DE3642182A1 - Anordnung zum messen der temperatur in einem heizsystem aus kochplatte und kochtopf mit kochgut - Google Patents
Anordnung zum messen der temperatur in einem heizsystem aus kochplatte und kochtopf mit kochgutInfo
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- 238000010438 heat treatment Methods 0.000 title claims description 15
- 238000010411 cooking Methods 0.000 title description 12
- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims description 114
- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims description 14
- 230000007423 decrease Effects 0.000 claims description 2
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 3
- 230000001154 acute effect Effects 0.000 description 2
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 description 2
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 2
- 230000001133 acceleration Effects 0.000 description 1
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000284 resting effect Effects 0.000 description 1
- 238000011144 upstream manufacturing Methods 0.000 description 1
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- H05B—ELECTRIC HEATING; ELECTRIC LIGHT SOURCES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR; CIRCUIT ARRANGEMENTS FOR ELECTRIC LIGHT SOURCES, IN GENERAL
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- G05—CONTROLLING; REGULATING
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- A47J27/00—Cooking-vessels
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- F24—HEATING; RANGES; VENTILATING
- F24C—DOMESTIC STOVES OR RANGES ; DETAILS OF DOMESTIC STOVES OR RANGES, OF GENERAL APPLICATION
- F24C15/00—Details
- F24C15/10—Tops, e.g. hot plates; Rings
- F24C15/102—Tops, e.g. hot plates; Rings electrically heated
- F24C15/105—Constructive details concerning the regulation of the temperature
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
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- G01J5/06—Arrangements for eliminating effects of disturbing radiation; Arrangements for compensating changes in sensitivity
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- Engineering & Computer Science (AREA)
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- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
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- Mechanical Engineering (AREA)
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- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
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- Cookers (AREA)
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Description
Die Erfindung betrifft eine Anordnung zum Messen der
Temperatur in einem Heizsystem aus elektrisch beheizter
Kochplatte und darauf abgestelltem Kochtopf mit Kochgut,
bei der ein in unterschiedlichem Abstand zur Topfwand des
Kochtopfes angeordneter und darauf ausgerichteter
Strahlungsempfänger vorgesehen ist, der entsprechend der
vom Strahlungsmeßfeld des Strahlungsempfängers detektierten
Strahlungsfläche der Topfwand, deren Strahlungsintensität
mit zunehmendem Abstand quadratisch abnimmt, ein von der
Temperatur des Kochgutes im Kochtopf abhängiges Signal abgibt.
Derartige Anordnungen sind aus der DE-AS 33 41 234 und der
DE-PS 35 38 353 bekannt. Dabei wird insbesondere in der
Aufheizphase die Meßgenauigkeit durch den sich ändernden
Abstand des Strahlungsempfängers von der Topfwand des
Kochtopfes stark beeinflußt. Die Stellung des Kochtopfes
auf der Kochplatte kann sich nämlich in einem weiten Bereich
ändern, so daß die detektierte Fläche mehr oder weniger
schnell erwärmt wird. Dieser von der Stellung des Kochtopfes
abhängige Meßfehler der Aufheizphase wird dadurch kompensiert,
daß das Strahlungsmeßfeld mit seiner Mittelachse in einem
spitzen Winkel zur Stellfläche der Kochplatte verläuft.
Bei dieser Ausrichtung des Strahlungsempfängers wird erreicht,
daß sich mit zunehmendem Abstand des Kochtopfes vom
Strahlungsempfänger die detektierte Strahlungsfläche mit
dem Mittelpunkt mehr und mehr vom Topfboden des Kochtopfes
entfernt. Bei kleiner werdendem Abstand verlagert sich der
Mittelpunkt der detektierten Strahlungsfläche in Richtung
zum Topfboden. Dies hat zur Folge, daß die in der Aufheizphase
auftretende Verzögerung bei der Temperaturmessung dadurch
kompensiert wird, daß die detektierte Strahlungsfläche in
einen Bereich verschoben wird, der näher zur Mitte der
Kochplatte liegt. Entfernt sich der Kochtopf vom
Strahlungsempfänger, dann wird die Beschleunigung der
Temperaturmessung in der Aufheizphase, die bei horizontal
ausgerichtetem Strahlungsmeßfeld auftreten würde, durch
Verlagerung der detektierten Strahlungsfläche in kältere
Bereiche der Topfwand, d.h. weiter weg vom Topfboden,
eliminiert. Damit wird also erreicht, daß in der Aufheizphase
die durch die Verstellung des Kochtopfes auf der Kochplatte
resultierenden Meßungenauigkeiten automatisch ausgeglichen
werden. Die ermittelte Temperatur entspricht dann unabhängig
von der Stellung des Kochtopfes auf der Kochplatte, d.h.
dem Abstand zum Strahlungsempfänger, der tatsächlich im
Kochgut herrschenden Temperatur. Dies ist besonders wichtig
in der Aufheizphase, in der sich die Temperatur fortlaufend
ändert und zur Regelung der Heizleistung verwendet wird.
Es hat sich nun gezeigt, daß im eingeregelten Zustand des
Heizsystems die Temperaturmessung durch die von der
Eigentemperatur der Kochplatte hervorgerufene
Sekundärstrahlung, d.h. in diesem Fall als Störstrahlung
wirkend, unterschiedlich beeinflußt wird und dies in
Abhängigkeit von der Stellung des Kochtopfes auf der
Kochplatte. Nimmt die detektierte Strahlungsintensität mit
zunehmendem Abstand quadratisch ab, dann wird je nach dem
zum Strahlungsempfänger gelangenden Anteil der Störstrahlung
das Meßergebnis mehr oder weniger verfälscht.
Es ist Aufgabe der Erfindung, eine Anordnung der eingangs
erwähnten Art zu schaffen, bei der der Einfluß der
Störstrahlung der Kochplatte bei den unterschiedlichen
Stellungen des Kochtopfes auf der Kochplatte kompensiert
ist, so daß die Temperatur unabhängig von der Stellung des
Kochtopfes auf der Kochplatte mit ausreichender Meßgenauigkeit
erfaßt wird.
Diese Aufgabe wird nach der Erfindung dadurch gelöst, daß
der von der Kochplatte ausgehende und zum Strahlungsempfänger
gelangende Anteil der Störstrahlung durch Veränderung des
Strahlungswinkels eines kreuzungsfreien Strahlungsmeßfeldes
und damit entsprechenden Reduzierung der mit zunehmendem
Abstand detektierten Strahlungsfläche kompensiert ist.
Durch die Anpassung des Strahlungswinkels des
Strahlungsmeßfeldes kann der Einfluß der Störstrahlung der
Kochplatte kompensiert werden, ohne daß dafür teure
Strahlungsempfänger verwendet werden müssen. Diese Anpassung
berücksichtigt dabei in einfachster Weise den Emissionsfaktor
der Kochplatte, d.h. es ist das gesamte Heizsystem in das
Meßsystem einbezogen. Der Grad der Reduzierung der
detektierten Strahlungsfläche bestimmt das Maß der
Kompensation. Die detektierte Strahlungsfläche kann dabei
nur geringfügig oder auch in stärkerem Maße von der idealen
quadratischen Zunahme zum Ausgleich der Strahlungsintensität
abweichen. Dabei hat sich als ausreichend erwiesen, wenn
die Kompensation der Störstrahlung bei maximalem Abstand
zwischen dem Strahlungsempfänger und der Topfwand des
Kochtopfes vorgenommen wird. Wird der Abstand verkleinert,
dann ist die Kompensation noch ausreichend gut. Der
Strahlungsempfänger gibt daher unabhängig von der Stellung
des Kochtopfes auf der Kochplatte und dem Anteil der zum
Strahlungsempfänger einwirkenden Störstrahlung ein der
Temperatur des Kochgutes im Kochtopf entsprechendes Signal
ab.
Übersteigt bei großem Abstand zwischen der Topfwand des
Kochtopfes und dem Strahlungsempfänger der Anteil der
Störstrahlung den Verlust an Strahlungsintensität durch
die Vergrößerung des Abstandes, dann sieht eine Ausgestaltung
vor, daß das Strahlungsmeßfeld annähernd runden Querschnitt
aufweist und sich mit zunehmendem Abstand kegelförmig verjüngt
bzw. erweitert, wobei der Verjüngungswinkel bzw.
Erweiterungswinkel kleiner als 5° ist. Ist der
Verjüngungswinkel des Strahlungsmeßfeldes veränderbar, dann
kann für den maximalen Abstand zwischen der Topfwand des
Kochtopfes und dem Strahlungsempfänger ein Abgleich durch
Einstellung des Verjüngungswinkels bzw. Erweiterungswinkels
vorgenommen werden. Bei einem Strahlungsempfänger mit
Eingangsoptik und nachgeordnetem Sensor läßt sich der
Verjüngungswinkel bzw. Erweiterungswinkel des
Strahlungsmeßfeldes durch Verschiebung des Sensors auf der
Mittelachse verändern.
Der Abgleich der Anordnung bei kleinstem Abstand zwischen
der Topfwand des Kochtopfes und dem Strahlungsempfänger
läßt sich dadurch ausführen, daß der Strahlungsempfänger
senkrecht zur horizontalen Stellfläche der Kochplatte
verstellbar ist.
Bei konstanter Temperatur des Kochgutes im Kochtopf erhält
man dann nach diesen Abgleichen im gesamten Abstandsbereich
am Strahlungsempfänger dasselbe Signal.
Um ausreichende Signale am Strahlungsempfänger zu bekommen,
sieht eine weitere Ausgestaltung vor, daß die Topfwand des
Kochtopfes auf der Außenseite eine umlaufende Ringfläche
mit hohem Emissionsfaktor aufweist, der sich in der Breite
zumindest über den Bereich der maximal detektierten
Strahlungsfläche erstreckt. Diese Ringfläche hat einen
gleichmäßig hohen Emissionsfaktor von z.B. größer als 0,9
und befindet sich vorzugsweise im Übergangsbereich zwischen
Topfboden und Topfwand des Kochtopfes.
Die Erfindung wird anhand eines in der Zeichnung dargestellten
Ausführungsbeispiels näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 in schematischer Darstellung die Anordnung
mit dem Strahlungsempfänger und dem Kochtopf mit seinen
Endstellungen auf der Kochplatte und
Fig. 2 die detektierten Strahlungsflächen in
Abhängigkeit von den Endstellungen des Kochtopfes auf
der Kochplatte.
Wie die Fig. 1 zeigt, kann der Kochtopf 10 auf der Kochplatte
14 von einer linken bis zu einer rechten Endstellung verstellt
werden, die durch Anschlag des Topfbodens 11 an einem um
die Kochplatte 14 verlaufenden Ring 13 bestimmt sind. Dabei
steht der Strahlungsempfänger StE einmal im kleinsten Abstand
a zur Topfwand des ausgezogen gezeichneten Kochtopfes 10
und zum anderen im maximalen Abstand b zur Topfwand des
gestrichelt gezeichneten Kochtopfes 10′.
Bei der Anordnung kommt es ganz entscheidend auf die
Ausgestaltung und Ausrichtung des Strahlungsmeßfeldes 17
an. Es ist einleuchtend, daß bei der Stellung des Kochtopfes
10 im Abstand a der Strahlungsempfänger StE kaum von der
Störstrahlung der Kochplatte 14 beeinflußt wird. Die
Verfälschung des Meßergebnisses durch die Störstrahlung
der Kochplatte 14 ist daher in diesem Falle sehr klein,
ja sogar praktisch vernachlässigbar. Bei der Stellung des
Kochtopfes 10′ im Abstand b liegt ein dem Strahlungsempfänger
StE zugekehrter Bereich der Kochplatte 14 außerhalb des
Topfbodens 11′ frei, so daß ein beträchtlicher Anteil der
Störstrahlung der Kochplatte 14 zum Strahlungsempfänger
StE gelangt und das Meßergebnis im Sinne höherer Temperatur
beeinflußt.
Um diese durch die Veränderung der Stellung des Kochtopfes
10 auf der Kochplatte 14 bedingten Meßfehler zu eliminieren,
sieht die Anordnung ein Strahlungsmeßfeld 17 des
Strahlungsempfängers StE vor, das im Strahlungswinkel und
damit der Größe der detektierten Strahlungsfläche 18 bzw.
21 angepaßt wird. Das Strahlungsmeßfeld 17 ist dabei im
Querschnitt rund und mit zunehmendem Abstand der Topfwand
des Kochtopfes 10 vom Strahlungsempfänger StE verjüngt oder
erweitert es sich kontinuierlich. Bei handelsüblichen
Kochtöpfen und Kochplatten sowie preisgünstigen
Strahlungsempfängern liegt der Verjüngungswinkel oder
Erweiterungswinkel bei wenigen Graden, z.B. 5°. Durch
Verschiebung des Sensors S eines Strahlungsempfängers StE
mit vorgeordneter Optik L, z.B. in Form einer Sammellinse,
kann der Strahlungswinkel verändert werden. Die Verschiebung
erfolgt dabei auf der Mittelachse 16 des Strahlungsmeßfeldes
17 hinter der Optik und wird vorgenommen, wenn der Kochtopf
10′ den größten Abstand b zum Strahlungsempfänger StE
einnimmt. In der Stellung mit dem kleinsten Abstand a wird
der Strahlungsempfänger StE senkrecht zur Stellfläche der
Kochplatte 14 verstellt und der Meßwert am Strahlungsempfänger
StE abgeglichen, so daß im gesamten Verstellbereich vom
Abstand a bis zum Abstand b bei konstanter Temperatur des
Kochgutes im Kochtopf 10 bzw. 10′ der Strahlungsempfänger
StE ein der Temperatur entsprechendes Signal abgibt, so
daß die durch die Störstrahlung der Kochplatte 14 bedingten
Meßfehler bei eingeschwungenem Heizsystem eliminiert sind.
Wie die Fig. 1 zeigt, steht die Mittelachse des Strahlungsmeßfeldes
17 zusätzlich in einem spitzen Winkel von kleiner als 5°
zur horizontalen Stellfläche der Kochplatte 14. Damit wandert
der Mittelpunkt 19 bzw. 20 der detektierten Strahlungsfläche
18 bzw. 21 mit zunehmendem Abstand zwischen dem
Strahlungsempfänger StE und der Topfwand des Kochtopfes
10 bzw. 10′ weiter nach oben, d.h. von der Kochplatte 10
bzw. 10′ weg, so daß auch in der Aufheizphase die zeitlichen
Verschiebungen der Temperaturen, die von der Stellung des
Kochtopfes 10 bzw. 10′ auf der Kochplatte 14 abhängen,
eliminiert werden. Die Fig. 2 zeigt mit x und y die Abstände
der Mittelpunkte 19 und 20 von der Stellfläche der Kochplatte
14.
Die detektierten Strahlungsflächen 18 und 21 sind im
Ausführungsbeispiel praktisch gleich groß, sie nehmen aufgrund
der Neigung der Mittelachse 16 des Strahlungsmeßfeldes 17
jedoch eine elliptische Form an. Bei sich verjüngendem
Strahlungsmeßfeld 17 nimmt die detektierte Strahlungsfläche
21 gegenüber der detektierten Strahlungsfläche 18 ab. Mit
dem Verjüngungswinkel kann die detektierte Strahlungsfläche
21 und damit das Signal des Strahlungsempfängers StE verändert
und auf den Wert abgeglichen werden, der sich bei zentrischer
Stellung des Kochtopfes auf der Kochplatte 14 einstellt.
Um den Kochtopf 10 verläuft die Ringfläche 15, die einen
gleichmäßig hohen Emissionsfaktor aufweist und in ihrer
Breite auf die maximale detektierte Strahlungsfläche ausgelegt
ist, wobei der Abstand a bis b und der Neigungswinkel der
Mittelachse 16 des Strahlungsmeßfeldes berücksichtigt werden.
Diese Ringfläche 15 wird vorzugsweise in den Übergangsbereich
zwischen dem Topfboden und der Topfwand des Kochtopfes 10
gelegt, da in diesem Bereich gerade auch schon in der
Aufheizphase die Temperatur der Topfwand der Temperatur
des Kochgutes im Kochtopf entspricht.
Mit der Kompensation der Störstrahlung nach der Erfindung
wird mit einfachem Strahlungsempfänger das Strahlungsmeßfeld
so verändert, daß mit zunehmendem Abstand zwischen dem
Strahlungsempfänger und der Topfwand des Kochgutes die
detektierte Strahlungsfläche nicht mehr quadratisch zunimmt.
Der durch die Reduzierung der detektierten Strahlungsfläche
auftretende Verlust am Strahlungsempfänger wird durch die
auftretende Störstrahlung ausgeglichen, so daß der
Strahlungsempfänger unabhängig von der Stellung des Kochtopfes
auf der Kochplatte bei konstanter Temperatur auch ein
konstantes Meßsignal abgibt.
Claims (8)
1. Anordnung zum Messen der Temperatur in einem Heizsystem
aus elektrisch beheizter Kochplatte und darauf
abgestelltem Kochtopf mit Kochgut, bei der ein in
unterschiedlichem Abstand zur Topfwand des Kochtopfes
angeordneter und darauf ausgerichteter
Strahlungsempfänger vorgesehen ist, der entsprechend
der vom Strahlungsmeßfeld des Strahlungsempfängers
detektierten Strahlungsfläche der Topfwand, deren
Strahlungsintensität mit zunehmendem Abstand quadratisch
abnimmt, ein von der Temperatur des Kochgutes im Kochtopf
abhängiges Signal abgibt,
dadurch gekennzeichnet,
daß der von der Kochplatte (14) ausgehende und zum
Strahlungsempfänger (StE) gelangende Anteil der
Störstrahlung durch Veränderung des Strahlungswinkels
eines kreuzungsfreien Strahlungsmeßfeldes (17) und
damit entsprechenden Reduzierung der mit zunehmendem
Abstand detektierten Strahlungsfläche (18, 21) kompensiert
ist.
2. Anordnung nach Anspruch 1,
dadurch gekennzeichnet,
daß das Strahlungsmeßfeld (17) annähernd runden
Querschnitt aufweist und sich mit zunehmendem Abstand
kegelförmig verjüngt bzw. erweitert, wobei der
Verjüngungswinkel bzw. Erweiterungswinkel kleiner als
5° ist.
3. Anordnung nach Anspruch 1 oder 2,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Mittelachse (16) des Strahlungsmeßfeldes (17)
des Strahlungsempfängers (StE) in einem Winkel kleiner
als 5° zur horizontalen Stellfläche der Kochplatte
(14) ausgerichtet ist.
4. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Strahlungsempfänger (StE) senkrecht zur
horizontalen Stellfläche der Kochplatte (14) verstellbar
ist.
5. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet,
daß der Verjüngungswinkel bzw. Erweiterungswinkel des
Strahlungsmeßfeldes (17) veränderbar ist.
6. Anordnung nach Anspruch 5,
dadurch gekennzeichnet,
daß bei einem Strahlungsempfänger (StE) mit Eingangsoptik
(L) und nachgeordnetem Sensor (S) der Verjüngungswinkel
bzw. Erweiterungswinkel des Strahlungsmeßfeldes (17)
durch Verschiebung des Sensors (S) auf der Mittelachse
(16) veränderbar ist.
7. Anordnung nach einem der Ansprüche 1 bis 6,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Topfwand des Kochtopfes (10) auf der Außenseite
eine umlaufende Ringfläche (15) mit hohem Emissionsfaktor
aufweist, der sich in der Breite zumindest über den
Bereich der maximal detektierten Strahlungsfläche (18, 20)
erstreckt.
8. Anordnung nach Anspruch 7,
dadurch gekennzeichnet,
daß die Ringfläche (15) einen gleichmäßig hohen
Emissionsfaktor von z.B. größer als 0,9 aufweist.
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8364 | No opposition during term of opposition | ||
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