DE3224227C1 - Projektionseinrichtung fuer Mikroskope - Google Patents

Projektionseinrichtung fuer Mikroskope

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DE3224227C1
DE3224227C1 DE19823224227 DE3224227A DE3224227C1 DE 3224227 C1 DE3224227 C1 DE 3224227C1 DE 19823224227 DE19823224227 DE 19823224227 DE 3224227 A DE3224227 A DE 3224227A DE 3224227 C1 DE3224227 C1 DE 3224227C1
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DE
Germany
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lens
projection surface
microscope
thick
projection device
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Expired
Application number
DE19823224227
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English (en)
Inventor
Georg Dr. Wien Nyman
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C Reichert Optische Werke AG
Original Assignee
C Reichert Optische Werke AG
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Publication date
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/36Microscopes arranged for photographic purposes or projection purposes or digital imaging or video purposes including associated control and data processing arrangements
    • G02B21/364Projection microscopes

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  • Multimedia (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Overhead Projectors And Projection Screens (AREA)
  • Microscoopes, Condenser (AREA)

Description

Die Erfindung betrifft eine Projektionseinrichtung für Mikroskope, bei der die Projektionsfläche durchstrahlt wird und durch zwei relativ zueinander langsam bewegte Mattscheiben gebildet ist.
Bei Durchstrahlprojektionseinrichtungen für Mikroskope ergibt sich das Problem der Abnahme der Lichtintensität zum Rand der Projektionsfläche hin, wenn die Projektionsfläche von der Mitte aus bzw. in Richtung der optischen Achse beobachtet wird. Diese Abnahme ist dadurch bedingt, daß das Streulicht bei einer Mattscheibe in Richtung des auffallenden Strahles einen Maximalwert annimmt und zur Seite hin umsomehr abnimmt, je größer der Winkel zur optischen Achse ist. Um dieser Abnahme der Lichtintensität bei einer Beobachtung von der Mitte aus zu begegnen, wird nach dem Stand der Technik eine Fresnellinse verwendet (siehe beispielsweise DD-PS 1 51 827), die auf der der Austrittspupille des Mikroskops zugewandten Seite der Projektionsfläche vorgesehen ist und den Strahl aus der Austrittspupille parallel macht, wobei dann die Brennweite der Fresnellinse gleich dem Abstand der Fresnellinse zur Austrittspupille ist, oder sogar konvergent macht, wobei dann der Abstand zwischen der Austrittspupille des Mikroskops und der Fresnellinse größer als die Brennweite ist.
Mit Verbesserungen an der Fresnellinse können keine im gleichen Maße entsprechende Verbesserungen in der Bildqualität erzielt werden. Deshalb wurden Verbesserungen der Bildqualität am Projektionsschirm vor allem durch Kornfreimachen der Projektionsfläche versucht. Zum Beispiel kann eine Wachsmattscheibe verwendet werden, bei der sich eine dünne Wachsschicht von beispielsweise 0,2 mm zwischen zwei parallelen Glasscheiben befindet, oder es wird eine schnellbewegte oder rotierende Einzelmattscheibe verwendet. 'Als besonders günstig haben sich zwei relativ zueinander langsam bewegte Mattscheiben erwiesen, bei denen der Abstand der mattierenden Flächen Bruchteile eines Millimeters, beispielsweise 0,2 mm, beträgt. Von einer derart kornfrei gemachten Projektionsfläche in einer Projektionseinrichtung für Mikroskope wird bei der eingangs genannten Projektionseinrichtung ausgegangen, die beispielsweise aus der DE-OS 1945 486 bekannt ist
Der Erfindung liegt nun die Aufgabe zugrunde, die Bildqualität weiterhin wesentlich zu verbessern.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß nahe der Projektionsfläche eine »dicke« Linse positiver Brechkraft angeordnet, die das von der Austrittspupille des Mikroskops kommende Strahlenbündel auf der Beobachterseite parallel oder konvergent macht.
Der Erfindung liegt also die Erkenntnis zugrunde, daß weitere wesentliche Verbesserungen der Bildqualität nur durch Austausch der Fresnellinse gegen eine dicke Linse positiver Brechkraft erreicht werden können, deren Oberfläche im Hinblick auf die Abbildung optisch idealer als die von Fresnellinsen gestaltet werden kann, so daß der bei Anordnungen mit zwei relativ zueinander langsam bewegten Mattscheiben relativ große Abstand der Linse von der Projektionsfläche sich weit weniger auf die optische Abbildungsqualität schädlich bemerkbar macht.
Vorzugsweise jedoch ist die »dicke« Linse auf der Mikroskopseite der Projektionsfläche angeordnet, so daß durch Fenster und Raumbeleuchtung verursachte Reflexe auf der Linsenfläche durch die Mattscheibe der Projektionseinrichtung vermieden werden. Details auf der Mattscheibe gezeigt werden können, weil man mit einem Zeiger nahe an die Mattscheibe hinkommen kann, und die Mattscheibe auch von der Seite her betrachtet werden kann, ohne daß eine Verzerrung des Bildes auftritt.
Weitere Vorteile, Einzelheiten und Merkmale der Erfindung ergeben sich aus der nachstehenden, anhand der Zeichnung erfolgenden Beschreibung zweier Ausführungsbeispiele der Erfindung. In der Zeichnung stellt dar
F i g. 1 eine erste Ausführungsform der Erfindung, bei der die »dicke« Linse mikroskopseitig angeordnet ist und
F i g. 2 eine zweite Ausführungsform der Erfindung, bei der die »dicke« Linse beobachterseitig angeordnet ist.
In den Fig. 1 und 2 ist mit 10 jeweils die Austrittspupille des Mikroskops angedeutet während mit 12 und 14 dünne Scheiben bezeichnet sind, zwischen denen eine dünne' Wachsschicht 16 liegt, so daß die einander zugewandten Scheibenoberflächen als Mattflächen wirken. 18 soll ein beobachtendes Augenpaar symbolisieren.
Erfindungsgemäß ist nun eine »dicke« Linse 20 positiver Brechkraft vorgesehen, die im Ausführungsbeispiel nach Fig. 1 nahe der Wachsmattscheibe 12,14 auf der Seite des Mikroskops und bei dem Ausführungsbeispiel nach Fig. 2 nahe der Wachsmattscheibe 12,14 auf der Beobachterseite angeordnet ist.
Die Wachsmattscheibe oder die Projektionsfläche allgemein kann geneigt oder knapp über der Fläche eines Arbeitstisches neben dem Mikroskop derart angeordnet sein, daß der am Mikroskop sitzende Beobachter beim Wegschwenken des Kopfes von den Einblickokularen des Mikroskops senkrecht auf die Wachsmattscheibe blickt.
Hierzu 1 Blatt Zeichnungen

Claims (3)

Patentansprüche:
1. Projektionseinrichtung für Mikroskope, bei der die Projektionsfläche durchstrahlt wird und durch zwei relativ zueinander langsam bewegte Mattscheiben gebildet ist, dadurch gekennzeichnet, daß nahe der Projektionsfläche (12,14) eine »dicke« linse (20) positiver Brechkraft angeordnet ist, die das von der Austrittspupille (10) des Mikroskops kommende Strahlenbündel auf der Beobachterseite parallel oder konvergent macht
Z Projektionseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die »dicke« Linse (20) auf der dem Beobachter zugewandten Seite der Projektionsfläche (12,14) angeordnet ist.
3. Projektionseinrichtung nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die »dicke« Linse (20) auf der dem Mikroskop zugewandten Seite der Projektionsfläche (12,14) angeordnet ist.
20
DE19823224227 1982-06-29 1982-06-29 Projektionseinrichtung fuer Mikroskope Expired DE3224227C1 (de)

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GB08315352A GB2122769A (en) 1982-06-29 1983-06-03 Projection device for microscopes
JP11112683A JPS5917522A (ja) 1982-06-29 1983-06-22 顕微鏡用投影装置
FR8310547A FR2532068A1 (fr) 1982-06-29 1983-06-27 Dispositif de projection pour microscope

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JP (1) JPS5917522A (de)
DE (1) DE3224227C1 (de)
FR (1) FR2532068A1 (de)
GB (1) GB2122769A (de)

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Also Published As

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JPS5917522A (ja) 1984-01-28
FR2532068A1 (fr) 1984-02-24
GB2122769A (en) 1984-01-18
GB8315352D0 (en) 1983-07-06

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