DE722013C

DE722013C - Optisches Werkstatt-Mess- und Pruefgeraet

Info

Publication number: DE722013C
Application number: DEL94189D
Authority: DE
Inventors: Dr Hans Fricke
Original assignee: Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Current assignee: Ernst Leitz Wetzlar GmbH
Priority date: 1938-02-09
Filing date: 1938-02-09
Publication date: 1942-06-27

Description

Optisches Werkstatt-Meß- und Prüfgerät Die Erfindung bletrifft ein optisches Werkstatt-Meß- und Prüfgerät und besteht darin, daß zwischen einem Stereomikroskop und dem Objekt eine teilweise spiegelnde Fläche angeordnet ist, die eine außerhalb des Mikroskopes angeordnete Marke an dem Objektort zur gemeinsamen Beobachtung mit dem Obtekt durch das Stereomikroskop abbildet.
Es handelt sich also hierbei um die raumrichtige Projektion einer außerhalb des eigentlichen Beobachtungsinstrumentes angeordneten Meßmarke an den Ort des Prüflings, derart, daß dieselbe mit groß er Genauigkeit mit jedem einzelnen Punkt des durch das Beobachtungsinstrumen,t gesehenen Prüflings räumlich in optischen Kontakt. gebracht, alss gleichsam auf die zu prüfenden oder zu messenden Objektpunkte aufgesetzt werden kann.
Es sind zwar bereits stereoskopisch arbeitende Meßgeräte, insbesondere in der Phot3-grammetn.e, bekannt. Bei diesen werden aber als Meßobjekte photographische Aufnahmen verwendet. Die Meßmarken sind bei diesen Geräten für jeden stereoskopischen Teilstrahlengang gesondert angeordnet und liegen zumeist innerhalb des abbildenden optischien Strahlenganges. Demgegenüber unterscheidet sich die Erfindung dadurch, daß mit dem Meßgerät die reellen Objekte selbst mittels einer Marke, beispielsweise zum Ausmessen, abgetastet werden. Diese Marke ist nur einmal, und zwar außerhalb der abbildenden Optik, vorhanden. Hierin liegt eine wesentliche Vereinfachung im Aufbau der Einrichtung, da zu vorhandenen Stereomikrokopien nur eine spiegelnde Glasplatte und eme Marke samt ihrem Träger zusätzlich benötigt werden, um eine gebrauchsfähige Meßeinrichtung zu erhalten. In der Verwendung einer einfachen Marke liegt außerdem der Vorteil, daß die Marke, ohne die erheblich größere Justierarbeit bei Anordnung zweier Marken, ausgewechselt werden kann.
Zur weiteren Ausbildung der Erfindung kann der Markenträger in einer nach allen Seiten schwenkbaren Haltevorrichtung angeordnet werden, um auf diese Weise die Marke in eine für die Messung oder Prüfung zweckmäßige Lage zum Objekt einstellen zu können.
Zur meßbaren Auswertung können Stereomikroskop, Markenträger und spiegelnde Fläche gegenüber einer Feinmeßvorrichtung verschiebbar angeordnet sein. Hierbei kann zur Messung eine Meßuhr verwendet werden.
Schließlich kann auch nur die Verschiebung der Marke oder des Stler,eomikroskopes und der Marke oder des Objektes selbst zur Auswertung benutzt werden.
In der Zeichnung ist die ~ Erfindung an einem Ausführungsbeispiel mit zwei verschiedenen Anordnungsmöglichkeiten erläutert.
In dem objektseitigen Strahlengang der binakulanen Stereolupe I ist die Planparallelplatte 2 angeordnet, die von der auf demTräger 3 befindlichen Marke ein virtuelles Bild auf dem Objekt 4 entwirft, das in dem Schärfenbereich der Objektive 5 liegt. Der Träges 3 soll als Kugelgelenk 0. dgl. ausgebildet sein, so daß die Marke und damit ihr virtuelles Bild zu dem Meßobjekt eingestelk werden kann. Das Ausmessen des Objektes oder Abtasten seiner Form kann nun lediglich durch Verschieben des Markenträgers oder auch durch gleichzeitiges Verschieben von Lupe I, Platte 2 und Markenträger 3 erfolgen.
In Abb. 2 ist gezeigt, wie auch hinterdrehte Werkstücke ausgemessen werden können. In diesem Fall ist die Planparalielplatte 2 parallel zur Meßrichtung gelegt und spiegelt nun die Marke auf Träger 6 in den hinterdrehten Teil des Werkstückes 7. Die Verschiebung der Marke wird hierbei durch die Meßuhr 8 vorgenommen, die zugleich das Maß der Verschiebung anzeigt, so daß die Tiefe der Hinterdrehung ohne Einführung eines Maßstabes in dieselbe allein auf optischem Wege feststellbar ist.
Es ist zwar bekannt, eine räumliche Messung an Prüflingen nach drei Koordinaten und insbesondere in der Beobachtungsrichtung dadurch zu ermröglichen, daß man die einzelnen Obj ektp unkte mit einem Mikroskop stärkerer Vergrößerung anvisiert und zur Abtastung ihrer Tiefenlage die Grenze der Tiefenschärfe des B eobachtungsinstrumentes benutzt. Diese Anordnung hat aber den Nachteil, daß infolge der notwendigerweise geringen Tiefenschärfe stets nur ein Teil des Prüflings scharf gesehen werden kann und somit eine Gesamterfassung der Gegenstandsform stark erschwert ist.
Statt einer Meßmarke kann auch die Markenplatte ein Profil tragen, das mit dem Werkstück verglichen wird, oder die Marke kann durch entsprechende Führung ein Profil nachzeichnen. Die Markeuplatte kann auch als Maßstab ausgebildet sein, der virtuell an das Objekt angelegt wird. Um größere Verschiebungen bei feststehender Spiegelplatte vornehmen zu können, kann letztere eine entsprechend große Ausdehnung haben, so daß sie den gesamten Verschiebweg erfaßt.

Claims

PATENTANSPRÜCHE: 1. Optisches Werkstatt-Meß- und Prüfgerät, dadurch gekennzeichnet, daß zwischien einem Stereomikroskop und dem Objekt eine teilweise spiegelnde Fläche angeordnet ist, die eine außerhalb des Mikroskops angeordnete Marke an dem Objektort zur gememsamen Beobachtung durch das Stereomikroskop abbildet.
2. Einrichtung nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß der Markenträger in einer nach allen Seiten schwenkbaren Haltevorrichtung angeordnet ist.
3. Einrichtung nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß der Markenträger verschiebbar angeordnet ist.
4. Einrichtung nach Anspruch I, dadurch gekennzeichnet, daß Mikroskop, Marke und spiegelnde Fläche zusammen meßbar verschiebbar angeordnet sind.
5. Einrichtung nach den Ansprüchen 1, 3 oder 4, dadurch gekennzeichnet, daß der Markenträger mit einer Meßvorrichtung, insbesondere einer Meßuhr, verbunden ist.