DE69120671T2

DE69120671T2 - Verfahren zur wiedergabe von signalen in optischem aufzeichnungsmedium

Info

Publication number: DE69120671T2
Application number: DE69120671T
Authority: DE
Inventors: Atsushi Fukumoto; Masumi Ono; Toshiki Udagawa; Kouichi Yasuda; Shunji Yoshimura
Original assignee: Sony Corp
Current assignee: Sony Corp
Priority date: 1991-02-13
Filing date: 1991-10-19
Publication date: 1997-02-27
Anticipated expiration: 2011-10-20
Also published as: DE69120671D1; JP3057518B2; US5335213A; WO1992015093A1; EP0524315B1; EP0524315A4; EP0524315A1

Description

Technisches Gebiet

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Wiedergeben von Signalen von einem optischen Aufzeichnungsmedium, bei dem Signale gelesen werden, während ein Lichtstrahl auf das Aufzeichnungsmedium gestrahlt wird. Genauer gesagt, betrifft sie ein Verfahren zum wiedergeben von Signalen von einem Aufzeichnungsmedium, das Information wiedergeben kann, die mit hoher Aufzeichnungsdichte aufgezeichnet ist.

Hintergrundbildende Technik

Optische Aufzeichnungsmedien können grob in nur lesbare Medien, wie die sogenannten CDs, sowie Medien eingeteilt werden, auf denen Signale aufgezeichnet werden können, wie magnetooptische Platten. Bei jedem dieser optischen Aufzeichnungsmedien ist es erwunscht, die Aufzeichnungsdichte auf ein höheres Niveau zu verbessern. Dies, da ein Datenvolumen, das das Mehrfache bis mehr als das Zehnfache desjenigen digitaler Audiosignale beträgt, erforderlich ist, wenn digitale Videosignale aufgezeichnet werden, und da Bedarf besteht, die Größe des Aufzeichnungsmediums, wie einer Platte, und damit die Größe eines Erzeugnisses wie eines Plattenspielers zu verringern, selbst wenn digitale Audiosignale aufgezeichnet werden. Andererseits ist für eine Datenplatte allgemein ein größere Aufzeichnungskapazität erwünscht.
Indessen wird die Aufzeichnungsdichte beim Aufzeichnen von Information auf einem Aufzeichnungsmedium wesentlich vom S/R-Verhältnis für die Abspielsignale bestimmt. Bei typischer herkömmlicher optischer Aufzeichnung und Wiedergabe ist die Gesamtfläche eines Strahlflecks SP, der der Strahlungsbereich des Auslesestrahls, wie eines Laserstrahls für das optische Aufzeichnungsmedium, ist, wie in Fig. 1 dargestellt, ein Abspielsignalbereich. Demgemäß wird die wiedergebbare Aufzeichnungsdichte durch den Durchmesser DSP des Strahlflecks des Auslesestrahls bestimmt.
Wenn z.B. der Durchmesser DSP des Strahlflecks SP des Auslesestrahls kleiner als die Schrittweite q eines Aufzeichnungspits RP ist, können nicht zwei Aufzeichnungspits innerhalb des Flecks SP vorhanden sein, und der Signalverlauf des Abspiel-Ausgangssignals ist dergestalt, wie es unter B in Fig. 1 dargestellt ist, so daß die Abspielsignale gelesen werden können. Wenn jedoch die Aufzeichnungspits SP mit höherer Dichte ausgebildet sind und der Durchmesser DSP des Strahlflecks SP größer als die Schrittweite q der Aufzeichnungspits RP wird, wie unter C in Fig. 1 dargestellt, können gleichzeitig zwei oder mehr Pits im Fleck SP vorhanden sein, so daß der Signalverlauf des Abspiel-Ausgangssignals im wesentlichen konstant wird, wie es unter D in Fig. 1 dargestellt ist. In diesem Fall können die zwei Aufzeichnungspits nicht gesondert wiedergegeben werden, so daß eine Wiedergabe nicht ausgeführt werden kann.
Der Fleckdurchmesser DSP hängt von der Wellenlänge λ des Laserstrahls und von der numerischen Apertur NA ab. Gerade dieser Fleckdurchmesser DSP bestimmt die Pitdichte entlang der Abtastrichtung des Ausleselichtstrahls oder der Aufzeichnungsspurrichtung, oder die sogenannte Liniendichte, sowie die Spurdichte, die dem Spurintervall zwischen benachbarten Spuren in der Richtung rechtwinklig zur Abtastrichtung des Auslesestrahls, oder der sogenannten Spurschrittweite, entspricht. Die optophysikalischen Grenzen der Liniendichte und der Spurdichte sind durch die Wellenlänge λ der Auslesestrahlquelle und die numerische Apertur NA einer Objektivlinse bestimmt, und die Auslesegrenze von 2NA/λ wird allgemein als verwendbar angesehen, solange es um die Raumfrequenz bei der Signalwiedergabe geht. Aus diesem Grund ist es zum Erzielen hoher Dichte des optischen Aufzeichnungsmediums erforderlich, die Wellenlänge λ der Lichtquelle des optischen Wiedergabesystems, wie eines Halbleiterlasers, zu verringern, und die numerische Apertur NA der Objektivlinse zu erhöhen.
Die Anmelderin hat bereits ein optisches Aufzeichnungsmedium vorgeschlagen, bei dem die aufzeichenbare Linienaufzeichnungsdichte wie auch die Spurdichte erhöht werden können, ohne den Fleckdurchmesser des Auslesestrahlflecks zu erhöhen, sowie ein Verfahren zum Abspielen des optischen Aufzeichnungsmediums. Hinsichtlich optischer Aufzeichnungsmedien, die auf diese Weise Information mit hoher Dichte wiedergeben können, können ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium, das Informationssignale aufzeichnen kann, und ein optisches Aufzeichnungsmedium mit variabler Reflexion, das zumindest Informationssignale wiedergeben kann, aufgelistet werden.
Das oben genannte magnetooptische Aufzeichnungsmedium enthält eine magnetische Schicht, wie einen Dünnfilm aus einer Seltenerdmetall-Übergangsmetall-Legierung, die auf einer Hauptfläche eines transparenten Substrats oder eines lichtdurchlässigen Substrats aus z.B. Polycarbonat zusammen mit einer dielektrischen Schicht und einer Oberflächenschutzschicht abgeschieden ist. Die magnetische Schicht verfügt über eine Achse leichter Magnetisierung rechtwinklig zur Filmoberfläche, und sie zeigt einen hervorragenden magnetooptischen Effekt. Der Laserstrahl wird von der Seite des transparenten Substrats her eingestrahlt, um Informationssignale aufzuzeichnen/wiederzugeben. Signale werden durch einen sogenannten thermomagnetischen Aufzeichnungsvorgang auf das magnetooptische Aufzeichnungsmedium aufgezeichnet, bei dem die magnetische Schicht örtlich z.B. durch Laserstrahl-Einstrahlung bis nahe an die Curietemperatur erwärmt wird, um die Koerzitivfeldstärke in diesem Bereich auf Null herabzusetzen, und von außen wird ein Aufzeichnungsmagnetfeld an diesen Bereich angelegt, um eine Magnetisierung in der Richtung des Aufzeichnungsmagnetfelds vorzunehmen. Die aufgezeichneten Signale können dadurch abgespielt werden, daß aus einem magnetooptischen Effekt, wie dem sogenannten magnetischen Kerreffekt oder dem Faradayeffekt, Nutzen gezogen wird, bei dem die Polarisationsebene eines linear polarisierten Strahls, wie eines Laserstrahis, in der Magnetisierungsrichtung der magnetischen Schicht gedreht wird.
Ein optisches Aufzeichnungsmedium mit variabler Reflexion wird dadurch hergestellt, daß ein Material, dessen Reflexionsvermögen sich mit der Temperatur ändert, auf einem transparenten Substrat abgeschieden wird, worin Phasenpits ausgebildet werden. Während der Signalwiedergabe wird der Auslesestrahl auf das Aufzeichnungsmedium gestrahlt und die Reflexion ändert sich teilweise innerhalb des Abtastflecks des Ausleselichts, um die Phasenpits auszulesen.
In Verbindung mit dem vorstehend genannten magnetooptischen Aufzeichnungsmedium wird nachfolgend Wiedergabe für hohe Dichte oder sogenannte hochauflösende Wiedergabe erläutert.
Die Anmelderin hat bereits z.B. in der Japanischen Patentoffenlegungs-Veröffentlichung Nr. 1-143041 (1989) und der Japanischen Patentoffenlegungsveröffentlichung Nr. 1-143042 (1989) ein Verfahren zum Wiedergeben von Informationssignalen betreffend ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium vorgeschlagen, bei dem Informationsbits (magnetische Domäne) vergrößert, verkleinert oder auf Null verringert werden, um die Abspielauflösung zu verbessern. Der wesentliche Punkt dieser Technologie besteht darin, daß die magnetische Aufzeichnungsschicht ein austauschgekoppelter Mehrschichtfilm ist, der aus einer Wiedergabeschicht, einer Zwischenschicht und einer Aufzeichnungsschicht besteht, und daß eine während der Wiedergabe durch den Abspielstrahl erwärmte magnetische Domäne in einer Zone höherer Temperatur vergrößert, verkleinert oder gelöscht wird, um Zwischenbit-Wechselwirkungen während der Wiedergabe zu verringern, um es zu ermöglichen, Signale mit einer Periode wiederzugeben, die kleiner als die Lichtbeugungsschwelle ist. In den Anmeldedokumenten der Japanischen Patentanmeldung Nr. 1-229395 (1989) ist auch eine Technologie vorgeschlagen, gemäß der die Aufzeichnungsschicht des magnetooptischen Aufzeichnungsmediums aus einem Mehrschichtf um mit einer magnetisch gekoppelten Wiedergabeschicht und einer Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht besteht, wobei die Magnetisierungsrichtung im voraus auf einen Löschzustand ausgerichtet wird, die Wiedergabeschicht auf eine Temperatur über einer vorgegebenen Temperatur durch Einstrahlen eines Laserstrahis erwärmt wird, und bei dem magnetische Signale, die nur in diesem erwärmten Zustand in die Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht geschrieben wurden, ausgelesen werden, während sie in die Wiedergabeschicht übertragen sind, um Signalübersprechen zu beseitigen, um die Linienaufzeichnungsdichte und die Spurdichte zu verbessern.
Die vorstehend beschriebene Wiedergabetechnologie für hohe Dichte kann grob in eine solche vom Löschtyp und eine solche vom Abschwächungstyp eingeteilt werden, wie schematisch in den Fig. 2 bzw. 3 dargestellt.
Unter Bezugnahme zunächst auf die Fig. 2A, B und C wird die Wiedergabetechnik hoher Dichte vom Löschtyp erläutert. Beim Löschtyp wird das Aufzeichnungsmedium, auf dem Informationsaufzeichnungspits RP bei Raumtemperatur bestehen, durch das Einstrahlen eines Laserstrahls LB erwärmt, um einen gelöschten Bereich ER innerhalb des Strahlflecks SP des eingestrahlten Laserstrahls LB zu erzeugen, wie es unter B in Fig. 2 dargestellt ist, und das Aufzeichnungspit RP innerhalb des restlichen Bereichs RD innerhalb des Strahlflecks SP wird gelesen, wodurch Wiedergabe mit verbesserter Liniendichte erzielt wird. Zusammengefaßt gesagt, besteht diese Technik darin, daß dann, wenn ein Aufzeichnungspit RP innerhalb des Strahlflecks SP gelesen wird, der gelöschte Bereich ER als Maske zum Einengen der Weite d des Auslesebereichs (Abspielbereich) RD verwendet wird, um für Wiedergabe mit erhöhter Dichte entlang der Abtastrichtung des Laserstrahls (Spurrichtung) zu sorgen, d.h. betreffend die sogenannte Linienaufzeichnungsdichte.
Das Aufzeichnungsmedium für Wiedergabe mit hoher Dichte vom Löschtyp verfügt über einen austauschgekoppelten magnetischen Mehrschichtfilmaufbau aus einem amorphen Seltenerdmetall für photomagnetisches Aufzeichnen (Gd, Tb) - einem ferrimagnetischen Film aus der Eisengruppe (Fe, Co). Bei einem Beispiel, wie es unter A in Fig. 2 dargestellt ist, verfügt das Aufzeichnungsmedium über einen Aufbau, bei dem eine Wiedergabeschicht als erster magnetischer Film 61, eine Unterbrechungsschicht (Zwischenschicht) als zweite magnetische Schicht 62 sowie eine Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht als dritte magnetische Schicht 63 in dieser Reihenfolge auf einer Hauptfläche (der Unterseite in der Zeichnung) eines transparenten Substrats 60 aus z.B. Polycarbonat abgeschieden sind. Die erste magnetische Schicht (Wiedergabeschicht) 61 ist z.B. eine GdFeCo-Schicht mit einer Curietemperatur Tc1 > 400ºC, während die zweite magnetische Schicht (Unterbrechungsschicht oder Zwischenschicht) 62 z.B. ein TbFeCoAl-Film mit einer Curietemperatur Tc2 von 120ºC ist und die dritte magnetische Schicht (Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht) z.B. eine TbFeCo-Schicht mit einer Curietemperatur Tc3 von 300ºC ist. Indessen repräsentieren Pfeilmarkierungen in den unter C in Fig. 2 dargestellten Magnetfilmen 61 bis 63 die Magnetisierungsrichtung magnetischer Domänen. Hlesen repräsentiert die Richtung der magnetischen Domäne für die Wiedergabe.
Nun wird ein Wiedergabevorgang kurz erläutert. Bei einer Umgebungstemperatur unter einer vorgegebenen Temperatur TOP sind die Schichten 63, 62 und 61 des Aufzeichnungsmediums magnetisch in einem Zustand statischer magnetischer Kopplung oder einer Austauschkopplung magnetisch gekoppelt, während die magnetische Aufzeichnungsdomäne in der Aufzeichnungs- Aufrechterhaltungsschicht 63 durch die Unterbrechungsschicht 62 an die Wiedergabeschicht 61 übertragen wird. Wenn der Laserstrahl LB zum Erhöhen der Temperatur des Mediums auf das Aufzeichnungsmedium gestrahlt wird, entstehen mit der Abrasterung des Laserstrahls mit einer Zeitverzögerung Temperaturänderungen im Medium, so daß sich ein Bereich mit einer Temperatur über der vorgegebenen Temperatur TOP, d.h. der gelöschte Bereich ER leicht zur Rückseite des Laserflecks SP, bezogen auf die Laserabrasterrichtung verschiebt. Bei der Temperatur über der vorgegebenen Temperatur TOP verschwindet die magnetische Kopplung zwischen der Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht 63 und der Wiedergabeschicht 61 und die magnetischen Domänen der Wiedergabeschicht 61 werden in der Richtung des Wiedergabemagnetfelds Hlesen ausgerichtet, wobei die Aufzeichnungspits an der Oberfläche des Mediums gelöscht sind. Ein Bereich RD im Abrasterfleck SP, außerhalb des überlagerungsbereichs mit dem Bereich ER, in dem die Temperatur höher als die vorgegebene Temperatur TOP ist, repräsentiert im wesentlichen einen Wiedergabebereich. D.h., daß der Laserfleck SP des Laserstrahls durch den Bereich ER teilweise maskiert ist, in dem die Temperatur höher als die vorgegebene Temperatur TOP ist, so daß der kleine, nichtmaskierte Bereich die Wiedergabedomäne RD wird, wodurch Wiedergabe mit hoher Dichte erzielt wird.
Da Pits durch Erfassen z.B. des Kerr-Rotationswinkels des Lichts abgespielt werden können, das an einem kleinen Wiedergabebereich (Auslesebereich RD) reflektiert wird, in dem der Abrasterfleck SP des Laserstrahls nicht durch den Maskierungsbereich (Löschbereich ER) maskiert ist, ist der Durchmesser des Strahlflecks SP entsprechend erhöht, um die Linienaufzeichnunqsdichte und die Spurdichte zu erhöhen.
Bei der Wiedergabetechnik hoher Dichte vom Abschwächungstyp wird, wie es unter B in Fig. 3 dargestellt ist, das Aufzeichnungsmedium in einem Zustand, in dem Informationsaufzeichnungspits RP bei Umgebungstemperatur (initialisierter Zustand) gelöscht sind, mit Laserlicht bestrahlt und dadurch erwärmt, um einen Signalerfassungsbereich DT als Bereich mit abgeschwächter Aufzeichnung innerhalb des Strahiflecks SP des Laserstrahls auszubilden, und nur das Aufzeichnungsbit RP innerhalb dieses Signalerfassungsbereichs DT wird zum Verbessern der Abspiel-Liniendichte gelesen.
Das Aufzeichnungsmedium für derartige Wiedergabe hoher Dichte mit Abschwächung verfügt über eine magnetische Mehrschichtstruktur mit magnetostatischer Kopplung oder magnetischer Austauschkopplung. Bei einem unter A in Fig. 3 dargestellten Beispiel sind eine Wiedergabeschicht 71 als erste magnetische Schicht, eine Wiedergabe-Unterstützungsschicht 72 als zweite magnetische Schicht, eine Zwischenschicht 73 als dritte magnetische Schicht und eine Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht 74 als vierte magnetische Schicht der Reihe nach auf eine Hauptfläche (die Unterseite in Fig. 3) eines z.B. aus Polycarbonat bestehenden transparenten Substrats 70 aufgeschichtet. Die erste magnetische Schicht (Wiedergabeschicht) 71 besteht z.B. aus GdFeCo und verfügt über eine Curietemperatur Tc1 > 300ºC; die zweite magnetische Schicht (Wiedergabe-Unterstützungsschicht) 72 besteht z.B. aus TbFeCoAl und hat eine Curietemperatur Tc2 120ºC; die dritte magnetische Schicht (Zwischenschicht) 73 besteht z.B. aus GdFeCo und hat eine Curietemperatur Tc3 250ºC; und die vierte magnetische Schicht (Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht) 74 besteht z.B. aus TbFeCo und hat eine Temperatur Tc4 250ºC. Die Stärke eines initialisierenden Magnetfelds Hin wird so ausgewählt, daß sie größer als die eines Magnetfelds Hcp ist, das die Magnetisierung der Aufzeichnungsschicht umkehrt (Hin > Hcp), und sie ist ausreichend kleiner als das magnetisierende Feld Hcr, das die Magnetisierung der Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht umkehrt (Hin « Hcp). Die Pfeile in den magnetischen Schichten 71, 72 und 73 unter C in Fig. 3 kennzeichnen die Magnetisierungsrichtung in jeder Domäne, Hin kennzeichnet die Richtung des initialisierenden Magnetfelds und Hiesen kennzeichnet die Richtung des Wiedergabe-Magnetfelds
Die Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht 74 ist eine Schicht, die Aufzeichnungspits aufrechterhält, ohne daß sie durch das initialisierende Magnetfeld Hin, das Wiedergabe- Magnetfeld Hlesen oder die Wiedergabetemperatur beeinflußt wird, und sie zeigt bei Raumtemperatur und bei der Abspieltemperatur ausreichend hohe Koerzitivfeldstärke.
Die Zwischenschicht 73 zeigt eine rechtwinklige Anisotropie, die kleiner als die der Wiedergabe-Unterstützungsschicht 72 oder der Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht 74 ist. Daher kann eine Magnetwand stabil in der Zwischenschicht 73 existieren, wenn diese Magnetwand zwischen der Wiedergabeschicht 71 und der Aufzeichnungsschicht 74 eingebaut ist. Aus diesem Grund halten die Wiedergabeschicht 71 und die Wiederqabe-Unterstützungsschicht 72 den Löschzustand (initialisierten Zustand) stabil aufrecht.
Die Wiedergabe-Unterstützungsschicht 72 spielt die Rolle einer Erhöhung der Koerzitivfeldstärke der Wiedergabeschicht 71 bei Raumtemperatur, so daß die Magnetisierung dieser Wiedergabeschicht 71 und der Wiedergabe-Unterstützungsschicht 72 trotz des Vorliegens der magnetischen Wand stabil existieren können. Andererseits verringert sich die Koerzitivfeldstärke während der Wiedergabe in der Nähe der Wiedergabetemperatur Ts stark, so daß sich die in der Zwischenschicht 73 eingegrenzte Wand in die Wiedergabe-Unterstützungsschicht 13 ausdehnt, um schließlich die Wiedergabeschicht 71 zu invertieren, um die magnetische Wand zu löschen. Durch diesen Prozeß wird bewirkt, daß in der Wiedergabeschicht 71 Pits auftreten.
Die Wiedergabeschicht 71 verfügt über ein niedriges, invertierendes Magnetfeld Hcp, so daß die Domänen der Gesamtfläche der Schicht 71 durch das Initialisierungsfeld Hin ausgerichtet werden können. Die ausgerichteten Domänen werden durch die Wiedergabe-Unterstützungsschicht 72 unterstützt und können dadurch selbst dann stabil aufrechterhalten werden, wenn zwischen der Schicht und der Wiedergabe-Unterstützungsschicht 74 ein Magnetfeld besteht. Aufzeichnungspits werden dadurch erzeugt, daß während der Wiedergabe, wie oben beschrieben, die magnetische Wand zwischen der Schicht und der Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht 74 verschwindet.
Wenn nun der Vorgang während der Wiedergabe kurz erläutert wird, sei darauf hingewiesen, daß die Domänen der Wiedergabeschicht 71 und der Wiedergabe-Unterstützungsschicht 72 durch das initialisierende Magnetfeld Hin vor der Wiedergabe in eine Richtung ausgerichtet werden (in die Richtung nach oben in Fig. 3). Dabei ist eine magnetische Wand (in Fig. 3 durch einen quer ausgerichteten Pfeil angegeben) stabil vorhanden, so daß die Wiedergabeschicht 71 und die Wiedergabe- Unterstützungsschicht 72 stabil im initialisierten Zustand aufrechterhalten werden.
Ein Wiedergabe-Magnetfeld Hlesen wird in umgekehrter Richtung angelegt, während ein Laserstrahl LB eingestrahlt wird. Das Wiedergabe-Magnetfeld Hlesen muß stärker als das Magnetfeld sein, das die Domänen der Wiedergabeschicht 71 und der Wiedergabe-Unterstützungsschicht 72 bei einer Wiedergabetemperatur TRP folgend auf den Temperaturanstieg durch die Lasereinstrahlung umkehrt, um für eine Löschung des Magnetfelds der Zwischenschicht 73 zu sorgen. Das Wiedergabe-Magnetfeld muß auch solche Stärke aufweisen, daß es die Magnetisierungsrichtung der Wiedergabeschicht 71 und der Wiedergabe-Unterstützungsschicht 72 nicht umkehrt.
Wenn der Laserstrahl abgerastert wird, werden im Medium Temperaturänderungen mit Verzögerung hervorgerufen, so daß der Bereich, dessen Temperatur eine vorgegebene Wiedergabetemperatur TRP übersteigt (Bereich mit abgeschwächter Aufzeichnung) leicht gegenüber dem Strahlfleck SP zur Hinterseite entlang der Abrasterrichtung verschoben ist. Wenn die Temperatur über der vorgegebenen Wiedergabetemperatur TRP liegt, ist die Koerzitivfeldstärke der Wiedergabe-Unterstützungsschicht 72 verringert, so daß dann, wenn das Wiedergabe-Magnetfeld Hlesen angelegt wird, dafür gesorgt ist, daß die magnetische Wand verschwindet, so daß die Information der Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht 74 in die Wiedergabeschicht 71 überschrieben wird. Demgemäß wird ein Bereich innerhalb des Strahlflecks SP, der die Wiedergabetemperatur TRP nicht erreicht, maskiert, und der restliche Bereich innerhalb des Strahlflecks SP wird ein Signalerfassungsbereich (Wiedergabebereich) DT, der der Bereich mit abgeschwächter Aufzeichnung ist. Hohe Wiedergabedichte kann dadurch erzielt werden, daß z.B. der Kerr-Rotationswinkel der Polarisationsebene des Strahls gemessen wird, der am Signalerfassungsbereich DT reflektiert wird.
D.h., daß der Bereich innerhalb des Strahlflecks SP des Laserstrahls LB, der noch nicht die Wiedergabetemperatur TRP erreicht hat, ein Maskierungsbereich ist, in dem keine Aufzeichnungspits angezeigt werden, während der restliche Signalerfassungsbereich (Wiedergabebereich) DT eine kleinere Fläche als der Strahldurchmesser aufweist, so daß die Linienaufzeichnungsdichte und die Spurdichte auf dieselbe Weise wie oben beschrieben erhöht sein können.
Es wurde auch eine Wiedergabetechnik hoher Dichte konzipiert, die aus einer Kombination des Löschtyps und des Abschwächungstyps besteht. Bei dieser Technik wird der Laserstrahl im initialisierten Zustand des Aufzeichnungsmediums, in dem Aufzeichnungspits bei Raumtemperatur gelöscht sind, auf dieses gestrahlt, um das Aufzeichnungsmedium zum Ausbilden eines Aufzeichnungs-Abschwächungsbereichs an einem Ort zu erwärmen, der geringfügig zur Rückseite des Strahlflecks des aufzeichnenden Laserstrahis hin abweicht, während gleichzeitig ein Löschbereich bei höherer Temperatur innerhalb des Bereichs mit abgeschwächter Aufzeichnung erzeugt wird.
In der Beschreibung und den Zeichnungen unserer ebenfalls anhängigen Japanischen Patentanmeldung Nr. H 3-418110 (1991) ist ein Signalwiedergabeverfahren für ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium vorgeschlagen, bei dem ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium mit mindestens einer Wiedergabeschicht, einer Zwischenschicht und einer Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht verwendet ist, wobei ein Laserstrahl eingestrahlt wird und ein Wiedergabe-Magnetfeld an die Wiedergabeschicht angelegt wird, eine durch die Lasereinstrahlung erzeugte Temperaturverteilung dazu verwendet wird, einen Bereich, in dem ein initialisierter Zustand aufrechterhalten wird, einen Bereich, an den die Information der Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht überschrieben wird, und einen Bereich zu erzeugen, dessen Domänen in der Richtung des Wiedergabe-Magnetfelds ausgerichtet sind, und zwar innerhalb des Gesichtsfelds der Linse, um einen Zustand zu erzeugen, der einer optischen Maskierung des Gesichtsfelds der Linse entspricht, um die Linienaufzeichnungsdichte und auch die Spurdichte zu erhöhen, um zufriedenstellende Frequenzcharakteristik bei der Wiederqabe zu gewährleisten, wodurch selbst dann, wenn die Wiedergabeleistung schwankt, keine Gefahr besteht, daß der Bereich mit der Informationsüberschreibung der Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht verkleinert oder vergrößert wird.
Gemäß der vorstehend beschriebenen Wiedergabetechnik hoher Dichte, die ein derartiges magnetooptisches Aufzeichnungsmedium verwendet, wird nur der Lesebereich RD, der tatsächlich der Signalwiedergabebereich ist, oder das Aufzeichnungspit RP innerhalb des Signalerfassungsbereichs DT, innerhalb des Strahlflecks SP gelesen. Da die Größe des Lesebereichs RD oder des Signalerfassungsbereichs DT kleiner als die Größe des Strahlflecks SP ist, kann der Abstand zwischen benachbarten Pits in den Richtungen entlang der und rechtwinklig zur Laserstrahl-Abrasterrichtung verringert werden, um die Liniendichte und die Spurdichte zu erhöhen, um die Aufzeichnungskapazität des Aufzeichnungsmediums zu vergrößern.
Indessen schwankt beim oben beschriebenen Wiedergabeverfahren für Information hoher Dichte die korrekte Größe des Auslesebereichs RD in Fig. 2 oder diejenige des Signalerfassungsbereichs DT in Fig. 3, als Wiedergabebereich, mit der Aufzeichnungsdichte der Aufzeichnungspits RP, und darüber hinaus mit der Linienaufzeichnungsdichte.
Wenn z.B. beim Wiedergabeverfahren vom Löschtyp oder beim Wiedergabeverfahren vom Abschwächungstyp die Linienaufzeichnungsdichte niedrig ist, wird das Intervall zwischen benachbarten Aufzeichnungspits länger. Aus diesem Grund ist eine große Abmessung der Bereiche RD oder DT als wirksame Wiedergabebereiche bevorzugt, um eine Wiedergabe mit höherem T/R-Verhältnis zu erzielen. Wenn dagegen die Linienaufzeichnungsdichte hoch ist, wird das Intervall zwischen benachbarten Aufzeichnungspits kürzer, so daß eine kleinere Größe des Wiedergabebereichs RD oder DT bevorzugt ist, um eine Wiedergabe mit höherem T/R-Verhältnis zu erzielen.
Bei einem System, das ein Dreh- und Antriebssystem mit konstanter Winkelgeschwindigkeit (CAV) verwendet, wird die Linienaufzeichnungsdichte an verschiedenen radialen Positionen auf der magnetooptischen Platte verschieden. Aus diesem Grund kann kein stabiler Datenauslesevorgang mit hohem T/R- Verhältnis erzielt werden, wenn die Größe des Wiedergabebereichs RD oder DT beim Wiedergabeverfahren vom Löschtyp oder vom Abschwächungstyp konstant bleibt.
Dasselbe kann für den Fall gesagt werden, daß das oben genannte optische Aufzeichnungsmedium mit variablem Reflexionsvermögen mittels eines Wiedergabevorgangs für hohe Dichte oder ultrahohe Dichte abgespielt wird. D.h., daß bei einem optischen Aufzeichnungsmedium mit variablem Reflexionsvermögen der Abschnitt innerhalb des Auslesestrahls, der hohes Reflexionsvermögen zeigt, einen wirksamen Wiedergabebereich darstellt, wobei die optimale Größe dieses Wiedergabebereichs bei verschiedenen Linienaufzeichnungsdichten verschieden ist, so daß bei einem Wiedergabeverfahren mit festgelegter, konstanter Größe für den Wiedergabebereich die Gefahr besteht, daß keine stabile Wiedergabe mit hohem T/RVerhältnis erzielt werden kann.
Angesichts des vorstehend beschriebenen Zustands der Technik ist es eine Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren zum Wiedergeben eines optischen Aufzeichnungsmediums zu schaffen, durch das stabiles Lesen der Information selbst dann erzielt werden kann, wenn sich die Linienaufzeichnungsdichte eines magnetooptischen Aufzeichnungsmediums oder eines optischen Aufzeichnungsmediums mit variablem Reflexionsvermögen ändert.

OFFENBARUNG DER ERFINDUNG

Gemäß der Erfindung ist folgendes geschaffen: Ein Verfahren zum Wiedergeben von Informationssignalen von einem optischen Aufzeichnungsmedium mit einer Aufzeichnungsschicht und einer Wiedergabeschicht, wobei diese Aufzeichnungs- und die Wiedergabeschicht in einem Stationärzustand magnetisch miteinander gekoppelt sind, wobei das Verfahren folgendes umfaßt: Aufheben der magnetischen Kopplung zwischen der Aufzeichnungsschicht und der Wiedergabeschicht in einem Bereich, dessen Temperatur durch Einstrahlen eines Auslesestrahls während der Wiedergabe auf eine Temperatur über einer vorgegebenen Temperatur erhöht wird; und Lesen der durch die Aufzeichnungsschicht gespeicherten aufgezeichneten Information in einem Gebiet eines beleuchteten Bereichs, der vom Bereich mit aufgehobener magnetischer Kopplung abweicht; gekennzeichnet durch das Erfassen der Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium, wenn dieses mit konstanter Winkelgeschwindigkeit gedreht wird, um das Aufzeichnungsmedium abzuspielen; und Einstellen der Größe des Bereichs mit aufgehobener magnetischer Kopplung abhängig von der Linienaufzeichnungsdichte an der Wiedergabeposition.
Gemäß der Erfindung ist auch folgendes geschaffen: Ein Verfahren zum Wiedergeben von Informationssignalen von einem optischen Aufzeichnungsmedium mit einer Aufzeichnungsschicht und einer Wiedergabeschicht, das folgendes umfaßt: Ausrichten der Domänen der Wiedergabeschicht, Überschreiben der Aufzeichnungsinformation in die Wiedergabeschicht und Abschwächen der überschriebenen Information, wobei die Aufzeichnungsinformation vor dem Überschreiben durch einen Bereich auf der Aufzeichnungsschicht aufrechterhalten wird, dessen Temperatur während der Wiedergabe durch einen Auslesestrahl erhöht wird; und Lesen der Aufzeichnungsinformation vom abgeschwächten Bereich der Wiedergabeschicht, wobei das Verfahren durch folgendes gekennzeichnet ist: Erfassen der Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium, wenn dieses zur Wiedergabe mit konstanter Winkelgeschwindigkeit gedreht wird, und Einstellen der Größe des abgeschwäch ten Bereichs entsprechend der Linienaufzeichnungsdichte an dieser Wiedergabeposition.
Gemäß der Erfindung ist zusätzlich folgendes geschaffen: Ein Verfahren zum Wiedergeben eines optischen Aufzeichnungsmediums, bei dem ein Auslesestrahl auf eine optische Platte gestrahlt wird, auf dem Phasenpits entsprechend Signalen ausgebildet sind, und dessen Reflexionsvermögen sich bei Temperaturänderungen ändert; und bei dem die Phasenpits gelesen werden, während das Reflexionsvermögen innerhalb des Abrasterflecks des Ausleselichtstrahls teilweise geändert wird, gekennzeichnet durch folgendes: Erfassen der Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium, wenn dieses zur Wiedergabe mit konstanter Winkelgeschwindigkeit gedreht wird; und Einstellen der Größe eines Abschnitts innerhalb des Abrasterflecks des Ausleselichtstrahls, dessen Reflexionsvermögen geändert ist, entsprechend der Linienaufzeichnungsdichte an der Wiedergabeposition.
Beim oben beschriebenen Verfahren zum Abspielen eines optischen Aufzeichnungsmediums kann das Ausgangssignal einer Laserlichtquelle, die den oben genannten Auslesestrahl auf das optische Aufzeichnungsmedium strahlt, abhängig von einem Ausgangssignal gesteuert werden, das die Wiedergabeposition des magnetooptischen Aufzeichnungsmediums erfaßt. Das Ausgangssignal der Laserlichtquelle kann auch abhängig von einem Vergleichs-Ausgangssignal zwischen dem die Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium erfassenden Ausgangssignal und einem Ausgangs-Bezugswert der Laserlichtquelle, der der Linienaufzeichnungsdichte des optischen Aufzeichnungsmediums zugeordnet ist, eingestellt werden. Die Größe des Bereichs, in dem die magnetische Kopplung gelöscht wird, des abgeschwächten Bereichs oder des Abschnitts, in dem das Reflexionsvermögen geändert ist, kann ebenfalls abhängig vom Pegel des Ausgangssignals eingestellt werden, das das optische Aufzeichnungsmedium abspielt.
Auf diese Weise ist es durch das erfindungsgemäße Signalwiedergabeverfahren für ein optisches Aufzeichnungsmedium möglich, den wirksamen Wiedergabebereich selbst dann auf eine optimale Größe entsprechend der Linienaufzeichnungsdichte des optischen Aufzeichnungsmediums einzustellen, wenn sich die Linienaufzeichnungsdichte ändert oder sich die Wiedergabeposition auf dem Aufzeichnungsmedium und demgemäß die Linienaufzeichnungsdichte an der Wiedergabeposition ändert, um stabile Wiedergabe mit hohem T/R-Verhältnis zu gewährleisten.

KURZE BESCHREIBUNG DER ZEICHNUNGEN

Fig. 1 ist eine Ansicht zum Veranschaulichen der Beziehung zwischen dem Fleckdurchmesser eines Laserstrahls und der Aufzeichnungsdichte abspielbarer Aufzeichnungspits.
Fig. 2 ist eine Ansicht zum Veranschaulichen eines magnetooptischen Aufzeichnungsmediums vom löschbaren Typ sowie eines Verfahrens zum Wiedergeben des Aufzeichnungsmediums, und eines effektiven Wiedergabebereichs des Aufzeichnungsmediums.
Fig. 3 ist eine Ansicht zum Veranschaulichen eines magnetooptischen Aufzeichnungsmediums vom Abschwächungstyp sowie eines Verfahrens zum Wiedergeben des Aufzeichnungsmediums, und eines effektiven Wiedergabebereichs des Aufzeichnungsmediums.
Fig. 4 ist ein Blockdiagramm, das wesentliche Teile einer Plattenwiedergabevorrichtung zeigt, auf die ein Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Wiedergabeverfahrens zum Wiedergeben eines optischen Aufzeichnungsmediums angewandt ist.
Fig. 5 ist ein Blockdiagramm, das ein Sektorformat für Daten zeigt, die auf der magnetooptischen Platte aufzuzeichnen sind.
Fig. 6 ist eine Ansicht zum Veranschaulichen, daß ein Maskierbereich durch Ändern des Laserleistung geändert wird.
Fig. 7 ist eine Ansicht zum Veranschaulichen der Beziehung zwischen der Linienaufzeichnungsdichte und dem T/R-Verhältnis für Abspielsignale.
Fig. 8 ist eine Ansicht zum Veranschaulichen, daß ein Maskierungsbereich durch Ändern eines externen Magnetfelds geändert wird.
Fig. 9 ist ein Blockdiagramm, das wesentliche Teile einer Plattenwiedergabevorrichtung zeigt, bei der ein anderes Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Wiedergabeverfahrens für ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium angewandt ist.
Fig. 10 ist ein Blockdiagramm, das wesentliche Teile einer Plattenwiedergabevorrichtung zeigt, bei der ein weiteres Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Wiedergabeverfahrens für ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium angewandt ist.
Fig. 11 ist ein Blockdiagramm, das wesentliche Teile einer Plattenwiedergabevorrichtung zeigt, bei der ein weiteres Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Wiedergabeverfahrens für ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium angewandt ist.
Fig. 12 ist eine schematische Schnittansicht, die wesentliche Teile eines Beispiels einer optischen Platte vom Phasenänderungstyp als Beispiel einer optischen Platte mit variablem Reflexionsvermögen zeigt, wie beim in Fig. 11 dargestellten Ausführungsbeispiel verwendet.
Fig. 13 ist eine schematische Schnittansicht, die ein anderes Beispiel einer optischen Platte vom Phasenänderungstyp zeigt.
Fig. 14 ist eine schematische Schnittansicht, die noch ein anderes Beispiel einer optischen Platte vom Phasenänderungstyp zeigt.
Fig. 15 ist eine Ansicht, die einen Phasenänderungszustand zum Erläutern der oben genannten optischen Platte vom Phasenänderungstyp zeigt.
Fig. 16 ist eine Ansicht, die einen anderen Phasenänderungszustand zum Erläutern der oben genannten optischen Platte vom Phasenänderungstyp zeigt.
Fig. 17 ist eine Ansicht, die die Beziehung zwischen der Temperaturverteilung und einem Ausleselichtfleck zum Erläutern der oben genannten optischen Platte vom Phasenänderungstyp zeigt.
Fig. 18 ist eine schematische Schnittansicht, die wesentliche Teile eines anderen Beispiels einer optischen Platte mit variablem Reflexionsvermögen zeigt, die beim in Fig. 9 dargestellten Ausführungsbeispiel verwendet ist.
Fig. 19 ist ein Kurvenbild, das den Zustand der Änderung der spektralen Reflexionseigenschaften bei Temperaturänderungen in einem Interferenzfilter zeigt.

BESTE ART ZUM AUSFÜHREN DER ERFINDUNG

Unter Bezugnahme auf die Zeichnungen werden nun bestimmte Ausführungsbeispiele eines erfindungsgemäßen optischen Aufzeichnungsmediums beschrieben. Als erstes wird ein Ausführungsbeispiel beschrieben, bei dem die Erfindung auf ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium als bespielbares Medium angewandt wird, und dann wird ein Ausführungsbeispiel beschrieben, bei dem die Erfindung auf ein optisches Aufzeichnungsmedium mit variablem Reflexionsvermögen als bespielbares Medium angewandt ist.
In Fig. 4 ist ein magnetooptisches Aufzeichnungsmedium eine magnetooptische Platte 11, bei der das oben genannte Wiedergabeverfahren vom Löschtyp oder vom Abschwächungstyp verwendet wird. In diesem Fall wird die magnetooptische Platte 11 entsprechend einem System mit konstanter Winkelgeschwindigkeit (CAV) drehend angetrieben.
Die magnetooptische Platte, auf die das Wiedergabeverfahren vom Löschtyp angewandt wird, verfügt z.B. über eine austauschgekoppelte magnetische Mehrschichtfilm-Struktur aus einem amorphen, ferrimagnetischen Seltenerdmetall (Gd, Tb) - Eisengruppemetall (Fe, Co)-Film für magnetooptisches Aufzeichnen. Die Mehrschichtfilm-Struktur besteht aus einer Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht aus z.B. TbFeCo mit einer Curietemperatur von 300ºC, einer Unterbrechungsschicht (Zwischenschicht) aus z.B. TbFeCoAl mit einer Curietemperatur T von 120ºC und einer Wiedergabeschicht aus z.B. GdFeCo mit einer Curietemperatur nicht unter 400ºC. Die magnetooptische Platte, auf die das Wiedergabeverfahren vom Abschwächungstyp angewandt wird, ist eine Platte, bei der die Aufzeichnungs-Aufrechterhaltungsschicht aus z.B. TbFeCo mit einer Curietemperatur von 250ºC besteht, die Zwischenschicht aus z.B. GdFeCo mit einer Curietemperatur von 250ºC besteht, die Wiedergabe-Unterstützungsschicht aus z.B. TbFeCoAl mit einer Curietemperatur von 120ºC besteht und die Wiedergabeschicht auf z.B. GdFeCo mit einer Curietemperatur nicht unter 300ºC besteht.
In diesem Fall werden die Daten aufeinanderfolgend als mehrere Sektoren pro Spur aufgezeichnet. Jeder Sektor ist so ausgebildet, wie es beispielhaft in Fig. 6 dargestellt ist. D.h., daß jeder Sektor aus einem Vorformatierungsabschnitt und einem Aufzeichnungs-Wiedergabe-Abschnitt besteht. Im Vorformatierungsabschnitt sind Daten als Pits auf der magnetooptischen Platte 11 voraufgezeichnet. Während der Wiedergabe wird dieser Vorformatierungsabschnitt erfaßt und Daten usw. werden nur im Aufzeichnungs-Wiedergabe-Abschnitt aufgezeichnet.
Der Vorformatierungsabschnitt besteht aus einem Sektorsynchronisierabschnitt und einem Adressenabschnitt. Im Adressenabschnitt sind Adressendaten einschließlich Spuradressen und Sektoradressen aufgezeichnet. Die Spuradressen sind fortlaufende Nummern ausgehend von z.B. dem Innenrand der Platte als Aufzeichnungsstartposition, oder Spurnummern, entsprechend den radialen Positionen der magnetooptischen Platte 11. Die Sektoradressen kennzeichnen die fortlaufenden Nummern der Sektoren in einer vorgegebenen Spur.
Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel wird die radiale Position des optischen Aufnehmers der magnetooptischen Platte 11, d.h. die Wiedergabeposition, dadurch erfaßt, daß die oben genannte Spuradresse erfaßt wird, und die Laserstrahlleistung wird abhängig von der Linienaufzeichnungsdichte an der Wiedergabeposition eingestellt, um die Größe des Wiedergabebereichs (Auslesebereichs) RD für das Wiedergabeverfahren vom Löschtyp, oder den Wiedergabebereich (Signalerfassungsbereich) DT für das Wiedergabeverfahren vom Abschwächungstyp entsprechend der Linienaufzeichnungsdichte auf dem optimalen Wert zu halten.
D.h., daß der Zustand der Temperaturverteilung auf der magnetooptischen Platte 11, wie durch die Laserstrahl-Einstrahlung erzeugt, mit Änderungen der Ausgangsleistung der Laserlichtquelle, wie in Fig. 6 dargestellt, so geändert wird, daß die Größe eines Bereichs auf einer Temperatur über einer vorgegebenen Schwellentemperatur TΘ geändert wird, wie es bei S1 und S2 dargestellt ist. Da der Bereich der in Fig. 2 dargestellte, oben genannte Maskierungsbereich ER oder der oben genannte Abschwächungsbereich ist, von dem der Signalerfassungsbereich DT ein Teil ist, wie in Fig. 3 dargestellt, kann der Wiedergabebereich RD oder DT an der Wiedergabeposition dadurch auf eine vorgegebene optimale Größe eingestellt werden, daß die oben genannte Laserleistung ein gestellt wird.
Als Auslesestrahl trifft ein Laserlichtstrahl von einer Laserquelle 12, wie einem Halbleiterlaser, auf die Wiedergabeschicht der magnetooptischen Platte 11.
Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel wird ein Wiedergabemagnetfeld Hlesen durch den Treiberstrom erzeugt, der einer Magnetfeld-Erzeugungsspule 31 von einem Treiber 32 zugeführt wird. Die Magnetfeld-Erzeugungsspule 31 ist so angeordnet, daß sie der Laserquelle 11 an der entgegengesetzten Seite der magnetooptischen Platte 11 in bezug auf die Laserstrahlseite zugewandt ist. An den Treiber 22 wird ein Bezugswert Mref von einer Bezugswert-Erzeugungsschaltung 23 gegeben, und die Stärke des durch die Spule 21 erzeugten Wiedergabemagnetfelds Hlesen wird entsprechend diesem Bezugswert auf einen konstanten Wert eingestellt.
Gemäß dem oben angegebenen Wiedergabeverfahren vom Lösch- oder Abschwächungstyp trifft der reflektierte Strahl vom Wiedergabebereich RD oder DT innerhalb des Strahlflecks des Laserstrahls mittels einer nicht dargestellten optischen Einrichtung auf einen Wiedergabe-Photodetektor 13 zur photoelektrischen Umsetzung.
Ausgangssignale des Photodetektors 13 werden über einen Kopfverstärker 14 an eine Signalverarbeitungsschaltung 15 geliefert, um HF-Signale zu erzeugen, die zur Demodulation an ein Datenwiedergabesystem geliefert werden.
Ein Teil des Laserstrahls von der Laserquelle 12 trifft auf einen Laserleistung-Überwachungsphotodetektor 21. Das photoelektrisch umgesetzte Ausgangssignal des Photodetektors 21 wird an einen automatischen Leistungsregler 22 gegeben, in dem das Ausgangssignal des Photodetektors 21 und ein Wiedergabeleistung-Einstellbezugswert REF für den Wiedergabelaser miteinander verglichen werden. Die der Vergleichsabweichung entsprechenden Ausgangssignale werden an eine Lasertreiberschaltung 23 zum Einstellen der Ausgangsleistung der Laserquelle 12 gegeben. Durch die eben beschriebene Regelung wird die Ausgangsleistung der Laserlichtquelle 12 so eingestellt, daß sie mit dem Wiedergabeleistung-Einstellbezugswert REF für den Laser übereinstimmt. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel wird der Wiedergabeleistung-Einstellbezugswert REF für den Laser so eingestellt, daß er an jeder radialen Wiedergabeposition der magnetooptischen Platte 11 an die Linienaufzeichnungsdichte angepaßt ist, was nun erläutert wird.
D.h., daß ein ROM 24 vorhanden ist, der eine Tabelle von Wiedergabeleistung-Einstellbezugswerten REF für den Laser in eindeutiger Beziehung zu den Linienaufzeichnungsdichten an jeweiligen Spurpositionen der magnetooptischen Achse 11 einspeichert. Derartige Wiedergabeleistung-Einstellbezugswerte REF für den Laser, die zu optimalen Größen des oben genannten effektiven Wiedergabebereichs (Auslesebereich RD oder Signalerfassungsbereich DT) führen, wie für die Wiedergabe geeignet, wenn eine magnetooptische Platte vom Löschtyp oder eine solche vom Abschwächungstyp mit jeweiligen Lineargeschwindigkeiten an den jeweiligen Spurwiedergabepositionen abgespielt wird, werden vorab erfaßt und in den ROM 24 eingespeichert.
Ob die Größe des Wiedergabebereichs RD oder DT einen optimalen, konstanten Wert hat oder nicht, kann abhängig davon erfaßt werden, ob der Pegel des HF-Signals von der Signalverarbeitungsschaltung 15 einen vorgegebenen Wert hat, wenn z.B. eine vorgegebene Bezugsmusterinformation wiedergegeben wird.
Fig. 7 zeigt die Beziehung zwischen der Linienaufzeichnungsdichte und dem T/R-Verhältnis der Wiedergabesignale abhängig von Änderungen der Ausgangsleistung der Laserlichtquelle 12. In Fig. 7 ist das T/R-Verhältnis entlang der Ordinate aufgezeichnet, während die Linienaufzeichnungsdichte, die der radialen Wiedergabeposition auf der Platte 11 entspricht, entlang der Abszisse aufgezeichnet ist. Eine Kurve a kennzeichnet die Charakteristik, wenn die Laserausgangsleistung erhöht ist, während eine Kurve b und eine Kurve c die Charakteristik kennzeichnen, wenn die Laserleistung abgesenkt ist bzw. wenn sie sich auf einem Zwischenwert befindet.
Aus Fig. 7 ist es erkennbar, daß Wiedergabe mit niedriger Aufzeichnungsdichte am Außenumfang der magnetooptischen Platte 11, wo niedrige Linienaufzeichnungsdichte vorliegt, mit niedriger Laserleistung erzielt werden kann, jedoch mit hoher Laserleistung am Innenumfang der magnetooptischen Platte 11 mit hoher Aufzeichnungsdichte. Aus diesem Grund sind die im ROM 24 abgespeicherten Laserleistung-Einstell bezugswerte REF dergestalt, daß die Ausgangsleistung der Laserlichtquelle gleichmäßig verringert wird, wenn die Wiedergabeposition vom inneren zum äußeren Umfangsbereich der magnetooptischen Platte 11 fortschreitet.
In einem Adressendecodierer 7 eines Datenwiedergabesystems 16 werden Spuradressen aus den Wiedergabesignalen entnommen und erkannt. Diese Spuradressen werden als Ausleseadressen für den ROM 24 an diesen geliefert. Abhängig von den Linienaufzeichnungsdichten an den Spurwiedergabepositionen werden verschiedene Werte für die Laserleistung-Einstellbezugswerte REF ausgelesen. Die ausgelesenen Einstellbezugswerte REF werden an den automatischen Leistungsregler 22 gegeben, durch den die Ausgangsleistung der Laserlichtquelle 12 so eingestellt wird, daß sie mit den Einstellbezugswerten übereinstimmt, die ihrerseits an die Linienaufzeichnungsdichten an den Wiedergabepositionen auf der magnetooptischen Platte 11 angepaßt sind.
Auf diese Weise kann selbst dann, wenn die radiale Wiedergabeposition auf der magnetooptischen Platte 11 und demgemäß die Linienaufzeichnungsdichte eine Änderung erfährt, die optimale Größe des Wiedergabebereichs RD oder DT für ein Wiedergabeverfahren vom Löschtyp oder Abschwächungstyp entsprechend dem aktuellen Wert der Linienaufzeichnungsdichte dadurch aufrechterhalten werden, daß die Laserleistung eingestellt wird, um dauernd stabile Wiedergabe zu gewährleisten.
Indessen kann die Schaltung zum Erzeugen der Wiedergabeleistung-Einstellbezugswerte REF dadurch aufgebaut werden, daß anstelle des ROM 24 eine Schaltung verwendet wird, die die Wiedergabeleistung-Einstellbezugswerte REF für den Laser durch Verarbeitung der Spuradresseninformation auffindet.
Anstatt die Laserleistung-Einstellbezugswerte für die jeweiligen Spuren zu ändern, kann ein Laserleistung-Einstellbezugswert jeweils einem Satz mehrerer Spuren zugeordnet sein. In diesem Fall kann ein Laserleistung-Einstellbezugswert, der einer Linienaufzeichnungsdichte in der mittleren der mehreren Spuren zugeordnet ist, als Laserleistung-Einstellbezugswert für den Spurensatz verwendet werden.
Obwohl die Größe des Wiedergabebereichs RD oder DT abhängig von der Linienaufzeichnungsdichte an den jeweiligen Wiedergabepositionen der magnetooptischen Platte 11 dadurch optimal eingestellt wird, daß die Laserleistung eingestellt wird, können ähnliche Effekte auch dadurch erzielt werden, daß das externe Magnetfeld (Wiedergabemagnetfeld Hlesen) eingestellt wird.
D.h., daß beim Wiedergabeverfahren vom Löschtyp z.B. die Temperatur, bei der die Erzeugung des Maskierbereichs (gelöschten Bereichs) ER beginnt, nicht genau die Curietemperatur Tc2 der Zwischenschicht 62 ist, sondern daß sie in Zusammenhang mit dem Wiedergabemagnetfeld Hlesen steht, wobei es sich um eine Temperatur handelt, für die das Folgende gilt:
Hc1 + Hw < Hlesen (1),
wobei Hc1 die Koerzitivfeldstärke der Wiedergabeschicht 61 ist und Hw die Austauschkopplungskraft zwischen den Schichten 61 und 63 ist. Diese Austauschkopplungskraft Hw zwischen der Wiedergabeschicht 61 und der Aufzeichnungsschicht 63 nimmt mit einem Temperaturanstieg ab und wird bei der Curietemperatur Tc2 der Zwischenschicht 62 Null.
Fig. 7 zeigt die Temperaturcharakteristik für Hc1 + Hw. In Fig. 7 ist Tc1 die Curietemperatur der Wiedergabeschicht 61. Bei einer Temperatur der Zwischenschicht über der Curietemperatur Tc2 ist die Koerzitivfeldstärke ähnlich derjenigen einer Pol-Wiedergabeschicht.
Um die Domänen der Wiedergabeschicht einer magnetooptischen Platte auszurichten, reicht es aus, ein Magnetfeld anzulegen, das größer als Hc1 + Hw ist, wie durch die Formel (1) angegeben. Daher wird, wenn Hr0 als Wiedergabemagnetfeld Hlesen in Fig. 8 für dieselbe Temperaturverteilung angelegt wird, der Bereich über der Curietemperatur Tc2 der Maskierungsbereich ER. Wenn jedoch die Stärke des Wiedergabemagnetfelds Hlesen den Wert Hr1 hat, wird der Bereich bis zu einer Temperatur Ta und der Curietemperatur Tc2 der Maskierungsbereich ER. Demgemäß ändert sich die Größe des Maskierungsbereichs abhängig von der Stärke des Wiedergabemagnetfelds Hlesen, wobei sich die Größe des Wiedergabebereichs RD ändert.
Auf diese Weise kann der Wiedergabebereich durch Ändern des externen Magnetfelds, wie des Wiedergabemagnetfelds Hlesen, abhängig von der Temperatur der magnetooptischen Platte 11, dauernd konstant gemacht werden.
Im Fall des Wiedergabeverfahrens vom Abschwächungstyp kann das Wiedergabemagnetfeld dadurch eingestellt werden, daß es auf ähnliche Weise so eingestellt wird, daß die Größe des Wiedergabebereichs DT konstant gemacht wird.
Fig. 9 zeigt ein Ausführungsbeispiel wesentlicher Teile einer Wiedergabevorrichtung, bei der das Wiedergabemagnetfeld abhängig von der Temperatur der magnetooptischen Platte eingestellt wird. Auf ähnliche Weise wie beim vorigen Ausführungsbeispiel wird die magnetooptische Platte 11 durch ein System mit konstanter Winkelgeschwindigkeit (CAV) geregelt.
Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel wird der konstante Laserleistung-Einstellbezugswert REF von einem Bezugswertgenerator 25 an eine automatische Leistungseinstellschaltung 22 gegeben, und die Ausgangslaserleistung der Laserlichtquelle 12 wird entsprechend diesem Bezugswert REF auf einen konstanten Wert geregelt.
Der Bezugswert Mref vom Bezugswertgenerator 33 wird an einen Addierer 34 geliefert, in den er zu einem Korrekturwert von einem ROM 35 addiert wird, der zum Erzeugen von Korrekturwerten ausgebildet ist. An einen Treiber 32 wird ein Treibersignal geliefert, das aus dem erzeugten Summenwert besteht. Demgemäß hat die Stärke des Wiedergabemagnetfelds Hlesen einen dem Bezugswert REF entsprechenden vorgegebenen Wert, wenn der Korrekturwert Null ist, so daß sich die Stärke abhängig vom Korrekturwert um den vorgegebenen Wert herum ändert.
Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel speichert der ROM 35 eine Tabelle für Korrekturwerte entsprechend den Linienaufzeichnungsdichten der magnetooptischen Platte 11 an den Wiedergabepositionen. Spuradressen vom Adressendecodierer 17 werden als Ausleseadressen in den ROM 35 eingegeben. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel sind die im ROM 35 abgespeicherten Korrekturwerte derartige Werte, daß die Größen der Wiedergabebereiche RD und DT für jeweilige Linienaufzeichnungsdichten der magnetooptischen Platte, die an verschiedenen radialen Wiedergabepositionen der magnetooptischen Platte 11 verschieden sind, dauernd konstant bleiben.
Ob die Größe des Wiedergabebereichs RD oder DT konstant bleibt oder nicht, kann erneut abhängig davon erfaßt werden, ob der Pegel des HF-Signals vom Signaiprozessor 15 einen konstanten Wert hat oder nicht, wenn die Information eines vorgegebenen Bezugsmusters wiedergegeben wird.
Auf diese Weise werden während der Wiedergabe Spuradressen aus den Abspielsignalen mittels des Adressendecodierers 17 erfaßt. Auf Grundlage dieser Spuradressen werden die Korrekturwerte, die an die Linienaufzeichnungsdichten an den Wiedergabepositionen angepaßt sind, aus dem ROM 35 ausgelesen, um einem Addierer 54 zugeführt zu werden. Dieser stellt die Stärke des Wiedergabemagnetfelds Rlesen so ein, daß die Größe des Wiedergabebereichs RD oder DT immer konstant ist.
Indessen kann anstelle des ROM 35 eine Schaltung zum Berechnen der Korrekturwerte aus der Spuradresseninformation als Korrekturwertgenerator verwendet werden.
Die Laserleistung und das externe Magnetfeld können auch gleichzeitig eingestellt werden, anstatt die Laserleistung und das externe Magnetfeld abhängig von den Linienaufzeichnungsdichten der magnetooptischen Platte an den Wiedergabepositionen unabhängig einzustellen, wie beim obigen Ausführungsbeispiel.
Obwohl die Wiedergabeposition, d.h. die radialen Positionen des optischen Aufnehmers während der Wiedergabe auf der magnetooptischen Platte 11 beim oben beschriebenen Ausführungsbeispiel dadurch erfaßt werden, daß in den Abspielsignalen enthaltene Spuradressen entnommen werden, kann die Position des optischen Aufnehmers auch durch einen Positionssensor erfaßt werden.
Bei einem Ausführungsbeispiel für den letztgenannten Fall, das in Fig. 10 dargestellt ist, werden sowohl die Laserleistung als auch das Wiedergabemagnetfeld gleichzeitig eingestellt.
In Fig. 10 enthält ein optischer Aufnehmer 40 eine Laserlichtquelle 12, Photodetektoren 13, 21 und ein optisches System, das nicht dargestellt ist. Der optische Aufnehmer 40 ist so ausgebildet, daß er durch eine Radialvorschubeinheit 41 entlang dem Radius der magnetooptischen Platte 11 verschoben werden kann.
In der Radialvorschubeinheit 41 ist ein Positionssensor 42, wie ein Potentiometer, vorhanden. Die Position des Laserstrahl-Abtastflecks vom optischen Aufnehmer 42 entlang dem Radius der magnetooptischen Platte 11, d.h. die Wiedergabeposition, kann vom Positionssensor 42 erfaßt werden. Das Ausgangssignal des Positionssensors 42 wird an eine Wiedergabeposition-Erkennungsschaltung 43 geliefert. Das Ausgangssignal dieser Wiedergabeposition-Erkennungsschaltung 43, das die Wiedergabeposition auf der magnetooptischen Platte 11 anzeigt, wird als Ausleseadresse an einen ROM 24 geliefert, der so ausgebildet ist, daß er die Wiedergabeleistung-Einstellbezugswerte für den Laser erzeugt, und es wird an den ROM 35 gegeben, der so ausgebildet ist, daß er Korrekturwerte zum Korrigieren des Wiedergabemagnetfelds Hlesen erzeugt.
Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel speichern die ROMS 24 und 35 Sätze von Laserleistung-Einstellbezugswerten REF und Korrekturwerten, die verschiedenen Linienaufzeichnungsdichten zugeordnet sind und die zu optimaler Größe des Wiedergabebereichs RD oder DT selbst dann führen, wenn die Linienaufzeichnungsdichten an den jeweiligen Wiedergabepositionen verschieden sind.
Die Laserleistung und das Wiedergabemagnetfeld können auf diese Weise abhängig von den Linienaufzeichnungsdichten an den Wiedergabepositionen in solcher Weise eingestellt werden, daß, ähnlich wie beim oben beschriebenen Ausführungsbeispiel, stabile Wiedergabe jederzeit an jeder beliebigen Wiedergabeposition der magnetooptischen Platte 11 erzielt werden kann.
Ähnlich wie beim vorangehenden Ausführungsbeispiel kann anstelle der ROMs 24 und 35 auch eine Verarbeitungsschaltung zum Auffinden der Wiedergabeleistung-Einstellbezugswerte REF für den Laser und der Korrekturwerte aus der Information betreffend die radiale Position vom Positionssensor 42 verwendet werden.
Obwohl die magnetooptische Platte durch ein System mit konstanter Winkelgeschwindigkeit (CAV) drehend angetrieben wird, kann die Erfindung auch bei einem sogenannten modifizierten CAV-Drehantriebssystem verwendet werden.
D.h., daß beim modifizierten CAV-System zwar bei der magnetooptischen Platte das CAV-System verwendet ist, daß jedoch die radiale Richtung der Platte in mehrere Zonen unterteilt ist und Aufzeichnungs-/Wiedergabevorgänge unter Verwendung von Datentaktfrequenzen ausgeführt werden, die von einer Zone zur anderen auf solche Weise verschieden sind, daß die lineare Aufzeichnungsdichte in jeder Zone ZN ausgehend vom Innenumfang zum Außenumfang im wesentlichen konstant ist, um die Aufzeichnungsdichte zu erhöhen.
Durch Kombinieren des modifizierten CAV-Rotier- und -Antriebssystems mit dem Wiedergabeverfahren vom Lösch- oder Abschwächungstyp kann Aufzeichnung/Wiedergabe mit höherer Dichte als dann erzielt werden, wenn das CAV-System als Dreh- und Antriebssystem verwendet wird. Außerdem kann höhere Zugriffsgeschwindigkeit erzielt werden, wenn das erfindungsgemäße Wiedergabeverfahren auf eine magnetooptische Platte für Datenaufzeichnung angewendet wird.
Die Erfindung kann auch auf eine magnetooptische Platte von einem Typ angewandt werden, der aus einer Mischung des Lösch- und des Abschwächungstyps besteht.
Durch eine Wiedergabetechnologie für hohe Dichte, die diese magnetooptischen Aufzeichnungsmedien verwendet, können Aufzeichnungspits aus Wiedergabebereichen gelesen werden, die sogar kleiner als die Strahlfleckfläche sind. Außerdem kann die effektive Größe des Wiedergabebereichs unabhängig von den Linienaufzeichnungsdichten der Aufzeichnungsmedien dauernd konstant gemacht werden, was für stabile Wiedergabe sorgt. Das Ergebnis besteht darin, daß hohe Dichte erzielt werden kann, was die Kapazität des Aufzeichnungsmediums er höht, wobei dauernd Wiedergabesignale hoher Qualität erzeugt werden.
Die obigen Ausführungsbeispiele sind auf ein bespielbares magnetooptisches Aufzeichnungsmedium gerichtet. Die folgende Beschreibung erfolgt für ein Ausführungsbeispiel, bei dem die Erfindung auf ein optisches Aufzeichnungsmedium mit variablem Reflexionsvermögen angewendet ist.
Als Technik, die ein optisches Aufzeichnungsmedium mit variablem Reflexionsvermögen betrifft, hat die Anmelderin bereits in der Beschreibung und den Zeichnungen der Japanischen Patentanmeldung Nr. H-2-94452 (1990) ein Signalaufzeichnungsverfahren für eine optische Platte vorgeschlagen, und in der Beschreibung und den Zeichnungen der Japanischen Patentanmeldung Nr. H-2-291773 (1990) hat sie eine optische Platte vorgeschlagen. In der ersteren ist ein Signalwiedergabeverfahren für eine optische Platte offenbart, bei dem Ausleselicht auf eine optische Platte gestrahlt wird, auf der Phasenpits abhängig von Signalen ausgebildet sind, und deren Reflexionswerte sich temperaturabhängig ändern, wobei die Phasenpits gelesen werden, während das Reflexionsvermögen teilweise innerhalb des Abrasterstrahlflecks des Auslesestrahl geändert wird. In der letzteren ist eine optische Platte vom sogenannten Phasenänderungstyp offenbart, bei der eine Schicht aus einem Material, dessen Reflexionsvermögen sich bei Phasenänderungen ändert, auf einem transparenten Substrat ausgebildet ist, wobei sich die Reflexionswerte bei Phasenänderungen ändern und wobei, wenn die Platte durch den Auslesestrahl beleuchtet wird, die Schicht teilweise innerhalb des Abtastflecks des Ausleselichts Phasenänderungen erfährt, mit einer Rücksetzung in einen Anfangszustand nach dem Abschluß des Auslesevorgangs.
Das Material der Schicht ist vorzugsweise ein solches Material, bei dem eine Schicht aus einem Phasenänderungsmaterial nach dem Schmelzen kristallisieren kann und bei dem, wenn die Schicht mit dem Auslesestrahl bestrahlt wird, das Material innerhalb des Abtastflecks des Auslesestrahls im geschmolzenen und kristallisierten Bereich in die flüssige Phase wechselt, um das Reflexionsvermögen zu ändern, wobei es nach dem Ende des Auslesevorgangs in den kristallisierten Zustand zurückgeführt wird.
Fig. 11 zeigt wesentliche Teile einer Plattenwiedergabevorrichtung, bei der ein modifiziertes Ausführungsbeispiel des erfindungsgemäßen Wiedergabeverfahrens unter Verwendung des optischen Aufzeichnungsmediums mit variablem Reflexionsvermögen, insbesondere einer optischen Platte mit Phasenänderung, angewendet ist.
In Fig. 12 ist eine optische Platte 100 eine optische Platte vom Typ mit variablem Reflexionsvermögen, vor allem eine optische Platte vom Phasenänderungstyp. Eine Platte, bei der das Reflexionsvermögen eines Abschnitts, der mit dem Ausleselaserstrahl beleuchtet ist und dessen Temperatur erhöht ist, geringer ist als das des restlichen Abschnitts, entspricht einer magnetooptischen Platte vom Löschtyp, während eine Platte, bei der das Reflexionsvermögen eines Abschnitts derselben mit erhöhter Temperatur höher als dasjenige des restlichen Abschnitts ist, einer magnetooptischen Platte vom Abschwächungstyp entspricht. Das vorliegende Ausführungsbeispiel ist nicht nur auf beide Typen von optischen Platten vom Phasenänderungstyp anwendbar, sondern auch auf optische Platten mit variablem Reflexionsvermögen, die auf einem anderen Betriebsprinzip beruhen.
Die in Fig. 11 dargestellte Anordnung ist dieselbe wie die in Fig. 4 dargestellte, mit der Ausnahme, daß die Magnetfeld-Erzeugungsspule 21, der Treiber 22 und der Bezugswertgenerator 33 weggelassen sind und anstelle der magnetooptischen Platte 11 eine optische Platte 100 mit variablem Reflexionsvermögen verwendet ist.
D.h., daß beim vorliegenden Ausführungsbeispiel die Position des optischen Aufnehmers entlang dem Radius der optischen Platte 100 vom Reflexionstyp, d.h. die Wiedergabeposition, dadurch erfaßt wird, daß die oben genannte Spuradresse erfaßt wird, und die Laserlichtleistung entsprechend der Lineargeschwindigkeit an der Wiedergabeposition eingestellt wird, um die Griße des Abschnitts innerhalb des Strahlflecks des Laserlichts, in dem das Reflexionsvermögen geändert ist, so einzustellen, daß optimale Größe des Abschnitts hohen Reflexionsvermögens innerhalb des Strahlflecks gewährleistet ist, bei dem es sich um den effektiven Wiedergabebereich handelt.
In Fig. 11 trifft ein Laserstrahl von der Laserlichtquelle 12 auf die optische Platte 100, und der von einem Wiedergabebereich als Teilbereich innerhalb eines Laserstrahlflecks reflektierte Strahl trifft auf einen Wiedergabe-Photodetektor 13, um photoelektrische Umwandlung zu erfahren, während Ausgangssignale vom Photodetektor 13 mittels eines Kopfverstärkers 14 an einen Signalprozessor 15 geliefert werden, um HF-Signale zu erzeugen, die zur Demodulation an ein Datenwiedergabesystem geliefert werden.
Ein Teil des Laserstrahls von der Laserlichtquelle 12 trifft auf einen Photodetektor 16 zur Überwachung der Laserleistung, um photoelektrische Umwandlung zu erfahren, bevor eine Zuführung an den automatischen Leistungsregler 17 erfolgt. Im automatischen Regler 17 werden das Ausgangssignal des Photodetektors 16 und der Wiedergabeleistung-Einstellbezugswert REF für den Laser miteinander verglichen. Die vom Regler 17 ausgegebene Vergleichsabweichung wird der Lasertreiberschaltung 23 zugeführt, um die Ausgangsleistung der Laserlichtquelle 12 einzustellen.
Ein Teil des Laserstrahls von der Laserlichtquelle 12 trifft auf den Laserleistung-Überwachungsphotodetektor 21. Mittels der oben genannten Regelschleife wird das photoelektrisch umgesetzte Ausgangssignal des Photodetektors 21 so geregelt, daß die Ausgangsleistung der Laserlichtquelle 12 einem Wert entspricht, der dem Wiedergabeleistung-Einstellbezugswert REF für den Laser entspricht. Dieser Einstellbezugswert REF wird so eingestellt, daß er an die Linienaufzeichnungsdichte an jeder Wiedergabeposition entlang dem Radius der optischen Platte 100 mit variablem Reflexionsvermögen angepaßt ist.
Zu diesem Zweck ist ein ROM 24 zum Abspeichern einer Tabelle von Wiedergabeleistung-Einstellbezugswerten REF für den Laser vorhanden, die in eindeutiger Beziehung zu den Linienaufzeichnungsdichten an den Spurpositionen der optischen Platte 100 gehören. In diesem Fall wurden Wiedergabeleistung-Einstellbezugswerte REF für den Laser, die zu konstanten Größen des effektiven Wiedergabebereichs der optischen Platte 100 führen, wie für die Zustände der Linienaufzeichnungsdichten für die jeweiligen Spurwiedergabepositionen am geeignetsten, zuvor erfaßt und in den ROM 24 eingespeichert. Ob die Größe des Wiedergabebereichs eine optimale, konstante Größe ist, kann abhängig davon erkannt werden, ob der Pegel des HF-Signals vom Signalprozessor 15 einen vorgegebenen Wert hat oder nicht, wenn die Information von z.B. einem vorgegebenen Bezugsmuster wiedergegeben wird.
Im Adressendecodierer 17 des Datenwiedergabesystems 16 werden aus den Abspielsignalen Spuradressen entnommen und erkannt. Diese Spuradressen werden als Ausleseadressen an den ROM 24 geliefert. Verschiedene Werte der Wiedergabeleistung- Einstellwerte REF für den Laser werden aus dem ROM 24 abhängig von verschiedenen Lineargeschwindigkeiten an den Spurwiedergabepositionen ausgelesen. Die ausgelesenen Einstellbezugswerte REF werden an einen automatischen Leistungsregler 22 geliefert, um die Ausgangsleistung der Laserlichtquelle 12 so einzustellen, daß sie mit dem Einstellbezugs wert REF entsprechend der Linienaufzeichnungsdichte an der aktuellen Wiedergabeposition auf der optischen Platte 100 übereinstimmt.
Wenn im Fall der optischen Platte 100 mit variablem Reflexionsvermögen, wie bei der oben beschriebenen magnetooptischen Platte, die Wiedergabeposition entlang dem Radius der optischen Platte 100 geändert wird, ändert sich die Temperaturverteilung hinsichtlich des Laserstrahl-Abrasterflecks mit der Linienaufzeichnungsdichte der Platte an der aktuellen Wiedergabeposition. Durch Einstellen der Laserleistung auf die oben beschriebene Weise kann die Größe des Wiedergabebereichs selbst dann konstant gehalten werden, wenn die Linienaufzeichnungsdichte an der Wiedergabeposition der magnetooptischen Platte 11 geändert ist. Aus dem Obigen ist es ersichtlich, daß dann, wenn die Wiedergabeposition entlang dem Radius der optischen Platte 100 mit variablem Reflexionsvermögen, und demgemäß die lineare Geschwindigkeit, geändert wird, der Wiedergabebereich dadurch auf konstanter Größe gehalten werden kann, daß die Laserleistung eingestellt wird, so daß dauernd stabile Wiedergabe erzielt werden kann.
Das in Fig. 11 dargestellte Ausführungsbeispiel kann auf dieselbe Weise modifiziert werden, wenn die magnetooptische Platte verwendet wird. Z.B. kann der Ausleselichtstrahl intensitätsmäßig auf Grundlage der Lineargeschwindigkeit der Platte eingestellt werden, oder die Größe des Abschnitts innerhalb des Strahlflecks, in dem das Reflexionsvermögen geändert ist, kann auf Grundlage des Pegels des vom optischen Aufzeichnungsmedium ausgelesenen Signals eingestellt werden. Die Einstellwerte können anstatt unter Verwendung des ROM 24 auch durch Verarbeitung aufgefunden werden. Die Erfindung kann auch auf den Fall der Verwendung des oben genannten modifizierten CAV-Rotations- und -Antriebssystems angewendet werden.
Als Beispiel einer optischen Platte 100 vom Typ mit variablem Reflexionsvermögen, wie beim Ausführungsbeispiel der Fig. 11 verwendet, wird eine Platte vom Phasenänderungstyp erläutert, bei der eine Schicht aus einem Phasenänderungsmaterial, das nach einem Aufschmelzvorgang kristallisieren kann, verwendet wird, und bei der dann, wenn die Schicht aus dem Phasenänderungsmaterial mit dem Auslesestrahl beleuchtet wird, diese Schicht in einem geschmolzenen und kristallisierten Bereich innerhalb des Auslesestrahlflecks teilweise verflüssigt wird, wodurch sich das Reflexionsvermögen ändert, wobei die so verflüssigte Schicht nach dem Ende des Auslesens in den kristallisierten Zustand zurückgeführt wird.
Gemäß der schematischen Schnittansicht der Fig. 11, die eine optische Platte vom Phasenänderungstyp zeigt, wie sie als in Fig. 12 dargestellte optische Platte 100 verwendet wird, ist eine Schicht aus einem Phasenänderungsmaterial 104 über einer ersten dielektrischen Schicht 103 auf einem transparenten Substrat 102 ausgebildet, auf dem Phasenpits ausgebildet sind (unten in der Zeichnung); eine zweite dielektrische Schicht 105 ist auf der Schicht 104 ausgebildet (unten in der Zeichnung, was anschließend dasselbe ist) und eine Reflexionsschicht 106 ist auf der zweiten dielektrischen Schicht ausgebildet. Die optischen Eigenschaften, wie das Reflexionsvermögen werden durch diese erste und zweite dielektrische Schicht 103 und 105 eingestellt.
Falls erforderlich, kann zusätzlich eine Schutzschicht, die nicht dargestellt ist, auf der Reflexionsschicht 106 abgeschieden sein.
Gemäß alternativen Strukturen optischer Platten vom Phasenänderungstyp kann nur das Phasenänderungsmaterial 104 in engem Kontakt unmittelbar auf dem transparenten Substrat 102 abgeschieden sein, auf dem vorab Pits ausgebildet sind, wie in Fig. 13 dargestellt, oder es können eine erste dielektrische Schicht 103, eine Phasenänderungsmaterial-Schicht 104 und eine zweite dielektrische Schicht 105 aufeinanderfolgend auf einem transparenten Substrat 102 ausgebildet sein, auf dem zuvor Phasenpits ausgebildet wurden, wie in Fig. 14 dargestellt.
Das transparente Substrat 102 kann ein solches aus Kunstharz wie Polycarbonat oder Methacrylat sein, oder ein Glassubstrat. Alternativ kann eine Photopolymerschicht auf dem Substrat abgeschieden werden und Phasenpits können durch einen Stempel ausgebildet werden.
Das Phasenänderungsmaterial kann ein solches Material sein, das innerhalb des Abtastflecks des Ausleselichts teilweise Phasenänderungen erfährt und das nach dem Auslesen zurückgesetzt wird, wobei sich das Reflexionsvermögen bei Phasenänderungen ändert. Zu Beispielen für das Material gehören Chalkogenite wie Sb&sub2;Se&sub3;, Sb&sub2;Te&sub3;, die Chalkogenverbindungen sind, andere Chalkogenite oder Elementchalkogenite, d.h Chalkogenitmaterialien wie Se oder Te, Chalkogenite derselben wie BiTe, BiSe, In-Se, In-Sb-Te, In-SbSe, In-Se-Tl, Ge-Te-Sb oder Ge-Te. Wenn die Phasenänderungsmaterial- Schicht 104 aus einem Chalkogen oder Chalkogenit besteht, können ihre Eigenschaften, wie die Wärmeleitfähigkeit oder die spezifische Wärme, optimiert werden, um für eine zufriedenstellende Temperaturverteilung aufgrund des Ausleselaserstrahls zu sorgen. Außerdem können der geschmolzene Zustand im geschmolzenen und kristallisierten Bereich, wie später erläutert, zufriedenstellend erzielt werden, um eine ultrahohe Auflösung mit hohem S/R- oder T/R-Verhältnis zu erzielen.
Die erste dielektrische Schicht 103 und die zweite dielektrische Schicht 105 können z.B. aus Si&sub3;N&sub4;, SiO, Si0&sub2;, AlN, Al&sub2;O&sub3;, ZnS oder MgF&sub2; bestehen. Die Reflexionsschicht 106 kann aus Al, Cu, Ag oder Au bestehen, vermischt mit kleineren Mengen an Zusatzstoffen, falls erwünscht.
Als konkretes Beispiel für eine optische Platte vom Phasenänderungstyp wird eine optische Platte mit der in Fig. 12 dargestellten Anordnung erläutert. Bei dieser optischen Platte ist eine Schicht aus einem Material, das nach dem Aufschmelzen kristallisieren kann, auf einem transparenten Substrat ausgebildet, auf dem vorab Phasenpits hergestellt wurden. Wenn ein Auslesestrahl eingestrahlt wird, wird die Schicht des Phasenänderungsmaterials in einem geschmolzenen und kristallisierten Bereich innerhalb des auslesenden Abtaststrahlflecks teilweise verflüssigt und nach dem Auslesen in den kristallisierten Zustand zurückversetzt.
Als transparentes Substrat 102 in Fig. 12 wurde ein sogenanntes 2P-Glassubstrat verwendet. Auf einer Hauptfläche des Substrats 102 ausgebildete Phasenpits 101 hatten eine Spurschrittweite von 1,6 µm, eine Pittiefe von ungefähr 1200 Å und eine Pitweite von 0,5 µm. Auf der einen Hauptfläche des transparenten Substrats 102 mit diesen Pits 101 wurde eine erste dielektrische Schicht 103 aus AlN mit einer Dicke von 900 Å abgeschieden, und an der Unterseite, bezogen auf Fig. 13, der Schicht 103, wurde danach eine Schicht aus einem Phasenänderungsmaterial 104 aus Sb&sub2;Se&sub3; abgeschieden. Darauf wurde eine zweite dielektrische Schicht 105 aus AlN abgeschieden, und darauf wurde eine Al-Reflexionsschicht 106 mit einer Dicke von 300 Å abgeschieden.
In einem Abschnitt der optischen Platte ohne Aufzeichnungssignale, d.h. in einem Teil derselben mit spiegelglatter Oberfläche ohne Phasenpits 101 wurde der folgende Vorgang ausgeführt.
Ein Laserstrahl von z.B. 780 nm wurde fokussiert auf einen Punkt der optischen Platte aufgestrahlt, der dann dadurch initialisiert wurde, daß er langsam abkühlen konnte. Dann wurde derselbe Punkt mit einem Laserimpuls mit einer auf 0 < P ≤ 10 mW eingestellten Laserleistung P bestrahlt. Die Impulsbreite wurde auf 260 ns ≤ t ≤ 2,6 µs eingestellt. Das Ergebnis ist das, daß dann, wenn das Reflexionsvermögen zwischen zwei Festphasenzuständen, vor der Impulseinstrahlung und nach der Impulseinstrahlung gefolgt von einem Abkühlen auf Raumtemperatur, geändert ist, die Schicht von einem kristallinen in einen amorphen Zustand geändert ist. Wenn sich das Reflexionsvermögen bei diesem Vorgang nicht ändert, jedoch das Ausmaß an zurückgeliefertem Strahl einmal während der Einstrahlung des Impulsstrahls geändert wird, ist dies ein Hinweis darauf, daß der Film im kristallinen Zustand einmal aufschmolz und wieder kristallisierte. Der Bereich im geschmolzenen Zustand, der einmal flüssig wurde und dann durch Absenken der Temperatur in den kristallinen Zustand zurückkehren konnte, wird als geschmolzener und kristallisierter Bereich bezeichnet.
Fig. 15 zeigt die Phasenzustände der Schicht des Phasenänderungsmaterials 104 aus Sb&sub2;Se&sub3; und Werte der Impulsbreite des eingestrahlten Laserimpulses, aufgetragen auf der Abszisse und der Laserstrahlleistung, aufgetragen auf der Ordinate. In dieser Figur kennzeichnet ein schraffierter Bereich R&sub1; unter einer Kurve a ein Gebiet, in dem die Schicht aus dem Phasenänderungsmaterial 104 nicht geschmolzen ist, d.h. ihren Ausgangszustand beibehielt. In dieser Figur wird das Gebiet über der Kurve a bei Laserfleckeinstrahlung flüssig, d.h. geschmolzen. Ein Bereich zwischen den Kurven a und b ist ein geschmolzener und kristallisierter Bereich, der in einen kristallinen Zustand zurückgeführt wird, wenn er durch Wegnehmen des Laserstrahlflecks auf ungefähr Umgebungstemperatur gekühlt wird und dadurch in eine feste Phase zurückgeführt wird. Umgekehrt ist ein schraffiertes Gebiet R&sub3; über der Kurve b ein geschmolzenes, amorphes Gebiet, das amorph wird, wenn es durch Wegnehmen des Laserstrahlflecks abkühlt und in eine feste Phase zurückkehrt.
Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel sind die Wiedergabelaserleistung, der Aufbau der optischen Platte, der Materialtyp und die Filmdicken so ausgewählt, daß im Verlauf der Abkühlung auf Umgebungstemperatur ausgehend vom erwärmten Zustand, hervorgerufen durch die Einstrahlung des Auslesestrahls während der Wiedergabe, die Zeit Δt, die zwischen dem Zeitpunkt verstreicht, zu dem durch Einstrahlen während des Auslesestrahls während der Wiedergabe der erhitzte Zustand erreicht wurde, bis zum Abkühlen auf Umgebungstemperatur verstreicht, länger wird als die zur Kristallisierung erforderliche Zeit, so daß der Zustand der flüssigen Phase im geschmolzenen und kristallisierten Bereich R&sub2; in Fig. 15 während der Wiedergabe erzeugt wird.
Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel betrug das Reflexionsvermögen im Ausgangszustand, d.h. im kristallisierten Zustand, 57%, wohingegen es im geschmolzenen Zustand 16% betrug. Wenn Wiedergabe mit einer Abspielleistung von 9 mW und einer Lineargeschwindigkeit von 3 mis ausgeführt wurde, betrug das T/R-Verhältnis 25 dB.
Fig. 16 zeigt Meßergebnisse für die Phasenänderungszustände für ein anderes Beispiel der optischen Platte vom Phasenänderungstyp unter Verwendung von Sb&sub2;Te&sub3; als Phasenänderungsmaterial 104, ähnlich zu Fig. 15. In Fig. 16 sind Teile, die solchen von Fig. 15 entsprechen, durch dieselben Bezugszahlen gekennzeichnet. Beim vorliegenden Beispiel, das Sb&sub2;Te&sub3; verwendet, betrug das Reflexionsvermögen im kristallisierten Zustand, d.h. im Ausgangszustand, 20%, während es im geschmolzenen Zustand 10% betrug.
Indessen entspricht bei Chalkogeniten oder Chalkogenen, wie Sb&sub2;Se&sub3; oder Sb&sub2;Te&sub3;, das Reflexionsvermögen im amorphen Zustand im wesentlichen demjenigen im geschmolzenen Zustand. Die bei der Erfindung verwendete optische Platte wird mit ultrahoher Auflösung dadurch abgespielt, daß aus der Temperaturverteilung innerhalb des Abrasterflecks auf der optischen Platte Nutzen gezogen wird.
Unter Bezugnahme auf Fig. 17 erfolgt eine Erläuterung für einen Fall, bei dem ein Laserlichtstrahl auf die optische Platte vom Phasenänderungstyp gestrahlt wird.
In Fig. 17 kennzeichnet die Abszisse eine Position auf dem Strahlfleck bezogen auf die Abrasterrichtung X. Ein auf der optischen Platte durch Laserstrahleinstrahlung erzeugter Strahlfleck SP weist eine Lichtintensitätsverteilung auf, wie sie durch eine gestrichelte Linie a gekennzeichnet ist. Andererseits ist die Temperaturverteilung in der Schicht des Materials 104 vom Phasenänderungstyp leicht nach hinten in bezug auf die Strahlabrasterrichtung X verschoben, wie durch eine durchgezogene Linie b gekennzeichnet, und zwar abhängig von der Abrastergeschwindigkeit des Strahlflecks SP. Wenn der Laserstrahl in der durch den Pfeil X gekennzeichneten Richtung gerastert wird, wird die Temperatur der als Medium wirkenden optischen Platte allmählich ausgehend von der distalen Seite bezogen auf die Abrasterrichtung des Strahlflecks SP erhöht, bis schließlich die Temperatur höher als der Schmelzpunkt MP der Schicht 104 wird. In diesem Zustand wird die Schicht 104 ausgehend von ihrem anfänglich kristallinen Zustand in den geschmolzenen Zustand umgewandelt und es verringert sich z.B. ihr Reflexionsvermögen als Ergebnis des Übergangs in den geschmolzenen Zustand. Das Reflexionsvermögen im schraffierten Gebiet Px innerhalb des Strahlflecks SP ist erniedrigt. D.h., daß das Gebiet Px, in dem das Phasenpit 101 kaum gelesen werden kann, und ein Gebiet Pz, das im kristallisierten Zustand verbleibt, innerhalb des Strahlflecks SP existieren. D.h., daß selbst dann, wenn z.B. zwei Phasenpits 101 in ein und demselben Fleck SP existieren, wie dargestellt, nur das Phasenpit 101 im Gebiet Pz mit hohem Reflexionsvermögen, das gelesen werden kann, vorliegt, wohingegen das andere Phasenpit 101 im Gebiet Px mit extrem niedrigem Reflexionsvermögen liegt und demgemäß nicht gelesen werden kann. Auf diese Weise kann nur das einzelne Phasenpit 101 gelesen werden, obwohl im selben Strahlfleck SP mehrere Phasenpits 101 existieren.
Daher kann, wenn die Wellenlänge des Auslesestrahls λ ist und die numerische Apertur der Objektivlinse NA ist, Auslesen selbst dann zufriedenstellend erfolgen, wenn das Phasenpitintervall der Aufzeichnungssignale entlang der Abrasterrichtung des Auslesestrahls nicht größer als λ/2NA ist, so daß Signale mit ultrahoher Auflösung ausgelesen werden können, um die Aufzeichnungsdichte, vor allem die Liniendichte, und damit die Aufzeichnungskapazität des Aufzeichnungsmediums zu erhöhen.
Beim obigen Ausführungsbeispiel sind Betriebsbedingungen, wie Filmdicken, so eingestellt, daß das Reflexionsvermögen niedrig oder hoch ist, wenn sich die Schicht des Phasenänderungsmaterials 104 im geschmolzenen bzw. im kristallisierten Zustand befindet. Jedoch kann die Dicke oder der Aufbau jeder Schicht oder des Phasenänderungsmaterials so eingestellt sein, daß das Reflexionsvermögen im geschmolzenen Zustand oder im kristallisierten Zustand hoch bzw. niedrig ist, wobei ein Phasenpit im Hochtemperaturgebiet Px im Laserstrahlfleck SP liegt, wie in Fig. 17 dargestellt, so daß nur dieses Phasenpit im Hochtemperaturgebiet Px gelesen wird. Im Fall einer irreversiblen Phasenänderung, bei der die Temperatur in einem Gebiet durch Laserstrahlbeleuchtung so erhöht wird, daß der geschmolzene und kristallisierte Bereich R&sub3; erreicht wird, so daß selbst beim Abkühlen auf die Umgebungstemperatur kein Zurückführen in den ursprünglichen oder kristallisierten Zustand erfolgen kann, ist es nur erforderlich, einen gewissen Initialisierungsvorgang innerhalb des Schutzumfangs der Erfindung auszuführen. Z.B. kann durch Einstrahlen eines elliptischen Flecks nach dem Wiedergabelaserfleck zum Erwärmen der Schicht 104 auf den geschmolzenen und kristallisierten Bereich R&sub2; oder durch Erwärmen auf eine Temperatur unter dem Schmelzpunkt MP und nicht unter der Kristallisationstemperatur, die Schicht 104 dadurch initialisiert werden, daß sie vom amorphen Zustand in den kristallisierten Zustand zurückgeführt wird.
Obwohl sich das Reflexionsvermögen beim obigen Ausführungsbeispiel durch Phasenänderungen des Aufzeichnungsmediums ändert, kann das Reflexionsvermögen dadurch geändert werden, daß ein anderer Effekt genutzt wird. So kann das Reflexionsvermögen z.B. dadurch mittels der Temperatur geändert werden, daß Änderungen der spektralen Eigenschaften genutzt werden, wie sie durch Feuchtigkeitsadsorption durch ein Interferenzfilter gemäß einem in Fig. 18 dargestellten modifizierten Ausführungsbeispiel hervorgerufen werden.
Beim in Fig. 18 dargestellten Ausführungsbeispiel sind Materialien mit ausgesprochen verschiedenen Brechungsindizes wiederholt auf einem transparenten Substrat 132 abgeschieden, auf dem vorab Phasenpits 131 ausgebildet wurden, was mit Dicken erfolgt, die einem Viertel der Wellenlänge λ des Wiedergabestrahls entsprechen, um ein Interferenzfilter herzustellen. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel sind eine MgF-Schicht 133 (mit einem Brechungsindex von 1,38) und eine ZnS-Schicht 134 (mit einem Brechungsindex von 2,35) als Materialien mit deutlich verschiedenen Brechungsindizes verwendet. Jedoch können andere Kombinationen von Materialien mit größeren Unterschieden der Brechungsindizes verwendet werden. Z.B. kann SiO&sub2; mit einem niedrigeren Brechungsindex von 1,5 als Material mit niedrigem Brechungsindex verwendet werden, und TiO&sub2; mit einem Brechungsindex von 2,73 oder CeO&sub2; mit einem Brechungsindex von 2,35 kann als Material mit hohem Brechungsindex verwendet werden.
Die oben genannte MgF-Schicht 133 oder die ZnS-Schicht 134 werden durch Aufdampfen abgeschieden. Wenn das erreichte Vakuum auf einen Wert von z.B. 10&supmin;&sup4; Torr eingestellt wird, was niedriger als ein üblicher Wert ist, wird die Filmstruktur porös, was es ermöglicht, Feuchtigkeit einzufangen. Bei einem Interferenzfilter, das aus einem Film besteht, der auf diese Weise Feuchtigkeit eingefangen hat, sind das Reflexionsvermögen und die Spektraleigenschaften deutlich verschieden zwischen einem Zustand, bei dem sich das Filter auf Raumtemperatur befindet, und einem Zustand, bei dem das Filter bis nahe an die Siedetemperatur von Wasser erwärmt ist, wie es in Fig. 19 dargestellt ist. D.h., daß eine scharfe Wellenlängenverschiebung beobachtet wird, bei der die Spektralcharakteristik bei Raumtemperatur dergestalt ist, wie durch eine Kurve i dargestellt, mit einem Wendepunkt bei einer Wellenlänge λR, während die Charakteristik bei ungefähr dem Siedepunkt dergestalt ist, wie es durch eine Kurve ii dargestellt ist, mit einem Wendepunkt bei einer Wellenlänge λH, wobei eine Rückkehr zur durch die Kurve i dargestellten Charakteristik erfolgt, wenn die Temperatur abgesenkt wird. Dieser Effekt wird wahrscheinlich durch starke Änderungen des Brechungsindex aufgrund der Verdampfung der Feuchtigkeit hervorgerufen, was zu Änderungen der Spektralcharakteristik führt.
Daher wird, wenn die Wellenlänge der Lichtquelle des Wiedergabestrahls als Wellenlänge λ&sub0; zwischen diesen Wendepunkten λR und λH gewählt wird, das Reflexionsvermögen dynamisch zwischen dem Zustand bei Raumtemperatur und dem erwärmten Zustand geändert.
Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel wird Wiedergabe mit hoher Dichte dadurch ausgeführt, daß diese Reflexionsänderungen genutzt werden. Der Mechanismus einer Wiedergabe hoher Dichte wurde in Verbindung mit Fig. 17 beschrieben. In diesem Fall entspricht der Bereich, in dem Feuchtigkeit verdampft ist, um eine Wellenlängenverschiebung zu erzeugen, einem Bereich mit hohem Reflexionsvermögen, während der Abschnitt des Mediums, in dem die Temperatur nicht erhöht ist, der Maskierungsbereich ist. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel kehren die Reflexionseigenschaften zum ursprünglichen Zustand zurück, wenn die Temperatur abgesenkt wird, so daß kein spezieller Löschvorgang erforderlich ist.
Unter Verwendung einer optischen Platte vom Typ mit Reflexionsänderung als in Fig. 11 dargestellte optische Platte kann die Größe des effektiven Wiedergabebereichs (des Bereichs hohen Reflexionsvermögens unter den Bereichen Px und Pz in Fig. 17) selbst dann optimiert werden, wenn sich die Linienaufzeichnungsdichte der optischen Platte 100 ändert, so daß die Wiedergabe stabil ausgeführt werden kann, was jederzeit Wiedergabesignale hoher Qualität gewährleistet.
Es wird darauf hingewiesen, daß die Erfindung nicht auf die oben beschriebenen Ausführungsbeispiele beschränkt ist, sondern sie z.B. auf karten- oder folienförmige optische Aufzeichnungsmedien neben dem plattenförmigen Aufzeichnungsmedium angewendet werden kann.

Claims

1. Verfahren zum Wiedergeben von Informationssignalen von einem optischen Aufzeichnungsmedium mit einer Aufzeichnungsschicht und einer Wiedergabeschicht, wobei diese Aufzeichnungs- und die Wiedergabeschicht in einem Stationärzustand magnetisch miteinander gekoppelt sind, wobei das Verfahren folgendes umfaßt: Aufheben der magnetischen Kopplung zwischen der Aufzeichnungsschicht und der Wiedergabeschicht in einem Bereich, dessen Temperatur durch Einstrahlen eines Auslesestrahls während der Wiedergabe auf eine Temperatur über einer vorgegebenen Temperatur erhöht wird; und Lesen der durch die Auf zeichnungsschicht gespeicherten aufgezeichneten Information in einem Gebiet eines beleuchteten Bereichs, der vom Bereich mit aufgehobener magnetischer Kopplung abweicht; gekennzeichnet durch das Erfassen der Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium, wenn dieses mit konstanter Winkelgeschwindigkeit gedreht wird, um das Aufzeichnungsmedium abzuspielen; und Einstellen der Größe des Bereichs mit aufgehobener magnetischer Kopplung abhängig von der Linienaufzeichnungsdichte an der Wiedergabeposition.

2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem ferner das Ausgangssignal einer Laserlichtquelle, die den Ausleselichtstrahl auf das optische Aufzeichnungsmedium strahlt, abhängig von einem Ausgangssignal eingestellt wird, das die Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium erfaßt.

3. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem ferner das Ausgangssignal der Laserlichtquelle auf Grundlage eines Vergleichsausgangssignals zwischen dem die Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium erfassenden Ausgangssignal und einem Ausgangssignal-Bezugswert für die Laserlichtquelle, wie der Linienaufzeichnungsdichte des optischen Aufzeichnungsmediums zugeordnet, eingestellt wird.

4. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem ferner die Größe des zweiten Bereichs auf Grundlage des Pegels des das optische Aufzeichnungsmedium abspielenden Ausgangssignals eingestellt wird.

5. Verfahren zum Wiedergeben von Informationssignalen von einem optischen Aufzeichnungsmedium mit einer Aufzeichnungsschicht und einer Wiedergabeschicht, das folgendes umfaßt: Ausrichten der Domänen der Wiedergabeschicht, Überschreiben der Aufzeichnungsinformation in die Wiedergabeschicht und Abschwächen der überschriebenen Information, wobei die Aufzeichnungsinformation vor dem Überschreiben durch einen Bereich auf der Aufzeichnungsschicht aufrechterhalten wird, dessen Temperatur während der Wiedergabe durch einen Auslesestrahl erhöht wird; und Lesen der Aufzeichnungsinformation vom abgeschwächten Bereich der Wiedergabeschicht, wobei das Verfahren durch folgendes gekennzeichnet ist: Erfassen der Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium, wenn dieses zur Wiedergabe mit konstanter Winkelgeschwindigkeit gedreht wird, und Einstellen der Größe des abgeschwächten Bereichs entsprechend der Linienaufzeichnungsdichte an dieser Wiedergabeposition.

6. Verfahren nach Anspruch 5, bei dem ferner das Ausgangssignal der den Auslesestrahl abstrahlenden Laserlichtquelle abhängig von einem Ausgangssignal eingestellt wird, das die Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium erfaßt.

7. Verfahren nach Anspruch 6, bei dem ferner das Ausgangssignal der Laserlichtquelle auf Grundlage eines Vergleichsausgangssignals zwischen dem die Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium erfassenden Ausgangssignals und einem der Linienaufzeichnungsdichte des Aufzeichnungsmediums zugeordneten Ausgangssignal-Bezugswert der Laserlichtquelle, wie in einer Speichereinrichtung abgespeichert, eingestellt wird.

8. Verfahren nach einem der Ansprüche 5 oder 6, bei dem ferner die Stärke eines externen Magnetfelds, das dem optischen Aufzeichnungsmedium durch eine Erzeugungseinrichtung für ein externes Magnetfeld von der Seite entgegengesetzt zum auslesenden Lichtstrahl, in bezug auf das optische Aufzeichnungsmedium auferlegt wird, eingestellt wird.

9. Verfahren nach einem der Ansprüche 5 oder 6, bei dem ferner die Stärke des externen Magnetfelds der Erzeugungseinrichtung für das externe Magnetfeld dadurch eingestellt wird, daß das Ausgangssignal, das die Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium und ein Korrekturwert, der der Linienaufzeichnungsdichte des optischen Aufzeichnungsmediums entspricht und in einer Speichereinrichtung abgespeichert ist, zu einem Ausgangssignal der Erzeugungseinrichtung für das externe Magnetfeld addiert wird, wobei diese Erzeugungseinrichtung so ausgebildet ist, daß sie das externe Magnetfeld dem optischen Aufzeichnungsmedium von der in bezug auf dieses optische Aufzeichnungsmedium entgegengesetzt zum Auslesestrahl liegenden Seite her auferlegt.

10. Verfahren nach Anspruch 5, bei dem ferner die Größe des zweiten Bereichs abhängig vom Pegel des das optische Aufzeichnungsmedium abspielenden Ausgangssignals eingestellt wird.

11. Verfahren zum Wiedergeben eines optischen Aufzeichnungsmediums, bei dem ein Auslesestrahl auf eine optische Platte gestrahlt wird, auf dem Phasenpits entsprechend Signalen ausgebildet sind, und dessen Reflexionsvermögen sich bei Temperaturänderungen ändert; und bei dem die Phasenpits gelesen werden, während das Reflexionsvermögen innerhalb des Abrasterflecks des Ausleselichtstrahls teilweise geändert wird, gekennzeichnet durch folgendes: Erfassen der Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium, wenn dieses zur Wiedergabe mit konstanter Winkelgeschwindigkeit gedreht wird; und Einstellen der Größe eines Abschnitts innerhalb des Abrasterflecks des Ausleselichtstrahls, dessen Reflexionsvermögen geändert ist, entsprechend der Linienaufzeichnungsdichte an der Wiedergabeposition.

12. Verfahren nach Anspruch 11, bei dem ferner das Ausgangssignal einer den Ausleselichtstrahl auf das optische Aufzeichnungsmedium abstrahlenden Laserlichtquelle auf Grundlage eines Ausgangssignals eingestellt wird, das die Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium erfaßt.

13. Verfahren nach Anspruch 12, bei dem ferner das Ausgangssignal einer Laserlichtquelle auf Grundlage eines Vergleichsausgangssignals zwischen dem die Wiedergabeposition auf dem optischen Aufzeichnungsmedium erfassenden Ausgangssignals und einem Ausgangssignal-Bezugssignal der Laserlichtquelle eingestellt wird, wobei dieser Bezugswert in einer Speichereinrichtung abgespeichert ist und der Linienaufzeichnungsdichte des optischen Aufzeichnungsmediums zugeordnet ist.

14. Verfahren nach Anspruch 11, bei dem ferner die Größe eines Abschnitts des Abrasterflecks des Ausleselichtstrahls eingestellt wird, dessen Reflexionsvermögen sich abhängig vom Pegel des das optische Aufzeichnungsmedium abspielenden Ausgangssignals ändert.