DE2456566A1 - Verfahren und vorrichtung zum pruefen von objektiven - Google Patents

Verfahren und vorrichtung zum pruefen von objektiven

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Description

Die Erfindung betrifft die Durchführung von Abnahmeprüfungen bei großen Stückzahlen von photographischen Objektiven bzw. Linsengruppen derart, daß Gewähr dafür besteht, daß jedes Objektiv Bilder von vorbestimmter Güte liefert. Durch die Erfindung- ist eine Vorrichtung geschaffen worden, die es ermöglicht, sämtliche Objektive eines großen Herstellungsloses einzeln zu prüfen und jedes nicht einwandfreie Objektiv von den im übrigen brauchbaren Objektiven des Loses zu trennen. Eine nur zu diesem Zweck geeignete Vorrichtung muß entscheiden können, ob das jeweils geprüfte Objektiv als einwandfrei abgenommen oder als nicht einwandfrei ausgeschieden werden muß. Die Vorrichtung braucht jedoch nicht festzustellen, warum die ausgeschiedenen Objektive als unbrauchbar zu betrachten sind. Jedoch erzeugt die im folgenden beschriebene Vorrichtung nach der Erfindung Informationen, die analysiert werden können, um zu ermitteln, ob die Unannehmbarkeit eines Objektivs in einem bestimmten Fall auf bestimm- · te Ursachen zurückzuführen isto
Jedes photographische Objektiv bildet einen Bestandteil eines Gesamtsystems, zu dem neben dem Objektiv" eine Kamera, eine lichtempfindliche Filmeinheit und·das Auge des Betrachters gehört. Ferner können zu dem System eine photographische Reproduktionseinrichtung und eine Betrachtungseinrichtung
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gehören« Die nachstehend beschriebene Vorrichtung wurde zu dem Zweck entwickelt» die Objektive von Kameras zu prüfen, die unter der gesetzlich geschützten Bezeichnung "SX-7O Polaroid Land Camera" auf den Markt gebracht werden. Dieses Objektiv ist in der H0S9A0-Patentschrift 3 695 750 beschrieben. Für den Fachmann liegt es auf der Hand, daß sich die nachstehend beschriebene Erfindung in gleicher Weise auch bei der Abnahmeprüfung von katoptrischen und katadioptrisehen Objektiven sowie bei dioptrischen Objektiven anwenden läßt; im folgenden bezeichnet der Ausdruck "Objektiv", wenn es sich um ein zu prüfendes Objektiv handelt, ein Objektiv, das zu der vorstehend genannten Gruppe gehört.
Beim Festlegen von Abnahmekriterien zur Prüfung von Objektiven, kann man annehmen, daß die Kamera und das System zum Erzeugen von Kopien den subjektiven Eindruck des Kamerabenutzers nicht beschränken, der eine Kopie in der Hand hält. Die optische Leistung eines Objektivs braucht daher nur unter Berücksichtigung der Fähigkeit des menschlichen Auges, bei einer in der Hand gehaltenen Kopie Einzelheiten aufzulösen, beurteilt zu werden«.
Zwar unterscheidet sich dieses Kriterium von dem Kriterium, mit dem bei einem Objektiv gearbeitet werden muß, das zu einem anderen Zweck bestimmt ist, z.B. zur Verwendung in Verbindung mit J^-wm-lilohtlDllderni doch liegt es im Hinblick auf die nachfolgende Beschreibung für jeden Fachmann auf der Hand, auf welche Weise sich Kriterien für die Abnahmeprüfung anderer Objektivkonstruktionen bestimmen lassen, um in Verbindung mit der noch zu beschreibenden Erfindung benutzt zu werden»
Untersuchungen haben gezeigt, daß das menschliche Aμge bei der optischen Beurteilung bzwο lediglich bei der Betrachtung einer photographischen Kopie den größten Teil des Informationsgehalts der Kopie aus den Kontrasten der Einzelheiten gewinnt, die im Bereich von 0,5 bis 2 Linienpaaren je Millimeter liegen. Bei einem Linienpaar handelt es sich um ein standardisiertes Betrachtungsbild, das sich aus zwei
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einander benachbarten Streifen zusammensetzt, welche die gleiche Breite haben, und von denen der eine dunkel und der andere hell ist« Ein Betrachter erkennt Einzelheiten, wenn ein Helligkeitsunterschied zwischen den dunklen und den hellen Komponenten vorhanden ist, Dieser Unterschied läßt sich am zweckmäßigsten als ein Kontrastverhältnis, d.h. das Verhältnis zwischen den Helligkeitswerten der Streifen, ausdrucken. Ein Kontrastverhältnis von 10% ist für Betraehtungszwecke ausreichende
Die optische Reaktion des menschlichen Auges bzw. die Kontrastübertragung erreicht ihren Spitzenwert bei einer Raumfrequenz von etwa einem Linienpaar ge Millimeter. Hieraus kann man vernünftigerweise schließen, daß für den größten Teil der Informationen, die einer photographischen Kopie optisch entnommen werden, eine Raumfrequenz im Bereich von einem Linienpaar je Millimeter giltο Daher sind photograph!- sehe Objektive, die dazu bestimmt sind, auf direkten Wege photographische Bilder zu erzeugen, z.B. die Objektive, welche bei den Polaroid-Land-Kameras verwendet werden, auf opti*- male Weise so konstruiert, daß sich eine maximale Kontrastübertragung bei niedrigen Raumfrequenzen ergibt.
Der Kontrastübertragungswirkungsgrad eines Objektivs bei den "groben" Raumfrequenzen, die für. das unbewaffnete menschliche Auge noch auflösbar sind, ist ein relevanteres Maß für die Güte eines Objektivs zum direkten Herstellen von Lichtbildern, als es die maximale Raumfrequenz ist, -die sich bei einem mit Hilfe des Objektivs hergestellten Bild auflösen läßt. Zwar spielt diese maximale Raumfrequenz in bestimmten Anwendungsfällen eine wichtige Rolle, doch ermöglicht sie eine Beurteilung eines Objektivs bei kleinen Raumfrequenzen nur auf indirektem Wege.
In der U.S.A.-Patentschrift 5 695 750 ist ein Objektiv beschrieben, das in großen Stückzahlen hergestellt wird. Die im folgenden als bevorzugte Ausführungsform beschriebene Vorrichtung wurde eigens für die Prüfung dieser Objektive entwickelt« Zum Verständnis der Erfindung ist es vorteilhaft, gewisse Kenntnisse über diese Objektivkonstruktion zu
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~ 4 ~ haben·
Die Kontrastübertragungswerte des Objektivs nach der vorstehend genannten U«S.A«,-Patentschrift sind bei denjenigen niedrigen RauMfrequenzen ziemlich hoch, bei denen das Auge einer in der Hand gehaltenen photographischen Kopie den größten Teil seiner Informationen entnimmt. Da bei diesen niedrigen Rauiafrequenzen die genannten Objektive hohe Kontrastübertragungswerte von 90% bis 100% aufweisen, würde es erforderlich sein, äußerst genaue Kontrastmessungen durchzuführen, um eine Unterscheidung zwischen zu prüfenden Objektiven von unterschiedlicher Güte treffen zu können, Bei vergleichsweise höheren Raumfrequenzen von z.B. 20 Linienpaaren je Millimeter ergibt sich eine ziemlich große Änderung des Kontrastübertragungswirkungsgrades, wenn man das Bild gegenüber seiner Hennbrennebene verlagert bzw. es defokussiert. Jedoch, führt eine ungewollte Auflösung zu ausgesprochen nichtlinearen Beziehungen zwischen der Kontrastübertragung und der Verlagerung des Bildes im Bereich der interessierenden Tiefenschärfe. Diese Nichtlinearität würde unnötigerweise die Benutzung einer Abnahmeprüfvorrichtung komplizieren, mit der Objektive geprüft werden sollen. Es hat sich gezeigt, daß die Prüfung von Objektiven bei einer Baumfrequenz von 7,5 Iiinienpaaren je Millimeter eine brauchbare Kompromißlösung darstellt»
Die Beurteilung zu prüfender Objektive auf der Basis ihrer optischen Leistung bei einer einzigen Eaumfrequenz führt zu einer erheblichen Vereinfachung der optischen, mechanischen und elektronischen Konstruktion der Abnahmeprüfvorrichtung und der zugehörigen Signalverarbeitungseinrichtung. Eine Kaumfrequenz von 7t5> Linienpaaren je Millimeter liefert einen großen Bereich der Kontrastübertragungswerte innerhalb des interessierenden Ifokussierbereichs, der zwischen +1,0 m» und -1,0 um liegt. Bei 7,5 Linienpaaren je Millimeter besteht eine enge Beziehung zwischen den gemessenen relativen Kontraetübertragungswerten und denjenigen Werten, welche bei Raumfrequenzen im Bereich von 1,0 Linienpaaren je Millimeter gemessen werden. Ein weiterer Vorteil, der sich aus der Meseung bei der höheren Raumfrequenz ergibt, besteht
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darin, daß Gewähr dafür besteht, daß auch Vergrößerungen nach einer Originalkopie dem unbewaffneten Auge als scharf erscheinen© Bei einer Vergrößerung spielen diejenigen Raumfrequenzen eine wichtige Rolle, welche 2 bis 8 Linienpaaren je "Millimeter bei der Originalkopie entsprechen»
Die hier durchgeführte Untersuchung, die zu der Wahl von 7,5 Linienpaaren je Millimeter als Betriebsraumfrequenz der Abnahmeprüfvorrichtung führt, beruht auf der Annahme, daß die Vorrichtung zum Prüfen von Objektiven benutzt wird, wie sie in der genannten U*S.A.»-Patentschrift beschrieben sind. Mir jeden Fachmann liegt es jetzt auf der Hand, auf welche Weise andere Objektive analysiert werden müssen, um eine oder mehrere optimale Raumfrequenzen für die Prüfung festzulegen.»
Bekanntlich ist es mit Hilfe von Objektiven von unterschiedlicher Güte möglich, relativ gute Bilder zu erzeugen* wenn die Objektive optimal fokussiert sind· Objektive von geringer Güte liefern schlechtere Bilder schon dann, wenn die Brennpunkteinstellung nur geringfügig vom optimalen Wert abweicht, während hochwertige Objektive auch dann noch annehmbare Bilder liefern, wenn der Brennpunkt gegenüber seiner optimalen Lage nach vorn oder hinten verlagert wird« Ein Vergleich von Bildern, die in Beziehung zu Stellungen stehen, die von der optimalen SOkussierstellung abweichen, ermöglicht es, auf leichte Weise Unterschiede bezüglich der optischen Leistung von Objektiven nachzuweisen und zu quantifizierenβ
Auf empirischem Wege wurde festgestellt, daß Objektive, bei denen der Kreis der- geringsten Verwaschung erheblich größer ist als 0,12 mm photographische Kopien ergeben, die dem unbewaffneten Auge als flau erscheinen« Der Kreis der geringsten Verwaschung gilt für das beste Bildj das durch ein Objektiv von einer punktförmigen Lichtquelle erzeugt wird» Dieser Kreis wird auch als ^erstreuungskreis bezeichnet· Ein Kreis der geringsten Verwaschung bzw. ein Zerstreuungskreis mit einem Durchmesser von weniger als 0,12 mm ergibt direkt erzeugte photographische Kopien, die dem unbewaffneten Auge aits scharf erscheinen«
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Nimmt man an, daß ein fehlerfreies Bild einer punktförmigen Lichtquelle durch ein Objektiv bei Blende f/8 erzeugt wird, wobei dies nur auf geometrischen Betrachtungen beruht, hat der Zerstreuungskreis bei einer Entfernung von etwa 1,0 mm nach jeder Seite gegenüber dem optimalen geometrischen Brennpunkt einen Durchmesser von etwa 0,12 mm. Hieraus kann man schließen, daß sich ein Abnahmeprüfverfahren und eine entsprechende Vorrichtung nur mit der Beurteilung der Bildstruktur zu befassen braucht, die durch das zu prüfende Objektiv innerhalb eines Bereichs erzeugt wird, der eine Tiefe von weniger als 2,0 mm hat und um die optimale Brennpunktlage zentriert ist.
Nicht sämtliche Faktoren, die beim Konstruieren eines Objektivs eine Holle spielen, wirken sich bemerkbar auf die Tiefenschärfe aus«, Bestimmte Parameter, die für die Herstellung und den Zusammenbau der verschiedenen Linsenelemente und andere Teile eines Objektivs gelten, weichen nur selten von den zulässigen Toleranzwerten ab. Zu denjenigen bei der Herstellung eine Roll© spielenden variablen Größen, die sich auf die optische Leistung eines Objektivs auswirken, gehören der richtige Einbau und die richtige Zentrierung der Einzellinsen des Objektivs* Wenn in dieser Beziehung Fehler gemacht werden, kann sich die Ebene der optimalen Fokussierung verzerren oder gegenüber der optischen Achse des Objektivs verschwenken. Diese Fehler lassen sich durch Abweichungen bezüglich der relativen Bildgüte innerhalb des gesamten Bildfeldes von vorher festgelegten Werten nachweisen«,
Bestimmte Objektivfehler, z.B„ die Verzerrung, die sphärische Aberration und die chromatische Aberration, variieren während der Herstellung, wenn überhaupt, so nur in einem geringen Ausmaß. Die schädlichen Wirkungen fehlerhaft hergestellter Einzellinsen und vollständiger Objektive machen sich durch eine allgemeine Verschlechterung des Bildes und eine Vergrößerung der Bildfeldkrümmung bemerkbar, bevor irgendwelche bestimmte fehler nachgewiesen worden sind. Daher ist es nicht erforderlich, ein Objektiv bezüglich bestimmter
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Fehler zu untersuchen, vom seine Brauchbarkeit festzustellen, und ein solches Vorgehen ist auch unerwünscht, wenn eine Vereinfachung des Abnahmeprüfverfahrens und der Prüfvorrichtung angestrebt wird·
Aus den vorstehenden Betrachtungen ist ersichtlich, daß sich ein Abnahmeprüfverfahren und eine Vorrichtung zu seiner Durchführung nur mit drei Kriterien zu befasea brauchen, nämlich dem Kontrastübertragungswirkungsgrad bei bestimmten Raumfrequenzen, der Änderung der Bildgüte beim Defokussieren des Objektivs sowie der relativen Bildgüte innerhalb des . Bildfeldes.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein zweckmäßiges Verfahren zum Buverlässigen Prüfen von Objektiven bezüglich ihrer photograpischen Güte zu schaffen, ferner ein Verfahren zum Beurteilen von Objektiven als quantitative Funktion des KontrastübertragungsWirkungsgrades an verschiedenen Punkten innerhalb der Bildebene, eine Prüfvorrichtung zum Messen des Kontrastübertragungswirkungsgrades eines Objektivs bei einer bestimmten Raumfrequenz sowie bei verschiedenen Stellungen, d.h. bei der optimalen Fokussierstellung und in ihrer Uähe, wobei es die Prüfvorrichtung ermöglicht, ein Objektiv auf der Basis seines Kontrastübertragungswirkungsgrades als Funktion der Verlagerung der Brennebene gegenüber der .optimalen Fmkussierstellung für mehrere Punkte zu beurteilen, die in der Brennebene verteilt sind, sowie eine Signalverarbeitungseinrichtung zu schaffen, die es ermöglicht, automatisch ein Objektiv auf der Basis von Informationen zu beurteilen, die durch Messungen mit Hilfe der Prüfvorrichtung gewonnen werden.
Zu dem Verfahren nach der Erfindung gehören Maßnahmen, um'mehrere Ziele, die ein bestimmtes Kontrastverhältnis aufweisen, mit einer bestimmten Beleuchtungsstärke zu beleuchten, um Bilder dieser Ziele durch ein zu prüfendes Objektiv längs verschiedener optischer Strahlenwege bzw. Kanäle in Richtung auf die Brennebene des Objektivs zu übertragen, um das Objektiv so zu verstellen, daß seine Brennebene die opti-
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male.Fokussierstellung durchläuft, um während der Änderung der Fokussierstellung den Kontrastübertragungswert des Objektivs für jeden optischen Strahlenweg oder Kanal dadurch zu messen, daß die Bilder der Ziele mit Hilfe sehr kleiner Öffnungen in der optimalen Fokussierebene abgefragt werden, so daß das jenseits der optimalen Fokussierebene übertragene Licht eine Funktion des Kontrastübertragungswertes des Objektivs für jeden optischen Strahlenweg oder Kanal ist, worauf» hin das Licht von einem Photodetektor empfangen wird, um mit Hilfe dieses Photodetektors Signale zu erzeugen, die Informationen bezüglich des Kontrastübertragungswertes des Objektivs längs jedes optischen Strahlenwegs oder Kanals enthalten, um mit Hilfe einer Servoeinrichtung den Phototetektor und die Lichtquelle gemeinsam so zu steuern, daß der zeitliche Mittelwert der durch den Photodetektor erzeugten Signale einen stetigen Wert beibehält, um die Signale, die den verschiedenen optischen Strahlenwegen oder Kanälen zugeordnet sind, von den durch den Photodetektor erzeugten anderen Signalen zu trennen, um die jedem Kanal zugeordneten Signale bezüglich der in ihnen enthaltenen Informationen auszuwerten, und um hieraus die Annehmbarkeit des geprüften Objektivs zu ermitteln·
Zu der Vorrichtung zum Durchführen dieses Verfahrens für die Abnahmeprüfung von Objektiven gehören ein optischer Teil, eine Einrichtung zum Bewegen von Linsen durch den optischen Teil hindurch sowie ein Signalverarbeitungsteil· Dieser Signalverarbeitungsteil ist dem optischen Teil und der Bewegungseinrichtung so zugeordnet, daß er jedes Objektiv mit Hilfe der Signale beurteilen kann, die er in dem optischen Teil erzeugt, und der Signalverarbeitungsteil kann der Bewegungseinrichtung Befehle zum Anordnen jeder Linse in Abhängigkeit von der Beurteilung erteilen.
Der optische Teil arbeitet mit der Bewegungseinrichtung über einen Objektivhalter zusammen, mittels dessen das zu prüfende Objektiv an einer Prüfstation in seiner Lage gehalten wird. Zu dem optischen Teil gehören Einrichtungen für die Mehrfachnutzung mehrerer verschiedener optischer Strahlenwege oder Kanäle, die durch das zu prüfende Objektiv verlaufen.
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Wenn im folgenden von einem Multiplexverfahren gesprochen wird» soll dies bedeuten, daß mit mehreren optischen Strafelenwegen gearbeitet wird, von denen jeder geeignet ist, ein Bild zu übertragen, so daß die Bilder ein zu prüfendes Objektiv gleichzeitig in verschiedenen Eichtungen durchlaufen können. Zu jedem optischen Strah^enweg oder Kanal gehört ein geschlitztes Zerhackerrad, das als Ziel benutzt wird, sowie eine Ziellinse auf der Objektseite des zu rpüfenden Objektivs. Die Ziellinse bestimmt den scheinbaren optischen Abstand des Zerhackerrades von dem zu prüfenden Objektiv· Ferner ist an der Brennebene des zu prüfenden Objektivs eine Bildplatte angeordnet, die für jeden Kanal einen Schlitz aufweist. Jeder dieser Schlitze fragft das Zielbild ab, daß durch das zu prüfende Objektiv längs des zugehörigen optischen Strahlenweges übertragen wird«,'
Bei den geschlitzten Zerhackerrädern haben sämtliche Schlitze die gleichen Abmessungen und die gleichen Abstände, und der Hennwert der Vergrößerung ist entlang allen optischen Strahlenwegen oder Kanälen, die durch das zu prüfende Objektiv verlaufen, der gleiche. Somit gilt auch für alle optischen Strahlenwege oder Kanäle die gleiche zur Prüfung benutzte Raumfrequenzo Die Größe des Schlitzes in der Bildplatte ist gleich der theoretischen Größe des Sehlitzbildes, das an der Bildplatte durch das Zusammenwirken der Ziellinse mit dem zu prüfenden Objektiv erzeugt wird»
Eine einzige Lichtquelle beleuchtet sämtliche Zerhackerräder, und ein einziger Photodetektor empfängt sämtliches Licht, das von den Schlitzen der Bildplatte durchgelassen wird. Eine zwischen dem Photodetektor und der Bildplatte angeordnete Sammellinse sammelt das Licht, das durch sämtliche Schlitze fällt, und sie verteilt das Licht über die lichtempfindliche Fläche des Detektors. Um die SignalVerarbeitungseinrichtung zu vereinfachen, wird zum Steuern des Photodetektors eine Servoeinrichtung benutzt» Diese Einrichtung dient dazu, den Mittelwert der durch den Photodetektor erzeugten Signale konstant zu halten, so daß alle Wirkungen ausgeschal-
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tet werden, die auf Veränderungen bei dem optischen Teil oder dem elektronischen !eil der Vorrichtung zurückzuführen sind, z.B. auf die Alterung der Lichtquelle»
Die Anwendung des Multiplexverfahrens bei den optischen Strahlenwegen oder Kanälen, die von der Lichtquelle aus durch das zu prüfende Objektiv zu dem Photodetektor verlaufen, macht es erforderlich, eine Einrichtung vorzusehen, die dazu dient, die resultierenden, durch den Photodetektor a?zeugten Signale zu sortieren bzw. voneinander zu trennen» Diesem Erfordernis wird dadurch Rechnung getragen, daß die geschlitzten Zerhackerräder mit unterschiedlichen Drehzahlen gedreht werden» Hierdurch wird der Photodetektor veranlaßt, mehrere sinusförmige Signale zu erzeugen, die sich bezüglich ihrer zeitlichen Frequenz unterscheiden, so daß man erkennen kann, welche optischen Kanäle durch die Frequenzen repräsentiert werden»
Ein Teil der Signalverarbeitungseinrichtung trennt jedes der Signale von dem Konglomerat von Signalen, das durch den Photodetektor erzeugt wird» Ein weiterer Teil der Signalverarbeitungseinrichtung wertet das Signal jedes Kanals oder optischen Strahlenwegs für einen minimalen Spitzensignalpegel aus und ermittelt ferner, ob alle Signale einen bestimmten Wert gleichzeitig überschreiten, der in Beziehung zu einer minimalen Verschiebung der Brennebene des zu prüfenden Objektivs gegenüber der Bildplatte steht»
Der Abnahmestandard, der normalerweise angewendet wird, wenn die Prüfvorrichtung und die Signalverarbeitungseinrichtung dazu dienen, die Bildgüte eines zu prüfenden Objektivs zu beurteilen, besagt, daß sämtliche Kanäle oder optischen Strahlenwege mindestens eine Kontrastübertragung von 40% bei einer Baumfrequenz von 7*5 Linienpaaren je Millimeter über eine Tiefenschärfe von 1 mm anzeigen müssen, und daß jeder Kanal in einem bestimmten Zeitpunkt bei dieser Baumfrequenz einen Mindestwert des Spitzenkontrastübertragungswirkungsgrades von 60% erreichen muß. Dieser Abnahmestandard wurde durch eine Beihe von analytischen Korrelationsunter-
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suchungen ermittelt·
Die Erfindung und vorteilhafte Einzelheiten der Erfindung werden im folgenden anhand schematischer Zeichnungen an einem Ausführungsbeispiel näher erläutert. Es zeigt:
Fig. 1 eine graphische Darstellung der für das menschliche luge maßgebenden Kontrastübertragungsfunktion;
Fig. 2 eine graphische Darstellung des Kontrastübertragungswirkungsgrades eines bestimmten Objektivs bei verschiedenen Baumfrequenzen;
Pig. 3 einen vereinfachten Längsschnitt durch eine Ab» nahmeprüfvorrichtung;
4 einen vergrößerten Ausschnitt aus Fig. 3» weitere Einzelheiten der Abnahmeprüfvorrichtung erkennen läßt; . "
Fig. 4-a, 4-b und 4c weitere Einzelheiten des optischen Teils der Vorrichtung;
Fig."-5 einen Längsschnitt durch einen optischen Strahlenweg oder Kanal, der zwischen einer Lichtquelle und einem Photoelektronenvervielfacher durch ein zu prüfendes Objektiv verläuft;
Fig. 6 ein Blockdiagramm der SignalVerarbeitungseinrichtung und der Steuereinrichtung der Abnahmeprüf vorrichtung; und
Fig. 7 eine graphische Darstellung einiger Signale, wie sie bei einem hypothetischen, zu prüfenden Objektiv erzeugt werden.
Eine Vorrichtung 10 zum Prüfen eines Objektivs 12 ist in Fig. 3 dargestellt. Zu dieser Abnahmeprüfvorrichtung gehören ein optischer Teil 14 zum Prüfen der Objektive, eine Einrichtung 16 zum Bewegen von Linsen gegenüber der Vorrichtung 10, eine SignalVerarbeitungseinrichtung 18 zum Auswerten
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der durch den optischen Teil 14 erzeugten Informationen sowie ein Auswerfer 20 zum Entfernen von nicht als "brauchbar "befundenen Objektiven aus der bewegungseinrichtung..
Zu der Bewegungseinrichtung 16 gehört eine erste Speicherzone 22, mittels welcher zu prüfende Objektive 12 einem Vorrat entnommen werden, um die Abnahmeprüfvorrichtung 10 zu beschicken» Eine Fördereinrichtung 24 entnimmt der Speicherzone 22 jeweils ein Objektiv 12 und führt es einer Prüfstation 30 zu, die einen- Bestandteil des optischen Teils 14 bildet» Nach Beendigung der Prüfung entfernt die Fördereinrichtung das geprüfte Objektiv 12 und bewegt es an dem Auswerfer 20 vorbei zu einer Sammelzone 26, wo sich die als einwandfrei abgenommenen Objektive sammeln, bis sie entfernt werden. Der Auswerfer 20 führt dagegen jedes nicht einwandfreie Objektiv einer nicht dargestellten dritten Sammelzone zu. Somit gelangen nur einwandfreie Objektive 12 zu der Sammelzone 26« Man könnte auch eine schrittweise drehbare Einrichtung oder dergleichen benutzen, um die Objektive 12 den verschiedenen Stationen der Abnahmeprüfvorrichtung 10 zuzuführen, Dasjenige Objektiv 12, welches gerade an der -^rüfstation 30 geprüft wird, ist in Fig. 3 mit 12t bezeichnet.
Der optische Teil 14 übergreift die bewegungseinrichtung 16 und weist ein über der *rüfstation 30 angeordnetes Lampengehäuse 28 auf, dessen Lichtquelle die für die Prüfung benötigte Beleuchtung liefert. Die Prüfstation 30 dient dazu, jeweils ein Objektiv 12 aufzunehmen und es auf geregelte Weise zu handhaben, wie es für die Durchführung der Abnahmeprüfung erforderlich ist« tischen der Prüf station 30 und dem Lampengehäuse 28 befinden sich ein Zielfeld 32 und ein Ziellinsenteil 34.
Das Zielfeld 32 ist dem Lampengehäuse 28 benachbart und weist mehrere nach einem vorbestimmten Muster angeordnete, drehbare Zerhackerräder 36 auf.
Zu dem Ziellinsenteil 34 gehören mindestens eine, jedoch vorzugsweise mehrere Ziellinsen, die dazu dienen, den
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optischen Abstand zwischen dem Zielfeld 32 und dem zu prüfenden Objektiv 12t an der Prüfstation 30 einzustellen. Die Verwendung mehrerer Ziellinsen anstelle nur einer Ziellinse zum überdecken des gesamten Bildfeldes ermöglicht die Benutzung einfacherer Ziellinsen. Durch die Benutzung des Ziellinsenteils 34· wird es möglich, mit einem optischen Abstand zu arbeiten, der größer .ist als der tatsächliche Abstand, so daß sich der Baumbedarf der Prüfvorrichtung 1.0 verringert» Der durch die Ziellinsen 34 herbeigeführte optische Abstand entspricht dem optimalen Abstand des Aufnahmegegenstandesβ
Unter der Prüfstation 30 ist eine Kondensorlinsengruppe 38 angeordnet, welche die Austrittspupille des Objektivs 12t, das fest in die ^rüfstation 30 eingesetzt ist, auf der lichtempfindlichen Fläche eines Photoelektronenvervielfaehers 4-0 abbildete
Eine in der Brennebene des Objektivs 12t angeordnete Bildplatte 4-2 begrenzt das auf den Photoelektronenvervielfacher 40 fallende Licht und weist mehrere Schlitze auf, durch die Licht zu dem Photoelektronenvervielfacher gelangen kann« Diese Schlitze dienen dazu, das Bild des Zielfeldes 32 abzufragen, das auf der Bildplatte 42 durch das zu prüfende Obejktiv 12t erzeugt wird, welches sich an der Prüfstation befindet. Da das Bild mit Hilfe der Schlitze abgefragt wird, bildet die schnelle Änderung der zu dem Photoelektronenvervielfacher 40 gelangenden Lichtmenge ein Maß für den Kontrastübertragungswirkungsgrad des Objektivs 12t. In Verbindung mit weiteren Informationen erzeugt die Abnahmeprüfvorrichtung 10 ein Signal für den Kontrastübertragungswirkungsgrad, auf Grund dessen das betreffende Objektiv 12t als einwandfrei abgenommen oder als Ausschuß zurückgewiesen wird·
Die Herstellung einer Beziehung zwischen den Informationen und die Auswertung der durch die Vorrichtung 10 erzeugten Informationen ist die Aufgabe der SignalVerarbeitungseinrichtung 18, der Informationen sowohl' von dem Photoelektronenvervielfacher 40 aus als auch von der ^rüfstation 30
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aus zugeführt werden, und die dazu dient, den Auswerfer 20 nach Bedarf zu betätigen«,
Informationen über die Kontrastübertragung längs jedes der verschiedenen optischen Strahlenwege oder Kanäle, die durch das Objektiv 12t verlaufen^ werden der SignalVerarbeitungseinrichtung 18 von de® Photoelektronenvervielfacher 40 aus zugeführta Die Prüfstation $0 liefert der Signalverarbeitungseinrichtung Informationen über die Strecke, längs welcher sie das zu prüfende Objektiv 12t verstellt hat» Bei dem Objektiv 12 erfolgt die Fokussierung durch eine Änderung der Größe des Luftspaltes zwischen der vordersten Linse und den übrigen Linsen. Dies wird in der Praxis dadurch erreicht, daß die vorderste Linse mit den übrigen Linsen durch eine Gewindeverbindung so verbunden ist, daß ein Drehen der vordersten Linse gegenüber den anderen Linsen zu einer proportionalen Änderung der Breite des Luftspaltes führte Die Prüfstaüon 30 oder eine zusätzliche Prüfstation kann auch Informationen über das Drehmoment liefern, das erforderlich ist, um das zu prüfende Objektiv 12t zu fokussieren.
Der optische feil 14 der Abnahmeprüfvorrichtung 10 nach Fig. 3 ist in S1Xg0 4 in einem größeren Maßstab dargestellt. Es ist eine einzige Glühlampe 44 vorhanden, die Licht an die verschiedenen optischen Strahlenwege oder Kanäle abgibt, welche sich von mehreren Spiegeln aus durch das zu prüfende Objektiv 12t erstrecken* Diese Spiegel verteilen das Licht auf sämtliche optische Strahlenwege oder Kanäle. Hierbei können einige optische Strahlenwege oder Kanäle auch auf direktem Wege, d.ho ohne Benutzung eines Spiegels, beleuchtet werden. lig. 4 läßt drei optische Strahlenwege 46, 48 und 50 erkennen, von denen zwei ihr Licht von der Lampe 44 aus über Spiegel 52 und 54 erhalten, während der dritte Kanal 48 direkt beleuchtet wird.
Bei der bevorzugten Ausführungsform der Abnahmeprüfvorrichtung 10 wird mit 13 optischen Strahlenwegen oder Kanälen gearbeitet, die sich durch das zu prüfende Objektiv 12t erstrecken. Der Deutlichkeit halber sind jedoch in Fig. 4
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nur drei Strahlenwege dargestellt« Mr jeden Fachmann liegt es auf der Hand, auf welche Weise man die übrigen zehn optischen Strahlenwege oder Kanäle bereitstellen kanne Natürlich könnte man auch mit einer anderen Anzahl von optischen Strahlenwegen oder Kanälen arbeiten, wenn andere Arten von Objektiven gemäß der.Erfindung geprüft werden sollen.
Durch die benutzung einer einzigen Lampe 44 wird die Gefahr des Auftretens von Eichungsschwierigkeiten bezüglich der optischen Strahlenwege oder Kanäle der Signalverarbeitungseinrichtung 18 vermieden, die sich aus Unterschieden . zwischen den verschiedenen Glühlampen ergeben könnten· Somit beeinflußt jede Änderung bei der Glühlampe 44 bezüglich ihrer Helligkeit sämtliche Kanäle in gleicher Weise.
An seiner Unterseite ist das Lampengehäuse 28 durch eine Tragplatte 60 abgeschlossen, auf der die Teile des Zielfeldes angeordnet sind. Die Tragplatte weist mehrere Fenster 62 auf, durch welche die Verlaufsrichtung der optischen Strahlenwege oder Kanäle durch das zu prüfende Objektiv 12t festgelegt wird, und die es der Glühlampe 44 ermöglichen, jeweils einen Teil der verschiedenen Zerhackerräder 36.zu beleuchten· Die Anordnung der Fenster 62 nach Fig. 4 steht in Beziehung zu der Anordnung der in Fig. 4b dargestellten Schlitze.
In Fig. 4a ist eines der Zerhackerräder 36 dargestellt, das nahe seinem äußeren Eand mehrere radiale Schlitze 72 aufweist, welche in gleichmäßigen Umfangsabständen verteilt und-in einer solchen Anzahl vorhanden sind, daß die Breite jedes radialen Schlitzes gleich dem Abstand des betreffenden Schlitzes vom nächsten Schlitz ist. Die Länge jedes Schlitzes 72 entspricht einem Mehrfachen seiner Breite, um die. optische Beeinflussung seines Bildes durch seine Enden zu verringern· Die tatsächliche Eaumfrequenz der Schlitze 72 ist so vorbestimmt, daß die endgültigen Bilder der Schlitze, die in der Brennebene des zu prüfenden Objektivs 12t erzeugt werden, 7,5 Linienpaaren je Millimeter entspricht; ,mit anderen Worten, die tatsächliche Eaumfrequenz entspricht dann, wenn man sie mit der resultierenden Vergrößerung durch das Objektiv
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12t und eines Kollimatorteils 34 multipliziert, 7,5 Linienpaaren ge Millimeter.
Es ist zu bemerken, daß die Raumfreguenz der Schlitze an ihren äußeren und inneren Enden etwas vom Sollwert abweicht, daß jedoch diese Abweichung nur minimal ist, wenn die Länge des Schlitzes 72 nur einem kleinen Bruchteil seines mittleren radialen Abstandes von der Welle 70 entspricht, so daß man sie vernachlässigen kann.
Jedes Zerhackerrad 36 wird gemäß Figo 4 durch einen zugehörigen Motor 68, der auf der Tragplatte 60 angeordnet ist, über eine durch die Tragplatte ragende Welle 70 angetrieben. Die Motoren 68 werden so eingestellt, daß jedes Zerhackerrad 36 mit einer konstanten Drehzahl umläuft, die sich von den Drehzahlen sämtlicher übrigen Zerhackerräder unterscheidet .
über dem Kranz von Schlitzen 72 jedes zerhaekerrades ist eines der fenster 62 der Tragplatte 60 angeordnet. Diese Fenster haben eine solche Größe, daß die liampe 44 jeweils mindestens einen der Schlitze 72 jedes Kranzes voll beleuchten kann. Die Fenster sind nach einem bestimmten Muster angeordnet, durch das die Eichtungen der verschiedenen optischen Strahlenwege 46, 48 und 50 festgelegt werden, die durch das zu prüfende Objektiv 12t verlaufen. Wie erwähnt, entspricht dieses Muster dem Muster, nach dem gemäß Fig. 4b die Schlitze 100 der Bildplatte 42 angeordnet sindo
Es ist zweckmäßig, für die Zerhackerräder 36 einen Durchmesser von 100 mm zu wählen, und die Schlitze 72 so auszubilden, daß sie nahe dem Rand des Zerhackerrades eine Breite von 1,5 mm haben; der Durchmesser jedes Fensters 62 beträgt zweckmäßig 13 im.
Gemäß Fig. 4 ist kurz oberhalb jedes Fensters 62 eine Kombination 80 aus einer Kondensorlinse und einem Filter angeordnet, die zwei Aufgaben zu erfüllen hat. Als Kondensorlinse bildet die Kombination 80 die Lampe 44 auf der Eintrittspupille des zu prüfenden Objektivs 12t ab, und als
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Filter stellt sie das Licht, das längs des zugehörigen Strahlenweges übertragen wird, so ein, daß die Liehtmenge gleich der Lichtmenge ist, die längs der übrigen Strahlenwege auf das Objektiv 12t gelenkt wirdο Durch die Erfüllung ihrer ersten Aufgabe bewirkt die Kombination 80, daß sich eine größere Lichtmenge längs des betreffenden Strahlenweges oder Kanals fortpflanzt, und daß sich der Signalpegel erhöht, während der Eauschabstand vergrößert wird«, Die zweite Aufgabe der Kombination besteht im Einstellen der richtigen Lichtmenge, die längs jedes Strahlenweges oder Kanals übertragen wird, Hierdurch ist es möglich, die Signalverarbeitungseinrichtung 18 zu vereinfachen, da bei dem resultierenden Signal Unterschiede zwischen den verschiedenen Kanälen vermieden werden, die sich auf kleinere Unterschiede der Lichtdurchlässigkeit, des Reflexionsvermögens usw» der betreffenden Teile zurückführen lassen, aus denen sich die verschiedenen Strahlenwege 46, 48, 50 usw- zusammensetzen·
Der gewünschte Abgleich wird mm vorliegenden Fall dadurch erzielt, daß man auf die betreffenden Kombinationen 80 nach Bedarf eine leicht streuende Fläche aufbringt, durch die das Licht von dem betreffenden Strahlenweg weg so gestreut wird, daß es nicht zu dem Photoelektronenvervielfacher 40 gelangt. Eine solche Streuwirkung kann nach Bedarf herbeigeführt werden, und ihr Ausmaß läßt sich bei der Eichung der Abnahmeprüfvorrichtung 10 bestimmen« Es lassen sich jedoch auch andere Lichtdämpfungsverfahren anwenden, und es wäre auch möglich, einen Abgleich auf elektronischem Wege bei der Signalverarbeitungseinrichtung 18 seihst zu bewirken
Aus praktischen Gründen und um die Abmessungen der Vorrichtung klein zu halten, ohne den verfügbaren Raum zu verringern, wird gemäß der Erfindung von dem Ziellinsenteil 34 zwischen dem zu prüfenden Objektiv 12t und dem Zielfeld 32 (Gebrauch gemachte Der optimale Abstand eines Aufnahmegegenstandes vom vorderen Ende des Objektivs 12t beträgt etwa 1145 mm» Würde man den optischen Teil 14 entsprechend einem solchen Objektabstand ausbilden, würde die Vorrichtung sehr
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unhandlich.« Vielmehr wird gemäß der Erfindung mit einem erheblich kürzeren Abstand von etwa 457 ™* gearbeitet, und zu diesem Zweck wird ein Satz γόη Zielobjektiven 34a benutzt, die ein virtuelles Bild des Zielfeldes 32 in einem scheinbaren optischen Abstand von etwa 1145 mm von dem Objektiv 12t erzeugen»
Es werden mehrere solche Zielobjektive benutzt, da jedes Zielobjektiv nur einem kleinen Winkelausschnitt des Zielfeldes 32 zugeordnet ist, während es bei einem einzigen Zielobjektiv erforderlich sein würde, den gesamten Winkelbereich zu erfassen. Bei der hier beschriebenen bevorzugten Anordnung lassen sich einfachere Zielobjektive verwenden, da jedem Zielobjektiv ein kleinerer Bildwinkel zugeordnet ist«
Unterhalb des Zielobjektivteils 34 ist die Prüfstation 30 angeordnet, die das zu prüfende Objektiv 12t aufnimmt, während die Fördereinrichtung 24 die Objektive bewegt und jeweils eig.es der Objektive gleichachsig mit dem optischen Teil 14 anordnet, um es auf das Zielfeld J2 einzustellen, so daß das betreffende Objektiv ein Bild des Zielfeldes 32 auf der Bildplatte 42 erzeugt, die in der optimalen Fokussierebene des Objektivs 12t angeordnet ist.
Zu der Prüfstation 30 gehört eine Halte«· oder Spanneinrichtung 110, mittels welcher das zu prüfende Objektiv 12t aufgenommen und während seiner Prüfung festgehalten wird. Dieser Einrichtung ist eine Fokussiereinrichtung 112 zugeordnet, mittels welcher die' vorderste Linse des Objektivs 12t gedreht wird, um die Brennweite zu verstellen« Zu der Fokussiereinrichtung 112 gehört eine weitere Einrichtung, ζ «Β. ein Drehmelder, der der Signalverarbeitungseinrichtung 18 Informationen über den Winkel zuführt, um den die vorderste Linse des Objektivs 12t gedreht und damit axial verstellt worden ist»
Diese Information über den Drehwinkel der vordersten Linse steht somit in Beziehung zur Verstellung des Objektivs 12t während der Prüfung, da das Objektiv, wie erwähnt, dadurch
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fokussiert wird, daß seine vorderste Linse gegenüber den anderen Linsen axial verstellt wird. Zwischen der vordersten Linse und den übrigen Linsen ist eine Gewindeverbindung vorhanden, und daher ist die Einstellung des Objektivs eine Funktion des Drehwinkels der vordersten Linse. Eine weitere . Informatiqn über das aufzubringende Drehmoment ermöglicht es, festzustellen, wie leicht sich das Objektiv 12t mechanisch verstellen läßt, so daß es auch möglich ist, zu bestimmen, ob das Objektiv in dieser Hinsicht den Anforderungen entspricht.
Die Bildplatte 42 ist unter der Prüfstation 30 angeordnet, und zwar allgemein gesprochen in der optimalen Fokussierebene des Objektivs 12t für das Zielfeld 32. Mit Hilfe der Fokussiereinrichtung 112 wird die tatsächliche Brennebene des Objektivs 12t, die für das Zielfeld 32 gilt, so verlagert, daß sie die Ebene der Bildplatte 42 durchläuft»
Fig. 4b zeigt die Bildplatte 42 in einer Ansicht, so daß man die Anordnung der Schlitze 100 erkennt. Jeder Schlitz 100 ist in eine gesonderte Scheibe 114' eingeschnitten, die gemäß Fig. 4c in einer Buchse 116 axial verschiebbar ist, welche durch die Bildplatte 42 ragt. Somit läßt sich gemäß Fig. 4 der senkrechte Abstand jedes Schlitzes 100 von der Bildplatte 42 nach Bedarf verändern»
Die senkrechte Yerstellbarkeit der.Schlitze 100 ermöglicht es, die Schlitze gegenüber der Ebene der Bildplatte 42 so anzuordnen, wie es der berechneten restlichen Bildfeldkrümmung eines einwandfreien zu prüfenden Objektivs 12t entspricht. Für den Fachmann liegt es auf der ^and, daß bei einer solchen Anordnung die Signalverarbeitungseinriehtung 18 in einem geringeren Ausmaß für Berechnungen in Anspruch genommen wird. -
Die übrigen Merkmale der Bildplatte 42 gehen aus Fige 4b hervor. Es sind zwölf Schlitze 100 in Form von zwei konzentrischen Kränzen um einen dreizehnten Schlitz herum angeordnet, der sich in der Mitte des Bildfeldes des Objektivs 12t auf der Bildplatte 52 befindet. Jeder zweite Schlitz
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verläuft gegenüber dem Mittelpunkt der Bildplatte in radialer Kiehtung, während die dazwischen liegenden Schlitze tangential verlaufen.
Die "beiden Kränze von Schlitzen repräsentieren jeweils halbe Bildfeldwinkel von 14° bzw. 22° für das Objektiv 12t, und hierbei gilt der größere Bildfeldwinkel für den äußeren Bereich des. photographischen Formats, für welches das Objektiv 12t bestimmt ist. In Figo 4b ist die Begrenzung dieses Formats in Beziehung zu den Schlitzen 100 bei 118 durch gestrichelte Linien angedeutet.
Das Zielfeld 32 und die Bildplatte 42 sind im optischen Teil der Vorrichtung 10 so angeordnet, daß das Objektiv 12t ein Bild eines Schlitzes 72 erzeugt, das parallel zu dem Schlitz 100 ist und mit diesem Schlitz zusammenfällt, dem es zugeordnet ist.
Unter der Bildplatte 42 ist die Kondensorlinsengruppe 38 angeordnet, welche die Austrittspupille des Objektivs 12t auf der lichtempfindlichen Fläche 120 des Photoelektronenvervielfachers 40 abbildet, so daß Gewähr dafür, besteht, daß eine maximale Menge des Lichtes, das durch die Schlitze 100 fällt, gesammelt und gleichmäßig über die lichtempfindliche Fläche 120 verteilt wird. Daher wird das durch einen Schlitz 100 erzeugte Signal nicht durch örtliche Unterschiede der Empfindlichkeit des Photoelektronenvervielfachers 40 verfälscht. Es ist wichtig, zu bemerken, daß die gleiche Lampe 44 und der gleiche Photoelektronenvervielfacher 40 sämtlichen optischen Strahlenwegen oder Kanälen gemeinsam zugeordnet sind, so daß Fehler ausgeschaltet werden, die sich bei der Verwendung mehrerer entsprechender Teile ergeben könnten. Außerdem ermöglicht es diese Anordnung, den Photoelektronenvervielfacher 40 mittels einer Servoeinrichtung so zu steuern, daß sein Gleichspannungssignalpegel ohne Bücksicht darauf unverändert bleibt, ob die Leuchtkraft der Lampe 44 oder die Empfindlichkeit oder die Verstärkung des Photoelektronenvervielf achers schwankt, oder daß sich andere Größen ändern.
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Einer der optischen Strahlenwege oder Kanäle zwischen der Lampe 44 und dem Photoelektronenvervielfacher 40 ist mit weiteren Einzelheiten in Figo 5 dargestellt.
Da der einzige vorhandene Photoelektronenvervielfacher 40 sämtlichen Strahlenwegen oder Kanälen zugeordnet ist, muß dafür gesorgt sein,· daß die miteinander vereinigten Signale voneinander getrennt werden können« Zu diesem Zweck ist jedem Strahlenweg oder Kanal eine andere zeitliche Frequenz zugeordnet, um eine Identifizierung zu ermöglichen« Selbst wenn der Photoelektronenvervielfacher 40 Licht über alle 15 optischen Strahlenwege empfängt und daher ein zusammengesetztes elektrisches Signal erzeugt, das die Summe aller aufgenommenen Lichtmengen repräsentiert, können die einzelnen Komponenten des zusammengesetzten Signals identifiziert und unter Anwendung elektrischer Signalverarbeitungsverfahren voneinander getrennt werden,.
Die zeitliche Frequenz des Signals des Photoelektronenvervielfachers ergibt sich für jeden Kanal aus der Drehzahl der zugehörigen Zerhackerscheibe 36 und der Anzahl ihrer Schlitze 72. Die gewünschten unterschiedlichen zeitlichen Signalfrequenzen werden dadurch gewonnen, daß man bestimmte Zerhackerräder 36 mit einer bestimmten Drehzahl antreibt, die sich von den vorbestimmten Drehzahlen der übrigen Zerhackerräder unterscheidet, und daß man die Zerhackerräder mit einer unterschiedlichen Anzahl von Schlitzen entsprechender Größe versieht« Es lassen sich jedoch auch andere Verfahren anwenden, um unterschiedliche zeitliche Signalfrequenzen zu erzeugen. Die tatsächliche Drehzahl und die Anzahl der Schlitze richtet sich bei jedem Zerhackerrad 36 nach den Bedrüfnissen der Signalverarbeitung. Es ist zweckmäßig. Zahlenwerte zu verwenden, die für Hörfrequenzen typisch sind. Dieses ^erfahren zum Gewinnen unterschiedlicher zeitlicher Signälfrequenzen wird angewendet, da die Eaumfrequenz der Schlitze unter Berücksichtigung der Bedürfnisse der optischen Abnahmeprüfung festgelegt und für alle optischen Strahlenwege oder Kanäle die gleiche ist.
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Beim Betrieb der vorstehend beschriebenen Vorrichtung werden gleichzeitig von dem Photoelektronenvervielfacher 40 aus mehrere verschiedene Wechselspanmingssignale übertragen, die im Hörfrequenzbereich liegen. Jedes dieser Wechselspannungssignale ist auf die Bewegung der Bilder der Schlitze eines der Zerhackerräder an dem zugehörigen Schlitz zurückzuführen &
Die Bilder der Schlitze und der sie trennenden Abschnitte haben absichtlich im wesentlichen die gleiche Breite, wie der Schlitz, auf den diese Bilder fallen, und an dem sie sich vorbeidrehen. Somit erhält man ein sinusförmiges Wechselspannungssignal ο Der Wert dieses'Signals ist gleich UuIl, wenn das Bild einer Speiche des betreffenden Zerhackerrades in Deckung mit dem zugehörigen Schlitz 100 kommt, und es erreicht ein Maximum, sobald das Bild eines Schlitzes 72 in Deckung mit dem Schlitz 100 kommt, wenn der Kontrastübertragungswirkungsgrad des optischen Strahlenwegs einwandfrei istο Liegt der Kontrastübertragungswirkungsgrad des Strahlenwegs unter seinem Sollwert, erscheint das Bild etwas verschmiert, und der niedrigete Wert des Signals ist größer als EuIl, während sein Spitzenwert kleiner ist als der maximal mögliche Werte
Die Helligkeit der Lampe 44 und die Drehzahlen der Zerhackerräder 36 werden so geregelt, daß der Photoelektronenvervielfacher 40 auf lineare Weise auf die Bildhelligkeit und unabhängig von der zeitlichen Frequenz' anspricht.
Bei dem optischen Kontrastübertragungswirkungsgrad jedes Strahlenwegs oder Kanals handelt es sich um das Verhältnis zwischen dem Unterschied des Spitzenwertes und des schwächsten Signals einerseits und dem Zweifachen des mittleren Gleichspannungssignalwertes andererseits.
Für den Fachmann liegt es auf der Hand, daß jedem Strahlenweg unabhängig von der Wirkung des zu prüfenden Objektivs 12t sein eigener Kontrastübertragungswirkungsgrad zukommt. Daher bildet das Signal des Photoelektronenverviel-
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fachers 4-0 das kombinierte Ergebnis des Kontrastübertragungswirkungsgrades des Objektivs 12t und der übrigen Teile des Strahlenwegs. Jedoch ist nur der erstere Teil dieses Signals von Interesse« Der Strahlenweg soll von dem Objektiv i2t abgesehen so ausgebildet sein, daß er einen hohen Kontrastübertragungswirkungsgrad aufweist 0 -Hierdurch wird der Bauschabstand vergrößert, und man kommt mit einer einfacheren Signalverarbeitungseinrichtung 18 aus, die geeicht werden kann, um sie den Kontrastübertragungswirkungsgrädwerten der Strahlenwege anzupassen«
Durch die Verwendung nur einer Lampe 44 und nur eines Photoelektronenvervielfachers 40 für sämtliche Kanäle werden bestimmte Ursachen für Schwierigkeiten ausgeschaltet. Hierzu gehören Helligkeitsunterschiede von Kanal zu Kanal, Unterschiede bezüglich der Verstärkung, Unterschiede bezüglich der Spektralempfindliehkeit und/oder der IParbtemperatur, Unterschiede bezüglich des Frequenzgangs des Detektors sowie eine unterschiedliche Alterung der verwendeten Lampen. Somit ist es möglich, die Signalverarbeitungseinrichtung 18 und andere Steuer- bzw.. Regeleinrichtungen des optischen Teils 14 der Vorrichtung zu vereinfachen.
Ein weiterer Vorteil der beschriebenen Anordnung besteht darin, daß es bei nur einer Lampe und nur einem Photoelektronenverfrielfacher möglich ist, die Gleichspannungskomponente der Signale des Photoelektronenvervielfachers in einer Servoschleife auszunutzen, um zeitliche Änderungen bei den Kanälen, z.B. die Alterung der Lampe und die thermische Auswanderung des Photoelektronenvervielfachers zu kompensieren. Die Regeleinrichtung des Signalverarbeitungsteils 18 ermöglicht dies dadurch, daß sie die Gleichspannungskomponente des Stroms des Photoelektronenvervielfachers 40 mit einem stabilen Bezugsstrom vergleicht und die Speisehochspannung für den Photoelektronenvervielfacher entsprechend dem Ergebnis dieses Vergleichs variiert. Auf diese Weise wird die Gleichspannungskomponente des Signals konstant gehalten.
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eine wichtige Wirkung der Tatsache, daß die Gleichspannungskomponente des Signals bei jedem Kanal gezwungen wird, konstant zu bleiben, besteht darin, daß die Wechselspannungskomponente (Spitze-Spitze) des Signals bei jedem Kanal ein direktes Maß des Kontrastübertragungswirkungsgrades des zu prüfenden Objektivs 12t ist»
Die Wirkungsweise der Signalverarbeitungseinrichtung wird im folgenden anhand von Pig. 6 erläutert. Fig. 6 zeigt scliematisch die Beziehung zwischen der Signalverarbeitungseinrichtung 18, der Gleichspannungsregelservoschleife 150 für den Photoelektronenvervielfacher 40 und dem Drehmelder 152 der Prüfstation JO,
Zu der Servosehleife 15O zum Kegeln der Gleichspannung gehören eine regelbare Hochspannungsquelle 154, an die der Photoelektronenvervielfacher 40 angeschlossen ist, sowie ein Gleichspannungspegeldetektor 156 zum überwachen der Signale des Photoelektronenvervielfachers. Der Gleichspannungspegeldetektor 156 steuert die regelbare Hochspannungsquelle 154, durch welche die Verstärkung des Photoelektronenvervielfachers beeinflußt wird, um die Gleichspannungskomponente seines Signals konstant zu halten.
Das Signal des Photoelektronenvervielfachers ist gleich der Summeder sinusförmigen Zeitfrequenzsignale, die durch die verschiedenen Strahlenwege oder Kanäle erzeugt werden» Dieses Signal durchläuft einen Verstärker 180, um dann zu einer Gruppe von 13 Kanalauswertungseinrichtungen 182 zu gelangen, deren Anzahl der Anzahl der optischen Strahlenwege ist, die sich durch das zu prüfende Objektiv 12t erstrecken.
Jede Kanalauswertungseinrichtung der Gruppe 182 enthält ein Frequenzfilter 184, einen Amplitudendetektor 186, zwei Somparatoren 188 und I90 sowie eine Verriegelungseinrich tung 192. Das Frequenzfilter 184 ist so abgestimmt, daß es nur eine der 13 Zeitfrequenzen durchläßt, jedoch alle übrigen Zeitfrequenzen zurückhält, die in dem verstärkten Signal des Photoelektronenvervielfachers 40 anthalten sind. Die
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Filter der Gruppe 182 sind jeweils auf eine andere der verschiedenen Zeitfrequenzen im Ausgangssignal des Verstärkers 180 abgestimmte
Dem Amplitudendetektor 186 wird das durch das Frequenzfilter 184- durchgelassene Wechselspannungssignal zugeführt, und dieser Detektor verwandelt das Wechselspannungssignal in ein zu seiner Amplitude proportionales Gleichspannungssignalο Die Amplitude des Wechselspannungssignals ist bei jedem Kanal proportional zu dem Kontrastübertragungswirkungsgrad des Objektivs 12t längs des zugehörigen StrahlenwegSo Dies gilt entsprechend auch für das von dem Amplitudendetektor 186 abgegebene Gleichspannungssignalο
Die beiden Komparatoren 188 und 190 verarbeiten jeweils das Gleichspannungssignal des Amplitudendetektors 186» Bei dem Komparator 188 wird für den niedrigsten KontrastÜbertragungswirkungsgrad das Gleichspannungssignal mit einem einstellbaren Bezugswert verglichen, der so eingestellt ist, daß er gleich dem Gleichspannungssignal ist, das für einen Kontrastübertragungswirkungsgrad von 40% des betreffenden Kanals gilt. Wenn dieses Gleichspannungssignal gleich dem Bezugswert ist oder ihn überschreitet, betätigt der Komparator 188 einen Eingang eines Und-Gatters 184- für den kleinsten Wert des Kontrastübertragungswirkungsgrades CTE, und diese Wirkung bleibt erhalten, solange dieses Signal über dem Schwellenwert von 4-0% liegt.
Der Komparator 190 für den Spitzenwert von CIfE vergleicht das Gleichspannungssignal mit einem einstellbaren Bezugswert, der das Gleichspannungssignal repräsentiert, das für einen Kontrastübertragungswirkungsgrad von 60% des betref fenden Kanals gilt«. Wenn das Gleichspannungssignal in irgendeinem Zeitpunkt gleich diesem Bezugswert ist oder ihn überschreitet, betätigt der Komparator 190 die Verriegelungseinrichtung 192, die dann ein Signal einem Eingang eines Und-Gatters Ί96 für den Höchstwert von CTE zuführt; Die Verriegelungseinrichtung 192 gewährleistet, daß der Eingang des Und-Gatters 196 für den Spitzenwert von CTE auch dann betätigt
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bleibt, wenn das Gleichspannungssignal danach unter den Wert zurückgeht, der 60% entspricht.
Jede der Kanalauswertungseinrichtungen der Gruppe 182 arbeitet im wesentlichen in der gleichen Weise wie der soeben beschriebene Kanal 1»
Wenn alle Eingangssignale, die über die Kanäle dem Und-Gatter 194- für den kleinsten Wert von OTE zugeführt werden, über dem zugehörigen Schwellenwert liegen, meldet das Gatter 194- einer Einrichtung 198 zum Verarbeiten digitaler Signale, daß es eingeschaltet ist. Diese Wirkung bleibt erhalten, solange das Gatter eingeschaltet bleibt, d.tu solange sämtliche Kanäle einen Kontrastübertragungswirkugsgrad von mindestens 40% anzeigen0
Die Einrichtung 112 zum Fokussieren des Objektivs 12t, durch, welche die vorderste Linse gedreht wird, betätigt gemäß Fig» 6 gleichzeitig einen Drehmelder 152, der eine Impulsreihe aussendet, bei dem die Anzahl der Impulse zum Drehwinkel der vordersten Linse des Objektivs 12t proportional ist, so daß diese Anzahl auch proportional zum Ausmaß der Verlagerung der Brennebene ist. Ein weiteres Gatter 199 steuert die Zufuhr der Impulse zu einem Impulszähler 200 und läßt die Impulse des Drehmelders 152 nur dann zu dem Zähler 200 gelangen, wenn alle 13 Kanäle einen Kontrastübertragungswirkunfesgrad von mindestens 4-0% anzeigen. Diese Information wird dem Gatter 199 durch das Und-Gatter 194- für den kleinsten Wert von GiDE zugeführt» Die Gesamtzahl der Impulse, die zu dem Zähler 200 gelangen, repräsentiert die Tiefenschärfe, bei welcher der Kontrastübertragungswirkungsgrad sämtlicher Kanäle gleichzeitig mindestens 4-0% beträgt.
Die digitale Verarbeitungseinrichtung 198 wertet die Anzahl der Impulse auf, die ihr durch den Impulszähler 200 zugeführt werden«. Die Einrichtung 198 führt ein Signal einem den einwandfreien Zustand des Objektivs 12t meldendes Signal einem weiteren Und-Gatter 202 zu, wenn die Auswertung der Impulswahl anzeigt, daß eine ausreichende Tiefenschärfe vor-
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handen ist. Außerdem ermöglicht es die digitale Verarbeitungseinrichtung 198, weitere Informationen zu verarbeiten, welche der optische Teil 14 der Vorrichtung liefert, damit nützliche Informationen über die geprüften Objektive 12t gewonnen werden«.
Wenn allen 13 Kanaleingängen des Und-Gatters 196 für den Spitzenwert GTE Signale zugeführt werden, führt dieses Gatter seinerseits ein Signal, dem Und-Gatter 202 zu, um anzuzeigen, daß das geprüfte Objektiv einwandfrei ist. Das Und-Gatter 202 hat für jedes der vorstehend beschriebenen Abnahmekriterien einen Eingang, und es kann weitere Eingänge für andere Kriterien aufweisen. Zu den weiteren zweckmäßigen Abnahmekriterien könnten der spektrale Durchlassigkeitsabgleich , der Objektive, das Fokussierdrehmoment, die Lichtstreuung und die Fokussierfähigkeit (focal power) gehören.
Werden sämtlichen Eingöngen des Und-Gatters 202 zum Abnehmen des Objektivs Signale zugeführt, meldet dieses Gatter, daß das betreffende Objektiv einwandfrei ist. Arbeitet ein geprüftes Objektiv 12t derart, daß einem oder mehreren Eingängen des Abnahme- und -Gatters 202 keine Signale zugeführt werden, sendet ,das Gatter 202 ein Befehlssignal aus, durch das der Auswerfer 20 nach Fig. 3 betätigt wird, um das betreffende Objektiv als Ausschuß auszuscheiden.
Hachdem die Signalverarbeitungseinrichtung 18 ein Objektiv 12t bewertet hat, trifft sie ihre Entscheidung darüber, ob- das Objektiv abgenommen ist oder zurückgewiesen werden soll, woraufhin sich die Einrichtung selbsttätig zurückstellt, um zur Bewertung des nächsten Objektivs bereit zu sein.
Anhand von Fig, 7 'wird im folgenden eine nähere Erläuterung des erfindungsgemäßen Prüfverfahrens und der Auswertung der dabei erzeugten Signale gegeben. Bei Fig. 7 handelt es sich um eine hypothetische graphische Darstellung des in Prozent ausgedrückten Kontrastübertragungswirkungsgrades als Funktion der Verlagerung der Brennebene bei einigen ausgewählten Kanälen, Und zwar für den axialen Kanal, zwei Kanäle,
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die unter 14° gegen die Achse geneigt sind, wobei der eine auf einen tangentialen Schlitz ausgerichtet ist (14 T), während der andere Kanal auf einen radialen Schlitz ausgerichtet ist (14 E), sowie zwei Kanäle, die unter 22 gegen die Achse geneigt sind, wobei der eine Kanal zu einem tangentialen Schlitz gehört (220T), während der andere Kanal einem radialen Schlitz (220E) zugeordnet isto
In Fig. 7 bezeichnen die Kurven die Amplitude des gleichgerichteten Wechselspannungssignals, das durch die genannten Kanäle erzeugt wird, wenn das zu prüfende Objektiv 12t so fokussiert wird, daß seine optimale Brennebene von einem Punkt unterhalb der Bildplatte 42 bis zu einem darüber liegenden Punkt bewegt wird.
In Fig. 7 bezeichnen die Punkte a bis e diejenige Verlagerung des Bildes, bei der jeder gewählte Kanal den Schwellenwert erreicht, der einem Kontrastübertragungswirkungsgrad von 40% entspricht. Die Punkte f bis j bezeichnen die Bildverlagerung, bei weleher "der Kontrastübertragungswirkungsgrad unter dem Schwellenwert von 40% liegt. Wie erwähnt, besteht eines der Abnahmekriterien darin, daß die Strecke der Verlagerung zwischen den Punkten e und f, die sämtlichen Kanälen entspricht, bei denen ein Wert über dem Schwellenwert von 40% erreicht wird, gleich einem vorbestimmten Mindestwert ist· Ein weiteres Abnahmekriterium besteht darin, daß jeder Kanal außerdem bei einer beliebigen Verlagerung der Brennebene einen Kontrastübertragungswirkungsgrad von mindestens 60% erreicht. Fig. 7 läßt erkennen, daß dies bei den gewählten Kurven der Fall ist.
Die Bildfeldkrümmung des hypothetischen zu prüfenden Objektivs 12t, für das die Darstellung in Fig. 7 gilt, unterscheidet sich vom theoretischen Wert. Dies wird daraus geschlossen, daß die Schlitze 100 der Bildplatte 42 so verlagert sind, daß sie der berechneten restlichen Bildfeldkrümmung entsprechen. Die Signale für ein zu prüfendes Objektiv 12t mit einer solchen Bildfeldkrümmung müßten dann bei der gleichen Verlagerung sämtlich ihre Spitzenwerte erreichen.
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Nunmehr wird verständlich, daß man für jedes geprüfte Objektiv 12t zusätzliche analytische Informationen aus den Signalen gewinnen kann, die durch den optischen '-^eil 14· der Vorrichtung 10 erzeugt werden«
Ansprüche t
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Claims (1)

  1. ANSPRÜCHE
    Vorrichtung zum Prüfen von Objektiven, gekennzeichnet durch eine Einrichtung, die es ermöglicht, gleichzeitig den Kontrastübertragungswirkungsgrad eines Objektivs (12t) längs mehrerer verschiedener, sich durch das Objektiv erstreckender optischer Strahlenwege (46, 48, 50) zu messen, eine Einrichtung zum Erzeugen von Signalen für jeden der verschiedenen optischen Strahlenwege, die proportional zu dem jeweils gemessenen Kontrastübertragungswirkungsgrad sind, sowie durch eine Einrichtung (18) zum Verarbeiten der Signale und zum Beurteilen des Objektivs im Hinblick auf vorbestimmte Abnahmekriterien0
    2. Nach dem Multiplexverfahren arbeitende Prüfvorrichtung zum Beurteilen von Objektiven, gekennzeichnet durch eine Prüfstation (30) zum Bestimmen der Lage eines lösbar festgehaltenen, zu ppüfenden Objektivs (12t), sowie durch mehrere optische Strahlenwege (4-6, 48, 50), die sich durch das zu prüfende Objektiv erstrecken und gegenüber der optischen Achse des zu prüfenden Objektivs so angeordnet sind, daß sich die Anordnung jedes Strahlenwegs von de& Anordnung jedes anderen Strahlenwegs unterscheidet, wobei zu jedem optischen Strahlenweg eine Lichtquelle (44) gehört, ferner ein Prüfmuster (72) im Bildfeld des zu prüfenden Objektivs, Einrichtungen (52, 54, 80) zum Beleuchten des Prüfmusters mit dem Licht der Lichtquelle sowie eine Einrichtung (40) zum Abfragen der Bilder der Prüfmuster, die durch das zu prüfende Objektiv erzeugt werden, und zum Hervorrufen e'iner meßbaren Wirkung, die eine Funktion des Kontrastübertragungswirkungsgrades des zu prüfenden Objektivs ist.
    5· Nach dem Multiplexverfahren arbeitende Abnahmeprüfvorrichtung zum Prüfen eines Objektivs, g e k e η η -
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    zeichnet durch eine Prüfstation (30), die dazu dient, die Lage eines lösbar festgehaltenen, zu prüfenden Objektivs (12t) zu bestimmen und eine Einrichtung (112) zum Einstellen der Brennweite des zu prüfenden Objektivs und eine Einrichtung (152) zum Erzeugen eines zum Ausmaß der bewirkten Verstellung proportionalen Signals aufweist, sowie durch mehrere opti-r sehe Strahlenwege (46, 48, 50), die sich sämtlich durch das zu prüfende Objektiv erstrecken und gegenüber der optischen Achse des zu prüfenden Objektivs so angeordnet sind, daß jeder Strahlenweg.anders angeordnet ist als jeder andere Strahlenweg, wobei zu jedem optischen Strahlenweg eine Lichtquelle (44) gehört, ferner ein Prüfmuster (72) im Bildfeld des zu prüfenden Objektivs,.Einrichtungen (52, 54, 80) zum Beleuchten jedes Prüfmusters mit dem Licht der Lichtquelle sowie eine Einrichtung (49) zum Abfragen der durch das zu prüfende Objektiv erzeugten Bilder der Prüfmuster und zum Herbeiführen einer meßbaren Wirkung, die eine Punktion des Kontrastübertragungswirkungsgrades des zu prüfenden Obejktivs längs des zugehörigen optischen Strahlenwegs ist.
    4. Vorrichtung nach Anspruch 3» dadurch gekennzeichnet, daß zu der Abfrageeinrichtung mindestens eine öffnung (100) in der Brennebene des zu prüfenden Objektivs (I2t) gehört, deren ϊοπη der Form des optimalen Bildes entspricht, das ein einwandfreies, zu prüfendes Objektiv in der Brennebene von dem Prüfmuster erzeugen würde, und daß zu jedem optischen Strahlenweg (46, 48, 50) ein Photodetektor (40) zum Aufnehmen des Lichtes gehört, das dem durch die Öffnung übermittelten Bild entspricht»
    5. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet , daß jeder optische Strahlenweg (46, 48, 50) ferner ein Zielobjektiv (34a) aufweist, durch das ein vorbestimmter wirksamer optischer Abstand zwischen dem Prüfmuster (72) und dem zu prüfenden Objektiv (12t) hergestellt wird, sowie eine Kondensorlinsengruppe (38), die zwischen der Öffnung (100) und dem Photodetektor (40) angeordnet ist und dazu dient, eine wirksame Übertragung des durch die
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    Öffnung fallenden Lichtes zu dem Photodetektor zu fördern.
    6. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet , daß eine einzige Lichtquelle (44) sämtliche optischen Strahlenwege (46, 48, 50) mit Licht versargt, um sämtliche Prüfmuster (72) zu beleuchten, und daß sämtlichen optischen Strahlenwegen ein einziger Photodetektor (40) zugeordnet ist, dem das durch sämtliche öffnungen (100) fallende Licht zugeführt wird.
    7. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß zu jedem Prüfmuster mehrere Schlitze (72) gehören, die durch dazwischen liegende, liehtundurchlässige Flächen getrennt sind, daß die Schlitze und die lichtundurchlässigen Flächen die gleiche Breite haben, und daß jede der genannten Öffnungen ein Schlitz (100) ist, dessen Breite gleich der Breite des genannten optimalen Bildes ist»
    8. Vorrichtung nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch Einrichtungen (68), die es ermöglichen, jeden der optischen Strahlenwege (46, 48, 50) so zu beeinflussen, daß sich jede Komponente des durch den Photodetektor (40) erzeugten Signals hinsichtlich des optischen Strahlenwegs identifizieren läßt, dem die betreffende Komponente zugeordnet ist.
    9 ο Vorrichtung nach Anspruch 8, gekennzeichnet durch eine Signalverarbeitungseinrichtung (18) zum Aufnehmen des Signals der ^rüfstation (30) und der Signale des Photodetektors (40) und zum Auswerten dieser Signale entsprechend vorbestimmten Kriterien zur Ermittlung eines einwandfreien Zustandes des geprüften Objektivs (12t).
    10. Vorrichtung nach Anspruch 9> dadurch g e k e η η zeichnet^ daß das Signal der ^rüfstation (30) und die Signale des Photodetektors (40) gleichzeitig zu der Signalverarbeitungseinrichtung (18) gelangen.
    11. Vorrichtung nach Anspruch 4, gekennzeichnet durch eine Servoeinrichtung (150), die dazu dient,
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    das mittlere Signal des Photodetektors (40)·konstant zu halten.
    12. Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet , daß der Photodetektor ein Photoelektronenvervielfacher (40) ist, daß dem Photoelektronenvervielfacher eine.regelbare Hoehspannungsquelle (154) zugeordnet ist, und daß zu der Servoeinrichtung (150) ein Detektor (156) für den mittleren Gleichspannungspegel gehört, mittels dessen die von dem Photoelektronenvervielfacher abgegebenen Signale überwacht werden, und der dazu dient, die regelbare Hochspannungsquelle entsprechend diesen Signalen so zu verstellen, daß der mittlere Gleichspannungssignalpegel des Photoelektronenvervielf achers konstant gehalten wird»
    13 ο Vorrichtung nach Anspruch 10, dadurch g e k e ή η zeichnet, daß die SignalVerarbeitungseinrichtung (18) mehrere Kanalauswertungseinrichtungen (182) aufweist, von denen Jede dazu dient, einen anderen der verschiedenen optischen Strahlenwege (46, 48, 50) zu beurteilen, die sich durch das zu prüfende Objektiv (12t) erstrecken, und von denen Jede ein !Tilter (184) aufweist, das sämtliche Signale mit Ausnahme desjenigen Signals zurückhält, das als dem betreffenden Kanal zugeordnet identifiziert worden ist, ferner einen Amplitudendetektor (186), dem das von dem Filter durchgelassene Signal zugeführt wird, ein Schwellenwert-Signalpegelkomparator (188), der dazu dient, festzustellen, on der Spitzenwert der Amplitude des von dem Filter durchgelassenen Signals mindestens gleich einem vorbestimmten Mindestspitzenwert ist, sowie einen Spitzenwert-Signalpegelkomparator (190), der dazu dient, festzustellen, on die Amplitude des von dem Filter durchgelassenen Signals über einem vorbestimmten Schwellenwert liegt.
    14. Vorrichtung nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet, daß die SignalVerarbeitungseinrichtung (18) ferner ein erstes Ünd-Gatter (199) aufweist, das feststellt, ob sämtliche Schwellenwert-Signalpegelkomparatoren (188)
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    Signale nachweisen, die über dem genannten Schwellenwert liegen, und das ein entsprechendes Signal abgibt, wenn dies der Fall ist, eine Zähleinrichtung (200) zum Aufnehmen dieses Signals sowie zum Aufnehmen und Auswerten des von der Prüfstation (JO) aus übermittelten Signals während der Zeit, während welcher das zuerst genannte Signal ständig vorhanden ist, eine Yerarbeitungseinrichtung (198), die der Zähleinrichtung (200) zugeordnet ist und mit dem ersten Und-Gatter zusammenarbeitet, um festzustellen, ob das Signal der Prüfstation mindestens einen vorbestimmten Mindestwert erreicht, während das erste Und-Gatter das genannte Signal abgibt, sowie ein zweites Und-Gatter (196) zum Ermitteln und Speichern von Informationen darüber, ob sämtliche Spitzensignal-Pegelkomparatoren (190) ein Signal nachgewiesen haben, das den vorbestimmten Mindestspitzenwert aufweist.
    15. Torrichtung nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet, daß die Signalverarbeitungseinrichtung (18) eine Einrichtung aufweist, die dazu dient, bestimmte Teile der Signalverarbeitungseinrichtung zurückzustellen, nachdem die Signalverarbeitungseinrichtung ihre Entscheidung über die Annahme oder Zurückweisung des jeweils geprüften Objektivs (12t) getroffen hat«
    16· Vorrichtung nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung der ^rüfstation (50) zum Erzeugen eines Signals ein einer Welle zugeordneter Drehmelder (152) ist.
    17· Yorrichtung nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet , daß sich jedes Prüfmuster aus mehreren miteinander abwechselnden radialen Sehlitzen (72) und radialen Speichen von gleichen Abmessungen einer drehbaren Scheibe ($6) zusammensetzt, daß jede der genannten Öffnungen ein Schlitz (100) ist, der eine solche Breite hat und so angeordnet ist, daß er mit der Breite und der Lage des optimalen bildes zusammenfällt, und daß jede drehbare Scheibe im Bereich ihrer radialen Schlitze mit einer Tangentialgeschwindigkeit bewegt wird, die für den dadurch beeinflußten optischen
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    Strahlenweg (4-6, 48, 50) kennzeichnend ist, so daß sich jede Komponente des durch den Photodetektor (4-0) erzeugten Signals mit Hilfe ihrer zeitlichen Frequenz identifizieren und dem optischen Strahlenweg zuordnen läßt, zu dem sie gehört·
    18. Vorrichtung nach Anspruch 5» gekennzeichnet durch eine der optimalen Brennebene des zu prüfenden Objektivs (12t) benachbarte Bildplatte (42) mit Einrichtungen (116), die es ermöglichen, die Lage jedes Schlitzes (100) gegenüber der Ebene der Bildplatte zu verändern, damit sich die Schlitze so anordnen lassen, wie es der für ein einwandfreies zu prüfendes Objektiv berechneten restlichen Bildfeldfoajm entspricht.
    19· Vorrichtung nach Anspruch 3> dadurch gekennzeichnet y daß die verschiedenen optischen Strahlenwege (4-6, 4-8, 50) in einer vorbestimmten Beziehung zueinander so angeordnet sind, daß sie die optische Leistung des zu prüfenden Objektivs (12t) innerhalb seines gesamten Bildfeldes sowohl in sagafctalen als auch in tangentialen Eichtungen abfragen.
    20. Vorrichtung nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet·, daß die Öffnungen als Schlitze (100) ausgebildet sind, und daß die-verschiedenen optischen Strahlenwege (4-6, 48, 50) so angeordnet sind, daß die Schlitze auf mindestens zwei konzentrischen Kreisen liegen und eine solche Lage einnehmen, daß jeder zweite Schlitz auf den Mittelpunkt der Brennebene ausgerichtet ist, um eine Beurteilung der Bildgüte in tangentialer Eichtung zu ermöglichen, und daß die dazwischen liegenden Schlitze so angeordnet sind, daß sie eine Beurteilung der Bildgüte in sagittalen Eichtungen ermöglichen.
    21. Vorrichtung zum Prüfen von Objektiven, g e k e η η ζ e ichn et durch eine Prüfstation (50) zum Bestimmen der Lage eines lösbar festgehaltenen zu prüfenden Objektivs (12t), eine in der Brennebene des von der Prüfstation aufgenommenen Objektivs angeordnete Bildplatte (4-2), eine Ein-
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    richtung (112) zum Ändern der Brennweite des Objektivs gegenüber der Bildplatte, mehrere Prüfmuster (72), die im Bildfeld des Objektivs nach einem vorbestimmten Muster angeordnet sind, mehrere Zielschlitze (100), mit denen die Bildplatte versehen ist, und die so angeordnet sind, daß sie dem genannten vorbestimmten Muster entsprechen, damit jedem Zielschlitz ein durch das Objektiv erzeugten Bild eines der verschiedenen Prüfmuster zugeführt wird, eine Beleuchtungseinrichtung (44), die jedem der Prüfmuster Licht zuführt, mittels dessen das Objektiv die Bilder der verschiedenen Prüfmuster an den verschiedenen Zielscfelitzen erzeugt, sowie durch einen Detek-, tor (40) zum Überwachen der Lichtmenge, die durch die Ziel» schlitze fällt, und zum Erzeugen eines Signals, das Informationen über die von jedem Zielschlitz durchgelassene Lichtmenge enthält.
    22. Vorrichtung nach Anspruch 21, gekennzeichnet; durch eine SignalVerarbeitungseinrichtung (18) zum Gewinnen von Informationen über die von jedem der Zielschlitze (100) durchgelassene Liehtmenge aus dem genannten Signal.
    23· Vorrichtung-nach Anspruch 21, gekennzeichnet durch Einrichtungen (34a), die einen vorbestimmten optischen Abstand zwischen dem zu prüfenden Objektiv (12t) und den verschiedenen Prüfmustern (72) hervorrufen.
    24o Vorrichtung nach Anspruch 23, dadurch gekennzeichnet, daß zu jeder Einrichtung zum Hervorrufen eines vorbestimmten optischen Abstandes ein Zielobjektiv (34a) gehört.
    25? Vorrichtung nach Anspruch 21, dadurch gekennzeichnet, daß zu jedem der Prüfmuster eine Zerhackerscheibe (36) gehört, die mehrere gleichmäßige radiale Schlitze (72) aufweist, damit Licht durch die Zerhackerscheibe fallen kann, und daß jeder der gleichmäßigen radialen Schlitze von dem ihm am nächsten benachbarten radialen Schlitz der Zerhackerscheibe durch eine lichtundurchlässige Speiche getrennt ist, die annähernd die gleiche Breite hat wie der radiale Schlitz.
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    26. Vorrichtung nach Anspruch 25» dadurch gekennzeichnet, daß jeder Zielschlitz (100) eine lange Abmessung und eine Breite hat, welch letztere gleich der Breite des darauf durch das Objektiv (12t) erzeugten Bildes der radialen Schlitze (72) der zugehörigen Zerhackerscheibe (36) ist, daß eine erste Gruppe der Zielschlitze der Bildplatte (42) so angeordnet ist, daß ihre lange Abmessung in radialer Richtung zum Mittelpunkt der Brennebene verläuft und daß eine zweite Gruppe der Zielschlitze so angeordnet ist, daß ihre langen Abmessungen tangential zum Mittelpunkt/der Brennebene verlaufen.
    27» Vorrichtung nach Anspruch 26, gekennzeichnet durch eine den Prüfmustern (72) benachbarte lichtundurchlässige Maske (60), die mehrere Fenster (62) aufweist, von denen jedes erheblich kleiner ist als die zugehörige Zerhackerscheibe (36), und die in der lichtundurchlässigen Maske so angeordnet sind, daß jeweils ein Fenster einer bestimmten Zerhackerscheibe, zugeordnet ist, damit zu der Brennebene Bilder der Schütze (72) der Zerhackerscheiben übertragen werden, die annähernd parallel zu den zugehörigen Zielschlitzen (100) in der Brennebene sinde
    28» Vorrichtung nach Anspruch 27» dadurch gekennzeichnet, daß die Raumfrequenzen der Schlitze (72) und der Speichen sämtlicher Zerhackerscheiben (36) im wesentlichen die gleichen sindo
    29« Vorrichtung nach Anspruch 21, g^.e kennzeichnet durch Einrichtungen (68), die es ermöglichen, den Lichtmengen, die durch jeden der Zielschlitze (100) fallen, eine zeitliche Frequenz zu verleihen, die sich von der zeitlichen Frequenz unterscheidet, welche dem von einem beliebigen anderen Zielschlitz durchgelassenen Licht verliehen wird, so daß es möglich ist, jeweils dasjenige Licht zu identifizieren, das durch einen bestimmten Zielschlitz gefallen ist.
    Vorrichtung nach Anspruch 29, dadurch g e k e π η zeichnet , daß das genannte Signal Gleichspannungsund WechselSpannungskomponenten enthält, und daß eine Ein-
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    richtung (150) vorhanden ist, die es als Servoeinrichtung ermöglicht, den Detektor (40) so zu steuern, daß der Detektor ein Gleiehspannungssignal von vorbestimmter Größe abgibt und diese Größe aufrechterhalten wird»
    31« Vorrichtung nach Anspruch 30, dadurch gekennzeichnet,, daß die Prüfmuster jeweils durch eine Anzahl radialer Schlitze (72) einer drehbaren Zerhackerscheibe (36) gebildet werden, und daß die Einrichtungen (68) zum Erzeugen der verschiedenen zeitlichen Frequenzen bewirken, daß sich jedes Prüfmuster mit einer anderen Geschwindigkeit bewegt als jedes der übrigen Prüfmuster.»
    32. Vorrichtung nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet, daß das genannte Signal Gleichspannungsund WechselSpannungskomponenten enthält, und daß eine logische Einrichtung (188) vorhanden ist, die feststellt, db die den verschiedenen Zielschlitzen (100) zugeordneten Wechselspannungssignalkomponenten einen ersten vorbestimmten Wert überschreiten, und welche diese Signalkomponenten in Beziehung mit der Tiefenschärfe des Objektivs (I2t)· setzt, bei welcher die WechselspannungsSignalkomponenten den ersten vorbestimmten Wert überschreiten.
    33· Vorrichtung nach Anspruch 32, gekennzeichnet durch eine Einrichtung (190), die feststellt, ob jede der genannten Wechselspannungssignalkomponenten einen zweiten vorbestimmten Wert überschreitet,,
    34. Vorrichtung zum Prüfen von Objektiven, gekennzeichnet durch eine Einrichtung (110) zum lösbaren Festhalten eines zu prüfenden Objektivs (12t), mehrere Prüfziele (72), die im Bildfeld des Objektivs auf vorbestimmte Weise angeordnet sind, eine in der Brennebene des Objektivs angeordnete Bildplatte (42), mehrere der Bildplatte zugeordnete Zielschlitze (100), die so angeordnet sind, daß auf jedem Zielschlitz ein durch das Objektiv entworfenes Bild eines der verschiedenen Prüfziele erscheint, wobei das
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    Objektiv und die verschiedenen Prüfziele sowie die Zielschlitze zueinander so angeordnet sind, daß mehrere verschiedene, sich durch das Objektiv erstreckende optische Strahlenwege (46, 48, 50) vorhanden sind, eine Beleuchtungseinrichtung (44), Einrichtungen (52, 54» 80) zum -Beleuchten der verschiedenen Prüfziele mit dem Licht der Beleuchtungseinrichtung, eine Einrichtung (38) zum Sammeln des von den verschiedenen Zielschlitzen durchgelassenen Lichtes sowie einen Detektor (40) mit einer lichtempfindlichen Fläche (120), die so angeordnet ist, daß sie das gesammelte, von den verschiedenen Zielschlitzen kommende Licht empfängt, um ein Signal zu erzeugen, das Informationen über den Kontrastübertragungswirkungsgrad des Objektivs längs jedes der durch das Objektiv verlaufenden optischen Strahlenwege enthält.
    35· Vorrichtung nach Anspruch 34, gekennzeichnet durch eine Servoeinrichtung (150), die den Detektor (40) so steuert, daß eine vorbestimmte Größe des Gleichspannungssignal-s des Detektors auch, dann aufrechterhalten wird, . wenn bei sämtlichen optischen Strahlenwegen (46, 48, 50) gleichzeitig eine -gleichartige Änderung eintritto
    36. Vorrichtung nach Anspruch 34, gekennzeichnet durch Einrichtungen (68), die es ermöglichen, jeder der längs der verschiedenen optischen Strahlenwege (46, 48, 50) übertragenen Lichtmengen eine kennzeichnende zeitliche Frequenz zu verleihen, sowie durch eine Signalverarbeitungseinriehtung (18) zum Trennen der durch den Detektor (40) erzeugten Informationen über den Kontrastübertragungswirkungsgrad des Objektivs (12t) bei den verschiedenen, sich durch das Objektiv erstreckenden optischen Strahlenwegen.
    37. Vorrichtung zum Prüfen von Objektiven, gekennzeichnet durch eine Einrichtung (110) zum Bestimmen der Lage eines mit Hilfe der Vorrichtung (10) zu prüfenden, lösbar festgehaltenen Objektivs (I2t), eine in der Brennebene des Objektivs angeordnete Bildplatte (42), eine im Bildfeld des Objektivs angeordnete Lichtquelle (44), einen Detektor (40) mit einer lichtempfindlichen Fläche (120), mehrere in
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    Winkelabständen verteilte, sich durch das Objektiv erstreckende optische Strahlenwege (46, 48, 50), längs welcher die Lichtquelle Licht zu der lichtempfindlichen Fläche überträgt, wobei jeder optische Strahlenweg eine auf der der Lichtquelle zugewandten Seite des Objektivs eine Zerhackerscheibe ($6) und einen der Bildplatte zugeordneten Zielschlitz (100) aufweist, wobei jede Zerhackerscheibe mit mehreren radialen'Schlitzen (72) versehen ist, wobei die Breite jedes radialen Schlitzes so gewählt ist, daß die Breite des Bildes, welches das Objektiv von dem Schlitz auf der Bildplatte erzeugt, gleich der Breite des zugehörigen Schlitzes der Bildplatte ist, Einrichtungen (68), die dazu dienen, jeden Satz von radialen Schlitzen mit einer Geschwindigkeit zu bewegen, die sich von der Bewegungsgeschwindigkeit jedes anderen Satzes von radialen Schlitzen der Zerhackerräder unterscheidet, sowie durch eine Servoeinrichtung (150), welche den Detektor so steuert, daß jedes Gleichspannungssignal des Detektors auf einem vorbestimmten Wert gehalten wird»
    58. Vorrichtung nach Anspruch 37» gekennzeichnet durch eine Signalverarbeitungseinrichtung (18) zum Trennen der Komponenten des Signals, welche den Lichtmengen zugeordnet sind, die längs der verschiedenen optischen Wege (46, 48, 50) übertragen werden.
    39· Vorrichtung nach Anspruch 38» gekennzeichnet durch eine Einrichtung (156), die den zeitlichen Mittelwert der Signale konstant hält.
    40. Vorrichtung nach Anspruch 39» gekennzeichnet durch eine Einrichtung (112) zum Indern der Brennweite des zu prüfenden Objektivs (12t) während der Durchführung des Meßvorgangs sowie durch eine Einrichtung (188) zum Ermitteln der Änderung der Brennweite, bei der die erzeugten Signale einen vorbestimmten Sehwellenwert überschreiten.
    Vorrichtung nach Anspruch 39» gekennzeichnet durch-eine Einrichtung (112) zum Ändern der Brennweite des zu prüfenden Objektivs (i2t), während die Messung durch-
    geführt wird, sowie durch eine Einrichtung (190), die feststellt, ob sämtliche erzeugten Signale in einem bestimmten Zeitpunkt einen vorbestimmten Spitzenwert überschreiten.
    42. Verfahren zum Prüfen von Objektiven, dadurch gekennzeichnet, daß gleichzeitig der Kontrastübertragung swirkungsgr ad des zu prüfenden Objektivs längs mehrerer sich durch das Objektiv erstreckender verschiedener optischer Strahlenwege gemessen wird, daß für jeden der verschiedenen optischen Strahlenwege Signale erzeugt werden, die zum gemessenen Kontrastübertragungswirkungsgrad proportional sind, und daß diese Signale unter Berücksichtigung vorbestimmter Abnahmekriterien verarbeitet werden.
    43. Verfahren, nach Anspruch 42, dadurch gekennzeichnet, daß der zeitliche Mittelwert der Signale konstant gehalten wirdo
    44. Verfahren nach Anspruch 43, dadurch gekennzeichnet , daß die Brennweite des zu prüfenden Objektivs geändert wird, während die Messung durchgeführt wird, und daß die Änderung der Brennweite ermittelt wird, bei welcher die erzeugten Signale einen vorbestimmten Schwellenwert überschreiten.,
    45. Verfahren nach Anspruch 43, dadurch gekennzeichnet, daß die Brennweite des zu prüfenden Objektivs geändert wird, während die Messung durchgeführt wird, und daß festgestellt wird, ob sämtliche erzeugten Signale in einem bestimmten Zeitpunkt einen vorbestimmten Spitzenwert überschreitenο
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