DE2156827A1 - Verfahren und Vorrichtung zur Transparenzmessung eines Prüflings durch Bestimmung des Kontrastfaktors - Google Patents

Description

Dipl.-!ng. Dip!, oec. publ. DIETRICH LEWINSKY IB. Nov. 1971 /

PATENTANWALT
8 Müncfce». 21 - Gotthordstr. 81

Telefon 561762

6835 - V

Societe Nationale des Petroles d'Aquitaine, Tour Aquitaine Courbevoie (Frankreich)

„Verfahren und Vorrichtung zur Transparenzmessung eines Prüflings durch Bestimmung des Kontrastfaktors"

Priorität vom 16. November 1971 aus der französischen Patentanmeldung Nr. 70/4-1 020

Die Erfindung betrifft ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Transparenzmessung verschiedener Werkstoffe; diese bezieht sich insbesondere auf die Messung der Transparenz von Filmen, Schichten oder ähnlichen Stoffen aus Plastik und insbesondere aus Polyäthylen und zwar durch Bestimmung des Kontrastfaktors

Die bisher zur Prüfung dieser Transparenz eingesetzten Verfahren beschränken sich darauf, durch den zu prüfenden Film Raster zu beobachten, die aus einer Vielzahl von schwarzen Strichen gebildet werden, die sich auf einem hellen Grund befinden. Diese Raster sind durch Zahlen bezeichnet und unterscheiden sich voneinander durch die Entfernung der Striche, die in der Größenordnung eines Millimeters liegt. Der Film wird mit der Nummer des letzten Rasters bezeichnet, bei dem das Auge des Prüfers noch die einzelnen Striche unterscheiden kann.

Die bekannten optischen Verfahren beruhen darüber hinaus auf der Feststellung, daß ein optisches Objekt durch die

209822/0656

ORIQtNAU INSPECTED

Gesamtheit einer unbegrenzten Zahl von sinusförmigen Lichtaufteilungen in der Objektebene dargestellt werden kann. Diese ÜberIe-

. gung führt zu Komponenten, die unterschiedliche Raumfrequenzen (Anzahl der Striche pro mm) und demnach für j ede einen Übertragungsfaktor aufweisen, der von dieser Raumfrequenz abhängt.

In der Praxis basieren diese auf die Messung des Mo-! dulations-Übertragungsfaktors aufgebauten Verfahren auf der Feststellung, daß das Übertragungsspektrum der Raumfrequenzen für die j Transparenz des gemessenen Systems charakteristisch ist.

Einfacher ausgedrückt besagt diese Feststellung, ein hoch transparentes Objekt ohne Dämpfung alle Raumfrequenzen überträgt, die in einem Lichtbündel enthalten sind, während ein nur bedingt transparentes Objekt die in einem Lichtbündel enthaltenen Raumfrequenzen außergewöhnlich stark dämpft.

Das erfindungsgemäße Verfahren sowie die zugehörige erfindungsgemäße Vorrichtung bestehen in Verbesserungen bekannter Verfahren und Vorrichtungen zur Kontrolle optischer Systeme. Diese ermöglichen die Bestimmung der Transparenz von Filmen bzw. Beschiel tungen, innerhalb derer die Anisotropie im Gegensatz zu bisher bekannten Verfahren und Vorrichtungen eines der Hauptmerkmale darstellt. Darüber hinaus kann mit deren Hilfe eine statistische Bestimmung dieser Transparenz vorgenommen werden. ;

In der Zielsetzung der Erfindung liegt demnach die ί Schaffung eines Verfahrens zur Messung der Transparenz eines Prüf H lings durch Bestimmung des Kontrastfaktors, dadurch gekennzeichneii daß der Prüfling durch ein von einem Kollimator ausgehendes, paralleles Lichtbündel angestrahlt wird, wonach das vom Prüfling übertragene Lichtbündel auf einem koaxial zum Kollimator angeordneten optischen System empfangen wird, wobei sich das Bild des Schlitzes¹ des Kollimators auf einem sinusförmigen Raster abzeichnet, der sich gegenüber dem Kollimator bewegt, wonach der vom Raster übertrage- . ne Lichtfluß gemessen und hierbei der Kontrastfaktor aus den über-i tragenen minimalen und maximalen Lichtflußwerten ermittelt wird.

209822/0656

Der Kontrastfaktor wird durch die folgende Beziehung ausgedrückt:

C% = x 100

M + m

Innerhalb dieser Beziehung drücken ¹M' und 'm' jeweils den übertragenen Maximal- und Minimal-Lichtfluß aus, wobei der Kontrastfaktor von der Transparenz des Prüflings abhängt.

Gemäß einer Ausfuhrungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens bewegt sich der Prüfling um eine Achse, die parallel , zur vorgenannten optischen Achse verläuft und führt darüber hinaus eine Translationsbewegung senkrecht zu dieser Achse aus.

Innerhalb einer weiteren Ausführungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens wird der Prüfling in eine Flüssigkeit eingetaucht , die zur Vermeidung von Oberflächeneffekten den gleichen Brechungsindex wie dieser Prüfling aufweist.

Bei einer Anwendungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens verläuft die Symmetrieachse der Sinuslinien des Rasters senkrecht zur genannten optischen Achse.

Hierzu ist Voraussetzung, daß das Raster eine genau sinusförmige Übertragung ermöglicht.

; Nach einer anderen Anwendungsform des erfindungsge-

; mäßen Verfahrens wird ein Raster verwendet, das mehrere Raumfrequenzen besitzt, die sich entweder fortschreitend oder in unterbrochener Folge ändern, woraus sich die Möglichkeit ergibt, ein ■ Meßprogramm aufzustellen.

¹ Bei einer weiteren Anwendungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens wird der vom Raster übertragene Lichtfluß von einem Photoempfangselement aufgenommen, dessen. Ausgangssignal verstärct 'und während der Dauer der Prüfung fortlaufend aufgenommen bzw. reigistriert wird.

Bei einer anderen Anwendungsform des erfindungsgemäßen Verfahrens wird der Wert des Kontrastfaktors fortlaufend aus dem Ausgangssignal des Photoempfangselements über einen Analogrech ner ermittelt, wobei dieser Wert während der Dauer der Prüfung

209822/0656

fortlaufend angezeigt und/oder ausgedruckt wird.

Der Umfang der Erfindung erfaßt darüber hinaus samt-, liehe Vorrichtungsteile, die zur Durchführung des erfindungsgemässen Verfahrens erforderlich sind.

Somit bezieht sich diese insbesondere auf eine Vorrichtung zur Messung der Transparenz eines Prüflings unter Verwendung eines Kollimators. Eine Haltevorrichtung für den Prüfling, die sich zwischen dem Kollimator und einem optischen System befindet, das mit dem Kollimator auf der gleichen optischen Achse liegt, gehört ebenso zu dieser Vorrichtung wie ein Raster zur sinusförmigen Übertragung, auf dem das Bild des Kollimatorschlitzes nach Durchlauf des optischen Systems abgebildet wird; dieser Raster führt gegenüber dem Kollimator eine Relativbewegung aus. Zu dieser Vorrichtung gehört ferner ein Photoempfangselement zur Messung des vom Raster übertragenen Lichtflusses. Über eine Verarbeitungseinheit für die vom Photoempfangselement gelieferten Signale kann der Kontrastfaktor ermittelt werden.

Gemäß einer Ausführungsform der erfindungsgemäßen

Vorrichtung umfaßt die Haltevorrichtung für den Prüfling insbeson- J dere eine Auflage, die um eine Achse gedreht werden kann, die parallel zur optischen Achse verläuft, wobei die Bewegung durch eine Antriebsvorrichtung und einen Getriebemotor erzeugt wird.

Nach einer anderen Ausführungsform der erfindungsge- I mäßen Vorrichtung handelt es sich bei der Auflage innerhalb der i Haltevorrichtung des Prüflings um eine dichte Ausführung, die eine ; Flüssigkeit einschließt, die den gleichen Brechungsindex wie das zu prüfende Teil aufweist.

Innerhalb einer Anwendungsform der erfindungsgemäßen !Vorrichtung handelt es sich bei dem Photoempfangselement um einen Photovervielfacher, dem ein Aufzeichnungsgerät zugeordnet ist.

Bei einer weiteren Anwendungsform der erfindungsgemäs- ^;sen Vorrichtung handelt es sich bei dem Photoempfangselement um eine Photodiode, wobei die Verarbeitungseinheit für die von der Photodiode gelieferten Signale mit einem Verstärker ausgerüstet ist,

209822/0656

der wiederum einem Analog-Rechner zugeordnet ist, der den Kontrast faktor ermittelt, dessen Wert einem Anzeigesystem und/oder einem Drucker übertragen wird.

In der Zielsetzung der Erfindung liegt darüber hinau die Schaffung einer Vorrichtung zur Bestimmung einer Funktion des

Typs (M-m)/(M+m) , innerhalb der 'M' und 'ία' jeweils die aufeinan- ^; derfolgenden Maximal- und Minimal-Werte einer Funktion ausdrücken, dadurch gekennzeichnet, daß diese eine Speichervorrichtung mit ei-j nem Differenzverstärker umfaßt, der eine Kapazität über eine Dio- j de lädt, die von einem Differenzverstärker hoher Impedanz überwacht wird, der seinerseits die auf dem ersten Verstärker empfange ne Information überträgt.

Entsprechend einer Aufbauform der erfindungsgemäß aufgebauten Vorrichtung umfaßt die Speichereinrichtung ein Synchro nisationssystem, das in der Lage ist, die gespeicherte Spannung auf Null zurückzuführen.

Darüber hinaus wird von der erfindungsgemäßen Vorrichtung verlangt, daß diese eine Funktion des Typs (M-m)/(M+m) bestimmt, in der 'M' und 'm' jeweils die aufeinanderfolgenden Maximal- und Minimal-Werte einer Funktion bezeichnen, wobei ein Analogrechner vorgesehen ist, der mit einer ersten Speichereinrichtung zusammenarbeitet, die das Signal empfängt, das von dem dem Rechner zugeordneten Verstärker ausgeht, wobei ein Signal geliefert wird, das den Maximalwert 'M' des vom Verstärker gelieferten Signals ausdrückt. Hierzu gehört ferner eine zweite Speichereinrichtung , die die Signale der ersten Speichereinrichtung und die des Verstärkers empfängt, der dem Rechner zugeordnet ist, wobei ein Signal geliefert wird, das die Differenz (M-m) zwischen dem Maximal- und dem Minimal-Wert des vom Verstärker gelieferten Signals ausdrückt, wobei ein Verstärker das von der ersten Speichereinrichtung abgegebene Signal verdoppelt. Ferner vorgesehen ist ein Differenzverstärker, der die Signale empfängt, die jeweils vom Verstärker mit dem Verstärkungsfaktor 2 und der zweiten Spei-

209822/0656

chereinrichtung abgegeben werden und ein Signal erarbeitet, daß deren Differenz entspricht. Ein Analog-Teiler liefert ein Ausgangssignal gleich dem Quotienten des von der zweiten Speichereinrich- ^! tung abgegebenen Signals unter Berücksichtigung des vom Differenz-! Verstärker abgegebenen Signals, wobei das vom Teiler abgegebene Signal das Verhältnis (M-m)/(M+m) ausdrückt.

Das erfindungsgemäße Verfahren sowie die zugehörige Vorrichtung eignen sich insbesondere zur Bestimmung der Transparenz von Werkstoffen in Form von Schichten, Folien bzw. Plättchen ■. wie z.B. Glas, Kunststoffe oder Flüssigkeiten.

ψ I

Weitere Ziele und Besonderheiten werden in der nun folgenden, detaillierten Beschreibung im Zusammenhang mit den Zeichnungen deutlich, die mehrere, erfindungsgemäße Ausführungsformen darstellen. Es zeigen:

Figur 1 - eine erfindungsgemäß aufgebaute Vorrichtung zur Messung der Transparenz;

Fig. 2 und 3 - Ergebnisse von Aufzeichnungen jeweils ohne und mit Zwischenlage einer Polyäthylenfolie;

Figur M- - den Einfluß der Lage des Prüflings auf den Kontrastfaktor %;

^ Figur 5 - ein Prinzipschema der Verarbeitungseinheit für die

vom Photoempfangselement gelieferten Signale zur fortlaufenden Ermittlung des Kontrastfaktors und

Figur 6 - ein Prinzipschema einer erfindungsgemäßen Speichereinrichtung .

In der Darstellung der Figur 1 ist eine Lichtquelle ; gezeigt, die durch die Wendel 1 symbolisiert wird. Die Linsen 2

und 3 zeichnen das Bild der Wendel af einem senkrecht stehenden . Schlitz 4, der sich im Brennpunkt einer Linse 5 befindet, die ein parallel ausstrahlendes Licht liefert. Die aus Lichtquelle 1, den Linsen 2, 3 und 5 sowie dem Schlitz <+ gebildete Einheit stellt den Kollimator 6 dar.

209822/0656

1156827

_ *7 ■■·

Eine aus der Auflage 8 und der eigentlichen Halterung 9 bestehende Haltevorrichtung 7 für den Prüfling ist zwischen dem Kollimator 6 und einem optischen System 10 angeordnet, das mit einer Linse 11 ausgerüstet ist,die von dem Schlitz 4 ein Abbild 4' im Brennpunkt zeichnet, wobei ein Objektiv 12 vorgesehen ist, das auf einem Raster 13 ein Bild 4' zeichnet. Darüber hinaus ist eine Einstellvorrichtung 14 für das Objektiv vorgesehen.

Das Raster 13 ist horizontal angeordnet und wird mit Hilfe eines Antriebs motors 15 in eine horizontale Bewegung gebrach j:

Ein Photoempfangselement 16 mißt den das Raster 13

durchlaufenden Lichtfluß und liefert ein Signal an die Einheit 17, die dieses Signal verarbeitet und eine Ermittlung des Kontrastfaktors ermöglicht. Die eigentliche Prüfling-Halterung 9 ist mit einer Auflage versehen, in der der Prüfling 18 über geeignete Vorrich tungen in fester Stellung gehalten wird. Diese Auflage kann um ihre Achse bewegt werden und ruht auf Rollenlagern. Ein mit einem Motor 19 ausgerüstetes Antriebssystem bringt diese Auflage in eine Rotationsbewegung.

Die Funktionsweise der so beschriebenen Vorrichtung läßt sich wiefolgt schildern: Das vom Kollimator 6 ausgehende Lichtbündel durchläuft den Prüfling 18, wobei das Bild des Schlitzes 4 des Kollimators auf dem Raster 13 erscheint, das einen Teil des Lichtes zum Photoempfangselement 16 weiterleitet.

Ist kein Objekt vorhanden, das die Raumfrequenz des Rasters aufnimmt, so liefert das Photoempfangselement ein elektrisches Signal, das die Sinuslinie wiedergibt, wenn das Raster entlang einer Horizontalachse in einer Ebene senkrecht zur optischen Achse bewegt wird.

Wird demgegenüber ein Objekt (Polyäthylenfilm) eingefügt, das die Frequenz des Rasters aufnimmt, so erscheint die vom Photoempfangselement gelieferte Sinuslinie abgeflacht. Die Verringerung der Amplitude ermöglicht somit eine Berechnung des Dämpfungsfaktors.

209822/0656

2155827

Das verwendete Raster besteht beispielsweise aus einer Anordnung von vier nebeneinanderliegenden Rastern mit den wachsenden Raumfrequenzen 0,1 ; 0,4 ; 0,6 und 0,8 mm . Die Herstellung von Rastern höherer Frequenzen führt zu großen Schwierigkeiten; diese Frequenzen ergaben sich dadurch, daß ein Bild M^! gezeichnet wurde, das durch das Objektiv 12 lOmal verkleinert wurde und zwar in der Bildebene 4^T des Eingangsschlitzes 4, der ebenfalLs durch die Linsen 5 und 11 3mal verkleinert wurde. Der Prüfling befindet sich innerhalb des Lichtbündels parallel zwischen 5 und 11. Die Nutzfläche wird durch einen Kreis eines Radius von 1,5 cm gebildet, die sich mit einer Geschwindigkeit von 50 Umdrehungen pro Sekunde um ihre eigene Achse drehen kann. Das mit einer Periode von einer Sekunde arbeitende Aufzeichnungssystem verhält sich als Integrierglied.

Figur 2 zeigt einen Aufzeichnungsvorgang ohne Filmzwischenlage. Unabhängig von der Frequenz liegt hier der Kontrastfaktor nahe bei 1, da M nahe 100% und m nahe 0 % ist. Wird ein nur leicht transparenter Film zwischengeschoben, so ergibt sich die in Figur 3 dargestellte Aufzeichnung. Bei zunehmender Frequenz nimmt das Maximum M ab (85, 60, 55, 52%), gleichzeitig nimmt das Minimum zu (15, 40, 45, 48%), so daß der Kontrast von 60 auf 4% abs inkt.

Die Prüflingeindustriell gefertigter Filme zeigen

Streifenerscheinungen und verhalten sich, wie aus dem Beispiel der Figur 4 ersichtlich,stark anisotrop. Verlaufen diese Streifen senkrecht zum Schlitz, so ist deren Abbild auf dem Raster schmal und es ergibt sich unabhängig von der Frequenz (95 - 50%) ein guter Kontrast. Verlaufen demgegenüber die Streifen parallel zum Schlitz, so erscheint deren Abbild diffus und der Kontrast sinkt hierbei schnell auf 10% ab. Die mittlere Kurve bezieht sich auf einen in Drehbewegung versetzten Prüfling, wobei diese die Effekte der Anisotropie aufnimmt und zur Kennzeichnung industrieller Produkte verwendet wird. ,,., „.._r , , .. _Ί . _. _r. j.nij.

Mit Hilfe der schematisch in Figur 5 dargestellten

Verarbeitungseinheit kann der Kontrastfaktor fortlaufend aus den

209822/0656

vom Photoempfangselement gelieferten Signalen ermittelt werden.

Diese Einheit besteht aus einem Verstärker 20; ein ; diesem Verstärker zugeordneter Analog-Rechner 21 umfaßt eine erste₍ Speichereinrichtung 22, die das vom Verstärker 20 abgegebene Sig- , nal empfängt und ein Signal liefert, das das Maximum des von 20 ab+ gegebenen Signals darstellt; eine zweite Speichereinrichtung 23 empfängt die von 20 und 22 abgegebenen Signale und liefert ein | Signal, das die Differenz zwischen dem Maximum und dem Minimum des j von 20 gelieferten Signals ausdrückt; ein Verstärker 24 verdoppelt das von 22 gelieferte Signal und ein Differenzverstärker 2 5 lieferi: ein Signal, das der Differenz der von 24 und 23 abgegebenen Signa-; Ie entspricht; ein Analog-Teiler teilt das von 2 3 abgegebene Signal, durch das von 26 abgegebene Signal und ein Anzeigesystem und/oder ein Drucker empfängt vom Rechner das vom Analog-Teiler gelieferte Signal, das dem Kontrastfaktor entspricht.

Figur 6 zeigt ein Prinzipschema einer Speichereinrichtung, innerhalb derer ein Differenzverstärker A^, der ein Eingangs -Maximumsignal ( + ) empfängt, dieses Signal über eine Diode D^. einer Kapazität C. zuführt. Diese lädt sich bis auf einen Maximal-

-L ι

wert M, der vom nachgeschalteten Verstärker mit hoher Eingangsim- ; pedanz A aufgenommen wird. Letzterer arbeitet mit einem Verstär- : kungsfaktor 1 und liefert seine Information an den Eingang des Dif-f ferenzverstärkers A... Sobald das Maximum erreicht wird, ermöglicht ein Schalter I^ eine „Entleerung" des Speichers und einen Anlauf des neuen Meßzyklus.

Es gilt als selbstverständlich, daß es sich bei den Speichereinrichtungen 2 2 und 2 3 der Figur 4 um die gleichen Vorrichtungen handeln kann, die auch in Figur 6 dargestellt sind.

Diese Einheit arbeitet folgendermaßen:

Das vom Photoempfangselement 16 gelieferte Signal, das sich proportional zum empfangenen Lichtfluß dieses letzteren verhält, wird im Verstärker 24 verstärkt, dessen Ausgangssignal dem Rechner 21 über jede der Einrichtungen 22 und 23 zugeführt wird.

- 10 -

209822/0656

Die Speichereinrichtung 22 liefert ein Signal, das dem Maximalwert M des von 20 empfangenen Signals entspricht, einerseits zum Verstärker 2M- mit einem Verstärkungsfaktor 2 und andererseits zur ' Speichereinrichtung 23. Letztere liefert ein Signal, das der Differenz zwischen dem von 22 gelieferten und dem Minimum m des von 20 abgegebenen Signal entspricht. Der Differenzverstärker 25 empfängt das von 24 abgegebene Signal einer Amplitude von 2 M sowie das von 23 abgegebene Signal der Amplitude (M-m) und liefert ein der Differenz dieser Signale entsprechendes, d.h. das Summensignal (M+m).

Die von 23 und 25 gelieferten Signale werden dem

W Analog-Teiler 26 zugeführt, der ein Ausgangssignal erarbeitet, das dem Verhältnis (M-m) : M+m) entspricht, d.h. den Kontrastfaktor ausdrückt. Das vom Analog-Teiler abgegebene Signal wird einem Anzeigesystem 27 und/oder einem Drucker übertragen.

Auf diese Weise liegt zu jedem Zeitpunkt der Prüfung der Wert des Kontrastfaktors vor.

Es gilt als selbstverständlich, daß sich der Umfang der Erfindung nicht nur auf die beschriebenen und dargestellten Ausführungsformen beschränkt, sondern zahlreiche, hieraus mögliche; Varianten gemäß den vorgesehenen Anwendungen gleichermaßen einschließt.

^ Insbesondere ermöglicht das erfindungsgemäße Verfah-|

ren auch die Bestimmung der Transmittanz T bzw. die Transparenz ■ des Prüflings bei einer Frequenz von Null, die durch die in Prozent ausgedrückte Beziehung des durchschnittlichen Flusses definiert wird, der durch das Raster bei Vorliegen des Prüflings gegenüber dem bei Nichtvorliegen des Prüflings auftritt.

Dieses Verhältnis kann durch folgende Beziehung aus-¹

gedrückt werden: _{/1υΓ λ}

τ * - iM+m)e

- (M+m)ο ^x

in der (M+m)e die Summe der Maximal- und Minimal-Flüsse ausdrückt, die bei Vorlage des Prüflings übertragen werden und in der (M+m)ο die Summe der Maximal- und Minimal-Flüsse ausdrückt, die bei Nicht vorlage des Prüflings übertragen werden.

209822/0656

Claims (1)

1. Patentansprüche :

   1. Verfahren zur Transparenzmessung eines Prüflings durch Bestim- ! mung des Kontrastfaktors, dadurch gekennzeichnet, daß der Prüf-, ling (18) durch ein von einem Kollimator (6) ausgehendes, parallleles Lichtbündel (1) angestrahlt wird, wonach das vom Prüfling (18) übertragene Lichtbündel auf einem koaxial zum Kollimator (6) angeordneten optischen System (2,3,4,5) empfangen wird, wo-i bei sich das Bild des Schlitzes des Kollimators (6) auf einem ⁱ sinusförmigen Raster (13) abzeichnet, der sich gegenüber dem Kollimator bewegt, wonach der vom Raster (13) übertragene Lichtfluß gemessen und hierbei der Kontrastfaktor (%) aus den übertragenen minimalen und maximalen Lichtflüssen ermittelt wird.

   2. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der Prüf I-ling eine Rotationsbewegung um eine Achse erfährt, die parallel| zur optischen Achse verläuft bzw. eine Translationsbewegung senkrecht zu dieser Achse.

   3. Verfahren nach Anspruch 1 oder 2, dadurch gekennzeichnet, daß der Prüfling (18) in eine Flüssigkeit eingetaucht wird, die den gleichen Brechungsindex wie der Prüfling besitzt.

   4. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß die Symmetrieachse der Sinuslinien des Rasters (13) senkrecht zur optif schen Achse verläuft.

   5. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 4, dadurch gekennzeichnet, daß das Raster (13) mehrere Raumfrequenzen umfaßt, dj_e sich fortlaufend oder in unterbrochener Folge ändern.

   20982270656

   -Ä-

   6. Verfahren nach einem der Ansprüche 1 bis 5, dadurch gekenn- ^! zeichnet, daß der vom Raster (13) übertragene Lichtfluß von einem Photoempfangselement (16) aufgenommen wird, dessen Signal, während der gesamten Prüfungsdauer aufgezeichnet wird. ^!

   7. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der vom Raster (13) übertragene Lichtfluß von einem Photoempfangselement aufgenommen wird, dessen Ausgangssignal fortlaufend in einem Rechner (21) zur Bestimmung des Kontrastfaktors verarbeitet ! wird.

   Verfahren nach irgendeinem der vorgenannten Ansprüche, dadurch ι gekennzeichnet, daß es sich bei dem Prüfling (18) um einen Stoff im flüssigen Zustand, um ein Glas oder um einen Kunststoff und > insbesondere um Polyäthylen handeln kann.

   Verfahren nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet, daß der Prüf jling (18) die Form einer Schicht, eines Films oder eines Plätt-^: chens haben kann.

   Vorrichtung zur Durchführung des erfindungsgemäßen Verfahrens nach irgendeinem der vorgenannten Ansprüche. !

   Vorrichtung zur Durchführung des Transparenz-Meßvorgangs eines Prüflings, dadurch gekennzeichnet, daß diese folgende Elemente umfaßt: einen Kollimator (6), eine Haltevorrichtung (7,8,9) für den Prüfling (18), die sich zwischen dem Kollimator (6) und ei-' nem optischen System (10) befindet, das die gleiche optische Achse wie der Kollimator besitzt, ferner ein Raster (13) zur sinusförmigen Übertragung, auf dem das Bild des Schlitzes des Kollimators durch das optische System gezeichnet wird, wobei dieses Raster gegenüber dem Kollimator eine Relativbewegung aus*- führt, ein Photoempfangselement (16) zur Messung des vom Raster übertragenen Lichtflusses, und eine Verarbeitungseinheit für die vom Photoempfangselement gelieferten Signale im Hinblick auf eine Bestimmung des Konttastf aktors.

   Vorrichtung nach Anspruch 11, dadurch gekennzeichnet, daß die Haltevorrichtung (7) insbesondere eine Auflage (8) für den Prüf-

   209822/0656

   -Λ -

   ling (18) umfaßt, die um eine Achse parallel zur optischen Achse durch eine beliebige Antriebsvorrichtung (19), die gegebenen falls mit einem Motorgetriebe versehen ist, gedreht werden kann.

   13. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 oder 12, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei der Auflage (8) der Haltevorrichtung (7) für den Prüfling (18) um eine dichte Ausführung handelt, die eine Flüssigkeit enthält, die den gleichen Brechungsindex wie der Prüfling besitzt.

   14·. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei dem Photoempfangselement (16) um einen Photovervielfacher handelt, der gegebenenfalls einem Aufzeichnungsgerät zugeordnet ist.

   15. Vorrichtung nach einem der Ansprüche 11 bis 13, dadurch gekennzeichnet, daß es sich bei dem Photoempfangselement (16) um eine Photodiode handelt, daß die Einheit zur Verarbeitung der von dieser Photodiode her übertragenen Signale mit einem Verstärker (20) ausgerüstet ist, der wiederum einem Analog-Rechner (21) zugeordnet ist, der fortlaufend den Wert des Kontrastfaktors ermittelt und diesen Wert einem Anzeigesystem und/oder einem Drucker überträgt.

   16. Vorrichtung zur Bestimmung einer Funktion des Typs (M-m)/(M+m), bei der M und m jeweils die aufeinanderfolgenden Maximal- und Minimal-Werte einer Funktion ausdrücken, dadurch gekennzeichnet daß diese eine Speichereinrichtung (22,23) mit einem Differenzverstärker (25) besitzt, der eine Kapazität (C^) über eine Diode (D.) auflädt, die über einen Differenzverstärker mit hoher Impedanz gesteuert wird, wonach die empfangene Information an den ersten Verstärker zurückübertragen wird.

   17. Vorrichtung nach Anspruch 16, dadurch gekennzeichnet, daß die Speichereinrichtung mit einem Synchronisationssystem ausgerüste: ist, das in der Lage ist, die gespeicherte Spannung auf Null zurückzuführen .

   209822/0666

   18. Vorrichtung zur Bestimmung einer Funktion des Typs (M-m)/(M+m)J bei der M und m jeweils die aufeinanderfolgenden Maximal- und Minimal-Werte einer Funktion ausdrücken, dadurch gekennzeichnet daß diese einen Analog-Rechner (21) besitzt, der eine erste Speichereinrichtung umfaßt, die das vom Verstärker, der dem Rechner zugeordnet ist, abgegebene Signal empfängt -und ein Signal liefert, das dem Maximum M des vom Verstärker abgegebenen Signals entspricht, wobei eine zweite Speichereinrichtung die Signale der ersten Speichereinrichtung und die des Verstärkers erhält, der dem Rechner zugeordnet ist und ein Signal liefert, das der Differenz (M-m) zwischen dem Maximum und dem Minimum des vom Verstärker gelieferten Signals entspricht, wonach ein Verstärker das von der ersten Speichereinrichtung gelieferte Signal verdoppelt, daß ferner ein Differenzverstärker die vom Verstärker mit dem Verstärkungsfaktor 2 ausgehenden Signale und die der zweiten Speichereinrichtung empfängt und ein ihrer Differenz entsprechendes Signal abgibt, daß ferner ein Analog-Teiler ein Ausgangssignal liefert, das gleich dem Quotienten des von der zweiten Speichereinrichtung abgegebenen Signals unter Berücksichtigung des vom Differenzverstärker abgegebenen Signaljs ist, wobei das vom Teiler abgegebene Signal das Verhältnis (M-m)/(M+m) ausdrückt.

   19. Speichereinrichtung, dadurch gekennzeichnet, daß diese einen Differenzverstärker umfaßt, der eine Kapazität über eine Diode auflädt, die durch einen nachgeschalteten Differenzverstärker mit hoher Impedanz gesteuert wird, der seinerseits die auf dem ersten Verstärker empfangene Information überträgt.

   20. Verfahren nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet, daß der

   J durchschnittliche Fluß gemessen wird, der vom Raster bei Vorliegen und bei Nichtvorliegen des Prüflings übertragen wird und daß das Verhältnis des durchschnittlichen Flusses zwischen Übertragung des Rasters bei Vorliegen und Nichtvorliegen des Prüflings bestimmt wird, wobei dieses Verhältnis die Transmittanz dieses Prüflings definiert.

   20St22/öS8§