ES2160564T3 - Utilizacion de un componente de medicion electrico. - Google Patents

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Abstract

Componente eléctrico de medición apto para ser utilizado para la medición de parámetros de materiales por medio de un procedimiento de corriente de fuga inductiva, comprendiendo dicho componente de medición un arrollamiento de un material eléctricamente conductor, caracterizado porque el arrollamiento está conformado de modo que comprenda por lo menos una primera parte en forma helicoidal (20).

Description

Utilización de un componente de medición eléctrico.
Antecedentes de la invención y técnica anterior
La presente invención se refiere a la utilización de un componente de medición eléctrico para medir parámetros de materiales por medio de un procedimiento de corrientes parásitas inductivas.
Los documentos US-A-5.017.869 y GB-A-2 187 844 exponen ejemplos de procedimientos de medición de corrientes parásitas para la determinación de parámetros de materiales. En primer documento mencionado se refiere principalmente a la medición de los espesores de capas con un procedimiento de medición de corrientes parásitas de este tipo. El segundo documento mencionado también se refiere a la medición de espesores de capas, pero así mismo a la medición de la temperatura de láminas de metal delgadas. Los procedimientos de medición de corrientes parásitas también se pueden utilizar para comprobar propiedades muy diferentes de un componente de medición. Por ejemplo, es conocido que un procedimiento de medición de este tipo pueda ser utilizado para detectar discontinuidades, grietas internas, cambios en la forma o bien otros defectos en un objeto de la medición. Una ventaja de la comprobación por medio de un procedimiento de corrientes parásitas es que el objeto de la medición no se destruye en la prueba.
La patente US nº 4.706.020 describe una probeta de corrientes parásitas que incluye una bobina unilaminar, en forma de espiral, sustancialmente plana, montada en un sustrato aislante. El documento también describe un procedimiento para la detección de imperfecciones. En el procedimiento se utilizan un circuito de puente. El circuito de puente comprende, entre otras cosas, la probeta de corrientes parásitas y una bobina de referencia.
La comprobación de la medición por medio de un procedimiento de corrientes parásitas se describe brevemente realizado de la siguiente manera. Se produce un campo electromagnético alternativo cerca del objeto de la medición. Este campo alternativo penetra dentro del objeto de la medición y causa en el mismo corrientes parásitas (si el objeto de la medición es eléctricamente conductor). Estas corrientes parásitas producen a su vez un campo electromagnético alternativo. Este campo alternativo, o su retroacción en el primer campo electromagnético alternativo mencionado, se puede detectar entonces. El primer campo electromagnético alternativo mencionado generalmente está producido por medio de una bobina. La detección de campo alternativo creado por las corrientes parásitas generalmente también tiene lugar por medio de una bobina.
La solicitud de patente sueca publicada nº 9602658-8 (y la correspondiente US 08/679 624, de Jourdain et al) describe un procedimiento y un dispositivo para la determinación de espesor de una o más capas dispuestas una encima de otra sobre un sustrato. También según este documento, la determinación se realiza por medio de un procedimiento de medición de corrientes parásitas.
Los documentos anteriormente mencionados no describen en detalle la estructura de la bobina o de las bobinas. La estructura de la propia bobina generalmente no se ha considerado que, de hecho, sea particularmente decisiva en el resultado obtenido de la medición. Las bobinas utilizadas en la práctica tienen normalmente una forma helicoidal. Una bobina conformada helicoidal de este tipo tanto puede estar enrollada en diversas capas una encima de otra como también puede estar enrollada en una única capa en forma de cilindro.
Sumario de la invención
El objetivo de la presente invención es conseguir la utilización de un componente de medición eléctrico que mejore el resultado de la medición en un procedimiento de medición por corrientes parásitas.
El componente de medición eléctrico utilizado según la invención es particularmente adecuado para la medición de capas delgadas. La medición de tales capas puede comprender por ejemplo la medición del espesor de la capa. Las mediciones de este tipo requieren una elevada resolución. Si, además, existen diversas capas una encima de otra con diferentes propiedades eléctricas o magnéticas, puede resultar difícil distinguir las capas y por lo tanto resulta difícil la determinación de las propiedades de las capas individuales. Los inventores de la presente invención por lo tanto han llegado a la conclusión de que existe la necesidad de formar un componente de medición que proporcione una mejor resolución que aquellos utilizados anteriormente.
El objetivo de la invención se consigue mediante la utilización definida en la reivindicación 1.
El componente de medición comprende una bobina de material eléctricamente conductor y la bobina está formada para comprender por lo menos una primera pieza en forma de espiral.
Visto matemáticamente, una espiral descansa en un plano. Por otra parte, una curva helicoidal tiene una extensión en tres dimensiones. En la práctica por supuesto una espiral tiene una cierta extensión también en una tercera dimensión (puesto que la espiral debe tener un cierto espesor). Esencialmente una espiral de este tipo sin embargo se puede considerar que descansa en un plano. Por pieza en forma de espiral en la presente solicitud se entiende por lo tanto que la espiral está colocada esencialmente en un plano. Sin embargo se debe indicar que este plano de hecho puede estar algo curvado. El plano por lo tanto no es un plano en el sentido matemático. Por ejemplo, puede ser ventajoso que la pieza en forma de espiral esté algo curvada en su extensión cuando el objeto de la medición tiene una superficie curvada correspondiente.
Puesto que el componente de medición comprende una bobina la cual tiene forma de espiral, se consigue una resolución considerablemente mejor cuando se miden capas delgadas. Los inventores han llegado a la conclusión de que se consigue una mejor resolución cuando la altura de la bobina no es demasiado grande comparada con los espesores de las capas que se van a medir.
Según una forma de realización del componente de medición, dicha pieza en forma de espiral a lo largo esencialmente de su longitud completa es tangente a una superficie limítrofe esencialmente plana. Una superficie limítrofe de este tipo puede ser completamente plana o, también, como se ha mencionado antes en este documento, algo curvada. Una superficie limítrofe algo curvada por lo tanto puede ser adecuada cuando el objeto de la medición tenga una superficie exterior correspondientemente curvada. Según esta forma de realización, la bobina puede estar dispuesta muy cerca del objeto de la medición, lo cual conduce a una precisión mejor de la medición.
Según una forma de realización adicional del componente de medición, la bobina tiene un diámetro inferior a 5 mm. Una bobina con esta dimensión tiene ventajas cuando se miden áreas menores del objeto de la medición. También puede ser una ventaja utilizar una bobina pequeña de este tipo cuando el objeto de la medición por ejemplo esté algo curvado. Una bobina pequeña ante este tipo por lo tanto puede ser plana y todavía ser colocada cerca del objeto de la medición. Si el radio de curvatura del objeto de la medición es relativamente grande, una bobina pequeña de este tipo, de hecho, aunque sea plana, puede ser considerada que está colocada paralela al objeto de la medición.
Según otra forma de realización del componente de medición, la primera pieza en forma de espiral tiene un espesor de entre 1 \mum y 50 \mum. Puesto que la pieza en forma de espiral tiene una extensión limitada de ese modo en su dirección del espesor, esta pieza puede ser considerada que descansa esencialmente en un plano. Esta extensión pequeña en la dirección del espesor mejora el resultado de la medición por lo menos cuando se miden capas delgadas.
De acuerdo con otra forma de realización del componente de medición, la primera pieza en forma de espiral tiene por lo menos 3 vueltas del devanado.
Preferentemente está pieza tiene por lo menos 4 y como máximo 10 vueltas del devanado. Un número limitado de vueltas del devanado de este tipo ocasiona que el componente de medición se pueda hacer pequeño, lo cual tiene las ventajas que han sido mencionadas antes en este documento. Sin embargo se debe indicar que en ciertas aplicaciones puede resultar de interés tener varias vueltas del devanado a fin de producir un campo electromagnético alternativo de una intensidad deseada. Es concebible por lo tanto que dicha primera pieza en espiral tenga más de 10 vueltas del devanado.
Según una forma de realización adicional, el componente de medición comprende un elemento de soporte eléctricamente aislante, en el que dicha primera pieza en forma de espiral está colocada en un lado del elemento de soporte. Un elemento de soporte de este tipo contribuye a la estabilidad del componente de medición, particularmente de la bobina. Es también una ventaja para la fabricación de la bobina el que esté formada sobre un elemento de soporte de este tipo. Puesto que el elemento de soporte puede estar formado para que tenga una superficie plana bien definida, la bobina por lo tanto puede estar dispuesta esencialmente en un plano.
Según todavía otra forma de realización, la bobina comprende también una segunda pieza en forma de espiral, en la que la segunda pieza en forma de espiral está colocada en el otro lado de dicho elemento de soporte. Como se ha mencionado antes en este documento, en ciertas situaciones puede ser una ventaja que el diámetro de la bobina sea pequeño. A fin de conseguir todavía un intercambio inductivo suficiente con el objeto de la medición, puede ser esencial que la bobina comprenda un número suficiente de vueltas del devanado. Esto se puede conseguir porque la bobina comprende dos piezas en forma de espiral colocadas cada una de ellas en un lado de un elemento de soporte. Puesto que el elemento de soporte se puede fabricar delgado, la extensión del componente de medición transversal al plano en el que descansan las piezas en forma de espiral puede ser limitada.
Según una forma de realización adicional, la segunda pieza en forma de espiral está desplazada con relación a la primera pieza en forma de espiral de tal forma que el material eléctricamente conductor de la segunda pieza en forma de espiral no está colocado exactamente opuesto al material eléctricamente conductor de la primera pieza en forma de espiral. Mediante una forma de este tipo de las piezas en forma de espiral, se ha observado que se puede conseguir un componente de medición eléctrico con una elevada resolución.
Según otra forma de realización, la primera pieza en forma de espiral está conectada eléctricamente a la segunda pieza en forma de espiral. Con esta construcción, las dos piezas en forma de espiral juntas forman de ese modo una bobina. Sin embargo no es necesario para la invención que las dos piezas estén eléctricamente conectadas entre sí. También es concebible en que las dos piezas en forma de espiral estén conectadas en paralelo.
Una forma de realización adicional del componente de medición está caracterizada por secciones de contacto colocadas en el elemento de soporte y conectadas a la pieza o a las piezas en forma de espiral colocadas sobre el elemento de soporte. A través de secciones de contacto de este tipo, el componente de medición eléctrico puede ser conectado de manera simple a un circuito de medición o a un circuito que genere un campo electromagnético alternativo.
La invención se refiere a la utilización de un componente de medición eléctrico según cualquiera de las formas de realización anteriormente descritas en este documento a fin de determinar por lo menos un parámetro de un objeto de la medición por medio de un procedimiento de medición de corrientes parásitas inductivas. Se debe indicar que el componente de medición según lo anterior también puede ser utilizado en otros campos distintos del procedimiento de corrientes parásitas. El componente de medición por lo tanto puede ser de utilidad siempre que sea ventajoso utilizar una bobina que esté colocada esencialmente en un plano. Sin embargo, como se ha descrito antes en este documento, la utilización del componente de medición en un procedimiento de medición de corrientes parásitas inductivas tiene ventajas
particulares.
Una utilización según la invención se define en la reivindicación 1.
Mediante la forma del componente de medición, se consigue una resolución muy elevada, tal como ha sido descrito antes en este documento, en un procedimiento de este tipo.
Según una forma de realización de la utilización según la invención, el parámetro o los parámetros que son determinados a través del procedimiento de medición comprenden el espesor de por lo menos una de las capas. Tal como ha sido descrito antes en este documento, el componente de medición tiene ventajas particulares cuando se utiliza para una determinación tal como el espesor de las capas.
Según una forma de realización adicional de la utilización según la invención, el parámetro o los parámetros que se determinan a través del procedimiento de medición comprenden el contenido de hidruro en el substrato o en cualquiera de las capas. Parece particularmente ventajoso utilizar un componente de medición según lo anterior para la determinación del contenido de hidruro en sustratos.
Según una forma de realización adicional de la invención, el objeto de la medición comprende un elemento estructural en un reactor nuclear, en el que dicho sustrato constituye el propio material para el elemento estructural, dichas capas constituyen una capa de óxido sobre el elemento estructural y una capa de impurezas sobre la capa de óxido. Resulta particularmente ventajoso utilizar el componente de medición para la determinación de parámetros de un sustrato de este tipo o de capas de este tipo en un elemento estructural para un reactor nuclear. Tales elementos estructurales puede ser tubos encamisados para las varillas de combustible, varillas de control, separadores o bien otros detalles de un reactor nuclear. Los elementos estructurales por ejemplo pueden constar de aleaciones de circonio o aleaciones de hafnio.
Según una forma de realización adicional de la utilización según la invención, el objeto de la medición comprende por lo menos un sustrato y una o más capas funcionales sobre el sustrato, en el que a través del procedimiento de medición se verifica la condición de por lo menos una de las capas o de las capas funcionales con relación por ejemplo al desgaste o la corrosión. Como ya ha sido descrito antes en la presente memoria, los procedimientos de medición de corrientes parásitas pueden ser utilizados con ventaja para verificar defectos en materiales. En particular se ha observado que la utilización según la invención es adecuada para determinar el grado de desgaste o de corrosión cuando el objeto de la medición comprende un sustrato con una o más capas sobre el mismo.
Según todavía otra forma de realización de la invención, el objeto de la medición comprende un elemento estructural en un reactor nuclear, en el que dicho sustrato constituye el propio material para el elemento estructural y dicha una o más capas funcionales constituyen una o más capas protectoras sobre dicho sustrato. Se ha observado que funciona muy bien la utilización de un componente de medición según lo que se ha descrito antes en este documento para verificar la condición de tales capas protectoras sobre un elemento estructural en un reactor nuclear. El elemento estructural por ejemplo puede constituir el tubo encamisado de una varilla de combustible, un separador, el cual se utiliza entre otras cosas para sostener las varillas de combustible a distancias determinadas entre sí, o el tubo de revestimiento, o la pared la caja, la cual encierra un conjunto de combustible.
Con relación a la utilización según la invención, la medición por lo tanto se hace en por lo menos dos frecuencias diferentes, por ejemplo a tres o más frecuencias diferentes, preferentemente a cinco o más frecuencias diferentes. Se ha observado de hecho que se consigue una buena precisión si la medición se hace a diversas frecuencias diferentes.
Según una forma de realización preferida de la utilización según la invención, se utiliza un modelo, el cual describe una bobina para la generación de un campo electromagnético alternativo y la constitución del objeto de la medición y la influencia del objeto de la medición en el campo electromagnético alternativo generado por la bobina.
Según la invención, se realiza un cálculo del campo electromagnético alternativo combinado resultante, calculo el cual comprende la introducción de valores previamente determinados o conocidos para por lo menos algunas de las propiedades electromagnéticas del sustrato o de la capa o de las capas y la suposición de uno o más parámetros libres, tales como la conductividad eléctrica del sustrato y el espesor de la capa o de las capas colocadas sobre el sustrato y en el que dicha determinación comprende un proceso iterativo según el cual el parámetro o los parámetros libres supuestos se cambian hasta que el campo electromagnético combinado medido corresponde al campo calculado.
Breve descripción de los dibujos
La presente invención se explicará ahora por medio de las formas de realización descritas, proporcionadas como ejemplos, y con referencia a los dibujos adjuntos.
La figura 1 muestra esquemáticamente una vista de un componente de medición eléctrico el cual puede ser utilizado según la invención.
La figura 2 muestra esquemáticamente una vista en sección transversal del componente de medición eléctrico el cual está representado en la figura 1.
La figura 3 muestra una vista en sección transversal similar a la de la figura 2 pero con otra forma de realización del componente.
Descripción detallada de las formas de realización
El componente de medición se describirá a continuación por medio de la forma de realización la cual se representa en las figuras 1 y 2. La figura 2 es una vista en sección transversal de la sección transversal que está marcada mediante I en la figura 1. El componente de medición representado comprende una bobina de un material eléctricamente conductor, en el que la bobina está formada para comprender una primera pieza en forma de espiral 20. En la forma de realización representada, la bobina tiene sólo una pieza en forma de espiral 20. La pieza en forma de espiral 20 constituye por lo tanto en esta forma de realización la bobina completa. La bobina está colocada sobre un elemento de soporte 22. Este elemento de soporte 22 se denomina también más adelante en este documento como el sustrato. El sustrato 22 tiene un primer lado 30 y un segundo lado 32. La bobina en este caso está colocada por lo tanto en el primer lado 30 del sustrato 22. La bobina está formada de un material eléctricamente conductor. Este material por ejemplo puede ser cobre o aluminio, pero también se pueden utilizar otros materiales eléctricamente conductores. La bobina, o la primera pieza en forma de espiral 20, puede tener un espesor t que se escoge de acuerdo con las circunstancias. A menudo, es adecuado que este espesor t esté entre 1 \mum y 100 \mum. En particular, un espesor t de entre 20 \mum y 50 \mum ha demostrado ser adecuado. Un espesor típico de este tipo t es aproximadamente 35 \mum.
La bobina según la forma de realización esquemáticamente representada en la figura 1 tiene aproximadamente 3,5 vueltas del devanado (por número de vueltas del devanado en esta solicitud se entiende por lo tanto las vueltas que la espiral realiza alrededor de su eje central). El número de vueltas del devanado depende del campo de utilización. Para ciertas aplicaciones puede ser adecuado tener un número grande de vueltas del devanado, por ejemplo 10 a 40 vueltas del devanado. A menudo, sin embargo, es una ventaja fabricar la bobina tan pequeña como sea posible. Por lo tanto puede ser adecuado que la bobina tenga aproximadamente 4 a 10 vueltas del devanado.
El material eléctricamente conductor que forma la bobina se denomina, a partir de aquí en adelante en este documento, el hilo. El ancho a del hilo también puede variar dependiendo del campo de utilización de la bobina y dependiendo del procedimiento de fabricación. Un valor adecuado para el ancho a del hilo puede ser por ejemplo 30 \mum a 100 \mum. Particularmente adecuado ha resultado ser que el hilo tenga un ancho a de aproximadamente 70 \mum. También depende de las circunstancias la distancia entre las vueltas del devanado del hilo (distancia la cual está designada mediante b). Una distancia adecuada b de este tipo puede ser aproximadamente la misma que el ancho a del hilo, es decir, a menudo es adecuado que esta distancia b sea de aproximadamente 70 \mum. El diámetro d de la bobina también se puede escoger dependiendo del campo de utilización de la bobina. A menudo es adecuado que este diámetro d sea inferior a 50 \mum. Para ciertas aplicaciones, por ejemplo para la medición de tubos encamisados de las varillas de combustible (la cual se describe más adelante en este documento), ha demostrado ser adecuado que el diámetro d de la bobina sea inferior a 6 mm y preferentemente inferior a 4 mm.
El sustrato 22 puede estar constituido por una variedad de materiales aislantes adecuados. Uno de tales materiales adecuados es poliimida. El espesor c del sustrato 22 puede variar en una gran extensión. En esta forma de realización con sólo una pieza en forma de espiral 20 depositada sobre un lado 30 del sustrato 22, el espesor c del sustrato 22 a menudo no es tan importante, puesto que la bobina se puede disponer cerca del objeto de la medición. Sin embargo, el sustrato 22, cuando sea deseable, puede tener un espesor t de sólo aproximadamente 12 \mum o inferior. El sustrato 22 puede estar provisto de orificios pasantes 28 (denominados vías). Estos orificios 28 pueden ser utilizados para conectar la pieza en forma de espiral 20 a las secciones de contacto 24, 26 colocadas en el otro lado 32 del sustrato 22. A través de estas secciones de contacto 24, 26 la bobina se puede conectar de ese modo por ejemplo a un dispositivo para la generación de un campo electromagnético alternativo o a un dispositivo de detección para detectar por ejemplo la tensión o la corriente a través de la bobina.
Según la forma de realización descrita a continuación, la primera pieza en forma de espiral 20 (es decir en este caso la bobina) está colocada esencialmente en un plano. Esto puede ser expresado como si la primera pieza en forma de espiral 20 a lo largo esencialmente de su longitud completa fuera tangente a una superficie limítrofe esencialmente plana. Una superficie limítrofe de este tipo por ejemplo puede constituir un lado 30 del propio sustrato 22 o la superficie limítrofe también se puede considerar que constituye un plano el cual es tangente al lado de la pieza en forma de espiral 20 que está colocada en la parte superior en la figura 2. Tal como ha sido mencionado antes en este documento, una superficie limítrofe de este tipo es esencialmente plana. Pero cuando la bobina va a ser utilizada para la medición de un objeto de la medición curvado, puede ser ventajoso que la superficie limítrofe tenga una curvatura que corresponda con la curvatura de tal objeto de la medición.
La forma de realización según la figura 3 difiere de la forma de realización según las figuras 1 y 2 principalmente porque el componente de medición eléctrico además de la primera pieza en forma de espiral 20 comprende también una segunda pieza en forma de espiral 21. Esta forma de realización se representa aquí sólo en una vista en sección transversal pero las dos piezas en forma de espiral 20 y 21 tienen una forma que es similar a aquella representada en la figura 1. Cada una de las piezas en forma de espiral 20, 21 puede tener por ejemplo entre 3 y 8 vueltas del devanado. Según la forma de realización de la figura 3, la segunda pieza en forma de espiral 21 está colocada en el otro lado 32 del elemento de soporte 22. La segunda pieza en forma de espiral 21 está desplazada con relación a la primera pieza en forma de espiral 20 de tal forma que las vueltas eléctricamente conductoras del devanado de la segunda pieza en forma de espiral 21 están colocadas en posiciones que corresponden a los espacios entre las vueltas eléctricamente conductoras del devanado de la primera pieza en forma de espiral 20. Las piezas en forma de espiral primera 20 y segunda 21 según esta forma de realización están eléctricamente conectadas entre sí. La conexión constituye en este caso la denominada vía 28 a través del sustrato 22. Las dos piezas en forma de espiral 20 y 21 constituyen juntas por lo tanto una bobina. Cada una de las piezas en forma de espiral 20 y 21, a lo largo esencialmente de su longitud completa, es tangente a una superficie limítrofe esencialmente plana de una manera similar a la de la forma de realización según las figuras 1 y 2. Un generador para un campo electromagnético alternativo o un detector puede estar adecuadamente conectado a la bobina a través de las secciones de contacto 34 y 36. Las dos piezas en forma de espiral 20 y 21 por supuesto deben tener una forma de tal tipo y deben estar conectadas entre sí de tal manera que la corriente que fluye a través de la bobina tenga el efecto de que estas dos piezas 20 y 21 cooperen en la formación de un campo electromagnético.
Se debe indicar que las dos piezas en forma de espiral 20 y 21 también pueden estar separadas entre sí (es decir no conectadas eléctricamente entre sí). Según una forma de realización de este tipo, cada una de las piezas en forma de espiral 20 y 21 deberá tener por lo tanto secciones de contacto para ser conectadas a un generador o a un detector. Una sección de contacto de este tipo por lo tanto deberá estar colocada en el centro de la respectiva pieza en forma de espiral y otra sección de contacto deberá estar colocada por lo tanto adecuadamente en la periferia. En una forma de realización en la cual las dos piezas en forma de espiral 20, 21 no están eléctricamente conectadas entre sí, una pieza en forma de espiral 20, por ejemplo, puede ser utilizada como una bobina emisora y la otra pieza en forma de espiral 21 puede ser utilizada como una bobina detectora.
Aunque no se representa en las figuras, es posible que la pieza o las piezas en forma de espiral 20 y 21 estén cubiertas por una capa protectora eléctricamente aislante de un material adecuado.
El componente de medición eléctrico puede ser utilizado para la medición con un procedimiento de medición de corrientes parásitas inductivas. Una utilización de este tipo comprende la medición de un objeto de la medición el cual sea por lo menos parcialmente eléctricamente conductor y en el que el procedimiento de medición comprende las siguientes etapas:
-
colocar el componente de medición eléctrico próximo al objeto de la medición;
-
aplicar un campo electromagnético alternativo a través del componente de medición eléctrico de tal forma que la bobina cree un campo electromagnético alternativo el cual por lo menos parcialmente penetre en el material que se va a determinar y que cree corrientes parásitas en su interior, las cuales a su vez producen un campo electromagnético el cual retroactúa en el campo electromagnético aplicado;
-
medir la influencia que el campo producido por las corrientes parásitas tiene sobre el campo aplicado;
en el que dicha medición se realiza porque la frecuencia del campo alternativo aplicado se establece a, por lo menos, dos valores diferentes y porque dicha influencia se mide en esos valores de frecuencia; y en el que el parámetro o parámetros los cuales van a ser determinados son calculados sobre la base de los datos obtenidos a través de la última medición mencionada y de la información sobre por lo menos algunas de las propiedades electromagnéticas del material. Una utilización de este tipo es particularmente adecuada para determinar el espesor de una o más capas colocadas sobre un sustrato. El principio para un procedimiento de medición de este tipo está bien descrito en la solicitud de patente sueca anteriormente mencionada en este documento. Por lo tanto, este procedimiento de medición no se va a describir aquí.
También se ha observado que el componente de medición eléctrico es adecuado para determinar el contenido de hidruro en un sustrato eléctricamente conductor que tenga una o más capas colocadas sobre el sustrato.
El componente de medición eléctrico es particularmente adecuado para ser utilizado para la medición de parámetros de un elemento estructural en un reactor nuclear. En particular se ha observado que el componente de medición puede ser utilizado para determinar la condición de las denominadas capas funcionales en elementos estructurales de este tipo. Tales capas funcionales pueden ser muy delgadas, por ejemplo sólo de uno o de pocos \mum. Para mediciones en capas delgadas es ventajoso que la bobina tenga un espesor t de aproximadamente del mismo orden de magnitud, es decir sólo de uno o de pocos \mum.
Mediante la utilización anteriormente mencionada, por ejemplo tanto el contenido de hidruro en el sustrato como el espesor de una o más capas colocadas sobre el sustrato se pueden determinar a través de uno y el mismo procedimiento de medición. Adicionalmente, tanto la condición de una o más capas funcionales como el contenido de hidruro en el sustrato se pueden determinar con uno y el mismo procedimiento de medición.
Para la utilización del componente de medición eléctrico para mediciones con corrientes parásitas, el componente de medición tanto puede funcionar como una bobina emisora para producir un campo electromagnético alternativo el cual penetra dentro del objeto de la medición como el componente de medición también puede ser utilizado como una bobina receptora para detectar la influencia de las corrientes parásitas en el campo generado. También es posible que el componente de medición eléctrico según la invención funcione tanto como una bobina emisora y receptora.
El componente de medición eléctrico puede ser fabricado de maneras diferentes las cuales son conocidas en relación por ejemplo con la fabricación de tarjetas de circuitos impresos o semiconductores. Un procedimiento de fabricación adecuado de este tipo comprende la fotolitografía. En un procedimiento de fabricación de este tipo, normalmente se fabrica una máscara la cual puede ser utilizada entonces para fabricar diversos componentes de medición. De esta manera se puede fabricar con un coste bajo diversos componentes de medición. En ciertas mediciones (por ejemplo cuando se mide un objeto curvado con un componente de medición eléctrico en forma de una bobina plana) es ventajoso que la bobina sea muy pequeña. Un diámetro de la bobina de 2,5 mm puede ser, por ejemplo, adecuado. Utilizando dos piezas en forma de espiral 20, 21 (una a cada lado del sustrato 22) se puede producir de ese modo una bobina con más vueltas del devanado y al mismo tiempo un diámetro pequeño. También es posible disponer de más de dos piezas en forma de espiral 20, 21. De ese modo es concebible tener tres o más piezas en forma de espiral colocadas con sustratos o capas aislantes entre cada pieza. Se debe indicar que cuando el componente de medición eléctrico comprende dos o más piezas en forma de espiral 20, 21 con un sustrato aislante 22 entre ellas, puede ser ventajoso que el sustrato 22 sea delgado, ya que en este caso la extensión del componente de medición transversal al plano de las piezas en forma de espiral puede ser pequeña. El espesor c del sustrato 22 por ejemplo puede ser inferior a 30 \mum, preferentemente inferior a 20 \mum, más preferentemente aproximadamente 12 \mum. Un sustrato de este tipo por ejemplo puede estar constituido de poliimida. Se debe indicar también que la bobina que forma parte de un componente de medición según la invención preferentemente no tiene pieza alguna en forma helicoidal (por lo menos ninguna pieza en forma helicoidal que constituya una parte esencial de la bobina). Este será el caso tanto cuando la bobina tenga sólo una pieza en forma de espiral como cuando la bobina tenga diversas piezas en forma de espiral.
La presente intención no está limitada a las formas de realización anteriores sino que se puede variar y modificar dentro del alcance de las siguientes reivindicaciones.

Claims (16)

1. Utilización de un componente de medición eléctrico adecuado para ser utilizado para la medición de parámetros de materiales por medio de un procedimiento de corrientes parásitas inductivas, cuyo componente de medición comprende una bobina de un material eléctricamente conductor, estando formada la bobina para comprender por lo menos una primera pieza en forma de espiral (20), cuya utilización comprende la medición de un objeto de la medición el cual es por lo menos parcialmente eléctricamente conductor, comprendiendo el objeto de la medición por lo menos un sustrato y una o más capas delgadas sobre el sustrato, comprendiendo la utilización un procedimiento de medición que comprende las siguientes etapas:
-
colocar el componente de medición eléctrico próximo al objeto de la medición;
-
aplicar un campo electromagnético alternativo a través del componente de medición eléctrico de tal forma que la bobina cree un campo electromagnético alternativo el cual por lo menos parcialmente penetre en el material que se va a determinar y que cree corrientes parásitas en su interior, las cuales a su vez producen un campo electromagnético el cual retroactúa en el campo electromagnético aplicado;
-
medir la influencia que el campo producido por las corrientes parásitas tiene sobre el campo aplicado;
caracterizada porque dicha medición se realiza porque la frecuencia del campo alternativo aplicado se establece, por lo menos, a dos valores diferentes y porque dicha influencia se mide en esos valores de frecuencia; y calculando el parámetro o parámetros los cuales van a ser determinados sobre la base de los datos obtenidos a través de la última medición mencionada y de la información sobre por lo menos algunas de las propiedades electromagnéticas del material, realizándose un cálculo del campo electromagnético alternativo combinado resultante, cálculo el cual comprende la introducción de valores previamente determinados o conocidos para por lo menos algunas de las propiedades electromagnéticas del sustrato o de la capa o capas y la suposición de uno o más parámetros libres, tales como la conductividad eléctrica del sustrato y el espesor de la capa o de las capas colocadas sobre el sustrato y comprendiendo dicha determinación comprende un proceso iterativo según el cual el parámetro libre supuesto de los parámetros se cambia hasta que el campo electromagnético combinado medido corresponda al campo calculado.
2. Utilización según la reivindicación 1, caracterizada porque dicha primera pieza en forma de espiral (20) a lo largo esencialmente de su longitud completa es tangente a una superficie limítrofe esencialmente plana.
3. Utilización según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizada porque la bobina tiene un diámetro (d) inferior a 5 mm.
4. Utilización según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizada porque la primera pieza en forma de espiral (20) tiene un espesor (t) comprendido entre 1 \mum y 50 \mum.
5. Utilización según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, caracterizada porque la primera pieza en forma de espiral (20) comprende por lo menos 3 vueltas del devanado.
6. Utilización según la reivindicación 5, caracterizada porque la primera pieza en forma de espiral (20) comprende de 4 a 10 vueltas del devanado.
7. Utilización según cualquiera de las reivindicaciones anteriores, en la que el componente de medición comprende un elemento de soporte eléctricamente aislante (22), en el que dicha primera pieza en forma de espiral (20) está colocada en un lado (30) del elemento de soporte (22).
8. Utilización según la reivindicación 7, caracterizada porque la bobina comprende asimismo una segunda pieza en forma de espiral (21), en la que la segunda pieza en forma de espiral (21) está colocada en el otro lado (32) de dicho elemento de soporte (22).
9. Utilización según la reivindicación 8, caracterizada porque la segunda pieza en forma de espiral (21) está desplazada con relación a la primera pieza en forma de espiral (20) de tal forma que el material eléctricamente conductor de la segunda pieza en forma de espiral (21) no está colocada exactamente opuesta al material eléctricamente conductor de la primera pieza en forma de espiral (20).
10. Utilización según cualquiera de las reivindicaciones 8 y 9, caracterizada porque la primera pieza en forma de espiral (20) está eléctricamente conectada a la segunda pieza en forma de espiral (21).
11. Utilización según cualquiera de las reivindicaciones 7 a 10, caracterizada porque presenta unas secciones de contacto (24, 26, 34, 36) colocadas en el elemento de soporte (22) y conectadas a la pieza o las piezas en forma de espiral (20, 21) colocadas sobre el elemento de soporte.
12. Utilización según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 11, en la que el parámetro o los parámetros los cuales son determinados a través del procedimiento de medición comprenden el espesor de por lo menos una de las capas.
13. Utilización según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 11, en la que el parámetro o los parámetros los cuales son determinados a través del procedimiento de medición comprenden el contenido de hidruro en el sustrato y/o en cualquiera de las capas.
14. Utilización según cualquiera de las reivindicaciones 12 ó 13, en la que el objeto de la medición comprende un elemento estructural en un reactor nuclear, en el que dicho sustrato constituye el propio material para el elemento estructural, constituyendo dichas capas una capa de óxido en el elemento estructural y una capa de impurezas sobre la capa de óxido.
15. Utilización según cualquiera de las reivindicaciones 1 a 11, en la que a través del procedimiento de medición se verifica la condición de por lo menos una capa funcional o de las capas funcionales con relación por ejemplo al desgaste o la corrosión.
16. Utilización según la reivindicación 15, en el que el objeto de la medición comprende un elemento estructural en un reactor nuclear, en el que dicho sustrato constituye el propio material para el elemento estructural y dicha una o más capas funcionales constituyen una o más capas protectoras sobre dicho sustrato.
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