EA028468B1 - Способ определения оптических характеристик материалов на основе аномального преломления в рефракционных оптических элементах - Google Patents
Способ определения оптических характеристик материалов на основе аномального преломления в рефракционных оптических элементах Download PDFInfo
- Publication number
- EA028468B1 EA028468B1 EA201500151A EA201500151A EA028468B1 EA 028468 B1 EA028468 B1 EA 028468B1 EA 201500151 A EA201500151 A EA 201500151A EA 201500151 A EA201500151 A EA 201500151A EA 028468 B1 EA028468 B1 EA 028468B1
- Authority
- EA
- Eurasian Patent Office
- Prior art keywords
- refraction
- coordinate
- lens
- sensitive detector
- optical axis
- Prior art date
Links
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
Изобретение относится к области рентгенотехники и может быть использовано для контроля химического состава и структуры вещества. Техническим результатом, на получение которого направлено изобретение, является разработка устройства для контроля химического состава и характеристик веществ, находящихся в конденсированном состоянии, отличающегося простотой конструкции и интерпретации полученных результатов. Технический результат достигается тем, что располагают последовательно на одной оптической оси источник рентгеновского излучения, перестраиваемый монохроматор, обеспечивающий на выходе зондирующее рентгеновское излучение определенной энергии, образец из исследуемого вещества, выполненный в виде фокусирующего элемента, а также координатно-чувствительный детектор, обеспечивающий измерение диаметра сфокусированного линзой пучка.
Description
Изобретение относится к области рентгенотехники и может быть использовано для контроля химического состава и структуры вещества.
Известно устройство для определения характеристик объектов с рассеиванием (патент РФ № 2262673, опубликован 10.12.2004) в оптическом диапазоне, который заключается в подаче излучения на поверхность исследуемого объекта и регистрации излучения на выходе приемного световода. На поверхности объекта в зоне входного окна приемного световода формируют область частичного затемнения, обеспечивающую изменяющееся в пространстве распределение плотности мощности рассеянного излучения, попадающего во входное окно приемного световода, и регистрируют его, по которому судят о характеристиках изучаемого объекта.
Недостатком устройства является невозможность его использования для большинства веществ, находящихся в конденсированном состоянии, и для которых не может быть обеспечено прохождение значительной части зондирующего излучения через исследуемый объект в силу его непрозрачности для оптического излучения.
Известны устройства для контроля за составом и характеристиками вещества, использующие информацию о значениях показателя преломления вещества при разных значениях энергии зондирующего излучения - рефрактометры (Физическая энциклопедия. В 5 томах. - М.: Советская энциклопедия. 1988.). В частности, известен рентгеновский интерферометр (патент Японии 1Р 3715955, приоритет 2002.07.25, опубликован 2004.02.26) предназначенный для исследования характеристик вещества, в котором имеется источник рентгеновского излучения, перестраиваемый монохроматор и координатно-чувствительный детектор, и происходит разделение пучка от источника рентгеновского излучения с помощью дифракционной решетки, после чего пучки собираются с помощью зеркал в одну точку, где наблюдается интерференционная картина, при этом в один из пучков помещают исследуемый образец и по виду интерференционной картины определяют различные характеристики вещества исследуемого образца.
Недостатками известных устройств является сложность конструкции и анализа полученных результатов.
Техническим результатом, на получение которого направлено изобретение, является разработка устройства для контроля химического состава и характеристик веществ, находящихся в конденсированном состоянии, отличающегося простотой конструкции и интерпретации полученных результатов.
Технический результат достигается в изобретении тем, что располагают последовательно на одной оптической оси источник рентгеновского излучения, перестраиваемый монохроматор, обеспечивающий на выходе зондирующее рентгеновское излучение определенной энергии, образец из исследуемого вещества, выполненный в виде фокусирующего элемента, а также координатно-чувствительный детектор, обеспечивающий измерение диаметра сфокусированного линзой пучка.
Предпочтительно выполнение координатно-чувствительного детектора с возможностью перемещения вдоль оптической оси устройства с целью определения положения фокуса линзы для различных энергий зондирующего излучения.
Предпочтительно выполнение фокусирующего элемента в виде двояковогнутой линзы.
Предпочтительно выполнение двояковогнутой линзы диаметром 0,05-1 мм.
В одном из вариантов выполнения при фиксированном положении координатно-чувствительного детектора измеряется размер засвеченного пятна, которое пересчитывается в положение фокуса.
На фигуре показана схема устройства, где 1 - источник рентгеновского излучения, 2 - перестраиваемый монохроматор, 3 - исследуемый образец в виде фокусирующего элемента, 4 - фокальное пятно сформированное линзой, 5 - координатно-чувствительный детектор для определения положения фокуса.
Устройство работает следующим образом. Из полихроматического пучка, излучаемого источником рентгеновского излучения 1, монохроматор 2 выделяет излучение определенной энергии. Это излучение проходит через образец 3, выполненный в виде двояковогнутой фокусирующей линзы, расположенной на оси зондирующего пучка, и собирается этой линзой в фокальном пятне 4. Положение фокального пятна 4 определяется по минимальному размеру изображения источника, формируемого образцом и регистрируемого координатно-чувствительным детектором 5 при перемещении последнего вдоль оптической оси установки.
При изменении энергии сканирующего излучения пучка, исходящего из монохроматора 2, происходит изменение фокусного расстояния линзы 3, которое определяется значением показателя преломления вещества образца для определенной энергии зондирующего излучения. Эта зависимость в целом имеет монотонный характер, который нарушается в области энергий зондирующего излучения, близких к энергиям связи электронов в оболочках атомов, входящих в состав образца, что соответствует известному эффекту аномальной дисперсии.
В другом варианте при фиксированном положении детектора 5 измеряется размер засвеченного пятна 4, из которого по известным формулам пересчитывается положение фокуса.
Таким образом, реализуется технический результат изобретения.
Claims (5)
- ФОРМУЛА ИЗОБРЕТЕНИЯ1. Способ определения оптических характеристик, включающий расположение последовательно на одной оптической оси источника рентгеновского излучения, перестраиваемого монохроматора и координатно-чувствительного детектора, отличающийся тем, что из исследуемого вещества изготавливают образец в виде фокусирующего элемента, располагают его на указанной оптической оси перед координатно-чувствительным детектором, измеряют диаметр сфокусированного линзой пучка, на основе чего рассчитывают величины искомых оптических характеристик.
- 2. Способ по п.1, отличающийся тем, что координатно-чувствительный детектор при измерении перемещают вдоль оптической оси устройства.
- 3. Способ по п.1, отличающийся тем, что координатно-чувствительный детектор располагают на фиксированном расстоянии от фокусирующего элемента.
- 4. Способ по п.1, отличающийся тем, что фокусирующий элемент изготавливают в виде двояковогнутой линзы.
- 5. Способ по п.2, отличающийся тем, что двояковогнутую линзу изготавливают диаметром 0,05-1
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EA201500151A EA028468B1 (ru) | 2014-11-27 | 2014-11-27 | Способ определения оптических характеристик материалов на основе аномального преломления в рефракционных оптических элементах |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
EA201500151A EA028468B1 (ru) | 2014-11-27 | 2014-11-27 | Способ определения оптических характеристик материалов на основе аномального преломления в рефракционных оптических элементах |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
EA201500151A1 EA201500151A1 (ru) | 2016-05-31 |
EA201500151A8 EA201500151A8 (ru) | 2017-01-30 |
EA028468B1 true EA028468B1 (ru) | 2017-11-30 |
Family
ID=56080145
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
EA201500151A EA028468B1 (ru) | 2014-11-27 | 2014-11-27 | Способ определения оптических характеристик материалов на основе аномального преломления в рефракционных оптических элементах |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
EA (1) | EA028468B1 (ru) |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2012872C1 (ru) * | 1991-05-14 | 1994-05-15 | Виктор Натанович Ингал | Способ получения изображения внутренней структуры объекта |
JP2004061186A (ja) * | 2002-07-25 | 2004-02-26 | Japan Science & Technology Corp | 軟x線干渉計 |
US7889838B2 (en) * | 2005-06-06 | 2011-02-15 | Paul Scherrer Institut | Interferometer for quantitative phase contrast imaging and tomography with an incoherent polychromatic x-ray source |
US7920673B2 (en) * | 2007-10-30 | 2011-04-05 | Massachusetts Institute Of Technology | Phase-contrast x-ray imaging |
-
2014
- 2014-11-27 EA EA201500151A patent/EA028468B1/ru not_active IP Right Cessation
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
RU2012872C1 (ru) * | 1991-05-14 | 1994-05-15 | Виктор Натанович Ингал | Способ получения изображения внутренней структуры объекта |
JP2004061186A (ja) * | 2002-07-25 | 2004-02-26 | Japan Science & Technology Corp | 軟x線干渉計 |
US7889838B2 (en) * | 2005-06-06 | 2011-02-15 | Paul Scherrer Institut | Interferometer for quantitative phase contrast imaging and tomography with an incoherent polychromatic x-ray source |
US7920673B2 (en) * | 2007-10-30 | 2011-04-05 | Massachusetts Institute Of Technology | Phase-contrast x-ray imaging |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
EA201500151A1 (ru) | 2016-05-31 |
EA201500151A8 (ru) | 2017-01-30 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
KR102307923B1 (ko) | 형광 x 선 분석 장치 | |
JP2014518390A5 (ru) | ||
CN106596058B (zh) | 光栅衍射效率光谱测量装置和测量方法 | |
JP5281258B2 (ja) | 応力測定方法 | |
CN102507512A (zh) | 一种红外紫外双脉冲激光诱导击穿光谱在线原位检测方法 | |
CN105277497A (zh) | 连续光谱下检测农产品的光学特性参数的装置与方法 | |
JP2019525194A (ja) | クロマティック共焦点センサ | |
JP2015172570A (ja) | 測定装置、および測定方法 | |
CN108291870B (zh) | 用于确定样本介质的波长相关折射率的光显微镜和方法 | |
CN113624683B (zh) | 一种斜入射式共焦布里渊光谱测量***和方法 | |
RU162939U1 (ru) | Устройство определения оптических характеристик на основе аномального преломления в рефракционных оптических элементах | |
US20180073925A1 (en) | Microscope device | |
EA028468B1 (ru) | Способ определения оптических характеристик материалов на основе аномального преломления в рефракционных оптических элементах | |
CN108871559B (zh) | 一种光束质量β因子测量***的校准方法 | |
US9134246B2 (en) | Light source adjustment unit, optical measurement device, subject information obtaining system, and wavelength adjustment program | |
Świt et al. | Beam characterization of a microfading tester: evaluation of several methods | |
Sun et al. | Measurement of grain size of polycrystalline materials with confocal energy dispersive micro-X-ray diffraction technology based on polycapillary X-ray optics | |
RU2683880C1 (ru) | Способ определения радиометрических характеристик и оценки фотобиологического воздействия источников излучения и комплекс для его осуществления | |
Swit et al. | A multi-method approach for beam characterization of microfading testers used in cultural heritage conservation science | |
JP5220481B2 (ja) | レーザ誘起プラズマ発光分析による木材密度の測定方法 | |
Sergeeva et al. | Two-photon fluorescence microscopy signal formation in highly scattering media: theoretical and numerical simulation | |
JP2013024749A (ja) | 布帛用spf評価装置及び評価方法 | |
DE3710323C2 (ru) | ||
WO2021251069A1 (ja) | 分光観察システム、観察方法 | |
JP6782849B2 (ja) | 分光測定装置 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
MM4A | Lapse of a eurasian patent due to non-payment of renewal fees within the time limit in the following designated state(s) |
Designated state(s): AM AZ KZ KG TJ TM |