DE3922989A1 - Abgassensor und verfahren zu seiner herstellung - Google Patents
Abgassensor und verfahren zu seiner herstellungInfo
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Description
Die vorliegende Erfindung betrifft einen Abgassensor,
in dem ein Metalloxid-Halbleiter, wie z.B. BaSnO3,
SrSnO3 oder CaSnO3 eingesetzt wird, sowie ein Verfahren
zu dessen Herstellung. Die Erfindung verhindert insbe
sondere eine Verschlechterung der Ansprechcharakteristik
des Sensors und eine Festphasenreaktion zwischen den
Sensorelektroden und dem Metalloxid-Halbleiter.
Abgassensoren unter Verwendung von BaSnO3 wurden bereits
untersucht. Hierzu wird auf den folgenden Stand der
Technik verwiesen: US-PS 47 01 739, EP-PS 1 57 328, US-PS
48 16 800, US-Anmeldung Ser.Nr. 1 01 762, EP-Anmeldung
8 71 14 147.9, US-Anmeldung Ser. Nr. 323 898 sowie EP-
Anmeldung 8 91 04 423.2.
Der BaSnO3-Abgassensor ist besonders geeignet zur
Kontrolle des Luft/Brennstoffverhältnisses von Automobil
motoren und auch für die Kontrolle eines Brenner-Luft/Brenn
stoffverhältnisses und dergleichen. CaSnO3 und
SrSnO3 sind homologe Verbindungen von BaSnO3.
Die Ansprechcharakteristiken von Abgassensoren sind
die wichtigsten Charakteristiken. Infolgedessen ist
es wichtig, eine Verschlechterung der
Ansprechcharakteristiken zu verhindern. Im allgemeinen
ist die Ansprechgeschwindigkeit von Abgassensoren bei
niedrigen Temperaturen niedrig und bei hohen Temperaturen
hoch. Bei BaSnO3 gibt es eine signifikante Verschiebung
der Ansprechcharakteristiken bei niedrigen Temperaturen
während seiner Verwendung.
Ein weiteres Problem bei den Abgassensoren, die BaSnO3,
SrSnO3 oder CaSnO3 verwenden, ist die Korrosion der
Edelmetallelektrode der Sensoren durch Sn in BaSnO3,
was auf die hohe Aktivität des Sn in BaSnO3 und der
gleichen zurückzuführen ist. Die Korrosion verbreitet
sich durch Legierungsbildung von Sn und dem Edelmetall
durch die Diffusion des Sn aus dem Halbleiter in die
Elektroden und schwächt dadurch die Elektroden. Zur
Lösung dieses Problems wurde gemäß der US-PS 48 16 800
bereits vorgeschlagen, ZrO2 zu verwenden, wobei
auf den kristallinen Korngrenzen Pt abgelagert war.
Die Diffusion des Sn durch die kristallinen Korngrenzen
von Pt wird durch Zugabe von ZrO2 zu Pt verhindert,
und infolgedessen wird auch die Korrosion der Elektroden
vermieden. Trotz dieses verbesserten Verfahrens ist
jedoch der Schutz der Elektroden unter extremen
Bedingungen nicht völlig zufriedenstellend, wobei eine
Diffusion des Sn in die Elektroden stattfindet.
Aus diesen Gründen ist es erforderlich, für die
praktische Anwendung von Abgassensoren eine Ver
schlechterung der Ansprechcharakteristiken zu verhindern
und die Elektroden noch besser zu schützen.
Gegenstand der vorliegenden Erfindung ist demnach, bei
einem Abgassensor, der die Perovskitverbindung ASnO3
als Sensormaterial verwendet, eine Verschlechterung
der Ansprechcharakteristiken zu verhindern.
Dadurch, daß die Diffusion des Sn in den Elektroden
verhindert wird, wird eine Schwächung der Sensor
elektroden vermieden.
Ein weiterer Gegenstand der Erfindung ist ein Her
stellungsverfahren für einen Abgassensor, der die obigen
Erfordernisse erfüllt.
Erfindungsgemäß wird eine Perovskitverbindung ASnO3,
wobei A mindestens ein Metall aus der Gruppe Ba, Sr
und Ca bedeutet, die mit mindestens einem Paar Edel
metallelektroden verbunden ist, als Sensormaterial
verwendet.
Die Oberfläche der Edelmetallelektroden wird außerdem
an ihrem Kontaktteil mit dem ASnO3 mit einem elektrisch
leitenden komplexen Oxidfilm des ASnO3 und einem Oxid
eines Basismetalls, das verschieden ist von jedem Metall
bestandteil des ASnO3, überzogen.
Durch diesen komplexen Oxidfilm wird eine ungünstige
Beeinflussung der Fläche zwischen dem ASnO3 und den
Edelmetallelektroden verhindert und infolgedessen eine
Verschlechterung der Ansprechcharakteristiken gleichfalls
vermieden.
Der elektrisch leitende komplexe Oxidfilm, der auf den
Elektroden ausgebildet wird, verhindert die Reaktion
zwischen ASnO3 und den Elektroden bzw. wirkt wie eine
Pufferschicht zwischen den beiden und verhindert die
Korrosion der Elektroden.
Die Ausbildung eines leitenden komplexen Oxidfilms wurde
folgendermaßen nachgewiesen: Auf den
Platinelektrodendrähten wurde durch thermische Zersetzung
von Mg-Ethylat ein MgO-Film ausgebildet. Dann wurde
durch Preßverformung von BaSnO3-Pulver mit den darin
eingebetteten Elektroden und nachfolgendes Sintern ein
Abgassensor hergestellt. Während MgO ein Isolator ist,
dient die so hergestellte Pt-Elektrode als eine Elektrode
für BaSnO3, und eine Änderung des Sensorwiderstands
infolge dieser MgO-Behandlung ist nicht feststellbar.
Dieses Phänomen kann nicht durch die Ausbildung eines
MgO-Films auf der Elektrodenoberfläche erklärt werden.
Die einfachste Erklärung dieses Phänomens ist, daß ein
elektrisch leitender komplexer Oxidfilm von MgO und
BaSnO3 während des Sinterns durch die Reaktion von MgO
und BaSnO3 gebildet wird. Das Reaktionsprodukt ist
wahrscheinlich eine Mischung aus MgO und einer
Verbindung, in der der Platz des Ba in dem BaSnO3
teilweise durch Mg ersetzt wurde, oder eine Mischung
aus Mg2SnO4 und BaSnO3.
Es wurden verschiedene Arten von Basismetalloxidfilmen
untersucht, außer von MgO. In jedem Fall wurde der
Basismetalloxidfilm auf der Oberfläche der Pt-Elektroden
drähte ausgebildet, dann wurden die Elektroden in BaSnO3-Pulver
eingebettet und das BaSnO3 wurde mit den
Elektroden gesintert. Bei allen Untersuchungen dienten
die Pt-Elektrodendrähte mit der Basismetalloxidfilm-
Behandlung als Sensorelektroden. Der Widerstand des
Sensors ist nicht stark abhängig von der Art des Basis
metalls, während die Verhinderung der Verschlechterung
der Ansprechcharakteristiken und die Verhinderung der
Elektrodenkorrosion von der Art des Basismetalls abhängt.
Wenn, wie anfangs, der Basismetalloxidfilm als ein
einfacher Metalloxidfilm vorliegt, differiert der Sensor
widerstand sehr stark in Abhängigkeit von der Art des
Basismetalls. Die Tatsache, daß der Sensorwiderstand
von der Art des Basismetalls nicht abhängt, kann nicht
erklärt werden durch die Annahme, daß der Basismetall
oxidfilm in seinem ursprünglichen Zustand vorliegt.
Zur Untersuchung des Zustands des Films wurde ein Oxid
film von La-Ti auf den Pt-Elektroden ausgebildet. An
einem Teil des Films, der nicht in Kontakt mit BaSnO3
war, wurde er durch Röntgenbeugungsanalyse als La2Ti2O7,
einem isolierenden Material, identifiziert. Trotz der
Ausbildung des isolierenden Films änderte sich der
Sensorwiderstand nicht wesentlich. Die Tatsache, daß
die Änderung des Widerstands nicht sehr wesentlich war,
ist, ausgehend von der Annahme, daß der La-Ti-Oxidfilm
auf der Elektrodenfläche einfach zugegen war,
nur schwierig zu erklären.
Ein Abgassensor unter Verwendung dieses La-Ti-Oxidfilms
wurde in der Auspuffanlage eines Automobilmotors be
festigt und verwendet. Nach der Verwendung wurde eine
Elementaranalyse von La, Ba, Sn, Pt des La-Ti-Oxidfilms
durchgeführt. Sie ergab, daß der Ba-Gehalt und Sn-Gehalt
jeweils 40 Atm-%, der La-Gehalt 10 Atm-% und der
Pt-Gehalt 10 Atm-% war. Atm-% bedeutet der jeweilige Gehalt
des Elements in dem Film, bezogen auf die Gesamtsumme
von Ba+Sn+La+Pt=100 Atm-%. Dabei wird der Gehalt
an Ti und O nicht mitgerechnet. Die Hauptbestandteile
des Films waren Ba und Sn, die aus dem umgebenden BaSnO3
erhalten wurden. Die Verhältnisse Ba/La und Sn/La
betrugen 4. Während die Anfangsdicke dieses Films 1 µm
betrug, war er nach dem Gebrauch auf 2 µm gequollen.
Dies zeigte, daß der Film während der Verwendung aus
dem BaSnO3 sowohl Ba als auch Sn absorbierte. Unter
Berücksichtigung der Tatsache, daß die Filmdicke sich
während des Gebrauchs verdoppelte, wurden die
Anfangswerte von Ba/La und Sn/La mit etwa 2 geschätzt.
Dies zeigte, daß der Film von Anfang an Ba und Sn
enthielt. Sowohl die Verschiebung des Widerstandes als
auch der Ansprechgeschwindigkeit des Sensors während
der Verwendung waren nur gering. Dies zeigt, daß der
Film sich nur langsam vom Anfangszustand zum Endzustand
änderte und daß dazwischen keine wesentlichen Änderungen
stattfanden. Daher ist es nicht exakt, in Betracht zu
ziehen, daß der anfängliche Film lediglich ein
Metalloxidfilm von La und Ti war und daß er dann in
einen komplexen Oxidfilm von La, Ti, Ba und Sn überging.
Diese Ergebnisse wurden zu folgendem Schluß zusammen
gefaßt: Auf der Oberfläche der Pt-Elektroden wurden
Basismetalloxidfilme ausgebildet, die Elektroden wurden
dann in BaSnO3 eingebettet und das BaSnO3 gesintert.
BaSnO3 reagiert ebenso wie SrSnO3 und CaSnO3 leicht
mit verschiedenen Basismetalloxiden in fester Phase.
Durch die Reaktion mit MgO ergibt sich beispielsweise
Mg2SnO4. Der Platz des Ba in BaSnO3 kann durch La, Mg,
Sr, Ca und dergleichen substituiert werden. Der Platz
des Sn in BaSnO3 kann durch ein Übergangsmetall, wie
z.B. Ti, substituiert werden. Die meisten der so
erhaltenen Verbindungen sind elektrisch leitend. Damit
ist es augenscheinlich, daß die Basismetalloxidfilme
während des Sinterverfahrens mit BaSnO3 reagieren und
daß zwischen ihnen komplexe Oxidfilme ausgebildet werden.
Berücksichtigt man dies, so können die Tatsache, daß
isolierende Basismetalloxidfilme verwendbar sind, und
auch die Ergebnisse der Elementaranalyse des La-Ti-Films
erklärt werden. Die Tatsache, daß der Sensorwiderstand
sich mit einer Änderung der Art der Basismetalloxide
nur unwesentlich ändert, ist ebenfalls erklärbar.
Der so ausgebildete Oxidfilm verändert die Zwischen
fläche zwischen ASnO3 und den Elektroden und verhindert
infolgedessen eine Verschlechterung der Ansprech
charakteristiken. Der dazwischenliegende Film verhindert
auch die Sn-Diffusion in die Elektroden. Während der
Verwendung absorbiert der Film schrittweise das umgebende
BaSnO3.
Es wurde gefunden, daß besonders bevorzugte Basismetall
oxide die folgenden sind: Oxide von La und Ti, Oxide
von Fe und Erdalkalimetallen, die unterschiedlich sind
von dem Erdalkalimetall in ASnO3, und Oxide von Erd
alkalimetallen, die verschieden sind von dem Erdalkali
metall in ASnO3. Weiterhin sind verwendbar einfache
La-Oxide, Oxide von La und Co, Oxide von La und Ni,
Oxide von La und Cu und dergleichen. Weiterhin sind
auch Oxide von Fe und Co verwendbar.
Bei der Verwendung von BaSnO3 sind Oxide von La und
Ti, Oxide von Sr und Fe und Magnesiumoxid die bevorzugten
Materialien.
Unter diesen Filmen ist der Oxidfilm von La-Ti der
gleichförmigste und vollständigste. Infolgedessen ist
der Schutz der Elektroden gegen Korrosion am besten,
wenn der La-Ti-Oxidfilm verwendet wird. Es wurde ge
funden, daß außer beim La-Ti-Film die Filme viele Poren
aufweisen und auf der Oberfläche der Elektroden in Form
von Clustern abgelagert werden, wenn sie vor der
Einbettung in BaSnO3 beobachtet werden.
Die Dicke dieser Filme wuchs während ihrer Verwendung
schrittweise an. In beispielhaften Ausführungsformen
wurden Filme verwendet, deren Anfangsdicke bei der
Herstellung etwa 1 µm betrug, und der bevorzugte Bereich
der Anfangsdicke des Films betrug 0,01 bis 3 µm.
Im folgenden wird das Herstellungsverfahren des Abgas
sensors beispielhaft beschrieben. Zunächst wird ein
Basismetalloxidfilm auf der Oberfläche von Edelmetall
elektroden und dergleichen ausgebildet. Diese Elektroden
werde dann in BaSnO3-Pulver eingebettet und das BaSnO3
wird preßverformt und gesintert. Während des Sinters
reagiert das Basismetalloxid mit BaSnO3 zu einem
leitenden komplexen Oxidfilm.
Die Gestalt und Struktur des Sensors sind beliebig.
Beispielsweise kann ein Sensor, der Edelmetallfilm
elektroden mit einer Beschichtung des leitenden komplexen
Oxidfilms enthält, mit einer ASnO3-Bedeckung der
Elektroden verwendet werden. In den beispielhaften
Ausführungsformen werden Pt-ZrO2-Elektroden verwendet,
es kann als Elektrodenmaterial aber auch Ir, Rh, Pt-
Rh und einfaches Pt verwendet werden.
Die Erfindung wird anhand der folgenden Figuren bei
spielhaft näher erläutert.
Fig. 1 bis 6 zeigen charakteristische Diagramme,
die die Haltbarkeit des Abgassensors in einer
reduzierenden Atmosphäre bei einer hohen Temperatur
zeigt. Im einzelnen zeigt:
Fig. 1 die Änderung des dynamischen Widerstandes
und des statischen Widerstandes;
Fig. 2 die Änderung der Ansprechgeschwindig
keiten;
Fig. 3 bis 4F die Änderung des Ansprechverhaltens
eines Abgassensors;
Fig. 3 die mit einem konventionellen Abgas
sensor erhaltenen Ergebnisse;
Fig. 4A die Ergebnisse, die mit einem Sensor
mit einem komplexen Oxidfilm von La-Ti-
Oxid und BaSnO3 auf den Elektroden er
halten wurden;
Fig. 4B Ergebnisse, die mit einem Sensor mit
einem komplexen Oxidfilm von La-Cu-Oxid
und BaSnO3 auf den Elektroden erhalten
wurden;
Fig. 4C die Ergebnisse, die mit einem Sensor
mit einem komplexen Oxidfilm von Mg-Oxid
und BaSnO3 auf den Elektroden erhalten
wurden;
Fig. 4D die Ergebnisse, die mit einem Sensor
mit einem komplexen Oxidfilm von Sr-Fe-
Oxid und BaSnO3 auf den Elektroden er
halten wurden;
Fig. 4E die Ergebnisse, die mit einem Sensor
mit einem komplexen Oxidfilm von La-Cr-Oxid
und BaSnO3 auf den Elektroden er
halten wurden;
Fig. 4F die Ergebnisse, die mit einem Sensor
mit einem komplexen Oxidfilm von Ni-Oxid
und BaSnO3 auf den Elektroden erhalten
wurden;
Fig. 5 zeigt die Änderung des dynamischen Wider
standes;
Fig. 6 die Änderung des statischen Widerstandes;
Fig. 7 eine Draufsicht auf einen beispielhaften
Abgassensor;
Die Fig. 8 bis 10 zeigen
Elementaranalysen-Fotografien, die die Sn-Diffusion
in die reinen Pt-Elektroden zeigen;
Fig. 8 die Ergebnisse, die mit einer
konventionellen Elektrode ohne Bedeckung
eines Oxidfilms erhalten wurden;
Fig. 9 die Ergebnisse, die mit einer Elektrode
erhalten wurden, bestehend aus einer
Beschichtung mit einem komplexen Oxid
film von La-Ti-Oxid und BaSnO3;
Fig. 10 die Ergebnisse, erhalten mit einer
Elektrode, bestehend aus einer
Beschichtung mit einem komplexen Oxidfilm
von La-Oxid und BaSnO3;
Fig. 11 ein elektronisches Fotomikrograph mit
einer Vergrößerung von 3000, das einen
komplexen Oxidfilm von La-Ti-Oxid und
BaSnO3 auf einer Pt-ZrO2-Elektrode zeigt;
Fig. 12A ein weiteres elektronisches Fotomikro
graph mit einer Vergrößerung von 800
eines komplexen Oxidfilms von La-Ti-Oxid
und Ba-SnO3 auf einer Pt-ZrO2-Elektrode;
und
Fig. 12B bis 12D zeigen Elementaranalyse-Fotographien
von Elektroden mit den Verteilungen von
La, Pt und Sn in jeweils gleichen
Stellungen wie in Fig. 12A.
Der Aufbau eines in Versuchen verwendeten Abgassensors
ist in Fig. 7 gezeigt. Die Bezugsziffer 2 bezeichnet
ein hitzebeständiges isolierendes Substrat, wie z.B.
Al2O3, und es weist an seinem oberen Ende eine Aussparung
4 auf zur Aufnahme eines Sinterkörpers 6 aus einem
Perovskitmetalloxid-Halbleiter, wie z.B. BaSnO3, SrSnO3
oder CaSnO3. In den Sinterkörper 6 ist ein Paar
Edelmetallelektroden 8, 10 eingebettet und durch
Pt-Filmelektroden 12, 14 mit äußeren Leitungen 16, 18
verbunden. Die Oberflächen der Elektroden 8, 10 sind
mit einem komplexen Oxidfilm eines Basismetalloxids
und BaSnO3 zumindest an deren Kontaktteil mit dem Sinter
körper 6 aus BaSnO3 verbunden. Dieser Film wird später
beschrieben. Die Bezugsziffer 20 bezeichnet eine kompakte
Plasmaspraybeschichtung zum Halten des Sinterkörpers
6 in der Aussparung 4 und zum Schutz der Elektroden
8, 10 vor den Auspuffgasen durch eine Bedeckung ihrer
exponierten Oberflächen. Die verwendete Beschichtung
20 war ein MgAl2O4-Film mit einer Dicke von 20 µm, er
bedeckte etwa 20% der Oberfläche des Sinterkörpers
6.
Der Sinterkörper 6 aus BaSnO3 wurde nach den bereits
in der US-Anmeldung Ser.Nr. 1 01 762 und der europäischen
Patentanmeldung 8 71 14 147.9 beschriebenen Verfahren
hergestellt. Die Kristalle des BaSnO3×7 H2O wurden durch
Umsetzung einer wäßrigen Lösung von Natriumstannat mit
einer wäßrigen Lösung von Bariumchlorid in einem
stark alkalischen Medium durchgeführt. Über Zwischen
kristalle BaSnO3×5 H2O wurden nach Umkristallisation
bei erhöhten Temperaturen und Waschen mit Wasser nadel
artige Kristalle von BaSnO3×3 H2O abgetrennt. BaSnO3
mit der nadelartigen Ausbildung des BaSnO3×3 H2O wurde
durch thermische Zersetzung bei 1200°C in Luft herge
stellt.
Platindrähte unter Zusatz von ZrO2 mit einem Durchmesser
von 16 µm, hergestellt nach US-PS 48 16 800, wurden
als Sensorelektroden 8, 10 verwendet. In diesen
Elektroden ist etwa 0,06 Gew.-% ZrO2 in den kristallinen
Korngrenzen des Platins eingelagert, um die Diffusion
des Sn durch die Grenzen zu verhindern.
Die Elektroden 8, 10 wurden in eine alkoholische Lösung
von Metallethylat eingetaucht und das Ethylat nach
dem Trocknen thermisch zu einem Metalloxidfilm zersetzt,
der sich auf der Elektrodenoberfläche absetzte. Nach
der oben beschriebenen Methode wurden verschiedene
Arten von Metalloxidfilmen hergestellt. Die Konzentration
jedes Ethylats in der ethanolischen Lösung betrug 4,5
Gew.-%, bezogen auf das stabile Oxid. Beispielsweise
wurde L als La2O3, La-Ti als La2Ti2O7, La-Co, La-Ni,
La-Cu, und Sr-Fe als Perovskit-Verbindungen, wie La-
CoO3, LaNiO3 usw. und Fe-Co als FeCo2O4 berechnet.
Die thermische Zersetzung des Ethylats wurde nach einer
der beiden folgenden Verfahren durchgeführt: Durch
Zersetzung bei 800°C in Luft (Niedertemperaturtyp)
und durch eine zweistufige Zersetzung, zunächst bei
800°C in Luft und danach bei 1400°C in Luft (Hoch
temperaturtyp). Die nach dem Hochtemperaturtyp erhaltenen
Ergebnisse sind im folgenden aufgezeigt, wenn nicht
anders angegeben.
Die bei 1400°C behandelten Elektrodenoberflächen wurden
vor dem Einbetten in BaSnO3 durch elektronische Mikro
graphie beobachtet. Der La-Ti-Film war der
gleichförmigste. Es wurde gefunden, daß dieser Film
fast völlig gleichförmig und ohne Poren war. Die mit
den anderen Materialien ausgebildeten Filme waren
clusterartig und es wurden Poren oder exponierte Ober
flächenteile der Elektrode zwischen den Clustern fest
gestellt. Die clusterartigen Filme hatten Falten
an ihren Oberflächen. Die bei 800°C behandelten Filme
waren gleichförmiger als bei 1400°C behandelten.
Die Röntgenbeugungsanalyse der bei 1400°C behandelten
La-Ti-Oxidfilme zeigte die Bildung von La2Ti2O7. Ein
solcher Film hat isolierende Eigenschaften. Die Röntgen
beugungsanalyse von La-Ni, La-Co, Sr-Fe und Fe-Co zeigte
keine Bildung von LaNiO3, LaCoO3, SrFeO3 usw. Die Er
gebnisse der Elementaranalyse dieser Materialien zeigte,
daß die Filme eine nicht-stöchiometrische Zusammensetzung
hatten und daß einige der Bestandteile bei der
Verdampfung verlorengegangen waren. Die Dicke der Filme
vor dem Einbetten in BaSO3 betrug 0,5 bis 1 µm sowohl
bei Behandlung bei 1400°C als auch bei 800°C.
Die nadelartigen BaSnO3-Teilchen wurden ohne vorherige
Pulverisierung mit einem Paar Elektroden 8, 10 in eine
Form gefüllt und unter einem Druck von 4000 Kg/cm2 zu
einem Chip von 2 mm×2 mm×1 mm Dicke preßverformt.
Dann wurde in Fig. 7 gezeigte Sinterkörper 6 durch 2 h
langes Sintern bei 1400°C in Luft hergestellt. Die
Teilchen des BaSnO3 können vor der Verformung auch
pulverisiert werden. Die bevorzugten Sinterbedingungen
liegen bei 1200 bis 1600°C bei einer Sinterzeit von
1 bis 12 h in einer nicht-reduzierenden Atmosphäre, wie
z.B. Luft, Sauerstoff oder Stickstoff.
Während des Sinterverfahrens reagiert der Metalloxid
film auf den Elektroden mit BaSnO3 und wird in einen
komplexen Oxidfilm zwischen dem Metalloxid und BaSnO3
umgewandelt. Der erhaltene komplexe Oxidfilm ist allge
mein elektrisch leitfähig. Beispielsweise wurde gefunden,
daß die isolierenden Filme von MgO und La2Ti2O7 bei
der Reaktion mit BaSnO3 sich in leitende Filme um
wandeln. Es wird angenommen, daß die Produkte der
Reaktion von MgO und BaSnO3 die Verbindung Mg2SnO4 dar
stellen, sowie einige Verbindungen, die durch partielle
Substitution des Ba in BaSnO3 durch Mg gebildet werden.
Bei La2Ti2O7 ist die Bildung von La-Sn-Verbindungen
und Ba-Ti-Verbindungen zu erwarten. Außerdem ist die
Substitution von Ba durch La und von Sn durch Ti in
BaSnO3 ebenfalls zu erwarten. Die Oberfläche der
Elektroden mit dem La-Ti-Film fand sich am inneren Teil
des BaSnO3-Sinterkörpers 6. Die Anfangsdicke des Films
betrug etwa 1 µm.
Außer nach dem oben beschriebenen Verfahren kann der
Metalloxidfilm auch durch Zerstäuben, Ionenplattierung
oder thermische Zersetzung von Metallhyroxidsolen herge
stellt werden. Dieser so hergestellte Film wird gleich
falls durch Reaktion mit BaSnO3 oder dergleichen in
einen leitfähigen Film überführt. Die Struktur des
Sensors ist beliebig, beispielsweise kann ein Abgas
sensor unter Verwendung von Edelmetallfilmelektroden,
die mit dem leitfähigen komplexen Oxidfilm und weiterhin
mit BaSnO3 beschichtet sind oder dergleichen, hergestellt
werden. Andere Elektrodenmaterialien als Pt-ZrO2, wie
z.B. Rh, Ir, Pt-Rh, Pt-Au oder Rh-Ir können ebenfalls
verwendet werden.
Die Charakteristiken von Abgassensoren werden durch
Katalysatorgiftkomponenten des Abgases, wie z.B. P,
Zn, Pb oder Cl und durch stark reduzierende oder stark
oxidierende Gase bei hohen Temperaturen beeinflußt.
Unter diesen Faktoren ist der Einfluß von stark
reduzierenden Gasen bei hohen Temperaturen der
wichtigste. Als Beschleunigungstest für die
Verschlechterung von Sensoren werden sie in eine
Atmosphäre bei einem Aquivalentverhältnis λ = 0,85
bei 900°C behandelt. Die verwendete Atmosphäre war ein
Abgas der Methanluftverbrennung (λ = 0,85). Das Abgas
wurde bis auf seinen Taupunkt von 60°C abgekühlt und
durch einen elektrischen Ofen wieder auf 900°C erhitzt.
Die Änderung des Sensorwiderstandes R nach einer 200stündigen
Behandlung ist in Fig. 1 gezeigt. Das Symbol
"Ref" bezeichnet ein Vergleichsbeispiel ohne den
komplexen Oxidfilm auf den Elektroden. Die Symbole "La"
usw. bezeichnen die Metallkomponente des Films. Das
Wort "La-Film" usw. bedeutet den leitenden komplexen
Oxidfilm, der aus der Behandlung des La-Oxidfilms und
dergleichen und BaSnO3 resultiert. Die Art der komplexen
Oxidfilme wird durch die Metallkomponente bezeichnet.
In der folgenden Beschreibung werden die gleichen Be
zeichnungen wie oben verwendet. Die in Fig. 1 wiederge
gebenen Werte sind das Ergebnis einer Hochtemperatur-
Reaktion (thermische Zersetzung von Ethylaten bei 1400°C)
und bei der thermischen Zersetzung bei 800°C werden
vergleichbare Ergebnisse erhalten. Die in den Messungen
verwendete Atmosphäre haben die Werte λ = 0,98 (Red)
und λ = 1,02 (Ox), und die Temperaturen betrugen 500°C
und 850°C. Die Symbole ○ und ∆ bezeichnen den
stationären Widerstand und ⚫ und ∆ bezeichnen
den dynamischen Widerstand, wenn die Atmosphäre zwischen
Ox und Red jeweils innerhalb einer 2 Sek. Periode 1 Sek.
gewechselt wurden. Die gezeigten Ergebnisse sind der
Ox-Widerstand bei 500°C, Ox-Widerstand bei 850°C,
Red-Widerstand bei 500°C und Red-Widerstand bei 850°C
von oben nach unten in der Figur. Die Unterschiede
zwischen den Red-Widerständen bei 500°C und den
Ox-Widerständen bei 850°C zeigen die gemessenen Signale
für das Luft/Brennstoffverhältnis, wenn die Temperatur
des Abgases beliebig zwischen diesen Werten schwankt.
Die Unterschiede zwischen den statischen Charakteristiken
und dynamischen Charakteristiken zeigen die
Ansprechzeiten beim Wechsel der Atmosphären.
Der dynamische Widerstand des Vergleichsbeispiels
verschob sich bei der 200 h-Behandlung und der Red-
Widerstand bei 500°C überstieg schließlich den Ox-Wider
stand bei 850°C. Die Verschiebung des Red-Widerstands
bei niedrigen Temperaturen (500°C) war signifikant.
Im Gegensatz hierzu war die Verschiebung der dynamischen
Charakteristiken bei den Versuchen nicht so signifikant
und die Unterschiede zwischen dem Ox-Widerstand bei
850° und dem Red-Widerstand bei 500°C blieben nahezu
gleich den Anfangswerten.
Es ist aus Fig. 1 ersichtlich, daß die Verschlechterung
eines Abgassensors im wesentlichen auf die Abnahme der
Ansprechzeit zurückzuführen ist. Die Fig. 2 zeigt die
Änderungen der Ansprechzeit in anderen ähnlich
behandelten Beispielen. Die Meßbedingungen und
Bedeutungen der Symbole in der Figur sind die gleichen
wie in Fig. 1, außer daß eine Behandlung von 106 h
erfolgte. In den Testproben waren die Metallethylate
bei 1400°C zersetzt, und bei Testproben, die bei 800°C
zersetzt waren, wurden vergleichbare Ergebnisse erhalten.
Der obere Teil der Figur zeigt die 10%-ige und 90%-ige
Ansprechzeit von Ox nach Red, und der untere Teil zeigt
die 10%-ige bis 90%-ige Ansprechzeit von Red nach Ox.
Während in dem Vergleichsbeispiel die Ansprechzeit bei
der 106 h Behandlung stark abnahm, war bei den
erfindungsgemäßen Ausführungen die Abnahme klein oder
vernachlässigbar. Die anfänglichen Ansprechzeiten von
La-Co- und La-Ni-Filmen war niedrig. Beispielsweise
beträgt die Ansprechzeit von Ox nach Red bei 500°C etwa
1 Sek. Jedoch wurde durch diese Behandlung die
Ansprechzeit des Sensors unter Verwendung dieser Filme
verbessert. Somit ist bei Verwendung dieser Filme eine
gewisse Alterung vor der praktischen Anwendung
erforderlich.
Ein weiteres BaSnO3-Pulver wurde unter den gleichen
Bedingungen wie in der Versuchsreihe 1 hergestellt.
Fünf Arten an Elektroden, nicht-beschichtete (Vergleichs
beispiel), La-Ti-Behandlung (La-Ti), Mg-Behandlung (Mg),
La-Cr-Behandlung (La-Cr) und Ni-Behandlung (Ni) wurden
hergestellt. Neben diesen Elektroden wurden zwei Arten
von Elektroden, La-Cu-Behandlung (La-Cu) und
Sr-Fe-Behandlung (Sr-Fe) hergestellt. Diese Elektroden
wurden genauso wie in der Versuchsreihe 1 hergestellt.
Sie wurden in BaSnO3-Chips eingebettet und die Chips
wurden gesintert. Beim Sintern der Chips reagieren die
Oxide, wie La-Ti-Oxid, Mg-Oxid usw. mit BaSnO3 und wurden
in die leitenden komplexen Oxidfilme
überführt. Diese Verfahren wurden genauso wie in der
Versuchsreihe 1 durchgeführt.
Die erhaltenen Sensoren wurden 150 h lang in einer
Atmosphäre mit λ = 0,85 (Abgas einer Methan-Luft-Ver
brennung) bei 900°C behandelt. Fig. 3 zeigt den Wechsel
des Ansprechverhaltens des Vergleichsbeispiels bei dieser
Behandlung und die Fig. 4A bis 4F zeigen diejenigen
der erfindungsgemäßen Ausführung. Die festen Linien
in der Figur zeigen das Ansprechverhalten vor der
Behandlung und die unterbrochenen Linien zeigen das
Ansprechverhalten nach der Behandlung. Die Meß
temperaturen waren ab 500°C und 850°C und die in den
Messungen verwendeten Atmosphären wechselten alle 0,5
Sek. mit einer Periode von 1 Sek. zwischen λ = 0,98
und λ = 1,02. Die in diesen Versuchen verwendeten
Proben sind in Tabelle 1 aufgelistet.
Fig. 3 und 4 | |
Fig. 3 | |
Vergleichsbeispiel | |
Fig. 4(A) | La-Ti-Film |
Fig. 4(B) | La-Cu-Film |
Fig. 4(C) | Mg-Film |
Fig. 4(D) | Sr-Fe-Film |
Fig. 4(E) | La-Cr-Film |
Fig. 4(F) | Ni-Film |
Die durchgezogene Linie 1 bezeichnet die Ansprech
charakteristik bei 500°C vor der Alterung, die durch
gezogene Linie 3 bezeichnet die Ansprechcharakteristik
bei 850°C vor der Alterung, die unterbrochene Linie
2 bezeichnet die Ansprechcharakteristik bei 500°C nach
der Alterung, die unterbrochene Linie 4 zeigt die An
sprechcharakteristik bei 500°C nach der Alterung.
Im Vergleichsbeispiel verschlechterte sich im Verlauf
des Versuchs das Ansprechverhalten bei 500°C, insbe
sondere das Ansprechverhalten beim Wechsel von der
oxidierenden zur reduzierenden Atmosphäre. Unter den
erfindungsgemäßen Ausführungsformen zeigen der
La-Ti-Film, Mg-Film und Sr-Fe-Film besonders erwünschte
Ergebnisse.
Fig. 5 zeigt den Wechsel des dynamischen Widerstandes
bei der gleichen Behandlung wie in Fig. 3 und den
Fig. 4A bis 4F. In den Figuren sind die Maximalwider
stände durch das Ox-Niveau und die Minimalwiderstände
durch das Red-Niveau bezeichnet, wobei die Atmosphären
alle 0,5 Sek. innerhalb einer 1 Sek.-Periode zwischen
λ = 0,98 und λ =1,02 wechselten. Die ausgezogenen
Linien (mit ausgezogenen schwarzen Symbolen) in der
Figur zeigen die Niveaus nach der Behandlung und die
durchbrochenen Linien (mit hellen Symbolen) zeigen
diejenigen vor der Behandlung. Während die Ergebnisse
der Fig. 3 und Fig. 4 mit einer Probe bei jedem
Sensor erhalten wurden, sind die Ergebnisse der Fig. 4
Durchschnittswerte von zwei Proben von jedem Sensor.
Die Ergebnisse der Fig. 5 stimmen qualitativ mit den
Ergebnissen der Fig. 3 und Fig. 4 überein und zeigen,
daß die Filmbeschichtung auf den Elektroden ein Schwanken
der dynamischen Widerstände verhindern und daß ein
La-Ti-Film und Mg-Film mehr bevorzugt ist als ein La-
Cr-Film und Ni-Film.
Fig. 6 zeigt die Verschiebung des stationären Wider
stands bei der gleichen Behandlung wie in Fig. 5. Die
Verschiebungen der statischen Charakteristiken sind
geringer als diejenigen der dynamischen Charakteristiken.
Die Auflösung von Sn in Pt-Elektroden wurde in den
Elektrodenabschnitten nach der vorher bereits
beschriebenen Hochtemperaturbehandlung in reduzierender
Atmosphäre über einen Zeitraum von 200 h unter Verwendung
der Sensoren der Versuchreihe 1 beobachtet. Einfache
Pt-Drähte wurden als Material der Elektroden 8, 10
verwendet, um die Auflösung des Sn in den Elektroden
zu fördern. An den Kathoden des Sensors wurde eine
stärkere Auflösung des Sn beobachtet als an den Anoden.
Die Sn-Verteilungen in den Sektionen sind in den Fig. 8
bis 10 gezeigt. Fig. 8 zeigt die Ergebnisse des
Vergleichsbeispiels, Fig. 9 die Ergebnisse des
La-Ti-Films und Fig. 10 diejenigen des La-Films. Diese
Figuren sind Fotografien der Kathodenelektroden bei
einer Vergrößerung von 600.
Die schwarze Stelle im Zentrum der Fig. 9 (La-Ti-Film)
zeigt die Elektrode, die durch Sn-Diffusion leicht
beeinflußt ist, und der umgebende weiße Teil zeigt Sn
in dem BaSnO3. Beim La-Film wurde die Lösung des Sn
in dem rechten oberen Teil und dem linken unteren Teil
der Elektrode beobachtet. Ähnliche Ergebnisse wurden
in den Ausführungsformen mit einem anderen als dem
La-Ti-Film beobachtet. Das Ergebnis, daß der LaTi-Film
ausgezeichnete Eigenschaften zum Schutz der Elektrode
gegen Korrosion hat, weist auf eine Beziehung hin zu
der Tatsache, daß der La-Ti-Film außergewöhnlich
gleichförmig ist. In dem Vergleichsbeispiel diffundierte
Sn durch den gesamten Elektrodenabschnitt außer seinem
Zentrum und die Elektrode quoll durch Legierungsbildung
mit Sn.
Die Fig. 11 und Fig. 12(A) bis 12(D) zeigen den
La-Ti-Film und die Verteilungen von La-Sn und Pt nach
Versuchsfahrten von 80 000 km (50 000 Meilen). Der
La-Ti-Film ist durch eine Fotografie mit einer 3000-fachen
Vergrößerung in Fig. 11 gezeigt. Die Dicke dieses
Films beträgt 2 µm. Dieser Film quoll durch die
Absorption von Ba und Sn aus dem umgebenden BaSnO3
von seiner Originaldicke von 1 µm. Fig. 12(A) zeigt
einen weiteren La-Ti-Film nach einem 80 000 km-Lauf
bei einer Vergrößerung von 800 und die Fig. 12(B)
bis (D) zeigen die Verteilungen von La, Pt und Sn,
jeweils in einer Vergrößerung von 800, in der gleichen
Stelle. ln diesen Versuchen wurden als Elektroden 8,
10 Pt-Drähte unter ZrO2-Zusatz verwendet. Die Lösung
des Sn in der Elektrode wurde durch den La-Ti-Film
nahezu vollständig verhindert.
Die Proben der Fig. 12 wurden durch lokale Elementar
analyse der Ba-, Sn-, Pt- und La-Konzentrationen nach
einem 80 000 km-Lauf untersucht. Die Ergebnisse dieser
Versuchsreihe sind in der Tabelle 2 in Einheiten von
Atm.-% wiedergegeben.
Mengenangaben in Atm-%. Die Größe des Analysengebietes
hatte einen Durchmesser von 1,5 µm, die Meßpunkte waren
auf einer geraden Linie von der Innenseite zur Außenseite
der Elektrode angeordnet.
Die Hauptbestandteile des La-Ti-Films waren Ba und
Sn; die Verhältnisse von Ba/la und Sn/La betrugen 4.
Das Pt in dem Film kam aus der Elektrode. Selbst unter
Berücksichtigung der Tatsache, daß der Film nach einem
80 000 km-Lauf auf die doppelte Dicke angequollen war,
enthielt der Film Ba und Sn von Anfang an. Dies bedeutet,
daß nicht ein einfacher La-Ti-Oxidfilm, sondern ein
komplexer Oxidfilm von La-Ti-Oxid und BaSnO3 von Anfang
an ausgebildet war. Das Problem, das ein La2Ti2O7-Film
isolierend wirkt, während der tatsächlich ausgebildete
Film leitend ist, kann durch die Annahme erklärt werden,
daß der ausgebildete Film leitfähig ist. Das Problem,
daß, obwohl der Film auf die doppelte Dicke gequollen
war, die Verschiebung der Sensorcharakteristiken klein
ist, ist gleichfalls erklärbar durch die Annahme, daß
der komplexe Oxidfilm aus La-Ti-Oxid und BaSnO3 von
Anfang an gebildet worden ist. Falls im Gegensatz hierzu
der anfängliche Film nur La-Ti-Oxid enthielt, sollten
die Sensorcharakteristiken durch die Absorption von
BaSnO3 stärker schwanken. Die Schwankung der Sensor
charakteristiken ist niedrig, da sowohl am Anfangszu
stand als auch am Endzustand des Films ein komplexer
Oxidfilm von La-Ti-Oxid und BaSnO3 vorliegt und die
Filmcharakteristiken sich kontinuierlich vom Anfangs
zustand zum Endzustand ändern.
Es wird eine Oberflächenumwandlung der Sensorelektroden
durchgeführt, um zu verhindern, daß die Ansprech
charakteristiken des Sensors sich verschlechtern und
um eine Korrosion der Elektroden durch das in dem BaSnO3
enthaltene Sn zu vermeiden. Nach Ablagern eines Oxid
films, wie z.B. La2Ti2O7 oder MgO auf der Oberfläche
der Elektroden werden die Elektroden in BaSnO3 einge
bettet und das BaSnO3 wird gesintert. Durch das Sinter
verfahren wird der Film aus La2Ti2O7 oder MgO durch
Reaktion mit BaSnO3 in einen leitfähigen komplexen
Oxidfilm umgewandelt. Der erhaltende Film enthält Ba
und Sn. CaSnO3 und SrSnO3, die zu BaSnO3 homologe Ver
bindungen darstellen, können anstelle von BaSnO3 ver
wendet werden.
Claims (5)
1. Abgassensor enthaltend eine Perovskit-Verbindung
ASnO3, worin A mindestens ein Metall aus der
Gruppe Ba, Sr und Ca bedeutet, und mindestens
ein Paar mit dem ASnO3 in Berührung stehende
Edelmetallelektroden, dadurch gekennzeichnet,
daß auf der Oberfläche der Elektroden an dem
mt dem ASnO3 in Berührung stehenden Teil ein
elektrisch leitender komplexer Oxidfilm aus ASnO3
und einem Basismetalloxid, dessen Basis
metallbestandteil von jedem Metallbestandteil
des ASnO3 verschieden ist, abgelagert ist.
2. Abgassensor nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Basismetalloxid wenigstens
eine Verbindung ist aus der Gruppe La-Oxid, Oxide
von Lauthan und einem Übergangsmetall, Oxide
von Fe und Co, Oxide von Fe und einem
Erdalkalimetall, das verschieden ist von dem
Erdalkalimetall des ASnO3 und Oxiden von einem
Erdalkalimetall, das verschieden ist von dem
Erdalkalimetall des ASnO3.
3. Abgassensor nach Anspruch 2, dadurch
gekennzeichnet, daß ASnO3 als BaSnO3 vorliegt
und das Basismetalloxid mindestens eine Verbindung
aus der Gruppe eines Oxids von La und Ti, eines
Oxids von Sr und Fe sowie Mg-Oxid ist.
4. Abgassensor nach Anspruch 3, dadurch gekenn
zeichnet, daß das Basismetalloxid ein Oxid von
La und Ti ist.
5. Verfahren zur Herstellung eines Abgassensors
mit einem Sinterkörper einer Perovskit-Verbindung
ASnO3 und mindestens einem Paar in dem Sinter
körper eingebetteten Edelmetallelektroden, gekenn
zeichnet durch die folgenden Schritte:
Ablagern eines Basismetalloxids, dessen Metall bestandteil verschieden ist von Ba und Sn, auf der Elektrodenoberfläche;
nach der Ablagerung des Basismetalloxids Preß verformung von BaSnO3 -Pulver mit einem Elektrodenpaar zu einem BaSnO3-Chip, in dem die Elektroden eingebettet sind, und
Erhitzen des BaSnO3-Chips zwecks Sintern des Chips zu einem Sinterkörper und zur Herstellung eines komplexen Oxidfilms aus dem Basismetall oxid und BaSnO3 auf der Elektrodenoberfläche durch Reaktion des Basismetalloxids und BaSnO3.
Ablagern eines Basismetalloxids, dessen Metall bestandteil verschieden ist von Ba und Sn, auf der Elektrodenoberfläche;
nach der Ablagerung des Basismetalloxids Preß verformung von BaSnO3 -Pulver mit einem Elektrodenpaar zu einem BaSnO3-Chip, in dem die Elektroden eingebettet sind, und
Erhitzen des BaSnO3-Chips zwecks Sintern des Chips zu einem Sinterkörper und zur Herstellung eines komplexen Oxidfilms aus dem Basismetall oxid und BaSnO3 auf der Elektrodenoberfläche durch Reaktion des Basismetalloxids und BaSnO3.
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