JP2000055639A - Optical card inspecting device - Google Patents
Optical card inspecting deviceInfo
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Abstract
Description
【０００１】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は光カードを検査する
光カード検査装置に関する。The present invention relates to an optical card inspection device for inspecting an optical card.
【０００２】[0002]
【従来の技術】現在、キャッシュカードやクレジットカ
ードのようなプラスチックカードの普及により、一人が
複数枚のカードを携帯するカード社会が形成されてい
る。従来のプラスチックカードは一般に磁気記録による
磁気カードが主流であったが、ディジタル技術の進歩に
より電子財布のようなＩＣカードが注目を浴びつつあ
る。カードの普及は、個人の信用情報や健康履歴を各人
に保有させるという新しい要求を生み、より大容量のカ
ード形態の記録媒体が望まれている。2. Description of the Related Art At present, with the spread of plastic cards such as cash cards and credit cards, a card society in which one person carries a plurality of cards has been formed. In general, magnetic cards based on magnetic recording have been the mainstream of conventional plastic cards, but IC cards such as electronic wallets are attracting attention due to advances in digital technology. The widespread use of cards has created a new demand for individuals to retain personal credit information and health histories, and there has been a demand for larger-capacity card-type recording media.
【０００３】大容量のカードとして最も期待されている
光カードは、１枚当たり数メガバイトから数十メガバイ
トのデータ容量を持たせることが可能である。光カード
は原理的には光ディスクをカード形態にしたものであ
り、一般に読み出し専用のＲＯＭ型光カードよりは追記
型のＷＯＲＭ型光カードが出回っている。光カードには
光カードの内容をリーダライタに認識させるためのプリ
レコードデータや、データの読み書きの際にピックアッ
プを追従させるためのトラックガイドがプリフォーマッ
トされている。光カードの種類によっては、光カードに
バーコードやフォーマットのタイプも同時にプリフォー
マットされる。光カードはＩＳＯやＪＩＳにより規格化
されており、上記の要求の高まりにしたがって今後普及
していくと考えられている。An optical card most expected as a large-capacity card can have a data capacity of several megabytes to several tens of megabytes per card. The optical card is in principle an optical disk in the form of a card, and a write-once WORM optical card is generally available rather than a read-only ROM optical card. The optical card is preformatted with prerecorded data for causing a reader / writer to recognize the contents of the optical card, and a track guide for causing a pickup to follow the data when reading and writing data. Depending on the type of optical card, the type of barcode or format is also preformatted on the optical card. Optical cards are standardized by ISO and JIS, and are expected to become popular in the future as the above demands increase.
【０００４】[0004]
【発明が解決しようとする課題】ところで光カードの検
査は、これまで人による顕微鏡検査に頼ってきた。従来
の光カードやその原版の検査装置としては、例えば特開
昭６３−２８１２６１号に、オートフォーカスのピック
アップのレーザー光を光カードに照射し反射光から検知
するものが開示されている。これは基本的に媒体の読み
取り装置の応用であり、実際の読み取り状況をよく反映
するが、それだけに全面検査には時間がかかる。また、
トラッキングの必要性から、全面検査であってもトラッ
ク部分しか検査できないという制約がある。これはトラ
ックガイドに欠陥があった場合は、その検査を行なうこ
とができず、トラッキング不良を生じ、検査不可能な箇
所が発生することを意味する。したがって、トラックガ
イドの検査結果は間接的にしか得られない。このため媒
体の信頼性検査としては不十分な結果を得る可能性が大
きい。The inspection of an optical card has heretofore relied on manual microscopy. 2. Description of the Related Art As a conventional optical card and its original plate inspection apparatus, for example, Japanese Patent Application Laid-Open No. 63-281261 discloses an apparatus that irradiates an optical card with laser light from an autofocus pickup and detects the reflected light. This is basically an application of a medium reading device, and reflects the actual reading situation well, but the whole inspection takes time only by that. Also,
Due to the necessity of tracking, there is a restriction that only the track portion can be inspected even in the entire inspection. This means that if there is a defect in the track guide, the inspection cannot be performed, a tracking failure occurs, and a part that cannot be inspected is generated. Therefore, the inspection result of the track guide can be obtained only indirectly. For this reason, there is a high possibility that an insufficient result is obtained as a medium reliability test.
【０００５】トラックガイド部分を含めた全面検査可能
な装置としては、特開平１−３１０４８５に示すものが
知られている。これはラインセンサと光源と光カードか
らなる光学系を利用し、斜入射で光カードから反射した
光をセンサで電気信号に変換し、信号処理するもので、
プリフォーマット部分を光学的にフィルタリングして異
物、傷、ピンホール等の欠陥を検知するものである。As an apparatus capable of inspecting the entire surface including a track guide portion, there is known an apparatus disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. Hei 1-310485. This uses an optical system consisting of a line sensor, a light source, and an optical card, converts light reflected from the optical card at oblique incidence into an electrical signal by a sensor, and processes the signal.
The preformat portion is optically filtered to detect a defect such as a foreign matter, a scratch, or a pinhole.
【０００６】しかしこの装置であっても、単純に微分処
理するだけではプリフォーマットデータのある部分とな
い部分でのみかけの反射率差により、やはり疑似欠陥を
検知してしまう。さらに十分な分解能を確保しようとす
ると、フォーマットによってはプリフォーマットデータ
の一部やバーコード、フォーマットタイプを示すロゴを
擬似欠陥としてしまい、正確な検査ができない。However, even in this apparatus, a pseudo defect is still detected due to an apparent difference in reflectance between a portion having preformat data and a portion not having preformat data by simply performing a differentiation process. If a sufficient resolution is to be ensured, a part of the pre-format data, a bar code, and a logo indicating the format type are regarded as pseudo defects, depending on the format, and accurate inspection cannot be performed.
【０００７】また、このタイプの従来機は検査したい光
記録領域を確実に範囲指定するための事前走査が必要で
あるので、１枚の光カードの検査に二度のスキャンが必
要である。すなわち、矩形の光記録領域の例えば左上座
標と右下座標をオペレータがモニタ画面上でカーソルで
設定する事前走査が必要であり、検査時間は２倍以上必
要となり不経済なものである。In addition, this type of conventional apparatus requires pre-scanning for surely specifying the range of an optical recording area to be inspected, so that one optical card needs to be scanned twice. That is, pre-scanning in which the operator sets, for example, upper left coordinates and lower right coordinates of a rectangular optical recording area with a cursor on a monitor screen is required, and the inspection time is twice or more, which is uneconomical.
【０００８】本発明はこのような点を考慮してなされた
ものであり、プリフォーマットを擬似欠陥とみなさない
ように画像処理を行なって顕微鏡検査と同様の結果を安
定して得ることができる光カード検査装置を提供するこ
とを目的とする。The present invention has been made in view of the foregoing points, and has been made in view of the above circumstances. An image processing apparatus that performs image processing such that a preformat is not regarded as a pseudo defect and can stably obtain a result similar to a microscopic inspection. An object of the present invention is to provide a card inspection device.
【０００９】[0009]
【課題を解決するための手段】本発明は、少なくとも表
面に第１領域と第２領域とを含む光記録層を有する光カ
ードを検査する光カード検査装置において、光カードを
載置してｘ方向およびｙ方向へ移動するｘｙテーブル
と、光カードの光記録層に光を投光する投光器と、光カ
ードの光記録層から反射する光を受光する受光器と、受
光器に接続され画像処理を行なって光カードの欠陥検出
を行なう画像処理とを備え、画像処理装置は第１領域か
らの画像信号をｘ方向に微分するｘ微分処理フィルタ
と、第２領域からの画像処理をｙ方向に微分するｙ微分
処理フィルタと、ｘ微分処理フィルタおよびｙ微分処理
フィルタからの信号を各々二値化処理する二値化処理部
と、二値化した信号に基づいて欠陥を検出するＣＰＵと
を有することを特徴とする光カード検査装置である。According to the present invention, there is provided an optical card inspection apparatus for inspecting an optical card having an optical recording layer including at least a first area and a second area on a surface thereof. An xy table that moves in the direction and the y direction, a projector that projects light onto the optical recording layer of the optical card, a photoreceiver that receives light reflected from the optical recording layer of the optical card, and an image processing device that is connected to the photoreceiver. Performing an image processing for detecting a defect of the optical card by performing an image processing. The image processing apparatus performs an x differential processing filter for differentiating an image signal from the first area in the x direction and an image processing from the second area in the y direction. It has a y-differential processing filter for differentiating, a binarization processing unit for binarizing signals from the x-differential processing filter and the y-differential processing filter, and a CPU for detecting a defect based on the binarized signal. It is characterized by That is an optical card inspection equipment.
【００１０】本発明によれば、受光器を経た第１領域か
らの画像信号がｘ微分処理フィルタによりｘ方向に微分
され、第２領域からの画像信号がｙ微分処理フィルタに
よりｙ方向に微分される。次にｘ微分処理するフィルタ
とｙ微分処理フィルタからの信号が二値化処理部で二値
化化処理され、二値化処理部からの信号に基づいてＣＰ
Ｕにより欠陥が処理される。According to the present invention, the image signal from the first region passing through the light receiving device is differentiated in the x direction by the x differentiation processing filter, and the image signal from the second region is differentiated in the y direction by the y differentiation processing filter. You. Next, the signals from the x differential processing filter and the y differential processing filter are binarized by the binarization processing unit, and the signals are converted to CPs based on the signals from the binarization processing unit.
U handles the defect.
【００１１】[0011]
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明によ
る光カード検査装置について説明する。DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, an optical card inspection apparatus according to the present invention will be described with reference to the drawings.
【００１２】図１に示すように、光カード検査装置はｘ
方向およびｙ方向に移動するｘｙテーブル１０と、ｘｙ
テーブル１０上に設けられ光カード５を載置するトレイ
８とを備えている。このうちトレイ８上には光カード５
を吸着するための吸着孔（図示せず）が設けられ、この
吸着孔は真空ポンプ９に接続されている。またトレイ８
には、光カード５を定位置に保持するガイド８ａが設け
られている。光カード５は、その端縁４０がガイド８ａ
に当接している。As shown in FIG. 1, the optical card inspection apparatus has x
An xy table 10 moving in the direction and the y direction;
And a tray 8 provided on the table 10 for placing the optical card 5 thereon. The optical card 5 is placed on the tray 8
A suction hole (not shown) for sucking is provided, and this suction hole is connected to the vacuum pump 9. Tray 8
Is provided with a guide 8a for holding the optical card 5 in a fixed position. The optical card 5 has an edge 40 whose guide 8a
Is in contact with
【００１３】図１に示すように、トレイ８上には光カー
ド５表面に光を投光する投光器１が設けられ、光カード
５表面から反射する光は受光器４により受光されるよう
になっている。このうち受光器４はＣＣＤカメラ２と、
ＣＣＤカメラ２の光カード５側に設けられた集光レンズ
３とからなり、ＣＣＤカメラ２としては５０００画素
（有効画素数４０００）のラインセンサカメラが用いら
れる。As shown in FIG. 1, a light projector 1 for projecting light onto the surface of an optical card 5 is provided on a tray 8, and light reflected from the surface of the optical card 5 is received by a light receiver 4. ing. The light receiver 4 includes the CCD camera 2 and
It comprises a condenser lens 3 provided on the optical card 5 side of the CCD camera 2, and a 5000 pixel (4000 effective pixels) line sensor camera is used as the CCD camera 2.
【００１４】また、ＣＣＤカメラ２と集光レンズ３との
間に複数の接写リング（図示せず）を配置することによ
り、ＣＣＤカメラ２による分解能を変化させることがで
きる。この分解能にともなって１スキャンの幅が決定さ
れ、本実施の形態においては５μ分解能（５μ以上の欠
陥を検出する能力）をもたせるため、１スキャンの幅を
２０ｍｍとなっている。従って３５ｍｍ幅の光記録面を
有する光カード５の場合、２スキャンを行なう必要があ
る。Further, by disposing a plurality of close-up rings (not shown) between the CCD camera 2 and the condenser lens 3, the resolution of the CCD camera 2 can be changed. The width of one scan is determined in accordance with this resolution. In the present embodiment, the width of one scan is set to 20 mm in order to provide 5 μ resolution (the ability to detect a defect of 5 μ or more). Therefore, in the case of the optical card 5 having an optical recording surface having a width of 35 mm, it is necessary to perform two scans.
【００１５】また、ＣＣＤカメラ２には画像処理を行な
って光カード５の欠陥検出を行なう画像処理装置６が接
続され、画像処理装置６にはｘｙテーブル１０の駆動制
御を行なうパーソナルコンピュータ７が接続されてい
る。このパーソナルコンピュータ７はさらに検査条件の
設定、検査の実行、画像処理結果の統計処理、欠陥サイ
ズと欠陥位置情報のマップ表示、ロットごとの歩留り計
算などの機能も有している。The CCD camera 2 is connected to an image processing device 6 for performing image processing to detect a defect in the optical card 5, and a personal computer 7 for controlling the driving of the xy table 10 is connected to the image processing device 6. Have been. The personal computer 7 also has functions such as setting of inspection conditions, execution of inspection, statistical processing of image processing results, map display of defect size and defect position information, and yield calculation for each lot.
【００１６】次に図３により、画像処理装置６について
述べる。画像処理装置６はＣＣＤカメラ３からの画像信
号をＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器２０と、画像信号を蓄
積する画像メモリ２１と、画像信号からノイズを除去す
るメディアンフィルタ２２とを有している。また、メデ
ィアンフィルタ２２には、後述のように鏡面部１４から
の画像信号をｘ方向に微分するｘ微分処理フィルタ２３
ａと、光記録部１３からの画像信号をｙ方向に微分する
ｙ微分処理フィルタ２３ｂとが並列に接続され、これら
ｘ微分処理フィルタ２３ａとｙ微分処理フィルタ２３ｂ
には、信号を二値化処理する二値化処理部２４ａ，２４
ｂが各々接続されている。ここで、ｘ方向とは光カード
５の長辺方向をいい、ｙ方向とは光カード５の短辺方向
をいう（図２（ａ）参照）。また、二値化処理部２４
ａ，２４ｂには、画像メモリ２１からの生画像上に欠陥
部分を表示するラベリングユニット２６が接続されてい
る。Next, the image processing apparatus 6 will be described with reference to FIG. The image processing device 6 has an A / D converter 20 for A / D converting an image signal from the CCD camera 3, an image memory 21 for storing the image signal, and a median filter 22 for removing noise from the image signal. ing. The median filter 22 includes an x differentiation processing filter 23 for differentiating an image signal from the mirror unit 14 in the x direction as described later.
a and a y differential processing filter 23b for differentiating the image signal from the optical recording unit 13 in the y direction are connected in parallel, and these x differential processing filter 23a and y differential processing filter 23b
Include binarization processing units 24a and 24 for binarizing a signal.
b are connected to each other. Here, the x direction refers to the long side direction of the optical card 5, and the y direction refers to the short side direction of the optical card 5 (see FIG. 2A). Also, the binarization processing unit 24
A labeling unit 26 for displaying a defective portion on a raw image from the image memory 21 is connected to the terminals a and 24b.
【００１７】さらに、上記のＡ／Ｄ変換器２０、画像メ
モリ２１、メディアンフィルタ２２、ｘ微分処理フィル
タ２３ａ、ｙ微分処理フィルタ２３ｂ、二値化処理部２
４ａ，２４ｂおよびラベリングユニット２６は、各々Ｃ
ＰＵ２５に接続されている。このＣＰＵ２５は二値化処
理部２４ａ，２４ｂからの信号に基づいて欠陥を判定す
るとともに、判定結果を画像表示部４９に出力するよう
になっている。Further, the above-mentioned A / D converter 20, image memory 21, median filter 22, x differential processing filter 23a, y differential processing filter 23b, binarization processing section 2
4a, 24b and the labeling unit 26
It is connected to PU25. The CPU 25 determines a defect based on signals from the binarization processing units 24a and 24b, and outputs a result of the determination to the image display unit 49.
【００１８】次に光カード５について、図２（ａ）
（ｂ）（ｃ）（ｄ）により説明する。図２（ａ）（ｂ）
（ｃ）（ｄ）に示すように、光カード５はカード基板１
１と、カード基板１１上に設けられた光記録層１２と、
光記録層１２上に設けられた透明層５０とを備えてい
る。光記録層１２はさらに光記録部１３と、光記録部１
３の上下部に配置された鏡面部１４とを有している。こ
こで図２（ｄ）は光カード５の断面を示す図である。Next, regarding the optical card 5, FIG.
This will be described with reference to (b), (c), and (d). FIGS. 2A and 2B
(C) As shown in (d), the optical card 5 is the card substrate 1.
1, an optical recording layer 12 provided on a card substrate 11,
And a transparent layer 50 provided on the optical recording layer 12. The optical recording layer 12 further includes an optical recording unit 13 and an optical recording unit 1.
3 and a mirror portion 14 arranged at the upper and lower portions. Here, FIG. 2D is a diagram showing a cross section of the optical card 5.
【００１９】また、光記録部１３は図２（ａ）に示すよ
うに、左右両端部に位置する加速領域１３ａ，１３ａ
と、中央部に位置する記録領域１３ｃと、加速領域１３
ａ，１３ａと記録領域１３ｃとの間に位置するＩＤ用プ
リレコード領域１３ｂ，１３ｂとからなっており、記録
領域１３ｃと鏡面部１４との間にはガードトラック１３
ｄが配置されている。As shown in FIG. 2A, the optical recording unit 13 has acceleration regions 13a, 13a located at both left and right ends.
, A recording area 13c located at the center, and an acceleration area 13
a, 13a and a recording area 13c, and ID pre-recording areas 13b and 13b. A guard track 13 is provided between the recording area 13c and the mirror surface section 14.
d is arranged.
【００２０】また図２（ｂ）に示すように記録領域１３
ａは、多数本のトラックガイド４１と、トラックガイド
４１間の情報入力用トラック４２とからなり、トラック
ガイド４１の幅は２．５μ、トラックガイド４１のピッ
チは１２μとなっている。さらに図２（ｃ）に示すよう
に、ガードトラック１３ｄは複数のトラックガイド４４
と、トラックガイド４４間のトラック４６とからなり、
トラック４６にはスペース４７を間に挟んでライン４６
が設けられている。Further, as shown in FIG.
a is composed of a number of track guides 41 and information input tracks 42 between the track guides 41. The width of the track guides 41 is 2.5 μm and the pitch of the track guides 41 is 12 μm. Further, as shown in FIG. 2C, the guard track 13d includes a plurality of track guides 44.
And a track 46 between the track guides 44,
The track 46 has a line 46 with a space 47 in between.
Is provided.
【００２１】次にこのような構成からなる本実施の形態
の作用について説明する。まずＸＹテーブル１０をＸ方
向に駆動しながら投光器１から光カード５の表面に光が
投光されると、光カード５からの反射光が受光レンズ３
を経てＣＣＤカメラ２に入る。次にＣＣＤカメラ２の１
ラインごとの画像信号は画像処理装置６のＡ／Ｄ変換器
２０によってＡ／Ｄ変換され、画像メモリ２１に蓄積さ
れる。次に画像メモリ２１の画像信号は、メディアンフ
ィルタ２２でそのノイズが除去される。Next, the operation of the present embodiment having the above configuration will be described. First, when light is projected from the projector 1 to the surface of the optical card 5 while driving the XY table 10 in the X direction, the reflected light from the optical card 5
And enters the CCD camera 2. Next, 1 of the CCD camera 2
The image signal for each line is A / D converted by the A / D converter 20 of the image processing device 6 and stored in the image memory 21. Next, the noise of the image signal in the image memory 21 is removed by the median filter 22.
【００２２】例えば記録領域１３ｃのトラックガイド４
１は２．５μ幅を有しており、本実施の形態においては
上述のように５μの分解能を有しているので、２．５μ
幅のトラックガイド４１を欠陥として検出することはな
い。しかしながら、場合によっては、２．５μ幅のトラ
ックガイド４１を欠陥として検出することも考えられ、
このような擬似欠陥をノイズとしてメディアンフィルタ
２２によって除去する。このようなメディアンフィルタ
２２としては、図８（ａ）（ｂ）に示す８×４のものが
好ましく、係数は図８（ａ）（ｂ）に示すとおりであ
る。For example, the track guide 4 of the recording area 13c
1 has a width of 2.5 .mu. And has a resolution of 5 .mu.
The track guide 41 having the width is not detected as a defect. However, in some cases, it is conceivable to detect the track guide 41 having a width of 2.5 μ as a defect.
Such a pseudo defect is removed as noise by the median filter 22. As such a median filter 22, an 8 × 4 filter shown in FIGS. 8A and 8B is preferable, and the coefficients are as shown in FIGS. 8A and 8B.
【００２３】次に光カード５のうち少なくとも鏡面部１
４とガードトラック１３ｄを含む領域（以下、鏡面部領
域１００）からの画像信号がｘ微分処理フィルタ２３ａ
においてｘ方向に微分され、微分処理に基づく極大点が
求められる。同時に光記録部１３であってガードトラッ
ク１３ｄを含まない領域（以下、光記録部領域１０１）
からの画像信号がｙ微分処理フィルタ２３ｂにおいてｙ
方向に微分され、微分処理に基づく極大点が求められ
る。すなわちｘ微分処理フィルタ２３ａおよびｙ微分処
理フィルタ２３ｂからの信号は、二値化処理部２４ａ，
２４ｂにおいて各々処理され、この結果がＣＰＵ２５に
送られて欠陥検出が行なわれる。Next, at least the mirror portion 1 of the optical card 5
4 and an image signal from a region including the guard track 13d (hereinafter, a mirror surface region 100) is converted into an x differential processing filter 23a.
Are differentiated in the x direction, and a maximum point based on the differentiation processing is obtained. At the same time, an area which is the optical recording section 13 and does not include the guard track 13d (hereinafter, the optical recording section area 101).
From the image signal y
Is differentiated in the direction, and a maximum point based on the differentiation process is obtained. That is, the signals from the x differential processing filter 23a and the y differential processing filter 23b are output to the binarization processing section 24a,
Each is processed at 24b, and the result is sent to the CPU 25 for defect detection.
【００２４】またＣＰＵ２５によって検出された欠陥３
３はラベリングユニット２６により画像メモリ２１から
の生画像上に表示され、表示結果は画像表示部４９に出
力される（図３参照）。The defect 3 detected by the CPU 25
3 is displayed on the raw image from the image memory 21 by the labeling unit 26, and the display result is output to the image display unit 49 (see FIG. 3).
【００２５】また、この間、パーソナルコンピュータ７
はｘｙテーブル１０の駆動制御を行なうとともに、検査
条件の設定をＣＰＵ２５に対して行なう。またパーソナ
ルコンピュータ７はＣＰＵ２５からの検出結果を統計処
理するとともに、欠陥サイズと欠陥位置情報のマップ表
示およびロットでその歩留り計算等を行なう。During this time, the personal computer 7
Controls the driving of the xy table 10 and sets the inspection conditions for the CPU 25. The personal computer 7 statistically processes the detection result from the CPU 25, displays a map of defect size and defect position information, and calculates the yield of the lot.
【００２６】本実施の形態によれば、光カード５の光記
録層１２を鏡面部領域１００と光記録部領域１０１に分
け、鏡面部領域１００からの画像信号はｘ方向に微分さ
れ、光記録部１３からの画像信号はｙ方向に微分され
る。これにより図７に示すように、太線で示した鏡面部
１４の境界部２４を除いて、擬似欠陥を生じさせること
なく光カード５の全面を検査できる。また図２に示すガ
ードトラック１３ｄのプリレコードデータは、フォーマ
ットによってはライン４６とスペース４７が６μピッチ
となるので、不安定ながら擬似欠陥として検知されるこ
とも考えられるが、鏡面部１４とガードトラック１３ｄ
を含む鏡面部領域１００と、ガードトラック１３ｄを除
く光記録領域１３、すなわち光記録部領域１０１に対
し、それぞれ別々のしきい値を設定することによりガー
ドトラック１３ｄからの擬似欠陥を防止することができ
る。具体的には、鏡面部１４側のしきい値を光記録領域
１３のしきい値に対し２００％（感度を半分）とするこ
とで擬似欠陥を発生せずに全面検査することができる。According to the present embodiment, the optical recording layer 12 of the optical card 5 is divided into the mirror surface area 100 and the optical recording area 101, and the image signal from the mirror area 100 is differentiated in the x direction, and the optical recording is performed. The image signal from the unit 13 is differentiated in the y direction. As a result, as shown in FIG. 7, the entire surface of the optical card 5 can be inspected without causing a pseudo defect except for the boundary portion 24 of the mirror surface portion 14 shown by a thick line. In the pre-record data of the guard track 13d shown in FIG. 2, the line 46 and the space 47 have a pitch of 6 .mu. Depending on the format. 13d
By setting different thresholds for the mirror surface area 100 including the above and the optical recording area 13 except the guard track 13d, that is, the optical recording area 101, it is possible to prevent a pseudo defect from the guard track 13d. it can. Specifically, the entire surface can be inspected without generating a pseudo defect by setting the threshold value of the mirror surface portion 14 side to 200% (half the sensitivity) of the threshold value of the optical recording area 13.
【００２７】また鏡面部１４にプリフォーマットされる
ものとして、他にバーコード１５やフォーマットのタイ
プ１６があるが、これらも擬似欠陥として検知してしま
うため、ＣＰＵ２５において、バーコード１５とタイプ
１６の位置を指定してマスク処理しデータから除外して
いる。There are other bar codes 15 and format types 16 that are preformatted by the mirror surface portion 14. These are also detected as pseudo defects. The position is specified and masked and excluded from the data.
【００２８】なおＩＤ用プリレコードデータ部１３ｂ，
１３ｂは、５μの分解能以下のため、画像化されたとき
には記録領域１３ｃよりやや暗い領域となる。The ID pre-record data section 13b,
Since 13b has a resolution of 5 μ or less, it is an area slightly darker than the recording area 13c when an image is formed.
【００２９】次に比較例として、光カード５表面からの
反射光について、領域を区別することなくｘ方向の微分
とｙ方向の微分を行なう場合について述べる。この場合
は表示部１２の光記録部１３がＩＤ用プリレコード領域
１３ｂ，１３ｂを有するため、ｘ方向の微分によりＩＤ
用プリレコード領域１３ｂ，１３ｂの両側に図４（ａ）
に示すような擬似欠陥３０を発生してしまう。また同様
にプリフォーマットの有無による鏡面部１４と光記録部
１３とのみかけの反射率の差から、表示部１２にｙ方向
の微分により図４（ｂ）に示すような擬似欠陥３１が発
生する。そこでｘ方向およびｙ方向の微分のＡＮＤをと
れば図５に示すように表示部１２に生じる擬似欠陥３２
は大幅に少なくなる。Next, as a comparative example, a case will be described in which the reflected light from the surface of the optical card 5 is differentiated in the x direction and the y direction without distinguishing the regions. In this case, since the optical recording unit 13 of the display unit 12 has the ID pre-record areas 13b, 13b, the ID is obtained by differentiation in the x direction.
4 (a) on both sides of the prerecording areas 13b, 13b.
A pseudo defect 30 shown in FIG. Similarly, a pseudo defect 31 as shown in FIG. 4B is generated in the display unit 12 by differentiating in the y direction from the apparent difference in reflectance between the mirror surface unit 14 and the optical recording unit 13 depending on the presence or absence of the preformat. . Therefore, if the AND of the differential in the x direction and the y direction is calculated, the pseudo defect 32 generated in the display unit 12 as shown in FIG.
Is greatly reduced.
【００３０】しかしながら、図６に示すように真の欠陥
３３は、図６に示すようにｘ方向に微分した領域３４と
ｙ方向に微分した領域３５を合成した四隅の合成点３６
のみとなり、欠陥検出が不安定となる。However, as shown in FIG. 6, the true defect 33 is composed of a composite point 36 at each of the four corners obtained by combining the area 34 differentiated in the x direction and the area 35 differentiated in the y direction as shown in FIG.
Only the defect detection becomes unstable.
【００３１】これに対して本発明によれば、鏡面部領域
１００からの画像信号をｘ方向に微分し、光記録部領域
１０１からの画像信号をｙ方向に微分するので、擬似欠
陥の発生を抑え、かつ欠陥検出を精度良く行なうことが
できる。この場合、光カード５０のうちガイド８ａに当
接する端縁４０等も擬似欠陥として検出されることはな
い。On the other hand, according to the present invention, the image signal from the mirror surface area 100 is differentiated in the x direction, and the image signal from the optical recording area 101 is differentiated in the y direction. The defect can be suppressed and the defect can be accurately detected. In this case, the edge 40 of the optical card 50 that contacts the guide 8a is not detected as a pseudo defect.
【００３２】次に二値化処理部２４ａ，２４ｂにおいて
二値化されて検知された欠陥は生画像上でラベリングユ
ニット２６によりラベリングされる。この際、パーソナ
ルコンピュータ７により設定された投影欠陥、密集欠陥
の基準に従ってＣＰＵ２５において判定処理が行なわれ
る。Next, defects detected by binarization in the binarization processing sections 24a and 24b are labeled by a labeling unit 26 on a raw image. At this time, the determination process is performed in the CPU 25 according to the criteria of the projection defect and the cluster defect set by the personal computer 7.
【００３３】ここで投影欠陥とは光カード５が透明層を
表面に有するため、透明層に存在する欠陥３３が斜入射
された光によって二つに投影されるもので、投影欠陥処
理はこれを大きさと座標から判断して一つと判定するも
のである。また密集欠陥とは、１０μ程度の欠陥３５が
例えば３６００μｍ2 の領域内に集中して発生し、個々
としては小さいが全体として光カードのＲ／Ｗに悪影響
を与えるような欠陥である。この場合、この微小な欠陥
３５が設定範囲内であるカウント数を越えると欠陥と判
定する。そして近傍欠陥とは主に画像処理上で二つ以上
に分割されている欠陥であっても設定されたパラメータ
以内ならば一つの欠陥として見なす処理を行なうもので
あり、欠陥サイズと個数に影響を与える。この他、欠陥
総面積も設定でき、これを越えた場合、個々の欠陥が小
さくてもやはり不良カードと判定する。これらの結果は
最終的に欠陥位置と大きさの情報としてＣＰＵ２５から
パーソナルコンピュータ７へＧＰＩＢ（ｇｅｎｅｒａｌ
ｐｕｒｐｏｓｅ ｉｎｔｅｒｆａｃｅ ｂｕｓ）を介
して転送され、統計処理およびマップ化される。Here, the projection defect is a defect in which the optical card 5 has a transparent layer on the surface, and the defect 33 existing in the transparent layer is projected into two by obliquely incident light. Judging from the size and the coordinates, it is judged as one. The dense defect is a defect in which defects 35 of about 10 μm are generated in a concentrated manner in a region of, for example, 3600 μm 2 , and are individually small but adversely affect the R / W of the optical card as a whole. In this case, when the minute defect 35 exceeds a count number within a set range, it is determined to be a defect. A nearby defect is a process in which even a defect divided into two or more in image processing is regarded as one defect if it is within a set parameter, and the defect size and the number of defects are affected. give. In addition, the total area of the defects can be set, and if it exceeds this, even if each defect is small, it is still determined to be a defective card. These results are finally sent from the CPU 25 to the personal computer 7 as information on the defect position and the size by the GPIB (general).
It is forwarded via a purge interface bus, statistically processed and mapped.
【００３４】前述のとおり、できるだけ実際の欠陥サイ
ズに近く検知するため高分解能の光学系にすると、受光
器４の制約から１スキャンで全面を検査できない光カー
ド５がある。このためｘｙテーブル１０を往復させるが
未検査部を生じないよう２回のスキャン間で重なり部分
を設け、ＣＰＵ２５はこの重なり部分のデータについて
結果が妥当になるようスキャン１回分のデータだけを用
いる。As described above, if an optical system with a high resolution is used to detect the defect size as close as possible to the actual defect size, there is an optical card 5 that cannot inspect the entire surface in one scan due to the restriction of the light receiver 4. For this reason, the xy table 10 is reciprocated, but an overlapped portion is provided between two scans so as not to generate an uninspected portion, and the CPU 25 uses only the data of one scan so that the result of the data of the overlapped portion is appropriate.
【００３５】また従来の光カード検査装置は検査領域を
決定するのに、事前にカードをスキャンさせてカーソル
により手入力で領域指定をしなければならなかった。こ
れは検査に必要な時間の二倍以上の時間がかかり、不経
済であった。これを自動化するため本発明では、図２に
示す光カード５の光記録部１３の左右端縁を検知してい
る。具体的には、光記録部１３が光カード５の左右端よ
り約０．８ｍｍ中に設けられていることを利用する。ｘ
ｙテーブル１０を移動させ、光カード５をスキャンし、
このとき光記録部１３が受光器４の視野に入ると反射率
が高くなる。ＣＰＵ２５はＣＣＤカメラ２の画素一列の
輝度の精算値をスキャン方向に順次比較し、積算値が急
激に変化した位置で、画素の位置データを基に最小自乗
直線を計算して生成する。これが光記録部１３のエッジ
（境界）となる。Further, in the conventional optical card inspection apparatus, in order to determine an inspection area, it is necessary to scan a card in advance and manually specify an area by a cursor. This took more than twice the time required for the inspection and was uneconomical. In order to automate this, in the present invention, the right and left edges of the optical recording section 13 of the optical card 5 shown in FIG. 2 are detected. Specifically, the fact that the optical recording unit 13 is provided approximately 0.8 mm from the left and right ends of the optical card 5 is used. x
y table 10 is moved, optical card 5 is scanned,
At this time, when the optical recording unit 13 enters the field of view of the light receiver 4, the reflectance increases. The CPU 25 sequentially compares the adjusted values of the brightness of one line of pixels of the CCD camera 2 in the scanning direction, and calculates and generates a least square line based on the position data of the pixels at the position where the integrated value changes abruptly. This is the edge (boundary) of the optical recording unit 13.
【００３６】しかし、実際の光カード５では光記録部１
３の成膜治具のばらつきによりエッジの明瞭性が弱く、
エッジのぼけたものも混入する。こういった光カード５
ではエッジ検出の確度が低下してしまうことも考えられ
る。However, in the actual optical card 5, the optical recording unit 1
The clarity of the edge is weak due to the variation of the film-forming jig of 3,
Edge blurs are also mixed. Such an optical card 5
Then, the accuracy of edge detection may be reduced.
【００３７】これに対して本発明によれば、光カード５
をＣＣＤカメラ２を用いてスキャンし、その副走査方向
のエッジ抽出処理することにより、トレイ８のエッジ、
光カード５のエッジ、そして本来必要とする光記録部１
３のエッジを検出することができる。常にこの３つのエ
ッジが検出されるのであれば３つ目のエッジを光記録部
１３のエッジとして処理に使用すれば良いが、実際はそ
の他の２本エッジ（トレイ８および光カード５のエッ
ジ）は光カード５の種類、光源との関係で検出されない
場合がある。これらのエッジは光カード５の左右にある
ので最大６本のエッジとなり、どれが本来の光記録部１
３のエッジであるか判定できないことが多い。これを改
善するために、ＣＰＵ２５は検出された全てのエッジの
位置を記憶しておくとともに、あらかじめホストから入
力しておいた光記録部１３の長さのデータをもとにこれ
らのエッジのうちから正しい光記録部１３のエッジを検
出する。On the other hand, according to the present invention, the optical card 5
Is scanned using the CCD camera 2 and the edge of the tray 8 is extracted in the sub-scanning direction.
The edge of the optical card 5 and the optical recording unit 1 that is originally required
3 can be detected. If these three edges are always detected, the third edge may be used as an edge of the optical recording unit 13 for processing, but actually, the other two edges (the edges of the tray 8 and the optical card 5) are It may not be detected depending on the type of the optical card 5 and the light source. Since these edges are on the left and right sides of the optical card 5, a maximum of six edges are provided.
In many cases, it cannot be determined whether or not the edge is No. 3. In order to improve this, the CPU 25 stores the positions of all the detected edges, and based on the data of the length of the optical recording unit 13 input in advance from the host, among these edges. , The correct edge of the optical recording unit 13 is detected.
【００３８】[0038]
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば光
カードの第１領域からの画像信号をｘ方向に微分処理
し、第２領域からの画像信号をｙ方向に微分処理したの
で、全領域に対してｘ方向微分およびｙ方向微分を行な
う場合に比較して擬似欠陥の発生を抑えることができ、
同時に欠陥検出を精度良く行なうことができる。As described above, according to the present invention, the image signal from the first area of the optical card is differentiated in the x direction and the image signal from the second area is differentiated in the y direction. The occurrence of a pseudo defect can be suppressed as compared with the case where the x-direction differentiation and the y-direction differentiation are performed on the entire region,
At the same time, defect detection can be performed with high accuracy.
【図１】本発明による光カード検査装置の一実施の形態
を示す概略図。FIG. 1 is a schematic view showing an embodiment of an optical card inspection device according to the present invention.
【図２】光カードを示す図。FIG. 2 is a diagram showing an optical card.
【図３】画像処理装置の機能を示す図。FIG. 3 is a diagram illustrating functions of the image processing apparatus.
【図４】比較例による擬似欠陥を示す図。FIG. 4 is a view showing a pseudo defect according to a comparative example.
【図５】比較例による擬似欠陥を示す図。FIG. 5 is a view showing a pseudo defect according to a comparative example.
【図６】比較例による欠陥の検出状態を示す図。FIG. 6 is a diagram illustrating a defect detection state according to a comparative example.
【図７】本発明による欠陥の検出状態を示す図。FIG. 7 is a diagram showing a defect detection state according to the present invention.
【図８】メディアンフィルタを示す図。FIG. 8 is a diagram showing a median filter.
１ 投光器 ２ ＣＣＤカメラ ３ 集光レンズ ４ 受光器 ５ 光カード ６ 画像処理装置 ７ パーソナルコンピュータ ８ トレイ １０ ｘｙテーブル １１ カード基板 １２ 光記録層 １３ 光記録部 １４ 鏡面部 ２２ メディアンフィルタ ２３ａ ｘ微分処理フィルタ ２３ｂ ｙ微分処理フィルタ ２４ａ，２４ｂ 二値化処理部 ２５ ＣＰＵ DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Projector 2 CCD camera 3 Condenser lens 4 Receiver 5 Optical card 6 Image processing device 7 Personal computer 8 Tray 10 XY table 11 Card board 12 Optical recording layer 13 Optical recording part 14 Mirror surface part 22 Median filter 23a x differentiation processing filter 23b y differential processing filters 24a, 24b binarization processing unit 25 CPU
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 2F065 AA12 AA18 BB18 BB25 BB26 CC03 DD06 FF04 FF41 HH12 JJ03 JJ26 LL04 MM03 PP12 QQ04 QQ13 QQ18 QQ24 QQ34 QQ41 SS04 SS13 UU05 2G051 AA73 AB02 CA04 CB01 CC07 DA07 EA08 EA11 EC05 ED01 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continued on the front page F term (reference) 2F065 AA12 AA18 BB18 BB25 BB26 CC03 DD06 FF04 FF41 HH12 JJ03 JJ26 LL04 MM03 PP12 QQ04 QQ13 QQ18 QQ24 QQ34 QQ41 SS04 SS13 UU05 2G051 AA73 EA01 CC07
Claims (3)
記録層を有する光カードを検査する光カード検査装置に
おいて、 光カードを載置してｘ方向およびｙ方向へ移動するｘｙ
テーブルと、 光カードの光記録層に光を投光する投光器と、 光カードの光記録層から反射する光を受光する受光器
と、 受光器に接続され画像処理を行なって光カードの欠陥検
出を行なう画像処理とを備え、 画像処理装置は第１領域からの画像信号をｘ方向に微分
するｘ微分処理フィルタと、第２領域からの画像処理を
ｙ方向に微分するｙ微分処理フィルタと、ｘ微分処理フ
ィルタおよびｙ微分処理フィルタからの信号を各々二値
化処理する二値化処理部と、二値化した信号に基づいて
欠陥を検出するＣＰＵとを有することを特徴とする光カ
ード検査装置。1. An optical card inspection apparatus for inspecting an optical card having an optical recording layer including at least a first area and a second area, wherein an xy is placed and moved in the x and y directions.
A table, a light emitter for projecting light onto the optical recording layer of the optical card, a light receiver for receiving light reflected from the optical recording layer of the optical card, and a defect detecting optical card connected to the light receiver and performing image processing. The image processing apparatus performs an x-differential processing filter that differentiates an image signal from the first area in the x direction, a y-differential processing filter that differentiates image processing from the second area in the y direction, An optical card inspection, comprising: a binarization processing unit that binarizes signals from an x differentiation processing filter and a y differentiation processing filter; and a CPU that detects a defect based on the binarized signal. apparatus.
ルタの前段に、画像信号から予め定められたノイズを除
去するメディアンフィルタを設けたことを特徴とする請
求項１記載の光カード検査装置。2. The optical card inspection apparatus according to claim 1, wherein a median filter for removing a predetermined noise from the image signal is provided at a stage preceding the x differential processing filter and the y differential processing filter.
域を予め指定し、この定められた領域からの信号をマス
ク処理することを特徴とする請求項１記載の光カード検
査装置。3. The optical card inspection apparatus according to claim 1, wherein the CPU of the image processing apparatus specifies a predetermined area of the optical card in advance and masks a signal from the predetermined area.
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10222055A JP2000055639A (en) | 1998-08-05 | 1998-08-05 | Optical card inspecting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10222055A JP2000055639A (en) | 1998-08-05 | 1998-08-05 | Optical card inspecting device |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2000055639A true JP2000055639A (en) | 2000-02-25 |
Family
ID=16776402
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10222055A Withdrawn JP2000055639A (en) | 1998-08-05 | 1998-08-05 | Optical card inspecting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2000055639A (en) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100969052B1 (en) | 2004-03-03 | 2010-07-09 | 엘지전자 주식회사 | Improvement apparatus of acquistion picture of line camera |
-
1998
- 1998-08-05 JP JP10222055A patent/JP2000055639A/en not_active Withdrawn
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100969052B1 (en) | 2004-03-03 | 2010-07-09 | 엘지전자 주식회사 | Improvement apparatus of acquistion picture of line camera |
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|---|---|---|---|
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