DE2339496A1 - Schneller phasenmesser - Google Patents
Schneller phasenmesserInfo
- Publication number
- DE2339496A1 DE2339496A1 DE19732339496 DE2339496A DE2339496A1 DE 2339496 A1 DE2339496 A1 DE 2339496A1 DE 19732339496 DE19732339496 DE 19732339496 DE 2339496 A DE2339496 A DE 2339496A DE 2339496 A1 DE2339496 A1 DE 2339496A1
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signal
- phase
- phase shift
- sign
- controlled
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/72—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
- G01N27/82—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws
- G01N27/90—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents
- G01N27/9046—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables for investigating the presence of flaws using eddy currents by analysing electrical signals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R25/00—Arrangements for measuring phase angle between a voltage and a current or between voltages or currents
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Electrochemistry (AREA)
- Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
- Measuring Phase Differences (AREA)
- Measurement Of Resistance Or Impedance (AREA)
- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Magnetic Means (AREA)
Description
LA,,iP;;.eCHT
. R. aeE rzjr#
410-21.196P 3. 8. 1973
Schneller Phasenmesser
Die vorliegende Erfindung bezieht sich auf einen sdinellen Phasenmesser,
der in Steuereinrichtungen zur Auslösung eines Warnsignals abhängig vom Betrag (Absolutwert) und von der Phase eines Impulses
bei Geräten zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung verwendet werden kann, und insbesondere bei Geräten, die mit Wirbelströmen arbeiten
und eine Erfassung von immer kleineren Fehlern in Materialien und insbesondere von Fehlern in Röhren bzw. Rohren erlauben.
Es ist bereits ein Erf as sung s verfahr en bekannt (FR-PS 1 588 827),
409807/0916
410-(B4632.3)-Ko-r (8)
233SA96
bei dem ein periodisches Signal abgetastet wird, um einerseits bei
jedem Nulldurchgang eines Bezugssignales mindestens eine der ansteigenden oder abfallenden Flanken von dessen Amplitude und andererseits
bei jedem Durchgang des Bezugssignales durch mindestens einen der positiven und negativen Extremwerte seiner Amplitude zu untersuchen,
was zwei Folgen von aufeinanderfolgenden Abtastsignalen ergibt, die aufeinanderfolgende Werte der Komponenten des zu untersuchenden
periodischen Signales in Phase mit und um 90 phasenverschoben zu dem Bezugssignal darstellen.
In derselben Druckschrift weist eine Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens mindestens eine Abtastschaltung auf, in die das zu untersuchende
periodische Signal eingespeist wird und die im wesentlichen aus einem Speicher-Verstärker, einem Speicher-Ein-Aus-Schalter und
mindestens einem Impulsformer besteht, in den das Bezugssignal eingespeist wird, der mit dem Ein-Aus-Schalter verbunden ist und Abtastschlußimpulse
kurzer Dauer bei jedem Nulldurqhgang des Bezugssignales bei mindestens einem Ansteigen oder Abfallen seiner Amplitude und bei
mindestens einem positiven oder negativen Extremwert seiner Amplitude liefert.
Das beschriebene Verfahren und die erläuterte Erfassungsschaltung werden bei Vorrichtungen angewendet, die zur Messung der Komponenten
eines periodischen Signales in Phase und um 90 phasenverschoben hinsichtlich eines Bezugssignales derselben Frequenz bestimmt
sind. Es ist bei einer zerstörungsfreien Versuchsvorrichtung mit Wirbelströmen beispielsweise auch schon ein Verfahren diskutiert worden,
409807/0916
das deutlich die Auflösung verbessert und in einer Speisung zweier
Spulen (oder Sonden) über einen Oszillator besteht, die in differentieller Weise in den benachbarten Zweigen einer abgeglichenen Brücke
vorgesehen sind, und wobei dem durch die Brücke gelieferten Signal in den beiden Erfassungskanälen zwei Signale in Phase und um 90
phasenverschoben überlagert werden, die von einem 90 -Phasenschieber (FR-PS 1 585 061) erzeugt und aus dem in die Spulen (oder
Sonden) eingespeisten Signal geformt werden, was so ein Bezugssignal ergibt. Die durch die Erfassungskanäle gelieferten Signale werden
in horizontale und vertikale Ablenkkanäle eines Oszilloskops eingespeist , auf dem sich eine Lissajous-Figur bildet, deren Form das
durch die Brücke gelieferte Signal kennzeichnet, wenn eine fehlerhafte Stelle im Prüfling nachgewiesen wird.
Dieselbe Analyse kann auch mittels einer Vorrichtung durchgeführt werden, die über das durch das in die Spulen eingespeiste Signal
gebildete Bezugssignal eine direkte und änderungsfreie Abnahme der Komponenten des untersuchten Signales in Phase und um 90 phasenverschoben
gestatten, was aufgrund des oben erwähnten Erfassungsverfahrens möglich ist. Darüber hinaus kann die Frequenz der Analyse in
einem weiten Bereich kontinuierlich gewählt sein, was eine kontinuierliche Analyse des Prüflings in der Tiefe ermöglicht. Schließlich kann
durch Drehung der Auftreffebene in bezug auf die XOY-Bezugsachsen des Oszilloskops ein in einer beliebigen Phase auftretender Parameter
dargestellt werden.
Es ist Aufgabe der vorliegenden Erfindung, ausgehend von einem
409807/0916
zu analysierenden Fehlersignal (V *f), das von einem bereits diskutierten
Gerät zur Werkstoffprüfung mit Wirbelströmen erzeugt wird, und ausgehend von einem Bezugssignal (V ref), das vom Oszillator
des gleichen Gerätes geliefert wird, in einem Phasenmesser ein analoges Signal zu erzeugen, dessen Amplitude proportional zur Phasendifferenz
zwischen diesen beiden periodischen Signalen in einem Bereich zwischen + 180 und -180 ist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß gelöst durch einen Rampenoder Stufensignalerzeuger, der durch ein geformtes Bezugssignal
(V ref) gesteuert ist, einen ersten und zweiten Abtastspeicher, die
das Stufensignal abtasten, eine Logikeinrichtung für den Richtung ssiun,
die durch das Bezugssignal und das zu analysierende geformte Signal (V f) gesteuert ist und zwei Steuersignale der Abtastspeicher und ein
logisches Signal für den Richtungssinn der Phasenverschiebung liefert,
ein Glied für die Änderung des Vorzeichens, das durch die Logikeinrichtung
für den Richtungssinn und den zweiten Abtastspeicher gesteuert ist, um ein analoges Signal (V = ΐ k ^P) zu liefern, das nach Ablauf
einer Sinusperiode den Wert und das Vorzeichen der Phasenverschiebung zwischen dem Bezugssignal (V ref) und dem zu analysierenden
Signal (V ^) angibt, und ein analoges Gatter, das durch das analoge
Signal und ein Steuersignal des Extremwertes des Betrags des zu analysierenden Signales gesteuert ist, um das Ausgangssignal zu sperren,
wenn der Betrag kleiner als ein vorbestimmter Wert ist.
Gemäß der Erfindung weist der Phasenmesser einen Stufensignalgenerator
vom Ursprung 0 auf eine konstante Spannung für eine HaIb-
4Q9807/091S
periode (Jt ) des Bezugssignales (V ref) auf, unabhängig von der Frequenz
der Analyse. Es wird so auf der vertikalen Achse, auf der die Spannung aufgetragen ist, der lineare Wert erhalten, der einen Winkel
zwischen 0 und 5Γ auf der Abszisse darstellt.
Das Stufensignal wird von dem Bezugs signal (V ref) erhalten,
das beim Durchgang durch "0" von der Sinuskurve erfaßt und durch einen schnellen und genauen Vergleicher geformt wird. Dieser Vergleicher
triggert während einer Halbperiode die Erzeugung eines Stufensignales,
dessen Amplitude durch einen Vergleicher mit veränderlichem Koeffizienten gesteuert ist, der die Höhe des Stufensignals
steuert.
Das zu analysierende Signal V ψ (phasenverschoben) wird durch
einen Vergleicher geformt, der zum Vergleicher des Bezugssignales identisch ist, und tastet dann das Stufensignal während seiner Halbperiode
ab. Es wird also unabhängig vom Vorzeichen der Phasenverschiebung eine Überlappung der Halbperioden erhalten, die eine vom
Stufensignal, die andere von der öffnung der Abtasteinrichtung, so daß
eine die Phase darstellende Gleichspannung am Ausgang der Abtasteinrichtung auftritt.
Während das Stufensignal während einer Phase von 180 erzeugt wird, ist es zur Erzielung einer Phase bis zu 360 erforderlich, ein
Vorzeichen dem abgetasteten Wert beizufügen, um ί 180 zu erhalten.
Eine auf dem Lesen der komplementären Zustände oder nicht auf
409807/0916
dem Zeitpunkt von 0 oder 180 der Eingangs signale beruhende Logikeinrichtung
erlaubt in einer Vorzeichenumkehrschaltung die Erzeugung eines analogen Signales, das proportional zur Phase der Anomalie im
Bereich von + 180 ist.
Das durch den Extremwert des Betrages des Signales V "f gesteuerte
analoge Gatter oder Glied liefert ein analoges Signal, wenn das zu
analysierende Signal größer als ein bestimmter Wert ist. Dieses Signal
kann in einer Steuereinrichtung zur Auslösung eines Warnsignales verwendet werden, die in Geräten zur zerstörungsfreien Werkstoffprüfung
mittels Wirbelströmen vorgesehen ist.
Nachfolgend wird die Erfindung anhand der Zeichnung näher erläutert.
Es zeigen:
Fig. 1 ein Grundschaltbild des erfindungsgemäßen Phasenmessers,
Fig. 2 Zeitdiagramme zur Erläuterung des Betriebs des Phasenmessers
,
Fig. 3 ein Grundschaltbild eines Generators für Rampen- oder
Stufensignale konstanter Amplitude für den Phasenmesser,
Fig. 4 das Grundprinzip einer Logikeinrichtung für den Richtungssinn des Phasenmessers, und
Fig. 5 das Grundprinzip einer Vorzeichenumkehrschaltung des
Phasenmessers.
409807/0916
2333496
In der Fig. 1 werden ein Bezugssignal V ref und ein zu analysierendes
Signal V ψ in die Eingänge des erfindungsgemäßen Phasenmessers
eingespeist. Diese Signale werden zunächst in einer nicht dargestellten Grundschaltung verarbeitet, die im allgemeinen in Geräten zur
zerstörungsfreien Werkstoffprüfung mittels Wirbelstrom^ vorgesehen
und beispielsweise in der FR-PS 1 588 827 beschrieben ist.
In der Fig. 1 wird das Bezugssignal V ref durch einen Nulldurchgang-Detektor
oder eine Erfassungsschaltung 11 geformt. Das Signal S , das dem Ausgangssignal der Schaltung 11 entspricht, wird einerseits
in einen Stufensignalerzeuger 13 und andererseits in einen Eingang einer Logikeinrichtung 14 für den Richtungssinn eingespeist.
Der Stufensignalgenerator 13, der näher anhand der Fig. 3 erläutert
ist, verwendet einen Operationsverstärker 31, der im Stufensignalgenerator
vorgesehen ist, d. h. eine integrierte Schaltung. Ein Rückkopplungskondensator 32 des Verstärkers 31 ist über einen Feldeffekttransistor
33 kurzgeschlossen, der während einer Halbperiode durch das Signal V ref gesteuert ist. Während der Öffnungsdauer lädt
sich der Kondensator 32 mit einem Gleichstrom über einen Widerstand 34 auf. Das Signal wird nach einem Durchgang durch einen Extremwertdetektor
35 in einem Vergleicher 36 mit einem einstellbaren Gleichstromsignal verglichen, das die Höhe des Stufensignales festlegt. Dieses
Gleichstromsignal kann mittels einer gemeinsamen Einspeisung in den Vergleicher und mittels eines Potentiometers 37 erhalten werden.
Das am Ausgang des Vergleichers 36 auftretende Fehlersignal wird über einen Widerstand 38 zum Eingang des Verstärkers 31 rückgeführt,
409807/0916
so daß die Erhöhung oder Verringerung des Extremwertes des Stufensignales
die Amplitude des Stuf ens ignales auf den Wert des durch das Potentiometer 37 einstellbaren Gleichstromsignales zurückführt. Wenn
das Veränderungsverhältnis der Frequenz größer als 1 bis 10 wird,
dann wird eine Umstellung des Kondensators 32 erforderlich.
Auf diese Weise erzeugt der Stufensignalgenerator 31 ein Sägezahnsignal
S3 (Fig. 3b), dessen Amplitude konstant und einstellbar bleibt. Es besitzt die gleiche Periode wie das Bezugssignal mit einer
zur Halbperiode dieses Signales gleichen Zeitdauer.
Die Logikeinrichtung 14 (Fig. l) für den Richtungssinn ist in
der Fig. 4 näher dargestellt. Sie weist auf zwei getrennte Schaltungen,
um einerseits ein logisches Signal S5 für das Vorzeichen der Phasenverschiebung und andererseits Steuerabtastsignale S4 und S4a zu erzeugen
.
Die erste Schaltung, die in der Fig. 4a dargestellt ist, verwendet
ein Flipflop D (Kippschaltung), die an ihrem Ausgang Q einen Zustand "0" oder "1" entsprechend zu ihrem Eingang d annimmt, in
den das Signal S2 eingespeist wird, das aus der Umformung des zu analysierenden Signales V *P durch das Glied 12 entsteht, und somit
läuft das Signal Sl auf dem Pegel "1" zum Eingang H. Das in der Fig. 4a 1 dargestellte Diagramm zeigt, daß für eine Phasenverzögerung
des Signales Vf das Flipflop D im Zustand "1" ist; und es ist
im Zustand "0" (Fig. 4a2), wenn es in seiner Phase voreilt. Eine Umschaltung der Ausgänge des Flipflops D ergibt ein Bezugssignal S5 =
409807/0916
(Ausgang an der Klemme Q , komplementär zu Q) gegen die Schaltung zur Änderung des Vorzeichens (Fig. 1) oder erlaubt eine Phasenverschiebung
von 180 am einen Eingang Q des Flipflops C (Fig. 4b).
Die zweite in der Fig. 4b dargestellte Schaltung der Logikeinrichtung
für den Richtungssinn (Fig. 1) verwendet logische Glieder für exklusives ODER, deren Zustandstabelle in der Fig. 4b gezeigt ist. Das
erste Glied C ergibt ein Komplement oder eine Negation S4a für Q=I
(Ausgangssignal des vorhergehenden Gliedes) und ein direktes Ausgangssignal
S4 für Q = O. Die beiden folgenden Glieder C und C werden
lediglich zur Erzeugung einer Verzögerung verwendet, so daß der Speicher der Abtasteinrichtung 16 unterbrochen ist, bevor die Abtasteinrichtung
15 verfügbar ist. Das Glied C ist spiegelbildlich aufgebaut.
Der Zustand der Glieder während des Betriebs ablauf es ist in der Fig. 4b dargestellt:
Eingänge C | Ausgang C Eingang der ersten Abtasteinrichtung 15 |
Ausgang C Eingang der zweiten Abtasteinrichtung 16 |
Q = 1 -γ positiv |
komplementäres Signal | direktes Signal |
Q = O *P negativ |
direktes Signal | komplem entäres Signal |
409807/0916
Die Schaltung 17 für die Änderung des Vorzeichens (Fig. 1) ist näher in der Fig. 5 dargestellt. Sie verwendet einen als Addierer
(Fig. 5) arbeitenden Operationsverstärker 51 und dient zur Wiederherstellung des Wertes und des Vorzeichens der Phasenverschiebung
des zu analysierenden Signales V -f . Wenn das Signal V ψ vor dem
Bezugssignal V ref ist, dann beträgt der Spannungswert des Signales S7 am Ausgang der zweiten Abtasteinrichtung 16 (Fig. l) A = k
(180 - ^), und A = k ψ für eine Verzögerung.
Das Signal S7 wird in den negativen oder invertierenden Eingang eingespeist, während die der Höhe des Stufensignales (180 ) entsprechende
Spannung in den positiven (nicht invertierenden) Eingang eingespeist wird, der mit einem Transistor 52 verbunden und durch
das Signal S5 von der Logikeinrichtung für den Richtungssinn (Glied 14 in Fig. 1) auf die folgende Weise steuerbar ist:
Wenn das Signal auf dem Pegel "1" ist, dann ist der Transistor 52 geschlossen und schließt den positiven Eingang des Verstärkers 51
kurz, der an seinem Ausgang eine Spannung V = -kf liefert.
Wenn das Signal auf dem Pegel "0" ist, dann ist der Transistor 52 gesperrt und der Verstärker 51 liefert als Ausgangssignal:
V = k (180° - f) + k.l80° = + kf
Das Vorzeichen des Signales V *P wird also durch die Vorzeichenumkehrschaltung
17 (Fig. 1) durch das Signal S8 wiederhergestellt, wie dies durch die Figuren 5b und 5c dargestellt ist.
409807/0916
_n_ 2339A96
Das Signal V f wird auf gleiche Weise am Eingang der Schaltung
der Fig. 1 durch einen Detektor 19 für den Betrag (Absolutwert) gesteuert, der den Extremwert (Maximalwert) des zu analysierenden Signales
erfaßt. Die Schaltung 19 liefert ein Signal S9, das vom Schwellenwert
des Betrages des Signales V "f abhängt.
Die beiden Signale S8 und S9 werden in ein analoges Glied eingespeist,
das das Ausgangssignal SlO sperrt, wenn der Betrag des zu analysierenden Signales V1P kleiner als ein vorbestimmter Wert ist.
Der Betrieb des erfindungsgemäßen Phasenmessers ist in Zeitdiagrammen
in der Fig. 2 gezeigt. Die dargestellten Kurven zeigen eine zu analysierende Spannung, deren Phase entweder verzögert ist (linke
Spalte der Fig. 2) oder deren Phase voreilt (rechte Spalte der Fig. 2), Weiterhin sind alle Kurven der linken Spalte für ein Ausgangs signal S5
der Logikeinrichtung für den Richtungssinn (Fig. 1 und 4) im Zustand
"1" und alle Kurven der rechten Spalte mit S5 im Zustand 11O" dargestellt
.
Die Kurven a stellen das Bezugssignal V ref am Eingang des erfindungsgemäßen
Phasenmessers dar, und zwar so wie es von einer nicht dargestellten Grundschaltung erzeugt wird, die im allgemeinen
bei der zerstörungsfreien Werkstoffprüfung mittels Wirbelströmen verwendet wird. Dasselbe gilt für das Bezugszeichen c für das zu analysierende
Signal V <P .
Die Kurven b und d stellen jeweils die Signale S und S dar,
409 80 7/0916
entsprechend zu V ref und V «f , nach der Formung in den Gliedern 11
und 12 der Fig. 1 und nach der Einspeisung in den Eingang der Logikeinrichtung
für den Richtungssinn.
Die Kurven e entsprechen den Sägezahnsignalen S3, die durch den
Stufensignalgenerator der Figuren 1 und 3 erzeugt und in die erste Abtasteinrichtung
eingespeist werden. Die Kurven f stellen die Form des Steuersignales S4 der Abtasteinrichtungen dar: Die schraffierten Teile
entsprechen der Sperrung der ersten Abtasteinrichtung. Die Signale
S6 und S7 (Kurven g und h) entsprechen jeweils den Ausgangssignalen der ersten und zweiten Abtasteinrichtung. Die Kurven i entsprechen dem
analogen Signal (S8) entsprechend zu dem zu analysierenden Signal Vψ
mit einer Wiederherstellung des Vorzeichens in einem Bereich von i 180°.
Das Flipflop 18 (Fig. l) hat Eingänge, die gesteuert sind durch
Signale S9, die den Extremwert des Betrages darstellen, und durch Signale S8 für den Wert und das Vorzeichen der Phasenverschiebung. Es
ist bei "0" gesperrt, wenn das zu analysierende Signal V $ noch keine
ausreichende Amplitude erreicht hat.
409807/0916
Claims (8)
- Patentansprüche1- Schneller Phasenmesser, gekennzeichnet durcheinen Rampen- oder Stufensignalerzeuger (13), der durch ein geformtes Bezugssignal (V ref) gesteuert ist, einen ersten und zweiten Abtastspeicher (15, 16), die das Stufensignal abtasten,eine Logikeinrichtung (14) für den Richtungssinn, die durch das Bezugssignal und das zu analysierende geformte Signal (V ψ ) gesteuert ist und zwei Steuersignale der Abtastspeicher (15, 16) und ein logisches Signal für den Richtungssinn der Phasenverschiebung liefert,ein Glied (17) für die Änderung des Vorzeichens, das durch die Logikeinrichtung (14) für den Richtungssinn und den zweiten Abtastspeicher (16) gesteuert ist, um ein analoges Signal (V = t k ψ ) zu liefern, das nach Ablauf einer Sinusperiode den Wert und das Vorzeichen der Phasenverschiebung zwischen dem Bezugssignal (V ref) und dem zu analysierenden Signal (V 1P ) angibt, undein analoges Gatter, das durch das analoge Signal und ein Steuersignal des Extremwertes des Betrags des zu analysierenden Signals gesteuert ist, um das Ausgangssignal zu sperren, wenn der Betrag kleiner als ein vorbestimmter Wert ist.409807/0916
- 2. Phasenmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Rampen- oder Stufensignalgenerator (13) ein integrierter Operationsverstärker (31) ist, der ein Sägezahnsignal konstanter Amplitude erzeugt, das mit der gleichen Periode wie das Bezugssignal einstellbar ist und eine Zeitdauer aufweist, die einer Halbperiode dieses Signales entspricht.
- 3. Phasenmesser nach Anspruch 2, dadurch gekennzeichnet, daß das Sägezahnsignal im eisten Abtastspeicher (15) während einer Zeitdauer abgetastet wird, die der Phasenverschiebung entspricht.
- 4. Phasenmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Logikeinrichtung (14) für den Richtungssinn ein erstes Flipflop (D) zur Erzeugung eines logischen Signales für das Vorzeichen der Phasenverschiebung und ein zweites exklusives ODER-Glied zur Erzeugung eines direkten oder komplementären Signales abhängig vom Vorzeichen der Phasenverschiebung aufweist, das in den Eingang des zweiten Gliedes eingespeist wird.
- 5. Phasenmesser nach Anspruch 4, dadurch gekennzeichnet, daß das komplementäre Signal des direkten Signals den zweiten Abtastspeicher (16) während der Zeitdauer der geschlossenen Stellung des ersten Abtastspeichers (15) steuert.
- 6. Phasenmesser nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß409807/0916die Schaltung zur Änderung des Vorzeichens ein als Addierer geschalteter Operationsverstärker (51) ist, wobei ein negativer Eingang durch eine Gleichspannung gesteuert ist, die vom zweiten Abtastspeicher (16) erzeugt wird, und wobei ein positiver Eingang durch einen Transistor gesteuert ist, der das Signal der Phasenverschiebung vor der Logikeinrichtung (14) für den Richtungssinn empfängt.
- 7. Phasenmesser nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Transistor gesättigt ist und den positiven Eingang des Verstärkers (31) kurzschließt, wenn er durch ein Signal der Phasenverschiebung im 11I"-Zustand angesteuert ist, wobei der Verstärker dann eine Spannung V = -k f liefert.
- 8. Phasenmesser nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet, daß der Transistor gesperrt ist, wenn er durch ein Signal der Phasenverschiebung im "Null"-Zustand angesteuert ist, wobei der Verstärker dann eine Spannung V = +kf liefert.409807/0916
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
FR7228120A FR2194971B1 (de) | 1972-08-03 | 1972-08-03 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE2339496A1 true DE2339496A1 (de) | 1974-02-14 |
DE2339496C2 DE2339496C2 (de) | 1985-04-04 |
Family
ID=9102847
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2339496A Expired DE2339496C2 (de) | 1972-08-03 | 1973-08-03 | Phasendetektor |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3864638A (de) |
DE (1) | DE2339496C2 (de) |
FR (1) | FR2194971B1 (de) |
GB (1) | GB1427604A (de) |
IT (1) | IT991939B (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0033802A2 (de) * | 1979-12-07 | 1981-08-19 | Thorburn Technics (International) Limited | Gerät und Sonde zur Wirbelstromprüfung |
Families Citing this family (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS60210025A (ja) * | 1984-04-03 | 1985-10-22 | Pioneer Electronic Corp | 位相比較器 |
US5225776A (en) * | 1991-10-07 | 1993-07-06 | Tektronix, Inc. | Method and apparatus for probing and sampling an electrical signal |
DE4415208A1 (de) * | 1994-04-30 | 1995-11-02 | Thomson Brandt Gmbh | Verfahren zur Analyse und Entzerrung von Signalen |
DE4426713C2 (de) * | 1994-07-21 | 1997-03-27 | Siemens Ag | Verfahren zum Messen des Phasenjitters eines Datensignals |
Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1050021B (de) * | 1954-12-07 | 1959-02-05 | Heidelberg Dr. Gerhard Kietz | Gerät zur Phasenwinkelmessung zweier ihre Phasenlage dauernd ändernder Wechselspannungen bei Elektrozephalographie |
FR1588827A (de) * | 1968-06-21 | 1970-03-16 | ||
DE2022231A1 (de) * | 1970-02-05 | 1971-08-19 | Bbc Brown Boveri & Cie | Verfahren zur eindeutigen Bestimmung der Phasenverschiebung zwischen zwei periodischen in ihrer Frequenz gleichen oder nahezu gleichen elektrischen Signalen |
DE2321372B2 (de) * | 1972-05-03 | 1976-12-09 | Allmänna Svenska Elektriska AB, Västeraas (Schweden) | Anordnung zur messung des steuerwinkels bei stromrichtern |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR1529822A (fr) * | 1967-05-09 | 1968-06-21 | Csf | Dispositif de mesure de phase |
US3534399A (en) * | 1968-07-22 | 1970-10-13 | Rca Corp | Area navigation method and apparatus for aircraft with vhf-omnirange (vor) and distance measuring equipment (dme) |
US3567971A (en) * | 1968-09-27 | 1971-03-02 | Atomic Energy Commission | Time-sampling-pulse amplifier |
US3723888A (en) * | 1971-06-14 | 1973-03-27 | Lorain Prod Corp | Phase responsive control circuit |
-
1972
- 1972-08-03 FR FR7228120A patent/FR2194971B1/fr not_active Expired
-
1973
- 1973-07-23 GB GB3497273A patent/GB1427604A/en not_active Expired
- 1973-07-24 US US382053A patent/US3864638A/en not_active Expired - Lifetime
- 1973-08-02 IT IT69337/73A patent/IT991939B/it active
- 1973-08-03 DE DE2339496A patent/DE2339496C2/de not_active Expired
Patent Citations (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE1050021B (de) * | 1954-12-07 | 1959-02-05 | Heidelberg Dr. Gerhard Kietz | Gerät zur Phasenwinkelmessung zweier ihre Phasenlage dauernd ändernder Wechselspannungen bei Elektrozephalographie |
FR1588827A (de) * | 1968-06-21 | 1970-03-16 | ||
DE2022231A1 (de) * | 1970-02-05 | 1971-08-19 | Bbc Brown Boveri & Cie | Verfahren zur eindeutigen Bestimmung der Phasenverschiebung zwischen zwei periodischen in ihrer Frequenz gleichen oder nahezu gleichen elektrischen Signalen |
DE2321372B2 (de) * | 1972-05-03 | 1976-12-09 | Allmänna Svenska Elektriska AB, Västeraas (Schweden) | Anordnung zur messung des steuerwinkels bei stromrichtern |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
EP0033802A2 (de) * | 1979-12-07 | 1981-08-19 | Thorburn Technics (International) Limited | Gerät und Sonde zur Wirbelstromprüfung |
EP0033802A3 (en) * | 1979-12-07 | 1981-09-09 | Thorburn Technics (International) Limited | Eddy current inspection apparatus and probe |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2339496C2 (de) | 1985-04-04 |
GB1427604A (en) | 1976-03-10 |
FR2194971A1 (de) | 1974-03-01 |
US3864638A (en) | 1975-02-04 |
IT991939B (it) | 1975-08-30 |
FR2194971B1 (de) | 1978-06-02 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE1193097B (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Zaehlung und/oder Speicherung von Impulsen | |
DE2921899A1 (de) | Verfahren zur frequenzmessung | |
DE2227436A1 (de) | Vorrichtung zur erfassung des porfiles eines werkstueckes | |
DE2027079C3 (de) | Verfahren und Vorrichtung zur chromatographischen Bestimmung der Konzentration eines Bestandteils in einem Proben-Gemisch | |
DE1276695B (de) | Analog-Digital-Umsetzer mit einem Spannungs-Frequenz-Wandler | |
DE2626927B2 (de) | Schaltung zur Umwandlung einer Wechselspannung in eine Gleichspannung | |
DE2439122C3 (de) | Wirbelstrom-Prüfgerät | |
DE3121234C1 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zur Messung eines Magnetfeldes,insbesondere des Erdmagnetfeldes | |
DE3514155C2 (de) | ||
DE3882267T2 (de) | Verfahren und Anordnung für das Messen des Leitvermögens einer Flüssigkeit, wobei dem Einfluss der Polarisation entgegengewirkt wird. | |
DE2601250A1 (de) | Vorrichtung zum gewinnen einer abtastung und zum sichtbarmachen der abtastung | |
DE2339496A1 (de) | Schneller phasenmesser | |
DE2362312B2 (de) | Gepulstes Wirbelstrom-Prüfgerät | |
CH644952A5 (de) | Geraet zur zerstoerungsfreien materialpruefung. | |
DE2445132A1 (de) | Verfahren und anordnung zur schweissguetepruefung | |
DE2534212B2 (de) | Schaltungsanordnung zum messen des zeitlichen abstandes zwischen periodischen, auf dem schirm eines oszillographen dargestellten signalen | |
DE29511556U1 (de) | Induktiver Durchflußmesser | |
DE2104654A1 (de) | Steuervorrichtung für Kopierauto maten | |
DE2527375B2 (de) | Verfahren und Schaltungsanordnung zum Erzeugen eines korrigierten Soll-Rechtecksignals | |
DE1950956C3 (de) | Anordnung zum geophysikalischen Erkunden von Erzlagerstätten | |
DE3143669A1 (de) | Schaltung zum messen des effektivwertes einer wechselspannung | |
DE4317557C1 (de) | Vorrichtung zur Schweißstromregelung beim Punktschweißen mit einem nach dem Effektivwertverfahren arbeitenden Meßgeber zur schnellen Erfassung des Istwertes des Widerstandes zwischen den Elektroden | |
DE3001593A1 (de) | Spannungsfrequenzgeber fuer synchronmaschinen | |
DE1589889A1 (de) | Verfahren und Anordnungen zur kontinuierlichen Entmagnetisierung von ferromagnetischen Werkstoffen bei Anwesenheit magnetischer Stoerfelder | |
DE2024012C3 (de) | Vorrichtung zur Fehlerortung an Leitungen bzw. Kabeln mittels Impulsortung |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
E77 | Valid patent as to the heymanns-index 1977 | ||
OD | Request for examination | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |