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Schaltungsanordnung zur Auswertung eines von einem
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Prüfling, z.B. einer Flachbaugruppe, abgegebenen Testsignals Die Erfindung
bezieht sich auf eine Schaltungsanordnung zur Auswertung eines von einem Prüfling,
z.B. einer Flachaugruppe, abgegebenen Testsignals, das bezüglich der innerhalb eines
Meßzeitfensters auftretenden Anzahl von Pegeiwechseln (Wechselistwert) und des am
Ende des Meßzeitfensters gegebenen Pegel zustandes (Zustands-Istwert)jeweils mit
einem Sollwert verglichen wird.
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Prüflinge mit einer Vielzahl von elektronischen Bauelementen, z.B.
Flachbaugruppen, müssen vor dem Einbau z.B. in ein Datenverarbeitungssystem auf
Fehlerfreiheit geprüft werden. Dazu werden sie mit Hilfe eines Prüfautomaten, der
die zur Prüfung der Flachbaugruppe erforderlichen Prüfsignale erzeugt und die von
der Flachbaugruppe abgegebenen Ausgangssignale überprüft, getestet. Wird dabei festgestellt,
daß der Prüfling einen Fehler enthält,muß der Fehlerort gefunden werden. Dazu kann
das sog.Fehlerpfadverfahren verwendet werden. Ausgehend vom gestörten Ausgangsstift
des Prüflings wird mit Hilfe eines Tastkopfes, mit dem der elektrische Zustand einer
elektrischen Leitung abgetastet werdenfkann, der Fehlerpfad auf dem Prüfling bis
zum gestörten Leitungsknoten verfolgt. Das dem elektrischen Zustand auf der Leitung
proportionale Ausgangssignal des Tastkopfes, im folgenden Testsignal genannt,wird
in einer Auswerteschaltung mit einem Sollwert verglichen und dadurch festgestellt,
ob das vom Tastkopf abgenommmene Testsignal mit dem Sollwert über-
einstimmt
oder nicht. Dieser Vorgang wiederholt sich solange, bis bei einem Schaltkreis auf
dem Prüfling alle Eingänge richtige Signalfolgen aufweisen, der Ausgang abedgestört
ist. In diesem Falle ist der Fehlerort auf dem Prüfling gefunden worden.
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Erfindung Die der/zugrundeliegende Aufgabe besteht darin, eine Schaltungsanordnung
zur Auswertung eines von einem Prüfling abgegebenen Testsignals anzugeben, mit der
festgestellt werden kann, ob die Anzahl der Pegelwechsel des Testsignals in einem
Meßzeitfenster und der Pegelzustand des Testsignals am Ende des Meßzeitfensters
mit vorgegebenen Sollwerten übereinstimmen. Diese Aufgabe wird bei einer Schaltungsanordnung
der eingangs angegebenen Art dadurch gelöst, daß mindestens ein erster Komparator
mit einer ersten Referenzspannung und ein zweiter Komparator mit einer zweiten gegenüber
der ersten Referenzspannung positiveren Referenzspannung vorgesehen sind, die jeweils
das Testsignal mit der Referensspannung vergleichen und ein erstes und zweites Komparatorsignal
abgeben, wenn das Testsignal die jeweilige Referenzspannung überschreitet, daß eine
Anordnung vorgesehen ist, die aus digital kodierten Werten die Referenzspannungen
erzeugt, daß ein Wechselzähler vorgesehen ist, der jeweils um einen Schritt weitergeschaltet
wird, wenn das Testsignal entweder die beiden Referenzspannungen überschreitet oder
unterschreitet (Pegelwechsel), daß ein Sollwertspeicher vorgesehen ist, in dem die
Sollwerte für die Pegelwechsel im fleßzeitfenster und für die Pegel zustände am
Ende des Meßzeitfensters gespeichert sind, und daß eine Vergleichseinrichtung vorgesehen
ist, die die Wechselistwerte und die Zustandsistwerte mit dem zugeordneten Sollwerten
vergleicht.
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Mit Hilfe einer weiteren Anordnung, die mit dem Ausgang
des
Wechselzählers verbunden ist, kann festgestellt werden, ob die Anzahl der Pegelwechsel
des Testsignals im Meßzeitfenster größer Null ist. Damit kann festgestellt werden,
ob das Testsignal innerhalb des Meßzeitfensters Pegelwechsel ausführte, obwohl dies
nicht der Fall sein sollte.
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Der erste und der zweite Komparator kann durch einen dritten und einen
vierten Komparator ergänzt werden. Dem dritten Komparator wird dann eine dritte
Referenzspannung zugeführt, die negativer ist als die erste Referenzspannung.
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Dem vierten Komparator wird eine vierte Referenzspannung zugeführt,
die postiver ist als die zweite Referenzspannung. Dadurch können Spannungsbereiche
geschaffen werden, die zur Auswertung des Pegel zustandes des Testsignales am Ende
des Meßzeitfensters vorteilhaft sind.
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Es ist zweckmäßig, die Referenzspannungen für die Komparatoren aus
digital kodierten Werten zu erzeugen. Dann ist es möglich, die Referenzspannungen
ohne großen Aufwand zu ändern und den Gegebenenheiten eines neuen Prüflings anzupassen.
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Um den Aufwand für die Realisierung des Wechselzählers möglichst gering
zu halten, wird dieser mehrstufig ausgeführt. Dabei kann die erste Stufe des Wechselzählers
in ECL-Technik ausgeführt sein, die übrigen Stufen dagegen in TTL-Technik. Mit einem
derart aufgebauten Wechselzähler können auch Testsignale hoher Frequenz gezählt
werden.
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Die Sollwerte für den Vergleich mit den Istwerten werden in einem
Sollwertspeicher gespeichert. Um die Kpazität des Sollwertspeichers möglichst gering
zu halten, ist der Adressenzähler für den Sollwertspeicher mit einem Vergleicher
verbunden, der den Inhalt eines den Starttakt des Meßzeitfen--sters zählenden Zählers
mit einem im Sollwertspeicher ab-
gespeicherten Wert vergleicht
und bei Gleichheit einen Zählimpuls für den Adresszähler abgibt. Damit ist es möglich,
einen im Sollwertspeicher gespeicherten Sollwert mehrmals hintereinander zur Auswertung
des Testsignals zu verwenden, ohne daß die Speicherkapazität erhöht werden müßte.
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Andere Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprüchen.
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An Hand eines Ausführungsbeispiels, das in den Figuren dargestellt
ist, wird die Erfindung weiter erläutert. Es zeigen Fig. 1 ein Blockschaltbild der
erfindungsgemäßen Anordnung, Fig. 2 einen Wechselzähler, Fig. 3 eine Eingangsstufe
für den Wechselzähler zur Erzeugung der Zählimpulse für den Wechselzähler, Fig.
4 einen Teil der Vergleichseinrichtung, mit dem das Ergebnis des Wechselzählers
mit dem Sollwert verglichen wird, Fig. 5 einen anderen Teil der Vergleichseinrichtung,
mit dem der Zustand des Pegels des Testsignals am Ende des Meßzeitfensters festgestellt
wird, Fig. 6 ein Spannungsdiagramm, in dem die Referenzspannungen und der Verlauf
des Testsignals über der Zeit t aufgetragen sind und aus dem der Verlauf des ersten
und zweiten Komparatorsignals ersichtlich ist, Fig. 7 eine Tabelle, aus der sich
ergibt, wenn der Pegel des Testsignals am Ende des Meßzeitfensters fehlerhaft ist
oder nicht fehlerhaft ist.
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Nach Fig. 1 wird der Anordnung ein Testsignal TS, z.B. von einem Tastkopf
bekannten Aufbaues, zur Auswertung zugeführt.
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Dieses Testsignal TS wird an vier Komparatoren 10, 12, 14, 16 angelegt.
Dem ersten Komparator 10 wird eine erste Referenspannung ULX, dem zweiten Komparator
12 eine zweite
Referenzspannung UHN, dem dritten Komparator 14
eine dritte Referenzspannung ULN und dem vierten Komparator 16 eine vierte Referenzspannung
UHX zugeführt. Aus Fig. 6 ergibt sich, daß die erste Referenzspannung ULX positiver
ist als die dritte Referenzspannung ULN, aber negativer als die zweite Referenzspannung
UHN. Die vierte Referenzspannung UHX ist dagegen positiver als die zweite Referenzspannung
UHN. Die Komparatoren 10 bis 16 geben jeweils dann Komparatorsignale ab, wenn das
Testsignal TS die jeweiligen Referenzspannungen überschreitet.
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Die Komparatorsignale von den Komparatoren 10 bis 16 werden zugeordneten
D-Kippgliedern 18, 20, 22, 24 zugeführt.
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Dabei liegen die Ausgänge der Komparatoren 10 bis 16 an den D-Eingängen
der zugeordneten D-Kippglieder. 18 bis 24.
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An die C-Vingänge der D-Kippglieder wird das Meßzeitfen-Dieses Dieses
wird mit Hilfe eines bistabi-26 len Kippgliedesgebildet, dessen S-Eingang das Startsignal
TO für das Meßzeitfenster und dessen R-Eingang das Ende-Signal TB für das Meßzeitfenster
zugeführt wird. Das Startsignal TO und dasEndeZignal TB können z.B. von einem Prüfautomaten
geliefert werden.
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Der Ausgang des D-Kippgliedes 18 gibt ein Signal LX ab, wenn das Testsignal
TS die erste Referenzspannung ULX überschreitet, das D-Kippglied 20 gibt ein Signal
HN ab, wenn das Testsignal TS die zweite Referenzspannung UHN überschreitet. In
entsprechender Weise gibt das D-Kippglied 22 ein Signal LN ab, wenn das Testsignal
TS die dritte Referenzspannung ULN überschreitet und das D-Kippglied 24 gibt ein
Signal HX ab, wenn das Testsignal TS die vierte Referenzspannung UHX überschreitet.
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Die vier Referenzspannungen für die Komparatoren 10 bis 16 sind in
ihren Werten einstellbar. Dies erfolgt mit Hilfe
einer Anordnung,
die pro Referenzspannung aus einem Register 28, einem Digital-Analog-Wandler 30,
einem Impedanzwandler 32 und einem Filter 34 besteht. Dem Register 28 wird über
einen Eingangsbus36 der z.B. von einem Prüfautomaten kommt, der digitale Wer#Uder
zugeordneten Referenzspannung zugeführt und dort gespeichert. Durch den Digital-Analog-Wandler
30 wird der digitale Wert der Referenzspannung in eine analoge Spannung umgewandelt.
Der analoge Wert der Referenzspannung wird über den Impedanzwandler 32 und das Filter
34 dem zugeordneten Komparator zugeleitet.
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Dabei dient der Impedanzwandler 32 zur Trennung des relativ niederohmigen
Komparatoreingangs vom Digital-Analog-Wandler -Ausgang. Das Filter 32 ist deswegen
zweckmäßig, um mögliche Nebensprechstörung#en aus dem digitalen Teil der Anordnung
zu dämpfen. Der Impedanzwandler 32 gibt weiterhin die Möglichkeit, Offset-Fehler
auf der Übertragungsstrecke zu kompensieren, während der Digital-Analog-Wandler
die Möglichkeit gibt, Spannungsabfälle auf der Ubertragungsstrecke für das Testsignal
TS und Fehler im Tastkopf zu kompensieren.
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Der Aufbau der Anordnung zur Erzeugung der Referenzspannung ist für
alle Referenzspannungen gleich, unterschiedlich ist nur der digitale Wert, der im
zugeordneten Register 28 gespeichert wird und dementsprechend die daraus entwickelte
analoge Referenzspannung. Die Einspeicherung der digitalen Werte der Referenzspannung
in die Register 28 erfolgt über den Eingangsbus 36 mit Hilfe von Steuersignalen
F2 bis F5, die von einem Funktionsdecoder 38 geliefert werden. Der Funktionsdecoder
38 ist ebenfalls mit dem Eingangsbus 36 verbunden und entnimmt diesen bei Anliegen
eines Signals ADR vom Prüfautomaten das Steuerwort zur Erzeugung der Steuersignale
F.
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Durch Anderung der digitalen Werte für die Referenzspannungen in den
Registern 28 ist es somit möglich#, die Referenzspannungen zu ändern, um die Anordnung
an verschieden aufgebaute Prüflinge anpassen zu können.
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Am Eingangsbus 36 ist weiterhin ein Sollwertspeicher 40 angeschlossen.
Im Sollwertspeicher 40 werden die Sollwerte abgespeichert, die zur Auswertung der
Testsignale TS erforderlich sind. Diese Sollwerte können z.B. aus 20 Bit S1 bis
S20 bestehen. Dabei können die Bit S1 bis S14 für den Vergleich der Pegelwechsel
des Testsignals verwendet werden, das Bit S16 für den Zustandsvergleich herangezogen
werden, und die Bits S17 bis S20 zur Erzeugung der Zählsignale für einen Adreßzähler
42 benutzt werden. Der Sollwertspeicher 40 kann in üblicher Weise aus einem oder
mehreren RAM-Bausteinen aufgebaut sein.
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Soll der Sollwertspeicher 40 über den Eingangsbus 36 mit den Sollwerten
geladen werden, dann wird dem Adreßzähler 42 vom Funktionsdecoder 38 dassteuersignal
F6 zugeführt und zunächst der Adreßzähler mit der ersten Adresse geladen. Anschließend
wird dem Sollwertspeicher 40 vom Funktionsdecoder 38 das Steuersignal F1 zugeführt
und der erste Sollwert über den Eingangsbus 36 unter der im Adreßzähler 42 stehenden
Adresse abgespeichert. Das Steuersignal F1 wird ebenfalls dem Zähl- eingang des
Adreßzählers 42 zugeführt und damit die Adresse um eine Einheit erhöht. Unter dieser
neuen Adresse wird dann der nächste Sollwert abgespeichert.
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Sollen Sollwerte S aus dem Sollwertspeicher 40 entnommen werden, dann
wird zunächst der Adreßzähler 42 über das Steuersignal F7 vom Funktionsdecoder 38
auf 0 zurückgesetzt. Die Erzeugung der Zählimpulse für den Adreßzähler 42 kann nun
mit Hilfe eines Vergleichers 44 und eines Zählers 46 erfolgen. Dem Zähler 46 wird
der Starttakt TO am Zähleingang
zugeführt, d.h. immer dann, wenn
ein Meßzeitfenster beginnt, wird der Zähler 46 um eine Einheit erhöht.
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Der Inhalt des Zählers 46 wird mit den Bits S17 bis S20 des vom Adreßzähler
42 adressierten Sollwertes verglichen.
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Ergibt sich Identität, dann gibt der Vergleicher 44 ein Signal ab,
das dem Adreßzähler 42 als Zählimpuls zugeführt wird. Mit Hilfe des Zählers 46 und
des Vergleichers 44 ist es somit möglich, einen Sollwert im Sollwertspeicher 40
mehrmals für die Auswertung des Testsignals TS zu verwenden, ohne daß die Kapazität
des Sollwertspeichers 40 erhöht werden mußte. Die Anzahl der Wiederholungen wird
durch die Bit S17 bis S20 des Sollwertes festgelegt.
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Um die Anzahl der Pegelwechsel des Testsignals TS innerhalb des Meßzeitfensters
mit dem Sollwert vergleichen zu können, ist ein Wechselzähler 48 vorgesehen. Der
Wechselzähler 48 besteht aus einer Eingangsstufe, die in Fig. 3 dargestellt ist
und der eigentlichen Zähleinhei; die sich aus Fig. 2 ergibt. Dem Wechselzähler 48
werden die Signale LX und HN zugeführt. Das Signal LX tritt auf, wenn das Testsignal
TS die erste Referenzspannung ULX überschreitet und das Signal HN tritt auf, wenn
das Testsignal TS die Referenzspannung UHN überschreitet. Die Zähleinheitdes Wechselzählers
48 erhält dann einen Zählimpuls von der Eingangsstufe, wenn das Testsignal die beiden
Referenzspannungen ULX und UHN in einer der beiden Richtungen überschritten hat.
Diese Verhältnisse können aus Fig. 6 entnommen werden. Dort ist der Verlauf der
Signale HN und LX in Abhängigkeit des Verlaufs des Testsignals TS gezeigt. Die Eingangsstufe
nach Fig. 3 erzeugt aus den Signalen LX und HN die Zählimpulse Z für die Zähleinheit
des Wechselzählers 48.
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Die Eingangsstufe besteht aus einem D-Kippglied 50, einem RS-Kippglied
52 und einem Exklusiv-Oder Glied 54. Das Signal HN wird in nicht invertierter Form,
das Signal LX in invertierter Form zugeführt. Vor Beginn des Meßzeitfensters
also
bevor der Starttakt TO auftritt, wird durch ein Vorbereitungssignal DU1, das z.B.
über den Eingangsbus 36geliefert wird, das Signal HN in das Kippglied 50 übernommen.
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Das Signal HN wird weiterhin dem S-Eingang des Kippgliedes 52 zugeführt.
Am R-Eingang des Kippgliedes 52 liegt das Signal LX in invertierter Form. Die invertierenden
Ausgänge der beiden Kippglieder 50 und 52 sind mit dem Exklusiv-0#er Glied 54 verbunden,
an dessen invertierenden Ausgang der Zählimpuls für die Zähleinheit des Wechselzählers
abgegeben wird.
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Die Funktion der Eingangsstufe wird in Verbindung mit Fig. 6 kurz
erläutert. Zu Beginn des Spannungsverlaufes des Testsignals TS befindet sich dieses
zwischen den Referenzspannungen ULN und ULX, so daß sowohl HN als auch LX binär
Null ist. Das Kippglied 50 wird somit bei Auftreten des Vorbereitungssignals DU1
zurückgesetzt und sein invertierender Ausgang ist binär 1. Das Kippglied 52 ist
zurückgesetzt, sein invertierender Ausgang ist ebenfalls binär 1. Das Exklusiv-Oder
Glied 54 gibt an seinem Ausgang das Signal binär 0 ab. Überschreitet das Testsignal
TS die Referenzspannung ULX, dann wird das Signal LX binär 1 und es verliert seinen
Einfluß auf das Kippglied 52.. Überschreitet das Testsignal TS auch die Referenzspannung
UHN, dann wird das Signal HN binär 1 und dadurch das Kippglied 52 gesetzt. Damit
wird der invertierende Ausgang des Kippgliedes 52 binär 0, während der invertierende
Ausgang des Kippgliedes 50 binär 1 bleibt und das Exklusiv-Oder Glied 54 gibt einen
Zählimpuls Z ab. Es ist also zu sehen, daß das Exklusiv-Oder Glied 54 nur dann den
Zählimpuls Z abgibt, wenn das Testsignal TS beide Referenzspannungen ULX und UHN
entweder in der einen oder in der anderen Richtung überschritten hat.
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Die Zählimpulse Z werden in invertierter Form der Zählein-
heit
des Wechselzählers 48 zugeführt. Die Zähleinheit ist in Fig. 2 dargestellt.Das Ausführungsbeispiel
besteht aus zwei Zählstufen, wobei die erste Zählstufe 56 in ECL-Technik ausgeführt
ist, die zweite Zählstufe 58 in TTL-Technik.
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An die zweite Zählstufe 58 können weitere Zählstufen in TTL-Technik
angefügt werden. Die beiden Zählstufen 56, 58 werden zunächst mit Hilfe des Vorbereitungssignals
DU1 in ihre Ausgangslage zurückgesetzt. Dazu wird das Vorbereitungssignai DU1 dem
R-Eingang der Zählstufe 58 direkt und dem R-Eingang der Zählstufe 56 über einen
TTL/ECL Pegelumsetzer 60 zugeführt. Die Zählstufe 56 zählt die invertierten Zählimpulse
Z. Damit bildet der Zählimpuls gleichzeitig das niederwertigste Bit des Wechselzählers,
das über einen ECL/TTL Pegelumsetzer 62 geführt wird und ein Bit 151 des Istsignals
IS bildet. Am Ausgang Al der Zählstufe 56 wird das zweithöhere Bit, am Ausgang A2
des dritthöhere Bit und am Ausgang A3 das vierthöhere Bit des Wechselzählers abgenommen,
die jeweils wieder über den ECL/TTL Umsetzer geführt werden und dann die Bit Ins
, 153 und ISl des Istwertes bilden. Das Signal am Ausgang A3 der Zählstufe 56 wird
nach Pegelumsetzung dem Zähleingang der zweiten Zählstufe 58 zugeführt. An deren
Ausgängen A4 bis A7 werden die weiteren Bit 155 bis 1S8 des Istwertes abgegeben.
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Da die Zähleinheit als erste Stufe eine ECL Zählstufe hat, können
Zählimpulse Z hoher Frequenz gezählt werden. Für die weiteren Zählstufen sind jedoch
keine Zählstufen in ECL-Technik erforderlich, hier genügen Zählstufen in TTL-Technik.
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Im Ausführungsbeispiel ist eine Zähleinheit gezeigt, bei der der Istwert
8 Bit aufweist. Durch Anhängen von weiteren Zählstufen an den A7 der Zählstufe 58
kann die Kapazität des Wechselzählers erhöht werden.
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Der Vergleich des Istwertes vom Wechselzähler 48 mit dem Sollwert
vom Sollwertspeicher 40 erfolgt in einem Schal-
tungsteil 60, der
Bestandteil der Vergleichseinrichtung ist. In diesem Schaltungsteil 60 wird der
Istwert IS Bit für Bit mit dem Sollwert S verglichen. Wenn der Istwert IS und der
Sollwert S nicht übereinstimmt, gibt der Schaltungsteil 60 ein Signal ab, das angibt,
daß die Anzahl der Pegelwechsel innerhalb des Meßzentfensters beim Testsignal TS
nicht mit dem vorgegebenen Sollwert übereinstimmt.
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Eine mögliche Realisierung des Schaltungsteils 60 ist in Fig. 4 dargestellt.
Er besteht aus zwei Bausteinen 62, 64, die den Vergleich des Istwertes mit dem Sollwert
durchführen und einem Oder-Glied 66. Es werden jeweils 4 Bit des Istwertes IS und
des Sollwertes S miteinander verglichen.
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Besteht Ungleichheit, dann geben die Bausteine 62 oder 64 ein Signal
ab, dasnach dem Oder Glied 66 als Fehlersignal FW anzeigt, daß die Anzahl der Pegelwechsel
des Testsignals innerhalb des Meßzeitfensters nicht mit dem Sollwert übereinstimmt.
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Mit Hilfe eines weiteren Schaltungsteils 68, der ebenfalls Teil der
Vergleichseinrichtung ist, wird festgestellt, ob der Pegel des Testsignals am Ende
des Meßzeitfensters mit dem gewünschten Sollwert übereinstimmt. Als Sollwert wird
hier lediglich ein Bit S16 verwendet. Dem Schaltungsteil 68 wird das Signal HN,
das auftritt, wenn das Testsignal TS die Referenzspannung UHN überschreitet und
das Signal LX, das auftritt, wenn das Testsignal TS die Referenzspannung ULX überschreitet,
direkt zugeführt. Das Signal LN, das auftritt, wenn das Testsignal TS die Referenzspannung
ULN überschreitet, wird dem Schaltungsteil 68 über ein Und-Glied 72 zugeführt, das
Signal HX, das auftritt, wenn das Testsignal TS die Referenzspannung UHX überschreitet,
wird dem Schaltungsteil 68 über ein Und-Glied 70 zugeführt. Mit Hilfe von Sperrsignalen
VX und VN können die Und-Glieder 70 und 72 für die Signale HX und VN gesperrt werden,
so daß
diese vom Schaltungsteil 68 nicht ausgewertet werden.
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Eine Realisierung des Schaltungstelis 68 zeigt Fig. 5.
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Diese besteht aus den Und-Gliedern 70 und 72, Aquivalenzgliedern 74
und 76 und einem Oder-Glied 78. Die Auswertung der Signale HX, HN, LX und LN erfolgt
nach der Tabelle in Fig. 7. Die Signale LN, LX, HN und HX werden mit dem Sollwert
516 verglichen. Ein Fehler FZ tritt dann auf, wenn nach Fig. 6 der Pegel des Testsignales
TS zum ZeitpunktTB unterhalb der dritten Referenzspannung ULN liegt oder zwischen
den Referenzspannungen ULX und UHN oder über der Referenzspannung UHX liegt. Bei
diesen Fällen liegt ein Fehler vor, gleichgültig welchen Wert S16 hat. Weiterhin
ist ein Fehlerfall gegeben, wenn der Sollwert S16 binär 1 ist, das Testsignal TS
jedoch unterhalb der Referenzspannung ULX liegt. Entsprechend liegt ein Fehlerfall
vor, wenn der Sollwert S16 binär 0 ist, das Testsignal TS jedoch über der Referenzspannung
UHN liegt.
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Die Fehlerfälle der Zeile 1 und der Zeile 7 der Tabelle werden ausschlleßlich
mit Hilfe der Signale HX und LN festgelegt. Die übrigen Fehlerfälle werden mit Hilfe
der Aquivalenzglieder 74 und 76 festgestellt, denen der Sollwert S16 zugeführt wird.
Dem Äquivalenzglied 74 wird weiterhin das Signal LX invertiert, dem quivalenzglied
76 das Signal HN invertiert zugeleitet.
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Mit Hilfe eines RS-Kippgliedes 80 und eines Oder-Gliedes 82 in Fig.
1 kann festgestellt werden, ob innerhalb eines Meßzeitfensters die Anzahl der Pegelwechsel
des Testsignales TS größer 0 ist oder nicht. Dazu werden die vier niederwertigsten
Ausgänge des Wechselzählers 48 herangezogen und über ein Oder-Glied 82 zusammengefaßt
und dem S-Eingang des Kippgliedes 80 zugeführt. Immer wenn ein Pegelwechsel auftritt,
wird das bistabile Kippglied 80 gesetzt und zeigt damit an, daß ein derartiger Wechsel
im Meßzeitfenster vor-
gekommen ist. Mit Hilfe des Vorbereituflgssignals
DU1 kann das Kippglied 80 wieder zurückgesetzt werden. Durch Zusammenfassung von
4 Bits des Wechselzählers 48 in dem Oder-Glied 82 erfolgt ein sicheres Setzen des
Kippgliedes 80.
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Wie bereits oben ausgeführt worden ist, kann ein- und derselbe Sollwert
S mit Hilfe des Vergleichers 44 und des Zählers 46 mehrmals der Vergleichseinrichtung
bestehend aus dem Schaltungsteil 60 und 68 und zu verschiedenen Meßzeitfenstern
zugeführt werden. Dabei ist es möglich, daß z.B. im ersten Meßzettfenster die Anzahl
der Pegelwechsel des Testsignals TS überprüft wird, in den weiteren Meßzeitfenstern
mit dem gleichen Sollwert der Zustand des Pegels des Testsignales am Ende des Meßzeitfensters
mehrmals überprüft wird.
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Mit Hilfe einer Auswahlschaltung 84 können die Fehlersignale FW vom
Schaltungsteil 60 oder FZ vom Schaltungsteil 80 oder FN vom Kippglied 80 zum Ausgang
durchgeschaltet werden. Der Zeitpunkt der Durchschaltung eines der Fehlersignale
zum Ausgang wird durch das Taktsignal TB festgelegt.
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Mit diesem Taktsignal TB wird auch das Meßzeitfenster zeitlich begrenzt.
Das Fehlersignal FN wird dann zum Ausgang durchgeschaltet, wenn der Sollwert S15
binär 1 ist und das Taktsignal TB vorliegt. Dieses Taktsignal TB wird einem C-Eingang
eines D-Kippgliedes 86 verzögert als Signal TB1 zugeführt. Mit Hilfe vonsteuersignalen
WT und ZT kann entweder das Fehlersignal FW oder das Fehlersignal FZ zum Ausgang
der Auswahlschaltung 84 durchgeschaltet werden.
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14 Patenansprüche 7 Figuren
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