DE69024255T2

DE69024255T2 - Defektprüfvorrichtung für scheibenförmigen Datenaufzeichnungsträger

Info

Publication number: DE69024255T2
Application number: DE69024255T
Authority: DE
Inventors: Mitsuo Fukuda; Masafumi Ototake; Yuuji Shimote; Koji Shindo
Original assignee: Mitsubishi Electric Corp
Current assignee: Mitsubishi Electric Corp
Priority date: 1989-05-11
Filing date: 1990-05-09
Publication date: 1996-05-15
Anticipated expiration: 2010-05-10
Also published as: EP0397126B1; DE69024255D1; EP0397126A2; US5212677A; EP0397126A3

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Defektprüfvorrichtung für scheibenförmige Informationsaufzeichnungsmedien wie optische Platten, Magnetplatten und optomagnetische Platten.
Bei einem scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmedium wie einer optischen Platte wird ein Signal auf Spuren aufgezeichnet, die auf spiralförmigen oder konzentrischen Kreisen ausgebildet sind. Aus diesem Grunde können bei einem scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmedium im Gegensatz zu einem Magnetband, bei dem die Signale auf geradlinigen Spuren aufgezeichnet werden, Defektbündel vorliegen, welche Cluster von Defekten sind, die in einem mehrere benachbarte Spuren erfassenden Teil des Mediums auftreten.
FIG. 1 zeigt ein scheibenförmiges Aufzeichnungsmedium mit Defektbündeln darauf. In diesem Beispiel ist auf einem scheibenförmigen Aufzeichnungsmedium 51 eine spiralförmige Spur ausgebildet, und es ist ein fünf Spuren erfassendes Defektbündel 52a und ein zwei Spuren erfassendes Defektbündel 52b vorhanden. Wenn von einem derartige Defekte aufweisenden Informationsaufzeichnungsmedium Wiedergabesignale gewonnen werden, werden gemäß FIG. 2 sieben Ausfallimpulse P1 bis P7 detektiert.
Durch bloße Detektion der Ausfallimpulse kann lediglich die Anzahl der Defekte auf den Spuren des scheibenförmigen Aufzeichnungsmediums bestimmt werden. Das Vorhandensein clusterähnlicher Defektbündel und deren Anzahl und Position bleiben unbekannt. Aus diesem Grunde wurde die Prüfung im Hinblick auf Defektbündel häufig von den Bedienpersonen durchgeführt, die das Aufzeichnungsmedium mittels Mikroskopen o. dgl. visuell prüfen.
Zur Detektion derartiger Defektbündel schlägt die JP-A-63-27779 eine in FIG. 3 gezeigte Schaltung vor, die Signale gemäß der Zeittafel von FIG. 4 verarbeitet.
In FIG. 3 fordert ein Eingangsanschluß 53 das Wiedergabesignal von dem scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmedium. Das Wiedergabesignal enthält den Ausfallimpuls a gemäß FIG. 4 (A). Der Ausfallsimpuls a wird einem Flipflop 54 zugeführt.
Bei Eingabe des Ausfallimpulses a an den Eingangsanschluß 53 wird der Flipflop 54 in den gesetzten Zustand geschaltet, wie in FIG. 4(B) gezeigt, wobei sein Ausgangssignal auf einen High-Pegel geschaltet wird.
Bei Eingabe eines High-Pegel-Ausgangssignals b von dem Flipflop 54 zählt ein Zähler 55 die Taktimpulse CL, die durch einen Anschluß 56 zugeführt werden. Wenn der Zählstand eine voreingestellte Zahl erreicht, genauer gesagt, eine Zahl, die einer Zeitdauer entspricht, die geringfügig kürzer ist als die Zeitdauer von der Erzeugung des ersten Ausfallimpulses bis zu dem Zeitpunkt, an dem die Platte sich einmal vollständig gedreht hat, gibt der Zähler 55 ein Zählstand-Erreicht-Ausgangssignal aus. Bei Empfang des Zählstand-Erreicht-Ausgangssignals wird ein monostabiler Multivibrator 57 getriggert und erzeugt einen Drehpositionsimpuls d einer bestimmten Breite, wie dies in FIG. 4(D) gezeigt ist. Der Drehpositionsimpuls d wird einem Flipflop 58 und einem monostabilen Multivibrator 59 zugeführt.
Bei Empfang des Drehpositionsimpulses d liefert der monostabile Multivibrator 59 einen Ausgangsimpuls c gemäß FIG. 4(C) zu einem Rücksetzanschluß des Flipflops 54. Dieses setzt den Flipflop 54 gemäß FIG. 4(B) zurück und stoppt den Zählvorgang des Zählers 55. Der Impuls c des monostabilen Multivibrators 59 wird auch einem Zähler 60 zugeführt.
Wenn der nächste Ausfallimpuls a' dem Eingangsanschluß 53 zugeführt wird, wenn der von dem monostabilen Multivibrator 57 ausgegebene Drehpositionsimpuls d auf dem High-Pegel ist, wird der Flipflop 54 wieder gesetzt und der Zähler 55 beginnt zu zählen. Der Flipflop 58 wird synchron mit der Rückflanke des Ausgangs impulses d des monostabilen Multivibrators 57 gesetzt, wodurch ein Ausgangssignal e gemäß FIG. 4(E) geliefert wird. Der Zustand des Flipflops 58 wird durch die Signale d und b bestimmt; d.h., er wird gesetzt, wenn das Signal b bei auf Low gehendem Signal d auf einem High-Pegel ist, und er wird rückgesetzt, wenn das Signal b bei auf Low gehendem Signal d auf einem Low-Pegel ist.
Wenn der Ausfall an einem Punkt verschwindet, nachdem die Platte von dem ersten Ausfall an drei Umdrehungen gemacht hat, wird der Flipflop 54 durch den Ausgangsimpuls c des monostabilen Multivibrators 59 im rückgesetzten Zustand gehalten und der Flipflop 58 wird von der Rückflanke des Signals d und dem Low-Pegel des Signals b rückgesetzt. Das Rücksetzen des Flipflops 58 bewirkt, daß der monostabile Multivibrator 61 ein Ausfallendsignal f gemäß FIG. 4(F) ausgibt.
Wie oben beschrieben, wird der Ausgangsimpuls c von dem monostabilen Multivibrator 59 dem Zähler 60 zugeführt, der die Anzahl der Ausgangsimpulse c zählt, welche die Anzahl der Ausfälle aufweisenden durchgehenden Spuren wiedergeben. Das Zählergebnis des Zählers 60 wird einer Gatterschaltung 66 zugeführt, die von einem Ausgangssignal des monostabilen Multivibrators 61 getriggert wird. In dieser Konfiguration liefert bei Ausgabe des Ausfallendsignals f die Gatterschaltung 66 einen Ausgang, der die Anzahl der Ausfälle aufweisenden durchgehenden Spuren repräsentiert.
In dieser Schaltung gibt der Ausgang der Gatterschaltung 66 nicht die Anzahl der durchgehenden Spuren selbst an, sondern die relative Größe der Anzahl. Die Gatterschaltung 66 klassifiziert die Anzahlen in drei Stufen und gibt, abhängig von der Stufe, ein Ausgangssignal von einem Anschluß 66a, 66b oder 66c aus. Das Ausfallendsignal f wird über eine Verzögerungsschaltung 68 als ein Rücksetzsignal an den Zähler 60 geliefert.
Wie oben beschrieben, wird gemäß JP-A-63-27779 der Drehpositions- Impuls d durch Ausfälle erzeugt, und falls ein dementsprechender Ausfallimpuls a existiert, wird das Vorhandensein sogenannter Defektbündel, welche eine Serie von Defekten in einem Cluster in radialer Richtung der Platte sind, detektiert.
Falls jedoch mehrere Defekte auf derselben Spur sind, kann mit der oben beschriebenen Schaltung lediglich einer der Defekte auf der Spur detektiert werden. Es ist daher notwendig, mehrere Schaltungssätze vorzusehen oder ansonsten mehrere Prüfvorgänge aus zuführen, indem zum Detektieren mehrerer Defekte auf derselben Spur die Zeitsteuerung der Ausfalldetektion verschoben wird. Ferner ist die Schaltung nicht in der Lage, die Größe des Defektbündels oder die Umfangslänge des Defektbündels auf dem scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmedium zu detektieren.
JP-A-64-72087 schlägt ein Prüfverfahren vor, das die Positionen der Ausfälle auf einer Magnetplatte bestimmt. Das Verfahren besteht darin, die Winkelposition (Position in Umfangsrichtung) und die Radialposition des Ausfalls zu bestimmen und mit dieser im Speicher gespeicherten Positionsinformation die Position der Magnetplatte in bezug auf eine Prüfvorrichtung, wie beispielsweise ein Mikroskop, entsprechend der gespeicherten Positionsinformation zu steuern. Jedoch werden bei diesem Verfahren Defektbündel durch Steuerung der Magnetplattenposition für jeden einzelnen Ausfall (entspricht 1 Datenbit) geprüft, was eine geringe Prüfeffizienz zur Folge hat.
Eine weitere Defektprüfvorrichtung zum Prüfen von Defekten auf optischen Platten ist in EP-A-0 152 165 offenbart. Die Vorrichtung verwendet einen von der Platte reflektierten Lichtstrahl, um die Defekte in der Platte durch Detektieren einer abnormen Veränderung, wie beispielsweise einer Ab- oder Zunahme der Intensität des Lichtstrahls, zu detektieren. Der Lichtstrahl hat einen ungefähr rechtwinkligen Querschnitt und der von der Platte reflektierte Lichtstrahl wird von einem Bildsensor mit linear angeordneten photoelektrischen Wandlerelementen empfangen. Die Vorrichtung von EP-A-0 152 165 ist zum Detektieren physikalischer Defekte zwischen den Standardformatteilen ausgelegt. Um festzustellen, ob der physikalische Defekt ein Kratzer, ein Schmutzpartikel oder ein Fremdpartikel ist, bestimmt die Vorrichtung die Radial- und Umfangsposition des Defekts. Auf der Basis der detektierten Radial- und Umfangsposition des Defekts unterscheidet die CPU der Defektprüfvorrichtung die Art des physikalischen Defekts.
Defekte auf scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmedien umfassen physikalische Defekte und Datendefekte, und der nach der Defektdetektion erforderliche Vorgang hängt davon ab, welcher dieser beiden Defekttypen detektiert worden ist. Daher ist es notwendig, den Defekttyp zu detektieren und im Speicher zu speichern. Die beiden obigen Veröffentlichungen offenbaren keinerlei Technologien, die dieser Anforderung gerecht würden.
Im folgenden werden das Aufzeichnungsformat für eine optische Platte und die Defekttypen beschrieben, wobei eine den ISO-Normen entsprechende optische Platte von 5,25 inch als Beispiel gewählt wird.
Auf der Oberfläche eines scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmediums 51 sind Aufzeichnungsspuren spiralartig oder in konzentrischen Kreisen ausgebildet. Wie in FIG. 5 gezeigt, sind die Spuren von innen nach außen in PEP-(Phase Encode Part-)Steuerspuren 51A, SFP-(Standard Format Part-)Steuerspuren 51B, Benutzerbereich 51C und SFP-Steuerspuren 51D klassifiziert, wobei sie jeweils mehrere Spuren aufweisen. Auf jeder Steuerspur werden Daten wie Datensignalaufzeichnungs- und -wiedergabebedingungen in bezug auf das scheibenförmige Informationsaufzeichnungsmedium 51 aufgezeichnet. Der Benutzerbereich 51C wird vom Benutzer zum Aufzeichnen beliebiger gewünschter Daten verwendet.
Alle Spuren des scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmediums 51 außer den PEP-Steuerspuren 51A sind in Sektoren unterteilt. Jeder Sektor besteht aus einem Kopfangabenabschnitt 50A, in dem Spur- und Sektoradressen aufgezeichnet sind, und einem Datenaufzeichnungsabschnitt 50B, in dem Daten aufzuzeichnen sind. Das scheibenförmige Informationsaufzeichnungsmedium 51 betreffende Daten jedoch werden, wie oben beschrieben, in den Datenaufzeichnungsabschnitten 50B der SFP-Steuerspuren 51B und 51D aufgezeichnet, und Benutzerdaten sind in dem Datenaufzeichnungsabschnitt 50B des Benutzerbereiches 51C aufzuzeichnen. Zum Zeitpunkt der Prüfung in der Fabrik bleibt der Benutzerbereich 51C leer. Am Kopfende des Datenaufzeichnungsabschnittes 50B des Benutzerbereiches 51C ist ein Flag-Abschnitt 50C ausgebildet.
Bei einem scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmedium 51 mit einem derartigen Format variieren der Defekttyp und sogar das Prüfverfahren in Abhängigkeit von dem Abschnitt. In dem Datenaufzeichnungsabschnitt 50B des Benutzerbereiches 51C beispielsweise, in dem keine Daten aufgezeichnet worden sind, kann kein Datendefekt vorliegen und es können lediglich physikalische Defekte detektiert werden. Dagegen können in dem Kopfangabenabschnitt 50A des SFP-Benutzerbereiches 51C beide Defekttypen auftreten. Bei einem ein anderes Prütverfahren erfordernden Datendefekt ist es notwendig, auch den Bereich, in dem der Defekt sich befindet, zu identifizieren. Deshalb wurde die Prüfung nach dem Stand der Technik für den Benutzerbereich zweimal durchgeführt; einmal für die Kopfangabenabschnitte 50A aller Spuren und noch einmal für die Datenaufzeichnungsabschnitte 50B aller Spuren, da der Benutzerbereich die Kopfangabenabschnitte 50A und die Datenaufzeichnungsabschnitte 50B über den gesamten Umfang alternierend aufweist. Bei diesem Verfahren besteht das Problem geringer Prüfeffizienz.
Der vorliegenden Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Vorrichtung zum Detektieren von physikalischen Defekten und Datendefekten zu schaffen, wobei diese Vorrichtung eine hohe Prüfeffizienz aufweist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß mit den Merkmalen des Anspruchs 1 gelöst.
Erfindungsgemäß werden einzeln detektierte 1-Bit-Defekte nach ihrer Positionsinformation als Defektcluster klassifiziert. Die Defekttypen oder Defektcluster werden identifiziert und Typen-, Positions- und Größeninformation der Defekte und Defektcluster wird gespeichert, um zu ermöglichen, daß die Defektdetektion in einer einzigen Prüfung abgeschlossen wird. Die Defektprüfvorrichtung für scheibenförmige Informationsaufzeichnungsmedien gemäß der Erfindung gestattet einen einfachen Betrieb während einer Prüfung durch ein Mikroskop oder dergleichen nach der Defektdetektion.
Um dies zu erreichen, weist die Defektprüfvorrichtung gemäß der Erfindung eine Einrichtung zum Detektieren von Defekten unter Verwendung eines reproduzierten Signals von einem scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmedium, eine Einrichtung zum Detektieren des Typs des detektierten Defekts, eine Einrichtung zum Detektieren der Position des detektierten Defekts in Radial- und Umfangsrichtung, eine Einrichtung zum Gruppieren der Defekte in Defektcluster anhand der detektierten Positionen, eine Einrichtung zum Berechnen der Größe des Defektclusters in Radial- und Umfangsrichtung, und eine Einrichtung zum Speichern der Informationen über den Typ, die Position und die Größe des detektierten Defektes und der detektierten Defektcluster auf.
Ein zu prüfendes Informationsaufzeichnungsmedium wird zur Gewinnung von Wiedergabesignalen in einer Wiedergabevorrichtung betrieben. Defekte werden mittels der Wiedergabesignale detektiert, und gleichzeitig werden der Typ und die Radial- und Umfangspositionen des Defekts detektiert. Dann werden benachbarte Defekte gemäß der Positionsinformation in einen Defektcluster gruppiert, und die Radial- und Umfangsgrößen werden berechnet. Typen, Positionen und Größen der Defekte und Defektcluster werden im Speicher gespeichert und in der mikroskopischen Prüfung verwendet.
Die obigen und weitere Aufgaben und Merkmale der Erfindung werden deutlicher anhand der folgenden ausführlichen Beschreibung mit den beigefügten Zeichnungen, welche zeigen:
FIG. 1 eine schematische Darstellung eines scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmediums mit Defektbündeln,
FIG. 2 eine Zeichnung einer Wellenform mit Ausfallimpulsen,
FIG. 3 ein Blockschaltbild einer Defektprüfvorrichtung nach dem Stand der Technik,
FIG. 4 eine Zeittafel, die den Arbeitsablauf der in FIG. 3 gezeigten Vorrichtung darstellt,
FIG. 5 den Aufbau des Informationsaufzeichnungsbereiches einer optischen Platte nach ISO-Normen,
FIG. 6 ein Blockschaltbild der Vorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung,
FIG. 7 eine schematische Zeichnung von Defektbündeln,
FIG. 8 ein Blockschaltbild eines Hauptteils des Defekttypdetektorteils,
FIGn. 9, 10, 11 und 12 Zeittafeln der Torsignale in der Vorrichtung von Fig. 6,
FIG. 13 ein Blockschaltbild eines Adreßdekodier-Torsignalerzeugungs-Kopfangabenfehlerdetektorteils,
FIG. 14 das Format der Defektgrößen-/Typdaten,
FIG. 15 eine Tabelle, die die Zuordnung der Größen-, Artdatenbits zeigt,
FIGn. 16 und 17 Flußdiagramme eines Defekttypidentifizierungsvorgangs,
FIG. 18 ein Flußdiagramm einer Prozedur zum Gruppieren der Defekte in Cluster,
FIG. 19 ein Flußdiagramm einer Defektbündelsubroutine,
FIG. 20 ein Flußdiagramm einer Defektseparierungssubroutine,
FIG. 21 ein Flußdiagramm einer Winkelsubroutine,
FIG. 22 ein Flußdiagramm einer Bündeldatensubroutine,
FIGn. 23,24 und 25 Beispiele von Defektdatenauflistungen,
FIG. 26 eine schematische Zeichnung eines Beispiels des Prüfungsergebnisses,
FIG. 27 eine Auflistung der den in FIG. 26 gezeigten Defektbündeln entsprechenden Daten, und
FIGn. 28,29 und 30 Beispiele von Defektdatenauflistungen.
Unter Bezugnahme auf die Zeichnungen wird ein Ausführungsbeispiel der Erfindung für optische Platten erläutert.
FIG. 6 ist ein den Gesamtaufbau der erfindungsgemäßen Vorrichtung 1 (von gestrichelten Linien umschlossen) zeigendes Blockschaltbild. In einer Wiedergabevorrichtung (Einheit für optische Platte) 2 wird eine zu prüfende (nicht dargestellte) optische Platte eingesetzt, und die von dieser erhaltenen Wiedergabesignale werden einem Defektgrößeninformationsdetektorteil 3 und einem A/D-(Analog-Digital-)Wandler 4 zugeführt. Der Defektgrößeninformationsdetektorteil 3 detektiert die Größe des Defekts und sendet dies zu einem Defekttypdetektorteil 7. Der A/D-Wandler 4 wandelt die eingegebenen analogen Signale in digitale Signale um und sendet die reproduzierten Daten an einen Steuerspurfehlerdetektorteil 5 und einenAdreßdekodier-Torsignalerzeugungs-Kopfangabenfehlerdetektorteil 6. Der Steuerspurfehlerdetektorteil 5 detektiert in den in den Datenaufzeichnungsabschnitten 50B der SFP-Steuerspur 51B und 51D aufgezeichneten Steuerspurdaten enthaltene Fehler und sendet das Resultat zu dem Defekttypdetektorteil 7.
Der Adreßdekodier-Torsignalerzeugungs-Kopfangabenfehlerdetektorteil 6 dekodiert die in den reproduzierten Daten von den Kopfangabenabschnitten 50A der SFP-Steuerspuren 51B und 51D und des Benutzerbereiches 51C enthaltenen Adreßsignale zur Identifizierung des Bereiches auf der Spur und sendet das Ergebnis zu einem Spurpositionsinformationsdetektorteil 9 und einem Winkel/Sektor-Positionsinformationsdetektorteil 10. Der Adreßdekodier-Torsignalerzeugungs-Kopfangabenfehlerdetektorteil 5 erzeugt ferner dem gegenwärtig reproduzierten Informationsaufzeichnungsbereich entsprechende Torsignale und sendet diese zu dem Defekttypdetektorteil 7 und dem Winkel/Sektor-Positionsinformationsdetektorteil 10. Der Adreßdekodier-Torsignalerzeugungs-Kopfangabenfehlerdetektorteil 6 detektiert ferner die in den in den Kopfangabenabschnitten 50A der Spuren aufgezeichneten Daten enthaltenen Fehler (Kopfangabenfehler) und sendet das Resultat der Detektion zu dem Defekttypdetektorteil 7.
Der Defekttypdetektorteil 7 detektiert Informationen über die Art der Defekte anhand der Resultate der Defektdetektion und der von dem Defektgrößeninformationsdetektorteil 3, dem Steuerspurfehlerdetektorteil 5 und dem Adreßdekodier-Torsignalerzeugungs-Kopfangabenfehlerdetektorteil 6 erhaltenen Torsignale. Das Resultat wird in einem Speicher 11 gespeichert.
Die Wiedergabevorrichtung 2 sendet für jede Umdrehung der optischen Platte einen Ausgang von einem Rotationsimpuls zu dem Winkel/Sektor-Positionsinformationsdetektorteil 10 und dem Spurpositionsinformationsdetektorteil 9. Der Spurpositionsinformationsdetektorteil 9 detektiert Informationen über die Defekte oder Fehler enthaltenden Spuren aus dem Rotationsimpuls und dem von dem Adreßdekodier-Torsignalerzeugungs-Kopfangabenfehlerdetektorteil 6 erhaltenen Ergebnis der Adreßdekodierung, und die Information wird im Speicher 11 gespeichert.
Der Winkel/Sektor-Positionsinformationsdetektorteil 10 detektiert den Winkel der Defekt- oder Fehlerposition anhand einer Referenzposition oder der Sektorinformation, anhand des Rotationsimpulses und des von dem Adreßdekodier-Torsignalerzeugungs-Kopfangabenfehlerdetektorteil 6 erhaltenen Resultates der Adreßdekodierung, und die Information wird im Speicher 11 gespeichert.
Wie oben beschrieben, speichert der Speicher 11 die Resultate der Detektion durch den Defekttypdetektorteil 7, den Spurpositionsinformationsdetektorteil 9 und den Winkel/Sektor-Positionsinformationsdetektorteil 10.
Ein Computer 8 liest die in dem Speicher 11 gespeicherten Defekt- und Fehlerdaten und detektiert, wie im folgenden beschrieben, Defektcluster. Der Computer 8 gibt ferner die Positionsinformation eines (nicht dargestellten) Koordinatentisches zur Prüfung der optischen Platte mittels eines (nicht dargestellten) Mikroskops aus.
Der Defektgrößeninformationsdetektorteil 3, der A/D-Wandler 4, der Steuerspurfehlerdetektorteil 5, der Adreßdekodier-Torsignalerzeugungs-Kopfangabenfehlerdetektorteil 6, der Defekttypdetektorteil 7, der Spurpositionsinformationsdetektorteil 9, der Winkel/Sektor- Positionsinformationsdetektorteil 10, der Speicher 11 und der Computer 8 bilden die erfindungsgemäße Defektprüfvorrichtung 1. Jede Teileinheit ist nachfolgend im einzelnen beschrieben.
Zunächst wird der Defektgrößeninformationsdetektorteil 3 beschrieben. FIG. 7 ist eine vergrößerte schematische Darstellung eines Fehlerbündels auf einem scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmedium. Die Platte 20 ist in FIG. 7 gezeigt, wobei ihr Drehmittelpunkt nach unten und ihr Umfang nach oben gewandt ist. Die Platte 20 weist zahlreiche auf der Oberfläche ausgebildete Spuren T auf, wobei die 11. Spur T11 bis zur 21. Spur T21 in FIG. 7 als Beispiel gezeigt sind.
In diesem Beispiel umfaßt ein Fehlerbündel 21 die Spuren von der 13. Spur T13 bis zur 20. Spur T20 der Platte 20. Daher beträgt die Anzahl der von dem Fehlerbündel 21 gekreuzten Spuren acht, und die Zentralspur des Fehlerbündels 21 ist die 17. Spur T17.
Wenn die Wiedergabevorrichtung 2 die Signale z.B. der 20. Spur T20 wiedergibt, erhält man die Information über die Länge des Defekts in Umfangsrichtung, die in der Zeichnung schraffiert ist, von dem Defektgrößeninformationsdetektorteil 3. Der Defektgrößeninformationsdetektorteil 3 weist eine Ausfallimpulsgeneratorschaltung 3a, die die Signale aufgrund des in dem reproduzierten Signal enthaltenen Defekts detektiert, und einen Zähler 3b auf, der die Länge jedes Ausfallimpulses als eine Anzahl von Taktimpulsen zählt.
Der Zähler 3b sendet die Umfangslänge des Defekts zu Bits 0,1,2- A,B eines Selektors 7a (FIG. 8) des Defekttypdetektorteils 7 als binäre Zahl von 11 Bits.
FIG. 9 zeigt das Datenformat (a) eines Sektors des Benutzerbereiches 51C, Torsignale und Fehlersignale (b) - (h). Der Torsignalerzeugungsteil 6d (FIG. 13) des Adreßdekodier-Torsignalerzeugungs- Kopfangabenfehlerdetektorteils 6 erzeugt aufgrund dieses Formates verschiedene Torsignale.
FIG. 9(b) ist das Torsignal der SFP-Steuerspuren 51B,51D, das während der Wiedergabe des Benutzerbereiches 51C auf einem Low- Pegel ist. Das Steuerspurtorsignal wird zu den Selektoren 7a,7b,7c des in FIG. 8 gezeigten Defekttypdetektorteils 7 gesendet. Das in FIG. 9(c) gezeigte Kopfangabengatter bleibt während der Wiedergabe des Kopfangabenbereiches auf einem High-Pegel, und dieses Signal wird zu dem Bit F des Defekttypdetektorteils 7 gesendet. Das in FIG. 9(d) gezeigte Flag-Gatter ist nur an dem Flag-Bereich (ODF und VFO3) des Datenbereiches auf einem Low-Pegel. Das Flag-Torsignal wird dem Defekttypdetektorteil 7 als Bit E zugeführt. FIGn. 9(e) und (f) zeigen das Vorhandensein oder Nichtvorhandensein von Datenfehlern in der SFP-Steuerspur und von SYNC-, RESYNC-Fehlern in der SFP-Steuerspur; wenn keine Fehler vorliegen, bleiben diese Signale auf einem Low-Pegel, wie dies in den FIGn. 9(e) und 9(f) gezeigt ist. Die Steuerspurdatenfehler- und Steuerspur-SYNC, - RESYNC-Fehlersignale werden von dem SFP-Steuerspurfehlerdetektorteil 5 als Ausgangssignale geliefert und den Bits C und D des Defekttypdetektorteils 7 zugeführt.
Wenn der Datenbereich des Benutzerbereiches 51C einen Defekt aufweist, werden in den Defektgrößensignalen 0, 1, 2, ... A,B Impulse gemaß FIG. 9(g) erzeugt. Wenn der Flag-Bereich einen Defekt aufweist, werden in den Defektgrößensignalen 0, 1, 2, ... A,B Impulse gemäß FIG. 9(h) erzeugt. Diese Defekte betreffende Größeninformation wird den Bits 0 - B des Defekttypdetektorteils 7 zugeführt.
FIG. 10 zeigt andere Bedingungen für das Auftreten von Fehlern in dem Kopfangabenbereich. Wenn in dem Kopfangabenbereich ein CRC- (Cyclic Redundancy Check) -Fehlersignal erhalten wird, werden CRC1-, CRC2-, CRC3- oder SM-Fehler repräsentierende Impulse erhalten und den betreffenden Bits 3,2,1,0 des Defekttypdetektorteils 7 zugeführt. Fehler in dem Kopfangabenbereich werden von dem Kopfangabenfehlerdetektorbereich des Adreßdekodier-Torsignalerzeugungs-Kopfangabenfehlerdetektorteils 6 verarbeitet.
FIG. 11 ist eine Zeittafel für den Fall, daß die SFP-Steuerspur einen Datenfehler enthält. Das Steuerspurtorsignal ist, wie in FIG. 11(b) gezeigt, auf einem High-Pegel. Enthält die SFP-Steuerspur 51B oder 51D einen Fehler, wird dieser von dem Steuerspurfehlerdetektorteil 5 detektiert, der ein Ausgangssignal gemäß den FIGN. 11(e) und 11(g) zu dem Bit D und den Bits 0 - B des Defekttypdetektorteils 7 liefert.
FIG. 12 zeigt eine Zeittafel für den Fall, daß die Steuerspur SYNC-, RESYNC-Fehler enthält. In diesem Fall ist die Situation dieselbe wie in FIG. 11, außer daß in dem SYNC-Bereich und/oder dem RESYNC-Bereich ein High-Pegel-Signal auftritt.
FIG. 13 ist ein Blockschaltbild, das den Aufbau des Adreßdekodier- Torsignalerzeugungs-Kopfangabenfehlerdetektorteils 6 veranschaulicht. Digitale reproduzierte Daten von dem A/D-Wandler 4 werden einem Sektormarkierungs-(SM)-Detektorteil 4a und einem Adreßmarkierungs-(AM)-Detektorteil 6b des Torsignalerzeugungsteils zugeführt. Der Sektormarkierungsdetektorteil 6a detektiert die Sektormarkierung in dem Kopfangabenbereich des Benutzerbereiches 51C, der SFP-Steuerbereiche 51B und 51D. Wird keine oder eine abnorme Sektormarkierung gewonnen, wird ein dem Bit 0 des Selektors 76 gemäß den FIGn. 8 und 10 zuzuführendes SM-Fehlersignal erzeugt. Wenn der SM-Detektorteil 6a die Sektormarkierung SM detektiert, setzt er einen Sektorzähler 6c zurück und der Sektorzähler 6c leitet einen Takt ein. Der Zählwert wird einem Torsignalerzeugungsteil 6d zugeführt, welches einen Ausgang des Kopfangabentorsignals oder des Flag-Torsignals ausgibt, abhängig vom Zählwert. Das ausgegebene Torsignal wird einem Selektor 6e zugeführt.
Die Adreßmarkierung von dem Adreßmarkierungsdetektorteil 6b wird einem Adreßdekodierteil 6f zugeführt, worin die Adreßdaten erhalten werden. Die Adreßdaten werden dem Spurpositionsinformationsdetektorteil 9 und dem Winkelsektorpositionsinformationsdetektorteil 10 zugeführt. Die Adresse wird in einem CRC-Prüfteil 6h überprüft. Ergibt die Überprüfung das Vorhandensein eines Fehlers, wird dem Defekttypdetektorteil 7 ein CRC-Fehlersignal (CRC1, 2, 3) zugeführt. Ein Torsignalerzeugungsteil 69 überprüft die Adresse, um festzustellen, ob der Fehler sich in den Steuerspuren 51B, 51D oder in dem Benutzerbereich 51C befindet. Trifft ersteres zu, wird dem Defekttypdetektorteil 7 über einen Selektor 6e ein Steuerspurtorsignal mit High-Pegel zugeführt. Der Selektor 6e empfängt ein Signal, welches angibt, ob die gerade geprüfte optische Platte formatiert ist oder nicht, wodurch selektiv das Kopfangabentorsignal, das Flag-Torsignal oder das Steuerspurtorsignal ausgegeben wird.
Der Defekttypdetektorteil 7 liefert ein Ausgangssignal in Form von 16-Bit-Defektgrößen/-typ-Daten entsprechend den Eingangssignalen des Defektgrößendetektorteils 3, des Steuerspurdatenfehlerdetektorteils 5 und des Adreßdekodier-Torsignalerzeugungs-Kopfangabenfehlerdetektorteils 6. Die 16-Bit-Daten werden gemeinsam mit den den Winkel und Sektor repräsentierenden, von dem Winkel/Sektor-Positionsinformationsdetektorteil 10 gesendeten 16- Bit-Daten und den die Spur repräsentierenden, von dem Spurpositionsinformationsdetektorteil 9 gesendeten 16-Bit-Daten in dem Speicher 11 gespeichert.
FIG. 14 zeigt ein Beispiel der gespeicherten Daten. FIG. 14(a) zeigt ein Beispiel eines Defekts in einer unformatierten Platte oder eines Defekts in dem Benutzerbereich 51C. Wie oben beschrieben, sind die Defektgrößendaten in den zwölf Bits 0,1,2,... A,B auf der LSB-Seite gespeichert, während vier Bits auf der MSB-Seite C, D, E und F sämtlich Null sind.
FIG. 14(b) zeigt die Daten für den Fall, daß der SFP-Flag-Bereich einer formatierten Platte einen Defekt aufweist. Die 4-Bit-Daten auf der MSB-Seite sind "0100", weil das Flag-Torsignal (Bit E) für diesen Defekt auf dem High-Pegel ist.
FIG. 14(c) zeigt den Fall des Vorliegens eines SFP-Kopfangabenfehlers. Die 4-Bit-Daten auf der MSB-Seite sind "1000", und die Bits 0,1,2 und 3 der LSB-Seite sind 1, um einen SM-Fehler bzw. einen CRC1-, CRC2-, CRC3-Fehler anzuzeigen. Die dazwischenliegenden acht Bits der Größendaten sind für diesen Fehler irrelevant und die zweiten 16 Bits geben den Sektor und nicht den Winkel an.
FIG. 14(d) zeigt einen Steuerspurdatenfehler, wobei vier Bits auf der MSB-Seite "0010" sind. FIG. 14(e) zeigt SYNC- und RESYNC-Fehler. Die 4 Bits auf der MSB-Seite werden zu "0001" und mittels zweier Bits auf der LSB-Seite wird ein SYNC- oder RESYNC-Fehler unterschieden. In diesen Fällen sind die dazwischenliegenden zehn Bits der Größendaten irrelevant.
FIG. 15 ist eine Tabelle, die die vier Bits F, E, D, C auf der MSB-Seite und die Bits 3, 2, 1, 0 auf der LSB-Seite und die entsprechenden Defekttypen zeigt.
Nachfolgend wird die Datenverarbeitung mittels des Computers 8 erläutert. FIGn. 16 und 17 sind Flußdiagramme, die die Prozedur zur Identifizierung des Defekttyps angeben, wenn die Größen/Typ- Daten des Defekts, wie oben beschrieben, in dem Speicher 11 gespeichert sind.
Zunächst liest der Computer 8 die Defektdaten aus und überprüft die Größendaten, wobei er, wie in FIG. 16 gezeigt, mit der MSB- Seite beginnt. Ist das Bit F "1", geht der Prozeß zu der Kopfangabenfehlersubroutine über (FIG. 17). Ist das Bit F "0" und das Bit E "1", wird ein Flag-Bereich-Defekt angenommen. Ist das Bit E "0" und das Bit D "1", wird ein Steuerspurdatenfehler angenommen. Ist das Bit D "0" und das Bit C "0", wird angenommen, daß ein Benutzerbereichdefekt vorliegt oder die Platte nicht formatiert ist. Ist das Bit C "1" und das Bit 0 "1", wird ein SYNC-Fehler angenommen. Ist das Bit 0 "0" und das Bit 1 "1", nimmt man einen RESYNC- Fehler an.
In der Kopfangabenfehlersubroutine wird ein SM-Fehler angenommen, wenn das Bit 0 "1" ist, ein CRC1-Fehler, wenn das Bit 0 "0" und das Bit 1 "1" ist, ein CRC2-Fehler, wenn das Bit 1 "0" und das Bit 2 "1" ist, und ein CRC3-Fehler, wenn das Bit 2 "0" und das Bit 3 "1" ist.
Wie oben beschrieben, identifiziert der Computer 8 den Defekttyp anhand der Defektdaten.
Im folgenden wird eine Prozedur zum Klassifizieren oder Gruppieren der Defekte in Defektcluster beschrieben. FIG. 18 zeigt ein Flugdiagramm der Hauptroutine, und die FIGn. 19 bis 22 zeigen Flußdiagramme der Subroutinen.
Wie oben beschrieben, speichert der Speicher 11 die Defektgrößenund -typendaten. FIG. 23 zeigt ein Beispiel der gespeicherten Informationen, die die Größe, die Spurnummer und den Winkel angeben. Die Nummer ist die fortlaufende Nummer des Defekts, KLASSE ist eine Klassifizierung der Größe in drei Stufen, S, M oder L (in diesem Beispiel sind alle Stufe M), und R ist die Entfernung der Spur von der Plattenmitte. Der Computer 8 liest die Daten und sortiert die Defektdaten in absteigender Reihenfolge der Spurnummern. Dann setzt der Computer 8 einen Parameter I auf 1 (Schritte S1, S2). Der Parameter I ist eine den sortierten Defektdaten zugewiesene Zahl. FIG. 24 zeigt die Datenliste nach dem Sortieren.
Es sei angenommen, daß [I] die Spur mit der Nummer ist, die die Iten Defektdaten enthält. Wenn [I+1]-[I] gleich 0 ist, sind auf derselben Spur noch andere Defektdaten vorhanden. Ist der Wert von [I+1]-[I] gleich -1, zeigt dies das Vorhandensein von defekten Daten auf der benachbarten Spur an. Ein Wert von -2 oder weniger zeigt an, daß auf nicht benachbarten Spuren Defektdaten vorhanden sind, d.h. zwei Defekte auf durch mindestens eine Spur voneinander getrennten Spuren vorliegen. Daher wird in Schritt S3 [I+1]-[I] berechnet, um die Defekte zu klassifizieren (Schritte S3, S4, S5, S6).
Der Computer 8 zählt, wie oft das Ergebnis von Schritt S3 0 oder -1 beträgt (Schritte S7,S8). Wenn das Ergebnis -2 oder darunter lautet, da in den Schritten S5 und S8 im voraus zusammenhängende Defekte detektiert worden sind, wird die Nummer der Zentralspur der benachbarten, Defekte aufweisenden Spuren in dem Speicher gespeichert (Schritt S9).
Wenn in FIG. 24 I=1 ist, wird [I+1]-[I] zu 17133-18411 ≤ -2, und der Defekt auf der Spur [I]=18411 wird als Defekt auf einer nicht benachbarten Spur angesehen.
Ist I=2, da 17132 - 17133= -1 ist, werden die Defekte als Defekte auf benachbarten Spuren angesehen. Diese Bedingung gilt bis I=20.
Ist I=21, da 11954 - 17114 ≤ -2 ist, wird der 22. Defekt als Defekt auf einer Spur angesehen, die nicht an die vorhergehenden angrenzt, und die 2. bis 21. Defekte werden als Defektcluster angesehen. In Schritt S9 wird die Spur in der Mitte zwischen den 2. bis 21. Defekten als Spur am 11. oder 12. Defekt errechnet und in dem Speicher gespeichert.
In ähnlicher Weise werden auch der 22. und 23. Defekt als Defektcluster angesehen.
In diesem Beispiel gibt es keine Defekte, die [I+1]-[I] = 0 (zwei oder mehr voneinander beabstandete Defekte auf derselben Spur) entsprechen.
Der Computer 8 führt den obigen Prozeß für alle Defektdaten durch, wobei der Parameter I um 1 inkrementiert wird (Schritte S10,S11).
Dann setzt der Computer 8 einen Parameter J auf 1 (Schritt S12) und bestimmt in Schritt S13 anhand der in oben beschriebenem Schritt S9 gespeicherten Daten, ob die Spur J (Jte Spur) das Zentrum eines Clusters von zusammenhängenden Defekten darstellt. Lautet das Ergebnis JA, geht der Prozeß nach der Ausführung der in FIG. 19 gezeigten Defektbündelsubroutine (Schritt S14) zu Schritt S15 über, lautet es NEIN, geht er direkt zu Schritt S15.
Die Defektbündelsubroutine, die nachfolgend im einzelnen beschrieben wird, ist in dem Flußdiagramm von FIG. 19 gezeigt. Ihre Aufgabe besteht darin, die Ober- und Untergrenzen der benachbarten fehlerhaften Spuren, die die Ausdehnung der fehlerhafte Daten enthaltenden benachbarten Spuren anzeigen, die Zentralspur und die Anzahl der fehlerhafte Daten enthaltenden benachbarten Spuren zu detektieren. Der Computer 8 führt diesen Prozeß aus, während der Parameter J um 1 inkrementiert wird (Schritt S16), und führt nach Abschluß eine Defektseparierungssubroutine aus (Schritt S17).
Die nachfolgend im einzelnen beschriebene Defektseparierungssubroutine wird durch das Flußdiagramm in FIG. 20 angezeigt. Ihre Aufgabe besteht darin, Defekte auf derselben Spur durch den Winkel entlang des Umfangs des scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmediums zu separieren. Mit anderen Worten, wenn auf derselben Spur mehrere Defekte vorhanden sind, bestimmt die Defektseparierungssubroutine entsprechend den Winkelpositionen der Defekte bezüglich einer Referenzposition auf dem scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmedium, ob die Defekte ein Defektbündel bilden oder ob es separate Defekte sind.
Bei Abschluß der Defektseparierungssubroutine von Schritt S17 sendet der Computer 8 das Ergebnis zu einer CRT-Anzeige oder einem Drucker (Schritt S18).
FIG. 19 ist ein detailliertes Flußdiagramm der Defektbündelsubroutine.
Zunächst setzt der Computer 8 einen Parameter M auf J (Schritt 20) und inkrementiert den Parameter M um 1, bis [M+1]-[M] weniger als oder gleich -2 wird (Schritt S22). Wenn der Wert von [M+1]-[M] weniger als oder gleich -2 wird (Schritt S21), wird die Spur mit der Nummer [M] als unteres Ende, d.h. am weitesten innen gelegene Spur, der benachbarten fehlerhaften Spuren angesehen (Schritt S23).
In diesem Prozeß werden die Spur-Nrs. nacheinander überprüft, wobei mit der Mitte des zusammenhängenden Defekts, d.h. des Defektclusters, begonnen wird. Wenn die Spur-Nrs. um zwei oder mehr getrennt sind, wird die aktuelle Spur [M] als unteres Ende des Defektclusters bestimmt. In dem Beispiel des Clusters der Defekte Nr. 2 bis Nr. 21 in FIG. 24 wird, falls N=J=12 als die Mitte angenommen wird, M sequentiell von [13]-[12]=17122-17123 an inkrementiert. Wenn [22]-[21]= 11954 - 17114 ≤ -2 erhalten wird, wird bestimmt, daß die N=21 entsprechende Spur die am weitesten innen gelegene Spur des Defektclusters ist.
In ähnlicher Weise setzt der Computer 8 einen Parameter L auf J (Schritt 24) und inkrementiert den Parameter L um 1, bis [L-1]-[L] gleich oder größer als 2 wird (Schritt S26). Wenn der Wert von [L-1] - [L] gleich oder größer als 2 wird (Schritt S25), wird die Spur mit der Nummer [L] als oberes Ende, d.h. die am weitesten außen gelegene Spur, der benachbarten fehlerhaften Spuren angesehen (Schritt 27).
Zuletzt speichert der Computer 8 die Ober- und Untergrenzen der benachbarten fehlerhaften Spuren und die Zentralspur und errechnet die Anzahl der benachbarten Spuren unter Verwendung der Ober- und Untergrenzen und speichert die Anzahl der benachbarten Spuren in dem Speicher (Schritt S28).
In dem Beispiel der Defekte Nr. 2 bis Nr. 21 in FIG. 24 wird die Berechnung sequentiell von L=12 an durchgeführt. Wenn bei L = 2 [1] - [2] = 18411 - 17133 ≥ 2 erhalten wird, wird die L=2 entsprechende Spur als am weitesten außen gelegene Spur des Defektclusters angesehen.
FIG. 20 ist ein Flußdiagramm der Defektseparierungssubroutine. In dieser Subroutine setzt der Computer 8 einen Parameter K auf 1 (Schritt S31) und speichert die Daten jeder Spur des 1. Defektbündels (Defektclusters) (Schritt S32) und führt eine Winkelsubroutine aus (Schritt S33).
Die nachfolgend im einzelnen beschriebene Winkelsubroutine ist in dem in FIG. 21 gezeigten Flußdiagramm angegeben. Ihre Aufgabe besteht darin, zu bestimmen, ob mehrere Defekte auf derselben Spur ein Defektbündel bilden oder ob es separate Defekte sind.
Nachdem durch die Winkelsubroutine von Schritt S33 bestimmt ist, ob mehrere Defekte auf derselben Spur ein Defektbündel bilden oder ob es separate Defekte sind, inkrementiert der Computer 8 den Parameter K um 1 und führt für jedes Defektbündel den oben erwähnten Prozeß aus (Schritt S35).
FIG. 21 ist ein Flußdiagramm der Winkelsubroutine. Der Computer 8 sortiert die Defekte desselben Defektclusters, nämlich des Kten Defektbündels, in absteigender Reihenfolge der Winkel (Schritt S40). FIG. 25 zeigt das Resultat des Sortierens in absteigender Reihenfolge der Winkel.
Dann wird ein Parameter N auf 1 gesetzt (Schritt S41). Für den jedem Defekt Nr. N in dem Kten Defektbündel, das den Inhalt des Schrittes S32 der Defektseparierungssubroutine darstellt, entsprechenden Winkel [N] wird die Anzahl der Defekte gezählt (Schritte S42,S43), wobei [N]-[N+1]≤0,3º. Während [N]-[N+1]≤0,3º ist, werden die Defekte Nr. N und Nr. N+1 als entlang des Umfangs des scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmediums zusammenhängend angesehen. Wird [N]-[N+1] größer als 0,30, werden die Defekte Nr. N und Nr. N+1 als separate Defekte angesehen und die Bündeldatensubroutine (Schritt S44) wird ausgeführt. Im Fall von FIG. 25 jedoch kommt es nicht vor, daß in Umfangsrichtung mehr als zwei Defektcluster vorliegen.
Der Computer 8 führt obigen Prozeß durch, bis der Parameter N die Zahl der Defektbündel erreicht, wobei er den Parameter N um 1 inkrementiert (Schritt S45,S46) und zurückkehrt, wenn der Parameter N die Zahl der Defektbündel erreicht.
FIG. 22 ist ein Flußdiagramm der Bündeldatensubroutine. In dieser Subroutine speichert der Computer 8 die Winkelmitte, die Zentralspur, die Anzahl der benachbarten Spuren und die Maximalbreite und kehrt zurück. Die Winkelmitte und die Breite werden auf der Basis des Zählergebnisses in Schritt S43 berechnet.
Durch den obigen Prozeß detektiert der Computer 8 auf der Basis der in dem Speicher 11 gespeicherten Daten Defektbündel.
FIG. 26 zeigt ein Ergebnis der Defektbündelprüfung mittels der erfindungsgemäßen Prüfvorrichtung in Form einer schematischen Abbildung, die ein zu prüfendes scheibenförmiges Informationsaufzeichnungsmedium (optische Platte) zeigt, bei dem auf der Informationsaufzeichnungsfläche Defektbündel vorhanden sind. FIG. 22 ist eine Auflistung von schließlich erhaltenen Defektbündeln.
Das Zeichen * in FIG. 26 zeigt ein Defektbündel an und eine Zahl gibt eine Sektornummer an, GRÖSSE (max) in FIG. 27 zeigt die Maximalbreite eines Defektbündels an, und SPUR (Mitte) gibt die Zentralspurnummer des Defektbündels an. SPUR (quer) bezeichnet die Anzahl der Spuren, die durch das Defektbündel abgedeckt werden. WINKEL (Mitte) gibt den Zentralwinkel des Defektbündels an. R gibt den Abstand des Defektbündels von der Mitte der Platte an.
FIGn. 28, 29 und 30 zeigen ein anderes Beispiel der Auflistung detektierter Defekte. Die Auflistung von FIG. 28 ist das Ergebnis in absteigender Reihenfolge der Größe sortiert, und die Auflistung von FIG. 29 ist das Ergebnis in absteigender Reihenfolge der Spurnummern sortiert. In diesem Beispiel wurden Defekte auf einer Spur gefunden. Die Defekte sind entsprechend den Winkelinformationen gemäß FIG. 30 in zwei Defektcluster klassifiziert.
Gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren wird die Defektprüfung bei einer einzigen Wiedergabe durchgeführt. Es wird ferner ermöglicht, mehrere Defekte in einen Defektcluster zu gruppieren. Darüber hinaus wird die anschließende Prüfung mittels eines Mikroskops oder dergleichen in effizienter Weise ausgeführt, da die Größe und Position des Defektclusters im Speicher gespeichert sind.

Claims

1, Defektprüfvorrichtung für scheibenförmige Informationsaufzeichnungsmedien (51), mit

einer Einrichtung zum Detektieren von Defekten unter Verwendung eines von dem scheibenförmigen Informationsaufzeichnungsmedium (51) herkommenden Signals,

einer Einrichtung (7) zum Detektieren eines Typs des detektierten Defekts,

einer Einrichtung (9,10) zum Detektieren einer Position des detektierten Defekts in Radial- und Umfangsrichtung,

einer Einrichtung (8) zum Gruppieren der Defekte in Cluster von Defekten anhand der detektierten Positionen,

einer Einrichtung (8) zum Berechnen der Größe des Defektclusters in Radial- und Umfangsrichtung, und

einer Einrichtung (11) zum Speichern von Informationen betreffend den Typ, die Position und die Größe der detektierten Defekte oder Defektcluster,

dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen zum Detektieren von Defekten unter Verwendung von 1-Bit-Defekte detektierenden Signalen auf einer 1- Bit-Basis operieren, wobei die 1-Bit-Defekte gemäß ihrer Positionsinformation klassifiziert werden.

2. Defektprüfvorrichtung nach Anspruch 1, bei der die Einrichtung zum Detektieren von Defekten eine Einrichtung (3a,3b) zum Messen der Dauer eines einen detektierten Defekt repräsentierenden Ausfallimpulses aufweist, wobei die Dauer des Ausfallimpulses der umfänglichen Größe des detektierten Defekts entspricht.

3. Defektprüfvorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, bei der die Einrichtung (7) zum Detektieren des Typs des detektierten Defekts eine Einrichtung zum Klassifizieren der detektierten Defekte als Benutzerbereichsdefekte, Flag-Bereich-Defekte, Kopfangabenfehler und Steuerspurfehler aufweist.

4. Defektprüfvorrichtung nach Anspruch 3, bei der die Einrichtung (7) zum Detektieren des Typs des detektierten Defekts ferner eine Einrichtung zum Klassifizieren der Steuerspurfehler in Steuerspurdatenfehler und Steuerspursynchronisations- oder -resynchronisationsfehler aufweist.

5. Defektprüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 4, bei der die Einrichtung (9,10) zum Detektieren der Position des detektierten Defektes eine Einrichtung (10) zum Bestimmen des Winkels oder Sektors des detektierten Defekts und eine Einrichtung (9) zur Bestimmung der Spurnummer des detektierten Defekts aufweist.

6. Defektprüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 5, bei der die Einrichtung (11) zum Speichern von Informationen eine Speichereinrichtung zum Speichern von Größen-/Typen-Bits, die Größe und Typ jedes detektierten Defekts repräsentieren, Winkel- oder Sektorbits, die die Umfangsposition jedes detektierten Defekts repräsentieren, und Spurbits, die die Radialposition des detektierten Defekts repräsentieren, aufweist.

7. Defektprüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 6, bei der die Einrichtung (8) zum Gruppieren der Defekte in Cluster von Defekten ferner eine Einrichtung zum Gruppieren der detektierten Defekte auf derselben Spur oder auf aneinandergrenzenden Spuren in einen Cluster von Defekten aufweist.

8. Defektprüfvorrichtung nach Anspruch 7, bei der die Einrichtung (8) zum Gruppieren der Defekte in Cluster von Defekten ferner eine Einrichtung zum Gruppieren von weniger als einen vorbestimmten Winkel voneinander getrennten Defekten in einen Cluster von Defekten aufweist.

9. Defektprüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 8, bei der die Einrichtung (8) zum Berechnen der Abmessungen des Defektclusters eine Einrichtung zum Bestimmen einer inneren Spur und einer äußeren Spur des Defektclusters aufweist.

10. Defektprüfvorrichtung nach einem der Ansprüche 1 bis 9, bei der die Einrichtung (9,10) zum Detektieren der Position des detektierten Defektes eine Einrichtung zum Bestimmen einer Zentralspur des Defektclusters aufweist.