FI78356B - Metod foer maetning av fuktighet. - Google Patents
Metod foer maetning av fuktighet. Download PDFInfo
- Publication number
- FI78356B FI78356B FI853529A FI853529A FI78356B FI 78356 B FI78356 B FI 78356B FI 853529 A FI853529 A FI 853529A FI 853529 A FI853529 A FI 853529A FI 78356 B FI78356 B FI 78356B
- Authority
- FI
- Finland
- Prior art keywords
- opal
- window
- analyzer
- measurement
- material web
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 24
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 34
- 239000011022 opal Substances 0.000 claims description 23
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 20
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 17
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 5
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000000123 paper Substances 0.000 description 3
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 3
- 239000000945 filler Substances 0.000 description 2
- 239000011521 glass Substances 0.000 description 2
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 239000012736 aqueous medium Substances 0.000 description 1
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 1
- 239000011111 cardboard Substances 0.000 description 1
- 239000012141 concentrate Substances 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 239000000446 fuel Substances 0.000 description 1
- 239000011087 paperboard Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
- G01N21/3559—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content in sheets, e.g. in paper
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/86—Investigating moving sheets
- G01N2021/8609—Optical head specially adapted
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/35—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light
- G01N21/3554—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry using infrared light for determining moisture content
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Description
• ··- · 1 ' ' :: 78356
MENETELMÄ KOSTEUDEN MITTAAMISEKSI - METOD FÖR MÄTNING AV FUKTIGHET
Keksinnön kohteena on menetelmä rainana valmistettavan materiaalin, erityisesti paperin, kartongin tai vastaavan, kosteuden mittaamiseksi, jossa materiaalirainan toiselle puolelle sijoitetusta infra-punalähteestä lähetetään infrapunasäteilyä, joka katkotaan osiin, 5 johdetaan materiaalirainalle, materiaalirainan läpi tulevan infrapuna-säteilyn mittausaallonpituuden intensiteettiä havannoidaan mittaus-analysaattorilla ja referenssiaallonpituuden intensiteettiä mitataan referenssianalysaattorilla samanaikaisesti.
10 Nykyisin tunnetaan erilaisia infrapunakosteusmittareita, ja ne kaikki perustuvat yleensä kahden tai useamman aallonpituuden absorptioon vesipitoisessa aineessa.
Rainana valmistettavan materiaalin, erityisesti paperin tai kartongin 15 kosteuden mittaamiseen käytettävät transmissiomittarit voidaan jakaa toimintaperiaatteeltaan kahteen erilaiseen ryhmään. Ensimmäisen ryhmän muodostavat mittarit, joissa käytetään ns. integroivaa palloa, johon tuodaan mittaus- ja referenssisäteet peräkkäin jaksoitettuna ja ne analysoidaan yhdellä ilmaisimella. Toiseen ryhmään kuuluvissa lait-20 teissä säteily siroaa kahden peilin välissä, johon väliin on sijoitettu tutkittava materiaaliraina, edestakaisin ja tästä infrapunasätei-lystä otetusta näytteestä analysoidaan samanaikaisesti mittaus- ja referenssiaallonpituuksien intensiteetit.
25 Näihin tunnettuihin menetelmiin liittyy epäkohtia. Menetelmissä mitataan tutkittavan materiaalin läpi tulleiden mittaus- ja referenssiaallonpituuksien intensiteettejä keskenään, jolloin saatu kosteuspitoisuuden arvo tulee hyvin riippuvaiseksi materiaalin neliöpainosta, täyteaineista, kuitujen jauhatuksesta yms. seikoista. Näiden mene-30 telmien ja mittareiden heikkoutena on lisäksi kapea mittausalue, 2 . - 78356 sillä jos kosteus on yli 15%, mittarit eivät ole enää luotettavia ja antavat märästä (kosteusprosentti 30-50%) aivan vääriä mittaustuloksia. Useimmilla mittareilla ei lisäksi voida mitata kosteuksia neliöpainoltaan suurilta materiaaleilta, jolloin useim-5 mat paksut kartonkilaadut ovat sellaisia, ettei niiden kosteutta voida luotettavasti mitata tunnetuilla menetelmillä ja laitteilla. Usein jo yli 200 g/m^ neliöpainoltaan olevat materiaalit ovat vaikeasti mitattavissa.
10 Keksinnön tarkoituksena on tuoda esiin menetelmä kosteuden mittaamiseksi, joka poistaa nykyisiin menetelmiin liittyviä epäkohtia. Lisäksi keksinnön tarkoituksena on tuoda esiin menetelmä, jota käyttäen pystytään mittaamaan kosteusalueet 0-100% kaikille paperi- tai kartonkilaaduille tai vastaaville materiaaleille riippumatta materi-15 aalista ja jonka tulosten riippuvuus materiaalin neliöpainosta, täy-teainepitoisuudesta ja/tai jauhatusasteesta on hyvin pieni verrattuna nykyisin tunnettuihin menetelmiin. Edelleen keksinnön tarkoituksena on tuoda esiin menetelmä, jota hyväksikäyttäen saadaan nopea ja luotettava mittaustulos.
20
Keksinnön tarkoitus saavutetaan menetelmällä, jolle on pääasiassa tunnusomaista se, mitä on esitetty vaatimusosassa.
: Keksinnön mukaan infrapunasäteily johdetaan materiaalirainalle infra- 25 punasäteilyn osittamislaitteen ja materiaalirainan väliin sijoitetun opaali-ikkunan läpi säteilyn hajoittamiseksi ja mitataan materiaalirainan ja analysaattorien väliin sijoitetulta toiselta opaali-ik-: kunalta samalla säätäen analysaattorit sellaiseen kulmaan jälkimmäi seen opaali-ikkunaan nähden, että mittauksessa saadaan kosteudelle 30 sama arvo riippumatta materiaalirainan paikasta opaali-ikkunoiden välissä. Menetelmällä hajoitetaan infrapunavalo erittäin tehokkaasti opaali-ikkunoilla, jolloin jokaiseen suuntaan tuleva säteilyn mää-: rä on sama. Lisäksi mittaustulos ei riipu materiaalirainan paikasta.
Il .- 3 7 8356
Seuraavaksi keksintöä selvitetään tarkemmin viittaamalla oheiseen piirustukseen, joka esittää erästä laitteistoa keksinnön mukaisen menetelmän soveltamiseksi.
5 Tässä sovellutuksessa materiaalirainan 1 toiselle puolelle on sijoitettu infrapunalähdeosa 8 ja materiaalirainan vastakkaiselle puolelle on sijoitettu analysaattoriosa 9. Infrapunaosaan kuuluu infrapunalähde 2, infrapunalähteen ja materiaalirainan väliin sijoitettu osittamislaite 3, ns. chopperi, säteilyn katkomiseksi osiin, 10 infrapunalähteen läheisyyteen sijoitetut linssi 10 ja peili 11 säteilyn keskittämiseksi chopperiin, ja chopperin ja materiaalirainan väliin sijoitettu opaali-ikkuna 6 infrapunasäteilyn hajoittamiseksi. Chopperi on järjestetty katkomaan säteilyn osiin tunnetulla tavalla, esim. tietyn taajuisen värähtelyn, rakojen tms. avulla.
15
Analysaattoriosaan kuuluu mittausanalysaattori 4 ja referenssiana-lysaattori 5 sekä analysaattorien ja materiaalirainan väliin sijoitettu opaali-ikkuna 7. Analysaattoreihin kuuluu suuntausputket 12, 13 säteilyn kollimoimiseksi analysaattoreihin, ja suodatin-, linssi-20 ja detektoriyhdistelmät 14, 15. Analysaattorit ovat rakenteeltaan toisiaan vastaavia, ainoana erona on se, että mittausanalysaattoris-sa suodattimet päästävät detektorille mittausaallonpituuden, joka on veden absorptioaallonpituuden päällä, ja referenssianalysaat-torissa suodattimet päästävät detektorille referenssiaallonpituu-25 den, joka on edullisesti välittömästi veden absorptioaallonpituuden vieressä.
Analysaattorit on järjestetty erillisiksi ja säädettäviksi keskenään ja/tai opaali-ikkunan 7 suhteen esim. niveltämällä ne analysaattori-30 osaan tai vastaavalla tavalla. Analysaattorit ovat säädettävissä joko yhdessä tai erikseen niiden välisen kulman ja/tai niiden ja opaali-ikkunan välisen kulman muuttamiseksi, mutta siten, että ne näkevät aina pääasiassa saman alueen opaalilasi-ikkunan pinnasta.
4 78356
Mittauslaitteen virittäminen ja kosteuden määrittäminen käyttäen keksinnön mukaista menetelmää tapahtuu seuraavasti: Infrapuna- lähdeosan 8 ja analysaattoriosan 9 välinen rako, jossa materiaalisina kulkee valmistuksen ja mittauksen aikana, säädetään haluttuun 5 arvoon. Infrapunalähteestä saatava säteily kohdistetaan peilin ja linssin avulla chopperin läpi opaalilasi-ikkunaan, johon saadaan tehokas valokiila. Opaali-ikkuna sirottaa valoa joka suuntaan ja osa valosta tulee analysaattoriosan opaali-ikkunaan. Kalibroitaessa ei materiaalisina ole tässä vaiheessa raossa. Opaali-ikkuna 10 sirottaa valon tehokkaasti ja osa valosta havaitaan analysaattoreilla. Näin saadaan vertailuarvot, kun materiaalisina ei ole infrapunaosan ja analysaattoriosan välissä.
Edelleen kalibroitaessa laitetaan näytemateriaali osien väliin 15 ja säädetään analysaattorien katselukulmaa opaali-ikkunalle siten, että saadaan aina sama kosteusarvo,vaikka näyte on eri ääriarvoissaan mittausvälissä, joko opaali-ikkunassa 6 tai 7 kiinni. Laitteisto voidaan kalibroida yhden koneen kokonaistuotannolle, mutta haluttaessa voidaan katselukulmia muuttaa.
20
Kosteusarvoon verrannollinen mittarin arvo saadaan nyt laskemalla lähtöarvoja, jotka mitattiin silloin kun mitään ei ole osien välissä, *: hyväksi käyttäen suhteuttamalla mittaussäteen absorptio referenssi- säteen absorptioon. Aikaisemmin on laskettu vain läpitulleiden mittaus-25 ja referenssisäteiden intensiteettien suhde. Kun laskutoimitukset on tehty tällä tavalla käyttäen hyväksi tätä uutta menetelmää ja aallonpituudet ovat muun materian kannalta paitsi veden lähes samat, saadaan vesimäärä kuljetettua valotienpituutta kohti määrättyä, jolloin neliöpaino ja muut virhettä aiheuttavat tekijät pienenevät huomatta-30 vasti.
Menetelmän eräissä muissa sovellutuksissa materiaalirainaa tarkastellaan usemmalla kuin kahdella, pääasiassa samaa aluetta opaali-ikkunalta mittaavalla, säädettävän katselukulman omaavalla analy- • . 5 78356 saattorilla. Tällöin mittaustulos saadaan entistä tarkemmaksi.
Keksinnön mukaista menetelmää käyttäen voidaan mitata hyvinkin paksuja kartonkilaatuja, jopa sellulevyjä, joiden neliöpaino Λ 5 voi olla 1000 g/m . Useissa mittauksissa on havaittu, että kos-teusarvoja voidaan mitata tarkasti kosteusprosentin ollessa 0-100%. Samoin on huomattu, että esim. neliöpainon kaksinkertaistaminen vaikuttaa tulokseen vähemmän kuin 0,2%-yksikköä.
10 Keksintöä ei rajata esitettyyn edulliseen sovellutukseen vaan se voi vaihdella patenttivaatimusten puitteissa.
Claims (6)
- 6 78356
- 1. Menetelmä ralnana valmistettavan materiaalin, erityisesti paperin tai vastaavan, kosteuden mittaamiseksi, jossa materiaalirainan (1) toiselle puolelle sijoitetusta in£rapunalähteestä (2) lähetetään infrapunasäteilyä, 5 infrapunasäteily katkotaan osiin (3), johdetaan materiaa- lirainalle (1) opaali-ikkunan (6) läpi säteilyn hajoitta-miseksi ja mitataan materiaalirainan ja analysaattorien (4,5,) väliin sijoitetulta toiselta opaali-ikkunalta (7) siten, että materiaalirainan läpi tulevan infrapunasätei- 10 lyn mittausaallonpituuden intensiteettiä mitataan mit-tausanalysaattorilla (4) ja infrapunasäteilyn referenssi-aallonpituuden intensiteettiä mitataan referenssianaly-saattorilla (5) samanaikaisesti, tunnettu siitä, että analysaattorien (4,5) ja jälkimmäisen opaali-ikkunan 15 välistä kulmaa muutetaan ja analysaattorit (4,5) säädetään sellaiseen kulmaan jälkimmäiseen opaali-ikkunaan nähden, että mittauksessa saadaan kosteudelle sama arvo riippumatta materiaalirainan paikasta opaali-ikkunoiden välissä. 20 : 2. Patenttivaatimuksen 1 mukainen menetelmä, t u n - . n e t t u siitä, että mittausanalysaattorilla ja refe- renssianalysaattorilla tarkastellaan aina samaa aluetta opaali-ikkunan (7) pinnalta. 25
- 3. Patenttivaatimuksen 1 tai 2 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittausanalysaattorin ja referens-sianalysaattorin välistä kulmaa ja/tai kummankin analysaattorin ja opaali-ikkunan välistä kulmaa säädetään 30 muista säädöistä riippumatta saman arvon saamiseksi kosteudelle materiaalirainan paikan vaihtuessa.
- 4. Jonkin patenttivaatimuksista 1-3 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että mittaus- ja referenssiaal- 35 lonpituudet ovat mahdollisimman lähellä toisiaan, jolloin 7 78356 materiaalirainan kosteuspitoisuus lasketaan tunnettujen kalibrointinäytteiden avulla laskemalla lähtöarvojen, kun näytettä ei ole opaali-ikkunoiden välissä, avulla referenssiaallonpituuden intensiteetin vaimenemiseen 5 suhteutettu mittausaallonpituuden intensiteetin vaime neminen .
- 5. Jonkin patenttivaatimuksista 1-4 mukainen menetelmä, tunnettu siitä, että infrapunasäteilyä mitataan 10 useammalla kuin kahdella, samaa aluetta opaali-ikkunalta mittaavalla, säädettävään katselukulman omaavalla analysaattorilla .
- 6. Jonkin patenttivaatimuksista 1-5 mukainen menetelmä, 15 tunnettu siitä, että mitataan näytearkkien kosteuspitoisuuksia. 8 78356
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI853529A FI78356C (fi) | 1985-09-16 | 1985-09-16 | Metod foer maetning av fuktighet. |
DE19873708141 DE3708141A1 (de) | 1985-09-16 | 1987-03-13 | Feuchtigkeitsmessverfahren |
US07/026,219 US4812665A (en) | 1985-09-16 | 1987-03-16 | Method and apparatus for measuring of humidity |
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FI853529A FI78356C (fi) | 1985-09-16 | 1985-09-16 | Metod foer maetning av fuktighet. |
FI853529 | 1985-09-16 |
Publications (4)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
FI853529A0 FI853529A0 (fi) | 1985-09-16 |
FI853529L FI853529L (fi) | 1987-03-17 |
FI78356B true FI78356B (fi) | 1989-03-31 |
FI78356C FI78356C (fi) | 1989-07-10 |
Family
ID=8521346
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
FI853529A FI78356C (fi) | 1985-09-16 | 1985-09-16 | Metod foer maetning av fuktighet. |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4812665A (fi) |
DE (1) | DE3708141A1 (fi) |
FI (1) | FI78356C (fi) |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP3027161B2 (ja) * | 1989-07-14 | 2000-03-27 | 株式会社リコー | 画像形成装置における画像濃度検知装置 |
DE4040101A1 (de) * | 1990-12-14 | 1992-06-17 | Siemens Ag | Materialfeuchte-messverfahren, verwendung und messeinrichtung zur durchfuehrung des verfahrens |
US5742399A (en) * | 1996-04-18 | 1998-04-21 | American Air Liquide, Inc. | Method for stabilizing the wavelength in a laser spectrometer system |
US5963336A (en) | 1995-10-10 | 1999-10-05 | American Air Liquide Inc. | Chamber effluent monitoring system and semiconductor processing system comprising absorption spectroscopy measurement system, and methods of use |
US5818578A (en) * | 1995-10-10 | 1998-10-06 | American Air Liquide Inc. | Polygonal planar multipass cell, system and apparatus including same, and method of use |
US5949537A (en) | 1996-04-18 | 1999-09-07 | American Air Liquide Inc. | In-line cell for absorption spectroscopy |
US5880850A (en) * | 1996-04-18 | 1999-03-09 | American Air Liquide Inc | Method and system for sensitive detection of molecular species in a vacuum by harmonic detection spectroscopy |
DE19701904C2 (de) * | 1997-01-21 | 2002-02-14 | Michael Tummuscheit | Vorrichtung zur quantitativen Bestimmung der Oberflächenfeuchte mit Hilfe eines kombinierten Verfahrens |
US6442736B1 (en) | 2000-10-03 | 2002-08-27 | L'air Liquide Societe Anonyme A Directoire Et Conseil De Surveillance Pour L'etude Et L'expolitation Des Procedes Georges Claude | Semiconductor processing system and method for controlling moisture level therein |
DE10305598A1 (de) * | 2003-02-11 | 2004-08-19 | Voith Paper Patent Gmbh | Messverfahren und Messeinrichtung zur Bestimmung des Feuchtigkeitsgehaltes einer Materialbahn |
US7397563B2 (en) | 2005-11-08 | 2008-07-08 | Honeywell International Inc. | Pass-line insensitive sensor |
US7460233B2 (en) * | 2005-11-08 | 2008-12-02 | Honeywell International Inc. | Pass-line and tilt insensitive sensor |
US7619740B2 (en) * | 2007-10-11 | 2009-11-17 | Honeywell International Inc. | Microgloss measurement of paper and board |
US8148690B2 (en) * | 2009-09-24 | 2012-04-03 | ABB, Ltd. | Method and apparatus for on-line web property measurement |
DK3222952T3 (en) * | 2011-09-06 | 2019-04-08 | Rv Holding B V | Method and system for freeze-drying injectable compositions, in particular pharmaceutical compositions |
RU2669156C1 (ru) * | 2017-11-09 | 2018-10-08 | Акционерное общество "ГМС Нефтемаш" | Поточный влагомер |
RU2704034C1 (ru) * | 2019-01-29 | 2019-10-23 | Акционерное общество "ГМС Нефтемаш" | Поточный влагомер |
Family Cites Families (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3641349A (en) * | 1969-09-29 | 1972-02-08 | Measurex Corp | Method for measuring the amount of substance associated with a base material |
US3675019A (en) * | 1971-03-19 | 1972-07-04 | Measurex Corp | Apparatus for measuring the amount of a substance that is associated with a base material |
US3965356A (en) * | 1975-04-30 | 1976-06-22 | Measurex Corporation | Apparatus for measuring a predetermined characteristic of a material using two or more wavelengths of radiation |
US4006358A (en) * | 1975-06-12 | 1977-02-01 | Measurex Corporation | Method and apparatus for measuring the amount of moisture that is associated with a web of moving material |
US4052615A (en) * | 1976-07-30 | 1977-10-04 | Industrial Nucleonics Corporation | Spherical cavity method and apparatus for measuring a sheet material property using infrared radiation |
US4171918A (en) * | 1976-12-27 | 1979-10-23 | Sentrol Systems Ltd. | Infrared moisture measuring apparatus |
-
1985
- 1985-09-16 FI FI853529A patent/FI78356C/fi not_active IP Right Cessation
-
1987
- 1987-03-13 DE DE19873708141 patent/DE3708141A1/de not_active Withdrawn
- 1987-03-16 US US07/026,219 patent/US4812665A/en not_active Expired - Fee Related
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4812665A (en) | 1989-03-14 |
FI853529L (fi) | 1987-03-17 |
FI78356C (fi) | 1989-07-10 |
FI853529A0 (fi) | 1985-09-16 |
DE3708141A1 (de) | 1988-09-22 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
FI78356B (fi) | Metod foer maetning av fuktighet. | |
FI56903C (fi) | Anordning foer maetning av fuktinnehaollet i ett arkmaterial | |
DE69019385T2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Messen und Kontrollieren des Gewichts einer Schicht. | |
FI81203C (fi) | Foerfarande och anordning foer maetning av vattenhalt. | |
JP4008582B2 (ja) | コーティング重量の計測と制御装置及び方法 | |
CA1193660A (en) | Microwave moisture sensor | |
EP0150945A3 (en) | Method and apparatus for measuring properties of thin materials | |
DE69902155D1 (de) | Anordnung und verfahren zum anwenden von diffusionswellenspektroskopie zur messung der eigenschaften von mehrphasigen systemen und änderungen darin | |
US6717675B1 (en) | System and method for determining fiber orientation in fibrous material webs | |
FI57845B (fi) | Foerfarande och anordning foer detektering av spetor i massa | |
US6111651A (en) | Method and apparatus for measuring properties of a moving web | |
US3879607A (en) | Method of measuring the amount of substance associated with a base material | |
FI65673C (fi) | Foerfarande och anordning foer detektering av kvistar eller dyikt i saogat virke | |
FI110638B (fi) | Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan silikonipäällysteen määrän mittaamiseksi | |
FI73319B (fi) | Foerfarande foer maetning av egenskaperna i en tvaerprofil hos en kontinuerlig materialbana. | |
FI991346A0 (fi) | Menetelmä ja laitteisto paperirainan ominaisuuksien mittaamiseksi | |
JPH11237377A (ja) | 紙やシートの品質測定装置 | |
FI57846C (fi) | Foerfarande och anordning foer detektering av spetor i massa | |
US4785185A (en) | Submillimeter laser measurement of water or filler content of sheets and bands of dielectric material | |
FI109377B (fi) | Menetelmä materiaalin pinnan karheuden mittaamiseksi | |
FI67958B (fi) | Foerfarande och anordning foer bestaemning av koncentrationen av en substans som aer bunden till partiklar transporterade i ett stroemmande medium | |
FI108811B (fi) | Menetelmä ja laite liikkuvalla alustalla olevan päällysteen määrän mittaamiseksi | |
DE69232697T2 (de) | Sensor und methode zur messung ausgewählter bestandteile eines materials | |
JPS63225147A (ja) | 湿度を測定する方法 | |
DE3808336A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der feinheit von textilfasern, insbesondere flachsfasern |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM | Patent lapsed |
Owner name: PUUMALAISEN TUTKIMUSLAITOS OY |