DE69013060T2 - Kontrollstreifenleser für die Entwicklerchemie und Regeneriersystem. - Google Patents
Kontrollstreifenleser für die Entwicklerchemie und Regeneriersystem.Info
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Description
- Die vorliegende Erfindung betrifft ein Verfahren und ein System zum Prüfen der Entsorgung und/oder des Auffüllens von Entwickler in einem Lichtbildfilmprozessor.
- Während der ständigen Verwendung einer Entwicklerlösung zur Entwicklung latenter Bilder in Silberhalogenidlichtbildfilmen erlebt die Zusammensetzung der Lösung eine Veränderung, und zwar aufgrund einiger Faktoren, einschließlich: (1) Verbrauch von Entwicklungsmitteln und oxidationshemmenden Verbindungen, (2) Eintritt von Silberhalogenidionen in die Lösung, und (3) Reaktion der Lösung mit Sauerstoff in der Atmosphäre. Die relativen Mengen der Entwicklungsmittel in der Lösung werden durch chemische Reaktionen mit belichtetem Silberhalogenid und das unvermeidliche Entfernen von Entwicklerflüssigkeit zusammen mit den Lichtbildsegmenten bei deren Verlassen der Lösung verringert.
- Die Rate, mit der die Entwicklerlösung sich ohne Auffüllen erschöpft, hängt von verschiedenen Faktoren ab, einschließlich: (1) Temperatur, (2) Ausmaß der Bewegung der Lösung, (3) Prozentsatz des entwickelten (belichteten oder geschwärzten) Silberhalogenids in den einzelnen Lichtbildfilmsegmenten, und (4) Art des verarbeiteten Lichtbildfilms.
- Bei der maschinellen Verarbeitung von Silberhalogenidfilmmaterialien, z.B. graphischen Materialien, werden üblicherweise automatische Auffüllsysteme zum automatisch gesteuerten Hinzufügen von zusätzlichen Mengen einer oder mehrerer Nachfüllösungen zu den Entwicklerlösungen zu geeigneten Zeitpunkten verwendet, um die Entwicklungsbedingungen innerhalb der vorgeschriebenen Toleranzen zu halten.
- Die Wirksamkeit einer Entwicklerlösung kann periodisch abgeschätzt werden, indem die Lösung zur Entwicklung latenter Bilder von Sensitometerprüfstreifen verwendet wird und anschließend deren Charakteristiken bezüglich der optischen Dichte mit analogen Daten, die einen oder mehrere Referenzprüfstreifen betreffen, die aus einem identischen latenten Prüfstreifenbild unter Verwendung eines Entwicklers mit einem ausgesuchten Standardwirksamkeitsniveau als Festpunkt erzeugt wurden, verglichen werden (vergleiche z.B. U.S.-Patent Nr. 4 081 280 und U.S.-Patent Nr. 4 642 276, die beide durch Bezugnahme Teil dieser Anmeldung sind).
- Relative Veränderungen in der chemischen Zusammensetzung einer Entwicklerlösung während der Filmverarbeitung können durch Vergleich des Abstands (im folgenden als Dichtebereich bezeichnet), der die einzelnen Bilddichtewerte auf einem Testprüfstreifen trennt, mit dem Abstand, der die gleichen Bilddichtewerte auf einem Referenzprüfstreifen trennt, gemessen werden. Typische vergleichende Bildwerte auf einem Referenzprüfstreifen sind beispielsweise 0,30 und 3,5. Das Maß der Erschöpfung der Entwicklerchemikalien kann durch Vergleich der Position bestimmter Werte der optischen Dichte, die entlang eines Referenzprüfstreifens gemessen wurden, mit der Position entsprechender Werte der optischen Dichte entlang eines Entwicklertestprüfstreifens abgeschätzt werden. Die Differenz zwischen den Positionen kann quantitativ bestimmt und dann zur Steuerung des Ausmaßes des automatischen Auffüllens der Entwicklerchemikalien verwendet werden.
- Zur Erleichterung dieser Positionsmessungen verläuft eine geeichte Linearstreckenskala mit gleichmäßig beabstandeten Linien (allgemein als "Tickmarkierungen" bezeichnet) parallel zu den entwickelten Bildern der Referenz- und Testprüfstreifen und an diesen entlang. Diese Tickmarkierungen können von einem Photodetektor in einem System zur Durchführung automatischer Abstandsmessungen gezählt werden. Die Prüfstreifen können auch mit einer verschieden gearteten Markierungsform versehen sein, um die automatische Erfassung der Position des Prüfstreifens in der Prüfstreifenlesevorrichtung zu ermöglichen. Eine derartige Positionslokalisiermarkierung kann beispielsweise eine Kerbe sein, die von einer mechanischen Einrichtung erfaßt werden kann, oder ein Lichtfleck, der mittels eines Photodetektors erfaßt werden kann.
- Im Stand der Technik ist es ein verbreitetes Problem, daß die oben beschriebenen Dichtemessungen häufig durch unerwünschte Veränderungen in der Intensität des Lichtes, das zum Projizieren durch den Film auf die geeichten Photodetektoren verwendet wird, beeinträchtigt werden. Auch Temperaturveränderungen der Photodetektoren können über die Zeit Veränderungen in dem "Dunkelstrom" verursachen und ein ernstzunehmendes Problem darstellen, da die Forderung, daß die Photodetektoren in einer Umgebung mit konstanter Temperatur verwendet werden, häufig nicht durchführbar ist. Diese Auswirkungen können zu einem unangemessenen Auffüllen der Chemikalien und nicht gleichbleibender Filmentwicklungsqualität führen.
- Die Patentbeschreibung US-A-4 128 325 beschreibt ein Verfahren zum Prüfen des Entsorgens und/oder des Auffüllens von Entwickler in einem Lichtbildfilmprozessor, mit den Schritten:
- Projizieren von Licht entlang einer Bahn von einer Quelle zu einem Detektor und Erzeugen eines Detektorsignals;
- Entwickeln eines Testprüfstücks in dem Entwickler;
- Einschieben des entwickelten Stücks in die Lichtbahn; und
- Bestimmen, ob der Entwickler zu entsorgen ist und/oder Bestimmen, ob der Entwickler aufzufüllen ist, und zwar abhängig von einem gegenwärtigen Wert des Detektorsignals bei eingeschobenem entwickeltem Stück.
- Die vorliegende Erfindung beschäftigt sich mit der Bereitstellung eines Verfahren und einer Vorrichtung, mit denen eine genaue Angabe über die Entwicklungswirksamkeit eines Lichtbildentwicklers erhalten werden kann, wobei die Angabe im wesentlichen unabhängig von der Temperatur des Photodetektors und im wesentlichen unbeeinflußt von großen Veränderungen in der Intensität der Testlichtquelle ist.
- Das Verfahren nach einem Aspekt der vorliegenden Erfindung ist in bezug auf das Verfahren von US-A-4 128 325 durch folgende Schritte gekennzeichnet:
- Verwenden des Detektorsignals in einer Rückkopplungsschleife zum Regulieren der Intensität des von der Quelle emittierten Lichtes vor dem Einschieben des entwickelten Stücks;
- Halten des Wertes des Detektorsignals in der Rückkopplungsschleife nach Einschieben des entwickelten Stücks; und
- Durchführen der Bestimmung in Abhängigkeit von dem gehaltenen Wert des Detektorsignals zusätzlich zu dem gegenwärtigen Wert des Detektorsignals.
- Nach einem weiteren Aspekt der vorliegenden Erfindung wird ein System zur Prüfung der Entsorgung und/oder des Auffüllens von Entwickler in einem Lichtbildfilmprozessor geschaffen, mit:
- einer Lichtquelle zum Projizieren von Licht entlang einer Bahn;
- einem Detektor zum Erfassen des Lichts in der Bahn und zum Erzeugen eines Detektorsignals;
- einer Einrichtung zum Halten eines entwickelten Testprüfstücks in der Lichtbahn zwischen der Quelle und dem Detektor; und
- einer Einrichtung zum Bestimmen, ob der Entwickler zu entsorgen ist und/oder zum Bestimmen, ob der Entwickler aufzufüllen ist, und zwar in Abhängigkeit von einem gegenwärtigen Wert des Detektorsignals, wobei das entwickelte Stück in die Lichtbahn eingeschoben ist;
- gekennzeichnet durch:
- eine Rückkopplungsschleife zum Regulieren der Intensität des von der Quelle emittierten Lichts;
- eine Einrichtung zum Halten des Wertes des Detektorsignals in der Rückkopplungsschleife nach Einschieben des entwickelten Stückes; und
- dadurch, daß die Bestimmungseinrichtung zur Durchführung der Bestimmung in Abhängigkeit von dem gehaltenen Wert des Detektorsignals zusätzlich zu dem gegenwärtigen Wert des Detektorsignals betreibbar ist.
- Im folgenden wird ein bestimmtes Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung als Beispiel unter Bezugnahme auf die beigefügten Zeichnungen beschrieben, welche zeigen:
- Figur 1 eine schematische Darstellung eines gemäß der Prinzipien der vorliegenden Erfindung konzipierten Systems;
- Figur 2 eine vergrößerte Darstellung des Teils des Systems, den die Verarbeitung des Prüfstreifens betrifft;
- Figur 3 einen Testprüfstreifen, wie er während eines typischen Lesevorgangs aussehen mag;
- Figur 4 eine typische Anordnung einer in dem System verwendeten Photodetektoranordnung.
- Wie aus der Zeichnung hervorgeht, projiziert eine Lichtquelle 18 in einem Eichkreis Licht auf eine Anordnung von Photodetektoren 40,42,44 und 46, die in dem Detektorsystem 16 enthalten sind, wenn die Vorrichtung in Bereitschaft ist. Ein elektrisches Ausgangssignal des Detektorsystems 16, das nach den von den Photodetektoren wahrgenommenen Lichtpegeln bemessen ist, wird entlang der Leitung 30 zu Verstärker 32 gesandt. Das verstärkte Ausgangssignal wird entlang der Leitung 34 zu einem "Abtast- und Halte"-Netz 36 gesendet, das eine der Intensität der Lichtquelle 18 entsprechende, im wesentlichen konstante Referenzspannung Vref erzeugt und hält, welche ihrerseits ein aus Widerständen 63, 64 und 66 bestehendes Spannungsteilernetz speist. Ein typischer Wert für Vref für das bevorzugte Ausführungsbeispiel der Anmelderin beträgt 10 Volt. Falls eine Veränderung bei der Intensität der Lichtquelle festgestellt wird, beispielsweise aufgrund von Staub auf der Quellenlampe, regelt ein inverser Rückkopplungs- Verstärker 74, der das Ausgangssignal in der Leitung 52 über Leitung 68 überwacht, die Lichtintensität über ein Ausgangssignal, das entlang der Leitung 76 gesandt wird, um eine Spannung V' in der Nähe der Referenzspannung Vref aufrechtzuerhalten.
- Die Rate, mit der die Entwicklerlösung sich bei nicht gegebenem Auffüllen erschöpft, hängt von verschiedenen Faktoren ab, einschließlich: (1) wieviel Film verarbeitet worden ist, (2) die Reaktion der Lösung mit Sauerstoff in der Luft, (3) Temperatur, (4) Bewegung der Lösung und (5) Art des entwickelten Films. Dann schiebt der Benutzer, der sich über die obigen Faktoren im klaren ist, periodisch einen frisch entwickelten Testprüfstreifen 10 in die Eicheinheit ein, um (innerhalb vorgeschriebener Toleranzen) die Konsistenz der Entwicklerchemikalien zu bestimmen und, falls erforderlich, ein automatisches Auffüllen zu bewirken.
- Zum Vorschieben des Testprüfstreifens 10 zwischen die Lichtquelle 18 und die Photodetektoren 40,42 und 44, die sich in dem Detektorsystem 16 befinden, um Dichtemessungen durchzuführen und gleichzeitig die "Tickmarkierungen" zwischen der Lichtquelle 18 und dem Photodetektor 46 zu zählen, wird ein Satz von Antriebswalzen 12,14 verwendet. Wenn der Prüfstreifen in die Eicheinheit eingeschoben ist, aber bevor er zwischen der Lichtquelle und dem Photodetektor durchläuft, löst er einen Sensor 48 aus, der über Leitung 50 ein Ausgangssignal zu dem "Abtast- und Halte"-Netz 36 sendet, um die Spannung des Signals 52 auf dessen gegenwärtigen Wert V' nahe der Referenzspannung Vref einzufrieren. Das "Abtast- und Halte"-Netz 36 hält ein im wesentlichen konstantes Ausgangssignal aufrecht, das gleich V' auf Leitung 52 ist, und ignoriert weitere Ausgangssignalveränderungen auf Leitung 34, so lange das Ausgangssignal in Leitung 50 vorhanden ist, wodurch angezeigt wird, daß ein Prüfstreifen gelesen wird. Eine 20-Volt-Energiequelle, die unter dem Bezugszeichen 38 dargestellt ist, sollte die Spannung V' adäquat beibehalten. Auf diese Weise ist gewährleistet, daß das Eichsystem in derselben Weise liest wie unmittelbar vor dem Zeitpunkt, an dem der Testprüfstreifen gelesen wurde, als kein Film zwischen der Lichtquelle 18 und den Detektoren 40,42,44 und 46 vorhanden war.
- Filmwalzen 12 und 14 schieben den Prüfstreifen in den Detektor 16 vor und eine erste Tickmarkierung wird gelesen, wenn er zwischen der Lichtquelle 18 und dem Photodetektor 46 durchläuft. Ein Signal 78 wird zu der CPU 80 gesendet, damit mit der Zählung der Tickmarkierungen begonnen wird.
- Die eingefrorene Spannung V' wird über die Leitung 52 an das obere Ende des Spannungsverhältnisnetzes mit den Widerständen 63,64 und 66 angelegt. Die Widerstände 63,64 und 66 des Spannungsverhältnisnetzes sind derart ausgewählt, daß eine Spannung V&sub1; an dem Übergang zwischen 63 und 64 gleich der Spannung an Leitung 34 ist, wenn die optische Dichte des Referenzprüfstreifens gleich 0,3 ist. Das Spannungseingangssignal V&sub1; für den Komparator 58 wird an dem Übergang zwischen 63 und 64 in dem Spannungsverhältnisnetz von der Leitung 56 abgenommen. Ein zweiter Eingang zu dem Komparator 58 liest das entlang der Leitung 34 gesendete verstärkte Ausgangssignal, das die optische Dichte des Testprüfstreifens repräsentiert, wenn die Filmwalzen 12 und 14 den frisch entwickelten Testprüfstreifen zwischen der Lichtquelle 18 und den Photodetektoren 40,42,44 und 46 weiter vorschieben. Wenn das verstärkte elektrische Signal entlang der Leitung 34 einen Spannungspegel erzeugt, der gleich dem 0,3- Referenzdichtepegel ist, der äquivalent zu V&sub1; ist, sendet der Komparator 58 entlang der Leitung 70 ein Ausgangssignal zu der CPU 80, um die gegenwärtige Zahl der Tickmarkierungszählungen als die optische Dichte von 0,3 an dem Testprüfstreifen 10 wiedergebend aufzuzeichnen. Diese Tickmarkierungszählstände werden entlang der Leitung 78 von der CPU 80 empfangen.
- Gleichermaßen sind auch die Widerstände 63,64 und 66 derart gewählt, daß eine Spannung V&sub2; am Übergang von Widerstand 64 und Widerstand 66 gleich der Spannung auf Leitung 34 ist, wenn die optische Dichte des Referenzprüfstreifens gleich 3,5 ist. An dem Übergang zwischen 64 und 66 in dem Spannungsverhältnisnetz wird der Spannungseingang V&sub2; von der Leitung 62 abgenommen. Ein zweiter Eingang zu dem Komparator 60 liest das entlang der Leitung 34 gesandte verstärkte Ausgangssignal, das die optische Dichte des Testprüfstreifens repräsentiert. Nach einer angemessenen Zeit wird der Prüfstreifen zu dem Punkt vorgeschoben, an dem das verstärkte Ausgangssignal entlang der Leitung 34 eine Spannung V&sub2; an dem Eingang zum Komparator 60 erzeugt, die äquivalent zu dem Referenzdichtespannungspegel V&sub2; von 3,5 entlang der Leitung 62 ist. Der CPU 80 wird über Leitung 72 ein Ausgangssignal von dem Komparator 60 zugesandt, das angibt, daß dieser zweite Punkt erreicht worden ist.
- Der Tickmarkierungszählstand wird über das Signal entlang der Leitung 78 notiert und der Testprüfstreifen wird zurückgefahren, um wiederum seine zu einer Dichte von 3,5 und 0,3 äquivalenten Spannungspegel zu messen. Die Anzahl der Tickmarkierungen zwichen den Spannungen auf dem Rückweg wird mit der auf dem Hinweg gezählten Zahl gemittelt und diese gemittelte Zahl bzw. Gradient für den Testprüfstreifen wird dann mit der in der CPU 80 gespeicherten Anzahl der Tickmarkierungen verglichen, welche den ursprünglichen Gradienten zwichen den Dichtewerten von 0,3 und 3,5 auf dem Referenzprüfstreifen repräsentieren; dieser Vergleich kann dann zur Bestimmung der Qualität der Entwicklerchemikalien verwendet werden. Die derart bestimmten Gradientwerte können dann entlang der Ordinaten einer Kurve gegen die Zeit entlang der Abszisse eingezeichnet werden. Die Gradienten bilden normalerweise Linien mit einer Steigung von ungefähr Null. Eine deutliche Abwärtsneigung in einer Gradientenlinie repräsentiert eine Verschlechterung in den Entwicklerchemikalien und die gesamte Füllung sollte weggeworfen und erneuert werden.
- Die Abweichung in der Anzahl der Tickmarkierungen, die für den Pegel der optischen Dichte von 3,5 des Testprüfstreifens relativ zu der in der CPU 80 für den Referenzprüfstreifen gespeicherten Anzahl von Tickmarkierungen gemessen wurde, gibt die Stärke oder Schwäche der Entwickleraktivität an und löst erforderlichenfalls über ein Ausgangssignal entlang der Leitung 82 ein automatisches Auffüllen aus.
Claims (6)
1. Verfahren zur Prüfung der Entsorgung und/oder des
Auffüllens von Entwickler in einem Lichtbildfilmprozessor, mit
den Schritten:
Projizieren von Licht entlang einer Bahn von einer Quelle
(18) zu einem Detektor (16) und Erzeugen eines
Detektorsignals;
Entwickeln eines Testprüfstücks (10) in dem Entwickler;
Einschieben des entwickelten Stücks in die Lichtbahn; und
Bestimmen, ob der Entwickler zu entsorgen ist und/oder ob
der Entwickler aufzufüllen ist, und zwar abhängig von einem
gegenwärtigen Wert (34) des Detektorsignals bei
eingeschobenem entwickeltem Stück;
gekennzeichnet durch die Schritte:
Verwenden des Detektorsignals in einer
Rückkopplungsschleife (68,74,76) zum Regulieren der Intensität des von der
Quelle emittierten Lichtes vor dem Einschieben des
entwikkelten Stücks;
Halten des Wertes des Detektorsignals in der
Rückkopplungsschleife nach Einschieben des entwickelten Stücks; und
Durchführen der Bestimmung in Abhängigkeit von dem
gehaltenen Wert (Vref) des Detektorsignals zusätzlich zu dem
gegenwärtigen Wert des Detektorsignals.
2. Verfahren nach Anspruch 1, bei dem die Bestimmung in
Abhängigkeit von wenigstens einem Vergleich zwischen dem
gegenwärtigen Wert des Detektorsignals und einer jeweiligen
vorbestimmten Proportion des gehaltenen Wertes des
Detektorsignals erfolgt.
3. Verfahren nach Anspruch 1, bei der das Testprüfstück die
Form eines Streifens aufweist und nach der Entwicklung eine
optische Dichte aufweist, die entlang der Länge des
Streifens variiert, wobei der Schritt des Einschiebens den
Schritt des Vorschiebens des entwickelten Stücks quer zur
Lichtbahn umfaßt, wobei das Verfahren ferner den Schritt
des Erfassens der Position des entwickelten Stücks quer zur
Lichtbahn umfaßt, und wobei die Bestimmung in Abhängigkeit
von wenigstens einer erfaßten Position des entwickelten
Stücks erfolgt, wenn der gegenwärtige Wert des
Detektorsignals gleich einer jeweiligen vorbestimmten Proportion des
gehaltenen Wertes des Detektorsignals ist.
4. System zur Prüfung der Entsorgung und/oder des Auffüllens
von Entwickler in einem Lichtbildfilmprozessor, mit:
einer Lichtquelle (18) zum Projizieren von Licht entlang
einer Bahn;
einem Detektor (16) zum Erfassen des Lichts in der Bahn und
zum Erzeugen eines Detektorsignals;
einer Einrichtung (12,14) zum Halten eines entwickelten
Testprüfstücks (10) in der Lichtbahn zwischen der Quelle
und dem Detektor; und
einer Einrichtung (58,60,63,64,66,80) zum Bestimmen, ob der
Entwickler zu entsorgen ist und/oder zum Bestimmen, ob der
Entwickler aufzufüllen ist, und zwar in Abhängigkeit von
einem gegenwärtigen Wert des Detektorsignals, wobei das
entwickelte Stück in die Lichtbahn eingeschoben ist;
gekennzeichnet durch:
eine Rückkopplungsschleife (68,74,76) zum Regulieren der
Intensität des von der Quelle emittierten Lichts;
eine Einrichtung (36) zum Halten des Wertes des
Detektorsignals in der Rückkopplungsschleife nach Einschieben des
entwickelten Stückes; und
dadurch, daß die Bestimmungseinrichtung zur Durchführung
der Bestimmung in Abhängigkeit von dem gehaltenen Wert (Vref)
des Detektorsignals zusätzlich zu dem gegenwärtigen Wert
(34) des Detektorsignals betreibbar ist.
5. System nach Anspruch 4, bei dem die Bestimmungseinrichtung
wenigstens einen Komparator (58,60) zum Vergleichen des
gegenwärtigen Wertes (34) des Detektorsignals und einer
jeweiligen vorbestimmten Proportion (V&sub1;,V&sub2;) des gehaltenen
Wertes des Detektorsignals aufweist.
6. System nach Anspruch 4, zur Verwendung mit einem
Testprüfstück in der Form eines Streifens, der nach Entwicklung
eine optische Dichte aufweist, welche entlang der Länge des
Streifens variiert, wobei die Halteeinrichtung zum
Vorschieben des entwickelten Stückes quer zur Lichtbahn
betreibbar ist, wobei das System ferner eine Einrichtung (46)
zum Erfassen der Position des entwickelten Teststücks quer
zur Lichtbahn aufweist, und wobei die
Bestimmungseinrichtung zur Durchführung der Bestimmung in Abhängigkeit von
wenigstens einer von der Positionsdetektoreinrichtung
erfaßten Position betreibbar ist, wenn der gegenwärtige Wert
des Lichtdetektorsignals gleich einer jeweiligen
vorbestimmten Proportion des gehaltenen Wertes des
Lichtdetektorsignals ist.
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