DE3021072A1 - Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten

Info

Publication number
DE3021072A1
DE3021072A1 DE19803021072 DE3021072A DE3021072A1 DE 3021072 A1 DE3021072 A1 DE 3021072A1 DE 19803021072 DE19803021072 DE 19803021072 DE 3021072 A DE3021072 A DE 3021072A DE 3021072 A1 DE3021072 A1 DE 3021072A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
signal
video signal
video
product
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
DE19803021072
Other languages
English (en)
Other versions
DE3021072C2 (de
Inventor
Yasukazu Kawasaki Kanagawa Sano
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to DE19803021072 priority Critical patent/DE3021072A1/de
Publication of DE3021072A1 publication Critical patent/DE3021072A1/de
Application granted granted Critical
Publication of DE3021072C2 publication Critical patent/DE3021072C2/de
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

  • Verfahren und Vorrichtung zur automatischen
  • Prüfung von Produkten Die Erfindung betrifft ein Verfahren nach dem Oberbegriff des Anspruchs 1 sowie eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach dem Oberbegriff des Anspruchs 5.
  • Zur Untersuchung ob ein Gegenstand oder Produkt akzeptabel ist oder Ausschuß darstellt, hat man bereits in der Vergangenheit ein Videosignal erzeugt, das dem gesehenen Objekt oder Produkt entspricht. Die Amplitude dieses Videosignals wurde mit einer festen Bezugsspannung, beispielsweise einer Standardreferenzzelle verglichen, oder es wurde ein durch Abschwächen oder Verzögern des Videosignals erzeugtes schwimmendes Bezugssignal mit dem ursprünglichen Videosignal verglichen. Beide Vergleichs systeme leiden an einer Unempfindlichkeit gegenüber kleinen änderungen im Videosignal, die auftreten, wenn ein kleiner, aber zu einer Beanstandung Anlaß gebender Fehler, etwa ein Kratzer auf der Oberfläche des untersuchten Produkts-, bei dem es sich beispielsweise um eine Arzneimittelpille handeln kann! vorhanden ist.
  • Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren und eine zu seiner Durchführung geeignete Vorrichtung zu schaffen die zur Vermeidung der voranstehend erwähnten Probleme eine Prüfung der Oberflächenbeschaffenheit eines Produkts mit hoher Empfindlichkeit zum Zweck der Bestimmung zulassen, ob das Produkt angenommen werden kann oder ausgestoßen werden muß.
  • Diese Aufgabe wird erindungsgemäß durch ein Verfahren mit den Merkmalen des Anspruchs 1 bzw. eine Vorrichtung mit den Merkmalen des Anspruchs 5 gelöst.
  • Das zu untersuchende Produkt wird dem Blickfeld einer Videokamera ausgesetzt, deren lichtempfindliche Fläche rasterartig abgetastet wird. Das von dieser Kamera erzeugte Videosignal bzw. die Videoumhüllende wird Zeile für Zeile analysiert und die Amplitude des Videosignals längs jeder (horizontalen) Zeile mit einem (vom Videosignal abgeleiteten) Schwellenwert für diese Zeile verglichen. Falls in irgendeiner Zeile das Videosignal mehr als einmal den Zustand der Steigung null aufweist, dann zeigt dies eine falsche Richtungsänderung oder Einsenkung in derVideosignalkurve an, was auf einen Fehler in der Oberfläche des Produkts hinweist.
  • Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.
  • Die Erfindung wird nachfolgend unter Bezug auf die beiliegenden Zeichnungen an Ausführungsbeispielen näher erläutert.
  • Es zeigen: Fig. 1 schematisch das grundsätzliche System, von dem bei der Erfindung Gebrauch gemacht wird, Fig. 2 eine graphische Darstellung eines gemaß Fig. 1 gewonnenen Signals, Fig. 3 schematisch ein Schaltbild einer ersten Ausführungsform der erfindungsgemäßen Vorrichtung, Fig. 4 ein schematisches Schaltbild eines Teils des Schaltungskreises von Fig. 3,, Fig. 5 ein-schematisches Schaltbild eines w'eiteren Teils des Schaltungskreises 'von Fig. 3, Fig. 6 eine graphische Darstellung von Signalen im Schaltungskreis gemä Fig. 3 für den Fall reines .ersten Zustands der Produktoberfläche, Fig. 7 eine Darstellung der Signale entsprechend Fig. 6 für den Fall eines zweiten Zustands der Prodüktoberfläche, Fig. -8 ein schematisches Schaltbild einer zweiten Ausführungsform der Erfindung, Fig 9 eine graphische Darstellung von Signalen, die in den Schaltungskreis nach Fig. 8-hinein bzw. aus ihm herauslaufen, für den Fall eines ersten Zustandes der Produktoberfläche und Fig. 10 eine Darstellung von Signalen entsprechend Fig. 9 für den Fall eines zweiten Zustands der Produktoberfläche, In Fig. 1 ist 10 eine Videokamera, bei der es sich um eine Industriekamera mit horizontaler und vertikaler, das heißt mit Rasterabtastung handeln kann. -Die bekannten Horizontal-und Vertikalabtastschaltungskreise sollen hier nicht be- schrieben werden. Der licht-elektrische Umsetzer in der Videokamera kann ein Videkon sein. Eine Impulsabtrennstufe 12 ist vorgesehen, um das Videosignal und die Synchronsignale voneinander zu trennen.
  • Lampen 14 und 16 dienen der schattenfreien Ausleuchtung des Produkts 18, dessen Oberfläche auf Fehler hin untersucht werden soll. Das Produkt 18 ruht auf einer glatten Unterlage 20, bei der es sich um einen Förderriemen handeln kann (in diesem Fall können die Lampen 14 und 16 Blitzlampen sein).
  • Die Farbe der Unterlage 20 sollte so gewählt sein, daß sich mit dem Produkt 18 ein gutes Lichtkontrastverhältnis ergibt.
  • Die Verarbeitungsschaltungskreise und die Ergebnisse, das heißt die sich ergebenden Signale sind am besten aus den Figuren 3, 4 und 5 bzw. 2 zu ersehen. In den Fig. 3 bis 5 sind mit kleinen Buchstaben Signale bezeichnet, die an bestimmten Punkten der Schaltung auftreten und den gleich bezeichncten Kurven der Fig. 2, 6 und 7 entsprechen.
  • Gemäß Fig. 3 wird das Videosignal von der Videokamera 10 in einem Verstärker 22 verstärkt und über einen Widerstand 25 an einen Vergleicher 24 und über einen Widerstand 28 an einen Vergleicher 26 angelegt.
  • Das verstärkte Videosignal (a) gelangt außerdem über einen Widerstand 32 an einen Operationsverstärker 30 und einen FET (Feldeffekttransistor) 31. Über einen Widerstand 36 liegt dasselbe Signal (a) außerdem an einem Operationsverstärker 34 und über einen weiteren Widerstand 40 an einem Vergleicher 38 an.
  • Ein Vorspannungswiderstand 42 gibt einen Signalwert (b) vor, bei dessen Überschreiten durch das an seinem Eingang 44 anliegende Videosignal (a) der Vergleicher 24 ein "1"-Signal abgibt. Dieses Ausgangssignal des Vergleichers 24 ist mit (c) bezeichnet und.wird an einen Rücksetzsignalgenerator 46 und an einen Impulsanzahldetektor 48 angelegt.
  • Die Einstellung des Signalwerts (b) bestimmt im wesentlichen den Teil der Videosignalkurve (a), der analysiert wird.
  • Die Kombination aus Operationsverstärker 34, Diode 50 und Kondensator 52 führt zur Einstellung eines oberenSchwellenwerts bzw. einer Schwellenspannung (d) an der Maximalamplitude der Kurve (a), solange ein FET 54 gesperrt bleibt.
  • Der obere Schwellenwert -(d) erscheint am Eingang 56 des Vergleichers 38 und wirkt als Bezugswert bzw. als -spannung.
  • Wie schon erwähnt, liegt am anderen Eingang 58 des Vergleichers 38 das Videosignal (a) an. Solange dieses Videosignal (a) einen W,ert gleich dem oder größer als der Schwellenwert (d) hat,. ist das Ausgangssignal (e) vom Vergleicher 38 11111. Sobald das Videosignal (a) unter den Schwellenwert (d) fällt, wird das Ausgangssignal- (e) vom Vergleicher 38 "0", wie dies in Fig. 2 dargestellt ist. Der Abfall der dem Videosignal (a) entsprechenden Kurve tritt nach einem Punkt der Steigung null (die Ableitung ist null) dieser Kurve auf. Der Impulsanzahldetektor 48 zählt die Anzahl von Impulsen pro horizontaler Abtastzeile. Falls diese Anzahl eins übersteigt, wird ein Ausstoßsignal (i) erzeugt.
  • Der Operationsverstärker 30 gibt. in Verbindung mit einer Diode 60 und einem Kondensator 62 einen Minimumschwellenwert für die Analyse des Videosignals (a) vor. Während der Einstellung dieser Schwellenwerte werden die FETs 31 und 70 vom Rücksetzsignalgenerator 46, dessen Einzelheiten anhand von Fig. 4 noch erläutert werden, im Sperrzustand .gehalten.
  • Wie aus Fig. 3 ersichtlich, ist der Kondensator einenends mit dem Anschluß +V der Stromversorgung und anderenends mit dem invertierenden Eingang 74 des Operationsverstärkers 30 verbunden. Bei dieser Anordnung ist das Ausgangssignal dieser Schaltung für den unteren Schwellenwert die Kurve (g) von Fig. 2, die an einem Punkt der Steigung null der Kurve (a) beginnt und sich zusammen mit der Kurve (a) nach unten fortsetzt, bis die Analyse am Ende der Kurve (c) von Fig. 2 abgeschaltet wird. Ein Operationsverstärker 76 legt das Signal (g) an den invertierenden Eingang 78 des Vergleichcrs 26 an. Das Videosignal (a) wird dem nichtinvertierenden Eingang 80 des Vergleic]lers 26 zugeführt.
  • Wenn das Videosignal (a) gleich oder kleiner als das Signal (g) ist, ist das Ausgangssignal (h) vom Vergleicher 26 "0". Uberschreitet aber das Videosignal (a) das Signal (g) dann ist das Ausgangssignal vom Vergleicher 26 "1. Wie aus den beiden Kurven (a) und (g) in F.ig. 2 erkennbar, übersteigt die Kurve (a) nie die Kurve (g), so daß die Kurve (h) des Ausgangssignals vom Vergleicher 26 ständig "0" bleibt.
  • Das Gegenteil trifft zü, für das Videosignal gemäß Kurve (a) von Fig. 6. Die Einsenkung im Videosignal bei S3 weist auf einen Kratzer oder einen anderen Fehler in der Oberfläche des Produkts 18 hin. Bei S3 liegt der obere Schwellenwert (d) über der Kurve (a), weshalb der Vergleicher 38 während der Zeit zwischen dem Punkt mit der Steigung null vor S3 und dem Zeitpunkt, zu dem die Kurve (a) ansteigt, um den Schwellenwert (d) zu schneiden, ein Ausgangssignal des Werts 11011 erzeugt. Ein weiterer Punkt mit der Steigung nul3 tritt bei 100 auf, und das Signal (a) fällt unter das Signal bzw. den Schwellenwert (d), so daß der Vergleicher ein weiteres Mal "0" ausgibt. Das resultierende Signal (e) von Fig. 6 zeiqt zwei Impulse, die im Impulsanzahldetektor 48 gezählt werden. Das Abfallen der Kurve (g) unter die Kurve (a) bewirkt, daß der Vergleicher 26 eine "1" für die Dauer dieses Zustands ausgibt, woraus das Signal (h) von Fig. 6 resultiert. Auch dieses Signal wird dem Impulsanzahldetektor 48 zugeführt und gezählt. Ist die Anzahl von Impulsen größer als 1, dann wird ein Rück- oder Ausstoßsignal (i) erzeugt und an einen Produktausstoßmechanismus 49 angelegt.
  • In Fig. 7 fällt das Signal (a) in, ähnlicher'Weise unter den oberen Schwellenwert (d), wobei sich zwei Impulse 120 und 122 des Signals (e) ergeben. Das Signal (a) übersteigt den unteren Schwellenwert bzw. das untere Schwellensignal (g) einmal,. wodurch der, Impuls (h)-erzeugt wird. Dieser Impuls wird'im Impulsanzahldetektor 48 gezählt. Selbst wenn also die Schwankungen im Videosignal (a) nur gering sind, verursachen sie Ausgangsimpulse, die gezählt werden-können, um anzuzeigen, daß das Produkt 18 Oberflächenfehler besitzt.
  • Auf diese Weise wird eine Qualitätskontrolle hoher Güte erreicht.
  • Wie durch die Abfallflanke des Impulses (c) angedeutet, schaltet der- Rücksetzsignalgenerator 46 am Ende der Analyse die FETs 31, 54 und 70 ein, so daß die Kondensatoren 52 und 62 entladen werden und die Vorrichtung für die Analyse des Videosignals sprechend der nächsten horizontalen Abtastzeile bereit ist.
  • Lediglich beispielsweise sei angemerkt, daß es s-ich bei den Operationsverstärkern-30, 34, 35 und 76 um den Typ CA3140A.der Firma RCA handeln kann. Die Vergleicher 24, 26 und 38 können Vom Typ «PC71D der Firma Nippon Electric Co.
  • Ltd. sein. Bei den Dioden -50 und 60 kann es sich um den Typ 1S953 der Firma NEC handeln. -Schließlich k6nnen die Transistoren 31, 54 und 70 vom Typ- 2SK3OA der Firma Toshiba sein-.
  • Die Arbei.tsweise'des Rücksetzs-ign'algenerators 46 ist am besten aus Fig. 4 zu verstehen. Gemäß Fig. 4besitzt ein Flipflop 200 einen Takteingang 202, der das Signal (e) der Fig. 2 bzw. 3 empfängt. Ein Cleareingang 204 empfängt das Signal (c) vom Vergleicher 24. Wenn das Signal (e) vom B'inärzustand "1" zum Binärzustand "0" wechselt, während sich das Signal (c) im Zustand "1" befindet, wechselt das Signal am Q-Ausgang 206 von 1 auf "0". Falls das Signal (c) "0" wird, wird das Signal am Q-Ausgang 206 "1". Auf diese Weise wird ein gegenüber dem Signal (f) invertiertes Signal erzeugt.
  • Zum Schalten der FETs 3i und 70 wird eine Änderung der Emitterspannung des Transistors 212 um B1 - E2 (wenn E1 ^ +V und E2 < 0) dadurch erreicht, daß das invertierte Signal vom Q-Ausgang 206 des Flipflops 200 über eine Z-Diode 210 an die Basis des Transistors 212 angelegt wird. Die Spannungsänderung am'Emitter 214 wird zum Signal (f), das an.die Gates der FETs 31 und 70 angelegt wird. Das Signal (f) sperrt die FETs 31, 70,solange es ansteht und erlaubt, daß das Signal (g) dem Signal (a) in Abwärtsrichtung folgt und die Spannung am Kondensator 62 auf den niedrigsten Wert 'des Signals (a) vor dessen Anstieg geklemmt wird.
  • Das Zeilensignal (l) wird vom Signal (c) abgeleitet, das von einem Inverter 216 invertiert und über eine Z-Diode 222 an die Basis 218 eines Transistors 220 angelegt wird.
  • Die Spannungsänderung am Emitter 224, bei der es sich um ein gegenüber dem Signal (c) invertiertes Signal handelt, wird über eine Diode 226 dem Gate 228 des FETs 54 zugeführt und- sperrt ihn für die Dauer des Signals (c). Auf diese Weise kann sich der Kondensator 52 für die Dauer des Videosignals über den Basiswert (b) aufladen, der über dem Rauschpegel liegend eingestellt ist. Am Ende des Signals (1) schaltet FET 54 ein und entlädt den Kondensator 52. Am Ende des Signals (f) schalten die FETs 31 und 70 ein und entladen den Kondensator 62.
  • Die Arbeitsweise des Impulsanzahldetektors 48 ist am. besten unter Bezug auf Fig. 5 zu verstehen. Das Signal (e) der Fig. 2 und 3 wird an den Takteingang 250 eines Schieberegisters 252 angelegt, bei dem es sich um ein SN74164 handeln kann. Das Ausgangssignal vom Ausgang'254 des Schieberegisters 252 wird zusammen mit dem Signal (e) einem NAND-Glied 256 geliefert. Falls das Signal (c) "1" ist und das Signal (e) mehr als einen Impuls umfaßt, erzeugt das NAND-Glied 256 ein Ausgangssignal "O". Die Dateneingänge 258 und 2-60 des Schieberegisters 252 sind mit einer Spannung beaufschlagt, die dem Binärwert 1 entspricht.
  • In ähnlicher Weise empfängt ein anderes Schieberegister 262 an seinem'Takteingang 264 das Signal (h). Das an seinem Ausgang 266 abgegebene Ausgangssignal wird mittels eines Inverters 268 invertiert. Falls das Signal (c) den Binärwert §'1" besitzt und daß Signal (h) einen oder mehrere Impulse umfaßt, .erzeugt der Inverter 268 ein'Ausgangssignal des Binärwerts "O". Auch hier sind die Dateneingänge 270 und 272 mit einem den Binärwert "1ti entsprechenden Signal beaufschlagt.
  • Wenn folglich ein Signal (e) mit zwei oder mehr Impulsen oder ein Signal (h) mit einem oder mehr Impulsen geliefert wird, während das Signal (c) den Binärwert "1" hat, erzeugt ein NQR-Glied 274 an seinem Ausgang 276 ein Signal,(i) mit dem Binärwert "1" solange das Zeitsignal (c) den Binärwert i'1" behält. Wenn das Signal (c) zum Binärwert "0" zurückkehrt, wechselt auch das Ausgangssignal (i) zum Binärwer.t "0". Auf diese Weise wird das Ausgangssignal (i) als ein Ausstoßsignal erhalten, das an den Ausstoßmechanismus angelegt wird und dem Ausstoß des feh-lerhaften Produkts-18 dient.
  • Anhand der folgenden Figuren soll nun eine weitere Ausführungsform der Erfindung beschrieben werden. In Fig. 8 bilden die Widerstände 300a bis 300n einen Spannungsteiler, der invertierende Anschlüsse 302a bis 302n von Vergleichern 303a bis 303n mit unterschiedlichen Spannungswerten beaufschlagt, so daß diese Vergleicher ein Signal des Binärwerts "1" bei-jeweils unterschiedlichen Werten eines Videosignals (a) abgeben, daß den nicht-invertierenden Eingängen dieser Vergleicher 303a -bis 303n zugeführt wird. Das Videosignal (a) wird also in unterschiedliche Spannungswerte aufgeteilt und von den jeweiligen Vergleichernfür jeden Spannungswert nach Mehrfachimpulsausgangssignalen untersucht, die Änderungen in der- Steigung des Videosignals und schließlich Unregelmäßigkeiten oder Fehler des- untersuchten Objekts anzeigen. Die Ausgangssignale der Vergleicher 303a bis 303n werden den Takteingängen 304a bis 304n jeweiliger JK-Flipflops 306a bis 306n zugeführt.
  • Diese Flipflops werden am Ende jeder Horizontalabtastzeile der Videokamera 10 von einem Horizontalrücklaufimpuls hb gelöscht, der vom'der Impulsabtrennstufe 12 abgenommen wird und an die Cleareingänge CL der Flipflops 306a bis 306n angelegt wird.
  • -Die Ausgangssignale der Vergleicher 303a bis 303n werden außerdem Eingängen 307a bis 307n jeweiliger NAND-Glieder 308a bis 308n zugeführt.
  • Die Q-Ausgänge 310a bis 310n der Flipflops 306a bis 306n sind mit jeweiligen verbleibenden Eingängen 312a bis 312n der NAND-Glider 308a bis 308n verbunden.
  • Die Ausgänge 314a bis 314n der NAND-Glieder 308a bis 308n sind mit jeweiligen Eingängen 316a bis 316n eines mit mehreren Eingängen versehenen NOR-Glieds 318 verbunden. Das Videosignal (a) ist außerdem an einen Vergleicher 321 angelegt, der ein Signal des 2,inärwerts "?" ausgibt, wenn das Videosignal (a) einen Hintergrundrauschpegel (gd), der in Fig. 9 gezeigt ist, übersteigt.
  • Das Ausgangssignal vom Vergleicher 321 wird dem Eingang 323 des NOR-Glieds 318 zugeführt. AusgangsimpUlse vom NOR-Glied 318 werden in einem Zähler 3-20 gezählt, von dem ein Ausstoßsignal an eine Ausstoßvorrichtung 322 geliefert wird, falls die Anzahl von Impulsen 1 übersteigt.
  • Die Arbeitsweise der Schaltungsanordnung von Fig. 8 ist am besten anhand der Diagramme der Fig. 9 und 10 zu verstehen. In Fig. 9A sind die Bezugsspannungen-an den Anschlüssen 302a bis 302n durch jeweilige Spannungen e1 bis e dargestellt. Die Differenz zwischen aufeinanderfolgenn den Bezugswerten ist in Fig. 9A durch die Spannung E dargestellt. Das Videosignal (a) wird an mehreren Pegeln oberhalb des Hintergrundrauschpegels bzw. des Rauschaustastpegels (gd) nach Punkten der Steigung n analysiert.-Die Ausgangssignale der Vergleicher 303a bis 303n sind in Fig. 9B mit sig1 bis sign bezeichnet. Wie aus Fig. 9B erkennbar, erreicht das Videosignal (a) nicht die Bezugspannung e1, -so daß der Vergleicher 303a zu keiner Zeit eine "1" ausgibt. Der Vergleicher 303b gibt eine "1" während der Zeit aus, während-der das Videosignal (a) gleich der Bezug spannung e2 oder.größer als diese ist. Das Ausgangssignal des Vergleichcrs 303b ist in Fig. 9B mit si bezeichnet.
  • In ähnlicher Weise geben allc Vergleicher bis zum Vergleicher 303n einen einzigen Ausgangsimpuls bzw. eine "1" für jede Periode zwischen horizontalen Rücklaufimpulsen hb (Fig. 9C) ab. Die Signale an den Q-Ausgängen der Flipflops 306a bis 306n sind. in Fig. 9D mit sig'1 1 bis sig' n bezeichnet. Wie aus Fig. 9D ersichtlichr ist sig'1 "0" da auch sig1 "0" ist. Die Abfaliflanke des "1" Impulses im Signal, sig2 schaltet das Flipflop 306b in einen "1"-Zustand und zwar nach einer Verzögerungszeit T, die für den Q-Ausgang des Flipflops 306b eingestellt ist. An der Anstiegsflanke des Rücklauf Impulses hb2 wird das Flipflop 306b gelöscht woraufhin das Signal sig'2 zum Binärzustand "0" zurückkehrt. In ähnlicher Weise weisen die Signale sig'3 bis sig n in Fig. 9D einen einzigen Impuls bzw. eine einzige "1" auf. Die Signale der Flipflops 306a bis erzeugen, wenn sie zusammen mit den Ausgangs signalen der Vergleicher 303a bis- 303n an die NAND-Glieder 308a bis 308n angelegt werden, die -Ausgangssignale MC1 bis NGn, die in Fig. 9E dargestellt sind und -ersichtlich alle den Binärzustand "1" aufweisen.
  • Wenn die Signale NG1 bis NGn zusammen mit dem Ausgangssignal (b) vorn Vergleicher 321 an das mit mehreren Eingängen versehenen NOR-Glied 318 angelegt-werden, tritt der in Fig. 9F gezeigte einzige Ausgangsimpuls auf; der anzeigt, daß das untersuchte Objekt fehlerfrei ist. Daher wird vom Zähler 320 kein Ausstoß- oder Rückstoßsignal an die Ausstoßvorrichtung 322 in Fig. 8 gesendet.
  • Falls die Oberfläche des Produkts Fehler aufweist, etwa zwei Fehl-er, dann ergeben sich die Signalverläufe gemäß Fig. 10. In Fig. 10A ist das entsprechende Videosignal (a) dargestellt, das zwei Einsenkungen S4 und S5 besitzt, die zwei Kratzer, Unreinheiten oder andere Oberflächenfehler des untersuchten Produkts kennzeichnen. Das Videosignal (a) schneidet die Bezugsspannung e1 viermal, zweimal mit positiver Steigung und zweimal mit negativer Steigung. Anders ausgedrückt steigt das Videosignal (a) zweimal über die Bezugsspannung e 1 und fäl.l.t-zweimal. unter diese. Die Folge davon ist, daß das Signal sig1 gemäß Darstellung in Fig 1OB zweimal den Zustand "1" aufweist. Das Flipflop 306a wird von der ersten Abfallflanke des Signals sig1 nach der Ver--zögerungszcit T eingeschaltet bzw gesetzt und erzeugt das Signal sig1 das in Fig. lOE gezeigt ist. Die Einsenkung im im Videosignal (a) führt im Ausgangssignal sig3 vom Vergleicher 303c zu mehreren "1"-Zuständen, wie dies in Fig. lOB gezeigt ist. Das Signal am Q-Ausgang des Flipflops 306c, das als sig'3 in Fig. 10D gezeigt ist, wird an der ersten Abfailfianke des Signals sig3 in denZustand "1"' gesetzt und bleibt in diesem Zustand bis das Horizontalrücklaufsignal hb das Flipflop 306c löscht. Das Ausgangssignal NG1 vom NAND-Glied 308a -zeigt einen Impuls, das heißt eine "0", die dem Anstieg des Videosignals (a) nach der Einsenkung S4 entspricht. Das Ausgangss-ignal NG3 des NAND-Glieds 308c (Fig. 1OE) zeigt einen Impuls, das heißt eine "0". Werden die Ausgangssignale aller NAND-Glieder -an das NOR-Glied 318 angelegt, dann ergibt sich das bei Fig. lOF gezeigte Signal, das zwei Impulse (zweimal den Zustand "0") aufweist. Diese Impulse werden vom- Zähler 320 gezählt und, da die Anzahl dieser Impulse 1 übersteigt, wird ein Ausstoß signal erzeugt und an die Ausstoßvorrichtung 322 geliefert.
  • Lediglich als Beispiel sei angemerkt, daß die Vergleicher 303a bis 303n vom Typ ßPC71A der Firma Nippon Electric Co.Ltd. sein können. Die Flipflops 306a bis 306n können vom Typ SN74107 der Firma Texas Instruments sein. Die NAND-Glieder 308a bis 308n können vom Typ SN7400 der Firma Texas Instruments sein Das NOR-Glied 318 kann vom Typ SN7430 der Firma -Texas Instruments sein. Die Schieberegister 252 und 262 können vom Typ SN74164 der Firma Texas Instruments sein.
  • Leerseite

Claims (9)

  1. Patentansprüche Verfaren zur Prüfung der Oberflchenbeschaffenheit es Produkts durch Erzeugen eines wenigstens einen Teil der Oberfläche repräsentierenden Videosignais, dadurch g e k e n n z e i c h n e t , daß die Anzahl der Zustände mit der Steiqung null im Videosignal gezählt wird und daß ein Fehlersignal erzeugt wird, wenn diese Anzahl den Wert eins übersteigt.
  2. 2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t , daß das Zählen der Anzahl von Zuständen der Steigung null an einer Vielzahl vorbesti>.mter Bezugspegel im Videosignal durchgeführt wird.
  3. 3. Verfahren nach einem der vorhergehenden Ansprüche, g e k e n n z e i c h n e t durch den zusätzlichen Schritt des Ausstoßens des geprüften Produkts als Antwort auf das Fehlersignal.
  4. 4. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 oder 3, g e -k e n n z e i c h n e t durch die zusätzlichen Schritte des Erzeugens eines oberen und eine unteren Schwellenwertsignals aus dem Videosignal, des Feststellens jedes- Uberquerens des oberen Schwellenwertsignals durch das Videosignal in einer positiven Richtung sowie jedes Uberquerens des unteren Schwellenwertsignals- durch das Videosignal in einer negativen Richtung und des Erzeugens des Fehlersignals, falls die Anzahl dieser Uberquerungen den Wert eins übersteigt.
  5. 5. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens nach einem der vorhergehenden Ansprüche, g e k e n n z e i.c h n e t durch eine Videosignalerzeugungseinrichtung (10) zur Erzeugung eines wenigstens einen Teil der Oberfläche des Produkts <18) repr sentierenden Videosignals (a), eine an die Videosignalerzeugungseinrichtung (10) angeschlossene Detektoreinrichtung'iur Feststellung jeglichen Zustands der Steigung null im Videosignal (a), eine Zähleinrichtung (48; 320), die an die Detektoreinrichtung angeschlossen ist, um die Anzahl der ermittelten Zustände der Steigung null zu zählen und eine Fehlersignalerzeugungseinrichtung (48; 320), die an die Zähleinrichtung angeschlossen ist, um ein Fehlers-ignal zu erzeugen, wenn die.Zählung mehr als einen Zustand der Steigung null im Videosignal (a) ergibt.
  6. 6. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t , daß die Detektoreinr.iciltung umfaßt: einen oberen Schwellenwertsignaigenerator (34, 35, 50, 52) und einen uni-eren Schwellenwerts ignalgcnerator (30, 76, 60, 62); eine mit- dem oberen Schwellenwertsignalgenerator und der Videosignalerzeugungseinrichtung, (10) verbundene obere Vergleichseinrichtung (38), die einen Ausgangsimpuls erzeugt, wenn das Videosignal das obere Schwellenwertsignal in positiver Richtung kreuzt; eine mit dem unteren Schwellenwertsignalgenerator und der Videosignalerzeugungseinrichtung <1-0) verbundene untere Vergleichseinrichtung (26) , die einen Ausgangsimpuls erzeugt, wenn das Videosignal das untere Schwellenwertsignal in negativer Richtung kreuzt; und eine jeweils mit der oberen und der unteren Vergleichseinrichtung verbundene Zähleinrichtung (48), die ein Fehlersignal (i) erzeugt, wenn die Anzahl dieser Ausgangsimpulse den Wert eins übersteigt.
  7. 7. Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t , daß die Detektoreinrichtung eine Vielzahl von Vergleichseinrichtungen (303a bis 303n) aufweist, die je einen Bezugsafl-schluß (302a bis 302n), einen Signaleingangsanschluß und einen Ausgangsanschluß aufweisen, wobei jeder -Bezugsanschluß mit einer bestimmten festen Spannung beaufschlagt ist.
  8. 8. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 5 bis 7, dadurch g- e k e n n z e- i c h n e t , daß die Videosignalerzeugungseinrichtung (10) ein Videoraster mit horizontalen und vertikalen Abtastzeilen erzeugt, und daß eine Rücksetzeinrichtung vorhanden ist, um die Detektoreinrichtung nach jeder Horizontalabtastzeile in Videosignal (a) zurückzusetzen.
  9. 9. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 5 bis 8, g e -k e n n z e i c h n e t durch eine Produktausstoßeinrichtung (49; 322), die mit der Fehlersignalerzeugungseinrichtung (48; 320) verbunden ist und als Antwort,auE ein Fehlersignal das Produkt ausstößt.
    -10. Vorrichtung nach Anspruch 8, dadurch g e k e n n -z e i c h n e t , daß die Rücksetzeinrichtung mit der Videosignalerzeugungseinrichtung (10) verbunden ist und als Antwort auf einen Horizontalrücklauf impuls (hb) die Detektoreinrichtung zurück setzt.
DE19803021072 1980-06-04 1980-06-04 Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten Granted DE3021072A1 (de)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19803021072 DE3021072A1 (de) 1980-06-04 1980-06-04 Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19803021072 DE3021072A1 (de) 1980-06-04 1980-06-04 Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten

Publications (2)

Publication Number Publication Date
DE3021072A1 true DE3021072A1 (de) 1981-12-10
DE3021072C2 DE3021072C2 (de) 1988-06-16

Family

ID=6103891

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19803021072 Granted DE3021072A1 (de) 1980-06-04 1980-06-04 Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten

Country Status (1)

Country Link
DE (1) DE3021072A1 (de)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3337468A1 (de) * 1983-10-14 1985-04-25 Optische Werke G. Rodenstock, 8000 München Verfahren und vorrichtung zur pruefung der oberflaeche von bauteilen
DE3500332A1 (de) * 1984-01-26 1985-08-01 Hajime Industries, Ltd., Tokio/Tokyo Oberflaechenpruefapparat fuer einen gegenstand

Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE4309978C1 (de) * 1993-03-29 1994-06-09 Norbert Kraemer Verfahren und Vorrichtung zum automatischen Prüfen und Qualitätsbestimmen von Tabletten oder Pillen
DE19616708A1 (de) * 1996-04-26 1997-10-30 Wolfgang Hoermle Vorrichtung zur Vermessung und Sortierung von Werkstücken

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2937335A1 (de) * 1978-11-24 1980-05-29 Kanebo Ltd Pruefsystem fuer das aeussere erscheinungsbild von gegenstaenden

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE2937335A1 (de) * 1978-11-24 1980-05-29 Kanebo Ltd Pruefsystem fuer das aeussere erscheinungsbild von gegenstaenden

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3337468A1 (de) * 1983-10-14 1985-04-25 Optische Werke G. Rodenstock, 8000 München Verfahren und vorrichtung zur pruefung der oberflaeche von bauteilen
DE3500332A1 (de) * 1984-01-26 1985-08-01 Hajime Industries, Ltd., Tokio/Tokyo Oberflaechenpruefapparat fuer einen gegenstand

Also Published As

Publication number Publication date
DE3021072C2 (de) 1988-06-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE3215800C2 (de) Vorrichtung zur Aussonderung fehlerhafter Objekte
DE3012559C2 (de)
EP0012724B1 (de) Verfahren zur maschinellen Beurteilung der Druckqualität eines Druckerzeugnisses sowie Vorrichtung zu dessen Durchführung
DE3013833C2 (de) Vorrichtung zur Prüfung eines auf einem Gegenstand befindlichen Musters auf Fehler
DE3415004C2 (de)
DE2830846C2 (de) Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in flächenhaften Mustern, insbesondere in Photomasken
DE3012400C2 (de) Verfahren zur Überwachung der Bitfehlerrate
DE1135226B (de) Anordnung zum maschinellen Auswerten von Zeichen
DE2518202A1 (de) Inspektionsvorrichtung fuer den rand von glasbehaeltern
EP0184254A2 (de) Schaltungsanordnung zum Unterscheiden der beiden Halbbilder in einem Fernsehsignal
DE3028942A1 (de) Verfahren und inspektionsgeraet zum inspizieren eines gegenstandes, insbesondere einer flasche
DE2723707A1 (de) Taktgeberschaltung
DE2736288A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur feststellung und aussonderung von fremdkoerpern
DE2241724B2 (de) Verfahren und vorrichtung zur aufbereitung von durch einen teilchenanalysator erzeugten impulsen
DE2653590B2 (de) Vorrichtung zum Ermitteln von Fehlern in flächenhaften Mustern, insbesondere in Photomasken
DE2847619C2 (de)
DE68912557T2 (de) Verfahren und gerät zum lesen von zeichen.
DE929822C (de) Vorrichtung zum Zaehlen von Teilchen
DE1166522B (de) Anordnung zum lichtelektrischen Abtasten von Schriftzeichen
DE3021072A1 (de) Verfahren und vorrichtung zur automatischen pruefung von produkten
DE1929850A1 (de) Schaltungspruefeinrichtung
DE69019734T2 (de) Sortiervorrichtung mit pünktlicher Photobehandlung.
DE3019473C2 (de) Logikanalysator
CH644952A5 (de) Geraet zur zerstoerungsfreien materialpruefung.
DE2705936A1 (de) Verfahren und anordnung zur elektronischen bildanalyse

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
D2 Grant after examination
8364 No opposition during term of opposition
8320 Willingness to grant licences declared (paragraph 23)
8339 Ceased/non-payment of the annual fee
8328 Change in the person/name/address of the agent

Free format text: HOFFMANN, E., DIPL.-ING., PAT.-ANW., 82166 GRAEFELFING