EA031911B1 - Дисплейное устройство и способ восстановления его испытательной линии - Google Patents

Дисплейное устройство и способ восстановления его испытательной линии Download PDF

Info

Publication number
EA031911B1
EA031911B1 EA201690996A EA201690996A EA031911B1 EA 031911 B1 EA031911 B1 EA 031911B1 EA 201690996 A EA201690996 A EA 201690996A EA 201690996 A EA201690996 A EA 201690996A EA 031911 B1 EA031911 B1 EA 031911B1
Authority
EA
Eurasian Patent Office
Prior art keywords
segment
line
display device
film transistor
tft
Prior art date
Application number
EA201690996A
Other languages
English (en)
Other versions
EA201690996A1 (ru
Inventor
Пэн Ду
Минхун Ши
Original Assignee
Шэньчжэнь Чайна Стар Оптоэлектроникс Текнолоджи Ко., Лтд.
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Шэньчжэнь Чайна Стар Оптоэлектроникс Текнолоджи Ко., Лтд. filed Critical Шэньчжэнь Чайна Стар Оптоэлектроникс Текнолоджи Ко., Лтд.
Publication of EA201690996A1 publication Critical patent/EA201690996A1/ru
Publication of EA031911B1 publication Critical patent/EA031911B1/ru

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/20—Sequence of activities consisting of a plurality of measurements, corrections, marking or sorting steps
    • H01L22/22—Connection or disconnection of sub-entities or redundant parts of a device in response to a measurement
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L22/00—Testing or measuring during manufacture or treatment; Reliability measurements, i.e. testing of parts without further processing to modify the parts as such; Structural arrangements therefor
    • H01L22/30—Structural arrangements specially adapted for testing or measuring during manufacture or treatment, or specially adapted for reliability measurements
    • H01L22/32—Additional lead-in metallisation on a device or substrate, e.g. additional pads or pad portions, lines in the scribe line, sacrificed conductors
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00—Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/48—Arrangements for conducting electric current to or from the solid state body in operation, e.g. leads, terminal arrangements ; Selection of materials therefor
    • H01L23/481—Internal lead connections, e.g. via connections, feedthrough structures
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/01—Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/42—Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L24/47—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L24/48—Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L24/00—Arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies; Methods or apparatus related thereto
    • H01L24/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L24/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/04—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body
    • H01L27/10—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration
    • H01L27/105—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being a semiconductor body including a plurality of individual components in a repetitive configuration including field-effect components
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/02—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers
    • H01L27/12—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body
    • H01L27/1214—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs
    • H01L27/124—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits
    • H01L27/1244—Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components specially adapted for rectifying, oscillating, amplifying or switching and having potential barriers; including integrated passive circuit elements having potential barriers the substrate being other than a semiconductor body, e.g. an insulating body comprising a plurality of TFTs formed on a non-semiconducting substrate, e.g. driving circuits for AMLCDs with a particular composition, shape or layout of the wiring layers specially adapted to the circuit arrangement, e.g. scanning lines in LCD pixel circuits for preventing breakage, peeling or short circuiting
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
    • H10K59/80—Constructional details
    • H10K59/88—Dummy elements, i.e. elements having non-functional features
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/08—Fault-tolerant or redundant circuits, or circuits in which repair of defects is prepared
    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G2330/00—Aspects of power supply; Aspects of display protection and defect management
    • G09G2330/10—Dealing with defective pixels
    • H—ELECTRICITY
    • H01—ELECTRIC ELEMENTS
    • H01L—SEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00—Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/80—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected
    • H01L2224/83—Methods for connecting semiconductor or other solid state bodies using means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected using a layer connector
    • H01L2224/8319—Arrangement of the layer connectors prior to mounting
    • H01L2224/83191—Arrangement of the layer connectors prior to mounting wherein the layer connectors are disposed only on the semiconductor or solid-state body

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Control Of Indicators Other Than Cathode Ray Tubes (AREA)
  • Liquid Crystal Display Device Control (AREA)

Abstract

В описании представлено дисплейное устройство и способ восстановления его испытательной линии, при этом способ включает этапы разрыва соединения между первым входным концом первого тонкопленочного транзистора (TFT), первым выходным концом и испытательной линией для входного сигнала и соединения первой вспомогательной линии и испытательной линии для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки. Отношение ширины к длине в дисплейном устройстве согласно настоящему изобретению будет неизменным, и в испытании при включении света не произойдет неисправность дисплея.

Description

Область техники, к которой относится изобретение
Настоящее изобретение относится к области технологии дисплеев с плоским экраном и, в частности, относится к дисплейному устройству и к способу восстановления его испытательной линии.
Предпосылки изобретения
В нижеследующем описании, в общем, проиллюстрирована традиционная методика испытания дисплейных панелей. Как показано на фиг. 1, тонкопленочный транзистор (TFT) 100 выполнен в качестве переключателя. Сток 102 TFT 100 соединен с генератором испытательного сигнала, исток 103 TFT 100 соединен с дисплейной панелью, а затвор 101 TFT 100 соединен с генератором управляющего сигнала.
В ходе процедуры испытания генератор управляющего сигнала выводит сигнал с высоким уровнем напряжения на затвор 101, включая переключатель 100, и исток 103 и сток 102 являются проводящими. После осуществления процедуры испытания генератор управляющего сигнала выводит сигнал с низким уровнем напряжения на затвор 101, выключая переключатель 100 и отключая соединение между истоком 103 и стоком 102.
В ходе производственного процесса по причине существования частиц между истоком 103 и стоком 102 в TFT 100 может произойти короткое замыкание. Например, как показано на фиг. 2, короткое замыкание произошло в области 104. Как и в вышеупомянутом техническом состоянии, традиционный способ восстановления заключается в резке посредством лазера в положении 105 отключения. Однако на практике в традиционных методиках имеется несколько проблем. Например,
1) если короткое замыкание не собираются восстанавливать или если для восстановления короткого замыкания используется традиционный способ, но изменяется отношение ширины к длине TFT 100, испытание дисплейной панели при включении света будет показывать неисправный дисплей, так как возникла разность сопротивлений линий или дефект линий, вызывающий обнаружение ошибки, что вызывает излишние затраты и потери;
2) если процедуру устранения выполняют в дисплейной панели типа PSVA и короткое замыкание произошло между истоком 103 и стоком 102 в TFT 100, то имеется постоянная неисправность линии в дисплейной панели, если она не восстановлена, или если для восстановления выполняют традиционный способ.
Поэтому для решения вышеупомянутых проблем необходимо создать новаторское техническое решение.
Сущность изобретения
Одной из целей настоящего изобретения является предоставление дисплейного устройства и способа восстановления его испытательной линии, при этом отношение ширины к длине будет неизменным во избежание неисправного дисплея в ходе испытания при включении света.
С целью решения вышеописанной технической проблемы в настоящем изобретении предусмотрено следующее техническое решение.
Дисплейное устройство содержит дисплейную панель, содержащую матрицу первых тонкопленочных транзисторов (TFT), содержащую по меньшей мере один первый TFT; матрицу вторых TFT, содержащую по меньшей мере один второй TFT; и по меньшей мере одну первую вспомогательную линию, при этом первый TFT примыкает ко второму TFT, а второй TFT соединен с испытательной линией для входного сигнала и с первой вспомогательной линией; при этом если в первом TFT произошло короткое замыкание, первое соединение между первым входным концом первого TFT и первой вспомогательной линией разрывают с помощью способа лазерной резки, второе соединение между первым входным концом первого TFT и испытательной линией для выходного сигнала разрывают с помощью способа лазерной резки, и первая вспомогательная линия соединяется с испытательной линией для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки; при этом дисплейная панель дополнительно содержит матрицу линий управляющего сигнала, содержащую по меньшей мере одну линию управляющего сигнала, при этом первый управляющий конец первого TFT соединен со вторым управляющим концом второго TFT и с линией управляющего сигнала, при этом если в первом TFT произошло короткое замыкание, управляющий сигнал из линии управляющего сигнала принимает второй управляющий конец; при этом первый выходной конец представляет собой сток или исток первого TFT, когда первый входной конец представляет собой исток или сток первого TFT.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве второй управляющий конец выполнен для включения и выключения переключателя, соответствующего второму TFT, в соответствии с управляющим сигналом.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве второй входной конец второго TFT соединен с испытательной линией для входного сигнала, а второй выходной конец второго TFT соединен с первой вспомогательной линией.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве первая вспомогательная линия содержит первый отрезок, второй отрезок и третий отрезок; при этом второй отрезок расположен между первым отрезком и третьим отрезком, и второй отрезок соединен со вторым выходным концом. Если в первом TFT произошло короткое замыкание, второй отрезок соединяется с испытательной линией для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки, третье соединение между первым отрезком и третьим отрезком разрывают с помощью способа лазерной резки, и четвертое соединение между третьим отрезком и вто- 1 031911 рым отрезком разрывают с помощью способа лазерной резки.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве первая вспомогательная линия имеет первый конец и второй конец, при этом первый конец соединен со вторым выходным концом, и второй конец расположен с другой стороны испытательной линии для выходного сигнала, противоположной первому концу. Если в первом TFT произошло короткое замыкание, первая вспомогательная линия соединяется с испытательной линией для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве дисплейное устройство дополнительно содержит по меньшей мере одну вторую вспомогательную линию, содержащую четвертый отрезок, пятый отрезок и шестой отрезок; при этом пятый отрезок расположен между четвертым отрезком и шестым отрезком, и пятый отрезок соединен со вторым входным концом. Если в первом TFT произошло короткое замыкание, пятый отрезок соединяется с испытательной линией для входного сигнала с помощью способа лазерной сварки, пятое соединение между четвертым отрезком и пятым отрезком разрывают с помощью способа лазерной резки и шестое соединение между шестым отрезком и пятым отрезком разрывают с помощью способа лазерной резки.
Дисплейное устройство содержит дисплейную панель, содержащую матрицу первых тонкопленочных транзисторов (TFT), содержащую по меньшей мере один первый TFT; матрицу вторых TFT, содержащую по меньшей мере один второй TFT; и по меньшей мере одну первую вспомогательную линию, при этом первый TFT примыкает ко второму TFT, а второй TFT соединен с испытательной линией для входного сигнала и с первой вспомогательной линией. Если в первом TFT произошло короткое замыкание, первое соединение между первым входным концом первого TFT и первой вспомогательной линией разрывают с помощью способа лазерной резки, второе соединение между первым входным концом первого TFT и испытательной линией для выходного сигнала разрывают с помощью способа лазерной резки и первая вспомогательная линия соединяется с испытательной линией для выходного испытательного сигнала с помощью способа лазерной сварки.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве дисплейная панель дополнительно содержит матрицу линий управляющего сигнала, содержащую по меньшей мере одну линию управляющего сигнала; при этом первый управляющий конец первого TFT соединен со вторым управляющим концом второго TFT и с линией управляющего сигнала, при этом если в первом TFT произошло короткое замыкание, управляющий сигнал принимает второй управляющий конец из линии управляющего сигнала.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве второй управляющий конец выполнен для включения и выключения переключателя, соответствующего второму TFT, в соответствии с управляющим сигналом.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве второй входной конец второго TFT соединен с входной линией испытательного сигнала, а второй выходной конец второго TFT соединен с первой вспомогательной линией.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве первая вспомогательная линия содержит первый отрезок, второй отрезок и третий отрезок; при этом второй отрезок расположен между первым отрезком и третьим отрезком, и второй отрезок соединен со вторым выходным концом. Если в первом TFT произошло короткое замыкание, второй отрезок соединяется с испытательной линией для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки, третье соединение между первым отрезком и третьим отрезком разрывают с помощью способа лазерной резки и четвертое соединение между третьим отрезком и вторым отрезком разрывают с помощью способа лазерной резки.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве первая вспомогательная линия содержит первый отрезок и второй отрезок, при этом первый конец соединен со вторым выходным концом, а второй конец расположен с другой стороны испытательной линии для выходного сигнала, противоположной первому концу. Если в первом TFT произошло короткое замыкание, первая вспомогательная линия соединяется с испытательной линией для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве дисплейное устройство дополнительно содержит по меньшей мере одну вторую вспомогательную линию, содержащую четвертый отрезок, пятый отрезок и шестой отрезок; при этом пятый отрезок расположен между четвертым отрезком и шестым отрезком, и пятый отрезок соединен со вторым входным концом. Если в первом TFT произошло короткое замыкание, пятый отрезок соединяется с испытательной линией для входного сигнала с помощью способа лазерной сварки, пятое соединение между четвертым отрезком и пятым отрезком разрывают с помощью способа лазерной резки и шестое соединение между шестым отрезком и пятым отрезком разрывают с помощью способа лазерной резки.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве первый выходной конец представляет собой сток или исток первого TFT, когда первый входной конец представляет собой исток или сток первого TFT.
Способ восстановления испытательной линии дисплейного устройства включает
A) резку первого соединения и второго соединения с помощью способа лазерной резки, при этом первое соединение имеет место между первым входным концом первого TFT и испытательной линией для входного сигнала, второе соединение имеет место между первым выходным концом первого TFT и испытательной линией для выходного сигнала; и
B) соединение первой вспомогательной линии с испытательной линией для выходного сигнала с
- 2 031911 помощью способа лазерной сварки в дисплейном устройстве, при этом второй входной конец второго
TFT в дисплейном устройстве соединен с испытательной линией для входного сигнала, а второй выходной конец второго TFT соединен с первой вспомогательной линией.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве этап B включает
B1) соединение второго отрезка первой вспомогательной линии с испытательной линией для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки; при этом способ дополнительно включает
C) разрыв третьего соединения и четвертого соединения с помощью способа лазерной резки, при этом третье соединение имеет место между первым отрезком и вторым отрезком первой вспомогательной линии, а четвертое соединение имеет место между третьим отрезком и вторым отрезком первой вспомогательной линии; при этом второй выходной конец соединен со вторым отрезком, а второй отрезок расположен между первым отрезком и третьим отрезком.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве способ дополнительно включает
D) соединение первой вспомогательной линии с испытательной линией для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки; при этом первая вспомогательная линия содержит первый конец и второй конец, при этом первый конец соединен со вторым выходным концом, а второй конец расположен с другой стороны испытательной линии для выходного сигнала, противоположной первому концу.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве способ дополнительно включает
E) разрыв пятого соединения и шестого соединения с помощью способа лазерной резки, при этом пятое соединение имеет место между четвертым отрезком и пятым отрезком второй вспомогательной линии, а шестое соединение имеет место между шестым отрезком и пятым отрезком второй вспомогательной линии в дисплейном устройстве;
F) соединение пятого отрезка с испытательной линией для входного сигнала с помощью способа лазерной сварки; при этом пятый отрезок имеет место между четвертым отрезком и шестым отрезком, и пятый отрезок соединен со вторым входным концом.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве первый выходной конец представляет собой сток или исток первого TFT, когда первый входной конец представляет собой исток или сток первого TFT.
В вышеупомянутом дисплейном устройстве способ дополнительно включает
G) прием управляющего сигнала вторым управляющим концом второго TFT из линии управляющего сигнала в дисплейном устройстве для включения или выключения переключателя, соответствующего второму TFT.
Преимуществом настоящего изобретения является то, что отношение ширины к длине дисплейного устройства не будет изменяться, в испытании при включении света не будет возникать неисправность дисплея и не будет происходить обнаружение ошибки. В ходе процесса устранения исправляется неисправность линий в дисплейной панели и увеличивается производительность дисплейной панели.
Описание графических материалов
Фиг. 1 - вид традиционного технического способа для испытания дисплейной панели;
фиг. 2 - вид способа восстановления, если произошло короткое замыкание в тонкопленочном транзисторе по фиг. 1;
фиг. 3A - вид дисплейного устройства согласно первому варианту осуществления настоящего изобретения;
фиг. 3B - вид способа восстановления для дисплейного устройства по фиг. 3A;
фиг. 4A - вид дисплейного устройства согласно второму варианту осуществления настоящего изобретения;
фиг. 4B - вид способа восстановления для дисплейного устройства по фиг. 4A;
фиг. 5A - вид дисплейного устройства согласно третьему варианту осуществления настоящего изобретения и фиг. 5B - вид способа восстановления для дисплейного устройства по фиг. 5A.
Подробное описание предпочтительных вариантов осуществления
Вышеупомянутое описание настоящего изобретения можно лучше понять, обратившись к нижеследующему подробному описанию предпочтительных вариантов осуществления и к сопроводительным графическим материалам.
В графических материалах компоненты с аналогичной конструкцией представлены одним и тем же обозначением.
Фиг. 3A представляет собой вид дисплейного устройства согласно первому варианту осуществления настоящего изобретения. Фиг. 3B представляет собой вид способа восстановления для дисплейного устройства по фиг. 3A. Точки на фиг. 3B представляют собой положения лазерной сварки, а кресты х на фиг. 3B представляют собой положения лазерной резки.
Дисплейное устройство согласно настоящему варианту осуществления содержит дисплейную панель 300. Дисплейная панель 300 содержит матрицу первых тонкопленочных транзисторов (TFT), матрицу вторых TFT и по меньшей мере одну первую вспомогательную линию 306. Матрица первых TFT содержит по меньшей мере один TFT 303, а матрица вторых TFT содержит по меньшей мере один TFT 304. Второй TFT 304 представляет собой запасной TFT для первого TFT 303, и второй TFT 304 сконфи- 3 031911 гурирован для восстановления дисплейного устройства/дисплейной панели 300, если в первом TFT 303 произошло короткое замыкание.
Первый TFT 303 примыкает ко второму TFT 304, а второй TFT 304 соединен с испытательной линией 301 для входного сигнала и с первой вспомогательной линией 306.
Если в первом TFT 303 произошло короткое замыкание, первое соединение между первым входным концом первого TFT 303 и испытательной линией 301 для входного сигнала разрывают с помощью способа лазерной резки. Второе соединение между первым выходным концом первого TFT 303 и испытательной линией 307 для выходного сигнала разрывают с помощью способа лазерной резки. Первая вспомогательная линия 306 соединяется с испытательной линией 307 для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки. Первый входной конец представляет собой исток/сток первого TFT 303 и, соответственно, первый выходной конец представляет собой сток/исток первого TFT303.
Дисплейная панель 300 дополнительно содержит матрицу линий управляющего сигнала, и эта матрица линий управляющего сигнала содержит по меньшей мере одну линию 302 управляющего сигнала.
Первый управляющий конец первого TFT 303 и второй управляющий конец второго TFT 304 соединены с линией 302 управляющего сигнала. Если в первом TFT 303 произошло короткое замыкание, второй управляющий конец сконфигурирован для приема управляющего сигнала из линии 302 управляющего сигнала и для включения или выключения переключателя, соответствующего TFT 304, в соответствии с управляющим сигналом. Второй входной конец второго TFT 304 соединен с испытательной линией 301 для входного сигнала, а второй выходной конец второго TFT 304 соединен с первой вспомогательной линией 306.
В настоящем варианте осуществления первая вспомогательная линия 306 содержит первый отрезок 3061, второй отрезок 3062 и третий отрезок 3063. Второй отрезок 3062 расположен между первым отрезком 3061 и третьим отрезком 3063. Кроме того, второй отрезок 3062 соединен со вторым выходным концом.
Если в первом TFT 303 произошло короткое замыкание, второй отрезок 3062 соединяется с испытательной линией 307 для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки. Третье соединение между первым отрезком 3061 и вторым отрезком 3062 разрывают с помощью способа лазерной резки. Четвертое соединение между третьим отрезком 3063 и вторым отрезком 3062 разрывают с помощью способа лазерной резки.
В настоящем варианте осуществления способ восстановления дисплейного устройства заключается в разрыве соединения (первого соединения и второго соединения) между поврежденным TFT (таким как первый TFT 303 с коротким замыканием) и испытательной 301 для входного сигнала и линией передачи данных/затворной шиной (соответствующей испытательной линии 307 для выходного сигнала). Испытательный сигнал в линии 301 для входного сигнала может передавать испытательный сигнал из запасного TFT (второго TFT 304) в область дисплея в пределах дисплейной панели. Впоследствии первая вспомогательная линия отключается. Путь передачи испытательного сигнала после восстановления показан стрелками на фиг. 3B.
Способ восстановления дисплейного устройства согласно настоящему варианту осуществления требует четырехкратной процедуры лазерной резки и однократной лазерной сварки.
Фиг. 4A представляет собой вид дисплейного устройства согласно второму варианту осуществления настоящего изобретения. Фиг. 4B представляет собой вид способа восстановления для дисплейного устройства по фиг. 4A. Настоящий вариант осуществления изобретения аналогичен первому варианту осуществления, а разница между ними проиллюстрирована в нижеследующем описании.
В настоящем варианте осуществления первая вспомогательная линия 306 содержит первый конец и второй конец. Первый конец соединен со вторым концом, а второй конец расположен с другой стороны испытательной линии 307 для выходного сигнала, противоположной первому концу.
Если в первом TFT 303 происходит короткое замыкание, первая вспомогательная линия 306 соединяется с испытательной линией 307 для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки.
Способ испытания дисплейного устройства согласно настоящему варианту осуществления требует двукратной процедуры лазерной резки и однократной лазерной сварки.
Фиг. 5A представляет собой вид дисплейного устройства согласно третьему варианту осуществления настоящего изобретения. Фиг. 5B представляет собой вид способа восстановления для дисплейного устройства по фиг. 5A. Настоящий вариант осуществления аналогичен первому или второму варианту осуществления, а разница между ними проиллюстрирована в нижеследующем описании.
В настоящем варианте осуществления дисплейная панель 300 дополнительно содержит по меньшей мере одну вторую вспомогательную линию 305, при этом вторая вспомогательная линия 305 содержит четвертый отрезок 3051, пятый отрезок 3052 и шестой отрезок 3053. Пятый отрезок 3052 расположен между четвертым отрезком 3051 и шестым отрезком 3053, и пятый отрезок 3052 соединен со вторым входным концом.
Если в первом TFT 303 происходит короткое замыкание, пятый отрезок 3052 соединяется с испытательной линией 301 для входного сигнала с помощью способа лазерной сварки, и пятое соединение между четвертым отрезком 3051 и пятым отрезком 3052 разрывают с помощью способа лазерной резки. Ше- 4 031911 стое соединение между шестым отрезком 3053 и пятым отрезком 3052 разрывают с помощью способа лазерной резки.
Способ восстановления дисплейного устройства согласно настоящему варианту осуществления требует шестикратной процедуры лазерной резки и двукратной лазерной сварки.
В любом из вышеупомянутых вариантов осуществления (первом варианте осуществления, втором варианте осуществления или третьем варианте осуществления) второй TFT 304 предпочтительно аналогичен первому TFT 303. Например, размер и свойства второго TFT 304 аналогичны или по большей части аналогичны первому TFT 303. Поэтому после использования вышеупомянутого технического способа для восстановления дисплейного устройства сопротивление всех линий дисплейного устройства будет неизменным.
В любом из вышеупомянутых вариантов осуществления поскольку TFT 304 (запасной TFT) выполнен для восстановления дисплейного устройства, отношение ширины к длине дисплейного устройства не будет изменяться, в испытании при включении света не будет возникать неисправность дисплея и не будет происходить обнаружение ошибки. В ходе процесса устранения исправляется неисправность линий дисплейной панели 300 и увеличивается производительность дисплейной панели 300.
Фиг. 3A представляет собой вид дисплейного устройства согласно первому варианту осуществления настоящего изобретения. Фиг. 3B представляет собой вид способа восстановления для дисплейного устройства по фиг. 3A. Точки на фиг. 3B представляют собой положения лазерной сварки, а кресты х на фиг. 3B представляют собой положения лазерной резки.
A. Первое соединение и второе соединение разрывают с помощью способа лазерной резки. Первое соединение имеет место между первым входным концом первого TFT 303 и испытательной линией 301 для входного сигнала, а второе соединение имеет место между первым входным концом первого TFT 303 и испытательной линией 307 для выходного сигнала.
B. Первая вспомогательная линия 306 соединяется с испытательной линией 307 для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки в дисплейном устройстве. Второй входной конец второго TFT в дисплейном устройстве соединен с испытательной линией 301 для входного сигнала, а второй входной конец второго TFT 304 соединен с первой вспомогательной линией 306.
В настоящем варианте осуществления этап В включает
B1) соединение второго отрезка 3062 первой вспомогательной линии 306 с испытательной линией 307 для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки.
В настоящем варианте осуществления способ дополнительно включает
C) разрыв третьего соединения и четвертого соединения с помощью способа лазерной резки. Третье соединение имеет место между первым отрезком 3061 и вторым отрезком 3062 первой вспомогательной линии 306, а четвертое соединение имеет место между третьим отрезком 3063 и вторым отрезком 3062 первой вспомогательной линии 306.
Второй выходной конец соединен со вторым отрезком 3062, а второй отрезок 3062 расположен между первым отрезком 3061 и третьим отрезком 3063. Второй входной конец второго TFT 304 соединен с испытательной линией 301 для входного сигнала, а второй выходной конец второго TFT 304 посредством второго отрезка 3062 соединен с первой вспомогательной линией 306. Первый выходной конец представляет собой сток или исток первого TFT 303, когда первый входной конец представляет собой исток или сток первого TFT 303.
В настоящем варианте осуществления, если в первом TFT 303 произошло короткое замыкание, второй управляющий конец второго TFT 304 принимает управляющий сигнал из линии 302 управляющего сигнала дисплейного устройства и включает или выключает переключатель, соответствующий второму TFT 304 в соответствии с управляющим сигналом.
В настоящем варианте осуществления TFT 304 представляет собой запасной TFT для первого TFT 303, и второй TFT 304 выполнен для восстановления дисплейного устройства/дисплейной панели 300, когда в первом TFT 303 происходит короткое замыкание.
В настоящем варианте осуществления способ восстановления дисплейного устройства заключается в отключении поврежденного TFT (такого как первый TFT 303 с коротким замыканием), испытательной линии 301 для сигнала и линии передачи данных/затворной шины (соответствующей выходной линии 307 испытательного сигнала). Испытательный сигнал в испытательной линии 301 для сигнала может передаваться из запасного TFT (второго TFT 304) в область дисплея в пределах дисплейной панели. Затем первая вспомогательная линия отключается. Путь передачи испытательного сигнала после восстановления показан стрелками на фиг. 3B.
Способ восстановления дисплейного устройства согласно настоящему варианту осуществления четырехкратной процедуры лазерной резки и однократной лазерной сварки.
В настоящем варианте осуществления последовательность исполнения этапов в данном описании не ограничена. Иными словами, вышеупомянутые этапы можно исполнять в любой последовательности.
Фиг. 4A и 4B представляют собой виды дисплейного устройства во втором варианте осуществления настоящего изобретения. Настоящий вариант осуществления аналогичен первому варианту осуществления, а разница между ними проиллюстрирована в нижеследующем описании.
- 5 031911
В настоящем варианте осуществления способ дополнительно включает
D) соединение первой вспомогательной линии 306 с испытательной линией 307 для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки.
Первая вспомогательная линия 306 содержит первый конец и второй конец, при этом первый конец соединен со вторым выходным концом, а второй конец расположен с другой стороны испытательной линии 307 для выходного сигнала, противоположной первому концу.
Способ восстановления дисплейного устройства согласно настоящему варианту осуществления требует двукратной процедуры лазерной резки и однократной лазерной сварки.
В настоящем варианте осуществления последовательность исполнения этапов в данном описании не ограничена. Иными словами, вышеупомянутые этапы можно исполнять в любой последовательности.
Фиг. 5A и 5B представляют собой виды дисплейного устройства согласно третьему варианту осуществления настоящего изобретения. Настоящий вариант осуществления аналогичен первому или второму варианту осуществления, а разница между ними проиллюстрирована в нижеследующем описании.
В настоящем варианте осуществления способ дополнительно включает
E) разрыв пятого соединения и шестого соединения с помощью способа лазерной резки. Пятое соединение имеет место между четвертым отрезком 3051 и пятым отрезком 3052 второй вспомогательной линии 305, а шестое соединение имеет место между шестым отрезком 3053 и пятым отрезком 3052 второй вспомогательной линии 305 в дисплейном устройстве;
F) соединение пятого отрезка 3052 с испытательной линией 301 для входного сигнала с помощью способа лазерной сварки.
Пятый отрезок имеет место между четвертым отрезком и шестым отрезком, и пятый отрезок соединен со вторым входным концом.
Способ восстановления дисплейного устройства согласно настоящему изобретению требует шестикратной процедуры лазерной резки и двукратной лазерной сварки.
В настоящем варианте осуществления последовательность исполнения этапов в данном описании не ограничена. Иными словами, вышеупомянутые этапы можно исполнять в любой последовательности.
В любом из вышеупомянутых вариантов осуществления (первом варианте осуществления, втором варианте осуществления или третьем варианте осуществления) второй TFT 304 предпочтительно аналогичен первому TFT 303. Например, размер и свойства второго TFT 304 являются аналогичными или по большей части аналогичными первому TFT 303. Поэтому после того как вышеупомянутый технический способ используют для восстановления дисплейного устройства, сопротивление всех линий в дисплейном устройстве будет неизменным.
В любом из вышеупомянутых вариантов осуществления, так как второй TFT 304 (или запасной TFT) выполняют для восстановления дисплейного устройства, отношение ширины к длине дисплейного устройства не будет изменяться, в испытании при включении света не будет возникать неисправность дисплея, и не будет происходить обнаружение ошибки. В ходе процесса устранения исправляется неисправность линий дисплейной панели 300 и увеличивается производительность дисплейной панели 300.
Как описано выше, настоящее изобретение было описано посредством предпочтительных вариантов его осуществления, и понятно, что можно осуществить множество изменений и модификаций без отступления от объема и характера изобретения, которые, как предполагается, ограничены лишь прилагаемой формулой изобретения.

Claims (12)

  1. ФОРМУЛА ИЗОБРЕТЕНИЯ
    1. Дисплейное устройство, содержащее дисплейную панель, содержащую матрицу первых тонкопленочных транзисторов (TFT), содержащую по меньшей мере один первый тонкопленочный транзистор;
    матрицу вторых тонкопленочных транзисторов, содержащую по меньшей мере один второй тонкопленочный транзистор; и по меньшей мере одну первую вспомогательную линию, при этом первый тонкопленочный транзистор примыкает ко второму тонкопленочному транзистору, а второй тонкопленочный транзистор соединен с испытательной линией для входного сигнала и с первой вспомогательной линией;
    при этом если в первом тонкопленочном транзисторе произошло короткое замыкание, первое соединение между первым входным концом первого тонкопленочного транзистора и первой вспомогательной линией выполнено с возможностью его разрыва с помощью способа лазерной резки, второе соединение между первым входным концом первого тонкопленочного транзистора и испытательной линией для выходного сигнала выполнено с возможностью его разрыва с помощью способа лазерной резки и первая вспомогательная линия выполнена с возможностью соединения с испытательной линией для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки.
  2. 2. Дисплейное устройство по п.1, отличающееся тем, что дисплейная панель дополнительно содер
    - 6 031911 жит матрицу линий управляющего сигнала, содержащую по меньшей мере одну линию управляющего сигнала; и при этом первый управляющий конец первого тонкопленочного транзистора соединен со вторым управляющим концом второго тонкопленочного транзистора и с линией управляющего сигнала, при этом если в первом тонкопленочном транзисторе произошло короткое замыкание, второй тонкопленочный транзистор выполнен с возможностью приема управляющего сигнала из линии управляющего сигнала.
  3. 3. Дисплейное устройство по п.2, отличающееся тем, что второй управляющий транзистор подключен к линии управляющего сигнала с возможностью переключения в соответствии с управляющим сигналом.
  4. 4. Дисплейное устройство по п.2, отличающееся тем, что второй входной конец второго тонкопленочного транзистора соединен с испытательной линией для входного сигнала, а второй выходной конец второго тонкопленочного транзистора соединен с первой вспомогательной линией.
  5. 5. Дисплейное устройство по п.4, отличающееся тем, что первая вспомогательная линия содержит первый отрезок, второй отрезок и третий отрезок; и при этом второй отрезок расположен между первым отрезком и третьим отрезком, и второй отрезок соединен со вторым выходным концом;
    при этом если в первом тонкопленочном транзисторе произошло короткое замыкание, второй отрезок соединяется с испытательной линией для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки, третье соединение между первым отрезком и третьим отрезком разрывают с помощью способа лазерной резки и четвертое соединение между третьим отрезком и вторым отрезком разрывают с помощью способа лазерной резки.
  6. 6. Дисплейное устройство по п.4, отличающееся тем, что первая вспомогательная линия содержит первый конец и второй конец, при этом первый конец соединен со вторым выходным концом, а второй конец расположен с другой стороны испытательной линии для выходного сигнала, противоположной первому концу;
    при этом если в первом тонкопленочном транзисторе произошло короткое замыкание, первая вспомогательная линия соединяется с испытательной линией для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки.
  7. 7. Дисплейное устройство по п.4, отличающееся тем, что дисплейное устройство дополнительно содержит по меньшей мере одну вторую вспомогательную линию, содержащую четвертый отрезок, пятый отрезок и шестой отрезок;
    при этом пятый отрезок расположен между четвертым отрезком и шестым отрезком, и пятый отрезок соединен со вторым входным концом;
    при этом если в первом тонкопленочном транзисторе произошло короткое замыкание, пятый отрезок соединяется с испытательной линией для входного сигнала с помощью способа лазерной сварки, пятое соединение между четвертым отрезком и пятым отрезком разрывают с помощью способа лазерной резки и шестое соединение между шестым отрезком и пятым отрезком разрывают с помощью способа лазерной резки.
  8. 8. Способ восстановления испытательной линии в соответствии с дисплейным устройством по п.1, включающий:
    A) резку первого соединения и второго соединения с помощью способа лазерной резки, при этом первое соединение имеет место между первым входным концом первого тонкопленочного транзистора и испытательной линией для входного сигнала, а второе соединение имеет место между первым выходным концом первого тонкопленочного транзистора и испытательной линией для выходного сигнала;
    B) соединение первой вспомогательной линии с испытательной линией для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки в дисплейном устройстве, при этом второй входной конец второго тонкопленочного транзистора в дисплейном устройстве соединен с испытательной линией для входного сигнала, а второй выходной конец второго тонкопленочного транзистора соединен с первой вспомогательной линией.
  9. 9. Способ восстановления испытательной линии дисплейного устройства по п.8, отличающийся тем, что этап B включает
    B1) соединение второго отрезка первой вспомогательной линии с испытательной линией для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки;
    при этом способ дополнительно включает
    C) разрыв третьего соединения и четвертого соединения с помощью способа лазерной резки, при этом третье соединение имеет место между первым отрезком и вторым отрезком первой вспомогательной линии, а четвертое соединение имеет место между третьим отрезком и вторым отрезком первой вспомогательной линии;
    при этом второй выходной конец соединен со вторым отрезком, а второй отрезок расположен между первым отрезком и третьим отрезком.
    - 7 031911
  10. 10. Способ восстановления испытательной линии дисплейного устройства по п.8, отличающийся тем, что способ дополнительно включает
    D) соединение первой вспомогательной линии с испытательной линией для выходного сигнала с помощью способа лазерной сварки;
    при этом первая вспомогательная линия содержит первый конец и второй конец, при этом первый конец соединен со вторым выходным концом, и второй конец расположен с другой стороны испытательной линии для выходного сигнала, противоположной первому концу.
  11. 11. Способ восстановления испытательной линии дисплейного устройства по п.8, отличающийся тем, что способ дополнительно включает
    E) разрыв пятого соединения и шестого соединения с помощью способа лазерной резки, при этом пятое соединение имеет место между четвертым отрезком и пятым отрезком второй вспомогательной линии, а шестое соединение имеет место между шестым отрезком и пятым отрезком второй вспомогательной линии в дисплейном устройстве;
    F) соединение пятого отрезка с испытательной линией для входного сигнала с помощью способа лазерной сварки;
    при этом пятый отрезок имеет место между четвертым отрезком и шестым отрезком, и пятый отрезок соединен со вторым входным концом.
  12. 12. Способ восстановления испытательной линии дисплейного устройства по п.8, отличающийся тем, что способ дополнительно включает
    G) прием управляющего сигнала вторым управляющим концом второго тонкопленочного транзистора из линии управляющего сигнала в дисплейном устройстве для переключения состояния второго тонкопленочного транзистора.
EA201690996A 2013-12-17 2013-12-30 Дисплейное устройство и способ восстановления его испытательной линии EA031911B1 (ru)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201310693323.9A CN103680370A (zh) 2013-12-17 2013-12-17 显示装置及其测试线路修复方法
PCT/CN2013/090821 WO2015089878A1 (zh) 2013-12-17 2013-12-30 显示装置及其测试线路修复方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
EA201690996A1 EA201690996A1 (ru) 2016-10-31
EA031911B1 true EA031911B1 (ru) 2019-03-29

Family

ID=50317762

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
EA201690996A EA031911B1 (ru) 2013-12-17 2013-12-30 Дисплейное устройство и способ восстановления его испытательной линии

Country Status (6)

Country Link
JP (1) JP2016538590A (ru)
KR (1) KR101894523B1 (ru)
CN (1) CN103680370A (ru)
EA (1) EA031911B1 (ru)
GB (1) GB2534317B (ru)
WO (1) WO2015089878A1 (ru)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US10565912B2 (en) 2017-11-06 2020-02-18 Wuhan China Star Optoelectronics Semiconductor Display Technology Co., Ltd. Electrical characteristics inspection method
CN107884693A (zh) * 2017-11-06 2018-04-06 武汉华星光电半导体显示技术有限公司 电气特性测试方法
CN109741699B (zh) * 2019-01-22 2022-03-08 Tcl华星光电技术有限公司 用于显示面板的检测设备
CN111798779B (zh) * 2019-07-26 2022-07-29 友达光电股份有限公司 用于可挠性显示面板的备用线路***及其自动切换方法
CN111203631A (zh) * 2020-03-12 2020-05-29 苏州晶振智能科技有限公司 一种显示屏智能检测激光修复方法
CN114360439B (zh) 2020-09-30 2022-12-20 荣耀终端有限公司 一种显示装置、驱动芯片及电子设备
CN112289836B (zh) * 2020-10-26 2023-05-02 武汉天马微电子有限公司 显示面板及显示装置
CN113516917B (zh) * 2021-05-26 2023-05-12 京东方科技集团股份有限公司 一种显示面板、显示装置及断线修复方法

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5102361A (en) * 1989-01-23 1992-04-07 Sharp Kabushiki Kaisha Method for the manufacture of active matrix display apparatuses
CN101059636A (zh) * 2006-04-21 2007-10-24 株式会社日立显示器 液晶显示装置
JP2007292878A (ja) * 2006-04-21 2007-11-08 Hitachi Displays Ltd 液晶表示装置及びその製造方法
CN101191964A (zh) * 2006-11-27 2008-06-04 中华映管股份有限公司 像素结构及其修补方法
CN101382709A (zh) * 2007-09-04 2009-03-11 上海广电Nec液晶显示器有限公司 一种液晶显示器薄膜晶体管结构
CN102692774A (zh) * 2012-05-23 2012-09-26 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板
CN103345093A (zh) * 2013-06-28 2013-10-09 京东方科技集团股份有限公司 像素单元、阵列基板及其制造、修复方法和显示装置

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2011096125A1 (ja) * 2010-02-08 2011-08-11 シャープ株式会社 表示装置

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5102361A (en) * 1989-01-23 1992-04-07 Sharp Kabushiki Kaisha Method for the manufacture of active matrix display apparatuses
CN101059636A (zh) * 2006-04-21 2007-10-24 株式会社日立显示器 液晶显示装置
JP2007292878A (ja) * 2006-04-21 2007-11-08 Hitachi Displays Ltd 液晶表示装置及びその製造方法
CN101191964A (zh) * 2006-11-27 2008-06-04 中华映管股份有限公司 像素结构及其修补方法
CN101382709A (zh) * 2007-09-04 2009-03-11 上海广电Nec液晶显示器有限公司 一种液晶显示器薄膜晶体管结构
CN102692774A (zh) * 2012-05-23 2012-09-26 深圳市华星光电技术有限公司 液晶显示面板
CN103345093A (zh) * 2013-06-28 2013-10-09 京东方科技集团股份有限公司 像素单元、阵列基板及其制造、修复方法和显示装置

Also Published As

Publication number Publication date
GB2534317A (en) 2016-07-20
JP2016538590A (ja) 2016-12-08
CN103680370A (zh) 2014-03-26
WO2015089878A1 (zh) 2015-06-25
EA201690996A1 (ru) 2016-10-31
KR20160060106A (ko) 2016-05-27
GB2534317B (en) 2020-12-09
KR101894523B1 (ko) 2018-09-04
GB201604875D0 (en) 2016-05-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EA031911B1 (ru) Дисплейное устройство и способ восстановления его испытательной линии
JP6977141B2 (ja) 表示パネルのテスト回路及び表示装置
US9810932B2 (en) Driver chip, driver board and test method thereof, and display device
WO2016019605A1 (zh) 液晶面板检测线路
CN105551423B (zh) 一种栅极集成驱动电路、阵列基板及其修复方法
CN101004498A (zh) 液晶显示器及其修复方法
WO2017041432A1 (zh) 阵列基板、显示装置以及用于阵列基板的故障修复的方法
WO2018171160A1 (zh) 快速放电电路、显示装置、快速放电方法和显示控制方法
US9947252B2 (en) Array substrate and detecting method therefore, display panel, and display device for improved detection rate and accuracy of an array test
TWI537916B (zh) 顯示裝置及其補救方法
TWI512380B (zh) 顯示裝置和其操作方法
WO2018152884A1 (zh) 一种测试阵列基板的栅极线的线路及方法
CN104407481A (zh) 阵列基板、信号线不良的检测方法、显示面板及显示装置
CN107147388B (zh) 一种低潜通cmos三态输出电路
US10275057B2 (en) Array substrate, display panel and method for detecting and restoring display panel
CN101458405B (zh) 液晶显示面板及其测试方法
CN104267329A (zh) 晶体管测试电路以及测试方法
WO2019219057A1 (zh) 显示基板及其修复方法、显示装置
US11132968B2 (en) Gate on array circuit and built-in touch display panel
CN108010490B (zh) 一种驱动电路
CN106908712B (zh) 一种应用于ic测试的高低温测试方法
US9000435B1 (en) Display device and testing line repairing method thereof
CN103579257B (zh) 阵列基板及其制作方法、显示装置
CN106093774A (zh) 一种开关检测电路
CN101718933B (zh) 一种液晶显示面板及其修补电路

Legal Events

Date Code Title Description
MM4A Lapse of a eurasian patent due to non-payment of renewal fees within the time limit in the following designated state(s)

Designated state(s): AM AZ BY KZ KG TJ TM