DE2151255C3 - Verfahren und Vorrichtung zum Prüfen von Leiterplatten - Google Patents

Description

4. Vorrichtung nach Anspruch 3, dadurch ge- 30 dem einstellbaren niedrigen Widerstand soll, was aus kennzeichnet, daß sie Schalter (S) für das wahlweise der DT-OS nicht eindeutig hervorgeht, offenbar an-Zu- und Abschalten der Leiterbahnen und des zeigen, ob sich der Widerstand der zu prüfenden Prüfstromes, und eine diese Schalter selbsttätig in Platte bei an sich vorhandenem Durchgang über oder dem Prüfungsablauf entsprechend vorgegebener unterhalb eines zulässigen Widerstandes bewegt. Die Reihenfolge betätigende Schalteinrichtung (21) 35 Belastbarkeit der zu prüfenden Leiterplatte kann nach aufweist. dem Verfahren nach der DT-OS 20 57 948 dadurch

5. Vorrichtung nach den Ansprüchen 3 und 4, geprüft werden, daß vor der Durchgangsprüfung ein dadurch gekennzeichnet, daß das Prüfgerät (1) als hoher Belastungsstrom auf die beiden Platten aufge-Justiereinrichtung für die zu prüfende Leiterplatte bracht wird, der zu dünne Leiterbahnenbereiche durch-(7) Anschläge und die Leiterplatte entsprechende 40 brennt. In der DT-OS 20 57 948 wird auch eine Vor-Ausnehmungen (25) aufweist. richtung zum Durchführen dieses Verfahrens bean-

6. Vorrichtung nach wenigstens einem der An- spracht, die eine Halterang für die komplementäre iprüche 1 bis 5 mit einem Gehäuse und einer die Leiterplatte aufweist, elektrische Anschlüsse für diese, tu prüfende Leiterplatte und die Prüfplatte gegen- eine Einrichtung zum korrekten Ausrichten der zu einander belastenden Andrückeinrichtung, da- 45 prüfenden Leitungsplatte auf der komplementären durch gekennzeichnet, daß im Gehäuse (2) senk- Platte, eine Druckeinrichtung und eine Anzeigeeinrecht zur Prüfplattenfläche ortsfeste Führungs- richtung für die Prüfungen. Diese Vorrichtung weist »äulen (10), und eine in deren Längsrichtung daran nach dem gezeigten Ausführangsbeispiel ein Gehäuse geführt pressenartig mittels einer Antriebseinrich- auf, an dem ein schließbarer Deckel das Anlegen eines tung zum Andrücken auf die Leiterplatte (7) zu 50 Vakuums möglich macht und an dem Kontrollampen bewegbare, zu dieser etwa parallel ausgedehnte anzeigen, ob der Widerstand der Platten im Bereich Andrückplatte (14) angeordnet sind. unter, zwischen oder über den beiden vorgegebenen

7. Vorrichtung nach Anspruch 6, dadurch ge- Widerständen liegt.

kennzeichnet, daß die Andrückplatte (14) eine Dieses bekannte Verfahren und die vorgesehene VorPolsterung (15) aufweist. 55 richtung weisen eine Reihe von Nachteilen auf. Mit

8. Vorrichtung nach Anspruch 7, dadurch ge- diesem Verfahren kann nur eine Seite einer Leiterkennzeichnet, daß die Kontaktstifte (18) in der platte geprüft werden. Für zweiseitig bedruckte Leiter-Grundplatte (12) federnd gelagert sind. platten, mit oder ohne durchkontaktierte Bohrungen,

9. Vorrichtung nach Anspruch 7 und 8, dadurch muß eine doppelte Prüfung erfolgen, wobei entweder gekennzeichnet, daß die Kontaktstifte (18) unter- 60 für jede Platte die komplementäre Platte ausgewechselt halb der Grandplatte (12) auf einer federnden werden muß oder eine Serie von doppelseitigen Leiter-Unterlage (9) abgestützt sind. platten erst insgesamt auf einer Seite, anschließend

10. Vorrichtung nach wenigstens einem der An- mit im Prüfgerät ausgewechselter Komplementärplatte spräche 7 bis 9, dadurch gekennzeichnet, daß der auf der anderen Seite geprüft werden muß. Das erste Andrückeinrichtung ein den Prüfstiomkreis nur in 65 Verfahren kostet unverhältnismäßig viel Zeit. Die Andrückstellung schließender Sperrschalter zu- andere Möglichkeit bedeutet, daß alle auf einer Seite geordnet ist. geprüften Leiterplatten gestapelt und nach Durchgang

der Serie sämtlich nochmals mit der anderen Seite

β,

geprüft werden müssen. Dabei ergibt sich zusätzlich läßt sich auf einfache Weise gegen- bzw. hintereineine Fehiermöglichkeit dadurch, daß die Plattenseiten ander schalten. Die Prüfung kann somit rasch und verwechselt werden können. Em weiterer, wesentlicher von angelernten Kräften durchgeführt werden. Auch Nachteil ist darin zu sehen, daß dieses Verfahren es das Anordnen von Kontrolleinrichtungen ist auf einnicht erlaubt, Leiterschlüsse zwischen den Leiter- ₅ fache Weise möglich. Der Schaltungsablauf ist für alle bahnen der zu prüfenden Platte zu erkennen. Im Gegen- Plattenserien der gleiche, kann also auf einfache Weise teil, ein Leiterschluß verfälscht auch das Ergebnis der automatisiert werden. Das Erstellen eines Planes, Durchgangsprüfung, da der Leiterschluß den Wider- welche Leiterbahnen zu einem Leiterzug zu vereinigen stand der zu prüfenden Platte verkleinert Durch einen sind, ist nur ein einziges Mal für jede Serie auszu-Leiterschluß können Unterbrechungen des Leiter- _lo arbeiten. Es bedarf eines gewissen Mehraufwandes zuges so überbrückt werden, daß sie bei der Durch- gegenüber dem Erstellen eines rein komplementären gangsprüfung überhaupt nicht erkannt werden. Ein Schaltmusters, wie es bekannt ist. Dafür kann das Verfahren, bei dem die Widerstände zweier in der erfindungsgemäße Schaltmuster ohne weiteres so aufgescbilderten Weise aufeinandergedrückter Leiter- gebaut werden, daß es bei beidseitig mit Leiterbahnen platten als Kriterium für den Durchgang benutzt _l5 versehenen Leiterplatten möglichst viele durchkontakwerden, kann keine einwandfreien Ergeonisse liefern. tierte Stellen erfaßt. Es werden somit in einem ein-Die beim Herstellen gedruckter Leiterbahnen unver- zigen Prüfungsgang beide Seiten der Leiterplatten ermeidlichen Höhenunterschiede, insbesondere im Be- faßt. Der hierdurch gesparte Arbeitsaufwand stellt ein reich der Bahnenden führen beim Aufeinanderlegen hohes Vielfaches des bei der Planung benötigten Mehrzu unterschiedlichen Übergangswiderständen der ein- ao aufwandes dar.

zelnen Kontaktstellen. Diese Übergangswiderstände Zur Prüfung auf Leitungsschluß kann vorteilhaft

sind von Platte zu Platte verschieden und fallen bei der Stromfluß jeweils zwischen zwei Leerzügen der Größenordnung der zu vergleichenden Wider- unterbrochen werden. Es muß dann lediglich konstandsbereiche erheblich ins Gewicht. Es muß für trolliert werden, ob trotzdem Strom fließt. Dies würde jede Leiterplattenserie außerdem der untere Vergleichs- a₅ einen Leitungsschluß zwischen zwei Leiterbahnen der widerstand erst ermittelt werden. Dies wäre durch betreffenden Leiterzüge bedeuten,
eine Widerstandsmessung mit einer ersten, visuell ge- Die Erfindung schafft auch eine Vorrichtung zur

prüften Leiterplatte und der erstellten Komplementär- Durchführung des Verfahrens mit einer für jede Serie platte möglich. Aber bereits dieses Meßergebniis kann gleicher Leiterplatten einmal zu erstellenden Prüfauf die geschilderte Weise verfälscht werden. Das be- 30 platte, die dadurch gekennzeichnet ist, daß die Prüfkannte Verfahren ergibt also keinesfalls einwandfreie platte mit an ihren beiden Hauptflächen vorstehenden Prüfergebnisse. Darüber hinaus ist das Prüfgerät auf- Kontaktstiften bestückt und diese an einer Seite zu wendig, da es eine Vakuumeinrichtung benötigt, die Überbrückungskontakten und Anschlußleitungen verbei jeder Prüfung den gleichen, gleichmäßigen Unter- drahtet sind und über der anderen Hauptfläche in druck erzeugen muß, wenn die Meßergebnisse nicht 35 einer zur Prüfplatte parallelen Ebene enden. Mit noch mehr verfälscht werden sollen. diesen Enden der Kontaktstifte kommt die jeweils zu

Aufgabe der Erfindung ist es, ein Verfahren der prüfende Leiterplatte in Berührung. Es handelt sich eingangs beschriebenen Art und eine Vorrichtung also um punktförmige Kontakte, nicht um Flächendazu zu schaffen, die auf einfache und wirtschaftliche berührungen, die immer die Gefahr von Ungleich-Weise das exakte Prüfen von Leiterplatten auf Beiast- 40 mäßigkeiten mit sich bringen. Der plattenförmige barkeit, Durchgang und Leiterschluß ermöglicht. Diese Körper der Grundplatte dient lediglich als Stütze und Aufgabe wird erfindungsgemäß dadurch gelöst, daß Justierung der Kontaktstifte. Eine Aufnahme mit zunächst eine Prüfung auf Leitungsschluß vorge- Justiereinrichtungen für die zu prüfende Leiterplatte nommen wird durch Bilden wenigstens zweier elek- gewährleistet auf einfache Weise die jeweils exakte trisch gegeneinander zu prüfender Leiterzüge aus je- 45 Zuordnung der zu prüfenden Leiterplatte zur Grundweils mehreren, einander nicht benachbarten Leiter- platte, wodurch auch bei raschem Plattenwechsel bahnen, und daß die Leiterzüge zur weiteren Prüfung falsches Einlegen vermieden wird,
zu einem einzigen Stromweg zusammengeschlossen Bei einer Vorrichtung mit einer die zu prüfenden

werden. Leiterplatte und die Prüfplatte gegeneinander be-

Leitungsschluß, d. h. ein ungewollter Übergang 50 lastenden Andrückeinrichtung weist die Vorrichtung zwischen zwei Leiterbahnen, ist nur bei einander auf vorteilhaft in ihrem Gehäuse senkrecht zur Prüfder Leiterplatte benachbarten Leiterbahnen möglich. plattenfläche ortsfeste Führungssäulen und eine in Solche Leiterbahnen werden nach dem erfindungs- deren Längsrichtung daran geführt pressenartig mittels gemäßen Verfahren in verschiedenen Leiterzügen er- einer Antriebseinrichtung zum Andrücken auf die faßt. Eine Prüfung; der Leiterzüge untereinander er- 55 Leiterplatte zu bewegbare, zu dieser etwa parallel auslaubt es somit jeden Leiturigsschluß zu erkennen. Die gedehnte Andrückplatte. Mit geringem Aufwand wird Prüfung auf Leitungsschluß gibt auCer der Sicherheit, dadurch eine sichere Anlage der Leiterplatte an den daß ein solcher Fehler nicht vorliegt, außerdem die Kontaktstiften gewährleistet. Die Andrückplatte kann Gewähr, daß auch die anschließende Belastbarkeit- eine Polsterung aufweisen. Vorteilhaft ist der Andrück· und insbesondere die Durchgangsprüfung rin ein- 60 einrichtung ein den Prüfstromkreis nur in Angriffswandfreies Prüfungsergebiiis zeigen, da keine Leiter- stellung schließender Sperrschalter zugeordnet, dei zugteile durch einen Leiterschluß überbrückt, also von verhindert, daß sich die Kontaktstifte und die Leiterder Prüfung nicht erfaßt werden. Die dadurch ge- platte schon unter Spannung nähern. Sonst besteht wonnene Sicherheit erlaubt es, die Durchgangsprüfung die Gefahr von Funkenbildung, die zu Schaden ar auf einfache Weise so durchzuführen, daß ein relativ 65 der Leiterplatte führen kann.

schwacher Strom durch die Leiterzüge geschickt wird. Um einerseits eine gute Anlage der Kontakte an dei

Ein Messen oder Vergleichen des Widerstandes ist Leiterplatte zu erzielen, andererseits Beschädigunger überflüssig. Eine begrenzte Anzahl von Leiterzügen der Leiterbahnen durch die Kontakte auszuschließen

können die Kontakte vorteilhaft federnd an der Grundplatte gelagert oder, in deren Bohrungen verschieblich, auf einer federnden Unterlage der Vorrichtung abgestützt sein.

Ein Ablauf eines erfindungsgemäßen Prüfungsverfahrens wird anschließend an Hand einer Ausführungsform einer in den Zeichnungen dargestellten Vorrichtung beschrieben.

Es zeigt

F i g. 1 einen Teil eines Prüfgerätes für Leiterplatten,

F i g. 2 einen schematisierten Schnitt durch einen Teil des Prüfgerätes,

F i g. 3 eine schematisierte Draufsicht auf eine Leiterplatte,

F i g. 4 einen Schaltplan für das Prüfgerät und

F i g. 5 eine andere Ausführungsform eines Schaltplanes für das Prüfgerät.

Das als Ganzes mit 1 bezeichnete Prüfgerät weist ein Gehäuse 2 auf, das in F i g. 1 nur bruchstückweise dargestellt ist. An seiner Außenseite ist ein Einschalter 3 sowie mehrere Kontrollampen 4 angeordnet. Mittels eines Schuko-Steckers 5 ist das Gerät elektrisch anschließbar. Es weist eine Einschiebeöffnung 6 für eine zu prüfende Leiterplatte 7 auf.

Im Gehäuse 1 sind ortsfest eine Bodenplatte 8 mit einem Schaumgummibelag 9 und zwei diese durchsetzende Führungssäulen 10, von denen in Fig. 1 nur eine sichtbar ist, angeordnet. An den Führungssäulen 10 ist eine Stützfläche 11 für eine auswechselbare Grundplatte 12 angebracht. Die Grundplatte 12 ist mit Aussparungen 13 für diie Führungssäulen 10 versehen. An den Führungssäulen 10 ist eine Andrückplatte 14, die an ihrer der Prüfplatte zugekehrten Seite eine Polsterung 15 aufweist, höhenverschieblich gelagert, wie durch einen Doppelpfeil angedeutet ist. Die Betätigung erfolgt durch eine im Gehäuse 1 angeordnete, nicht sichtbare Hydraulikeinrichtung. An der Andrückplatte 14 ist eine Nase 16 angebracht zum Betätigen eines nicht gezeichneten Mikroschalters, der im Gehäuse 1 ortsfest so angeordnet ist, daß ihn die Nase 16 in der Andrückstellung der Andrückplatte 14 beaufschlagt. Die Leiterplatte 7 ist durch die Einschiebeöffnung 6 zwischen die Prüfplatte 12 und die Polsterung 15 det Andrückplatte 14 einscbieb-

Die Prüfplatte 12 weist eine Anordnung von Bohrangen 17 auf, in die Kontaktstifte 18 einsetzbar sind. Diese sind so lang, daß sie beidseitig aus der Grundplatte herausragen. Ihre unteren Enden stützen sich auf den &haumgummibelag 9 derart ab, daß ihre oberen Enden sich alle in einer ldedten Ebene befinden, die zur Grnndpfattenrfttrfgche parallel ist. Die unterenEndnider Kontaktstoffe!sind mittels Schalthtzen 19 entweder paarweise zu Oberbrüdcui«skontakten zusammengeschlossen oder not AnscUußleitiragen 20 verbunden, die zn einer im Gehäuse eingebauten Schdtehmchtung21 «WDieSchatemrichtung21

und 5 durch Ausführungsbeispiele ihier Schaltpläne

Die Leiterpbtte 7, wn der Fifr 3«ne Draufsicht Leiterbahnen 22 auf. D« Leiterplatte nach Fig. 3 Leiterbahnen 226 der Unterseite über durchkontaktierte Bohrungen 23 in Verbindung. Dies ist deutlich auch aus der schematischen Schnittdarstellung F i g. 2 ersichtlich. Die Leiterplatte 7 waist im Bereich einer Kante zwei Ausnehmungen 25 auf, die mit entsprechenden, nichtgezeichneten Anschlägen im Gehäuse 1 als Justiereinrichtung für die eingeschobene Leiterplatte 7 zusammenwirken.
Das mit der geschilderten Vorrichtung durchführ-

jo bare Verfahren beruht darauf, mittels der zu Kontaktbrücken verbundenen Kontaktstilt-Paare die einzelnen Leiterbahnen zu Leiterzügen zusammenzuschließen, wobei jeder Leiterzug nur Leiterbahnen enthält, die einander auf der Leiterplatte nicht unmittelbar benachbart sind. Für jede Leiterplattenserie muß eine Grundplatte entsprechend mit Kontaktstiften bestückt werden. Ein Beispiel zeigt das Schema F i g. 3: Die Leiterbahnen sind zu zwei Leiterzügen A-A, B-B zusammengefaßt, wobei die Überbrückungskontakte

»o des Leiterzuges A durch strichpunktierte Linien, die des Leiterzuges B durch Strichpiinktpunkt-Linien angezeigt sind. Einander auf der Ober- bzw. auf der Unterseite benachbarte Leiterbahnen sind jeweils in versichiedenen Leiterzügen enthalten. Die Über-

»5 brückungskontakte greifen jeweils an den durchkontaktierten Bohrungen zwischen ojieren und unteren Leiterbahnen an.

Wie der Kontakt zwischen den Kontaktstiften und den Leiterbahnen, bzw. den durchkontaktierten Bohrangen aussieht, zeigt F i g. 2. Zwei Leiterbahnen /41 und Al verlaufen teilweise an der Ober-, teilweise an der Unterseite der Leiterplatte, wobei die Übergänge jeweils an durchkontaktierten Bohrungen 23 erfolgen. Auch am Anfang und am Ende der Leiterbahnen liegen

jeweils durchkontaktierte Bohrungen. An der durchkontaktierten Bohrung am Ende der Leiterbahn Al und an der durchkontaktierten Bohrung am Beginn der Leiterbahn Al liegen jeweils die Enden eines Kontaktstiftes 18 an, und die beiden Kontaktstifte sind durch eine Schaltlitze 19 verbunden. An der durchkontaktierten Bohrung am anderen Ende der Leiterbahn Al liegt das obere Ende eines weiteren Kontaktstiftes 18 an, der an seinum unteren Ende mit einer Anschlußleitung verbunder ist. Diese führt zur

Schalteinrichtung 21. Ebenso ist das zweite Ende des Leerzuges A mit der Schalteinrichtung verbunden (nicht gezeichnet).

E>as Prüfen einer Leiterplatte im Prüfgerät 1 geht folgendermaßen vor sich: Die I-eiterplatte7 wird in

das elektrisch angeschlossene Prüfgerät 1 eingeschoben. Die Andrückplatte 14 senkt sich ab und drückt die Leiterplatte 7 gegen die Kontakte 18 der Prüfplatte 12. Sobald die Andrückplatte 14 in ihrer unteren Endstelllung angelangt ist, beätigt die Nase 16 einen Mikro-

schalter, der den Prüfungsablauf freigibt Eine Steuernchtung löst Schaltvorgänge aas, die in zeitlicher Reihenfolge die Leiterzüge gegeneinander auf Leiterschluß, anschließend auf Belastbi<rkeit und zuletzt auf Durchgang prüfen.

E>iese Schaltungen laufen mit einer Schalteinrichtung entsprechend dem Schaltplar, F i g. 4 in folgender weise ab: Die Schaltanordnung ist zum
vier Leiterzügen A, B, C, ~
liegen hintereinander ii

mit

die Leiterbahnen 22*

der Oberserte stehen mit and jeweils eine mit den

Kontrollampe 4i bis 4m »uiweisi. ran weiterer **««-

ter iiv mit dazu parallel geschalteter Kontrollampe 4pr

Prüfung Leiterzug α

Leitungsschiuß:

S₁ α zu
Sj α öffnet

S₁ b bis / bleiben offen,
5g b bis / bleiben zu,
S, bleibt offen.

Im Leitungsschlußfall fließt über L α kein Strom. La bleibt dunkel. Besteht kein Leitungsschluß, leuchtet Kontrollampe La. Strom wird durch L α begrenzt.

IO

befindet sich zwischen einem Pol der Stromquelle und dem Leiterzug D.

Schaltungen zu Leiterschlußprüfung:

Si offen, übrige Schalter geschlossen: Kontrolllampe 4i leuchtet, wenn kein Leiterschluß zwischen A einerseits und B-D andererseits;

Sh offen, übrige Schalter geschlossen: Kontrolllampe 4n leuchtet, wenn kein Leiterschluß zwischen A, B einerseits und C, D andererseits;

Sm offen, übrige Schalter geschlossen: Kontrolllampe 4in leuchtet, wenn kein Leiterschluß zwischen A, C einerseits und D andererseits;

Belastungsprüfung: alle Schalter geschlossen. Durch Wahl der Spannungshöhe wird der Belastungsstrom geregelt. Keine Anzeige;

Durchgangsprüfung: Siv offen, übrige Schalter geschlossen: Kontrollampe 4iv leuchtet, wenn überall Durchgang besteht. Bei der Belastungsprüfung ausgefallene Leiterzüge werden erkannt.

Nach dem Schaltplan F i g. 5 verläuft der Schaltablauf folgendermaßen: alle Schalter S₁ α bis / sowie S₂ α bis / werden einzeln und nach Programm von einem Programmschaltwerk betätigt.

Belastung:

S₁ b bis / offen,

S₁ α zu

Si α bis / zu

S₃ zu

Alle Kontrollampen sind durch Schalter kurzgeschlossen. Der Belastungsstrom wird durch R₁ begrenzt.

(R₁ ist niederohmig, deshalb leuchten die Kontrollampen bei geöllneten Schaltern trotz dieses Serienwiderstandes.)

Durchgang:

S₁ α schließt

5₁ b bis / bleiben offen,

5₂ α bis / bleiben zu,

5₃ bleibt offen.

Es fließt Strom über Leiterzug α der durct Kontrollampe L angezeigt wird. Bei Unterbrechung leuchtet L nicht. Strom wird durch L begrenzt.

Prüfung Leiterzug b
Leitungsschluß:

5, b gschlossen S₁ α und S₁ c bis / offen,
S₁ α und S₂ c bis / zu,

5₁ b schließt S₁ c bis / offen,

5₂ α bis / zu,

J₂ b öffnet
S₃ offen.

Belastung:

5₁ α öffnet

5₂ b schließt

5₃ schließt.

Durchgang:

5₁ α öffnet S₁ b schließt S₁ c bis / bleiben

5₂ α bis / bleiben zu offen,
S₃ öffnet

und so weiter bis /.

Nach Ablauf des Schaltprogramms und Anheben der Andrückplatte wird die Leiterplatte dem Prüfgerät entnommen und die nächste eingelegt, worauf sofort ein neuer Prüfvorgang ablaufen kann.

Im Rahmen der Erfindung sind auch andere Ausführungsformen des Prüfgerätes möglich. So kann die Prüfplatte über der Leiterplatte zu Legen kommen, es ist auch möglich Prüf- und Leiterplatte stehend zu prüfen, wenn entsprechende Halterungen und eine geeignete Andrückvorrichtung vorhanden sind. Die Ausbildung der Prüfplatte, insbesondere die Befestigung der Kontaktstifte, kann ebenfalls in weitem Rahmen variieren.

Für Leiterplatten, deren Leiterbahnen Verzweigungen aufweisen, ist beim Erstellen der Prüfplatte zu überlegen, wieweit ein Erfassen dieser Abzweigungen erforderlich erscheint. In diesem Falle müssen die Verzweigungen getrennt von den Hauptleiterbahnen in einem eigenen Leiterzug erfaßt und nach Art des Schaltplanes 5 durchgeprüft werden. Dies erfordert nur einige zusätzliche Kontaktstifte und einen weiteren Schaltungsablauf, der keine nennenswerte Belastung des Prüfungsablaufes darstellt

Hierzu S Blatt Zeichnungen

Claims (3)

Die Erfindung betrifft ein Verfahren zum Prüf« Patentansprüche: von Leiterplatten mit einer Mehrzahl von Leiter bahnen auf Belastbarkeit and Durchgang, in dem du

1. Verfahren zum Prüfen von Leiterplatten mit Leiterbahnen zu geschlossenen Leiterzügen hintereneiner Mehrzahl von Leiterbahnen auf Belastbarkeit 5 andergeschaltet werden.

und Durchgang, in dem die Leiterbahnen zu ge- Ein derartiges Verfahren ist aus der DT-OS 205794?

schlossenen Leiterzügen hintereinander geschaltet bekannt. Dort wird ein geschlossener Leiterzug da·

werden, dadurch gekennzeichnet, daß durch erreicht, daß ein zu dem Muster der Leiter·

zunächst eine Prüfung auf Leitungsschluß vorge- bahnen auf der zu prüfenden Platte komplementäre! nommen wird durch Bilden wenigstens zweier 10 Leiterbahnenmuster erstellt und in engen Kontakt mn

elektrisch gegeneinander zu prüfender Leiterzüge der zu prüfenden Platte gebracht wird. Auf diese

aus jeweils mehreren, einander nicht benachbarten Weise entsteht ein geschlossener Leiterzug, durch der

Leiterbahnen, und daß die Leiterzüge zur weiteren ein Prüf strom geschickt werden kann. Das komplemen·

Prüfung zu einem einzigen Stromweg zusammen- täre Leiterbahnenmuster wird durch gedruckte Leitergeschlossen werden. i₅ bahnen auf einer isolierenden Platte gebildet, aul

2. Verfahren nach Ansprach 1, dadurch ge- welche die zu prüfende Leiterplatte so aufgelegt wird, kennzeichnet, daß zur Prüfung auf Leitungsschluß daß sich die beiderseitigen Leiterbahnenmuster erder Stromfluß jeweils zwischen zwei Leiterzügen ganzen. Die dabei entstehenden geschlossenen Leiterunterbrochen wird. züge bzw. der Leiterzug beginnt und endet auf der

3. Vorrichtung zur Durchführung des Verfahrens ₂₀ komplementären Platte und ist von dort an eine nach Ansprach 1 und 2 mit einer für jede Serie Stromquelle anschließbar. Um die beiden Platten wird gleicher Leiterplatten einmal zu erstellenden Prüf- ein Unterdruck erzeug, der ihren guten Zusammenplatte, dadurch gekennzeichnet, daß die Prüfplatte halt gewährleisten soll. Zur Durchgangsprüfung wird (12) mit an ihren beiden Hauptflächen vorstehenden der Widerstand des Leiterzuges bzw. der Leiterzüge Kontaktstiften (18) bestückt und diese an einer 25 mit zwei vorgegebenen Widerständen unterschied-Seite zu Überbrückungskontakten und Anschluß- lichnr Höhe verglichen. Wird der höhere Widerstand, leitungen verdrahtet sind, und über der anderen im Ausführangsbeispiel mit 100 Ohm angegeben, Hauptfläche in einer zur Prüfplatte parallelen überschritten, so zeigt dies einen unterbrochenen oder Ebene enden. diskontinuierlichen Leiterzug an. Der Vergleich mit