DE843902C - Verfahren zur photoelektrischen Messung der Lage eines Strichs einer Gradteilung und Vorrichtung zur Ausuebung des Verfahrens - Google Patents

Verfahren zur photoelektrischen Messung der Lage eines Strichs einer Gradteilung und Vorrichtung zur Ausuebung des Verfahrens

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DE843902C
DE843902C DES20664A DES0020664A DE843902C DE 843902 C DE843902 C DE 843902C DE S20664 A DES20664 A DE S20664A DE S0020664 A DES0020664 A DE S0020664A DE 843902 C DE843902 C DE 843902C
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photoelectric cell
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deflector
reflected
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Miron Koulikovitch
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GENEVOISE INSTR PHYSIQUE
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    • G01D5/00Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
    • G01D5/26Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
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    • G01MEASURING; TESTING
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Description

  • Verfahren zur photoelektrischen Messung der Lage eines Strichs einer Gradteilung und Vorrichtung zur Ausübung des Verfahrens Es sind bereits Vorrichtungen bekannt, die die elektrische Feststellung der Lage eines Objekts gestatten, beispielsweise eines Lineals mit Maßeinteilung oder einer Markierungen tragenden Kulisse. Diese Vorrichtungen beruhen im allgemeinen auf der Projektion des oszillierenden Bildes mehrerer Striche einer Gradteilung auf ein Gitter, das seinerseits eine entsprechende Anzahl von Schlitzen aufweist, um in der hinter dem Gitter aufgestellten photoelektrischen Zelle elektrische Impulse zu erhalten, die auf ein Beobachtungsorgan wirken. Es besteht in diesem Fall ein größerer Vorteil, wenn das Gitter eine möglichst große Anzahl von Schlitzen trägt, damit der Lagefehler eines Schlitzes oder eines Teilstrichs nur eine sehr untergeordnete Rolle in der Gesamtwirkung spielt.
  • Diese Vorrichtungen können nicht dafür verwendet werden, um die Lage jedes Striches einer Gradteilung sicherzustellen, wie es geschehen mü!Bte, wenn man ein Lineal mit Maßeinteilung eichen wollte, d. h. einzeln die Lagefehler jedes der Teilstriche mit Bezug auf einen von ihnen zu messen, der willkürlich als Anfang der Gradteilung genommen ist. Denn die bekannte Vorrichtung reagiert, wie bereits erwähnt, nur durch die Koinzidenz des Bildes mehrerer Striche der Gradteilung mit mehreren Schlitzen des Gitters.
  • Im Gegensatz hierzu gestattet es die Erfindung, die einzelne Lage jeden Teilstriches einer Gradteilung mit Genauigkeit zu messen.
  • Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Messung der Lage eines Teilstriches einer Gradteilung auf phcktoelekttis$hetm Wege und eine Einrichtung zur Ausübung des Verfahrens.
  • Das Verfahren der Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, daß man eine lineare Lichtquelle ein Lichtbündel ausstrahlen läßt, das nachderReflexion auf die eingeteilte Fläche eine photoelektrische Zelle erreicht, daß dieses Bündel auf der mit Gradteilung versehenen Fläche ein Bild der Lichtquelle -erzeugt, dessen Breite vosl derselbenGrößenordnung -ist wie die der Teilstriche der Gradteilung, daß man das Lichtbundel oszillieren läßt, daß man die durch einen Teilstrich der Gradteilung auf die photoelektrische Zelle reflektierten Strahlen durch Intensitätskontrast zu denen wirken läßt, die durch die dem Teilstrich benachbarte Oberfläche reflektiert werden, daß man die Zelle auf eine Meßvorrichtung wirken läßt, die auf die Ungleichheit der Zeiten anspricht, die zwischen den nacheinander durch die erwähnte Zelle ausgesandten Impulse verstreichen.
  • Die Vorrichtung gemäß der Erfindung ist gekennzeichnet durch eine lineare Lichtquelle, ein Projektionsobjektiv und einen Deflektor mit fortwährenden Schwingungen, welcher, im Durchgang des Lichtbündels angebracht, diesem eine Schwingbewegung erteilt, so daß ein Bestreichen über eine photoelektrische Zelle hervorgerufen wird, die auf den Kontrakt zwischen der Intensität der durch den Teilstrich, dessen Lage zu messen ist, reflektierten Strahlen und derjenigen durch die dem Teilstrich benachbarte Fläche reflektierten Strahlen anspricht, wobei die Zelle auf eine Meßvorrichtung wirkt, die auf die Ungleichheit der Zeiten anspricht, die zwischen den nacheinander durch die photoelektrische Zelle ausgesandten elektrischen Impulsen verstreichen.
  • In den Zeichnungen ist die Erfindung in einigen Ausführungsformen beispielsweise veranschaulicht.
  • Fig. I ist eine schematische Darstellung der Vorrichtung; Fig. 2 ein Schnitt durch eine andere Ausfiihrungsform einer Einzelheit;.
  • Fig 3 und 3 a erläutern in Diagrammen die Arbeitsweise der Vorrichtung; Fig. 4 stellt eine weitere Ausführungsform schematisch dar.
  • Die in Fig. I dargestellte Ausfährungsform besteht aus einer durch einen gradlinigen Faden 1 gebildeten Lichtquelle - in einer elektrischen Gliihbirne 2, die in einem Gehäuse 21 gehalten ist, das seinerseits auf einem Gehäuse 22 befestigt ist, das mit einem Rohr 23 fest verbunden ist. 24 ist das Objektiv, 25 ein'optischer oszillierender Deflektor, der aus einer dicken Glasscheibe mit parallelen planen Flächen besteht und von einer Spule 26 umgeben ist, in der ein aus einem Netz R entnommener Wechselstrom fließt. Der Deflektor 25 oszilliert mit der Frequenz des Netzes R in dem magnetischen Felde eines permanenten Magneten 27, wobei die Schwingungen symmetrisch zu der optischen Achse 0-0 des Objektivs 24 sind.
  • Das Objektiv 24 bildet auf der Fläche 30 des zu kontrollierenden Maßstabes das Bild 6 des Fadens.
  • Das zur HeEstellung des Bildes zusammenlaufende Lichtbüridef schwingt von einer Seite der optischen Achse des Objektivs zu der anderen im Sinne der Pfeile 7 und streicht über eine Zone, die sich von einer Seite zur anderen der Vertiefung 8a erstreckt, die den Teilstrich der Gradteilung darstellt, dessen Lage zu messen ist, wobei die Länge dieser Zone nur einen geringen Bruchteil des Abstandes zwischen aufeinanderfolgenden Teilstrichen 8, 8', 8b dEr Gradteilung ist. Sobald dieses Bild über die Vertiefung des Striches 8a hinübergeht, die eine Unterbrechung auf der polierten Fläche 30 bildet, wird die in Richtung des Objektivs 24 des halbdurchsichtigen Spiegels 28 und der photoelektrischen Zelle 3I reflektierte Lichtmenge eine plötzliche Änderung erfahren, die in der Zelle einen elektrischen Impuls erzeugt. Dieser elektrische Impuls wird auf die noch zu beschreibende Meßvorrichtung übertragen.
  • Das Gehäuse 22 enthält eine halbreflektierende und halbdurchsichtige Glasscheibe 28, die in einem Rahmen 20 befestigt ist und das durch die Fläche 30 reflektierte Licht der zu kontrollierenden Maßteilung in Richtung der photoelektrischen Zelle 31 zurücksendet.
  • Ein auf einem gelenkigen Halter 33 befestigter Spiegel 32 dreht sich um eine, durch einen nicht dargestellten Handgriff betätigte Achse 34 und kann zwei Stellungen einnehmen: die durch voll ausgezogene Linien gekennzeichnete Stellung in Fig. I, in der das Lichtbündel auf das Fadenkreuz 35 eines Okulars 36 gerichtet ist, und die strichpunktierte weggedrehte Lage, in der das Lichtbündel die photoelektrische Zelle 3I direkt trifft.
  • Da das Bild des Teilstriches 8a durch das Objektiv 24 gebildet und auf dem Fadenkreuz 35 zentriert sein wird, so weiß man, daß der Teilstrich 8n sich in dem Nutzfeld des Mikroskops befindet.
  • Fig. 2 stellt eine abgewandelte Ausführungsform der visuellen Beobachtungseinrichtung gemäß Fig. I dar. Der gelenkige Halter 33 ist durch einen festen Halter 37 ersetzt, der mit einem teilweise reflektierenden und teilweise durchsichtigen Spiegel 38 versehen ist, damit ein Teil des Lichtbündels auf die photoelektrische Zelle wirken kann und ein anderer Teil auf das Fadenkreuz 35 des Okulars 36 gerichtet wird. Diese Einrichtung gestattet die gleichzeitige Benutzung der photoelektrischen Zelle und der Vorrichtung für eine visuelle Beobachtung.
  • Die photoelektrische Zelle 3I ist durch einen Verstärker IO mit einem Relais II mit augenblicklicher Wirkung verbunden, welches nach einem bekannten Verfahren den ziemlich langen, durch die Zelle gelieferten Impuls in einen sehr kurzen Impuls umformt.
  • Die elektrische Ablesevorrichtung kann auf vielfache Art verwirklicht werden. Man benutzt beispielsweise eine Kathodenstrahlenröhre 40 mit ihrer normalen Speisequelle 41, die an das Netz R angeschlossen sein kann. Die Elektronenröhre 42 sendet ein feines Elektronenhündel 43 auf den Fluoreszenzschirm 44, der eine Teilung 45 trägt.
  • Das Auftreffen des Bündels 43 ist als ein leuchten- der Punkt sichtbar. Die Ablenkungsplatten 46, die von demselben Netz R wie der Deflektor 25 gespeist werden, lassen das Bündel 43 parallel zu der Teilung 45 und synchron mit den Schwingungen des Deflektors 25 schwingen.
  • Die durch das Relais 1I gespeisten Ablenkungsplatten 47 lassen das Kathodenbündel bei jedem Impuls einen plötzlichen Haken 48 beschreiben, der senkrecht zu der Gradeinteilung 45 ist und als Index dient. Der Nullpunkt der Einteilung'entspricht der auf der optischen Achse 0-0 genau zentrierten Lage des Teilstriches 8a.
  • In den Fig. 3 und 3 a, die die Schwingungen des Fadenbildes 6 auf der Fläche 30 und diejenigen des leuchtenden Punktes auf dem Schirm 44 darstellen, hat man zu beiden Seiten der als Symmetrieachse gewählten Achse als Abszissen die Amplituden dieser Schwingungen als Funktion der Zeit aufgetragen.
  • Die Kurve S1 des durch das Bild 6 über der Zeit durchlaufenen Weges muß notwendigerweise sinusförmig sein, da sie von einer periodischen Schwingungsbewegung herrührt. Ebenso muß die Kurve 52 des durch das Kathodenbündel über der Zeit durchlaufenen Weges sinusförmig sein, da die Ablenkungsplatten46 durch die sinusförmige Spannung des Netzes R gespeist werden. Die beiden Sinuskurven S1 und S2 haben die gleiche Periode P, da sie von dem gleichen Netz R herrühren, und da sie leicht in Phase gebracht werden können, werden sie die Symrnetrieachse in denselben Ptinkten schneiden. Die totalen Amplituden sind I für die Sinuskurve S1 und L für die Sinuskurve 52 wobei das Verhältnis L die Vergrößerung der Meßvorrichtung darstellt.
  • Da die Zeit als Abszisse aufgetragen ist, werden die Ordinaten der Sinuskurve St in jedem Zeitpunkt die relative Lage des Fadenbildes mit Bezug auf den Schnittpunkt der optischen Achse 0-0 mit der Fläche 30 darstellen.
  • Ebenso werden die Ordinaten der Sinuskurve S2 zu jeder Zeit die relative Lage des Kathodenfleckes mit Bezug zu dem Nullpunkt der Teilung 45 darstellen. Die aufeinanderfolgenden Durchgänge des Fadenbildes 6 über den Teilstrich 80 erzeugen eine Reihe von plötzlichen ausstrahlenden Impulsen des Relais II, die das Kathodenbündel in einer Folge von Haken 48 ablenken lassen, die sich genau auf dem Schirm derart überlagern, daß der Beobachter von denselben nur einen einzigen sieht.
  • Wenn der Teilstrich 8a sich zufällig im Schnittpunkt der optischen Achse 0-0 und der Fläche 30 befindet, werden gleiche Zeiten zwischen den aufeinanderfolgenden Durchgängen des Fadenbildes 6 über den Teilstrich 80 verstreichen, und der Haken 48 wird über dem Nullpunkt der Gradeinteilung 45 des Schirms 44 entstehen. Dies ist das Schema nach Fig. 3, in der die Augenblicke der Durchgänge t1, t2, t3, t4 usw. auf der Symmetrieachse der Sinuskurven berechnet sind und wo die Zeitintervalle zwischen t1 und t2, t2 und t3 usw. unter sich gleich sind und einer ballen Periode entsprechen.
  • Wenn dagegen. der Teilstrich 8a sich nicht auf der optischen Achse 0-0, sondern in einem gewissen Abstand y (Fig. I) von demselben befindet, werden die aufeinanderfolgenden Durchgänge des Fadenbildes 6 über diesem Teilstrich sich in ungleichen Zeitintervallen vollziehen, wie es beispielsweise aus Fig. 3 a hervorgeht, in der die zwischen den Durchgängen tlo und t11 bzw. t12 und t13 verstreichende Zeit kürzer ist als die entsprechende Zeit zwischen den Durchgängen t11 und t12 usw.
  • Diese Durchgänge bestimmen die Auslösung der Haken 48 in die Punkte A, B, C, D usw. und die Kurve S2, die sich zu diesen Zeiten in dem Abstand Y von der Achse X-X befindet. Da diese Punkte in der Zeit den Punkten a, b, c, d usw. auf der Kurve S, entsprechen, die sich im Abstand y von derselben Achse befinden, so erkennt man, daß Y, das den Lageabstand des Hakens 48 mit Bezug zum Nullpunkt der Teilung 45 darstellt, der L Vergrößerung 1 zu y entspricht, das den Lageabstand des Teilstrichs 8a mit Bezug auf die optische Achse darstellt.
  • Es ist bereits bekannt, wie man mittels zweier rein optischer Mikroskope eine gegebene, Gradeinteilung mit einer Eicheinteilung oder zwei Abschnitten derselben Gradeinteilung unter sich vergleicht. Benutzt man auf gleiche Weise zwei Vorrichtungen der beschriebenen Ausführungsform, so wird man auf Grund der Lageabstände, deren Messung soeben erläutert wurde, zu denselben Ergebnissen mit viel größerer Genauigkeit gelangen können.
  • In der in Fig. 4 schematisch dargestellten weiteren Ausführungsform ist eine Blende, die einen engen Schlitz darstellt, in der Nähe der photoelektrischen Zelle 31 angeordnet. I ist der lineare Faden einer Glühlampe 2. 24 ist ein Objektiv, das auf der Fläche 30 der zu kontrollierenden Maßteilung ein Bild 6 des Fadens I erzeugt. Der optische Deflektor 25 erzeugt eine aufrechterhaltene Schwingung des Lichtbündels, das die Fläche 30 treffen soll und das durch dieselbe in Richtung der photoelektrischen Zelle 31 reflektiert wird. Ein Prisma g oder Spiegel deckt die Hälfte des Objektivs 24 und richtet das durch die Fläche 30 reflektierte Bündel in Richtung der photoelektrischen Zelle 3I.
  • Ein sehr enger Schlitz 49 ist in einer Blende 50 ausgebildet, das vor der photoelektrischen Zelle angeordnet ist. Das Objektiv 24 bildet in der Ebene der Blende 50 ein dunkles Bild 8C des Teilstrichs 80.
  • Die schwingende Bewegung des Reflektors. wird eine hin und her gehende und aufrechterhaltene Bewiegung des Bildes 8C des Teilstrichs 8a gemäß den Pfeilen 7 mit Bezug auf den engen Schlitz 49 erzeugen, und jedes Mal, wenn das Bild8c über den Schlitz 49 hinübergehen wird, wird eine plötzliche Änderung des Lichtflusses eintreten, der die photoelektrische Zelle trifft, weil der Teilstrich 8a, wie bereits obenerwäyhnt, weniger Licht wie die Fläche 30 reflektiert. Diese Lichtflußschwankungen auf der Zelle 3I werden elektrische Impulse erzeu- gen, die auf das elektrische Meßorgan übertragen werden.
  • Es ist bei der Ausführungsform nach Fig. 4 notwendig, daß sich ein reines optisches Bild 8C der Vertiefung 8a bildet, während dieses bei der Ausführung nach Fig. I nicht erforderlich ist, und es genügt, daß ein diffuses Bündel die Zelle erreicht.
  • In beiden Fällen ist der Abstand, der den Faden I von dem Objektiv 24 trennt, viel größer als derjenige, der das Objektiv von der Maßteilung trennt, damit das Bild 6 des Fadens viel kleiner ist als der Faden selbst und damit die Beschränkung dieses Bildes von derselben Größenordnung ist wie die der Teilstriche der Gradteilung.
  • Es leuchtet ein, daß der Deflektor, der das von der Lichtquelle zu der Zelle gehende Bündel schwingen läßt, ebenso zwischen die Lichtquelle und das Objektiv wie zwischen das Objektiv und die zu prüfende Gradteilung wie auch zwischen das Objektiv und die photoelektrische Zelle eingeschaltet werden kann.
  • PATENTANSPROCRB: I. Verfahren zur Messung der Lage eines Teilstriches einer Gradteilung auf photoelektrischem Weg, dadurch gekennzeichnet, daß man eine lineare Lichtquelle ein Lichtbündel ausstrahlen läßt, das nach Reflexion von der gradgeteilten Fläche eine photoelektrische Zelle erreicht, daß dieses Bündel ein Bild der Lichtquelle auf der gradgeteilten Fläche bildet, dessen Größe von derselben Größenordnung ist wie die der Striche der Gradteilung, daß man das Lichtbündel oszillieren läßt, daß man die von einem Teilstrich der Gradteilung reflektierten Strahlen auf die photoelektrische Zelle durch Intensitätskontrast gegenüber denen wirken läßt, die durch die dem Teilstrich benachbarte Fläche reflektiert werden, und daß man die Zelle auf eine Meßvorrichtung wirken läßt, die auf ungleiche Zeiten anspricht, die zwischen den nacheinander von der Zelle ausgesandten Impulsen verstreichen.
  • 2. Vorrichtung zur Ausübung des photo-

Claims (1)

  1. elektrischen Verfahrens nach Anspruch 1, gekennzeichnet durch eine lineare Lichtquelle, ein Projektionsobjektiv und einen in Schwingungen gehaltenen Deflektor, der in dem Wege des LichtlJ dels so angeordnet ist, daß diesem eine Schwingungsbewegung aufgeprägt wird, die dasselbe über eine photoelektrische Zelle vorüberstreichen läßt, die auf den Intensitätskontrast zwischen der Intensität der durch den Teilstrich, dessen Lage zu messen ist, reflektierten Strahlen und der Intensität der Strahlen, die durch die dem Teilstrich benachbarte Fläche reflektiert werden, anspricht und eine Meßvorrichtung betätigt, die auf ungleiche Zeiten anspricht, die zwischen den nacheinander durch die photoelektrische Zelle ausgesandten elektrischen Impulsen verstreichen.
    3. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Lichtquelle aus einem gradlinigen Faden besteht.
    4. Vorrichtung nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch eine Blende, die einen schmalen Schlitz besitzt und in der Nähe der photoelektrischen Zelle angeordnet ist.
    5. Vorrichtung nach Anspruch 2, gekennzeichnet durch eine Vorrichtung zur direkten visuellen Beobachtung der zu messenden Lage des Gradteilungsstriches.
    6. Vorrichtung nach Anspruch 2 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung für visuelle Beobachtungen aus mindestens einem beweglichen Spiegel und einem mit einem Fadenkreuz versehenen Okular besteht.
    7. Vorrichtung nach Anspruch 2 und 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung für visuelle Beobachtungen aus mindestens einem halbreflektierenden Spiegel und einem mit einem Fadenkreuz versehenen Okular besteht.
    8. Vorrichtung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Vorrichtung zur Sichtbarmachung der von der photoelektrischen Zelle ausgesandten elektrischen Impulse eine Kathodenstrahlenröhre ist, deren Lichtfleck sich in einer der beiden Koordinaten synchron mit dem Deflektor verschiebt.
DES20664A 1949-11-18 1950-10-25 Verfahren zur photoelektrischen Messung der Lage eines Strichs einer Gradteilung und Vorrichtung zur Ausuebung des Verfahrens Expired DE843902C (de)

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