DE19910113C1 - Ladungspumpenschaltung (Charge Pump) in einer elektrischen Phasenregelschleife (PLL) - Google Patents
Ladungspumpenschaltung (Charge Pump) in einer elektrischen Phasenregelschleife (PLL)Info
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Abstract
In der Ladungspumpenschaltung sind zwei Entladetransistoren (P_DISCH, N_DISCH) so geschaltet, daß sie als Transfergate wirken und die jeweils zwischen den beiden Ausgangstransistoren (MN1, MN2; MP1, MP2) im Stromweg von Sink- bzw. Source-Zweig liegenden Schaltungsknoten (A, B) nicht mehr gegen die Versorgungsspannungen, sondern gegeneinander entladen. Die Gate-Ansteuerung der Entladetransistoren erfolgt so, daß letztere entweder komplementär zu den Sink- bzw. Source-Zweigen oder aber gemeinsam eingeschaltet werden, sobald sowohl Sink- als auch Source-Zweig der Pumpe inaktiv sind.
Description
Die Erfindung bezieht sich auf eine Ladungspumpenschaltung
(Charge Pump) gemäß dem Oberbegriff des Patentanspruchs 1.
Phasenregelschleifen, die auch als PLL (Phased Locked Loop)
bezeichnet werden, lassen sich dazu verwenden, mit Hilfe ei
ner hochgenauen Referenzfrequenz eine weitere hochgenaue und
stabile Frequenz zu erzeugen, die von der Referenzfrequenz
abweichen kann. In digitalen Phasenregelschleifen wird ge
wöhnlich im Anschluß an den Phasen- oder Phasen-Frequenz-De
tektor eine Ladungspumpenschaltung eingesetzt.
Im folgenden wird anhand der Fig. 1, in der ein Blockschalt
bild einer digitalen Phasenregelschleife dargestellt ist, die
Funktion einer solchen Schaltung erläutert.
Mit der in Fig. 1 dargestellten digitalen Phasenregelschleife
soll mit Unterstützung durch eine hochgenaue Referenzfrequenz
Fref eine hochgenaue und stabile Frequenz FVCO erzeugt werden,
die ungleich der Referenzfrequenz Fref sein kann, wobei die
erzeugte Frequenz FVCO ein ganzzahliges Vielfaches der Refe
renzfrequenz Fref darstellt. Eine einem quarzstabilisierten
Oszillator Q entnehmbare Frequenz FQ wird mit einem Referenz
teiler R bis auf die benötigte Referenzfrequenz Fref herunter
geteilt. Gleichzeitig wird die Ausgangsfrequenz FVCO eines
spannungsgesteuerten Oszillators (Voltage Controlled Oscilla
tor) VCO in einem weiteren Frequenzteiler N heruntergeteilt.
Die beiden hinsichtlich ihrer Frequenzen geteilten Wechsel
ströme bzw. deren relative Phasenlagen werden in einem soge
nannten Phasen(-Frequenz-)-Detektor PD miteinander vergli
chen. Der Phasendetektor PD erzeugt an seinem Ausgang zwei
pulsweitenmodulierte Impulsfolgen UP und DOWN, die in fester
Beziehung zum Phasenunterschied der beiden Wechselströme an
seinen zwei Eingängen stehen. Wenn die geteilte Frequenz
FVCO/N zu hoch gegenüber der Referenzfrequenz Fref ist, bzw.
wenn die Phase des Wechselstroms mit der Frequenz FVCO/N der
jenigen des Wechselstroms mit der Frequenz Fref voreilt, wird
der Phasendetektor PD seinen für die Impulsfolge DOWN zustän
digen Ausgang gegenüber seinem für die Impulsfolge UP zustän
digen Ausgang länger "einschalten". Umgekehrtes gilt bei ent
sprechend anderen Phasenlagen.
Bei genau gleicher Phasenlage der beiden Eingangswechsel
ströme am Phasendetektor PD werden seine beiden Ausgänge für
eine kurze Zeit genau gleich lang eingeschaltet. Dieser Vor
gang wird als Anti-Backlash-Impuls (ABL) bezeichnet. Das Ein
fügen eines solchen Anti-Backlash-Impulses ist aus dynami
scher Sicht günstiger, als keinen der beiden Ausgänge des
Phasendetektors PD einzuschalten, da bei sehr kleinen Phasen
abweichungen durch die Trägheit der Schaltungen sonst unter
Umständen keine definierten Stromimpulse geliefert werden
könnten und sich Totzeiten in der Regelung ergeben können.
Die Impulsfolgen UP und DOWN steuern eine Ladungspumpe CP an,
an deren Ausgang ein Tiefpaß-Schleifenfilter LF angeschlossen
ist, das als ein Integrator des Ladungspumpenstroms wirkt und
eine Steuerspannung V_tune erzeugt. Ein Impuls auf der die
Impulsfolge UP übertragenden Leitung veranlaßt die Ladungs
pumpe CP dazu, einen Strom einer definierten Stärke in das
Tiefpaß-Schleifenfilter LF zu leiten ("sourcen"), so daß die
Steuerspannung V_tune am Ausgang des Tiefpaß-Schleifenfilters
LF durch die in dieses Filter LF transportierte Ladungsmenge
über die Dauer des Impulses steigt. Ein Impuls auf der die
Impulsfolge DOWN übertragenden Leitung zieht einen Strom aus
dem Schleifenfilter LF heraus ("sinken"), so daß die Steuer
spannung V_tune tendenziell über die Dauer des Impulses
fällt. Die mittlere Spannung am Schleifenfilter LF wird also
bei gleich großen Strömen einzig und allein von der relativen
Dauer der Impulse der Impulsfolgen UP und DOWN zueinander be
stimmt.
Bei genau gleichen Phasen der hinsichtlich ihrer Frequenz
geteilten Eingangswechselströme am Phasendetektor PD, also
beim Auftreten des Anti-Backlash-Impulses, ändert sich die
Steuerspannung V_tune am Ausgang des Schleifenfilters LF
idealerweise nicht, da der Nettostrom in das Schleifenfilter
LF dann null ist und auch keine Nettoladungsmenge in oder vom
Schleifenfilter LF wegtransportiert wird. Die sich am Schlei
fenfilter LF einstellende Ausgangsspannung V_tune dient nun
als Steuerspannung für den spannungsgesteuerten Oszillator
VCO, dessen Frequenz FVCO bzw. Phase somit durch die Phasen
regelschleife an die Phase des quarzstabilisierten Oszilla
tors Q gekoppelt wird.
Durch Verändern des im Frequenzteiler N einzustellenden Tei
lerverhältnisses kann die Frequenz FVCO des spannungsgesteu
erten Oszillators VCO in weiten Bereichen eingestellt werden.
Allerdings muß dazu auch die Steuerspannung V_tune des span
nungsgesteuerten Oszillators VCO in weiten Bereichen variie
ren können, um den spannungsgesteuerten Oszillator VCO auf
der gewünschten Frequenz halten zu können.
Der nutzbare Spannungsbereich der Steuerspannung V_tune soll
also idealerweise bis nahe an das Nullpotential und nahe an
die Versorgungsspannung herangehen. Dies ist vor allem in
portablen Anwendungen wichtig, da dort die Versorgungsspan
nungen im 3 V-Bereich liegen und tendenziell in Richtung 2,7 V
gehen.
Für das stabile Einrasten einer Phasenregelschleife ist es
zwingend erforderlich, daß während eines Referenz-Zyklus die
von der Ladungspumpe CP in das Tiefpaß-Schleifenfilter LF
transportierte Nettoladung null ist, da sich erst dann im
Mittel eine stabile Steuerspannung V_tune für den spannungs
gesteuerten Oszillator VCO einstellen kann.
Aufgrund stets vorhandener Nichtidealitäten in der Schal
tungsanordnung der Ladungspumpe CP wird jedoch trotzdem der
transiente Verlauf des Stromflusses in das Schleifenfilter LF
selbst bei eingerasteter Phasenregelschleife von der idealen
Nullinie abweichen. Der Steuerspannung V_tune des spannungs
gesteuerten Oszillators VCO ist infolgedessen ein Frequenz
spektrum mit einer der Referenzfrequenz Fref entsprechenden
Grundfrequenz und Vielfachen davon überlagert, das den span
nungsgesteuerten Oszillator VCO frequenzmoduliert und deshalb
in Form von Nebenwellenspitzen (Spurs) im Spektrum des span
nungsgesteuerten Oszillators VCO auf beiden Seiten der Trä
gerfrequenz FVCO zu sehen ist.
Fig. 2 zeigt als Beispiel ein solches Frequenzspektrum
P[dBm] = f(F) des spannungsgesteuerten Oszillators VCO, wobei
die Mittenfrequenz FVCO 1,628 GHz und die Referenzfrequenz
Fref 200 kHz beträgt. Mit 1, 2 und 3 sind in Fig. 2 die er
sten drei Nebenwellenspitzen neben der Mittenfrequenz FVCO
auf der einen Spektrumsseite bezeichnet
(P[dBm] = Absolutpegel, F = Frequenz).
In der DE 42 16 712 A1 ist eine Stromquellenschaltung be
schrieben, die als Ausgangsstufe eines Phasendetektors eines
Phasenregelkreises dient. Die Stromquellenschaltung enthält
einen Source-Zweig mit vier PMOS-Transistoren sowie einen
Sink-Zweig mit vier NMOS-Transistoren. In jedem der Zweige
sind jeweils zwei der Transistoren in Reihe geschaltet und
bilden den mit dem Ausgangsanschluß verbundenen Ausgangspfad.
Der auf Seite des Ausgangsanschlusses liegende Transistor
bildet einen Stromspiegel mit einem weiteren Transistor, in
den ein Referenzstrom eingespeist wird. Der versorgungsspan
nungspolseitige Transistor des Ausgangszweiges wird von einem
Schaltsignal angesteuert. Mit dem im Eingangszweig des Strom
spiegels liegenden Transistors ist ein weiterer Transistor in
Reihe geschaltet, der mit dem jeweiligen anderen der Versor
gungsspannungspole verbunden ist.
In der EP 0 627 820 A2 ist eine ähnliche Stromquellenschal
tung in einer Ladungspumpe für einen Phasenregelkreis ge
zeigt. Sie enthält für jeden der Source- und Sink-Zweige min
destens vier Transistoren. Der jeweilige im Eingangspfad des
Stromspiegels mit dem Stromspiegeltransistor in Reihe ge
schaltete weitere Transistor wird von einem Freigabesignal
geschaltet.
Fig. 3 zeigt eine gegenüber der in der DE 42 16 712 A1 ge
zeigten leicht modifizierte Ladungspumpenschaltung in CMOS-
Technik, die in verschiedenen integrierten PLL-Schal
tungsbausteinen Anwendung finden soll.
Der aus vier PMOS-Transistoren MP1, MP2, MP3 und MP4 beste
hende Source-Zweig stellt einen geschalteten Stromspiegel
dar, der einen Referenzstrom IrefSOURCE mit einem bestimmten
Spiegelverhältnis multipliziert von der Spannungsversorgung
VDD in einen Ausgangsanschluß CPout über den oberen in Fig. 2
fett eingezeichneten Weg leitet, sobald ein an einen Steuer
eingang UPN angelegtes Steuersignal logisches LOW-Potential
aufweist. An den Steuereingang UPN wird die invertierte Im
pulsfolge UP vom ersten Ausgang des in Fig. 1 dargestellten
Phasendetektors PD angelegt. Der das Spiegelverhältnis ange
bende Strommultiplikationsfaktor beträgt im in Fig. 2 darge
stellten Beispiel 12.
Eine entsprechende Funktion für den Sink-Zweig der in Fig. 2
dargestellten Ladungspumpenschaltung haben vier NMOS-Transi
storen MN1, MN2, MN3 und MN4, die dafür sorgen, daß während
eines logischen HIGH-Potentials der am Steuereingang DOWN zu
geführten Impulsfolge der mit dem Spiegelverhältnis (hier
ebenfalls 12) multiplizierte Strom IrefSINK aus dem Ausgangs
anschluß CPout über den unteren in Fig. 2 fett eingezeichne
ten Weg in Richtung Masse VSS geleitet wird. An den Steuer
eingang DOWN wird die Impulsfolge DOWN vom zweiten Ausgang
des in Fig. 1 dargestellten Phasendetektors PD angelegt.
In der Ladungspumpenschaltung nach Fig. 3 ebenfalls in CMOS-
Technologie vorgesehene Transistoren C_SOURCE und C_SINK die
nen aufgrund ihrer Kapazitätsfunktion dazu, den Einschaltvor
gang des Source- bzw. Sink-Pumpenzweigs zu beschleunigen. Der
Anti-Backlash-Impuls kann deshalb kurz (∼ 2. . .6 ns) gehalten
werden, wobei sich bei eingerasteter Phasenregelschleife no
minell nur während dieser Zeit Auswirkungen auf die Steuer
spannung V_tune ergeben können, da nur dann die Stromquellen
eingeschaltet sind.
Bei realen Schaltungsanordnungen ergeben sich jedoch Unter
schiede zu diesem idealen Verhalten. Dazu müssen die Ladungs
verteilungen in der Ausgangsstufe während des ABL-Pulses und
nach dessen Abklingen betrachtet werden. Zur Vereinfachung
sollen im folgenden nur die Verhältnisse für den Sink-Zweig
der Ladungspumpe betrachtet werden. Die Abläufe im Source-
Zweig sind entsprechend anzusehen, allerdings auf das Versor
gungsspannungspotential VDD bezogen.
Während des Anti-Backlash-Impulses wird der NMOS-Transistor
MN2 eingeschaltet, zieht einen zwischen den NMOS-Transistoren
MN1 und MN2 liegenden Schaltungsknoten A auf ein niedriges
Potential von ∼ 0 V und ermöglicht somit durch den NMOS-Tran
sistor MN1 einen Sinkstrom, dessen absolute Größe durch das
Vorspannungspotential auf der Leitung IrefSINK eingestellt
wird. Nach Ende des Anti-Backlash-Impulses wird der Schal
tungsknoten A wieder vom Spannungspotential VSS (= Masse)
weggeschaltet.
Der Knoten A würde sich jetzt über den Ausgangstransistor MN1
so lange aufladen und damit einen Strom aus dem an den
Ausgang CPout angeschlossenen Schleifenfilter LF (in Fig. 1
dargestellt) ziehen, bis der Potentialunterschied zwischen
den Knoten IrefSINK und A auf die Einsatzspannung VTN von MN1
abgeklungen ist. Bei sehr kleinen Referenzfrequenzen würde
sich der Knoten A sogar bis auf die Spannung an CPout aufla
den, da MN1 auch im Subthreshold-Bereich einen endlichen
Strom leiten kann. Der Ausgangstransistor MN1 sperrt dann,
abgesehen vom Subthreshold-Bereich, und stoppt den Ent
ladevorgang des Schleifenfilters LF.
Da die Transistoren MN1 und MN2 eine sehr große Weite
besitzen können, ist die parasitäre Kapazität am Schaltungs
knoten A sehr groß und dieser Vorgang kann relativ lange
andauern. Dieser Effekt tritt ebenfalls im Source-Zweig der
Ladungspumpe am zwischen den beiden PMOS-Transistoren MP1
und MP2 liegenden Schaltungsknoten B auf. Selbst durch ein
nominelles Angleichen der parasitären Kapazitäten an Knoten A
und B lassen sich die Effekte nicht für alle möglichen
Betriebszustände der Chargepump gegenseitig kompensieren.
Zudem sind diese in den meisten CMOS Prozessoren nicht
korrelierten technologischen Schwankungen unterworfen.
Es wird also in jedem Referenzzyklus nach dem Anti-Backlash-
Impuls netto eine bestimmte Ladungsmenge im Schleifenfilter
LF umgesetzt. Diese muß die Phasenregelschleife durch
Verziehen des Anti-Backlash-Impulses, d. h. durch Verlängern
entweder der Source- oder Sinkdauer, wieder ausgleichen.
Dadurch entstehen insgesamt also Transienten der Steuerspan
nung V_tune, die als Nebenwellenspitzen (Spurious) im
Frequenzspektrum des Ausgangssignals des spannungsgesteuerten
Oszillators VCO zu sehen sind.
Zur Vermeidung dieses Effekts ist es bekannt, in den Ladungs
pumpenschaltungen zusätzliche Entladetransistoren N_DISCH und
P_DISCH in der in Fig. 3 dargestellten Weise vorzusehen. Im
Sink-Zweig der Ladungspumpe ist der Entladetransistor P_DISCH
ein PMOS-Transistor und im Source-Zweig ist der Entladetran
sistor N_DISCH ein NMOS-Transistor. Im Falle des Sink-Zweigs
wird bei nicht aktiver Sink, d. h. bei in seinen nichtleiten
den Zustand geschaltetem Transistor MN2, der Schaltungsknoten
A schnell auf das Versorgungsspannungspotential VDD aufgela
den.
Damit wird auch die Gate-Source-Spannung des Ausgangs
transistors MN1 schnell negativ, wodurch dieser Transistor
dann ebenfalls sehr schnell sperrt und nur für sehr kurze
Zeit nach dem Anti-Backlash-Impuls einen Fehlerstrom aus dem
Schleifenfilter LF zieht. Dadurch ergibt sich im mittleren
Spannungsbereich der Steuerspannung V_tune eine erhebliche
Reduktion der Nebenwellenspitzen (Spurious).
In der in Fig. 3 dargestellten Ladungspumpenschaltung wirken
sich die Entladetransistoren N_DISCH und P_DISCH jedoch nega
tiv auf den nutzbaren Spannungsbereich der Steuerspannung
V_tune an CPout aus. Die das Zustandekommen dieses Nachteils
beschreibende Erklärung wird im folgenden wieder
stellvertretend für den Sink-Zweig der Ladungspumpe gegeben:
Wenn die Steuerspannung V_tune auf einem so niedrigen Poten
tial liegt, daß der Ausgangsknoten der Ladungspumpe um etwa
die Einsatzspannung VTN des eingesetzten NMOS-Transistors MN1
niedriger als das Gate-Vorspannungspotential VrefSINK liegt,
tauschen dessen Drain- und Sourceanschlüsse die Rolle und der
Ausgangstransistor MN1 beginnt in umgekehrter Richtung zu
leiten. Da zwischen den Anti-Backlash-Impulsen der Entlade
transistor P_DISGH ebenfalls leitet, kann während dieser Zeit
ein Dauerstrom in das Schleifenfilter LF fließen. Der Sink-
Zweig der Ladungspumpe wirkt dann als Source.
Diese Ladungsmenge muß die Ladungspumpe während des Anti-
Backlash-Impulses wieder kompensieren. Unter Umständen ist
dies sogar unmöglich und die Phasenregelschleife bleibt nicht
mehr im Einrastzustand (lock). In jedem Fall wird der
Steuerspannung V_tune in den äußeren Bereichen eine
Wechselkomponente überlagert, die die Nebenwellenspitzen
(Seitenlinien) in ganzzahligen Abständen der Referenzfrequenz
Fref von der Trägerfrequenz FVCO des spannungsgesteuerten
Oszillators VCO erheblich ansteigen läßt.
Da die Ausgangstransistoren in der Regel sehr große
Gateweiten haben, tritt dieser Effekt nicht erst dann auf,
wenn die Steuerspannung V_tune auf den Spannungswert
VrefSINK-VTN abgesunken ist, sondern auch schon früher, wenn
der Subthreshold-Effekt bereits nennenswerte Auswirkungen
hat. Deshalb wird bei eingesetzten Ladungspumpen der verwend
bare Bereich der Steuerspannung V_tune auf Spannungen einge
schränkt, die lediglich bis etwa 0,7 V an die Versorgungs
spannungen heranreichen. Bei vorgesehenen niedrigen Versor
gungsspannungen, z. B. 2,7 V, wird dann der Abstimmbereich für
den spannungsgesteuerten Oszillator VCO zu klein.
Aufgabe der Erfindung ist es, eine Ladungspumpenschaltung für
eine digitale Phasenregelschleife mit einfachen Mitteln so
auszubilden, daß gleichermaßen die Probleme des langsamen Ab
schaltens, das zu störenden Nebenwellenspitzen im Frequenz
spektrum des spannungsgesteuerten Oszillators führt, und der
nicht akzeptablen Verkleinerung des Abstimmbereichs dieses
Oszillators gelöst werden.
Diese Aufgabe wird bei einer gattungsgemäßen Ladungspumpen
schaltung durch die im kennzeichnenden Teil des Patentan
spruchs 1 angegebenen Merkmale gelöst.
Gemäß den Ansprüchen 2 und 3 kann die Ansteuerung und die
Verschaltung der Entladetransistoren in vorteilhafter Weise
auf zwei verschiedene Arten erfolgen. Hierbei sind die
Entladetransistoren selbst (Fig. 4) in einer CMOS-Transfer
gatestruktur zwischen die Knoten A und B geschaltet.
Entsprechend der ersten Variante ist der Gate-Anschluß des im
Source-Zweig der Ladungspumpe liegenden Entladetransistors
unmittelbar von der invertierten ersten Impulsfolge UPN des
Phasendetektors und der Gate-Anschluß des im Sink-Zweig der
Ladungspumpe liegenden Entladetransistors unmittelbar von der
zweiten Impulsfolge DOWN des Phasendetektors angesteuert. Die
Entladetransistoren werden also komplementär wegen der
jeweiligen Kombination von NMOS- und PMOS-Transistor zu den
Sink- bzw. Source-Zweigen der Ladungspumpe eingeschaltet.
Entsprechend der zweiten Variante sind der Gate-Anschluß des
im Source-Zweig der Ladungspumpe liegenden Entladetransistors
und der Gate-Anschluß des im Sink-Zweig der Ladungspumpe lie
genden Entladetransistors jeweils sowohl von der ersten
invertierten Impulsfolge UPN als auch von der zweiten
Impulsfolge DOWN des Phasendetektors über eine gemeinsame
kombinatorische Logikschaltung angesteuert, die aus dem
Zustand der beiden Impulsfolgen den inaktiven Zustand der
Ladungspumpe erkennt und bei Erkennen dieses Zustandes die
Entladetransistoren durch entsprechende Ansteuerung der Gate-
Anschlüsse der beiden Entladetransistoren gleichzeitig
einschaltet. Die Entladetransistoren werden also bei dieser
Variante gemeinsam eingeschaltet, sobald sowohl der Sink- als
auch der Source-Zweig der Ladungspumpe inaktiv werden.
Da die Schaltungsknoten in der Stromstrecke jeweils zwischen
den beiden Ausgangstransistoren des Source- bzw. Sink-Zweiges
während der aktiven Pumpzeit, z. B. während des Anti-Backlash-
Impulses, nahezu auf dem oberen bzw. unteren Versorgungsspan
nungspotential liegen, ergeben sich für die erste Zeit, nach
dem entsprechend der ersten Variante die Ladungspumpenteile
bzw. entsprechend der zweiten Variante die gesamte Ladungs
pumpe abgeschaltet wird, fast die gleichen Verhältnisse wie
bei der vorgeschlagenen und anhand der Fig. 3 beschriebenen
Anordnung der Entladetransistoren.
Dies bedeutet, daß die Abschaltung der Ausgangstransistoren
sehr schnell durch ein sehr schnelles Wegziehen deren
jeweiligen Sourcepotentiale erfolgt, die die Knoten A und B
gegeneinander entladen werden, so daß sich auf ihnen eine
mittlere Spannung einstellt. An den Randbereichen der
Steuerspannung des spannungsgesteuerten Oszillators ereignet
sich nun zwar zunächst ebenfalls das gleiche wie bei der
vorgeschlagenen und anhand der Fig. 3 beschriebenen
Schaltung. Dies bedeutet, daß der Source-Zweig Ladung aus dem
Schleifenfilter zieht bzw. der Sink-Zweig Ladung in das
Schleifenfilter pumpt.
Der Unterschied der Ladungspumpenschaltung nach der Erfindung
und deren Vorteil bestehen jedoch darin, daß bei inaktiver
Ladungspumpe selbst in den Randbereichen der Steuerspannung
V_tune des spannungsgesteuerten Oszillators kein Dauerstrom
in das Schleifenfilter fließen kann, sondern insgesamt nur
diejenige Ladungsmenge, die nach dem aktiven Zustand der
Ladungspumpenteile bzw. der gesamten Ladungspumpe in den
parasitären Kapazitäten der erwähnten Schaltungsknoten in der
Stromstrecke jeweils zwischen den beiden Ausgangstransistoren
des Source- bzw. Sink-Zweiges gespeichert ist. Diese endliche
Gesamtfehlerladung kann die Ladungspumpe durch Verziehen des
Anti-Backlash-Impulses wieder ausgleichen, so daß die
Phasenregelschleife immer in eingerastetem Zustand bleiben
kann.
Weitere vorteilhafte und zweckmäßige Weiterbildungen der Er
findung sind in den Ansprüchen 4 bis 9 angegeben.
Es besteht zwar alternativ prinzipiell die Möglichkeit, zur
Lösung der gestellten Aufgabe das Vorspannungspotential des
Referenzstromes IrefSINK für den Sink-Zweig herabzusetzen und
das Vorspannungspotential des Referenzstromes IrefSOURCE für
den Source-Zweig zu erhöhen. Dadurch ergibt sich jedoch bei
gleichem Ausgangsnennstrom eine weitere Vergrößerung der Aus
gangstransistoren, wodurch erstens die parasitären Effekte
ebenfalls vergrößert werden und zweitens der Flächenbedarf
für die Pumpe und u. U. den Schaltungen für deren Ansteuerung
zusätzlich erhöht wird.
Der Fehlerstrom ließe sich prinzipiell auch dadurch verklei
nern, daß die Entladetransistoren sehr schwach ausgelegt wer
den, so daß der Fehlerstrom durch diese und nicht mehr durch
die Ausgangstransistoren bestimmt wird. Allerdings erfüllen
die Entladetransistoren dann auch ihren eigentlichen Zweck
des schnellen Abschaltens im mittleren Bereich der Steuer
spannung des spannungsgesteuerten Oszillators nicht mehr so
effektiv.
Die Erfindung wird anhand von Zeichnungen erläutert. Es zei
gen:
Fig. 1 das bereits beschriebene Blockschaltbild einer übli
chen digitalen Phasenregelschleife (PLL),
Fig. 2 das ebenfalls bereits beschriebene Beispiel eines Fre
quenzspektrums, das am Ausgang des spannungsgesteuerten Os
zillators bekannter digitaler Phasenregelschleifen auftritt,
Fig. 3 die Schaltung einer vorgeschlagenen und bereits be
schriebenen Ladungspumpe,
Fig. 4 die Schaltung einer Ladungspumpe nach der Erfindung,
und
Fig. 5 eine kombinatorische Logikschaltung zur Realisierung
der zweiten Ausführungsvariante einer Ladungspumpenschaltung
nach der Erfindung.
Die in Fig. 4 dargestellte Ladungspumpenschaltung entspricht
in weiten Teilen der bereits ausführlich beschriebenen, vor
geschlagenen Ladungspumpenschaltung, die in Fig. 3 abgebildet
ist. Um Wiederholungen zu vermeiden, wird deswegen im folgen
den lediglich auf die Unterschiede eingegangen. Der im
Source-Zweig der Ladungspumpe liegende Entladetransistor
N_DISCH ist mit seinem Drain-Anschluß am Stromweg-Schal
tungsknoten B zwischen den beiden PMOS-Ausgangstransistoren
MP1 und MP2 des Source-Zweiges und mit seinem Source-Anschluß
am Stromweg-Schaltungsknoten A zwischen den beiden NMOS-Aus
gangstransistoren MN1 und MN2 des Sink-Zweiges angeordnet.
Der im Sink-Zweig der Ladungspumpe liegende Entladetransistor
P_DISCH ist mit seinem Drain-Anschluß am Stromweg-Schal
tungsknoten A zwischen den beiden Ausgangstransistoren MN1
und MN2 des Sink-Zweiges und mit seinem Source-Anschluß am
Stromweg-Schaltungsknoten B zwischen den beiden Ausgangstran
sistoren MP1 und MP2 des Source-Zweiges angeordnet. Der Bulk
des NMOS-Entladetransistors N_DISCH ist an den Drain-Anschluß
dieses Transistors und der Bulk des PMOS-Entladetransistors
P_DISCH an den Source-Anschluß dieses Transistors angeschlos
sen.
Die Bulks der Entladetransistoren N_DISCH und P_DISCH können
als Variante auch auf das Potential VSS (N_DISCH) und VDD
(P_DISCH) angeschlossen werden, wodurch sich allerdings eine
etwas verminderte Wirksamkeit der Ladungspumpenschaltung
ergibt. Die beiden Entladetransistoren N_DISCH und P_DISCH
wirken in dieser Schaltung als Transfergate und entladen die
beiden Schaltungsknoten A und B nicht mehr gegen die Poten
tiale VSS bzw. VDD der Versorgungsspannung, sondern gegenein
ander. Zur Ansteuerung der beiden Entladetransistoren N_DISCH
und P_DISCH sind zur Ansteuerung von deren Gate-Elektroden
Steuerleitungen zu von außen ansteuerbaren Gate-Anschlüssen
N_DISCH_EN und P_DISCH_EN vorgesehen.
Die Ansteuerung der Entladetransistoren N_DISCH und P_DISCH
kann dabei auf zwei verschiedene Arten vorgenommen werden.
Bei der ersten Variante wird der von außen zugängliche Gate-
Anschluß P_DISCH_EN mit dem Eingang DOWN für die zweite Im
pulsfolge und der von außen zugängliche Gate-Anschluß
N_DISCH_EN mit dem Eingang UPN für die erste Impulsfolge ver
bunden. Die Entladetransistoren N_DISCH und P_DISCH werden
bei dieser Variante demnach komplementär (wegen jeweiliger
Kombination von NMOS und PMOS) zu den Sink- bzw. Source-Zwei
gen eingeschaltet.
Bei der zweiten Variante werden die Entladetransistoren
N_DISCH und P_DISCH gemeinsam eingeschaltet, sobald sowohl
der Sink- als auch der Source-Zweig der Ladungspumpe inaktiv
werden. Dazu läßt sich eine kombinatorische Logikschaltung
einsetzen, die aus dem Zustand an den Eingängen DOWN und UPN
für die vom Phasendetektor kommenden Impulsfolgen den inakti
ven Zustand der Ladungspumpe erkennt und dann die Entlade
transistoren durch entsprechende Ansteuerung der von außen
erreichbaren Gate-Anschlüsse N_DISCH_EN und P_DISCH_EN
gleichzeitig einschaltet.
Ein Ausführungsbeispiel für solch eine kombinatorische
Logikschaltung ist in Fig. 5 im einzelnen dargestellt. Diese
kombinatorische Logikschaltung weist ein NAND-Gatter 1 auf,
dem an seinem einen Eingang die erste Impulsfolge vom Eingang
UPN und an seinem zweiten Eingang über einen Inverter 2 die
zweite Impulsfolge vom Eingang DOWN zugeführt werden und an
dessen Ausgang der Gate-Anschluß N_DISCH_EN für den
Entladetransistor N_DISCH über einen Inverter 3 und zugleich
der Gate-Anschluß P_DISCH_EN für den Entladetransistor
P_DISCH über zwei in Reihe liegende Inverter 4 und 5
angeschlossen sind.
Die Knoten A und B liegen während der aktiven Ladungspumpen
zeit, beispielsweise während des Anti-Backlash-Impulses,
praktisch auf dem Potential VSS bzw. VDD, so daß sich für die
erste Zeit nach Abschalten der Ladungspumpenteile (erste Va
riante) bzw. der gesamten Ladungspumpe (zweite Variante) na
hezu die gleichen Verhältnisse wie bei der Ladungspumpen
schaltung nach Fig. 3 ergeben. Dies bedeutet, daß die Ab
schaltung der Ausgangstransistoren MP1 bzw. MN1 sehr schnell
durch ein sehr schnelles Wegziehen deren jeweiligen Sourcepo
tentiale erfolgt.
An den Randbereichen der Steuerspannung V_tune ereignet sich
zwar zunächst das gleiche wie bei der Ladungspumpenschaltung
nach Fig. 3, d. h. der Source-Zweig der Ladungspumpe zieht
Ladung aus dem Schleifenfilter LF bzw. der Sink-Zweig pumpt
Ladung in das Schleifenfilter LF. Im Unterschied zur
Ladungspumpenschaltung nach Fig. 3 fließt in vorteilhafter
Weise jedoch bei inaktiver Ladungspumpe selbst in den
Randbereichen der Steuerspannung V_tune kein Dauerstrom in
das Schleifenfilter LF, sondern insgesamt nur die Ladungs
menge, die nach dem aktiven Zustand der Ladungspumpe bzw. der
Pumpenteile in den parasitären Kapazitäten der Schaltungskno
ten A und B gespeichert ist.
Diese endliche Gesamtfehlerladung gleicht die Ladungspumpe
durch Verziehen des Anti-Backlash-Impulses wieder aus, so daß
die Phasenregelschleife immer im Lock-Zustand verbleibt.
Somit wird mit der durch die Erfindung angegebenen Anordnung
der Entladetransistoren N_DISCH und P_DISCH in der in einer
Phasenregelschleife vorgesehenen Ladungspumpenschaltung das
Problem des langsamen Abschaltens und der inakzeptablen
Verkleinerung des Abstimmbereichs des spannungsgesteuerten
Oszillators gleichermaßen ausgeräumt.
A Schaltungsknoten
B Schaltungsknoten
CP Ladungspumpe (Charge Pump)
CPout
B Schaltungsknoten
CP Ladungspumpe (Charge Pump)
CPout
Ausgang der Ladungspumpe
C_SINK NMOS-Transistor, wirksam als Boostkapazität
C_SOURCE PMOS-Transistor, wirksam als Boostkapazität
DOWN Zweite Impulsfolge, Steuereingang
F Frequenz im Spektrum
FQ
C_SINK NMOS-Transistor, wirksam als Boostkapazität
C_SOURCE PMOS-Transistor, wirksam als Boostkapazität
DOWN Zweite Impulsfolge, Steuereingang
F Frequenz im Spektrum
FQ
Quarzstabilisierte Frequenz
Fref
Fref
Referenzfrequenz
FVCO
FVCO
Ausgangsfrequenz des VCO
FVCO
FVCO
/N Durch N geteilte Frequenz FVCO
IrefSINK
Sink-Referenzstrom
IrefSOURCE
IrefSOURCE
Source-Referenzstrom
LF Tiefpaß-Schleifenfilter
MN1 . . . MN4 NMOS-Transistoren
MP1 . . . MP4 PMOS-Transistoren
N Frequenzteiler
N_DISCH NMOS-Entladetransistor
N_DISCH_EN Gate-Anschluß des NMOS-Entladetransistors
Q Quarzstabilisierter Oszillator
P[dBm] Absolutpegel in dBm
PD Phasen(-Frequenz-)-Detektor
P_DISCH PMOS-Transistor
P_DISCH_EN Gate-Anschluß des PMOS-Entladetransistors
R Referenzteiler
UP Erste Impulsfolge
UPN Steuereingang für invertierte Impulsfolge UP
VSS Spannungspotential (Masse)
VCO Spannungsgesteuerter Oszillator (VCO)
VDD Versorgungsspannung
V_tune Steuerspannung
LF Tiefpaß-Schleifenfilter
MN1 . . . MN4 NMOS-Transistoren
MP1 . . . MP4 PMOS-Transistoren
N Frequenzteiler
N_DISCH NMOS-Entladetransistor
N_DISCH_EN Gate-Anschluß des NMOS-Entladetransistors
Q Quarzstabilisierter Oszillator
P[dBm] Absolutpegel in dBm
PD Phasen(-Frequenz-)-Detektor
P_DISCH PMOS-Transistor
P_DISCH_EN Gate-Anschluß des PMOS-Entladetransistors
R Referenzteiler
UP Erste Impulsfolge
UPN Steuereingang für invertierte Impulsfolge UP
VSS Spannungspotential (Masse)
VCO Spannungsgesteuerter Oszillator (VCO)
VDD Versorgungsspannung
V_tune Steuerspannung
1
NAND-Gatter
2
b bis
5
Inverter
Claims (9)
1. Ladungspumpenschaltung (Charge Pump), die in einer elek
trischen Phasenregelschleife (PLL; Phase Locked Loop) einem
zwei Wechselströme hinsichtlich ihrer gegenseitigen Phasen
lage vergleichenden Phasendetektor nachgeschaltet ist, der an
zwei Ausgängen zwei pulsweitenmodulierte, bezüglich ihrer
Pulsweiten in fester Beziehung zu dem Phasenunterschied der
beiden zu vergleichenden Wechselströme stehende Impulsfolgen
erzeugt und bei gleicher Phasenlage der beiden zu verglei
chenden Wechselströme für eine kurze Zeit beide Ausgänge zur
Erzeugung eines Anti-Backlash-Impulses einschaltet, und die
einem als Integrator wirkenden Tiefpaß-Schleifenfilter vorge
schaltet ist, dessen Ausgangsspannung als Steuerspannung zur
Einstellung der Frequenz eines nachfolgenden spannungsgesteu
erten Oszillators (VCO; Voltage Controlled Oscillator) dient,
mit zwei schaltbaren, in CMOS-Technik ausgeführten Stromquel
len, von denen die erste (Source) in Abhängigkeit von der er
sten Impulsfolge (UPN) und die zweite (Sink) in Abhängigkeit
von der zweiten Impulsfolge (DOWN) einen Strom von definier
ter Stärke an das Tiefpaß-Schleifenfilter liefert bzw. davon
abführt, wobei der Source-Zweig vier PMOS-Transistoren, die
einen schaltbaren, einen Source-Referenzstrom um einen Strom
spiegelfaktor multiplizierenden Stromspiegel darstellen, und
einen an seinem Gate von seiten der ersten Impulsfolge (UPN)
angesteuerten NMOS-Entladetransistor enthält und der Sink-
Zweig mit vier NMOS-Transistoren, die einen schaltbaren, ei
nen Sink-Referenzstrom um einen Stromspiegelfaktor multipli
zierenden Stromspiegel darstellen, und mit einem an seinem
Gate von seiten der zweiten Impulsfolge (DOWN) angesteuerten
PMOS-Entladetransistor versehen ist, dadurch gekenn
zeichnet, daß der im Source-Zweig der Ladungspumpe lie
gende Entladetransistor (N_DISCH) mit seinem Drain-Anschluß
am Stromweg-Schaltungsknoten (B) zwischen den beiden Aus
gangstransistoren (MP1, MP2) des Source-Zweiges und mit sei
nem Source-Anschluß am Stromweg-Schaltungsknoten (A) zwischen
den beiden Ausgangstransistoren (MN1, MN2) des Sink-Zweiges
angeordnet ist und daß der im Sink-Zweig der Ladungspumpe
liegende Entladetransistor (P_DISCH) mit seinem Drain-An
schluß am Stromweg-Schaltungsknoten (A) zwischen den beiden
Ausgangstransistoren (MN1, MN2) des Sink-Zweiges und mit sei
nem Source-Anschluß am Stromweg-Schaltungsknoten (B) zwischen
den beiden Ausgangstransistoren (MP1, MP2) des Source-Zweiges
angeordnet ist, so daß die beiden Entladetransistoren als
Transfergate betrieben werden und die beiden Schaltungsknoten
(A, B) nicht gegen die Potentiale (VSS, VDD) der Versorgungs
spannung, sondern gegeneinander entladen werden.
2. Ladungspumpenschaltung nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Gate-Anschluß (N_DISCH_EN) des im
Source-Zweig der Ladungspumpe liegenden Entladetransistors
(N_DISCH) unmittelbar von der invertierten ersten Impulsfolge
(UPN) des Phasendetektors (PD) und der Gate-Anschluß
(P_DISCH_EN) des im Sink-Zweig der Ladungspumpe liegenden
Entladetransistors (P_DISCH) unmittelbar von der zweiten
Impulsfolge (DOWN) des Phasendetektors (PD) angesteuert ist.
3. Ladungspumpenschaltung nach Anspruch 1, dadurch ge
kennzeichnet, daß der Gate-Anschluß (N_DISCH_EN) des im
Source-Zweig der Ladungspumpe liegenden Entladetransistors
(N_DISCH) und der Gate-Anschluß (P_DISCH_EN) des im Sink-
Zweig der Ladungspumpe liegenden Entladetransistors (P_DISCH)
jeweils sowohl von der ersten invertierten Impulsfolge (UPN)
als auch der zweiten Impulsfolge (DOWN) des Phasendetektors
(PD) über eine gemeinsame kombinatorische Logikschaltung
(Fig. 5) angesteuert werden, die aus dem Zustand der beiden
Impulsfolgen (UPN, DOWN) den inaktiven Zustand der
Ladungspumpe erkennt und bei Erkennen dieses Zustandes die
Entladetransistoren (N_DISCH, P_DISCH) durch entsprechende
Ansteuerung der Gate-Anschlüsse (N_DISCH_EN, P_DISCH_EN) der
beiden Entladetransistoren gleichzeitig einschaltet.
4. Ladungspumpenschaltung nach Anspruch 3, dadurch ge
kennzeichnet, daß die kombinatorische Logikschaltung
(Fig. 5) ein NAND-Gatter (1) aufweist, dem an seinem einen
Eingang die erste Impulsfolge (UPN) und an seinem zweiten
Eingang über einen Inverter (2) die zweite Impulsfolge (DOWN)
zugeführt wird und an dessen Ausgang der Gate-Anschluß
(N_DISCH_EN) des im Source-Zweig liegenden Entladetransistors
(N_DISCH) über einen Inverter (3) und zugleich der Gate-An
schluß (P_DISCH_EN) des im Sink-Zweig liegenden Entladetran
sistors (P_DISCH) über zwei in Reihe liegende Inverter (4, 5)
oder aber direkt angeschlossen sind.
5. Ladungspumpenschaltung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der Bulk des
NMOS-Entladetransistors (N_DISCH) an den Drain-Anschluß die
ses Transistors und der Bulk des PMOS-Entladetransistors
(P_DISCH) an den Source-Anschluß dieses Transistors ange
schlossen ist.
6. Ladungspumpenschaltung nach einem der Ansprüche 1 bis 4,
dadurch gekennzeichnet, daß der Bulk des NMOS-Ent
ladetransistors (N_DISCH) an Massepotential (VSS) und der
Bulk des PMOS-Entladetransistors (P_DISCH) an das Versor
gungsspannungspotential (VDD) angeschlossen ist.
7. Ladungspumpenschaltung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß im Source-
Zweig der Ladungspumpe eine durch einen an Drain und Source
zusammengeschalteten PMOS-Transistor (C_SOURCE) realisierte
Boostkapazität und im Source-Zweig der Ladungspumpe eine
durch einen an Drain und Source zusammengeschalteten NMOS-
Transistor (C_SINK) realisierte Boostkapazität zur Beschleu
nigung der Einschaltvorgänge vorgesehen sind, daß der die
Boostkapazität im Source-Zweig bildende PMOS-Transistor
(C_SOURCE) mit seinem Gate-Anschluß am Gate-Anschluß des
PMOS-Ausgangstransistors (MP1) der Ladungspumpe (CP) liegt
und an seinen zusammengeschalteten Drain- und Source-An
schlüssen von der dem Source-Zweig vom Phasendetektor (PD)
zugeführten invertierten Impulsfolge (UPN) angesteuert wird,
daß der die Boostkapazität im Sink-Zweig bildende NMOS-Tran
sistor (C_SINK) mit seinem Gate-Anschluß am Gate-Anschluß des
NMOS-Ausgangstransistors (MN1) der Ladungspumpe liegt und an
seinen zusammengeschalteten Drain- und Source-Anschlüssen von
der dem Sink-Zweig vom Phasendetektor zugeführten Impulsfolge
(DOWN) angesteuert wird und daß die Länge und Weite des die
Boostkapazität im Source-Zweig bildenden PMOS-Transistors
(C_SOURCE) und die Länge und Weite des die Boostkapazität im
Sink-Zweig bildenden NMOS-Transistors (C_SINK) jeweils auf
die gleiche Länge und halbe Weite des entsprechenden PMOS-
bzw. NMOS-Ausgangstransistors (MP1 bzw. MN1) der Ladungspumpe
festgelegt ist.
8. Ladungspumpenschaltung nach Anspruch 7, dadurch ge
kennzeichnet, daß die Weite des die Boostkapazität im
Source-Zweig bildenden PMOS-Transistors (C_SOURCE) und/oder
die Weite des die Boostkapazität im Sink-Zweig bildenden
NMOS-Transistors (C_SINK) zur Erzielung einer optimalen Sym
metrie an den parasitären Effekt des entsprechenden Ausgangs
transistors (MP1 bzw. MN1) der Ladungspumpe (CP) angepaßt
werden.
9. Ladungspumpenschaltung nach einem der vorhergehenden An
sprüche, gekennzeichnet durch eine Implementierung in
einem integrierten CMOS-Baustein.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999110113 DE19910113C1 (de) | 1999-03-08 | 1999-03-08 | Ladungspumpenschaltung (Charge Pump) in einer elektrischen Phasenregelschleife (PLL) |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1999110113 DE19910113C1 (de) | 1999-03-08 | 1999-03-08 | Ladungspumpenschaltung (Charge Pump) in einer elektrischen Phasenregelschleife (PLL) |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19910113C1 true DE19910113C1 (de) | 2000-08-31 |
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Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1999110113 Expired - Fee Related DE19910113C1 (de) | 1999-03-08 | 1999-03-08 | Ladungspumpenschaltung (Charge Pump) in einer elektrischen Phasenregelschleife (PLL) |
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Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19910113C1 (de) |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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WO2009064801A1 (en) * | 2007-11-13 | 2009-05-22 | Qualcomm Incorporated | Fast-switching low-noise charge pump |
DE112009004368B4 (de) | 2008-12-19 | 2019-10-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Steuerstab-/Brennstoffträgerverladevorrichtung |
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- 1999-03-08 DE DE1999110113 patent/DE19910113C1/de not_active Expired - Fee Related
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DE112009004368B4 (de) | 2008-12-19 | 2019-10-17 | Kabushiki Kaisha Toshiba | Steuerstab-/Brennstoffträgerverladevorrichtung |
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Date | Code | Title | Description |
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8100 | Publication of the examined application without publication of unexamined application | ||
D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
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