FI59489C - Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder - Google Patents

Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder Download PDF

Info

Publication number
FI59489C
FI59489C FI783544A FI783544A FI59489C FI 59489 C FI59489 C FI 59489C FI 783544 A FI783544 A FI 783544A FI 783544 A FI783544 A FI 783544A FI 59489 C FI59489 C FI 59489C
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
coating layer
amount
coating
measured
fluorescence
Prior art date
Application number
FI783544A
Other languages
English (en)
Other versions
FI59489B (fi
FI783544A (fi
Inventor
Heikki Venaelaeinen
Rauno Rantanen
Pertti Puumalainen
Original Assignee
Enso Gutzeit Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Enso Gutzeit Oy filed Critical Enso Gutzeit Oy
Priority to FI783544A priority Critical patent/FI59489C/fi
Priority to DE19792946567 priority patent/DE2946567A1/de
Priority to CA000340244A priority patent/CA1147870A/en
Priority to FR7928631A priority patent/FR2442443A1/fr
Priority to NO793755A priority patent/NO793755L/no
Priority to SE7909582A priority patent/SE444084B/sv
Priority to IT50860/79A priority patent/IT1162690B/it
Priority to GB7940249A priority patent/GB2040037B/en
Priority to FI801481A priority patent/FI59490C/fi
Publication of FI783544A publication Critical patent/FI783544A/fi
Application granted granted Critical
Publication of FI59489B publication Critical patent/FI59489B/fi
Priority to US06/259,496 priority patent/US4377869A/en
Publication of FI59489C publication Critical patent/FI59489C/fi
Priority to GB08226835A priority patent/GB2115140B/en
Priority to CA000419046A priority patent/CA1154883A/en
Priority to FR8302410A priority patent/FR2517431B1/fr
Priority to SE8503456A priority patent/SE8503456D0/xx

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
    • G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
    • G01N2223/076—X-ray fluorescence

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
  • Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
  • Paper (AREA)

Description

R35?*1 rBl m,KUULUTUSJULKAISU c Q J, Q O
__ Patent meddelat
VjIt^ OC^S) Patentti »nydnnrtty !0 03 1031
Patent seddelat v v y (SI) Ky.lk.3/lnt.CI.3 G 01 N 23/22
SUOMI—FINLAND (21) PMwmlhaktfflut — PKtntaiw&knini 7835UU
(22) HtkemltpUvl — An*6fcnlng*dag 21.11.78 ' * (23) Alkupllvt—Giltighutadag 21.11.78 (41) Tullut luUdMlal — Bllvtt offwKlIg pp ης on
Patentti- ja rekisterihallitus .... ... . . .
_ . __, (44) NUrttyitolpunon a kuuLulkalsun pvm. — __ .< Q.
Patanth och ragisterstyrelsen v · Aradkan utiagd och utl.ikrtfwn pubiicand 30. OU. 81 (32)(33)(31) Pyy»1·»/ etuelkeu»—*«gird prkxim (71) Enso-Gutzeit Osakeyhtiö, Kanavaranta 1,00l60 Helsinki l6, Suomi -Finland(Fl) (72) Heikki Venäläinen, Imatra, Rauno Rantanen, Imatra, Pertti Puumalainen, Kuopio, $uomi-Finland(FI) (5*0 Menetelmä päällystemäärien mittaamiseksi - Förfarande för mätning av be-läggningsmängder Tämä.keksintö kohdistuu menetelmään päällystemäärien on-line mittaamiseksi aineyhdistelmissä, joissa on pintapäällyste tai pinta-päällysteitä ja näiden alla isotooppi-tai röntgenputkiherätteistä karakteristista sekundääriröntgensäteilyä lähettämään kykenevä pohja-aine tai pohja-aineen päällä oleva esipäällyste.
Suomalaisesta patentista no 53757 on ennestään tunnettua mitata kartongin tai paperin 1 päällä esipäällysteenä 2 olevan CaCO^-ker-roksen sekä sen päällä olevan, kaoliinia sisältävän pintapäällvs-teen 3 pintapainot käyttämällä hyväksi röntgensäteilyä, joka herättää esipäällysteessä 2 olevan Ca:n karakteristisen sekundääri-röntgensäteilyn, jonka intensiteetti mitataan paperi- tai karton-kiradan ylä- ja alapuolelta detektoreilla 7 ja 6, minkä lisäksi mitataan säteilylähteestä 4 tulleen primäärisäteilyn absorptio koko aineyhdistelmään, jolloin saatavista toisistaan riippumattomista mittaustuloksista lasketaan periaatteella 3 tuntematonta 3 yhtälöä eri kerrosten, 1, 2 ja 3 pintapainot.
Ennestään tunnettua on myöskin mitata paperin yhden päällysteker- roksen päällystemäärä käyttämällä hyväksi primäärisen röntgensä- 2 59489 teilyn päällysteaineeseen lisätystä merkkiaineesta herättämää karakteristista sekundääriröntgensäteilyä.
Patentin no 53757 mukaisessa päällystekerrosten pintapainojen mittausmenetelmässä on se epäkohta( että kahta päällystekerrosta on-line-olosuhteissa mittaamaan pystyvän päällystemäärämittarin kali-brointityö on hankalaa, sillä toimiakseen menetelmä vaatii useiden hankalasti määritettävien vakioiden mittaamisen, ennen kuin menetelmän perustana olevat yhtälöt voidaan ratkaista ja määrittää eri pintapainot. Lisäksi menetelmä on herkkä mittausgeometrian vaihteluille, koska lähteen vastakkaisella puolella olevalle fluore-senssidetektorille ei saa päästä primäärisäteilyä.
Jälkimmäisen menetelmän epäkohtana on se, että menetelmällä voidaan mitata vain yhden päällystyskerroksen määrä ja sekin vain siinä tapauksessa, että ko. päällystekerros aiheuttaa sekundääristä röntgensäteilyä mitattavissa olevin määrin.
Tämän keksinnön tarkoituksena on välttää yllä mainittuja epäkohtia ja aikaansaada erityisesti on-line-mittauksiin soveltuva käyttöominaisuuksiltaan yksinkertainen menetelmä mitata yhden tai useamman päällystekerroksen päällystemäärät.
Keksinnölle on tunnusomaista se, mikä on esitetty oheisissa patenttivaatimuksissa .
Seuraavassa keksinnön mukaista menetelmää valaistaan yksityiskohtaisesti kuvalla, jossa pohja-aineena 1 olevan kartonkiradan päällä on esipäällystekerros 2, jona voi olla esimerkiksi CaC03, sekä sen päällä pintapäällysteenä 3 esimerkiksi kaoliinikerros. Säteily tettäessä esipäällystyksen jälkeen yhdistelmää 2 säteilyläh-teellä 4, jona voi olla esimerkiksi Fe-radioisotooppilähde, saa- . daan esipäällysteessä 2 oleva Ca-atomi lähettämään sille karakteristista sekundääriröntgensäteilyä eli fluoresenssisäteilyä, jonka voimakkuus on verrannollinen läsnäolevan aineen eli Ca:n määrään.
Kun detektoriin 5 tulleen Ca:n fluoresenssisäteilyn intensiteetti eri CaCO^-määrien funktiona tunnetaan, voidaan detektorin 5 antamien intensiteettipulssien perusteella laskea CaCO^-määrä.
Raina 1 siirtyy eteenpäin toiselle päällystysyksikölle, josta rai- 3 59489 nalle 1 tuodaan pintapäällyste 3. Tämän jälkeen yhdistelmää sä-teilytetään uudelleen säteilylähteestä 6, jolloin Ca-atomit lähettävät fluoresenssisäteilyä, joka kulkee pintapäällystekerroksen 3 läpi ja joka mitataan pintapäällystyskerroksen 3 yläpuolella olevalla detektorilla 7. Tällöin osa primäärisäteilystä ja fluore-senssisäteilystä absorboituu tietyn kokeellisesti määritettävän funktion mukaisesti pintapäällystekerrokseen ja detektoriin 7 tulevien pulssien määrä vähenee. Pulssien määrän vähenemistä laskettaessa otetaan huomioon molempien antureiden mittaustehokkuuksien suhde, mikä voidaan määrittää pelkästään pohjapäällystettyä rataa ajettaessa.Saadun pulssivähenemän perusteella voidaan laskea pin-tapäällysteen määrä.
Jos pohja-aine 1 sisältää merkittävissä määrin täyteaineita, jotka pystyvät lähettämään merkittävässä määrin mitattavaa sekundää-riröntgensäteilyä tai jos pohja-aine 1 on toiseltakin pinnaltaan päällystetty mitattavaa sekundäärisäteilyä lähettämään pystyvällä päällysteellä, voidaan nämä vaikutukset ottaa huomioon säteilyt-tämällä rataa ennen päällystystä olevalla säteilylähteellä 8 ja mittaamalla sekundääri-röntgensäteily detektorilla 9. Kun näin on menetelty, ei pohja-aineen 1 vaihtelemisesta aiheudu päällyste-määrien mittaamisessa virhelähdemahdollisuutta. Myöskin raaka-kartonkia mittaavan anturin mittaustehokkuus tulee tällöin ottaa huomioon.
Esillä olevan keksinnön suurin etu on siinä, että siinä on eliminoitu päällystämättömän pohja-laineen vaihteluista aiheutuvat virhelähteet, jolloin saavutetaan erittäin suuri mittaustarkkuus. Lisäksi kalibroinnin vaivalloisimpien suoritusvaiheiden uusimis-tarve on erittäin vähäinen, sillä anturien mittaustehokkuuksien suhteet ja isotooppi-aktiivisuudet voidaan jättää tietokoneen ratkaistavaksi, edellinen jopa pistekohtaisesti poikkiradan eri kohdille, jolloin traversointipalkkien tarkkuusvaatimuksia voidaan alentaa varsin merkittävästi. Vaivalloisimmin määriteltävissä olevat 2-3 vakiota riippuvat lähinnä päällysteaineiden kemiallisesta koostumuksesta, joten niiden uudelleenmääritystarve jää varsin vähäiseksi.

Claims (5)

  1. 4 59489
  2. 1. Menetelmä päällystemäärien mittaamiseen kartongin tai sentapaisen pohjamateriaalin (1) päälle tuodussa esipäällvstekerroksessa (2) sekä tämän päälle tuodussa pintapäällystekerroksessa (3), jossa menetelmässä mitattavaan päällystekerrokseen kohdistetaan päältäpäin primäärinen röntgensäteily, jolla herätetään päällysteker-roksen alla olevassa materiaalissa karakteristista fluoresenssisä-teilyä, jonka määrä mitataan päällystekerroksen päälle sijoitetulla detektorilla (7), jolloin päällystemäärän mittaus perustuu primäärisen röntgensäteilyn ja fluoresenssisäteilyn absorptioon niiden kulkiessa mitattavan päällystekerroksen läpi, tunnettu siitä, että mittaukset suoritetaan päällystysprosessin yhteydessä siten, että esipäällysteen määrä mitataan esipäällystekerroksessa (2) itsessään herätetyn karakteristisen fluoresenssisäteilyn avulla ennen pintapäällysteen (3) tuomista sille ja pintapäällysteen määrä mitataan edellä esitetyllä tavalla herättämällä esipäällysteen fluoresenssisäteily pintapäällystekerroksen läpi johdetulla primäärisellä röntgensäteilyllä, jolloin pintapäällysteen määrä on laskettavissa esipäällysteestä ensinmainitussa mittauksessa saadun fluoresenssisäteilyn perusteella.
  3. 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että pohjamateriaalissa (1) syntyvä fluoresenssisäteily mitataan ennen esipäällystekerroksen (2) levittämistä.
  4. 3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että menetelmää käytetään päällystetyn kartongin tms. materiaalin valmistusprosessissa, jossa päällysteet (2,3) levitetään liikkuvalle materiaaliradalle (1) ja jossa radan päälle on sijoitettu ainakin kaksi säteilylähde-detektoriparia (4-7), joilla päällystemäärien mittaaminen suoritetaan.
  5. 1. Förfarande för mätning av beläggningsmängder i ett pä kartong eller liknande bottenmaterial (1) anbragt förbeläggningsskikt (2) samt ett pä detta anbragt ytbeläggningsskikt (3), i vilket förfarande det för mätning avsedda beläggningsskiktet utsätts ovanifrän för en primär röntgensträlning, vanned alstras i materialet under beläggningsskiktet karakteristisk fluorescenssträlning, vars mängd mäts med en pa beläggningsskiktet anbragt detektor (7), varvid mät-
FI783544A 1978-11-21 1978-11-21 Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder FI59489C (fi)

Priority Applications (14)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI783544A FI59489C (fi) 1978-11-21 1978-11-21 Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder
DE19792946567 DE2946567A1 (de) 1978-11-21 1979-11-17 Verfahren zum messen von belagmengen
IT50860/79A IT1162690B (it) 1978-11-21 1979-11-20 Procedimento e disposizione per controllare l'indice di rivestimento di materiali nel corso della loro lavorazione in particolare per carta e cartone
FR7928631A FR2442443A1 (fr) 1978-11-21 1979-11-20 Procede de mesure de taux de revetement d'un materiau
NO793755A NO793755L (no) 1978-11-21 1979-11-20 Fremgangsmaate for maaling av beleggsmengder.
SE7909582A SE444084B (sv) 1978-11-21 1979-11-20 Sett att meta materialmengden i ett forsta och ett andra beleggningsskikt
CA000340244A CA1147870A (en) 1978-11-21 1979-11-20 Procedure for measuring coating rates
GB7940249A GB2040037B (en) 1978-11-21 1979-11-21 Measuring coating rate
FI801481A FI59490C (fi) 1978-11-21 1980-05-07 Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengder
US06/259,496 US4377869A (en) 1978-11-21 1981-05-01 Procedure for measuring coating rates
GB08226835A GB2115140B (en) 1978-11-21 1982-09-21 Method of measuring coating rate
CA000419046A CA1154883A (en) 1978-11-21 1983-01-06 Procedure for measuring coating rates
FR8302410A FR2517431B1 (fr) 1978-11-21 1983-02-15 Procede de mesure de taux de revetement d'un materiau
SE8503456A SE8503456D0 (sv) 1978-11-21 1985-07-12 Forfarande for metning av beleggningsmengder

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI783544A FI59489C (fi) 1978-11-21 1978-11-21 Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder
FI783544 1978-11-21

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI783544A FI783544A (fi) 1980-05-22
FI59489B FI59489B (fi) 1981-04-30
FI59489C true FI59489C (fi) 1981-08-10

Family

ID=8512164

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI783544A FI59489C (fi) 1978-11-21 1978-11-21 Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4377869A (fi)
CA (1) CA1147870A (fi)
DE (1) DE2946567A1 (fi)
FI (1) FI59489C (fi)
FR (2) FR2442443A1 (fi)
GB (2) GB2040037B (fi)
IT (1) IT1162690B (fi)
NO (1) NO793755L (fi)
SE (2) SE444084B (fi)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5758300U (fi) * 1980-09-22 1982-04-06
FI62420C (fi) * 1981-05-29 1982-12-10 Enso Gutzeit Oy Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengd
US4458360A (en) * 1982-05-26 1984-07-03 Enso-Gutzeit Oy Procedure for determining coating rates
FI68320C (fi) * 1982-12-01 1985-08-12 Valtion Teknillinen Foerfarande foer att medelst straolning fraon en radioisotopkaella utan att foerstoera provet maeta foerdelningen av fyll-och/eller belaeggningsmedel i tjockleksriktningen av papp erartong eller liknande och halten av dessa medel anordnin rgafoer tillaempande av foerfarandet samt anvaendningar av erfoarandet och anordningarna
FI68321C (fi) * 1982-12-01 1985-08-12 Valtion Teknillinen Foerfarande foer att medelst straolning utsaend av ett roentgenroer utan att foerstoera provet maeta foerdelningen av fyll- och/eller belaeggningsmedel i tjockleksriktningen av papper kartong eller liknande och halten av dessa medel anordningar foer tillaempande av foerfarandet samt anvaendningar av foerfarandet och anordningarna
FI68322C (fi) * 1983-06-28 1985-08-12 Enso Gutzeit Oy Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong
US4748647A (en) * 1985-08-12 1988-05-31 General Electric Company Fuel tube barrier gauge
JPH07119594B2 (ja) * 1988-07-01 1995-12-20 富士写真フイルム株式会社 磁気記録媒体の膜厚測定方法
NO171524C (no) * 1990-10-18 1993-03-24 Dag Brune Fremgangsmaate for paavisning av korrosjonsangrep i metalloverflater
GB2260403B (en) * 1991-09-19 1995-10-11 Rigaku Ind Corp Method of and apparatus for the quantitative measurement of paint coating
DE4303878A1 (de) * 1993-02-10 1994-09-01 Amtec Analysenmestechnik Gmbh Verfahren zur Schichtanalyse nach dem Röntgenfluoreszenzverfahren unter Berücksichtigung unterschiedlicher Grund- und Schichtwerkstoffe
FI109215B (fi) 1996-10-28 2002-06-14 Metso Paper Inc Menetelmä ja sovitelma liikkuvan paperi- tai kartonkiradan päällystämiseksi
DE10034747A1 (de) * 2000-07-18 2002-02-07 Manfred Liphardt Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung der Dicke eines Beschichtungswerkstoffs auf einem Trägerwerkstoff
US8672490B2 (en) 2011-11-30 2014-03-18 Izi Medical Products High reflectivity retro-reflective marker
US8661573B2 (en) 2012-02-29 2014-03-04 Izi Medical Products Protective cover for medical device having adhesive mechanism
US9632043B2 (en) * 2014-05-13 2017-04-25 Bruker Jv Israel Ltd. Method for accurately determining the thickness and/or elemental composition of small features on thin-substrates using micro-XRF
US9829448B2 (en) 2014-10-30 2017-11-28 Bruker Jv Israel Ltd. Measurement of small features using XRF
JP2022178427A (ja) * 2021-05-20 2022-12-02 株式会社ディスコ 保護膜の厚み測定方法

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2711480A (en) * 1948-06-29 1955-06-21 Friedman Herbert Method of measuring thickness of thin layers
US2925497A (en) * 1956-08-09 1960-02-16 Philips Corp Fluorescence analysis
US3417243A (en) * 1965-10-28 1968-12-17 Minnesota Mining & Mfg Method and apparatus for x-ray fluorescence gauging of a higher atomic number selected element in a coating on a base
FI40753B (fi) * 1968-04-03 1969-01-31 Valmet Oy
US3631526A (en) * 1969-11-05 1971-12-28 Brun Sensor Systems Inc Apparatus and methods for eliminating interference effect errors in dual-beam infrared measurements
DE2254969A1 (de) * 1972-11-10 1974-05-30 Frieseke & Hoepfner Gmbh Verfahren und einrichtung zur messung der durchschnittsfeuchte einer eine trocknungsstrecke verlassenden messgutbahn
US3984679A (en) * 1975-02-18 1976-10-05 Gte Laboratories Incorporated Coating thickness monitor for multiple layers
US4162528A (en) * 1976-05-18 1979-07-24 Bell Telephone Laboratories, Incorporated X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses
CA1086870A (en) * 1976-05-18 1980-09-30 Western Electric Company, Incorporated X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses
JPS538165A (en) * 1976-07-12 1978-01-25 Seiko Instr & Electronics Ltd Thickness measuring method of thin film material and thin film material thickness measuring apparatus
FI53757C (fi) * 1976-12-13 1978-07-10 Pertti Puumalainen Foerfarande foer maetning av ytvikterna
US4147931A (en) * 1976-12-13 1979-04-03 Pertti Puumalainen Procedure for measuring unit area weights

Also Published As

Publication number Publication date
DE2946567A1 (de) 1980-06-04
US4377869A (en) 1983-03-22
GB2115140B (en) 1984-02-08
FI59489B (fi) 1981-04-30
FI783544A (fi) 1980-05-22
GB2115140A (en) 1983-09-01
SE8503456L (sv) 1985-07-12
IT7950860A0 (it) 1979-11-20
FR2442443A1 (fr) 1980-06-20
FR2517431A1 (fr) 1983-06-03
NO793755L (no) 1980-05-22
SE444084B (sv) 1986-03-17
GB2040037A (en) 1980-08-20
FR2517431B1 (fr) 1985-10-04
SE7909582L (sv) 1980-05-22
GB2040037B (en) 1983-08-17
SE8503456D0 (sv) 1985-07-12
IT1162690B (it) 1987-04-01
CA1147870A (en) 1983-06-07
FR2442443B1 (fi) 1984-11-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI59489C (fi) Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder
US3956630A (en) Fluorimetric coat weight measurement
US4845730A (en) Selective on-line measurement of filler components in paper
JPS597923B2 (ja) 物体上の塗料の量を測定する装置
FI68321B (fi) Foerfarande foer att medelst straolning utsaend av ett roentgenroer utan att foerstoera provet maeta foerdelningen av fylloch/eller belaeggningsmedel i tjockleksriktningen av papp erartong eller liknande och halten av dessa medel anordnin rgafoer tillaempande av foerfarandet samt anvaendningar av erfoarandet och anordningarna
FI78356B (fi) Metod foer maetning av fuktighet.
US4147931A (en) Procedure for measuring unit area weights
FI62420B (fi) Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengd
US5579362A (en) Method of and apparatus for the quantitative measurement of paint coating
CA1079414A (en) Procedure for measuring unit area weights
FI68322C (fi) Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong
FI59490B (fi) Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengder
US4458360A (en) Procedure for determining coating rates
GB2084314A (en) Determining concentration by x-ray fluorescence
SU450099A1 (ru) Способ рентгенофлуоресцентного анализа
RU2011164C1 (ru) Способ измерения толщины покрытия
FI73318B (fi) Metod foer maetning av papperets formation.
SU777563A1 (ru) Способ измерени содержани наполнителей в бумажном полотне
FI60447C (fi) Foerfarande foer maetning av en ytbelaeggnings tjocklek
FI63114B (fi) Foerfarande foer att maeta taetheten av cylindriska kroppar
SU468084A1 (ru) Рентгеновский способ измерени толщины покрыти
JPH08219748A (ja) β線膜厚計による塗膜厚測定方法
SU1631265A1 (ru) Способ определени толщины покрыти и устройство дл его осуществлени
CA1218168A (en) Procedure for measuring the quantity of silicon coating on paper or cardboard
SU1422000A1 (ru) Способ измерени толщины покрыти

Legal Events

Date Code Title Description
MM Patent lapsed

Owner name: ROIBOX OY