DE3139365C2 - Verfahren zur Überprüfung des Randbereichs von Banknoten und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens - Google Patents
Verfahren zur Überprüfung des Randbereichs von Banknoten und Vorrichtung zur Durchführung des VerfahrensInfo
- Publication number
- DE3139365C2 DE3139365C2 DE3139365A DE3139365A DE3139365C2 DE 3139365 C2 DE3139365 C2 DE 3139365C2 DE 3139365 A DE3139365 A DE 3139365A DE 3139365 A DE3139365 A DE 3139365A DE 3139365 C2 DE3139365 C2 DE 3139365C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- selection
- test
- banknote
- section
- diode
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims description 23
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 52
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 claims description 8
- 238000005286 illumination Methods 0.000 claims description 2
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 10
- 210000005069 ears Anatomy 0.000 description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000015556 catabolic process Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 230000005856 abnormality Effects 0.000 description 1
- 230000032683 aging Effects 0.000 description 1
- 238000013459 approach Methods 0.000 description 1
- 230000008878 coupling Effects 0.000 description 1
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 description 1
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 description 1
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 230000000704 physical effect Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
- G07D7/06—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency using wave or particle radiation
- G07D7/12—Visible light, infrared or ultraviolet radiation
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
- G07D7/17—Apparatus characterised by positioning means or by means responsive to positioning
-
- G—PHYSICS
- G07—CHECKING-DEVICES
- G07D—HANDLING OF COINS OR VALUABLE PAPERS, e.g. TESTING, SORTING BY DENOMINATIONS, COUNTING, DISPENSING, CHANGING OR DEPOSITING
- G07D7/00—Testing specially adapted to determine the identity or genuineness of valuable papers or for segregating those which are unacceptable, e.g. banknotes that are alien to a currency
- G07D7/181—Testing mechanical properties or condition, e.g. wear or tear
- G07D7/187—Detecting defacement or contamination, e.g. dirt
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Toxicology (AREA)
- Inspection Of Paper Currency And Valuable Securities (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Überprüfung des
Randbereichs von Banknoten, wobei diese während ihres
Transports durch eine Prüfvorrichtung im Randbereich
durch eine quer zur Transporteinrichtung angeordnete
Fotodiodenzeile abgetastet werden und mit Hilfe einer
Auswahlschaltung jeweils eine dem Randbereich zugeordnete Foto
diode zur eigentlichen Prüfung verwendet wird.
Die Erfindung betrifft weiterhin eine Vorrichtung
zur Durchführung des Verfahrens.
Im allgemeinen wird der Abnutzungsgrad einer Banknote
über optische Meßverfahren bestimmt. So beschreibt
beispielsweise die DE-OS 29 47 958 ein Verfahren, bei
welchem ein Streifensensor aus 64 Fotodioden verwendet
wird, der über die Breite der Banknote hinaus geht, um
die Banknote auch im Fall eines Versatzes über die
gesamte Breite abtasten zu können. Abhängig von der Lage
der Banknotenkante werden jeweils 60 der 64 gleichzeitig
aufgenommenen Meßwerte sequentiell im Multiplexer-
Betrieb an die Auswerteeinheit weitergeleitet. Die Aus
wahl der in Frage kommenden Meßdioden geschieht also
dynamisch, d. h. daß während des Banknotendurchlaufs auf
jede Lageabweichung sofort reagiert wird. Am Ausgang der
Prüfvorrichtung ergibt sich damit ein kontinuierlicher
Signalzug, der im Idealfall zu der Helligkeitsverteilung
der Banknote proportional ist.
Da dieses Verfahren schaltungstechnisch sehr aufwendig
ist und nur für bestimmte Banknotenformate verwendet
werden kann, wurde bereits vorgeschlagen, die Banknoten
lediglich im Bereich des unbedruckten Randes zu prüfen.
Dies hat den Vorteil, daß hier neben der Verschmutzung
noch weitere für eine Banknote typische Abnutzungs
erscheinungen, wie Bruchstellen oder Einrisse, erfaßbar
sind. Da verhältnismäßig viele Banknoten einen unbe
druckten Rand aufweisen, kann die Prüfvorrichtung außer
dem in gewissen Grenzen auch für Banknoten unterschied
licher Währung eingesetzt werden.
Demgegenüber steht der Nachteil, daß die Banknote mit
vertretbarem Aufwand nicht so exakt geführt bzw. trans
portiert werden kann, daß eine starr positionierte Foto
diode stets durch den unbedruckten Rand abgedeckt ist.
Daher wurde bereits vorgeschlagen (US-PS 3.718.823),
mehrere in Transportrichtung übereinander angeordnete
Fotodioden im Bereich des Banknotenrandes anzuordnen und
beispielsweise abhängig von der jeweiligen Lage der
Banknotenkante relativ zu den Fotodioden jeweils eine
Diode zur Prüfung auszuwählen, die einem bestimmten Rand
bereich zugeordnet ist.
Verschiebt sich die Banknotenkante relativ zur Foto
diodenzeile, wird die Änderung des betreffenden mit der
Kante korrespondierenden Fotodiodensignals in einer
Auswahlschaltung dazu genutzt, jeweils die Meßdiode zur
Prüfung auszuwählen, die den vorbestimmten Randbereich
erfaßt. Je nach Schräglauf der Banknote wird der Auswahl
vorgang entsprechend oft wiederholt. Die Auswahl der in
Frage kommenden Meßdioden geschieht hier also ebenfalls
dynamisch.
Dieses Auswahlverfahren hat vor allem bei Banknoten
geringer Fläche den Vorteil, daß die Prüfspur entlang
des Banknotenrandes in ihrer gesamten Länge unein
geschränkt ausgewertet werden kann, wodurch sich im
Verhältnis zur Gesamtfläche der Note eine repräsentative
Prüffläche ergibt. Alle aus dem Stand der Technik
bekannten Verfahren sind jedoch systembedingt mit einem
Nachteil verbunden, der das jeweilige Verfahren für eine
Bestimmung des Abnutzungsgrades von Banknoten praktisch
unbrauchbar macht. Dies gilt vor allem für die in diesem
Zusammenhang gewünschte hohe Reproduzierbarkeit des
Prüfergebnisses, die dann gegeben ist, wenn die Prüfvor
richtung bei gleich abgenutzten Banknoten größtenteils
das gleiche Ergebnis liefert, unabhängig davon, ob ein
und dieselbe Banknote einer Mehrfachprüfung unterzogen
oder ob eine Vielzahl von annähernd gleich abgenutzten
Banknoten untersucht wird. Die genannten Prüfvorrich
tungen können gerade diese Forderung nicht erfüllen.
Aufgrund des kontinuierlich ablaufenden Auswahlver
fahrens der Meßdiode bzw. Meßdioden wird während des
Banknotendurchlaufs abhängig vom Schräglauf mehr oder
weniger häufig die Meßdiode gewechselt. Da die Wechsel
parallel zur Prüfung durchgeführt werden und die elek
tronischen Werte der Dioden voneinander abweichen, erge
ben sich Signalsprünge im Meßsignal, die fälschlicher
weise als durch Schmutz verursachte Helligkeitssprünge
gewertet werden. Die Häufigkeit der Wechsel der Meßdiode
ist vom Schräglauf der Note abhängig, so daß bei gleich
abgenutzten Noten, die mit unterschiedlicher Schräge die
Prüfvorrichtung durchlaufen, unterschiedliche Meßergeb
nisse zu erwarten sind. Grundsätzlich sind zwar die
Toleranzen in den elektrischen Werten der Dioden elimi
nierbar. Das ist aber mit hohem Aufwand in der Schal
tungstechnik und der Kalibrierung verbunden, wobei die
zeitaufwendige Kalibrierung aufgrund der unterschied
lichen Alterung der Dioden in regelmäßigen Abständen neu
vorzunehmen ist.
Ein weiterer Nachteil des dynamischen Auswahlverfahrens
besteht darin, daß Einrisse am Banknotenrand "umfahren"
werden, da die entsprechende Fotodiode die Begrenzung
des Einrisses als Banknotenrand interpretiert. Kleinere
Einrisse werden dabei innerhalb des unbedruckten Randes
umfahren und gehen nicht in das Meßergebnis ein.
Ausgehend von den Nachteilen des Standes der Technik
liegt der Erfindung die Aufgabe zugrunde, ein Prüf
verfahren zur Bestimmung des Abnutzungsgrades von Bank
noten vorzuschlagen, das die Nachteile der bekannten
Verfahren vermeidet bzw. das Ergebnisse liefert, die
trotz unterschiedlichen Schräglaufs der Banknoten in
hohem Maße reproduzierbar sind. Ferner soll eine zur
Durchführung dieses Verfahrens geeignete Prüfvorrichtung
vorgeschlagen werden.
Die Aufgabe wird erfindungsgemäß durch die in den kenn
zeichnenden Teilen der Ansprüche 1 und 6 angegebenen
Merkmale gelöst.
Die Auswahl der jeweiligen Meßdiode und die Prüfung der
Banknote werden in festgelegten Bereichen unabhängig
voneinander durchgeführt, d. h. daß die Auswahlschaltung
während der Prüfung funktionslos gemacht wird, so daß
kein störender Wechsel der Meßdiode während der Prüfung
stattfindet.
Vorteilhaft werden die Auswahlabschnitte gegenüber den
Prüfabschnitten sehr kurz gewählt und entlang des Bank
notenrandes derart verteilt, daß sie nicht mit den
Hauptknickstellen der Banknote, wo Einrisse in der Regel
vorzufinden sind, zusammenfallen.
Einrisse liegen daher im Bereich der Prüfabschnitte und
werden im Gegensatz zu dem Verfahren des Standes der
Technik in die Zustandsbewertung mit einbezogen.
Da die Auswahl der Meßdiode innerhalb sehr kurzer
Bereiche vorgenommen wird, bleibt annähernd der gesamte
Bereich der Banknote für die Prüfung erhalten.
Aufgrund der Aufteilung des Banknotenrandes in einzelne
Prüfabschnitte ist es schließlich auf einfache Weise
möglich, eine Einzelbewertung der Prüfabschnitte vorzu
nehmen, wodurch die Identifizierung partieller Unregel
mäßigkeiten (wie beispielsweise Einrisse) am Banknoten
rand möglich wird.
Für die Gesamtbeurteilung der Banknoten kann nach deren
Durchlauf durch die Prüfvorrichtung der Mittelwert
gebildet und mit einem entsprechenden Sollwert ver
glichen werden.
Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung wird in der
nachfolgenden Beschreibung anhand der
beigefügten Figuren beschrieben.
Darin zeigen:
Fig. 1 eine Banknote, deren Rand in Prüf- und Auswahl
abschnitte unterteilt ist,
Fig. 2 eine schräglaufende Banknote, deren Rand in
Prüf- und Auswahlabschnitte unterteilt ist,
Fig. 3 die detaillierte Aufgliederung eines Meßzyklus
entlang des Banknotenrandes und
Fig. 4 eine Schaltungsanordnung zur Diodenauswahl.
Fig. 1 zeigt in einer beispielhaften Ausführungsform der
Erfindung die Aufteilung eines Banknotenrandes 2 in Dioden
auswahl- und Prüfabschnitte. Die Lage der gegenüber den
Prüfabschnitten 3 sehr kurzen Auswahlabschnitte 4 ist durch
Pfeile markiert. Die Prüfabschnitte 3 sind in ihrer Lage so
gewählt, daß sie mit den Hauptknickstellen (markiert durch
die Linien 5) der Banknote 1, die in der Regel am stärksten
verschmutzt und zum Teil auch mit Einrissen versehen sind,
zusammenfallen und somit einer Bewertung zur Verfügung stehen.
Lage und Anzahl der Prüfabschnitte 3 werden außerdem so ge
wählt, daß gegebenenfalls vorhandene Eselsohren, angedeutet
durch die strichlierten Linien 6, keinen Einfluß auf die
Prüfung nehmen können.
Fig. 1 zeigt den Normallauf einer Banknote 1 entlang einer
angedeuteten Transportebene 7 in Richtung des Pfeils 8. Bei
einem Normallauf wird in den Auswahlabschnitten 4 jeweils
die zuvor zur Prüfung herangezogene Fotodiode einer Foto
diodenzeile 30 auch für den nachfolgenden Prüfabschnitt heran
gezogen.
Zur Demonstration der Hochlaufnachführung zeigt Fig. 2 einen
vergrößerten Ausschnitt des unteren Banknotenrandes 2 zu
sammen mit der Fotodiodenzeile 30 die als Signalaufnehmer
einer Prüfvorrichtung senkrecht zur Transportebene der Note
1 eine Vielzahl übereinander angeordneter Fotodioden aufweist.
Entsprechend der Lage der Unterkante der Banknote relativ
zur stationären Diodenzeile 30 wird innerhalb eines Auswahl
abschnittes 4 eine Fotodiode gewählt, die mit Sicherheit
während der Dauer des sich anschließenden Prüfabschnittes 3
durch den Rand 2 der Note abgedeckt bleibt. Da die jeweils
ausgewählte Diode während eines Prüfabschnittes 3, wie oben
erläutert, nicht gewechselt wird muß die Länge eines Prüfab
schnittes auf den maximal zu erwartenden Hochlauf der Note
abgestimmt werden.
Auswahlabschnitt 4 und Prüfabschnitt 3 (in den Fig. 1 und 2
nicht gezeigt) bilden jeweils einen Meßzyklus 14, dessen
detaillierte Aufgliederung in der Fig. 3 beispielhaft darge
stellt ist.
Die Banknote bewege sich an der Diodenzeile 30 vorbei in Rich
tung des Pfeils 8 auf einer durch die Linie 7 angedeuteten
Laufebene. Die Bewegung der Banknote 1 ist über das Transport
system direkt mit einem Maschinentakt (MAT) gekoppelt, so daß
die Dauer einer MAT-Periode einer definierten Längeneinheit
(Transportweg) auf der Banknote entspricht, unabhängig da
von, mit welcher Geschwindigkeit sich die Banknote bewegt.
Aufgrund dieser Kopplung ist es möglich, abhängig von der
Zahl der nach Einlauf der Banknotenvorderkante in die Prüf
vorrichtung auf summierten MAT-Perioden, die Abschnitte 4 und
3 der Meßzyklen 14 an beliebigen Positionen am Banknotenrand
einzuleiten.
Sobald die Banknotenvorderkante die Diodenzeile 30 zum Zeit
punkt t0 erreicht, beginnt das Aufsummieren der MAT-Perioden
und gleichzeitig damit ein Verzögerungsabschnitt (V) bis zum
Zeitpunkt t1, während dessen keine Meßsignalauswertung statt
findet, um z. B. den Einfluß von Eselsohren zu eliminieren.
Mit dem Ende des Verzögerungsabschnittes (V) zum Zeitpunkt
t1 wird der erste Meßzyklus eingeleitet. Bis zum Zeitpunkt
t2 erstreckt sich dann der erste Diodenauswahlabschnitt 4 (DA),
indem die für den nachfolgenden Prüfabschnitt 3 in Frage kom
mende Fotodiode z. B. die Diode 30 a ausgewählt wird. Vom Zeit
punkt t2 bis zum Zeitpunkt t3 erstreckt sich der Prüfabschnitt
3. Zum Zeitpunkt t4 beginnt der zweite Meßzyklus mit der Aus
wahl der nun relevanten Fotodiode.
Das in einer Auswerteeinheit gewonnene Prüfergebnis eines Ab
schnitts kann durch Vergleich mit einem vorgegebenen Sollwert
einer Einzelbewertung unterzogen und/oder über einen Zwischen
speicher nach Durchlauf aller Meßzyklen zur Gesamtbeurteilung
der Note genutzt werden. Während die Beurteilung von Teiler
gebnissen die Isolierung örtlich vorhandener Abnormitäten ge
stattet, bildet die Gesamtbeurteilung ein Maß für den Gesamt
eindruck, den eine Banknote hinsichtlich ihres Zustandes lie
fert.
In dem in Fig. 1 gezeigten Beispiel wurden entsprechend der
Geometrie und anderer physischer Eigenschaften der Note
(Knickstellen, Eselsohren) 5 Meßzyklen gewählt. Die Aus
wahl der Meßdiode kann innerhalb einer MAT-Periode, was
beispw. einem Transportweg von 1 mm entspricht, durchgeführt
werden.
Es ist aber auch möglich, den Auswahlabschnitt so kurz zu
wählen, (z. B. 1/10 MAT, bzw. 1/10 mm), daß er kleiner
bzw. erheblich kleiner als die durch das Abtastsystem vor
gegebene Meßfläche wird. Damit geht durch die Auswahlzeit prak
tisch keine Information für die Prüfvorrichtung verloren.
Trotz dieser quasikontinuierlichen Abtastung werden aber die
eingangs erwähnten Nachteile des aus der US-PS 3.718.823
bekannten Verfahrens vermieden.
Nachfolgend wird die Funktionsweise der Diodenauswahl anhand
der Fig. 4 ausführlich beschrieben.
Der Randbereich 2 der Banknote 1 wird von beidseitig eines
Meßkopfes 10 angeordneten Beleuchtungsquellen 26 angestrahlt.
Das von der bestrahlten Fläche remittierte Licht gelangt auf
den Meßkopf 10, der neben einer geeigneten Abbildungsoptik
(in den Fig. nicht gezeigt) auch die Diodenzeile 30 enthält.
Die Signalleitungen der einzelnen Fotodioden führen parallel
auf eine Auswahlschaltung, in der abhängig von den Signalpe
geln der einzelnen Dioden diejenige ausgewählt wird, die ent
lang des nachfolgenden Prüfabschnittes sicher durch den Rand 2
der Banknote abgedeckt ist. Das Signal der ausgewählten Foto
diode gelangt zur Weiterverarbeitung auf eine Auswerteeinheit,
wie sie beispw. in der DE-OS 27 52 412 beschrieben ist.
Die Auswahl der für einen Prüfabschnitt in Frage kommenden
Fotodiode geschieht durch die Adressierung eines Multiple
xers 35, auf den alle Signalleitungen 1-n der Diodenzeile 30
führen. Die eine bestimmte Diode repräsentierende Adresse,
die jeweils für die Länge eines Prüfabschnittes konstant
bleibt, wird aus dem Signalgehalt aller Fotodioden ermittelt.
Dazu führen alle Signalleitungen 1-n der Fotodioden zusätzlich
auf einen Analogkomparator 36, der mit Hilfe eines Schwell
wertes an seinem Ausgang auf jeder Signalleitung entweder
den Pegel log. H oder den Pegel log. L erzeugt (log. L ent
spreche 0-Pegel). Die Logik sei so definiert, daß eine Sig
nalleitung dann einen log. L-Zustand aufweist, wenn die ent
sprechende Diode nicht durch die Banknote abgedeckt ist. Die
Digitalsignale des Analogkomparators 36 gelangen parallel
auf einen sogenannten Priority-Encoder 37, der die Eingangs
information in ein BCD-Signal umwandelt. Dabei wird nur die
Signalleitung mit der höchsten Wertigkeit decodiert. Haben
beispielsweise die Signalleitungen der Fotodioden 1-3 den
log. L-Zustand, dann steht am Ausgang des Encoders 37 im BCD-
Code eine Information, die im Dezimalsystem der Zahl 3 ent
spricht. Damit ist diejenige Fotodiode ausgewählt, die gerade
nicht mehr oder in nur ungenügendem Maße vom Rand der Banknote
abgedeckt wird. Zur Auswahl einer Fotodiode, die sicher
durch den Rand der Banknote abgedeckt wird, addiert man in
einem Volladdierer 38 eine konstante Zahl, beispielsweise die
Zahl 2 hinzu, so daß in diesem Fall die fünfte Diode, von
der normalerweise eingenommenen Laufebene der Note aus gesehen,
die Abtastung des BN-Randes übernimmt. Die im BCD-Code der Zahl
5 entsprechende Information wird auf den Eingang eines Zwischen
speichers 39 geführt. Innerhalb eines jeden Diodenauswahlab
schnittes (s. Fig. 3, die Abschnitte t1-t2, t3-t4 usw.) wird
von einer geeigneten Steuereinheit ein Signal erzeugt, wel
ches als Ladesignal an den Speicher 39 geführt, die Eingangs
information an den Ausgang übergibt.
Damit steht die Information als Adresse für den Multiplexer
35 zur Verfügung und bleibt dort solange erhalten, bis der
nächste Diodenauswahlimpuls erscheint. Entsprechend der
Adresse schaltet der Multiplexer 35 die Signalleitung der
in Frage kommenden Fotodiode auf die Auswerteeinheit.
Während also die Daten bis zum Eingang des Speichers 39 die
jeweils aktuelle Lage des Banknotenrandes 2 relativ zur Dio
denzeile 30 repräsentieren, stehen die Daten am Ausgang des
Speichers statisch an und werden jeweils durch den Ladeim
puls aktualisiert. Mit dem Erscheinen des Ladeimpulses dessen
Länge die Auswahl- oder Umschaltzeit bestimmt, wird die Ver
arbeitung des Meßsignals unterbrochen und so jegliche Rück
wirkung auf die Meßsignalverarbeitung vermieden.
Claims (7)
1. Verfahren zur Überprüfung des Randbereiches von
Banknoten, wobei diese während ihres Transports durch
eine Prüfvorrichtung im Randbereich durch eine quer zur
Transportrichtung angeordnete Fotodiodenzeile abgetastet
werden und mit Hilfe einer Auswahlschaltung jeweils eine
dem Randbereich zugeordnete Fotodiode zur eigentlichen
Prüfung verwendet wird,
gekennzeichnet durch folgende Schritte:
- a) Festlegung einer Meßstrecke, ausgehend von der Vorderkante der Banknote,
- b) Aufteilung der Meßstrecke in mehrere Meßzyklen bestehend aus je einem Prüfabschnitt und einem dem Prüfabschnitt vorangehenden Auswahlab schnitt,
- c) Auswahl einer bestimmten, den Randbereich erfassenden einzelnen Diode während des Auswahlabschnittes und
- d) Auswertung nur des Ausgangssignals der so ausgewählten Diode während des dem Auswahlab schnitt folgenden Prüfabschnittes.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzei
chnet, daß die Länge und Lage der Auswahl- und
Prüfabschnitte durch einen mit der Geschwindigkeit des
Transportsystems der Banknote gekoppelten Maschinentakt
bestimmt werden.
3. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Länge bzw. Dauer der Auswahl
gegenüber den Prüfabschnitten so kurz ist, daß die
Prüfabschnitte quasi kontinuierlich aneinander
anschließen.
4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß die Prüfabschnitte
einzeln mit den entsprechenden Grenzwerten verglichen
werden.
5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, daß der Mittelwert aller
Prüfabschnitte gebildet und der Mittelwert mit einem
entsprechenden Grenzwert verglichen wird.
6. Prüfvorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach
einem der Ansprüche 1 bis 5, mit einer Beleuchtungs
einheit zum Beleuchten des Randbereichs einer an der
Vorrichtung vorbeitransportierten Banknote, einer quer
zur Transportrichtung angeordneten Fotodiodenzeile und
einer Auswahlschaltung, die in Abhängigkeit vom
Schräglauf der Banknote eine den Randbereich der Banknote
erfassende Fotodiode auswählt, dadurch gekenn
zeichnet,
daß die Auswahlschaltung (36, 37, 38) jeweils für diese
ausschließlich den Randbereich erfassende Diode einen
BCD-Wert ermittelt, daß ein Speicher (39) vorgesehen ist,
der jeweils mit dem während eines Auswahlabschnitts
ermittelten BCD-Wert geladen wird und von dem dieser Wert
für die Dauer des jeweiligen Prüfabschnitts bereit
gestellt wird und daß in Multiplexer (35) vorgesehen
ist, der, abhängig von dem BCD-Wert, die Signalleitung
der entsprechenden Diode zur Auswerteinheit (40)
durchschaltet.
7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch gekennzei
chnet, daß die Auswahlschaltung einen Analogkom
parator (36) aufweist, an dem die Signale der Fotodioden
parallel anliegen und der an seinem Ausgang abhängig von
einem Schwellwert entweder den Wert log.H oder log.L
erzeugt,
weiterhin einen Priority-Encoder (37), der den Signalwechsel von log.H auf log.L in einen BCD-Wert konvertiert und
einen Volladdierer (38), der zu dem BCD-Wert eine Konstante addiert und das Ergebnis an den Speicher (39) weiterleitet.
weiterhin einen Priority-Encoder (37), der den Signalwechsel von log.H auf log.L in einen BCD-Wert konvertiert und
einen Volladdierer (38), der zu dem BCD-Wert eine Konstante addiert und das Ergebnis an den Speicher (39) weiterleitet.
Priority Applications (8)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3139365A DE3139365C2 (de) | 1981-10-02 | 1981-10-02 | Verfahren zur Überprüfung des Randbereichs von Banknoten und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
CH5523/82A CH656732A5 (de) | 1981-10-02 | 1982-09-20 | Verfahren zur bestimmung des abnutzungsgrades von banknoten und vorrichtung zur durchfuehrung des verfahrens. |
US06/420,735 US4516031A (en) | 1981-10-02 | 1982-09-21 | Method of determining the degree of wear of bank-notes and a device for carrying out this method |
AT3589/82A AT392699B (de) | 1981-10-02 | 1982-09-28 | Verfahren zur bestimmung des abnutzungsgrades von banknoten und vorrichtung zur durchfuehrung eines solchen verfahrens |
SE8205526A SE456125B (sv) | 1981-10-02 | 1982-09-28 | Forfarande for bestemning av forslitningsgraden hos sedlar och anordning for genomforande av forfarandet |
GB08227638A GB2107457B (en) | 1981-10-02 | 1982-09-28 | Determining wear of banknotes |
FR8216520A FR2515351B1 (fr) | 1981-10-02 | 1982-10-01 | Procede de determination du degre d'usure de billets de banque et dispositif pour la mise en oeuvre de ce procede |
JP57171092A JPS5870391A (ja) | 1981-10-02 | 1982-10-01 | 紙幣の摩耗度を測定する方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3139365A DE3139365C2 (de) | 1981-10-02 | 1981-10-02 | Verfahren zur Überprüfung des Randbereichs von Banknoten und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE3139365A1 DE3139365A1 (de) | 1983-04-14 |
DE3139365C2 true DE3139365C2 (de) | 1993-10-14 |
Family
ID=6143309
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE3139365A Expired - Fee Related DE3139365C2 (de) | 1981-10-02 | 1981-10-02 | Verfahren zur Überprüfung des Randbereichs von Banknoten und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens |
Country Status (8)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4516031A (de) |
JP (1) | JPS5870391A (de) |
AT (1) | AT392699B (de) |
CH (1) | CH656732A5 (de) |
DE (1) | DE3139365C2 (de) |
FR (1) | FR2515351B1 (de) |
GB (1) | GB2107457B (de) |
SE (1) | SE456125B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19518229A1 (de) * | 1995-05-12 | 1996-11-14 | Lfp Elektronische Spezialsiche | Prüfvorrichtung in Bearbeitungsmaschinen |
Families Citing this family (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR890002004B1 (ko) * | 1984-01-11 | 1989-06-07 | 가부시끼 가이샤 도오시바 | 지폐류 판별장치 |
JPS62278693A (ja) * | 1986-05-27 | 1987-12-03 | 沖電気工業株式会社 | 紙幣正損判別装置 |
JP2736808B2 (ja) * | 1988-08-12 | 1998-04-02 | ローレルバンクマシン 株式会社 | 紙葉類判別装置 |
GB9017420D0 (en) * | 1990-08-08 | 1990-09-19 | Ncr Co | Apparatus for assessing the stiffness of a sheet |
US5678678A (en) * | 1995-06-05 | 1997-10-21 | Mars Incorporated | Apparatus for measuring the profile of documents |
GB0302273D0 (en) * | 2003-01-31 | 2003-03-05 | Neopost Ltd | Optical sensor and item handling apparatus |
DE102008048043A1 (de) * | 2008-09-19 | 2010-03-25 | Giesecke & Devrient Gmbh | Kalibrieren eines Sensors zur Wertdokumentbearbeitung |
DE102011055652A1 (de) * | 2011-11-23 | 2013-05-23 | Wincor Nixdorf International Gmbh | Verfahren zum Überwachen von Transportvorgängen zum Befördern von Wertscheinen in einem Selbstbedienungsterminal |
DE102013016120A1 (de) * | 2013-09-27 | 2015-04-02 | Giesecke & Devrient Gmbh | Verfahren zum Prüfen eines Wertdokuments mit einem Polymersubstrat und einem Durchsichtsfenster und Mittel zur Durchführung des Verfahrens |
Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3718823A (en) * | 1970-11-11 | 1973-02-27 | Tokyo Shibaura Electric Co | Optical detectors for inspecting the condition of samples |
DE2156077B2 (de) * | 1970-11-11 | 1976-12-23 | Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd., Kawasaki, Kanagawa (Japan) | Optisches pruefgeraet fuer durchscheinende, flache pruefgegenstaende |
DE2752412A1 (de) * | 1976-11-29 | 1978-06-01 | Gao Ges Automation Org | Pruefvorrichtung zur dynamischen messung des verschmutzungsgrades von banknoten |
DE2824849A1 (de) * | 1978-06-06 | 1979-12-13 | Gao Ges Automation Org | Verfahren und vorrichtung zur feststellung des zustandes und/oder der echtheit von flachen gegenstaenden |
DE2947958A1 (de) * | 1978-12-01 | 1980-06-12 | Radioelectrique Comp Ind | Verfahren und vorrichtung zur kontrolle des abnutzungszustandes eines gedruckten wertscheins o.dgl. |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6015997B2 (ja) * | 1976-09-22 | 1985-04-23 | オムロン株式会社 | 印刷物の真偽識別方式 |
US4179685A (en) * | 1976-11-08 | 1979-12-18 | Abbott Coin Counter Company, Inc. | Automatic currency identification system |
JPS5848956B2 (ja) * | 1977-06-17 | 1983-11-01 | 株式会社日立製作所 | 紙葉類鑑別装置 |
US4391373A (en) * | 1980-11-10 | 1983-07-05 | Barry-Wehmiller Company | Method of and apparatus for compensating signal drift during container inspection |
-
1981
- 1981-10-02 DE DE3139365A patent/DE3139365C2/de not_active Expired - Fee Related
-
1982
- 1982-09-20 CH CH5523/82A patent/CH656732A5/de not_active IP Right Cessation
- 1982-09-21 US US06/420,735 patent/US4516031A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-09-28 GB GB08227638A patent/GB2107457B/en not_active Expired
- 1982-09-28 SE SE8205526A patent/SE456125B/sv not_active IP Right Cessation
- 1982-09-28 AT AT3589/82A patent/AT392699B/de not_active IP Right Cessation
- 1982-10-01 FR FR8216520A patent/FR2515351B1/fr not_active Expired
- 1982-10-01 JP JP57171092A patent/JPS5870391A/ja active Granted
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3718823A (en) * | 1970-11-11 | 1973-02-27 | Tokyo Shibaura Electric Co | Optical detectors for inspecting the condition of samples |
DE2156077B2 (de) * | 1970-11-11 | 1976-12-23 | Tokyo Shibaura Electric Co., Ltd., Kawasaki, Kanagawa (Japan) | Optisches pruefgeraet fuer durchscheinende, flache pruefgegenstaende |
DE2752412A1 (de) * | 1976-11-29 | 1978-06-01 | Gao Ges Automation Org | Pruefvorrichtung zur dynamischen messung des verschmutzungsgrades von banknoten |
DE2824849A1 (de) * | 1978-06-06 | 1979-12-13 | Gao Ges Automation Org | Verfahren und vorrichtung zur feststellung des zustandes und/oder der echtheit von flachen gegenstaenden |
DE2947958A1 (de) * | 1978-12-01 | 1980-06-12 | Radioelectrique Comp Ind | Verfahren und vorrichtung zur kontrolle des abnutzungszustandes eines gedruckten wertscheins o.dgl. |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19518229A1 (de) * | 1995-05-12 | 1996-11-14 | Lfp Elektronische Spezialsiche | Prüfvorrichtung in Bearbeitungsmaschinen |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
AT392699B (de) | 1991-05-27 |
JPH0239830B2 (de) | 1990-09-07 |
GB2107457B (en) | 1985-09-11 |
CH656732A5 (de) | 1986-07-15 |
ATA358982A (de) | 1990-10-15 |
GB2107457A (en) | 1983-04-27 |
SE8205526D0 (sv) | 1982-09-28 |
DE3139365A1 (de) | 1983-04-14 |
JPS5870391A (ja) | 1983-04-26 |
FR2515351B1 (fr) | 1986-07-18 |
SE456125B (sv) | 1988-09-05 |
US4516031A (en) | 1985-05-07 |
SE8205526L (sv) | 1983-04-03 |
FR2515351A1 (fr) | 1983-04-29 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE2947958C2 (de) | ||
DE2824849C2 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Feststellung des Zustandes und/oder der Echtheit von Blattgut | |
DE2935668C2 (de) | ||
DE3325125C1 (de) | Anordnung zur Markierung von Fehlstellen an schnell laufenden Materialbahnen | |
DE3020729C2 (de) | Verfahren zum Erfassen der Positionen von Proben auf einem Träger | |
DE3003504A1 (de) | Vorrichtung zum nachweis von kennungsmerkmalen an dokumenten | |
DE2850203A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur pruefung eines laufenden materialstreifens auf materialfehler | |
DE3139365C2 (de) | Verfahren zur Überprüfung des Randbereichs von Banknoten und Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE2512640A1 (de) | Verfahren und vorrichtung zur optischen ueberpruefung von zigarettenenden | |
DE2837112A1 (de) | Geraet zur automatischen identifizierung und registrierung von flaschen verschiedener groesse und/oder gestalt | |
EP1112555B1 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Zustandsprüfung von Wertpapieren mittels einer Dunkelfeldmessung als auch einer Hellfeldmessung. | |
EP0971204A2 (de) | Verfahren zur berührungslosen Messung von strangförmigem Fasergut | |
DE3204086A1 (de) | Vorrichtung zur automatischen optischen beschaffenheitspruefung | |
DE3741940A1 (de) | Farbsensor | |
DE19506467A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zum Messen einer Lage einer Kante von Bahnen oder Bogen | |
DE3490549T1 (de) | Photoelektrisches Verschiebungsermittlungsgerät | |
DE2059106C3 (de) | Verfahren und Hilfsvorrichtung zum selbsttätigen Messen von Strichbreiten oder Kantenabständen kleiner Objekte | |
EP2559010B1 (de) | Sensor zur prüfung von wertdokumenten | |
DE3800877A1 (de) | Verfahren zum messen von dublierverschiebungen | |
EP2773928B1 (de) | Sensor zur prüfung von wertdokumenten | |
DE2247205C3 (de) | Vorrichtung zum Vergleich der spektralen Remission farbiger Flächen | |
DE3519236A1 (de) | Automatische kerbeinrichtung | |
EP0306742A3 (de) | Verfahren zur automatischen Erkennung von Fehlern in bewegten Warenbahnen | |
DE102016114485A1 (de) | Vorrichtung und Verfahren zur Bestimmung eines Doppelbildwinkels und/oder eines Sichtwinkels | |
DE2001990A1 (de) | Verfahren und elektrooptisches System zur Untersuchung von Koerpern,wie z.B. Fliesen |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |