DE2431973C3 - Optischer abtaster - Google Patents
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- DE2431973C3 DE2431973C3 DE19742431973 DE2431973A DE2431973C3 DE 2431973 C3 DE2431973 C3 DE 2431973C3 DE 19742431973 DE19742431973 DE 19742431973 DE 2431973 A DE2431973 A DE 2431973A DE 2431973 C3 DE2431973 C3 DE 2431973C3
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Description
3 4
Spiegel mittels elektrischer Antriebseinrichtungen mit nach Art Lissajous'scher Figuren können, aber müssen
unterschiedlichen Frequenzen um zwei in der Spiegel- nicht innerhalb des Abtastfensters li>enutzt werden,
ebene liegende und senkrecht aufeinander stehende wobei dies jedoch von der Art der abzutastenden Code-Achsen
schwenkbar und um eine auf beiden Achsen felder abhängt Wünschenswert sind horizontale Absenkrecht
stehende dritte Achse dreh-oder schwenkbar 5 tastungen zur Abtastung kurzer oder segmentierter
ist. Auch ist nach dieser Schrift der Betrieb in den Felder. Die Umkehrstellen der Lissajous'schen Muster
beiden Abtastrichtungen mit erheblich verschiedenen sind trotz ihrer Nichtlinearität zur Ausführung hori-Frequenzen
und eine magnetische Spiegelbewegung zontaler Abtastungen benutzbar.
beschrieben. Mit einem solchen einfachen System ist Damit werden Abtastlücken vermieden, die z. B.
•»''.och tsoch nicht ohne erfinderisches Zutun eine io bei den Lösungen nach den US-PS 37 18 761 und
Erzeugung störungsfreier JT-Muster durchführbar, die 37 28 677 auftreten können. Unter Hereinbringung der
mit Sicherheit den gesamten Bereich des vorgesehenen Endbereiche der Lissajous'schen Figuren in das Abschmalen
Fensters bestreichen und damit einen dar- tastfenster lassen sich senkrechte Abtastungen in der
über geführten Gegenstand und dessen Strichcodierung Mitte des Abtastfensters erzielen. Diese senkrechten
unbedingt und fehlerfrei auswertbar erfassen. i5 Abtastungen sind sehr nützlich bei der Abtastung der
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung ist die Codefelder unter ungünstigen Lagebedingungen.
Schaffung eines dem Stande der Technik gegenüber Bei der vorliegenden Erfindung ist die Einhakung
verbesserten Abtasters fur beliebige Abtastlage der der Frequenz- und Phasenbedingungen sehr kritisch,
abzutastenden Markierungsfelder unter Beachtung der oje Spiegel schwingen mit Resonanzfrequenz. Dabei
folgenden Gesichtspunkte: 20 würde jede Frequenzabweichung die Anordnung
c. ., . ~ , , ,. , instabil machen. Vorzugsweise wird ein dieitales
a) Abtastung von Stnchmarken-Codefeldern ohne F n2_ und Phasens5uersystein verwendet Die
Rucksich auf die Lage des jeweils abzutastenden meisten Frequenz. ^ Phasensteuersysteme nach dem
Fe des soll möglich sein, Stande der Jechjuk verwenden dn(J kontinuierliche
b) hohe Stabilität und Genauigkeit, Frequenzveränderung, bis die verlangte Phasenbedin-
c) große Zuverlässigkeit und gunl erreicht ist. Bei Elchen Systemen ist unter kleinen
d) Einfachheit des Gerätes sollen gegeben sein. Freq\ienzverändeningen eine große Korrekturzeit er-
forderlich, um ein stabiles Verhalten zu erreichen. Ent-
Die Lösung dieser Aufgabe ist im Patentanspruch 1 sprechend der vorliegenden Erfindung ist eine relativ
gekennzeichnet. Vorteilhafte Ausgestaltungen sind in 30 schnelle Frequenzveränderung möglich, wobei diese
den Unteransprüchen beschrieben. kurzzeitig erfolgt und nicht gedehnt. Des weiteren wird
Die vorliegende Erfindung befaßt sich mit der Ab- die Stabilität begünstigt durch Vorkehrung von Fretastung
von Codefeldern, die beliebig am Abtast- quenzveränderungen nur geringer Häufigkeit; jede
fenster vorbeilaufen. Das Af-Abtastmuster soll gleich- Frequenzveränderung wird nur während einer vorfönnig
sein. Im Idealfalle schneiden sich die Abtast- 35 gegebenen Einstellperiode durchgeführt,
linien mit der Längsachse des Abtastfensters unter Ausführungsbeispiele der Erfindung sind in den
45 bzw. 135°. Praktisch schneiden die Abtastlinien Zeichnungen dargestellt und werden im folgenden
dann eine Längs- und eine Horizontalachse durch die näher beschrieben. Es zeigt
Mitte des Abtastfensters unter 45 bzw. 135°; an den F i g. 1 eine perspektivische Ansicht des Abtasters
Rändern des Abtastfensters sind jedoch 55 bzw. 125° ^0 nach der vorliegenden Erfindung,
gegeben. Dies bei folgenden Bewegungsverhältnissen: F i g. 2 das Blockschaltbild eines gewählten Ausführungsbeispiels
der Frequenz- und Phasensteuerung JvlJH = AhIAv- einschließlich der Amplitudensteuerung,
F i g. 3 ein allgemeiner dargestelltes Blockschalt-
Dabei sind / die Frequenz und A die Amplitude 45 bild der Frequenz- und Phasensteuerung gemäß
der Abtastlinien. Die entsprechend der vorliegenden F i g. 2,
Erfindung gegebenen Fehler an den Fensterrändern F i g. 4 Wellenfonnen zur Erläuterung dei Phasenwerden
durch Einführung eines Streckungsfaktors korrektur,
von 1,05 normalisiert: F i g. 5 Wellenformen zur Erläuterung der Impulse
50 hoher und niedriger Frequenz für einen Abtastzyklus,
AhJAv — 1,05 · fvlfn- F i g. 6 die perspektivische Teilansicht einer erwei
terten Ausführung der Erfindung,
Es möge ins Auge gefaßt werden, daß auch andere F i g. 7 eine Darstellung des Abtastmusters für die
Streckungs- oder Verdichtungsfaktoren verwendet Ausführung gemäß F i g. 6,
werden können zur Vergrößerung oder Verkleinerung 55 F i g. S ein typisches Stnchmarken-Codefeld und
der Schnittwinkel; je nachdem, wie es für einen vor- F i g. 9 eine perspektivische Ansicht zur Illustra·
liegenden Anwendungsfall vorteilhaft ist. Im gege- tion der Anordnung des erfindungsgemäßen Abtasten
benen Falle schneiden die Abtastlinien in der Mitte an einem Verkaufsstand.
unter 40 bzw. 140; und unter 50 bzw. 130' an den In den Zeichnungen, speziell in Fig. 1. ist die \or
Rändern. womit sich eine Verteilung um die idealen 60 liegende Erfindung in Form eines Ausiuhrungsbei
Schnittbedingungen von 45 bzw. 135" herum ergibt. spiels illustriert mit einer Laser-Lichtquelle 10, di<
Bei der vorliegenden Erfindung ist das Verhältnis einen intensiven und dünnen Lichtstrahl 11 erzeugt
der horizontalen zur vertikalen Schwingfrequenz Dieser Strahl wird einem Strahlexpander 15 mil eine:
wichtie, um die Schnitt-.V in ihrer Kur.er.fonr. so Linse 16 zur Streuung des Strahls und mit einer Fokus
linaer wie moelich zu machen. Damit werden die 65 sierlinse 17 zur Fokussierung des expandierten Strahl·
uneenützten Bereiche der Abtastung und a^ch die und zur Richtung des Strahls auf einen Spiegel n de:
Abtar.taeschv·. .ndiskeit reduziert. horizontalen A blenkorgans 2G zugeführt.
Die nichtlinearen Umkehrstellen der Abtastmuster Vom Spiegel 21 wird der Strahl zu:n Spiegel 26 de
senkrechten Ablenkorgans 25 reflektiert. Die Aus- liegen. Ein Längenverhältnis 1: 5l/3 hat sich als gedrücke
horizontal und vertikal sind wie angegeben eignet für ein Abtastfenster der vorgegebenen Größe
festgelegt; sie könnten jedoch auch umgekehrt ver- erwiesen. Die Abtastlinien sollten sich über der horiwendet
werden, ohne den Gegenstand der Erfindung zontalen Achse des Abtastfensters möglichst senkrecht ;
zu verlassen. Eines der beiden Ablenkorgane, im Bei- 5 zueinander schneiden. Die horizontale und vertikale
spiel das horizontale Ablenkorgan 20, wird mit einer Amplitudensteuerung hält diesen Schnittwinkel konniedrigeren
Frequenz betrieben als das senkrechte stant, und die Frequenz- und Phasensteuerung sorgt
Ablenkorgan 25. Die beiden Ablenkorgane 20 und 25 für gleichmäßigen Abstand zwischen den einzelnen X
werden beide in Resonanz bei einem gegebenen Fre- und verhindert Störungen des Abtastmusters. Stö- |
quenzverhältnis zueinander betrieben, wobei der io rungen des Abtastmusters würden Abtastausfälle und |
Lichtstrahl, wie dargestellt, ein Muster von verschach- unrichtiges Lesen des Feldes 71 nach sich ziehen. f
telten X 30 in einem Abtastfenster 35 erzeugt. Die Amplituden-, Frequenz- und Phasensteuerung |
Der Strahl vom Laser 10 wird zuerst gestreut und 100 von Fi g. 1 ist in Einzelheiten in F i g. 2 dardann
wieder fokussiert, um einen scharfen fokussierten gestellt. Die horizontalen und vertikalen Amplituden-Punkt
im Abstand der großen Brennweite der Fo- 15 steuerkreise sind im wesentlichen identisch und steuern |
kussierlinse 17 zu erzielen. Der maximale Ablenk- die horizontalen und vertikalen Amplituden durch |
winkel der Ablenkorgane 20 und 25 bestimmt die Einstellung des Stromes, der seitens der Verstärker 106 |
Brennweite. und 119 durch die Ablenkorgane 20 und 25 geschickt ;
Das horizontale Ablenkorgan 20 bewirkt die Dre- wird. Die Verstärker 106 und 119 werden durch die j
hungrfles Strahles über die Länge des Fensters 35 und ao Spannungswerte auf den Leitungen 129 und 134 gedas
vertikale Ablenkorgan 25 bewirkt das Bestreichen steuert. Diese Spannungen hängen von den Ladungen
der Breite des Fensters 35. Die Kombination dieser der Kondensatoren Cl und C2 ab. Die Stromquellen
rechtwinklig zueinander stehenden Ablenkungen bei 126 und 131 sind Quellen für positive Ströme und die
vorgegebenem Frequenz- und Amplitudenverhältnis Stromquellen 127 und 132 solche für negative Ströme,
läßt das verschachtelte .Y-Muster im Abtastfenster 35 as Die positiven Stromquellen 126 und 131 werden durch
erscheinen. Das Abtastfenster 35 befindet sich in monostabile Kippglieder 125 und 130 eingeschaltet,
einem Gehäuse 50 gemäß F i g. 9. Das Fenster 35 ist Die Kippschaltungen selbst werden wiederum durch
als schmale rechteckige Blende innerhalb des Ge- Signale von den Photodetektoren 90 bzw. 95 angehäuses
gegeben und durch Glas oder ein anderes stoßen. Wenn eine der positiven Stromquellen eingepassendes
transparentes Material abgedeckt. 30 schaltet wird, beginnt sich der an sie angeschlossene
Entsprechend F i g. 9 wird ein Artikel 70 mit einem Kondensator zu laden, womit die seitens des parallel-Strichmarken-Codefeld
71 mittels eines Transport- geschalteten Pufferverstärkers 128 bzw. 133 abgebandes
51 zum Abtastfenster geführt. Der Bediener gebene Ausgangsspannung absinkt. Wenn die positive
des Gerätes läßt den Artikel 70 mit dem Feld 71 nach Stromquelle ausgeschaltet wird, beginnt der zugehörige
unten gekehrt über das Abtastfenster 35 hinweg- 35 Kondensator sich zu entladen, und die Spannung am
passieren, bevor er den Artikel 70 in eine Tasche 55 Ausgang des parallelgeschalteten Pufferverstärkers
fallen läßt. steigt an. Damit wird wiederum der Strom für das
Das Feld 71 ist ein Strichmarken-Codefeld ent- zugehörige Ablenkorgan verstärkt,
sprechend F i g. 8. Das Feld 71 ist mit einer Vielzahl Die Ablenkorgane 20 und 25 werden mittels eines
von Strichmarken 72 bedruckt die gegenüber dem 4° als Taktgeber verwendeten Oszillators 101 gesteuert.
Umfeld 73 weniger reflektierend sind. Beim Fahren Die Frequenz dieses Oszillators 101 hängt von der
des Strahls über das Feld 71 wird er durch die Reflek- gewünschten Phasengenauigkeit ab; eine Korrektur
tanzdifferenz zwischen Umfeld 73 und Strichmarken 72 wird nur dann durchgeführt, wenn der Phasenfehler
moduliert. Das modulierte reflektierte Licht wird größer als ein Arbeitszyklus des Oszillators 101 wird,
durch einen Photomultiplyer 80 gemäß F i g. 1 auf- 45 Das Grundprinzip der Frequenz- und Phasensteuerung
gefangen, der das Licht in ein elektrisches Signal um- gemäß F i g. 2 kann anhand der F i g. 3 erläutert
wandelt. Dieses elektrische Signal wird zu einer Aus- werden, die die digitale Frequenz- und Phasensteuerung
Wertungseinrichtung 85 geleitet zwecks Gewinnung von in allgemeinerer Form darstellt
Informationen, die durch die Strichmarken 72 ge- Entsprechend F i g. 3 hat der Taktgeber 201 eine
geben sind. 5« Frequenz Fc. Diese Frequenz Fc = (F2) (X) (Kl)
Das verschachtelte JT-Abtastmuster 30 kann das = (Fl) (Y) (Kl), wobei die Frequenz F2 entweder
Feld 71 unabhängig von seiner Vorbeigleitlage ablesen. die höhere oder die niedrigere der beiden betrachteten
Entsprechend F i g. 1 fallen die Endbereiche 31 und 32 Frequenzen ist Das gewählte Frequenzverhältnis
des Abtastmusters 30 außerhalb des Fensters 35 und F1/F2 bestimmt die Werte von X und Y. Die Konwerden
durch dieses ausgeblendet Photodetektoren 90 55 stante Kl hängt von der Phasengenauigkeit der ge-
und 95 sind innerhalb des Gehäuses 50 neben dem samten Anordnung ab. Entsprechend F i g. 3 ist Fl
Abtastfenster 35 angeordnet, um feststellen zu können, = Fc]YKl. Dies ist im Block 202 dargestellt Die
wenn die vertikalen und horizontalen Amplituden der Frequenz Fl treibt die Einheit 220, die dem Ablenk-Strahlauslenkung
außerhalb des vorgegebenen Abtast- organ 20 gemäß F i g. 1 und 2 entspricht Die Einheit
musters 30 fallen. Die Signale von den Photodetek- 60 220 gibt ein Ausgangssignal mit der Frequenz Fl und
toren90 und-95 werden der Amplituden-, Frequenz- einer Phasenverschiebung Ul ab. Diese Phäsenver-
und Phasensteuerung 100 zugeleitet Schiebung ist nicht konstant und variiert von Einheit
Beim betrachteten Beispiel ist das Abtastfenster 35 zu Einheit.
ungefähr 180 mm lang und 33 mm breit. Die Ablenk- Die Frequenz F2 treibt die Einheit 225, die dem
organe 20 und 25 werden mit Frequenzen betrieben, 65 Ablenkorgan 25 gemäß F i g. 1 und 2 entspricht Die
die ein verschachteltes ΛΓ-Muster zur ordnungsgemäßen Frequenz der Einheit 225 ist F2 + Φ2, wobei Φ1 die
Abtastung des Feldes 71 ergeben. Die X dürfen dabei Phasenverschiebung gegenüber der Eingabefrequenz
nicht zu weit auseinander oder zu eng beieinander F2 ist. Die Frequenzen können entweder phasengleich
7 8
oder gegenphasig zueinander sein, je nach Anforderung b) Die Normalisierung der Ausgangsfrequenzen der
an das Abtastmuster, das seinerseits vom Verhältnis angetriebenen Organe auf eine gemeinsame nieder
Frequenzen Fl und F2 abhängt. Um eine starre drige Frequenz zur Erzielung einer niedrigen
Phasenbeziehung mit vorgegebener konstanter Phasen- Fehlerkorrekturhäufigkeit.
Versetzung zu erzielen, können die monostabilen Kipp- 5 c) Ausgleich der Phasenverschiebungen mit Hilfe
glieder 221 oder 226 vorgesehen werden. Jeweils nur des schnellen Taktgebers 201 oder mit der Fre-
eines dieser beiden ist wirksam zu machen. Entspre- quenz Null.
chend F i g. 2 sind die beiden Frequenzen übrigens d) Begrenzung des Ausmaßes des Phasenverschieauch
mit vorgegebenem Phasenversatz zueinander in bungsausgleichs während der einzelnen Ausfester
Beziehung. io gleichsperioden.
Gemäß F i g. 3 wird der Phasenversatz mittels
eines Phasendetektors 229 durch Vergleich ermittelt. Entsprechend F i g. 2 ist die horizontale Schwing-
Um diesen Phasenvergleich zu erleichtern, werden die frequenz 600 Hz und die vertikale Schwingfrequenz
beiden zu vergleichenden Signalfrequenzen auf eine 3,2 kHz. Die Konstante Kl ist 1000, X ist 16 und
gemeinsame Frequenz durch die Blöcke 223 bzw. 15 Y ist 3. Die Frequenz des Taktgeber-Oszillators 101
228 normalisiert. Die normalisierte Frequenz ist ist 9,6 MHz. Die Horizontalfrequenz von 600 Hz
FcJ(X) (Y) (Kl) (Kl). Die Konstante Kl ist eine ganze wird nach einer Halbierung der Oszillatorfrequenz
Zahl, die die Fehlerabtasthäufigkeit des Phasendetek- von 9,6 MHz abgeleitet. Letzteres erfolgt im Flipflop
tors 229 bestimmt. Bei einer großen Konstante Kl ist 102. Die Frequenz von 4,8 MHz wird weiterhalbiert
die Abtasthäufigkeit für den Phasenvergleicher klein. 20 durch das Flipflop 103, wobei sich eine Frequenz von
Wenn das Ausgangssignal des Blocks 223 dem des 2,4 MHz ergibt. Diese wiederum wird geteilt durch
Blocks 288 nachhinkt, gibt der Phasendetektor 229 16 X 125 = 2000. Diese Teilung erfolgt durch einen
ein Signal »+Zunahme« über eine Leitung 230 ab. Zähler 104, an dessen Ausgang sich eine Frequenz von
Wenn das Ausgangssignal des Blocks 223 dagegen 1,2 kHz einstellt. Die Frequenz von 1,2 kHz wird
dem des Blocks 228 voreilt, gibt der Phasendetektor 25 durch das Flipflop 105 halbiert, wobei sich 600 Hz
229 ein Signal »+Abnahme« über eine Leitung 231 ergeben. Diese 600 Hz werden dem Verstärker 106
ab. Wenn die Ausgangssignale der Blöcke 223 und 228 zugeführt Das Ausgangssignai des Verstärkers 106
phasengleich sind, wird kein Ausgangssignal vom wird an die Magnetspulen 22 des Ablenkorgans 20
Detektor 229 abgegeben. Dann wird keine Korrektur angelegt. Die Spulen 22 liegen parallel und treiben
bezüglich der Frequenz F2 durchgeführt. Der Block 30 den Spiegel 21 über ein geeignetes mechanisches
205 läuft mit der vom Block 203 über ein UND-Glied Übertragungssystem. (Solche Drehablenkorgane 20
239 abgegebenen Frequenz Fc/2. Das UND-Glied 239 und 25 sind übrigens in der US-PS 36 09 485 zu finwird
dazu mittels der beiden Signale »+Zunahme« den.)
und »+Abnahme« von Invertern 236 und 237 durch- Während des Schwingens des Spiegels 21 werden
geschaltet. Der Ausgang des UND-Glieds 239 speist 35 durch in Reihe geschaltete Energiewandler 23 Signale
das ODER-Glied 240, dessen Ausgang seinerseits zu erzeugt. Diese sinusartigen Signale werden einem
einem Eingang eines UND-Glieds"204 führt. Dieses Umformer 111 zur Umformung in Rechteckwellen
wird dabei durch das Ausgangssignal des Inverters 236 zugeführt. Dessen Ausgangssignale gelangen zu einem
geöffnet. monostabilen Kippglied 136 zur Erzeugung von Im-
Wenn der Phasendetektor 229 über die Leitung 230 40 pulsen mit einer Länge von 78,1 Mikrosekunden. Die j
ein Signal »+Zunahme« abgibt, wird ein UND-Glied Frequenz dieser Impulse wird dann durch den Zähler {
234 geöffnet, womit die Frequenz Fl verdoppelt wird. 112 normalisiert, der eine effektive Frequenzteilung
Der Korrekturbetrag, der jeweils erfolgen kann, wird von 3 X 32 bewirkt. Das Ausgangssignal des Zählers f
durch ein monostabiles Kippglied 233 begrenzt, das 112 wird dem Phasendiskriminator 122 zugeführt. ,
seinerseits durch ein Signal über ein ODER-Glied 232 45 In ähnlicher Weise schwingt der Spiegel 26 des Abangestoßen wird, dem die beiden Signale »+Zunahme« lenkorgans 25 mit Hilfe des Ausgangssignals des Ver-
bzw. »+Abnahme« vom Phasendetektor 229 züge- stärkers 119, das den Schwingspulen 27 zugeführt
führt werden. Das Ausgangssignal des UND-Glieds wird. Der Verstärker 119 empfängt ein Signal mit
234 gelangt zu einem UND-Glied 238, dessen anderem einer Frequenz von 3,2 kHz vom Flipfiop 118. Dieses
Eingang das Signal vom Taktgeber 201 direkt züge- 50 Flipflop 118 halbiert die Ausgangsfrequenz des Zäh- ,
führt wird. Das Ausgangssignal des UND-Glieds 238 lers 117. Der Zähler 117 wird über ein UND-Glied 116 !
wird dem Block 205 über das ODER-Glied 240 und gespeist Der Zähler 117 teilt die zugeführte Frequenz
das UND-Glied 204 zugeführt. Das UND-Glied 204 durch 3 X 125 = 375. Es herrscht somit ein Spiegel
öffnet dabei mit Hilfe des Ausgangssignals vom In- frequenzverhältnis von 1: 5V3- j
verter236. Wenn die Frequenz Fl abgesenkt werden 55 Der Zähler 117 wird normalerwei» mit 2,4-MHz-
soll, wird sie durch Zuführung eines Signals »+Ab- Signalen vom Ausgang des Flipflops 103 über ein
nähme« zu einem UND-Glied 235 zu Null gemacht UND-Glied 113, ein ODER-Glied 115 und ein UND-Das Ausgangssignal des Inverters 236 sperrt dabei das Glied 116 gespeist Wenn jedoch Phasenverrchiebun-
UND-Glied 204. Der Block 205 wird somit nicht mehr gen durch den Phasendiskriminator 122 erkannt
angetrieben, weder vom Taktgeber 201 direkt, noch 60 werden, wird der Zähler 117 mit 4,8-MHz-Signalen
über den Block 203. vom Ausgang des Flipflops 102 gespeist oder kurz-
sind dabei die folgenden: Frequenz 0 MHz. Die Auswahl der Frequenzerhöhung
oder Absenkung auf 0 erfolgt je nach der Notwendig-
a) Die Verwendung eines relativ schnellen Takt« 65 keit einer Frequenzerhöhung oder Frequenzerniedrigebers, wobei Frcqueazteilerkreise (in Form von gung zur Erzielung von Phasengleichheit
Flipflops und Zählern) die Verwendung eines Der Spiegel 26 schwingt mit dem Ausgangssignal
solchen schnellen Taktgebers möglich machen. des Verstärkers 119, und Wandler 28 erzeugen wieder-
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um entsprechende sinusartige Ausgangssignale. Diese tastungen vergleicht der Phasendiskriminator 122 den
Signale werden einem Umformer 120 zur Umwand- verzögerten Anstieg eines dritten 600-Hz-Impulses mit
lung in Rechteckimpulse zugeführt. Das Ausgangs- dem Anstieg eines sechzehnten 3,2-kHz-Impulses.
signal des Umformers 120 wird durch einen Zähler 17.1 Der obere Eingang des Phasendiskriminators 122
normalisiert, der seinerseits die Umformerausgangs- 5 gemäß F i g. 2 empfängt ein Signal, das A in F i g. 4
frequenz durch 16 X 32 teilt. Das Ausgangssignal des entspricht, und der untere Eingang ein solches, das B
Zählers 121 wird dem anderen Eingang d~s Phasen- entspricht. In F i g. 4 ist zu erkennen, daß die Wellen-
diskriminators 122 zugeführt. form A der Wellenform B voreilt. Dabei gibt der
Es ist zu beachten, daß die Signale von den Wand- Phasendiskriminator 122 ein Ausgangssignal entspre-
Iern 23 und 28 gegenüber den Spiegelschwingungen 10 chend C in F i g. 4 über die Leitung 123 gemäß
um 90° versetzt sind, da die Wandler 23 und 28 F i g. 2 ab. Dieses Signal steuert das UND-Glied 109,
Signale abgeben, clili von der Drehgeschwindigkeit mit dessen Hilfe das UND-Glied 114 die Frequenz
und nicht von der Drehstellung abhängen. Geschwin- 4,8 MHz vom Flipflop 102 zum Beschleunigen des
digkeit und Drehstellung sind ebenfalls um 90° Zählers 117 durchläßt; dies nur während eines Zeit-
phasenversetzt. Somit wird ein monostabiles Kipp- 15 raumes, während dessen das UND-Glied 109 einge-
glied, wie z. B. das monostabile Kippglied226 gemäß schaltet ist. Dieser Zeitraum ist in D gemäß Fig. 4
F i g. 3, vorgesehen nur Vorkehrung einer vorgege- dargestellt. In F i g. 4 ist weiter zu erkennen, daß eine
benen konstanten Phiasenversetzung von 900C. solche Korrektur die Signale gemäß A und B noch
Wenn der Phasenunterschied größer werden muß, nicht in Phase bringt. Mit mehreren aufein indererzeugt
der Phasendiskriminator 122 ein Ausgangs- 2o folgenden Korrekturen ist jedoch entsprechend
signal über eine Leitung 123, und wenn der Phasen- F i g. 4 Phasengleichheit zwischen A und B zu erzielen,
unterschied zu verkleinern ist, wird ein Ausgangssignal Das monostabile Kippglied 108 gemäß F i g. 2 beüber
eine Leitung 124 abgegeben. Die Leitungen 123 grenzt die Korrekturzeiträume auf max. 300 Mikro-
und 124 führen zu Eingängen zweier UND-Glieder 109 Sekunden. Eine solche Korrekturphase kann nur in
bzw. 110 und zu den beiden Eingängen eines ODER- 35 jedem 30. Abtastzyklus erfolgen. Wenn die beiden
Glieds 107. Das ODER-Glied 107 führt ausgangs- Umformer 111 und 120 nicht selbst Phasenfehler beiseitig
zu einem monostabilen Kippglied 108, welches tragen, kann sich die Gesamtanordnung jeweils in
300 Mikrosekunden lange Impulse zur Eintastung der 85 Sekunden korrigieren. Die Phasengenauigkeit beUND-Glieder
109 bzw. 110 abgibt; damit wird der trägt dabei 0,5° bezüglich des Ablenkorgans 25.
Korrekturumfang pro Abtastperiode begrenzt. 30 Die Gesamtkorrekturdauer kann beträchtlich abge-
Korrekturumfang pro Abtastperiode begrenzt. 30 Die Gesamtkorrekturdauer kann beträchtlich abge-
Die Ausgangssignale der UND-Glieder 109 und 110 kürzt werden durch direkte Zuführung der Ausgangsbefinden
sich auf einem niedrigen Pegel, wenn das be- signale der Umformer 111 und 120 zum Diskriminator
treffende UND-Glied eingeschaltet ist. Das Ausgangs- 122. Dazu wäre ein zeitliches Kormkturfenster zu
signal des UND-Glieds 109 dient zur Steuerung eines erzeugen durch Division des Ausgangssignals des
UND-Glieds 113, welches die normale Frequenz von 35 Umformers 120 durch 32 und Anlegung des sich dabei
2,4 MHz vom Flipflop 103 zum Zähler 117 über das ergebenden Signals an ein monostabiles Kippglied,
ODER-Glied 115 und das UND-Glied 116 durch- welches nicht dargestellt ist; damit ließe sich ein
lassen soll. Diese Impulsdurchgabe erfolgt somit Fenster von 312 Mikrosekunden erzeugen. Die
immer dann, solange das UND-Glied 109 nicht ein- 3,2-kHz-Impulsfolge wäre dann nur über eine Periode
geschaltet ist. Andererseits darf auch das UND-Glied 40 der 600-Hz-Folge zu versetzen und nicht während
110 nicht eingeschaltet sein, wenn das UND-Glied 116 einer Periode der gemeinsamen ■Normalisierungsiredurchlässig
sein soll. quenz von 6,25 Hz. Das gebildete Korrekturfenster
Wenn beide Eingänge des UND-Glieds 109 einge- begrenzte die Korrekturimpulse auf 312 Mikrosekunschaltet
sind, wird dagegen das auf einen niedrigen den und erübrigte dabei das Vorhandensein des
Steuerpegel ansprechende UND-Glied 114 vorbereitet 45 300-Mikrosekunden-Gliedes 108.
und läßt die Frequenz 4,8 MHz vom Flipflop 102 Normalerweise ist das Abtastmuster 30 gemäß zum Zähler 117 durch. Das UND-Glied 116 muß F i g. 1 ausreichend, ein Feld 71 gemäß F i g. 8 abdabei auch durchlässig sein bei gesperrtem UND- zutasten. Die umwendenden Teile 33 des Abtast-Glied 110. Der Diskriminator 122 gibt nie gleichzeitig musters 30 gemäß F i g. 1 ermöglichen im Effekt zwei Signale über die beiden Leitungen 123 und 124. Das 50 horizontale Abtastungen. Damit ist auch die Ab-UND-Glied 110 wird eingeschaltet, wenn der Phasen- tastung von Codefeldern möglich, deren Strichmarken unterschied zu verringern ist. Dabei sperrt das Aus- noch enger sind, als die in F i g. 8 dargestellten,
gangssignal des UND-Glieds 110 das UND-Glied 116, Gelegentlich ist es erwünscht, das gesamte Abtast- und der Zähler wird während einer Periode von muster zur Abtastung codierter Felder zu benutzen. 300 Mikrosekunden nicht weitergeschaltet. 55 Wenn das gesamte Muster verwendet werden soll, isl
und läßt die Frequenz 4,8 MHz vom Flipflop 102 Normalerweise ist das Abtastmuster 30 gemäß zum Zähler 117 durch. Das UND-Glied 116 muß F i g. 1 ausreichend, ein Feld 71 gemäß F i g. 8 abdabei auch durchlässig sein bei gesperrtem UND- zutasten. Die umwendenden Teile 33 des Abtast-Glied 110. Der Diskriminator 122 gibt nie gleichzeitig musters 30 gemäß F i g. 1 ermöglichen im Effekt zwei Signale über die beiden Leitungen 123 und 124. Das 50 horizontale Abtastungen. Damit ist auch die Ab-UND-Glied 110 wird eingeschaltet, wenn der Phasen- tastung von Codefeldern möglich, deren Strichmarken unterschied zu verringern ist. Dabei sperrt das Aus- noch enger sind, als die in F i g. 8 dargestellten,
gangssignal des UND-Glieds 110 das UND-Glied 116, Gelegentlich ist es erwünscht, das gesamte Abtast- und der Zähler wird während einer Periode von muster zur Abtastung codierter Felder zu benutzen. 300 Mikrosekunden nicht weitergeschaltet. 55 Wenn das gesamte Muster verwendet werden soll, isl
Die erforderlichen Phasenbeziehungen zwischen den der Verlauf des Musters 30 gemäß F i g. 1 innerhalb
Signalen von den Wandlern 23 und 28 sind in den des Abtastfensters zu flach, wohingegen der Verlaul
WeTIenformen A und B in F i g. 5 dargestellt. Der der Abtastlinienteile 31 und 32 zu steil ist. Diese;
Wandler 28 erzeugt dementsprechend 5 Va Simiswellen Problem wird kompensiert durch Faltung der Teile 31
pro Sinuswelle vom Wandler 23. Die beiden Sinus- 60 und 32 in Richtung zur Mitte des Abtastfensters 35
wellen entsprechend A und B werden in Rechteck- Diese Faltung wird erzielt durch Seitenspiegel 41 um
wellen entsprechend D und E umgeformt Diese Um- 42, wie sie schematisch in F i g. 6 dargestellt sind
formung erfolgt durch die Umformer 111 und 120. Diese Spiegel 41 und 42 sind mit Aussparungen ver
Ein Abtastzyklus entspricht beim verwendeten Beispiel sehen, wobei die Photodetcktoren 90 und 95 in eine
drei Impulsen der niedrigen Frequenz und 16 Impulsen 65 Aussparung gemäß F i g. 7 die außerhalb des Abtast
der höheren Frequenz in fünf Millisekunden. Die fensters gelegenen Teile des Abtastmusters ampli
Wellenform C zeigt das Ausgangssignal des mono- tudenmäßig abfühlen können. Das sich ergebend
stabilen Kippglieds 136. In einem Zyklus von 30 Ab- Abtastmuster 30' ist in F i g. 7 dargestellt. Die nac]
außen fallenden Teile des Abtastmusters erscheinen im wesentlichen als senkrechte Linien 34 in der Nähe
der Abtastfenstermitte. Das Abtastmuster gemäß F i g. 7 wird mit einer gegenüber der horizontalen
Frequenz siebenmal so großen vertikalen Frequenz
erzeugt, wobei die horizontale Amplitude siebenm; so groß ist wie die vertikale Amplitude. Dieses Must«
ist leicht zu erzeugen und benötigt eine geringei Detektorbandbreite als das Abtastmuster 30 gemä
5 Fig.
Hierzu 6 Blatt Zeichnungen
Claims (7)
1. Optischer Abtaster für Strichmarken-Code- zwei zum Abtastfenster (35) im wesentlichen senkfeider
auf abgetasteten Gegenständen mit beliebiger recht stehende Seitenspiegel (41, 42) vorgesehen
Abtastlage, mit einem schmalen, rechteckigen Ab- 5 sind, mit deren Hilfe die verdichteten, umkehrenden
tastfenster, an dem die Gegenstände vorbeigeführt Teile (31, 32) des Lichtstrahls (11) unter Erzeugung
werden, einer Quelle für einen scharf gebündelten zusätzlicher Abtastlinien (34) in das Abtastfenster
Lichtstrahl, einem ersten und einem zweiten Ab- (35) hineinfaltbar sind.
lenkorgan zur Umlenkung des Lichtstrahls in zwei
Richtungen innerhalb des Abtastfensters, wobei 10
Richtungen innerhalb des Abtastfensters, wobei 10
diese beiden Ablenkorgane schwingungsfähig aus-
gebildet sind und mit je einer zweier unterschiedlicher Schwingungsfrequenzen betrieben werden,
dadurch gekennzeichnet, daß eine
dadurch gekennzeichnet, daß eine
Frequenz- und Phasensteuerung (100) vorgesehen 15 Die Erfindung betrifft einen optischen Abtaster für
ist, die die beiden Schwingungsfrequenzen bei fest Strichmarken-Codefelüer mit beliebiger Abtastlage
vorgegebenem Frequenzverhältnis in fest vorge- entsprechend dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
gebener Phasenlage zueinander hält, wobei der Ein solcher Abiaster ist für die Abtastung beliebig
abgelenkte Lichtstrahl innerhalb des Abtastfensters angeordneter Strichmarken-Codefelder geeignet, die
(35) ein Abtastmuster (30) verschachtelter X be- ao z. B. auf durch Kunden entnehmbaren Gegenständen
schreibt. zwecks Erfassung an einer Kasse angebracht sind. Der
2. Optischer Abtaster nach Anspruch 1, dadurch Kassierer hat lediglich die Gegenstände vor einem
gekennzeichnet, daß das Frequenzverhältnis der Abtastfenster hindurchzulassen, wobei er sicherstellen
beiden Schwingungsfrequenzen 1: 5V3 ist. muß, daß das Feld mit dem Strichmarkencode am
3. Optischer Abtaster nach einem der vorgenann- 25 Abtastfenster vorbeiläuft. Ausgenommen bei gewissen
ten Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß das kleinen Gegenständen ist nur eine geringe Sorgfalt
Frequenzverhältnis der beiden Schwingungsfre- bezüglich der Ausrichtung der zu erfassenden Gegenquenzen
600 Hz: 3,2 kHz ist. stände beim Vorbeilaufenlassen am Abtastfenster
4. Optischer Abtaster nach einem der vorgenann- erforderlich. Abtasteinrichtungen für beliebige Abtastten
Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß die 30 lage, wie sie z. B. in den US-PS 37 18 761 und 37 28 677
Frequenz- und Phasensteuerung (100) in ihren beschrieben wurden, sind nicht besonders für solche
wesentlichen Teilen als digitale Schaltungsanord- Fälle geeignet, bei denen der Bediener die Gegenstände
nung mit frequenzteilenden Flipflops und Zählern, am Abtastfenster vorbeilaufen läßt, weil entsprechend
monostabilen Kippgliedern, UND- und ODER- den vorgenannten Patenten quadratische Abtastfenster
Gliedern sowie einem ein binäres Phasenabwei- 35 und nicht schmale rechteckige Fenster verwendet
chungssignal bildenden Phasenciiskriminator (122) werden. Ein quadratisches Fenster vorgegebener
ausgebildet ist. Größe verlangt einen größeren Bedienungsgriffbereich
5. Optischer Abtaster nach Anspruch 4, dadurch und ist somit vom Bedienungsstandpunkt nicht so
gekennzeichnet, daß jedes der beiden Ablenk- günstig wie ein schmales rechteckiges Fenster. Ein
organe (20, 25) Wandler (23, 27) aufweist, mit 40 schmales rechteckiges Fenster jedoch verlangt mehrderen
Hilfe aus den Ablenkorganschwingungen je fache Jf-Muster, um ein Codefeld ordnungsgemäß abein
Signal ableitbar ist, das der Schwingung des tasten zu können. Sinusartige Lichtlinien bieten einen
zugehörigen Organs proportional ist, und daß die erheblichen Vorteil bezüglich der Sicherheit dadurch,
damit gebildeten Schwingungssignale dem Phasen- daß die eine vorgegebene Blende durchdringende
diskriminator (122) zugeführt werden, der daraus 45 Energie klein gehalten werden kann. Sinusartige Lichterforderlichenfalls
eines zweier Steuersignale (Zu- muster bringen andererseits Linearitätsprobleme mit
nähme/Abnahme) für die Erhöhung oder Absen- sich, die gelöst werden müssen.
kung der Schwingungsfrequenz (3,2 kHz) des einen Die Verwendung zweier schwingender Spiegel zur
der beiden Ablenkorgane (25) ableitet. Erzeugung von sinuswellenartigen Lichtmustern ist
6. Optischer Abtaster nach Anspruch 5, dadurch 50 entsprechend den US-PS 17 56 232, 19 51 666 und
gekennzeichnet, daß die Frequenz- und Phasen- 34 37 393 bekannt. Keines dieser Patente nennt jedoch
steuerung (100) eine Vorkehrung (monostabiles die Erzeugung von störungsfreien ^-Mustern, die Ab-Kippglied
108) aufweist zur Begrenzung der jewei- tastlücken ausschließen. Die eben genannten Patentligen
Frequenzerhöhungs- oder -absenkungsperiode Schriften behandeln keine Abtaster für beliebige Abauf
einen Zeitwert, der gegenüber den Schwin- 55 tastlage.
gungsperioden (1/6C0 Hz, 1/3,2 kHz) der beiden Die DT-AS 22 08 459 beschreibt eine optische Ab-
Ablenkorgane (20, 25) relativ sehr kurz (300 Mi- tasteinrichtung für mit Codestrichmarkierungen oder
krosekunden) ist. dergleichen versehene Aufzeichnungsträger, vorzugs-
7. Optischer Abtaster nach einem der vorge- weise Warenetiketten, bei der mittels eines drehbaren
nannten Ansprüche, dadurch gekennzeichnet, daß 60 Spiegels ein von einer Lichtquelle ausgehender kohäeine
Amplitudensteuerung für jedes der beiden renter Abtaststrahl auf den auszuwertenden Aufzeich-Ablenkorgane
(20, 25) vorgesehen ist, mit deren nungsträger abgelenkt und die reflektierte Strahlung
Hilfe die jeweilige maximale Auslenkung des Licht- gebündelt einer Fotodiode zur Umwandlung in elekstrahls
in den beiden gegebenen Ablenkrichtungen trische Signale zugeführt wird, die dadurch gekennfeststellbar
und aufgrund dabei gewonnener Signale 65 zeichnet ist, daß zur Ausrichtung des Abtaststrahles
die Lichtstrahlablenkung in den beiden Richtungen auf die Codestrichmarkierungen eines unausgerichtet
auf je eine vorgegebene maximale Amplitude ein- über einer, begrenzten Abtastbereich geführten Aufregelbar ist. Zeichnungsträgers der den Abtaststrahl ablenkende
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US382783A US3919527A (en) | 1973-07-26 | 1973-07-26 | Omnidirectional optical scanner |
Publications (3)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2431973A1 DE2431973A1 (de) | 1975-02-20 |
DE2431973B2 DE2431973B2 (de) | 1976-09-16 |
DE2431973C3 true DE2431973C3 (de) | 1977-05-05 |
Family
ID=23510403
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19742431973 Expired DE2431973C3 (de) | 1973-07-26 | 1974-07-03 | Optischer abtaster |
Country Status (7)
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---|---|
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JP (1) | JPS5330617B2 (de) |
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GB (1) | GB1464982A (de) |
IT (1) | IT1014625B (de) |
Families Citing this family (43)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4009369A (en) * | 1974-05-03 | 1977-02-22 | Schiller Industries, Inc. | Polyphase scanner for bar code symbols |
US4041322A (en) * | 1974-05-03 | 1977-08-09 | Schiller Industries, Inc. | Apparatus for generating polyphase scan patterns |
US4025761A (en) * | 1975-04-16 | 1977-05-24 | Schiller Industries, Inc. | Optical system for code symbol scanners |
DE2618195C2 (de) * | 1975-05-02 | 1983-06-16 | Sweda International, Inc., 07058 Pine Brook, N.J. | Optisch-mechanische Abtastvorrichtung |
JPS527249A (en) * | 1975-07-07 | 1977-01-20 | Omron Tateisi Electronics Co | Automatic scanning width control unit |
US4034230A (en) * | 1975-10-24 | 1977-07-05 | Bulova Watch Company, Inc. | Electro-optical bar-code scanning unit |
JPS5255544A (en) * | 1975-10-28 | 1977-05-07 | Schiller Industries Inc | Apparatus for producing multiiphase scan pattern |
US4079605A (en) * | 1976-05-03 | 1978-03-21 | Schlage Lock Company | Optical key reader for door locks |
JPS5327326A (en) * | 1976-08-27 | 1978-03-14 | Mitsubishi Electric Corp | Scanning system |
JPS5333529A (en) * | 1976-09-09 | 1978-03-29 | Mitsubishi Electric Corp | Automatic reading system |
US4089269A (en) * | 1977-03-28 | 1978-05-16 | Mekontrol, Incorporated | Vehicle control system |
JPS5414754A (en) * | 1977-07-06 | 1979-02-03 | Canon Inc | Scanning optical system |
US4282431A (en) * | 1979-10-18 | 1981-08-04 | E. I. Du Pont De Nemours And Company | Bar code scanner |
US4387297B1 (en) * | 1980-02-29 | 1995-09-12 | Symbol Technologies Inc | Portable laser scanning system and scanning methods |
US4788423A (en) * | 1987-05-26 | 1988-11-29 | Santa Barbara Research Center | Two-mirror scanning system |
US4871904A (en) * | 1987-12-28 | 1989-10-03 | Symbol Technologies, Inc. | Multidirectional optical scanner |
US4859846A (en) * | 1988-07-21 | 1989-08-22 | Burrer Gordon J | Dual-mode resonant scanning system |
WO1991017516A1 (en) * | 1990-05-02 | 1991-11-14 | Intermec Corporation | Oscillatable holographic optical element for bar code scanning |
US5047630A (en) * | 1990-08-22 | 1991-09-10 | Confer Charles L | Modified dual-mode resonant scanning system |
US5844227A (en) * | 1993-11-24 | 1998-12-01 | Metrologic Instruments, Inc. | Automatic hand-supportable omnidirectional laser projection scanner with scan-head directed projection axis for intuitive hand-supported omnidirectional scanning of bar code symbols within a narrowly confined scanning volume extending thereabout |
US5216232A (en) * | 1990-09-10 | 1993-06-01 | Metrologic Instruments, Inc. | Projection laser scanner producing a narrow scan volume |
US5942743A (en) * | 1994-08-17 | 1999-08-24 | Metrologic Instruments, Inc. | Portable automatic hand-supportable omnidirectional laser projection scanner with power conserving control system |
US6098885A (en) * | 1990-09-10 | 2000-08-08 | Metrologic Instruments | Countertop projection laser scanning system for omnidirectional scanning volume projected above a countertop surface of code symbols within a narrowly-confined scanning |
US6257492B1 (en) | 1990-09-10 | 2001-07-10 | Peter Bressler | Combination hand-held and counter-top omni-directional scanner |
US6286760B1 (en) | 1994-08-17 | 2001-09-11 | Metrologic Instruments, Inc. | Automatic hand-supportable laser projection scanner for omni-directional reading of bar code symbols within a narrowly confined scanning volume |
US5796091A (en) * | 1993-11-24 | 1998-08-18 | Metrologic Instruments, Inc. | Automatic hand-supportable omnidirectional laser projection scanner with handle-controllable projection axis |
US6182898B1 (en) | 1993-11-24 | 2001-02-06 | Metrologic Instruments, Inc. | Bar code scanner with intuitive head aiming and collimated scan volume |
US6651890B2 (en) | 1990-09-10 | 2003-11-25 | Sung Ho Byun | Combination hand-held and counter-top omnidirectional scanner |
US6227450B1 (en) * | 1990-09-11 | 2001-05-08 | Metrologic Instruments, Inc. | Electronically-controlled mechanically-damped off-resonant light beam scanning mechanism and code symbol readers employing the same |
US6874689B2 (en) * | 1990-09-11 | 2005-04-05 | Metrologic Instruments, Inc. | Laser beam scanning device employing a scanning element having a flexible photo-etched gap region disposed between an anchored base portion and a light beam deflecting portion having a natural frequency of oscillation tuned by the physical dimensions of said flexible photo-etched gap region and forcibly oscillated about a fixed pivot point at an electronically-controlled frequency of oscillation substantially different from said natural resonant frequency of oscillation |
US6742709B2 (en) | 1990-09-11 | 2004-06-01 | Metrologic Instruments, Inc. | Bar code symbol reading system employing electronically-controlled raster-type laser scanner for reading bar code symbols during hands-on and hands-free modes of operation |
US6860427B1 (en) | 1993-11-24 | 2005-03-01 | Metrologic Instruments, Inc. | Automatic optical projection scanner for omni-directional reading of bar code symbols within a confined scanning volume |
US6604684B1 (en) | 1993-11-24 | 2003-08-12 | Metrologic Instruments Inc. | Automatic optical projection scanner for omni-directional reading of bar code symbols within a confined scanning volume |
US7051922B2 (en) | 1994-08-17 | 2006-05-30 | Metrologic Instruments, Inc. | Compact bioptical laser scanning system |
US6758402B1 (en) | 1994-08-17 | 2004-07-06 | Metrologic Instruments, Inc. | Bioptical holographic laser scanning system |
US6073846A (en) * | 1994-08-17 | 2000-06-13 | Metrologic Instruments, Inc. | Holographic laser scanning system and process and apparatus and method |
US7124950B2 (en) * | 1997-09-16 | 2006-10-24 | Metrologic Instruments, Inc. | Bar code symbol reading system employing electronically-controlled raster-type laser scanner for reading bar code symbols during on hands-on and hands-free modes of operation |
JP4330762B2 (ja) | 2000-04-21 | 2009-09-16 | 富士フイルム株式会社 | マルチビーム露光装置 |
JP4620901B2 (ja) * | 2001-06-04 | 2011-01-26 | キヤノン株式会社 | 2次元光走査装置、及び該2次元光走査装置の駆動方法 |
KR100636347B1 (ko) * | 2004-08-18 | 2006-10-19 | 엘지전자 주식회사 | 스캐닝 디스플레이 시스템 |
US7182263B2 (en) * | 2004-09-30 | 2007-02-27 | Symbol Technologies, Inc. | Monitoring light beam position in electro-optical readers and image projectors |
US9495571B1 (en) | 2015-09-30 | 2016-11-15 | Datalogic Automation, Inc. | Two-dimensional representation of linear barcode derived from laser barcode scanner scanline data |
US11307403B2 (en) | 2019-04-05 | 2022-04-19 | Infineon Technologies Ag | Synchronization of microelectromechanical system (MEMS) mirrors |
Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2208459B1 (de) * | 1972-02-23 | 1973-05-10 | Anker-Werke Ag, 4800 Bielefeld | Optische abtasteinrichtung |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3684867A (en) * | 1970-07-15 | 1972-08-15 | Norbert Karl Acker | Apparatus for reading randomly positioned data |
US3677465A (en) * | 1970-09-21 | 1972-07-18 | Everett A Johnson | Method and apparatus for authentication of information records |
US3701098A (en) * | 1971-06-15 | 1972-10-24 | Scanner | Device for machine reading of information without manipulation of the information carrier |
-
1973
- 1973-07-26 US US382783A patent/US3919527A/en not_active Expired - Lifetime
-
1974
- 1974-05-31 IT IT23414/74A patent/IT1014625B/it active
- 1974-06-17 FR FR7422154A patent/FR2238972B1/fr not_active Expired
- 1974-06-25 CA CA203,370A patent/CA1051553A/en not_active Expired
- 1974-07-03 DE DE19742431973 patent/DE2431973C3/de not_active Expired
- 1974-07-05 GB GB2980174A patent/GB1464982A/en not_active Expired
- 1974-07-16 JP JP8082274A patent/JPS5330617B2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE2208459B1 (de) * | 1972-02-23 | 1973-05-10 | Anker-Werke Ag, 4800 Bielefeld | Optische abtasteinrichtung |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5040142A (de) | 1975-04-12 |
FR2238972B1 (de) | 1976-10-22 |
JPS5330617B2 (de) | 1978-08-28 |
GB1464982A (en) | 1977-02-16 |
US3919527A (en) | 1975-11-11 |
CA1051553A (en) | 1979-03-27 |
IT1014625B (it) | 1977-04-30 |
FR2238972A1 (de) | 1975-02-21 |
DE2431973A1 (de) | 1975-02-20 |
DE2431973B2 (de) | 1976-09-16 |
USB382783I5 (de) | 1975-01-28 |
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