DE4420041C2 - Konstantspannungs-Erzeugungsvorrichtung - Google Patents

Konstantspannungs-Erzeugungsvorrichtung

Info

Publication number
DE4420041C2
DE4420041C2 DE4420041A DE4420041A DE4420041C2 DE 4420041 C2 DE4420041 C2 DE 4420041C2 DE 4420041 A DE4420041 A DE 4420041A DE 4420041 A DE4420041 A DE 4420041A DE 4420041 C2 DE4420041 C2 DE 4420041C2
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
circuit
transistor
current
voltage
constant current
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired - Fee Related
Application number
DE4420041A
Other languages
English (en)
Other versions
DE4420041A1 (de
Inventor
Kenji Tsuchida
Yoshio Okada
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Publication of DE4420041A1 publication Critical patent/DE4420041A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE4420041C2 publication Critical patent/DE4420041C2/de
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/34DC amplifiers in which all stages are DC-coupled
    • H03F3/343DC amplifiers in which all stages are DC-coupled with semiconductor devices only
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • G05F3/242Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only with compensation for device parameters, e.g. channel width modulation, threshold voltage, processing, or external variations, e.g. temperature, loading, supply voltage
    • GPHYSICS
    • G05CONTROLLING; REGULATING
    • G05FSYSTEMS FOR REGULATING ELECTRIC OR MAGNETIC VARIABLES
    • G05F3/00Non-retroactive systems for regulating electric variables by using an uncontrolled element, or an uncontrolled combination of elements, such element or such combination having self-regulating properties
    • G05F3/02Regulating voltage or current
    • G05F3/08Regulating voltage or current wherein the variable is dc
    • G05F3/10Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics
    • G05F3/16Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices
    • G05F3/20Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations
    • G05F3/24Regulating voltage or current wherein the variable is dc using uncontrolled devices with non-linear characteristics being semiconductor devices using diode- transistor combinations wherein the transistors are of the field-effect type only
    • GPHYSICS
    • G11INFORMATION STORAGE
    • G11CSTATIC STORES
    • G11C5/00Details of stores covered by group G11C11/00
    • G11C5/14Power supply arrangements, e.g. power down, chip selection or deselection, layout of wirings or power grids, or multiple supply levels
    • G11C5/147Voltage reference generators, voltage or current regulators; Internally lowered supply levels; Compensation for voltage drops

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Radar, Positioning & Navigation (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Automation & Control Theory (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Dram (AREA)
  • Control Of Electrical Variables (AREA)
  • Amplifiers (AREA)
  • Continuous-Control Power Sources That Use Transistors (AREA)

Description

Die vorliegende Erfindung betrifft eine Konstantspannungs- Erzeugungsvorrichtung zur Erzeugung einer vorbestimmten Ausgangsspannung, die einer aktiven Schaltungseinheit zugeführt wird.
Seit einiger Zeit enthält ein MOS-Halbleiterspeicher, in welchem MOS-Transistoren integriert sind, nicht nur Digitalschaltungen, sondern auch eine Anzahl an Analogschaltungen. Beispielsweise stellt bei einem dynamischen RAM (DRAM) eine Einrichtung zum Herunterwandeln einer Spannung, die zur Erhöhung der Verläßlichkeit des MOSFET verwendet wird, eine typische Analogschaltung dar. Die Spannungsherunterwandlungs-Einrichtung stuft eine externe Spannung Vcc in einem Speicherchip herunter, erzeugt eine Spannung Vint, die niedriger ist als die äußere Versorgungsspannung, und verwendet die Spannung Vint als Quellenspannung des Speicherchips.
Eine derartige Analogschaltung, die auf einem Chip angebracht ist, weist im allgemeinen eine Spannungswandlerschaltung des Differenzverstärkertyps auf, um eine Bezugsspannung Vref mit einer erzeugten Spannung Vint zu vergleichen. Die Spannungsvergleicherschaltung des Differenzverstärkertyps verbraucht unvermeidlich einen Gleichstrom als Durchlaßstrom, infolge ihres Aufbaus. Daher ist es bei der Auslegung einer Spannungsabfallschaltung äußerst wesentlich, eine zufriedenstellende Antwortcharakteristik mit einem niedrigen Durchlaßstrom aufrechtzuerhalten.
Fig. 1 zeigt eine Beziehung zwischen dem Stromverbrauch und der Antwortcharakteristik bei einer Spannungsherunterwandlungs-Vorrichtung, auf der Grundlage einer Schaltungssimulation. In Fig. 1 wird die Beziehung zwischen dem Stromverbrauch und der Antwortcharakteristik eines Differenzverstärkers DA, welcher eine Konstantstrom- Steuerschaltung aufweist, mit jener eines Differenzverstärkers DA verglichen, der keine Konstantstrom- Steuerschaltung aufweist. Eine Antwortcharakteristikkurve AL gibt die Charakteristik des Differenzverstärkers DA an, der keine Stromregelschaltung A aufweist, und eine Antwortcharakteristikkurve BL gibt die Charakteristik des Differenzverstärkers DA an, welcher mit einer Konstantstrom- Regelschaltung B versehen ist. Die Abszisse gibt den Stromverbrauch unter der Bedingung einer Spannung Vcc + 10% bei niedriger Temperatur an, bei welcher der Stromverbrauch ein Maximum erreicht, und die Ordinate gibt die Antwortcharakteristik unter der Bedingung einer Spannung Vcc - 10% bei hoher Temperatur an, bei welcher die Antwortcharakteristik ein Maximum aufweist.
Bei dem Differenzverstärker DA ist die Reaktionszeit desto kürzer, je größer der Stromverbrauch ist, ob nun die Konstantstrom-Regelschaltung vorhanden ist oder nicht. Allerdings ist der Differenzverstärker DA, welcher eine Konstantstrom-Regelschaltung B aufweist, in der Hinsicht vorteilhafter, daß ein Betrieb selbst unter schwersten Bedingungen sichergestellt ist, unter Berücksichtigung einer Variation der Parameter. Wird beispielsweise die Antwortcharakteristik am Momentanwert eines Punktes C in dem Differenzverstärker DA normiert, der die in Fig. 1 gezeigte Konstantstrom-Regelschaltung B aufweist, so beträgt die Reaktionszeit des Differenzverstärkers DA, der die einen nicht-konstanten Strom regelnde Schaltung A aufweist, das 3,7-fache jener des Differenzverstärkers DA, welcher die Konstantstrom-Regelschaltung B aufweist. Um andererseits eine zufriedenstellende Antwortcharakteristik zu erhalten, beträgt der Stromverbrauch des Differenzverstärkers DA, der die auf einen nicht-konstanten Strom regelnde Schaltung A aufweist, das 3-fache jenes des Differenzverstärkers DA, der mit der Konstantstrom-Regelschaltung B versehen ist. Da die Konstantstrom-Regelung auch in der Hinsicht wirksam ist, daß sie einen Gleichspannungs-Ausgangspegel eines Differenzverstärkers stabilisiert, und eine bestimmte Verstärkung sicherstellt, sind in einer Speichervorrichtung verschiedene Konstantstrom-Regelschaltungen vorgesehen.
Die Konstantstrom-Regelschaltung wurde wirksam nicht nur in der Spannungsherunterwandlungs-Vorrichtung eingesetzt, sondern auch in verschiedenen Spannungserzeugungs-Schaltungen (einer Schaltung zur Erzeugung eines mittleren Potentials oder einer Booster-Schaltung (Spannungserhöhungs-Schaltung)), die auf einem Chip angebracht sind, oder in einem System, welches ein Übertragungssystem für Daten kleiner Amplitude aufweist, unter Verwendung eines Differenzverstärkers (siehe beispielsweise JEEE JSSC; Band 26, Nr. 11, November 1991, Seiten 1498-1505). Eine typische Konstantstrom-Regelschaltung weist einen Aufbau auf, bei welchem in einem Chip integrierte Differenzverstärker jeweils MOS-Stromregeltransistoren aufweisen. Bei einem derartigen Aufbau wird ein mittleres Potential, welches dazu ausreicht, einen MOS- Stromregeltransistor zum Be rieb in einem Pentodenbereich (d. h. in dem gesättigten Bereich der Ausgangskennlinie) zu veranlassen, an die Gate-Elektrode eines MOS-Stromregeltransistors angelegt. Eine Schaltung zur Erzeugung des mittleren Potentials wird als stromgesteuerte Spannungserzeugungs-Schaltung bezeichnet, die im allgemeinen von mehreren Differenzverstärkern geteilt wird.
Fig. 2 ist ein Schaltbild, welches eine stromgesteuerte Spannungserzeugungs-Schaltung und ein Schaltungssystem zum Regeln oder Steuern eines konstanten Stromes zeigt. Die stromgesteuerte Spannungserzeugungs-Schaltung weist eine Bezugsspannungs-Erzeugungsschaltung 1 auf, eine konventionelle Konstantstrom-Schaltung 2 des kontinuierlichen Regeltyps, sowie einen Lasttransistor Q2. Die Bezugsspannungs-Erzeugungsschaltung 1 erzeugt eine Bezugsspannung Vr. Die Konstantstrom-Schaltung 2 des kontinuierlichen Regeltyps weist einen Differenzverstärker DA auf, der die Bezugsspannung Vr als Bezugspotential verwendet, einen Stromregeltransistor Q1, der eine Gate-Elektrode aufweist, die durch ein Ausgangssignal des Differenzverstärkers DA gesteuert wird, und einen Standard- Widerstand Rc, der in Reihe zwischen den Transistor Q1 und die Energiequelle geschaltet ist. Der Lasttransistor Q2 wandelt einen Stromwert in einen Spannungswert um. Der Transistor Q2 und ein Transistor Q3 bilden einen Stromspiegel.
Eine Ausgangsspannung Vcm von der stromgesteuerten Spannungserzeugungs-Schaltung wird an die Gate-Elektrode des Stromregeltransistors Q3 jedes Differenzverstärkers 3 angelegt, wodurch eine Konstantstrom-Regelung durchgeführt wird. Das Arbeitsprinzip der stromgeregelten Spannungserzeugungs-Schaltung mit dem voranstehend geschilderten Aufbau wird nachstehend kurz erläutert. Ein Bezugsstrom I1, der durch die Konstantstrom-Schaltung 2 des kontinuierlichen Regeltyps zum Fließen durch den Lasttransistor Q2 veranlaßt wird, wird durch nachstehende Gleichung ausgedrückt:
I1 = Vr/Rc (1)
Da die Transistoren Q2 und Q3 einen Stromspiegel bilden, wird ein Strom I2, der durch jeden Differenzverstärker fließt, unter der Voraussetzung, daß die Längen der Gate-Elektroden der Transistoren Q2 und Q3 gleich sind, durch nachstehende Gleichung ausgedrückt:
I2 = (W2/W1) × I1 (2)
wobei W1 und W2 die Breite der Gate-Elektrode des Transistors Q2 bzw. Q3 bezeichnet.
Wie aus den voranstehenden Gleichungen (1) und (2) hervorgeht, stellt I2 einen konstanten Wert dar, der nur von der Bezugsspannung Vr und dem Standardwiderstand Rc abhängt, unabhängig von der Versorgungsspannung Vcc, der Temperatur, und den Transistoreigenschaften. Darüber hinaus kann der durch jeden der Differenzverstärker fließende Strom I2 dadurch auf einen gewünschten Wert eingestellt werden, daß entsprechend die Geräteabmessungen der Transistoren Q2 und Q3 eingestellt werden.
Daher ist die in Fig. 2 gezeigte, stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung eine sehr stabile Schaltung, da der Stromwert nur in Abhängigkeit von dem Bezugsspannungswert und dem Wert des Standardwiderstands festgelegt wird.
Allerdings wird die minimale Versorgungsspannung zum Betrieb der stromgesteuerten Spannungserzeugungs-Schaltung durch eine Stromvorspannstufe festgelegt, in welcher der Standardwiderstand Rc und die beiden MOS-Transistoren Q1 und Q2 in Reihe geschaltet sind. In der Theorie wird die minimale Versorgungsspannung Vmin zum Betreiben der stromgesteuerten Spannungserzeugungs-Schaltung durch nachstehende Gleichung ausgedrückt:
Vmin = Vr + Vt (3)
wobei Vt die Schwellenspannung des Transistors Q2 ist. Falls beispielsweise Vr = 1,5 V und Vt = 0,5 V, so beträgt Vmin = 2,0 V.
Da allerdings die Konduktanz des stromgeregelten Transistors Q1 begrenzt ist, tritt zwischen der Source und dem Drain des Transistors Q1 ein Spannungsabfall auf.
Daher ist eine Versorgungsspannung von 2,5 V oder mehr erforderlich, um den konstanten Strom in der stromgeregelten Spannungserzeugungs-Schaltung 2 aufrechtzuerhalten.
Zusätzlich zum voranstehend geschilderten Problem der Absenkung der minimalen Versorgungsspannung Vmin infolge des Spannungsabfalls treten die nachstehend geschilderten Schwierigkeiten infolge des Herstellungsverfahrens auf. Die Schwellenspannung Vt ist in verschiedenen hergestellten Chips unterschiedlich, infolge von Schwankungen beim Herstellungsverfahren. Angesichts dieser Tatsache muß die minimale Versorgungsspannung Vmin höher gewählt werden (etwa 2,8 V). Daher wird die Sicherheitsspanne für die stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung 2 bis zum Wert von 3,3 V für Vcc, der in Vorrichtungen der 64-MDRAM-Generation verwendet wird, beträchtlich verringert.
Weiterhin legt die stromgesteuerte Spannungserzeugungs- Schaltung den Betriebsspielraum der Seite mit niedriger Versorgungsspannung eines DRAM fest.
Die stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung 2 erfordert zwei Betriebsabläufe: Eine Konstantstrom-Regelung und eine Strom-Spannungswandlung. Da die beiden Betriebsvorgänge durch die voranstehend erwähnte, einzige Stromvorspannungsstufe erzielt werden, in welcher die drei Elemente in Reihe geschaltet sind, kann die Betriebsgrenzspannung der Schaltung nicht niedrig sein.
Es ist beträchtlich nachteilig, daß die Betriebsgrenzspannung nicht niedrig sein kann, insbesondere im folgenden Fall: Wenn in der Zukunft der Skalier-Koeffizient der Versorgungsspannung kleiner wird als jener der Schwellenspannung eines MOS, also wenn nur die Versorgungsspannung abgesenkt wird, um die Verläßlichkeit der MOSFET-Vorrichtung sicherzustellen, obwohl die Schwellenspannung Vt nicht verringert werden kann, infolge der Eigenschaften des Transistors unterhalb der Schwelle. In diesem Fall ist es beträchtlich nachteilig, daß die Betriebsgrenzspannung nicht niedrig sein kann.
Wie voranstehend erläutert, weist die konventionelle stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung, die einen Aufbau aufweist, bei welchem ein Standardwiderstand, ein Stromregelwiderstand und der Strom-Spannungs- Wandlerlasttransistor Q2 in Reihe geschaltet sind, den Nachteil auf, daß bei einem Absinken der Versorgungsspannung die Differenz zwischen der minimalen Versorgungsspannung, die zum stabilen Betreiben einer Schaltung erforderlich ist, und der der Schaltung zugeführten Versorgungsspannung klein wird, was zu einem instabilen Betrieb führt.
Die vorliegende Erfindung wurde unter Berücksichtigung der voranstehend geschilderten Situation entwickelt, und ihre Aufgabe besteht in der Bereitstellung einer Konstantspannungs- Erzeugungsvorrichtung, bei welcher der Betriebsspielraum für die Versorgungsspannung groß ist, und ein stabiler Betrieb aufrechterhalten wird, selbst wenn die Versorgungsspannung niedrig ist.
Diese Aufgabe wird durch eine Vorrichtung mit den in Anspruch 1 aufgeführten Merkmalen gelöst. Bevorzugte Ausführungen finden sich in den Unteransprüchen.
Aus DE-37 16 577 A1 ist eine Stromspiegelschaltung großer Leistungsfähigkeit bekannt. Aus JP-3-78810 (A) ist eine Schaltung bekannt, bei welcher an einem Verbindungspunkt zwischen einem Widerstand und einem MOS-Transistor, dessen Kanalgebiet gleich dotiert ist wie das Halbleitersubstrat, eine Ausgangsspannung abgegriffen wird. Das andere Ende des Widerstands ist mit einer Spannungsquelle verbunden, und das andere Ende des Transistors ist mit der Erde verbunden. Das Gate ist mit dem erdseitigen Anschluß verbunden und das Substrat des Transistors mit dem zum Widerstand führenden Anschluß.
Aus "A Simple Three-Terminal IC Bandgap Reference", IEEE Journal of Solid-State Circuits, vol. SC-9, no. 6, December 1974, S. 388-393, ist eine Bandlückenbezugsspannungsschaltung bekannt.
Bei der Konstantspannungs-Erzeugungsvorrichtung gemäß der vorliegenden Erfindung sind eine Konstantstrom- Schaltungseinheit und eine Strom- Spannungswandlerschaltungseinheit einzeln vorgesehen, um Differenzverstärker zu steuern, so daß ein konstanter Strom zum Fließen durch diese veranlaßt wird, und diese Schaltungen sind so geschaltet, daß sie eine Stromspiegelschaltung bilden. Da die Anzahl miteinander in Reihe geschalteter Schaltungselemente verringert ist, kann daher eine Minimalversorgungsspannung für den Betrieb verringert werden. Dies führt dazu, daß eine Konstantspannungs- Erzeugungsvorrichtung erhalten werden kann, die einen großen Betriebsspielraum bezüglich der Versorgungsspannung aufweist.
Die Erfindung wird nachstehend anhand zeichnerisch dargestellter Ausführungsbeispiele erläutert, aus welchen weitere Vorteile und Merkmale hervorgehen. Weitere Vorteile und Merkmale lassen sich bei der Umsetzung der Erfindung in die Praxis erzielen.
Die beigefügten Zeichnungen, die in die Beschreibung eingeschlossen sind und einen Teil der Beschreibung bilden, erläutern bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung, und dienen, zusammen mit der voranstehenden, allgemeinen Beschreibung sowie der nachstehenden, ins einzelne gehenden Beschreibung der bevorzugten Ausführungsformen, zur Erläuterung der Grundlagen der vorliegenden Erfindung. Es zeigt:
Fig. 1 eine Darstellung der Beziehung zwischen dem Stromverbrauch und der Reaktionsgeschwindigkeit in einem Differenzverstärker;
Fig. 2 ein Schaltbild einer konventionellen stromgeregelten Spannungserzeugungs-Schaltung;
Fig. 3 ein Schaltbild einer stromgeregelten Spannungserzeugungs-Schaltung gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung sowie eines Systems, welches die stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung verwendet;
Fig. 4 ein Schaltbild einer typischen Stromspiegelschaltung unter Verwendung von MOS-Transistoren;
Fig. 5 ein Schaltbild einer Ausbildung der bei der ersten Ausführungsform verwendeten stromgeregelten Spannungserzeugungs-Schaltung;
Fig. 6 ein Schaltbild einer weiteren Ausbildung der stromgeregelten Spannungserzeugungs-Schaltung, die bei der ersten Ausführungsform verwendet wird; und
Fig. 7 ein Schaltbild einer stromgeregelten Spannungserzeugungs-Schaltung gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung, und eines Systems, welches die stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung verwendet.
Fig. 3 ist ein Schaltbild, welches eine stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung (eine Konstantspannungs- Erzeugungsvorrichtung) gemäß einer ersten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung sowie ein System zeigt, welches diese Schaltung verwendet. Die stromgeregelte Spannungserzeugungs- Schaltung gemäß dieser Ausführungsform weist eine Bezugsspannungs-Erzeugungsschaltungseinheit 1 (1A) auf, zur Erzeugung einer Bezugsspannung Vr, eine Konstantstrom- Schaltungseinheit 2 des kontinuierlichen Regeltyps zur Erzeugung eines Bezugsstroms, um einen konstanten Stromfluß durch eine Aktivelementeinheit hervorzurufen, die durch mehrere Differenzverstärker 3 gebildet wird, und eine Strom- Spannungswandlerschaltung 4 zum Umwandeln des Bezugsstroms in eine Bezugsspannung. Jeder der Differenzverstärker 3 ist mit MOS-Transistoren Q31, Q32, Q33 und Q34 versehen. Bezugsziffern 3 1, 3 2 . . . 3 n bezeichnen die Nummer des jeweiligen Differenzverstärkers 3. Mit anderen Worten wird die Aktivelementeinheit, die in Fig. 3 gezeigt ist, durch die Anzahl n an Differenzverstärkern 3 gebildet. Die Anzahl n an Differenzverstärkern 3 wird insgesamt durch eine Spannung Vcm gesteuert, die von der Strom- Spannungswandlerschaltung 4 ausgegeben wird, so daß ein konstanter Strom zum Fließen durch diese Differenzverstärker veranlaßt wird. Allerdings kann auch nur einer, oder können nur wenige der n-Differenzverstärker durch die Spannung Vcm gesteuert werden, die von der Strom- Spannungswandlerschaltung 4 ausgegeben wird, so daß ein konstanter Strom zum Fließen durch die betreffenden Differenzverstärker veranlaßt wird.
Die Konstantstrom-Schaltung 2 des kontinuierlichen Regeltyps weist einen Differenzverstärker DA auf, welchem die Bezugsspannung Vr eingegeben wird, einen MOS- Transistor Q4, der eine Gate-Elektrode aufweist, an welche ein Ausgangssignal des Differenzverstärkers DA angelegt wird, sowie einen Standardwiderstand Rc, der in Reihe mit dem Transistor Q4 geschaltet ist. Die Strom- Spannungswandlerschaltung 4 weist einen MOS- Transistor Q5 auf, der zusammen mit dem MOS- Transistor Q4 einen Stromspiegel bildet, sowie einen in Reihe mit dem Transistor Q5 geschalteten MOS-Lasttransistor Q6, zum Umwandeln eines Stroms in eine Spannung. Eine Spannung Vcm, die von der Strom-Spannungs-Wandlerschaltung 4 ausgegeben wird, wird an die Gate-Elektrode eines Transistors Q7 jedes Differenzverstärkers 3 der Aktivelementeinheit angelegt, wodurch eine Konstantstrom- Regelung durchgeführt wird.
Unter Bezugnahme auf Fig. 4 wird eine typische Stromspiegelschaltung beschrieben.
Wie aus Fig. 4 hervorgeht, sind die Gate-Elektroden von Transistoren QA und QB miteinander verbunden. Die Drain- Elektrode des Transistors QA ist an die Gate-Elektroden der Transistoren QA und QB angeschlossen. Wenn in der Stromspiegelschaltung ein Strom IA an den Transistor QA geliefert wird, so erfolgt eine Stromspiegelung eines Stroms IB (IB = IA) durch die Drain-Elektrode des Transistors QB. Diese Eigenschaft der Stromspiegelschaltung wird nur dann erhalten, wenn die Gate-Sourcecharakteristik des Transistors QA gleich jener des Transistors QB ist.
Nachstehend wird das Betriebsprinzip der Schaltung gemäß der voranstehenden Ausführungsform beschrieben. Ein Strom I3, der zum Fließen durch den MOS-Stromregeltransistor Q4 veranlaßt wird, und zwar durch die Konstantstrom-Schaltung 2 des kontinuierlichen Regeltyps, wird durch nachstehende Gleichung ausgedrückt:
I3 = Vr/Rc (4)
Da die MOS-Transistoren Q4 und Q5 einen Stromspiegel bilden, wird dann, wenn die Gate-Elektrodenlängen dieser Transistoren gleich eingestellt sind, ein Strom I4, der durch die Strom- Spannungswandlerschaltung 4 fließt durch nachstehende Gleichung ausgedrückt:
I4 - (Wp2/Wp1) × I3 (5)
wobei Wp1 und Wp2 die Breite der Gate-Elektrode des Transistors Q4 bzw. Q5 bezeichnet.
Da die MOS-Transistoren Q6 und Q7 einen Stromspiegel bilden, wird ein Strom I5, der durch jeden der Differenzverstärker 3 fließt, durch die nachstehende Gleichung ausgedrückt, wenn die Gate-Elektrodenlängen dieser Transistoren einander gleich sind:
I5 = (Wn2/Wn1) × I3 (6)
wobei Wn1 und Wn2 die Breite der Gate-Elektrode des Transistors Q6 bzw. Q7 bezeichnet.
Der Strom I5 kann dadurch auf einen gewünschten Wert eingestellt werden, daß auf geeignete Weise das Verhältnis der Gate-Elektrodenbreite des Transistors Q4 zu jener des Transistors Q5 ausgewählt wird, sowie das Verhältnis der Gate-Elektrodenbreite des Transistors Q6 zu jener des Transistors Q7. Ist das Bezugspotential Vr höher eingestellt als die Schwellenspannung Vtn des Transistors Q6, so ist unvermeidlich die Source-Drain-Spannung des Transistors Q5 höher als jene des Transistors Q4. Falls die Schaltungskonstanten des Transistors Q4 und des Differenzverstärkers DA so ausgewählt sind, daß der Transistor Q4 in dem Pentodenbereich (d.h. in dem Sättigungsbereich der Ausgangskennlinie, vgl. Tietze, Schenk "Halbleiterschaltungstechnik" 5. Auflage, S. 28, 29) arbeiten kann, so folgt daraus, daß der Transistor Q5 zwangsläufig in dem Pentodenbereich arbeitet.
Bei der Schaltungsanordnung gemäß der vorliegenden Ausführungsform kann daher mit anderen Worten eine stabile stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung erhalten werden, unabhängig von Änderungen der Versorgungsspannung, der Temperatur, oder Transistoreigenschaften, und zwar einfach dadurch, daß der Betriebsbereich des Transistors Q4 berücksichtigt wird.
Die minimale Versorgungsspannung Vmin im Betrieb bei der voranstehenden ersten Ausführungsform wird durch die Konstantstrom- Schaltungseinheit 2 festgelegt und durch die nachstehende Gleichung ausgedrückt, wenn Vr < die Schwellenspannung des Transistors Q6 ist, wie voranstehend erläutert:
Vmin = Vr + |Vtp| (7) wobei Vtp die Schwellenspannung des Transistors Q4 ist. Gemäß dieser Gleichung beträgt Vmin = 2,0 V, wenn Vr = 1,5 V ist, und |Vtp| = 0,5 V ist.
Bei der vorliegenden ersten Ausführungsform sind der Transistor Q4 und der Standardwiderstand Rc (oder die Transistoren Q5 und Q6) in Reihe zwischen die Stromquellenklemme und Masse geschaltet. Dies unterscheidet sich von der konventionellen Schaltung (Fig. 2), bei welcher der Standardwiderstand Rc und die Transistoren Q1 und Q2 in Reihe geschaltet sind, wobei es erforderlich ist, die minimale Versorgungsspannung anzuheben, um den Spannungsabfall zwischen der Source und dem Drain des Transistors Q1 zu kompensieren. Obwohl die minimale Versorgungsspannung Vmin im Betrieb bei dieser Ausführungsform (Gleichung (7)) dieselbe ist wie jene der konventionellen Schaltung (Gleichung (3)), jedenfalls in der Theorie, kann die minimale Spannung im Betrieb beim tatsächlichen Einsatz niedriger sein als jene der konventionellen Schaltung.
Wie voranstehend erläutert, sind bei der stromgeregelten Spannungserzeugungs-Schaltung gemäß der ersten Ausführungsform (Fig.) 3 die Konstantstrom-Schaltungseinheit 2 und die Strom-Spannungswandlerschaltung 4 einzeln in zwei Stufen vorgesehen, und die Stufe jeder Schaltungseinheit weist eine Stromspiegelanordnung auf, anders als bei der konventionellen Schaltung. Auf diese Weise reichen nur zwei in Reihe geschaltete Schaltungselemente zur Ausbildung jeder Stufe aus, wodurch die Minimalspannung im Betrieb erhöht wird. Hieraus folgt, daß der Betriebsspielraum bezüglich der Versorgungsspannung erhöht werden kann, was einen stabilen Betrieb selbst bei einer niedrigen Versorgungsspannung sicherstellt. Daher lassen sich mit der Schaltung gemäß der vorliegenden Ausführungsform erhebliche Vorteile erzielen.
Fig. 5 zeigt ein Beispiel für die Schaltung, die bei der ersten Ausführungsform verwendet wird. Diese Schaltung verbindet eine Bezugsspannungs-Erzeugungsschaltung 1 (1B) zur Erzeugung einer Bezugsspannung Vr unter Verwendung der Schwellenspannung eines pMOS-Transistors des I-Typs Q8. Die Bezugsspannung Vr, die von der Bezugsspannungs- Erzeugungsschaltungseinheit 1 (1B) erzeugt wird, ist relativ stabil in bezug auf Änderungen der Herstellungsbedingungen und eine Änderung der Temperatur, da ein pMOS-Transistor des I-Typs selbst relativ stabil in bezug auf Änderungen der Herstellungsbedingungen und Temperaturänderungen ist.
Fig. 5 zeigt weiterhin im einzelnen den Aufbau des Differenzverstärkers DA, welcher einen Stromspiegelverstärker bildet, der durch MOS-Transistoren Q21, Q22, Q23 und Q24 gebildet wird.
Bei der Ausführungsform, welche die in Fig. 5 gezeigte Schaltung verwendet, kann die Spannung weiter stabilisiert werden, die an die Aktivelementeneinheit 3 geliefert wird.
Fig. 6 zeigt ein weiteres Beispiel für die Schaltung, die bei der ersten Ausführungsform verwendet wird. Die in Fig. 6 gezeigte Schaltung unterscheidet sich von jener in Fig. 5 darin, daß eine Bandlücken-Bezugsschaltung (Band-Gap, BGR- Schaltung) vorgesehen ist, die einen Bipolartransistor aufweist, und als Schaltung 1 (1C) zur Erzeugung einer Bezugsspannung Vr verwendet wird. Fig. 6 zeigt den einfachsten Aufbau der BGR-Schaltung, welche drei Bipolartransistoren Q9, Q10 und Q11 aufweist, Widerstände R51, R52 und R53, und eine Stromquelle I51. Ein Hauptziel der BGR-Schaltung 1C stellt die Temperaturkompensation des Bezugspotentials dar. Es ist beispielsweise eine Konstantstrom-Schaltung bekannt, bei welcher eine BGR- Schaltung mit einem parasitären Bipolartransistor (oder mehreren derartigen Transistoren?) in einem Chip eines DRAM vorgesehen ist, der durch ein CMOS-Verfahren hergestellt wird (beispielsweise JEEE JSSC, Band 24, Nr. 5, Oktober 1989, Seiten 1191-1197).
Das Betriebsprinzip der BGR-Schaltung 1C ist wie folgt. Die Basis-Emitterspannung (Vbe), die in einem Bipolartransistor eine negative Temperaturabhängigkeit aufweist, wird einer thermischen Spannung (kT/q) hinzuaddiert, die bei einem Bipolartransistor eine positive Temperaturabhängigkeit aufweist, wodurch ein Offset des Koeffizienten der Temperaturabhängigkeit erfolgt, so daß eine Bezugsspannung erhalten werden kann, die keine Temperaturabhängigkeit aufweist.
Mit dieser Schaltung unter Verwendung der BGR-Schaltung wird eine stabilere stromgeregelte Erzeugungsschaltung erhalten, die keine Temperaturabhängigkeit aufweist. Daher weist die in Fig. 6 gezeigte Schaltung verbesserte Eigenschaften auf, verglichen mit der in Fig. 5 dargestellten Schaltung.
Fig. 7 ist ein Schaltbild, welches eine stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung gemäß einer zweiten Ausführungsform der vorliegenden Erfindung zeigt, sowie ein diese Schaltung verwendendes System. Bei dieser Ausführungsform wird ein pMOS-Transistor als Stromsteuertransistor Q7, des Differenzverstärkers 3 verwendet. In Fig. 7 werden entsprechende Elemente wie in Fig. 3 durch dieselben Bezugsziffern bezeichnet, und auf ihre erneute, ins einzelne gehende Beschreibung wird verzichtet.
Die zweite Ausführungsform unterscheidet sich von der in Fig. 3 dargestellten, ersten Ausführungsform darin, daß eine Konstantstrom-Schaltungseinheit 2' und eine Strom- Spannungswandlerschaltungseinheit 4' in einer stromgeregelten Spannungserzeugungs-Schaltung komplementär zu den entsprechenden Teilen der in Fig. 3 gezeigten Schaltung ausgebildet sind. Das Betriebsprinzip der Schaltung ist dasselbe wie jenes der in Fig. 3 gezeigten Ausführungsform. Vmin der Schaltung wird durch nachstehende Gleichung ausgedrückt:
Vmin = Vr + Vtn (8)
wobei Vtn die Schwellenspannung eines Transistors Q4' ist.
Die minimale Versorgungsspannung im Betrieb kann größer sein, verglichen mit der konventionellen Schaltung, ebenso wie bei der in Fig. 3 gezeigten Ausführungsform.
Bei der voranstehenden Beschreibung wurde hauptsächlich eine Halbleiter-Speichervorrichtung erläutert, insbesondere ein DRAM. Allerdings läßt sich die vorliegende Erfindung bei anderen Speichervorrichtungen einsetzen, die eine Konstantstrom-Schaltung aufweisen, beispielsweise bei einem SRAM oder PROM. Die vorliegende Erfindung läßt sich ebenfalls bei einer Logikvorrichtung einsetzen, die eine Konstantstrom- Schaltung aufweist, abgesehen von einer Speichervorrichtung. Bei einer derartigen Konstantstrom-Schaltung kann eine Konstantstrom-Regelung durch eine Konstantspannungs- Erzeugungsvorrichtung (eine stromgeregelte Spannungserzeugungs-Schaltung) gemäß der vorliegenden Erfindung durchgeführt werden.
Wie voranstehend erläutert, sind bei der vorliegenden Erfindung eine Konstantstrom-Schaltungseinheit und eine Strom-Spannungswandlerschaltungseinheit einzeln vorgesehen, um Differenzverstärker zu steuern bzw. zu regeln, so daß durch diese ein konstanter Strom zum Fließen veranlaßt wird, und diese Schaltungen sind so miteinander verbunden, daß eine Stromspiegelschaltung gebildet wird. Dies ermöglicht die Anzahl miteinander in Reihe geschalteter Schaltungsbauteile zu verringern. Daher läßt sich eine Konstantspannungs- Erzeugungsvorrichtung erzielen, die bezüglich der Versorgungsspannung einen großen Betriebsspielraum aufweist.

Claims (9)

1. Konstantspannungs-Erzeugungsvorrichtung zur Erzeugung einer vorbestimmten Ausgangsspannung (VCM), die einer aktiven Schaltungseinheit (3) zugeführt wird, wobei
  • a) eine Konstantstrom-Schaltung (1A, 1B, 1C, 2) zur Er­ zeugung eines Bezugsstromes (I3) einen ersten Transistor (Q4) in Reihe mit einem Standardwiderstand (RC) aufweist,
  • b) eine Strom-Spannungs-Wandlerschaltung (4) die der Konstantstrom-Schaltung (1A, 1B, 1C, 2) nachgeschaltet ist und zur Umwandlung des Bezugsstromes (I3) in die Aus­ gangsspannung (VCM) vorgesehen ist, einen zweiten Transistor (Q5) in Reihe mit einem dritten Transistor (Q6) aufweist, wobei der erste und der zweite Transistor (Q4, Q5) einen Stromspiegel bilden und der Verbindungspunkt von zweitem und drittem Transistor (Q5; Q6) die vorbestimmte Ausgangsspannung (VEM) liefert
  • c) die Konstantstrom-Schaltung (1A, 1B, 1C, 2) eine Be­ zugsspannungs-Erzeugungsschaltung (1A, 1B, 1C) und einen Differenzverstärker. (DA) aufweist, an dessen einem Ein­ gang die Bezugsspannung (Vr) angelegt ist und dessen anderer Eingang mit dem Verbindungspunkt von erstem Transistor (Q4) und Standardwiderstand (RC) verbunden ist und der Ausgang des Differenzverstärkers (DA) mit dem Gate des ersten und des zweiten Transistors (Q4, Q5) verbunden ist (Fig. 3).
2. Vorrichtung nach Anspruch 1 dadurch gekennzeichnet, daß die aktive Schaltungseinheit (3) eine Konstantstrom- Betriebstypschaltung (Q31, Q32, Q33, Q34) und einen vierten Transistor (Q7) zum Steuern eines Stromes, der durch die Konstantstrom-Betriebstypschaltung fließt, aufweist, wobei der vierte Transistor (Q7) zu­ sammen mit dem dritten Transistor (Q6) einen Stromspiegel bildet (Fig. 3).
3. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, da­ durch gekennzeichnet, daß die Bezugsspannungs-Erzeu­ gungsschaltung (1B) einen PMOS-Transistor des I-Typs auf­ weist, dessen Schwellenspannung zur Erzeugung der Bezugs­ spannung benutzt wird (Fig. 5).
4. Vorrichtung nach Anspruch 1 oder 2, dadurch ge­ kennzeichnet, daß die Bezugsspannungs-Erzeugungsschaltung (1C) eine Bandlückenbezugsspannungsschaltung aufweist, die einen Bipolartransistor als Hauptelement enthält (Fig. 6).
5. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche da­ durch gekennzeichnet, daß der Differenzverstärker (DA) einen Stromspiegelverstärker (Q21, Q22, Q23, Q24) auf­ weist (Fig. 5).
6. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche da­ durch gekennzeichnet, daß die aktive Schaltungseinheit (3) aus Differenzverstärkern besteht.
7. Vorrichtung nach einem derart vorhergehenden Ansprüche dadurch gekennzeichnet, daß der erste und der zweite Transistor (Q4, Q5) MOS-Transistoren von einem Leitfähig­ keitstyp (P-Kanal-) und der dritte und vierte Transistor (Q6, Q7) MOS-Transistoren vom anderen Leitfähigkeitstyp (N-Kanal-) sind (Fig. 3).
8. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche da­ durch gekennzeichnet, daß die Transistoren hinsichtlich ihres Leitfähigkeitstyps komplimentär ausgebildet sind (Fig. 7).
9. Vorrichtung nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der erste und der zweite Transistor (Q4, Q5) im Sättigungsbereich der Ausgangskennlinie betrieben werden.
DE4420041A 1993-06-08 1994-06-08 Konstantspannungs-Erzeugungsvorrichtung Expired - Fee Related DE4420041C2 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP13765993A JP3321246B2 (ja) 1993-06-08 1993-06-08 電流制御電圧発生回路

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE4420041A1 DE4420041A1 (de) 1994-12-15
DE4420041C2 true DE4420041C2 (de) 1998-06-04

Family

ID=15203818

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE4420041A Expired - Fee Related DE4420041C2 (de) 1993-06-08 1994-06-08 Konstantspannungs-Erzeugungsvorrichtung

Country Status (4)

Country Link
US (1) US5933051A (de)
JP (1) JP3321246B2 (de)
KR (1) KR0164248B1 (de)
DE (1) DE4420041C2 (de)

Families Citing this family (25)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH09120675A (ja) * 1995-08-18 1997-05-06 Hitachi Ltd 半導体集積回路
JP3223844B2 (ja) * 1997-06-27 2001-10-29 日本電気株式会社 基準電圧発生装置
JP3465840B2 (ja) * 1997-11-21 2003-11-10 松下電器産業株式会社 電圧電流変換回路
JP3742230B2 (ja) * 1998-08-28 2006-02-01 株式会社東芝 電流発生回路
US6163178A (en) * 1998-12-28 2000-12-19 Rambus Incorporated Impedance controlled output driver
US6943618B1 (en) * 1999-05-13 2005-09-13 Honeywell International Inc. Compensation mechanism for compensating bias levels of an operation circuit in response to supply voltage changes
KR100335496B1 (ko) 1999-11-26 2002-05-08 윤종용 낮은 외부전원전압에서도 안정적으로 동작하는내부전압발생회로
US6285256B1 (en) 2000-04-20 2001-09-04 Pericom Semiconductor Corp. Low-power CMOS voltage follower using dual differential amplifiers driving high-current constant-voltage push-pull output buffer
DE10028098C2 (de) * 2000-06-07 2002-05-02 Texas Instruments Deutschland Schaltungsanordnung zur Erzeugung eines einstellbaren konstanten Ausgangsstroms
CH697322B1 (fr) 2000-06-13 2008-08-15 Em Microelectronic Marin Sa Procédé de génération d'un courant sensiblement indépendent de la température et dispositif permettant de mettre en oeuvre ce procédé.
DE60028356T2 (de) * 2000-06-13 2007-05-31 Em Microelectronic-Marin S.A., Marin Verfahren und Vorrichtung zur Erzeugung eines temperaturunabhängigen Stroms
US20030009924A1 (en) * 2000-11-03 2003-01-16 Sajadian Zahra Nassrin Outdoor numeric/allphabetic lighting
US6583661B1 (en) 2000-11-03 2003-06-24 Honeywell Inc. Compensation mechanism for compensating bias levels of an operation circuit in response to supply voltage changes
ITTO20020252A1 (it) * 2002-03-21 2003-09-22 Micron Technology Inc Circuito e procedimento per la generazione di una corrente di riferimento a bassa tensione, dispositivo di memoria comprendente tale circuit
US7095271B2 (en) * 2002-09-27 2006-08-22 Oki Electric Industry Co., Ltd. Bias circuit
US7088127B2 (en) * 2003-09-12 2006-08-08 Rambus, Inc. Adaptive impedance output driver circuit
CN100359808C (zh) * 2004-04-21 2008-01-02 厦门优迅高速芯片有限公司 高速电流模式逻辑电路
TWI228347B (en) * 2004-04-23 2005-02-21 Faraday Tech Corp Bandgap reference circuit
US7064602B2 (en) * 2004-05-05 2006-06-20 Rambus Inc. Dynamic gain compensation and calibration
US7250812B2 (en) * 2004-05-05 2007-07-31 International Business Machines Corporation Integrated circuit current regulator
JP2006018663A (ja) * 2004-07-02 2006-01-19 Fujitsu Ltd 電流安定化回路、電流安定化方法、及び固体撮像装置
US7312641B2 (en) * 2004-12-28 2007-12-25 Spansion Llc Sense amplifiers with high voltage swing
JP4854393B2 (ja) * 2006-06-21 2012-01-18 三星電子株式会社 電圧発生回路
JP4386113B2 (ja) 2007-08-03 2009-12-16 ソニー株式会社 参照電圧回路および撮像回路
JP2010035098A (ja) 2008-07-31 2010-02-12 Sony Corp 位相同期回路並びに記録再生装置および電子機器

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3716577A1 (de) * 1986-05-20 1987-11-26 Sgs Microelettronica Spa Stromspiegelschaltung grosser leistungsfaehigkeit
JPH0378810A (ja) * 1989-08-23 1991-04-04 Toshiba Corp 半導体集積回路

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4585955B1 (en) * 1982-12-15 2000-11-21 Tokyo Shibaura Electric Co Internally regulated power voltage circuit for mis semiconductor integrated circuit
US4763021A (en) * 1987-07-06 1988-08-09 Unisys Corporation CMOS input buffer receiver circuit with ultra stable switchpoint
US5053640A (en) * 1989-10-25 1991-10-01 Silicon General, Inc. Bandgap voltage reference circuit
JP3068146B2 (ja) * 1990-01-08 2000-07-24 日本電気株式会社 半導体集積回路
US5105102A (en) * 1990-02-28 1992-04-14 Nec Corporation Output buffer circuit
JPH04146650A (ja) * 1990-10-08 1992-05-20 Mitsubishi Electric Corp 半導体集積回路装置
JPH05312850A (ja) * 1992-05-12 1993-11-26 Nec Ic Microcomput Syst Ltd 半導体集積回路
US5300837A (en) * 1992-09-17 1994-04-05 At&T Bell Laboratories Delay compensation technique for buffers

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3716577A1 (de) * 1986-05-20 1987-11-26 Sgs Microelettronica Spa Stromspiegelschaltung grosser leistungsfaehigkeit
JPH0378810A (ja) * 1989-08-23 1991-04-04 Toshiba Corp 半導体集積回路

Non-Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
"DE-Buch U. Tietze, Ch. Schenk "Halbleiterschaltungstechnik", 5. Aufl., S. 28, 29 *
Nr. 5, October 1989, S. 1191-1197 *
US-Z. IEEE Journal of Solid-State Circuits, Vol.SC-9, Nr.6, Dez.1974, S.388-393 *
US-Z.: IEEE, Journal of Solid-State Ciruits, Band 26, Nr. 11, Nov. 1991, S. 1498-1505 *

Also Published As

Publication number Publication date
DE4420041A1 (de) 1994-12-15
US5933051A (en) 1999-08-03
JP3321246B2 (ja) 2002-09-03
KR950002010A (ko) 1995-01-04
JPH06350355A (ja) 1994-12-22
KR0164248B1 (ko) 1999-03-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE4420041C2 (de) Konstantspannungs-Erzeugungsvorrichtung
DE60225124T2 (de) Regelungseinrichtung mit kleiner Verlustspannung, mit großem Lastbereich und schneller innerer Regelschleife
DE3523400C2 (de) Schaltungsanordnung für eine Ausgangsstufe der Klasse AB mit großer Schwingungsweite
DE4037206C2 (de) Versorgungsspannungs-Steuerschaltkreis mit der Möglichkeit des testweisen Einbrennens (&#34;burn-in&#34;) einer internen Schaltung
DE102005039114B4 (de) Spannungsregler mit einem geringen Spannungsabfall
DE60214452T2 (de) Stromreferenzschaltung
DE4039524C2 (de) Substratspannungserzeuger für eine Halbleitereinrichtung und Verfahren zum Erzeugen einer Substratspannung
DE102017207998B3 (de) Spannungsregler und Verfahren zum Vorsehen einer Ausgangsspannung mit reduzierter Spannungswelligkeit
DE69530905T2 (de) Schaltung und Verfahren zur Spannungsregelung
DE60123062T2 (de) Vorspannungsschaltung zum erzeugung von mehreren vorspannungen
DE4124427A1 (de) Schaltung zum erzeugen einer inneren versorgungsspannung
DE3627681A1 (de) Ausgangsschaltung
DE2547871A1 (de) Kompensator fuer integrierte halbleiterschaltungen
DE102010000498A1 (de) Frequenzkompensationsmethode zum Stabilisieren eines Reglers unter Verwendung eines externen Transistors in einer Hochspannungsdomäne
DE102017125831B4 (de) Bandlücke-Referenzspannungsschaltung, kaskadierte Bandlücke-Referenzspannungsschaltung und Verfahren zum Generieren einer temperaturstabilen Referenzspannung
DE102014213963B4 (de) Leckverlustreduzierungstechnik für Niederspannungs-LDOs
DE2254618A1 (de) Schaltungsanordnung zur referenzspannungserzeugung
DE19537203A1 (de) Leseverstärker
DE69111869T2 (de) Referenzspannungserzeugungsschaltung.
DE3586568T2 (de) Halbleitereinrichtung.
DE102006007479B4 (de) Shunt-Regler
DE19681425B3 (de) Schaltung und Verfahren zum Regeln einer Spannung
DE4219776C2 (de) Schaltung zur Ausbildung einer genauen Bezugsspannung
DE102020115851B3 (de) Schneller spannungsregler und verfahren zur spannungsregelung
DE69125465T2 (de) Schnelle Treiberschaltung für kapazitive Last, insbesondere für ICs sowie für Speicher

Legal Events

Date Code Title Description
OP8 Request for examination as to paragraph 44 patent law
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
R119 Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee

Effective date: 20130101