DE2530816C3 - Wirbelstromprüfgerät zum Abtasten der Oberfläche eines Prüfteils - Google Patents
Wirbelstromprüfgerät zum Abtasten der Oberfläche eines PrüfteilsInfo
- Publication number
- DE2530816C3 DE2530816C3 DE19752530816 DE2530816A DE2530816C3 DE 2530816 C3 DE2530816 C3 DE 2530816C3 DE 19752530816 DE19752530816 DE 19752530816 DE 2530816 A DE2530816 A DE 2530816A DE 2530816 C3 DE2530816 C3 DE 2530816C3
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- voltage
- test
- eddy current
- resistors
- control
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
Landscapes
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein Wirbelstromprüfgerät zum Abtasten der Oberfläche eines Prüfteüs auf Inhomogenitäten, mit mindestens einer Prüfsonde, die in der zu
prüfenden Oberfläche Wirbelströme hervorruft, auf deren Rückwirkungen reagiert und aufgrund dieser
Rückwirkungen in Abhängigkeit von den Inhomogenitäten der Oberfläche Prüfsignale abgibt, deren Höhe
vom Abstand der Prüfsonde zur zu prüfenden Oberfläche moduliert wird, mit einer Führungseinrichtung, die die Prüfsonde in einer vorgesehenen Bahn
entlang der zu prüfenden Oberfläche führt, mit einer Steuereinrichtung zum Steuern der Höhe der Prüfsignale, mit Mitteln zum Ableiten einer Steuerspannung,
deren Höhe vom Abstand der Prüfsonde zur zu prüfenden Oberfläche abhängt und mit Mitteln zum
Anschließen der Steuerspannung an die Steuereinrichtung.
Ein solches Wirbelstromprüfgerät ist bekannt z. B. aus der Offenlegungsschrift DE-OS 17 73 501. Die in
Figur 10 der genannten Druckschrift dargestellte Prüfanordnung enthält eine Wirbelstromsonde zum
Ableiten von Prüfsignalen in Abhängigkeit von Inhomogenitäten der zu prüfenden Oberfläche und
einen steuerbaren Verstärker zum Verstärken dieser Prüfsignale. Die Steuersignale zum Steuern des
Verstärkers werden aus der Erregerwicklung der Wirbelstromsonde gewonnen, die einen speziell für
diesen Zweck entworfenen besonderen Aufbau aufweist. Die Erregerwicklung besteht nämlich aus zwei
Teilwicklungen, von denen die eine mit der Prüfteiloberfläche eng gekoppelt ist, die andere von ihr weitgehend
entkoppelt ist, von denen also die eine sehr stark, die andere nur in geringem Maße auf Änderungen des
Abstandes zwischen Prüfteiloberfläche und Wirbelstromsonde reagiert. Beide Teilwicklungen sind in
Brücke geschaltet, so daß am Brückenausgang eine Steuerspannung ansteht, die eine bestimmte Funktion
des Prüfteilabstandes darstellt. Ziel der Verstärkungssteuerung ist es, solche Verstärkungswerte einzustellen,
die geeignet sind, die Änderungen der Höhe der Prüfsignale in Abhängigkeit vom Prüfteilabstand zu
kompensieren. Soll dieses Ziel erreicht werden, so müssen innerhalb des ganzen Regelbereichs drei
Funktionen recht genau aufeinander abgestimmt sein: die Funktion der Steuerspannung vom Prüfteilabstand,
die Funktion der Prüfsignalhöhe vom Prüfteilabstand und die Funktion der Verstärkung des steuerbaren
Verstärkers von der Steuerspannung.
Obwohl diese drei Funktionen durch eine Reihe von Parametern beeinflußt werden können, gelang es in
Wirklichkeit immer nur in einem kleinen Prüfteilabstandsbereich,
die gewünschte genaue Abstimmung herzustellen, je weiter man sich von der Mitte dieses
Bereiches entfernte, umso größere Abweichungen mußten in Kauf genommen werden. Darüber hinaus war ι ο
das Herstellen dieser Abstimmung in jedem Fall eine schwierige und unübersichtliche Aufgabe, die überdies
für jede abweichende SondencharakteristiU neu durchzuführen war. In der Praxis wurde als steuerbarer
Verstärker ein Röhrenverstärker benutzt, dessen Regelkennlinie durch die Wahl des Arbeitspunktes
bestimmt wurde, wobei natürlich mit jeder Änderung des Arbeitspunktes auch die mittlere Verstärkung
nachgestellt werden mußte. Aus den oben angegebenen Gründen, d.h. wegen der Unmöglichkeit die drei _>o
Funktionen über einen größeren Bereich aufeinander abzustimmen, war auch in der Praxis eine statische
Steuerung nicht durchführbar. Der Gleichstromanteil der Steuerspannung mußte durch einen Kondensator
abgetrennt werden, so daß nur die Änderungen des Prüfteilabstandes, z. B. durch exzentrische Lage eines
rundum abgetasteten zylindrischen Prüfteils, nicht aber der Prüfteilabstand an sich, zur Steuerung herangezogen
wurde. Erlaubte Dimensionstoleranzen des Prüfteils konnten so nach wie vor die Prüfsignalhöhe beeinflussen
und so die Anzeige der Größe von Inhomogenitäten verzerren, z. B. die Durchmessertoleranzen eines
rundum abgetasteten zylindrischen Prüfteils.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Wirbelstromprüfgerät der eingangs beschriebenen i>
Gattung zu schaffen, bei dem in einem erheblich größeren Abstandsbereich als bisher durch genaue
Kompensation die Höhe des Prüfsignals von Änderungen des Prüfteilabstandes und vom absoluten Betrag des
Prüfteilabstandes unabhängig gemacht werden kann. Der dazu erforderliche Abgleichvorgang soll einfach
durchzuführen und für jede beliebige Sondencharakteristik anwendbar sein.
Die erfindungsgemäße Lösung der Aufgabe besteht in einem Wirbelstromprüfgerät gemäß Patentanspruch «
I. In dem so definierten Wirbelstromprüfgerät sind die beiden Funktionen »Prüfsignalhöhe in Abhängigkeit
vom Prüfteilabstand« und »Steuerspannung in Abhängigkeit vom Prüfteilabstand« nicht miteinander verknüpft
durch ein Regelglied mit relativ starr gegebener w Regelkennlinie, sondern durch ein Netzwerk, das den
jeweiligen Bedürfnissen durch die Wahl der Teilerelemente leicht angepaßt werden kann. Ein Umrüsten auf
Sonden beliebiger Charakteristik wird leicht durchführbar. Der ausnutzbare Abstandsbereich ist praktisch π
unbegrenzt, solange die zur Verfügung stehende Steuerspannung einen ausreichenden Gradienten aufweist.
Die Auflösung der Kompensation ist eine Frage des Aufwandes, je größer bei gegebenem Abstandsbereich
die Zahl der Spannungsdiskriminatoren gewählt t>o
wird, in umso feineren Stufen kann die Kompensation erfolgen.
Eine vorteilhafte Ausgestaltung der Erfindung besteht in einer einfachen Möglichkeit zur Anzeige des
momentanen Prüfteilabstandes durch Leuchtsignale. Bei der Umfangsablastuiiy von zylindrischen Prüfteilen
ergibt sich damit eine einfache Hilfe für das zentrische Einstellen des Prüfteils bezüglich der rotierenden
Abtasteinrichtung, da Exzentrizität des Prüfteils ein
Band von Leuchtsignalen verursacht, das beim Herstellen der zentrischen Lage des Prüfteils auf ein einziges
Leuchtsignal zusammenschrumpft Weitere Ausgestaltungen der Erfindung werden in den Unteransprüchen
genannt
In der nachfolgenden Beschreibung wird die Erfindung an Hand von Beispielen mit Hilfe einiger Figuren
erläutert. Die Figuren zeigen im einzelnen
F i g. 1 eine Wirbelstromsonde
F i g. 2 die Kennlinien der Sonde nach F i g. 1
F i g. 3 die schematische Darstellung einer Abtasteinrichtung
F i g. 1 eine Wirbelstromsonde
F i g. 2 die Kennlinien der Sonde nach F i g. 1
F i g. 3 die schematische Darstellung einer Abtasteinrichtung
Fig.4 das Schaltbild eines Wirbelstromprüfgerätes
mit Abstandskompensation
F i g. 5 eine andere Wirbelstromsonde
F i g. 6 die Kennlinien der Sonde nach F i g. 5
F i g. 7 das Schaltbild eines Wirbelstromprüfgerätes mit abgewandelter Abstandskompv nation.
F i g. 5 eine andere Wirbelstromsonde
F i g. 6 die Kennlinien der Sonde nach F i g. 5
F i g. 7 das Schaltbild eines Wirbelstromprüfgerätes mit abgewandelter Abstandskompv nation.
F i g. 1 zeigt eine Wirbelstromsonde ί, ähnlich der in
den eingangs erwähnten, schon bekannten Wirbelstromprüfgerät verwendeten, die auch in dem Schaltbild
von F i g. 4 wiedergegeben wird. Sonde 1 besitzt einen Kern ?. aus ferromagnetischem Material, der z. B. aus
zwei Rücken an Rücken geklebten ZT-Kernen bestehen kann und der drei obere, der Oberfläche des Prüfteils
zugewandte Arme 3, 4, 5 sowie drei untere derselben abgewandte Arme 6, 7, 8 aufweist Der mittlere obere
Arm 4 ist durch einen Einschnitt in zwei Enden 9 und 10 aufgeteilt. Die drei Wicklungen 11, 13, 17 der Sonde 1
bestehen aus Teilwicklungen, von denen der Einfachheit halber zumeist nur eine einzige Windung dargestellt ist
und die in bestimmter Weise um die Arme des Kernes 2 geschlungen sind.
Erregerwicklung 11 besitzt Anschlüsse 12 und ist um
die Arme 3, 5, 6 und 8 geschlungen. Gespeist von einer geeigneten Wechselstromquelle erzeugt die Erregerwicklung
11 in den Armen 3, 5, 6 und 8 einen magnetischen Fluß. Der von den Armen 3 und 5
ausgehende Fluß durchdringt die den Armen 3 und 5 gegenüberliegende Oberfläche des hier nicht dargestellten
Prüfteils und erzeugt in diesem Wirbelströme.
Empfängerwicklung 13 mit Anschlüssen 14 besteht aus zwei Teilwicklungen 15,16, die in entgegengesetztem
Wickelsinn um die beiden Enden 9,10 des Armes 4 gewickelt sind. Alternativ dazu kann die Empfängerwicklung
11 sich auch aus einer Anzahl 8-förmig um die beiden Enden 9, 10 geschlungener Einzelwindungen
zusammensetzen. Im Normalfall heben sich die vom sekundären Wirbelstromfeld in den Teilwicklungen 15,
16 induzierten Spannungssignale auf, so daß an den Anschlüssen 14 keine Spannung ansteht. Überlaufen
jedoch beim Abtasten einer Prüfteiloberfläche die beiden Enden 9, 10 des Kernes 2 nacheinander eine
Inhomogenität der Oberfläche, z. B. einen Riß, so bewirkt die von diesem hervorgerufene Verzerrung des
Wirbelstromfeldes unterschiedliche induzierte Spannungen in den Teilwicklungen 15, 16 und somit eine
Prüfsignalspannung an den Anschlüssen 14. Die Höhe der Prüfsignalspannung ist umso größer, je geringer der
Abstand zwischen den Oberflächen der Enden 9,10 und der Oberfläche des Prüfteils, im folgenden kurz der
Prüfteilabstand ist.
In Fig.2 gibt Kurvt E die relative Höhe der
Prüfsignalspannung für einen Riß bestimmter Tiefe in Abhängigkeit vom Prüfteilabstand wieder. Wie man
sieht, fällt die Prüfsignalspannung bei einer Abstandszunahme von nur 1 mm auf einen Bruchteil ihres
vorherigen Wertes ab. so daß eine wesentlich geringere Rißtiefe vorgetäuscht wird als die tatsächlich vorliegende.
Wicklung 17, die sogenannte Abstandswicklung, ist
ebenfalls auf die Arme 3, 5, 6, 8 gewickelt, jedoch besitzen die auf die unteren, dem Prüfteil abgewandten
Arme 6. 8 gewickelten Teilwicklungen bezüglich der Erregerwicklung den umgekehrten Wickelsinn. Sind
beispielsweise alle Teilwicklungen der Erregerwicklung 11 und der Abstandswicklung 17 gleich dimensioniert, so
ergibt sich an den Anschlüssen 18 die Spannung Null, wenn der Prüfteilabstand sehr groß wird. Verringert
man den Prüfteilabstand, so steigt die Spannung der Abstandswicklung rasch an. Kurve A in Fig. 2 gibt die
relative Höhe dieser Spannung, die im folgenden wegen ihrer Verwendung als Steuerspannung bezeichnet wird,
in Abhängigkeit vom Priilteüabstand wieder.
Fig. 3 vermittelt eine stark vereinfachte Darstellung
eines Schnittes durch eine Abtasteinrichtung mit einem Rotierkopf 21, der zum spiraligen Abtasten der
Oberfläche eines langgestreckten zylindrischen Prüfteils 22 durch zwei Sonden 1 dient. Der Rotierkopf 21 wird
angetrieben von einem Motor 23 über einen Treibriemen 25. Das Prüfteil 22 ist bezüglich der Achse des
Rotierkopfes 21 exzentrisch angeordnet. Infolgedessen ändert sich der Prüfteilabstand für beide Sonden 1
periodisch mit jedem Umlauf. Das bedeutet jedoch, daß ohne eine entsprechende Kompensation die Höhe der
Prüfsignalspannung eines Risses 24 von der zufälligen Lage dieses Risses abhängen würde.
Fig. 4 stellt das vereinfachte Blockschaltbild eines Wirbelstromprüfgerätes dar, in dem die Abstandsabhängigkeit
voll auskompensiert wird. Die Erregerwicklung 11 der Sonde 1 wird gespeist von einer
Wechselstromquelle 31. Die Prüfsignalspannung der Empfängerwicklung 13 gelangt über einen Vorverstärker
32 zum Eingang eines phasenselektiven Gleichrichters 33, der seine Referenzspannung über einen
Phasenschieber 29 aus der Wechselstromquelle 31 «»»•hol« r\oc AnmexAttltarto Dt-ijfcitrnol <τρ|αησ! vnm
Ausgang des phasenselektiven Gleichrichters 33 über einen Tiefpaß 34 zur Unterdrückung der Trägerrestspannung,
über eine Teilerstufe 35 zur Einstellung der Geräteempfindlichkeit und über einen Hochpaß 36 zur
Unterdrückung von Störsignalen zum invertierenden Eingang eines Operationsverstärkers 37. dessen Verstärkung
praktisch ausschließlich vom Teilungsverhältnis der eingesetzten Gegenkopplungswiderstände bestimmt
wird. Im ,orliegenden Falle ergibt sich das Teilungsverhältnis der Gegenkopplung und damit die
Verstärkung des Operationsverstärkers 37 aus dem Widerstand 47 und der Parallelschaltung des Widerstandes
48 mit einer Reihe weiterer Widerstände, wie weiter unten noch näher erläutert wird. In einem weiteren
Tiefpaß 38 kann die Ausgangsspannung des Operationsverstärkers 37 von eventuell auftretenden Umschaltspitzen
gereinigt werden. Die an Klemme 30 anstehende Prüfsignalspannung wird in bekannter Weise weiter
verarbeitet, etwa durch Anzeige am Bildschirm eines Oszillograph 39, durch einen oder mehrere auf
bestimmte Fehlertiefe eingestellte Amplitudendiskriminatoren, die eine Markierung der Fehlerstelle auslösen
oder durch Aufzeichnen mittels Registriergerät.
Die Steuerspannung aus der Abstandswicklung 17 gelangt über einen Vorverstärker 28, einen Tiefpaß 40
zur Unterdrückung eventueller Oberwellen, ein Teilerglied 41 zur Einstellung der Verstärkung im Steuerspannungskanal
an den Eingang eines Demodulators 42. Die demodulierte Steuerspannung wird in einem liefpaß 43
von Trägerrestspannung befreit, in einem Verstärker 44 weiter verstärkt und kann durch ein Voltmeter 45
angezeigt werden.
■> Weiter gelangt die demodulierte Steuerspannung an den Eingang eines Spannungsteilers 46 mit den
Widerständen 51—55, die bis auf Widerstand 51 gleich groß sein können. Die Ausgänge des Spannungsteilers
46 sind jeweils mit dem positiven Eingang eines von fünf
in Komparatoren 61—65 verbunden. Am negativen
F.ingang jedes der Komparatoren 61—65 liegt eine gemeinsame Referenzspannung Ur, die von der
Versorgungsspannung Ub mittels eines Vorwiderstandes
56 und einer Referenzdiode 57 gewonnen wird. Die Komparatoren 61—65 sind so ausgelegt, daß an ihrem
Ausgang nur zwei stabile Signale möglich sind, nämlich »I« bei Überschreiten der Referenzspannung ür durch
die Spannung an den positiven Eingängen und »0« beim Unterschreiten derselben. Die Komparatoren 61—65
M stellen zusammen mit dem Teiler 46 eine Reihe von Spannungsdiskriminatoren dar, deren Ausgangssignale
anzeigen, ob die Steuerspannung am Eingang des Teilers 46 eine bestimmte Schwellenspannung überschritten
hat. Mit wachsender Stcuerspannung, d. h. mit
-'■> abnehmendem Prüfteilabstand, wird erst am Ausgang
des Kon^arators 65 danach sukzessive auch an den übrigen Ausgängen 64—61 das Signal»!« erscheinen.
Eine Alternative zur vorliegenden Spannungsdiskri minatorschaltung besteht darin, an die positiven
i" Eingänge der Komparatoren 61—65 gemeinsam die
Steuerspannung zu führen und an die negativen Eingänge eine Reihe unterschiedlicher Referenzspannungen
zu legen, die man durch Teilen einer Referenzspannung oder durch eine Serie von Referenz-
ii dioden gewonnen hat. Für beide Alternativen gilt, daß
eine umso feinere Auflösung der Stcuerspannung erfolgt, je größer die Anzahl der verwendeten
Komparatoren ist.
Die Ausgänge der Komparatoren 61 —65 sind mit den
.in PincräriiT^n ,alAWtrrmicrhpr ^rhaltpr 7t—75 vprhnnHpn
deren Ausgänge bei vorliegendem Eingangssignal die Widerstände 81 —85 parallel zu Gegenkopplungswiderstand
48 schalten. Liegt bei keinem der elektronischen Schalter 71 —75 ein Eingangssignal vor. also bei großem
■>'>
Prüfteilabstand. ist keiner der Widerstände 81—85 eingeschaltet Aus den Widerständen 47 und 48 ergibt
sich die maximal mögliche Verstärkung. Mit abnehmenden Prüfteilabstand werden der Reihe nach die
Widerstände 85—81 parallel zu Widerstand 48 gewgt
ίο und damit die Verstärkung schrittweise reduziert, bis im
Extremfall alle Widerstände 85—81 parallel zu Widerstand 48 geschaltet sind, wenn die Steuerspannung die
Schwellenspannung des letzten Komparators 61 überschritten hat.
Beim Abgleich kann man wie folgt vorgehen. Man legt zunächst die Grenzen des auszuregelnden Prüfbereichs
fest. Dazu stellt man erst die Sonde auf den größten noch zu kompensierenden Prüfteilabstand ein
und stellt den Teiler 41 so ein, daß Komparator 65
to soeben anspricht. Danach stellt man die Sonde auf den
kleinsten noch auszuregelnden Prüfteilabstand ein und stellt Widerstand 51 auf einen solchen Wert, daß
Komparator 61 soeben noch anspricht Damit sind die Grenzen des gewünschten Regelbereiches bestimmt
Sodann gleicht man die Steuerwiderstände 81—85 ab. Dazu läßt man die Sonde über einen mittleren Fehler
laufen und variiert den Prüfteilabstand so, daß nacheinander die Komparatoren 65—61 ansprechen.
Dabei werden jeweils die Widerstände 85—81 so eingestellt, daß die Höhe der am Oszillographen 39
angezeigten PrUfsignalspannung für alle Prüfteilabstande gleich bleibt.
Mit einfachen Mitteln kann der Signalzustand der Ko^paratoren 61—63 und damit der Prüfteilabstand
der Sonde durch Signallampen zur Anzeige gebracht werden. In der im folgenden beschriebenen Schaltung
wird darüber hinaus durch das Aufleuchten der beiden äußeren Signallampen angezeigt, daß der gewünschte
Prüfbereich unter- bzw. überschritten wurde. Die Ausgänge der Komparatoren 61—65 sind einerseits mit
den Eingängen invertierender Gatter 91—95 und andererseits mit je einem Eingang von Und-Gattern
101 — 105 verbunden. Die Ausgänge der invertierenden Gatter 91—95 sind mit den zweiten Eingängen der
Und-Gatter 102—105 und mit einem Eingang eines Und-Gatters 106 verbunden. An je einem Eingang der
beiden Und-Gatter 101 und 106 liegt dauernd ein dem Signal »1« entsprechendes Potentiat. An die Ausgänge
der Und-Gatter 101-106 sind Signallampen 111-116,
z. B. Leuchtdioden, angeschlossen, von denen die beiden äußeren (111 und 116) rot, die übrigen gelb und eine in
der Mitte des Bereichs gelegene grün eingefärbt sein können. Führt der Ausgang des !Comparators 65 das
Signal »0«, ist also der Prüfteilabstand der Sonde so groß, daß er außerhalb des gewünschten Meßbereichs
liegt, so erhalten beide Eingänge des Und-Gatters 106 d".s Signal »1« und die rote Signallampe 116 leuchtet.
Sobald Komparator 65 Signal »I« an seinem Ausgang führt, verliert ein Eingang des Und-Gatters 106 über
Invertiergatter 95 seine Signalbasis und Signallampe 116 erlischt. Beide Eingänge des Und-Gatters 105
erhalten jetzt Signal »1« und Signallampe 115 leuchtet
auf. So geht es fort, bis nach Ansprechen des Komparators 61. also nach Unterschreiten des kleinsten
gewünschten Prüfteiläbstandes der Sonde, die beiden Eingänge des Und-Gatters 101 Signal »1« führen und
die rote Signallampe 111 aufleuchtet.
Aus Gründen der Anschaulichkeit hat man sich im vorliegenden Beispiel aui die Darstellung von !um
Spannungsdiskriminatoren und fünf Schaltern beschränkt. In einem praktischen Anwendungsfall sind
jeweils 24 Sätze eingesetzt worden, womit eine genügend feine Unterteilung des Abstandsbereichs
gewährleistet war.
Wie schon weiter oben mitgeteilt, kann die mittlere Signallampe eine andere Farbe haben und durch ihr
Aufleuchten anzeigen, daß die Sonde sich in der Mitte des vorgesehenen Abstandsbereiches befindet. Bei
rotierender Abtastung zylindrischer Prüfteile wird man in der Regel die Einstellung so wählen, daß bei
zentrischer Lage des Prüfteils, also bei gleichbleibendem Prüfteilabstand, der letztere mit der Mitte des
gewählten Abstandsbereichs übereinstimmt. Dann brennt, wenn nacheinander Prüfteile gleichen Durchmessers
geprüft werden, solange nur die mittlere grüne Lampe, wie die Prüfteile zentrisch den Rotierkopf
durchlaufen. Ist die Einstellung des Prüfteils exzentrisch, so leuchten während eines Umlaufs mehrere Signallampen
auf, die wegen der Trägheit des menschlichen Auges von diesem als ein Band leuchtender Signallampen
wahrgenommen werden. Eine Einstellung der genauen Zentrizität ist im allgemeinen nicht erforderlich, solange
sich dieses Band leuchtender Signallampen innerhalb des von den roten Signallampen eingegrenzten Bereichs
befindet. Soll jedoch aus irgendwelchen Gründen die genaue zentrische Lage des Prüfteils eingestellt werden,
so kann dies geschehen, indem man das Band leuchtender Signallampen auf eine einzige leuchtende
Signallampe zurückführt.
Fig.5 zeigt eine Sonde 121 von gegenüber Fig. 1
abweichender Bauart, die keine besondere Abstandswicklung hat. Vielmehr wird hier die Steuerspannung
aus dem Strom durch die Erregerwicklung 122
ίο abgeleitet. Die Empfängerwicklung 123 ist mit zwei
gegeneinander geschalteten Teilwicklungen um die Enden 124 des stiftförmigen Kernes 125 geschlungen.
Entsprechend der anderen Bauart sind auch die in Fig.6 dargestellten Kennlinien der Sonde 121 von
denen der Sonde 1 verschieden. So geht z. B. auch bei sehr großem Prüfteilabstand s die Steuerspannung A
nicht auf 0, sondern läuft schon bei relativ niederem Abstand in einen Endwerl ein. Trotz der völlig anderen
Sondencharakteristik kann ohne weiteres mit der zuvor beschriebenen Regelanordnung eine vollständige Kompensation
der Abhängigkeit der Prüfsignalspannung E von Prüfteilabstand 5 erfolgen. Um jedoch die
Möglichkeit von Alternativen aufzuzeigen, wird die Anwendung der Sonde 121 mit einer abgewandelten,
einfachen Regelanordnung nach F i g. 7 beschrieben.
Eine Wechselstromquelle 127 speist die Erregerwicklung 122 der Sonde 131 und einen in Serie geschalteten
kleinen Widerstand 128. Die Prüfsignaispannung aus der Empfängerwicklung 123 wird verstärkt in Vorverstärker
129, demoduliert in Demodulator 130, der seine Referenzspannung aus der Wechselstromquelle 127
ableitet, und schließlich in Tiefpaß 131 von Trägerrestspannung befreit. Die demodulierte Prüfsignalspannung
gelangt dann zu einem Spannungsteiler 135, der aus dem Widerstand 132 und einer weiter unten näher
erläuterten Kette von Widerständen besteht. Der Ausgang des Spannungsteilers ist mit einem Schaltblock
133 verbunden, der die weitere Verarbeitung der Prüfsignalspannung darstellen soll.
Die an Widerstand 128 abfallende Spannung, die oicuci spannung, wnu vciaidliii in VciaiüiNci ijt. iji-L
Spannungsdiskriminatoren bestehen auch hier wieder in einer Reihe von Komparatoren 151 — 155, an deren
einem Eingang eine feste aus Referenzdiode 146 und Vorwiderstand 147 abgeleitete Referenzspannung (Λ
liegt und deren andere Eingänge mit den Ausgängen eines aus den Widerständen 141 — 145 bestehenden
Spannungsteilers 148 verbunden sind. Die Ausgänge der Komparatoren 151 — 155 sind an die Eingänge von
so elektronischen Schaltern 161 — 165 angeschlossen. Die
Ausgänge der Schalter 161 — 165 liegen jeweils parallel zu einem Widerstand einer Kette in Serie geschalteten
Widerstände 171 — 175, die zusammen mit dem an Masse liegenden Widerstand 176 den unteren Arm des
Spannungsteilers 135 bilden.
Bei wachsender Steuerspannung, also kleiner werdenden Prüfteilabstand, wird zunächst Komparator 151
ansprechen, danach sukzessive die Komparatoren 152—155, bis schließlich alle Komparatoren das Signal
»1« am Ausgang führen. Dementsprechend werden von den Schaltern 161 — 165 nacheinander eine wachsende
Zahl der Widerstände 171 — 175 kurzgeschlossen. Die Widerstände 171 — 176 sind so gewählt, daß die
Prafsignalspannung am Ausgang des Spannungsteilers 135 für alle vorgesehenen Abstandsstufen konstant
bleibt
Hierzu 3 Blatt Zeichnungen
Claims (8)
1. Wirbelstromprüfgerät zum Abtasten der Oberfläche eines Prüfteils auf Inhomogenitäten, mit
mindestens einer Prüfsonde, die in der zu prüfenden ' Oberfläche Wirbelströme hervorruft, auf deren
Rückwirkungen reagiert und aufgrund dieser Rückwirkungen in Abhängigkeit von den Inhomogenitäten der Oberfläche Prüfsignale abgibt, deren Höhe
vom Abstand der PrüEsonde zur zu prüfenden l" Oberfläche moduliert wird, mit einer Führungseinrichtung, die die Prüfsonde in einer vorgesehenen
Bahn entlang der zu prüfenden Oberfläche führt, mit einer Steuereinrichtung zum Steuern der Höhe der
Prüfsignale, mit Mitteln zum Ableiten einer Steuer- '5 spannung, deren Höhe vom Abstand der Prüfsonde
zur zu prüfenden Oberfläche abhängt und mit Mitteln zum Anschließen der Steuerspannung an die
Steuereinrichtung, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuerspannung einer Kette von 2«
Spannungsdiskriminatoren (61—65; 151 —155) zugeführt wird, deren Schwellspannungen in festen
Stufen ansteigend ausgelegt sind und deren Ausgänge ein logisches Signal abgeben, wenn die zugehörigen Schwellspannungen überschritten werden und
daß die Steuereinrichtung in einem als Spannungsteiler arbeitenden Netzwerk aus Teilerelementen
(81—85; 171 — 175) und elektronischen Schaltern (71—75; 161 —IbS) besteht, von denen letztere von
den Ausgingen der Spannungsdiskriminatoren <" (61—65; 151 — 155) gesteue-t werden und durch
Kurzschließen und/oder Zuschalten der Teilerelemente (81—85; 171-175J die Höhe der Ausgangsspannung der Steuereinrichtung beeinflussen.
2. Wirbelstromprüfgerät nach Anspruch 1, da- r>
durch gekennzeichnet, daß als Spannungsdiskriminatoren Komparatoren (61 —65; 151 — 155) verwendet werden, an deren erstem Eingang eine allen
Komparatoren gemeinsame Referenzspannung (Ur) liegt, während deren zweiter Eingang jeweils mil ·">
einem der Ausgänge eines Spannungsteilers (iS; 148) verbunden ist, an dessen Eingang die Prüfsignalspannung ansteht und dessen Teilerstufen vorzugsweise gleiche Abstände voneinander aufweisen.
3. Wirbelstromprüfgerät nach Anspruch 1, da- v>
durch gekennzeichnet, daß als Spannungsdiskriminatoren Komparatoren verwendet werden, an deren
ersten Eingängen jeweils Referenzspannungen unterschiedlicher Höhe, in vorzugsweise gleichmäßigen Stufenabständen liegen, während an deren r>0
zweiten Eingängen die Prüfsignalspannung ansteht.
4. Wirbelstromprüfgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
die Steuereinrichtung eine zusammenhängende Kette von Widerständen (171 — 175) aufweist, die w
zusammen mit weiteren Widerständen (132, 176) einen Spannungsteiler (135) bildet und daß zur
Steuereinrichtung weiter eine Reihe von Schaltern (161 —165) gehört, deren jeder bei Betätigung einen
der Widerstände (171 — 175) der zusammenhängen- h0
den Kette kurzschließt.
5. Wirbelstromprüfgerät nach einem der Ansprüche 1—3, dadurch gekennzeichnet, daß die Steuereinrichtung einen Rechenverstärker (37) mit angeschlossenem Gegenkopplungsnetzwerk aus Wider- Μ
ständen (47, 48, 81—83) aufweist und daß zur Steuereinrichtung ferner eine Reihe von Schaltern
(71—75) gehört, mit deren Hilfe einzelne der
Widerstände (81—85) zu- oder abgeschaltet werden
können,
6. Wirbelstromprufgerät nach einem der vorhergehenden Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß
die logischen Signale von den Ausgängen der Spannungsdiskriminatoren (61—65; 151—155)
durch optische Signalgeber (111 — 116) nngezeigt
werden.
7. Wirbelstromprüfgerät nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß optische Signalgeber
(111—116) eingesetzt werden, die für die vorliegende Aufgabe als praktisch trägheitslos angesehen
werden können, wie z. B. Leuchtdioden.
8. Wirbelstromprüfgerät nach Anspruch 6 oder 7, dadurch gekennzeichnet, daß die Ausgänge der
Spannungsdiskriminatoren (61—65) untereinander und mit den optischen Signalgebern (111—116) so
verknüpft sind, daß beim Ansprechen eines Signalgebers jeweils der vorhergehende erlischt
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752530816 DE2530816C3 (de) | 1975-07-10 | 1975-07-10 | Wirbelstromprüfgerät zum Abtasten der Oberfläche eines Prüfteils |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE19752530816 DE2530816C3 (de) | 1975-07-10 | 1975-07-10 | Wirbelstromprüfgerät zum Abtasten der Oberfläche eines Prüfteils |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2530816A1 DE2530816A1 (de) | 1977-01-27 |
DE2530816B2 DE2530816B2 (de) | 1979-11-08 |
DE2530816C3 true DE2530816C3 (de) | 1980-07-31 |
Family
ID=5951161
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19752530816 Expired DE2530816C3 (de) | 1975-07-10 | 1975-07-10 | Wirbelstromprüfgerät zum Abtasten der Oberfläche eines Prüfteils |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE2530816C3 (de) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2412841A1 (fr) * | 1977-12-26 | 1979-07-20 | Siderurgie Fse Inst Rech | Dispositif electromagnetique d'inspection par courants de foucault |
DE4003330A1 (de) * | 1990-02-05 | 1991-08-08 | Foerster Inst Dr Friedrich | Wirbelstrompruefgeraet |
FR2931242B1 (fr) | 2008-05-14 | 2010-06-11 | Snecma | Sonde destinee au controle par courants de foucault de la surface d'une alveole circonferentielle d'un disque de turboreacteur |
DE102013015079B4 (de) * | 2013-09-06 | 2016-09-01 | Fraunhofer-Gesellschaft zur Förderung der angewandten Forschung e.V. | Sensoranordnung zur berührungslosen und zerstörungsfreien Charakterisierung von Proben oder Bauteilen aus nichtferromagnetischen Werkstoffen |
CN109030618B (zh) * | 2018-07-11 | 2024-03-08 | 深圳市中昌探伤器材有限公司 | 一种逆变电磁场智能恒磁芯片和恒磁探伤仪 |
-
1975
- 1975-07-10 DE DE19752530816 patent/DE2530816C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2530816B2 (de) | 1979-11-08 |
DE2530816A1 (de) | 1977-01-27 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE69207223T2 (de) | Vorrichtung zum Messen von Strömen | |
DE2932001A1 (de) | Geraet und verfahren zur untersuchung eines koerpers mittels gyromagnetischer resonanz | |
DE2656111B2 (de) | Wirbelstrompriifgerät | |
DE1939034B1 (de) | Photometer zum Durchfuehren von Messungen bei unterschiedlichen Wellenlaengen | |
DE2530816C3 (de) | Wirbelstromprüfgerät zum Abtasten der Oberfläche eines Prüfteils | |
DE3814060A1 (de) | Einrichtung zur ermittlung der kennwerte von elektronischen bauelementen | |
DE1623577C2 (de) | Magnetometer mit direkter Zeitverschlüsselung | |
DE2644887C2 (de) | Einrichtung zur Bestimmung der Resonanzfrequenz eines seismischen Detektorelementes | |
DE1598849C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen und Messen von Materialeigenschaften mittels kernmagnetischer Resonanz | |
DE2327190A1 (de) | Klirrfaktormesser | |
DE3854605T2 (de) | Stromversorgungsapparat mit negativer Rückkopplung. | |
DE1295206B (de) | Verfahren und Vorrichtung zur Einstellung der virtuellen Messfeldlaenge einer Mehrzahl von in UEberwachungsgeraeten vorgesehenen Messumformern | |
DE1191593B (de) | Anordnung zur Vielfachanzeige von Messwerten | |
DE1773501C3 (de) | Wirbelstromsonde zur Fehlerprüfung von Werkstücken | |
DE701610C (de) | Elektrische Folgesteuerung | |
DE892342C (de) | Verfahren zur elektrischen Untersuchung des Untergrundes | |
DE1423461C (de) | Anordnung zur zeitlich linearen Modulation eines Magnetfeldes | |
DE2211133C3 (de) | Anordnung zum Untersuchen eines magnetisierten Rohres | |
DE892309C (de) | Schaltungsanordnung zum Betragsvergleich zweier Wechselspannungen | |
DE2300190C3 (de) | ||
DE4008151C1 (en) | Inductive sensor arrangement e.g. for workpiece parts - has current supply alternately energising coils via variable resistor | |
DE1488816C (de) | Einrichtung zur Frequenzvervielfachung unter Verwendung von Doppelweggleichrich tern als Vervielfachstufen | |
DE2507931C3 (de) | Wirbelstrom-Prüfgerät für die zerstörungsfreie Prüfung von Gegenständen | |
DE1955509C3 (de) | Vorrichtung zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung nach der Wirbelstromroethode | |
DE2345266C3 (de) | Vorrichtung zur Messung der magnetischen Induktion in einem radialen Magnetfeld |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
C3 | Grant after two publication steps (3rd publication) |