DE2259244B2 - - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Interferometer mit den Merkmalen des Oberbegrifis ^ on Patentanspruch 1.
Ein solches Interferometer beschreibt die DE-OS
15 72 599. Dort ist in ein Interferometer eine Kompensationsplatte
eingesetzt, die einer Drehschwingung ausgesetzt wird. Damit ist aber ein Eingriff in das
eigentliche Interferometer bedingt, welches die Herstellung dieses Geräts nicht nur verteuert, sondern
insbesondere seine Genauigkeit beeinträchtigt.
Die Druckschrift Zeiss-Werkzeitschrifi, Band 8, Nr. 37
(1960), Seiten 61 -68 erläutert, daß ein Kippen der einen Platte eines Jamin-Interferometers zu einer Änderung
des Wegunterschiedes zwischen den beiden interferierenden Teilstrahlen dieses Interferometers führt, in
einem anderen Zusammenhang wird dort erläutert, daß Änderungen der Winkelstellungen der Spiegel eines
Mach-Zehnder-Interferometers zu Weglängenänderungen führen. Diese Erkenntnisse werden in dieser
Literaturstelle aber nicht zu einem Interferometer ausgenutzt, bei dem der optische Gangunterschied der
beiden Teillichtbündel bewußt erzeugt wird.
Die Druckschrift »Feingerätetechnik«, 14. Jahrgang, Heft 12 (1965), Seiten 535-538 beschreibt die
Möglichkeit der Änderung der Weglängendifferenz zwischen den interferierenden Strahlen eines Fabry-Perot-lnterferometers
durch Änderung der relativen Winkelstellung der Fabry-Perot-Plalfen. Auch hier wird
diese Erkenntnis nicht in eine Konstruktion umgesetzt, bei der der Gangunterschied /wischen den beiden
Teillichlbiindeln periodisch moduliert wird.
Der Erfindung liegt, ausgehend von einem Interferometer
der eingangs genannten Art, die Aufgabe zugrumV, dieses dahingehend weiterzubilden, daß bei
einem kompakten Aufbau die Empfindlichkeit des
neuartigen Interferometers erhöht wird.
Die Lasung dieser Aufgabe erfolgt durch die kennzeichnenden Maßnahmen von Patentanspruch 1.
Durch diese Maßnahmen können auch herkömmliche Interferometer nachträglich mit einem derartigen
Modulator ausgerüstet werden. Das neuartige Interferometer ist praktisch nicht dejustierbar und sehr
empfindlich. Gegebenenfalls können zwei vollständig parallele Teillichtbündel am Ausgang des Interferometers
erhalten werden. Die Nachweisempfindlichkeit des neuartigen Interferometers ist so groß, daß Phasenunterschiede
in der Mikroskopie nachgewiesen werden können, die in der Größenordnung von 2° liegen, d. h.
bei 0,6 A. Strecken in der Größenordnung von 1/10 A
und sogar bis zu einigen hundertstein A können gemessen werden. Die Nachweisempfindlichkeit liegt
bei Lambda/200 000. Eines der Einsatzgebiete des neuartigen Interferometers ist die Untersuchung der
Oberflächenbeschaffenheit von Eichmaßen, die Oberflächenrauhheit, die Oxidation oder Korrosion von
Oberflächenschichten.
Besonders gute Ergebnisse lassen sich mit den Maßnahmen von Patentanspruch 2 erzielen.
Die Erfindung wird im folgenden anhand von Ausführungsbeispielen erläutert Es zeigt
Fig. 1 eine Ausführungsform als Mach-Zehnder-Interferometer;
Fig.2 eine Ausführungsform als Jamin-Interferometer;
F i g. 3 eine Ausführungsform als Polarisationsinterferometer mit zwei identischen, doppelt brechenden
Kristallplättchen;
Fig.4 eine achromatische Variante des aus total reflektierenden Prismen zusammengesetzten Halbwellenplättchens
des Interferometers nach F i g. 3;
Fig.5 eine weitere Variante des Halbwellenplättchens
nach Fig.3, das aus zusammengesetzten HaIbwellenplättchen
besteht;
Fig. 6 eine andere Ausführungsform des Interferometers
nach F i g. 3;
Fig. 7 eine andere Ausführungticrin des Interferometers
nach F i g. 3.
Zunächst wird die Erfindung unter Bezugnahme auf Fig. I beschrieben. Dort ist ein Mach-Zehnder-Interferometer
gezeigt, das aus zwei optischen Elementen P\ und P2 besteht, von denen jedes einen total reflektierenden
Spiegel 1 und einen halbdurchlässigen Spiegel 2 aufweist. Das Element Pi beispielsweise ist starr
verbunden mit einem Gehäuse A des Interferometers, während das Element P2 nur über einen mechanischen
Modulator M mit dem Gehäuse verbunden ist, der durch seine Winkelschwingung bewirkt, daß das Element P\
um einen Winkel λ in der Ebene der Figur bezogen auf dos Element P2 gekippt wird, und zwar ausgehend von
einer Ausgangsposition, in der die vier Spiegel des Interferometers parallel sind. Verwendet man eine
monochromatische Lichtquelle, beispielsweise einen Laser L, ist ferner D der Abstand der beiden
Teillichtbündel Fi und F2 im Inneren des Interferometers,
und ist die Justierung so getroffen, daß ein Fehler in der Parallelität zwischen den Einfallcbcnen der
Elemente P1 und P2 durch die Winkelschwingung des
Rlemcnts Py auftritt, so ist der Gangunterschied Δ
zwischen den beiden Teillichtbündeln F1 und F2 für einen
Winkel <x, von Fehlern zweiter Ordnung abgesehen, gleich
/1 = D, x.
Wird der Winkel <* periodisch moduliert, beispielsweise
sinusförmig mit einer Frequenz /"und einer Amplitude
«o, so variiert dieser Gangunterschied periodisch in der
Zeit mit der Frequenz f entsprechend folgendem Gesetz:
l(t) = Pa0 sin 2π ft,
Der die Winkelschwingung * (t) erzeugende Modulator
M arbeitet beispielsweise mechanisch, elektromechanisch oder pneumatisch. Es wird ein piezoelektrischer
Modulator bevorzugt Beispielsweise ist dann ein Quarzkristall an einem Ende am Gehäuse befestigt, an
dessen Flächen ein elektrisches Wechselfeld angelegt wird Durch die Wahl eines Elementes, dessen
Biegsamkeit, Härte und Curietemperatur hoch liegen, kann man eine ausgezeichnete Stabilität sowohl bei der
Winkelschwingung wie auch der Ruhelage erhalten. Diese Eigenschaften werden noch bei Verwendung von
zwei Plattenelementen verbessert, die aus keramischen
ferroelektrischen PolykristaJlen bestehen, die vorpolarisiert
sind, und deren Kristalle die Eigenschaft besitzen, daß die Dimensionen unter der Wirkung eines
elektrischen Feldes in Analogie zum inversen piezoelektrischen Effekt geändert werden.
Bei einer derartigen Anordnung ist die Phasendifferenz Δφ, die zwischen den Strahlen erzeugt wird, gleich
Δφ=2 π (Δ/λ), wobei λ die Wellenlänge des verwendeten
Lichtes ist Diese Phasenänderung ändert sich also periodisch in der Zeit nach folgendem Gesetz;
I, (0 =
2.T Dx0
sin 2.T ft.
Am Ausgang des Interferometers ändert sich das von einem fotoelektrischen Empfänger Ri abgegebene
Signal periodisch in der Zeit nach folgender Gleichung:
S1 (/) = S0 sin2
, _ cos
Λο sin 2, /f
Dabei wird vorausgesetzt, daß im Ruhestand die Differenz der optischen Gangunterschiede auf Null
eingestellt wird (subtraktive Interferenzen).
Im Empfänger Rt wird ein Strom erzeugt, der
periodisch moduliert ist, und dessen Grundfrequenz gleich dem zweifachen Wert der Grundfrequenz der
Modulation ist.
Die Modulationstiefe dieses Signals ist maximal, wenn die Modulationsamplitude der optischen Verzögerung
Zl0 gleich einer Wellenlänge oder gleich einer halben
Wellenlänge ist, d. h. wenn
I0 = D und \SI = λ/2 ist.
Ein derartiges Instrument kann als Interferenzmodulator bezeichnet werden. Es ist sehr empfindlich. Diese
totale Modulation ocm wird für einen Winkel des
Modulators gleich ^ erhalten. Die Modulationsamplitude
ist umgekehrt proportional dem Abstand D der Teillichtbündel F\ und Fi im Inneren des Interferometers.
Diese Modulationsamplilude isi also sehr klein. Für eine Wellenlänge von 633 mm liegt sie in der
Größenordnung einer zehntel Winkclminute bei einem Abstand Dvon 10 mm. Es ergibt sich hieraus der Vorteil,
daß eine totale Modulation der Lichtquelle bei einer sehr kleinen Amplitude der Winkelschwingung erzeugt
ίο wird.
Ein anderer Vorteil ergibt sich daraus, daß die in einem derartigen Interferometer hervorgerufene Wegdifferenz
Δ unabhängig vom Einfallwinkel des Lichtstrahls ist, und daß dieses Phänomen unabhängig von
π einer Änderung des Abstands zwischen den beiden Elementen ist. Dadurch können die Toleranzen des
Einfallswinkels sehr groß sein.
Das Interferometer kann auch für die Messung oder den Nachweis optischer Phasendifferenzen verwendet
j» werden. Unter der Annahme, daß in den Strahlengang
eines der Arme des Interferometers ein optisches Objekt 5 gelegt wird, das eine optische Verzögerung
erzeugt, die sich in einer Phasendifferenz φ S auswirkt,
und wenn in den Strahlengang des anderen Armes ein
■r> optischer Kompensator gegeben wird, der eine variable
und regulierbare optische Verzögerung einführt, die durch eine Phasenverschiebung ψο wiedergegeben wird,
so hat das vom Empfänger R\ abgegebene Signal folgende Form:
- ι-ολΙ . >,, sin 2.7 Jt + ,ls
Der Empfänger erzeugt also ein elektrisches Signal, das mit der Grundfrequenz moduliert ist, die mit der
Modulationsfrequenz des Modulators übereinstimmt. Die Amplituden der Komponenten ungerader Ordnung
einer Fourier-Entwicklung dieses Signals verschwinden also, wenn die variable und meßbare Phasendifferenz ψη
der unbekannten Phasendifferenz ψ S gleich ist. Man kann diese Phasendifferenz also hiermit messen.
Das beschriebene Mach-Zehnder-Interferometcr besitzt
den weiteren Vorteil, daß es zwei Ausgänge besitzt, die optisch um η nhasenversclioben sind. Befinden sich
an den Ausgängen die Empfänger R1 und R2. so
entstehen dort die Signale
,S'„ cos'
Dies gestiitlet weitere Anwendungen. /.. B. die
Bestimmung von Vor/eichen. Dadurch können auch zwei Ausgänge mil totaler oder partieller Modulation
erhalten werden, die um die Zeit 774 phasenverschoben sind, wenn 7"die Modulationsperiode des Modulators ist.
Ist der Abstand D ziemlich klein, so kann eine
Änderung der optischen Verzögerung, hervorgerufen von einem Objekt, welches gleichzeitig in den
Strahlengang in beiden Armen des Interferometers eingesetzt wird, nachgewiesen oder gemessen werden.
Andererseits ist es praktisch schwer, ein Interferometer vom Typ Mach-Zehnder mit kleiner Aufspaltung der
Teillichtbündel zu konstruieren. Ferner ist es neben dieser Anwendung vorteilhaft, die Aufspaltung zu
verringern, um auch die Empfindlichkeit des Instrumentes zu reduzieren, die leicht zu groß wird. Dies gestattet
die Anwendung einer größeren Winkelamplitude, nämlich einige Winkelminuten anstelle von einigen
kel des Interferometers vergrößert werden kann, so is
der Unterschied zwischen den beiden Teillichtbündcli
F'\ und F"2 gleich Null, weil die beiden Plättchen P'
und P"i parallel sind. Zwischen den beiden Elementci
des Interferometers ist die Aufspaltung der beidei Strahlen etwa gleich
I) — V
mit e gleich der Dicke eines jeden Plättchens P'\ un<
P"t und ne und /*>
gleich außerordentlicher bzw ordentlicher Brechungsindex des verwendeten Kristalls
Verwendet man Kalzit oder isländischen Spalkristal
ι i für eine mittlere Wellenlänge des sichtbaren Spektrums so liegt die Aufspaltung in der Größenordnung de;
Zehnfachen der Dicke des Kristalls. Sie bleibt stationär wenn der Einfallswinkel des Lichtbündels in de
Nigrhhnrirhafi ρΐηθ: senkrecht einisüendcn Lichtbiin
sehen Modulators erleichtert wird.
Fig. 2 zeigt als zweite Ausführungsform ein Jamin-Interferometer,
das aus zwei Plättchen P\ und P'2 mit
planparallelen Flächen besteht. Bei dieser Ausführungsform ist das Plättchen P'2 fest, während das Plättchen P\
mit dem Gehäuse über den Modulator M verbunden ist. In diesem Fall liegt die Aufspaltung zwischen zwei
Teillichtbündeln F\ und F2 in der Größenordnung von
zwei Dritteln der Dicke jedes Plättchens, falls der LichtstrahlF'i unter etwa 45° zur ersten Fläche des
Plättchens P'2 einfällt. Praktisch kann man leicht eine
zehnfach geringere Aufspaltung erzielen, als dies mit einem Mach-Zehnder-Interferometer möglich ist. Sobald
eine den planparallelen Plättchen entsprechende Ausgangslage erzeugt wird, und zwar mit einer Lage, für
die der Wegunterschied zwischen den beiden Teillichtbündeln gleich Null ist, so erzeugt eine Auslenkung eines
der Plättchen bezüglich des anderen mit einem Winkel λ zwischen den beiden Teillichtbündeln F\ und F'i einen
Gangunterschied, der etwa gleich Da ist. Um den Wirkungsgrad zu verbessern, kann man die Plättchen
P'\ und P'2 bei Position 21 und 21' an ihren Außenflächen
verspiegeln, sowie ihre Innenflächen bei Position 22 und 22' zur Hälfte halbverspiegeln, wobei die andere Hälfte
bei Position 23 und 23' antireflektierende Beläge erhält.
Eine andere Ausführungsform ist in Fig.3 gezeigt.
Dort ist ein Polarisationsinterferometer dargestellt, das
in gleicher Weise eine geringe Aufspaltung zwischen den beiden Teillichtbündeln ermöglicht. Bei dieser
Ausführungsform kann das Interferometer zwei planparallele Plättchen P'\ und P"2 gleicher Dicke aus
beispielsweise doppelbrechendem, einachsigem Kristall enthalten, dessen optische Achse einen Winkel von 45°
mit der Eintrittsfläche einschließt — vergleiche die
Doppelpfeile in den Plättchen P"\ und P"2 in Fig.3.
Eines der Plättchen (P"r) ist fest, und das andere (P"2) ist
mit dem Gehäuse A des Interferometers über den Modulator M verbunden. Diese Anordnung wird
zwischen zwei gekreuzte Polarisatoren 30 und 31 gesetzt, die so angeordnet sind, daß sie Lichtbündel
hindurchlassen, die bezüglich derjenigen Ebene, die die
Achsen der Plättchen enthält um 45° ausgerichtet sind.
Dadurch ist es möglich, daß die beiden mittels des ersten
Plättchens P'\ aufgespaltenen und mittels des zweiten
Plättchens P"2 rekombinierten Teillichtbündel interferieren
können. Wenn die Achsen der Plättchen parallel sind und wenn man eine λ/2-Platte H einführt, deren
Achsen um 45° zu derjenigen Ebene gedreht sind, die die beiden Kristalle enthält, wodurch der öffnungswindels
liegt und ist auch unabhängig von der Wellenlänge des Lichtes. Diese sehr geringe Aufspaltung gestattet es
Differential-lnterferometrie zu betreiben, wobei zwi sehen den beiden Elementen des Interferometers eir
Prüfling gesetzt wird, dessen Phase in der Richtung dei
2) Aufspaltung variiert.
Eine vom Modulator Merzeugte Neigung λ eines dei
Plättchen bezüglich des anderen, erzeugt zwischen der beiden Tej||jchtbundeln F'\ und F"2 einen Gangunter
schied A = DiX, der mit der Frequenz des Modulator
jo moduliert ist. Wie bei den vorstehend beschriebener
Ausführungsformen wird der Lichtstrom am Ausgang des Interferometers total bei einer Amplitude «λ
moduliert, beispielsweise D««=A/2,sodaß
ist, weil nämlich die Aufspaltung D bei isländischen Spatkristall etwa gleich 1/10 der Dicke eder Plättcher
P"\ oder P"2 ist.
Das Polarisationsinterferometer kann zur Untersu chung eines Prüflings C verwendet werden, der eine
optische Phasenverschiebung bewirkt, die die durch der Polarisator 30 linear polarisierte Schwingung in eine
elliptische Schwingung umwandelt. Eine λ/4-Platte Oi
5 deren eine Achse parallel zu derjenigen des Polarisator; 30 ist, gestattet es. diese Schwingung in eine lineare
Schwingung umzuwandeln, deren Richtung vom Wen der Phasenverschiebung abhängt. Nur eine Drehung de!
Polarisationsanalysators 31, die gleich der Hälfte diesel Phasenverschiebung ist, gestattet es, die ungerade
Ordnung des modulierten Signals zu annulieren da· vom Empfänger R abgegeben wird, wodurch diese
Phasenverschiebung gemessen werden kann, und vor da wiederum den Wert der physikalischen Größe, die
diese Phasenverschiebung hervorgerufen hat: Längenänderung, Änderung des Brechungsindex, Änderung dei
Doppelbrechung, die evtL durch Änderung änderet physikalischer oder chemischer Größen hervorgerufer
worden sind, beispielswiese der Temperatur, de· Druckes, des elektrischen oder magnetischen Feldes
der Zeh, der Konzentration usw.
Im folgenden werden die charakteristischen Eigenschaften eines Polarisationsinterferometers angegeben
das nach dem Schema nach Fig.3 aufgebaut ist Da; Interferometer besteht aus zwei Kalzhimplättchen mil
quadratischem Schnitt von 1 cm Seitenlange und mil
einer Dicke von 3 mm. Ein -y-Glimmerplättchen ist aul
das Plättchen geklebt. Beide Anordnungen werden mittels zweiter aufgeklebter, ca. I mm dicker Glaspläti
chen geschützt. Unter diesen Bedingungen muß die Amplitude der Winkelschwingungen zur Erzeugung
einer Modulation des optischen Nacheilcns mit einer Amplitude gleich einer hiilben Wellenlänge etwa J, 4
Winkelminuten betragen Als Modulator dient ein keramisches, ferroelcklrisches, polykristallines, vorpolarisiertes
und mit zwei Plättchen eingefaßtes ("lenient, das an einem Ende am Gehäuse gehalten ist, und das an
seinem anderen Ende das bewegliche Element trägt. Es hat eine freie Länge von etwa 35 mm. Man kann z. B.
eine handelsübliche Keramik verwenden. Bei dieser mechanischen Belastung liegt die Resonanzfrequenz
dieses Systems bei 54 Hz und die notwendige Amplitude für eine totale Modulation verlangt eine Spannung von
4.5 V Spitze-Spitze. Es werden etwa 20 Mikrowatt elektrischer Leistung verbraucht.
Man verfügt daher über einen Modulator für den optischen Weg, der niederfrequent arbeitet, und zwar
bei sehr geringer Leistung. Die Frequenz kann erhöht werden, indem entweder im Bereich der Resonanzfrequenzen
höherer Ordnungen gearbeitet wird, oder indem die freie Länge des keramischen Plättchens
verkürzt wird. Dadurch erhält man leicht Frequenzen in der Größenordnung vom KHz.
Das beschriebene System hat den Nachteil, daß das verwendete λ/2-Plättchen nicht achromatisch ist. Um
dies zu vermeiden, ist es entsprechend Fig.4 möglich,
ein achromatisches Halbwellensystem zu verwenden, das a"s zwei rhombischen Prismen 40 und 41.
sogenannten Fresnel-Prismen zusammengesetzt ist. in denen das Lichtbündel vier Totalreflexionen unter
einem Einfallswinkel von etwa 54° unterworfen ist, wenn die Prismen aus Glas mit einem Brechungsindex
von 132 bestehen.
Die Achromatizität kann auch noch verbessert werden, wenn geeignete dünne Schichten auf den
Flächen aufgedampft werden, an denen der Strahl total reflektiert wird.
Entsprechend Fig.5 ist es auch möglich, ein
achromatisches Halbwellensystem mit einem Satz von Halbwellenplättchen für eine mittlere Wellenlänge zu
schaffen, deren langsame Achsen m„ geeignet orientiert
sind. Die Achromatizität verbessert sich mit steigendem η.
Ein anderer Vorteil dieses Polarisationsinterferometers
liegt darin, daß eine Polarisationsebene periodisch mit großer Amplitude zum Schwingen gebracht werden
kann.
Die vom Polarisator 30 linear polarisierte einfallende Welle wird am Ausgang des zweiten Elementes Ρ'Ί in
eine elliptische Schwingung umgewandelt Wenn man entsprechend F i g. 6 ein λ/4-Plättchen Q2 vorsieht, das
achromatisch sein kann, und von dem eine Achse zur
Richtung des Polarisators 30 parallel ist, so wird diese elliptische Schwingung in eine lineare Schwingung
verwandelt, die einen Winkel
Iy(M
mit der Richtung des Polarisators 30 bildet, wenn Δψ (t)
die Phasenänderung ist, die von dem Interferometer eingeführt wird. Für eine sehr kleine Amplitude des
Modulators in der Größenordnung von einigen Winkelminuten, die eine periodische Veränderung des
optischen Weges der Amplitude von λ/2 bewirkt, ist der
Wert der Phasenänderung gleich π Radian, und man
erhält so eine periodische Schwingung der Polarisationsebene mit der Amplitude \ · Diese Möglichkeit,
die auch bei den Interferometern nach Fig. 1 und 2
besteht, nämlich die Richtung einer Polarisationsebene mit einer Amplitude modulieren zu können, die auch
sehr groß sein kann, ist bei der Polarimetrie und Ellipsometrie sehr vorteilhaft. Umgekehrt kann dieser
Verstärkungseffekt für die Drehung es beispielsweise ermöglichen, mit sehr großer Präzision die Biegungskonstanten
eines mechanischen Modulators zu bestimmen.
Ein Polarisationsinterferomeler, bei dem die beiden
Wellen senkrecht polarisiert sind, ermöglicht auch noch, das Lichtbündel am Ausgang des Interferometers mit
der Frequenz des Modulators zu modulieren.
Vorstehend wurde gezeigt, daß eine der Eigenschaften des Interferometers darin besteht, das Lichtbündel
am Ausgang mit einer Frequenz zu modulieren, die doppelt so groß ist wie die des Modulators, wenn im
Inneren des Interferometers sich kein Phasenobjekt befindet, und wenn im Ruhezustand das Interferometer
auf die Phase Null geeicht ist.
Wenn man entsprechend F i g. 7 zwischen die Elemente Ρ'Ί und P"2des Interferometers ein λ/4-Plättchen
Cj derart stellt, daß dessen Achsen parallel mit den
Polarisationsrichtungen der beiden Wellen sind, so wird
dadurch eine Phasenverschiebung von -τ/2 zwischen diesen beiden Wellen bewirkt. Unter diesen Bedingungen
hat das vom Empfänger Rerzeugte Signal die Form
S\t) =
Dieses Signal ist moduliert. Seine Grundfrequenz ist die Frequenz des Modulators.
Die Modulationstiefe dieses Signals ist maximal oder total, wenn die Modulationsamplitude des optischen
Weges Δο= D(Xo- einem Viertel der Wellenlänge ist:
zlo= D Λρ=λ/4.
D-iraus ergibt sich der Vorteil, daß mit dieser
Anordnung eine totale Modulation des Lichtbündels bei eine/ Winkelschwingung des Modulators &P=X/4D
erzeugt wird, die zweimal kleiner ist als die schon sehr
kleine Winkelschwingung «m=3/2D, welche ohne das
λ74- Plättchen vorliegen würde.
Claims (1)
- Patentansprüche:1, Interferometer, insbesondere Maeh-Zehnder-, Janwn- oder Polarisationsinterferometer, mit einem Gehäuse, einer Lichtquelle, einem ersten optischen Element Z«r Aufspaltung eines von der Lichtquelle emittierten Ucbtbündels in zwei parallele, räumlich getrennte Teillichtbündel, einem gleichartigen zweiten optischen Element zur Wiedervereinigung der to beiden Teillichtbündel, wobei eines der beiden optischen Elemente starr mit dem Gehäuse verbunden ist, mit einem Modulator zur periodischen Änderung des optischen Gangunterschiedes der beiden Teillichtbündel sowie mit einem photoelektrischen Empfänger für die wiedervereinigten interferierenden Teillichtbündel, dadurch gekennzeichnet, daß der Modulator aus einer Einrichtung (M) zur Erzeugung einer Winkelschwingung des anderen optischen Elements (Pw P\'; Pz") besteht.Z Interferometer nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß die Einrichtung (M) zur Erzeugung einer Winkelschwingung ein aus einem mono- oder polykristallinen Material bestehendes Element umfaßt, welches am Gehäuse (A) gelagert ist und eine Halterung für das andere optische Element (Pt; Pi'; P2") bildet und das zur Änderung seiner Dimensionen mit einem elektrischen Wechselfeid beaufschlagt ist. hi
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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FR7143510A FR2163861A5 (de) | 1971-12-03 | 1971-12-03 |
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Publication Number | Publication Date |
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DE2259244A1 DE2259244A1 (de) | 1973-06-20 |
DE2259244B2 true DE2259244B2 (de) | 1980-07-17 |
DE2259244C3 DE2259244C3 (de) | 1981-04-30 |
Family
ID=9086903
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE2259244A Expired DE2259244C3 (de) | 1971-12-03 | 1972-12-04 | Interferometer |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3825348A (de) |
JP (1) | JPS5633691B2 (de) |
DE (1) | DE2259244C3 (de) |
FR (1) | FR2163861A5 (de) |
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- 1972-12-02 JP JP12110472A patent/JPS5633691B2/ja not_active Expired
- 1972-12-04 DE DE2259244A patent/DE2259244C3/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE2259244C3 (de) | 1981-04-30 |
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JPS5633691B2 (de) | 1981-08-05 |
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Legal Events
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8339 | Ceased/non-payment of the annual fee |