ES2952416T3 - Sistema óptico de exploración con múltiples fuentes ópticas - Google Patents

Abstract

En una realización, un sistema óptico de escaneo comprende: primera y segunda fuentes ópticas (22, 32) para proporcionar primer y segundo haces (18, 20), respectivamente, de radiación óptica; un dispositivo deflector (42) dispuesto para recibir y desviar los rayos primero y segundo, estando configurado el dispositivo deflector para una operación de escaneo de un haz de radiación que atraviesa el dispositivo deflector; en el que el primer haz (18) incide sobre el dispositivo deflector (42) con una primera orientación y el segundo haz (20) incide sobre el dispositivo deflector (42) con una segunda orientación que es diferente de la primera orientación. (Traducción automática con Google Translate, sin valor legal)

Description

DESCRIPCIÓN

Sistema óptico de exploración con múltiples fuentes ópticas

La presente descripción hace referencia a un sistema óptico de exploración que tiene múltiples fuentes ópticas, en donde cada fuente óptica proporciona un haz de radiación óptica respectivo. En algunas formas de realización, la multiplicidad de fuentes ópticas incluye una primera fuente óptica y una segunda fuente óptica. Se debe entender que la presente descripción no se limita a un total de dos fuentes ópticas. En su lugar, la multiplicidad puede incluir más de dos fuentes ópticas, por ejemplo, tres o cuatro.

Tal como se utiliza en la presente memoria, la radiación óptica hace referencia a la radiación electromagnética en cualquiera de los rangos de longitud de onda ultravioleta, visible e infrarroja. La radiación óptica proporcionada por diferentes fuentes puede estar en diferentes rangos de longitud de onda o puede tener la misma longitud o longitudes de onda.

El sistema óptico de exploración puede realizar una o más aplicaciones que requieran que un haz de radiación óptica se dirija a través de un plano ortogonal a la dirección de propagación del haz (es decir, exploración transversal). Dicha dirección puede ser necesaria para desplazar el haz sobre un área objetivo. Dependiendo de la aplicación y de las propiedades de radiación del haz, la incidencia del haz en el objetivo se puede utilizar para procesar (por ejemplo, ablación o fotodisrupción) el objetivo o se puede utilizar para realizar mediciones en el objetivo. Un sistema óptico de exploración dentro del alcance de la presente descripción puede implementar aplicaciones exclusivas de procesamiento, aplicaciones exclusivas de medición o una combinación de aplicaciones de procesamiento y medición. Para la exploración de haces, el sistema óptico de exploración comprende un dispositivo deflector que se dispone para recibir y desviar un haz de radiación óptica a través de varios ángulos de exploración.

En un sistema óptico de exploración del tipo previsto en la presente descripción, los haces proporcionados por las distintas fuentes atraviesan el dispositivo deflector. Dependiendo del modo de funcionamiento, el dispositivo deflector puede realizar la exploración de un haz que atraviesa el dispositivo deflector o puede permanecer inactivo. En este último caso, el haz atraviesa el dispositivo deflector sin ser explorado. Tanto si se exploran como si no, todos los haces del sistema se pueden guiar a lo largo de una trayectoria común del haz desde el dispositivo deflector hasta un puerto de salida del haz (o "ventana") del sistema óptico de exploración.

Para garantizar que los haces proporcionados por el sistema pasen a través del dispositivo deflector, se puede prever conducir los haces juntos antes del dispositivo deflector, de modo que se propaguen a lo largo de un eje óptico común y entren en el dispositivo deflector sobre este eje. Los espejos semitransparentes, los espejos abatibles y los acopladores dependientes de la polarización son ejemplos de elementos de acoplamiento que se utilizan convencionalmente para acoplar trayectorias de haces diferentes en un eje óptico común. Desafortunadamente, la utilización de este tipo de elementos de acoplamiento puede causar algunos inconvenientes. Por ejemplo, un espejo semitransparente puede provocar una disminución de la potencia del haz que atraviesa el espejo. La utilización de un espejo abatible puede introducir retrasos no deseados en el funcionamiento del sistema óptico de exploración debido al tiempo necesario para que un actuador gire el espejo abatible dentro y fuera de la trayectoria del haz. Además, la provisión del elemento de acoplamiento supone un aumento de la complejidad del sistema y puede hacer que el ajuste inicial del sistema y las correcciones posteriores del ajuste sean más engorrosas.

El documento US 2010/0097682 A1 describe un sistema de administración de haces de luz para tratar un tejido diana. Uno o ambos de los dos espejos de exploración se utilizan para dirigir de forma selectiva los haces a una de las varias fibras ópticas en un haz de fibras ópticas, de modo que se puedan seleccionar diferentes tamaños de punto seleccionando qué fibra se utiliza para administrar los haces a un módulo de exploración. La salida de cada fibra óptica se dirige a otro conjunto de espejos de exploración ortogonales, que se giran mediante galvanómetros en direcciones ortogonales.

El documento US 2011/0043661 A1 describe un adaptador que utiliza dispositivos de una cámara digital disponible en el mercado para realizar diferentes funciones, como por ejemplo una cámara de fondo de ojo, un microscopio o un tomógrafo de coherencia óptica de cara para producir imágenes OCT de profundidad constante. El adaptador contiene un divisor de haz de placas y produce un haz colimado utilizando elementos de enfoque y un reflector para iluminar un objeto utilizando una lámpara de flash de la cámara. Los elementos de enfoque y un reflector se utilizan para transportar un haz desde una fuente IR de la cámara. En una forma de realización, un escáner transversal explora el haz del objeto sobre el objetivo utilizando uno o dos espejos, como por ejemplo galvoescáneres, escáneres resonantes o moduladores acústico-ópticos.

El documento US 2011/0273668 A1 describe un aparato de OCT, en donde una fuente de luz emite un haz que es dividido por un acoplador óptico en tres haces emitidos que pasan a través de un controlador de polarización, y son divididos por acopladores ópticos en haces de referencia y haces de medición, respectivamente, con una relación de intensidad de 50:50. Dos espejos de un espejo de exploración X y un espejo de exploración Y se disponen uno cerca del otro con el fin de rasterizar una retina en la dirección perpendicular al eje óptico, en donde los haces de medición atraviesan la córnea y penetran en la retina.

La presente descripción proporciona un sistema óptico de exploración, que comprende: varias fuentes ópticas, cada fuente óptica configurada para proporcionar un haz de radiación óptica; un dispositivo deflector dispuesto para recibir y desviar los haces proporcionados por las fuentes ópticas, configurado el dispositivo deflector para una operación de exploración en un haz de radiación que atraviesa el dispositivo deflector, en donde los haces proporcionados por las fuentes ópticas incluyen un primer haz que incide en el dispositivo deflector con una primera orientación y un segundo haz que incide en el dispositivo deflector con una segunda orientación, en donde la primera orientación es diferente de la segunda orientación. En algunas formas de realización, las varias fuentes ópticas son dos. En otras formas de realización, las varias fuentes ópticas son tres. En todavía otras formas de realización, las varias fuentes ópticas son cuatro o más.

En el sistema óptico de exploración de acuerdo con la presente descripción, el dispositivo deflector se configura para recibir los haces primero y segundo (y posiblemente haces adicionales de radiación óptica que puede proporcionar el sistema) con orientaciones diferentes respectivas. Tal como se utiliza en la presente memoria, la orientación hace referencia a la dirección de propagación de un haz cuando llega al dispositivo deflector. En algunas formas de realización, la primera orientación está inclinada con respecto a la segunda orientación. Un ángulo de inclinación del primer haz con respecto al segundo puede ser, por ejemplo, no mayor de 70, 60 o 50 grados y/o no menor de 1,2, 3, 4, 5, 7, 10, 15 o 20 grados. Los haces primero y segundo pueden tener la misma posición de incidencia o posiciones de incidencia diferentes en el dispositivo deflector.

El dispositivo deflector puede incluir cualquier tipo adecuado de elemento deflector que pueda escanear un haz entrante que llega con diferentes orientaciones con respecto al elemento deflector. De acuerdo con algunas formas de realización, el dispositivo deflector incluye un primer espejo de exploración dispuesto para inclinarse sobre al menos un eje de inclinación, en donde el primer haz incide sobre el primer espejo de exploración con la primera orientación y el segundo haz incide sobre el primer espejo de exploración con la segunda orientación. El primer espejo de exploración puede ser un espejo uniaxial o un espejo biaxial. El espejo uniaxial se puede inclinar sobre un solo eje, el espejo biaxial se puede inclinar de forma independiente sobre dos ejes mutuamente ortogonales. De acuerdo con formas de realización alternativas, el dispositivo deflector incluye un escáner poligonal o un escáner de cristal electroóptico, en donde el escáner poligonal o el escáner de cristal electro-óptico es capaz de escanear un haz entrante que llega con diferentes orientaciones con respecto al escáner.

De acuerdo con algunas formas de realización, el dispositivo deflector incluye una unidad de accionamiento electromagnético para accionar el primer espejo de exploración a través de un rango angular que es mayor que un desplazamiento angular entre las orientaciones primera y segunda. Desplazamiento angular significa el valor de un ángulo encerrado entre las orientaciones primera y segunda.

De acuerdo con algunas formas de realización, el dispositivo deflector incluye un primer espejo de exploración dispuesto para inclinarse alrededor de un primer eje de inclinación y un segundo espejo de exploración dispuesto para inclinarse alrededor de un segundo eje de inclinación, en donde el primer eje de inclinación se orienta perpendicularmente al segundo eje de inclinación, en donde los haces primero y segundo inciden sobre el primer espejo de exploración con las orientaciones primera y segunda, respectivamente, en donde el primer espejo de exploración se dispone para dirigir los haces primero y segundo al segundo espejo de exploración con una tercera orientación común.

El sistema óptico de exploración comprende un dispositivo de medición interferométrica para analizar de forma óptica un objetivo. El dispositivo de medición se dispone para establecer interferencias entre la radiación retrodispersada del objetivo y la radiación de referencia obtenida de al menos uno de los haces proporcionados por las fuentes ópticas. El dispositivo de medición puede incluir al menos una unidad de medición basada en OLCR y una unidad de medición basada en OCT.

En lo sucesivo en la presente memoria se describirán algunas formas de realización con más detalle haciendo referencia a los dibujos adjuntos, en los que:

La figura 1

ilustra de forma esquemática un sistema óptico de exploración de acuerdo con un ejemplo de configuración; y

La figura 2

ilustra detalles de una unidad deflectora del sistema de la figura 1 de acuerdo con una forma de realización de ejemplo

Con referencia ahora a los dibujos, se muestran en detalle formas de realización de ejemplo del aparato y método descritos. La siguiente descripción no pretende en modo alguno ser exhaustiva ni limitar o restringir de otro modo las reivindicaciones adjuntas a las formas de realización específicas mostradas en los dibujos y descritas en la presente memoria. Aunque los dibujos representan posibles formas de realización, los dibujos no están necesariamente a escala y algunas características se pueden simplificar, exagerar, eliminar o seccionar parcialmente para ilustrar mejor las formas de realización. Además, algunos dibujos pueden ser en forma esquemática

La figura 1 ilustra un sistema óptico de exploración generalmente designado 10. El sistema óptico de exploración 10 se diseña para realizar mediciones de diagnóstico en un ojo humano 12. Dichas mediciones pueden ser necesarias antes, durante y/o después de un tratamiento quirúrgico con láser del ojo 12. El sistema óptico de exploración 10 incluye unidades de medición interferométrica primera y segunda 14, 16 configuradas para realizar interferometría de baja coherencia utilizando luz de referencia proporcionada por una fuente de luz dentro de la respectiva unidad de medición y luz de muestra derivada de la luz retrodispersada reflejada desde el ojo 12. En la forma de realización de ejemplo ilustrada, se muestran dos unidades de medición 14, 16. Se debe entender que el sistema óptico de exploración 10 puede incluir cualesquiera varias unidades de medición. Además, el sistema óptico de exploración 10 puede incluir un módulo fuente láser (no mostrado) además de las unidades de medición 14, 16, o en lugar de una de las unidades de medición 14, 16. Cuando se equipa con un módulo fuente láser, el sistema óptico de exploración 10 se puede utilizar como una herramienta combinada de diagnóstico y cirugía que permite tanto mediciones de diagnóstico del ojo 12 como el tratamiento con láser del ojo 12 como, por ejemplo, para la corrección refractiva del ojo 12.

La primera unidad de medición 14 emite un primer haz 18 de radiación óptica, y la segunda unidad de medición 16 emite un segundo haz 20 de radiación óptica. En algunas formas de realización, el primer haz 18 y el segundo haz 20 tienen diferentes longitudes de onda. En otras formas de realización, el primer haz 18 y el segundo haz 20 tienen la misma longitud de onda. La primera unidad de medición 14 implementa, por ejemplo, un dispositivo de biometría óptica que opera sobre la base de la reflectometría óptica de baja coherencia (OLCR). La primera unidad de medición 14 puede implementar una o más funciones biométricas unidimensionales sin contacto que incluyen, entre otras, una función para medir la longitud axial del ojo 12, una función para medir el espesor central de la córnea del ojo 12, una función para medir la longitud axial de la cámara anterior del ojo 12, una función para medir el espesor central de la lente de cristalino del ojo 12, una función para realizar una queratometría (es decir, para medir la curvatura de la córnea anterior) del ojo 12, una función para medir la distancia blanco-blanco del ojo 12, una función para realizar una pupilometría (es decir, para medir el diámetro de la pupila) del ojo 12, una función para medir la excentricidad de un eje visual del ojo 12 y una función para medir el espesor de la retina del ojo 12.

La radiación del primer haz 18 puede estar en un rango de longitud de onda roja o infrarroja y puede, por ejemplo, estar comprendida entre 750 nm y 900 nm. Como ejemplo puramente ilustrativo y no restrictivo, el primer haz 18 puede tener una longitud de onda de aproximadamente 820 nm. La segunda unidad de medición 16 puede implementar un dispositivo de formación de imágenes bidimensional o tridimensional que funcione sobre la base de la tomografía de coherencia óptica (OCT). La radiación del segundo haz 20 puede estar en un rango de longitud de onda roja o infrarroja y/o en un rango de longitud de onda ultravioleta. Por ejemplo, el segundo haz 20 puede incluir radiación con una longitud de onda comprendida entre 750 nm y 900 nm y/o comprendida entre 750 nm y 300 nm. Como ejemplo numérico puramente ilustrativo, el segundo haz 20 puede tener una longitud de onda de aproximadamente 790 nm y/o aproximadamente 350 nm.

En algunas formas de realización, la primera unidad de medición 14 incluye una primera fuente óptica 22, un primer divisor de haz 24, un primer espejo de referencia 26, un primer detector 28 y un primer analizador basado en software 30 acoplados según se muestra. El primer detector 28 detecta la luz resultante de la interferencia de la luz de referencia reflejada desde el primer espejo de referencia 26 con la luz retrodispersada (o "luz de muestra") reflejada desde el ojo 12 y devuelta a la primera unidad de medición 14. El primer analizador 30 evalúa las señales de detección del primer detector 28 de una manera definida por la funcionalidad deseada de la unidad de medición 14. De forma similar, la segunda unidad de medición 16 incluye una segunda fuente óptica 32, un segundo divisor de haz 34, un segundo espejo de referencia 36, un segundo detector 38 y un segundo analizador 40 basado en software.

El sistema óptico de exploración 10 comprende además un dispositivo deflector 42, un objetivo de enfoque 44 y un ordenador de control 46 acoplados según se muestra. El dispositivo deflector 42 se configura para explorar transversalmente un haz entrante (como, por ejemplo, el primer haz 18 y/o el segundo haz 20) a través de un rango de ángulos de exploración bajo el control de un programa de exploración ejecutado por el ordenador de control 46. Por exploración transversal se entiende una operación de exploración en una dirección transversal a la dirección de propagación del haz. Realizando la exploración de este modo, el haz se puede mover en una o dos dimensiones sobre un área objetivo del ojo 12. En la figura 1 se muestra una línea discontinua 48 que representa un haz escaneado emitido por el dispositivo deflector 42.

El objetivo de enfoque 44 enfoca un haz entrante a un punto de la superficie anterior del ojo 12 o dentro del ojo 12. El objetivo de enfoque 44 puede ser un dispositivo de lente única o de lentes múltiples. En algunas formas de realización, el objetivo de enfoque 44 se puede omitir.

El ordenador de control 46 controla el funcionamiento de las unidades de medición 14, 16. En particular, el ordenador de control 46 ordena a las unidades de medición 14, 16 que inicien y detengan la generación de haces de acuerdo con las necesidades de diagnóstico definidas por un programa de control y/o una entrada de usuario de un cirujano.

En general, sólo una de las unidades de medición 14, 16 estará activa a la vez, de modo que sólo uno de los haces primero y segundo 18, 20 incide sobre el dispositivo deflector 42 a la vez. Al menos una de las unidades de medición 14, 16 requiere la exploración de su haz por el dispositivo deflector 42. Por ejemplo, la unidad de medición OCT 20 puede requerir la exploración del segundo haz 20 para generar una o más imágenes en corte del ojo 12. Por el contrario, la unidad de medición OLCR 14 puede no requerir la exploración del primer haz 18. Por consiguiente, en algunas formas de realización, el ordenador de control 46 controla el dispositivo deflector 42 para que realice la exploración del haz durante el funcionamiento de una de las unidades de medición 14, 16 y permanezca inactivo, o inmóvil, durante el funcionamiento de la otra de las unidades de medición 14, 16. En otras formas de realización, todas las unidades de medición 14, 16 (o en términos más generales: todas las unidades generadoras de haces del sistema óptico de exploración 10) pueden requerir la exploración de haces para su funcionamiento.

Como se puede ver en la figura 1, el primer haz 18 y el segundo haz 20 inciden en el dispositivo deflector 42 con orientaciones diferentes. En otras palabras, el primer haz 18 y el segundo haz 20 se propagan a lo largo de diferentes ejes cuando llegan al dispositivo deflector 42. Más concretamente, los ejes de propagación de los haces primero y segundo 18, 20 están inclinados entre sí un ángulo a inferior a 90 grados antes de que los haces 18, 20 entren en el dispositivo deflector 42. El dispositivo deflector 42 es del tipo adaptado para aceptar un haz entrante desde diferentes direcciones de entrada y emitir el haz en la misma dirección de salida independientemente de la dirección de entrada. En resumen, el dispositivo deflector 42 se puede denominar escáner multitrayectoria.

La figura 2 muestra con mayor detalle un ejemplo de configuración del dispositivo deflector 42. Según se muestra, el dispositivo deflector 42 incluye espejos de exploración uniaxiales primero y segundo 50, 52. En algunas formas de realización, los espejos 50, 52 se pueden inclinar alrededor de ejes de inclinación mutuamente perpendiculares para permitir la exploración bidimensional de un haz incidente en el dispositivo deflector 42. Un haz entrante se refleja en el primer espejo 50, se dirige al segundo espejo 52 y, a continuación, el haz entrante se refleja en el segundo espejo 52. Los accionamientos galvanométricos (no mostrados) controlados por el ordenador de control 46 se pueden proporcionar para hacer rotar a los espejos 50, 52. Son igualmente concebibles otros tipos de accionamientos distintos de los galvanómetros y/u otros tipos de elementos deflectores (como por ejemplo un espejo adaptativo).

Al menos uno de los espejos 50, 52 (el primer espejo 50 en la situación de ejemplo ilustrada) se puede ajustar por medio de su accionamiento en torno a su eje de inclinación para recibir un haz entrante procedente de diferentes direcciones y dirigir el haz entrante al mismo punto del segundo espejo 52, de modo que el haz pueda salir del dispositivo deflector 42 en el mismo eje óptico. La figura 2 ilustra mediante líneas continuas una situación en la que el primer haz 18 incide sobre el dispositivo deflector 42 e ilustra mediante líneas discontinuas una situación en la que el segundo haz 20 incide sobre el dispositivo deflector 42. Los haces primero y segundo 18, 20 llegan al dispositivo deflector 42 con un desplazamiento angular mutuo igual al valor de a. Dependiendo del modo de funcionamiento del sistema óptico de exploración 10 (es decir, de si está activa la primera unidad de medición 14 o la segunda unidad de medición 16), el ordenador de control 46 puede conducir el primer espejo 50 a diferentes posiciones iniciales predefinidas correspondientes al modo de funcionamiento respectivo, en donde las diferentes posiciones iniciales están desplazadas angularmente entre sí el valor de a/2. Cuando la primera unidad de medición 14 está activa, el ordenador de control 46 conduce el primer espejo 50 a la posición mostrada en líneas continuas en la figura 1, y cuando la segunda unidad de medición 16 está activa, el ordenador de control 46 conduce el primer espejo 50 a la posición mostrada en líneas discontinuas en la figura 1 (en 50'). La exploración se puede realizar entonces inclinando el primer espejo 50 hacia adelante y hacia atrás con respecto a la posición inicial adoptada por el espejo 50 en el modo de funcionamiento particular. Huelga decir que la exploración del haz puede incluir, adicionalmente o como alternativa, la inclinación del segundo espejo 52 hacia adelante y hacia atrás.

En algunas formas de realización, el valor del ángulo a está comprendido entre 1 y 10 grados y, por ejemplo, entre 3 y 7 grados. Huelga decir que estos valores numéricos para el ángulo a son meramente de ejemplo y de ninguna manera pretenden ser restrictivos.

En formas de realización alternativas, el segundo espejo 52 se puede configurar para poderse ajustar entre diferentes posiciones iniciales para acomodar los diferentes ángulos de incidencia de un haz entrante en el dispositivo deflector 42 y emitir el haz en el mismo eje óptico independientemente del ángulo de incidencia.

Claims (8)

REIVINDICACIONES

1. Un sistema óptico de exploración, que comprende:

- varias fuentes ópticas (22, 32), configurada cada fuente óptica para proporcionar un haz de radiación óptica;

- un dispositivo deflector (42) dispuesto para recibir y desviar los haces proporcionados por las fuentes ópticas, configurado el dispositivo deflector para una operación de exploración en un haz de radiación que atraviesa el dispositivo deflector; y

- un dispositivo de medición interferométrica para analizar de forma óptica un objetivo, estando dispuesto el dispositivo de medición interferométrica para establecer interferencias entre la radiación retrodispersada desde el objetivo y la radiación de referencia obtenida a partir de al menos uno de los haces proporcionados por las fuentes ópticas, en donde los haces proporcionados por las fuentes ópticas incluyen un primer haz (18) que incide sobre el dispositivo deflector (42) con una primera orientación y un segundo haz (20) que incide sobre el dispositivo deflector (42) con una segunda orientación, en donde la primera orientación es diferente de la segunda orientación, y en donde sólo uno de los haces primero y segundo (18, 20) incide a la vez sobre el dispositivo deflector (42).

2. El sistema óptico de exploración de la reivindicación 1, en donde el dispositivo deflector (42) incluye un primer espejo de exploración (50) dispuesto para inclinarse alrededor de al menos un eje de inclinación, en donde el primer haz (18) incide sobre el primer espejo de exploración con la primera orientación y el segundo haz (20) incide sobre el primer espejo de exploración con la segunda orientación.

3. El sistema óptico de exploración de la reivindicación 1 o 2, en donde el dispositivo deflector (42) incluye un primer espejo de exploración (50) dispuesto para inclinarse alrededor de un primer eje de inclinación y un segundo espejo de exploración (52) dispuesto para inclinarse alrededor de un segundo eje de inclinación, en donde el primer eje de inclinación se orienta perpendicularmente al segundo eje de inclinación, en donde los haces primero y segundo (18, 20) inciden sobre el primer espejo de exploración con las orientaciones primera y segunda, respectivamente, en donde el primer espejo de exploración se dispone para dirigir los haces primero y segundo al segundo espejo de exploración con una tercera orientación común.

4. El sistema óptico de exploración de una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 3, en donde el dispositivo de medición incluye al menos una de una unidad de medición basada en OLCR (14) y una unidad de medición basada en OCT (16).

5. El sistema óptico de exploración de una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 4, en donde el dispositivo de medición incluye una unidad de medición (14) configurada para realizar al menos una de las siguientes: una función para medir una longitud axial de un ojo, una función para medir un espesor central de una córnea, una función para medir una longitud axial de una cámara anterior de un ojo, una función para medir un espesor central de un cristalino de un ojo, una función para realizar una queratometría de un ojo, una función para medir una distancia blanco-blanco de un ojo, una función para realizar una pupilometría de un ojo (12), una función para medir una excentricidad de un eje visual de un ojo y una función para medir un espesor retiniano de un ojo.

6. El sistema óptico de exploración de una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 5, en donde el dispositivo de medición incluye una unidad de medición (16) configurada para realizar al menos una de las imágenes bidimensionales y tridimensionales de una estructura ocular.

7. El sistema óptico de exploración de una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 6, en donde las varias fuentes ópticas son dos.

8. El sistema óptico de exploración de una cualquiera de las reivindicaciones 1 a 6, en donde las varias fuentes ópticas son tres