FI59489C - Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder - Google Patents
Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder Download PDFInfo
- Publication number
- FI59489C FI59489C FI783544A FI783544A FI59489C FI 59489 C FI59489 C FI 59489C FI 783544 A FI783544 A FI 783544A FI 783544 A FI783544 A FI 783544A FI 59489 C FI59489 C FI 59489C
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- coating layer
- amount
- coating
- measured
- fluorescence
- Prior art date
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/223—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material by irradiating the sample with X-rays or gamma-rays and by measuring X-ray fluorescence
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/07—Investigating materials by wave or particle radiation secondary emission
- G01N2223/076—X-ray fluorescence
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)
- Emergency Protection Circuit Devices (AREA)
- Paper (AREA)
Description
R35?*1 rBl m,KUULUTUSJULKAISU c Q J, Q O
__ Patent meddelat
VjIt^ OC^S) Patentti »nydnnrtty !0 03 1031
Patent seddelat v v y (SI) Ky.lk.3/lnt.CI.3 G 01 N 23/22
SUOMI—FINLAND (21) PMwmlhaktfflut — PKtntaiw&knini 7835UU
(22) HtkemltpUvl — An*6fcnlng*dag 21.11.78 ' * (23) Alkupllvt—Giltighutadag 21.11.78 (41) Tullut luUdMlal — Bllvtt offwKlIg pp ης on
Patentti- ja rekisterihallitus .... ... . . .
_ . __, (44) NUrttyitolpunon a kuuLulkalsun pvm. — __ .< Q.
Patanth och ragisterstyrelsen v · Aradkan utiagd och utl.ikrtfwn pubiicand 30. OU. 81 (32)(33)(31) Pyy»1·»/ etuelkeu»—*«gird prkxim (71) Enso-Gutzeit Osakeyhtiö, Kanavaranta 1,00l60 Helsinki l6, Suomi -Finland(Fl) (72) Heikki Venäläinen, Imatra, Rauno Rantanen, Imatra, Pertti Puumalainen, Kuopio, $uomi-Finland(FI) (5*0 Menetelmä päällystemäärien mittaamiseksi - Förfarande för mätning av be-läggningsmängder Tämä.keksintö kohdistuu menetelmään päällystemäärien on-line mittaamiseksi aineyhdistelmissä, joissa on pintapäällyste tai pinta-päällysteitä ja näiden alla isotooppi-tai röntgenputkiherätteistä karakteristista sekundääriröntgensäteilyä lähettämään kykenevä pohja-aine tai pohja-aineen päällä oleva esipäällyste.
Suomalaisesta patentista no 53757 on ennestään tunnettua mitata kartongin tai paperin 1 päällä esipäällysteenä 2 olevan CaCO^-ker-roksen sekä sen päällä olevan, kaoliinia sisältävän pintapäällvs-teen 3 pintapainot käyttämällä hyväksi röntgensäteilyä, joka herättää esipäällysteessä 2 olevan Ca:n karakteristisen sekundääri-röntgensäteilyn, jonka intensiteetti mitataan paperi- tai karton-kiradan ylä- ja alapuolelta detektoreilla 7 ja 6, minkä lisäksi mitataan säteilylähteestä 4 tulleen primäärisäteilyn absorptio koko aineyhdistelmään, jolloin saatavista toisistaan riippumattomista mittaustuloksista lasketaan periaatteella 3 tuntematonta 3 yhtälöä eri kerrosten, 1, 2 ja 3 pintapainot.
Ennestään tunnettua on myöskin mitata paperin yhden päällysteker- roksen päällystemäärä käyttämällä hyväksi primäärisen röntgensä- 2 59489 teilyn päällysteaineeseen lisätystä merkkiaineesta herättämää karakteristista sekundääriröntgensäteilyä.
Patentin no 53757 mukaisessa päällystekerrosten pintapainojen mittausmenetelmässä on se epäkohta( että kahta päällystekerrosta on-line-olosuhteissa mittaamaan pystyvän päällystemäärämittarin kali-brointityö on hankalaa, sillä toimiakseen menetelmä vaatii useiden hankalasti määritettävien vakioiden mittaamisen, ennen kuin menetelmän perustana olevat yhtälöt voidaan ratkaista ja määrittää eri pintapainot. Lisäksi menetelmä on herkkä mittausgeometrian vaihteluille, koska lähteen vastakkaisella puolella olevalle fluore-senssidetektorille ei saa päästä primäärisäteilyä.
Jälkimmäisen menetelmän epäkohtana on se, että menetelmällä voidaan mitata vain yhden päällystyskerroksen määrä ja sekin vain siinä tapauksessa, että ko. päällystekerros aiheuttaa sekundääristä röntgensäteilyä mitattavissa olevin määrin.
Tämän keksinnön tarkoituksena on välttää yllä mainittuja epäkohtia ja aikaansaada erityisesti on-line-mittauksiin soveltuva käyttöominaisuuksiltaan yksinkertainen menetelmä mitata yhden tai useamman päällystekerroksen päällystemäärät.
Keksinnölle on tunnusomaista se, mikä on esitetty oheisissa patenttivaatimuksissa .
Seuraavassa keksinnön mukaista menetelmää valaistaan yksityiskohtaisesti kuvalla, jossa pohja-aineena 1 olevan kartonkiradan päällä on esipäällystekerros 2, jona voi olla esimerkiksi CaC03, sekä sen päällä pintapäällysteenä 3 esimerkiksi kaoliinikerros. Säteily tettäessä esipäällystyksen jälkeen yhdistelmää 2 säteilyläh-teellä 4, jona voi olla esimerkiksi Fe-radioisotooppilähde, saa- . daan esipäällysteessä 2 oleva Ca-atomi lähettämään sille karakteristista sekundääriröntgensäteilyä eli fluoresenssisäteilyä, jonka voimakkuus on verrannollinen läsnäolevan aineen eli Ca:n määrään.
Kun detektoriin 5 tulleen Ca:n fluoresenssisäteilyn intensiteetti eri CaCO^-määrien funktiona tunnetaan, voidaan detektorin 5 antamien intensiteettipulssien perusteella laskea CaCO^-määrä.
Raina 1 siirtyy eteenpäin toiselle päällystysyksikölle, josta rai- 3 59489 nalle 1 tuodaan pintapäällyste 3. Tämän jälkeen yhdistelmää sä-teilytetään uudelleen säteilylähteestä 6, jolloin Ca-atomit lähettävät fluoresenssisäteilyä, joka kulkee pintapäällystekerroksen 3 läpi ja joka mitataan pintapäällystyskerroksen 3 yläpuolella olevalla detektorilla 7. Tällöin osa primäärisäteilystä ja fluore-senssisäteilystä absorboituu tietyn kokeellisesti määritettävän funktion mukaisesti pintapäällystekerrokseen ja detektoriin 7 tulevien pulssien määrä vähenee. Pulssien määrän vähenemistä laskettaessa otetaan huomioon molempien antureiden mittaustehokkuuksien suhde, mikä voidaan määrittää pelkästään pohjapäällystettyä rataa ajettaessa.Saadun pulssivähenemän perusteella voidaan laskea pin-tapäällysteen määrä.
Jos pohja-aine 1 sisältää merkittävissä määrin täyteaineita, jotka pystyvät lähettämään merkittävässä määrin mitattavaa sekundää-riröntgensäteilyä tai jos pohja-aine 1 on toiseltakin pinnaltaan päällystetty mitattavaa sekundäärisäteilyä lähettämään pystyvällä päällysteellä, voidaan nämä vaikutukset ottaa huomioon säteilyt-tämällä rataa ennen päällystystä olevalla säteilylähteellä 8 ja mittaamalla sekundääri-röntgensäteily detektorilla 9. Kun näin on menetelty, ei pohja-aineen 1 vaihtelemisesta aiheudu päällyste-määrien mittaamisessa virhelähdemahdollisuutta. Myöskin raaka-kartonkia mittaavan anturin mittaustehokkuus tulee tällöin ottaa huomioon.
Esillä olevan keksinnön suurin etu on siinä, että siinä on eliminoitu päällystämättömän pohja-laineen vaihteluista aiheutuvat virhelähteet, jolloin saavutetaan erittäin suuri mittaustarkkuus. Lisäksi kalibroinnin vaivalloisimpien suoritusvaiheiden uusimis-tarve on erittäin vähäinen, sillä anturien mittaustehokkuuksien suhteet ja isotooppi-aktiivisuudet voidaan jättää tietokoneen ratkaistavaksi, edellinen jopa pistekohtaisesti poikkiradan eri kohdille, jolloin traversointipalkkien tarkkuusvaatimuksia voidaan alentaa varsin merkittävästi. Vaivalloisimmin määriteltävissä olevat 2-3 vakiota riippuvat lähinnä päällysteaineiden kemiallisesta koostumuksesta, joten niiden uudelleenmääritystarve jää varsin vähäiseksi.
Claims (5)
- 4 59489
- 1. Menetelmä päällystemäärien mittaamiseen kartongin tai sentapaisen pohjamateriaalin (1) päälle tuodussa esipäällvstekerroksessa (2) sekä tämän päälle tuodussa pintapäällystekerroksessa (3), jossa menetelmässä mitattavaan päällystekerrokseen kohdistetaan päältäpäin primäärinen röntgensäteily, jolla herätetään päällysteker-roksen alla olevassa materiaalissa karakteristista fluoresenssisä-teilyä, jonka määrä mitataan päällystekerroksen päälle sijoitetulla detektorilla (7), jolloin päällystemäärän mittaus perustuu primäärisen röntgensäteilyn ja fluoresenssisäteilyn absorptioon niiden kulkiessa mitattavan päällystekerroksen läpi, tunnettu siitä, että mittaukset suoritetaan päällystysprosessin yhteydessä siten, että esipäällysteen määrä mitataan esipäällystekerroksessa (2) itsessään herätetyn karakteristisen fluoresenssisäteilyn avulla ennen pintapäällysteen (3) tuomista sille ja pintapäällysteen määrä mitataan edellä esitetyllä tavalla herättämällä esipäällysteen fluoresenssisäteily pintapäällystekerroksen läpi johdetulla primäärisellä röntgensäteilyllä, jolloin pintapäällysteen määrä on laskettavissa esipäällysteestä ensinmainitussa mittauksessa saadun fluoresenssisäteilyn perusteella.
- 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että pohjamateriaalissa (1) syntyvä fluoresenssisäteily mitataan ennen esipäällystekerroksen (2) levittämistä.
- 3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että menetelmää käytetään päällystetyn kartongin tms. materiaalin valmistusprosessissa, jossa päällysteet (2,3) levitetään liikkuvalle materiaaliradalle (1) ja jossa radan päälle on sijoitettu ainakin kaksi säteilylähde-detektoriparia (4-7), joilla päällystemäärien mittaaminen suoritetaan.
- 1. Förfarande för mätning av beläggningsmängder i ett pä kartong eller liknande bottenmaterial (1) anbragt förbeläggningsskikt (2) samt ett pä detta anbragt ytbeläggningsskikt (3), i vilket förfarande det för mätning avsedda beläggningsskiktet utsätts ovanifrän för en primär röntgensträlning, vanned alstras i materialet under beläggningsskiktet karakteristisk fluorescenssträlning, vars mängd mäts med en pa beläggningsskiktet anbragt detektor (7), varvid mät-
Priority Applications (14)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI783544A FI59489C (fi) | 1978-11-21 | 1978-11-21 | Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder |
DE19792946567 DE2946567A1 (de) | 1978-11-21 | 1979-11-17 | Verfahren zum messen von belagmengen |
IT50860/79A IT1162690B (it) | 1978-11-21 | 1979-11-20 | Procedimento e disposizione per controllare l'indice di rivestimento di materiali nel corso della loro lavorazione in particolare per carta e cartone |
FR7928631A FR2442443A1 (fr) | 1978-11-21 | 1979-11-20 | Procede de mesure de taux de revetement d'un materiau |
NO793755A NO793755L (no) | 1978-11-21 | 1979-11-20 | Fremgangsmaate for maaling av beleggsmengder. |
SE7909582A SE444084B (sv) | 1978-11-21 | 1979-11-20 | Sett att meta materialmengden i ett forsta och ett andra beleggningsskikt |
CA000340244A CA1147870A (en) | 1978-11-21 | 1979-11-20 | Procedure for measuring coating rates |
GB7940249A GB2040037B (en) | 1978-11-21 | 1979-11-21 | Measuring coating rate |
FI801481A FI59490C (fi) | 1978-11-21 | 1980-05-07 | Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengder |
US06/259,496 US4377869A (en) | 1978-11-21 | 1981-05-01 | Procedure for measuring coating rates |
GB08226835A GB2115140B (en) | 1978-11-21 | 1982-09-21 | Method of measuring coating rate |
CA000419046A CA1154883A (en) | 1978-11-21 | 1983-01-06 | Procedure for measuring coating rates |
FR8302410A FR2517431B1 (fr) | 1978-11-21 | 1983-02-15 | Procede de mesure de taux de revetement d'un materiau |
SE8503456A SE8503456D0 (sv) | 1978-11-21 | 1985-07-12 | Forfarande for metning av beleggningsmengder |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI783544A FI59489C (fi) | 1978-11-21 | 1978-11-21 | Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder |
FI783544 | 1978-11-21 |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI783544A FI783544A (fi) | 1980-05-22 |
FI59489B FI59489B (fi) | 1981-04-30 |
FI59489C true FI59489C (fi) | 1981-08-10 |
Family
ID=8512164
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI783544A FI59489C (fi) | 1978-11-21 | 1978-11-21 | Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder |
Country Status (9)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4377869A (fi) |
CA (1) | CA1147870A (fi) |
DE (1) | DE2946567A1 (fi) |
FI (1) | FI59489C (fi) |
FR (2) | FR2442443A1 (fi) |
GB (2) | GB2040037B (fi) |
IT (1) | IT1162690B (fi) |
NO (1) | NO793755L (fi) |
SE (2) | SE444084B (fi) |
Families Citing this family (18)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5758300U (fi) * | 1980-09-22 | 1982-04-06 | ||
FI62420C (fi) * | 1981-05-29 | 1982-12-10 | Enso Gutzeit Oy | Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengd |
US4458360A (en) * | 1982-05-26 | 1984-07-03 | Enso-Gutzeit Oy | Procedure for determining coating rates |
FI68320C (fi) * | 1982-12-01 | 1985-08-12 | Valtion Teknillinen | Foerfarande foer att medelst straolning fraon en radioisotopkaella utan att foerstoera provet maeta foerdelningen av fyll-och/eller belaeggningsmedel i tjockleksriktningen av papp erartong eller liknande och halten av dessa medel anordnin rgafoer tillaempande av foerfarandet samt anvaendningar av erfoarandet och anordningarna |
FI68321C (fi) * | 1982-12-01 | 1985-08-12 | Valtion Teknillinen | Foerfarande foer att medelst straolning utsaend av ett roentgenroer utan att foerstoera provet maeta foerdelningen av fyll- och/eller belaeggningsmedel i tjockleksriktningen av papper kartong eller liknande och halten av dessa medel anordningar foer tillaempande av foerfarandet samt anvaendningar av foerfarandet och anordningarna |
FI68322C (fi) * | 1983-06-28 | 1985-08-12 | Enso Gutzeit Oy | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong |
US4748647A (en) * | 1985-08-12 | 1988-05-31 | General Electric Company | Fuel tube barrier gauge |
JPH07119594B2 (ja) * | 1988-07-01 | 1995-12-20 | 富士写真フイルム株式会社 | 磁気記録媒体の膜厚測定方法 |
NO171524C (no) * | 1990-10-18 | 1993-03-24 | Dag Brune | Fremgangsmaate for paavisning av korrosjonsangrep i metalloverflater |
GB2260403B (en) * | 1991-09-19 | 1995-10-11 | Rigaku Ind Corp | Method of and apparatus for the quantitative measurement of paint coating |
DE4303878A1 (de) * | 1993-02-10 | 1994-09-01 | Amtec Analysenmestechnik Gmbh | Verfahren zur Schichtanalyse nach dem Röntgenfluoreszenzverfahren unter Berücksichtigung unterschiedlicher Grund- und Schichtwerkstoffe |
FI109215B (fi) | 1996-10-28 | 2002-06-14 | Metso Paper Inc | Menetelmä ja sovitelma liikkuvan paperi- tai kartonkiradan päällystämiseksi |
DE10034747A1 (de) * | 2000-07-18 | 2002-02-07 | Manfred Liphardt | Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung der Dicke eines Beschichtungswerkstoffs auf einem Trägerwerkstoff |
US8672490B2 (en) | 2011-11-30 | 2014-03-18 | Izi Medical Products | High reflectivity retro-reflective marker |
US8661573B2 (en) | 2012-02-29 | 2014-03-04 | Izi Medical Products | Protective cover for medical device having adhesive mechanism |
US9632043B2 (en) * | 2014-05-13 | 2017-04-25 | Bruker Jv Israel Ltd. | Method for accurately determining the thickness and/or elemental composition of small features on thin-substrates using micro-XRF |
US9829448B2 (en) | 2014-10-30 | 2017-11-28 | Bruker Jv Israel Ltd. | Measurement of small features using XRF |
JP2022178427A (ja) * | 2021-05-20 | 2022-12-02 | 株式会社ディスコ | 保護膜の厚み測定方法 |
Family Cites Families (12)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US2711480A (en) * | 1948-06-29 | 1955-06-21 | Friedman Herbert | Method of measuring thickness of thin layers |
US2925497A (en) * | 1956-08-09 | 1960-02-16 | Philips Corp | Fluorescence analysis |
US3417243A (en) * | 1965-10-28 | 1968-12-17 | Minnesota Mining & Mfg | Method and apparatus for x-ray fluorescence gauging of a higher atomic number selected element in a coating on a base |
FI40753B (fi) * | 1968-04-03 | 1969-01-31 | Valmet Oy | |
US3631526A (en) * | 1969-11-05 | 1971-12-28 | Brun Sensor Systems Inc | Apparatus and methods for eliminating interference effect errors in dual-beam infrared measurements |
DE2254969A1 (de) * | 1972-11-10 | 1974-05-30 | Frieseke & Hoepfner Gmbh | Verfahren und einrichtung zur messung der durchschnittsfeuchte einer eine trocknungsstrecke verlassenden messgutbahn |
US3984679A (en) * | 1975-02-18 | 1976-10-05 | Gte Laboratories Incorporated | Coating thickness monitor for multiple layers |
US4162528A (en) * | 1976-05-18 | 1979-07-24 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses |
CA1086870A (en) * | 1976-05-18 | 1980-09-30 | Western Electric Company, Incorporated | X-ray-fluorescence measurement of thin film thicknesses |
JPS538165A (en) * | 1976-07-12 | 1978-01-25 | Seiko Instr & Electronics Ltd | Thickness measuring method of thin film material and thin film material thickness measuring apparatus |
FI53757C (fi) * | 1976-12-13 | 1978-07-10 | Pertti Puumalainen | Foerfarande foer maetning av ytvikterna |
US4147931A (en) * | 1976-12-13 | 1979-04-03 | Pertti Puumalainen | Procedure for measuring unit area weights |
-
1978
- 1978-11-21 FI FI783544A patent/FI59489C/fi not_active IP Right Cessation
-
1979
- 1979-11-17 DE DE19792946567 patent/DE2946567A1/de not_active Withdrawn
- 1979-11-20 SE SE7909582A patent/SE444084B/sv not_active IP Right Cessation
- 1979-11-20 FR FR7928631A patent/FR2442443A1/fr active Granted
- 1979-11-20 CA CA000340244A patent/CA1147870A/en not_active Expired
- 1979-11-20 IT IT50860/79A patent/IT1162690B/it active
- 1979-11-20 NO NO793755A patent/NO793755L/no unknown
- 1979-11-21 GB GB7940249A patent/GB2040037B/en not_active Expired
-
1981
- 1981-05-01 US US06/259,496 patent/US4377869A/en not_active Expired - Lifetime
-
1982
- 1982-09-21 GB GB08226835A patent/GB2115140B/en not_active Expired
-
1983
- 1983-02-15 FR FR8302410A patent/FR2517431B1/fr not_active Expired
-
1985
- 1985-07-12 SE SE8503456A patent/SE8503456D0/xx unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2946567A1 (de) | 1980-06-04 |
US4377869A (en) | 1983-03-22 |
GB2115140B (en) | 1984-02-08 |
FI59489B (fi) | 1981-04-30 |
FI783544A (fi) | 1980-05-22 |
GB2115140A (en) | 1983-09-01 |
SE8503456L (sv) | 1985-07-12 |
IT7950860A0 (it) | 1979-11-20 |
FR2442443A1 (fr) | 1980-06-20 |
FR2517431A1 (fr) | 1983-06-03 |
NO793755L (no) | 1980-05-22 |
SE444084B (sv) | 1986-03-17 |
GB2040037A (en) | 1980-08-20 |
FR2517431B1 (fr) | 1985-10-04 |
SE7909582L (sv) | 1980-05-22 |
GB2040037B (en) | 1983-08-17 |
SE8503456D0 (sv) | 1985-07-12 |
IT1162690B (it) | 1987-04-01 |
CA1147870A (en) | 1983-06-07 |
FR2442443B1 (fi) | 1984-11-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI59489C (fi) | Foerfarande foer maetning av belaeggningsmaengder | |
US3956630A (en) | Fluorimetric coat weight measurement | |
US4845730A (en) | Selective on-line measurement of filler components in paper | |
JPS597923B2 (ja) | 物体上の塗料の量を測定する装置 | |
FI68321B (fi) | Foerfarande foer att medelst straolning utsaend av ett roentgenroer utan att foerstoera provet maeta foerdelningen av fylloch/eller belaeggningsmedel i tjockleksriktningen av papp erartong eller liknande och halten av dessa medel anordnin rgafoer tillaempande av foerfarandet samt anvaendningar av erfoarandet och anordningarna | |
FI78356B (fi) | Metod foer maetning av fuktighet. | |
US4147931A (en) | Procedure for measuring unit area weights | |
FI62420B (fi) | Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengd | |
US5579362A (en) | Method of and apparatus for the quantitative measurement of paint coating | |
CA1079414A (en) | Procedure for measuring unit area weights | |
FI68322C (fi) | Foerfarande och anordning foer maetning av maengden av siliciumbelaeggning vid papper eller kartong | |
FI59490B (fi) | Foerfarande foer att maeta belaeggningsmaengder | |
US4458360A (en) | Procedure for determining coating rates | |
GB2084314A (en) | Determining concentration by x-ray fluorescence | |
SU450099A1 (ru) | Способ рентгенофлуоресцентного анализа | |
RU2011164C1 (ru) | Способ измерения толщины покрытия | |
FI73318B (fi) | Metod foer maetning av papperets formation. | |
SU777563A1 (ru) | Способ измерени содержани наполнителей в бумажном полотне | |
FI60447C (fi) | Foerfarande foer maetning av en ytbelaeggnings tjocklek | |
FI63114B (fi) | Foerfarande foer att maeta taetheten av cylindriska kroppar | |
SU468084A1 (ru) | Рентгеновский способ измерени толщины покрыти | |
JPH08219748A (ja) | β線膜厚計による塗膜厚測定方法 | |
SU1631265A1 (ru) | Способ определени толщины покрыти и устройство дл его осуществлени | |
CA1218168A (en) | Procedure for measuring the quantity of silicon coating on paper or cardboard | |
SU1422000A1 (ru) | Способ измерени толщины покрыти |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM | Patent lapsed |
Owner name: ROIBOX OY |