ES2953473T3 - Método y sistema para detectar una firma de diamante - Google Patents

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Abstract

La presente invención se refiere a un método para identificar la presencia de diamantes parcialmente liberados en una corriente de material. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)

Description

DESCRIPCIÓN
Método y sistema para detectar una firma de diamante
Campo de la Invención
La presente invención se refiere a la detección de diamantes, por ejemplo, en la detección de diamantes no liberados en un flujo de partículas de roca, como la kimberlita.
Antecedentes de la invención
Mientras se trabajaba en el campo de la recuperación de diamantes y se suministraban tecnologías de recuperación de diamantes, se ha observado el problema de los diamantes no liberados y parcialmente liberados. Los diamantes no liberados son aquellos que todavía están unidos al producto de roca/partículas/grava como la kimberlita y otros minerales. Estos diamantes no liberados pueden entonces ser extraviados en el proceso de beneficio, lo que puede resultar en que sean extraviados durante la separación de medios densos, DMS, debido a que su densidad está por debajo del punto de corte del ciclón DMS y posteriormente enviados a los relaves.
Los diamantes no liberados también pueden dañarse/estresarse o romperse gravemente mientras se encuentran en el circuito debido a que no informan a la sección de recuperación de la planta, pero luego se informa a la sección de trituración y luego a su vez se rompe a medida que el tamaño del material se reduce para pasar a la CSS que luego a su vez daña los diamantes. Esto constituye una pérdida de valor evitable e innecesaria para una empresa minera que está procesando el depósito, y para el gobierno que recibe regalías e impuestos por la venta de los diamantes.
La detección de diamantes de la técnica previa implica la excitación por un rayo láser y la medición de la luz láser dispersa por la estructura cristalina de los diamantes. Mediante el uso de la propiedad de los diamantes para dispersar la luz dentro de su estructura cristalina y el efecto de “brillar” o “iluminar” el área alrededor de la reflexión directa, es posible usar esto como una firma para discriminar los diamantes de productos de roca o partículas/grava como kimberlita y otros minerales, incluso si el diamante solo se libera parcialmente y todavía se adhiere a la grava. La desventaja de este principio básico es que otros minerales transmisivos como el cuarzo, alguna calcita, etc. también se dispersan y pueden ser mal colocados en un proceso de clasificación, lo que resulta en un mayor rendimiento.
Otros documentos de la técnica anterior describen otros métodos para detectar un material objetivo en un flujo de material, como el método descrito en EP2392414, tal método consiste en iluminar un flujo de material con luz que tiene un ancho de banda espectral predeterminado, dicho ancho de banda predeterminado está en la proximidad del ancho completo a la mitad del valor máximo del pico espectral del material objetivo que se va a detectar; después de lo cual los reflejos y la luz dispersa de los medios de iluminación son capturados y analizados.
US5206699A revela un aparato para examinar objetos, que comprende medios para irradiar una línea a través de los objetos con radiación que excita la emisión de Raman, y ver una banda estrecha de radiación mediante el filtrado sustancial de todos excepto la banda estrecha.
US2013/0135461A1 revela un sistema de absorción de reflectividad para identificar un material precioso o semiprecioso objetivo. El sistema puede incluir un detector, un sistema de filtro y una pantalla de salida. US 5628410 se ocupa de la clasificación y orden de objetos.
Por lo tanto, es un objeto de la invención llegar a un proceso de alta velocidad para la recuperación mejorada de diamantes parcialmente liberados que de otro modo se dañarían o perderían. Es otro objetivo mejorar la detección de diamantes. Otro objetivo es mejorar la gestión del valor de los diamantes proporcionando tecnologías de recuperación de diamantes adecuadas para adaptarse a una mayor variedad de tipos de minerales.
El objeto de la presente invención es superar o aliviar al menos uno de los problemas antes mencionados. Esto se logra mediante un método definido en las reivindicaciones independientes. Las realizaciones ventajosas de la presente invención se derivan de las subreivindicaciones y de la siguiente descripción.
Sorprendentemente se descubrió que el uso de al menos un rayo láser SWIR monocromático puede ser utilizado ventajosamente para la recuperación de diamantes parcialmente liberados de una manera precisa y confiable. Este hallazgo es sorprendente, ya que la elección del ancho de banda para el rayo de iluminación generalmente se realiza tomando el ancho completo a la mitad del valor máximo del pico espectral del material objetivo que se va a detectar. La razón detrás de esto es que la persona experta sabe que un cierto ancho de banda es necesario para lograr confiabilidad en la detección de diamante en un flujo de material. La persona experta sabe que usar un ancho de banda más pequeño significa que el método corre el riesgo de perder diamantes que, debido a varias razones, pueden tener un pico espectral ligeramente diferente a los que el detector de diamantes está dispuesto a detectar.
Sumario de la invención
El método y el aparato de acuerdo con la invención se definen en las reivindicaciones 1 y 15 respectivamente. Otros aspectos y realizaciones preferidas se definen en las reivindicaciones dependientes. Los aspectos, las realizaciones y los ejemplos de la presente divulgación que no entran en el ámbito de aplicación de las reivindicaciones anexas no forman parte de la invención y se proporcionan meramente con fines ilustrativos.
De acuerdo con la presente invención se proporciona un método para identificar la presencia de diamantes parcialmente liberados en una corriente de material, dicho método comprende los pasos de:
iluminar un material con un rayo de longitud de onda múltiple que comprende al menos un rayo láser SWIR monocromático y al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR,
capturar una porción de dicho rayo láser SWIR monocromático después de que dicho rayo láser SWIR monocromático haya sido reflejado y/o dispersado por el material,
producir una señal SWIR basada en la porción capturada de dicho rayo láser SWIR monocromático,
capturar una primera porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de dicho haz, al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR ha sido dispersado y opcionalmente reflejado por el material,
separar y luego capturar una porción reflejada de dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de que dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR ha sido reflejado por el material de una porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de que dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR rayo láser ha sido dispersado por el material,
producir una señal de dispersión IR basada en dicha primera porción capturada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR,
producir una señal de reflexión IR basada en dicha porción reflejada capturada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR,
clasificar el material como que comprende diamante basándose en la presencia de una firma de diamante en la combinación de la señal SWIR, la señal de reflexión IR y la señal de dispersión IR.
La captura de reflejos SWIR del material puede comprender longitudes de onda SWIR reflejadas a un detector SWIR.
Separar la luz dispersa de la luz reflejada y capturar solo los reflejos del rayo incidente puede consistir en detectar en un campo de visión correspondiente en tamaño al tamaño del rayo incidente.
El método puede consistir en enfocar la luz reflejada antes de la captura. El método puede consistir en dividir un rayo de luz después de que el material haya reflejado o dispersado para capturar tanto la señal de reflexión IR como la señal de dispersión IR. El método puede consistir en convertir cada una de las señales SWIR, la señal de dispersión IR y la señal de reflexión IR en señales digitales.
Según la invención, el método comprende además el paso de separar una primera porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR ha sido dispersado por el material de una porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR haya sido reflejado por el material, y posteriormente ha capturado dicha primera porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR.
Por lo tanto, una porción reflejada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR puede separarse de una porción dispersa de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR, y viceversa. Una porción reflejada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR puede ser capturada y usada para producir una señal de reflexión IR. Una porción dispersa de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR puede ser capturada y usada para producir una señal de dispersión IR.
De acuerdo con una realización ejemplar, el paso de separar una porción reflejada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR se realiza mediante el filtrado óptico de la luz dispersa de la luz reflejada. Este paso se puede realizar alternativamente capturando la porción reflejada y dispersa de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión de IR y restando la porción reflejada capturada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión de IR. Por lo tanto, una señal de dispersión puede lograrse mediante, por ejemplo, una máscara mecánica que filtra la luz reflejada de la luz dispersada, o mediante la sustracción de la luz reflejada de la luz que ha sido reflejada y dispersada.
De acuerdo con una realización ejemplar, el paso de separar una primera porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR se realiza mediante el filtrado óptico de la luz reflejada de la luz dispersa.
De acuerdo con una realización ejemplar, donde dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR es al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR monocromático.
De acuerdo con una realización ejemplar, el método comprende además el paso de filtrar la luz que tiene la misma polarización que el rayo incidente, de modo que solo se captura la luz polarizada cruzada.
De acuerdo con una realización ejemplar, el método comprende además el paso de dividir dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR.
De acuerdo con una realización ejemplar, el método comprende además el paso de normalizar la señal SWIR y la señal de dispersión IR dividiendo cada uno por la señal de reflexión IR.
De acuerdo con una realización ejemplar, el método comprende además el paso de escanear dicho rayo de longitud de onda múltiple a través de dicha corriente de material.
De acuerdo con una realización ejemplar, la corriente de material comprende al menos una partícula de roca que tiene un diamante parcialmente liberado.
De acuerdo con una realización ejemplar, el método comprende además la formación de un espacio bidimensional utilizando la señal SWIR normalizada y la señal de dispersión IR normalizada para representar el material.
De acuerdo con una realización ejemplar, el espacio bidimensional representa múltiples partículas de roca.
De acuerdo con una realización ejemplar, el método comprende además la clasificación de píxeles dentro del espacio bidimensional como diamante u otras clases de material.
De acuerdo con una realización ejemplar, el método comprende además la expulsión de objetos que comprenden material clasificado como diamante desde una dirección de transporte de dicha corriente de material.
El rayo de múltiples longitudes de onda de la luz IR comprende múltiples haces de luz IR combinados en un rayo común. El rayo de múltiples longitudes de onda de la luz IR puede comprender tres haces de luz IR combinados en un rayo común, en donde al menos un rayo es un rayo de luz SWIR. El método puede comprender la exploración del rayo a través del material.
El material puede comprender múltiples partículas de roca. Las múltiples partículas de roca pueden formar parte de un flujo de partículas de roca.
El método puede comprender la formación de un espacio bidimensional utilizando la señal SWIR normalizada y la señal de dispersión IR normalizada para representar el material. El método puede comprender la clasificación de píxeles dentro del espacio bidimensional como diamante u otras clases de material. El espacio bidimensional puede representar una sola partícula de roca. El espacio bidimensional puede representar múltiples partículas de roca.
El método se puede utilizar en un proceso de clasificación, en donde los objetos que comprenden material clasificado como diamante pueden ser expulsados de una trayectoria de flujo de objetos que se van a clasificar.
De acuerdo con un aspecto de la invención, se proporciona un aparato que comprende medios para iluminar un material con un rayo de longitud de onda múltiple que comprende al menos un rayo láser SWIR monocromático y al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR,
medios para capturar una porción de dicho rayo láser SWIR monocromático después de que dicho rayo láser SWIR monocromático haya sido reflejado y/o dispersado por el material,
medios para producir una señal SWIR basada en la porción capturada de dicho al menos un rayo láser SWIR monocromático;
medios para capturar una primera porción de dicho rayo de láser de dispersión/antidispersión IR después de dicho haz, al menos un rayo de láser de dispersión/antidispersión IR ha sido dispersado y opcionalmente reflejado por el material, medios para separar y luego capturar una porción reflejada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR ha sido reflejado por el material de una porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de dicho al menos un material ha dispersado el rayo láser de dispersión/antidispersión IR,
medios para producir una señal de dispersión IR basada en dicha primera porción capturada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR;
medios para producir una señal de reflexión IR basada en dicha porción reflejada capturada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR
medios para clasificar el material como compuesto de diamante basado en la presencia de una firma de diamante en la combinación de la señal SWIR, la señal de reflexión IR y la señal de dispersión IR.
Los medios para capturar reflejos SWIR del material pueden comprender medios para reflejar longitudes de onda SWIR a un detector SWIR. Los medios para reflejar las longitudes de onda de SWIR a un detector SWIR pueden comprender un espejo dicroico. Los medios para filtrar la luz dispersa y capturar solo los reflejos del rayo incidente pueden comprender medios para detectar en un campo de visión correspondiente en tamaño al tamaño del rayo incidente. Los medios para detectar en un campo de visión correspondiente en tamaño al tamaño del rayo incidente pueden comprender un detector con una abertura con un diámetro que corresponde sustancialmente al diámetro transversal del rayo incidente. La abertura puede definirse en una placa o diafragma. Los medios para capturar los reflejos restantes o la luz dispersa del material y los medios para producir una señal combinada de reflexión y dispersión IR o una señal de dispersión IR pueden comprender un detector con un campo de visión mayor que el del detector para capturar solo los reflejos del rayo incidente, en donde hay un filtro óptico o máscara mecánica dispuesta para filtrar la luz directamente reflejada por el material. Dicho filtro óptico o máscara mecánica puede ser un disco redondo. Dicho disco redondo puede estar alineado coaxialmente con la porción reflejada del rayo incidente.
Adicionalmente o alternativamente, dichos medios para separar una porción reflejada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de que dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión ha sido reflejado por el material de una porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de que dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR ha sido dispersado por el material es, por ejemplo, un agujero de pasador, diafragma u otros medios conocidos. Dicho agujero de pasador o diafragma puede estar dispuesto para permitir que el centro del rayo reflejado pase a través de él y bloquee una porción dispersa de la luz.
El aparato puede comprender medios para filtrar la luz que tiene la misma polarización que el rayo incidente, de modo que solo se captura la luz polarizada cruzada. Los medios de filtrado pueden comprender un divisor de rayo polarizado. El aparato puede comprender medios para enfocar la luz reflejada antes de la captura. El medio de enfoque puede comprender al menos una lente de enfoque. El aparato puede comprender medios para dividir un rayo de luz reflejada y dispersada por el material para capturar tanto la señal de reflexión IR como la señal de dispersión IR. El medio para la división puede ser un divisor de rayo no polarizador.
El aparato puede comprender medios para convertir cada una de las señales SWIR, la señal de dispersión IR y la señal de reflexión IR en señales digitales. El medio para convertir puede ser un convertidor digital a analógico. El aparato puede comprender medios para normalizar la señal SWIR y la señal de dispersión IR dividiendo cada uno por la señal de reflexión IR.
El rayo de múltiples longitudes de onda de la luz IR comprende múltiples haces de luz IR combinados en un rayo común. El aparato puede comprender un primer láser IR y un segundo láser SWIR. El aparato puede comprender medios para combinar múltiples haces de luz IR en un rayo común. Los medios pueden comprender uno o más espejos dicroicos. El rayo de múltiples longitudes de onda de la luz IR puede comprender tres haces de luz IR combinados en un rayo común, en donde al menos un rayo es un rayo de luz SWIR.
El aparato puede comprender medios para escanear el rayo a través del material. Los medios para escanear el rayo a través del material pueden comprender un espejo poligonal giratorio.
El material puede comprender múltiples partículas de roca. Las múltiples partículas de roca pueden formar parte de un flujo de partículas de roca.
El aparato puede comprender medios para formar un espacio bidimensional utilizando la señal SWIR normalizada y la señal de dispersión IR normalizada para representar el material.
El aparato puede comprender la clasificación de píxeles dentro del espacio bidimensional como diamante u otras clases de material. El espacio bidimensional puede representar una sola partícula de roca. El espacio bidimensional puede representar múltiples partículas de roca.
De acuerdo con una realización de la invención, dicho método se realiza por un aparato que comprende:
Medios para iluminar un material con un rayo de longitud de onda múltiple que comprende al menos un rayo láser SWIR monocromático y al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR,
medios para capturar una porción de dicho rayo láser SWIR monocromático después de que dicho rayo láser SWIR monocromático haya sido reflejado y/o dispersado por el material,
medios para producir una señal SWIR basada en la porción capturada de dicho al menos un rayo láser SWIR monocromático;
medios para capturar una primera porción de dicho rayo de láser de dispersión/antidispersión IR después de dicho haz, al menos un rayo de láser de dispersión/antidispersión IR ha sido dispersado y opcionalmente reflejado por el material, medios para separar y luego capturar una porción reflejada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR ha sido reflejado por el material de una porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de dicho al menos un material ha dispersado el rayo láser de dispersión/antidispersión IR,
medios para producir una señal de dispersión IR basada en dicha primera porción capturada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR;
medios para producir una señal de reflexión IR basada en dicha porción reflejada capturada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR
medios para clasificar el material como compuesto de diamante basado en la presencia de una firma de diamante en la combinación de la señal SWIR, la señal de reflexión IR y la señal de dispersión IR, y
dicho proceso comprende el paso de expulsión de material clasificado como compuesto de diamante de la corriente de material que se va a clasificar.
De acuerdo con una realización ejemplar de la presente invención, dicho aparato comprende además medios para escanear el rayo a través del material.
De acuerdo con una realización ejemplar de la presente invención, dicho medio para escanear el rayo a través del material comprende un espejo poligonal giratorio.
De acuerdo con una realización ejemplar de la presente invención, dicho medio para iluminar un material con un rayo de longitud de onda múltiple es al menos un láser SWIR monocromático, y al menos un láser IR monocromático.
De acuerdo con una realización ejemplar de la presente invención, dicho medio para capturar una porción de dicho rayo láser SWIR monocromático después de dicho rayo láser SWIR monocromático ha sido reflejado y/o dispersado por el material es un solo diodo PIN.
De acuerdo con una realización ejemplar de la presente invención, dicho medio para capturar una primera porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de que dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión ha sido dispersado y opcionalmente reflejado por el material es un solo diodo PIN.
De acuerdo con una realización ejemplar de la presente invención, dicho medio para capturar una porción reflejada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de que dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR ha sido reflejado por el material es un solo diodo PIN.
De acuerdo con una realización ejemplar de la presente invención, dicho medio para separar una porción reflejada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR de una porción dispersa de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR es un filtro óptico.
De acuerdo con la presente invención, se proporciona además un sistema de clasificación que comprende un aparato como se definió anteriormente, que comprende además los medios para expulsar objetos que comprenden material clasificado como diamante de una trayectoria de flujo de objetos a clasificar. Los medios para expulsar objetos pueden adaptarse para expulsar objetos mientras se caen.
De acuerdo con la presente invención, se proporciona además un medio legible por computadora que contiene instrucciones de programa que cuando se ejecutan por un procesador hacen que el procesador realice el método anterior.
El aparato para identificar una firma de diamante puede formar parte de un escáner láser. Se pueden proporcionar varios escáneres láser en un sistema de clasificación.
Cuando se proporcionan varios láseres, cada uno puede producir un rayo de luz concentrado. Los haces de luz se pueden combinar en un rayo común. Se puede utilizar un divisor de rayo polarizador para eliminar cualquier irregularidad en la polarización del rayo común.
Se pueden proporcionar medios para dirigir el rayo hacia el producto y pueden comprender al menos un espejo. Al menos un espejo puede comprender un espejo giratorio con múltiples caras. Un posible espejo giratorio es un espejo de polígono.
Al menos un láser opera preferiblemente en el intervalo de 700 nm a 1000 nm. Por ejemplo, en el intervalo de 800 nm, o a 900 nm o a 830 nm. Al menos un láser funciona en el intervalo de 1100 a 1700 nm, por ejemplo, en el intervalo de 1110 a 1600 nm, o en el intervalo de 1450 a 1550 nm, o a 1490 nm. Se puede proporcionar al menos un láser adicional, por ejemplo, que funcione en el intervalo de 1100 a 1700 nm, por ejemplo, en el intervalo de 1110 a 1600 nm, o en el intervalo de 1400 a 1600 nm, o a 1550 nm.
Al combinar la señal de dispersión IR, las señales de reflexión IR y la señal SWIR, se obtiene una firma para el diamante que es distintivo y único. Esto significa que la colocación incorrecta de la grava diluyendo el concentrado se minimiza, lo que resulta en un menor rendimiento con una mayor pureza del concentrado de diamante sin comprometer la alta tasa de recuperación.
El método se puede utilizar para detectar el diamante en un flujo de partículas de roca donde al menos un rayo láser puede ser dirigido hacia el flujo de partículas de roca a medida que se mueve a través de una zona de detección. Los rayos láser pueden formar parte de una banda de luz que se mueve transversalmente a través de la trayectoria de las partículas de roca, donde al menos un detector está dispuesto para detectar la luz reflejada y dispersa.
Por “luz dispersa” se entiende en esta descripción por un lado la luz que se refleja difusamente en la superficie de un producto, y por otro lado la luz que emite el producto como resultado de dicha banda de luz al menos parcialmente penetrándola, extendiéndose en ella, y haciendo así que la parte correspondiente del producto se ilumine.
Las partículas de roca pueden presentarse como una monocapa de una cierta anchura y velocidad. Esta capa se puede formar mediante una disposición de conducto o mediante una disposición de banda. Cada rayo láser puede ser dirigido a las partículas, al caer desde el conducto o la cinta, por una disposición de espejo polígono que excita o ilumina las partículas de la alimentación. La luz que es directamente reflejada por la superficie de la partícula, así como la luz dispersa dentro de la partícula, iluminando así el área alrededor de la reflexión directa, puede recibirse a través del mismo espejo poligonal y puede medirse por elementos fotoeléctricos que convierten la cantidad de luz en una señal eléctrica. Cada uno de dichos elementos fotoeléctricos puede ser, por ejemplo, un fotodiodo respectivo. La proporción entre la intensidad de reflexión y la intensidad de dispersión se puede determinar midiendo la luz reflejada por separado de la luz dispersa.
La señal procedente de dicho detector puede estar relacionada o acoplada con la posición del rayo a través de la corriente de material. Por ejemplo, la posición de rotación del espejo poligonal giratorio se puede utilizar para determinar qué parte de la corriente de material se está iluminando actualmente. Por lo tanto, dos señales consecutivas del mismo sensor pueden estar espacialmente relacionadas entre sí de una manera conocida.
La señal procedente de dicho detector puede modificarse electrónicamente, por ejemplo, multiplicándola por un factor que depende de la posición de la banda de luz, de modo que se obtiene una señal que no depende de la posición de la banda de luz.
Para detectar diamantes en un producto con sensibilidad uniforme, la corriente de luz que cae sobre dicho detector de la luz dispersada por parte del producto puede ajustarse de tal manera que sea independiente de la posición de dicha parte en dicha zona de detección. Con este fin, se puede colocar un elemento de ajuste entre dicho detector y el lugar donde el producto se mueve a través de la zona de detección, el elemento de ajuste deja pasar solo parte de la luz dispersada por una parte del producto, de tal manera que el flujo de luz de la luz dispersa que cae sobre dicho detector es independiente de la posición de dicha parte. Dicho elemento de ajuste puede comprender ventajosamente un diafragma con al menos una abertura calibrada. El diagrama puede tener medios para ajustar el tamaño de dicha abertura. Dicho diafragma podría disponer ventajosamente de placas pequeñas y móviles en el borde de dicha abertura, donde dichas placas permiten ajustar el tamaño y/o la forma de la abertura, de tal manera que la corriente de luz que cae sobre dicho detector es independiente de la posición de dicha banda de luz.
Preferiblemente se proporcionan sistemas de escaneo para escanear múltiples caras de una partícula de roca simultáneamente. Se puede utilizar un sistema de escaneo doble que comprende dos sistemas de escaneo opuestos uno al otro.
A través del uso de los métodos y aparatos de la presente invención, es posible reducir la rotura del diamante en comparación con los métodos de detección de diamantes anteriores, asegurando que la roca del cojinete de diamante se pueda recuperar temprano antes de que sea triturada. La presente invención evita el uso de la separación de medios de densidad, que se sabe que tiene deficiencias en la recuperación de diamantes. Además, la DMS es una etapa costosa en un proceso de recuperación debido a los requisitos de los agentes para ajustar la densidad del agua.
El presente invento maximiza aún más la recuperación de diamantes de tipo I y II. La clasificación por rayos X de técnica anterior puede perder diamantes de alta calidad que tienen un bajo número de exclusiones. La invención proporciona una mejor recuperación de diamantes en cuerpos de mineral que exhiben factores de liberación preferenciales pobres. También puede ser deseable recuperar los diamantes aún unidos a la kimberlita aumentando su valor como especímenes geológicos, y la presente invención puede ser utilizada en este sentido.
Breve descripción de los dibujos
Las realizaciones de la invención se describirán, solo a modo de ejemplo, con referencia a los dibujos adjuntos en los que:
La Figura 1 es un diagrama de flujo que representa un flujo de procesamiento de diamante de la técnica anterior.
La Figura 2 es un diagrama de flujo que representa un flujo de procesamiento de diamante mejorado en el que se puede incorporar la invención actual.
La Figura 3 ilustra una realización de un sistema de clasificación de acuerdo con la presente invención.
La Figura 4 muestra una modalidad de un aparato para identificar una firma de diamante de acuerdo con la presente invención.
La Figura 5 es un diagrama de flujo que representa una realización del procesamiento de señales generadas por el aparato de la Figura 4 de acuerdo con un método de la presente invención.
La Figura 6 es una definición utilizada por una función de clasificación para devolver un identificador de clase de material siempre que SWIR', IR_REF_SC' sea miembro de Gravel, Quartz o Diamond, como se utiliza en la presente invención. Las Figuras 7a, 8a y 9a son fotografías con iluminación ambiental normal, que muestran una partícula de roca respectiva que comprende un diamante parcialmente liberado.
Las Figuras 7b-d, 8b-d y 9b-d son representaciones en escala de grises de la roca capturadas por tres detectores diferentes utilizados en el método de la invención.
Las figuras 7e, 8e y 9e muestran representaciones de colores falsos de la roca respectiva basadas en las tres representaciones en escala de grises de las Figuras 7b-d, 8b-d y 9b-d
Las Figuras 7f, 8f y 9f son imágenes que muestran la clasificación del material de la partícula de roca de las Figuras 7a, 8a y 9a, respectivamente.
Descripción detallada de los dibujos
La Figura 1 es un diagrama de flujo que representa un flujo típico de procesamiento de diamante de la técnica anterior. El proceso se caracteriza por una etapa de liberación que incorpora procesos de clasificación de tamaño y unidad de conminución. El objetivo es liberar los diamantes sin dañarlos. En una etapa de concentración siguiente, el material clasificado se reduce en masa para obtener un concentrado del menor volumen posible, manteniendo el mayor porcentaje posible de diamantes. Finalmente, este concentrado se trata en una etapa de recuperación donde se produce un concentrado final que contiene un porcentaje comercializable de diamantes.
Las áreas críticas son el daño del diamante durante la liberación y la pérdida de diamantes no liberados durante la concentración. Estas áreas se abordan mediante la incorporación de una unidad de clasificación láser de acuerdo con la presente invención, como se muestra en la Figura 2. La Figura 2 es un diagrama de flujo que representa un flujo de procesamiento de diamante mejorado en el que se puede incorporar la invención actual. Al incorporar un proceso de clasificación por láser antes de la conminución, es posible recuperar diamantes liberados y no liberados en intervalos de tamaño grueso antes de que sean sometidos a fuerzas potencialmente dañinas. La clasificación por láser se puede aplicar hasta tamaños de partícula de 100mm, lo que la hace aplicable incluso en circuitos de trituración primarios.
La incorporación de un proceso de clasificación láser en los relaves de una etapa de concentración permite la recuperación de diamantes liberados y no liberados perdidos. Esto se puede lograr en intervalos de tamaño de hasta 4mm.
La Figura 3 ilustra una realización de un sistema de clasificación de acuerdo con la presente invención, adecuado para su uso en un flujo de procesamiento de diamantes.
El bastidor principal 14 del sistema representa la estructura de soporte para la guía de materiales, las cajas del escáner láser y el módulo de expulsión. En la realización que se muestra, se proporciona una disposición de caída libre con capacidades de escaneo frontal y posterior. La alimentación 1 que consiste, por ejemplo, en rocas de kimberlita se alimenta a un alimentador de bandeja vibratoria o de agitación 2. El propósito de este alimentador es distribuir la entrada uniformemente a la anchura completa de exploración y separación del equipo (típicamente 300mm a 2000mm de ancho) y más adelante al conducto de aceleración 4. En este conducto, el material cambia la dirección de alimentación de una orientación más horizontal a una orientación más vertical guiada por el conducto 4 y se acelera hasta una velocidad en la aplicación. 3m/s.. Mediante este proceso de aceleración se extiende incluso sobre el área disponible y la mayoría de las partículas se liberan y no se tocan entre sí. El escaneo de las partículas por medio de los escáneres láser 7 de 2 lados opuestos tiene lugar en el hueco en el conducto que forma la zona de escaneo 5. Otro segmento del expulsor guía las partículas más allá de la barra de la boquilla del módulo de expulsión. En el caso de la aplicación de recuperación de diamantes, una o más válvulas de solenoide se activan liberando aire comprimido a través de las boquillas correspondientes 8 en la posición donde se ha detectado un diamante potencial liberado o no liberado 10 para empujar la partícula sobre la placa divisora 11 que hará que quede atrapado y guiado a la salida de expulsión 13. Todas las demás partículas de kimberlita pasarán por la barra de la boquilla sin activación, se dejarán caer por debajo de la placa divisora y finalmente se guiarán a la salida de caída 12 de la máquina.
La Figura 4 muestra una modalidad de un aparato para identificar una firma de diamante de acuerdo con la presente invención. Este sistema puede incorporarse o utilizarse en combinación con un sistema clasificador, como el que se muestra en la Figura 3.
Tres láseres 20, 22, 23 se proporcionan en esta realización, cada uno produciendo un rayo concentrado de luz que se combina en un rayo común por medio de espejos dicroicos 19, 21. Un láser proporciona un rayo láser de dispersión/antidispersión de infrarrojos. El segundo y el tercer láser añaden longitudes de onda para apoyar la discriminación de diamantes de todo otro material translúcido, y donde al menos uno de ellos emite un rayo láser que tiene una longitud de onda en la región infrarroja de onda corta (SWIR). Cada uno de estos rayos láser es un rayo láser monocromático. Más longitudes de onda se pueden añadir/mezclar si es apropiado para aumentar la selectividad. El rayo combinado se guía a un divisor de rayo polarizador 18. Los principios de funcionamiento de un divisor de rayo polarizado son entendidos por aquellos expertos en la técnica y una explicación detallada de los mismos no es necesaria para los fines de esta descripción. En general, aunque la luz láser ya está polarizada, y aunque la polarización del rayo de luz combinado está orientada de tal manera que se corresponde con la dirección de polarización de transmisión del divisor de haz, cualquier irregularidad o imperfección en la polarización del rayo de luz se elimina a medida que el rayo de luz pasa a través del divisor de rayo polarizador 18. El rayo de luz combinado que sale del divisor de rayo polarizador 18 se dirige a un espejo poligonal giratorio de alta velocidad 17.
El espejo poligonal de alta velocidad 17 dirige el rayo de luz en un plano de exploración sobre todo el ancho de la zona de exploración hacia un elemento de referencia o fondo 15. Puede ser preferible utilizar una puerta de luz 16 entre el espejo poligonal 17 y el elemento de fondo 15. Esta puerta de luz 16 se describe en detalle en la solicitud PCT WO 98/44335. En general, la puerta de luz 16 garantiza que la luz reflejada de vuelta a los detectores de los cuerpos escaneados sea “independiente” de la posición de los cuerpos en el patrón de escaneo del rayo de luz. De esta manera, se obtiene una sensibilidad sustancialmente uniforme en los productos de escaneo en todo el ancho del plano de escaneo. La puerta de luz 16 puede hacerse en forma de diafragma que tiene una abertura que se estrecha en la dirección del punto de mayor luz reflejada de los cuerpos escaneados (generalmente en el medio del plano de escaneo). Esta abertura se dispone en un plano perpendicular al plano en el que se mueve el rayo de luz. La forma y el tamaño de la abertura del diafragma se eligen de modo que siempre que el rayo de luz se dirija hacia los productos, la señal generada por los detectores que reciben la luz “reajustada” por los productos escaneados es independiente de la posición de los productos dentro del plano de escaneo del rayo de luz.
El elemento de fondo 15 puede estar hecho de varios materiales dependiendo del tipo de objetos a escanear, y es preferiblemente de un color o estructura que permite discriminar todas las partículas de la entrada del fondo. Las partículas a escanear pasan a través de la zona de escaneo entre el elemento de fondo 15 y el espejo 17.
En la zona de escaneo, los haces de luz impactan en los productos y una parte de la luz se refleja de nuevo en el espejo 17 y el divisor de rayo polarizado 18. La luz reflejada contiene luz que tiene la misma polarización que el rayo de luz incidente y luz de polarizaciones perpendiculares de los cuerpos escaneados. La misma luz polarizada no es particularmente útil para los circuitos de procesamiento e incluso puede enmascarar cierta información útil sobre los productos escaneados. El divisor de rayo polarizador 18 dividirá la luz reflejada en dos direcciones de polarización, una con la misma polarización que la luz láser incidente, cuya polarización se había alineado inicialmente más por el paso del rayo concentrado inicial de luz de los láseres 20, 22, 23 a través del mismo divisor de rayo polarizador 18, y la otra que tiene una polarización de 90 grados (luz polarizada cruzada) con respecto a la luz láser incidente. La misma luz reflejada polarizada se pasa directamente a través del divisor de rayo 18 y no se utiliza más. Por lo tanto, el divisor de rayo polarizado 18 puede considerarse como una función de “filtrado” en el sentido de que filtra la misma luz polarizada de la luz reflejada.
La luz polarizada cruzada del divisor de rayo 18 se dirige a una lente de enfoque 24 y luego al espejo dicroico 25. Por ejemplo, la longitud de onda SWIR puede ser reflejada por este espejo y guiada a la disposición del detector SWIR 27 que también incluye los componentes 26, 28 y 29, mientras que las longitudes de onda más largas pasan a través del espejo dicroico 25. El detector 27 produce una señal de control proporcional a todo el campo de luz SWIR polarizado cruzado reflejado guiado a un amplificador operativo 28 y convertidor analógico/digital 29.
La luz que pasa a través del espejo dicroico 25 se guía a un divisor de rayo no polarizador 30 (a veces referido en la técnica como un “divisor de rayo 50/50”). El divisor de rayo 30 pasa alrededor del 50 % de la luz reflejada polarizada cruzada a la disposición del detector 33 que incluye los componentes 31,32, 34 y 35, y alrededor del 50 % a la disposición del detector 38 que incluye los componentes 37, 39 y 40. Cada una de las disposiciones 33 y 38 del detector tiene un campo de visión diferente. El detector 38 tiene un campo de visión con un diámetro suficientemente grande para que esencialmente toda la luz polarizada cruzada se refleje desde los productos escaneados, incluida la luz difundida en productos translúcidos (luz dispersa) y la luz central relativamente intensa reflejada desde el punto de incidencia. Se capturan las imágenes de la luz láser que incide sobre el producto. En otra realización de la presente invención, no mostrada en este documento, el detector 38 puede estar provisto de una placa o diafragma que tiene un diámetro de sección transversal que corresponde sustancialmente al diámetro de sección transversal del rayo de luz polarizada cruzada. Por lo tanto, es posible capturar solo la luz que ha sido dispersada por el producto y filtrar ópticamente la luz que ha sido reflejada directamente por el material.
Como la intensidad de la luz recibida depende en gran medida del brillo o la reflectividad de la superficie de la partícula (la superficie oscura da una señal baja, la superficie brillante da una señal alta) no es posible una medición absoluta del efecto de dispersión. Es necesario un canal de referencia que permita la medición relativa del efecto de dispersión. Este canal de referencia está formado por la disposición del detector 38 que mide la luz incidente reflejada combinada y la luz dispersa. El detector 33 mide solo el reflejo de la luz incidente.
Una ecuación simple permite la normalización de la medición utilizando los dos canales: Dispersión normalizada = reflexión directa dispersión/reflexión directa.
Esta señal normalizada es independiente del brillo de la superficie. El campo de visión del detector 38 está definido por un miembro definidor aguas arriba 36 tal como una placa o diafragma que tiene una abertura o agujero relativamente grande definido allí a través de un diámetro que define así el diámetro del campo de visión. El detector 38 produce una señal de control proporcional a todo el campo de luz polarizado cruzado reflejado guiado a un amplificador operativo 39 y convertidor analógico/digital 40. En una modalidad de la invención, el miembro definitorio 36 tiene una porción dispuesta para bloquear la luz reflejada directa relativamente intensa desde el punto de impacto del rayo de luz incidente en los productos. En esta realización, la luz reflejada se filtra de la luz dispersa y se puede producir una señal de dispersión.
El detector 33 tiene un campo de visión que corresponde en tamaño esencialmente al diámetro transversal del rayo de luz de exploración incidente. Por lo tanto, el detector 33 detecta solo la luz reflejada directa relativamente intensa desde el punto de impacto del rayo de luz incidente en los productos. El campo de visión del detector 33 está definido por un miembro definidor aguas arriba 31, como una placa o diafragma que tiene un agujero o abertura definido allí a través de un diámetro correspondiente al diámetro transversal del rayo de luz láser incidente. El detector 33 produce una señal de salida proporcional a la luz reflejada directa solo guiada a un amplificador operacional 34 y convertidor analógico/digital 35.
Todos los detectores tienen un elemento definidor aguas arriba 26, 32 y 37 que consiste en un divisor de rayo polarizado para guiar solo la luz polarizada cruzada al detector. Las señales digitales de los tres canales del detector son adquiridas por el sistema de procesamiento de imágenes formando una imagen bidimensional que representa la sección de alimentación del clasificador que viaja entre la zona de exploración y la barra de la boquilla del módulo de expulsión del clasificador. El sistema de procesamiento de imágenes evalúa los datos en tiempo real para discriminar las partículas del fondo, clasificar las partículas y controlar el bloque de válvulas para las que deben expulsarse.
La Figura 5 es un diagrama de flujo de una realización del procesamiento de señales dentro de un sistema de procesamiento de imágenes de acuerdo con la invención actual.
La Figura 5 es un diagrama de flujo que representa una realización del procesamiento de señales generadas por el aparato de la Figura 4 de acuerdo con un método de la presente invención, que puede ser llevado a cabo por un sistema de procesamiento de imágenes.
Las siguientes definiciones de señales se aplican a la Figura 5:
IR_REF: Señal de reflexión IR láser infrarrojo (Detector 33)
IR_REF_SC: Láser infrarrojo combinado de reflexión y señal de dispersión (Detector 38)
SWIR: Señal láser infrarroja de onda corta (láser 22 más láser 23 combinado, detector 27)
Señales de normalización por brillo o reflectividad respectivamente:
IR_REF_SC’ = IR_REF_SC / IR_REF SWIR’ = SWIR / IR_REF
En el proceso mostrado en la Figura 5, las tres señales IR_REF, IR_REF_SC y SWIR de los detectores apropiados se convierten mediante convertidores analógicos/digitales (A/D) a valores digitales con una resolución de 12 bits. Una lógica de control controla la tasa de conversión y el tiempo, así como la sincronización con el espejo poligonal giratorio. Por ejemplo, se producen 2048 conversiones A/D por cara de espejo que representan un escaneo a lo largo de todo el ancho de la alimentación de material que representa una línea de 2048 píxeles. El diagrama de flujo de la figura 5 describe las funciones realizadas en el nivel de píxel por píxel antes de que se produzca el procesamiento de la imagen de área.
Para cada una de las tres señales se realiza una corrección de desviación y ganancia para asegurarse de que el valor oscuro es cero y el valor más brillante es 4095 (intervalo de 12 bits). Para obtener señales que son casi independientes de la reflectividad de banda ancha de la superficie de partícula medida, los valores digitales IR_REF_SC y SWIR se normalizan en la siguiente etapa dividiendo los valores por la señal IR_REF.
Para la generación de la clase de entidad, solo se utilizan los valores normalizados IR_REF_SC' y SWIR' para formar un espacio bidimensional, consulte la Figura 6. En este espacio las propiedades de los materiales de interés a discriminar pueden describirse como nubes de IR_REF_SC', valores de SWIR' por material formando un espacio de definición de material. Las herramientas de análisis fuera de línea se utilizan para derivar este espacio de definición a partir de ejemplos representativos y para configurar la función de generación de clase de entidad.
Una vez configurada la función de generación de clase de entidad, un píxel real representado por los valores IR_REF_SC' y SWIR' formará la información de entrada. La función de clasificación devolverá un identificador de clase de material siempre que SWIR', IR_REF_SC' sea miembro de grava, cuarzo o diamante de acuerdo con la definición mostrada en la Figura 6. Por ejemplo, la clase de material identificada puede ser 0 para grava y 1 para cuarzo y 2 para diamante. Se pueden definir más clases para otras especies de roca en el material de alimentación si es apropiado.
Para el procesamiento de imágenes de área, se forma una imagen bidimensional en la memoria de la instancia de cálculo para poder identificar las partículas y describir la distribución de las clases de características en la superficie de la partícula. Esto necesita la discriminación de los píxeles de fondo frente a los de primer plano, que por ejemplo se puede hacer mediante un umbral simple en la señal IR_REF. La decisión final de clasificación en el nivel de partícula, la partícula es “diamante” o, respectivamente, la partícula es “no diamante” se deriva del número de píxeles de “grava” frente al número de píxeles de “diamante” en comparación con un umbral. El procesamiento de imágenes de área también genera la información de posición y dimensión necesaria para controlar las válvulas de solenoide de los rechazadores individualmente y en relación con su posición y tamaño.
Las Figuras 7a, 8a y 9a son fotografías con iluminación ambiental normal, que muestran una partícula de roca respectiva que comprende un diamante parcialmente liberado. En la Figura 7a, el diamante sobresale de la roca de una manera tal que es bastante fácil de ver a simple vista. En la Figura 8a, el diamante está parcialmente incrustado dentro de la partícula de roca de una manera tal que es más difícil de ver que el diamante en la Figura 7a. En la Figura 9a, el diamante está casi completamente incrustado dentro de la partícula de roca y, por lo tanto, es muy difícil de ver a simple vista.
Las Figuras 7b-d, 8b-d y 9b-d son representaciones en escala de grises de la roca tal como se ven por tres detectores diferentes utilizados en el método de la invención. Las Figuras 7b, 8b y 9b son representaciones en escala de grises de la roca de acuerdo con la señal de dispersión IR, Las Figuras 7c, 8c y 9c son representaciones en escala de grises de la roca de acuerdo con la señal de reflexión IR, y las Figuras 7D, 8d son representaciones en escala de grises de la roca de acuerdo con la señal SWIR.
Las figuras 7e, 8e y 9e muestran representaciones de colores falsos de la roca respectiva utilizando las tres representaciones en escala de grises de las Figuras 7b-d, 8b-d y 9b-d En estas figuras, la señal de dispersión IR se asigna al canal rojo, la señal de reflexión IR se asigna al canal verde y la señal SWIR se asigna al canal azul. Por lo tanto, se forma una imagen RGB de color falso basada en estas tres señales.
Las representaciones de las Figuras 7b-e, 8b-e y 9b-e se utilizan en la clasificación de material de cada píxel. Esto se hace, por ejemplo, aplicando valores de umbral a cada una de las tres representaciones de escala de grises, así como a la imagen RGB de color falso. Si un píxel coincide con ciertos criterios predeterminados, se clasifica como que comprende roca, diamante, material de fondo, otro material translúcido (por ejemplo, cuarzo) u otro material. Esta clasificación se hace para todos los píxeles en las cuatro representaciones de la primera partícula de roca.
Las Figuras 7f, 8f y 9f son imágenes que muestran la clasificación del material de la primera partícula de roca de las Figuras 7a, 8a y 9a, respectivamente. La clasificación del material se realiza mediante el análisis de la señal de dispersión IR, la señal de reflexión IR y la señal SWIR, por ejemplo, como se describe anteriormente. En estas figuras, los píxeles clasificados como que comprenden el material de fondo son de color gris, los píxeles clasificados como que comprenden la partícula de roca son de color negro, y los píxeles clasificados como que comprenden el diamante (debido a la presencia de una firma de diamante en las señales analizadas) son de color blanco. La clasificación realizada en este paso se utiliza para determinar qué partículas de roca en un flujo de partículas de roca deben ser expulsadas de la corriente de material. La clasificación también se utiliza para dirigir los medios para expulsar las partículas de roca clasificadas como que comprenden el diamante de la corriente de material. Como los medios de eyección se dirigen más adecuadamente hacia el centro de la partícula de roca a la que se adhiere un diamante, es importante conocer la profusión de la partícula de roca, así como si comprende o no diamante.
Las palabras “comprende/comprendiendo” y las palabras “tener/incluye” cuando se utilizan en este documento con referencia a la presente invención se utilizan para especificar la presencia de características, enteros, pasos o componentes declarados, pero no excluye la presencia o adición de una o más características, enteros, pasos, componentes o grupos de los mismos.

Claims (15)

REIVINDICACIONES
1. Un método para identificar la presencia de diamantes parcialmente liberados en un flujo de material, dicho método comprende los pasos de:
iluminar un material con un rayo de longitud de onda múltiple que comprende al menos un rayo láser SWIR monocromático y al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR,
capturar una porción de dicho rayo láser SWIR monocromático después de que dicho rayo láser SWIR monocromático haya sido reflejado y/o dispersado por el material,
producir una señal SWIR basada en la porción capturada de dicho rayo láser SWIR monocromático,
capturar una primera porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de dicho haz, al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR ha sido dispersado y opcionalmente reflejado por el material,
separar y capturar una porción directamente reflejada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de que dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR ha sido reflejado directamente por el material de una porción de dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión después de que dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR ha sido dispersado por el material,
producir una señal de dispersión IR basada en dicha primera porción capturada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR,
producir una señal de reflexión IR basada en dicha porción reflejada directamente capturada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR,
clasificar el material como que comprende diamante basándose en la presencia de una firma de diamante en la combinación de la señal SWIR, la señal de reflexión IR y la señal de dispersión IR.
2. El método de la reivindicación 1, que además comprende el paso de separar una primera porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR ha sido dispersado por el material de una porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de que dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR haya sido reflejado por el material, y después de capturar dicha primera porción de dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR.
3. El método de cualquiera de las reivindicaciones 1 o 2, en donde dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR es al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR monocromático.
4. El método de cualquiera de las afirmaciones anteriores, que comprende además el paso de filtrar la luz que tiene la misma polarización que el rayo incidente, de modo que solo se captura la luz polarizada cruzada.
5. El método de cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en donde el paso de separar una porción directamente reflejada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR se realiza filtrando ópticamente la luz dispersa de la luz directamente reflejada.
6. El método de cualquiera de las reivindicaciones anteriores, que comprende además el paso de la división de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR.
7. El método de cualquiera de las reivindicaciones anteriores, que comprende además el paso de normalizar la señal SWIR y la señal de dispersión IR dividiendo cada uno por la señal de reflexión IR.
8. El método de cualquiera de las reivindicaciones anteriores, que comprende además el paso de escaneo de dicho rayo de longitud de onda múltiple a través de dicha corriente de material.
9. El método de cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en donde la corriente de material comprende al menos una partícula de roca que tiene un diamante parcialmente liberado.
10. El método de la reivindicación 7, que comprende además la formación de un espacio bidimensional utilizando la señal SWIR normalizada y la señal de dispersión IR normalizada para representar el material.
11. El método de la reivindicación 10, en donde el espacio bidimensional representa múltiples partículas de roca.
12. El método de cualquiera de las reivindicaciones 10 o 11, que comprende además la clasificación de píxeles dentro del espacio bidimensional como diamante u otras clases de material.
13. El método de cualquiera de las reivindicaciones anteriores, para su uso en un proceso de clasificación, que comprende además la expulsión de objetos que comprenden material clasificado como diamante desde una dirección de transporte de dicha corriente de material.
14. Un medio legible por ordenador que contiene instrucciones de programa que cuando se ejecutan por un procesador hacen que el procesador realice el método de cualquiera de las reivindicaciones 1 a 13.
15. Un aparato que comprende:
medios para iluminar un material con un rayo de longitud de onda múltiple que comprende al menos un rayo láser SWIR monocromático y al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR,
medios para capturar una porción de dicho rayo láser SWIR monocromático después de que dicho rayo láser SWIR monocromático haya sido reflejado y/o dispersado por el material,
medios para producir una señal SWIR basada en la porción capturada de dicho al menos un rayo láser SWIR monocromático;
medios para capturar una primera porción de dicho rayo de láser de dispersión/antidispersión IR después de dicho haz, al menos un rayo de láser de dispersión/antidispersión IR ha sido dispersado y opcionalmente reflejado por el material, medios para separar y luego capturar una porción directamente reflejada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión IR ha sido reflejado directamente por el material de una porción de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR después de que dicho al menos un rayo láser de dispersión/antidispersión de IR haya sido dispersado por el material,
medios para producir una señal de dispersión IR basada en dicha primera porción capturada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR;
medios para producir una señal de reflexión IR basada en dicha porción capturada directamente reflejada de dicho rayo láser de dispersión/antidispersión IR.
medios para clasificar el material como compuesto de diamante basado en la presencia de una firma de diamante en la combinación de la señal SWIR, la señal de reflexión IR y la señal de dispersión IR.
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