DE478754C

DE478754C - Bildwerfer fuer Auflicht

Info

Publication number: DE478754C
Application number: DEP54597D
Authority: DE
Original assignee: ROBERT PLAGWITZ
Current assignee: ROBERT PLAGWITZ
Publication date: 1929-07-02

Description

Bildwerfer für Auflicht Bei den bekannten Bildwerfern für Auflicht, die eine mit dem Apparat verbundene Bildauffangfläche haben, liegt diese nicht in unmittelbarer Nähe der Objektfläche. Sollen mit einem solchen Bildwerfer undurchsichtige Gegenstände, z. B. Werkstücke irgendwelcher Art, in möglichst ununterbrochenemArbeitsgangedurch episkopische Projektion geprüft werden, so ist die prüfende Person genötigt, beim abwechselnden Beobachten des Objekts und seines Bildes nicht nur dauernd die Kopfstellung zu ändern, sondern auch mit den Augen auf die verschiedenen Entfernungen, in denen sich das Objekt und Bild vom Standorte befindet, zu akkomodieren. Eine solche Tätigkeit ist sehr ermüdend und schädigt die Augen des Betreffenden. Die Erfindung soll diesem Mangel dadurch abhelfen, daß die Objektfläche und die Bildauffangfläche unmittelbar aneinanderstoßen und einen stumpfen Winkel miteinander bilden, und da.ß beide Flächen so angeordnet sind, daß sie ohne Behinderung durch andere Teile aus der Entfernung der deutlichen Sehweite und bei nur geringer Änderung der Blickrichtung beobachtet werden können.
In der Zeichnung ist ein Ausführungsbeispiel des Erfindungsgegenstandes im Schnitt und zwei Ansichten dargestellt.
In dem Gesamtgehäuse des Bildwerfers sind eine Projektionslampe L, ein Hohlspiegel Sp, die Kondensoren Ki und K2, ein geneigter Spiegel S, und ein Kondensor-Zylinderlinsensystem K3 untergebracht. Das auf die Objektfläche 0E gerichtete Strahlenbündel durchstößt die durchsichtige Objektfläche kreisförmig. Die nutzbare Objektfläche ist durch eine Ringmarke begrenzt. Um Schattenbildungen zu vermeiden, besteht der Objekttisch aus einer dicken Glasscheibe. Unter dieser ist ein tiefschwarzer Hohlkörper angebracht, der das zur Abbildung nicht benötigte Licht absorbiert. Dadurch ist erreicht, daß der auf der Auffangfläche abgebildete Gegenstand hell auf schwarzem Grund erscheint.
Auf die Objektfläche gelegte Gegenstände werden von dem darüber befindlichen Objekt 0 nach mehrfacher Knickung des Strahlenganges durch die Prismen P, und P2 und Spiegel S2 auf der Auffangfläche M, die eine Mattscheibe sein kann, seitenrichtig abgebildet. Objektfläche 0E und Bildauffangfläche M stoßen unmittelbar aneinander und bilden einen stumpfen Winkel miteinander. Der freie Blick auf beide Flächen wird durch andere Teile des Bildwerfers nicht behindert, so daß beide Flächen aus der Entfernung der deutlichen Sehweite und bei nur geringer Änderung der Blickrichtung von A aus beobachtet werden können. Um von der beleuchteten Objektfläche nicht geblendet zu werden, ist vor dieselbe ein neutrales Dämpfglas gesetzt. An Stelle dieses Glases können auch Blenden treten, die durch Relais betätigt werden.
Damit die inneren Teile beim Auswechseln der Mattscheibe gegen eine photographische Kassette nicht verstauben, ist unter der Mattscheibe ein Schutzglas S vorgesehen.
Der beschriebene Apparat ermöglicht eine schnelle und sichere Massenprüfung an Werkstücken und kann sowohl zur Oberflächen- als auch zur Profilprüfung verwendet werden. Die von guten Werkstücken hergestellten Profilaufnahmen können als Diapositive, die auf der blanken Seite zweckmäßig mattiert werden, an Stelle der Mattscheibe eingesetzt werden. Durch Aufprojizieren des Bildes des zu prüfenden Werkstückes sind Abweichungen leicht festzustellen. Auch können von typischen guten und schlechten Stücken Aufnahmen hergestellt werden, die für die Schulung des Personals wertvoll sein können. Die Beleuchtung der zu prüfenden Objekte ist so kräftig gewählt, daß die Helligkeit des Mattscheibenbildes trotz vielfacher Vergrößerung ausreicht, um die Beobachtung und Prüfung bei Tageslicht vornehmen zu können.

Claims

PATENTANSPRUCH: Bildwerfer für Auflicht, dadurch gekennzeichnet, daß die Objektfläche und die Bildauffangfläche unmittelbar aneinanderstoßen und einen stumpfen Winkel miteinander bilden, und da.ß beide Flächen so angeordnet sind, daß sie ohne Behinderung durch andere--Teile aus der Entfernung der deutlichen Sehweite bei nur geringerÄnderung der Blickrichtung beobachtet werden können.