DE2258702A1

DE2258702A1 - Verfahren und vorrichtung zur bestimmung der lichtablenkenden eigenschaft einer transparenten zone

Info

Publication number: DE2258702A1
Application number: DE19722258702
Authority: DE
Inventors: Clerck Georges De
Original assignee: Glaverbel Belgium SA
Current assignee: AGC Glass Europe SA
Priority date: 1971-12-03
Filing date: 1972-11-30
Publication date: 1973-06-07
Also published as: ZA728518B; FR2166975A5; NL7216224A; GB1366944A; BE792026A; SE390570B; AU4938772A; IT975852B; JPS4864982A

Description

OR. MOLLER-BORf DiPu-PHvS. DR. ΜΑΝίΤΖ DirL.-CHEM. DR. DEUFEL DIPL.-INQ. FINSTERWALD DIPL.-INQ. QRAMKOW

München, den SO. NOU W? Ks/Ko - G 2268

QLAVERaSL Chaussee* de la Hulpe, 166 Watermael - Boitsfort/Belgien '

Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der lichtablenkenden Eigenschaft einer transparenten Zone«

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung der lichtablenkenden Eigenschaften einer Fläche oder Zone transparenten Materials durch Sendung eines Bündels von Lichtstrahlen durch diese Fläche und Ermittlung, ob die Lichtstrahlen von dieter Flllohe transparenten Materials abgelenkt worden sind oder »ehr ds in einen vorbestimmten Ausmaft abgelenkt worden sind· Die Erfindung betrifft ferner eine Einrichtung iur Durchführung eines selchen Verfahrens.

In der vorliegenden Beschreibung und den zugehörigen Ansprüchen umfaAt der Ausdruck "Licht" Infrarotstrahlung, sichtbare Strahlen und Ultraviolettstrahlung, während das Wort "transparent" in Zusammenhang Mit von Licht bestrahlte» Material die Durchlässigkeit für die verwendete Strahlung beseiohnen soll.

Es ist ein Verfahren der oben genannten Art bekannt, bei welchem ein schmaler Strahl sichtbaren Lichts durch ein· von dem su unter-

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suchenden transparenten Material ausgefüllte Zone gesendet wird und dazu gebracht wird, auf einem hinter der Zone transparenten Materials angeordneten Schirm ein fokussiertes Bild der Lichtquelle darzustellen. Wenn der Bereich des Materials optisch eben ist, das heißt wenn die Flächen des Materials über den durchstrahlten Bereich genau parallel sind, dann werden die Lichtstrahlen von dem Material nicht abgelenkt, und der Ort des dargestellten Bildes wird allein durch die optische Projektions- und Fokussiereinrichtung bestimmt. Wenn der Bereich des Materials nicht optisch eben 1st, dann ist das Bild gegenüber diesem Ort verschoben, und die Verschiebung ist ein Maß für die lichtablenkende Eigenschaft des Materialbereichs.

\ Diese bekannte Methode eignet sich nicht besonders gut zur Feststellung von Fehlern oder Störungen, die ein geringes MaA an Lichtablenkung verursachen. Außerdem ist diese bekannte Methode nicht dazu geeignet, um große Flüchen oder Bereiche zu untersuchen. Der sichtbare Lichtstrahl bestrahlt einen sehr kleinen Bereich des zu prüfenden Materials,und sur richtigen Bewertung einer Platte oder rolle des Material· lat e· notwendig, da· Material alt den Lichtstrahl absutaaten und die Llcntablenkung an Jedem einer Vielzahl aufeinander folgender von Strahl bestrahlter Punkte su Hessen und vorsugsvelse aufsuselohnen.

Aufgabe der vorliegenden Erfindung lat die Angabe eines Prüfverfahrens, welches gegenüber eine Liehtablenkung verursachenden Fehlern oder Defekten betracntlicn empfindlicher 1st. Eine weitere Aufgabe der Erfindung besteht darin, ein empfindliches Prttfverfah-PtA aasugeben, welches sieh bei Verwendung relativ billiger optlaeher Slnrichtungen sur Untersuchung vergleichbar groAer fliehen oder Bereiche transparenten Materials eignet.

Das allgemein definierte erflndutigegenlAe Verfahren ist dadurch gekennselchnet, da» daa profitierte Lichtbündel ein divergente· LiehtbfliMlel lat und daft die Strahlen diese« Bündels nach den Durchlaufen der Materialcone im wesentlichen vollständig durch diese Zone hindurch als konvergentes Bündel lurttokgeworfen werden und tfaft 41t besagte Ermittlung an den an dleaer Zone konnenden surttck-

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geworfenen Lichtbündel erfolgt.

Das erfindungsgeraäße Verfahren ist empfindlicher als die bekannte Methode, denn falls in der durchstrahlten Materialzone ein Defekt vorhanden ist, der eine Ablenkung von Lichtstrahlen zur Folge hat, dann bewirkt dieser Defekt eine doppelte Ablenkung: zunächst werden Lichtstrahlen abgelenkt, wenn sie die Zone in einer Richtung durchlaufen, und dann erfolgt eine Ablenkung dieser Strahlen, wenn sie die Zone in der entgegengesetzten Richtung durchlaufen.

Infolge der Projektion eines divergenten Lichtbündels durch die Zone transparenten Materials kann ein relativ großer Bereich des Materials durchstrahlt werden, ohne daß man dazu große und teure / Linsen verwenden muß.

Vorzugsweise haben das projizierte divergente Lichtbündel und das reflektierte konvergente Lichtbündel allgemein kegelige Form. Dieses Merkmal nat besondere Bedeutung, weil dadurch eine Lichtablenkung in beliebiger Ebene ermittelt werden kann. Vorzugsweise ist die größte Ausdehnung der Zone transparenten Materials in mindestens einer Richtung wenigstens 30 cm. In manchen Fällen mißt diese Zone wenigstens 45 cm in wenigstens einer Richtung, Falls man mit einem erfindungsgemäßen Verfahren die Gesamtheit eines blattförmigen transparenten Materials untersuchen will, wird natürlich die zur Untersuchung benötigte Zeit bei gleicher Abtastfreqüenz gegenüber der zuvor erreichten Zeit stark herabgesetzt.

Die von der Lichtquelle durch die Prüfzone gelangenden Strahlen müssen von Stellen zurückgeworfen werden, welche dieser Zone transparenten Materials genügend nahe sind, damit für den Fall, daß die beim Hinweg und Rückweg der Strahlen durchlaufenden Punkte der transparenten Materialzone nicht genau zusammenfallen, der Abstand dieser Punkte so klein ist, daß der durch ihn hervorgerufene Fehler bei der Bestimmung der lichtablenkenden Eigenschaften innerhalb akzeptabler Grenzen liegt. Gemäß bestimmter Ausführungsformen der Erfindung ist die Entfernung, welche die proj!zierten Lichtstrahlen nach dem Durchlaufen der Zone transparenten Materials und vor ihrer Reflexion zu dieser Zone zurücklegen können, nirgendwo größer als 25 cm· Hierbei bleiben die vorgenannten Fehler für die meisten

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in Betracht kommenden Zwepke Innerhalb zulässiger Grenzen.

Bei einigen bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung werden die aus der Zone kommenden reflektierten Lichtstrahlen entsprechend dem Ausmaß ihrer eventuellen Ablenkung in der Wellenlänge moduliert, so daß sich Unterschiede in der Licntstrahlablenkung als Farbunterschiede mitteilen. Dies erleichtert die Überwachung des Ausmaßes der Ablenkung sichtbarer Lichtstrahlen selbst durch einen ungeschulten Beobachter. Bei Verwendung von unsichtbarem Licht kann die Anordnung so getroffen sein, daß Unterschiede in der Ablenkung des unsichtbaren Llcnts als Farbdifferenzen zwischen sichtbaren Lichtstrahlen offenbart werden, die von einer auf einfallen· des unsichtbares Licht ansprechenden üetektoreinrichtung ausgesandt werden.

Gemäß bevorzugten Ausführungsformen der Erfindung erfolgt die besagte Ermittlung oder Erfassung dadurch, daß an einem gegebenen Ort längs des Weges des reflektierten Bündels diejenigen Lichtstrahlen, die nicht abgelenkt oder nicht stärker als in einem vorbestimmten Maß abgelenkt worden sind, abgefangen werden und daß an diesem Ort nlchtabgefangene Lichtstrahlen gefühlt werden. Diese Erfassungsmethode 1st gleichermaßen geeignet für die Erfassung der Ablenkung infraroter und ultravioletter Lichtstrahlen ebenso wie zur Erfassung der Ablenkung sichtbarer Lichtstrahlen.

Die Verwendung eines divergenten Lichtbündels und eines konkaven hinteren Reflektors gemäß der Erfindung ist besonders vorteilhaft zur Prüfung von gewöloten Platten aus transparentem Material (z.B. Windschutzscheiben für Fahrzeuge), insbesondere wenn das zu prüfende Material mit seiner konkaven Fläche der Quelle des Lichtbündels zugekeart ist. Die Differenz des Einfallswinkels verschiedener Strahlen auf die Materialfläche kann kleiner sein als bei Verwendung eines parallelen Bündels, und in Wirklichkeit kann die Divergenz dee Bündels im Verhältnis zur Krümmung oder Wölbung des Prüflings so gewählt sein, daß der Einfallswinkel, zumindest in einer Ebene, für alle Strahlen im wesentlichen gleich ist.

Das Verfahren ist Jedoch anwendbar zur Prüfung eines beliebigen

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transparenten Materials, sei es von homogener oder zusammengesetzter Form. Beispielsweise läßt sich das Verfahren anwenden zur Prüfung eines Stücks aus transparentem Material mit einem transparenten überzug oder eines Stücks aus transparentem Material, welches aus mehreren transparenten Schichten unterschiedlicher Zusammensetzung besteht. Das Verfahren ist außerdem geeignet zur Prüfung zweier oder mehrerer aneinander angrenzender lichtdurchlässiger Teile, so daß die Lichtstrahlen aus der Quelle zunächst durch einen und dann durch den anderen Teil laufen und dann durch die Anordnung der Teile hindurch zurückgeworfen werden. In diesem Fall erhält man eine Anzeige der lichtablenkenden Eigenschaften des gesamten durchstrahlten Volumens des lichtdurchlässigen Materials . Das Verfahren ist beispielsweise vorteilhaft zur Prüfung von Gefügen aus Glasscheiben, beispielsweise einer Mehrfachverglasung oder einer Anordnung aus zusammengeschichteten Glasscheiben wie zum Beispiel einer geschichteten Windschutzscheibe.

Mit dem erfindungsgemäßen Verfahren kann die Windschutzscheibe eines Fahrzeuges an Ort und Stelle geprüft werden. Das Lichtbündel kann so durch die Windschutzscheibe gelenkt werden, daß die Achse des Bündels horizontal verläuft. In diesem Fall wird die lichtablenkende Eigenschaft der Windschutzscheibe, die in vielen Fahrzeugen gegenüber der Vertikalen merklich geneigt ist, unter Bedingungen getestet, die den bei Gebrauch des Fahrzeuges eintretenden wichtigsten Bedingungen entsprechen.

Die Erfindung umfaßt auch eine Vorrichtung zur Durchführung des oben beschriebenen Verfahrens. Eine Vorrichtung zur Bestimmung der lichtablenkenden Eigenschaften einer Zone transparenten Materials mit einem Halter für das transparente Material, einer Projektionseinrichtung zur Sendung eines Bündels von Lichtstrahlen von einer Quelle durch eine Zone des vom Halter gehaltenen transparenten Materials und einer Detektoreinrichtung zur Ermittlung, ob Lichtstrahlen von der besagten Materialzone abgelenkt oder stärker als ein vorbestimmtes Maß abgelenkt werden, ist dadurch gekennzeichnet, daß die Projektionseinrichtung ein divergentes Lichtbündel aussen-

det auf der selben Seite der Materialzone wie die Detektoreinrichtung angeordnet 1st und daß ein konkaver Reflektor (im folgenden

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"hinterer Reflektor" genannt) vorgesehen ist, der zur Ermittlung· der Ablenkung mittels der Detektoreinrichtung das Licntbündel vollständig durch die Materialzone hindurch zurückwirft.

Diese Kombination von Merkmalen bringt eine Menge wichtiger Vorteile. Insbesondere ist die Vorrichtung sehr empfindlich. Weiterhin kann die Vorrichtung dazu verwendet werden, um relativ große Flächen transparenten Materials zu untersuchen, ohne dabei große Linsen zu verwenden. Die einzige notwendige Ausrüstung besteht aus einem Lichtbündelprojektor, einem einzigen konkaven Reflektor und einer Einrichtung, welche die Erfassung abgelenkter Lichtstrahlen gestattet.

Gewisse bevorzugte Ausführungsformen der Erfindung sehen vor, daß die Projektionseinrichtung zur Aussendung eines kegelig divergenten Lichtbündels ausgelegt ist und daß der hintere Reflektor sphärisch gekrümmt ist. Eine solche Vorrichtung gestattet die Erfassung von Lichtablenkungen in allen Ebenen, ohne die Vorrichtung und das durchstrahlte Material zueinander ζμ bewegen.

Vorzugsweise ist das Verhältnis zwischen der Entfernung"a"von der Lichtquelle zum Krümmungsmittelpunkt des sphärischen hinteren Spiegels einerseits (wobei diese Entfernung sowohl parallel zur optischen Achse des hinteren Reflektors als auch senkrecnt zu dieser Achse gemessen wird) und dem Krümmungsradius "r" des Reflektors andererseits so gewählt, daß es der Gleichung ^ :£ 0,007 genügt. Diese Bedingung gewährleistet, daß keine ernsthaften Meßfehler dadurch entstehen können, daß verschiedene projizierte Strahlen mit sehr unterschiedlichem Einfallswinkel auf den hinteren Reflektor auftreffen.

Das Maß, in welchem ein einfallender Strahl bei seinem Weg durch eine Zone transparenten Materials mit nlchtparalieler Vorder- und Rückfläche abgelenkt wird, ändert sich nicht nur mit dem Winkel zwischen diesen Flächen sondern auch mit dem Einfallswinkel der Lichtstrahlen auf die Flächen. Der maximale Einfallswinkel sollte daher genügend klein sein, um die durch diese Erscheinung entstehenden Fehler Innerhalb annehmbarer Grenzen zu halten.Der be-

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sagte Winkel wird beeinflußt durch die Größe der bestrahlten Fläche des hinteren Reflektors und durch den Krümmungsradius des Reflektors sowie durch den Abstand der Lichtbündelquelle vom· Krümmungsmittelpunkt des Reflektors, wie oben erwähnt. Um den Fehlerbeitrag des oben erwähnten Einfallswinkelfaktors klein zu machen, haben bestimmte Ausführungsformen der Erfindung das oben erwähnte Verhältnis a/R und sind außerdem noch dadurch gekennzeichnet, daß der Durchmesser d der bestrahlten Fläche des hinteren Reflektors und der Krümmungsradius dieses Reflektors in einem gegenseitigen Verhältnis ^ ^0,15 stehen.

Bei manchen Ausführungaformen der Erfindung dient der Halter für dar* transparente Material dazu, dieses Material in einer solchen stellung zu halten, daß die Entfernung zwischen der bestrahlten Zone des transparenten Materials und der bestrahlten Fläche des hinteren Reflektors nirgendwo größer als 25 cm ist. Der Vorteil dieses Merkmals ist der gleiche, wie derjenige, des entsprechenden Merkmals des erfindungsgemäßen Verfahrens.

Der Vorteil hängt stark davon ab, daß die Entfernung zwischen der Lichtquelle und dem Krümmungsmittelpunkt des hinteren Reflektors klein gehalten wird, und der Vorteil ist besonders groß, wenn das vorgenannte Verhältnis <| < 0,007 beobachtet wird. In Wirklichkeit ist in diesem Fall der Abstand zwiscnen den Punkten, wo der Liehtstrahl vor und nach der Reflexion am hinteren Reflektor durch die bestrahlte Zone des transparenten Materials tritt, kleiner als 1 mm, und dies ist übereinstimmend mit einer sehr großen Meßgenauigkeit.

Gemäß bevorzugter Ausführungsformen der erfindungsgemäßen Vorrichtung ist die Quelle des Lichtbündels dem Mittelpunkt oder der Achse der Krümmung des hinteren Reflektors benachbart und liegt in oder unmittelbar neben einer Ebene, die zur optiscnen Achse oder Ebene des hinteren Reflektors senkrecht verläuft und dessen Krümmungsmitte lpunkt oder -achse enthält. Diese Ausgestaltungen haben den Vorteil, daß tie durch den Einfallewinkelfaktor hervorgerufenen Fehler sehr kl«in gehalten werden, während gleichzeitig die Detektoreinrichtung längsseits der Lichtbündelquelle statt vor der Lichtbündelquell· angeordnet tresden kann«

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Bel gewissen vorteilhaften Ausführungsformen der Erfindung enthält die Detektoreinrichtung ein farbiges transparentes Filterelement mit verschieden gefärbten Optimum- und Sekundärzonen, die so angeordnet sind, daß die Optimumzone nur von den durch einen bestrahlten Bereich des transparenten Materials nicht abgelenkten oder nicht über einem vorgegebenen Maß abgelenkten Strahlen bestrahlt wird, während die Sekundärzone nur von solchen Strahlen bestrahlt wird, die stärker als dieses Maß abgelenkt sind. Vorzugsweise 1st die besagte Sekundärfilterzone in . verschiedenfarbige Teilzonen aufgeteilt.

Ein solches Element, welches unterschiedlich gefärbte Zonen aufweist und von durchgelassenem sichtbaren Licht gesehen wird, stellt in Wirklichkeit ein Mehrfachfarbenfilter dar. Mit einem solchen Filterelement wird, die Farbe als Kriterium für den Betrag der Lichtablenkung verwendet. So zeigt das Vorhandensein von zu der Sekundärzone oder zu einer oder mehreren sekundären Teilzonen gehörenden Farben in dem gesehenen Bild an, daß der Prüfling nicht die optimale Qualität aufweist» und die Proportion und Verteilung einer Sekundärzonenfarbe oder mehrerer solcher Farben in diesem Bild ist ein Hinweis dafür, wie weit die Probe hinter diesen optimalen Norm zurückbleibt.

Die Erfindung umfaßt eine Vorrichtung mit einem sphärisch gekrümmten hinteren Reflektor und einem vorstehend beschriebenen Mehrfachfarbenfilter, in welchem die verschiedenen Zonen und Teilzonen (falls vorhanden) durch konzentrische Kreise gebildet sind. In diesem Fall ist die Optimumzone und die oder Jede Teilzone (falls vorhanden) ein Bereich mit einer genau definierten durchgehenden Grenze und wird umgangen durch reflektierte Strahlen, welche stärker als ein vorbestimmtes Maß abgelenkt worden sind, unabhängig von der Ebene, in welcher diese Ablenkung stattfindet. Das Filter dient dann zur Offenbarung dee Vorhandenseins von Fehlern oder Defekten, welche eine Lichtablenkung in irgenelner Richtung verursachen.

Eine Detektoreinrichtung mit durch Kreise definierten Filterbereiohen wird zwar vorzugsweise verwendet, jedoch umfaßt die Er-

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findung natürlich auch Verfahren, bei welchen die Optimum- und Sekundärzonen die Form von geraden parallelen Bändern haben, und wobei die Qualität durch die Lichfcablenkung senkrecht zu diesen Bändern bestimmt wird. In einem solchen Fall kann eine vorgegebene Zone des transparenten Materials aufeinanderfolgender Prüfungen in verschiedenen Orientierungen unterworfen werden, um seine lichtablenkende Eigenschaft in verschiedenen Richtungen zu bestimmen.

Die erfindungsgemäße Vorrichtung kann zwei oder mehrere Filterelemente enthalten, die von einem derart montierten Filterhalter gehalten werden, daß durch Verschiebung des Halters irgendein ausgewähltes Filterelement in seine Betriebsstellung gebracht werden kann. Diese verschiedenen Filterelemente können Bereiche verscniedener Abmessungen aufweisen, um einzelne Proben nach verschiedenen Qualitätskriterien oder Normen zu klassifizieren.

Vorzugsweise umfaßt die Detektoreinrichtung einer erfindungsgeraäßen Vorrichtung ein Filterelement wie oben und einen lichtstreuenden Schirm, auf welchen das vom Filterelement durchgelassene farbige Licht projiziert wird, um ein Bild der besagten Zone des transparenten Materials darzustellen. Die Verteilung der aufgefangenen Strahlen kann deutlich und bequem auf einem solchen Schirm beobachtet werden und auch fotografiert werden, um eine bleibende Aufzeichnung der lichtablenkenden Eigenschaften des Materials zu liefern. Als Schirm kann beispielsweise eine Mattscheibe oder ein Blatt Papier oder eine leere Wand verwendet werden.

Um ein scharfes Bild der bestrahlten Zone des transparenten Materials zu erhalten, sollte man vorzugsweise mindestens eine Linse verwenden.

Bei einer mit unsichtbarem Licht arbeitenden Vorrichtung kann die Detektoreinrichtung zum Beispiel einen mit einem Leuchtstoff bescnichteten Schirm oder einen anderen Auffänger enthalten, so daß eine direkte visuelle Beobachtung der Ablenkungen der unsichtbaren Lichtstrahlen erfolgen kann.

Bei bestimmten anderen Ausführungsformen der Erfindung enthält die Detektoreinrichtung eine Auffangvorrichtung zum Auffangen reflek-

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tlerter Lichtstrahlen, die nicht oder weniger als ein vorbestimmtes Maß abgelenkt worden sind, und eine Fühleinrichtung zur Erfassung der diese Auffangvorrichtung umgehenden Lichtstrahlen. Hiermit kann die Anordnung so aufgebaut werden, daß nur unannehmbar große Strahlenablenkungen gefühlt werden und daß nicht oder nur schwach abgelenkte Strahlen ignoriert werden.

Vorzugsweise besteht die Auffangvorrichtung und/oder Fühleinrichtung aus einer oder mehreren Fotozellen.

Beispielsweise können die stärker als ein vorbestimmtes Maß abgelenkten Strahlen auf eine Fotozelle oder mehrere solche Zellen fallen, und die von diesen Fotozellen ausgesandten elektrischen Signale können zur Auslösung einer optischen oder akustischen Signaleinrichtung dienen. In bevorzugter Ausführungsform ist die Fotozelle oder sind diese Fotozellen mit einer Einrichtung zur automatischen Sortierung geprüfter Gegenstände aus transparentem Material in Gruppen unterschiedlicher Qualität verbunden. Diese letztere Verwendungsart der elektrischen Signale ist von möglichem Wert bei der Massenprüfung von Prüflingen, zum Beispiel von in Fahrzeugen als Windschutzscheiben zu verwendenden Glasscheiben, wobei man sie automatisch durch eine Prüfstation laufen läßt und sie dann Je nach Ergebnis der Prüfung der weiteren Verarbeitung oder dem Ausschuß zuführt. Durch Anordnung verschiedener und mit unterschiedlichen Signalschaltungen verbundener Fotozellen in verschiedenen sekundären Teilzonen können Stücke mit einer unter dem Optimum liegenden Qualität automatisch in verschiedene Zweitklassen unterteilt werden.

Bei gewissen erfindungsgemäßen Vorrichtungen ist ein zweiter Reflektor vorgesehen, welcher die von der bestrahlten Zone des transparenten Materials kommenden reflektierten Lichtstrahlen zur Detektoreinrichtung lenkt. Dadurch kann man die reflektierten Lichtstrahlen an einem Punkt konvergieren lassen, der weiter von der Lichtquelle entfernt ist, als es ohne den zweiten Reflektor der Fall wäre. Ausführungsformen mit einem solchen zweiten Reflektor haben daher größere Projektions- und/oder Auffangeinrichtungen, als es ansonsten möglich wäre.

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Bei bestimmten Ausführungsformen ist ein dritter Reflektor vorgesehen, der zusammen mit dem besagten zweiten Reflektor ein Periskop bildet.

Wenn man den besagten zweiten Reflektor oder einen zweiten und einen dritten Reflektor verwendet,und auch bei Verwendung eines anderen optischen Systems, ist es natürlich wünschenswert, daß die Komponenten des Systems so angeordnet sind, daß das Zentrum der Lichtquelle einerseits und das Zentrum des Filterelements oder der Auffangvorrichtung andererseits im wesentlichen konjugierte Punkte des besagten hinteren Reflektors sind. Alle vom Zentrum der Lichtquelle ausgehenden Lichtstrahlen, die bei ihrem Weg durch die Prüfzone des transparenten Materials nicht abgelenkt werden, fallen dann auf das Zentrum des Filterelements oder der Auffangvorrichtung.

Verschiedene Ausführungsformen der Erfindung werden nachstehend an Ausführungsbeispielen anhand von Zeichnungen erläutert.

Fig. 1 ist eine Querschnittsansicht einer ersten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung;

Fig. 2 ist eine Frontansicht eines in der Vorrichtung nach Fig. 1 verwendbaren Filterelements;

Fig. 3 ist eine Querschnittsansicht einer zweiten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung;

Fig. 4 ist eine Frontansicht eines in der Vorrichtung nach Fig. 3 verwendbaren Filterelements;

Fig. 5 ist eine Querschnittsansicht einer dritten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung;

Fig. 6 ist eine Querschnittsansicht einer vierten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung.

Die in Fig. 1 gezeigte Vorrichtung enthält einen Projektor 1, der ein divergierendes Bündel von Lichtstrahlen durch eine Blendenöffnung 2 wirft, die eine Lichtquelle darstellt. Das Strahlenbündel 3 wird durch einen Bereich einer Scheibe 4 aus transparentem Material auf einen hinteren Reflektor geworfen, der als sphärischer Spiegel 5

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ausgebildet ist und wo das Strahlenbündel reflektiert wird. Das reflektierte Strahlenbündel gelangt zurück durch die Scheibe 4 und tritt durch ein Filterelement 8 in die Detektoreinrichtung 7 ein.

Der Projektor 1 enthält eine Glühlampe 9, deren Licht von einer Linse 10 gesammelt und in einem Brennpunkt an der Blendenöffnung 2 vereinigt wird, von wo das divergente Lichtbündel 3 auf die zu prüfende Scheibenzone gericntet wird. Die die Lichtquelle darstellende Blendenöffnung 2 befindet sich neben dem Krümmungsmittelpunkt 0 des sphärischen Spiegels 5.

Wenn die Lichtstrahlen bei ihrem Durchgang durch die zu prüfende Zone der Scheibe 4 nicht abgelenkt werden und wenn man von kleinen Fehlern, die durch Unterschiede in den Einfallswinkeln verschiedener Lichtstrahlen auf diese Zone entstehen, absieht, dann konvergiert das reflektierte Strahlenbündel 6 zu einem Punkt 11 hin, wo es ein Bild der geprüften Fläche aufbaut. Dieser Punkt 11 und das : Zentrum der Lichtquelle, das heißt die Mitte der öffnung 2, sind bezüglich des Krümmungsmittelpunkts 0 des sphärischen Spiegels i? symetrisch und sind konjugierte Punkte des Spiegels.

Der Punkt 11 fällt mit dem Zentrum des Filterelements 8 der Detektoreinrichtung 7 zusammen. Das Filter läßt dann Lichtstrahlen des reflektierten Bündels 6 über die Linse 12 zu einem Schirm 13 durch.

Das Filterelement 8 ist von vorne in Fig. 2 gezeigt und besteht aus einer transparenten Scheibe, die aufgeteilt ist in eine kreisförmige mittlere Zone 14, welche ungefärbt sein kann, und eine Anzahl ringförmiger sekundärer Zonen 15, die beispielsweise rot, grün und gelb gefärbt seien.

In der Flg. 1 ist die Scheibe 4 gewölbt dargestellt, und ihre konkave Seite ist der Projektions- und Detektoreinrichtung zugekehrt. Die Krümmung der Scheibe β kann teilsphärisch sein.

In Fällen wo die Lichtstrahlen bei ihrem Weg durch die zu prüfende Zone der Scheibe 4 nicht abgelenkt oder nicht stärker als ein vorbestimtotes Maß abgelenkt werden, beleuchtet das reflektierte Strahlenbündel 6 nur die mittlere Zone 14 (Optimumzone) des Filterele-

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ments 8, und der Schirm 13 wird daher von Licht der gleichen Wellenlängenbeleuchtet, wie sie das von der Glühlampe 9 ausgehende Licht hat. Wenn jedoch das Material der Scheibe 4 über die untersuchte Fläche unterschiedliche Dicke oder unterschiedlichen Brechungsindex hat, dann werden Lichtstrahlen beim Weg durch, diesen Bereich abgelenkt und gelangen durch die Sekundärzonen 15 des Filterelements 8, so daß der Schirm 13 mit farbigem Licht beleuchtet wird. Die auf dem Schirm 13 erscheinende Farbe oder die dort erscheinenden Farben liefern eine Anzeige dafür, wie stark die Lichtstrahlen bei ihrem Weg durch die Scheibe 4 abgelenkt worden sind. Diese Anordnung ist besonders geeignet zur Prüfung von Glasscheiben, weil die Lichtablenkung schnell und ohne Fehler selbst von einem ungeschulten Beobachter bestimmt werden kann.

Wenn in der Praxis ein Satz von Glasscheiben gewöhnlicher Qualität untersucht wird und man dazu die in den Fig. 1 und 2 dargestellte Vorrichtung verwendet, dann erscheinen auf dem Schirm gleichzeitig mehrere Farben, und die Qualität eines bestimmten Prüflings kann anhand der Verteilung und der relativen Intensitäten der verschle_r denen Farben beurteilt werden.

Die gerade beschriebene Vorrichtung ist gleichermaßen geeignet zur Prüfung ebener Glasscheiben.

In einer praktischen Ausführungsform der in Fig. 1 gezeigten Vorrichtung hatte der sphärische Spiegel einen Durchmesser d von 60 cm und einen Krümmungsradius R von 400 cm. Die zu prüfende Zone lag innerhalb 25 cm vom Spiegel_?und ihre Breite entsprach annähernd dem Durchmesser des Spiegels. Die Ausgangsöffnung 2 des Projektors hatte einen Durchmesser von 0,5 mm und lag 400 cm vom Spiegel und 2,5 cm vom Krümmungsmittelpunkt 0 des Spiegels entfernt.

Unter diesen Bedingungen betrug das Verhältnis des Durchmessers d des Spiegels zum Krümmungsradius R des Spiegels ^ =0,15.

Der durch unterschiedliche Einfallswinkel der Lichtstrahlen auf die Fläche der untersuchten Scheibe eingeführte Fehler ist sehr klein und kann vernachlässigt werden. In Fällen wo ebene Flächen untersucht werden sollen ist der Unterschied zwischen verschiede-

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nen Einfallswinkeln am größten und reicht bis zu einem iteximalwert

von 4°38·. Wenn der Brechungsindex einer solchen Scheibe 1,52 wäre,

dann könnte der aus obigen Gründen eingeführte Maximalfehler in der Ablenkung 0,5 % sein.

Auch gilt für das Verhältnis zwischen der Entfernung a von der Lichtquelle (das heißt der Öffnung 2) zum Krümmungsmittelpunkt O des Spiegels 5 einerseits und dem Krümmungsradius R des Spiegels andrerseits & = 0,00625, und dies stellt sicher, daß der Abstand zwischen den Punkten, an welchen ein bestimmter Lichtstrahl vor und nach seiner Reflexion am Spiegel 5 den untersuchten Bereich der Scheibe 4 durchläuft, kleiner als 0,8 mm ist.

Bei einer Variante der in Fig. 1 gezeigten Anordnung kann die die Lichtquelle darstellende Blendenöffnung 2 entweder links oder rechts einer Ebene liegen, die senkrecht zur optischen Achse des Spiegels 5 verläuft und den Krümmungsmittelpunkt 0 des Spiegels enthält. In diesem Fall konvergieren die vom Spiegel reflektierten Strahlen zu einem Punkt rechts oder linke dieser Ebene und symetriech mit der Blendenöffnung zum Krümmungsmittelpunkt des Spiegele. Es 1st nicht wesentlich, daß das Filterelement 8 in der Ebene des Konvergenzpunktes der reflektierten Strahlen liegt, Wenn vielmehr das Filterelement einen Abstand zu dieser Ebene hat, dann wird das MaA der Ablenkung, die notwendig 1st, um die abgelenkten Strahlen an der Optimumzone des Filters vorbeilaufen und sie durch eine Sekundärzone gelangen zu lassen, kleiner.

Fig. 3 ist eine ähnliche Ansicht wie Fig. 1 und zeigt eine Ausführungsform der Vorrichtung, bei welcher der konkave hintere Reflektor durcn einen zylindrischen Spiegel gebildet wird. Diese Anordnung eignet sich besonders zur Prüfung von Scheiben aus transparentem Material, die in einer Ebene gewölbt sind, das heißt abwickelbare Scheiben oder Folien, zum Beispiel teilzylindrisohe Scheiben.

Ein Projektor 16 mit einer Blendenöffnung 17 wirft ein divergentes Bündel 18 von Liohtstrahlen durch einen Bereich einer gekrümmten Sehelbe 19 auf einen zylindrischen Spiegel 20. Das Strahlenbündel

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wird durch im wesentlichen den selben Bereich der Scheibe 19 zurückgeworfen und tritt als reflektiertes Strahlenbündel 21 durch ein Filterelement 23 in die Detektoreinrichtung 22, Der Projektor 16 enthält eine Glühlampe 24, deren Licht mittels einer Linse 25 in einem Brennpunkt an der Blendenöffnung 17 fokussiert wird.

Die Detektoreinrichtung enthält ein Mehrfachfarbenfilter 23 (Fig.A), welches so angeordnet ist, daß seine Mitte auf der Konvergenzlinie 26 des reflektierten Strahlenbündels 21 liegt. Diese Linie 26 und das Zentrum der Blendenöffnung 17 liegen symetrisch zur Krümmungsachse O des konkaven zylindrischen Reflektors 20. Das Licht vom Filterelement 23 gelangt über eine Linse 27 auf einen Schirm 28.

Das Filterelement 23 ist von vorn in Fig. 4 gezeigt und besteht aus einer transparenten Scheibe, die in parallele Bänder oder Streifen unterteilt ist. Das mittlere Band 29 kann ungefärbt sein und die anderen Bänder haben paarweise dieselbe Farbe, wobei die gleichfarbigen Bänder jedes Paars 30 symetriseh zu beiden Seiten des mittleren .Bandes angeordnet sind.

Wenn Lichtstrahlen überhaupt nicht oder nicht mehr als in einem vorbestimmten Maß abgelenkt werden, dann konvergieren die reflektierten Strahlen zum mittleren Band 29 des Filtereiements 23, und der Schirm 28 wird durch Licht derselben Wellenlänge öder Wellenlängen beleuchtet, wie sie die Glühlampe 2k aussendet.

Die stärker als das besagte vorgegebene Maß abgelenkten Strahlen konvergieren jedoch zu einem äusseren, sekundären Band 30, und der Schirm wird von farbigem Licht beleuchtet, welches ein streifiges Bild der geprüften Zone der Scheibe 19 transparenten Materials formt. Diese Ablenkung k^nn beispielsweise veranläßt werden durch fohlende Parallelität der Scheibenflächen, durch Schwankungen- des Brechungsindex des Scheibenmaterials oder durch ungleichmäßige Djoke oder Qualität einer Schicht, welche auf demtransparenten Material aufgebracht ist. ·

B<-1 in den Zeichnungen nicht dargestellten anderen Ausführungsfor-ItIfIi kann statt der in den Fig. 1 und 3 gezeigten Glühlampen eine li.i ft ra violett lampe verwendet werden, und die mittlere Optimumzone "-^- >■

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I¹I, 29 des zugehörigen Filterelements 8, 23 ist dann lichtundurchlässig. Der zugehörige Schirm 13, 28 ist mit einem Leuchtstoff beschichtet, der auf die Wellenlänge des verwendeten ultravioletten Lichts reagiert und somit von denjenigen ultravioletten Lichtstrahlen aufgehellt wird, welche an der Optimumzone des Filterelements vorbeilaufen, um eine ein vorgegebenes Maß überschreitende Ablenkung der Lichtstrahlen anzuzeigen. Natürlich kann die mittlere Optimumzone der in Zusammenhang mit den Fig. 2 und k beschriebenen und bei sichtbarem Licht verwendeten Filterelemente ebenfalls undurchlässig sein.

Die einen zylindrischen Spiegel verwendete Anordnung ist weniger kostspielig als eine Anordnung mit einem sphärischen Spiegel, und sie ist besonders geeignet, wenn Scheiben aus transparentem Material getestet werden sollen, deren gekrümmte Längen größer sind als ihre geraden Breiten, zum Beispiel Windschutzscheiben für Kraftfahrzeuge oder Flugzeuge. Beide Anordnungen sind nützlich zur Prüfung ebener Scheiben und geschichteter Scheiben, wie zum Beispiel geschichteter Windschutzscheiben. Anordnungen aus mehreren Tafeln wie zum Beispiel Doppelverglasungen können ebenfalls getestet werden. Die Erfindung läßt sich auch verwenden zur Prüfung von Scheiben transparenten Materials mit einem transparenten Belag, der als elektrische Widerstandsheizung aufgebracht ist. Wenn Strom durch diesen Belag geleitet wird, dann zeigt das Bild auf dem Schirm 13 oder 28 diejenigen Bereiche der untersuchten Zone, die unterschiedlich stark erwärmt sind.

Fig. 5 zeigt eine Ausführungsform, bei welcher die Detektoreinrichtung aus mehreren Fotozellen besteht, die 30 angeordnet sind, daß jedesmal dann ein Signal abgegeben wird, wenn die Lichtstrahlablenkungen ein vorbestimmtes Maß überschreiten.

Gemäß Fig. 5 wirft ein Projektor 21 ein divergentes Bündel 32 von Lichtstrahlen durch eine flache Scheibe 33 transparenten Materials auf einen konkaven hinteren Reflektor 3²I, der hinter der Scheibe angeordnet ist. Die Scheibe 33 befindet sich auf einem Förderapparat 35. Das vom hinteren Reflektor 3^ reflektierte Strahlenbündel 36 gelangt durch ein Periskop, welches aus zwei Spiegels 37 und

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besteht, die das reflektierte Strahlenbündel 36 auf ein Filterelement 4o innerhalb der Detektoreinrichtung 39 lenken. Das Filterelement 4o hat eine lichtunaurchlässige mittlere Optimumzone 41 und transparente ringförmige Zonen 42. Wenn Lichtstrahlen bei ihrem Weg durch die Prüfzone der Scheibe 33 weniger als in einem vorbestimmten Maß abgelenkt werden, dann konvergiert das reflektierte Strahlenbündel zur mittleren Filterzone 4l und wird dort aufgefangen. Wenn jedoch Lichtstrahlen stärker als dieses vorbestimmte Maß abgelenkt werden, dann fallen sie auf eine oder mehrere der ringförmigen transparenten Filterzonen 42 und werden von diesen Zonen durchgelassen, so daß sie auf eine oder mehrere Fotozeilen 43, die sich hinter dem Filterelement befinden, fallen. Jede beleuchtete Fotozelle 43 liefert ein Signal, welcnes anzei-t, daß die geprüfte Zone der Scheibe die optimale Qualität nicht erreicht. In der speziellen gezeigten Ausführungsform wird dieses Signal über ein Relais 44 einem Schaltkasten 45 zugefünrt, der einen Schalter 46 des Förderapparats betätigen kann, so daß die Scheibe ungenügender Qualität auf eine andere Bahn des Förderapparats umgeleitet wird als eine gute Scneibe. Das Signal kann andererseits oder zusätzlich auch einen akustischen oder optischen Alarm auslösen.

Eine solch vollständig automatische Prüfung und Auswahl kann Teil einer Fertigungsstraße bilden, auf der die Scheiben,von einem Förderapparat gehalten,vorrücken» Die geprüften Scheiben können gewölbt oder eben sein.

Bei einer In den Zeichnungen nicht gezeigten Variante dieser Ausführungsform hat jede ringförmige"Sekundärzone des Filterelements eine oder menrere Fotozellen, so daß jede Fotozelle oder jede Gruppe von Fotozellen eine andere Stärke der Lichtablenkung erfaßt. Die geprüften Scheiben aus transparentem Material können dann in Gruppen verschiedener Qualität sortiert werden, je nach dem Signal, welches von einer oder der anderen Fotozelle oder Zellengruppe zu einem oder mehreren Förderapparatschaltern geliefert wird. Die Breiten der ringförmigen Zonen können so gewählt ,werden, daß sie den gewünschten Qualitätskriterien entsprechen» ..-:■■■ .

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Die in Pig. 5 gezeigte Anordnung ist besonders geeignet zur Bestimmung der Ablenkung von infrarotem Licht.

Fig. 6 zeigt eine Ausführungsform der Erfindung zur Prüfung einer Kraftfahrzeug-Windschutzscheibe an Ort und Stelle.

Das Fanrzeug ist in Ruhe, und die Prüfung der Windsciiutzscheibe erfolgt durch Verwendung einer mobilen Projektor-Detektor-Einheit 48, deren Aufbau einer der vorstehend beschriebenen Auaführungsform entspricht. Die Projektor-Detektor-Einheit läuft an hochgehängten Schienen 49 und wirkt mit einem konkaven Spiegel 50 auf der anderen Seite der Windschutzscheibe 4/ zusammen. Wie bei den zuvor beschriebenen Ausführungsformen gelangen die reflektierten Strahlen durch ein Mehrfachfarbenfllter und auf einen Schirm oder auf ein licntundurcnlässiges Element, welcnes von Fotozellen umgeben ist, die einen hörbaren oder sichtbaren Alarm auslösen, wenn sie von auf ihrem Weg durch die Windschutzscheibe abgelenkten Strahlen beleuchtet werden.

Die Anordnung nach Fig. 6 oder eine analoge Anordnung gestattet eine schnelle Prüfung einer Scheioe aus transparentem Material unter den wirklichen Bedingungen und der Ausrichtung der Scheibe wie sie hinsichtlich der vorgesehenen Verwendung der Scheibe am wichtigsten sind.

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Claims

Patentansprücne

( l.J Verfahren zur Bestimmung der lichtablenkenden Eigenschaften · einer Zone transparenten Materials durch Projektion eines Bündels von Lichtstrahlen durch diese Zone und Ermittlung, ob von dieser Zone transparenten Materials Lichtstrahlen abgelenkt oder mehr als in einem vorbestimmten Maß abgelenkt worden sind, dadurch gekennzeichnet, daß das projizierte Strahlenbündel (3) ein divergentes Strahlenbündel ist und daß die Stcahlen dieses Bündels nach dem Durchlaufen der besagten Zone (4) im wesentlichen vollständig durch diese Zone hindurch als konvergentes Bündel (6) zurückgeworfen werden, und daß die besagte Ermittlung an dem aus dieser Zone (4) kommenden zurückgeworfenen Strahlenbündel (6) erfolgt.

2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß das projizierte divergente Strahlenbündel (3) und das reflektierte konvergente Strahlenbündel (6) von allgemein kegeliger Form sind.'

3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß das maximale Ausmaß der besagten Zone (4) transparenten Materials in mindestens einer Richtung wenigstens 30 cm beträgt.

4. Verfahren nach einem der vorhergenenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die Entfernung, welche die projizierten Lichtstranlen (3) nach dem Durchlaufen der besagten Zone (4) transparenten Materials und vor ihrer Reflexion zurück zur besagten Zone zurücklegen können, nirgendwo größer als 25 cm ist.

5. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die von der besagten Zone (4) kommenden reflektierten Lichtstrahlen (6) entsprechend dem Maß ihrer eventuellen Ablenkung in der Wellenlänge moduliert werden, so daß sich Unterschiede in der Lichtstrahlablenkung als Farbunterschiede mitteilen.

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JO

6» Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die besagte Ermittlung dadurch erfolgt, daß diejenigen Lichtstrahlen, die nicht oder nicht mehr als in einem vorbestimmten Maß abgelenkt worden sind,an einem vorgegebenen Ort längs des Weges des reflektierten Strahlenbündels (6) aufgefangen wird, und daß die an diesem Ort nicht aufgefangenen Lichtstrahlen gefühlt werden.

7» Vorrichtung zur Bestimmung der lichtablenkenden Eigenschaften einer Zone transparenten Materials, mit einem Halter für das transparente Material, einer Projektionseinrichtung zur Sendung eines Bündels von Lichtstrahlen von einer Quelle durch eine Zone des vom Halter gehalterten transparenten Materials, und einer Detektoreinrichtung zur Ermittlung, ob Lichtstrahlen von der besagten Materialzone abgelenkt oder stärker als in einem vorbestimmten Maß abgelenkt worden sind, dadurch gekennzeichnet, daß die Projektionseinrichtung (1) ein divergentes Strahlenbündel (3) aussendet und auf der selben Seite der Materialzone (4) wie die Detektoreinrichtung (7) angeordnet ist, und daß ein konkaver hinterer Reflektor (5) vorgesehen ist, der,zur Ermittlung der Ablenkung mittels der Detektoreinrlchtung,das Strahlenbündel vollständig durch die Materialzone hindurch zurückwirft.

6* Vorrichtung nach Anspruch 7» dadurch gekennzeichnet, daß die Projektionseinrichtung (1) zur Projektion eines kegeligen divergenten Strahlenbündels (3) ausgelegt let und daß der hintere Reflektor (5) teilkugelig ist.

9. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Abstand a zwischen der Lichtquelle (2) und dem Krümmungsmittelpunkt (0) des hinteren Reflektors (5) einerseits und der Krümmungsradius R des Reflektors andererseits in einem gegenseitigen Verhältnis von ^ S. 0,007 stehen.

10.Vorrichtung nach Anspruch 9, dadurch gekennzeichnet, daß der Durchmesser d der bestrahlten Fläche des hinteren Reflektors

(5) und der Krümmungsradius R dieses Reflektors in einem Ver-

^d
hältnis von «■ 5 0,15 zueinander stehen.

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11. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 10, dadurch gekennzeichnet, daß der Halter das transparente Material (4) in einer derartigen Stellung hält, daß der Abstand zwischen dem transparenten Material und der bestrahlten Fläche des hinteren Reflektors -(5) nirgendwo größer als 25 cm ist,

12. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 11, dadurch gekennzeichnet, daß. die Quelle (2) des Strahlenbündels (3) neben dem Zentrum (0) oder der Achse der Krümmung des hinteren Reflektors (5) liegt und in oder unmittelbar neben einer Ebene angeordnet ist, die auf der optischen Achse oder Ebene des hinteren Reflektors senkrecht steht und das Zentrum oder die Achse der Krümmung des hinteren Reflektors enthält,

13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoreinrichtung (7) ein farbiges transparentes Filter-element (8) enthält, auf welchem verschiedenfarbige Zonen so angeordnet sind, daß eine Optimumzone (14) nur von denjenigen reflektierten Strahlen bestrahlt wird, die von. der Zone transparenten Materials nicht oder nicht stärker als in einem vorbestimmten Maß abgelenkt worden sind, wänrend Sekundärzonen (15) nur von solchen Strahlen bestrahlt werden,die stärker als dieses vorbes=timmte Maß abgel'enkt worden sind,

14. Vorrichtung nach Anspruch 15, dadurch gekennzeichnet, daß die sekundäre Filterzone (15) in verschiedenfarbige Teilzonen unterteilt ist. ■

15· Vorrichtung nach Anspruch 8 und Anspruch 13 bzw, I²J, dadurch gekennzeichnet, daß die verschiedenen Zonen (14, 15) und die eventuell vorhandenen Teilzonen durch konzentrische Kreise ge-. bildet sind.

16. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 13 bis 15, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoreinrichtung (7) einen lichtstreuenden Schirm (13) aufweist, auf welchem die reflektierten Strahlen ein Bild der besagten Zone transparenten Materials (4) darstellen.

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ja

17. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 12, dadurch gekennzeichnet, daß die Detektoreinrichtung (39) eine Auffangvorrichtung (¹Il) zum Auffangen derjenigen reflektierten Strahlen aufweist, die nicht oder nicht mehr als in einem vorbestimmten Maß abgelenkt worden sind, sowie eine Fühleinrichtung (43) zur Erfassung derjenigen Lichtstrahlen, die an der Auffangvorrichtung vorbeilaufen.

18. Vorrichtung nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet, daß die Auffangvorrichtung (41) und/oder die Fülleinrichtung (43) aus einer oder mehreren Fotozellen besteht.

19. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 7 bis 18, dadurch gekennzeichnet, daß ein zweiter Reflektor vorgesehen ist, welcher die von der besagten Materialzone kommenden reflektierten Lichtstrahlen auf die Detektoreinrichtung lenkt.

20. Vorrichtung nach Anspruch 18, dadurch gekennzeichnet, daß die Fotozelle oder die Fotozellen mit einer Einrichtung (44, 4^, 46) zur automatischen Sortierung geprüfter Gegenstände aus transparentem Material in Gruppen verschiedener Qualitäten verbunden ist oder sind.

21. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß es die in der vorstehenden Beschreibung beschriebenen Merkmale aufweist.

22. Vorrichtung wie sie im Zusammenhang mit den Zeichnungen beschrieben worden ist.

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