DE2219395B2 - Electrical test device - Google Patents

Description

Die Erfindung bezieht sich auf ein elektrisches Prüfgerät gemäß dem Oberbegriff des Patenanspruchs 1.The invention relates to an electrical test device according to the preamble of the patent claim 1.

Da elektronische und elektrische Einrichtungen, in Computern, automatischen Fernsprechvermittlungsanlagen und anderen automatischen Steuergeräten verwendet werden, immer komplizierter werden, müssen zu ihrem Aufbau sehr viele elektrische Verbindungen hergestellt werden, die dann einzeln auf ihre Funktionsfähigkeit überprüft werden müssen. Wenn beispielsweise eine Verbindung zwischen zwei Punkten oder Klemmen infolge einer fehlerhaften Verbindungsstelle unterbrochen ist, muß dieser Fehler festgestellt werden. Eine andere Fehlerart, die festgestellt werden muß, ist eine Verbindung zwischen Punkten, die nicht verbunden sein dürfen.As electronic and electrical equipment, in computers, automatic telephone exchanges and other automatic control devices used have to become more and more complicated a large number of electrical connections must be made to set them up, and these must then be checked individually for their functionality. For example, if a connection between two points or terminals as a result of a faulty connection point is interrupted, this error must be detected. Another type of error to be detected is a connection between points that must not be connected.

Aus der DEOS 16 16 386 ist ein elektrisches Prüfgerät bekannt, mit dessen Hilfe Fehler eines Prüflings festgestellt werden können, die in Form von unerwünschten Kurzschlüssen oder Unterbrechungen zwischen auswählbaren Kontaktpunkten oder Anschlußklemmen am Prüfling in Erscheinung treten. Dieses bekannte Prüfgerät enthält Register, die in Adressierschaltungen benutzt werden und dazu dienen, die Adressen der Prüfpunkte zeitweilig zu speichern, damit beim Feststellen eines Fehlers der gerade adressierte Prüfpunkt genau identifiziert werden kann. Das bekannte Prüfgerät ist jedoch ni^rht dafür ausgelegt, einen Prüfvorgang jeweils automatisch in Abhängigkeit von der gerade zu prüfenden Anlage durchzuführen.From DEOS 16 16 386 an electrical test device is known, with the help of which errors in a test object can be detected, which appear in the form of undesired short circuits or interruptions between selectable contact points or terminals on the test object. This known test device contains registers which are used in addressing circuits and are used to temporarily store the addresses of the test points so that the test point being addressed can be precisely identified when an error is detected. The known test device is, however, ni ^r ht adapted to automatically perform a test procedure in each case depending on the just installation to be tested.

Der Frfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Prüfgerät der eingangs geschilderten Art so auszuge-The invention is based on the task of designing a test device of the type described above so

stalten, daß es äußerst flexibel eine schnelle und zuverlässige Fehlerprüfung an Prüflingen durchführen kann. Die^c.s Aufgabe wird mit den im Kennzeichen des Patentanspruchs 1 angegebenen Merkmalen gelöst. Beim erfindungsgeniäßen Prüfgerät dient die Datenspeichereinrichtung der Speicherung eines vorbestimmten Programms, das praktisch von vornherein angibt, welche Signale an den einzelnen Prüfpunkten auftreten müssen, wenn kein Fehler vorhanden ist. Das Programm ist also in Abhängigkeit von der zu prüfenden Anlage vorbestimmt. Dieser Aufbau des Prüfgeräts ermöglicht nicht nur eine sehr schnelle Durchführung der Prüfarbeit, sondern er gestattet auch eine äußerst große Flexibilität hinsichtlich der Art der zu prüfenden Anlage. Es können einfach für verschiedene Anlagen verschiedene Programme auf Vorrat bereit gehalten werden, soensure that it can carry out a fast and reliable error test on test objects in an extremely flexible manner. The ^c .s object is achieved with the features specified in the characterizing part of claim 1. In the test device according to the invention, the data storage device serves to store a predetermined program which practically indicates from the outset which signals must occur at the individual test points if there is no error. The program is therefore predetermined depending on the system to be tested. This construction of the test device not only enables the test work to be carried out very quickly, but also allows extremely great flexibility with regard to the type of system to be tested. Different programs can simply be kept in stock for different systems, see above

daß als einzige Änderung bei einer Änderung der zu prüfenden Anlage ein neues Programm in der Datenspeichereinrichtung verwendet werden muß.that the only change in the event of a change in the system to be tested is a new program in the Data storage device must be used.

Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung sind in den Unteransprüchen gekennzeichnet.Advantageous further developments of the invention are characterized in the subclaims.

Ein Ausführungsbeispiel der Erfindung ist in der Zeichnung dargestellt, deren einzige Figur das Blockschaltbild eines Prüfgeräts nach der E'findung zeigt.An embodiment of the invention is shown in the drawing, the only figure of which is the block diagram a test device according to the invention shows.

Die Zeichnung zeigt eine zu prüfende Anlage I₁ die über ein vieladriges Kabel 3 mit einer adressierbaren KurzschluBvorrichtung 2 verbunden ist. Ein Kurzschluß bzw. eine Masseverbindung zu einem Punkt oder einer Klemme der zu prüfenden Anlage 1 wird von der adressierbaren Kurzschlußvorrichtung 2 aufgrund von Signalen hergestellt, die der Vorrichtung 2 zugeführt werden und von Daten abgeleitet werden, die in einem zuvor aufgezeichneten Programm einer Datenspeichereinrichtung 4 enthalten sind, die als Speicherorgan eine Bandkassette enthalten kann. Die einzelnen Schalter der Kurzschlußvorrichtung 2, welche die Kurzschlüsse herstellen, sind durch Halbleiter-Schaltglieder gebildet, die aus den bipolaren Transistorelementen einer integrierten TTL-Logikschaltung bestehen.The drawing shows a system I ₁ to be tested which is connected to an addressable short-circuit device 2 via a multi-core cable 3. A short circuit or a ground connection to a point or a terminal of the system 1 to be tested is established by the addressable short circuit device 2 on the basis of signals which are fed to the device 2 and are derived from data contained in a previously recorded program of a data storage device 4 which can contain a tape cassette as a storage device. The individual switches of the short circuit device 2, which produce the short circuits, are formed by semiconductor switching elements which consist of the bipolar transistor elements of an integrated TTL logic circuit.

Nachdem in der adressierbaren Kurzschlußvorrichtung 2 ein vorbestimmter Punkt oder eine vorbestimmte Klemme der zu prüfenden Anlage mit Masse verbunden worden ist, werden alle anderen Klemmen oder ausgewählte Klemmen der zu prüfenden Anlage von einer elektrischen Abtastschaltung 5 abgetastet, die einen binär codierten Dezimalzähler mit ΤΤΓ.•Logikschaltungen enthält, damit das Vorhandensein eines Kurzschlusses zwischen der an Masse gelegten adressierten Klemme und irgendeiner anderen Klemme überprüft wird. Die elektronische Abtastschaltung 5 arbeitet unter der Steuerung durch Signale aus einer Taktimpulsgeneratoranordnung Ii, die einen Impulsgenerator 11a enthält, der einen vierstufigen dekadischen Zähler 11 b speist. Obgleich bei der hier beschriebenen Ausführungsform die Abtastschaltung 5 einen binär codierten Dezimalzähler enthält, kann auch in manchen Anwendungsfällen ein umlaufender Ringzähler für die Zwecke der Abtastung verwendet werden.After a predetermined point or a predetermined terminal of the system to be tested has been connected to ground in the addressable short-circuit device 2, all other terminals or selected terminals of the system to be tested are scanned by an electrical scanning circuit 5, which has a binary coded decimal counter with ΤΤΓ. Contains logic circuitry to check for the presence of a short circuit between the grounded addressed terminal and any other terminal. The electronic circuit 5 operates under control by signals from a clock pulse generator arrangement II, which contains a pulse generator 11a which feeds a four-stage decimal counter 11 b. Although in the embodiment described here the sampling circuit 5 contains a binary-coded decimal counter, a rotating ring counter can also be used for the purposes of sampling in some applications.

Die Ausgangssignale der Taktimpulsgeneratoranordnung 11 werden über eine Leitung 7 einer Koinzidenzschaltung 6 zugeführt, die an ihrem anderen Eingang über eine Direktverbindung 8 voraufgezeichnete Signale empfängt, die in dem in der Datenspeichereinrichiung 4 enthaltenen ?rogramm erzeugt werden, und die ein Ausgangssignal erzeugt, wenn die programmierte Adresse mit der von der Taktimpulsgeneratoranordnung 11 angegebenen Adresse übereinstimmt; die Koinzidenzschaltung 6 kann daher herkömmliche Koinzidenzgatter enthalten. Die Ausgangssignale werden von der Koinzidenzschaltung 6 also jedesmal dann abgegeben, wenn ein vom Programm bezeichneter Punkt unter der Steuerung der Taktimpulsgeneratoran-The output signals of the clock pulse generator arrangement 11 are via a line 7 of a coincidence circuit 6, the signals prerecorded at their other input via a direct connection 8 receives that in the in the data storage device 4 can be generated, and which generates an output signal when the programmed Address matches the address specified by the clock pulse generator arrangement 11; the Coincidence circuit 6 can therefore contain conventional coincidence gates. The output signals are from the coincidence circuit 6 so each time issued when a point designated by the program is under the control of the clock pulse generator

s Ordnung abgetastet wird. s order is scanned.

Die Ausgangssignale der Koinzidenzschaltung 6 werden über eine Leitung 10 einer Vergleichseinrichtung 9 zugeführt, die einfach Gatterschaltungen enthält und an ihrer anderen Eingangsklemme Signale aus derThe output signals of the coincidence circuit 6 are transmitted via a line 10 to a comparison device 9, which simply contains gate circuits and at its other input terminal signals from the

ίο Abtastschaltung 5 empfängt. Wenn ein von der Koinzidenzschaltung 6 abgegebenes Signal gleichzeitig mit einem Ausgangssignal der elektronischen Abtastschaltung 5 an die Vergleichseinrichtung 9 angelegt wird, wird von dieser an der Leitung 12 einίο sampling circuit 5 receives. If one of the Coincidence circuit 6 output signal simultaneously with an output signal of the electronic sampling circuit 5 is applied to the comparison device 9, this is on the line 12

is Ausgangssignal erzeugt, das die Weiterschaltung der Taktimpulsgeneratcranordnung 11 verhindert und ein Anzeigegerät 13 sowie ein von einem Schnelldrucker gebildetes Aufzeichnungsgerät 14 betätigt, damit der Fehler angezeigt und aufgezeichnet wird. Somit kann entsprechend einem in der Bandkassette der Datenspeichereinrichtung 4 enthaltenen vor-u^stimmten Programm jede Klemme einer zu präfenden Anlage der Reihe nach mit Masse verbunden und jede andere Klemme abgetastet werden, damit das Vorhanden-sinis output signal that enables the Clock pulse generator 11 prevents and a display device 13 and one from a high-speed printer formed recording device 14 is operated so that the error is displayed and recorded. Thus can corresponding to one in the tape cartridge of the data storage device 4 contained pre-u ^ agreed each terminal of a system to be pre-tested Connected to ground one after the other and every other terminal scanned so that the presence-sin

Ji von unerwünschten Verbindungen zwischen den Klemmen festgestellt wird. Natürlich werden das Anzeigegerät 13 und das Aufzeichnungsgerät 14 ebenfalls unter Steuerung durch die Taktimpulsgeneratoranordnung betrieben, wie es bei synchronen Sys;emen üblich ist,Ji of unwanted connections between the terminals is detected. Of course, the display device 13 and the recording device 14 are also under Control operated by the clock pulse generator arrangement, as is common with synchronous systems,

U) jedoch sind die entsprechenden Verbindungen in der Zeichnung nicht gezeigt.U) however, the corresponding connections are in the Drawing not shown.

Es ist offensichtlich, daß das beschriebene Gerät sich insbesondere für die Verdrahtung von Schalttafeln und gedruckten Schaltungsplatten eignet. Durch die Anwen-It is obvious that the device described is particularly useful for wiring switchboards and printed circuit boards. Through the application

!■-, Hung der elektronischen Abtastung in der zuvor beschriebenen Weise wird eine schnelle Prüfung erleichtert, und es kann die elektrische Verbindung zwischen einem bestimmten Punkt und einem weiteren Punkt geprüft werden; ebenso kann die Beziehung eines! ■ - Hung the electronic scanning in the manner previously described becomes a quick test facilitated, and it can be the electrical connection between a certain point and another Point to be checked; likewise the relationship can be one

sei bestimmten Punktes mit einer größeren Anzahl von anderen Punkten im Hinblick auf elektrische Verbindungen überprüft werden, so daß sowohl fehlerhafte Querverbindungen als auch Unterbrechungen festgestellt werden können.be a certain point with a larger number of other points are checked with regard to electrical connections, so that both faulty Cross connections as well as interruptions can be determined.

Hierzu 1 Blatt Zeichnungen1 sheet of drawings

Claims (4)

Patentansprüche:Patent claims: 1. Elektrisches Prüfgerät mit einer mit Schaltgliedem ausgestatteten Schaltungsanordnung zum Abtasten einer Anzahl von Punkten oder Klemmen in einer zu prüfenden elektrischen Anlage in bezug auf einen anderen Punkt oder eine andere Klemme der Anlage zum Feststelltn des Vorhandenseins oder des Fehlens von elektrisch leitenden Verbindungen ι ο zwischen den einen Punkten oder Klemmen und dem anderen Punkt bzw. der anderen Klemme, dadurch gekennzeichnet, daß eine Datenspeichereinrichtung (4) vorgesehen ist, in der ein vnrbestimmtes Programm gespeichert ist, daß eine ιϊ Vergleichseinrichtung (9) vorgesehen ist, die Signale, die einem vorbestimmten Punkt bzw. einer vorbestimmten Klemme der zu prüfenden Anlage (1) zugeordnet und entsprechend dem gespeicherten Programm -abgeleitet sind, mit Signalen vergleicht, die dem anderen Punkt bzw. der anderen Klemme angehören und während eines Abtastvorgangs so erzeugt werden, daß ein Verbindungsfehler zwischen dem einen Punkt bzw. der einen Klemme und dem anderen Punkt bzw. der anderen Klemme in 2ί Abhängigkeit von der Feststellung des Vorhandenseins oder des Fehlens einer leitenden Verbindung dazwischen angezeigt wird, und daß die zum Abtasten verwendeten Schaltglieder Halbleiterschalter sind, i'l1. Electrical test device with one with switching elements equipped circuit arrangement for scanning a number of points or terminals in an electrical system under test with respect to another point or another terminal of the Facility for determining the presence or the lack of electrically conductive connections ι ο between the one points or terminals and the other point or the other terminal, characterized in that a data storage device (4) is provided, in which a predetermined program is stored that a ιϊ Comparison device (9) is provided, the signals at a predetermined point or a predetermined Terminal assigned to the system to be tested (1) and corresponding to the one saved Program-derived, compares with signals sent to the other point or the other terminal belong and are generated during a scanning process so that a connection error between one point or one terminal and the other point or the other terminal in 2ί Depending on the determination of the presence or absence of a conductive connection is displayed in between, and that the switching elements used for scanning are semiconductor switches are, i'l 2. Gerät na< -\ Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß Signale, die von der Vergleichseinrichtung (9) abgeleitet werden und einem Punkt bzw. einer Klemme zugeordnet sind, für den bzw. die ein Verbindungsfehler angezeigt wira, einem Aufzeich- η nungsgerät (14) zugeführt werden.2. Device na < - \ claim 1, characterized in that signals which are derived from the comparison device (9) and are assigned to a point or a terminal for which a connection error is displayed wira, a recording device (14) are supplied. 3. Gerät nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet durch eine Kurzschlußvorrichtung (2) zum Anlegen eines vorbestimmten elektrischen Potentials an eine von mehreren Klemmen der zu prüfenden Anlage (1), wobei die Datenspeichereinrichtung (4) ein Programm enthält, nach dem die Klemmtn der Reihe nach auf die Abtastschaltung (5) umgeschaltet werden, damit die Klemmen der zu prüfenden Anlage (1) der Reihe nach in bezug auf die Klemme umgeschaltet werden, an die gerade das vorbestimmte Potential angelegt ist, und damit ein Ausgangssignal geliefert wird, das eine fehlerhafte oder unerwünschte elektrische Verbindung zwischen diesen Klemmen anzeigt, eine Taktimpulsgeneratoranordnung (11) für den synchronen Betrieb der Abtastschaltung (5), eine Koinzidenzschaltung (6), welche vom Programm abgeleitete Signale mit Signalen vergleicht, die von einer Zähleinrichtung (Hb) erzeugt werden, und die beim Auftreten einer Übereinstimmung ein Ausgangssignal liefert, das eine bestimmte Klemme identifiziert, und durch eine Fehleranzeigeeinrichtung (13), die auf das Ausgangssignal der Vergleichseinrirhtung (9) anspricht und die Feststellung eines Fehlers anzeigt, wobei das Ausgangssignal der Vergleichseinrichtung (9) auch zur Sperrung des weiteren Betriebs des Taktimpulsgenerators (11) verwendet wird.3. Apparatus according to claim 1 or 2, characterized by a short-circuit device (2) for applying a predetermined electrical potential to one of several terminals of the system to be tested (1), wherein the data storage device (4) contains a program according to which the Klemmtn To be switched over to the scanning circuit (5) in sequence, so that the terminals of the system to be tested (1) are switched over in sequence with respect to the terminal to which the predetermined potential is currently applied, and so that an output signal is provided which is a indicates faulty or undesired electrical connection between these terminals, a clock pulse generator arrangement (11) for the synchronous operation of the sampling circuit (5), a coincidence circuit (6) which compares signals derived from the program with signals generated by a counter (Hb), and which upon occurrence of a match provides an output identifying a particular terminal, and by an error display device (13) which responds to the output signal of the comparison device (9) and indicates the detection of an error, the output signal of the comparison device (9) also being used to block further operation of the clock pulse generator (11). 4. Gerät nach Anspruch 3, dadurch gekennzeichnet, daß die Abtastschaltung (5) einen binär codierten Dezimalzähler mit TTL-Logikschaltungen enthält, und daß die Kurzschlußvorrichtung (2) die bipolaren Transistorelemente von integrierten TTL-Logikschaltungcn enthält.4. Apparatus according to claim 3, characterized in that the sampling circuit (5) has a binary contains encoded decimal counter with TTL logic circuits, and that the short-circuit device (2) the contains bipolar transistor elements of integrated TTL logic circuit cn.