DE6806745U - Hableiterbauelement - Google Patents

Hableiterbauelement

Info

Publication number
DE6806745U
DE6806745U DE6806745U DE6806745U DE6806745U DE 6806745 U DE6806745 U DE 6806745U DE 6806745 U DE6806745 U DE 6806745U DE 6806745 U DE6806745 U DE 6806745U DE 6806745 U DE6806745 U DE 6806745U
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
main electrode
frame
intermediate insert
main
semiconductor component
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
DE6806745U
Other languages
English (en)
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
CKD Praha DIZ AS
Original Assignee
CKD Praha DIZ AS
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by CKD Praha DIZ AS filed Critical CKD Praha DIZ AS
Publication of DE6806745U publication Critical patent/DE6806745U/de
Expired legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/02Containers; Seals
    • H01L23/04Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls
    • H01L23/043Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body
    • H01L23/051Containers; Seals characterised by the shape of the container or parts, e.g. caps, walls the container being a hollow construction and having a conductive base as a mounting as well as a lead for the semiconductor body another lead being formed by a cover plate parallel to the base plate, e.g. sandwich type
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/16Fillings or auxiliary members in containers or encapsulations, e.g. centering rings
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Die Bonding (AREA)

Description

Patentanwälte Dlpl.-lng. R. BESTZ Mn. Dlpl-lng. K. LAMPRECHT Dr.-lng. R. B E E T Z Jr. München 22, Steinadorftfr. 10
-Tp-r (5)
5. Juni 1970
GbmH 68 06 7^5.8
Halbleiterbauelement
Die Neuerung bezieht sich auf ein Halbleiterbauelement rait einem in einem Gehäuse eingeschlossenen und mit Elektroden in gleitfähiger Druckkontaktverbindung stehenden flMchenhaften Halbleiterelement.
Die gleitfähige Druckkontaktverbindung ist vorteilhafter als die bisher überwiegend verwendeten metallischen Verbindungen, da sie den Ausgleich von Wärmedehnungen ohne Zerstörung der Verbindungen und der Bestandteile ermöglicht.
Für diese Verbindungsart verwendet man nach dem Stand der Technik im wesentlichen zwei Gehäusebauarten. Eine davon ist die klassische Ausführung, bei der an einer Grundplatte, die zugleich ein« der Hauptelektroden bildet, ein Halter der Druckfeder befestigt ist, der das flächenhafte Halbleiterelement über die andere Hauptelektrode an die Grundplatte drückt. Diese Anordnung wird durch einen Gehäuseteil überdeckt, der zugleich die Ausführung der zweiten Elektrode trägt und an der Grundplatte befestigt ist.
Ein Nachteil dieser Bauarten besteht in hohen Fertigungsaufwendungen und einem erheblichen Raumbedarf. Der größte Nachteil besteht darin, daß bei derartigen Ausfüh-
233-(S
-V 109Λ)
rungen lediglich eine einseitige Kühlung des Halbleiterelementes möglich ist»
Vorteilhafter ist die andere Gehäusebauart, die derart ausgelegt ist, daß die flächenhaften Hauptelektroden miteinander durch einen Verbindungsteil verbunden sind, mit welchem zusammen sie ein fertigungstechnisch einfaches Gehäuse bilden. Das aus einem Siliziumeinkristallplättchen bestehende und mindestens einen pn-übergang enthaltende Halbleiterelement, das mit entweder durch einen direkten Metallüberzug oder durch Befestigung von Trägerplatten, deren thermischer Ausdehnungskoeffizient dem des Halbleiterplättchens benachbart liegt, gebildeten Anschlußelektroden versehen ist, ist in diesem Gehäuse derart angeordnet, daß es mit den Anlageflächen der beiden Anschlußelektroden in Berührung steht. Der zur Herstellung des Kontaktes zwischen den Elektroden und dem Halbleiterelement erforderliche Brück wird außerhalb des Halbleiterbauelements liegenden Druckkörpern, in der Regel zwei Kühlkörpern, entnommen.
Bei diesen Gehäu-sen ist der Verbindungsteil in der Regel aus zwei kreisringförmigen Rahmen gebildet, deren jeder mit seinem Innenrand jeweils an der einen Hauptelektrode befestigt ist und die an ihren Außenrändern mit metallischen Ansätzen versehen sind, die üblicherweise miteinander verschweißt sind. Die Metallansätze sind als flache Ringe ausgestaltet, die in einer zur Achse des Halbleiterbauelementes senkrecht liegenden Ebene angeordnet sind. Sie erlauben eine axiale Bewegung der Hauptelektroden, um durcn den ausgeübten Druck die notwendige Berührung mit dem Halbleiterelement zu erreichen.
Bei allen diesen bekannten Gehäuseausführungen ergeben sich Probleme in der Verbindung der Hauptelektroden, die in der Regel aus Kupfer bestehen, mit dem Rahmen, der üblicherweise aus Keramik oder anderen Isolierwerkstoffen besteht, die spröde sind und einen kleinen Elastizitätsmodul aufweisen. Diese Halbleitereloniente haben in der Regel die Gestalt einer flachen Scheibe, so daß die Dimensionen der thermisch ausdehnbaren Bestandteile in radialer Richtung ein Vielfaches der Dimensionen in axialer Richtung darstellen. Bei der Wärmebeanspruchung kommt daher der ungünstige Einfluß der absoluten Werte der thermischen Dehnungen insbesondere in radialer Richtung zum Vorschein. Diese Probleme und Nachteile ergeben sich sowohl beim Betrieb als auch bei dor Fertigung und Wärmebehandlung.
Bei den bekannten Lösungen werden diese Mängel derart vermieden, daß zwischen der aus einer steifen Kupferplatte bestehenden Hauptelektrode und dem Rahmen, der die Gestalt eines Kreisringes hat und aus Isoliermaterial besteht, eine kreisringförmige, metallene Membrane eingelegt ist, die in einer Achse des Halbleiterbauelementes senkrecht liegenden Ebene angeordnet ist. Diese Membrane sorgt für dsn Ausgleich der thermischen Dehnungen in radialer Richtung der eigentlichen Deformationen, wobei es jedoch zu einer Scher-Beanppruchung kommt, die bei einer größeren Deformation zur Zerstörung der Verbindung führen kann. Außerdem ist diese Bauart sehr anspruchsvoll in dor Fertigung.
In den Stand der Technik ist ferner die Verwendung von Zwischeneinlagen einzubeziehen, die zwischen die Hauptelektrode und den Rahmen eingelegt werden und deren Gestalt derart ist, daß »ie mit Flanschen versehen sind.
j Somit werden sie bei thermischen Dehnungen teils in radia-
I ler, teils in axialer Richtung beansprucht. Derartige Aus-
j führungen vermeiden die erwähnten Mangel in funktioneller
ί Hinsicht wesentlich besser als die vorher beschriebenen Lö-
j sungen, in konstruktiver Hinsicht sind sie jedoch kompli-
j zierter und aufwendiger.
]
Ferner sind auch Zwischeneinlagen in Gestalt einte Rohres bekannt, die zwischen dem Außenrand der Häuptelek- ; trode und dem Innenrand des Rahmens, der ringkreisförmig
■ ausgestaltet ist, eingelegt sind. Hierbei sind diese bei-
! den Teile an der Zwischeneinlage in einer und derselben
Ebene befestigt. Diese Lösung erfolgt lediglich aus Gründen einer leichteren Verbindung von Kupfer mit Keramik, hat j jed och keinen Einfluß auf den Ausgleich der thermischen
] Dehnungen.
^ Der Neuerung liegt die Aufgabe zugrunde, eine Verbin-
] dung der aus einer steifen ringförmigen Platte bestehenden.
• Hauptelektrode mit dem ringkreisförmigen, aus Isoliermate-
! rial bestehenden Rahmen derart zu schaffen, daß die er-
1 wähnten Mängel vermieden werden.
Gegenstand der Neuerung, mit der diese Aufgabe unter Anwendung der an sich bekannten rohrförmigen Zwischeneinlage, gelöst wird, ist ein Halbleiterbauelement, bei dem I ein flächenhaftes Halbleiterelement, in einem aus zwei
durch unverformbare Platten gebildeten Hauptelektroden bestehenden Gehäuse untergebracht ist und die Hauptelektrode an gegenüberliegenden Oberflächen des Halbleiterelementes und der eine kreisförmige Gestalt aufweisenden Rahmen aus isolierendem Material anliegen, deren jeder mit seinen inneren Rand an dem äußeren Rand der einen Elektrode befestigt
1st und die an ihrem äußeren Rand beide miteinander verbunden sind, so daß sie einen Verbindungsteil der beiden Hauptelektroden bilden, wobei zur Verbindung einer jeden Hauptelektrode eine Zwischeneinlage verwendet ist, die die Gestalt eineszwischen dem äußeren Rand der Hauptelektrode und dem inneren Rand des zugehörigen Rahmens eingelegten Rohres hat und koaxial mit der Achse des Halbleiterbanelementes ist, mit dem Kennzeichen, daß jede Hauptelektrode und ihr angrenzender Rahmen an der Zwischeneinlage in an sich bekannter Weise in zwei verschiedenen, zueinander parallelen und zur Achse der Zwischeneinlage senkrechten Ebenen derart befestigt sind, daßzwischen der durch die äußere Oberfläche jeder Hauptelektrode bestimmten Ebene und der durch die innere Oberfläche des zugehörigen Rahmens an der Stelle, wo derselbe an der Zwischeneinlage anliegt, bestimmten Ebene ein Abstand vorhanden ist, der zumindest der Dicke der Wand der Zwischeneinlage gleicht, die dieselbe an der Stelle zwischen der Hauptelektrode und dem zugehörigen Rahmen aufweist.
Durch die neuerungsgemäße Lösung ergibt sich bei einer einfachen Bauart und billigen Technologie eine Verbindung zwischen der Hauptelektrode und dem Rahmen, die den Ausgleich der thermischen Ausdehnung in radialer und axialer Richtung ermöglicht, ohne daß es zu Deformationen des Rahmens oder der Hauptelektrode kommt.
Der Neuerungsgegenstand kann vorzugsweise auch derart ausgeführt werden, daß die Zwischeneinlage an der Stelle zwischen der äußeren Oberfläche der Hauptelektrode und der inneren Oberfläche des angerenzenden Rahmens in an sich bekannter Weise mit einer Kröpfung in einer zur Achse der Zwischeneinlage senkrechten Ebene bzw. senkrechten Ebenen versehen isto
B80674S28.1.71
• · I '
• · · ι ι ·
Ferner können neuerungsgemäß die Rahmen in an sich. bekannter Weise kegelstumpfförmig ausgestaltet werden, wobei die Kegelstümpfe an ihren Grundflächen miteinander verbunden sind. Eine derartige Ausgestaltung verbessert die Bedingungen des Ausgleiches der thermischen Dehnung im Betrieb.
Bin Ausführungebeispiel der Neuerung ist in der Zeichnung veranschaulicht.
Das flächenhafte Halbleiterelement 1 ist zwischen zwei durch zwei ringförmige, unverformb're Kupferplatten gebildeten Hauptelektroden 2 und 3 gleitfähig angeordnet· Dieses Halbleiterelement ist von einem aus Tetrafluoräthylen gebildeten Ring k umgeben. Der aus Isoliermaterial hergestellte Verbindungeteil der Hauptelektroden besteht aus zwei Rahmen 5 und 6, die die Gestalt je eines Kegelstumpfes aufweisen. Am äußeren Umfang der Hauptelektroden 2 und 3 sind Zwischeneinlagen 7 und 8 befestigt, die durch je ein Rohr gebildet werden. An ihrer äußeren Oberfläche sind die Rahmen 5 bzw. 6 derart befestigt, daß zwischen der Ebene A-A bzw. Af-A1, die durch die äußere Oberfläche der Elektrode 2 bzw. 3 bestimmt ist, und der Ebene B-B bzw. B'-B', die durch die innere Oberfläche des Rahmens 5 bzw. 6 an der Stelle, wo derselbe an die Zwischeneinlage 7 bzw. 8 angrenzt, bestimmt ist, der Abstand größer als die Dicke der Zwischeneinlage ist. Die Zwischeneinlagen 7 bzw. 8 sind an der Stelle zwischen den Ebenen A-A und B-B bzw. Α·-Α· und B'-B1 mit einer Kröpfung versehen.
Die Ebenen A-A bzw. A'-Af und B-B bzw. B'-B1 sowie die Ebene, in der die Kröpfung ausgeführt ist, liegen zur Achse X-X des Halbleiterbauelementes, die zugleich auch die Achse
ι I
»Ml
der Zwi»oheneInIage 7 bzw. 8 bildet, senkrecht. Die Rahmen 5 bzw. 6 sind an ihrem äußeren Umfang mit metallenen Ansätzen 9 bzw. 10 versehen, die die Form von zwei ineinandergeschobenen Rohren aufweisen und mittels welcher die Rahmen miteinander verbunden sind.

Claims (3)

Schutzanaprüche
1. Halbleiterbauelement, bei dem ein flächenhaftes Halbleiterelement, in einem aus zwei durch unverformbare Platten gebildeten Häuptelektroden bestehenden Gehäuse untergebracht ist und die Häuptelektroden an gegenüberliegenden Oberflächen des Halbleiterelementes und der eine kreisringförmige Gestalt aufweisenden Rahmen aus isolierendem Material anliegen, deren jeder mit seinem inneren Rand an dem äußeren Rand der einen Elektrode befestigt ist und die an ihrem äußeren Rand beide miteinander verbunden sind, so daß sie einen Verbindungsteil der beiden Hauptelektroden bilden, wobei zur Verbindung einer jeden Hauptelektrode eine Zwischeneinlage verwendet ist, die die Gestalt eines zwischen dem äußeren Rand der Hauptelektrode und dem inneren Rand des zugehörigen Rahmens eingelegten Rohres hat und koaxial mit der Achse des Halbleiterbauelementes ist, dadurch gekennzeichnet, daß jede Hauptelektrode (2, 3) und ihr angrenzender Rahmen (5, 6) an der Zwischeneinlage (7, 8) in an sich bekannter Weise in zwei verschiedenen, zueinander parallelen und zur Achse der Zwischeneinlage (7, 8) senkrechten Ebenen derart befestigt sind, daß zwischen der durch die äußere Oberfläche jeder Hauptelektrode bestimmten Ebene (A-A, Af-A') und der durch die innere Oberfläche des zugehörigen Rahmens (5, 6) an der Stelle, wo derselbe an der Zwiscbsneinlage (7, 8) anliegt, bestimmten Ebene (B-B, B'-B») ein Abstand vorhanden ist, der zumindest der Dicke der Wand der Zwischeneinlage (7, 8) gleicht, die dieselbe an der Stelle zwischen der Hauptelektrode und dem zugehörigen Rahmen (5» 6) aufweist.
ν ·
2. Halbleiterbauelement η ich Anspruch 1, dtadui'oh gekennzeichnet, daß die Zwiacheneinlage (7, 8) an der Stelle zwischen der äußeren Oberfläche der Hauptelektrode (2, 3) und der inneren Oberfläche des ihr zugehörigen Rahmens (5-6) in an sich bekannter Weise mit einer Kröpfung in der zur Achse der Zwischeneinlage senkrecht liegenden Ebene versehen ist.
3. Halbleiterbauelement nach den Ansprüchen 1 uxvl 2» dadurch gekennzeichnet, daß die Rahmen (5» 6) in an sich bekannter Weise als an ihren Grundflächen miteinander verbundene Kege!stumpfe ausgebildet sind.
DE6806745U 1967-11-29 1968-11-13 Hableiterbauelement Expired DE6806745U (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CS845167 1967-11-29

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE6806745U true DE6806745U (de) 1971-01-28

Family

ID=5435025

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE6806745U Expired DE6806745U (de) 1967-11-29 1968-11-13 Hableiterbauelement
DE19681808691 Pending DE1808691A1 (de) 1967-11-29 1968-11-13 Halbleiterbauelement

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19681808691 Pending DE1808691A1 (de) 1967-11-29 1968-11-13 Halbleiterbauelement

Country Status (6)

Country Link
US (1) US3518507A (de)
CH (1) CH506184A (de)
DE (2) DE6806745U (de)
FR (1) FR1595870A (de)
GB (1) GB1217964A (de)
NL (1) NL6817017A (de)

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3746947A (en) * 1969-03-15 1973-07-17 Mitsubishi Electric Corp Semiconductor device
DE2014289A1 (de) * 1970-03-25 1971-10-14 Semikron Gleichrichterbau Scheibenförmiges Halbleiterbauele ment und Verfahren zu seiner Herstellung
SE429802B (sv) * 1979-02-21 1983-09-26 Asea Ab Halvledaranordning innefattande en tetande ringformad kropp av en sulfonpolymer eller av polyfenylensulfid
JPS5635443A (en) 1979-08-31 1981-04-08 Toshiba Corp Semiconductor device
JP3259599B2 (ja) * 1995-06-20 2002-02-25 三菱電機株式会社 圧接型半導体装置

Family Cites Families (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3313987A (en) * 1964-04-22 1967-04-11 Int Rectifier Corp Compression bonded semiconductor device
US3437887A (en) * 1966-06-03 1969-04-08 Westinghouse Electric Corp Flat package encapsulation of electrical devices

Also Published As

Publication number Publication date
CH506184A (de) 1971-04-15
GB1217964A (en) 1971-01-06
NL6817017A (de) 1969-06-02
FR1595870A (de) 1970-06-15
US3518507A (en) 1970-06-30
DE1808691A1 (de) 1969-06-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2234669B2 (de) Dusenbaugruppe
DE1425437A1 (de) Dichtungsanordnung
DE3616330A1 (de) Kurzbogenlampe
DE2324399A1 (de) Piezoelektrischer druckwandler
DE6806745U (de) Hableiterbauelement
DE3010278A1 (de) Fenster
DE2419576A1 (de) Walzvorrichtung
DE3010807C2 (de)
DE2827725A1 (de) Druckmessgeraet
DE1955040A1 (de) Piezoelektrischer Beschleunigungsmesswandler
DE2332518A1 (de) Spritzkopf
EP0157726B1 (de) Druck- oder Druckdifferenzmessgerät
DE1075909B (de) Ringfoermiges elastisches Dichtungsglied
DE2156959A1 (de)
DE1573680C3 (de) Piezoelektrischer Druckgeber
DE1133045B (de) Moderatoraufbau fuer einen Kernreaktor
DE2410654A1 (de) Vorrichtung zum verspannen eines bauteilstapels
DE68905105T2 (de) Modul fuer zylindrische starre membranelemente zur trennung, zum filtrieren oder zur katalytischen umwandlung.
AT225804B (de) Keramikröhre für sehr hohe Frequenzen, insbesondere Tetrode
DE1807631A1 (de) Halbleiterbauelement
CH462499A (de) Piezoelektrischer Messwandler
DE2717264A1 (de) Verfahren zum abdichten einer bildverstaerkerroehre und nach diesem verfahren erhaltene bildverstaerkerroehre
DE2542062C3 (de) Verfahren zum Ausrichten und Befestigen einer Kathodenstrahlröhre
DE2312515A1 (de) Optisches fenster fuer eine hochdruckapparatur
CH238657A (de) Vakuumdichte Verbindung zwischen einem metallischen und einem keramischen Körper, hergestellt unter Verwendung eines Glasflusses als Dichtungsmittel.