DE4031453A1 - Triangulationsmessverfahren - Google Patents
TriangulationsmessverfahrenInfo
- Publication number
- DE4031453A1 DE4031453A1 DE19904031453 DE4031453A DE4031453A1 DE 4031453 A1 DE4031453 A1 DE 4031453A1 DE 19904031453 DE19904031453 DE 19904031453 DE 4031453 A DE4031453 A DE 4031453A DE 4031453 A1 DE4031453 A1 DE 4031453A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- triangulation
- measuring device
- output signals
- triangulation measuring
- output
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S17/00—Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
- G01S17/02—Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
- G01S17/06—Systems determining position data of a target
- G01S17/46—Indirect determination of position data
- G01S17/48—Active triangulation systems, i.e. using the transmission and reflection of electromagnetic waves other than radio waves
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Radar, Positioning & Navigation (AREA)
- Remote Sensing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Measurement Of Optical Distance (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Triangulationsmeßverfahren zur
Positionsbestimmung eines Meßobjekts gemäß dem Oberbegriff
des Anspruchs 1 und ein Triangulationsmeßgerät gemäß dem
Oberbegriff des Anspruchs 5.
Triangulationsmeßverfahren werden zur Positionsbestimmung
eines Meßobjekts angewandt. Bei diesem Verfahren ist in der
Regel eine Strahlungsquelle zur Beleuchtung des Meßobjekts
vorgesehen. Die Strahlung wird vom Meßobjekt auf einen po
sitionssensitiven Sensor, der zumindest zwei strahlungsab
hängige Ausgangssignale aufweist, aus denen die Position
des Meßobjekts bestimmt werden kann, in Abhängigkeit von
der Position und der Oberflächenbeschaffenheit des Meßob
jektes reflektiert.
Die Anforderungen an ein System zur Durchführung eines der
artigen Verfahrens bestehen in einer hohen Genauigkeit, ei
nem geringen Rauschen, einer hohen Ortsauflösung und einer
hohen Anstiegsgeschwindigkeit für die Ausgangssignale, die
auch die Messung sich schnell bewegender Objekte erlauben
soll.
Ein großes Problem bei der Anwendung von Triangulationsmeß
verfahren besteht darin, daß die Strahlung durch die Meßob
jekte unterschiedlich stark reflektiert wird. Das Triangu
lationsmeßsystem muß daher über einen hohen Dynamikbereich
verfügen, um einerseits sehr schwach reflektierte Signale
und auf der anderen Seite sehr stark reflektierte Signale
messen zu können. Bei sehr schwach reflektierten Signa
len besteht darüber hinaus das Problem, daß der Abstand zum
Rauschen, das durch die Sensoren und die Eingangsverstärker
für die Ausgangssignale hervorgerufen wird, zu gering ist,
um eine einwandfreie Messung zu garantieren.
Bei bekannten Triangulationsmeßgeräten wird daher die Emp
fängerempfindlichkeit in Abhängigkeit von der auf den posi
tionssensitiven Detektor einfallenden Lichtstärke geregelt.
Dieses Verfahren ist jedoch mit einem hohen Hardware-Auf
wand verbunden, da die Ausgangssignale des positionssensi
tiven Detektors getrennt verstärkt werden müssen, wobei
darauf geachtet werden muß, daß die Signale gleichmäßig und
mit einer vorgegebenen Kennlinie geregelt werden.
Eine andere Möglichkeit zur Lösung des Dynamikproblems be
steht in einer Regelung der Lichtleistung der Beleuchtung
des Meßobjekts. Bei einem geringen Reflexionsgrad des Meß
objekts wird die Lichtleistung der Beleuchtung derart hoch
geregelt, daß die auf den positionssensitiven Detektor ein
fallende Lichtmenge einem vorgegebenen Sollwert entspricht.
Aufgrund der Reglerzeitkonstanten lassen sich mit einer
derartigen Kompensation der Lichtstärkenunterschiede nur
relativ langsame Systeme verwirklichen, mit denen die
Messung sich schneller bewegender Objekte unmöglich ist.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein
Triangulationsmeßverfahren und Triangulationsmeßgerät zu
schaffen, die eine schnelle Bestimmung der Position eines
Meßobjekts bei hoher Lichtdynamik, hoher Auflösung, hoher
Genauigkeit und hohem Rauschabstand erlauben.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß bei einem Triangulations
meßverfahren der gattungsgemäßen Art durch die kennzeich
nenden Merkmale des Anspruchs 1 und bei einem Triangula
tionsmeßgerät der gattungsgemäßen Art durch die kennzeich
nenden Merkmale des Anspruchs 5 gelöst. Vorteilhafte Wei
terbildungen sind Gegenstand der Unteransprüche.
Die Idee der Erfindung besteht darin, die Ausgangssignale
des positionssensitiven Detektors solange zu integrieren,
bis die auf dem positionssensitiven Detektor eingestrahlte
Lichtmenge einen vorgegebenen Sollwert erreicht hat. Erst
dann erfolgt die Auslesung und Auswertung der aufintegrier
ten Ausgangssignale zur Positionsberechnung des Meßobjekts.
Bei dem Triangulationsmeßgerät werden, nach dem Einschalten
der Strahlungsquelle zu Beginn des Meßzyklus, die Ausgangs
signale des positionssensitiven Sensors aufintegriert und
in Differenz- und Summensignale umgewandelt. Wahlweise kön
nen auch die zuerst in Differenz- und Summensignale umgewan
delten Ausgangssignale aufintegriert werden. Erreicht der
Wert der Integralsumme bzw. des Summenintegrals einen vor
gebbaren Sollwert, so werden die aufintegrierten und umge
wandelten Sensorausgangssignale zur weiteren Signalverar
beitung ausgelesen. Nach Erreichen des Sollwerts kann die
Strahlungsquelle abgeschaltet werden.
Die Ausgangssignale der Integratoren können unmittelbar ei
nem Analog/Digital-Wandler zugeführt werden, wo sie in ei
nen digitalen Meßwert umgesetzt werden können. Anschließend
werden die Integratoren für den nächsten Meßzyklus zurück
gesetzt, wobei das Rücksetzen durch die Rücksetzeinrichtung
zeitgesteuert erfolgen kann.
Ein erfindungsgemäßes Triangulationsmeßgerät läßt sich mit
sehr geringem Schaltungsaufwand und minimaler Baugröße her
stellen. Es lassen sich zur Herstellung der Schaltung auf
dem Markt befindliche Standard-Bauelemente verwenden, die
in der Schaltung einfach zu dimensionieren sind. Aufgrund
des Verfahrens ist kein Schaltungsabgleich erforderlich. Es
sind Meßraten von mehr als 1000 Hertz möglich.
Das erfindungsgemäße Triangulationsmeßgerät hat eine sehr
hohe Lichtdynamik von mehr als 100, wobei eine Vervielfa
chung durch Modifikation möglich ist. Das Rauschen wird
aufgrund der wenigen im Signalweg befindlichen Rauschquel
len minimal gehalten. Eine Änderung der Reflexionsbedingun
gen an dem Meßobjekt während der Meßzeit bleibt ohne Ein
fluß auf die gemessenen Werte.
Als Strahlungsquelle wird vorzugsweise eine Laserlichtquel
le verwendet, deren Strahlungsparameter durch eine konstan
te Pulsleistung sehr konstant gehalten werden kann.
Bei dem erfindungsgemäßen Triangulationsmeßverfahren kann
selbstverständlich ein eigener Strahlungsdetektor zur Ab
leitung eines Meßsignals für die eingestrahlte Lichtmenge
verwendet werden, obwohl aufgrund des geringeren Hardware-
Aufwandes die Verwendung der Sensorflächen des positions
sensitiven Detektors für diese Aufgabe vorteilhafter ist.
Als Integratoren können Kondensatoren verwendet werden.
Die Positionsbestimmung des Meßobjekts erfolgt bei dem er
findungsgemäßen Triangulationsmeßgerät durch die Division
des Differenzwertes durch den Summenwert. In einer vorteil
haften Weiterbildung der Erfindung ist hierbei als Auswer
teschaltung ein Analog/Digital-Wandler in dem Triangula
tionsmeßgerät vorgesehen, der selbst als Dividierer arbei
tet. Der ausgegebene Digitalwert entspricht dann dem Ver
hältnis der zu wandelnden Spannung zur angelegten Referenz
spannung. Der Ausgang des Integrators des Summensignals
wird hierbei am Referenzspannungseingang und das Ausgangs
signal des Integrators des Differenzsignals am Wandlerein
gang angelegt. Eine konstante maximale Auflösung wird so
mit bei minimaler Wandlerdatenrate und geringem Hardware- und
Software-Aufwand realisiert.
Die Erfindung wird nachfolgend beispielsweise anhand der
schematischen Zeichnung beschrieben. Diese zeigt ein Funk
tionsschaltbild eines erfindungsgemäßen Triangulationsmeß
geräts mit Lichtmengenregelung.
Das Triangulationsmeßgerät 10 hat eine Laserstrahlungsquel
le 12, von der aus Strahlung auf ein Meßobjekt abgestrahlt
wird, dessen Position bestimmt werden soll. Die vom Meßob
jekt reflektierte Strahlung trifft auf einen positionssen
sitiven Detektor 14 auf.
Die Ausgänge des Sensors 14 sind mit den Eingängen zweier
Operationsverstärker 20, 22 verbunden. Die Ausgänge beider
Operationsverstärker 20, 22 sind auf einen ersten Integrator
24 geführt, der zur Integration der Summe der aufbereiteten
Ausgangssignale des Sensors 14 dient. Die Integration er
folgt in dem Integrator 24 durch einen Kondensator 26. Das
Ausgangssignal des zweiten Operationsverstärkers 22 ist auf
einen zweiten Integrator 28 geführt, der ebenfalls einen
Kondensator 30 zur Integration des Ausgangssignals auf
weist. Der Ausgang des ersten Integrators 24 ist mit dem
Referenzeingang 32 eines A/D-Wandlers 34 verbunden. Der
Ausgang des zweiten Integrierers 28 ist mit dem Wandlerein
gang 36 des Analog/Digital-Wandlers 34 verbunden. Durch
diese Schaltung wird vorteilhafterweise der Rauschanteil
durch Analogaufbereitung der Ausgangssignale des positions
sensitiven Detektors so gering wie möglich gehalten, wo
durch die Dynamik des Triangulationsgeräts abermals verbes
sert wird. Der Analog/Digitalwandler arbeitet als Dividie
rer, der das Integrationssignal des einen Sensorausgangssi
gnals durch das Integrationssignal der Summe beider Sensor
ausgangssignale teilt und daraus die Position eines Meß
objektes bezeichnet. Durch das Fehlen analoger Bauteile bei
der Auswertung der Integratorsignale wird eine hohe Linea
rität erreicht. Das Auslesen der Integratoren 24, 28 durch
den Analog/Digital-Wandler 34 wird dadurch verursacht, daß
das integrierte Summensignal am Ausgang des ersten Integra
tors 24 auf den ersten Eingang eines Komparators 38 gelegt
ist, der dieses integrierte Summensignal mit der Referenz
spannung einer Referenzspannungsquelle 40 vergleicht, die
vorzugsweise einstellbar ist. Wenn der aufintegrierte Sum
menwert am Ausgang des ersten Integrators 24 die Referenz
spannung der Referenzspannungsquelle 40 übersteigt, wird
der Analog/DigitalWandler 34 durch das Ausgangssignal des
Komparators 38 zum Auslesen der Ausgangssignale der beiden
Integratoren 24 und 28 angestoßen. Gleichzeitig wird wäh
rend dieses Vorgangs die Stromzufuhr 42 zur Laserstrah
lungsquelle 12 unterbrochen. Die durch den Analog/Digital-
Wandler 34 ausgelesenen Werte können durch eine Schnitt
stelle 44 an ein Bussystem zur weiteren Verwertung ausgege
ben werden. Nach dem Auslesevorgang werden die Integratoren
24, 28 durch eine zeitgesteuerte Rücksetzeinrichtung 46 wie
der zurückgesetzt. Die Rücksetzung erfolgt durch Kurz
schließen der Kondensatoren 26, 30 in den Integratoren 24, 28
und wird von der Rücksetzeinrichtung 46 gesteuert. Die
Rücksetzeinrichtung steuert auch eine Einrichtung zur
Fremdlichtkompensation, die durch die Operationsverstärker
20, 22 und die Kompensationsglieder 48, 50 gebildet wird. Die
Länge einer Meßzeit hängt von der auf den positionssensi
tiven Detektor eingestrahlten Lichtmenge ab und wird so
eingeregelt, daß die eingestrahlte Lichtmenge im wesentli
chen konstant ist.
Bei dem vorstehend beschriebenen Ausführungsbeispiel er
folgt die Summation der aufbereiteten Sensorsignale in dem
ersten Integrator 24. Diese Anordnung ist bezüglich der Mi
nimierung von Störquellen und Hardware-Aufwand vorteil
haft. Selbstverständlich ist es dem Fachmann auch überlas
sen, die Integration vor oder nach der Summation durchzu
führen.
Der wesentliche Kern der Erfindung liegt in der Anwendung
einer Lichtmengenregelung, mit der sich eine sehr hohe
Lichtdynamik bei sehr guter Genauigkeit der Ortsbestimmung
und hoher Meßrate erzielen läßt. Bei jedem einzelnen Meß
zyklus paßt sich die Meßvorrichtung den Reflexionseigen
schaften der Meßgutoberfläche ohne Zeitverzögerung neu an.
Dadurch wird eine verzögerungsfreie Vermessung von bewegten
Meßgütern mit sehr stark unterschiedlichem Reflexionsver
halten ermöglicht. Ein auf diesem Prinzip basierendes Tri
angulationsmeßgerät ist zudem in hohem Maß störungsunemp
findlich und läßt sich schaltungs- und fertigungstechnisch
mit geringem Aufwand realisieren.
Claims (16)
1. Triangulationsmeßverfahren zur Positionsbestimmung ei
nes Meßobjekts unter Verwendung einer Strahlungsquelle
und eines positionssensitiven Detektors mit mindestens
zwei strahlungssensitiven Sensorflächen, die jeweils
ein Ausgangssignal liefern,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Ausgangssignale aufintegriert werden, bis die vom Meßobjekt auf die Steuerflächen (16, 18) auftreten de Lichtmenge einen Sollwert erreicht hat,
daß die aufintegrierten Ausgangssignale daraufhin zur Positionsbestimmung ausgewertet und anschließend für einen neuen Meßzyklus rückgesetzt werden.
daß die Ausgangssignale aufintegriert werden, bis die vom Meßobjekt auf die Steuerflächen (16, 18) auftreten de Lichtmenge einen Sollwert erreicht hat,
daß die aufintegrierten Ausgangssignale daraufhin zur Positionsbestimmung ausgewertet und anschließend für einen neuen Meßzyklus rückgesetzt werden.
2. Triangulationsmeßverfahren nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß mindestens eine Sensorfläche des positionssensiti
ven Detektors als Meßfläche für die Lichtmenge verwen
det wird.
3. Triangulationsmeßverfahren nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Sollwert eingestellt werden kann.
4. Triangulationsmeßverfahren nach einem der vorhergehen
den Ansprüche,
bei dem die Ausgangssignale der Sensorflächen zu einem
Summensignal summiert werden,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Integral des Summensignals mit dem Sollwert
verglichen wird.
5. Triangulationsmeßverfahren nach Anspruch 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Integration nach der Aufsummierung der Aus
gangssignale durchgeführt wird.
6. Triangulationsmeßgerät, insbesondere zur Durchführung
des Verfahrens nach einem der vorhergehenden Ansprü
che,
mit einer Strahlungsquelle, mit einem positionssensi tiven Detektor mit mindestens zwei nebeneinander ange ordneten Sensorflächen, die Ausgangssignale liefern, welche zu einem Summensignal summiert werden und mit einer Auswerteschaltung zur Bestimmung der Position eines Meßobjekts auf der Basis der Ausgangssignale, gekennzeichnet durch
Integriatoren (24, 28) zur Aufintegrierung der Ausgangs signale,
einen Komparator (38) zum Vergleich des Integrations wertes mindestens eines Ausgangssignals mit einem Sollwert, wobei das Ausgangssignal des Komparators (38) zur Steuerung der Auswerteschaltung (34) ableit bar ist, und
eine Rücksetzeinrichtung (46) zum Rücksetzen der Inte grationswerte der Ausgangssignale.
mit einer Strahlungsquelle, mit einem positionssensi tiven Detektor mit mindestens zwei nebeneinander ange ordneten Sensorflächen, die Ausgangssignale liefern, welche zu einem Summensignal summiert werden und mit einer Auswerteschaltung zur Bestimmung der Position eines Meßobjekts auf der Basis der Ausgangssignale, gekennzeichnet durch
Integriatoren (24, 28) zur Aufintegrierung der Ausgangs signale,
einen Komparator (38) zum Vergleich des Integrations wertes mindestens eines Ausgangssignals mit einem Sollwert, wobei das Ausgangssignal des Komparators (38) zur Steuerung der Auswerteschaltung (34) ableit bar ist, und
eine Rücksetzeinrichtung (46) zum Rücksetzen der Inte grationswerte der Ausgangssignale.
7. Triangulationsmeßgerät nach Anspruch 6, bei dem die
Ausgangssignale der Sensorflächen zu einem
Summensignal aufsummiert werden,
dadurch gekennzeichnet,
daß dem Komparator (38) der Integrationswert des
Summensignals zugeführt ist.
8. Triangulationsmeßgerät nach Anspruch 6 oder 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Auswerteeinrichtung (34) einen Analog/Digital-
Wandler enthält, dessen Eingänge (32, 36) mit den Aus
gängen der Integratoren (24, 28) verbunden sind.
9. Triangulationsmeßgerät nach Anspruch 8,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Ausgang des Integrators (24) für das Summensi gnal mit dem Referenzeingang (32) und der Ausgang des Integrators (28) für das Ausgangssignal mit dem Wand lereingang (36) des Analog/Digital-Wandlers (34) ver bunden sind, und
daß der Analog/Digital-Wandler (34) als Dividierer ausgebildet ist.
daß der Ausgang des Integrators (24) für das Summensi gnal mit dem Referenzeingang (32) und der Ausgang des Integrators (28) für das Ausgangssignal mit dem Wand lereingang (36) des Analog/Digital-Wandlers (34) ver bunden sind, und
daß der Analog/Digital-Wandler (34) als Dividierer ausgebildet ist.
10. Triangulationsmeßgerät nach einem der Ansprüche 6 bis
9,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Integratoren (24, 28) Kondensatoren (26, 30)
enthalten.
11. Triangulationsmeßgerät nach einem der Ansprüche 6 bis
10,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Rücksetzeinrichtung (46) eine Zeitsteuerung
enthält.
12. Triangulationsmeßgerät nach einem der Ansprüche 6 bis
11,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Analog/Digital-Wandler (34) über eine Schnitt
stelle (44) zum Anschluß an ein Bussystem verfügt.
13. Triangulationsmeßgerät nach einem der Ansprüche 8 bis
12,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Sollwert über eine Referenzspannungsquelle
(40) einstellbar ist.
14. Triangulationsmeßgerät nach einem der Ansprüche 6 bis
13,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Sensorflächen auf einer länglichen Sensorbahn
angeordnet sind.
15. Triangulationsmeßgerät nach einem der Ansprüche 6 bis
14,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Strahlungsquelle (12) als Laserstrahlungsquel
le ausgebildet ist.
16. Triangulationsmeßgerät nach einem der Ansprüche 8 bis
15,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Ausgangssignal des Komparators (38) zur
Steuerung der Strahlungsquelle (12) ableitbar ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904031453 DE4031453C2 (de) | 1990-10-04 | 1990-10-04 | Triangulationsmeßverfahren und Gerät zur Durchführung desselben |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19904031453 DE4031453C2 (de) | 1990-10-04 | 1990-10-04 | Triangulationsmeßverfahren und Gerät zur Durchführung desselben |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE4031453A1 true DE4031453A1 (de) | 1992-04-16 |
DE4031453C2 DE4031453C2 (de) | 1994-12-01 |
Family
ID=6415591
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19904031453 Expired - Fee Related DE4031453C2 (de) | 1990-10-04 | 1990-10-04 | Triangulationsmeßverfahren und Gerät zur Durchführung desselben |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE4031453C2 (de) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0616194A1 (de) * | 1993-03-19 | 1994-09-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Festkörperbildaufnahmevorrichtung |
DE4415419A1 (de) * | 1994-05-02 | 1995-11-09 | Horn Wolfgang | Positionsmesseinrichtung |
WO1997042465A1 (en) * | 1996-05-07 | 1997-11-13 | Besam Ab | A method for the determination of the distance and the angular position of an object |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4623237A (en) * | 1984-07-07 | 1986-11-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Automatic focusing device |
US4673274A (en) * | 1984-09-18 | 1987-06-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Automatic focusing apparatus for camera |
US4705395A (en) * | 1984-10-03 | 1987-11-10 | Diffracto Ltd. | Triangulation data integrity |
-
1990
- 1990-10-04 DE DE19904031453 patent/DE4031453C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4623237A (en) * | 1984-07-07 | 1986-11-18 | Canon Kabushiki Kaisha | Automatic focusing device |
US4673274A (en) * | 1984-09-18 | 1987-06-16 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Automatic focusing apparatus for camera |
US4705395A (en) * | 1984-10-03 | 1987-11-10 | Diffracto Ltd. | Triangulation data integrity |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
JP 61-245012 A In: Patents Abstracts of Japan P-559 March 24, 1987, Vol. 11/No. 93 * |
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0616194A1 (de) * | 1993-03-19 | 1994-09-21 | Hamamatsu Photonics K.K. | Festkörperbildaufnahmevorrichtung |
US5424530A (en) * | 1993-03-19 | 1995-06-13 | Hamamatsu Photonics K.K. | Solid image pickup device having dual integrator |
US5684295A (en) * | 1993-03-19 | 1997-11-04 | Hamamatsu Photonics K.K. | Solid state image pickup device having dual integrator |
DE4415419A1 (de) * | 1994-05-02 | 1995-11-09 | Horn Wolfgang | Positionsmesseinrichtung |
WO1997042465A1 (en) * | 1996-05-07 | 1997-11-13 | Besam Ab | A method for the determination of the distance and the angular position of an object |
US6160479A (en) * | 1996-05-07 | 2000-12-12 | Besam Ab | Method for the determination of the distance and the angular position of an object |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE4031453C2 (de) | 1994-12-01 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE68902419T2 (de) | Verfahren zur positionierung eines objektes in bezug auf eine ebene, laengenmessverfahren und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens. | |
DE68925983T2 (de) | Optische Vorrichtung zur Messung von Teilchengrössen | |
EP1423731B1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur aufnahme eines dreidimensionalen abstandsbildes | |
DE69013899T2 (de) | Gerät zur messung dreidimensionaler koordinaten. | |
DE3640159C2 (de) | ||
DE4204857A1 (de) | Interferometer | |
DE3619923A1 (de) | Feinverschiebungsaufnehmer und verfahren zur erfassung von feinverschiebungen | |
DE3886043T2 (de) | Methode und system zur bestimmung von oberflächenprofilinformationen. | |
DE2656520B2 (de) | Verfahren zur Ermittlung des Verhältnisses von Kernradius zu Mantelradius einer ummantelten optischen Faser | |
DE3784383T2 (de) | Verfahren zum messen von filmdicken und vorrichtung dafuer. | |
DE10153742A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Aufnahme eines dreidimensionalen Abstandsbildes | |
DE3302948C2 (de) | Meßgerät zur berührungslosen optischen Abstandsmessung | |
DE4031453A1 (de) | Triangulationsmessverfahren | |
WO1998008079A1 (de) | Vorrichtung zur optischen erfassung von einem parameter an einem längsbewegten fadenförmigen körper | |
DE3924290C2 (de) | ||
DE60313479T2 (de) | Vorrichtung zur messung einer optischen weglängenveränderung | |
DE3883968T2 (de) | Optischer Verschiebungsmessapparat. | |
DE3889556T2 (de) | Hochauflösendes automatisches elektronisches Brennpunktkorrekturuntersystem für Elektronenstrahllithographie. | |
DE3332986C2 (de) | ||
DE3827913C2 (de) | ||
DE4115785C2 (de) | Verfahren zur optischen Distanzvermessung eines Objektes nach dem Triangulationsprinzip sowie nach diesem Verfahren arbeitende Vorrichtung | |
DE102010006770A1 (de) | Verfahren zur Bestimmung von Strömungsgeschwindigkeiten in mit Partikeln versetzten Fluiden mittels Doppler-Global-Velozimeter | |
DE4244521A1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum berührungslosen Bestimmen des Bewegungszustandes eines länglichen Objektes | |
DE4117540A1 (de) | Einrichtung zur bestimmung von nick- und rollwinkel bei kraftfahrzeugen | |
DE1773534C3 (de) | Anordnung zum optisch-elektrischen Messen der Länge eines bewegten länglichen Gegenstandes |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8327 | Change in the person/name/address of the patent owner |
Owner name: TSI GMBH, 52078 AACHEN, DE |
|
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |