FI123049B - System för en lagrande artificiell syn - Google Patents

System för en lagrande artificiell syn Download PDF

Info

Publication number
FI123049B
FI123049B FI20075604A FI20075604A FI123049B FI 123049 B FI123049 B FI 123049B FI 20075604 A FI20075604 A FI 20075604A FI 20075604 A FI20075604 A FI 20075604A FI 123049 B FI123049 B FI 123049B
Authority
FI
Finland
Prior art keywords
measuring
measurement
calibrated
calibration data
machine vision
Prior art date
Application number
FI20075604A
Other languages
English (en)
Finnish (fi)
Other versions
FI20075604A (sv
FI20075604A0 (sv
Inventor
Antti Knuuttila
Original Assignee
Mapvision Ltd Oy
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mapvision Ltd Oy filed Critical Mapvision Ltd Oy
Priority to FI20075604A priority Critical patent/FI123049B/sv
Publication of FI20075604A0 publication Critical patent/FI20075604A0/sv
Priority to US12/676,213 priority patent/US10012500B2/en
Priority to EP08787758.5A priority patent/EP2193329A4/en
Priority to JP2010523548A priority patent/JP2010538286A/ja
Priority to PCT/FI2008/050485 priority patent/WO2009030813A1/en
Publication of FI20075604A publication Critical patent/FI20075604A/sv
Application granted granted Critical
Publication of FI123049B publication Critical patent/FI123049B/sv

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00—Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/042—Calibration or calibration artifacts
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01B—MEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B21/00—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant
    • G01B21/02—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness
    • G01B21/04—Measuring arrangements or details thereof, where the measuring technique is not covered by the other groups of this subclass, unspecified or not relevant for measuring length, width, or thickness by measuring coordinates of points
    • G01B21/045—Correction of measurements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01C—MEASURING DISTANCES, LEVELS OR BEARINGS; SURVEYING; NAVIGATION; GYROSCOPIC INSTRUMENTS; PHOTOGRAMMETRY OR VIDEOGRAMMETRY
    • G01C11/00—Photogrammetry or videogrammetry, e.g. stereogrammetry; Photographic surveying
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G06T7/001—Industrial image inspection using an image reference approach

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • Remote Sensing (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Claims (10)

1. Förfarande för att mätä ett stycke med ett mätande system för artificiell syn, vilket nämnda system för artificiell syn är kalibrerat i en mätrymd, vid vilket förfarande: stycket förses med ett individuellt känne-tecken; stycket fotograferas med en mängd kameror; bilderna lagras i ett datasystem; och kalibreringsdata för berörda mäthändelse el-ler data som krävs för beräkning av kalibreringsdata ansluts i anknytning tili nämnda lagrade bilder; kännetecknat av att förfarandet vi-dare innefattar skeden: för att utföra en ny mätning av stycket pä basis av de lagrade bilderna och kalibreringsdata för mäthändelsen; och för att spära defekta individer.
2. Förfarande enligt patentkrav 1, kännetecknat av att mätsystemet kalibreras i en tredimensionell mätrymd.
3. Förfarande enligt nägot av föregäende patentkrav 1 eller 2, kännetecknat av att ät-minstone tvä kameror kalibreras i mätsystemet.
4. Förfarande enligt nägot av föregäende patentkrav 1-3, kännetecknat av att en indi-kator kalibreras i mätsystemet. δ
5. System för att mätä ett stycke med ett mä- CNJ ^ tande system för artificiell syn, varvid nämnda system o för artificiell syn är kalibrerat i en mätrymd, varvid 00 systemet innefattar: x g ett stycke (26) som skall mätäs; ^ ett kamerasystem innefattande ätminstone tvä o kameror (23 - 25) ; och o ett datasystem (27) som är förenat med nämnda 00 kamerasystem, vilket system är anordnat att: förse stycket med ett individuellt känneteck- en; mätä stycket med hjälp av kamerasystemet; lagra bilderna i datasystemet; ansluta kalibreringsdata för berörda mäthän-delse eller data som krävs för beräkning av kalibreringsdata i anknytning tili nämnda lagrade bilder; kännetecknat av att systemet vidare är anordnat att: utföra en ny mätning av stycket pä basis av de lagrade bilderna och kalibreringsdata för mäthän-delsen; och spära defekta individer.
6. System enligt patentkrav 5, kännetecknat av att systemet vidare innefattar ett externt datalager (28) för att lagra nämnda bilder och motsvarande mäthändelser.
7. System enligt patentkrav 5 eller 6, kännetecknat av att systemet vidare innefattar en indikator, som är kalibrerad i samma mätrymd som nämnda kamerasystem.
8. System enligt nägot av föregäende patentkrav 5-7, kännetecknat av att mätsystemet är anordnat att kalibrera sig själv efter varje mätning .
9. System enligt nägot av föregäende patentkrav 5-8, kännetecknat av att mätsystemet är kalibrerat i en tredimensionell mätrymd. O
^ 10. System enligt nägot av föregäende patent it. cp krav 5-9, kännetecknat av att mätsystemet Jö vidare är anordnat att utföra en ny mätning av stycket pä basis av de lagrade bilderna och kalibreringsdata CL för mäthändelsen. 't o CO LO N- o o C\J
FI20075604A 2007-09-03 2007-09-03 System för en lagrande artificiell syn FI123049B (sv)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20075604A FI123049B (sv) 2007-09-03 2007-09-03 System för en lagrande artificiell syn
US12/676,213 US10012500B2 (en) 2007-09-03 2008-09-03 Storing data for re-measurement of objects using a recording machine vision system
EP08787758.5A EP2193329A4 (en) 2007-09-03 2008-09-03 Recording machine vision system
JP2010523548A JP2010538286A (ja) 2007-09-03 2008-09-03 レコーディングマシンビジョンシステム
PCT/FI2008/050485 WO2009030813A1 (en) 2007-09-03 2008-09-03 Recording machine vision system

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FI20075604A FI123049B (sv) 2007-09-03 2007-09-03 System för en lagrande artificiell syn
FI20075604 2007-09-03

Publications (3)

Publication Number Publication Date
FI20075604A0 FI20075604A0 (sv) 2007-09-03
FI20075604A FI20075604A (sv) 2009-03-04
FI123049B true FI123049B (sv) 2012-10-15

Family

ID=38572938

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
FI20075604A FI123049B (sv) 2007-09-03 2007-09-03 System för en lagrande artificiell syn

Country Status (5)

Country Link
US (1) US10012500B2 (sv)
EP (1) EP2193329A4 (sv)
JP (1) JP2010538286A (sv)
FI (1) FI123049B (sv)
WO (1) WO2009030813A1 (sv)

Families Citing this family (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102553833B (zh) * 2011-01-04 2016-04-27 浙江大学 一种回转类零件多工位多参数视觉测量***及方法
CN102679877B (zh) * 2012-06-01 2014-08-06 吉林大学 基于空间经纬定位原理的营运车辆视觉测量的标定***
US9410827B2 (en) * 2012-10-09 2016-08-09 Pixameter Corp. Measurement using a calibration pattern
US10565735B2 (en) 2016-11-16 2020-02-18 Pixameter Corp. Image calibration patient identification
US10943366B2 (en) 2012-10-09 2021-03-09 Pixameter Corp. Wound characterization of a patient
US10298780B2 (en) 2016-11-16 2019-05-21 Pixameter Corp. Long range image calibration
US10417785B2 (en) 2016-11-16 2019-09-17 Pixameter Corp. Image calibration for skin lesions
WO2014100598A1 (en) * 2012-12-21 2014-06-26 Hexagon Metrology, Inc. Calibration artifact and method of calibrating a coordinate measuring machine
JP5979064B2 (ja) * 2013-04-02 2016-08-24 横河電機株式会社 記録計
CN105004323B (zh) * 2015-07-03 2016-08-17 长沙理工大学 一种基于机器视觉的口杯酒瓶盖旋转角度测量与修正方法
CN109916923A (zh) * 2019-04-25 2019-06-21 广州宁基智能***有限公司 一种基于机器视觉的定制板件自动缺陷检测方法

Family Cites Families (35)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3951552A (en) 1972-08-07 1976-04-20 Massachusetts Institute Of Technology Photometer-digitizer system
DE3941144C2 (de) * 1989-12-13 1994-01-13 Zeiss Carl Fa Koordinatenmeßgerät zur berührungslosen Vermessung eines Objekts
US5251156A (en) * 1990-08-25 1993-10-05 Carl-Zeiss-Stiftung, Heidenheim/Brenz Method and apparatus for non-contact measurement of object surfaces
US6356671B1 (en) * 1991-07-05 2002-03-12 Fanuc Ltd. Image processing method for an industrial visual sensor
JP2921718B2 (ja) * 1991-07-05 1999-07-19 ファナック株式会社 産業用視覚センサにおける画像処理方法
FI98757C (sv) * 1995-05-31 1997-08-11 Tamglass Eng Oy Förfarande för mätning av böjningsgraden av en böjd glasskiva
JP2913021B2 (ja) * 1996-09-24 1999-06-28 和歌山大学長 形状計測方法及び装置
US6858826B2 (en) * 1996-10-25 2005-02-22 Waveworx Inc. Method and apparatus for scanning three-dimensional objects
US6600511B1 (en) * 1997-01-08 2003-07-29 Pentax Corporation Camera for use in photogrammetric analytical measurement
US6504957B2 (en) * 1997-07-07 2003-01-07 General Electric Company Method and apparatus for image registration
JP4236749B2 (ja) * 1999-01-13 2009-03-11 富士機械製造株式会社 画像処理方法および装置
JP3823724B2 (ja) * 2000-12-14 2006-09-20 日本電気株式会社 ３次元空中遊覧改良サーバ、その方法、及び記録媒体
US7262797B2 (en) * 2001-02-22 2007-08-28 Ge Inspection Technologies Lp Method and system for storing calibration data within image files
FI113293B (sv) 2001-04-19 2004-03-31 Mapvision Oy Förfarande för att peka på en punkt i en mätrymd
JP4877891B2 (ja) * 2001-08-03 2012-02-15 株式会社トプコン 校正用被写体
JP4373038B2 (ja) * 2001-08-31 2009-11-25 オリンパス株式会社 計測用プログラム
DE10143539A1 (de) 2001-09-06 2003-04-03 Daimler Chrysler Ag Verfahren und Anordnung zum Bestimmen der Position und Ausrichtung einer Bildaufnahme-Einrichtung beim optischen Vermessen von Objekten
FI112279B (sv) * 2001-11-21 2003-11-14 Mapvision Oy Ltd Förfarande för att bestämma motsvarande punkter
JP3799019B2 (ja) * 2002-01-16 2006-07-19 オリンパス株式会社 ステレオ撮影装置及びステレオ撮影装置の撮影方法
JP4147059B2 (ja) * 2002-07-03 2008-09-10 株式会社トプコン キャリブレーション用データ測定装置、測定方法及び測定プログラム、並びにコンピュータ読取可能な記録媒体、画像データ処理装置
IL150915A0 (en) * 2002-07-25 2003-02-12 Vet Tech Ltd Imaging system and method for body condition evaluation
US20040109245A1 (en) * 2002-12-06 2004-06-10 Cross Match Technologies, Inc. Non-planar prism in a system for obtaining print and other hand characteristic information
JP3876275B2 (ja) * 2002-12-27 2007-01-31 博 有澤 多視点ビデオキャプチャシステム
JP2004354320A (ja) * 2003-05-30 2004-12-16 Mitsubishi Electric Engineering Co Ltd 撮像対象物品の認識検定システム
US7693325B2 (en) * 2004-01-14 2010-04-06 Hexagon Metrology, Inc. Transprojection of geometry data
DE102004028635A1 (de) * 2004-06-15 2006-01-19 Burkhard Heins Verfahren zur Vermessung von Gegenständen mit einer Kamera
JP3946716B2 (ja) * 2004-07-28 2007-07-18 ファナック株式会社 ロボットシステムにおける３次元視覚センサの再校正方法及び装置
JP4587742B2 (ja) * 2004-08-23 2010-11-24 株式会社日立ハイテクノロジーズ 荷電粒子線顕微方法及び荷電粒子線応用装置
JP2006162386A (ja) * 2004-12-06 2006-06-22 Canon Inc ３次元モデル生成装置、３次元モデル生成システム及び３次元モデル生成プログラム
JP4661413B2 (ja) * 2005-07-11 2011-03-30 富士フイルム株式会社 撮像装置、撮影枚数管理方法及び撮影枚数管理プログラム
DE102005043070B4 (de) 2005-09-07 2017-01-26 Jenoptik Robot Gmbh Verfahren zur hochgenauen dreidimensionalen Vermessung und/oder Rekonstruktion von Objekten mit Hilfe digitaler Bildaufnahmen, beispielsweise zur Bildauswertung von Verkehrsstrecken
CN100462672C (zh) 2005-12-30 2009-02-18 鸿富锦精密工业（深圳）有限公司 影像量测***及方法
JP5362189B2 (ja) * 2006-05-10 2013-12-11 株式会社トプコン 画像処理装置及びその処理方法
KR101485458B1 (ko) * 2007-07-02 2015-01-26 삼성전자주식회사 개체 정보를 포함하는 화상 파일 생성 방법 및 장치
US20090237546A1 (en) * 2008-03-24 2009-09-24 Sony Ericsson Mobile Communications Ab Mobile Device with Image Recognition Processing Capability

Also Published As

Publication number Publication date
EP2193329A4 (en) 2017-06-28
FI20075604A (sv) 2009-03-04
US10012500B2 (en) 2018-07-03
EP2193329A1 (en) 2010-06-09
FI20075604A0 (sv) 2007-09-03
WO2009030813A1 (en) 2009-03-12
US20100259608A1 (en) 2010-10-14
JP2010538286A (ja) 2010-12-09

Similar Documents

Publication Publication Date Title
FI123049B (sv) System för en lagrande artificiell syn
US10845432B2 (en) Calibration and monitoring for 3-axis magnetometer arrays of arbitrary geometry
CN103562712B (zh) 用于检测在飞机部件或燃气涡轮部件中的裂纹的方法和设备
KR0169985B1 (ko) 반도체 패키지 검사방법
JP2009518625A (ja) 欠陥と検査位置を投影するシステム及び関連方法
BR112019000611B1 (pt) Método de inspecionar uma estrutura tubular e sistema para inspecionar uma estrutura tubular
US5430539A (en) Method and arrangement for checking alignment of body axes for parallelism
KR20020095122A (ko) 조립스테이션 내의 감지기 교정 및 설정 방법과 조립스테이션
KR20170103625A (ko) 중공체를 검사하기 위한 테스트 시스템 및 방법
EP2263062B1 (de) Vorrichtung und verfahren zur topographischen vermessung von oberflächen von gegenständen
KR102313087B1 (ko) Oht 주행 시스템 및 oht 주행 시스템에서의 오차 보정 방법
JP2012093105A (ja) レーザ光の光軸方向の測定方法、長さ測定システム、および位置決め精度の検査方法
Shah et al. Improving Car Manufacturing Efficiency: Closing Gaps and Ensuring Precision
CN109997028B (zh) 调整对检查体的是否良好判定条件的方法及装置
JP2022105994A (ja) ファスナの同心性を測定するための方法及び装置
US9772259B2 (en) Method for calibrating an X-ray testing system for a tire type and method for checking the position of cords in a tire
US11340313B2 (en) Method for examining a magnetic field source
EP3671189A2 (en) Testcomponent for non-destructive testing
JP2000081329A (ja) 形状測定方法及び装置
US20060271332A1 (en) Method for calibrating a non-contact sensor using a robot
US10648794B2 (en) Method for inspection of a machine part
EP3875893A1 (en) Method and device for contactless measurement of geometric objects
US20170122718A1 (en) Method for measuring slant wall thickness dimension of hub
CN108072323A (zh) 用于检测零件夹持器的尺寸精确度的方法
JP2019086460A (ja) 処理装置、検査装置および処理方法

Legal Events

Date Code Title Description
FG Patent granted

Ref document number: 123049

Country of ref document: FI

Kind code of ref document: B

MM Patent lapsed