込まれて
いる画像データＳＤに対して、画像欠陥の補正が完了し
たときには、制御部４０からの制御信号ＣＴＣに基づ
き、補正が完了した画像データが画像メモリ部２０から
読み出されて出力される。After that, when the correction of the image defect is completed for the image data SD written in the image memory section 20, the corrected image data is stored in the image memory based on the control signal CTC from the control section 40. It is read from the unit 20 and output.
【００１８】制御部４０では、放射線照射前に撮像パネ
ル１１の電荷蓄積コンデンサから蓄えられている電荷を
排出させるための初期化動作や撮像パネル１１に照射さ
れた放射線に基づき電荷蓄積コンデンサに蓄えられた電
荷を読み出して画像データを画像メモリ部２０に書き込
む処理、および画像欠陥の検出や補正を行うための制御
信号ＣＴＡ〜ＣＴＥが生成する。The control section 40 performs an initialization operation for discharging the electric charge stored in the charge storage capacitor of the imaging panel 11 before the irradiation of the radiation, or stores the electric charge stored in the charge storage capacitor based on the radiation applied to the imaging panel 11. The control signals CTA to CTE are generated for reading the stored charges and writing the image data to the image memory unit 20 and detecting and correcting image defects.
【００１９】次に、欠陥検出部２４での画像欠陥の検出
方法および欠陥補正部２８での画像欠陥の補正方法につ
いて説明する。Next, a method of detecting an image defect in the defect detecting section 24 and a method of correcting an image defect in the defect correcting section 28 will be described.
【００２０】画像欠陥の検出では、撮像パネル１１の電
荷蓄積コンデンサから蓄えられている電荷を排出させる
ための初期化動作を実施し、放射線未照射状態で生成さ
れて画像メモリ部２０に書き込まれた画像データ（以下
「放射線未照射画像データＳＤＡ」という）、初期化動
作を実施し放射線を一様に照射してから生成されて画像
メモリ部２０に書き込まれた画像データ（以下「放射線
一様照射画像データＳＤＢ」という）、あるいは初期化
動作を実施し被写体を透過させて放射線を照射してから
生成されて画像メモリ部２０に書き込まれた画像データ
（以下「放射線被写体照射画像データＳＤＣ」という）
を用いて画像欠陥の検出が行われる。In the detection of an image defect, an initialization operation for discharging the electric charge stored from the electric charge storage capacitor of the imaging panel 11 is performed. Image data (hereinafter referred to as “irradiation-irradiated image data SDA”), image data generated after performing an initializing operation and uniformly irradiating radiation and written to the image memory unit 20 (hereinafter referred to as “irradiation-irradiated image data SDA”) Image data SDB) or image data generated after performing an initialization operation and transmitting radiation through a subject and written in the image memory unit 20 (hereinafter referred to as “radiation subject irradiation image data SDC”)
Is used to detect an image defect.
【００２１】図３は第１の画像欠陥の検出方法を説明す
るための図である。図３Ａは、画像メモリ部２０に書き
込まれている１画面分の画像データを示しており、この
画像メモリ部２０から例えば横方向に画像データを順次
読み出し、図３Ｂに示すようにしきい値ＴＡＨ，ＴＡＬ
と比較されて画像欠陥の検出が行われる。FIG. 3 is a diagram for explaining a first image defect detection method. FIG. 3A shows image data for one screen written in the image memory unit 20. Image data is sequentially read, for example, in the horizontal direction from the image memory unit 20, and the threshold values TAH, TAH, TAL
And the image defect is detected.
【００２２】しきい値ＴＡＨ，ＴＡＬは例えば図４に示
すように画像データのヒストグラムに基づいて設定され
る。正常な画像データの分布が図４の斜線部で示すよう
な分布となる場合、低レベル側しきい値ＴＡＬは正常な
画像データの分布よりも低レベル側に設定されると共
に、高レベル側しきい値ＴＡＨは正常な画像データの分
布よりも高レベル側に設定される。ここで、画像データ
のレベルが高レベル側しきい値ＴＡＨよりも大きくなる
画素Ｐ(a,ba)や低レベル側しきい値ＴＡＬよりも小さく
なる画素Ｐ(a,bb)は、画像欠陥を生ずる欠陥画素と判別
されて、画素Ｐ(a,ba)，Ｐ(a,bb)の位置情報が画像欠陥
の位置を示す情報として欠陥情報メモリ部２６に記憶さ
れる。The threshold values TAH and TAL are set based on a histogram of image data, for example, as shown in FIG. When the distribution of the normal image data is as shown by the hatched portion in FIG. 4, the low-level threshold value TAL is set to a lower level than the distribution of the normal image data and to a higher level. The threshold value TAH is set higher than the normal image data distribution. Here, the pixel P (a, ba) whose image data level is larger than the high-level threshold value TAH and the pixel P (a, bb) whose image data level is smaller than the low-level threshold value TAL have an image defect. The defective pixel is determined to be a defective pixel, and the position information of the pixels P (a, ba) and P (a, bb) is stored in the defect information memory unit 26 as information indicating the position of the image defect.
【００２３】図５は画像欠陥の第２の検出方法を説明す
るための図である。図５Ａは、画像メモリ部２０に書き
込まれている１画面分の画像データを示しており、欠陥
画素が生ずるか否かの判別が行われる画素Ｐ(c,d)に対
して、例えば図５Ｂの斜線で示す周辺の８画素の画像デ
ータの平均レベルＭＤ(c,d)を求め、画素Ｐ(c,d)の画像
データＳＤ(c,d）が平均レベルＭＤ(c,d)に対して所定
範囲内（ＭＤ(c,d)−Ｗ〜ＭＤ(c,d)＋Ｗ）であるか否か
の判別が行われる。ここで、画像データＳＤ(c,d）が所
定範囲内（ＭＤ(c,d)−Ｗ〜ＭＤ(c,d)＋Ｗ）で無いとき
には画素Ｐ(c,d)が画像欠陥を生ずる欠陥画素と判別さ
れて、画像欠陥の位置すなわち、画素Ｐ(c,d)の位置を
示す情報が欠陥情報メモリ部２６に記憶される。なお、
平均レベルを算出するために用いられる画素の画像デー
タは、図５Ｂの斜線で示す部分の８画素に限られるもの
でなく、例えばハッチングで示す部分を含めた２４画素
の画像データ等を用いても良い。また、「Ｗ」はもとも
との画像データがもつレベル変動（ノイズなどに依存す
る）を検出せずに、画像欠陥を検出する範囲で任意に決
めることができる。FIG. 5 is a diagram for explaining a second method of detecting an image defect. FIG. 5A shows image data for one screen written in the image memory unit 20. For example, for the pixel P (c, d) for which it is determined whether or not a defective pixel occurs, FIG. The average level MD (c, d) of the image data of the surrounding eight pixels indicated by the oblique line is obtained, and the image data SD (c, d) of the pixel P (c, d) is compared with the average level MD (c, d). It is determined whether it is within a predetermined range (MD (c, d) -W to MD (c, d) + W). Here, when the image data SD (c, d) is not within the predetermined range (MD (c, d) -W to MD (c, d) + W), the pixel P (c, d) is a defective pixel causing an image defect. And information indicating the position of the image defect, that is, the position of the pixel P (c, d) is stored in the defect information memory unit 26. In addition,
The image data of the pixels used to calculate the average level is not limited to the eight pixels indicated by the hatched portions in FIG. 5B. For example, image data of 24 pixels including the hatched portions may be used. good. Further, “W” can be arbitrarily determined within a range in which an image defect is detected without detecting a level variation (depending on noise or the like) of the original image data.
【００２４】ところで、上述の第１および第２の画像欠
陥の検出方法では、１画素毎に画像欠陥であるか否かを
判別するものであるが、欠陥画素と正常画素の画像デー
タのレベル差が大きくない場合には、レベル差が正常画
素の画像データのレベル変動であるか画像欠陥であるか
判別することが困難である。そこで、画像欠陥がライン
状であるときには、欠陥画素と正常画素の画像データの
レベル差が大きくない場合であっても画像欠陥を検出で
きる方法を第３の画像欠陥の検出方法として説明する。In the above-described first and second image defect detection methods, it is determined whether or not each pixel is an image defect. However, the level difference between the image data of the defective pixel and the image data of the normal pixel is determined. Is not large, it is difficult to determine whether the level difference is a level variation of image data of a normal pixel or an image defect. Therefore, a method for detecting an image defect even when the level difference between the image data of the defective pixel and the image data of the normal pixel is not large when the image defect is linear will be described as a third image defect detection method.
【００２５】図６は第３の画像欠陥の検出方法を説明す
るための図である。図６Ａは、画像メモリ部２０に書き
込まれている１画面分の画像データを示しており、この
１画面分の画像データから、縦方向あるいは横方向に隣
接する複数ライン分の画像データを読み出して、読み出
し方向と直交する方向での平均レベルが求められる。こ
の求められた平均レベルが上述の第１の画像欠陥の検出
方法と同様にしきい値と比較されて画像欠陥の検出が行
われる。FIG. 6 is a diagram for explaining a third image defect detection method. FIG. 6A shows image data for one screen written in the image memory unit 20. From this image data for one screen, image data for a plurality of lines adjacent in the vertical or horizontal direction is read out. , An average level in a direction orthogonal to the reading direction is obtained. The obtained average level is compared with a threshold value in the same manner as in the above-described first image defect detection method, and the image defect is detected.
【００２６】例えば、図６Ａに示すように横方向のｅラ
インから（ｅ＋ｆ）ラインまでの（ｆ＋１）ライン分の
画像データが画像メモリ部２０から読み出されて、縦方
向の画素列毎の平均レベルが算出されて、図６Ｂに示す
ように（ｆ＋１）ライン分の画像データを平均した１ラ
インの画像データが算出される。ここで、画像欠陥が縦
方向のライン状である場合、欠陥画素と正常画素の画像
データのレベル差が大きくない場合であっても、平均レ
ベルを算出することによって正常画素の画像データのレ
ベル信号の変動分を小さくすることができる。このた
め、図６Ｃに示すように１ライン分の画像データでは検
出しにくい画素Ｐ(e+h,g)の画像欠陥も、（ｆ＋１）ラ
イン分の画像データの平均レベルを算出することで、図
６Ｂに示すように画素Ｐ(e〜e+f,g)に相当する画像デー
タを正常画素の画像データとは異なるレベルとすること
ができるので、複数ライン分の画像データの平均レベル
に応じて設定された低レベル側しきい値ＴＢＬおよび高
レベル側しきい値ＴＢＨと求められた平均レベルを比較
し、求められた平均レベルが設定された低レベル側しき
い値ＴＢＬから高レベル側しきい値ＴＢＨまでの範囲内
であるか否かを判別することによって容易にライン状の
画像欠陥を検出することができる。また、求められた平
均レベルがｅラインや（ｅ＋ｆ）ラインの周囲の画像デ
ータの平均レベルに対して所定範囲内であるか否かによ
ってもライン状の画像欠陥を検出することができる。こ
こで、画像欠陥と判別されたときには、縦方向に（ｆ＋
１）行分の画素すなわち画素Ｐ(e〜e+f,g)が欠陥画素と
判別されて、画素Ｐ(e〜e+f,g)の位置を示す情報が欠陥
情報メモリ部２６に記憶される。For example, as shown in FIG. 6A, image data for (f + 1) lines from the e line to the (e + f) line in the horizontal direction is read out from the image memory unit 20, and the average for each pixel column in the vertical direction is obtained. The level is calculated, and one line of image data is calculated by averaging the image data of (f + 1) lines as shown in FIG. 6B. Here, when the image defect is in the form of a vertical line, even if the level difference between the image data of the defective pixel and the image data of the normal pixel is not large, the level signal of the image data of the normal pixel is calculated by calculating the average level. Can be reduced. For this reason, as shown in FIG. 6C, the image defect of the pixel P (e + h, g) which is difficult to detect with the image data for one line is calculated by calculating the average level of the image data for the (f + 1) line. As shown in FIG. 6B, the image data corresponding to the pixel P (e to e + f, g) can be at a different level from the image data of the normal pixel, and therefore, can be adjusted according to the average level of the image data for a plurality of lines. The low-level threshold value TBL and the high-level threshold value TBH set in advance are compared with the determined average level, and the determined average level is shifted to a higher level from the set low-level threshold value TBL. It is possible to easily detect a line-shaped image defect by determining whether or not it is within the range up to the threshold value TBH. Further, a line-shaped image defect can be detected depending on whether or not the obtained average level is within a predetermined range with respect to the average level of the image data around the e-line and the (e + f) line. Here, when it is determined that the image is defective, (f +
1) Pixels in a row, that is, pixels P (e to e + f, g) are determined as defective pixels, and information indicating the position of the pixels P (e to e + f, g) is stored in the defect information memory unit 26. Is done.
【００２７】画像メモリ部２０から読み出される画像デ
ータのヒストグラムが広い幅をもち、例えば図７Ａに示
すように１ラインの画像データＳＤＣの信号レベルが広
い範囲にある場合、画像メモリ部２０から読み出された
画像データとしきい値ＴＣＬおよびしきい値ＴＣＨを比
較しただけでは画素Ｐ(q,r)の画像欠陥を検出すること
ができない。そこで、被写体に応じた画像データから一
様な勾配や低周波成分を除去するトレンド除去を行い、
上述の第１〜第３の画像欠陥の検出方法を用いることに
より、正しく画像欠陥の検出を行うことができる。When the histogram of the image data read from the image memory section 20 has a wide width, and the signal level of the one-line image data SDC is in a wide range as shown in FIG. The image defect of the pixel P (q, r) cannot be detected only by comparing the obtained image data with the threshold value TCL and the threshold value TCH. Therefore, a trend removal that removes uniform gradients and low frequency components from image data according to the subject is performed,
By using the first to third image defect detection methods described above, image defects can be correctly detected.
【００２８】このトレンド除去の一例としては、１ライ
ン分の画像データからムージングを行って高周波成分を
除くものとし、元の画像データからスムージングによっ
て得られた画像データを減算あるいは除算することよっ
て、図７Ｂに示すように低周波成分を除いた高周波成分
だけの画像データＨＳＤＣが生成される。As an example of the trend removal, smoothing is performed on image data of one line to remove high frequency components, and image data obtained by smoothing is subtracted or divided from original image data. As shown in FIG. 7B, image data HSDC of only high-frequency components excluding low-frequency components is generated.
【００２９】また、トレンド除去を行った場合には、図
４と比較して図８の斜線で示すように正常な画像データ
のヒストグラムの幅が狭いものとされる。このため、低
レベル側しきい値ＴＤＬから高レベル側しきい値ＴＤＨ
までの幅も、トレンド除去を行う前よりも狭く設定する
ことができるので、画像欠陥の検出を精度良く行うこと
ができる。また、画像データＨＳＤＣを用いて上述の第
２および第３の画像欠陥の検出方法を行うことにより、
画像欠陥を検出することができることは勿論である。When the trend is removed, the width of the histogram of the normal image data is narrower than that of FIG. For this reason, the low-level threshold value TDL is changed to the high-level threshold value TDH.
Can be set narrower than before the trend is removed, so that image defects can be detected with high accuracy. Further, by performing the above-described second and third image defect detection methods using the image data HSDC,
Of course, image defects can be detected.
【００３０】このようにして、欠陥検出部２４で画像欠
陥が検出されたときには、画像欠陥の位置を示す情報Ｆ
Ｄが欠陥情報メモリ部２６に記憶される。ここで、欠陥
情報メモリ部２６には画像欠陥の位置を示す情報ＦＤと
して例えば画像欠陥を生ずる画素のアドレスが記憶され
る。また欠陥情報メモリ部２６に、マップ形式で画像欠
陥の位置を示す情報ＦＤを記憶するものとしてもよい。
すなわち、欠陥情報メモリ部２６に１画面分の画素と対
応するメモリ領域を設けるものとし、画像欠陥が検出さ
れたときには、この画像欠陥と生ずる画素の位置と対応
するメモリ領域内の位置に所定のデータ値を書き込むも
のとしてもよい。例えば、正常画素の信号レベルを
「１」、欠陥画素の信号レベルを「０」などとすること
ができる。As described above, when an image defect is detected by the defect detecting section 24, information F indicating the position of the image defect is obtained.
D is stored in the defect information memory unit 26. Here, the defect information memory unit 26 stores, for example, an address of a pixel causing an image defect as information FD indicating the position of the image defect. The defect information memory 26 may store information FD indicating the position of an image defect in a map format.
That is, a memory area corresponding to a pixel for one screen is provided in the defect information memory section 26. When an image defect is detected, a predetermined position in the memory area corresponding to the position of the pixel where the image defect occurs is detected. The data value may be written. For example, the signal level of a normal pixel can be “1”, the signal level of a defective pixel can be “0”, and the like.
【００３１】欠陥補正部２８では、欠陥情報メモリ部２
６に記憶されている画像欠陥の情報ＦＤを読み出して欠
陥の位置を判別し、この判別された画像欠陥の画像デー
タの補正を行う。ここで、画像欠陥の位置を示す情報と
して画像欠陥を生ずる画素のアドレスが記憶されている
ときには、記憶されたアドレスを順次読み出すことで画
像欠陥の位置が判別される。またマップ形式で画像欠陥
の位置を示す情報が欠陥情報メモリ部２６に記憶されて
いるときには、メモリ領域内のデータ値が所定のデータ
値であるか否かを順次検出することにより画像欠陥であ
るか否かを判別することができる。In the defect correction section 28, the defect information memory section 2
The information FD of the image defect stored in the memory 6 is read to determine the position of the defect, and the image data of the determined image defect is corrected. Here, when the address of the pixel causing the image defect is stored as information indicating the position of the image defect, the position of the image defect is determined by sequentially reading out the stored addresses. When information indicating the position of an image defect is stored in the defect information memory unit 26 in the form of a map, an image defect is detected by sequentially detecting whether or not the data value in the memory area is a predetermined data value. Can be determined.
【００３２】この欠陥補正部２８で画像欠陥の位置が判
別されると、画像欠陥を生ずる画素の周囲の正常画素の
画像データを画像メモリ部２０から読み出し、この読み
出した画像データを用いて補正を行う。補正方法の一例
として、正常画素の画像データの平均レベルを欠陥画素
の画像データとする、というものがある。図９Ａに示す
ように、画像欠陥を生ずる画素Ｐ(s,t)の周囲が正常画
素であるときには、画素Ｐ(s,t)の上下方向と左右方向
に隣接する４画素、あるいは斜線で示す斜め方向に隣接
する画素を含めた８画素、またはハッチングで示す部分
を含めた２４画素の画像データの平均レベルが算出され
て、この平均レベルが補正後の画素Ｐ(s,t)の画像デー
タとされる。When the position of the image defect is determined by the defect correction unit 28, the image data of normal pixels around the pixel causing the image defect is read from the image memory unit 20, and correction is performed using the read image data. Do. As an example of the correction method, there is a method in which an average level of image data of normal pixels is used as image data of defective pixels. As shown in FIG. 9A, when the periphery of a pixel P (s, t) where an image defect occurs is a normal pixel, the pixel P (s, t) is indicated by four pixels adjacent to the pixel P (s, t) in the vertical and horizontal directions, or by oblique lines The average level of the image data of 8 pixels including obliquely adjacent pixels or 24 pixels including the hatched portion is calculated, and the average level is calculated as the corrected image data of the pixel P (s, t). It is said.
【００３３】また、画像欠陥を補正する場合には、画素
Ｐ(s,t)からの距離によって画像データの重み付けを行
うものとし、重み付けがなされた画像データの平均レベ
ルを補正後の画像データとすることもできる。例えば図
９Ｂに示すように、画素Ｐ(s,t)の中心から上下左右の
画素の中心までの距離を「１」としたとき斜めの画素の
中心までの距離が「√２」であることから、斜めの画素
の画像データを（１／√２）倍して重み付けを行い、重
み付けがなされた画像データの平均レベルが補正後の画
像データとされる。When correcting an image defect, the image data is weighted according to the distance from the pixel P (s, t), and the average level of the weighted image data is compared with the corrected image data. You can also. For example, as shown in FIG. 9B, when the distance from the center of the pixel P (s, t) to the center of the upper, lower, left and right pixels is “1”, the distance from the center of the oblique pixel is “√2”. Therefore, the image data of the oblique pixels is weighted by multiplying it by (1 / √2), and the average level of the weighted image data is set as the corrected image data.
【００３４】なお、欠陥補正部２８は、周囲の画像デー
タの平均レベルを補正後の画像データとして用いるもの
に限られるものではなく、例えば『「Restoring Spline
Interpolation of CT Images」IEEE TRANSACTION ON M
EDICAL IMAGING VOL.MI-2,NO3 SEPTEMBER 1983 、「Cub
ic Convolution for Digtal Image Processing IEEETRA
NSACTION ON ACOUSTICS AND SIGNAL PROCESSING VOL.AS
SP-29」』に記載されているニアレスト・ネイバー補
間、ベルースプライン補間、リニア補間、キュービック
・コンボリュージョン補間等によって得られた画像デー
タを補正後の画像データとして用いるものとしてもよ
い。The defect correcting unit 28 is not limited to the one using the average level of the surrounding image data as the corrected image data.
Interpolation of CT Images '' IEEE TRANSACTION ON M
EDICAL IMAGING VOL.MI-2, NO3 SEPTEMBER 1983, `` Cub
ic Convolution for Digtal Image Processing IEEETRA
NSACTION ON ACOUSTICS AND SIGNAL PROCESSING VOL.AS
SP-29 ", image data obtained by nearest neighbor interpolation, Belous spline interpolation, linear interpolation, cubic convolution interpolation, or the like may be used as corrected image data.
【００３５】このようにして得られた補正後の画像デー
タは、画像メモリ部２０に供給されて画像欠陥の位置と
対応する画像メモリ部２０の位置に書き込まれるか、ま
たは補正した画像データを用い、新たに１つの画像デー
タを作成し画像メモリ部２０に書き込むようにする。The corrected image data obtained in this way is supplied to the image memory unit 20 and written into the position of the image memory unit 20 corresponding to the position of the image defect, or the corrected image data is used. , One new image data is created and written to the image memory unit 20.
【００３６】次に放射線画像処理装置の動作について説
明する。撮像パネル１１を用いて放射線画像の撮影する
場合、画像メモリ部２０に放射線未照射画像データＳＤ
Ａや放射線一様照射画像データＳＤＢあるいは放射線被
写体照射画像データＳＤＣを画像メモリ部２０に書き込
み、この画像メモリ部２０に書き込まれている画像デー
タを用いて、欠陥検出部２４で画像欠陥の検出を行う。Next, the operation of the radiation image processing apparatus will be described. When capturing a radiographic image using the imaging panel 11, the non-radiated image data SD is stored in the image memory unit 20.
A, the radiation uniform irradiation image data SDB or the radiation subject irradiation image data SDC is written into the image memory unit 20, and the defect detection unit 24 detects an image defect using the image data written in the image memory unit 20. Do.
【００３７】この画像欠陥の検出では、放射線未照射画
像データＳＤＡや放射線一様照射画像データＳＤＢある
いは放射線被写体照射画像データＳＤＣのいずれか１種
類の画像データを用いて画像欠陥の検出を行っても良
く、また複数種類の画像データを用いて画像欠陥の検出
を行っても良い。さらに、画像データとして放射線未照
射画像データＳＤＡ、放射線一様照射画像データＳＤＢ
のいずれか１つあるいは両方の画像データを用いること
が望ましい。また、上述の第１〜第３の画像欠陥の検出
方法のいずれか１つの方法あるいは複数の検出方法を用
いて画像欠陥の検出を行っても良いことは勿論である。
この欠陥検出部２４で画像欠陥が検出されたときには、
この画像欠陥の位置を示す情報ＦＤが欠陥情報メモリ部
２６に記憶される。In the detection of the image defect, the image defect may be detected using any one of the image data of the unirradiated image data SDA, the uniformly irradiated image data SDB, and the irradiated image data SDC of the radiation subject. Alternatively, an image defect may be detected using a plurality of types of image data. Further, as image data, unirradiated image data SDA, uniform irradiation image data SDB
It is desirable to use any one or both of the image data. Further, it is needless to say that the image defect may be detected by using any one of the first to third image defect detection methods or a plurality of detection methods.
When an image defect is detected by the defect detection unit 24,
Information FD indicating the position of the image defect is stored in the defect information memory unit 26.
【００３８】欠陥情報メモリ部２６に画像欠陥の位置を
示す情報ＦＤが記憶されているときに、画像メモリ部２
０に放射線被写体照射画像データＳＤＣが書き込まれる
と、欠陥情報メモリ部２６に記憶された画像欠陥の位置
を示す情報ＦＤに基づき画像メモリ部２０に書き込まれ
ている放射線被写体照射画像データＳＤＣを用いて平均
レベル等を算出することにより補正後の画像データが生
成される。この生成された画像データが画像欠陥の位置
と対応する画像メモリ部２０の位置に書き込まれるか、
または補正した画像データを用い、新たに１画面分の画
像データを作成し画像メモリ部２０に書き込み画像欠陥
の補正が行われる。この補正処理された１画面分の画像
データが画像メモリ部２０から読み出されて出力される
ことにより、画像欠陥が補正された良好な放射線画像を
速やかに得ることができる。When the information FD indicating the position of the image defect is stored in the defect information memory 26, the image memory 2
When the radiation subject irradiation image data SDC is written to 0, the radiation subject irradiation image data SDC written in the image memory unit 20 based on the information FD indicating the position of the image defect stored in the defect information memory unit 26 is used. By calculating an average level and the like, corrected image data is generated. Whether the generated image data is written to the position of the image memory unit 20 corresponding to the position of the image defect,
Alternatively, using the corrected image data, image data for one screen is newly created and written into the image memory unit 20 to correct an image defect. By reading and outputting the corrected image data for one screen from the image memory unit 20, it is possible to quickly obtain a good radiation image in which image defects have been corrected.
【００３９】また、所定期間経過毎に、あるいは放射線
画像の撮影が所定回数行われる毎に欠陥検出部２４で画
像欠陥の検出を行うものとすれば、欠陥画素が増加した
場合であって良好な放射線画像を速やかに得ることがで
きる。If it is assumed that the defect detection unit 24 detects an image defect every time a predetermined period elapses or every time a radiographic image is taken a predetermined number of times, it is possible to obtain a good image even when the number of defective pixels increases. A radiographic image can be obtained quickly.
【００４０】なお、画像欠陥の検出および画像欠陥の補
正は、画像データ生成部１６から画像メモリ部２０に書
き込まれた画像データを用いて行われる場合に限られる
ものではなく、既に撮影された画像データを画像メモリ
部２０に書き込むものとすれば、上述したように画像欠
陥の検出および画像欠陥の補正を行うことで、既に撮影
された画像データからも良好な放射線画像を得ることが
できる。The detection of the image defect and the correction of the image defect are not limited to the case where the image data is written using the image data written from the image data generator 16 to the image memory 20. If the data is written in the image memory unit 20, by detecting the image defect and correcting the image defect as described above, it is possible to obtain a good radiation image from the already captured image data.
【００４１】さらに、上述の実施の形態では、欠陥検出
部２４で自動的に画像欠陥の検出を行い、検出された画
像欠陥の位置を示す情報ＦＤを欠陥情報メモリ部２６に
記憶するものとしたが、図示しない画像表示装置の画面
上に撮影画像を表示させて、ユーザが表示された撮影画
像から画像欠陥を検出したときには、この検出された画
像欠陥の位置を情報ＦＤとして欠陥情報メモリ部２６に
書き込むことができるようにしてもよい。この場合、欠
陥検出部２４で検出することができない画像欠陥が生じ
ていても画像欠陥の補正を行うことができるので、更に
良好な放射線画像を得ることができる。Further, in the above-described embodiment, the image defect is automatically detected by the defect detecting section 24, and the information FD indicating the position of the detected image defect is stored in the defect information memory section 26. However, when a captured image is displayed on a screen of an image display device (not shown) and the user detects an image defect from the displayed captured image, the position of the detected image defect is used as information FD as a defect information memory unit 26. May be written. In this case, even if an image defect that cannot be detected by the defect detection unit 24 occurs, the image defect can be corrected, so that a better radiation image can be obtained.
【００４２】なお、上述の実施の形態では、撮像パネル
１１の領域を複数のブロックに区分して、それぞれブロ
ックから並列して電気信号ＳＶを出力するものとした
が、撮像パネル１１は領域が複数のブロックに区分され
たものに限られるものでないことは勿論である。In the above-described embodiment, the region of the imaging panel 11 is divided into a plurality of blocks, and the electric signals SV are output in parallel from the respective blocks. However, the imaging panel 11 has a plurality of regions. It is needless to say that the present invention is not limited to the block divided into blocks.
【００４３】[0043]
【発明の効果】この発明によれば、２次元的に配列され
た複数の放射線検出素子の出力信号により作成した第１
の画像データを用いて画像欠陥が検出されて、この検出
された画像欠陥の位置を示す欠陥情報が記憶され、被写
体を透過させて放射線を照射して作成した第２の画像デ
ータに対して記憶されている欠陥情報で示された位置の
画像データが補正される。このため、第２の画像データ
が画像欠陥を有する場合であっても画像欠陥が補正され
るので良好な放射線画像を得ることができる。According to the present invention, the first signal generated by the output signals of the plurality of radiation detecting elements arranged two-dimensionally is provided.
An image defect is detected using the image data, and defect information indicating the position of the detected image defect is stored, and stored for the second image data created by irradiating the subject with radiation. The image data at the position indicated by the displayed defect information is corrected. Therefore, even when the second image data has an image defect, the image defect is corrected, so that a good radiation image can be obtained.
【図１】この発明に係る放射線画像処理装置の構成を示
す図である。FIG. 1 is a diagram showing a configuration of a radiation image processing apparatus according to the present invention.
【図２】ブロックＡＲ-(0,0)を示す図である。FIG. 2 is a diagram showing a block AR- (0,0).
【図３】第１の欠陥画素検出方法を説明するための図で
ある。FIG. 3 is a diagram for explaining a first defective pixel detection method.
【図４】しきい値の設定方法を説明するための図であ
る。FIG. 4 is a diagram for explaining a method of setting a threshold.
【図５】第２の欠陥画素検出方法を説明するための図で
ある。FIG. 5 is a diagram for explaining a second defective pixel detection method.
【図６】ブロックＡＲ-(0,0)を示す図である。FIG. 6 is a diagram showing a block AR- (0,0).
【図７】照射野出力部の構成を示す図である。FIG. 7 is a diagram illustrating a configuration of an irradiation field output unit.
【図８】照射野認識装置の動作を説明するための図であ
る。FIG. 8 is a diagram for explaining the operation of the irradiation field recognition device.
【図９】輪郭候補点の他の接続方法を説明するための図
である。FIG. 9 is a diagram for explaining another method of connecting contour candidate points.
１１ 撮像パネル １４ 走査駆動部 １６ 画像データ生成部 ２０ 画像メモリ部 ２４ 欠陥検出部 ２６ 欠陥情報メモリ部 ２８ 欠陥補正部 ４０ 制御部 Reference Signs List 11 imaging panel 14 scan drive unit 16 image data generation unit 20 image memory unit 24 defect detection unit 26 defect information memory unit 28 defect correction unit 40 control unit
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (51)Int.Cl.7 識別記号 ＦＩ テーマコート゛(参考） Ｈ０４Ｎ 1/40 １０１Ｇ Ｆターム(参考） 2H013 AC03 4C093 AA26 AA30 CA01 EB12 EB13 EB17 FC03 FD03 FD09 FD12 FF06 FF09 FF15 FF19 FF33 FF34 FH02 5B057 AA08 CA16 CB08 CB16 CE20 DA03 DB02 DC22 5C072 AA01 BA20 EA08 VA01 5C077 LL01 LL13 MM01 MP01 PP52 PP53 PQ18 RR11 TT10 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page (51) Int.Cl. 7 Identification symbol FI Theme coat ゛ (Reference) H04N 1/40 101G F-term (Reference) 2H013 AC03 4C093 AA26 AA30 CA01 EB12 EB13 EB17 FC03 FD03 FD09 FD12 FF06 FF09 FF15 FF19 FF33 FF34 FH02 5B057 AA08 CA16 CB08 CB16 CE20 DA03 DB02 DC22 5C072 AA01 BA20 EA08 VA01 5C077 LL01 LL13 MM01 MP01 PP52 PP53 PQ18 RR11 TT10
Claims (14)
素子から各放射線検出素子を１画素とする出力信号を得
るものとし、 前記出力信号に基づいて作成された第１の画像データか
ら画像欠陥を検出すると共に、検出された画像欠陥の位
置を示す欠陥情報を生成し、 被写体を透過した放射線を前記複数の放射線検出素子に
照射して作成した第２の画像データでの前記欠陥情報で
示された画像欠陥の画像データを補正することを特徴と
する放射線画像処理方法。An output signal having one radiation detection element as one pixel is obtained from a plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally, and an image is formed from first image data created based on the output signal. A defect is detected, and defect information indicating the position of the detected image defect is generated. The defect information in the second image data created by irradiating the plurality of radiation detecting elements with radiation transmitted through the subject is used. A radiation image processing method, wherein the image data of the indicated image defect is corrected.
せずに作成した画像データ、放射線を一様に照射して作
成した画像データ、被写体を透過させて放射線を照射し
て作成した画像データの少なくとも１種類以上の画像デ
ータであることを特徴とする請求項１記載の放射線画像
処理方法。2. The first image data includes image data created without irradiating radiation, image data created by uniformly irradiating radiation, and image created by irradiating radiation through a subject. 2. The radiation image processing method according to claim 1, wherein the data is at least one kind of image data.
せずに作成した画像データ、放射線を一様に照射して作
成した画像データの少なくとも１種類以上の画像データ
であることを特徴とする請求項１記載の放射線画像処理
方法。3. The method according to claim 1, wherein the first image data is at least one kind of image data created without irradiating the radiation, and image data created by uniformly irradiating the radiation. The radiation image processing method according to claim 1.
りもレベルの高い第２のしきい値を設け、前記第１の画
像データの画素毎のレベルが前記第１のしきい値よりも
低い場合、あるいは前記第２のしきい値よりも高い場
合、前記画素を画像欠陥と判別する第１の検出処理と、 前記第１の画像データの画素毎のレベルが周囲の前記画
素の画像データの平均レベルよりも所定量以上異なる場
合、前記画素を画像欠陥と判別する第２の検出処理と、 第３のしきい値と前記第３のしきい値よりもレベルの高
い第４のしきい値を設け、前記第１の画像データとし
て、縦方向または横方向に所定ライン数の画像データの
平均レベルを用いるものとし、前記平均レベルが前記第
３のしきい値よりも低い場合、あるいは前記第４のしき
い値よりも高い場合に、前記所定ライン数分の前記画素
を画像欠陥と判別する第３の検出処理と、 前記第１の画像データとして、縦方向または横方向に所
定ライン数の画像データの平均レベルを用いるものと
し、前記平均レベルが周囲の画素の画像データの平均レ
ベルよりも所定量以上異なる場合に、前記所定ライン数
分の前記画素を画像欠陥と判別する第４の検出処理か
ら、いずれか１つあるいは複数の検出処理を行うものと
し、 前記１つあるいは複数の検出処理で得られた画像欠陥か
ら前記欠陥情報を生成することを特徴とする請求項１か
ら請求項３のいずれかに記載の放射線画像処理方法。4. A first threshold value and a second threshold value higher than the first threshold value are provided, and the level of each pixel of the first image data is set to the first threshold value. If the threshold value is lower than the threshold value or the threshold value is higher than the second threshold value, a first detection process of determining the pixel as an image defect; and a level of each pixel of the first image data, A second detection process for determining the pixel as an image defect if the pixel data is different from the average level of the image data of the pixel by a predetermined amount or more; a third threshold value and a third threshold value higher than the third threshold value; A threshold value of 4 is provided, and an average level of a predetermined number of lines of image data in a vertical direction or a horizontal direction is used as the first image data, and the average level is lower than the third threshold value. Or if higher than the fourth threshold A third detection process of determining the pixels of the predetermined number of lines as image defects, and using the average level of the image data of the predetermined number of lines in the vertical or horizontal direction as the first image data, When the average level is different from the average level of the image data of the surrounding pixels by a predetermined amount or more, one or more of the fourth detection processing for determining the pixels for the predetermined number of lines as image defects is performed. The radiation image processing method according to any one of claims 1 to 3, wherein the defect information is generated from image defects obtained by the one or more detection processes.
した後の画像データであることを特徴とする請求項１か
ら請求項４のいずれかに記載の放射線画像処理方法。5. The radiation image processing method according to claim 1, wherein the first image data is image data after detrending.
ずる画素の周囲の正常画素の画像データの平均レベルを
用いることを特徴とする請求項１から請求項５のいずれ
かに記載の放射線画像処理方法。6. The radiographic image according to claim 1, wherein the correction of the image defect uses an average level of image data of normal pixels around a pixel causing the image defect. Processing method.
欠陥を生ずる画素からの距離に応じて重み付けされた画
像データであることを特徴とする請求項６記載の放射線
画像処理方法。7. The radiation image processing method according to claim 6, wherein the image data of the normal pixels is image data weighted according to a distance from a pixel causing the image defect.
素子から各放射線検出素子を１画素とする出力信号に基
づいて作成された第１の画像データから画像欠陥を検出
すると共に、検出された画像欠陥の位置を示す欠陥情報
を生成する欠陥検出手段と、 前記欠陥検出手段で生成された欠陥情報を記憶する欠陥
情報記憶手段と、 前記欠陥情報記憶手段に記憶した欠陥情報に基づき、被
写体を透過した放射線を前記複数の放射線検出素子に照
射して作成した第２の画像データの画像欠陥を補正する
欠陥補正手段とを有することを特徴とする放射線画像処
理装置。8. An image defect is detected from first image data created based on an output signal in which each radiation detection element is one pixel from a plurality of radiation detection elements arranged two-dimensionally, and the image defect is detected. Defect detection means for generating defect information indicating the position of the image defect, defect information storage means for storing the defect information generated by the defect detection means, and an object based on the defect information stored in the defect information storage means. A defect correction unit that corrects an image defect of the second image data created by irradiating the radiation transmitted through the plurality of radiation detection elements to the plurality of radiation detection elements.
した画像データ、放射線を一様に照射して作成した画像
データ、被写体を透過させて放射線を照射して作成した
画像データの少なくとも１種類以上の画像データを用い
ることを特徴とする請求項８記載の放射線画像処理装
置。9. The defect detecting means, as the first image data, image data created without irradiating the radiation, image data created by irradiating the radiation uniformly, and transmitting the radiation through the subject. 9. The radiation image processing apparatus according to claim 8, wherein at least one kind of image data of the image data created by irradiation is used.
した画像データ、放射線を一様に照射して作成した画像
データの少なくとも１種類以上の画像データを用いるこ
とを特徴とする請求項８記載の放射線画像処理装置。10. The image forming apparatus according to claim 1, wherein the first image data includes at least one of image data created without irradiating radiation, and image data created by uniformly irradiating radiation. 9. The radiation image processing apparatus according to claim 8, wherein
い第２のしきい値を設け、前記第１の画像データの画素
毎のレベルが前記第１のしきい値よりも低い場合、ある
いは前記第２のしきい値よりも高い場合、前記画素を画
像欠陥と判別する第１の検出処理と、 前記第１の画像データの画素毎のレベルが周囲の前記画
素の画像データの平均レベルよりも所定量以上異なる前
記画素を画像欠陥と判別する第２の検出処理と、 第３のしきい値と前記第３のしきい値よりもレベルの高
い第４のしきい値を設け、前記第１の画像データとし
て、縦方向または横方向に所定ライン数の画像データの
平均レベルを用いるものとし、前記平均レベルが前記第
３のしきい値よりも低い場合、あるいは前記第４のしき
い値よりも高い場合に、前記所定ライン数分の前記画素
を画像欠陥と判別する第３の検出処理と、 前記第１の画像データとして、縦方向または横方向に所
定ライン数の画像データの平均レベルを用いるものと
し、前記平均レベルが周囲の画素の画像データの平均レ
ベルよりも所定量以上異なる場合に、前記所定ライン数
分の前記画素を画像欠陥と判別する第４の検出処理か
ら、いずれか１つあるいは複数の検出処理を行うものと
し、 前記１つあるいは複数の検出処理で得られた画像欠陥か
ら前記欠陥情報を生成することを特徴とする請求項８か
ら請求項１０のいずれかに記載の放射線画像処理装置。11. The apparatus according to claim 1, wherein the defect detecting means includes a first threshold value and a second threshold value higher than the first threshold value, and the level of the first image data is determined for each pixel. If the value is lower than the first threshold value or higher than the second threshold value, a first detection process of determining the pixel as an image defect; A second detection process of determining the pixel whose level is different from the average level of the image data of the surrounding pixels by a predetermined amount or more as an image defect; A fourth threshold having a high level is provided, and an average level of a predetermined number of lines of image data in the vertical or horizontal direction is used as the first image data, and the average level is the third threshold. Lower than the threshold, or the fourth threshold A third detection process for determining the pixels of the predetermined number of lines as image defects when the value is higher than the predetermined value, and averaging the image data of the predetermined number of lines in the vertical or horizontal direction as the first image data. When the average level is different from the average level of the image data of the surrounding pixels by a predetermined amount or more, a fourth detection process of determining the pixels of the predetermined number of lines as image defects is performed. 11. The method according to claim 8, wherein one or more detection processes are performed, and the defect information is generated from image defects obtained by the one or more detection processes. The radiation image processing apparatus according to claim 1.
像データとしてトレンド除去した画像データを用いるこ
とを特徴とする請求項８から請求項１１のいずれかに記
載の放射線画像処理装置。12. The radiation image processing apparatus according to claim 8, wherein the defect detection unit uses de-trended image data as the first image data.
平均レベルを用いることを特徴とする請求項８から請求
項１２のいずれかに記載の放射線画像処理装置。13. The radiation image processing apparatus according to claim 8, wherein the defect correction unit uses an average level of image data of normal pixels around a pixel where an image defect occurs. apparatus.
る画素からの距離に応じて重み付けされた画像データを
用いることを特徴とする請求項１３記載の放射線画像処
理装置。14. The radiographic image according to claim 13, wherein said defect correcting means uses, as image data of said normal pixels, image data weighted according to a distance from a pixel where said image defect occurs. Processing equipment.
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|---|---|---|---|
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