DE2640450A1 - Verfahren zum einstellen der frequenz-temperaturcharakteristik eines quarzoszillators - Google Patents

Verfahren zum einstellen der frequenz-temperaturcharakteristik eines quarzoszillators

Info

Publication number
DE2640450A1
DE2640450A1 DE19762640450 DE2640450A DE2640450A1 DE 2640450 A1 DE2640450 A1 DE 2640450A1 DE 19762640450 DE19762640450 DE 19762640450 DE 2640450 A DE2640450 A DE 2640450A DE 2640450 A1 DE2640450 A1 DE 2640450A1
Authority
DE
Germany
Prior art keywords
frequency
quartz
quartz oscillator
temperature coefficient
quartz crystal
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Ceased
Application number
DE19762640450
Other languages
English (en)
Inventor
Hitoshi Ikeno
Mitsuyuki Sugita
Hirobumi Yanagi
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seikosha KK
Original Assignee
Seikosha KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Seikosha KK filed Critical Seikosha KK
Publication of DE2640450A1 publication Critical patent/DE2640450A1/de
Ceased legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G04HOROLOGY
    • G04FTIME-INTERVAL MEASURING
    • G04F5/00Apparatus for producing preselected time intervals for use as timing standards
    • G04F5/04Apparatus for producing preselected time intervals for use as timing standards using oscillators with electromechanical resonators producing electric oscillations or timing pulses
    • G04F5/06Apparatus for producing preselected time intervals for use as timing standards using oscillators with electromechanical resonators producing electric oscillations or timing pulses using piezoelectric resonators
    • G04F5/063Constructional details
    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03HIMPEDANCE NETWORKS, e.g. RESONANT CIRCUITS; RESONATORS
    • H03H3/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators
    • H03H3/007Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks
    • H03H3/02Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks
    • H03H3/04Apparatus or processes specially adapted for the manufacture of impedance networks, resonating circuits, resonators for the manufacture of electromechanical resonators or networks for the manufacture of piezoelectric or electrostrictive resonators or networks for obtaining desired frequency or temperature coefficient
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/42Piezoelectric device making
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y10TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC
    • Y10TTECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER US CLASSIFICATION
    • Y10T29/00Metal working
    • Y10T29/49Method of mechanical manufacture
    • Y10T29/49002Electrical device making
    • Y10T29/49004Electrical device making including measuring or testing of device or component part

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Piezo-Electric Or Mechanical Vibrators, Or Delay Or Filter Circuits (AREA)
  • Electric Clocks (AREA)

Description

Anmelder; Kabushiki Kaisha Seikosha, Tokyo, Japan
Verfahren zum Einstellen der Frequenz-Temperaturcharakteristik eines Quarzoszillators
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Einstellung der Freguenz-Temperaturcharakteristik eines Quarzoszillators mit einem einen GT-Schnitt aufweisenden Schwingquarz.
Die temperaturabhängigen Einflüsse auf die Frequenz eines Schwingquarzes mit einem GT-Schnitt werden durch die Kopplung zwischen der Schwingung der kürzeren Seite und <äer längeren Seite verursacht. Die Kopplung wird durch Polieren der kürzeren oder der längeren Seite geändert und die beste Temperaturcharakteristik wird bei einem bestimmten Verhältnis der kürzeren zu der längeren Seite erzielt. Bei einem Schwingquarz mit einem GT-Schnitt wird die Schwingung der kürzeren Seite als Hauptschwingung verwandt. Das wichtigste Merkmal ist darin zu sehen, daß sich die Frequenz selbst dann nicht wesentlich ändert, wenn die Richtung der längeren Seite eingestellt wird, und daß das Einstellen der Frequenz und das Einstellen des Temperaturkoeffizienten unabhängig durchgeführt werden kann. Im folgenden soll die Beziehung zwischen dem Seitenverhältnis und dem Temperaturkoeffizienten erläutert werden. Die graphische
70981 1/0819
Darsteilung in Fig. 2 zeigt die Temperatircharakteristik eines Schwingquarzes mit einem GT-Schnitt. Auf de.r Ordinate ist der Temperaturkoeffizient und auf der Abszisse das Seitenverhältnis von kürzerer Seite zu längerer Seite w/1 (vergl. Fig. 1) aufgetragen. Normalerweise wird der Temperaturkoeffizient bei einem Seitenverhältnis von etwa 0,85 gleich Null.,Aus der Figur ist ersichtlich, daß innerhalb eines gewissen Abmessungsbereichs alle Schwingquarze mit einem Seitenverhältnis von- a einen Temperaturkoeffizienten b besitzen. Fig. 3 zeigt Beispiele von Schwingquarzen, deren Temperaturkoeffizienten gleich Null sind und deren Seitenverhältnisse a betragen. Die Schwingquarze 1-3 besitzen drei ähnliche Umrisse, ein identisches Seitenverhältnis und denselben Temperaturkoeffizienten. Die geeigneten Frequenzen der betreffenden Schwingquarze unterscheiden sich jedoch und werden durch die Länge w, w. und w„ der kürzeren Seite bestimmt. Die Eigenfrequenz des"Schwingquarzes 1 ist größer als diejenige des Schwingquarzes 2 und die Eigenfrequenz des Schwingquarzes 3 ist größer als diejenige des Schwingquarzes 1.
Im folgenden soll ein bekanntes Verfahren zum Einstellen der Frequenz und des Temperaturkoeffizienten beschrieben werden, in Fig. 4 ist ein Schwingquarz 1 mit ausgezogenen Linien dargestellt, welcher mit den dargestellten Abmessungen hergestellt werden soll. Es handelt sich um einen Schwingquarz, der gemäß Fig. 2 den Temperaturkoeffizienten Null (Seitenverhältnis a = w,/l,) und dessen Sollfrequenz f. ist.
Ein durch gestrichelte Linien in Fig. 4 dargestellter Schwingquarz 4 ist ähnlich wie ein ebenfalls in gestrichelten Linien dargestellter Schwingquarz'5 ausgebildet. Die Sollfrequenz des Schwingquarzes 5 ist größer als diejenige des Schwingquarzes 4 (f_>f.) . Ein Schwingquarz 6, der in gestrichelten Linien dargestellt ist, hat eine Breite w_, die gleich derjenigen des Schwingquarzes 4 ist, aber eine etwas größere Länger (!'2^I3)* Unter dieser Voraussetzung ist der Temperaturkoeffizient des Schwingquarzes 6 "negativ" im Vergleich zu derjenigen des Schwingquarzes 4 und die Sollfrequenzen f., fß der beiden
70981 1 /0819
Schwingquarze sind im wesentlichen gleich.
Anhand der Fig. 4 soll ferner ein bekanntes Verfahren 'zum Einstellen eines Schwingquarzes mit einem GT-Schnitt beschrieben werden:
(1) Ein Schwingquarz 6, der eine etwas kleinere Sollfrequenz als der Schwingquarz 1 besitzt, sowie einaiim Vergleich dazu negativen Temperaturkoeffizienten, wird zunächst hergestellt. Deshalb ist f..>f,.
Ib . .
(2) Im Hinblick auf die Tempe ratur char akter is.t ikwird die längere Seite 1' zu der.Länge 1„ poliert. Dadurch wird der Schwingquarz 4 mit einem Temperaturkoeffizienten O hergestellt. Es gilt dann noch, daß f. > f. ist.
(3) Der Schwingquarz 4 wird auf den Umriß des Schwingquarzes 1 verkleinert, dessen Sollfrequenz f- und dessen Temperaturkoeffizient O ist."
Bei diesem Verfahren ist es deshalb erforderlich, daß bei der Frequenzeinstellung nach der Einstellung des Temperaturkoeffizienten, das Seitenverhältnis und der Temperaturkoeffizient durch Polieren der Breite w_ zu der Breite w, bzw. der Länge I2 zu der Länge 1. geändert werden. Die Feineinstellung ist deshalb sehr aufwendig und es ist sehr schwierig, eine zufriedenstellende Einstellung sowohl des Temperaturkoeffizienten als auch der Frequenz durchzuführen.
Es ist deshalb Aufgabe der Erfindung, ein Verfahren dieser Art unter möglichst weitgehender Vermeidung der genannten Nachteile und Schwierigkeiten derart zu verbessern, daß die Soll— frequenz des Schwingquarzes ohne Änderung des Seitenverhältnisses des Schwingquarzes selbst eingestellt werden kann. Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch den Gegenstand des Patentanspruchs gelöst.
Bei diesem Verfahren erfolgt die Einstellung des Temperaturkoeffizienten in der-Form des Schwingquarzes 4 in Fig. 4, wonach zum Einstellen der Sollfrequenz ein beispielsweise aufgedampfter Elektrodenfilm im Bereich der kürzeren Seitenrichtung des Schwingquarzes 4 beispielsweise durch einen Laser-
709811/0819
strähl oder einen Luftstrahl entfernt wird. Auf diese Weise kann die SoLIfrequenz ohne Änderung des Seitenverhältnisses eingestellt werden, welches den Temperaturkoeffizfenten bestimmt, so daß eine wesentlich einfachere Frequenzeinstellung erfolgen kann.
Anhand der Zeichnung soll die Erfindung beispielsweise näher erläutert werden. Es zeigen:
Fig. 1-4 graphische Darstellungen zur Erläuterung des bekannten Stands der Technik; und
Fig. 5-9 Ansichten eines Schwingquarzes in unterschiedlichen Bearbeitungszuständen, die zur Erläuterung des Verfahrens gemäß der Erfindung dienen.
Fig. 5 zeigt die Anordnung eines Schwingquarz-Rohlings 7, der mit einem Elektrodenfilm 8 versehen und mit Hilfe einer Stützfeder 9 auf einer Stützstruktur angeordnet ist, die ein Trägersubstrat 10, eine Basis 11 fü'r eine Kaltverschweißung und Stifte 12 enthält. Der in Fig. 6 dargestellte Schwingquarz-Rohling 7 besitzt die Abmessungen 1 = 9,350, w = 8,03 und t = 0,65 mm. Fig. 7 zeigt die Ausbildung eines Elektrodenfilms 8a. Die Elektrode bedeckt die gesamte Oberfläche.. Fig. 8 zeigt den Zustand nach Entfernung von Randstreifen· 8b von etwa 1,0 mm Breite -auf der Vorderseite und auf der Rückseite des Schwingquarzes.
Bei diesem Ausführungsbeispiel besteht der Elektrodenfilm aus Gold und hat eine Dicke von etwa lOOO 8. Da bei einem Schwingquarz mit einem GT-Schnitt die Schwingung der kürzeren Seite genutzt wird, wird die Sollfrequenz derart geändert, daß der aufgedampfte Elektrodenfilm 8a mit Hilfe eines Laserstrahls, Luftstrahls oder dergleichen in Richtung der kürzeren Seite entlang Randstreifen 8b oder Stellen 8c (Fig. 9) entfernt wird. Bei diesem Ausführungsbeispiel betrug die Frequenzänderung etwa Af/f = +500 P.P.M.
Bei einer derartigen Bearbeitung wurden keine bemerkenswerten Änderungen der Temperaturcharakteristik und der Kristallimpedanz festgestellt, die von der Bearbeitung des Elektrodenfilms herrühren. Derartige Einflüsse können auf ein ver-
709811/0819
26A0A50
nachlässigbares Ausmaß verringert werden, wenn eine punktförmige Durchlöcherung 8c mit Hilfe eines Laserstrahls entsprechend dem Ausführungsbeispiel in Fig. 9 erfolgt.
Im folgenden soll das eigentliche Verfahren zur Einstellung des Schwingquarzes mit einem GT-Schnitt näher erläutert werden. Der Schwingquarz wird entsprechend der Darstellung in Fig. 5 montiert, wonach die Temperaturcharakteristik gemessen wird. Eine Seite in der Richtung einer längeren Seite wird in diesem zusammengebauten Zustand poliert, um den Temperatur- koeffizienten auf Null einzustellen. Zum Einstellen der Sollfrequenz wird der Elektrodenfilm 8a teilweise entlang äußeren Randteilen in Richtung der kürzeren Seite durch Verwendung eines Laserstrahls oder dergleichen entfernt, so daß die Elektrode die in Fig. 8 oder 9 dargestellte Ausbildung aufweist. In Fig.' 8 und 9 sind mit 8b und. 8c diejenigen Bereiche bezeichnet, in denen der Elektrodenfilm entfernt wurde. Bei der Einstellung einer derartigen Sollfrequenz wird das die Temperaturcharakteristik bestimmende Seitenverhältnis nicht geändert. Deshalb wird dadurch der Temperaturkoeffizient praktisch nicht geändert und durch ein derartiges Verfahren wird die Frequenzeinstellung des Schwingquarzes wesentlich vereinfacht.
Bei der Einstellung der Frequenz kann wahlweise auch ein Verfahren durchgeführt werden, bei dem auf den Elektrodenfilm 8a Gettermaterial aufgetragen wird.
Nach der Einstellung des Frequenz-Temperaturkoeffizienten auf Null wird deshalb beispielsweise mit Hilfe eines Laserstrahls der Elektrodenfilm modifiziert, so daß dann der Einstell Vorgang beendet werden kann. Dadurch können die Nachteile bekannter Verfahren vermieden werden, bei denen erhebliche Schwierigkeiten bei der Einstellung bestehen, die eine Erhöhung des Ausschusses und höhere Herstellungskosten verursachen.
7098 11/0819

Claims (1)

  1. Patentanspruch
    Verfahren zur Einstellung der Frequenz-Temperaturcharakteristik eines einen GT-Schnitt aufweisenden Schwingquarzes, dadurch gekennzeichnet, daß das Seitenverhältnis zwischen einer längeren Seite und einer kürzeren Seite des Schwingquarzes zur Erzielung des Temperaturkoeffizienten Null eingestellt wird, und daß dann ohne Änderung des Seitenverhältnisses ein Elektrodenfilm zur Einstellung einer gewünschten Frequenz modifiziert wird.
    7098 11/0819
DE19762640450 1975-09-10 1976-09-08 Verfahren zum einstellen der frequenz-temperaturcharakteristik eines quarzoszillators Ceased DE2640450A1 (de)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP50109803A JPS6051283B2 (ja) 1975-09-10 1975-09-10 Gtカツト水晶振動子の周波数温度特性調整法

Publications (1)

Publication Number Publication Date
DE2640450A1 true DE2640450A1 (de) 1977-03-17

Family

ID=14519598

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
DE19762640450 Ceased DE2640450A1 (de) 1975-09-10 1976-09-08 Verfahren zum einstellen der frequenz-temperaturcharakteristik eines quarzoszillators

Country Status (7)

Country Link
US (1) US4050126A (de)
JP (1) JPS6051283B2 (de)
CH (1) CH596672A5 (de)
DE (1) DE2640450A1 (de)
FR (1) FR2324160A1 (de)
GB (1) GB1524265A (de)
HK (1) HK43681A (de)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3217721A1 (de) * 1981-05-15 1982-12-02 Kabushiki Kaisha Daini Seikosha, Tokyo Verfahren zur einstellung der resonanzfrequenz eines kopplungsresonators

Families Citing this family (20)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB1592010A (en) * 1977-01-12 1981-07-01 Suwa Seikosha Kk Contour vibrator
US4284872A (en) * 1978-01-13 1981-08-18 Burr-Brown Research Corporation Method for thermal testing and compensation of integrated circuits
US4320320A (en) * 1978-12-01 1982-03-16 Kabushiki Kaisha Suwa Seikosha Coupled mode tuning fork type quartz crystal vibrator
JPS5585119A (en) * 1978-12-21 1980-06-26 Seiko Instr & Electronics Ltd Piezoelectric oscillator of profile oscillation mode
US4190937A (en) * 1979-01-02 1980-03-04 The Stoneleigh Trust, Fred M. Dellorfano, Jr. & Donald P. Massa, Trustees Method of manufacturing electroacoustic transducer elements which operate in the vicinity of resonance
US4375604A (en) * 1981-02-27 1983-03-01 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Army Method of angle correcting doubly rotated crystal resonators
US4447753A (en) * 1981-03-25 1984-05-08 Seiko Instruments & Electronics Ltd. Miniature GT-cut quartz resonator
JPS585018A (ja) * 1981-06-30 1983-01-12 Seiko Instr & Electronics Ltd 小型gtカツト水晶振動子
JPS57183115A (en) * 1981-05-07 1982-11-11 Seiko Instr & Electronics Ltd Small-sized gt-cut quartz oscillator
JPS57157616A (en) * 1981-03-25 1982-09-29 Seiko Instr & Electronics Ltd Gt-cut quartz oscillator
JPS5833308A (ja) * 1981-08-21 1983-02-26 Seiko Instr & Electronics Ltd 結合水晶振動子
GB2117968B (en) * 1982-03-16 1986-04-23 Seiko Instr & Electronics Gt-cut piezo-electric resonator
WO1984000082A1 (en) * 1982-06-14 1984-01-05 Gte Prod Corp Trimming of piezoelectric components
US4455500A (en) * 1983-07-28 1984-06-19 Western Geophysical Company Of America Sensitivity and capacitance adjustment method for piezoelectric accelerometers
US4678891A (en) * 1984-10-18 1987-07-07 American Telephone And Telegraph Company, At&T Technologies Method for adjusting an electrical device by electrode trimming
JPS647349A (en) * 1988-05-19 1989-01-11 Nippon Telegraph & Telephone Optical memory medium
JPH06268462A (ja) * 1993-03-12 1994-09-22 Seiko Electronic Components Ltd Ns−gtカット水晶振動子の周波数調整方法
US5495135A (en) * 1994-09-21 1996-02-27 Motorola, Inc. Piezoelectric resonator with an attenuated spurious response
JP2008035358A (ja) * 2006-07-31 2008-02-14 Hitachi Media Electoronics Co Ltd 薄膜圧電バルク波共振器及びそれを用いた高周波フィルタ
JP5237976B2 (ja) * 2008-02-16 2013-07-17 セイコーインスツル株式会社 圧電振動子、圧電振動子の製造方法、発振器、電子機器及び電波時計

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1929994C (de) * 1971-09-30 Siemens AG, 1000 Berlin u 8000 München Verfahren zum Frequenzabgleich mecha nischer Resonatoren

Family Cites Families (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB479987A (en) * 1936-06-12 1938-02-15 Standard Telephones Cables Ltd Piezo-electric crystal devices
FR1327673A (fr) * 1961-08-10 1963-05-17 Telefunken Patent Procédé de mise au point de la fréquence d'un corps oscillant piézoélectrique, et récipient tenant le vide pour la mise en oeuvre de ce procédé
US3913195A (en) * 1974-05-28 1975-10-21 William D Beaver Method of making piezoelectric devices

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE1929994C (de) * 1971-09-30 Siemens AG, 1000 Berlin u 8000 München Verfahren zum Frequenzabgleich mecha nischer Resonatoren

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE3217721A1 (de) * 1981-05-15 1982-12-02 Kabushiki Kaisha Daini Seikosha, Tokyo Verfahren zur einstellung der resonanzfrequenz eines kopplungsresonators

Also Published As

Publication number Publication date
CH596672A5 (de) 1978-03-15
HK43681A (en) 1981-09-04
GB1524265A (en) 1978-09-13
JPS6051283B2 (ja) 1985-11-13
FR2324160B1 (de) 1981-12-31
JPS5233492A (en) 1977-03-14
FR2324160A1 (fr) 1977-04-08
US4050126A (en) 1977-09-27

Similar Documents

Publication Publication Date Title
DE2640450A1 (de) Verfahren zum einstellen der frequenz-temperaturcharakteristik eines quarzoszillators
DE68907487T2 (de) Verfahren und Apparat zur Herstellung eines magnetischen Aufzeichnungsträgers.
DE2749696C2 (de) Verfahren zum Zusammenkitten von Kristallen und Anwendung derselben
DE2839535C2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Meßkörpers für Interferenzmessungen von Schichtdicken eines einkristallinen Körpers und Verwendung dieses Meßkörpers für die Herstellung eines Halbleiterkörpers
DE19854729C2 (de) Verfahren zum Herstellen eines Oberflächenwellenbauelements und zum Einstellen von dessen Beriebsfrequenz
DE3108166A1 (de) Stimmgabelquarzkristallschwinger mit schwingungskopplung
DE3210578A1 (de) Schwingquarz
DE2750144A1 (de) Vorrichtung fuer elastische oberflaechenwellen
DE2903872C2 (de) Verfahren zur Ausbildung von Mustern mittels Maskenbedampfungstechnik
DE102012107614A1 (de) Eingestellter dielektrischer Wellenleiterfilter und Verfahren zu dessen Einstellung
DE2239687C3 (de) Verfahren zum Ätzen eines mehrschichtigen Halbleiterkörpers mit einem flüssigen Ätzmittel
DE4008920C2 (de) Verfahren zum Herstellen eines longitudinal schwingenden mechanischen Koppelfilters und mechanisches Koppelfilter
DE68910955T2 (de) Wellenleiter-einrichtung für einen kontinuierlich arbeitenden tintenstrahldrucker.
DE1814029C3 (de) Verfahren zur Erzeugung einkristalliner und polykristalliner Halbleiterbereiche auf einem inkristallinen Halbleitersubstrat für die Herstellung von Halbleiterbauelementen
DE2239696B2 (de) Piezoelektrischer Hochfrequenz-Dickenresonator und Verfahren zu seiner Herstellung
DE112006000272T5 (de) Piezoelektrischer Resonator und Verfahren zur Herstellung desselben
DE69102173T2 (de) Verfahren zur Herstellung eines Magnetkopfes.
DE2355661C3 (de) Magnetempfindliches Dünnschichthalbleiterbauelement und Verfahren zu seiner Herstellung
DE68919808T2 (de) Herstellungsverfahren für akustische Oberflächenwellenanordnungen und auf diese Weise hergestellte akustische Oberflächenwellenanordnungen.
DE3217501C2 (de) Verfahren zum Herstellen einer ionenimplantierten Schicht eines Magnetblasenspeicher-Bauelements
DE2835107C3 (de) Wandlerelektrodenanordnung für einen elektromechanischen Wandler nach dem Oberflächenwellenprinzip
DE69029938T2 (de) Ultraschallsonde und verfahren zur herstellung derselben
DE69416368T2 (de) Akustische Oberflächenwellenanordnung und Verfahren zu deren Herstellung
DE3434213C2 (de)
DE924350C (de) Verfahren zum Aufbau von Magnetkoepfen mit einem oder mehreren Arbeitsspalten

Legal Events

Date Code Title Description
8110 Request for examination paragraph 44
8131 Rejection