ES2218610T3

ES2218610T3 - Procedimiento para la determinacion del valor de la resistencia de un dispositivo de resistencia.

Info

Publication number: ES2218610T3
Application number: ES97101659T
Authority: ES
Inventors: Gunter Fendt; Peter Hora
Original assignee: Conti Temic Microelectronic GmbH
Current assignee: Conti Temic Microelectronic GmbH
Priority date: 1996-02-22
Filing date: 1997-02-04
Publication date: 2004-11-16
Anticipated expiration: 2017-02-04
Also published as: EP0791834A3; EP0791834B1; DE19606526A1; DE19606526B4; EP0791834A2; DE59711585D1

Abstract

PROCEDIMIENTO PARA LA DETERMINACION DEL VALOR DE RESISTENCIA DE UNA DISPOSICION DE RESISTENCIAS CON LOS SIGUIENTES PASOS DE PROCEDIMIENTO: A) DETERMINACION DE UNA CORRIENTE DE FUGAS POR MEDIO DE A1) APLICACIONES DE POTENCIALES DE TENSION DE IGUAL MAGNITUD, A2) MEDICION DE LAS TENSIONES AJUSTADAS Y VALORACION DE SUS VALORES, A3) MEDICION DE LA CORRIENTE DE FUGA QUE APARECE Y VALORACION DE SU VALOR. B) MEDICION DE LAS MAGNITUDES NECESARIAS PARA LA DETERMINACION DEL VALOR DE RESISTENCIA A TRAVES DE B1) APLICACION DE UN PRIMER Y UN SEGUNDO POTENCIAL DE TENSION CON ALTURA DE POTENCIAL DIFERENTE PARA LA GENERACION DE UNA CORRIENTE DE PRUEBA QUE FLUYE A TRAVES DE LA RESISTENCIA, DONDE SE HA ELEGIDO ESTE POTENCIAL DE TENSION DE TAL MODO, QUE LA DIRECCION DE LA CORRIENTE DE PRUEBA COINCIDE CON LA DIRECCION DE LA CORRIENTE DE FUGA, B2) MEDICION DE LA TENSION DE BORNA A SER AJUSTADA, B3) MEDICION DE LA CORRIENTE DE PRUEBA Y C) CALCULO DEL VALOR DE RESISTENCIA CON LA AYUDA DE LOS VALORES MEDIDOS PARA LA CORRIENTE DE FUGA, CORRIENTE DE PRUEBA Y TENSION DE BORNES.

Description

Procedimiento para la determinación del valor de la resistencia de un dispositivo de resistencia.

La invención se refiere a un procedimiento para la determinación del valor de la resistencia de un dispositivo de resistencia, a un circuito para la realización de este procedimiento, así como su uso para la determinación del valor de la resistencia de una estera sensora para el reconocimiento de la ocupación de un asiento en un vehículo automóvil.

Se imponen requisitos elevados respecto de la seguridad y fiabilidad en la electrónica de un vehículo automóvil, especialmente cuando se trata de sistemas de protección de los ocupantes, como cinturones de seguridad, bolsas de aire, sistemas antivuelco, etc. Un requisito de las bolsas de aire de acompañante consiste en que sólo se deben liberar cuando, efectivamente, el asiento correspondiente está ocupado por una persona. A tal efecto, las señales de salida de un circuito para el reconocimiento de la ocupación de un asiento, deben ser transmitidas de manera fiable a una unidad de control de la bolsa de aire, debido a que de ello depende la liberación o la no liberación de la bolsa de aire del acompañante en un accidente.

Por el documento DE4406897C1 se conoce un circuito y un procedimiento para la determinación del valor de la resistencia del sensor de ocupación de un asiento. Por el documento EP0689058A2 se conoce un procedimiento y un circuito para la supervisión de un punto de circuito en una resistencia de fuga.

Según el estado de la técnica, una estera sensora, habitual hoy en día, como se describe por ejemplo en la patente alemana DE4237072C1, es un dispositivo que, dependiendo de los estados "ocupado" y "no ocupado", en una primera realización, genera una resistencia de salida de aproximadamente 500 kOhm y, en una variante, de 50 kOhm.

Esta información es fácilmente perturbable, por ejemplo, a través de resistencias de fuga como las que aparecen en un entorno humedecido de los conectores. Este tipo de resistencias de fuga, que se sitúan en torno a 100 kOhm, en el estado de la técnica, alteran una y otra vez los resultados. Esto ha conducido a que las informaciones de las resistencias se tengan que transmitir a una electrónica de evaluación externa, con conectores estancos, para una regeneración propia de las señales.

En este caso, resulta desventajoso que la rentabilidad de los sistemas cruciales de seguridad y de sus diversos sensores se grava en demasía y que, además, los costos en espacio, material, montaje y peso, aumentan de modo significativo.

Por este motivo, la invención tiene como objetivo mostrar una solución, que permita el proceso seguro y fiable de este tipo de informaciones perturbables, directamente desde el propio equipo de control de la bolsa de aire, sin tener que usar un conector estanco o similar.

Este objetivo se alcanza mediante un procedimiento para la determinación del valor de la resistencia de un dispositivo de resistencia, compuesto por, al menos, una zona de resistencia, cada una de ellas con una resistencia variable con líneas de conexión, en el que cada una de las líneas de conexión se conduce a contactos de unión. El procedimiento según la invención presente las siguientes etapas de procedimiento:

a) Determinación de una corriente de fuga mediante

a1): Aplicación de potenciales de tensión de la misma magnitud sobre los contactos de unión.

a2): Medición de las tensiones presentes en los contactos de unión, en comparación con el potencial de referencia, y evaluación del valor de estas tensiones con vistas a una divergencia excesiva entre ellas.

a3): Medición de una corriente de fuga aparecida en uno de los contactos de unión y evaluación del valor de esta corriente.

b) Medición de las magnitudes necesarias para la determinación del valor de la resistencia mediante

b1): Aplicación de un primer y un segundo potencial de tensión en los contactos de unión con diferente nivel de potencial para la generación de una corriente de prueba a través de la resistencia, para lo cual, los potenciales de tensión se eligen de modo que el sentido de corriente de la corriente de prueba coincide con el sentido de corriente de la corriente de fuga.

b2): Medición de la tensión en los bornes presente en los contactos de unión.

b3): Medición de la corriente de prueba y

c): Cálculo del valor de la resistencia con ayuda de los valores medidos de la corriente de fuga, corriente de prueba y tensión en los bornes.

Las ventajas de la invención radican, especialmente, en que no es necesaria una electrónica de evaluación externa para el procesamiento de las señales, adicional según el estado de la técnica. Además, se suprime un conector estanco necesario para la evitación de resistencias de fuga en la línea de conexión para el reconocimiento de ocupación del asiento. La rentabilidad en la electrónica de vehículos automóviles aumenta considerablemente mediante el procedimiento propuesto y el dispositivo según la invención a este efecto.

En las reivindicaciones subordinadas se detallan las configuraciones y variantes.

En una forma de realización especialmente preferida, se usan potenciales de tensión que se diferencian del potencial de referencia. De esta manera, se consigue que las corrientes de fuga, que probablemente aparecen, presenten siempre el mismo sentido de corriente y, con ello, se facilite considerablemente la evaluación.

A continuación, se detallan el procedimiento y la disposición, según la invención, mediante un ejemplo de realización y se muestran en las figuras de los dibujos.

Éstas muestran

Figura 1a: un diagrama de flujo del proceso de medición y prueba,

Figura 1b: un diagrama de flujo del proceso completo de medición y prueba para una estera sensora con dos zonas resistivas,

Figura 2: un esquema del circuito correspondiente al proceso de medición y prueba del dispositivo de resistencia, según la invención, en un primer estado (estado inactivo).

Figura 3: el esquema del circuito de la figura 2 en un segundo estado,

Figura 4: el esquema del circuito de la figura 2 en un tercer estado,

Figura 5: el esquema del circuito de la figura 2 en un cuarto estado,

Figura 6: el esquema del circuito de la figura 2 en un quinto estado,

Figura 7: el esquema del circuito de la figura 2 en un sexto estado.

En la figura 1a se muestra un diagrama de flujo del proceso de medición y prueba principal, de tres partes y formado por seis fases, tanto para el reconocimiento de la ocupación del asiento en una zona, como para el reconocimiento de la ocupación del asiento en dos zonas. La tabla 1 muestra una vista de conjunto de las seis fases del proceso de medición y prueba. Las fases 1 y 2 representan la primera parte de la prueba, la fase 3, la segunda, y las fases 4 y 5, la tercera parte de la prueba. El proceso de pruebas finaliza con la fase 6.

TABLA 1

Fase	Contenido de la prueba	Una zona de resistencia	Dos zonas resistivas
1	\begin{minipage}[t]{65mm} Comprobar líneas de conexión 3a, 3b, hacia la zona de resistencia 5a\end{minipage}	X	X
2	\begin{minipage}[t]{65mm} Comprobar líneas de conexión 3c, 3d, hacia la zona de resistencia 5b\end{minipage}	-	X
3	Medición de la corriente de fuga	X	X
4	\begin{minipage}[t]{65mm} Determinar la resistencia R1 de la zona de resistencia 5a\end{minipage}	X	x
5	\begin{minipage}[t]{65mm} Determinar la resistencia R2 de la zona de resistencia 5b\end{minipage}	-	X
6	Finalizar el proceso de pruebas	X	X

Para la realización del proceso de medición y prueba, las fuentes de corriente A, B y C, controladas por tensión, los sumideros de corriente B' y C', controlados por tensión, y un transistor T_{1}, adoptan seis estados diferentes, que se compilan en la tabla 2.

TABLA 2

1

"Pasivo" significa que no se controla la fuente de corriente respectiva, A, B o C, el sumidero de tensión respectivo, B' o C', o que se inhibe el transistor T_{1}; en caso contrario, se aplica la tensión de control correspondiente a las fuentes de corriente A, B y C, y a los sumideros de corriente B' y C'. "Activo", referido al transistor T_{1}, significa que el transistor T_{1} se conecta conductivo, mediante una tensión de base positiva, y que circula una corriente por su línea emisor-colector.

En la figura 1b se representa, mediante un diagrama de flujo, el proceso de medición y prueba completo para una estera sensora con dos zonas resistivas. Durante un proceso de medición y prueba completo, con una duración de ciclo de 500 ms, un circuito 1 (figuras 2 a 7) adopta todos los estados, 1 a 6, representados en la tabla 2, para comprobar cortocircuitos o interrupciones en las líneas de conexión, para medir una corriente de fuga presente en las líneas de conexión, dado el caso, y para determinar el estado (ocupado o no ocupado) de las zonas resistivas. En la siguiente descripción se explican todos los datos, umbrales y magnitudes contenidas en el diagrama de
flujo.

Las figuras 2 a 7 muestran un circuito 1 para la realización del proceso de medición y prueba representado en la figura 1b, compuesto por un dispositivo de resistencia 4, para la determinación de la ocupación del asiento, y un circuito de medida 1', para la evaluación del dispositivo de resistencia 4, en el que cada circuito 1, esquematizado en las figuras 2 a 7, muestra uno de los estados descritos en la tabla 2.

El dispositivo de resistencia 4 es una estera sensora conocida, por eso no se describe con mayor detalle, formado por una zona de resistencia 5a y, eventualmente, por una segunda zona de resistencia 5b (presente en una forma de realización mejorada).

Una resistencia variable, R_{1} o R_{2}, de la zona de resistencia 5a o 5b, representa la resistencia de la estera sensora 4, de cuya magnitud depende que, por ejemplo, un asiento de vehículo automóvil esté ocupado o no. En el ejemplo de realización, se trata de dos versiones de una estera sensora 4, cuya resistencia es menor de 500 kOhm o 50 kOhm, con el asiento de vehículo automóvil ocupado, y mayor de 500 kOhm o 50 kOhm, con el asiento de vehículo automóvil no ocupado.

Para la comprobación de la interrupción de línea en la estera sensora 4, se conecta un diodo D_{1} o D_{2}, en paralelo a la resistencia R_{1} o R_{2}, de las zonas resistivas respectivas, 5a o 5b. La estera sensora 4 se conecta con el circuito de medida 1' mediante las líneas de conexión 3a, 3b, 3c y 3d, que se encuentran, preferentemente, en el interior de una unidad de conexión 6 con los contactos de unión 6a/6c, 6b y 6d. Al efecto de prescindir de una línea de conexión, las líneas de conexión 3a y 3b se conectan entre sí.

Con R_{L1}, R_{L2} y R_{L3}, se indican las resistencias de fuga de las líneas de conexión 3a, 3b, 3c y 3d, o los contactos de unión 6a/6c, 6b y 6d de la unidad de conexión 6. En los esquemas de conexiones de las figuras 2 a 7, se señalan, por orden de medida, las resistencias de fuga R_{L1}, R_{L2} y R_{L3}; éstas también se pueden ordenar según la tensión de la batería.

Con A, B y C, se indican fuentes de corriente conmutables y controladas por tensión (dependientes de la tensión); con B' y C', se indican sumideros de corriente conmutables y controlados por tensión (dependientes de la tensión). En este caso, la fuente de corriente B se conecta con una línea de conexión 2b y el sumidero de corriente B', la fuente de corriente C, con una línea de conexión 2c y el sumidero de corriente C'.

La fuente de corriente A se conecta al colector de un transistor T_{1} y a una línea de conexión 2a a través de una resistencia protectora R_{V}, por la que circula una corriente máxima de 2 mA. Se mide la corriente I_{A} que circula por la fuente de corriente controlada por tensión A, se digitaliza el valor resultante en un convertidor analógico-digital 7' y se transmite a una unidad de evaluación, preferentemente un microprocesador \muP.

Las tres fuentes de corriente A, B y C, están expuestas a una tensión de alimentación de, aproximadamente, 30 V y suministran una corriente de entre 0 y 2,5 mA. La tensión de control de las fuentes de corriente controladas por tensión A, B y C, y de los sumideros de corriente controlados por tensión B' y C', es de 15 o 20 V, dependiendo de las necesidades de una de las fases de prueba descritas a continuación. En el ejemplo de realización, a través de las fuentes de corriente controladas por tensión A, B y C, y de los sumideros de corriente controlados por tensión B' y C', circula una corriente máxima de 200 \muA.

Las tensiones U_{A}, U_{B} y U_{C}, presentes en las líneas de conexión 2a, 2b y 2c, durante las fases de prueba, se digitalizan en el convertidor analógico-digital 7' y se transmiten al microprocesador \muP para su evaluación. Este microprocesador \muP suministra la tensión de control de 0 V, 15 V o 20 V, también durante las fases de prueba, a las fuentes de corriente A, B y C, y a los sumideros de corriente B' y C'. En el caso de interrupción de la línea de conexión o de una corriente de fuga demasiado grande, cuando se interrumpe el proceso de medición y prueba, se transmite una señal de aviso a la unidad de aviso 8, conectada a continuación, a través de la conexión 7, de modo que, por ejemplo, se activa un indicador de aviso en el campo de visión del conductor.

La figura 2 muestra el dispositivo de resistencia y de medición 1 en estado inactivo, el estado 1. El microprocesador \muP suministra una tensión de control de 0 V a todas las fuentes de corriente controladas por tensión A, B y C, a todos los sumideros de corriente controlados por tensión B' y C', y al transistor T_{1}, de modo que no circula ninguna corriente I_{A} a través de la fuente de corriente A y no está presente ninguna tensión U_{A}, U_{B} y U_{C}.

En la primera parte de la prueba, formada por las fases 1 y 2, se comprueba la interrupción y cortocircuito a masa o a la tensión de la batería de las líneas de conexión 3_{a}, 3_{b}, 3_{c} y 3_{d} hacía las zonas resistivas de la estera sensora, 5a y 5b.

En la fase 1, conforme a la figura 3, las fuentes de corriente controladas por tensión A, B y C, los sumideros de corriente controlados por tensión B' y C', y el transistor T_{1}, adoptan el estado 2 de la tabla 2, lo que significa, que la fuente de corriente controlada por tensión B y el sumidero de corriente controlado por tensión B' son alimentados por el microprocesador \muP con una tensión de control de 20 V, y el transistor T_{1} se conecta, conductor por su base, mediante una tensión de control positiva.

De esta manera, circula una corriente desde la fuente de corriente B hacia el potencial de referencia a través del contacto de unión 6b, del diodo D_{1}, conectado en el sentido de paso, del contacto de unión 6a/6c, de la resistencia protectora R_{V} y de la línea conductora colector-emisor del transistor T_{1}. En caso necesario, circula a masa (o hacia la tensión de alimentación) una corriente de fuga adicional I_{RL2} o I_{RL1}, a través de la resistencia de fuga R_{L2} o R_{L1}.

La tensión U_{B}, presente en la línea de conexión 2b, se conduce al microprocesador \muP. Si U_{B} es menor de 18 V, entonces la fuente de corriente constante B está defectuosa o circula una corriente de fuga I_{RL2} inadmisiblemente elevada. En este caso, se interrumpe el proceso de pruebas.

Si U_{B} es mayor o igual a 18 V, se mide la tensión U_{A} presente en la línea de conexión 2a y se establece la diferencia U_{B}-U_{A} en la unidad de evaluación 7. En el caso de que esta diferencia sea mayor de 5 V, existe una interrupción de la línea de conexión y se interrumpe el proceso de pruebas. Normalmente, la tensión U_{A} se encuentra en torno a 20 V menos la caída de tensión en el diodo D_{1}.

En la fase 2, conforme a la figura 4, las fuentes de corriente controladas por tensión A, B y C, los sumideros de corriente controlados por tensión B' y C', y el transistor T_{1}, adoptan el estado 3 de la tabla 2, lo que significa que la fuente de corriente controlada por tensión C y el sumidero de corriente controlado por tensión C' son alimentados por el microprocesador \muP con una tensión de control de 20 V, y que el transistor T_{1} se conecta, conductor por su base, mediante una tensión de control positiva.

De esta manera, circula una corriente desde la fuente de corriente C hacia el potencial de referencia a través del contacto de unión 6d, del diodo D_{2}, conectado en el sentido de paso, del contacto de unión 6a/6c, de la resistencia protectora R_{V} y de la línea conductora colector-emisor del transistor T_{1}. En caso necesario, circula a masa (o hacia la tensión de alimentación) una corriente de fuga adicional I_{RL3} o I_{RL1}, a través de la resistencia de fuga R_{L3} o R_{L1}.

La tensión U_{C}, presente en la línea de conexión 2c, se conduce al microprocesador \muP. Si U_{C} es menor de 18 V, entonces la fuente de corriente constante C está defectuosa o circula una corriente de fuga I_{RL3} inadmisiblemente elevada. En este caso, se interrumpe el proceso de pruebas.

Si U_{C} es mayor o igual a 18 V, se mide la tensión U_{A} presente en la línea de conexión 2a y se establece la diferencia U_{C}-U_{A} en la unidad de evaluación 7. En el caso de que esta diferencia sea mayor de 5 V, existe una interrupción de la línea y se interrumpe el proceso de pruebas, en caso contrario, continúa el proceso de medición y prueba. Normalmente, la tensión U_{C} se encuentra en torno a 20 V menos la tensión caída en el diodo D_{2}.

Si se trata de un reconocimiento de ocupación del asiento de una zona, se suprime la fase o el estado 3 de la tabla 2. Si se determina una interrupción o un cortocircuito de baja impedancia, se salta a la fase 6 y, con ello, se interrumpe el proceso de medición y prueba. Para ello, las fuentes de corriente A, B y C, los sumideros de corriente B' y C', y el transistor T_{1}, adoptan el estado 1 de la tabla 2, lo que corresponde al estado inactivo.

En la segunda parte de las pruebas, correspondiente a la fase 3, se determina una corriente de fuga I_{RL1}, presente eventualmente, en la línea de conexión 2a, 3a o en el contacto de unión 6a/6c de la unidad de conexión 6, para lo cual, las fuentes de corriente A, B y C, los sumideros de corriente B' y C', y el transistor T_{1}, adoptan el estado 4 de la tabla 2, representado en la figura 5.

Las tensiones U_{A}, U_{B} y U_{C}, presentes en las líneas de conexión 2a, 2b y 2c, se miden y los valores de la medición se transmiten a la unidad de evaluación 7, en la que, en primer lugar, se calcula la diferencia de potencial U_{B}-U_{A}. Si el valor modular de esta diferencia de potencial sobrepasa un valor de 0,2 V, entonces, las tensiones U_{A} y U_{B} divergen entre sí en demasía. En este caso, se interrumpe el proceso de pruebas debido a que la corriente de fuga existente es muy elevada.

A continuación, se calcula en la unidad de evaluación 7 la diferencia de potencial U_{C}-U_{A} y se interrumpe el proceso de pruebas si el valor modular de la diferencia de potencial sobrepasa el umbral de 0,2 V.

En caso contrario, se mide la corriente I_{A}, que se corresponde con la corriente de fuga I_{RL1}, y que circula desde la fuente de corriente A, y se transmite el valor de la medición a la unidad de evaluación 7.

Si circula una corriente de fuga mayor de 2 mA, es decir, si la resistencia de fuga R_{L1} determinada es menor de 10 kOhm, se interrumpe el proceso de medición y prueba, mediante el salto a la fase 6, debido a una resistencia de fuga I_{RL1} demasiado grande.

En la tercera parte de las pruebas, formada por las fases 4 y 5, se determina el valor de las resistencias R_{1} o R_{2}, de las zonas resistivas 5a o 5b, y con ello se determina si el asiento está ocupado o no. Para ello, las fuentes de corriente A, B y C, los sumideros de corriente B' y C', y el transistor T_{1}, adoptan sucesivamente los estados 5 y 6 de la tabla 2.

En la fase 4, conforme al estado 5 y la figura 6, circula una corriente I_{A1} desde la fuente de corriente A hacia el potencial de referencia a través del contacto de unión 6a/6c, de la resistencia variable R_{1}, del contacto de unión 6b y del sumidero de corriente B'. Dado el caso, circulan a masa (o hacia la tensión de alimentación), adicionalmente, corrientes de fuga I_{RL1} (I_{RL1} se determinó en la fase 3) y/o I_{RL2} a través de las resistencias de fuga R_{L1} o R_{L2} que, a causa del procedimiento de cálculo, no tienen ninguna influencia sobre el cálculo de la resistencia R_{1}.

Se miden las tensiones U_{A} ó U_{B}, presentes en las líneas de conexión 2a ó 2b y la corriente I_{A1}, que circula desde la fuente de corriente A, y se transmiten los valores de la medición a la unidad de evaluación 7. La resistencia R_{1} de la zona de resistencia 5a se calcula entonces según la igualdad:

R_{1} = (U_{A}-U_{B}):I_{R1}

\hskip0,5cm

con

\hskip0,5cm

I_{R1} = I_{A1} - I_{RL1}

Si se obtiene un valor para la resistencia R_{1} menor de 50 kOhm, entonces la zona de resistencia 5a está ocupada; un valor mayor o igual a 50 kOhm significa que la zona de resistencia 5a no está ocupada.

En la fase 5, conforme al estado 6 y la figura 7, circula una corriente I_{A2} desde la fuente de corriente A hacia el potencial de referencia a través del contacto de unión 6a/6c, de la resistencia variable R_{2}, del contacto de unión 6d y del sumidero de corriente C'. Dado el caso, circulan a masa (o hacia la tensión de alimentación), adicionalmente, corrientes de fuga I_{RL1} (I_{RL1} se determinó en la fase 3) y/o I_{RL3} a través de las resistencias de fuga R_{L1} o R_{L3} que, a causa del procedimiento de cálculo, no tienen ninguna influencia sobre el cálculo de la resistencia R_{2}.

Se miden las tensiones U_{A} o U_{C}, presentes en las líneas de conexión 2a o 2c, y la corriente I_{A2}, que circula desde la fuente de corriente A, y se transmiten los valores de la medición a la unidad de evaluación 7. La resistencia R_{2} de la zona de resistencia 5b se calcula entonces según la igualdad:

R_{2} = (U_{A}-U_{C}):I_{R2}

\hskip0,5cm

con

\hskip0,5cm

I_{R2} = I_{A2} - I_{RL1}

Si se obtiene un valor para la resistencia R1 menor de 50 kOhm, entonces la zona de resistencia 5b está ocupada; un valor mayor o igual a 50 kOhm significa que la zona de resistencia 5b no está ocupada.

Si se trata únicamente de un reconocimiento de ocupación del asiento de una zona, se suprime la fase 5 o las fuentes de corriente A, B y C, los sumideros de corriente B' y C', y el transistor T_{1}, no adoptan el estado 6 de la tabla 2.

Una vez transcurrido por completo el proceso de medición y prueba, tiene lugar la finalización del proceso de pruebas después de la tercera parte de las pruebas con la fase 6. Para ello, según el estado 1 de la tabla 2, todas las fuentes de corriente A, B y C, los sumideros de corriente B' y C', y el transistor T_{1}, adoptan un estado pasivo.

El resultado del proceso de medición y prueba se transmite, para una evaluación posterior, desde la unidad de evaluación 7 a una unidad de control de la bolsa de aire, conectada a continuación, al efecto de considerar el estado de ocupación del asiento del vehículo automóvil respectivo para que, en caso de accidente, la bolsa de aire respectivo se libere sólo cuando realmente esté ocupado el asiento.

El dispositivo de resistencia y de medición, según la invención, es adecuado, preferentemente, para el reconocimiento de la ocupación de un asiento en un vehículo automóvil, garantiza un reconocimiento de la ocupación del asiento perfecto, seguro y fiable, mediante un estera sensora que presenta un sensor de una zona o un sensor de dos zonas.

Claims

1. Procedimiento para la determinación del valor de la resistencia de un dispositivo de resistencia (4), compuesto por, al menos, una zona de resistencia (5a,5b), cada una de ellas con una resistencia variable (R_{1},R_{2}) con líneas de conexión (3a,3b;3c,3d), en el que cada una de las líneas de conexión se conduce a contactos de unión (6a,6b;6c,6d), con las siguientes etapas de procedimiento:

a) Determinación de una corriente de fuga (I_{RL1}) mediante

a1): aplicación de potenciales de tensión (Q_{A},Q_{B},Q_{C},Q_{B}',Q_{C}') de la misma magnitud sobre los contactos de unión (6a,6b;6c,6d),

a2): medición de las tensiones (U_{A},U_{B},U_{C}) presentes en los contactos de unión (6a,6b;6c,6d), respecto al potencial de referencia, y evaluación del valor de estas tensiones (U_{A},U_{B},U_{C}) con vistas a una divergencia excesiva entre ellas,

a3): medición de una corriente de fuga (I_{RL1}) aparecida en uno de los contactos de unión (6a,6b;6c,6d) y evaluación del valor de esta corriente,

b) Medición de las magnitudes necesarias para la determinación del valor de la resistencia (R_{1},R_{2}) mediante

b1): aplicación de un primer y un segundo potencial de tensión (Q_{A},Q_{B};Q_{A},Q_{C}) en los contactos de unión (6a,6b;6c,6d) con diferente nivel de potencial, para la generación de una corriente de prueba (I_{R1},I_{R2}) que fluye a través de la resistencia (R_{1}, R_{2}), en la que los potenciales de tensión (Q_{A},Q_{B};Q_{A},Q_{C}) se seleccionan de modo que el sentido de corriente de la corriente de prueba (I_{R1},I_{R2}) coincide con el sentido de corriente de la corriente de fuga (I_{RL1}),

b2): medición de la tensión en los bornes (U_{A},U_{B};U_{A},U_{C}) presente en los contactos de unión (6a,6b;6c,6d).

b3): medición de la corriente de prueba (I_{A1},I_{A2}) y

c): Cálculo del valor de la resistencia (R_{1},R_{2}) con ayuda de los valores medidos de la corriente de fuga (I_{RL1}), corriente de prueba (I_{A1},I_{A2}) y tensión en los bornes (U_{A},U_{B};U_{A},U_{C}).

2. Procedimiento según la reivindicación 1, caracterizado porque se realiza una prueba de la interrupción de línea de las líneas de conexión (3a,3b,3c,3d) antes de la determinación de la corriente de fuga (I_{RL1}), mediante

a): un elemento rectificador de corriente (D_{1},D_{2}) conectado en paralelo a la resistencia (R_{1},R_{2}),

b): generación de potenciales de tensión (Q_{B},Q_{A}';Q_{C},Q_{A}') sobre los contactos de unión (6a,6b;6c,6d), de modo que el elemento rectificador de corriente (D_{1},D_{2}) se controla en el sentido de paso,

c): medición de las tensiones (U_{A},U_{B};U_{A},U_{C}) presentes en los contactos de unión (6a,6b;6c,6d), y

d): evaluación de las tensiones (U_{A},U_{B};U_{A},U_{C}), así como de sus diferencias de potencial (U_{B}-U_{A};U_{C}-U_{A}).

3. Procedimiento según la reivindicación 2, caracterizado porque se añade una segunda zona de resistencia (5b) al dispositivo de resistencia (4), cuyo primer contacto de unión (6c) se conecta con el contacto de unión (6a) de la primera zona de resistencia (5a), de modo que el elemento rectificador de corriente (D_{1}) de la primera zona de resistencia (5a), presenta el mismo sentido de conexión que el elemento rectificador de corriente (D_{2}) de la segunda zona de resistencia (5b) y en cuyo segundo contacto de unión (6d) se aplica otro potencial de tensión (Q_{C}).

4. Procedimiento según una de las reivindicaciones 1 a 3, caracterizado porque se usan potenciales de tensión (Q_{A},Q_{B},Q_{C},Q_{A}',Q_{B}',Q_{C}') que se diferencian del potencial de referencia.

5. Circuito para la realización del procedimiento según las reivindicaciones 1 a 4, con las características:

a): en la generación de los potenciales de tensión (Q_{A},Q_{B},Q_{C},Q_{A}',Q_{B}', Q_{C}') intervienen fuentes de corriente controladas por tensión (A,B,C), sumideros de corriente controlados por tensión (B',C') y un transistor (T_{1}) con una resistencia protectora (R_{V}),

b): en el control de las fuentes de corriente (A,B,C) y de los sumideros de corriente (B',C'), controlados por tensión, y del transistor (T_{1}), interviene un microprocesador (\muP) con un programa para la realización del procedimiento, según la reivindicación 1, y

c): en la digitalización de las tensiones (U_{A},U_{B},U_{C}) y las corrientes (I_{A}, I_{A1},I_{A2}) medidas y en la transmisión de los valores de medición digitalizados en el microprocesador (\muP), interviene un convertidor analógico-digital (7').

6. Uso del circuito según la reivindicación 5 para la determinación del valor de la resistencia de una estera sensora (4) para el reconocimiento de la ocupación de un asiento en un vehículo automóvil.