DE3502388A1 - Verfahren und anordnung zur optischen kontrolle mechanischer messobjektantastung - Google Patents

Verfahren und anordnung zur optischen kontrolle mechanischer messobjektantastung

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DE3502388A1
DE3502388A1 DE19853502388 DE3502388A DE3502388A1 DE 3502388 A1 DE3502388 A1 DE 3502388A1 DE 19853502388 DE19853502388 DE 19853502388 DE 3502388 A DE3502388 A DE 3502388A DE 3502388 A1 DE3502388 A1 DE 3502388A1
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Joachim DDR 6902 Jena-Lobeda Beck
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Jenoptik AG
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Jenoptik Jena GmbH
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    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/002Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates
    • G01B11/005Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring two or more coordinates coordinate measuring machines
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B9/00Measuring instruments characterised by the use of optical techniques
    • G01B9/08Optical projection comparators

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  • Physics & Mathematics (AREA)
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)

Description

  • Verfahren und Anordnung zur optischen Kontrolle
  • mechanischer Meßobjektantastung Die Erfindung bezieht sich auf ein Verfahren und eine Anordnung zur optischen Kontrolle mechanischer Meßobjektantastung bei Koordinatenmeßgeräten.
  • In der Firmendruckschriit Nr. 111.810-075 a "Leitz UWM digital S" der Fa. Ernst Zeitz Wetzlar GmbH ist ein universelles Meßmikroskop beschrieben und dargestellt, bei welchem ein Nulleinstellgerät zum mechanischen Antasten von Meßflachen an Meßobjekten mittels eines Taststiftes vorgesehen ist. Eine mit dem Taster verbundene emarke wird dabei mit Hilfe eines Okular-Doppelstriches eingefangen und deren Verschiebung gemessen. Ein wesentlicher Nachteil dieser Einrichtung besteht darin, daß der Ort der Antastung an der Meßobjektfläche nicht genau beobachtet werden kann.
  • Demzufolge sind Fehlantastungen am Meßobjekt nicht mit Sicherheit auszuschließen.
  • Ziel der Erfindung ist es, die Nachteile des Standes der Technik zu beseitigten und den Gebrauchswert der Koordinatenmeßgeräte zu erhöhen.
  • Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, bei Koordinatenmeßgeraten eine optische Kontrolle der Antastung von Meßobjekten mittels mechanischer Taster zu ermöglichen.
  • Erfindungsgemäß wird diese Aufgabe bei einem Verfahren zur optischen Kontrolle mechanischer Meßobjektantastung dadurch gelöst, daß ein Tastelement einer Tasteranordnung und der Antastort am Meßobjekt gemeinsam mittels einer Abbildungsoptik in einer Bildebene einer Beobachtungseinrichtung abgebildet werden.
  • Gemäß einer Anordnung zur Durchführung des Verfahrens, die eine Beleuchtungs- und Beobachtungseinrichtung besitzt und bei der mittels einer Abbildungsoptik ein Schattenbild des Meßobjektes erzeugt und das eojekt mittels mindestens eines Tasters angetastet wird, wobei die Beobachtungseinrichtung an einem Träger angeordnet ist, der senkrecht zu einem Tisch verschiebbar, an einem Ständer oder einer Pinole des Meßgerätes gelagert ist, ist es vorteilhaft, daß am Träger oder an der Beobachtungseinrichtung ein Halteelement vorgesehen ist, an welchem eine Tasteranordnung mit einem Tasterelement in horizontaler Ebene justier- und einstellbar derart angeordnet ist, daiS das in der Antastebene liegende Tastelement und der Antastort am Meßobjekt im Gesichtsfeld der Beobachtungseinrichtung scharf abgebildet sind.
  • Es ist weiterhin vorteilhaft, wenn das Halteelement mit seinem einen Ende am Obäektivstutzen der Beobachtungseinrichtung befestigt ist und an seinem anderen Ende Aufnahme- und Feststellmittel :Üür die Tasteranordnung besitzt.
  • Bei Anwendung der Erfindung ergibt sich der Vorteil, daß während der Messung der Taster und die anzutastende Meßobäektfläche gleichzeitig im Sehfeld der Beobachtungseinrichtung abgebildet werden und der Ort der Antastung am Meßobjekt beobachtet und gut lokalisiert werden kann, so daß Fehlantastungen, die zu Meßfehlern führen können, weitestgehend vermieden werden.
  • Die Erfindung soll nachstehend an einem Ausführungsbei spiel näher erläutert werden. In der zugehörigen Zeichnung zeigen Fig. 1 ein Koordinatenmeßgerät mit erfindungsgemäSer Anordnung und Fig. 2 ein Ausschnitt aus dem Sehfeld der Beobachtungseinrichtung GemäX dem Verfahren werden ein Tastelement einer Tasteranordnung und der Antastort am Meßobjekt gemeinsam mittels einer Abbildungsoptik in einer Bildebene einer Beobachtungseinrichtung abgebildet.
  • Ein in Fig. 1 dargestelltes Meßgerät umfaßt einen Grundkörper 1, an welchem ein dazu senkrechter Ständer 2 oder eine Pinole vorgesehen ist und welches einen in der x-y-Ebene bewegbaren und einstellbaren Tisch 3 mit Aufmahmemitteln 4 für ein Meßobjekt 5 trägt. An iUhrungen 6 des Ständers 2 ist ein verschiebbarer Träger 7 angeordnet, der eine aus Objektiv 8, Okular 9 und/oder Projektionsanordnung 10 bestehende Beobachtungseinrichtung trägt.
  • Am Träger 7 oder, wie in Fi. 1 drbestellt, am Objektivstutzen 11 der beobachtungseinrichtung ist ein Halteelement 12 angeordnet, an welchem sich eine Dast-eranordnung 13 mit einem Tastelement 14 befindet.
  • Die i0asteranordnung 13 ist in horizontaler Ebene (x-y-Ebene) derart justierbar, daß das Tastelement 14 im Gesichtsfeld (Fig. 2) der ieobachtungseinriohtung in der Antastebene, die gleichzeitig die Fokussierebene des Objektives 8 ist, scharf abgebildet ist.
  • Zur Befestigung der Tasteranordnung 13 am Halteelement 12 sind vorzugsweise Feststellmittel 15, z. B. Schrauben, und zur Befestigung des Halteelementes 12 am Objektivstutzen 11 sind ebenfalls Feststellmittel 16 vorgesehen, - Leerseite

Claims (3)

  1. Patentansprüche 1. Verfahren zur optischen Kontrolle mechanischer Meßobjektantastung, dadurch gekennzeichnet, daß ein Tastelement einer Tasteranordnung und der Antastort am Meßobåekt gemeinsam mittels einer Abbildungsoptik in einer Bildebene einer Beobachtungseinrichtung abgebildet werden.
  2. 2. Anordnung zur Durchfübrung des Verfahrens nach Anspruch 1, die eine Beleuchtungs- und Beobachtungseinrichtung besitzt und bei der mittels einer Abbildungsoptik ein Schattenbild des Meßobjektes erzeugt und das Meßobjekt mittels mindestens eines Tasters angetastet wird, wobei die Beobachtungseinrichtung an einem Träger angeordnet ist, der senkrecht zu einem Tisch verschiebbar, an einem Ständer oder einer Pinole des Meßgerätes gelagert ist, dadurch gekennzeichnet, daß am Träger oder an der Beobachtungseinrichtung ein Halteelement vorgesehen ist, an welchem eine Tasteranordnun6> mit einem Tasterelement in horizontaler Ebene åustier- und einstellbar derart angeordnet ist, daß das in der Antastebene liegende Tastelement und der Antastort am Meßobjekt im Gesichtsfeld der Beobachtungseinrichtung scharf abgebildet sind.
  3. 3. Anordnung nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, aß das Halteelement mit seinem einen Ende am Objektivstutzen der Beobachtungseinrichtung befestigt ist und an seinem anderen Ende Aufnahme- und Feststellmittel für die Tasteranordnung besitzt.
DE19853502388 1984-03-01 1985-01-25 Verfahren und anordnung zur optischen kontrolle mechanischer messobjektantastung Withdrawn DE3502388A1 (de)

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Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0311814A1 (de) * 1987-09-17 1989-04-19 Hitachi, Ltd. Dreidimensionales Messgerät
WO1994008205A1 (de) * 1992-09-25 1994-04-14 Carl Zeiss Verfahren zur koordinatenmessung an werkstücken
DE19805892A1 (de) * 1997-06-12 1998-12-24 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren und Anordnung zur Messung von Strukturen eines Objekts
US6651351B1 (en) 1997-06-12 2003-11-25 Werth Messtechnik Gmbh Coordinate measuring instrument with feeler element and optic sensor for measuring the position of the feeler
US6789327B2 (en) 2001-02-23 2004-09-14 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Touch probe with deflection measurement and inspection optics
US6842260B2 (en) * 2001-05-26 2005-01-11 Infineon Technologies Ag Imaging system and method for positioning a measuring tip onto a contact region of a microchip
EP2881705A2 (de) 2013-12-06 2015-06-10 Tesa Sa Zubehör für Koordinatenmessmaschine

Cited By (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0311814A1 (de) * 1987-09-17 1989-04-19 Hitachi, Ltd. Dreidimensionales Messgerät
US4997274A (en) * 1987-09-17 1991-03-05 Hitachi, Ltd. Three-dimensional measurement apparatus
WO1994008205A1 (de) * 1992-09-25 1994-04-14 Carl Zeiss Verfahren zur koordinatenmessung an werkstücken
US5615489A (en) * 1992-09-25 1997-04-01 Carl-Zeiss-Stiftung Method of making coordinate measurements on workpieces
DE4327250B4 (de) * 1992-09-25 2006-08-24 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zur Koordinatenmessung an Werkstücken
DE4327250C5 (de) * 1992-09-25 2008-11-20 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Verfahren zur Koordinatenmessung an Werkstücken
DE19805892A1 (de) * 1997-06-12 1998-12-24 Werth Messtechnik Gmbh Verfahren und Anordnung zur Messung von Strukturen eines Objekts
US6651351B1 (en) 1997-06-12 2003-11-25 Werth Messtechnik Gmbh Coordinate measuring instrument with feeler element and optic sensor for measuring the position of the feeler
US6789327B2 (en) 2001-02-23 2004-09-14 Carl Zeiss Industrielle Messtechnik Gmbh Touch probe with deflection measurement and inspection optics
US6842260B2 (en) * 2001-05-26 2005-01-11 Infineon Technologies Ag Imaging system and method for positioning a measuring tip onto a contact region of a microchip
EP2881705A2 (de) 2013-12-06 2015-06-10 Tesa Sa Zubehör für Koordinatenmessmaschine
US9429416B2 (en) 2013-12-06 2016-08-30 Tesa Sa Accessory for coordinate measuring machine

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