DE3933309A1 - Vorrichtung zum testen elektronischer bauteile - Google Patents

Description

Die Erfindung betrifft eine Vorrichtung zum Testen elektro­ nischer Bauteile, das heißt eine Vorrichtung, mit der die Bauteile in und aus einem Eingriff mit Kontakten der Vor­ richtung gebracht werden.

Gewöhnlich werden elektronische Bauteile nach der Herstel­ lung und vor dem Verkauf getestet. Die bekannten Vorrichtun­ gen zum Testen der Bauteile beinhalten Prüfköpfe oder Kon­ takte, die bewegt werden, um mit den Anschlüssen der Bau­ teile in Eingriff zu kommen. Über die Kontakte werden den Bauteilen elektrische Signale zum Messen ihrer Eigenschaften zugeführt.

Ein Beispiel für solche elektronischen Bauteile, die einem Test mit diesen Testvorrichtungen unterworfen werden, sind Kondensatoren. Die betreffenden Kondensatoren sind im allge­ meinen blockförmig und weisen an zwei entgegengesetzten En­ den leitende Anschlüsse auf. Diese Anschlüsse haben eine im wesentlichen flache Außenseite.

Die Kontakte typischer Testvorrichtungen werden so gesteu­ ert, daß sie sich in einer Richtung, die im wesentlichen senkrecht zu den Ebenen der Anschlußflächen verläuft, auf die Anschlußflächen zu und davon weg bewegen. Nach dem Durchführen der vorgesehenen Tests werden die geprüften Kondensatoren durch noch nicht geprüfte Kondensatoren er­ setzt, und der Vorgang wird wiederholt.

Die bekannten Testvorrichtungen, bei denen die Kontakte bzw. Prüfköpfe auf diese Art bewegt werden, haben generell einen komplizierten Aufbau und sind daher in der Herstellung und im Unterhalt aufwendig. Darüber hinaus arbeiten die bekannten Testvorrichtungen nicht zufriedenstellend, wenn die zu prü­ fenden Bauteile Nickel-Anschlüsse aufweisen. Die Verwendung von Nickelbeschichtungen zum Ausbilden der Anschlüsse elek­ tronischer Bauteile hat jedoch in letzter Zeit laufend zuge­ nommen. Wie bekannt entstehen auf Nickel-Anschlüssen leicht dünne Oxidschichten. Die bekannten Testvorrichtungen können diese Oxidschichten oft nicht durchdringen. Wird die Oxid­ schicht nicht richtig durchdrungen, werden falsche Testdaten aufgenommen. Die Prüfköpfe der bekannten Testvorrichtungen müssen darüber hinaus häufig gereinigt werden, da das Nickel- Oxid dazu neigt, sich an den Prüfkopfspitzen anzusamneln.

Aufgabe der Erfindung ist es, eine Vorrichtung zum schnellen und zuverlässigen Testen elektronischer Bauteile zu schaf­ fen, wobei es keine Rolle spielen soll, ob die Bauteile Nickel-Anschlüsse aufweisen oder nicht.

Die zur Lösung dieser Aufgabe erfindungsgemäß vorgesehene Vorrichtung zum Testen elektronischer Bauteile weist zwei exponierte elektrische Kontakte auf, die mit einer Test­ brücke verbunden sind. Einer der Kontakte ist feststehend und der andere beweglich ausgebildet. In einer Ausführungs­ form ist der bewegliche Kontakt durch eine Feder in eine Position vorgespannt, die von dem feststehenden Kontakt einen Abstand hat, der etwas kleiner ist als der Abstand zwischen den gegenüberliegenden Anschlußflächen des Bautei­ les. Wenn ein Bauteil, etwa ein Kondensator, zwischen die Kontakte gleitet, wird die Feder vom beweglichen Kontakt zusammengedrückt, wenn sich dieser Kontakt vom feststehenden Kontakt weg bewegt. Folglich drückt die Feder die Kontakte gegen die entsprechenden Anschlüsse des Kondensators, so daß die Kontakte die Oxidschichten, die sich eventuell an der Oberfläche von Nickelanschlüssen befinden, durchdringen. Die gleitende Bewegung reinigt darüber hinaus die Kontakte, wo­ durch die Aufwendungen zum Erhalten der Kontakte verringert werden.

Die Kontakte sind derart an der Vorrichtung befestigt, daß bei einer Abnutzung ein schneller Austausch möglich ist.

Bei einer Ausführungsform der Gleitkontakt-Testvorrichtung ist ein einziger feststehender und ein einziger beweglicher Kontakt vorgesehen. Der bewegliche Kontakt ist an einem Kon­ takthalter angeordnet. Der Halter ist an einer Positions- Einstellvorrichtung befestigt, die ein präzises Positionie­ ren des beweglichen Kontaktes erlaubt, so daß Serien elek­ tronischer Bauteile mit verschiedenen Abmessungen mittels einer einzigen Vorrichtung getestet werden können.

Bei einer anderen Ausführungsform werden zwei benachbarte Sätze von beweglichen und feststehenden Kontakten verwendet. Die Verwendung von zwei Kontaktsätzen beschleunigt das Testen von Kondensatoren.

Bei vielen Anwendungen sind Bauteile, die durch den Test verkratzt oder beschädigt wurden, nicht mehr akzeptabel. Daher kann der bewegliche Kontakt erfindungsgemäß alternativ in freitragender Art befestigt und so ausgebildet werden, daß bei der gleitenden Bewegung des Bauteiles zwischen den beweglichen und den feststehenden Kontakt nur ein geringer Kontaktdruck wirkt. Die durch die Kontakte auf die Anschluß­ flächen der Bauteile ausgeübte Kraft kann folglich auf dem minimalen Wert gehalten werden, der gerade noch sicher­ stellt, daß die Kontakte eine Oxidschicht auf den Anschluß­ oberflächen durchdringen, ohne daß die Anschlüsse verkratzt oder beschädigt werden. In dieser Beziehung ist die oben erwähnte Positions-Einstellvorrichtung zum Einstellen der Position des beweglichen Kontaktes vorteilhaft, da damit der Kontaktdruck auf die Anschlüsse leicht so eingestellt werden kann, daß zwar die Oxidschicht durchdrungen wird, die An­ schlüsse jedoch nicht verkratzt werden.

Ausführungsbeispiele für die Vorrichtung zum Testen elektro­ nischer Bauteile werden im folgenden anhand der Zeichnung näher erläutert. Es zeigt

Fig. 1 eine perspektivische Ansicht einer ersten Ausfüh­ rungsform der Testvorrichtung;

Fig. 2 eine auseinandergezogene perspektivische Ansicht der ersten Ausführungsform;

Fig. 3 einen Schnitt längs der Linie 3-3 in der Fig. 1, mit einem Kondensator in einer Testposition;

Fig. 4 eine perspektivische Ansicht, teilweise auseinander­ gezogen, einer zweiten Ausführungsform der Testvor­ richtung;

Fig. 5 eine Vorderansicht der zweiten Ausführungsform;

Fig. 6 eine perspektivische Ansicht einer alternativen Aus­ bildung eines beweglichen Kontaktes, die bei beiden Ausführungsformen verwendet werden kann; und

Fig. 7 eine auseinandergezogene perspektivische Ansicht der Anordnung der Fig. 6.

Anhand der Fig. 1 bis 3 wird nun eine erste Ausführungsform einer Gleitkontakt-Testvorrichtung 20 beschrieben, die vor­ zugsweise mit einem sich drehenden Zuführsystem 22 versehen ist, das elektronische Bauteile wie Kondensatoren 24 in und aus einer Testposition 26 bewegt. Die Eigenschaften der Kon­ densatoren 24 werden jeweils während der Zeit gemessen, in der sie sich in der Testposition 26 befinden.

Das sich drehende Zuführsystem 22 beinhaltet eine kreisför­ mige Grundplatte 28, über der drehbar eine kreisförmige Treibplatte 30 angeordnet ist. Die Treibplatte 30 besteht aus elektrisch nicht leitendem Material, sie weist am äuße­ ren Rand Einkerbungen 32 auf. Die Einkerbungen 32 sind so bemessen, daß darin die Kondensatoren 24 aufgenommen werden, wobei diese dabei so ausgerichtet sind, daß ihre gegenüber­ liegenden Anschlußenden 34, 36 etwas über die Ebene der flachen Oberseite 38 bzw. die Ebene der flachen Unterseite 40 der Treibplatte 30 vorstehen. Dieses sich drehende Zu­ führsystem zum Bewegen der elektronischen Bauteile kann selbstverständlich auch durch jede andere geeignente Ein­ richtung zum Zuführen der Bauteile in die Testposition 26 ersetzt werden.

Die Kondensatoren 24 werden in den Einkerbungen 32 durch einen Unterdruck gehalten, der über Leitungen 42 zugeführt wird. Das Verfahren zum Füllen und Entleeren der Einkerbun­ gen 32 mit den Kondensatoren 24 ist allgemein bekannt. Bei­ spielsweise ist ein solches Verfahren in der US-PS 47 53 061 beschrieben.

Die Drehung der Treibplatte 30 wird über einen Schrittmotor (nicht gezeigt) exakt gesteuert, um jeden Kondensator 24 zur Testposition 26 und davon wieder weg zu bewegen. Die Test­ position 26 befindet sich bei dieser Testvorrichtung über einem elektrisch leitenden, feststehenden Kontakt 44, der am Rand der kreisförmigen Grundplatte 28 vorgesehen ist. Der feststehende Kontakt 44 besteht aus einem Kopfstift, der sich durch ein elektrisch nicht leitendes Halteelement 48 erstreckt, das in eine entsprechend geformte Öffnung im Rand der Grundplatte 28 eingesetzt ist. Der Kopf 45 des Kontaktes 44 steht etwas über die flache Oberseite 49 des Halteelemen­ tes 48 hinaus.

Das Ende 47 des Schaftes 51 des feststehenden Kontaktes 44 erstreckt sich über die Unterseite 29 der Grundplatte 28 hinaus (Fig. 3). An dieser Unterseite 29 ist ein Anschluß­ block 59 befestigt, der dazu dient, den Kontakt 44 in seiner Position zu halten und die Verbindung des Kontaktes mit einer Zuleitung 50 herzustellen, die zu einer Testbrücke (nicht gezeigt) führt. Der Anschlußblock 59 ist an der Un­ terseite 29 mittels einer in die Grundplatte 28 einge­ schraubten Schraube 61 befestigt. In den Anschlußblock 59 ist zum Befestigen des Endes der Zuleitung 50 eine weitere Schraube 63 eingeschraubt.

Ein Ende des Anschlußblockes 59 weist eine sich davon weg erstreckende Lasche 65 auf. Die Lasche 65 hat eine flache Klemmfläche 67, die dem Ende 47 des Schaftes 51 gegenüber­ liegt. Das Schaftende 47 verläuft in der Nähe der Verbin­ dungsstelle der Lasche 65 mit dem Anschlußblock 59 über die Klemmfläche 67. Das Schaftende 47 ist mittels eines Klemm­ elementes 71 an der Klemmfläche 67 befestigt. Das Klemmele­ ment 71 wird durch eine Schraube 73, die sich durch das Klemmelement 71 erstreckt und in eine Gewindebohrung in der Klemmfläche 67 eingesetzt ist, gegen das Ende 47 des Schaf­ tes 51 gedrückt. Das Klemmelement 71 ist einer gewöhnlichen quadratischen Mutter ähnlich, und es weist darüber hinaus einen vorspringenden Ansatz 75 auf, der sich für eine Strecke, die gleich dem Durchmesser des Schaftes 51 ist, nach außen zu der Klemmfläche 67 hin erstreckt. Der Ansatz 75 stellt sicher, daß das Klemmelement 71 gleichmäßig auf dem Schaftende 47 aufliegt. Auf diese Weise kann der fest­ stehende Kontakt 44 durch einfaches Lösen der Schraube 73 (und damit des Klemmelementes 71), so daß der Kontakt 44 aus dem Halteelement 48 herausgenommen werden kann, schnell und einfach ersetzt werden.

Wenn ein Kondensator 24 in die Testposition 26 bewegt wird, gleitet die Oberfläche 52 des unteren Anschlusses 36 des Kondensators über den freiliegenden Kopf 45 des feststehen­ den Kontaktes 44. Ein beweglicher Kontakt 54 (Fig. 3) wird durch eine später noch genauer beschriebene Einrichtung über dem feststehenden Kontakt 44 gehalten. Der bewegliche Kon­ takt 54 ist so angeordnet, daß er über die Oberfläche 56 des oberen Anschlusses 34 des Kondensators 24 gleitet, wenn sich dieser in die Testposition bewegt. Der bewegliche Kontakt 54 ist über eine Zuleitung 58 elektrisch mit der Testbrücke verbunden.

Der Kondensator 24 bleibt genügend lange in der Testposition 26, um alle erforderlichen Testdaten aufzunehmen, woraufhin dann die Treibplatte 30 gedreht wird, um den nächsten Kon­ densator in die Testposition zu bringen. Die getesteten Kon­ densatoren werden schließlich aus den Einkerbungen 32 der Treibplatte entnommen, und die leeren Einkerbungen 32 werden dann wieder mit noch nicht getesteten Kondensatoren gefüllt.

Insbesondere mit Bezug auf die Fig. 2 wird nun die Einrich­ tung zum genauen Positionieren des beweglichen Kontaktes 54 relativ zum feststehenden Kontakt 44 beschrieben. Die Test­ vorrichtung 20 weist dazu einen generell C-förmig (in der Form eines liegenden U) ausgebildeten Ständer 60 auf. Der untere Schenkel 62 des Ständers 60 ist an einer Grundplatte 64 befestigt, die aus elektrisch nicht leitendem Material besteht und sich teilweise unter die kreisförmige Grundplat­ te 28 und die Treibplatte 30 erstreckt. Der untere Schenkel 62 des Ständers 60 besitzt Öffnungen 68, durch die zum Be­ festigen dieses Schenkels 62 an der Grundplatte 64 Schrauben 66 verlaufen. Die Öffnungen 68 haben eine längliche Form, um ein genaues Positionieren des Ständers 60 zum Ausrichten des beweglichen Kontaktes 54 mit dem feststehenden Kontakt 44 zu ermöglichen.

Der mittlere Teil bzw. die Basis 70 des Ständers 60 verläuft vom Ende des unteren Schenkels 62 weg nach oben. Von der Ba­ sis 70 weg erstreckt sich der obere Schenkel 72 des Ständers 60 längs einer Achse, die zu der des unteren Schenkels 62 im wesentlichen parallel ist. Durch Schrauben 76 sind zwei zy­ lindrische Schäfte 74 so befestigt, daß sie sich von der Unterseite des oberen Schenkels 72 nach unten erstrecken. Die Schäfte 74 sind im Abstand voneinander angeordnet, und ihre unteren Enden 78 sind an den gegenüberliegenden Enden eines starren Querstückes 82 befestigt.

Ein Halteblock 84 ist so angeordnet, daß er sich an den Schäften 74 entlang bewegen kann. Der Halteblock 84 weist zwei Buchsen 86 auf, wobei jeweils eine Buchse in eines der Enden 85, 87 des Blockes 84 eingepreßt ist. Die Schäfte 74 verlaufen jeweils durch eine der Buchsen 86, wodurch der Block 84 an den Schäften 74 entlanggleiten kann.

Die Schäfte 74 verlaufen auch jeweils durch eine Druckfeder 88, die zwischen dem Halteblock 84 und dem Querstück 82 vor­ gesehen sind. Der Halteblock 84 wird durch die Federn 88 ständig zum oberen Schenkel 72 des Ständers 60 gedrückt.

Durch den oberen Schenkel 72 des Ständers 60 ist eine Mikro­ meterschraube 90 geschraubt, deren Stift 92 sich vom oberen Schenkel 72 nach unten erstreckt und auf die Oberseite 94 des Halteblockes 84 drückt. Vorzugsweise weist die Mikrome­ terschraube 90 eine Skala 96 auf, die unter Verwendung der Oberseite 77 des oberen Schenkels 72 als Bezugslinie abge­ lesen werden kann.

Durch Drehen der Mikrometerschraube 90 kann die Position des Halteblockes 84 relativ zur Testposition 26 genau einge­ stellt werden. Dieses Positionieren des beweglichen Kontak­ tes 54 ermöglicht es, daß Kondensatoren 24 verschiedener Größe zwischen den feststehenden Kontakt 44 und den beweg­ lichen Kontakt 54 gleitend eingeführt werden können.

Der bewegliche Kontakt 54 ist über einen Kontakthalter 98 mit dem Halteblock 84 verbunden. Der Halter 98 stellt ein längliches Element mit einem abgerundeten Drehpunktende 100 dar, das mittels einer Ansatzschraube 102, die durch eine Bohrung 101 im Drehpunktende 100 verläuft, an dem einen Ende 85 des Halteblockes 84 befestigt ist. Die Ansatzschraube 102 legt die Drehachse 103 fest, sie ist in die Seitenfläche 104 des Halteblockes 84 eingeschraubt.

Das freie Ende 106 des Halters 98 paßt genau in eine U-för­ mige Auflage 108, die an der Seitenfläche 104 des Blockes 84 an demjenigen Ende 87 des Blockes 84 angebracht ist, das dem Ende 85 gegenüberliegt, an dem der Halter 98 schwenkbar befestigt ist. Das freie Ende 106 des Halters 98 liegt nor­ malerweise auf der Basis 110 der U-förmigen Auflage 108 auf und wird daher davon abgehalten, sich in Uhrzeigerrichtung (in der Darstellung der Fig. 1) über die Auflage 108 hinaus zu bewegen.

Das freie Ende 106 des Halters 98 wird durch eine Druckfeder 112 gegen die Basis 110 der Auflage 108 gedrückt. Das untere Ende der Feder 112 ist über einen Stift 114 gesetzt, der an der Oberseite 116 des freien Endes 106 des Halters 98 vor­ steht. Mittels einer Schraube 120 ist eine L-förmige Feder­ halterung 118 an der Basis 110 der Auflage 108 befestigt. Die Federhalterung 118 ist angrenzend an das freie Ende 106 des Halters 98 an der Basis 110 angeordnet und verläuft von der Auflage 108 nach oben, um in einem Arm 122 zu enden, der sich über das freie Ende 106 des Halters 98 erstreckt. Das obere Ende der Druckfeder 112 wird durch einen Stift 124 ge­ halten, der von der Unterseite des Armes 122 vorsteht.

Der Halter 98 beinhaltet einen einstückig damit ausgebilde­ ten Kontakt-Befestigungsabschnitt 126, der vom mittleren Teil des Halters 98 nach unten vorsteht. Der Befestigungsab­ schnitt 126 weist eine durchgehende Öffnung 128 auf. Die Öffnung 128 nimmt den Schaft 55 des Kopfstiftes auf, der den beweglichen Kontakt 54 bildet. Der Kopf 57 des Kontaktes 54 liegt an der Unterseite 130 des Befestigungsabschnittes 126 an. Vorzugsweise ist die Unterseite 130 vom Kontaktkopf 57 weg nach oben abgeschrägt, so daß der Befestigungsabschnitt 126 die Bewegung der Kondensatoren 24 in die Testposition nicht behindert.

Das Ende des Kontaktschaftes 55 endet in einer Ausnehmung 134 in der Oberseite 116 des Halters 98. Die Ausnehmung 134 ist dafür vorgesehen, einen elektrisch leitenden Anschluß­ block 136 aufzunehmen, der dazu dient, den beweglichen Kon­ takt 54 zu halten und ihn mit der Zuleitung 58 zur Test­ brücke zu verbinden. Der Anschlußblock 136 wird durch eine in den Halter 98 eingeschraubte Schraube 138 in der Ausneh­ mung 134 gehalten. Zur Befestigung der Zuleitung 58 ist eine weitere Schraube 139 vorgesehen.

Ein Ende des Anschlußblockes 136 weist eine sich davon weg erstreckende Lasche 140 auf. Die Lasche 140 hat eine flache Klemmfläche 142, die dem Ende 132 des Schaftes 55 gegenüber­ liegt. Das Schaftende 132 verläuft in der Nähe der Verbin­ dungsstelle der Lasche 140 mit dem Anschlußblock 136 über die Klemmfläche 142. Das Schaftende 132 ist mittels eines Klemmelementes 144 an der Klemmfläche 142 befestigt. Das Klemmelement 144 wird durch eine Schraube 146, die sich durch das Klemmelement 144 erstreckt und in eine Gewinde­ bohrung 148 in der Klemmfläche 142 eingesetzt ist, gegen das Schaftende 132 gedrückt. Das Klemmelement 144 ist einer ge­ wöhnlichen quadratischen Mutter ähnlich, und es weist darü­ ber hinaus einen vorspringenden Ansatz 150 auf, der sich für eine Strecke, die gleich dem Durchmesser des Schaftes 55 ist, nach außen zu der Klemmfläche 142 hin erstreckt. Der Ansatz 150 stellt sicher, daß das Klemmelement 144 gleichmä­ ßig auf dem Schaftende 132 aufliegt. Auf diese Weise kann der bewegliche Kontakt 54 durch einfaches Lösen der Schraube 146 (und damit des Klemmelementes 144), so daß der Kontakt 54 aus dem Befestigungsabschnitt 126 herausgenommen werden kann, schnell und einfach ersetzt werden.

Bei dieser beschriebenen Testvorrichtung 20 ist kein kompli­ zierter Mechanismus zum Bewegen der Kontakte erforderlich, da die Kontakte 44 und 54 während des Testvorganges keiner angetriebenen Verschiebung unterliegen. Vor der Inbetrieb­ nahme der Testvorrichtung 20 wird lediglich die Mikrometer­ schraube 90 gedreht, bis der Kopf 57 des beweglichen Kontak­ tes 54 vom Kopf 45 des feststehenden Kontaktes 44 einen Ab­ stand hat, der etwas kleiner ist als der Abstand zwischen den gegenüberliegenden Anschlußflächen 52 und 56 der Kon­ densatoren 24. Die Bewegung der Kontakte während des Testes ist dann auf die Bewegung des beweglichen Kontaktes 54 be­ grenzt, wenn er durch einen Kondensator 24, der in die Testposition gebracht wird, etwas von dem feststehenden Kon­ takt 44 weggedrückt wird. Es wird keinerlei Testzeit dazu verbraucht, die Kontakte zu den zu testenden Kondensatoren hin und davon weg zu bewegen. Da der bewegliche Kontakt 54 darüber hinaus durch die Druckfeder 112 in Position gehalten wird, drücken beide Kontakte 44 und 54 gegen die Anschlüsse 34 und 36, wenn sich der Kondensator 24 in die Testposition bewegt. Die Kontakte 44 und 54 schaben dadurch eventuelle Oxidschichten auf den Anschlußflächen 52 und 56 beiseite.

Es ist anzumerken, daß die Drehachse 103 des Kontakthalters 98 in einer Ebene verläuft, die zur Bewegungsrichtung der Kondensatoren 24 bei deren Bewegung in die Testposition 26 im wesentlichen senkrecht ist. Diese Anordnung des Kontakt­ halters 98 stellt sicher, daß die Kräfte, die der Halter 98 aufzunehmen hat, wenn die Kondensatoren 24 an den bewegli­ chen Kontakt 54 stoßen, im wesentlichen senkrecht zur Dreh­ achse 103 gerichtet sind. Es entstehen somit im Kontakthal­ ter 98 keine seitlichen Kräfte (das heißt Kräfte, die schräg oder parallel zur Drehachse 103 gerichtet sind), die dazu führen könnten, die Drehverbindung des Kontakthalters 98 mit dem Halteblock 84 zu lockern.

In den Fig. 4 und 5 ist eine zweite Testvorrichtung 160 gezeigt, die zwei benachbarte Testpositionen 26 L und 26 T sowie die dazugehörigen Sätze an feststehenden und beweg­ lichen Kontakten aufweist. Zwei Testpositionen sind für das redundante Testen elektronischer Bauteile sehr praktisch. Wenn Kondensatoren getestet werden, wird der Vorgang durch Verwendung der einen Testposition 26 L zur Überprüfung der Kapazität und des Verlustfaktors und der anderen Testposi­ tion 26 T zum Messen der dielektrischen Durchschlagsfestig­ keit der Kondensatoren beschleunigt.

Die Testposition 26 L und diejenigen Teile der Testvorrich­ tung, die zuerst mit einem noch nicht getesteten Kondensator 24 in Kontakt kommen, werden im folgenden als "vordere" Testposition bzw. "vorderes" Teil bezeichnet. Die andere Testposition 26 T und die dazu gehörenden Teile werden als "hintere" Testposition bzw. "hinteres" Teil bezeichnet. Die Bezugszeichen haben gegebenenfalls den Zusatz L (für "lea­ ding" = vordere(s) ...) bzw. T (für "trailing" = hintere(s) ...), um die Teile für die vordere Testposition und die hin­ tere Testposition zu unterscheiden. Die vorliegende zweite Ausführungsform beinhaltet auch etliche Teile, die mit den entsprechenden Teilen der ersten Ausführungsform identisch sind. Dafür werden die gleichen Bezugszeichen verwendet, und die Beschreibung dieser Teile wird nicht im einzelnen wie­ derholt.

Wie erwähnt sind bei der Testvorrichtung 160 zwei Testposi­ tionen 26 L, 26 T vorgesehen. Die Grundplatte 162 des sich drehenden Zuführsystems weist entsprechend zwei feststehende Kontakte 44 L, 44 T auf, die in Halteelementen 48 L, 48 T ange­ ordnet sind, die ihrerseits in den Rand der Grundplatte 162 eingesetzt sind (Fig. 5). Die feststehenden Kontakte 44 L, 44 T werden wie oben beschrieben durch Anschlußblöcke 59 L, 59 T an Ort und Stelle gehalten. Von den Anschlußblöcken 59 L, 59 T erstrecken sich Zuleitungen 50 L, 50 T zur Testbrücke.

Die Testvorrichtung 160 enthält ein Gestell 166, das, wie der Ständer 60 der ersten Ausführungsform, die Einrichtungen zum Einstellen der Position der beweglichen Kontakte 54 L und 54 T jeweils relativ zu dem entsprechenden feststehenden Kon­ takt 44 L bzw. 44 T trägt. Das Gestell 166 ist ein längliches starres Element mit einem Flanschfuß 168. Das Gestell 166 ist an einer elektrisch nicht leitenden Grundplatte 172 mittels Schrauben 174 befestigt, die durch den Fuß 168 ver­ laufen und die in die Grundplatte 172 eingeschraubt sind.

Die Vorderseite 176 des Gestelles weist eine flache vordere Haltefläche 178 und eine benachbarte flache hintere Halte­ fläche 180 auf. Die hintere Haltefläche 180 ist an der Vor­ derseite 176 des Gestelles 166 bezüglich der vorderen Halte­ fläche 178 etwas zurückgesetzt. Der Grund für das Zurück­ setzen der Haltefläche wird weiter unten noch erläutert.

Die Halteflächen 178, 180 des Gestelles 166 werden durch eine nach außen vorstehende Versteifungsrippe 182 voneinan­ der getrennt, die sich von der Oberseite 184 bis zum Boden 186 des Gestelles 166 erstreckt. Die Rippe 182 weist eine längliche Ausnehmung entlang ihres äußeres Randes auf, um genügend Abstand vom Rand der Grundplatte 162 und der Treibplatte 163 des Zuführsystems zu haben.

An der vorderen Haltefläche 178 des Gestelles 166 ist nahe dessen Oberseite 184 ein Gleitelement 190 L befestigt. Das Gleitelement 190 L hat einen U-förmigen Querschnitt und ist so angeordnet, daß es sich von der Haltefläche 178 nach außen öffnet.

In die Öffnung des Gleitelementes 190 L ist ein Gleitblock 194 L eingesetzt, der darin nach oben und unten gleitend beweglich ist. Der Gleitblock 194 L wird von einer Druckfeder 196 L, die an seiner Unterseite angreift, nach oben gedrückt. Das untere Ende der Feder 196 L sitzt in einer zylindrischen Öffnung 198 L, die in einem Feststellblock 200 L ausgebildet ist, der mittels zweier Schrauben 202 L an der vorderen Hal­ tefläche 178 angebracht ist. Der Feststellblock 200 L ist unterhalb des Gleitelementes 190 L in einem Abstand davon angeordnet. Das obere Ende der Feder 196 L ist an der Unter­ seite des Gleitblockes 194 L befestigt.

Die Position des Gleitblockes 194 L längs des Gestelles 166 (das heißt die Position des beweglichen Kontaktes 54 L, der mit dem Gleitblock 194 L verbunden ist, wie es noch beschrie­ ben wird) kann mittels einer Mikrometerschraube 206 L, die gegen die Oberseite 208 L des Gleitblockes 194 L drückt, ein­ gestellt werden. Dazu ist eine Platte 210 am oberen Ende des Gestelles 166 befestigt. Die Platte 210 erstreckt sich über die Oberseite 208 L des Gleitblockes 194 L. Die Mikrometer­ schraube 206 L ist in die Platte 210 eingeschraubt. Der Stift 214 L der Mikrometerschraube erstreckt sich von der Platte 210 nach unten und liegt an der Oberseite 208 L des Gleit­ blockes 194 L an.

Der vordere bewegliche Kontakt 94 L ist an einem Kontakthal­ ter 98 L befestigt, der im wesentlichen dem oben beschrie­ benen Halter 98 entspricht. Der Kontakthalter 98 L ist über ein Halteelement 218 L mit dem Gleitblock 194 L verbunden. Das Halteelement 218 L weist eine dünne flache Gleitplatte 220 L auf, die an der freien Seite des Gleitblockes 194 L befestigt ist. Die untere linke (in der Ansicht der Fig. 4) Ecke der Gleitplatte 220 L weist ein einstückig damit ausgebildetes quaderförmiges Teil 224 L auf, das davon nach außen vorsteht. Von dem quaderförmigen Teil 224 L weg erstreckt sich ein Drehzapfen 226 L. Am äußeren Ende des Drehzapfens 226 L ist eine umlaufende Nut 228 L ausgebildet. Die Bohrung 101 L im Drehpunktende 100 L des Kontakthalters 98 L paßt über den Drehzapfen 226 L, und zur Sicherung der drehbaren Verbindung des Halters 98 L mit dem Halteelement 218 L ist in die Nut 228 L ein Schnappring 230 L eingesetzt.

Das Halteelement 218 L weist einen flachen länglichen Arm 232 L auf, der sich vom quaderförmigen Teil 224 L weg nach außen erstreckt. Der Arm 232 L ist etwas länger als der Kon­ takthalter 98 L, er trägt an seinem äußeren Ende eine U-för­ mige Auflage 108 L, die so angeordnet ist, daß sie das freie Ende 106 L des Halters 98 L aufnimmt, wie es oben mit Bezug auf den Kontakthalter 98 der ersten Ausführungsform be­ schrieben ist.

Das freie Ende 106 L des Kontakthalters 98 L wird durch eine Feder 112 L, die durch eine Halterung 118 L gehalten wird, gegen die Basis 110 L der Auflage 108 L gedrückt.

Der Kontakt 54 L wird durch einen Anschlußblock 136 L im Hal­ ter 98 L gehalten. Am Anschlußblock 136 L ist die Zuleitung 58 L zur Verbindung des beweglichen Kontaktes 54 L mit der Testbrücke angebracht.

Die hintere Haltefläche 180 weist eine Anordnung (Gleitele­ ment 190 T, Gleitblock 194 T, Mikrometerschraube 206 T, Kon­ takthalter 98 T usw.) für den beweglichen Kontakt 54 T auf, die mit der bezüglich des vorderen Kontaktes 54 L beschrie­ benen identisch ist.

Wie erwähnt ist die hintere Haltefläche 180 T relativ zur vorderen Haltefläche 180 L zurückgesetzt. Der hintere Kon­ takthalter 98 T ist daher neben und im wesentlichen parallel zum vorderen Kontakthalter 98 L angeordnet. Die parallele Anordnung der Kontakthalter 98 T und 98 L stellt sicher, daß die Drehachsen 103 L, 103 T beider Kontakthalter so gerichtet sind, daß sie in Ebenen liegen, die senkrecht zur Bewegungs­ richtung der Kondensatoren 24 bei deren Bewegung in die Testpositionen 26 L, 26 T ist. Wie erwähnt wird durch eine solche Orientierung der Kontakthalter die seitliche Kraft, die als Ergebnis der Bewegung der Kondensatoren 24 gegen die beweglichen Kontakte 54 T, 54 L erzeugt wird, klein gehalten.

Die gegenseitige Nähe der beweglichen Kontakte 54 L, 54 T er­ fordert ein Abschirmen von Einstreuungen durch den jeweils anderen Kontakt. Entsprechend ist eine dünne Abschirmung 234 mittels Schrauben 236 an der Seite 238 des Halteelementarmes 232 L befestigt, die dem hinteren Kontakthalter 98 T gegen­ überliegt. Die Abschirmung 234 ist ein elektrisch leitendes Element, das mit Isolierband umwickelt ist. Die Abschirmung 234 ist so geformt, daß sie die Seite des hinteren Kontakt­ halters 98 T abdeckt, die dem vorderen Kontakthalter 98 L ge­ genüberliegt. Am leitenden Abschnitt der Abschirmung 234 ist zur Erdung eine isolierte Erdungsleitung 240 befestigt. Auch die Gleitplatte 220 T, an der der hintere Kontakthalter 98 T angebracht ist, ist mit Isolierband versehen. Das Band ver­ hindert die Einstreuung von Ladungen vom Kontakt 54 T auf die angrenzenden Halteelemente.

Wie eingangs erwähnt, ist es oft erforderlich, jegliches Verkratzen und jegliche Beschädigung der Anschlüsse der ge­ testeten Bauteile durch die Kontakte der Testvorrichtung zu vermeiden. In den Fig. 6 und 7 ist eine entsprechende alter­ native Ausführung des beweglichen Kontaktes gezeigt, die einen Kontaktabschnitt aufweist, der freitragend angeordnet ist, so daß nur eine geringe Kontaktkraft erzeugt wird, wenn das Bauteil zwischen den beweglichen und den feststehenden Kontakt gleitet.

Die Kontaktanordnung 300 der Fig. 6 und 7 beinhaltet einen Kontakthalter 302, einen flexiblen Kontakt 304 und eine Klemmplatte 306. Der Kontakthalter 302 ersetzt den Kontakt­ halter 98 der ersten Ausführungsform bzw. die Kontakte 98 T und 98 L der zweiten Ausführungsform. Zum Zwecke der Erläu­ terung wird angenommen, daß der Kontakthalter 302 an dem vorderen Halteelement 218 L der in der Fig. 4 gezeigten Aus­ führungsform angebracht ist.

Der Kontakthalter 302 ist ein längliches Element aus einem starren, isolierenden Material. Nahe dem einen Ende 301 des Kontakthalters 302 (in der Fig. 6 dem linken Ende) ist darin eine durchgehende Querbohrung 308 ausgebildet. Die Bohrung 308 ist dafür vorgesehen, den Drehzapfen 226 L aufzunehmen, der sich am Halteelement 218 L befindet. In die Nut 228 L am Ende des Drehzapfens 226 L ist der Schnappring 230 L einge­ setzt.

Der Kontakthalter 302 dreht oder bewegt sich relativ zum Halteelement 218, an dem er angebracht ist, nicht, im Gegen­ satz zu den Kontakthaltern der obigen ersten und zweiten Ausführungsform, wenn ein Kondensator 24 unter den Kontakt 304 gleitet. Nahe dem rechten Ende 314 des Kontakthalters 302 ist eine Öffnung 312 ausgebildet. Dieses Ende 314 ist dafür vorgesehen, von der U-förmigen Auflage 108 L (bzw. der Auflage 108 bei der ersten Ausführungsform) aufgenommen zu werden. Durch die Öffnung 312 erstreckt sich eine Schraube 316, die in eine Bohrung 317 in der Basis 110 L der Auflage 108 L eingeschraubt ist, um das rechte Ende 314 relativ zur Auflage 108 L unbeweglich festzuhalten.

Die Unterseite 315 des linken Endes 301 des Kontakthalters 302 ist im wesentlichen flach und verläuft parallel zur flachen Oberseite 319 des Kontakthalters 302, mit der Aus­ nahme einer Nut 318, die sich vom linken Ende 301 für etwa 25% der Länge des Kontakthalters 302 nach innen erstreckt. Vom inneren Ende 320 der Nut 318 ist die Unterseite 315 des Kontakthalters 302 für etwa 40% von dessen Länge nach oben geneigt. Vom oberen Ende 322 des geneigten Abschnittes er­ streckt sich die Unterseite 315 des Kontakthalters 302 wie­ der im wesentlichen parallel zur Oberseite 319. Diese Form der Unterseite 315 des Kontakthalters ergibt genügend Frei­ raum für eine Bewegung des Kontaktes 304.

Der Kontakt 304 ist ein dünnes, flaches, elastisches Element mit einer Breite W, die im allgemeinen größer als seine Dicke T ist. Vorzugsweise besteht der Kontakt 304 aus einer Beryllium-Kupfer-Legierung mit einem Elastizitätsmodul von etwa 11×10⁶N/cm² (16×10⁶ psi).

Der Kontakt 304 ist freitragend, das heißt einseitig einge­ spannt am Halter 302 angebracht. Entsprechend weist der Kontakt 304 ein freies Ende 323 und ein festes Ende 324 auf. Das feste Ende 324 wird von der Nut 318 in der Unterseite 315 des linken Endes 301 des Kontakthalters 302 aufgenommen. Das feste Ende 324 ist durch die flache, metallische Klemm­ platte 306 am Kontakthalter 302 befestigt. Dazu weist das feste Ende 324 des Kontaktes 304 ein elliptisches Loch 326 auf, und der äußere Abschnitt des festen Endes 324 zeigt eine gekrümmte Nut 328. Das elliptische Loch 326 und die gekrümmte Nut 328 sind mit Gewindebohrungen (nicht gezeigt) ausgerichtet, die sich in der Unterseite 315 des Kontakt­ halters 302 an dessen linkem Ende 301 befinden. Entsprechend ausgerichtete, eingesenkte Bohrungen 332 befinden sich in dem Abschnitt 334 der Klemmplatte 306, der über das feste Ende 324 des Kontakthalters 302 gesetzt wird. Schrauben 336 mit Köpfen, die von den eingesenkten Bereichen der Klemm­ plattenlöcher 332 aufgenommen werden, verlaufen durch die Bohrung 326 und die Einkerbung 328 im Kontakt 304 und sind in die Bohrungen im Kontakthalter 302 eingeschraubt, wodurch der Kontakt 304 am Halter 302 befestigt ist.

Ein Ende 337 der Klemmplatte 306 erstreckt sich von der Halter-Unterseite 315 nach außen, es ist etwas breiter als der restliche Abschnitt der Klemmplatte. Dieses Ende 337 weist eine Gewindebohrung 338 auf. Die Bohrung 338 dient zur Aufnahme einer Schraube 340 zum Befestigen der Zuleitung 58 L an der Klemmplatte 306, um dadurch eine elektrische Verbin­ dung zwischen dem Kontakt 304 und der Testbrücke zu schaf­ fen.

Das feste Ende 324 des Kontaktes 304 ist in einer Ebene angeordnet, die im wesentlichen parallel zur Ebene der Anschlußflächen 56 der Kondensatoren 24 liegt, die in die Testposition 26 L bewegt werden. Die äußeren 25% des freien Endes 323 des Kontaktes 304 sind unter einem Winkel von etwa 45° von der Ebene des festen Endes 324 nach unten geneigt und enden in einem kurzen, nach oben zeigenden Ansatz 342. Der Ansatz 342 ergibt einen glatten Kontaktabschnitt 344 an der Unterseite des Kontaktes 304, wobei dieser Abschnitt 344 derjenige Abschnitt des Kontaktes 304 ist, der mit der An­ schlußfläche 56 des Kondensators 24 in Eingriff kommt.

Die Gleitkontakt-Testvorrichtung mit der Kontaktanordnung 300 der Fig. 6 und 7 wird so eingestellt (vgl. die obige Beschreibung für den Gleitblock 194 L und die Mikrometer­ schraube 206 L), daß der Kontaktabschnitt 344 des Kontaktes 304 innerhalb des Abstandes "H" zwischen der Oberseite 38 der Treibplatte 30 und der Ebene der Oberseite 56 des Kon­ densatoranschlusses liegt.

Wenn der Kontakt 304 derart positioniert ist, kommt ein Kondensator 24, der in die Testposition unter den Kontakt­ abschnitt 344 gleitet, damit in Eingriff, so daß das freie Ende 323 des Kontaktes 304 von der Oberfläche 56 des Konden­ sators nach oben bewegt wird. Die als Ergebnis dieser Aus­ lenkung durch den Kontakt 304 ausgeübte Reaktionskraft reicht aus, damit der Kontaktabschnitt 344 (und der unter dem Kondensator liegende Kopf des feststehenden Kontaktes 44, vgl. Fig. 3) eine Oxidschicht auf den Anschlußflächen 52, 56 durchdringt.

Es ist ersichtlich, daß der Kontakt 304 in der Art eines freien oder einseitig befestigten Hebels wirkt. Die durch den Kontakt auf die Kontaktfläche 56 des Kondensatoran­ schlusses ausgeübte Kraft ist daher proportional zur Auslen­ kung des freien Endes 323 des Kontaktes 304, wobei die Größe der Kraft eine Funktion der Kontaktlänge, des Elasti­ zitätsmoduls und des Biege-Trägheitsmomentes ist.

Für eine maximal zur Verfügung stehende Auslenkung (die Strecke "H" der Fig. 6) können die Art des Materiales und die Abmessungen des Querschnittes des Kontaktes 304 so ge­ wählt werden, daß die durch den Kontaktabschnitt 344 auf die Anschlußfläche 56 eines Kondensators ausgeübte Kraft einer­ seits zur Durchdringung einer Oxidschicht ausreicht und andererseits nicht so groß ist, daß der Anschluß durch den Kontakt verkratzt oder beschädigt wird.

Gute Kondensator-Testergebnisse ohne Beschädigung der An­ schlüsse werden insbesondere mit einem Kontakt 304 erhalten, der nahe dem Kontaktabschnitt 344 eine verringerte Quer­ schnittsfläche (und damit ein verringertes Biege-Trägheits­ moment) aufweist. Das freie Ende 323 des Kontaktes 304 ist dabei so beschnitten, daß die Querschnittsfläche des Kon­ taktes im Bereich des Kontaktabschnittes 344 um etwa 66% verringert ist.

Die Verringerung des Biege-Trägheitsmoments für den Kontakt 304 ergibt eine entsprechend verringerte Kontaktkraft für eine gegebene Auslenkung des freien Endes 323 des Kontaktes. Die geringe Veränderung in der Kontaktkraft pro Einheits- Veränderung der Auslenkung (das Ausmaß der Auslenkung, das durch den Bediener der Vorrichtung einstellbar ist) erlaubt eine sehr genaue Einstellung der Kontaktkraft, so daß die Kondensatoren zuverlässig getestet werden können, ohne daß die Anschlüsse verkratzt werden.

Bei den beschriebenen Ausführungsformen sind viele Modifi­ kationen möglich. Beispielsweise kann der oben beschriebene Kontakt 304 aus einem Drahtstück oder auch aus zwei Draht­ stücken bestehen, deren freie Enden miteinander verbunden sind.

Claims (17)

1. Vorrichtung zum Testen elektronischer Bauteile (24), die Anschlüsse (34, 36) aufweisen, die an entgegengesetzten En­ den der Bauteile ausgebildet sind, gekennzeich­ net durch

• (a) einen ersten Kontakt (44),
• (b) einen Kontakthalter (98),
• (c) einen zweiten Kontakt (54), der am Kontakthalter be­ festigt ist, und durch
• (d) eine Positioniereinrichtung, die den zweiten Kontakt ständig in eine Position drückt, die vom ersten Kontakt einen bestimmten Abstand hat, der kleiner ist als der Abstand zwischen den Anschlüssen der elektronischen Bau­ teile, wobei die Positioniereinrichtung eine Mikrometer­ schraube (90) zum Ändern der Position des Kontakthalters enthält.

2. Vorrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Kontakthalter (98) mit einem Halteblock (84) verbunden ist, der an einem Ständer (60) angebracht ist, und daß am Ständer Federn (88) vorgesehen sind, die den Halteblock ständig gegen die Mikrometerschraube (90) drücken.

3. Vorrichtung zum Testen elektronischer Bauteile (24), die Anschlüsse (34, 36) aufweisen, die an entgegengesetzten En­ den der Bauteile ausgebildet sind, gekennzeich­ net durch

• (a) einen ersten elektrisch leitenden Kontakt (44),
• (b) einen Kontakthalter (98),
• (c) einen zweiten elektrisch leitenden Kontakt (54), der am Kontakthalter befestigt ist und sich über den ersten Kontakt erstreckt,
• (d) eine Vorspanneinrichtung (112, 118) zum Vorspannen des zweiten Kontaktes zum ersten Kontakt hin, so daß der erste und der zweite Kontakt zwangsläufig auf die An­ schlüsse des elektronischen Bauteiles drücken, wenn dieses zwischen den ersten und zweiten Kontakt gleitet, und durch
• (e) eine Klemmeinrichtung (59, 71), die am Kontakthalter befestigt ist und die den zweiten Kontakt abnehmbar am Kontakthalter festklemmt.

4. Verfahren zum Testen elektronischer Bauteile (24), die Anschlüsse (34, 36) aufweisen, die an entgegengesetzten En­ den der Bauteile ausgebildet sind, wobei die Bauteile auf­ einanderfolgend über eine Testposition (26; 26 L) hinweg bewegt werden, gekennzeichnet durch die Verfahrensschritte

• (a) des Anbringens eines ersten feststehendes Kontaktes (44; 44 L) derart, daß er über die Oberfläche der Testposition vorsteht, so daß ein Anschluß des elektronischen Bautei­ les, das in die Testposition bewegt wird, über den fest­ stehenden Kontakt gleitet,
• (b) des Haltens eines ersten beweglichen Kontaktes (54; 54 L) in einer Position, die sich in einem ersten Abstand vom ersten feststehenden Kontakt befindet, der kleiner ist als der Abstand zwischen den Anschlüssen des elektroni­ schen Bauteiles, und
• (c) des Vorspannens des beweglichen Kontaktes derart, daß er zwangsläufig über den anderen Anschluß des elektroni­ schen Bauteiles gleitet, wenn dieses in die Testposition bewegt wird.

5. Verfahren nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch die wei­ teren Verfahrensschritte

• (a) des Anbringens eines zweiten feststehenden Kontaktes (44 T) in der Nähe des ersten feststehenden Kontaktes (44 L),
• (b) des Haltens eines zweiten beweglichen Kontaktes (54 T) in der Nähe des ersten beweglichen Kontaktes (54 L) derart, daß sich der zweite bewegliche Kontakt im ersten Abstand vom zweiten feststehenden Kontakt befindet, und
• (c) des Vorspannens des zweiten beweglichen Kontaktes der­ art, daß er zwangsläufig über den anderen Anschluß des elektronischen Bauteiles gleitet, das zwischen den zwei­ ten feststehenden und den zweiten beweglichen Kontakt gebracht wird.

6. Verfahren nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die elektronischen Bauteile Kondensatoren (24) sind, und daß die weiteren Verfahrensschritte

• (a) des Testens der Kapazität derjenigen Kondensatoren, die sich zwischen dem ersten beweglichen Kontakt und dem ersten feststehenden Kontakt befinden, und
• (b) des Messens der dielektrischen Durchschlagsfestigkeit der Kondensatoren, die sich zwischen dem zweiten beweg­ lichen Kontakt und dem zweiten feststehenden Kontakt befinden,

vorgesehen sind.

7. Verfahren nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch den wei­ teren Verfahrensschritt des einstellbaren Anbringens des ersten beweglichen Kontaktes (54 L) und des zweiten beweg­ lichen Kontaktes (54 T) derart, daß entsprechend Änderungen in der Größe der elektronischen Bauteile Änderungen im ersten Abstand möglich sind.

8. Vorrichtung zum Testen elektronischer Bauteile (24), die Anschlüsse (34, 36) aufweisen, die an gegenüberliegenden En­ den der Bauteile ausgebildet sind, wobei die Bauteile auf­ einanderfolgend durch eine erste Testposition (26 L) und eine zweite Testposition (26 T) bewegt werden, gekenn­ zeichnet durch

• (a) einen ersten feststehenden Kontakt (44 L), der über die Oberfläche der ersten Testposition vorsteht,
• (b) einen zweiten feststehenden Kontakt (44 T), der über die Oberfläche der zweiten Testposition vorsteht,
• (c) ein Gestell (166),
• (d) einen ersten Kontakthalter (98 L), der am Gestell be­ festigt ist und mit dem ein erster beweglicher Kontakt (54 L) so verbunden ist, daß er davon vorsteht,
• (e) einen zweiten Kontakthalter (98 T), der am Gestell be­ festigt ist und mit dem ein zweiter beweglichen Kontakt (54 T) so verbunden ist, daß er davon vorsteht, und durch
• (f) eine Positioniereinrichtung (206 L, 206 T) zum dauernden Vorspannen des ersten beweglichen Kontaktes in eine Position, die sich in einem ersten Abstand vom ersten feststehenden Kontakt befindet, wobei dieser Abstand kleiner ist als der Abstand zwischen den Anschlüssen der elektronischen Bauteile, und zum Vorspannen des zweiten beweglichen Kontaktes in eine Position, die sich im ersten Abstand von dem zweiten feststehenden Kontakt befindet, sowie zum Anordnen des ersten beweglichen Kontaktes derart, daß er vom ersten feststehenden Kon­ takt weg bewegbar ist, wenn ein elektronisches Bauteil zwischen den ersten beweglichen und den ersten fest­ stehenden Kontakt gleitet, und zum Anordnen des zweiten beweglichen Kontaktes derart, daß er vom zweiten fest­ stehenden Kontakt weg bewegbar ist, wenn ein elektroni­ sches Bauteil zwischen den zweiten beweglichen und den zweiten feststehenden Kontakt gleitet.

9. Vorrichtung nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch eine Abschirmung (234) zwischen dem ersten und dem zweiten Kon­ takthalter (98 L, 98 T), um die Kontakte vor gegenseitigen Einstreuungen zu schützen.

10. Vorrichtung zum Testen elektronischer Bauteile (24), die Anschlüsse (34, 36) aufweisen, die an entgegengesetzten En­ den der Bauteile ausgebildet sind, wobei die Anschlüsse über die Oberfläche einer Testposition (26) geführt werden, gekennzeichnet durch

• (a) einen ersten elektrisch leitenden Kontakt (44), der über die Oberfläche vorsteht, über die die Bauteile geführt werden,
• (b) einen Kontakthalter (98),
• (c) einen zweiten elektrisch leitenden Kontakt (54), der am Kontakthalter in der Nähe des ersten Kontaktes angeord­ net ist, und durch
• (d) eine Vorspanneinrichtung zum Vorspannen des zweiten Kontaktes zum ersten Kontakt hin, so daß der erste und der zweite Kontakt zwangsläufig auf die Anschlüsse des elektronischen Bauteiles drücken, wenn dieses zwischen den ersten und zweiten Kontakt gleitet.

11. Vorrichtung nach Anspruch 10, gekennzeichnet durch eine Klemmeinrichtung (59, 71), die am Kontakthalter befestigt ist und die den zweiten Kontakt abnehmbar am Kontakthalter festklemmt.

12. Kontaktanordnung zum Positionieren eines Kontaktab­ schnittes (344) im Weg eines sich bewegenden Bauteiles (24), gekennzeichnet durch

• - einen Kontakthalter (302), der in der Nähe des Weges des Bauteiles angeordnet ist,
• - einen biegbaren Kontakt (304), der an einem ersten Ende (301) des Kontakthalters befestigt ist, wobei das zweite Ende (323) des Kontaktes im Weg des Bauteiles derart an­ geordnet werden kann, daß es ausgelenkt wird, wenn das Bauteil entlang seines Weges mit dem Kontakt in Eingriff kommt, und durch
• - eine Einstelleinrichtung zum Einstellen der Position des zweiten Endes des Kontaktes relativ zum Bauteil, um den Abstand zu ändern, um den der Kontakt ausgelenkt wird, wenn das Bauteil mit dem Kontakt in Eingriff kommt.

13. Anordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß der Kontakt (304) ein flacher Streifen mit einem umgebogenen zweiten Ende (323) ist.

14. Anordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß sich das Biege-Trägheitsmoment des Kontaktes (304) über des­ sen Länge ändert.

15. Anordnung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß das Biege-Trägheitsmoment des Kontaktes (304) in der Nähe des zweiten Endes (323) des Kontaktes verringert ist.

16. Anordnung nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, daß das zweite Ende (323) des Kontaktes (304) so geformt ist, daß ein glatter Kontaktabschnitt (344) entsteht, an dem das Bauteil (24) anliegt.