DE3135443C2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Beschichten von
Substraten unter laufender Schichtdickenmessung und
-steuerung der aufgetragen optischen wirksamen Schichten
nach dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1 und eine
fotometrische Anordnung zur Schichtdickenmessung bei der
Durchführung dieses Verfahrens nach dem Oberbegriff des
Patentanspruchs 3.
Durch die DE-OS 26 27 753 ist es bekannt, die Messungen
bzw. Auswertungen auf der optischen und/oder elektrischen
Seite der Anordnung unter laufendem oder intermittierendem
Vergleich der Vorgänge in einem sogenannten Referenzlichtstrahl
durchzuführen. Dabei kann man einen Teil des Meßlichtstrahls
durch einen Strahlenteiler abspalten und
einem besonderen Referenzlichtempfänger zuführen. Auf
diese Weise werden Helligkeitsschwankungen der Meßlichtquelle
weitgehend kompensiert; bestehen bleibt
jedoch der Einfluß unterschiedlicher Kennlinien bzw.
unterschiedlicher Arbeitspunkte auf den Kennlinien
der beiden Lichtempfänger.
Es ist weiterhin bekannt, einen abgespaltenen Referenzlichtstrahl
nach mehrfacher Umlenkung und Reflexion an
Spiegelsystemen dem gleichen Fotoempfänger zuzuleiten,
wie den eigentlichen Mischlichtstrahl. Dies geschieht
aufgrund eines Zerhackervorgangs alternierend, so
daß durch eine entsprechende Abfrage am Ausgang des
Fotoempfängers durch eine Auswerteschaltung die dadurch
gebildeten, getrennten Impulsfolgen im Hinblick
auf den gewünschten Kompensationseffekt ausgewertet
werden können. Es ist dabei auch bekannt, für beide
Impulsfolgen den gleichen Verstärker zu verwenden,
um den Nachteil zweier getrennter Verstärker mit
unterschiedlichen Verstärkungseigenschaften bzw.
Kennlinien auszuschalten.
Die DE-OS 23 00 922 offenbart eine Einrichtung zur
optischen Messung der Schichtdicke von Farben. Hierbei
spielt die Abhängigkeit des Meßergebnisses von der
Wellenlänge des Meßlichts keine besondere Rolle, so daß
eine Projektionsglühlampe verwendet wird, die ein sogenanntes
Kontinuum aussendet. Ein Teil des Meßlichts
wird einem Vergleichsmedium zugeführt, das mit einem
Vergleichsfotoempfänger ausgestattet ist. Soweit die
bekannte Lösung zwei Verstärker besitzt, soll der
Zusammenhang zwischen Lichtstrom und Fotostrom über mehrere
Zehnerpotenzen exakt linear sein. Dabei handelt es sich
jedoch um das Verhältnis zwischen Eingang und Ausgang
des Verstärkers und nicht um einen einstellbaren Verstärker,
dem der Sollwert für den Verstärkungsgrad
über einen zweiten Eingang aufgeschaltet ist. Die bekannte
Lösung arbeitet ohne jede Zwischenspeicherung
von Meß- oder Rechenwerten, so daß nur die tatsächlich
gewonnenen Meßwerte zum gleichen Zeitpunkt verarbeitet
werden können und die Herstellung rechnerischer
Beziehungen zu aus früheren Messungen gewonnenen Meßwerten
nicht möglich ist.
Sämtlichen bisher bekannten Verfahren ist jedoch gemeinsam,
daß sie nur sogenannte relative Meßergebnisse liefern, d. h.
solche, die nur im Vergleich mit bestimmten Bezugswerten aussagekräftig
sind. Wird beispielsweise die spektrale Verteilung
von Reflexion und/oder Transmission eines Meßobjekts
aufgenommen, so liefert nur ein Vergleich mit einem Muster,
dem ideale Eigenschaften unterstellt werden, Anhaltspunkte
über Abweichungen des Meßobjekts vom Muster, d. h. relative
Unterschiede gegenüber dem Muster.
Selbst wenn es gelingen würde, durch eine Einzelmessung innerhalb
eines Spektrums einen absoluten Meßwert zu erhalten, was
für die Bedienungsperson ohne Vergleichsobjekt (Muster) nicht
erkennbar ist, so gilt dies nicht notwendigerweise für
Messungen bei anderen Wellenlängen des Meßlichts bzw. über
einen bestimmten ausgewählten Spektralbereich. Der Grund
hierfür ist einerseits in einer unterschiedlichen Intensitätsverteilung
in den einzelnen Wellenlängen des zunächst polychromatischen
Meßlichts zu sehen, vor allem aber die mangelhafte
Linearität der Kennlinie der bisher für diese Meßzwecke
verwendeten Verstärker.
Durch die DE-OS 29 35 716 ist es bekannt, die sehr
viel größere Dicke von Folien durch Interferenzmessungen
mittels einer in der Wellenlänge periodisch
veränderter Infrarot-Strahlung zu messen. Es
handelt sich hierbei jedoch um keine Messung einer
im Aufbau begriffenen, d. h. in der Dicke laufend
zunehmenden Schicht, sondern um die Dickenmessung
eines bereits fertig vorhandenen Gegenstandes. Dabei
wird auch hier zunächst ein Referenzsignal an einem
Standardobjekt gewonnen, bevor dieses Signal mit dem
am eigentlichen Meßobjekt gewonnenen Signal verglichen
wird. Um hierbei die Meßsignale in eine
Korrelation zur jeweiligen Meßlichtlänge bringen zu
können, werden sowohl die vom Meßobjekt als auch die
vom Standardobjekt kommenden Signale synchron mit
Impulsen eines Impulsgenerators abgespeichert, so daß
nachträglich eine rechnerische Auswertung der jeweils
zusammengehörigen Meßwerte möglich ist.
Der Erfindung liegt daher die Aufgabe zugrunde, ein Verfahren
und eine fotometrische Anordnung der eingangs beschriebenen
Gattung anzugeben, mit denen die Messung und Anzeige von
absoluten Werten für das Transmissions- und/oder Reflexionsverhalten
beschichteter Objekte bei beliebigen Schichtdicken
möglich ist, und zwar sowohl für einzelne Wellenlängen des
verwendeten Meßlichts als auch - wahlweise - für ein bestimmtes
Spektrum, um beispielsweise die spektralen Eigenschaften
des Objekts in Form einer Kurve mit absoluten Werten
darstellen zu können.
Die Lösung der gestellten Aufgabe erfolgt bei dem eingangs beschriebenen
Verfahren durch die im Kennzeichen des Anspruchs 1
angegebenen Maßnahmen und bei der eingangs beschriebenen fotometrischen
Anordnung durch die im Kennzeichen des Anspruchs 3
angegebenen Merkmale.
Von ganz besonderer Bedeutung ist hierbei die Linearität der
Kennlinie für den Verstärkungsgrad G, die über mindestens
zwei Zehnerpotenzen mit einer Abweichung von höchstens 2%,
vorzugsweise von höchstens 1%, linear sein muß. Ein solcher
Verstärker kann beispielsweise durch Verwendung einer Silizium-
Fotozelle, die im Kurzschlußbetrieb arbeitet, und eines quartzstabilisierten
Lock-In-Verstärkers gebildet werden. Mit einer
derartigen Verstärkeranordnung ist eine Linearität des Fotometers
über vier Zehnerpotenzen mit einem Fehler erreichbar, der
kleiner als 1% (Absolutprozent) ist. Die Verwendung eines derartigen
Verstärkers ist keineswegs trivial, zumal bei den
in der Vergangenheit angewandten relativen Meßverfahren
eine derart weitgehende Forderung nicht bestand und auch
nicht erkannt worden war.
Die Wahl des Verstärkers steht in einem ursächlichen Zusammenhang
mit der Bildung des ersten Vergleichswerts I L und des
zweiten Vergleichswerts I₀, die einen beträchtlichen, nämlich
den maximal möglichen, Abstand voneinander haben. Die sogenannten
Vergleichswerte sind Intensitätswerte des auf den
Fotoempfänger auftreffenden Teils des Meßlichtstrahls, wobei
dieser Teil zwischen 0% und 100% schwanken kann, wie nachstehend
noch aufgezeigt wird.
Die genannten Vergleichswerte sind für die Kalibrierung des
Meßvorgangs bzw. der Anordnung von Bedeutung. Die Anordnung
wird durch eine Zweipunkt-Kalibrierung geeicht. Im Falle der
Transmissionsmessung wird dabei zur Festlegung des ersten Kalibrierungspunktes für I L entweder kein Testglas im
Strahlengang angeordnet, d. h. der Meßlichtstrahl ist ungeschwächt
und seine Energie beträgt am Fotoempfänger I L = 100%,
oder es wird ein unbeschichtetes Testglas in den Strahlengang
eingeführt. Durch den bekannten Brechwert des verwendeten
Testglases ergibt sich eine definierte Transmission, z. B.
I L = 92% für einen Brechwert n = 1,5. Bei der Reflexionsmessung
wird ein unbeschichtetes Testglas verwendet, jedoch mit einer
angerauhten Rückseite, damit dort das Licht diffus reflektiert
wird.
Infolgedessen braucht nur die Reflexion an einer Oberfläche
berücksichtigt zu werden. Aus dem bekannten Brechwert des
Testglases läßt sich wiederum der Reflexionswert errechnene,
z. B. 4,2% bei einem Brechwert von n = 1,5.
Der zweite Vergleichswert I₀ bezieht sich gleichfalls auf
die am Fotoempfänger ankommende Intensität, die jedoch sehr
viel niedriger ist und im günstigsten Fall bei 0 liegt. Um den
zweiten Vergleichswert I₀ zu erhalten, wird bei der
Transmissionsmessung der Verstärkereingang an Masse gelegt,
oder es wird eine sogenannte Nullblende in den Strahlengang
eingeführt. Bei der Reflexionsmessung kommt hingegen nur
die Einschaltung einer Nullblende in den Meßlichtstrahl in
Frage. Unter "Nullblende" wird ein undurchsichtiger Körper
verstanden, der keinerlei Licht durchläßt und/oder reflektiert.
Im einfachsten Fall handelt es sich um eine beweglich gelagerte
schwarze Platte mit matter Oberfläche. Um jeden
Rest von Reflexion zu unterdrücken, wird die schwarze Platte
zweckmäßig auch noch keilförmig ausgebildet, damit mindestens
eine Oberfläche unter einem Winkel zum Strahlengang verläuft.
Aus den vorstehenden Darlegungen ergibt sich, daß die Vergleichswerte I L und I₀ einen beträchtlichen Abstand voneinander haben.
Dieser Abstand läßt sich noch dadurch vergrößern und im Sinne
einer möglichst genauen Anzeige der Meßwerte auswerten, wenn
der auf das unbeschichtete Testglas bezogene Verstärkungsgrad
G L des Verstärkers so weit erhöht wird, bis der erste Vergleichswert
I L im wesentlichen ein Maximum erreicht. Diese Aussage bedeutet,
daß der erste Vergleichswert I L möglichst groß sein
soll, ohne daß der Verstärker jedoch in den Sättigungsbereich
gelangt.
Die Erfindung beruht auf der Überlegung, daß durch zwei Punkte
eine Gerade festgelegt ist. Aufgrund des Abstands des ersten
und des zweiten Vergleichswerts läßt sich die erforderliche
Linearität nur mit einem Verstärker erreichen, der die genannten
Eigenschaften besitzt.
Durch die Speicherung der Größen G L , I L und I₀ nach Maßgabe
der zugehörigen Wellenlänge, gegebenenfalls auch in Abhängigkeit
von der Wellenlänge als Kurvendarstellung, lassen sich die betreffenden
Werte jederzeit von einer Recheneinheit abfragen
und durch Rechenoperationen eines Mikroprozessors mit dem
Meßwert I des beschichteten oder im Beschichtungsprozeß befindlichen
Objekts mathematisch verknüpfen. Während vorstehend
die Kalibrierung der Anordnung beschrieben wurde, beziehen
sich die nachstehenden Ausführungen auf die Bildung des endgültigen
Meßwerts. Nach der Kalibrierung sind - wellenlängenabhängig
- die Werte für I L (jeweils größtmöglich) und für I₀
ebenso gespeichert, wie die Werte für den Verstärkungsgrad
G L für das unbeschichtete Testglas. Es versteht sich, daß der
Verstärkungsgrad G L keineswegs über das gesamte Spektrum
konstant ist. Vielmehr ergibt sich, daß der Verstärkungsgrad
gerade in der Mitte des spektralen Bereichs des sichtbaren
Lichts der Meßlichtquelle ein Minimum aufweist, weil nämlich
die spektrale Intensität der Meßlichtquelle an dieser Stelle
ein Maximum besitzt. Wird nun der erste Vergleichswert I L auf
einen größtmöglichen Wert eingestellt, was automatisch durch
die Recheneinheit der Auswerteschaltung geschieht, so ergibt
sich zwar im wesentlichen eine Konstanz der Werte für I L ,
keineswegs aber für G L . Dies wird in der Detailbeschreibung
noch durch ein Diagramm erläutert.
Die mathematische Verknüpfung ergibt sich nun wie folgt:
Für die absolute Transmission T
Für die absolute Transmission T
(als dimensionslose Zahl zwischen 0 und 1) bzw.
für die absolute Reflexion R
für die absolute Reflexion R
(als dimensionslose Zahl zwischen 0 und 1).
Hierbei ist
Hierbei ist
I
= der Meßwert des beschichteten Objekts, gemessen am
Fotoempfänger,
R
L
= die errechenbare Reflexion des unbeschichteten Testglases,
errechnet aus dem bekannten Brechwert,
T
L
= die Transmission des unbeschichteten Testglases, errechnet
aus dem bekannten Brechwert, oder - in Abwesenheit
eines Testglases = 1,0.
Im Anschluß an die beschriebenen, durch die Recheneinheit automatisch
durchgeführten Rechenoperationen wird nun der gespeicherte
Wert bzw. werden die gespeicherten Werte für G L
von der Recheneinheit abgefragt, und es wird der variable
Verstärkungsgrad G aufgrund folgender Beziehungen gebildet:
Für die Transmission:
Für die Transmission:
G = G L · T L
und für die Reflexion
G = G L · R L
Nunmehr wird in der Recheneinheit der Meßwert I mit dem jeweiligen
Verstärkungsgrad G verstärkt bzw. multipliziert und
in Abhängigkeit von der Wellenlänge dargestellt. Es handelt
sich hierbei um absolute Transmissionswerte T und absolute
Reflexionswerte R, die mittels eines Bildschirms in Form
einer Grafik oder mittels eines Druckers oder eines digitalen
Anzeigesystems zahlenmäßig dargestellt werden können. Die
betreffenden Werte und Kurven sind - für sich genommen - voll
aussagekräftig für die optischen Eigenschaften des betreffenden
Objekts und bedürfen keinerlei Vergleichsmessungen
mit Mustern etc.
Dies ist - wie gesagt - nur dann durch die Verwendung eines
Verstärkers möglich, wenn die Signale am Ausgang des Fotoempfängers
und der Verstärkungsgrad über mehrere Zehnerpotenzen
in einem linearen Zusammenhang stehen. Durch den
Erfindungsgegenstand wird eine sehr hohe Auflösung der Meßergebnisse
erreicht, die für die Reflexionsmessung besser ist
als 1%.
Es ist nicht unbedingt erforderlich, daß auch der Meßwert I des
beschichteten Objekts, gemessen am Fotoempfänger, gleichfalls
in einem Speicher gespeichert wird. Nach einer Kalibrierung
der Anordnung ist es ohne weiteres möglich, den Meßwert I
sofort mit den genannten Rechenoperationen umzuformen und
zur Anzeige zu bringen. Es ist aber besonders zweckmäßig,
den Meßwert I gleichfalls in einem Speicher zu speichern, so
daß er für unterschiedliche Rechenoperationen oder auch zu
einem späteren Zeitpunkt abgefragt werden kann.
Weitere vorteilhafte Ausgestaltungen des Erfindungsgegenstandes,
und insbesondere vorteilhafte Einzelheiten der
fotometrischen Anordnung gehen aus den übrigen Unteransprüchen
hervor.
Ein Ausführungsbeispiel des Erfindungsgegenstandes sowie seine
Wirkungsweise sind nachfolgend anhand der Fig. 1 bis 4
näher erläutert. Es zeigt
Fig. 1 eine schematische Darstellung der fotometrischen
Anordnung in Verbindung mit einer Vakuum-Beschichtungsanlage,
Fig. 2 die wesentlichen Teile der Fig. 1 in Verbindung
mit der Auswerteschaltung und einer Anzeigeeinrichtung,
Fig. 3 eine grafische Darstellung der Relationen zwischen
dem ersten und dem zweiten Vergleichswert sowie dem
Verstärkungsgrad bei unbeschichtetem Testglas, aufgetragen
über der Wellenlänge und
Fig. 4 eine grafische Darstellung der Relation des Meßwerts
des beschichteten Objekts, gemessen am Fotoempfänger,
zu den absoluten Transmissions- bzw.
Reflexionswerten, dargestellt durch die Anzeigeeinrichtung,
gleichfalls aufgetragen über der
Wellenlänge.
In Fig. 1 ist eine Vakuum-Beschichtungsanlage 1 dargestellt,
die als Vakuumaufdampfanlage oder Katodenzerstäubungsanlage
ausgebildet sein kann. Die Quellen zur Erzeugung des Beschichtungsmaterials
(Verdampfer oder Zerstäubungskatoden)
sind nicht dargestellt; sie gehören im übrigen zum Stand der
Technik. Zur Vakuum-Beschichtungsanlage gehört eine Vakuumkammer
2, die mit lichtdurchlässigen Fenstern 3 und 4 versehen
ist. Innerhalb der Vakuumkammer 2 ist ein zunächst noch unbeschichtetes
Testglas 5 angeordnet, das als Meßobjekt anzusehen
ist und stellvertretend für eine Vielzahl von Meßobjekten
steht, die in der Vakuumkammer 2 gleichzeitig oder nacheinander
beschichtet werden können. Die Träger für die Schichten
werden auch als Substrate bezeichnet, und es ist sowohl möglich,
die Messungen an den Substraten durchzuführen als auch
an einem besonderen Testglas. Da das Beschichtungsverfahren
in der Praxis meist mittels Testgläsern überwacht wird, wird
hierbei auf das Testglas Bezug genommen. Der im Bereich des
Testglases in der Regel vorhandene Substrathalter ist gleichfalls
nicht gezeigt.
Außerhalb der Vakuumkammer 2 ist eine Lichtquelle 6 angeordnet,
von der ein gebündelter Meßlichtstrahl 7 in Richtung auf die
Fenster 3 und 4 verläuft. Der Meßlichtstrahl 7 definiert einen
Strahlengang 8, in dem zunächst unter 45° ein einseitig
durchlässiger Spiegel 9 angeordnet ist. Im Strahlengang 8
befindet sich noch eine Abbildungslinse 10. Es ist hierbei
wesentlich, daß für eine Reflexionsmessung das Fenster 3
in der Weise schräg eingebaut ist, daß kein vom Fenster 3
reflektiertes Licht im Strahlengang 8 reflektiert werden
kann.
Hinter dem Fenster 3 trifft der Meßlichtstrahl 7 auf das
Testglas 5 auf, wobei (zunächst) der kleinste Teil des Meßlichts
als reflektierter Meßlichtstrahl 7 a bis zum teildurchlässigen
Spiegel 9 zurückgeworfen wird. Es handelt
sich im vorliegenden Falle um eine Reflexionsmessung. Zu
diesem Zweck besitzt das Testglas 5 eine ebene Vorderseite 5 a,
jedoch eine aufgerauhte bzw. diffuse Rückseite 5 b, damit nur
das an der Vorderseite 5 a reflektierte Licht zum Spiegel 9
zurückkehrt.
Am Spiegel 9 wird der verbliebene Meßlichtstrahl 7 a unter
90° reflektiert und trifft alsdann auf einen einstellbaren
Monochromator 11 auf. Durch den Monochromator 11 wird nur
derjenige Teil des Meßlichtstrahls 7 a, auf dessen Wellenlänge
der Monochromator 11 eingestellt ist, in Richtung auf
den Fotoempfänger 12 durchgelassen. Es handelt sich hierbei
um einen Siliziumfotoempfänger, dessen Ausgang über eine
nicht gezeigte Auswerteschaltung einer Anzeigeeinrichtung 13
aufgeschaltet ist.
Es ist bei der gezeigten Anordnung von Bedeutung, daß der
Meßlichtstrahl 7 absolut senkrecht auf das Testglas 5 auftrifft,
da jede Abweichung hiervon zu unkontrollierbaren
Verhältnissen hinsichtlich des Reflexionsverhaltens führt.
Von der Lichtquelle 6 aus gesehen ist hinter dem Fenster 4
ein weiterer Monochromator 14 angeordnet, der die gleiche
Funktion hat, wie der Monochromator 11. Als Monochromatoren
kommen entweder Interferenzlinienfilter, Interferenzverlauffilter
oder Gittermonochromatoren in Frage. Die Durchlaßwellenlänge
eines Interferenzverlauffilters sowie eines
Gittermonochromators kann mit Hilfe eines Schrittmotors
variiert werden, der hier jedoch der Einfachheit halber
nicht dargestellt ist.
Der hinter dem Testglas 5 verbliebene Meßlichtstrahl ist
durch die gestrichelte Linie 7 b dargestellt. Es handelt sich
hierbei um die sogenannte Transmissionsmessung, d. h. der
vom Testglas 5 durchgelassene Teil des Meßlichts gelangt
über den Monochromator als Licht bestimmter Wellenlänge
zum Fotoempfänger 15, der die gleiche Beschaffenheit hat
wie der Fotoempfänger 12. Der Ausgang dieses Fotoempfängers
ist über eine gleichfalls nicht gezeigte Auswerteschaltung
der Anzeigeeinrichtung 16 aufgeschaltet.
Das Testglas 5 besitzt für die Transmissionsmessung zwei
ebene bzw. glatte Oberflächen; es kann gemäß den einleitend
gemachten Ausführungen bei der Transmissionsmessung während
des Kalibriervorganges auch weggelassen werden, so daß ein
um wenige Prozente größerer Lichtanteil zum Fotoempfänger 15
gelangt.
In Fig. 1 sind noch zwei Nullblenden 17 a und 17 b gezeigt,
von denen jedoch zur Messung nur jeweils eine benötigt
wird. Um Falschmessungen zu vermeiden, müssen diese Nullblenden
bei Verwendung des schräg eingebauten Fensters 3
entweder als Nullblende 17 a eingebaut werden, d. h. zwischen
der Linse 10 und dem Fenster 3, oder die Nullblende muß als
Nullblende 17 b unmittelbar vor dem Testglas 5 angeordnet
sein, d. h. zwischen dem Fenster 3 und dem Testglas 5. Die
Nullblenden sind an den genannten Stellen erforderlich,
weil eine Reflexion nicht nur am Testglas bzw. Meßobjekt,
sondern auch an der Linse erfolgt, die nicht schief eingesetzt
werden kann.
Bei der Messung des zweiten Vergleichswerts I₀ wird eine der
beiden Nullblenden 17 a oder 17 b in Richtung der eingezeichneten
Pfeile in den Strahlengang 8 eingeschwenkt, so daß größtenteils
eine Auslöschung des Meßlichtstrahls erfolgt. Wie bereits
weiter oben ausgeführt wurde, bestehen die Nullblenden vorzugsweise
aus einer matten schwarzen Platte, vorzugsweise
in Keilform, die ein Maximum an Lichtabsorption verursacht.
In Fig. 2 sind gleiche Teile wie in Fig. 1 mit gleichen
Bezugszeichen versehen. Die Ausgänge der beiden Fotoempfänger
12 und 15 sind mit einem Umschalter 18 verbunden. In der
gezeigten Schalterstellung findet eine Reflexionsmessung
statt, nach Umschaltung in die andere Position kann eine
Transmissionsmessung mittels des Fotoempfängers 15 durchgeführt
werden. Vom Umschalter 18 führt eine Leitung 19 zu einem
einstellbaren Verstärker 20, der die weiter oben beschriebenen
Eigenschaften besitzt. Für die Einstellung eines definierten
Verstärkungsgrades G L ist dem Verstärker 20 über eine
Leitung 21 ein Geber 22 vorgeschaltet, dessen Ausgang
über eine Leitung 23 einem Speicher 24 für die Speicherung
des Verstärkungsgrades G L aufgeschaltet ist, der bei unbeschichtetem
Testglas (oder bei fehlendem Testglas) bei
der weiter oben beschriebenen Maximierung des ersten
Vergleichswerts I L ermittelt wurde.
Vom Ausgang des Verstärkers 20 führt eine Leitung 25
zu einem Umschalter 26, dessen Ausgänge über Leitungen 27,
28 und 29 mit Speichern 30, 31 und 32 in Verbindung
stehen. Der Speicher 30 dient für die Speicherung des
ersten Vergleichswertes I L , der bei einer maximal möglichen
Verstärkung gefunden wurde, ohne daß der Verstärker in
den Sättigungsbereich geriet. Der Speicher 31 dient für
die Speicherung des zweiten Vergleichswertes I₀, der
unter Zuhilfenahme der Nullblende (oder, analog, durch
Erdung des Verstärkereingangs) gewonnen und mit gleichem
Verstärkungsgrad G L verstärkt wrude, wie der erste Vergleichswert
I L . Der Speicher 32 dient für die Speicherung
des eigentlichen Meßwerts I des beschichteten Objekts,
wie dieser am Fotoempfänger gemessen wurde.
Sämtliche Speicher 24, 30, 31 und 32 sind über entsprechende
Leitungen mit einer Auswerteschaltung 33 verbunden;
in der eine nicht näher bezeichnete Recheneinheit
angeordnet ist, durch die die bereits beschriebenen Rechenoperationen
ausgeführt werden.
Von der Auswerteschaltung 33 führt eine Steuerleitung 34
zu den beiden Monochromatoren 11 und 14, damit diese
entweder auf eine bestimmte Wellenlänge eingestellt werden
oder zum Durchfahren eines bestimmten Wellenlängenspektrums
angesteuert werden. Eine Rückführung 35 führt zu dem Geber 22
für den Verstärkungsgrad. Durch die Auswerteschaltung 33
wird auf diese Weise erreicht, daß der Verstärkungsgrad
gerade eben so hoch gewählt wird, daß der erste Vergleichswert
I L einen eben noch zulässigen Wert erreicht, bevor
der Verstärker 20 in die Sättigung geht.
Die Auswerteschaltung 33 ist über eine Leitung 36 mit einer
Anzeigeeinrichtung 13 verbunden, die als Bildschirm dargestellt
ist, jedoch ebenso gut durch einen Koordinaten-Zeichner,
einen Drucker oder eine Digitalanzeige ersetzt werden kann,
wenn es beispielsweise darum geht, nur einen einzigen Meßwert
bei einer bestimmten Wellenlänge anzuzeigen.
In Fig. 3 verkörpert die Abszisse die Wellenlänge, während auf
der Ordinate der erste und der zweite Vergleichswert sowie
der Verstärkungsgrad G L der Tendenz nach angegeben sind. Auf
Maßeinheiten wurde verzichtet, da nur das Meßprinzip verdeutlicht
werden soll. Es ist zu erkennen, daß die Kurve 36
für den ersten Vergleichswert I L nach Anhebung durch entsprechende
Verstärkung nahezu horizontal verläuft. Einen
etwa ähnlichen Verlauf hat die Kurve 37 für den zweiten
Vergleichswert I₀. Völlig anders hingegen verhält sich
die Kurve 38 für den Verstärkungsgrad G L , die den erforderlichen
Verstärkungsgrad darstellt, der eingestellt werden
muß, um die maximal möglichen Werte für I L zu erhalten. Diese
Kurve besitzt ein deutlich ausgeprägtes Miniumum.
In Fig. 4 symbolisiert die Abszisse wiederum die Wellenlänge,
während die Ordinate die Tendenz des Meßwerts I,
gemessen bei beschichtetem Testglas am Fotometerausgang
sowie die absoluten Transmissions- bzw. Reflexionswerte
zeigt. Die Kurve 39 symbolisiert den spektralen Verlauf des
Meßwerts I, der zwar die spektrale Abhängigkeit von
Reflexion bzw. Transmission wiedergibt, wobei es sich
jedoch nur um relative Werte handelt, die nur eine
grundsätzliche Beurteilung des Ergebnisses des Beschichtungsverfahrens
erlauben. Aufgrund der weiter oben beschriebenen
Rechenoperationen wird jedoch als Kurve 40 die spektrale
Abhängigkeit der Transmissions- bzw. Reflexionswerte
T, R als absolute Werte zeigt. Die Kurve 40 ist der Kurve 39
zwar ähnlich, jedoch aufgrund des variablen Verstärkungsgrades
(Kurve 38 in Fig. 3) entsprechend korrigiert, d. h.
die Kurve 39 ist gegenüber der absoluten Kurve 34 "verzerrt".
Claims (5)
1. Verfahren zum Beschichten von Substraten unter laufender
Dickenmessung und -steuerung der aufgetragenen optisch
wirksamen vorzugsweise transparenten Schichten während
ihres Aufbaus in Vakuum-Beschichtungsanlagen unter
Zuordnung eines jeden Meßwerts zu einer vorgegebenen
Meßlicht-Wellenlänge durch Erfassung eines ersten
Vergleichswerts I L , eines zweiten Vergleichswerts I₀
und mindestens eines Meßwerts für das Transmissions-
bzw. Reflexionsverhalten des beschichteten Objekts unter
Verwendung eines Meßlichtstrahls, eines Monochromators
für die Auswahl der vorgegebenen Meßlicht-Wellenlänge,
eines Fotoempfängers, eines einstellbaren Verstärkers,
und einer Auswerteschaltung, dadurch gekennzeichnet, daß
- 1.1 ein einstellbarer Verstärker verwendet wird, dessen Verstärkungsgrad G über mindestens zwei Zehnerpotenzen mit einer Abweichung von höchstens 2%, vorzugsweise von höchstens 1%, eine lineare Kennlinie aufweist, und daß
- 1.2 der Verstärkungsgrad G bei einer zugeordneten Wellenlänge so weit erhöht wird, bis der erste Vergleichswert I L im Linearitätsbereich des Verstärkers ein Maximum erreicht, und daß dieser Maximalwert und der so ermittelte zugehörige Verstärkungsgrad G L in je einem Speicher gespeichert werden,
- 1.3 der zweite Vergleichswert I₀
- a) bei der Transmissionsmessung durch Abschalten des Verstärkereingangs oder durch Einschalten einer Nullblende in den Meßlichtstrahl,
- b) bei der Reflexionsmessung durch Einschalten einer Nullblende in den Meßlichtstrahl gebildet wird,
- und dieser zweite Vergleichswert I₀ mit dem gleichen Verstärkungsgrad verstärkt wie der erste Vergleichswert I L in einem weiteren Speicher gespeichert wird, so daß nunmehr die Größen G L , I L und I₀ nach Maßgabe der zugehörigen Wellenlänge gespeichert sind, und daß zu Meßzwecken bei jeder Wellenlänge,
- 1.4 der gespeicherte Wert für G L von der Recheneinheit
abgefragt wird und der variable Verstärkungsgrad G
im Linearitätsbereich nach der Beziehung
- a) G = G L · T L für die Transmission
- b) G = G L · R L für die Reflexion
- bestimmt und daß nachfolgend das Produkt I aus dem
Meßwert I m und dem jeweiligen Verstärkungsgrad G
in Zuordnung zur jeweiligen Wellenlänge gebildet und
die gespeicherten Werte für I L und I₀ sowie der
Wert für I von einer Recheneinheit abgefragt werden,
wobei in an sich bekannter Weise
- a) die absolute Transmission T nach der Beziehung bzw.
- b) die absolute Reflexion R nach der Beziehung
bestimmt wird, wobei
- - I m der Meßwert des beschichteten Objekts am Fotoempfänger,
- - I der Meßwert I m des beschichteten Objekts, multipliziert mit dem Verstärkungsgrad G,
- - R L die Reflexion des unbeschichteten Testglases und
- - T L die Transmission des unbeschichteten Testglases oder in Abwesenheit eines Testglases ist.
2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß
der Meßwert I gleichfalls in einem Speicher gespeichert
und für die Rechenoperation nach Merkmal 1.4 von der
Recheneinheit abgefragt wird.
3. Fotometrische Anordnung zur Schichtdickenmessung bei
der Durchführung des Verfahrens nach Anspruch 1, mit
einer Lichtquelle für die Aussendung eines Meßlichtstrahls,
einem Monochromator, einem Fotoempfänger,
einem Verstärker und einer Auswerteschaltung mit einem
Ausgang für eine Anzeigeeinrichtung und/oder einen
Regelkreis, dadurch gekennzeichnet, daß
- 3.1 der Verstärker (20) bezüglich seines Verstärkungsgrades eine Kennlinie aufweist, die über mindestens zwei Zehnerpotenzen mit einer Abweichung von höchstens 2%, vorzugsweise von höchstens 1%, linear ist,
- 3.2 zur Bildung eines ersten Vergleichswertes I L für die Intensität des vom Fotoempfänger (12, 15) empfangenen Meßlichts ein in den Strahlengang (8) einführbares unbeschichtetes Testglas (5) vorhanden ist, welches im Falle der Reflexionsmessung mit einer diffusen Rückseite versehen ist,
- 3.3 zur Bildung eines zweiten Vergleichswertes I₀ für die Intensität des vom gleichen Fotoempfänger empfangenen Meßlichts eine in den Strahlengang (8) einführbare Nullblende (17 a, 17 b) vorhanden ist, welche eine praktisch vollständige Auslöschung des auf den Fotoempfänger (12, 15) auftreffenden Meßlichts, bewirkt,
- 3.4 je ein Speicher (30, 31, 24) für den ersten I L und zweiten Vergleichswert I₀ sowie für ein dem Verstärkungsgrad proportionales Signal vorhanden ist, wobei die Speicher (30, 31) für die beiden Vergleichswerte dem Verstärker (20) und der Speicher (24) für den Verstärkungsgrad einem Geber (22) für den Verstärkungsgrad nachgeschaltet sind bzw. ist,
- 3.5 die Speicher (30, 31, 24) für die beiden Vergleichswerte und den Verstärkungsgrad einer zur Auswerteschaltung (33) gehörenden Recheneinheit aufgeschaltet sind,
- 3.6 die Recheneinheit eine Rückführung (35) zum Geber (22) für den Verstärkungsgrad aufweist, derart, daß der Verstärkungsgrad entsprechend einem möglichst großen Wert für I L einstellbar ist,
- 3.7 die Recheneinheit in der Weise ausgelegt ist, daß aus den in den Speichern (30, 31) befindlichen Signalen für den ersten und den zweiten Vergleichswert sowie aus dem Meßwert I die absolute Transmission bzw. Reflexion bestimmbar ist und daß aus den in dem Speicher (24) befindlichen Signalen für die Verstärkungsgrade G L unter Berücksichtigung der Transmissions- und Reflexionswerte für den ersten Vergleichswert durch Multiplikation der Transmission T L oder der Reflexion R L mit dem Verstärkungsgrad G L die absoluten Transmissions- und Reflexionswerte bestimmbar sind.
4. Fotometrische Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß zwischen dem Verstärker (20) und der
Recheneinheit (33) ein weiterer Speicher (32) für den
Meßwert I angeordnet ist.
5. Fotometrische Anordnung nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet,
daß die Auswerteschaltung (33) über eine
Steuerleitung (34) mit dem Monochromator (11, 14) verbunden
ist, derart, daß wahlweise eine bestimmte
Wellenlänge des Meßlichts einstellbar oder ein ausgewähltes
Spektrum durchfahrbar ist.
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SU823482210A SU1584759A3 (ru) | 1981-09-08 | 1982-08-23 | Фотометрическое устройство дл измерени и управлени толщиной оптически активных слоев |
US06/411,238 US4469713A (en) | 1981-09-08 | 1982-08-25 | Method of and photometric arrangement for measuring and controlling the thickness of optically effective coatings |
CA000410882A CA1203598A (en) | 1981-09-08 | 1982-09-07 | Method of and photometric arrangement for measuring and controlling the thickness of optically effective coatings |
GB08225491A GB2105461B (en) | 1981-09-08 | 1982-09-07 | Measuring the thickness of optical coatings |
FR8215245A FR2512545B1 (fr) | 1981-09-08 | 1982-09-08 | Procede et dispositif photometrique pour mesurer et regler l'epaisseur de couches a effet optique pendant leur formation sous vide |
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4007393A1 (de) * | 1989-03-09 | 1990-09-13 | Macttor Co | Vorrichtung zum messen der biopermeabilitaet |
Families Citing this family (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4643910A (en) * | 1985-04-01 | 1987-02-17 | Motorola Inc. | Process for curing polyimide |
EP0290657A1 (de) * | 1987-05-15 | 1988-11-17 | KSB Aktiengesellschaft | Verfahren und Vorrichtung zur Messung der optischen Eigenschaften von dünnen Schichten |
US4837044A (en) * | 1987-01-23 | 1989-06-06 | Itt Research Institute | Rugate optical filter systems |
US5101111A (en) * | 1989-07-13 | 1992-03-31 | Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. | Method of measuring thickness of film with a reference sample having a known reflectance |
US5009485A (en) * | 1989-08-17 | 1991-04-23 | Hughes Aircraft Company | Multiple-notch rugate filters and a controlled method of manufacture thereof |
NL9000323A (nl) * | 1990-02-12 | 1991-09-02 | Philips & Du Pont Optical | Werkwijze voor het vanuit een metalliseringsvloeistof stroomloos neerslaan van een metaallaag op een vlak voorwerp. |
US5384153A (en) * | 1993-03-10 | 1995-01-24 | At&T Corp. | Monitoring electroless plating baths |
EP0665577A1 (de) * | 1994-01-28 | 1995-08-02 | Applied Materials, Inc. | Verfahren und Vorrichtung zur Überwachung der Niederschlagsrate von Schichten während physikalischem Dampf-Niederschlag |
DE19522188C2 (de) * | 1995-06-19 | 1999-12-02 | Optisense Ges Fuer Optische Pr | Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Dicke und/oder des komplexen Brechungsindexes dünner Schichten und Verwendung zur Steuerung von Beschichtungsverfahren |
US6630998B1 (en) | 1998-08-13 | 2003-10-07 | Acushnet Company | Apparatus and method for automated game ball inspection |
US6052176A (en) * | 1999-03-31 | 2000-04-18 | Lam Research Corporation | Processing chamber with optical window cleaned using process gas |
US20040046969A1 (en) * | 2002-09-10 | 2004-03-11 | Honeywell International Inc. | System and method for monitoring thin film deposition on optical substrates |
TWI335632B (en) * | 2003-09-19 | 2011-01-01 | Applied Materials Inc | Apparatus and method of detecting the electroless deposition endpoint |
US9013450B1 (en) * | 2003-11-03 | 2015-04-21 | Imaging Systems Technology, Inc. | IR touch |
US20060062897A1 (en) * | 2004-09-17 | 2006-03-23 | Applied Materials, Inc | Patterned wafer thickness detection system |
DE102005008889B4 (de) * | 2005-02-26 | 2016-07-07 | Leybold Optics Gmbh | Optisches Monitoringsystem für Beschichtungsprozesse |
FR2902514A1 (fr) * | 2006-06-15 | 2007-12-21 | Sidel Sas | Procede pour controler l'epaisseur d'un revetement sur un substrat |
Family Cites Families (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1404573A (en) * | 1971-07-26 | 1975-09-03 | Vickers Ltd | Sensing of liquids on surfaces |
US3773548A (en) * | 1972-01-27 | 1973-11-20 | Optical Coating Laboratory Inc | Method of monitoring the rate of depositing a coating solely by its optical properties |
DE2220230C3 (de) * | 1972-04-25 | 1975-01-16 | Labtronic Ag Gesellschaft Fuer Klinischelabortechnik, Zuerich (Schweiz) | Schaltung zum automatischen Nullabgleich für ein Phonometer zur digitalen Anzeige der Lichtabsorption einer Messprobe |
DE2300922A1 (de) * | 1973-01-09 | 1974-07-18 | Fischer Gmbh & Co Helmut | Einrichtung zur optisch elektronischen messung der schichtdicke von farben |
DE2412729C3 (de) * | 1974-03-16 | 1982-04-29 | Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln | Verfahren und Anordnung zur Regelung der Verdampfungsrate und des Schichtaufbaus bei der Erzeugung optisch wirksamer Dünnschichten |
US4135006A (en) * | 1974-07-29 | 1979-01-16 | United States Steel Corporation | Automatic coating weight controls for automatic coating processes |
US4024291A (en) * | 1975-06-17 | 1977-05-17 | Leybold-Heraeus Gmbh & Co. Kg | Control of vapor deposition |
DE2627753C2 (de) * | 1976-06-21 | 1983-09-01 | Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln | Anordnung zur Dickenmessung und -steuerung optisch wirksamer Dünnschichten |
GB1594710A (en) * | 1977-12-21 | 1981-08-05 | Lippke Gmbh Co Kg Paul | Manufacture of films of plastics material |
JPS5535214A (en) * | 1978-09-04 | 1980-03-12 | Asahi Chem Ind Co Ltd | Method and device for film-thickness measurement making use of infrared-ray interference |
DE2913879C2 (de) * | 1979-04-06 | 1982-10-28 | Frieseke & Hoepfner Gmbh, 8520 Erlangen | Verfahren zur Regelung der Dicke von laufenden Meßgutbahnen |
-
1981
- 1981-09-08 DE DE19813135443 patent/DE3135443A1/de active Granted
-
1982
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- 1982-09-08 JP JP57155296A patent/JPS5855706A/ja active Granted
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-
1990
- 1990-05-28 JP JP2135534A patent/JPH03135703A/ja active Granted
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4007393A1 (de) * | 1989-03-09 | 1990-09-13 | Macttor Co | Vorrichtung zum messen der biopermeabilitaet |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
FR2512545B1 (fr) | 1986-12-26 |
NL8203211A (nl) | 1983-04-05 |
GB2105461B (en) | 1985-09-25 |
DE3135443A1 (de) | 1983-03-24 |
CA1203598A (en) | 1986-04-22 |
JPS5855706A (ja) | 1983-04-02 |
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NL191186B (nl) | 1994-10-03 |
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NL191186C (nl) | 1995-03-01 |
GB2105461A (en) | 1983-03-23 |
CH669662A5 (de) | 1989-03-31 |
JPH03135703A (ja) | 1991-06-10 |
FR2512545A1 (fr) | 1983-03-11 |
US4469713A (en) | 1984-09-04 |
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