DE2818742A1 - Geraet zur laengenmessung - Google Patents
Geraet zur laengenmessungInfo
- Publication number
- DE2818742A1 DE2818742A1 DE19782818742 DE2818742A DE2818742A1 DE 2818742 A1 DE2818742 A1 DE 2818742A1 DE 19782818742 DE19782818742 DE 19782818742 DE 2818742 A DE2818742 A DE 2818742A DE 2818742 A1 DE2818742 A1 DE 2818742A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- phase
- signals
- signal
- input
- shifted
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 13
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 title claims description 4
- 230000010363 phase shift Effects 0.000 claims abstract description 15
- 230000001419 dependent effect Effects 0.000 claims description 3
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract 1
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 description 3
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D5/00—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable
- G01D5/26—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light
- G01D5/32—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light
- G01D5/34—Mechanical means for transferring the output of a sensing member; Means for converting the output of a sensing member to another variable where the form or nature of the sensing member does not constrain the means for converting; Transducers not specially adapted for a specific variable characterised by optical transfer means, i.e. using infrared, visible, or ultraviolet light with attenuation or whole or partial obturation of beams of light the beams of light being detected by photocells
- G01D5/36—Forming the light into pulses
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Optical Transform (AREA)
Description
- Gerät zur Längenmessung
- Die erfindung betrifft ein Gerät zur Längenmessung mit einer Abtasteinrichtung für einen inkrementalen Maßstab, die wenigstens zwei gegeneinander versetzte, fotoelektrische Abtasteinheiten aufweist, welche bei der Verstellung entlang des Maßstabes gegeneinander phasenverschobene, etwa sinusförmige Analogsignale mit der Meßteilung entsprechender Wellenlänge erzeugen und über einstellbare Verstärkerstufen mit einer erarbeitungsstufe verbunden sind, in der aus den Analogsignalen durch Mehrfachauswertung und Umwandlung digitale, richtungsebhängige Steuersignale für Zähler und Anzeigeeinrichtungen erzeugbar sind.
- Bei derartigen Geräten erfolgt die Abtastung der inkrementalen Teilung aus Strichen und Lücken gleicher Breite meist mit Hilfe von Abtasteinheitenint Gegenplatten in Abtastfeldern, die ebenfalls je eine inkrementale Teilung mit Strich und Lücke aufweisen und den zugehörigen fotoelektrischen Abtasteinheiten zugeordnet sind. Die Inkrementalteilung, also die Summe aus einem Strich und einer Lücke, beträgt typisch 0,2 mm, Meist erfolgt die Abtastung über wenigstens vier Abtasteinheiten, die gegeneinander im Sinne einer gleichmäßigen Aufteilung des Inkrementalmaßstabes versetzt sind, also in einem Abstand von einer an sich beliebigen Anzahl ganzer Grundteilungen plus 1/4, 2/4 und 3/4 der Grundteilung, bezogen auf die erste Abtasteinheit, angeordnet sind. Durch Zusammenschaltung von je zwei Abgriffen werden bei der Abstastung, also bei der Verstellung der Abtasteinrichtung gegenüber uem Maßstab, zwei phasenverschobene, analoge Sinussignale erzeugt. Zur Erzielung einer exakten Messung sollte die Phasenverschiebung zwischen diesen beiden Signalen genau 900 betragen. Meist wird durch einen Inverter aus den erwähnten beiden Signalen noch ein drittes Signal gebildet, so daß für die Weiterverarbeitung dann drei sinusförmige Analogsignale mit den Soll-Phasenlagen o0, 900 und 1800 zur Verfügung stehen. Durch Mehrfachauswertung, z.B. über Spannungsteiler, werden aus diesen Signalen dann Meßsignale erhalten. TTpischerweise werden 20 Meßsignale gebildet, die untereinander gleiche Phasenverschiebungen aufweisen sollen. Bei dem genannten Beispiel einer Meßteilung von 0,2 mm wird elektronisch eine Unterteilung auf 0,01 min vorgenommen. Nach einer Möglichkeit werden diese Signale über Verstärkerkomparatoren, die jeweils beim wTulldurchgang des Eingangssignales einen positiven oder negativen Pegel abgeben, zu digitalen Qteuersignalen weiterverarbeitet, die als Zählimpulse dienen können. Da in der einen Richtung der Verstellung der Abtasteinheit gegenüber dem Maßstab das eine Analogsignal dem anderen und in der anderen Verstellrichtung das andere Analogsignal voreilt, kann man auch eine richtungsabhängige Steuerung der Zähler od.dgl. vornehmen und z.B.
- beim Verstellen in der einen Pichtung zum Zählerstand summieren und bei der anderen Verstellrichtung subtrahieren.
- Zusätzlich zu der erwähnten Mehrfachauswertung kann noch eine Interpolationsanzeige zur Erhöhung der Anzeigegenauigkeit auf My vorgenommen werden.
- Die Genauigkeit der elektronischen Unterteilung und damit die Meßgenauigkeit hängt in entscheidendem Maße davon ab, wie genau der 90°-Abstand zwischen den beiden phasenverschobenen Meßsignalen eingehalten werden kann. Praktisch muß bei dem genannten Beispiel die Verschiebung der Abtastfelder gegenüber dem Maßstab exakt von der Deckung mit diesem Maßstab bei dem einen Abtastfeld, bezogen auf dieses, 0,05 mm zur Erzielung einer 900-igen Verstellung betragen. Die Abtasteinheiten können beispielsweise neben diesen Abtastfeldern mit Fototransistoren und Leuchtdioden ausgestattet sein. Alle diese Teile müßten exakt ausgerichtet werden, um genau die richtige Phasenverschiebung zu erhalten. In der Praxis ist dies unmöglich. Selbst bei ursprünglich exakter Ausrichtung auf die Abtasteinheit kann es schon durch ein minimales Verrücken beim Festlöten der elektronischen Bauteile wieder zu Verschiebungen gegenüber der Sollphasenenstellung kommen. In der Praxis ist mit größeren Verstellungen gegenüber der Sollphasenlage zu rechnen.
- Es werden Toleranzgrenzen von 20% ohne weiteres zugelassen. Derartige Abtasteinheiten gelten sogar noch als gut. Hier beträgt also die Phasenverschiebung bei dem analogen ingangssignal nicht 90, sondern 70 bzw. 1100.
- Bei einer solchen Phasenverschiebung ist bei dem genannten Beispiel der Unterteilung der Eingangssignale auf das Zwanzigfache der Fehler in der Phasenverschiebung größer als der Phasenabstand der aus der Vervielfacherschaltung erhaltenen und später zu den Meßsignalen verarbeiteten Analogignale. Daraus ergibt sich in der Praxis, daß in der diesen vervielfachten Signalen zugeordneten Anzeigestelle, beim erwähnten Beispiel in der Anzeige der Hundertstelmillimeter (10 2mm), ein Fehler auftritt, also eine bestimmte Stelle angezeigt werden kann, obwohl richtigerweise noch die vorherige oder schon die nächste angezeigt werden müßte. Es erfolgt zwar keine Aufaddierung dieses Fehlers von Teilung zu Teilung, doch wird die Anzeige im genannten Bereich mit der angegebenen Toleranz von beispielsweise 0,01 mm ungenau. Schon wegen des genannten mechanischen Fehlers ist es daher bisher sinnlos, eine weitere elektronische Unterteilung des Grundmaßstabes vorzunehmen und auch eine Interpolationsanzeige in einer weiteren Anzeigestelle (My) vorzunehmen. Es wäre an sich möglich, die Ableseeinheiten auf der Abtasteinrichtung mit Feintrieben zu versehen, um eine Nachjustierung auf exakte Phasenabstände vorzunehmen. Daraus wUrde sich aber ein äußerst komplizierter mechanischer Aufbau und zusätzlich die Gefahr ergeben, daß es bei auftretenden Erschütterungen u.dgl. zu geringfügigen Verstellungen kommt, so daß wieder der Phasenfehler auftritt.
- Aufgabe der Erfindung ist die Schaffung eines Gerätes, bei dem mit einfachen Mitteln der bisher in Kauf genommene Phasenfehler ausgeglichen werden kann und eine Einstellung der Analogsignale auf die richtige Phasenverschiebung möglich ist.
- Die gestellte Aufgabe wird dadurch gelöst, daß zur Einstellung der Phasenverschiebung der Analogsignale, die im Leitungszug des einen Signales liegende Verstärkerstufe als Mischstufe ausgebildet ist, bei der der eine Eingang mit den zugehörigen Abtasteinrichtungen verbunden ist und der andere Eingang an einer vom anderen Analogsignal abgeleiteten, über Stellglieder einstellbaren, analogen Regelspannung liegt.
- Die Erfindung geht von der Erkenntnis aus, daß der mechanische Fehler bei der Abtastung praktisch unvermeidlich ist, praktisch aber dadurch ausgeglichen werden kann, daß man das eine Analogsignal unverändert läßt und das zweite zur Weiterverarbeitung geführte Signal nicht nur aus dem zweiten Analogsignal von der Abtastung, sondern aus der Summe dieses Signals mit dem zur Verfügung stehenden ersten Analogsignal bildet. Uber Stellglieder kann, wie erwähnt, der Anteil der vom ersten Signal abgeleiteten Regelspannung am Ausgangs Signal der Verstärkerstufe für das andere Signal exakt eingestellt werden. Die Toleranzgrenze in der Phasenverschiebung kann dadurch weitgehend herabgesetzt werden, wobei in der Praxis die Phasenverschiebung auf 10 genau ohne weiteres eingestellt werden kann. Damit wird der mechanische Fehler praktisch beseitigt,und es wird die Meßgenauigkeit erhöht, so daß beim eingangs genannten Beispiel eine Anzeige im 10-2 mm- und 10 3 mm-Bereich sinnvoll ist.
- In der Zeichnung ist als Ausftihrungsbeispiel der wesentliche Bereich der Schaltgruppe eines erfindungsgemäßen Gerätes veranschaulicht. Es ist eine Abtasteinheit I, II vorgesehen. Zwischen diesen beiden Einheiten können über einen Inkrementalmaßstab gemeinsam mit den Einheiten I, II verstellbare Abtastfelder mit der Inkrementalteilung entsprechender Teilung vorgesehen sein, die untereinander aber phasenverschoben sind, z.B. jeweils in Abständen von n + 1/4 T angeordnet werden, wobei n eine ganze Zahl mal der Teilung und T die Teilung ist. In der Pbtastgruppe I sind Leuchtdioden D1 bis D4 vorgesehen. Diese beleuchten durch die erwähnten Abtastfelder hindurch Fototransistoren T1 bis T4, so daß in diesen bei der Verstellung der Abtasteinheit I, II entlang des Inkrementalmaßstabes gegeneinander phasenverschobene Analogsignale entstehen.
- Die Signale aus den Transistoren T1 und T2 sowie den Transis-toren T3 und T4 werden über Vorwiderstände und je einen Regelwiderstand P1 zw. R2 zusammengefaßt, so daß in am flegelwiderstand R1 bzw. R2 anliegenden Leitungen 1. 2 zwei gegeneinander phasenverschobene Signale geführt werden. Die Sollphasenverschiebung beträgt 900. In der Praxis wird die Phasenverschiebung zwischen 60 und 1200 ausmachen.
- Um an Ausgängen A1, A2 zwei tatsächlich innerhalb ganz geringer Toleranzen um 90 phasenverschobene Analogsignale zu erhalten, die in weiterer Folge, wie beschrieben, durch Vervielfältigung und Umwandlung in digitale Meßsignale umgeformt werden, ist die im Mittelteil des Schaltschemas dargestellte Schaltung vorgesehen.
- Das auf der Leitung 2 liegende Signal wird zu dem einen Eingang eines Operationsverstärkers V2 geführt. Die Leitung liegt ebenfalls an dem einen Eingang eines Operationsverstärkers V1.
- 1Der zweite Eingang des Operationsvrstärers V2 liegt an einer über einen Widerstand Rw regelbaren Spannung. Mit Hilfe der Widerstände R2 und R3 kann daher das Ausgangssignal an A2 exakt eingestellt werden. R2 dient dabei der Einstellung der Symmetrie und R3 der instellung der Signalamplitude.
- Beim Operationsverstärker VI, der als echte Mischstufe arbeitet, ist zwar der zweite Eingang wieder über einen PLegelwiderstand R4 für die Einstellung der Signalamplitude vorgesehen. Zusätzlich liegt an diesem ringang aber eine über eine Leitung 5%geführte, von dem zum Ausgang A2 geführten Signal abgeleitete Regelspannung. Diese Regelspannung wird von einem Operationsverstärker Vz erhalten, der am einen Eingang an einem konstanten Bezugspegel liegt und am anderen Eingang von der zu A2 führenden Leitung ein Signal erhält, das verstärkt wird und einem Regelpotentiometer Ru zugeführt wird, an dessen Abgriff die Leitung 3 liegt.
- Am Ausgang A1 erhält man daher ein Signal, das praktisch der Summe aus den auf den Leitungen 1 und 2 laufenden Signalen entspricht, wobei aber der Anteil des Signales aus 2 über R5 genau eingestellt werden kann. Damit kann die Phasenlage des Signales an A1 exakt auf 900 gegenüber dem Signal auf A2 eingestellt werden. Die Überprüfung auf richtige Phasenverschiebung kann beispielsweise auf einem Oszillografen erfolgen, wenn man die beiden Signale der Horizontal- und Vertikalablenkung zuführt, so daß bei richtiger Einstellung ein Kreis angezeigt wird.
- L e e r s e i t e
Claims (1)
- Patentanspruch: Gerät zur Längenmessung mit einer Abtasteinrichtung für einen inkrementalen Maßstab, die wenigstens zwei gegeneinander versetzte, fotoelektrische Abtasteinheiten aufweist, welche bei der Verstellung entlang des Maßstabes gegeneinander phasenverschobene, etwa sinusförmige Analogsignale mit der Meßteilung entsprechender wellenlänge erzeugen und über einstellbare Verstärkerstufen mit einer Verarbeitungsstufe verbunden sind, in der aus den enalogsignalen durch Mehrfachaufwertung und Umwandlung digitale richtungsabhängige Steuersignale für Zähler und Anzeigeeinrichtungen erzeugbar sind, dadurch gekennzeichnet, daß zur Einstellung der Phasenverschiebung der Analogsignale die im Leitungszweig (1, A1) des einen Signales liegende Verstärkerstufe (V1) als Mischstufe ausgebildet ist, von der der eine Eingang mit der zugehörigen Abtasteinrichtung (T1, T2) verbunden ist, und der andere Eingang an einer vom anderen Signal abgeleiteten, über Stellglieder (V3, R5) einstellbaren, analogen Regelspannung liegt.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
AT337377A AT387655B (de) | 1977-05-11 | 1977-05-11 | Geraet zur laengenmessung |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2818742A1 true DE2818742A1 (de) | 1978-11-16 |
DE2818742C2 DE2818742C2 (de) | 1989-07-13 |
Family
ID=3549535
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19782818742 Granted DE2818742A1 (de) | 1977-05-11 | 1978-04-28 | Geraet zur laengenmessung |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
AT (1) | AT387655B (de) |
DE (1) | DE2818742A1 (de) |
Cited By (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3125184A1 (de) * | 1981-06-26 | 1983-01-13 | Adolf 7118 Ingelfingen Mütsch | "elektrooptische messvorrichtung" |
DE3229846A1 (de) * | 1982-08-11 | 1984-02-16 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Laengen- oder winkelmesseinrichtung |
DE3307931A1 (de) * | 1983-03-05 | 1984-09-06 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Digitales elektrisches laengen- oder winkelmesssystem |
JPS62187212A (ja) * | 1986-02-14 | 1987-08-15 | Fanuc Ltd | 位相差補正付位置検出器 |
EP0302194A2 (de) * | 1987-08-07 | 1989-02-08 | Dr. Johannes Heidenhain GmbH | Positionsmesseinrichtung mit mehreren Abtaststellen |
DE3929239A1 (de) * | 1989-09-02 | 1991-03-07 | Teldix Gmbh | Ringlaserkreisel |
DE4017898A1 (de) * | 1990-06-02 | 1991-12-05 | Hengstler Gmbh | Optisches abtastsystem fuer dreh- oder linear-impulsgeber |
DE102004043448A1 (de) * | 2004-09-06 | 2006-03-23 | Lenord, Bauer & Co. Gmbh | Verfahren zur elektronischen Kalibrierung mechanischer Fertigungstoleranzen von Positionssensoren |
Families Citing this family (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE4141000B4 (de) * | 1990-12-13 | 2010-11-25 | Papst Licensing Gmbh & Co. Kg | Anordnungen und Verfahren zur Messung von Drehwinkeln |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1208087B (de) * | 1964-04-22 | 1965-12-30 | Wenczler & Heidenhain | Einrichtung zum Messen von Laengen mittels Impulszaehlung |
-
1977
- 1977-05-11 AT AT337377A patent/AT387655B/de not_active IP Right Cessation
-
1978
- 1978-04-28 DE DE19782818742 patent/DE2818742A1/de active Granted
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1208087B (de) * | 1964-04-22 | 1965-12-30 | Wenczler & Heidenhain | Einrichtung zum Messen von Laengen mittels Impulszaehlung |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
DE-Z.: Journal of the Optical Society of America Vol. 45, No. 10, Oktober 1955, S. 795-797 * |
Cited By (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3125184A1 (de) * | 1981-06-26 | 1983-01-13 | Adolf 7118 Ingelfingen Mütsch | "elektrooptische messvorrichtung" |
DE3229846A1 (de) * | 1982-08-11 | 1984-02-16 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Laengen- oder winkelmesseinrichtung |
DE3307931A1 (de) * | 1983-03-05 | 1984-09-06 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh, 8225 Traunreut | Digitales elektrisches laengen- oder winkelmesssystem |
EP0121652A1 (de) * | 1983-03-05 | 1984-10-17 | Dr. Johannes Heidenhain GmbH | Digitales elektrisches Längen- oder Winkelmesssystem |
US4628201A (en) * | 1983-03-05 | 1986-12-09 | Dr. Johannes Heidenhain Gmbh | Scanning signal balancing circuit |
JPS62187212A (ja) * | 1986-02-14 | 1987-08-15 | Fanuc Ltd | 位相差補正付位置検出器 |
EP0302194A2 (de) * | 1987-08-07 | 1989-02-08 | Dr. Johannes Heidenhain GmbH | Positionsmesseinrichtung mit mehreren Abtaststellen |
EP0302194A3 (de) * | 1987-08-07 | 1993-05-19 | Dr. Johannes Heidenhain GmbH | Positionsmesseinrichtung mit mehreren Abtaststellen |
DE3929239A1 (de) * | 1989-09-02 | 1991-03-07 | Teldix Gmbh | Ringlaserkreisel |
DE4017898A1 (de) * | 1990-06-02 | 1991-12-05 | Hengstler Gmbh | Optisches abtastsystem fuer dreh- oder linear-impulsgeber |
DE102004043448A1 (de) * | 2004-09-06 | 2006-03-23 | Lenord, Bauer & Co. Gmbh | Verfahren zur elektronischen Kalibrierung mechanischer Fertigungstoleranzen von Positionssensoren |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
ATA337377A (de) | 1985-08-15 |
DE2818742C2 (de) | 1989-07-13 |
AT387655B (de) | 1989-02-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE3239108C2 (de) | ||
EP0163824B1 (de) | Photoelektrische Messeinrichtung | |
DE2235318A1 (de) | Verfahren zur opto-elektronischen messung von durch umwelteinfluesse in der entfernung begrenzter punkte nach abstand und relativer hoehe und anordnung zur durchfuehrung dieses verfahrens | |
EP0268558A2 (de) | Längen- oder Winkelmesseinrichtung | |
DE2232194A1 (de) | Koordinatentisch | |
DE19605472C2 (de) | Interpolationsschaltung für eine Meßeinrichtung | |
DE2818742C2 (de) | ||
CH434776A (de) | Einrichtung zum Messen von Längen mittels Impulszählung | |
DE1925100B2 (de) | Verschiebungs-MeBeinrichtung | |
DE2237032C3 (de) | Winkelmesser | |
EP0222136A2 (de) | Nullimpulserzeuger zur Erzeugung eines Impulses bei Erreichen einer vorgegebenen Lage eines Trägers | |
DE2642925C2 (de) | Inkrementale Längenmeßeinrichtung | |
EP0145698B1 (de) | Verfahren zum Messen von Längen und Winkeln auf optoelektronischem Wege und Messeinrichtung zur Durchführung des Verfahrens | |
DE4327136C2 (de) | Analoger Rampengenerator mit digitaler Korrektur | |
DD225497A1 (de) | Einrichtung und verfahren zum messen und einstellen von laengen | |
DE3788147T2 (de) | Integratoren. | |
DE3723412C2 (de) | Analog-Digitalumsetzer für Kameras | |
DE3417015A1 (de) | Interpolationsverfahren | |
EP0399989B1 (de) | Inkrementales Messsystem | |
DE2659536C2 (de) | Meßeinrichtung zur Ermittlung von Lage- oder Maßveranderungen bei Bauoder Maschinenteilen | |
DE2552359B2 (de) | Belichtungswertanzeigeeinrichtung mit einer Digitalanzeige für einen gemessenen oder eingestellten Belichtungswert | |
AT397872B (de) | Inkrementales messsystem | |
CH645980A5 (en) | Method for determining measured values when scanning a material measure | |
DE3000378A1 (de) | Detektoranordnung fuer laengen- und winkelmessysteme | |
DE2262065C3 (de) | Fotoelektrischer Schrittgeber |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8110 | Request for examination paragraph 44 | ||
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01B 11/02 |
|
8125 | Change of the main classification |
Ipc: G01B 11/00 |
|
D2 | Grant after examination | ||
8363 | Opposition against the patent | ||
8331 | Complete revocation |