SU1584759A3 - Фотометрическое устройство дл измерени и управлени толщиной оптически активных слоев - Google Patents

Фотометрическое устройство дл измерени и управлени толщиной оптически активных слоев Download PDF

Info

Publication number
SU1584759A3
SU1584759A3 SU823482210A SU3482210A SU1584759A3 SU 1584759 A3 SU1584759 A3 SU 1584759A3 SU 823482210 A SU823482210 A SU 823482210A SU 3482210 A SU3482210 A SU 3482210A SU 1584759 A3 SU1584759 A3 SU 1584759A3
Authority
SU
USSR - Soviet Union
Prior art keywords
gain
amplifier
measuring
evaluation circuit
values
Prior art date
Application number
SU823482210A
Other languages
English (en)
Inventor
Швикер Хорст
Цемер Альфонс
Original Assignee
Лейбольд Аг (Фирма)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Лейбольд Аг (Фирма) filed Critical Лейбольд Аг (Фирма)
Application granted granted Critical
Publication of SU1584759A3 publication Critical patent/SU1584759A3/ru

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/02Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness
    • G01B11/06Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material
    • G01B11/0616Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating
    • G01B11/0625Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating with measurement of absorption or reflection
    • G01B11/0633Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring length, width or thickness for measuring thickness ; e.g. of sheet material of coating with measurement of absorption or reflection using one or more discrete wavelengths

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Testing Or Measuring Of Semiconductors Or The Like (AREA)

Abstract

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл  измерени  и управлени  толщиной оптически активных слоев. Целью изобретени   вл етс  обеспечение измерени  и индикации абсолютных величин характеристик в проход щем и/или отраженном свете покрытых сло ми объектов при произвольных толщинах слоев, причем как дл  отдельных длин волн измерительного света, так и по выбору - дл  определенного спектра дл  отображени  спектральных свойств объекта в виде кривой с абсолютными значени ми. Предлагаемое устройство имеет регулируемый усилитель с характеристикой коэффициента усилени  по меньшей мере в пределах двух дес тичных пор дков величины линейной с отклонением максимум 2% и два сменных элемента: непокрытое слоем контролье стекло и нулевую диафрагму дл  формировани  сравнительных величин при анализе измерительной величины и регулировки усилител . 2 з.п. ф-лы, 4 ил.

Description

Изобретение относитс  к контрольно-измерительной технике и может быть использовано дл  измерени  и управлени  толщиной оптически активных слоев.
Целью изобретени   вл етс  обеспечение измерени  и индикации абсолютных величин характеристик в проход щем и/или отраженном свете покрытых сло ми объектов при произвольных толщинах слоев, причем как дл  отдельных длин волн измерительного света, так и по выбору - Дл  определенного спектра, дл  отображени  спектральных свойств объекта в виде кривой с абсолютными значени ми.
-На фиг.1 представлены части фотометрического устройств.а в вакуумной установке нанесени  слоев; на фиг.2 - схема фотометрического устройства; на фиг.З - графические зависимости между первой и второй сравнительными величинами, а также коэффициентом усилени  дл  контрольного стекла , не покрытого слоем, в функции от длины волны света; на фиг.4 - графическое отношение измеренной вели чины от покрытого слоем объекта к абсолютным величинам пропускани  (или отражени ) в функции от длины.
Оптическа  часть фотометрического устройства состоит из расположенного
сл
(00 Ј sj
сл
см
во внешней части установки 1 вакуумного нанесени  слоев, содержащей камеру 2 с двум  окнами 3 и 4 и измер емым стеклом 5, источника б света, измерительный пучок 7 которого определ ет ход лучей 8, полупрозрачного зеркала
9,собирающей линзы 10, регулируемого монохроматора 11 и фотоприемника 12, индикаторного блока 13. Фотометрическое устройство содержит также регулируемый монохроматор 14, оптически св занный с фотоприемником 15, возможно подключение к последнему индикаторного блока 16. Устройство содержит также две нулевые диафрагмы 17 (а, в), переключатель 18, который проводом 19 св зан с регулируемым усилителем 20, который проводом 2 соединен с задатчиком 22, выход которого проводом 23 св зан
с запоминающим блоком 24 дл  запоминани  коэффициента усилени  G., выход усилител  20 проводом 25 св зан с переключателем 26, выходы которого проводами 27 - 29 соединены с запоминающими блоками 30 - 32 величин I ,
10,I соответственно, выходы блоков 30 - 32 соединены со схемой 33 оценки, котора  проводом 34 управлени  соединена с монохроматорами 11
и 14, обратна  св зь 35 идет к задат- чику 22 дл  коэффициента усилени .
Фотометрическое устройство работает следующим образом.
Большое значение имеет линейность характеристики дл  коэффициента усилени  G, котора  в пределах по меньшей мере двух дес тичных пор дков величины должна быть линейной с отклонением максимум 2%, предпочтительно максимум 1%. Такой усилитель может, например, быть реализован посредством применени  кремниевого фотоэлемента, работающего в режиме короткого замыкани  и стабилизованного кварцем усилител  с фазовой автоматической подстройкой. С помощью такого усилительного устройства достижима линейность фотометра в диапазоне четырех дес тичных пор дков величины с ошибкой менее 1% (абсолютных).
Выбор коэффициента усилени  находитс  в фактической св зи с формированием первой сравнительной величины I, и второй сравнительной величины I , которые должны значительно, а именно максимально возможно, отличатьс  одна от другой. Так называемые
0
5
0
5
0
5
0
5
сравнительные величины  вл ютс  величинами интенсивности попадающей на фотоприемник части луча измерительного света, причем эта часть может колебатьс  между 0 и 100%.
Указанные сравнительные величины важны дл  калибровки процесса измерени  или устройства. Устройство калибруетс  методом калибровки в двух точках. В случае измерени  пропускани  при этом дл  получени  первой калибрационной точки дл  I, либо не
VU
ставитс  контрольного стекла по ходу луча, т.е. луч измерительного света идет неослабленным и его энерги  составл ет в фотоприемнике 1 100%, или в ход луча вводитс  контрольное стекло без сло  покрыти . За счет известного коэффициента преломлени , примененного контрольного стекла полу, чаетс  определенное пропускание, например, I 92%, дл  коэффициента преломлени  п 1,5. При измерении отражени  примен етс  контрольное стекло без сло  покрыти , однако с матовой задней стороной, чтобы там свет отражалс  диффузно.
В результате этого нужно принимать во внимание только отражение от передней поверхности. По известному коэффициенту преломлени  контрольного стекла можно рассчитать величину отражени , например 4,2%, при коэффициенте преломлени  п 1,5.
Второе сравнительное значение I относитс  также к поступающей на фотоприемник интенсивности, котора , однако, значительно ниже и в самом благопри тном случае равна нулю. Чтобы получить второе сравнительное значение IQ при измерении пропускани ( вход усилител  заземл етс  или в ход луча вводитс  так называема  нулева  диафрагма. При измерении отражени , напротив, может примен тьс  только введение нулевой диафрагмы в ход луча измерительного света. Под нулевой диафрагмой понимаетс  непрозрачное тело, которое не пропускает и/или не отражает никакого света. В простейшем случае она представл ет собой подвижную черную пластинку с матовой поверх- ностью. Чтобы подавить вс кие остатки отражени , черна  пластинка имеет клиновую форму, чтобы по меньшей мере одна ее поверхность проходила под углом к ходу луча, таким образом, что сравнительные величины IL и I0 имеют
значительное рассто ние между собой. Это рассто ние можно увеличить, и в смысле максимальной точности индикации оценить если отнесенный к непокрытому контрольному стеклу коэффициент усилени  G усилител  будет увеличен до такой степени, пока перва  сравнительна  величина 1 по существ достигнет максимума, перва  сравнительна  величина I, должна быть максимально большей, однако при условии , чтобы усилитель не попадал в диапазон насыщени .
Изобретение основано на том, что две точки определ ют пр мую. Вследствие рассто ни  между первой и второй сравнительными величинами можно достичь требуемой линейности с использованием только одного уси- лител , который имеет указанные свойства.
Посредством запоминани  величин GL, I, и I после указани  соответствующей этому длины волны, а при необходимости также в зависимости от длины волны, как изображение кривой, можно в любое врем  опросить соответствующие величины счетно решающим устройством, и посредством счетных операций микропроцессора математически объединить их с измер емой величиной I покрытого слоем, или наход щегос  в процессе покрыти  слоем объекта. После калибровки запоминают в зависимости от длины волны величины IL (всегда максимально возможные), и 10, также как и значени  коэффициента усилени  G дл  непокрытого слоем контрольного стекла. Коэффициент усилени  GL не  вл етс  посто нным по всему диапа- зону. Более того, получаетс , что как раз в середине спектрального диапазона видимого света источника измерительного света коэффициент усилени  имеет минимум, потому что спектральна  интенсивность источника измерительного света в этом месте имеет максимум. Е-сли теперь первое сравнительное значение I, установить на максимально возможное значение, что получаетс  автоматически путем работы счетно-решающего устройства схемы оценки, то хот  и получаетс  в основном посто нные величины дл 
IL, но не дл  GL.
Дл  абсолютного значени  пропускани  Т определ етс  по формуле
I - 10
(как безразмерна  величина от 0 до 1) 5 или соответственно дл  абсолютного отражени  R
R
I - I.
Rb
IL- Io
0
5
0
5
0
5
0
5
0
(как безразмерна  величина от 0 до 1) где I - измер ема  величина от покрытого слоем объекта; R, - расчетное отражение непокрытого слоем контрольного стекла, рассчитываемое по известному коэффициенту преломлени ; Т светопропускание непокрытого слоем контрольного стекла, рассчитанное по известному коэффициенту преломлени , или при отсутствии контрольного стекла 1 ,0.
В заключение к описанным автоматически проводимым счетно-решающим устройствам, счетным операци м запомненна  величина или соответственно запомненные величины дл  усилени  G опрашиваютс  счетным блоком. Строитс  переменный коэффициент усилени  G на основе следующих зависимостей: дл  пропускани : G GL Т L и дл  отражени : G GL-R,.
В счетном блоке измеренна  величина I усиливаетс  или умножаетс  на соответствующий коэффициент усилени  G и представл етс  как функци  длины волны. Это касаетс  абсолютных величин пропускани  Т и абсолютных величин отражени  R, которые посредством электронно-лучевого диспле  изобража ютс  в виде графика или печатаютс  с помощью печатного устройства, или в цифрах отображаютс  на цифровой индикаторной системе. Соответствующие величины и кривые дают полную информацию об оптических свойствах соответствующего объекта и не требуют уже никаких сравнительных измерений с образцами и т.п.
Не об зательно усиленную измерительную величину I от покрытого слоем объекта запоминать в запоминающем устройстве. После калибровки устройства без дальнейших сложностей можно замеренную величину I сразу преобразовать с помощью вышеуказанных операций и вывести на индикацию. Однако целесообразно измер емую величину также запоминать в запоминающем устройстве, так что она может быть
7558
опрошена дл  различных счетных операций спуст  какое-то врем .
Снаружи вакуумной камеры 2 расположен источник 6 света, от которого сконцентрированный световой пучок 7 измерительного света идет в направлении на окна 3 и 4. Измерительный пучок 7 определ ет ход лу
чей 8, в котором сначала расположено под углом 45 полупрозрачное зеркало 9. В ходе лучей 8 находитс  собирающа  линза 10. Существенным  вл етс  то, что дл  измерени  отражени  окно 3 поставлено под таким наклоном, что никакие отражени  от окна 3 не могут попасть в ход луча 8.
Позади окна 3 измерительный луч света 7 попадает на контрольное стекло 5, причем (сначала) сама  мала  часть измерительного света, как отраженный луч измерительного света 7а, отбрасываетс  обратно до полупрозрачного зеркала 9 В данном случае говоритс  об измерении отраже- ни . Дл  этой цели контрольное стекло 5 имеет плоскую переднюю поверхность (а), но шероховатую или диффузную заднюю поверхность (Ъ), чтобы к зеркалу 9 возвращалс  свет, отражен- ный только от передней поверхности (а).
Зеркало 9 отражает вернувшийс  измерительный луч 7а под углом 90 и он затем попадает на регулируемый монохроматор 11, Посредством моно- хроматора 11 в направлении к фотоприемнику 12 пропускаетс  только та часть измерительного луча 7а, на волну которой настроен монохроматор 11. Здесь имеетс  в виду кремниевый фотоприемник, выход которого через схему оценки (не показана) подключен к индикаторному устройству 13.
В устройстве важное значение имеет то, что измерительный луч 7 абсолютно перпендикул рно падает на контрольное стекло 5. Так как любое отклонение от перпендикул рности ведет к неуправл емым  влени м в смысле отражени  по ходу луча от источника 6 света, то за окном 4 расположен еще один моно- хрОматор 14, который испотш ет ту же функцию, что и монохромдтор 11. Б ка- ч естве монохроматоров используютс  либо интерференционный линейный фильтр, либо интерференционный фильтр хода лучей, либо решеточные монохро- маторы. Пропускаема  длина волны ин8
терференционного фильтра хода лучей, а также решеточного монохроматора может измен тьс  с помощью шагового двигател  (не показан).
Оставшийс  позади контрольного стекла 5 луч измерительного света показан пунктирной линией (Ъ). Это используетс  дл  так называемого измерени  пропускани , т.е. пропущенной контрольным стеклом части измерительного света-, котора  попадает через монохроматор в виде света определенной длины волны к фотоприемнику 15, который имеет ту же конструкцию, что и фотоприемник 12. Выход этого фотоприемника через ту же схему оценки подключаетс  к индикаторному устройству 16.
Контрольное стекло 5 имеет дл  измерени  пропускани  две ровные или гладкие поверхности. При калибровке пропускани  контрольное стекло можно также и не ставить, так что на светоприемник 15 поступит на несколько процентов больша  часть света.
На фиг.1 показаны еще две нулевых диафрагмы 17а и 17Ь, из которых дл  измерени  используетс  кака -нибудьодна . Чтобы избежать ошибочных измер ний эти нулевые диафрагмы при применении косо установленного окна 3 должны находитьс  либо на месте нулевой диафрагмы 17а, т.е. между линзой 10 и окном 3, или на месте нулевой диафрагмы 17Ь непосредственно перед контрольным стеклом 5, т.е. между окном 3 и контрольным стеклом 5. Нулвые диафрагмы нужны на указанных местах потому, что отражение происходит не только от контрольного стекла или объекта измерени , но также и от линзы, которую нельз  поставить косо.
При замере второй сравнительной величины 10 одну из обеих нулевых диафрагм 17а или 17Ь ввод т в ход луча 8 в направлении стрелок, так что часть измерительного луча гаситс Нулевые диафрагмы состо т предпочтительно из матовой черной пластинки, предпочтительно клинообразной формы, что вызывает максимальное поглощение света.
Выходы обоих фотоприемников 12 и 15 соединены с переключателем 18, В показанном положении переключател  производитс  измерение отражени ,
при переключении в другое положение может производитьс  измерение пропускани  посредством фотоприемника 15. От переключател  18 провод 19 идет к регулируемому усилителю 20, который имеет указанные выше свойства . Дл  установки определенного коэффициента усилени  GL перед усилителем 20 приводом 21 включен за датчик 22, выход которого по проводу 23 подаетс  к запоминающему устройству 24 дл  запоминани  коэффициента усилени  GL, который определ етс  по непокрытому слоем контрольному стеклу (или при отсутствии стекла) при описанном выше получении максимума первой сравнительной величины
V
С выхода усилител  20 идет провод 25 к переключателю 26, выходы которого проводами 27 - 29 соединены с запоминающими устройствами 30 - 32. Запоминающее устройство 30 служит -дл  запоминани  первой сравнительной величины I, , котора  находитс  при максимально возможном усилении, причем усилитель еще не попадает в диапазон насыщени . Запоминающее устройство 31 служит дл  запомина- ни  второй сравнительной величины 10, котора  получаетс  с использованием нулевой диафрагмы (или аналогично , заземлением входа усилител ) и усиливаетс  с тем же коэффициентом усилени  G, как и перва  сравнительна  величина I . Запоминающее устройство 32 служит дл  запоминани  собственно измер емой величины I от покрытого слоем объекта.
Все запоминающие устройства 24, 30, 31 и 32 соединены соответствующими проводами со схемой 33 оценки, в которой находитс  счетно-решающее устройство, с помощью которого произ вод тс  счетные операции.
От схемы 33 оценки провод 34 управлени  идет к обоим монохромато- рам 11 и 14, чтобы либо устанавливать их на определенную длину волны, либо управл ть ими дл  прохода определенного спектра длин волн. Обратна св зь 35 идет к задатчику 22 дл  коэффициента усилени . Посредством схемы 33 оценки таким образом дости- гаетс  то, что коэффициент усилени  выбираетс  как раз столь большим, что перва  сравнительна  величина 1 достигает еще допустимого уровн ,
прежде чем усилитель 20 войдет в насыщение.
Схема 33 оценки проводом 36 соединена с индикаторным устройством 13, которое изображено в виде экрана электронно-лучевого индикатора, однако может быть применен координатный графопостроитель, печатающее устройство или цифровое индикаторное устройство, если, например, нужно индицировать один единственный результат измерени  на определенной длине волны.
На фиг.З по абсциссе отложена длина волны, тогда как по ординате перва  и втора  сравнительные величины , а также коэффициент усилени  GL, как они обычно получаютс . Единицы измерени  не указываютс , так как важен лишь принцип измерени . Следует иметь в виду, что крива  36 дл  первой сравнительной величины после подъема ее за счет соответствующего усилени  идет почти горизонтально . Примерно такой же вид имеет крива  37 дл  второй сравнительной величины 10. Напротив, совсем иначе ведет себ  крива  38 дл  коэффициента усилени  С, , котора  изображает необходимое усиление, Которое должно быть выставлено, чтобы получать максимально большие значени  дл  I . Эта крива  имеет  вно выраженный минимум. i
На фиг.4 по оси абсцисс тоже отложена длина волны, тогда как ордината показывает ход измер емой (усиленной) величины I, измеренной дл  покрытого слоем контрольного стекла на выходе фотометра, а также абсолютные величины пропускани  и отражени . Крива  39 символизирует ход измер емой величины I по спектру, котора  хоть и характеризует ход отражени  или пропускани  по спектру, однако в относительных единицах, которые позвол ют лишь в принципе оценить результаты покрыти  издели  слоем в процессе покрыти . На основе расчетных операций получаетс  крива  40, котора  показывает спектральную зависимость величин пропускани  Т или отражени  Р в абсолютных величинах. Крива  40 хот  и подобна кривой 39, однако строитс  с учетом переменного коэффициента усилени  (крива  38 на фиг.З), т.е. крива  39  вл етс  искаженной относительно абсолютной кривой 34.
111584759
ормула изобретени 
те му те ка ны
и

Claims (3)

1. Фотометрическое устройство дл  измерени  и управлени  толщиной оптически активных слоев, содержащее оптически св занные источник света, монохроматор и фотоприемник, усилитель и схему оценки с выходом, предназначенным дл  индикаторного блока и/или контура регулировани , о т л чающеес  тем, что, с целью обеспечени  измерени  и индикации абсолютных величин характеристик в проход щем и/или отраженном свете покрытых сло ми объектов при произвольных толщинах слоев, усилитель имеет характеристику коэффициента усилени  по меньшей мере в пределах двух дес тичных пор дков величины, линейную с отклонением максимум 2%, предпочтительно максимум 1 %, устройство снабжено сменными элементами, представл ющими собой непокрытое слоем контрольное стекло, прозрачное или с диффузной задней стороной, дл  формировани  первой I сравни
ю
15
тельной величины, и нулевую диафрагму дл  формировани  второй 10 сравнительной величины, запоминающими блоками первой IL, второй 10 сравнительных величин и сигнала G, ,пропорцию
нального коэффициенту усилени , за- датчиком коэффициента усилени , запоминающие блоки сравнительных величин I и IQ включены после усилител , а запоминающий блок сигнала GQ включен после задатчика, все запоминающие блоки подключены к счетно-решающему блоку схемы оценки, который соединен по обратной св зи с задатчиком коэффициента усилени .
2.Устройство по п.1, отличающеес  тем, что оно снабжено запоминающим блоком дл  измерительной величины I, включенным между усилителем и счетно-решающим блоком схемы оценки.
3.Устройство по п.1, отличающеес  тем, что счетно-решающий блок схемы оценки выходом регулировани  св зан с монохроматором.
&-
/
Фаг.1
e/
в
ffjf
6SmSI
IL I 4
Т
К I
1584759
36
SU823482210A 1981-09-08 1982-08-23 Фотометрическое устройство дл измерени и управлени толщиной оптически активных слоев SU1584759A3 (ru)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19813135443 DE3135443A1 (de) 1981-09-08 1981-09-08 Verfahren und fotometrische anordnung zur dickenmessung und -steuerung optisch wirksamer schichten

Publications (1)

Publication Number Publication Date
SU1584759A3 true SU1584759A3 (ru) 1990-08-07

Family

ID=6141084

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SU823482210A SU1584759A3 (ru) 1981-09-08 1982-08-23 Фотометрическое устройство дл измерени и управлени толщиной оптически активных слоев

Country Status (9)

Country Link
US (1) US4469713A (ru)
JP (2) JPS5855706A (ru)
CA (1) CA1203598A (ru)
CH (1) CH669662A5 (ru)
DE (1) DE3135443A1 (ru)
FR (1) FR2512545B1 (ru)
GB (1) GB2105461B (ru)
NL (1) NL191186C (ru)
SU (1) SU1584759A3 (ru)

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4643910A (en) * 1985-04-01 1987-02-17 Motorola Inc. Process for curing polyimide
EP0290657A1 (de) * 1987-05-15 1988-11-17 KSB Aktiengesellschaft Verfahren und Vorrichtung zur Messung der optischen Eigenschaften von dünnen Schichten
US4837044A (en) * 1987-01-23 1989-06-06 Itt Research Institute Rugate optical filter systems
JPH02257929A (ja) * 1989-03-09 1990-10-18 Makutaa Kk 生体透過率測定器
US5101111A (en) * 1989-07-13 1992-03-31 Dainippon Screen Mfg. Co., Ltd. Method of measuring thickness of film with a reference sample having a known reflectance
US5009485A (en) * 1989-08-17 1991-04-23 Hughes Aircraft Company Multiple-notch rugate filters and a controlled method of manufacture thereof
NL9000323A (nl) * 1990-02-12 1991-09-02 Philips & Du Pont Optical Werkwijze voor het vanuit een metalliseringsvloeistof stroomloos neerslaan van een metaallaag op een vlak voorwerp.
US5384153A (en) * 1993-03-10 1995-01-24 At&T Corp. Monitoring electroless plating baths
KR950034499A (ko) * 1994-01-28 1995-12-28 제임스 조셉 드롱 물리적인 증기증착 과정동안 필름들의 증착속도를 모니터하기 위한 방법 및 장치
DE19522188C2 (de) * 1995-06-19 1999-12-02 Optisense Ges Fuer Optische Pr Verfahren und Vorrichtung zur Bestimmung der Dicke und/oder des komplexen Brechungsindexes dünner Schichten und Verwendung zur Steuerung von Beschichtungsverfahren
US6630998B1 (en) 1998-08-13 2003-10-07 Acushnet Company Apparatus and method for automated game ball inspection
US6052176A (en) * 1999-03-31 2000-04-18 Lam Research Corporation Processing chamber with optical window cleaned using process gas
US20040046969A1 (en) * 2002-09-10 2004-03-11 Honeywell International Inc. System and method for monitoring thin film deposition on optical substrates
KR20080018774A (ko) * 2003-09-19 2008-02-28 어플라이드 머티어리얼스, 인코포레이티드 무전해 증착 종료점 검출 장치 및 방법
US9013450B1 (en) * 2003-11-03 2015-04-21 Imaging Systems Technology, Inc. IR touch
US20060062897A1 (en) * 2004-09-17 2006-03-23 Applied Materials, Inc Patterned wafer thickness detection system
DE102005008889B4 (de) * 2005-02-26 2016-07-07 Leybold Optics Gmbh Optisches Monitoringsystem für Beschichtungsprozesse
FR2902514A1 (fr) * 2006-06-15 2007-12-21 Sidel Sas Procede pour controler l'epaisseur d'un revetement sur un substrat

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1404573A (en) * 1971-07-26 1975-09-03 Vickers Ltd Sensing of liquids on surfaces
US3773548A (en) * 1972-01-27 1973-11-20 Optical Coating Laboratory Inc Method of monitoring the rate of depositing a coating solely by its optical properties
DE2220230C3 (de) * 1972-04-25 1975-01-16 Labtronic Ag Gesellschaft Fuer Klinischelabortechnik, Zuerich (Schweiz) Schaltung zum automatischen Nullabgleich für ein Phonometer zur digitalen Anzeige der Lichtabsorption einer Messprobe
DE2300922A1 (de) * 1973-01-09 1974-07-18 Fischer Gmbh & Co Helmut Einrichtung zur optisch elektronischen messung der schichtdicke von farben
DE2412729C3 (de) * 1974-03-16 1982-04-29 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln Verfahren und Anordnung zur Regelung der Verdampfungsrate und des Schichtaufbaus bei der Erzeugung optisch wirksamer Dünnschichten
US4135006A (en) * 1974-07-29 1979-01-16 United States Steel Corporation Automatic coating weight controls for automatic coating processes
US4024291A (en) * 1975-06-17 1977-05-17 Leybold-Heraeus Gmbh & Co. Kg Control of vapor deposition
DE2627753C2 (de) * 1976-06-21 1983-09-01 Leybold-Heraeus GmbH, 5000 Köln Anordnung zur Dickenmessung und -steuerung optisch wirksamer Dünnschichten
GB1594710A (en) * 1977-12-21 1981-08-05 Lippke Gmbh Co Kg Paul Manufacture of films of plastics material
JPS5535214A (en) * 1978-09-04 1980-03-12 Asahi Chem Ind Co Ltd Method and device for film-thickness measurement making use of infrared-ray interference
DE2913879C2 (de) * 1979-04-06 1982-10-28 Frieseke & Hoepfner Gmbh, 8520 Erlangen Verfahren zur Regelung der Dicke von laufenden Meßgutbahnen

Non-Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
За вка DE № 2.627.753, кл. G 01 В 11/06, 1980. *

Also Published As

Publication number Publication date
JPS5855706A (ja) 1983-04-02
GB2105461A (en) 1983-03-23
US4469713A (en) 1984-09-04
JPH0439004B2 (ru) 1992-06-26
FR2512545B1 (fr) 1986-12-26
GB2105461B (en) 1985-09-25
NL191186C (nl) 1995-03-01
NL191186B (nl) 1994-10-03
FR2512545A1 (fr) 1983-03-11
CA1203598A (en) 1986-04-22
NL8203211A (nl) 1983-04-05
DE3135443C2 (ru) 1988-09-15
DE3135443A1 (de) 1983-03-24
JPH0318121B2 (ru) 1991-03-11
JPH03135703A (ja) 1991-06-10
CH669662A5 (ru) 1989-03-31

Similar Documents

Publication Publication Date Title
SU1584759A3 (ru) Фотометрическое устройство дл измерени и управлени толщиной оптически активных слоев
US4218144A (en) Measuring instruments
US4129781A (en) Film thickness measuring apparatus and method
US4785336A (en) Device for monitoring characteristics of a film on a substrate
GB2033079A (en) Infrared interference type film thickness measuring method and instrument
GB1473233A (en) Gauging method and apparatus
US5028790A (en) Apparatus for full-system zero check and window soiling measurement and correction for transmissometers
JPH0726806B2 (ja) 距離測定装置
CA1082486A (en) Arrangement and photometer for measuring and controlling the thickness of optically active thin layers
GB2046432A (en) Apparatus for determining the thickness moisture content or other parameter of a film or coating
US3870884A (en) Apparatus for negating effect of scattered signals upon accuracy of dual-beam infrared measurements
US3636361A (en) Radiation-sensitive glossmeter with means to compensate for environmental contaminants
US3771877A (en) Densitometer incorporating optical attenuator with direct readout of optical density
JPS59131106A (ja) 干渉計およびこれを用いて微少距離を測定する方法
US3322962A (en) Method and apparatus for continuously measuring applied coatings employing photoelectric means
US4761551A (en) Optical transducer with movable filter
GB1568530A (en) Spectrophotometer
EP0332018A2 (en) Clay sensor
US5160981A (en) Method of measuring the reflection density of an image
US5276499A (en) Spectrophotometer
US4925310A (en) Method and device to measure the optical transmission factor of a tinted glass panel by reflection
EP0378267A1 (en) Device for inspecting an interference filter for a projection television display tube
US5323230A (en) Method of measuring the reflection density of an image
EP0600636A1 (en) Self-calibrated power meter
JPS6029050B2 (ja) 色材の褪色を判別する装置