DE3536374A1 - Durchlichtverfahren zur gehaeuse- und bauteilevermessung - Google Patents
Durchlichtverfahren zur gehaeuse- und bauteilevermessungInfo
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüfen, Messen
und Justieren von durchleuchtbaren Gehäusen und Bautei
len, die in entsprechenden Gehäusen an schwer zugängli
cher Stelle untergebracht sind, insbesondere zur Luft
spaltvermessung bei Sicherungsautomaten.
Unter durchleuchtbaren Gehäusen sind Gehäuse zu verste
hen, die aus lichtdurchlässigem Material bestehen oder
eine gewisse Lichteindringtiefe besitzen, zum Beispiel
Kunststoffgehäuse, Gehäuse aus Holz, Papier, Glas, Kera
mik und dünnen Metallfolien, einseitig metallbeschichte
te Gehäuse und so weiter. Die Lichtdurchlässigkeit muß
für das menschliche Auge nicht erkennbar sein.
Es ist bekannt, daß in einem Fertigungsprozeß, zum Bei
spiel in einer voll automatisierten Montagelinie, Prüfun
gen, Messungen und Justagearbeiten an den Produkten vor
genommen werden müssen. So soll zum Beispiel zu Justier
zwecken eine automatische, laterale Luftspaltvermessung
an Sicherungsautomaten durchgeführt werden. Dieser Luft
spalt sitzt aber an schwer zugänglicher Stelle des mon
tierten, geöffneten Schalters. Erschwerend wirken hier
bei die schlechte Erkennbarkeit der Meßflanken und das
geringe Platzangebot an der Meßstelle.
Bisher wird der zu erfassende Spalt visuell mittels Lupe
und Bezugskanten im Gehäuse manuell vermessen. Dieses
Verfahren paßt nicht in eine vollautomatisierte Montage
linie und zu den hohen Qualitätsanforderungen, die an
diese gestellt werden.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
zu entwickeln, das es ermöglicht, in einer vollautomati
sierten Montagelinie das oben genannte Problem zu lösen.
Das Meßverfahren soll bezüglich des Ausführungsbeispiels
den Meßspalt möglichst schnell automatisch erfassen und
mit seiner Genauigkeit unter der geforderten Toleranz
liegen. Darüber hinaus kann mit einem entsprechenden
Verfahren auch Schriftkontrolle auf Gehäuseoberflächen
und im Inneren von Gehäusen, Toleranzerkennung von Ge
häuseoberflächen, Vermessung von Führungen in und auf
Gehäusen, Kontrolle der Dicke der Bauteile, Fehlstel
lenerkennung und so weiter durchgeführt werden.
Diese Aufgabe wird dadurch gelöst, daß die Beleuchtung
des zu erkennenden Objektes durch die Gehäusewand hin
durch erfolgt und das Bild der zu erfassenden Meß- oder
Prüfstelle über eine Optik auf einem Bildschirm, zum
Beispiel Mattscheibe, projiziert wird.
Weitere Einzelheiten sind Merkmale der Unteransprüche.
Durch die Erfindung wird erreicht, daß trotz schwerer Zu
gänglichkeit und ungünstiger Auflichtbeleuchtung ein
präziser Meß- oder Prüfvorgang durchgeführt werden kann.
Das Verfahren nach der Erfindung kann sowohl für eine
voll automatisierte als auch für eine teilmechanisierte
Fertigungslinie angewendet werden.
Die Erfindung wird anhand einer Figur für ein Ausfüh
rungsbeispiel erläutert.
Mit 1 ist ein Meßobjekt, zum Beispiel ein Sicherungsauto
mat, mit einem Gehäuse 2 bezeichnet. Zur Vermessung
eines Luftspaltes 3 in diesem Schalter dient eine Zei
lenkamera 4 in Verbindung mit einer optischen Vergröße
rungseinheit 5. Zur Beleuchtung ist eine Lampe 6 vorge
sehen, deren Licht über eine Sammellinse 7 auf die Rück
wand des Meßobjektes gelenkt wird. Mit 8 ist eine Aus
werteeinheit angedeutet. Der Luftspalt 3 ist beim Aus
führungsbeispiel links von einem Metallteil 9 und rechts
von einer Verstärkung 10 im Gehäuse begrenzt.
Kernstück des erfindungsgemäßen Verfahrens ist die Be
leuchtung der Meßstelle im Schalter durch die Gehäuse
wand hindurch. Dies bewirkt eine Erhöhung der Kontraste
an der Meßstelle und ermöglicht dadurch eine scharfe Ab
bildung des Spaltes auf die Diodenzeile der Kamera. Die
Auswerteeinheit der Kamera zählt alle Dioden, deren Be
lichtung einen eingestellten Schwellwert überschreitet.
Claims (3)
1. Verfahren zum Prüfen, Messen und Justieren von durch
leuchtbaren Gehäusen und Bauteilen, die in entsprechen
den Gehäusen an schwer zugänglicher Stelle untergebracht
sind, insbesondere zur Luftspaltvermessung bei Siche
rungsautomaten, dadurch gekennzeich
net, daß die Beleuchtung des zu erkennenden Objek
tes (1) durch die Gehäusewand (2) hindurch erfolgt und
das Bild der zu erfassenden Meß- oder Prüfstelle (3)
über eine Optik (5) auf einen Bildschirm (4), zum Bei
spiel Mattscheibe, projiziert wird.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß das Bild auf eine Photo
diodenzeile (4) einer Kamera projiziert wird, an die
eine Auswerteeinrichtung (8) angeschlossen ist.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Beleuchtung über
eine Konvexlinse (7) mit einer Lampe (6) erfolgt, deren
Emissionsmaximum zum roten und nahen Infrarotbereich
verschoben ist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19853536374 DE3536374A1 (de) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | Durchlichtverfahren zur gehaeuse- und bauteilevermessung |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19853536374 DE3536374A1 (de) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | Durchlichtverfahren zur gehaeuse- und bauteilevermessung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3536374A1 true DE3536374A1 (de) | 1987-04-16 |
DE3536374C2 DE3536374C2 (de) | 1993-05-06 |
Family
ID=6283401
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19853536374 Granted DE3536374A1 (de) | 1985-10-11 | 1985-10-11 | Durchlichtverfahren zur gehaeuse- und bauteilevermessung |
Country Status (1)
Country | Link |
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DE (1) | DE3536374A1 (de) |
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- 1985-10-11 DE DE19853536374 patent/DE3536374A1/de active Granted
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Also Published As
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DE3536374C2 (de) | 1993-05-06 |
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