DE3701663A1

DE3701663A1 - Pruefverfahren und pruefungserleichterungsschaltung

Info

Publication number: DE3701663A1
Application number: DE19873701663
Authority: DE
Inventors: Kanji Hirabayashi
Original assignee: Toshiba Corp
Current assignee: Toshiba Corp
Priority date: 1986-03-10
Filing date: 1987-01-21
Publication date: 1987-09-24
Anticipated expiration: 2007-01-22
Also published as: JPH0746120B2; KR870009237A; US4802163A; KR900002579B1; JPS62207977A; DE3701663C2

Description

Die Erfindung betrifft eine integrierte Schaltung zur Erleichterung von Prüfungen.

Die Tendenz zur Herstellung von Grossschaltkreisen wurde von dem Versuch begleitet, eine Entwurfserleichterung durch Rangordnung zu erzielen. Jedoch kann eine Rangordnung der Prüfungen nicht wie sie anfallen erzielt werden, so dass Fälle auftreten, bei welchen die Herstellung von Prüfdaten ein Engpass bei diesen Versuchen wird. Darüber hinaus treten immer mehr Fälle auf, bei welchen Schaltkreise mit höherer Integration hergestellt werden, welche die bereits entwickelten Chips mit einschliessen. In einem derartigen Fall können die Prüfdaten für die bereits entwickelten Chips nicht erneut verwendet werden, obgleich ihre Entwurfsdaten wiederverwendet werden können.

Damit die Prüfdaten der bereits entwickelten Chips wiederverwendet werden können, ist es erforderlich, ein systematisches Verfahren zu erreichen, das eine Rangordnung von Prüfungen ermöglicht. Sobald eine Rangordnung von Prüfungen durchführbar ist, wird die Bestimmung eines fehlerhaften Abschnittes leicht und zwar nicht nur wegen der Erleichterung der Bereitstellung von Prüfdaten einschliesslich der Wiederverwendung von Prüfdaten, sondern auch wegen der Möglichkeit, eine Fehleranalyse auf der Grundlage einer Rangordnung durchzuführen.

Der Erfindung liegt somit die Aufgabe zugrunde, eine Prüferleichterungsschaltung zu schaffen, sowie das zugehörige Prüfverfahren, welches die Wiederverwendung von Prüfdaten ermöglicht und es gestattet, Prüfungen für ausgewählte und bereits vorliegende Schaltungsmodule durchzuführen.

Diese Aufgabenstellung wird erfindungsgemäss durch eine Prüfungserleichterungsschaltung gelöst, die gekennzeichnet ist durch eine Schaltungsanordnung mit einem höheren Rangordnungspegel, die durch Verbinden von Schaltungsmodulen und Herausführen von externen Knotenpunkten aus vorgegebenen Schaltungsmodulen aufgebaut ist; eingefügte Torschaltungen, die für den eingangsseitigen und ausgangsseitigen Abschnitt eines jeden Schaltungsmoduls vorgesehen sind; eine eingangsseitige und eine ausgangsseitige Torschaltung, die in einer Verdrahtung zwischen den eingefügten Torschaltungen liegt, wobei die gemeinsame Verdrahtung ein Ende der zugeordneten Torschaltung ist; eine Vorrichtung zur Verbindung der Ausgangsklemme der eingangsseitigen und ausgangsseitigen Torschaltung mit dem ausgangsseitigen externen Knotenpunkt des Schaltungsmoduls, das nicht zu den Schaltungsmodulen auf der Eingangsseite der gemeinsamen Verdrahtung gehört; und einen wiederholt einschreibbaren Speicher für die Steuerklemme einer jeden eingefügten Torschaltung und für die eingangsseitige und ausgangsseitige Torschaltung.

Bei der vorausgehend aufgeführten Prüfungserleichterungsschaltung wird die Prüfung für ein Schaltungsmodul durchgeführt, indem selektiv die dazwischengeschaltete Torschaltung, die Eingangstorschaltung und die Ausgangstorschaltung, die zum gleichen Schaltungsmodul gehören, aktiviert werden, und indem der externe Knotenpunkt eines anderen Schaltungsmoduls verwendet wird, das mit dem externen Knotenpunkt, der Eingangstorschaltung und der Ausgangstorschaltung verbunden ist, die zu dem in Frage stehenden Schaltungsmodul gehören.

Diese Aufgabenstellung sowie weitere Aufgabenstellungen, Merkmale und Vorteile der Erfindung ergeben sich aus der anliegenden Beschreibung bevorzugter Ausführungsformen in Verbindung mit den Zeichnungen.

Es zeigen:

Fig. 1 ein Schaltbild für eine Ausführungsform der erfindungsgemässen Prüfungserleichterungsschaltung,

Fig. 2 ein Ersatzschaltbild für den normalen Betrieb der Schaltung nach Fig. 1,

Fig. 3 ein Blockschaltbild eines Ausführungsbeispiels einer Schaltung, die zur Erläuterung des erfindungsgemässen Konzepts dient,

Fig. 4 eine Schaltung zur Erläuterung der Vorrichtung zur Erleichterung der Prüfung der Schaltung nach Fig. 3, und

Fig. 5 ein Schaltbild, in dem die ausgangsseitig eingefügte Torschaltung im Schaltungsabschnitt nach Fig. 1 durch eine bidirektional eingefügte Torschaltung ersetzt wurde.

Es wird nunmehr auf bevorzugte Ausführungsformen Bezug genommen.

In Fig. 1 umfasst der Chip Module (M 1, M 2, M 3) und (P 1-P 6, SI, SO) sind externe Klemmen (externe Knotenpunkte). Der ordnungsgemässe Betrieb des Chips ist in Fig. 2 dargestellt. Entsprechend ist (P 1) der ausgangsseitige Knotenpunkt des Schaltungsmoduls (M 1) und (P 2) ist der eingangsseitige Knotenpunkt von (M 1), (P 3, P 4) sind jeweils der eingangsseitige und der ausgangsseitige Knotenpunkt von (M 2) und (P 5, P 6) sind jeweils der eingangsseitige und ausgangsseitige Knotenpunkt von (M 3).

Ferner sind in der Schaltung Puffer-Torschaltungen vorgesehen. Nimmt man (M 1) als Beispiel, so ergibt sich folgendes: Für (P 1, P 2) sind eingeführte Puffer-Torschaltungen (11, 12) vorhanden. Die Puffer-Torschaltungen sind derart angeordnet, dass sie Signale übertragen, wenn die Torschaltungen in Signalrichtung (d. h. in der Richtung von (M 3) nach (M 1)) gemäß Fig. 2 eingeschaltet sind. Für den Abschnitt der (M 1, M 2) verbindet, ist eine eingefügte Puffer-Torschaltung (13) an der Ausgangsseite von (M 1) vorgesehen, und für den (M 1, M 3) verbindenden Abschnitt ist eine eingefügte Pufferstufe (14) an der Eingangsseite von (M 1) vorhanden.

Ferner sind in dem (M 1, M 2) verbindenden Abschnitt eine eingangsseitige Puffer-Torschaltung (17) und eine ausgangsseitige Puffer-Torschaltung (18) in dem gemeinsamen Leitungsabschnitt (16) vorhanden, der die eingeführte Puffer-Torschaltung (13) und eine eingeführte Puffer-Torschaltung (15) an der M 2-Seite verbindet. In ähnlicher Weise sind an der Seite von (M 1, M 3) eine eingangsseitige Puffer-Torschaltung (19) und eine ausgangsseitige Puffer-Torschaltung (20) vorhanden, Zum Prüfen von (M 1) sind (P 1, P 2), die M 1-M 2-Leitung, und die M 1-M 3-Leitung erforderlich. Entsprechend sind die eingangsseitige Puffer-Torschaltung (19) und die ausgangsseitige Puffer-Torschaltung (18) elektrisch gemeinsam mit der Ausgangsklemme (Q) eines Flip-Flops (F 3) verbunden. Diese Flip-Flops sind in Reihe geschaltet und bilden ein Schieberegister, das (SI) als Dateneingabe und (SO) als Datenausgabe aufweist. Für die Flip-Flops (F 1-F 6) ist jeweils eine Setzklemme (F) für die Eingabe vorhanden, wie beispielsweise für (F 4), und eine Rücksetzklemme (R) für Eingabe/Ausgabe und die Puffer-Torschaltungen, wie für (F 3). Ferner sind (nicht dargestellte) Leitungen vorhanden, die die Klemmen (R) miteinander verbinden und Leitungen, die die Klemmen (S) miteinander verbinden. Ferner ist jedes Flip-Flop mit einem Taktanschluss (C) versehen. Infolgedessen ist es nach Beendigung einer Prüfung eines Schaltungsmoduls mittels des Schieberegisters im Prüfbetrieb so ausgebildet, dass es an den R-Klemmen eine "0" und an den S-Klemmen eine "1" gleichzeitig schreiben kann, um die eingangsseitigen und ausgangsseitigen Puffer-Torschaltungen auszuschalten und die eingefügten Puffer-Torschaltungen im normalen Betrieb einzuschalten. Dies erfolgt, um den Wirkungsgrad der Puffer-Torschaltungen zu erhöhen, da die Betriebszustände einer jeden Puffer-Torschaltung im gewöhnlichen Betrieb einmalig sind, während sie im Prüfungsmodus verschiedene Werte annehmen können. Schliesslich ist (D) die Dateneingangsklemme für das Flip-Flop.

Es wird nunmehr der Prüfungsbetrieb beschrieben.

Zunächst wird für die Beschreibung unterstellt, dass das Modul (M 1) ein neu entworfenes, zu prüfendes Modul ist.

Vor der eigentlichen Prüfung wird der Betrieb des Schieberegisters bestätigt. Zu diesem Zweck wird zunächst ein Setzsignal eingegeben. Durch Inbetriebnahme der S-Klemmen und der R-Klemmen werden jeweils "1" und "0" für (F 1-F 6) geschrieben. Anschliessend wird das Schieberegister betätigt, indem das Setzsignal ausgeschaltet und das Taktsignal eingeschaltet wird, um die Bestätigung zu liefern, dass ein korrekter Wert von (SO) ausgegeben wird. Anschliessend wird durch Eingeben von Daten an (SI) und Ausgabe derselben von (SO) nach Durchführung des üblichen Schieberegisterbetriebes der Gesamtbetrieb des Schieberegisters bestätigt. Nunmehr ist die Anordnung bereit, die Prüfung für (M 1) zu beginnen.

Zunächst wird der Status der Flip-Flops durch Einschieben an (SI) gesetzt, d. h. "1" wird an (F 3, F 4) eingegeben. Dadurch erscheint "1" an den jeweiligen Q-Klemmen. Somit werden die Puffer-Torschaltungen (11-14, 18, 19) eingeschaltet. Die übrigen Puffer-Torschaltungen sind ausgeschaltet.

Anschliessend wird durch Eingabe von Daten aus den externen Knotenpunkten (P 2, P 5) das Ergebnis des Betriebs von (M 1) von (P 1, P 4) ausgegeben. Nach Beendigung der Prüfung für (M 1) wird der Test für (M 2) übersprungen, da (M 2) als vorhandene Schaltung betrachtet wird. (M 3) ist eine neu entworfene Schaltung, so dass sie in ähnlicher Weise wie (M 1) geprüft wird. Auf diese Weise wird es möglich, die Fehler in (M 1) und (M 3) zu analysieren. Da (M 2) ein bereits vorliegender Schaltungsmodul ist, wird es zuletzt geprüft unter Verwendung der in der Vergangenheit erhaltenen Prüfdaten. Auf diese Weise kann das Betreiben von (M 1-M 3) erfolgen.

Anschliessend wird der Betrieb der gemeinsamen Leitungen, falls erwünscht, bestätigt. Beispielsweise werden für die Leitung (16) zwischen den Puffer-Torschaltungen (13, 15), analog zur Beschreibung in Verbindung mit der Prüfung von (M 1), nur die eingangsseitige Puffer-Torschaltung (17) und die ausgangsseitige Puffer-Torschaltung (18) eingeschaltet, um unter Verwendung der externen Knotenpunkte (P 2, P 4) einen Leitungstest durchzuführen.

In der Tabelle 1 ist die Beziehung zwischen den Flip-Flops (F 1-F 6) und den verwendeten externen Knotenpunkten (P 1-P 6) für verschiedene Prüfvorgänge dargestellt.

Tabelle 1

Um das System entsprechend dem üblichen Betriebsmodus nach Beendigung der Prüfungen in Betrieb zu nehmen, werden die eingefügten Puffer-Torschaltungen eingeschaltet und die eingangsseitigen und ausgangsseitigen Puffer-Torschaltungen werden durch den Betrieb der Setzklemmen (S) und der Rücksetzklemmen (R) ausgeschaltet. Bei diesem Ausführungsbeispiel werden (F 1, F 4, F 6) eingeschaltet und (F 2, F 3, F 5) werden ausgeschaltet.

Obgleich bei der vorausgehend beschriebenen Ausführungsform zwei Rangordnungspegel erläutert wurden, sind in der Praxis häufig Mehrfachpegel vorhanden. Dabei entspricht die gesamte Schaltung nach Fig. 1 einem der Schaltungsmodule (M 1-M 3). In einem derartigen Fall von Mehrfachpegeln der Rangordnung ist es erforderlich, die externen Knotenpunkte in Fig. 1 an die externen Knotenpunkte der Schaltungen mit dem höchsten Rangordnungspegel zu führen. Wird beispielsweise angenommen, dass die gesamte, vorausgehend beschriebene Schaltung (M 1) der Schaltung mit höchstem Rangordnungspegel entspricht. In einem derartigen Fall ist es für die Prüfung des Moduls mit niedrigstem Rangordnungspegel lediglich erforderlich, die Puffer-Torschaltungen (11-14, 18, 19) zu aktivieren, um die externen Knotenpunkte des Moduls mit niedrigstem Rangordnungspegel mit (P 1) zu verbinden, und die externen Knotenpunkte der gesamten Schaltung mit den externen Knotenpunkten der Schaltung mit höchstem Rangordnungspegel zu verbinden.

In einem derartigen Falle einer Schaltung mit Mehrfachpegeln der Rangordnung ist es möglich, die Blöcke der dazwischenliegenden Rangordnungspegel zuerst zu prüfen und anschliessend jedes Schaltkreismodul in den Blöcken, wo Fehler ermittelt worden sind.

Um eine Rangordnung der Prüfungen durchführbar zu machen, ist eine Vorrichtung erforderlich, die die Prüfung getrennter Module für alle Rangordnungspegel ermöglicht.

In Fig. 3 ist der Fall dargestellt, bei welchem das Modul aus Modulen (M 1-M 5) mit niedrigem Rangordnungspegel besteht, und (P 1, P 4, P 5, P 8), die Eingangsklemmen des Moduls zur Verbindung nach aussen sind und (P 2, P 3, P 6, P 7) seine Ausgangsklemmen zur Verbindung nach aussen sind. Eine Prüfung nach getrennten Modulen bedeutet, die Module (M 1-M 5) mit niedrigem Rangordnungspegel durch die Verwendung der Modulklemmen (P 1-P 8) zu prüfen. Zu diesem Zweck sind Puffer-Torschaltungen (C 1, C 2, C 3, C 4) gemäss Fig. 4 in die Eingänge und die Ausgänge der Module (M 1-M 5) mit niedrigem Rangordnungspegel eingefügt.

Ferner sind Verdrahtungen, die innerhalb des Moduls geschlossen sind, mit den Modulklemmen über die Puffer-Torschaltungen (C 1′, C 2′, C 3′, C 4′) verbunden. Die anzuschliessenden Modulklemmen sind derart ausgewählt, dass sie die Prüfungen nach getrennten Modulen nicht behindern. Anders ausgedrückt, die Verdrahtungen sind mit Modulklemmen von den Modulen mit niedrigem Rangordnungspegel verbunden, ausser mit jenem Modul mit niedrigem Rangordnungspegel, zu dem die in Frage stehende Puffer-Torschaltung gehört. In Fig. 4 ist ein Ausführungsbeispiel der Auswahl der Modulklemmen dargestellt.

Die üblichen Betriebszustände und der Testmodus für getrennte Module werden durch die Leitung und Nicht-Leitung der Puffer-Torschaltungen ausgewählt. Für die Signale zur Steuerung der Puffer-Torschaltungen werden die Ausgänge der Flip-Flops verwendet, um den Anstieg der Zahl der externen Klemmen so gering wie möglich zu halten, wie im einzelnen noch beschrieben wird.

Die Werte für die üblichen Betriebszustände, die Prüfmoden für Module mit niedrigem Rangordnungspegel und die Verbindungsprüfungen zwischen den Modulen mit niedrigem Rangordnungspegel bezüglich der Steuersignale für die Puffer-Torschaltungen sind in Tabelle 2 aufgeführt. In der Tabelle 2 ist der Leitungszustand dem Wert "1" und der Nicht-Leitungszustand dem Wert "0" zugeordnet.

Tabelle 2

Bei einem Modul mit oberem Rangordnungspegel, das das in Fig. 3 dargestellte Modul als Modul mit unterem Rangordnungspegel enthält, ist es möglich, eine Prüfungsrangordnung herzustellen, indem die gleiche Verfahrensweise, wie vorausgehend erläutert, wiederholt wird.

Obgleich in der vorausgehenden Beschreibung die Richtung eines jeden Signals auf eine festliegende Richtung begrenzt ist, ist die Erfindung auch anwendbar, wenn bidirektionale Signale verwendet werden. Werden beispielsweise für (P 1) in Fig. 1 eine bidirektionale Eingangs/Ausgangs-Klemme sowie bidirektionale Signale innerhalb des Moduls (M 1) verwendet, so braucht die ausgangsseitige eingefügte Torschaltung nach Fig. 1 nur durch eine eingefügte bidirektionale Torschaltung ersetzt werden, wie durch das Symbol (12 a) in Fig. 5 dargestellt ist.

Im Einklang mit dem vorausgehend beschriebenen Verfahren können die Modulprüfungen auf Prüfungen für individuelle Module mit niedrigem Rangordnungspegel und auf die Verbindungsprüfungen zwischen den Modulen mit niedrigem Rangordnungspegel reduziert werden, so dass nicht nur die Bereitstellung der Prüfungsdaten, einschliesslich der Wiederverwendung von vorhandenen Prüfdaten, sondern auch die Bestimmung der fehlerhaften Abschnitte erleichtert werden kann.

Claims

1. Prüfungserleichterungsschaltung, gekennzeichnet durch eine Schaltungsanordnung mit einem höheren Rangordnungspegel, die durch Verbinden von Schaltungsmodulen (M 1, M 2, M 3) und Herausführen von externen Knotenpunkten (P 1-P 6; SI, SO) aus vorgegebenen Schaltungsmodulen aufgebaut ist; eingefügte Torschaltungen (11, 12, 13, 14), die für den eingangsseitigen und ausgangsseitigen Abschnitt eines jeden Schaltungsmoduls (M 1 aus M 1-M 3) vorgesehen sind; eine eingangsseitige und eine ausgangsseitige Torschaltung (18, 19), die in einer Verdrahtung zwischen den eingefügten Torschaltungen liegt, wobei die gemeinsame Verdrahtung (16 zwischen 13 und 15) ein Ende der zugeordneten Torschaltung ist; eine Vorrichtung zur Verbindung der Ausgangsklemme der eingangsseitigen und ausgangsseitigen Torschaltung mit dem ausgangsseitigen externen Knotenpunkt des Schaltungsmoduls, das nicht zu den Schaltungsmodulen auf der Eingangsseite der gemeinsamen Verdrahtung (16) gehört; und einen wiederholt einschreibbaren Speicher (F 3, F 4 aus F 1-F 6) für die Steuerklemme einer jeden eingefügten Torschaltung (11, 12, 13, 14) und für die eingangsseitige und ausgangsseitige Torschaltung (18, 19).

2. Prüfungserleichterungsschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass der Speicher aus einem Flip-Flop besteht (F 1-F 6).

3. Prüfungserleichterungsschaltung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, dass ein Schieberegister durch eine Reihenschaltung der Flip-Flops aufgebaut ist.

4. Prüfungserleichterungsschaltung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, dass für jeden Flip-Flop ein Setzanschluss (S) oder ein Rücksetzanschluss (R) vorhanden ist, die einer eingefügten Torschaltung oder einer eingangsseitigen und ausgangsseitigen Torschaltung zugeordnet sind.

5. Prüfungserleichterungsschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die eingefügte Torschaltung (11, 12, 13, 14), die zum gleichen Schaltungsmodul (M 1) gehört, durch einen gleichen Speicher (F 4) gesteuert wird.

6. Prüfungserleichterungsschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die eingangsseitige und ausgangsseitige Schaltung (18, 19), die zum gleichen Schaltungsmodul (M 1) gehört, durch den gleichen Speicher (F 3) gesteuert wird.

7. Prüfungserleichterungsschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass getrennt von dem Speicher (F 4), der gemeinsam die eingefügte Torschaltung (11, 12, 13, 14) steuert, die zum gleichen Schaltungsmodul (M 1) gehört, ein Speicher (F 3) vorhanden ist, der gemeinsam die eingangsseitige und ausgangsseitige Torschaltung (18, 19) steuert, die zum gleichen Schaltungsmodul (M 1) gehört.

8. Prüfungserleichterungsschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die eingangsseitige und ausgangsseitige Torschaltung (18, 19) jeweils aus einer Puffertorschaltung besteht.

9. Prüfungserleichterungsschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die eingefügte Torschaltung (11, 12, 13, 14) durch eine bidirektionale, eingefügte Torschaltung gebildet wird.

10. Prüfungserleichterungsschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die mit einem eingangsseitigen externen Knotenpunkt (P 2) verbundene Vorrichtung eine Puffertorschaltung (11) aufweist, die mit dem Schaltungsmodul (M 1) verbunden ist, sowie ein Flip-Flop (F 4), das an die Puffertorschaltung (11) angeschlossen ist.

11. Prüfungserleichterungsschaltung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, dass die mit einem externen Knotenpunkt (P 1) verbundene Vorrichtung eine Puffertorschaltung (12) enthält, die mit dem Schaltungsmodul (M 1) verbunden ist, sowie ein Flip-Flop (F 4), das an die Puffertorschaltung angeschlossen ist.

12. Prüfverfahren, das durch Setzen einer Schaltung mit höherem Rangordnungspegel durchgeführt wird, welche durch Verbinden von Schaltungsmodulen (M 1, M 2, M 3) und Herausführen von externen Knotenpunkten (P 1-P 6) aus vorgegebenen Schaltungsmodulen aufgebaut ist, wobei eingefügte Torschaltungen (11, 12, 13, 14) für den eingangsseitigen und ausgangsseitigen Abschnitt eines jeden Schaltungsmoduls vorgesehen sind; eine eingangsseitige und ausgangsseitige Torschaltung (18, 19) für eine Verdrahtung der eingefügten Torschaltungen vorhanden ist, wobei die gemeinsame Verdrahtung (16) als eine Klemme dient, mit einer Vorrichtung zum Verbinden der Eingangsklemme der eingangsseitigen und ausgangsseitigen Torschaltung (18, 19) mit dem eingangsseitigen externen Knotenpunkt jenes Schaltungsmoduls, das nicht zu den Schaltungsmodulen an der Ausgangsseite der meinsamen Verdrahtung gehört, und mit einer Vorrichtung zum Verbinden der Ausgangsklemme der eingangsseitigen und ausgangsseitigen Torschaltung (18, 19) mit dem ausgangsseitigen externen Knotenpunkt jenes Schaltungsmoduls, das nicht zu den Schaltungsmodulen an der Eingangsseite der gemeinsamen Verdrahtung (16) gehört, dadurch gekennzeichnet, dass das Verfahren folgende Schritte umfasst: selektives Aktivieren der eingefügten Torschaltungen (11, 12, 13, 14) und der eingangsseitigen und ausgangsseitigen Torschaltung (18, 19), die zum gleichen Schaltungsmodul (M 1) gehört; und Durchführen der Prüfung eines Schaltungsmoduls (M 1, M 2, M 3) mittels Verwendung des externen Knotenpunktes von anderen Schaltungsmodulen, die mit dem externen Knotenpunkt verbunden sind und mittels einer eingangsseitigen und ausgangsseitigen Torschaltung, die zu dem Schaltungsmodul gehören.

13. Prüfverfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass erneut einschreibbare Speicher (F 3, F 4) für die Steuerklemme einer jeden eingefügten Torschaltung (11, 12, 13, 14) und die eingangsseitige und ausgangsseitige Torschaltung (18, 19) vorgesehen sind, und dass die Speicher ein Flip-Flop aufweisen und ein Setzanschluss (S) oder ein Rücksetzanschluss (R) für jedes Flip-Flop (F 3, F 4) vorgesehen ist, abhängig davon, ob das zu steuernde Objekt eine eingefügte Torschaltung (11, 12, 13, 14) oder eine eingangsseitige oder ausgangsseitige Torschaltung (18, 19) ist, und die Steuerdaten jeder Torschaltung durch den Betrieb als Schieberegister für den Fall einer Prüfschaltung eingegeben werden, während die eingefügte Torschaltung (11, 12, 13, 14) im Falle des gewöhnlichen Betriebes der Schaltung allein durch eine Gesamtsteuerung der Setz- und Rücksetzanschlüsse aktiviert wird.

14. Prüfverfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, dass das Schieberegister durch eine vorab erfolgende Eingabe von Daten an die Flip-Flops über die Setz- und Rücksetzanschlüsse, sowie durch Abfragen der Daten, geprüft wird, woran sich das Eingeben neuer Daten in das Schieberegister und das Abfragen derselben aus diesen anschliesst.

15. Prüfverfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass ein neu entworfenes Schaltungsmodul selektiv oder mit Priorität geprüft wird.

16. Prüfverfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass eine Schaltung mit noch höherem Rangordnungspegel mittels einer ähnlichen Verfahrensweise aufgebaut wird, die die Schaltung mit höherem Rangordnungspegel als Schaltungsmodul enthält, und dass die Prüfung des Schaltungsmoduls mit niedrigstem Rangordnungspegel erfolgt, indem der externe Knotenpunkt des Schaltungsmoduls mit noch höherer Rangordnung verwendet wird, der der externe Knotenpunkt der Schaltung mit höchster Rangordnung ist, und zwar über die eingefügte Torschaltung, über die eingefügte Torschaltung und die eingangsseitige Torschaltung, oder über die eingefügte Torschaltung und die ausgangsseitige Torschaltung, die ferner mit dem externen Knotenpunkt der Schaltung mit höherem Rangordnungspegel verbunden sind.

17. Prüfverfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die Prüfung der gemeinsamen Verdrahtung (16) mittels der Verwendung der eingangsseitigen und ausgangsseitigen Torschaltung (13, 15) durchgeführt wird, die zur gleichen gemeinsamen Verdrahtung gehört.

18. Prüfverfahren nach Anspruch 12, dadurch gekennzeichnet, dass die eingefügte Torschaltung eine bidirektionale eingefügte Torschaltung (12 a) umfasst.