DE3610484A1 - Verfahren und vorrichtung zum bestimmen des orts von im flachglas vorhandenen fehlern - Google Patents

Description

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Case 4015 - Zebra - Fox

Verfahren und Vorrichtung zu» Bestimmen-, des Orts von im Flachglas vorhandenen Fehlern

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Bestimmen des Ortes bzw. der Position von Fehlern im Flachglas, während dieses längs einer Bahn läuft, indem das Glas mit einem Strahl elektromagnetischer Strahlung abgetastet wird und eine Photodetektoreinrichtung verwendet wird, um den Einfall der Strahlung auf Fehler im Glas zu ermitteln. Die Erfindung bezieht sich auch auf eine Vorrichtung zur Durchführung eines solchen Verfahrens.

Besonders befaßt sich die Erfindung mit dem Ort oder der Position von Fehlern in einem laufenden Glasband, kann aber auch für die Lokalisierung von Fehlern in vororientierten Glasscheiben während deren Förderung längs eines bestimmten Weges herangezogen werden.

Ij 25 Heutzutage wird Flachglas fast ausschließlich als Band

entweder in einer Ziehmaschine oder in einer Floatkammer hergestellt; das Band wird durch einen Kühlofen zu einer Schneidstation gefördert, wo es in Scheiben zum Zwecke des Lagerns und der weiteren Verarbeitung geschnitten wird. QQ Dieser Schneidvorgang wird manchmal automatisch unter Computerkontrolle durchgeführt, so daß Scheiben gewünschter Größen aus dem Band bei minimaler Vergeudung von Glas geschnitten werden können.

g₅ Der Qualitätsstandard von Scheiben aus Glas hängt ab von der Anzahl und der Schwere von Fehlern in den Scheiben. Wenn ein Band oder eine Scheibe aus Flachglas geschnitten werden soll, um Scheiben gewünschter Größe und von gewünschten

-?-IS- 3810484 Qualitätsstandards zu liefern, so ist es wünschenswert, das Vorhandensein und den Ort von merklichen zu bestimmenden Fehlern vorher zu ermitteln, so daß deren Orte bei der Bestimmung der Stellen, an denen das Glas geschnitten werden soll, berücksichtigt werden können.

In einer industriellen Anlage ist es äußerst wünschenswert, das Fehlerermittlungsverfahren zu automatisieren, und automatische Ermittlungs- oder Meßverfahren unter Verwendung der ablenkenden Wirkung von Fehlern auf einen Lichtstrahl oder ein Lichtbündel sind bereits bekannt. Beispielsweise wird hier Bezug auf die Britische Patentschrift 1 526 930 (BFG Glasgroup) genommen, die ein System beschreibt, bei dem eine Glasscheibe oder ein Glasband, die längs eines Förderers sich bewegen, wiederholt von einem abtastenden Lichtstrahl überquert werden und wobei Ablenkungen des Lichtstrahls aufgrund des Vorhandenseins von Fehlern durch ein Photodetektorsystem überwacht werden, welches geeignete Signale an einen Speicher weiterleitet. Der Ort der lichtablenkenden Fehler läßt sich aus dem Timing dieser Signale herleiten. Die Uberquerungszahl oder die Abtastzeit ist eine Anzeige für den Ort des Fehlers längs des Glases; sein Ort längs einer Uberquerungslinie wird hergeleitet durch Vergleich mit einer festgelegten Grundstellung.

Die bekannten Detektorverfahren unter Verwendung eines abtastenden Lichtbündels sind nur in der Lage, die Orte von Fehlern mit ausreichender Genauigkeit zu identifizieren,

gQ wenn sichergestellt ist, daß ein Seitenrand des untersuchten Glases einer konstanten Bewegungslinie immer während des Abtastens des Glases folgt; sonst ist das, was signalisiert wird, nicht der Ort eines Fehlers quer über dem Glas, sondern sein Ort relativ zur Breite des Förderers.

Es gibt Umstände, bei denen die Positionierung des Werkstücks nicht zweckmäßig sichergestellt werden kann. Und in einigen Anlagen ist die Veränderung in der Bewegungslinie der seitlichen Ränder des vorwandernden Glases unvermeid-

lieh. Ein sehr wichtiger Fall ist eine Floatglasproduktionsanlage. Die Position des Floatglases relativ zur Breite des Förderers, durch den es aus der Floatwanne und dann durch den Kühlofen gefördert wird, ist abhängig von Veränderungen in der Laufzeit als Konsequenz von Änderungen in Kräften, die auf das Glasband ausgeübt werden, wenn von einer Floatglasdicke auf die andere übergegangen wird und wenn das Band auf seinem Förderer "Schlangenbewegungen" macht. Die bekannten Detektorverfahren sind deswegen für eine automatische Signalgabe für die Lokalisierung von Fehlern in einem frisch geformten Floatglasband nicht geeignet; es bleibt der Bedarf nach einem Verfahren, welches für diesen Zweck geeigneter wäre.

Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, diesem Bedarf abzuhelfen.

Die Erfindung stellt ein Verfahren zum Bestimmen des Ortes von Fehlern bzw. von deren Lokalisierung in Flachglas, während es längs einer Bahn wandert, zur Verfügung, indem das Glas mit einem Bündel elektromagnetischer Strahlung abgetastet wird und Photodetektoreinrichtungen verwendet werden, um den Einfall des Strahlsauf die Defekte im Glas zu ermitteln.

Zur Lösung dieser Aufgabe zeichnet sich die Erfindung dadurch aus, daß

- das Glas mit einem Bündel elektromagnetischer Strahlung ₃Q abgetastet wird, welcher über den Weg streicht, so daß das Strahlenbündel aufeinanderfolgenden Querbahnen quer über das Glas und so bei jedem Abtastdurchgang der Strahl durch die gegenüberliegenden seitlichen Randbegrenzungen des Glases durchgeht;

gg - daß diese Photodetektoreinrichtung dazu dient, Ablenkungen des Strahls aufgrund seines Einfalls auf eine oder jede seitliche Randbegrenzung des Glases zu erfassen und Abschwächungen oder Ablenkungen des Strahls durch Fehler

im Glas zu ermitteln;

- daß diese Photodetektoreinrichtung Teil einer Signaleinrichtung bildet, welche Ausgangssignale liefert, welche indikativ für Orte längs der abgetasteten Länge des Glases der quer verlaufenden Bahnen sind, in welchen Fehler ermittelt werden und indikativ für die Entfernungen, gemessen längs dieser Bahnen sind, die zwischen diesen Fehlern und der seitlichen Randbegrenzung des Glases gemessen werden, und

- daß diese Ausgangssignale verwendet werden, um die signalisierten Fehlerorte zu identifizieren.

Dieses Verfahren bringt den wichtigen Vorteil mit sich, daß Änderungen in der Position bzw. dem Ort, welche jede seitliche Randbegrenzung des Glases in der Abtaststation während des Durchlaufs des Glases durch diese Station ein-

2Q nimmt, vernachlässigbar in dem Sinne werden, daß sie die Korrektheit der signalisierten Identifikationen der Fehlerorte auf dem Glas nicht beeinflussen. Das Verfahren ist daher besonders geeignet zur Verwendung bei der selbsttätigen Registrierung der Fehlerorte in einem wandernden Glasband aus frisch geformtem Flachglas. Die Erfindung läßt sich aber auch ausführen bei der Bestimmung von Fehlerorten in wandernden vororientierten Scheiben aus Flachglas, deren seitliche Orte auf einem Förderer nicht genau geregelt werden.

Durch eine geeignete Anordnung der Photodetektoreinrichtung der weiter unten besonders beschriebenen Art kann mit dem Verfahren nach der Erfindung die Ortung von Fehlern eines oder mehrerer unterschiedlicher Typen bestimmt wer-„_ den. Diese umfassen Fehler oder Defekte, die einen einfal-

lenden Strahl elektromagnetischer Strahlung aufgrund der Beugung oder Refraktion zur Ablenkung bringen. Diese Fehler umfassen Blasen, Körner (Steinchen) und Steine, die primär die Qualitätsstandards von Flachglasscheiben be-

stimmen. Mit dem Verfahren können auch Fehler in Form opaker Zonen ermittelt werden. Wird beispielsweise ein photoelektrischer Detektor verwendet, der so angeordnet ist, daß er normalerweise durch den Strahl bzw. das Strahlbündel bestrahlt ist, jedoch ein Fehlersignal für den Fall überträgt, daß die Bestrahlung aufhört, weil der Strahl mehr als um ein bestimmtes Ausmaß abgelenkt wird, so wird der Detektor notwendigerweise ein ähnliches Signal für den Fall übertragen, daß das Strahlbündel auf eine opake Zone im Glas auftrifft. Zusätzlich oder alternativ kann man mit diesem Verfahren Fehler ermitteln, welche zu einer merklichen Abschwächung des abtastenden Strahls führen. Solche Fehler umfassen z. B. gewisse Flecken, wie Zinnflecken, die aus einem Floatbad stammen.

Zweckmäßig werden die Positionen längs der abgetasteten Glaslänge der Querbahnen, in welchen Fehler ermittelt werden, im folgenden als Longitudinalpositionen der Fehler bezeichnet, während transversale Entfernungen zwischen ermittelten Fehlern und seitlichen Randbegrenzungen des Glases als Querordinaten der Defekte bezeichnet werden.

Die wichtigsten praktischen Verwendungen des Verfahrens nach der Erfindung sind in der selbsttätigen Regelung eines Markers (Richtpunkts) oder Glasschneiders zu sehen, die während der fortgesetzten Wanderung des Glases über die Detektorstation, wo das Glas abgetastet wird, hinaus das Glas an den Orten der Fehler entweder markiert oder das Glas an Stellen schneidet, die diese Fehlerorte

3Q berücksichtigten. Nach bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung erzeugt somit die Signaleinrichtung Ausgangssignale, die als Regelfaktor bei der selbsttätigen Regelung eines Glasrichtpunkts oder eines Glasschneiders verwendet werden, um das in Bewegung befindliche Glas an

gg einer Stelle zu markieren oder zu schneiden, die in Bewegungsrichtung hinter der Glasabtastungsstation liegt. Bei diesen Ausführungsformen der Erfindung kann man die Longitudinalpositionen der Fehler einfach durch die Auf-

trittszeiten der Fehlerermittlungssignale darstellen, weil die Ankunftszeit eines Defekts an dieser Markier- oder Schneidstation abhängig ist einerseits vom Augenblick der ersten Fehlerermittlung und andererseits von der Laufgeschwindigkeit des Glases und der Entfernung zwischen der Markier- und Schneidstation und der Detektorstation, wo das Glas abgetastet wird.

Als eine Alternative für die Erzeugung von Ausgangssignalen, welche die Longitudinal- oder Längspositionen von Fehlern einfach durch die Zeiten angeben, bei denen solche auftreten, können die Signaleinrichtungen Ausgangssignale erzeugen, welche indikativ für die Longitudinalabstände zwischen den Querbahnen sind, in welchen Fehler ermittelt werden, und einer querliegenden Bezugslinie. Das Verfahren kann beispielsweise bei der Ermittlung von Fehlern in sich bewegenden Glasscheiben verwendet werden, indem die Ankunft der Vorlaufquerkante jeder Scheibe an der Detektorstation ermittelt wird und Ausgangssignale erzeugt werden, welche indikativ für die Längs- oder Longitudinalabstände der Fehler von dieser Kante sind, die als Bezugslinie dient. Diese Ausgangssignale können in ein Aufzeichnungsgerät eingespeist werden, welches die Information in Form einer statistischen Aufzeichnung für die Glasqualitätklassifikation oder für irgendeinen anderen Zweck wiedergibt.

Die Transversalordinate eines Fehlers kann durch die Signaleinrichtungen direkt aus dem Abtastabstand bestimmt werden, der vom Abtaststrahl zwischen dem Augenblick durchlaufen wird (angegeben durch das Auftreten eines Randfehlersignals aus der Photodetektoreinrichtung), bei dem der Strahl am Ort einer Seitenkantenbegrenzung des Glases ankommt, und dem Augenblick, während dieses Ab-

g₅ tastdurchgangs, bei dem ein Fehlersignal aus der Photodetektoreinrichtung das Aufeinandertreffen des Strahls mit dem Fehler anzeigt. Alternativ kann die Transversalordinate durch die Signaleinrichtungen als Funktion des Zeit-

Intervalls zwischen den Augenblicken des Auftretens dieser Kantenablenkungs- und Fehlersignale bestimmt werden; für diesen Zweck jedoch sollte die Abtastgeschwindigkeit des Strahls quer über das Glas im wesentlichen konstant sein.

Es ist nicht notwendig, daß die Signaleinrichtung immer die Transversalordinate eines Fehlers auf der Basis eines bzw. mehrerer Glaskantenpositionssignal(e) bestimmt, die beim tatsächlichen Strahldurchgang oder bei den Strahldurchgängen, bei denen der Fehler angetroffen wird, übertragen werden. Die Inkremente an Glaslänge von Durchgang zu Durchgang sind wohl zu klein, als daß sich irgendeine merkliche Veränderung in der Lage der Glaskanten an der Detektorstation in der Periode zwischen zwei aufeinanderfolgenden Durchgängen oder tatsächlich während der Periode einstellt, die durch viele aufeinanderfolgende Durchgänge abgedeckt ist. In einigen Verfahren nach der Erfindung daher wird ein mittlerer Wert aus Glaskantenablenkungssignalen hergeleitet, die durch die Photodetektoreinrichtungen in einer Vielzahl von aufeinanderfolgenden Durchgängen des Strahls quer über das Glas in der einen Richtung übertragen wurden; dieser mittlere Kantenpositionswert wird für die Ableitung der Ausgangssignale ausgenutzt, die indikativ für die Transversalordinaten der Fehler sind.

Vorzugsweise werden diese Ausgangssignale für den Fehlerort nur für Fehler erzeugt, deren Transversalordinate(n) von jeder Seitenkantenbegrenzung des Glases oberhalb eines

QQ vorbestimmten Minimumwertes liegen. Randbereiche von Ziehoder Floatglas haben oft sehr viel schlechtere Qualität und, wenn festgelegt wird, wo solch ein Glas geschnitten werden soll, um die geforderten Scheibengrößen für den Verkauf zu erzeugen, so ist es oft notwendig, solche Randbereiche als Abfall zu behandeln. Im Falle von Floatglas werden Randstreifen des Bandes durch die Wirkung von Kopfwalzen in der Floatwanne beschädigt; diese Randbereiche des Glases müssen fortgeworfen werden. Indem man bei der

Durchführung nach der Maßnahme der Erfindung dieses bevorzugte Merkmal einhält, vernachlässigt man das Vorhandensein von Fehlern in den Randbereichen des Glases in den Ausgangssignalen, die als Defektortungsidentifikationsdaten dienen. Die Breite der zu beseitigenden Randbereiche wird festgelegt; diese Abmessung steht daher als Regelparameter für die Signaleinrichtungen zur Verfügung. Die Signaleinrichtung kann so angeordnet sein, daß Randfehler oder -defekte nicht zur Erzeugung photoelektrischer Detektorsignale führen oder so angeordnet sein, daß solche Signale erzeugt werden, die Ausgangssignale jedoch nicht beeinflussen.

Vorzugsweise wird der Strahlverlauf durch Uberwachungseinrichtungen überwacht, welche Signale liefern, die indikativ für die Strahlpositionen relativ zu einer festen Bezugsposition sind, die sich außerhalb der Grenzen der Strahlbewegung quer über das Glas befinden; diese Signale werden von den Signaleinrichtungen bei der Ableitung von Ausgangssignalen verwendet. Die Erzeugung von Ausgangssignalen, welche indikativ für die Transversalorte der Seitenränder und Fehler relativ zu einer festen Bezugslage sind, stellt einen Vorteil dar, weil die Ausgangssignale in diesen Fällen besonders nützlich für die selbsttätige Regelung von Vorgängen beim Durchlaufen des Glases durch Vorrichtungen sind, die an einer bestimmten festen Stelle in Bewegungsrichtung hinter dem Bereich angebracht sind, wo das Glas abgetastet wird.

gQ Bei der Herstellung eines kontinuierlichen Glasbandes, bei dem Randbereiche als Abfall zu entfernen sind, bedeutet es einen Vorteil, daß die Ränder vom Band durch Schneideinrichtungen geschnitten werden, die abhängig von Änderungen in den Lagen der Seitenkantenbegrenzungen des Bandes

gg sind, so daß diese Veränderungen nicht zu merklichen Veränderungen in den Breiten der entfernten Ränder führen. Um diesen Vorteil zu erreichen, wird bei einigen Ausführungsformen der Erfindung - in der Anwendung auf die Erfassung

von Fehlerorten in einem kontinuierlichen Glasband - diese Bezugsposition bezogen auf den Rahmen des Glasförderers festgelegt und Signale, die für die Entfernung wenigstens einer seitlichen Randbegrenzung des Bandes von dieser Bezugslage indikativ sind, werden verwendet, um selbsttätig die Schneideinrichtung zu regeln, die in Bewegungsrichtung dahinter längs des Weges des Glasbandes angeordnet ist und dazu dient, einen Randbereich einer bestimmten Breite von einer oder jeder Seite des Bandes abzuschneiden. Zwei Schneideinrichtungen zum Entfernen der gegenüberliegenden Ränder des Bandes können durch die gleichen Signale geregelt werden, wenn die Breite des Bandes im wesentlichen unverändert bleibt. In den meisten Fällen wird es jedoch erforderlich sein, unabhängige Signale zu erzeugen, welehe die Transversal- oder Querentfernungen der verschiedenen Seitenkantenbegrenzungen von dieser festen Bezugslage darstellen.

Wenn die Strahlbewegungen relativ zu einer festen Bezugslage - wie dies bevorzugt ist - überwacht werden, so kann es notwendig oder wünschenswert sein, daß die überwachungseinrichtungen periodisch nachgestellt werden, um die Verläßlichkeit der Uberwachungssignale über eine Periode kontinuierlichen Arbeitens des Verfahrens aufrecht zu erhalten. Das Nachstellen kann von Hand oder selbsttätig abhängig von der Auslegung der verwendeten überwachungseinrichtungen durchgeführt werden. Bei gewissen bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung stellen Signale, die von einem Photodetektor an dieser Bezugsposition oder in

go fester Beziehung hierzu übertragen werden und auf die Bestrahlung eines solchen Photodetektors durch den Abtaststrahl ansprechen, selbsttätig wiederholt die Strahlbewegungsüberwachungseinrichtung zurück, so daß diese korrekt die Lagen des Strahls relativ zu dieser Bezugs-

2g lage signalisiert.

Vorzugsweise gibt die genannte Signaleinrichtung Ausgangssignale ab, welche darstellen (a) die Entfernung, die vom

Abtaststrahl in aufeinanderfolgenden Abtastzyklen aus dieser festen Bezugslage in die Lage durchlaufen werden, in der der Strahl auf die nähere Seitenkantenbegrenzung des Glases trifft, und (b) die Entfernung zwischen dieser Bezugslage und einem signalisierten Fehler. Die Transversalordinate eines signalisierten Fehlers wird dadurch angezeigt, wobei sie gleich der Differenz zwischen diesen signal.Entfernungen ist. Das Signalisieren von Kantengrenz- und Fehlerpositionen, ausgedrückt als ihre Abstände von einer gemeinsamen Bezugslage, vereinfacht die Signalverarbeitungsvorgänge.

Vorzugsweise fällt bei jedem Abtastdurchgang des Strahls der Strahl auf einen Bezugsphotodetektor und sorgt für die Erzeugung eines Bezugssignals gerade bevor der Strahl die nähere Seitenkantenbegrenzung des Glases erreicht; das erste nachfolgende Strahlablenksignal wird durch die Signaleinrichtungen als ein Signal verarbeitet, welches indikativ für das Auftreffen des Strahls auf eine Seitenkantenbegrenzung des Glases ist. Zufällig auftreffende Störsignale, die aus Strahlreflexionen von Teilen der Vorrichtung stammen können, auf welche der Strahl auftrifft, bevor er die unmittelbare Nachbarschaft des Glases erreicht, werden hierdurch abgezogen. Wenn der Strahl eine Seitenkantenbegrenzung des Glases erreicht, wird der Strahl abgelenkt, und diese Ablenkung kann von einem photoelektrischen Detektor in der gleichen Weise wie die Ablenkung aufgrund eines Fehlers registriert oder aufgezeichnet werden. Gewünschtenfalls kann ein und der glei-

Q₀ ehe Detektor sowohl für Kantenbegrenzungs- wie Fehlerermittlungszwecke Verwendung finden. Auf jeden Fall macht die Erzeugung dieses Bezugssignals es unnötig, daß die Kantenbegrenzungssignale von einer sich unterscheidenden Form sind, weil sie von Fehlersignalen aufgrund der Tatsache unterscheidbar sind, daß sie immer die ersten Detektorsignale darstellen, die nach einem Bezugssignal erzeugt werden.

Bezugsphotodetektoren der obengenannten Art können auch als Bezugslagen-Photodetektoren wie oben angegeben dienen. Es ist jedoch besser, diese Bezugsphotodetektoren und einen oder ein Paar dieser Bezugslagen-Photodetektoren vorzusehen, wobei die Bezugsphotodetektoren näher an dem Glasweg angebracht sind.

Vorteilhaft ist jede Abtastbewegung des Strahls als Reihe von Signalimpulsen codiert, so daß jede gegebenene augenblickliche Lage des Strahls einer gegebenen Impulszahl entspricht. Dieses Codieren kann leicht vorgenommen werden und führt zu Signalen, die sich leicht mit den Signaleinrichtungen in Zuordnung zu den Signalen verarbeiten lassen, welche für Glaskanten- oder Fehlerbestrahlung bezeichnend sind.

Bei besonders empfohlenen Verfahren nach der Erfindung gibt es Bezugsphotodetektoren der obengenannten Art; die Abtastbewegung des Strahls wird als eine Reihe von Signalimpulsen codiert, die einem Impulszähler zugeführt werden, der in jeden Abtastzyklus Strahlpositionen in Impulszahlen übersetzt, die von Null bis zu irgendeiner anderen vorbestimmten Bezugseinstellung zählen, welche eine bestimmte Lage des Strahls außerhalb der Grenzen der Strahlbewegung quer über das Glas entspricht; und in jeden der aufeinanderfolgenden Abtastdurchgänge des Strahls sorgt die Bestrahlung der ersten der beiden Bezugsphotodetektoren, die vom Strahl getroffen werden, dafür, daß der Zähler auf einen Wert zurückgestellt wird, der den Strahlbewegungs-

QQ abstand zwischen dieser Bezugslage und dem Bezugsphotodetektor darstellt. Diese Kombination von Merkmalen verbessert die Verläßlichkeit von Fehlerpositionssignalen über Perioden fortgesetzter Anwendung des Verfahrens.

In gewissen Verfahren nach der Erfindung wird ein Strahl bzw. ein Strahlenbündel, das aus der gleichen Strahlungsquelle wie der Glasabtaststrahl kommt, veranlaßt, synchron mit der Abtastung des Glases einen Reflektor mit alter-

nierenden, reflektierenden und nicht-reflektierenden Streifen abzutasten; die Strahlungsquanta, die von dem Streifenreflektor reflektiert werden, fallen auf einen photoelektrischen Detektor und erzeugen hierdurch diese Signalimpulse. Dieses Verfahren zum überwachen der Strahlbewegungen ruft die Erzeugung von ausreichend genauen Fehlerortungssignalen hervor, selbst wenn eine merkliche Veränderung in der Geschwindigkeit des Abtaststrahls während jedes Durchgangs quer über das Glas vorhanden sein sollte. Der Synchronismus zwisch_en der Abtastung des Glases und der Abtastung des Streifenreflektors wird vorzugsweise erreicht, indem ein gemeinsamer oszillierender Reflektor verwendet wird, um beiden Strahlen bzw. Strahlenbündeln die Abtastbewegungen zu erteilen.

Nach anderen Ausführungsformen der Erfindung werden die Lagen des Glasabtaststrahls während jedes Abtastdurchgangs auf der Basis der Durchgangszeit vom Beginn jedes Durchgangs überwacht. Diese Zeit kann mit einem Digitaltaktgeber oder einer Digitaluhr gemessen werden, die Impulse zur Verarbeitung in der gleichen Weise, wie sie Impulse liefert, die abhängig von den Strahlungsmengen geliefert werden, die von einem Streifenreflektor in der vorbeschriebenen Ausführungsform reflektiert werden. Wenn

2g jedoch die Orte eines hinsichtlich des Winkels oszillierenden Strahls auf der Basis von Zeitintervallen überwacht werden, so ist es notwendig, daß die Amplitude der Strahlschwingungen ausreichend über der Querabmessung des Glases liegt, um sicherzustellen, daß die Veränderungen in der

ο« Geschwindigkeit des Strahls während seines Wegs oder seiner Verfolgung über das Glas klein genug sind, um die gewünschte Genauigkeit in der Bestimmung der Fehlerorte zu ermöglichen. Vorzugsweise ist der Glasabtaststrahl ein im Winkel oszillierender Strahl und die Amplitude der Strahl-

g₅ bewegung in der Ebene des Glases ist wenigstens gleich der doppelten Breite des Glases. Unter diesen Umständen wird die Geschwindigkeit des Strahls während seines Wegs oder der Verfolgung über das Glas im wesentlichen konstant, und

die Geschwindigkeit von Wanderung oder Verfolgung kann genommen werden gleich der mittleren Geschwindigkeit des Strahls über den vollen Bogen seiner Bewegung. An oder nahe einer Grenze seines Bewegungsbogens kann der Abtaststrahl auf einen Photodetektor auffallen, von welchem ein Antwortsignal auf den Überwachungstaktgeber übertragen wird und seine Rückstellung veranlaßt, so daß ein gegebener Standard der Uberwachungsgenauigkeit eingehalten wird.

Die Amplitude der Schwingungen eines oszillierenden Abtaststrahls kann selbsttätig verstellt werden, wenn die Amplitude beginnt, einen vorbestimmten Bereich zu verlassen. Für den Fall, daß die Strahlschwingungen durch einen Schwingungsreflektor der weiter unten beschriebenen Art ausgeführt werden, kann dieses selbsttätige Verstellen erreicht werden, indem Erregerimpulse auf einen Elektromagneten übertragen werden, der verantwortlich dafür ist, daß Schwingkräfte auf den Reflektor gegeben werden.

Das Verfahren nach der Erfindung kann so durchgeführt werden, daß die Ausgangssignale eine Anzeige der Längsabmessungen der ermittelten Fehler geben, d. h. deren Abmessung gemessen in Richtung der Förderung des Glases durch die Abtaststation. Um diesen Vorteil zu erreichen werden nach bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung die Anzahl der unmittelbar aufeinanderfolgenden Strahldurchgänge, in welchen fehlerinduzierte Signale erzeugt werden, wenn der Strahl sich in etwa unter der gleichen Entfernung von einer gegebenen Grenzkante des Glases befindet, aufgezeichnet und führen zu Ausgangssignalen, die eine Fehlergröße anzeigen. Im Falle von Bändern aus Scheiben- oder Floatglas haben alle Fehler üblicherweise eine größere Abmessung in der Längsrichtung des Bandes, und diese Abmessung eines Fehlers ist normalerweise ein Zeichen dafür, wie ernst der Fehler als Ganzes ist.

Nach bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung wird der Strahl immer während seiner Bestrahlung des Glases durch das Glas zurückreflektiert, bevor er den oder die Photodetektoren erreicht, von welchen Fehlersignale sich ableiten. Dieses Vorgehen ermöglicht es, daß das Verfahren innerhalb einer kleineren Raumhülle als sonst erforderlich wäre, durchgeführt werden kann. Das optische System kann in noch zweckmäßigerer Weise in Beziehung zum Glasweg angeordnet werden. Wenn beispielsweise ein Band aus Scheiben- oder Floatglas untersucht wird, das längs eines im wesentlichen horizontalen Weges läuft, so können die Strahlquelle und die Fehlerphotodetektoreinrichtungen auf Niveaus unterhalb des Weges des Glases angeordnet sein, und der Reflektor zum Reflektieren des abtastenden Strahls zurück durch das Glas kann oberhalb des Weges angeordnet sein. Vorzugsweise werden die Zonen des Glases, die zu irgendeinem Zeitpunkt durch die einfallenden und reflektierenden Abtaststrahlen bestrahlt werden, nicht voneinander getrennt oder werden nicht um mehr als 2 cm voneinander getrennt. Unter diesen Umständen wird das Auftreten eines Doppelsignals für irgendeinen gegebenen Fehler vermieden oder leicht in Ableitung von einem Fehler identifizierbar gemacht.

Nach einem anderen wünschenswerten, jedoch vorteilhaften Merkmal wird das das Glas verlassende Strahlungsbündel aufgespalten in einen Teil, der auf den Ort eines ersten Detektors übertragen wird, und einen Teil, der auf einen zweiten Detektor übertragen wird; und einer dieser Detek-

Q₀ toren ist angeordnet, so daß er immer dann bestrahlt wird, wenn der Strahl abgelenkt wird, und der andere dieser Detektoren ist so angeordnet, daß er bestrahlt wird, es sei denn, der Strahl oder das Strahlenbündel wird durch einen opaken Fehler unterbrochen oder durch einen Fehler um mehr als ein bestimmtes Ausmaß (beispielsweise durch eine Seitenkante des Glases) abgelenkt. Diese gemeinsame Verwendung von Zwillingsdetektoren, die in unterschiedlichen Richtungen arbeiten, ermöglicht die Erzeugung von

Photodetektorsignalen, die nicht nur das Vorhandensein eines Strahlungsablenkenden Fehlers signalisieren, sondern ihn auch so charakterisieren, daß er gegebenenfalls von einem besonderen Typ ist. Insbesondere erleichtert diese Verwendung von Zwillingsdetektoren die Unterscheidung zwischen strahlungsübertragenen und opaken Fehlern.

Die Erfindung umfaßt ein Verfahren, wo die Photodetektoreinrichtung nicht nur dazu dient, Ablenkungen des Abtast-Strahls zu ermitteln, wie sie durch Seitenkanten des Glases hervorgerufen werden, sondern auch Fehler zu ermitteln, die den Strahl, ohne ihn abzulenken, erfassen. Solch ein Verfahren läßt sich unter Verwendung eines einzigen Fehlerphotodetektors durchführen, der normalerweise

IQ bestrahlt wird durch den aus dem Glas austretenden Strahl und ein Signal nur dann gibt, wenn die einfallende Strahlung unter einen vorbestimmten Minimumwert fällt, entweder weil der Strahl soviel abgelenkt wird, daß der Photodetektor aufhört,bestrahlt zu werden oder weil das Glas einen bestimmten Minimumabschwächungseffekt auf den Strahl hat. Die Minimumstrahlablenkung, bei der der Photodetektor ein Anwortsignal gibt, kann durch die Größe der photoempfindlichen Fläche des Detektors bestimmt werden.

Es ist möglich, die Abtastung durchzuführen, indem der abtastende Strahlsender bewegt wird; vorzugsweise jedoch ist dieser Sender stationär, und das Glas wird durch einen Strahl abgetastet, der auf das Glas durch einen Schwingungsdeflektor, beispielsweise einen Reflektor, abgelenkt wird. Die Abtastbewegungen können leichter in dieser Weise erteilt werden.

Die Erfindung umfaßt Ausführungsformen, bei denen Abweichungen der Abtastdurchgänge des Strahls um mehr als ein gewisses Ausmaß aus einer bestimmten Ebene eine Bestrahlung der Abweichungsphotodetektoren hervorrufen; der Abtastweg wird automatisch abhängig von Signalen aus solchen Abweichungsdetektoren korrigiert. Diese Verfeinerung

bringt eine brauchbare Sicherung gegen Falschbetrieb aufgrund Falschausrichtung des Abtaststrahls, wie er beispielsweise aus der Bewegung der Vorrichtungskomponenten aus voreingestellten Lagen unter Umwelteinflüssen resultieren kann.

Nach einem anderen wünschenswerten, jedoch empfohlenen Merkmal wird das Glas bei einer Frequenz von wenigsten 20 Hertz pro cm Glaslänge abgetastet. Diese Bedingung trägt dazu bei sicherzustellen, daß alle möglichen unzulässigen Fehler in einer Vielzahl von aufeinanderfolgenden Querführungen ermittelt werden, wodurch die Verläßlichkeit gesteigert wird. Das nach dem Verfahren der Erfindung verwendete Strahlungsbündel ist vorzugsweise ein Laser. Das Laserbündel kann leicht sehr schmal ausgeführt werden, was zu einer Genauigkeit in der Fehlerortung führt.

Die Erfindung umfaßt auch eine Vorrichtung zur Bestimmung des Ortes von Fehlern, die in einem flachen Glas vorhanden sind, während sich dieseslängs einer Bahn bewegt; diese Vorrichtung umfaßt Mittel zum Fördern des Flachglases durch eine Teststation, Einrichtungen zur Erzeugung eines Strahls elektromagnetischer Strahlung und zur Hervorrufung solch eines Strahls, der wiederholt quer über den Weg passiert, wodurch aufeinanderfolgende Querspuren quer über das Glas an dieser Teststation aufgefunden werden. Schließlich sind Photodetektoreinrichtungen vorgesehen, um die Strahleinfallsvorgänge auf Fehler im Glas zu erfassen. Die Vorrichtung nach der Erfindung zeichnet sich dadurch

₃q aus, daß diese Photodetektoreinrichtung so ausgebildet ist, daß sie Signale abgibt, die Anzeichen für Strahlablenkungen oder Strahlabschwächungen sowie Strahlablenkungen durch das Glas geben; die Vorrichtung umfaßt einen Strahlüberwacher zur Erzeugung von Signalen, welche die

g₅ Strahlpositionen darstellen, diesem Strahlüberwacher zugeordnete Einrichtungen, um bezüglich jedes Abtastdurchgangs des Strahls in einer Richtung bzw. periodisch bezüglich einer Aufeinanderfolge solcher Abtastvorgänge die

Lage oder mittlere Position aufzuzeichnen, welche vom Strahl oder Strahlbündel bei solchem Durchgang oder solchen Durchgängen erreicht wird, wenn ein erstes Signal, hervorgerufen durch die Strahlablenkung durch das Glas, von den Photodetektoreinrichtungen empfangen wird; die Signalverarbeitungseinrichtung ist so aufgebaut, daß sie im Betrieb Ausgangssignale überträgt, die die Zeit des Auftretens eines Strahldurchgangs anzeigen, bei welchen ein späteres Signal, welches ein Anzeichen für Strahlablenkung oder Strahlabschwächung durch das Glas ist, von der Photodetektoreinrichtung empfangen wird, nachdem der Strahl diese Lage oder die mittlere Strahllage verlassen hat und die auch ein Anzeichen für die Entfernung bilden, um die sich der Strahl im Zeitintervall zwischen dem Augenblick bewegt hat, zu dem er diese Position oder die mittlere Position erreicht, und dem Augenblick dieses späteren Signalempfangs.

Die Vorrichtung ermöglicht nicht nur die Längsorte von Fehlern, sondern auch ihre Querordinaten (d. h. ihre Entfernungen von einer Seitenkantenbegrenzung des Glases) selbsttätig zu signalisieren, selbst wenn die Seitenkantenbegrenzungslage relativ zurBreite des Glasförderers während der Förderung des Glases durch die Abtaststation variiert. Im Falle kontinuierlicher Glasbänder wird die Genauigkeit der signalisierten Daten nicht durch die Veränderung in der Glasbreite beeinflußt, die durch die Glasabtaststation wandern, nicht durch Wellungen auf beiden Seitenkantenbegrenzungen des Glases bezüglich sein gQ Förderrichtung oder durch "Schlangenbewegung" des Glases auf seinem Förderer. Die Vorrichtung ist daher von besonderer Wichtigkeit bei ihrer Anwendung auf die Identifikation von Fehlerorten in Bändern frischgeformten Floatglases.

Die Fähigkeit der Vorrichtung, Querordinaten von Fehlerstellen zu bestimmen, selbst wenn die Seitenkantenbegrenzungen des Glases nicht einer konstanten Bewegungslinie

folgen, ist auf die Tatsache zurückzuführen, daß die Vorrichtung so ausgestaltet ist, daß sie den strahlungsablenkenden Effekt ausnutzt, welcher eine Seitenkantenbegrenzung eines Flachglases hat, wenn ein strahlenbündel veranlaßt wird, gegen und durch diese Begrenzung zu streichen. Die Vorrichtung nach der Erfindung soll zur Bestimmung des Ortes von Fehlern in sich bewegendem Flachglas mit einer Breite Verwendung finden (gemessen quer zur Förderrichtung), die geringer ist als die Länge der Bahn, die vom Strahl in der Ebene des Glases überstrichen wird. Vorausgesetzt, daß diese Bedingung eingehalten wird, so fällt das erste Signal, das für Strahlablenkung durch das Glas ein Anzeichen ist und welches durch die Photodetektoreinrichtung ausgesandt wurde, bei jedem Strahldurchgang mit dem Einfall des Strahls auf der näheren Seitenkantenbegrenzung des Glases zusammen. Wenn in ein und dem gleichen Durchgang des Strahls ein späteres Signal durch die Photodetektoreinrichtungen ausgesandt wird, das auf das Vorhandensein eines Fehlers zurückzuführen ist, der das Strahlungsbündel ablenkt oder abschwächt, wobei in diesem Fall die vom Strahl zwischen den Augenblicken des Auftretens dieser ersten und nachfolgenden Signale durchlaufene Entfernung die Transversalordinate eines solchen Fehlers, d. h. ihr Abstand von einer Seitenkantenbegrenzung des Glases ist. Wenn ein solches späteres signal auf die Ablenkung des Strahls durch die weitere Seitenkantenbegrenzung des Glases zurückführbar ist, so kann dies abgezogen werden aufgrund der Tatsache, daß die vom Strahl im Zeitintervall zwischen den Wiederholungen dieses ersten

gO und des späteren Signals durchlaufene Entfernung im wesentlichen der Breite des Glases entspricht.

Die Photodetektoreinrichtung der Vorrichtung nach der Erfindung kann so gewählt werden, daß sie auf die Erfassung unterg₅ schiedlicher Arten von Fehlern paßt, beispielsweise Blasen, Steinchen und Steine, die zu einer Ablenkung einfallender Strahlung führen, Fehler, die opak gegen die verwendete Strahlung sind, und Fehler in Form von Flecken,

wie beispielsweise Zinnflecken, die von einem Floatbad stammen, welches das Strahlungsbündel nur in abgeschwächtem Zustand überträgt.

Vorzugsweise ist die Signalverarbeitungseinrichtung mit einem Regelmechanismus eines Glasrichtpunkts oder einer Glasmarkiereinrichtung oder Schneideinrichtung längs der Förderungsbahn des Glases in Bewegungsrichtung hinter der Abtaststation verbunden, so daß die Markier- oder Schneideinrichtung das Glas an den Stellen der Fehler markiert oder gegebenenfalls das Glas an Stellen schneidet, die die signalisierten Fehlerorte berücksichtigen. Auf diese Weise kann die Schneideinrichtung so geregelt werden, daß das untersuchte Glas in Scheiben geforderter Größe und von

gewünschtem Qualitätsstandard geschnitten werden. Die 15

Augenblicke, an denen die fehlerinduzierten Signale durch

die Fotodetektoreinrichtungen erzeugt werden, gibt ein Anzeichen für die Longitudinallagen der Fehler, d. h. die Positionen der Strahlspuren, die quer über das Band gezogen werden oder denen gefolgt wird, in welchen die Fehler 20

zu finden sind; vom Zeitpunkt des Auftretens dieser Signale, der Entfernung zwischen der Abtaststation und der Markier- oder Schneidstation und der Geschwindigkeit des Glases lassen sich die Ankunftszeiten jener Fehler an der

Markier- oder Schneidstation bestimmen. 25

Die Vorrichtung nach der Erfindung kann alternativ so ausgelegt werden, daß sie Ausgangssignale abgibt, welche die Längslagen von Fehlern, ausgedrückt als Entfernungen

von einer transversalen Bezugslinie, anzeigen. Beispiels-30

weise Vorrichtungen zur Erfassung der Orte von Fehlern in vorgeführten Glasscheiben können einen Photodetektor aufweisen, der auf Strahlablenkung anspricht, die durch die Ankunft der Förderkante einer Scheibe zwischen einem solchen Photodetektor und einer Strahlungsquelle hervorgerufen wird. In diesem Fall kann diese Förder- oder Anlaufkante als Bezugslinie dienen, und die Signalverarbeitungseinrichtung kann die Auftretungszeiten der Be-

zugs- und Fehlersignale vergleichen und Ausgangssignale übertragen, die die Longitudinalentfernungen der Fehler von den Anlaufkanten der Scheiben anzeigen.

Es ist nicht notwendig, daß die Transversalordinaten eines zu bestimmenden Fehlers in jedem Fall auf der Basis von (a) Glaskantenpositionssignalen bestimmt werden, welche von der Photodetektoreinrichtung tatsächlich beim Strahldurchgang oder bei den Strahldurchgängen übertragen werden,

IQ bei denen ein solcher signalisierter Fehler auftritt. Das Zeitintervall zwischen aufeinanderfolgenden Durchgängen des Strahls über das Glas ist so gering, daß wenigstens für den Fall, daß das untersuchte Glas ein frisch gebildetes kontinuierliches Glasband ist, keine merkliche Anderung in dem Kantenort des Glases an der Meßstation, selbst über die Periode eintritt, die von vielen Strahldurchgängen abgedeckt wird. Dies ist der Grund, daß es im Interesse der Vereinfachung einer Signalverarbeitungseinrichtung bei manchen Vorrichtungen nach der Erfindung so ist, daß die Verarbeitungseinrichtung eine Möglichkeit umfaßt, durch die periodisch das Mittel der Strahlorte bestimmt wird, an denen Photodetektorsignale, die für die Ablenkung des Abtaststrahls durch eine Seitenkantenbegrenzung des Glases indikativ sind, in einer Vielzahl von vorhergehenden Durchgängen des Strahls übertragen werden; die Transversalordinaten-Ausgangssignale werden auf der Basis dieses gemittelten Wertes abgeleitet.

Vorzugsweise umfaßt die Vorrichtung Discounting- oder Abzugseinrichtungen, um zu verhindern, daß die Ausgangssignale aus der Signalverarbeitungseinheit den Ort von Fehlern anzeigen, die kleiner als eine vorbestimmte Entfernung von einer Seitenkantenbegrenzung des Glases sind. In vielen Fällen der potentiellenVerwendung der Vorrichtung ist es nicht von Interesse, den Ort von Fehlern nahe der Seitenkantenbegrenzungen des Glases zu identifizieren, weil eine geringere Qualität des Glases in den Seitenrandbereichen hiervon ein unvermeidliches

Ergebnis des Glasbildungsverfahrens selbst ist und diese Randbereiche systematisch als Ausschuß behandelt werden. Die Breite der nicht verwendbaren Ränder hängt von der Art der Glasbildungsmaschine, durch welche das flache Glas erzeugt wird, von der Gesamtbreite des die Maschine verlassenden Flachglases und anderen Faktoren ab. Im Falle der Erzeugung eines Floatglasbandes von etwa 3 bis 4 m Breite kann jeder der Seitenränder, die als Ausschuß behandelt werden müssen, beispielsweise in der Größen-Ordnung von 10 bis 20 cm Breite liegen. Obwohl die durch die Signalverarbeitungseinheit signalisierte Information Positionsdaten selbst für Defekte umfassen kann, die in den Teilen des Bandes, die ausgesondert werden sollen, auftreten, ist es zufriedenstellender, wenn solche Fehler abgezogen werden. Die signalisierten Ausgangsdaten werden dann auf die wichtigere Information begrenzt.

Solche Discounting- oder Abzieheinrichtungen können Teil der Signalverarbeitungseinrichtung bilden und so funktionieren, daß sie Glasfehlersignale, die abgezogen werden sollen, blockieren. Alternativ kann die Fehlerphotodetektoreinrichtung Mitteln zugeordnet werden, die während irgendeines gegebenen Durchgangs des abtastenden Strahlbündels die übertragung von abzuziehenden Signalen auf diese Signalverarbeitungseinrichtung ausschließt.

Die Erfindung umfaßt Vorrichtungen der vorbeschriebenen Art, bei denen die Strahlüberwachungseinrichtung so konstruiert ist, daß sie Signale erzeugt, welche die Strahl-

gO orte relativ zu einer festen Bezugslage darstellen, die sich außerhalb der Grenzen der Strahlbewegung quer über das Glas befindet. In solch einer Vorrichtung können die Signalverarbeitungseinrichtungen Ausgangssignale liefern, welche Seitenkantenbegrenzungs- und Fehlerorte längs des Abtastungswegs relativ zu einem festen Bezugsort anzeigen. Dies ist von Vorteil, weil solche Ausgangssignale besonders brauchbar in der selbsttätigen Regelung von Vorgängen bei Glas sind, welches aufgrund von Vorrichtungen sich

bewegt, die in einer bestimmten festen Lage in Bewegungsrichtung hinter dem Bereich, wo das Glas abgetastet wird, angebracht sind.

Vorteilhaft sind Glasschneideinrichtungen an einem Ort längs des Weges des Glases in Bewegungsrichtung hinter der Teststation angebracht; die Vorrichtung umfaßt Einrichtungen, die in aufeinanderfolgenden Abtastzyklen Signale erzeugen, welche indikativ für die Entfernungen des Strahls von einer Bezugslage der vorgenannten Art sind, wenn der Strahl auf die Seitenkantenbegrenzungen des Glases auftrifft; Einrichtungen zum Regeln dieser Schneideinrichtungen in Abhängigkeit von jenen Signalen sind vorgesehen, die veranlassen, daß die Schneideinrichtungen die Randteile bestimmter Breite vom Glas während seiner Bewegung von der Teststation fortschneiden. Solch eine Vorrichtung bedeutet einen besonderen Vorteil in der Anlage zur Erzeugung eines kontinuierlichen Bandes flachen Glases, von welchem Randteile kontinuierlich wegen deren schlechter Qualität entfernt werden müssen. Durch Regeln der Randschneideinrichtungen durch Signale, die die Strahlverschiebungsabstände aus einer Bezugslage anzeigen, die bezüglich des Glasbandförderers fest ist, kann die Breite der entfernten Ränder im wesentlichen konstant trotz der Änderungen in den Bewegungslinien der seitlichen Begrenzungskanten des Bandes aufgrund von schlangenartiger Ausbildung des Bandes oder aus irgendeinem anderen Grund gehalten werden. Die Schneideinrichtungen zum Entfernen gegenüberliegender Ränder des Bandes können mit den gleichen Signalen geregelt werden, wenn die Breite des Bandes im wesentlichen unverändert bleibt. In den meisten Fällen jedoch wird erforderlich sein, unabhängige Signale zu erzeugen, welche die Transversalentfernungen der unterschiedlichen Seitenkantenbegrenzungen aus dieser festen Bezugslage darstellen.

Bei einer Vorrichtung, bei der der Strahlüberwacher so angeordnet ist, daß er Strahlverschiebungen relativ zu

einer festen Bezugslage der oben angegebenen Art überwacht, kann es notwendig oder wünschenswert sein, daß die Vorrichtung Mittel umfaßt, wodurch die überwachungseinrichtungen periodisch rückgestellt werden können, um die Verläßlichkeit der überwachungssignal über eine Periode kontinuierlichen Arbeitens des Verfahrens beizubehalten. Solch eine Rückstelleinrichtung kann für Hand- oder Automatikbetrieb ausgelegt sein. Nach bevorzugten Ausführungsformen der Vorrichtung nach der Erfindung ist wenigstens ein im Abtastweg des Strahls an diese Bezugslage oder in fester Beziehung dazu wirksam mit der Strahlüberwachungseinrichtung verbunden, so daß sie veranlaßt wird, selbsttätig wiederholt durch Signale rückgestellt zu werden, die von solch einem Photodetektor übertragen werden, wodurch sichergestellt wird, daß die Überwachungssignale korrekt die Strahlorte relativ zu diesem Bezugsort darstellen.

Die Signalverarbeitungseinrichtung nach der Erfindung ist vorzugsweise so ausgelegt, daß sie Ausgangssignale liefert, welche (a) die Entfernung darstellen, die vom abtastenden Strahl in aufeinanderfolgenden Abtastzyklen aus einer festen Bezugsstellung in die Stellung durchlaufen wird, in der der Strahl auf die nähergelegene Seitenkantenbegrenzung des Glases trifft und (b) die Entfernung zwischen dieser Bezugslage und der Lage angibt, in der der Strahl auf einen Fehler im Glas trifft. Das Signalisieren von Kantenbegrenzungs- und Fehlerorten, ausgedrückt als deren Entfernung von einer gemeinsamen Bezugslage, ist ₃Q vorteilhaft bei der Vereinfachung der Signalverarbeitung. Die die Entfernungen (a) und (b) repräsentierenden Signale geben eine Transversalordinatenanzeige eines signalisierten Fehlers, wobei diese Ordinate die Differenz zwischen diesen signalisierten Entfernungen ist.

Vorzugsweise umfaßt die Vorrichtung ein Paar von Photodetektoren (im folgenden "Bezugsphotodetektoren" genannt), die nahe den gegenüberliegenden Enden der Bahn angeordnet

sind, welche vom Strahl während des Wanderns über das Glas überstrichen werden, wobei diese Bezugsphotodetektoren mit der Signalverarbeitungseinrichtung verbunden sind, welche die Ausgangssignale überträgt, die eine Angabe der Strahlablenkung durch das Glas gibt; diese Verarbeitungseinrichtung ist so aufgebaut, daß sie ein Photodetektorantwortsignal nicht als indikativ für Strahlablenkung oder -abschwächung durch einen Glasfehler behandelt, wenn ein solches Signal während eines ersten Teils eines Abtastdurchgangs des Strahls geliefert wird, bevor der Strahl einen Bezugsphotodetektor erreicht. Solche Bezugsphotodetektoren vorzusehen, ist günstig, wenn man Ausgangssignalfehler wegen zufälliger Reflexionen der Strahlung auf den Photodetektoren während der Bewegungen des Strahls über die Enden seiner Wege quer über das Glas hinaus vermeiden will.

Die Vorrichtung umfaßt vorteilhaft eine Einrichtung, die jede Abtastbewegung des Strahlenbündels als eine Reihe von Signalimpulsen codiert , so daß irgendeine gegebene Momentanposition des Strahls einer gegebenen Impulszahl entspricht. Diese Signalimpulse können ohne weiteres in Zuordnung zu Photodetektorsignalen verarbeitet werden, um die geforderten Ausgangssignale, welche Fehlerorte darstellen, hieraus abzuleiten.

Bei besonders bevorzugten Ausführungsformen der Vorrichtung nach der Erfindung ist ein Impulszähler vorgesehen, um Strahlorte in jedem Abtastzyklus in Impulszahlen zu

3Q übersetzen, die von Null oder irgendeiner anderen vorbestimmten Bezugseinstellung entsprechend einer vorbestimmten Bezugsstellung des Strahls aus zählen; Bezugsphotodetehtoren der obengenannten Art sind wirksam mit diesem Zähler verbunden, so daß bei jedem der aufeinanderfolgenden Abtast-

gg durchgänge des Strahls das Antwortsignal aus der Bestrahlung des ersten der beiden Bezugsphotodetektoren, die vom Strahl getroffen werden, zu einer Rückstellung des Zählers auf einen Wert führt, der die Strahlverschiebungsentfer-

nung zwischen dieser Bezugsstellung und dem Bezugsphotodetektor repräsentiert. Die Kombination von Merkmalen ist hilfreich, wenn man die Verläßlichkeit der Fehlerortsignale über Zeiträume kontinuierlicher Verwendung der Vorrichtung verbessern will, insbesondere, wenn die Bezugsphotodetektoren in enger Nachbarschaft zu Orten angebracht sind, an denen der Strahl beginnt, über das Glas zu wandern.

Bei manchen Vorrichtungen nach der Erfindung ist ein Reflektor mit alternierenden, reflektierenden und nichtreflektierenden Streifen vorgesehen, Einrichtungen, die ein zweites Strahlungsbündel veranlassen (im folgenden "Uberwachungsstrahl" genannt), der von den Abtaststrahl-

I^ erzeugungseinrichtungen abgeleitet ist, um solch einen Reflektor synchron mit den Abtastbewegungen des Glasabtaststrahls abzutasten; ein Photodetektor ist so angeordnet, daß er durch Strahlungsquanten bestrahlt wird, die von dem Streifenreflektor reflektiert werden und der diese Impulssignale, abhängig von dieser Bestrahlung liefert.

Die Form der Vorrichtung zum Codieren der Abtastbewegungen des Abtaststrahls hat den Vorteil, daß die Genauigkeit, mit der das gepulste Signal die Position dieses Strahls zu irgendeinem Zeitpunkt darstellt, nicht durch Fluktuationen

2g in der Geschwindigkeit des Strahls während seiner Wanderungsbewegung über das Glas beeinflußt. Solche Geschwindigkeitsfluktuationen sind unvermeidlich für den Fall, daß der Abtaststrahl das Glas durch hin- und hergehende Winkelbewegung abtastet; sie sind von wesentlicher Größe,

_g0 es sei denn, daß der Bewegungsbogen des Strahls wesentlich größer als die Breite des Glases wird. Genauigkeit und Verläßlichkeit werden durch die Ableitung des Überwachungsstrahls von der gleichen Quelle wie der Abtaststrahl gefördert. Vorzugsweise wird der Synchronismus von Abtast- und Uberwachungsstrahlen durch Verwendung eines gemeinsamen oszillierenden Deflektors (beispielsweise eines Reflektors) sichergestellt, um den beiden Strahlen Abtastschwingungen zu erteilen.

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Bei anderen erfindungsgemäßen Ausführungsformen der Vorrichtung ist ein Digitaltaktgeber vorgesehen, der die Abtaststrahlbewegung in Form von Durchgangszeiten vom Beginn jedes Abtastdurchgangs überwacht und Signalimpulse gibt, welche indikativ für die Strahllage sind. Diese Form von Strahlüberwachungseinrichtung läßt die Notwendigkeit in Fortfall kommen, einen zweiten Strahl vom Abtaststrahlgenerator abzuleiten und den Streifenreflektor und den zugeordneten Photodetektor der oben beschriebenen Art vorzusehen. Mittels eines Uberwachungstaktgebers wird es möglich, Ergebnisse ähnlicher Genauigkeit zu erhalten. Wenn jedoch die Abtaststrahlen im Winkel hin- und herbewegt werden (im Unterschied zur Drehung in einer Richtung, so daß wiederholt das Glas in der gleichen Richtung überstrichen wird), ist es notwendig, daß die Amplitude der Strahlbewegungen beachtlich größer als die Breite des Glases wird. Vorzugsweise beträgt diese Amplitude wenigstens das Doppelte der Glasbreite. Wenn ein Photodetektor mit fester Bezugslage der vorbeschriebenen Art vorzugsweise angeordnet ist, wird dieser Photodetektor vorzugsweise mit dem Taktgeber so verbunden, daß dies eine Rückstellung in eine Bezugseinstellage jedesmal dann ist, wenn der Bezugslagenphotodetektor durch den Abtaststrahl bestrahlt wird.

Bei bevorzugten Konstruktionsformen ist die Signalverarbeitungseinrichtung so ausgelegt, daß sie im Betrieb Ausgangssignale abgibt, welche indikativ für die Anzahl der unmittelbar aufeinanderfolgenden Strahldurchgänge ist, wobei eine Strahlablenkung oder ein Abschwächungssignal übertragen wird, wenn der Strahl sich in etwa unter der gleichen Entfernung von einer Seitenkantenbegrenzung des Glases befindet. Diese Auslegung der Signalverarbeitungseinrichtung hat den Vorteil, daß die Ausgangssignale der

g₅ Vorrichtung nicht nur die Informationen über die Orte der Strahlungsablenkungsfehler, sondern auch über die Größen der Fehler geben. Die für Fehlergrößen stehenden Signale können weiter durch einen Selektormechanismus verarbeitet

werden, der die Qualität unterschiedlicher Bereiche des Flachglases auf der Basis von Zahl, Verteilung und Fehlergrößen hierin bestimmt.

Nach einem weiteren wünschenswerten, jedoch vorzugsweisen Merkmal umfaßt die Vorrichtung einen Reflektor, der so angeordnet ist, daß er den Abtaststrahl zurück durch das Glas reflektiert, und die Photodetektoreinrichtung zum Ermitteln der fehlerinduzierten Strahlablenkungen oder -abschwächungen ist so angeordnet, daß sie auf Ablenkungen oder Abschwächungen dieses reflektierten Strahls anspricht, nachdem diese das zweite Mal vom Glas austritt. Die Vorrichtung so auszulegen, ist besonders günstig, was den Platzbedarf der Vorrichtung angeht. Nach einer möglichen Anordnung lassen sich die Strahlbündelquelle sowie die Photodetektoreinrichtung zum Erfassen fehlerinduzierter Strahlablenkungen oder -abschwächungen unterhalb des Förderweges des Glases einbauen; der Abtaststrahlreflektor kann oberhalb dieses Weges angeordnet sein. Die Strahlquelle kann so angeordnet sein, daß sie den Strahl direkt nach oben gegen den Weg des Glases aussendet, oder der Strahl kann in einer horizontalen oder fast horizontalen Richtung auf einen Reflektor ausgesandt werden, der den Strahl nach oben gegen diesen Weg reflektiert. Die letztgenannte Anordnung macht es der Vorrichtung möglich, unter Umständen zu arbeiten, unter denen die optische Länge des Abtastsystems größer ist als im verfügbaren vertikalen Raum untergebracht wer den kann. Die Strahlquelle kann natürlich alternativ so angeordnet sein, daß sie den Abtast-

QQ strahl nach unten auf das Glas richtet; diese Anordnung führt jedoch zu Schwierigkeiten und zu Aufwand bei der Anbringung der Vorrichtung in Arbeitsstellung.

Ein anderes wünschenswertes, allerdings sehr bevorzugtes _g5 Merkmal, liegt darin, einen StrahlbündelaufSpalter zum Aufspalten des Abtaststrahls vorzusehen, nachdem dieser die Bewegungsbahn des Glases verläßt, und zwar in zwei abgeleitete StrahKbündel) und zwei gesonderte Photode-

tektoren für diese Ableit- oder Abzweigstrahlen, wobei die Photodetektoren so angeordnet sind, daß dann, wenn die Vorrichtung in Betrieb ist, einer von diesen nur dann bestrahlt wird, wenn der Abtaststrahl durch das Glas abgelenkt wird, während der andere bestrahlt wird, es sei denn, das Abtaststrahlbündel wird daran gehindert, durch das Glas übertragen zu werden oder wird um mehr als ein gewisses vorbestimmtes Ausmaß gelenkt. Von Vorteil für diese Zwillingsdetektoranordnung ist, daß hierdurch die Erzeugung von Informationssignalen möglich wird, die nicht nur den Ort eines Fehlers anzeigen, sondern auch angeben, ob der Fehler in einen besonderen Kategorietyp fällt oder nicht fällt. Wenn beispielsweise dieser eine Detektor eine Strahlablenkung erfaßt, der andere Detektor jedoch bestrahlt bleibt, so ist dies eine Anzeige für einen Fehlertyp der nur einen geringen Beugungseffekt auf die einfallende Strahlung hat; und wenn zu irgendeinem Zeitpunkt keiner der Detektoren bestrahlt wird, so ist dies ein Anzeichen einer Unterbrechung des Abtaststrahls durch eine opake zone im Glas.

Die Erfindung umfaßt auch eine Vorrichtung, bei der die Photodetektoreinrichtungen einen Photodetektor umfassen, der so angeordnet ist, wenn die Vorrichtung im Betrieb ist, sie normalerweise durch den Strahl bzw. das Strahlbündel bestrahlt wird, der bzw. das aus dem Glas austritt und welche ein Signal gibt, wenn die einfallende Strahlung unter einen vorbestimmten Minimumschwellenwert fällt.

Solch eine Photodetekoreinrichtung ist in der Lage, Fehler zu erfassen und zu signalisieren, welche den Abtaststrahl abschwächen, ohne ihn abzulenken. Die Photodetekoreinrichtung einer solchen Vorrichtung muß natürlich auch Strahlablenkungen erfassen wie sie beispielsweise durch die Ränder oder Kanten den Glases hervorgerufen werden. Solche großen Strahlablenkungen erfassen, wie sie beispielsweise durch die Ränder oder Kanten des Glases hervorgerufen werden. Solche großen Strahlablenkungen sowie solche Strahlabschwächungen können nur durch ein und den gleichen

Photodetektor mit einer empfindlichen Fläche einer Größe erfaßt werden, die bestrahlt bleibt, es sei denn, der Abtaststrahl wird um mehr als ein vorbestimmtes Minimumausmaß abgelenkt.

Vorteilhaft wird die Strahlerzeugereinrichtung so gehalten, daß sie stationär verbleibt, wenn die Vorrichtung sich im Betrieb befindet, und die Vorrichtung umfaßt einen Deflektor, beispielsweise einen Reflektor, der mit Mitteln gekoppelt ist, um solch einen Deflektor oszillieren zu lassen und die Abtastbewegungen des Strahls zu erzeugen. Ein besonders empfehlenswerten Oszillationsmechanismus, um den Deflektor oszillieren oder hin- und herschwingen zu lassen, umfaßt ein am Deflektor befestigtes Torsionselement und Einrichtungen, beispielsweise elektromagnetische Mittel, um solch ein Element bei seiner Eigenfrequenz schwingen zu lassen. Es hat sich herausgestellt, daß solch ein Schwingsystem in der Lage ist, genau und zuverlässig zu arbeiten. Die oszillierende Masse kann sehr gering sein. Der Elektromagnet kann durch Spannungsimpulse erregt werden, die durch die Deflektorbewegung selbst geregelt werden, so daß die Impulsfrequenz mit der Resonanzgrundfrequenz des Torsionselements zusammenfällt.

Bei manchen Vorrichtungen nach der Erfindung sind Abweichungsphotodetektoren angeordnet, um ein Antwortsignal dann zu geben, wenn der Weg des Abtaststrahls um mehr als ein bestimmtes Ausmaß von einer vorbestimmten Ebene abweicht; solche Abweichungsphotodetektoren sind wirksam mit

QQ Einstelleinrichtungen verbunden, welche für automatische Korrekturverstellungen dieses Weges sorgen. Dieses zusätzliche Merkmal bringt eine brauchbare Sicherung gegen ein Falscharbeiten aufgrund falscherAusrichtung des Abtaststrahls, die beispielsweise aus der Bewegung der Vorrichtungskomponenten aus Voreinstellagen unter Umwelteinflüssen resultieren kann.

Nach einem anderen empfehlenswerten Merkmal werden die Einrichtungen zur Erzeugung des Abtaststrahls, die Fehlerphotodetektoren und die Einrichtungen, die dem Strahl Abtastbewegungen erteilen, in eine einzige Anordnung integriert. Die installation der Vorrichtung in zweckmäßiger Beziehung zu einem gegebenen Glasförderer wird hierdurch erleichtert.

Vorzugsweise ist der Strahlungsbündelemitter oder Sender eine Laserkanone. Die Verwendung eines Lasers ist vorteilhaft, um die momentan bestrahlte Zone des Glases so klein wie möglich werden zu lassen und dadurch der Vorrichtung ein sehr hohes Auflösungsvermögen zu geben.

Eine beispielsweise Ausführungsform der Erfindung, von Verfahren und Vorrichtung, soll nun mit Bezug auf die beiliegenden Zeichnungen näher erläutert werden. Diese zeigen in:

Fig. 1 eine schematische Darstellung eines Abtast-

und Detektor- bzw. Ermittlungssystems in Betrieb und

Fig. 2 ein Blockschaltbild eines bei diesem System verwendeten Signalisierungssystems.

Fig. 1. zeigt das Abtast- und Detektorsystem, in Förderrichtung eines Glasbandes 1 gesehen. Die aussendende Strahlungsquelle 2 sowie eine Anzahl von Photodetektoren zum überwachen der Abtastbewegungen des Strahls sowie der Detektorstrahlablenkungen sind an einem Ort unterhalb des Weges des Glasbandes angeordnet: oberhalb des Weges befindet sich ein konkaver Reflektor 3 zum Reflektiern der Strahlung zurück auf diese Detektoren.

Die Strahlungsquelle 2 ist vorzugsweise eine Laserkanone; das Strahlbündel wird in der folgenden Beschreibung daher als Laserstrahl bezeichnet. Die sendende Strahlungsquelle

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2 ist in einer festen Lage angebracht. Der Laserstrahl wird durch einen Halbspiegel 4 in einen übertragenen Anteil 5 und einen reflektierten Anteil 6 geteilt. Dieser reflektierte Anteil wird weiter durch Reflektoren 7 und 8 reflektiert. Das übertragene Strahlenbündel bzw. der übertragene Strahl 5 und das Strahlenbündel bzw. der übertragene Strahl 9, der durch den Spiegel 8 reflektiert wurde, fallen beide auf einen Reflektor 10. Die Mitte des Reflektors 10 befindet sich in einer Ebene, welche die Krümmungsachse des Reflektors 3 halbiert und enthält.

Der Reflektor 10 ist auf einem Torsionsstab gelagert und wird durch einen Elektromagneten in Schwingungen versetzt, der in seinem Erregerkreis einen Schalter hat, der durch die Reflektorbewegungen betätigt wird, so daß der Reflektor bei der Eigenfrequenz des Stabes in Schwingungen versetzt wird. Die Schwingungsfrequenz des Reflektors 10 liegt bei 800 Hertz. Die Schwingung oder Oszillation des Reflektors 10 sorgt dafür, daß der hiervon reflektierte Abtaststrahl 11 das Glasband 1 bei dieser Frequenz abtastet. Nehmen wir beispielsweise an, daß die Geschwindigkeit des Glasbandes 20 cm pro Sekunde beträgt, so ist das Ergebnis das, daß das Glasband 40 Abtastzyklen des Strahls pro cm Bandlänge ausgesetzt wird.

Der Strahl 9 wird durch den oszillierenden Reflektor 10 in einen oszillierenden reflektierten Strahl 12 umgeformt, der genau synchron mit dem Abtaststrahl 11 eine hin- und

2Q hergehende überstreichende Bewegung ausführt. Der Strahl 12 tastet einen konkaven gestreiften Reflektor 13 mit reflektierenden und nicht-reflektierenden Streifen ab, die alternativ längs des vom Strahl überstrichenen Weges angeordnet sind. Der Reflektor 13 reflektiert daher intermittierend einfallendes Licht, das Licht wird in einer Aufeinanderfolge diskreter Quanten oder Impulse reflektiert, wie durch die gestrichelte Linie 14 angedeutet. Diese Lichtimpulse werden gegen den Ort eines Photodetektors 15

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gerichtet. Die Mitte dieses Photodetektors und die Mitte des oszillierenden Reflektors 10 sind symmetrisch bezüglich der Ebene angeordnet, welche die Krümmungsachse des Reflektors 13 halbiert und enthält; so werden sämtliche Lichtimpulse vom Photodetektor 15 unabhängig von den Oszillations- oder Schwingbewegungen des Strahlbündels 12 empfangen, von dem die Impulse erzeugt werden. Der synchrone Abtaststrahl 12, der Streifenreflektor 13, sowie der Detektor 15 dienen zusammen zum Codieren der Abtastbewegungen des Hauptabtaststrahls 11 als eine Reihe elektrischer Signalimpulse, die durch eine Signalverarbeitungseinheit der nachbeschriebenen Art verarbeitet werden.

Die Schwingungsamplitude des oszillierenden Reflektors 10 ist derart, daß der vom Strahl in der Ebene des Glasbandes überstrichene Weg sich merklich bis außerhalb der Grenzen des Weges des Bandes erstreckt. Die Amplitude ist nämlich derart, daß der Strahl aus einer durch die Linie X bezeichneten Bezugslage an einer Seite des Bandweges in eine durch die Linie Y auf der anderen Seite dieses Weges die überstreichende Bewegung durchführt. Somit geht der Strahl unter Überstreichen durch beide seitliche Randbegrenzungen des Bandes während jeder Querabtastbewegung des Strahls durch. In der dargestellten Ausführungsform der Erfindung sind Bezugsphotodetektoren 16 und 17 benachbartden gegenüberliegenden Enden des Reflektors 3 für den zu beschreibenden Zweck installiert; der Abtaststrahl 11 streicht auch quer über diese Photodetektoren bei jeder seiner Abtastbewegung. Während des Uberstreichens des Glasbandes wird

QQ der Abtaststrahl 11 zurück durch das Band durch den Reflektor 3 als ein reflektierter Abtaststrahl 18 reflektiert. Die optische Anordnung des Systems ist derart, daß die Orte, wo das Glas momentan durch die einfallenden und reflektierten Abtaststrahlen bestrahlt wird, sehr eng

g₅ zusammenliegen (vorzugsweise innerhalb 2 cm voneinander), vorteilhaft überlappen sie oder grenzen aneinander an.

Der reflektierte Strahl fällt, nachdem er das Glasband verlassen hat, auf einen halbtransparenten Reflektor 19 und wird hierdurch in einen übertragenen Anteil 20 und einen reflektierten Anteil 21 aufgespalten. In unvermeidlicher Weise läßt die Zeichnung es klar werden, daß die einfallenden und reflektierten Abtaststrahlen 11 und 18 beide in der gleichen Ebene liegen; tatsächlich ist dies aber nicht der Fall; sonst würde der oszillierende Reflektor und der gekrümmte Reflektor 13 den reflektierten Abtaststrahl stören oder behindern. Der übertragene Anteil 20 wandert gegen einen Photodetektor 22, während der reflektierte Anteil 22 gegen einen Photodetektor 23 1

geht. Eine störende Scheibe 24 ist mittig vor der empfindlichen Fläche des Photodetektors 22 angeordnet und unterbindet den übertragenen Anteil 20 des reflektierten Abtaststrahls 18 immer dann und solange wie der Abtaststrahl 11 und damit auch der reflektierte Abtaststrahl 18 nicht durch das Glasband reflektiert werden. Eine Ablenkung dieser Strahlen tritt immer dann ein, wenn der Abtaststrahl auf eine Seitenkantenbegrenzung des Bandes auftrifft und wird auch immer dann auftreten, wenn diese Strahlen auf einen Fehler im Glas treffen. Jede merkliche Ablenkung des Abtaststrahls führt zu einer Bestrahlung des Photodetektors 22 durch den übertragenen Teil 20 des reflektierten Abtaststrahls. Der reflektierte Teil 21 des reflektierten Abtaststrahls 18 fällt immer auf die photoempfindliche Oberfläche des Photodetektors 23, ausgenommen zu den Zeitpunkten, wenn der reflektierte Abtaststrahl durch das Glas abgelenkt wird. Gewünschtenfalls kann der

QQ Photodetektor 23 von einer Empfindlichkeit derart sein, daß er auf ein Abfallen im einfallenden Strahlungsstrom unter einem gewissen Schwellenwert anspricht, so daß der Photodetektor den Einfall des Abtaststrahls auf Glasfehler signalisieren kann, welche den Strahl,ohne ihn abzulenken,

gc abschwächen.

Die aufeinanderfolgenden Entfernunginkremente, die bei jedem gegebenen Abtastdurchgang vom Strahl längs des Re-

flektors 3 und des Streifenreflektors 13 überstrichen werden, stehen nicht in konstanter Beziehung zu den Entfernungsinkementen, die gleichzeitig quer über das Glas überstrichen werden. Um den Signalisierungsfehler aufgrund dieser Disparität so klein wie möglich zu halten, ist es wünschenswert, daß ein langer optischer Weg zwischen dem oszillierenden Reflektor 10 auf der einen Seite und dem Glas und dem Reflektor 3 auf der anderen Seite gegeben ist. In einer verwirklichten, gute Ergebnisse lie- ^O fernden Vorrichtung beträgt die Entfernung zwischen dem oszillierenden Reflektor und dem Reflektor 3 7 bis 8 m.

Es wird nun auf das Schaltbild der Signalisierungseinrichtung (Fig. 2) Bezug genommen. Auf der linken Seite dieses Schaltbilds sind die Photodetektoren 15, 16, 17, und 23 der Fig. 1 gezeigt. Die vom Photodetektor 15 gelieferten strahlüberwachenden Impulse werden nach Verstärkung an einen Impulszähler 26 gegeben, genauso wie die Signale, die von den Photodetektoren 16, 17, die nahe dem Abtast-Strahlreflektor 3 angeordnet sind, geliefert werden.

Vom Photodetektor 15 gelieferte Uberwachungsimpulse während der Verschiebungen des Strahls nach rechts in der Darstellung der Fig. 1 werden als aufeinanderfolgende

ng Steigerungen des vom Zähler aufgezeichneten Werts registriert, wogegen während der Abtastvorgänge nach links gelieferte Uberwachungsimpulse als aufeinanderfolgende Verminderungen dieses Wertes registriert werden. Der Zähler kann periodisch rückgestellt werden, so daß seine

QQ Pulszahl weiter die Strahllage relativ zur festen Bezugslage X mit dem geforderten Genauigkeitsgrad darstellt. Solch eine Einstellung kann von Hand zu jedem gewünschten Intervall vorgenommen werden. Die Zählerleistung kann beispielsweise durch ein visuelles Display überwacht werden, welches klarmacht, wann eine Rückstellung erforderlich wird. Der Counter wird jedoch vorteihaft automatisch eingestellt und rückgestellt. Nach bevozugten Ausführungsformen der Erfindung erfolgt das Rückstellen

automatisch, bei jedem Abtaststrahlzyklus oder in Intervallen von zwei oder mehr Zyklen, abhängig von dem Einfall des Strahls auf einen oder mehrere Photodetektoren. Wenn beispielsweise ein Bezugslagen-Photodetektor bei X sich befindet, kann der Zähler selbsttätig in eine Bezugs- beispielsweise Null-Einstellung durch ein Signal rückgestellt werden, welches von einem solchen Photodetektor abhängig von seiner Bestrahlung übertragen wird. In diesem Fall ist es vorteilhaft, daß der Zähler abhängig von der Bestrahlung des Bezugsphotodetektors 16 während der Bewegung des Stahls nach rechts rückgestellt wird und erneut abhängig von der Bestrahlung des Photodetektors 17 während eines Durchgangs des Strahls nach links rückgestellt wird, so daß die registrierten Impulszahlen, wenn der Strahl sich in Stellungen dieser Bezugsphotodetektoren befindet, korrekt die jeweiligen Entfernungen dieser Photodetektoren von der Bezugslage X darstellen. Als Alternative kann dieser Bezugslagenphotodetektor fortfallen, und die Rückstellung des Zählers kann allein durch Signale von den Bezugsphotodetektoren 16, 17 vorgenommen werden, diese Signale dienen dann dazu, den Zähler auf Impulszahlen einzustellen, welche korrekt diese jeweiligen Entfernungen wiedergeben. Als Konsequenz des Zählerrückstellvorgangs ist der vom Zähler 26 registrierte Wert immer eine korrekte Darstellung der Lage des Strahls relativ zur festen Bezugslage.

Uberwachungsimpulse als Anzeichen für die variierende Abtaststrahllage werden vom Zähler 26 an einen Randlagencomputer 27 gegeben, mit dem die Photodetektoren 22, 23 über einen ODER-Kreis 32 verbunden sind. Der Computer umfaßt eine Torschaltung 28, eine sogenannte Tally-Einrichung bzw. eine Markiereinrichtung 29, einen Akkumulator/Kalkulator 30 sowie ein Register 31.

Während jedes Abtastvorgangs des Abtaststrahls 11 tritt die erste Ablenkung des Strahls durch das Glas ein, wenn der Strahl zunächst auf eine Seitenkantenbegrenzung des

Glases trifft. Das Photodetektorsignal entsprechend der Strahlablenkung wird an die entsprechende Torschaltung 28 wie die Strahlpositionsüberwachungsimpuse vom Zähler 26 gegeben. Die Torschaltung überträgt vom Zähler 26 an den Akkumulator/Kalkulator 30 ein Zählerausgangssignal, welches indikativ für die Strahlposition in dem Augenblick ist, zu dem dieses Strahlablenkungssignal an die Torschaltung über den ODER-Kreis 32 geliefert wird. Solch eine Signalübertragung über die Torschaltung 28 tritt in jeder einer Vielzahl von Abtastzyklen des Strahls ein; die Anzahl dieser Vielzahl wird bestimmt durch die Einstellung der oben erwähnten Tally-Einrichtung 29 (setting of the tally device 29). Die von der Torschaltung in der voreingestellten Anzahl von Abtastzyklen übertragenen Strahlpositionssignale werden im Akkumulator/Kalkulator 30 gesammelt, und diese Einrichtung berechnet dann die Mittel der gesammelten Strahlpositionen und überträgt die solche Mittel darstellenden Sigale auf das Bandkantenpositionsregister 31. Nach einer besonderen Ausführungsform beträgt die Tally-Einstellung 128 Zyklen, und die Akkumlation der 128 Uberwachungsimpulszahlen welche den Ort einer Bandkante

darstellt und die Berechnung des mittleren Werts beträgt 8 s.

Die mittleren Lagen der jeweiligen Glasränder über die durch die Einstellung der Tally-Einrichtung 29 bestimmten Zeitintervalle werden an einen Komparatorkreis 33 gegeben. Sie werden auch an einen Mechanismus zum Regeln der Lage der Glasschneideinrichtungen gegeben, um das

₃Q Glasband an einem Ort in Bewegungsrichtung hin hinter der Fehlerermittlungsstation mit Schneideinrichtungen zum Scheiden des Glasbandes in Scheiben geforderter Größe und Qualitätstandard sowie Scheideinrichtungen zur kontinuierlichen Entfernung der seitlichen Randbereiche des

gp- Bandes gegeben . Unter Verwendung dieser Signale zur Regelung der Bewegung der Randschneideinrichtungen in eine Richtung quer zur Bewegungsbahn des Bandes kann die Breite der vom Glas geschnittenen Ränder konstant selbst über _s

-π ι Perioden gehalten werden, während deren eine Veränderung in den Lagen der Randkanten eintritt, wo sie durch die Schneidstation gehen. Diese Glaskantenpositionssignale können nach Wunsch auch einem Indikator oder einem Aufzeichner 34 zugeliefert werden, der von einem Operator abgelesen werden kann.

Die Strahllagen, die mit den Strahlablenkungen infolge Fehlern im Glas zusammenfallen, werden durch ein Fehlerregister bzw. einen Fehleraufzeichner 35 aufgezeichnet. Hierzu werden Signale von den Photodetektoren 22 und 23 einem solchen Fehlerregister 35 über einen Inhibitorkreis 36 zugeführt, dessen einer Zweck darin besteht, Störungen oder Geräusche einschließlich Störsignalen abzufiltern, die bei auftreffenden Lichtreflexionen von Teilen der Glasförder- und Testanlage herrühren. Das Register 35 nimmt die Strahlungslagenüberwachungssignale vom Zähler 26 auf und überträgt an den Komparatorkreis 33 Signale, welche für die Lagen des Strahls in den Augenblicken indikativ sind, in denen Ablenkungssignale von den Photodetektoren 22 und 23 empfangen werden. Der Inhibitorkreis 36 empfängt Signale von den Photodetektoren 16 und 17, die nahe den Enden des Abtaststrahlreflektors 3 angeordnet sind und überträgt auf das Fehlerregister 35 nur Ablenkungssignale, die während der Bewegung des Strahls zwischen diesen Detektoren auftreten.

Signale, die für die Strahlpositionen indikativ sind, die mit den von den Detektoren 22 und 23 signalisierten Fehlern zusammenfallen, wie beispielsweise die Randkantenpositionssignale vom Randpositionsregister, werden dem Komparatorkreis 33 und einem Torkreis 37 zugeführt. Im Komparatorkreis werden die Fehlerpositionssignale vom Fehlerregister 35 mit Kantenpositionssignalen vom Register

gg 31 verglichen, um zu bestimmen, welche Fehler um mehr als einen gewisen vorbestimmten Abstand von jeder Kante des Bandes entfernt sind. Abhängig von Fehlerpositionssignalen, die sich in dieser Kategorie befinden, überträgt der

-,3-8-

Komparatorkreis ein Arbeitssignal an die Torschaltung 37. Dieses Signal öffnet die Torschaltung und ermöglicht es, daß entsprechende Fehlerpositionssignale vom Fehlerregister 35 empfangen werden und zu einem Mikroprozessor 38 passieren. Der Mikroprozessor ist auch über eine ODER-Schaltung 39 mit Bezugsdetektoren 16, 17 verbunden, so daß Signale empfangen werden, die indikativ für Augenblicke sind, wenn der Strahl mit einem neuen Durchgang quer über das Glas beginnt. Diese Signale sind natürlich wichtig bei der Bestimmung der Größen der einzelnen Fehler.

Der Mikroprozessor hat drei Ausgangsleitungen 40 - 42. Die Leitung 40 überträgt Signale, die die Entfernung der Fehler in Querrichtung von der Bezugslage X darstellen.

Die Leitung 41 überträgt Signale, welche indikativ für die Art eines signalisierten Fehlers sind. Fehler werden in unterschiedlichen Kategorien abhängig davon signalisiert, ob sie gegebenenfalls eine Strahlablenkung veranlassen, die ausreicht, um die Bestrahlung des Detektors 23 zu unterbrechen. Die Leitung 42 übeträgt Signale, die indikativ für die Länge eines signalisierten Fehlers sind, ein Faktor, der von der Zahl aufeinanderfolgender Abtastdurchgänge des Strahls ableitbar ist, wobei die Strahlablenkung näherungsweise in der gleichen Strahlposiüon signalisiert wird. In diesem Zusammenhang ist es oft zweckmäßig, kleine Fehler in sehr großer Nachbarschaft zueinander, so als ob es sich um einen einzigen Fehler handeln würde, zu signalisieren. Treten beispielsweise Fehlersignale am gleichen Strahlungsort mehr als einmal innerhalb

QQ eines Intervalls von bis zu 40 Abtastperioden auf, so können diese Signale so behandelt werden, als ob es sich um einen einzigen Fehler handelt.

Die über die Leitungen 40 - 42 übertragenen Signale werden mehr oder weniger gleichzeitig mit dem Einfall des Abtaststrahls auf die Fehler übertragen, was zu eben diesen Signalen führt. Daher sind die Zeiträume, zu denen diese Signale übertragen werden, indikativ für die Längsorteoder

Längspositionen der Fehler. Nimmt man dies zusammen mit der Laufgeschwindigkeit des Bandes, so ermöglichen diese Zeiten der Fehlersignalübertragung Ankunftszeiten der Fehler in irgendeiner zu bestimmenden Lage oder irendeinem zu bestimmenden Ort in Bewegungsrichtung hinter der Abtaststation.

Für die Größenklassifizierungsfunktion sind in dem Mikroprozessor eine Anzahl von mehrzelligen Registern eingebaut. Fehlerortungssignale werden an die eine oder andere Zelle jedes Registers abhängig von der Querordinate des signalisierten Ortes übertragen. Fehlerortsignale, die entsprechende Querordinaten darstellen, werden auf die gleichen Registerzellen übertragen. Die Zellen jedes Registers haben zugeordnete Ausgangstorschaltungen, an welchen ein Schwellenladungswert vorgesehen ist, der zweckmäßig für eine besondere Fehlerkategorie ist. Unterschiedliche Schwellenladungswerte, einer für jedes Register, sind vorgesehen. Die Anzahl der Register entspricht der Anzahl der unterschiedlichen Größenkategorien, in welche die Fehler zu klassifizieren sind. Ortungs- oder Positionssignale, welche die gleiche Querordinate darstellen und in unmittelbar aufeinanderfolgenden Durchgängen des Abtastrahlsübertragen werden, haben einen kumulativen Ladungseinfluß auf die Zellen, auf die sie übertragen werden. Die Anzahl der Ladungsinkremente, die sich in jeder gegebenen Zelle sammeln, ist somit indikativ für die Längsabmessung des Fehlers und sorgt für die Zellenladung. Die Addition eines Ladungsinkrements zu irgendeiner gegebenen Zelle wird begleitet von einer Abnahme im Schwellenladungswert, der der zugeordneten Zelle erteilt wurde. Wenn der Schwellenladungswert an irgendeinem Tor auf Null fällt, so wird ein Signal von der zugeordneten Zelle übertragen, wodurch angezeigt wird, daß die Längsabmessung des Fehlers, die dieüuerordinate hat, welche zu dieser Zelle

gehört, wenigstens gleich dem Schwellenwert ist, der

durch die- voreingestellte Torladung dargestellt ist. Wird ein Ladungsinkrement nicht zu einer Zelle in irgendeinem

-40-

gegebenen Strahlendurchgang addiert, dann wird jede vorher von der Zelle gesammelte Ladung und das Restladungsinkrement auf der zugeordneten Zelle selbsttätig entleert.

Eine Verfeinerung der beschriebenen und dargestellten Vorrichtung, die sich als günstig erwiesen hat, umfaßt den Einbau von Photodetektoren gegenüber dem korrekten Laufweg des Abtaststrahls quer über den Reflektor 3 und die Verbindung dieser Photodektoren mit einer Einstelleinrichtung für den oszillierenden Reflektor 10, so daß dieser Reflektor selbsttätig für den Fall eingestellt wird, daß eine Vibration oder ein anderer störender Einfluß den Strahl veranlaßt, sich seitlich in der einen oder anderen Richtung von seinem korrekten Weg längs des Reflektors 3 fortzubewegen. Solche zusätzlichen Photodetektoren können beispielsweise nahe dem einen Ende des Reflektors 3, beispielsweise in einer Ebene angeordet werden, welche normal zur Ebene der Fig. 1 und zwischen dem Bezugsphotodetektor 16 und dem entsprechenden Ende des Reflektors 3 ist.

Bei einer Modifikation der beschriebenen Vorrichtung kann auf den Photodetektor 22 verzichtet werden. Der Photodetektor 23 allein wird verwendet, um die Glasrandorte und die Orte der Fehler im Glas zu ermitteln. Der Photodetektor 23 kann in diesem Falle wie vorher beschrieben arbeiten, oder er kann so ausgelegt sein, daß er auch ein Signal für den Fall liefert, daß der einfallende Strahlungsstrom unter einen bestimmten Wert fällt, wodurch die Abschwächung des Strahls angezeigt wird, die beispielsweise durch einen Flecken im Glas hevorgerufen wurde. In diesen Fällen signalisiert die Vorrichtung nicht die Position von Fehlern, die nur einen geringen ablenkenden Einfluß auf den Abtaststrahl haben. Für den Fall, daß ein einziger Glaskanten- und -fehlerphotodetector Verwendung fin-

gg det, besteht natürlich keine Notwendigkeit für den halbtransparenten Spiegel 19. Der Photodetektor kann am Ort des Photodetektors 22 in der Zeichnung vorgesehen sein. Natürlich können verschiedene andere Photodetektoranord-

nungen innerhalb des Rahmens der Erfindung möglich sein. Beispielsweise kann der Photodetektor in seiner dargestellten Lage 23 für den Zweck der Ermittlung großer Strahlablenkungen beibehalten werden, der Photodetektor kann ohne die Maske 24 zur Ermittlung von Strahlabschwächungen ausgelegt und verwendet werden.

- Leerseite -

Claims (1)

1. Verfahren und Vorrichtung zum Bestimmen des Orts von im Flachglas vorhandenen Fehlern

   Patentansprüche

   Verfahren zum Bestimmen des Orts von im Flachglas vorhandenen Fehlern, während dieses sich längs einer Bahn bewegt, indem das Glas mit einem Strahl elektromagnetischer Strahlung abgetastet wird und mittel Photodetektoreinrichtungen der Einfall des Strahls auf Fehler im Glas ermittelt wird, dadurch gekennzeichnet, daß

   - das Glas von einem Strahl elektromagnetischer Strahlung abgetastet wird, der quer über diese Bahn streicht, derart, daß der Strahl aufeinanderfolgenden Querspuren über das Glas folgt, so daß bei jedem Abtastdurchgang der Strahl durch die gegenüberliegenden Seitenkantenbegrenzungen des Glases passiert;

   D-8000 München 2 POB 26 02 47

   Kabel:

   Telefon

   Telecopier Info tec 6400 B

   Telex

   - daß diese Photodetektoreinrichtung dazu dient, Ablenkungen des Strahls aufgrund seines Einfalls auf eine oder jede Seitenkantenbegrenzung des Glases zu ermitteln und Abschwächungen oder Ablenkungen des

   Strahls durch Fehler im Glas zu erfassen;

   - daß die Photodetektoreinrichtung Teil einer Signalisierungseinrichtung bildet, die Ausgangssignale abgibt, welche indikativ für die Lagen oder Orte längs der abgetasteten Länge des Glases von Querspuren sind, in welchen Fehler ermittelt werden und indikativ für Entfernungen, gemessen längs dieser Spuren, zwischen diesen Fehlern und einer Seitenkantenbegrenzung des Glases ist und

   15

   - daß diese Ausgangssignale verwendet werden, um die

   signalisierten Fehlerorte zu identifizieren.

   „ 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß

   die Signalisierungseinrichtung Ausgangssignale erzeugt,

   ' 20

   die als Regelfaktor in der selbsttätigen Regelung einer

   Glasmarkiereinrichtung oder einer Schneideinrichtung verwendet werden, um das wandernde Glas an einer Stelle in Bewegungsrichtung hinter der Station, wo das Glas

   abgetastet wird, zu markieren oder zu schneiden. 25

   3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß ein mittlerer Wert aus den Glaskantenablenkungssignalen abgeleitet wird, die durch die Photodetektoreinrichtung in einer Vielzahl von aufeinanderfol-

   30

   genden Durchgangen des Strahls quer über das Glas in

   der einen Richtung übertragen werden und daß dieser mittlere Wert in der Ableitung der Ausgangssignale verwendet wird, welche für Fehlerorte indikativ sind.

   35

   4. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,

   dadurch gekennzeichnet, daß diese Ausgangssignale nur für Fehler erzeugt werden, die mehr als ein bestimmtes * Stück von jeder Seitenkantenbegrenzung des Glases ent-

   fernt sind.

   5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Bewegung des Strahls durch Überwachungsmittel überwacht wird, welche Signale abgeben, die indikativ für die Strahlorte relativ zu einer festen Bezugslage oder einem festen Bezugsort sind, der sich außerhalb der Grenzen der Strahlbewegungen quer über das Glas befindet und daß diese Signale von diesen Signalisierungseinrichtungen zur Ableitung der Ausgangssignale verwendet werden.

   6. Verfahren nach Anspruch 5, in der Anwendung zum Erfassen von Fehlerorten in einem kontinuierlichen Glasband, dadurch gekennzeichnet, daß diese Bezugslage in fester Beziehung zum Rahmen des Glasförderers steht und Signale, die für die Entfernung wenigstens einer Seitenkantenbegrenzung des Glasbandes von der Bezugslage indikativ sind, verwendet werden, um selbsttätig eine Schneideinrichtung zu regeln, die weiter stromabwärts längs des Bandverlaufs angebracht ist und dazu * dient, einen Randteil bestimmter Breite von einer oder jeder Seite des Bandes zu schneiden.

   7. Verfahren nach Anspruch 5 oder 6, dadurch gekennzeichnet, daß Signale, die von einem Photodetektor

   übertragen werden, der in dieser Bezugslage oder in fester Beziehung zu dieser Bezugslage abhängig von der Bestrahlung dieses Photodetektors durch den Abtaststrahl ,selbsttätig wiederholt diese Strahlbewegungs-2Q überwachungseinrichtung nachstellen, um sicherzustellen, daß fortlaufend korrekt die Orte des Strahls relativ zum Bezugsort dargestellt werden.

   8. Verfahren nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch gg gekennzeichnet, daß die Signalisierungseinrichtung Ausgangssignale abgibt, welche (a) die Entfernung darstellen, die vom Abtaststrahl in aufeinanderfolgenden Abtastzyklen von diesem festen Bezugsort zu einem Ort =

   durchlaufen werden, an dem der Strahl auf die nähere Seitenkantenbegrenzung des Glases trifft, und (b) die Entfernung zwischen diesem Bezugsort und einem signalisierten Fehler darstellen.

   9. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,

   dadurch gekennzeichnet, daß bei jedem Abtastdurchgang des Strahls der Strahl auf einen Bezugsphotodetektor fällt und die Erzeugung eines Bezugssignals hervorruft, kurz bevor der Strahl die nähere Seitenkantenbegrenzung des Glases erreicht und daß das erst nachfolgende Strahlablenkungssignal durch diese Signaleinrichtung als ein Signal verarbeitet wird, welches indikativ für den Einfall des Strahls auf eine

   Seitenkantenbegrenzung des Glases ist. 15

   10. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß jede Abtastbewegung des Strahls als eine Reihe von Signalimpulsen codiert

   wird, so daß jeder gegebene Momentanort des Strahls

   20
   ^Λ einer gegebenen Impulszahl entspricht.

   11. Verfahren nach den Ansprüchen 9 und 10, dadurch gekennzeichnet, daß diese Signalimpulse einem Impulszähler eingegeben werden , der bei jedem Abtastzyklus

   25

   Strahlorte in Impulszahlen umsetzt, die von Null oder von einer anderen vorbestimmten Bezugseinstellung zählen, die einen vorbestimmten Ort des Strahls außerhalb der Begrenzungen der Strahlbewegung quer über das

   Glas entspricht, und daß bei jedem von aufeinanderfol-30

   genden Abtastdurchgängen des Strahls eine Bestrahlung

   des ersten der beiden Bezugsphotodetektoren, auf die der Strahl trifft, dafür sorgt, daß der Zähler auf einen Wert rückgestellt wird, welcher die Strahlver-

   schiebungs- oder -bewegungsentfernung zwischen diesem 35

   Bezugsort und dem Bezugsphotodetektor darstellt.

   12. Verfahren nach einem der Ansprüche 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, daß ein Strahl bzw. Strahlenbündel, das aus der gleichen Strahlungsquelle wie der Glasabtaststrahl abgeleitet wird, veranlaßt wird, synchron mit dem Abtasten des Glases, einen Reflektor mit abwechselnd reflektierenden und nicht-reflektiernden Streifen abzutasten und daß die von diesem Streifenreflektor reflektierten Quanten auf einen photoelektrischen Detektor auffallen und hierdurch diese Signalimpulse erzeugen.

   13. Verfahren nach Anspruch 10 oder 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Orte des Abtaststrahls im Laufe jedes Abtastvorgangs auf der Basis der Durchgangszeit vom Beginn des Durchgangs an überwacht werden.

   14. Verfahren nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß der Abtaststrahl ein im Winkel oszillierender Strahl ist und daß die Amplitude der Strahlbewegung in der Ebene des Glases wenigstens gleich der doppelten f Breite des Glases ist.

   15. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Zahl der unmittelbar folgenden Strahldurchgänge, in welchen fehlerinduzierte Signale erzeugt werden, wenn der Strahl sich in etwa unter der gleichen Entfernung von einer gegebenen Begrenzungskante des Glases befindet, registriert werden und zu für die Fehlergröße stehende Ausgangssigna-

   3Q Ie führen.

   16. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Strahl während seiner Bestrahlung des Glases zurück durch das Glas reflektiert wird, bevor der oder die Photodetektoren, von welchen die Fehlersignale abgeleitet werden, erreicht sind.

   3610A84

   17. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das das Glas verlassende Strahlenbündel aufgespalten wird in einen Teil, der bis zum Ort eines ersten Detektors durchgelassen wird sowie einen Teil, der an einen zweiten Detektor übertragen wird; und daß einer dieser Detektoren so angeordnet wird, daß er immer dann bestrahlt wird, wenn der Strahl abgelenkt wird und der andere dieser Detektoren so angeordnet wird, daß er bestrahlt wird, es sei denn, der Strahl würde durch einen opaken Fehler unterbrochen oder durch einen Effekt um mehr als ein bestimmtes Ausmaß abgelenkt.

   18. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,

   dadurch gekennzeichnet, daß die Photodetektoreinrichtung nicht nur Ablenkungen des Abtaststrahls ermittelt, wie sie durch die Seitenkanten des Glases hervorgerufen werden, sondern auch Fehler ermittelt, welche den Strahl, ohne ihn abzulenken, abschwächen.

   19. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche,

   dadurch gekennzeichnet, daß der Abtaststrahl von einem stationären Sender oder einer stationären Quelle abgegeben wird und der Abtaststrahl auf dem Glas durch einen oszillierenden Deflektor abgelenkt wird.

   20. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß Abweichungen der Abtastdurchgänge des Strahls um mehr als ein gegebenes Ausmaß von einer

   ₃Q bestimmten Ebene zu einer Bestrahlung der Abweichungsdetektoren führen und daß der Abtastweg selbsttätig durch Antwortsignale von solchen Abweichungsdetektoren korrigiert wird.

   g₅ 21. Verfahren nach einem der vorherigen Ansprüchen, dadurch gekennzeichnet, daß das Glas bei einer Frequenz von wenigstens 20 Hertz pro cm Glaslänge abgetastet wird.

   22. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Abtaststrahl ein Laser ist.

   23. Vorrichtung zur Bestimmung des Orts von in Flachglas vorhandenen Fehlern, das sich längs einer Bahn bewegt, mit Einrichtungen zum Fördern des Flachglases durch eine üntersuchungsstation, Einrichtungen zur Erzeugung eines Strahls elektromagnetischer Strahlung und Veranlassung des Strahls wiederholt über die Bahn zu passieren und hierdurch aufeinanderfolgende Querspuren über das Glas an dieser üntersuchungsstation zu folgen sowie Photodetektoreinrichtungen zum Ermitteln des Einfalls von Strahlen auf Fehler im Glas, dadurch gekennzeichnet, daß diese Photodetektoreinrichtung so

   !5 aufgebaut ist, daß sie Signale abgibt, welche bezeichnend für Strahlablenkungen oder Strahlabschwächungen sowie Strahlablenkungen durch das Glas sind; und daß die Vorrichtung einen Strahlüberwacher zur Erzeugung von Signalen aufweist, welche die Strahlorte darstellen; daß diesem Strahlüberwacher Mittel zugeordnet sind, um bezüglich jedes Abtastdurchgangs des Strahls in einer Richtung oder periodisch bezüglich einer Aufeinanderfolge von Abtastdurchgängen den Ort oder den mittleren vom Strahl erreichten Ort bei solch einem oder solchen Durchgängen abzuzeichnen, wenn ein erstes Signal, hervorgerufen durch eine Strahlablenkung durch das Glas, von der Photodetektoreinrichtung empfangen ist; und Signalverarbeitungseinrichtungen, die so konstruiert sind, daß sie im Betrieb Ausgangssignale

   QQ übertragen, welche die Zeit angeben, während deren ein Strahldurchgang eintritt, wobei ein späteres für die Strahlablenkung oder Strahlabschwächung durch das Glas bezeichnendes Signal von der Photodetektoreinrichtung empfangen wird, nachdem der Strahl diese Position oder mittlere Strahlposition verlassen hat, und welche auch indikativ für die Entfernung sind, um welche sich der

   Strahl im Zeitintervall zwischen dem Augenblick

   , zu dem er diese Position oder mittlere Position erreicht, und dem Augenblick dieses späteren Signalempfangs, bewegt hat.

   24. Vorrichtung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet,

   daß die Signalverarbeitungseinrichtung mit einem Regelmechanismus einer Glasmarkier- oder Schneideinrichtung verbunden ist, die längs des Förderweges des Glases in Bewegungsrichtung hinter dieser Abtaststation angeordnet ist, so daß die Markier- oder Schneideinrichtung das Glas an den Orten der Fehler markiert oder das Glas gegebenenfalls an Stellen schneidet, welche die signalisierten Fehlerorte berücksichtigen.

   25. Vorrichtung nach Anspruch 23 oder 24, dadurch gekennzeichnet, daß Herunterzähleinrichtungen vorgesehen sind, um zu verhindern, daß die Ausgangssignale von den Signalverarbeitungseinrichtungen den Ort von Fehlern angeben, die geringer als eine gewisse vorbestimmte Entfernung von einer Seitenkantenbegrenzung des Glases sind.

   26. Vorrichtung nach Anspruch 23 bis 25, dadurch gekenn-2g zeichnet, daß der Strahlüberwacher so aufgebaut ist, daß er Signale erzeugt, welche die Strahlpositionen relativ zu einer festen Bezugslage darstellen, die außerhalb der Grenzen der Strahlbewegung quer über das Glas ist.

   27. Vorrichtung nach Anspruch 26, dadurch gekennzeichnet,

   daß das Glas Schneideinrichtungen an einem Ort längs der Bewegungsbahn des Glases in Bewegungsrichtung hinter dieser Untersuchungsstation angebracht sind und _g5 wobei Mittel in aufeinanderfolgenden Abtastzyklen vorgesehen sind, die Signale erzeugen, welche indikativ für die Entfernungen des Strahls von der Bezugslage sind, wenn der Strahl auf die Seitenkantenbegrenzungen

   des Glases trifft und wobei Mittel vorgesehen sind, um die Schneideinrichtungen in Abhängigkeit von den Signalen zu regeln, die die Schneideinrichtungen veranlassen, Randbereiche vorbestimmter Breite vom Glas während seiner Bewegung von der Teststation fortzuschneiden.

   28. Vorrichtung nach Anspruch 26 oder 27, dadurch gekennzeichnet, daß wenigstens ein im Abtastweg des Strahls angeordneter Photodetektor, an oder in fester Beziehung zu dieser Bezugslage, wirksam mit dem Strahlüberwacher verbunden ist und diesen veranlaßt, selbsttätig wiederholt durch Signale rückgestellt zu werden, welche von dem Photodetektor übertragen wurden, wodurch sichergestellt wird, daß die Uberwachersignale korrekt die Strahllagen relativ zur Bezugslage darstellen.

   29. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 26 bis 28, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalverarbeitungseinrichtung so ausgebildet ist, daß sie Ausgangssignale erzeugt, welche (a) die Entfernung darstellen, die vom Abtaststrahl in aufeinanderfolgenden Abtastzyklen aus dieser festen Bezugslage in die Lage durchlaufen wurde, in der der Strahl auf die nähere Seitenkantenbegrenzung des Glases trifft, und (b) die Entfernung zwischen dieser Bezugslage und der Lage, in der der Strahl auf einen Fehler im Glas trifft.

   30. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 29, dadurch gekennzeichnet, daß ein Paar von Photodetektoren, im folgenden Bezugsphotodetektoren genannt, vorgesehen ist, die nahe sich gegenüberliegenden Enden des Weges angeordnet sind, der vom Strahl während der Wanderung quer über das Glas überstrichen wird, wobei diese Bezugsphotodetektoren mit der Signalverarbeitungseinheit verbunden sind, welche Ausgangssignale überträgt, welche bezeichnend für die Strahlablenkung

   durch das Glas sind, und daß diese Verarbeitungseinrichtung so konstruiert ist, daß sie nicht ein Photodetektoransprechsignal als indikativ für Strahlablenkung oder Schwächung durch einen Glasfehler behandelt, wenn dieses Signal während eines ersten Teils eines Abtastdurchgangs des Strahls geliefert wird, bevor der Strahl einen Bezugsphotodetektor erreicht.

   31. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 30,

   IQ dadurch gekennzeichnet, daß Einrichtungen vorgesehen sind, die jede Abtastbewegung des Strahlungsbündels als eine Reihe von Signalimpulsen codiert, so daß jede gegebene Momentanposition des Strahlenbündels einer gegebenen Impulszahl entspricht.

   32. Vorrichtung nach Anspruch 30 und 31, dadurch gekennzeichnet, daß ein Impulszähler vorgesehen ist, der Strahlpositionen in jedem Abtastzyklus in Impulszahlen umsetzt, die von Null oder einer anderen bestimmten

   2Q Bezugseinstellung entsprechend einer bestimmten Bezugseinstellung des Strahls zählen und daß diese Bezugsphotodetektoren mit diesem Zähler derart verbunden sind, daß bei jedem der aufeinanderfolgenden Abtastdurchgänge des Strahls das Antwortsignal aus der Bestrahlung der ersten der beiden Bezugsphotodetektoren, die vom Strahl getroffen werden, eine Rückstellung des Zählers auf einen Wert hervorruft, der die Strahlbewegungsentfernung zwischen dieser Bezugsposition und diesem Bezugsphotodetektor darstellt.

   33. Vorrichtung nach Anspruch 31 oder 32, gekennzeichnet

   durch einen Reflektor mit abwechselnd reflektierenden und nicht-reflektierenden Streifen, Einrichtungen, die veranlassen, daß ein zweites Strahlungsbündel, im folgenen Uberwachungsstrahl genannt, von der Abtaststrahlerzeugereinrichtung abgeleitet wird, um diesen Reflektor synchron mit den Abtastbewegungen des Glasabtaststrahls abzutasten; und durch einen Photo-

   detektor, der so angeordnet ist, daß er von Strahlungsquanten bestrahlt wird, die von dem Streifenreflektor reflektiert werden und der diese Signalimpulse abhängig von der Bestrahlung abgibt.

   34. Vorrichtung nach Anspruch 31 oder 32, gekennzeichnet durch einen Digital-Taktgeber, der die Abtaststrahlbewegung in Form von Durchgangszeit vom Beginn jedes Abtastdurchgangs abtastet und Signalimpulse, die bezeichnend für die Strahlposition sind, liefert.

   35. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 34, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalverarbeitungs-

   IQ einrichtung so ausgebildet ist, daß im Betrieb Ausgangssignale liefert, welche bezeichnend für die Zahl unmittelbar folgender Strahlbündeldurchgänge ist, bei der ein Strahlablenkungs- oder Abschwächungssignal übertragen wird, wenn das Strahlungsbündel sich in etwa unter der gleichen Entfernung von einer Seitenkantenbegrenzung des Glases befindet.

   36. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 35, dadurch gekennzeichnet, daß ein Reflektor vorgesehen ist, der so angeordnet ist, daß er den Abtaststrahl zurück durch das Glas reflektiert und daß die Photodetektoreinrichtung zum Ermitteln der fehlerinduzierten Strahlablenkungen oder -abschwächungen so angeordnet ist, daß sie auf Ablenkungen oder Ab-

   Q₀ Schwächungen dieses reflektierten Strahls nach dem zweiten Austreten aus dem Glas anspricht.

   37. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 36, dadurch gekennzeichnet, daß ein Strahlteiler zum Aufteilen oder Abspalten des Abtaststrahls, nachdem er die Bewegungsbahn des Glases verläßt, in zwei abgeleitete Strahlen aufgespalten wird und daß gesonderte Photodetektoren für diese abgeleiteten Strahlen vorgesehen sind, welche so angeordnet sind, daß dann,

   wenn die Vorrichtung in Betrieb ist, einer hiervon nur dann bestrahlt wird, wenn der Abtaststrahl durch das Glas abgelenkt wird, während der andere hiervon bestrahlt wird, es sei denn, der Abtaststrahl wird daran gehindert, durch das Glas übertragen zu werden oder um mehr als ein vorbestimmtes Ausmaß abgelenkt wird.

   38. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 37,

   IQ dadurch gekennzeichnet, daß die Photodetektoreinrichtung einen Photodetektor umfaßt, der so angeordnet ist, daß dann, wenn die Vorrichtung im Betrieb sich befindet, sie normalerweise durch den aus dem Glas austretenden Strahl bestrahlt wird und ein Signal

   IQ liefert, wenn die einfallende Strahlung unter einen vorbestimmten Minimumschwellenwert fällt.

   39. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 38, dadurch gekennzeichnet, daß die Strahlerzeugereinrichtung so gehalten wird, daß sie stationär verbleibt, wenn die Vorrichtung sich im Betrieb befindet, und daß die Vorrichtung einen mit Mitteln zum Oszillieren dieses Deflektors gekoppelten Deflektor aufweist, wodurch die Abtastbewegungen des Strahls erzeugt werden.

   40. Vorrichtung nach Anspruch 39, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen, die diesen Deflektor in Schwingungen versetzen, ein am Deflektor befestigtes

   OQ Torsionselement sowie elektromagnetische oder andere Einrichtungen umfassen, um dieses Element bei seiner Eigenfrequenz in Schwingungen zu versetzen.

   41. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 40,

   gg dadurch gekennzeichnet, daß Abweichungsphotodetektoren für die Abgabe eines Antwortsignals angeordnet sind, wenn der Weg des Abtaststrahls um mehr als ein gewisses Ausmaß von einer vorbestimmten Ebene abweicht und daß diese Abweichungsphotodetektoren wirksam mit Stell-

   -13-

   1 einrichtungen verbunden sind, die selbsttätige korrigierende Verstellungen des Wegeverlaufs vornehmen.

   42. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 41, 5 dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtungen zum Erzeugen des Abtaststrahls, die Fehlerphotodetektoren und die Einrichtungen, die dem Strahl Abtastbewegungen erteilen, in eine einzige Einheit integriert sind.

   10 43. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 23 bis 42, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung zur Erzeugung dieses Strahlungsbundels eine Laserkanone ist.