DE8530818U1 - Einrichtung zur automatischen Bestückungskontrolle von Leiterplatten - Google Patents

Einrichtung zur automatischen Bestückungskontrolle von Leiterplatten

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DE8530818U1
DE8530818U1 DE8530818U DE8530818U DE8530818U1 DE 8530818 U1 DE8530818 U1 DE 8530818U1 DE 8530818 U DE8530818 U DE 8530818U DE 8530818 U DE8530818 U DE 8530818U DE 8530818 U1 DE8530818 U1 DE 8530818U1
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automatic assembly
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Grundig EMV Elektromechanische Versuchsanstalt Max Grundig GmbH
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • G01R1/07307Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card
    • G01R1/07314Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support
    • G01R1/07328Multiple probes with individual probe elements, e.g. needles, cantilever beams or bump contacts, fixed in relation to each other, e.g. bed of nails fixture or probe card the body of the probe being perpendicular to test object, e.g. bed of nails or probe with bump contacts on a rigid support for testing printed circuit boards
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Description

EINRICHTUNG ZUR AUTOMATISCHEN BESTÜCKUNGSKONTROLLE VON LEITERPLATTEN
BESCHREIBUNG
Die Erfindung betrifft eine Einrichtung zur automatischen Bestückungskontrolie von Leiterplatten, wobei die Leiterplatten mittels Bestückungsautomaten mit bedrahteten oder unbedrahteten elektrischen Bauteilen bestückt sind und die Bestückungskontrolle vor dem Lötvorgang vorgenommen wird.
Bei der Verwendung von elektrischen Bauteilen, die maschinell auf einer Leiterplatte aufgebracht und mittels Haftklebung auf dieser fixiert werden, ist vor dem allgemeinen Lötvorgang eine Bestückungskontrolle besonders wünschenswert. Die üblicherweise vorgenommene Sichtkontrolle ist aufwendig und teils nicht
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ausreichend zuverlässig, da sich manche Bauteile von der Leiterplatte optisch und durch ihre geringen Abmessungen kaum abheben.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, die bisherigen unsicheren optischen Bestückungskontrollen zu vermeiden, und eine die Oberfläche der Leiterplatte in vorgegebenen Bereichen zuverlässig kontrollierende Einrichtung zu schaffen.
Diese Aufgabe wird gemäß der Erfindung durch die Merkmale des Hauptanspruchs 1 gelöst.
; Die Erfindung wird nachfolgend anhand einer Zeichnung
näher erläutert.
Die dargestellte Zeichnung zeigt eine Einrichtung zur automatischen Bestückungskontrolle von Leiterplatten, wobei die Leiterplatte 1 vom Bestückungsautomaten, der für die Bestückung aller Bauteile 2, 21 vorgesehen ist, mittels einer Transporteinrichtung einer Halterung 3 zugeführt wird. Auf der Leiterplatte sind bedrahtete Bauteile 2 oder unbedrahtete Bauteile 2f angeordnet. Die unbedrahteten Bauteile werden in bekannter Vfeise durch einen Haftkleber auf der Leiterplatte fixiert und durch eine direkte Lötverbindung i.dt dem zugeordneten Leiter der Leiterplatte verbunden. Auf der Halterung sind auf der Nichtlötseite I1 der Leiterplatte ver-
schiedene Stützlager 4 angeordnet. Diese Stützlager
dienen der genauen Höhenlage der Leiterplatte in der
Halterung. Über der Leiterplatte befindet sich eine
höhenbewegliche Trägerplatte 5, die einen vorgegebenen Abstand zur Lötseite I11 der Leiterplatte aufweist. Der Abstand zwischen Leiterplatte 5 und Trä- f gerplatte 1 wird durch einige verstellbare Abstands- : halter 6 bestimmt. Die Abstandshalter sind in die ; Trägerplatte verstellbar eingesetzt. Die Abstands- , halter wirken gleichzeitig als Niederhalter oder es &iacgr; sind zusätzlich zu den verschiedenen Abstandshaltern f mehrere federnde Niederhalter in die Trägerplatte &iacgr; eingebaut. Zur Höhenverschiebung der Trägerplatte | sind in bekannter Weise Führungssäulen 7 vorgesehen, I die in einer nicht dargestellten Halteplatte veran- f kert sind. Jedem Bauteil 2, 21 auf der Leiterplatte 1 \ ist ein Tastschalter 8 zugeordnet, wobei alle Tast- | schalter in die Trägerplatte eingesetzt sind. Die J Tastschalter sind bezüglich ihrer Schaltfunktionen \ in Abhängigkeit eines vorgegebenen Abstands zur |
Leiterplattenebene sehr genau eingestellt. Somit sind || die Tastschalter in der Lage, ein genaues Höhenbild | von der lötseitigen Oberfläche der Leiterplatte wiederzugeben. Die Tastschalter tasten die Bauhöhe des
Bauteils 21 ab oder die nach vorgegebener Lage angewinkelten und beschnittenen Anschlußdrähte 9 eines
von der Nichtlötseite her in die Leiterplatte eingesteckten Bauteils 2. Zur Auswertung der Schaltsignale
sind die Tastschalter mit einer elektronischen Auswert- und Anz&igeeinrichtung verbunden. Die Anzeigeeinrichtung läßt erkennen, ob an der vorgegebenen
Stelle ein Bauteil eingesetzt ist oder ob ein Anschlußdraht das eingesetzte Bauteil identifiziert.
Der Tastschalter ist als TelesköpsChäluer iüiu eineiü Ein- Aus- oder Utnschal tkontakt ausgeführt.

Claims (2)

Il · * EINRICHTUNG ZUR AUTOMATISCHEN BESTÜCKUNGSKONTROLLE VON LEITERPLATTEN BA¥fitfTANSPRÜCHE
1. Einrichtung zur automatischen Bestückungskontrolle von Leiterplatten, wobei die Leiterplatten J mittels eines Bestückungsautcmaten mit bedrehteten
oder unbedrahteten Bauteilen bestückt sind, und die Bestückungskontrolle vor dem Lötvorgang vorgenommen wird, dadurch gekennzeichnet,
a) daß die ein- oder beidseitig mit Bauteilen (2, 21) bestückte Leiterplatte (l) einer Halterung (3) zugeführt wird, die die Leiterplatte auf der Nichtlötseite (I1) unterstützt,
b) daß eine höhenbewegliche Trägerplatte (5) mit Abstand über die Lötseite (1") der Leiterplatte Cl) gebracht wird,
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c) daß der Abstand der Trägerplatte zur Leiterplatte durch Abstandshalter (6) bestimmbar ist,
d) daß die Trägerplatte eine vorgegebene Anzahl von elektrischen Tastschaltern (8) aufweist,
e) daß die Schaltfunktion der Tastschalter 'S8) in Abhängigkeit eines vorgegebenen Abstands zur Leiterplattenebene einstellbar ist,
f) daß die Tastschalter mit einer elektronischen Auswert- und Anzeigeeinrichtung verbunden sind.
2. Einrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet , daß der Tastschalter (8) als Teleskopschalter mit einem Ein- Aus- oder Umschaltkontakt ausgeführt ist.
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DE8530818U 1985-10-31 1985-10-31 Einrichtung zur automatischen Bestückungskontrolle von Leiterplatten Expired - Lifetime DE8530818U1 (de)

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE19924245C1 (de) * 1999-05-27 2001-01-25 Siemens Ag Meßvorrichtung zum Messen der Höhenlage eines in einer Basisplatte angeordneten Bauelements, insbesondere eines Niets
DE10314639A1 (de) * 2003-04-01 2004-10-14 Michael Baxmeier Prüflehre für Meßstücke
DE19508213B4 (de) * 1995-03-08 2005-10-27 Grundig Multimedia B.V. Fügeüberprüfung

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