DE19908475C2 - Filterkalibriersystem für abgestimmte Filter und Kalibrierverfahren - Google Patents

Filterkalibriersystem für abgestimmte Filter und Kalibrierverfahren

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DE19908475C2 DE19908475A DE19908475A DE19908475C2 DE 19908475 C2 DE19908475 C2 DE 19908475C2 DE 19908475 A DE19908475 A DE 19908475A DE 19908475 A DE19908475 A DE 19908475A DE 19908475 C2 DE19908475 C2 DE 19908475C2
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Description

Die vorliegende Erfindung betrifft ein Filterkalibriersystem für abgestimmte Filter mit den Merkmalen der Ansprüche 1 oder 3 und ein Kalibrierverfahren mit den Merkmalen der Ansprüche 9 oder 10.
Abgestimmte Filter, die einen breiten Abstimmbereich haben und eine hohe Signalselektivität aufweisen, werden in Spek­ trumanalysatoren und anderen Meßsystemen verwendet. Die Durchlaßbandmittenfrequenz eines abgestimmten Filters ist über Steuersignale, die an das Filter angelegt werden, einstellbar. Bei einem Spektrumanalysator hängen die Meßge­ nauigkeit und der Dynamikbereich davon ab, wie genau die Steuersignale die Mittenfrequenz des Filters abstimmen oder einstellen können, um andere Signale, wie z. B. das Lokal­ oszillatorsignal, innerhalb des Spektrumanalysators zu ver­ folgen. Typischerweise wird die Abstimmcharakteristik eines abgestimmten Filters, wie z. B. eines Yttrium-Eisen-Granat- (YIG-) Abstimmfilters oder YTF (YTF = Yttrium-Iron-Garnet Tuned Filter), während einer Basischarakterisierung des Spektrumanalysators erhalten und in einem Speicher gespei­ chert. Die gespeicherte Abstimmcharakteristik bestimmt den Signalpegel, der benötigt wird, um eine spezifizierte Durch­ laßbandmittenfrequenz zu erreichen. Temperaturvariationen und Änderungen der Betriebsparameter des Spektrumanalysators verändern jedoch die Abstimmcharakteristik eines YTF, so daß eine genaue Einstellung der Mittenfrequenz das YTF unter Verwendung der in dem Speicher gespeicherten Abstimmcharak­ teristik nicht erreicht wird.
Verschiedene Kalibrierschemen wurden verwendet, um Änderun­ gen der Abstimmcharakteristik des YTF relativ zu der in dem Speicher gespeicherten Abstimmcharakteristik zu kompensie­ ren. In einem ersten Kalibrierschema werden Mikrowellen­ signale, die durch eine externe Signalquelle zugeführt wer­ den, in das YTF bei vordefinierten Frequenzen innerhalb des Abstimmbereichs des YTF initiiert. Basierend auf den Trans­ missionseigenschaften des YTF bei den vordefinierten Fre­ quenzen wird eine Korrespondenz zwischen Mittenfrequenzen und Steuersignalpegeln erhalten. Diese Korrespondenz wird verwendet, um die Steuersignalpegel zu bestimmen, die not­ wendig sind, um die Mittenfrequenz des YTF genauer einzu­ stellen, so daß ein Verfolgen zwischen der Mittenfrequenz und dem Lokaloszillator in dem Spektrumanalysator geschaffen wird. Dieses Kalibrierschema baut auf einer externen Signal­ quelle und erfordert ein physisches Verbinden der Quelle mit dem YTF jedesmal dann, wenn die Kalibrierung durchgeführt wird, was zeitaufwendig ist. Bei einem zweiten Kalibrier­ schema werden Mikrowellensignale, die durch eine interne Signalquelle zugeführt werden, wie z. B. einen Kammgenera­ tor, in das YTF bei vordefinierten Frequenzen innerhalb des Abstimmbereichs des YTF initiiert. Bei diesem Schema werden auch die Transmissionseigenschaften des YTF verwendet, um eine Korrespondenz zwischen den Mittenfrequenzen des YTF und den Steuersignalpegeln zu erhalten. Die interne Signalquelle erhöht jedoch die Herstellungskosten des Spektrumanalysa­ tors. Dieses Kalibrierschema ist ebenfalls zeitaufwendig, da es ein physisches Umleiten von Signalwegen innerhalb des Spektrumanalysators mit sich bringt, um die Mikrowellensi­ gnale von der internen Signalquelle an den YTF anzulegen.
Typischerweise variieren Temperatur- und Betriebsparameter eines Spektrumanalysators, während Messungen durchgeführt werden. Daher erfordert die Abstimmcharakteristik, die in dem Speicher während der Basischarakterisierung gespeichert worden ist, eine Korrektur oder eine Kalibrierung ausrei­ chend oft, um sicherzustellen, daß die Mittenfrequenz des YTF genau eingestellt werden kann, so daß ein genaues Ver­ folgen des Lokaloszillatorsignals geschaffen wird. Dement­ sprechend besteht ein Bedarf nach einem Filterkalibrier­ system, das die Abstimmcharakteristika eines abgestimmten Filters, wie z. B. eines YTF, auf eine zeiteffiziente Art und Weise kalibrieren kann, ohne daß die Herstellungskosten des Spektrumanalysators erhöht werden.
Der Artikel "Durchgangsdämpfung - ermittelt über Reflexions­ messung" von Thomas Reichel in "Neues von Rohde & Schwarz", 1987, Heft 118, S. 21 beschreibt ein Prinzip zur Messung ei­ ner Durchgangsdämpfung eines Meßobjektes über eine Refle­ xionsmessung. Eine am Eingang des Meßobjekts einfallende Welle von einem Meßsender läuft zunächst zum Ausgang dessel­ ben, wird dort - bei Leerlauf und Kurzschluß - total reflek­ tiert und kehrt wieder zum Eingang zurück. Die Leistung die­ ses reflektierten Signales wird gemessen.
Im "Taschenbuch der Hochfrequenztechnik" von Meinke und Gundlach, 5. Auflage, Berlin: Springer, 1986, S. 116-117 wird die Messung eines Reflexionsfaktors eines Meßobjektes mittels mindestens eines Richtkopplers beschrieben. Mittels eines Richtkopplers wird die Leistung eines von einer Sig­ nalquelle ausgehenden und an dem Meßobjekt reflektierten Signales gemessen. Mittels eines zweiten Richtkopplers wird die von der Signalquelle ausgehende Leistung oder die Leis­ tung eines Signales, das von dem von der Signalquelle aus­ gehenden und für die Messung verwendeten Meßsignal mittels eines Leistungsteilers abgeteilt und an einem Kurzschluß reflektiert wurde, gemessen. Alternativ wird eine Leistung eines mittels eines Leistungsteilers von dem Signal der Signalquelle abgeteilten Signales mit einem Detektor direkt gemessen.
Die Aufgabe der vorliegenden Erfindung besteht darin, ein wirtschaftliches und effizientes Kalibrierkonzept zu schaffen.
Diese Aufgabe wird durch ein Filterkalibriersystem gemäß Anspruch 1 oder 3 und durch ein Kalibrierverfahren gemäß Anspruch 9 oder 10 gelöst.
Gemäß dem bevorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung verwendet ein Filterkalibriersystem innerhalb ei­ nes Spektrumanalysators die Reflexionsantwort eines abge­ stimmten Filters, um eine Korrespondenz zwischen einem Steu­ ersignal, das an das Filter angelegt wird, und der Durch­ laßbandmittenfrequenz des Filters zu errichten. Diese Kor­ respondenz erlaubt es, daß die Abstimmcharakteristik eines abgestimmten Filters, wie z. B. eines YIG-abgestimmten Fil­ ters (YTF), die während einer Basischarakterisierung des Spektrumanalysators in einem Speicher gespeichert ist, kali­ briert oder korrigiert wird, um Temperaturänderungen und Änderungen von Betriebsparametern des Spektrumanalysators zu kompensieren. Eine genaue Einstellung der Mittenfrequenz des YTF liefert ein Verfolgen zwischen der Mittenfrequenz und anderen Signalen, wie z. B. eines Lokaloszillatorsignals, was es ermöglicht, daß der Spektrumanalysator eine hohe Meßgenauigkeit und einen hohen Dynamikbereich hat. Die Kali­ brierung der Abstimmcharakteristik des YTF wird ohne Neukon­ figurieren von Signalwegen schnell durchgeführt, und, da das Filterkalibriersystem Komponenten innerhalb des Spektrumana­ lysators verwendet, werden die Herstellungskosten des Spek­ trumanalysators nicht erhöht. Der Lokaloszillator des Spek­ trumanalysators liefert ein Anregungssignal, das an das YTF angelegt wird. Ein Mischer innerhalb des Spektrumanalysators erfaßt Reflexionen des Anregungssignals durch das YTF, wäh­ rend Steuersignale, die an das YTF angelegt werden, variiert werden, um die Durchlaßbandmittenfrequenz des YTF entspre­ chend einzustellen. Die erfaßten Reflexionen von dem YTF bei verschiedenen Steuersignalpegeln werden aufgezeichnet, wobei Charakteristika dieser Reflexionsantwort verwendet werden, um die Steuersignalpegel auf die Mittenfrequenzen des YTF abzubilden, um Änderungen der Abstimmcharakteristik des YTF zu kompensieren.
Bevorzugte Ausführungsbeispiele der vorliegenden Erfindung werden nachfolgend bezugnehmend auf die beiliegenden Zeich­ nungen detailliert erläutert. Es zeigen:
Fig. 1 das Filterkalibriersystem, das gemäß dem bevorzug­ ten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung aufgebaut ist;
Fig. 2 Abstimmcharakteristika eines YTF;
Fig. 3A und 3B erfaßte Reflexionsantworten und Durchlaß­ bandantworten des YTF; und
Fig. 4 ein Flußdiagramm von Kalibrierschritten, die unter Verwendung des Filterkalibriersystems von Fig. 1 implementiert sind.
Fig. 1 zeigt ein Filterkalibriersystem 10, das gemäß dem be­ vorzugten Ausführungsbeispiel der vorliegenden Erfindung aufgebaut ist. Die Komponenten des Filterkalibriersystems 10 sind in einem Spektrumanalysator oder einem anderen Typ ei­ nes Meßsystems intern vorhanden. Wenn ein Spektrumanalysator in einem Meßmodus betrieben wird, werden zu analysierende Signale 11 an den Eingang 12 des Spektrumanalysators an­ gelegt. Ein Dämpfungsglied 14 reduziert die Amplitude des angelegten Signals 11, wie es benötigt wird, um ein Über­ steuern von Schaltungen innerhalb des Spektrumanalysators zu verhindern. Nach dem Laufen durch das Dämpfungsglied 14 ist das Signal 11 an dem Eingang 1 eines abgestimmten Filters 20 vorhanden. Bei diesem Beispiel ist das abgestimmte Filter 20 ein YIG-abgestimmtes Filter (YTF) 20. Die Durchlaßbandmit­ tenfrequenz des YTF 20 und die Frequenz eines Lokaloszilla­ torsignals 13, das durch einen Lokaloszillator 14 geliefert wird, werden über einen voreingestellten Frequenzbereich gewobbelt, um Spektralsegmente des angelegten Signals 11 auszuwählen und herunterzumischen. Ein heruntergemischtes Signal 15 an dem I-Tor eines Mischers 16 wird unter Verwen­ dung zusätzlicher Komponenten (nicht gezeigt) innerhalb des Spektrumanalysators weiter verarbeitet, analysiert und ange­ zeigt. Ein Steuersignal, das bei diesem Beispiel ein Steuer­ strom IC ist, das an das YTF 20 angelegt wird, stimmt die Durchlaßbandmittenfrequenz des YTF ab, um der Frequenz des Lokaloszillators 18 zu folgen. Die Meßgenauigkeit und der Dynamikbereich des Spektrumanalysators hängen davon ab, wie genau das Steuersignal IC die Mittenfrequenz des YTF 20 ab­ stimmen kann, damit dieselbe der Frequenz des Lokaloszilla­ torsignals 13 folgt. Ein genaues Abstimmen der Mittenfre­ quenz des YTF baut auf einer Charakterisierung der Beziehung zwischen der Mittenfrequenz des YTF 20 und dem Steuerstrom IC, der an das YTF angelegt wird.
Fig. 2 zeigt die Beziehung zwischen dem Steuerstrom IC und der Durchlaßbandmittenfrequenz des YTF 20 bei zwei Betriebs­ temperaturen, die den Kurven T1 und T2 entsprechen. Die Ab­ stimmcharakteristik des YTF, die in der Kurve T1 gezeigt ist, wird durch eine Basischarakterisierung des Spektrum­ analysators bestimmt, die bei einer Basistemperatur durchge­ führt wird. Während der Basischarakterisierung werden Signa­ le an das YTF 20 bei vordefinierten Frequenzen innerhalb des Abstimmbereichs des YTF angelegt, wobei der Steuerstrom IC bei jeder der Frequenzen eingestellt wird, bis eine Trans­ mission durch das Durchlaßband des YTF maximal ist. Die re­ sultierenden Pegel des Steuerstroms IC bei dem Transmis­ sionsmaximum bei jedem der vordefinierten Frequenzen wird in einem Speicher gespeichert. Die Beziehung zwischen den vor­ definierten Frequenzen und den entsprechenden Steuerstrom­ pegeln, die in dem Speicher gespeichert sind, ermöglicht es, daß das YTF 20 auf spezifizierte Mittenfrequenzen innerhalb des Abstimmbereichs des YTF eingestellt wird, indem die ge­ eigneten Steuerströme IC an das YTF 20 angelegt werden. Die Abstimmcharakteristik des YTF 20 hängt jedoch von der Be­ triebtemperatur, der Alterung von Komponenten innerhalb des Spektrumanalysators und von Betriebsparametern des Spektrum­ analysators ab. Die Kurve T2 zeigt die Abstimmcharakteristik des YTF bei einer Betriebstemperatur, die sich von der Ba­ sistemperatur, die in Verbindung mit der Kurve T1 gezeigt ist, die in dem Speicher gespeichert ist, unterscheidet. Der Unterschied der Abstimmcharakteristika zwischen der Kurve T1 und der Kurve T2 bewirkt einen Fehler ΔF in der Mittenfre­ quenz des YTF, wenn die Mittenfrequenz eingestellt wird, in­ dem ein Steuerstrom IC basierend auf der Abstimmcharakteri­ stik der Kurve T1, die in dem Speicher gespeichert ist, an­ gelegt wird.
Das Filterkalibriersystem 10 kalibriert oder korrigiert die Abstimmcharakteristik des YTF 20 wie benötigt, um sicherzu­ stellen, daß der angelegte Steuerstrom IC die Mittenfrequenz des YTF 20 auf die spezifizierte Frequenz abstimmt. Das Fil­ terkalibriersystem 10 kann beispielsweise die Abstimmcharak­ teristik korrigieren, die in dem Speicher während der Basis­ charakterisierung gespeichert worden ist, wenn die Betriebs­ temperatur von der Basistemperatur um eine vorbestimmte Men­ ge abweicht, oder wenn bestimmte Änderungen von Betriebs­ parametern des Spektrumanalysators auftreten.
Eine Kalibrierung oder Korrektur der Abstimmcharakteristik der Kurve T1 wird unter Verwendung des Filterkalibriersy­ stems 10, das in Fig. 1 gezeigt ist, durchgeführt, während der Spektrumanalysator in einem Kalibriermodus betrieben wird. In dem Kalibriermodus liefert der Lokaloszillator 18 ein Lokaloszillatorsignal 13 zu dem L-Tor des Mischers 16. Das Lokaloszillatorsignal 13 läuft zu dem RF-Tor des Mi­ schers 16, um ein Anregungssignal 17 zu liefern, das an dem Ausgangstor 2 des YTF 20 vorhanden ist. Das Anregungssignal 17 erzeugt ein reflektiertes Signal 19 an dem Ausgangstor 2 des YTF 20 und erzeugt ein transmittiertes Signal 21 an dem Eingangstor des YTF 20. Das Dämpfungsglied 14 wird auf einen ausreichend hohen Dämpfungspegel eingestellt, um eine gute Impedanzanpassung für das transmittierte Signal 21 zu schaf­ fen, um Reflexionen von dem Eingang 12 des Spektrumanalysa­ tors zu minimieren, und um die Amplitude des transmittierten Signals 21 an dem Eingang 12 zu reduzieren.
Das reflektierte Signal 19 ist an dem Mischer 16 vorhanden, der bei diesem Beispiel ein doppelt abgestimmter Mischer ist. Wenn er durch eine Stromquelle IBIAS vorgespannt ist, arbeitet der Mischer 16 als Detektor, der eine erfaßte Span­ nung V0 an dem I-Tor des Mischers erzeugt, die proportional zu der Amplitude des reflektierten Signals 19 ist. Die Amplitude des reflektierten Signals 19 und die erfaßte Span­ nung V0 hängen von der relativen Ausrichtung der Durchlaß­ bandmittenfrequenz des YTF 20 und der Frequenz des Lokal­ oszillatorsignals 13 ab. Die relative Ausrichtung wird durch Wobbeln des Steuerstroms IC, der an das YTF 20 angelegt wird, innerhalb eines vordefinierten Strombereichs ΔIC va­ riiert, um eine entsprechende Abweichung der Durchlaßband­ mittenfrequenz zu erzeugen. Alternativ wird die relative Ausrichtung variiert, indem der Steuerstrom IC auf einem festen Pegel gehalten wird, während die Frequenz des Lokal­ oszillatorsignals 18 innerhalb eines vordefinierten Fre­ quenzbereichs variiert wird.
Fig. 3A zeigt die erfaßte Spannungsantwort und die Durchlaß­ bandantwort des YTF 20 bei einer Basistemperatur, wenn der Steuerstrom IC über einen Zielpegel ICF1 innerhalb eines vordefinierten Strombereichs ΔIC variiert wird. Der Zielpe­ gel ICF1 entspricht der Frequenz des Lokaloszillatorsignals 13 und wird aus der Abstimmcharakteristik der Kurve T1 (in Fig. 2 gezeigt), die in dem Speicher während der Basischa­ rakterisierung des Spektrumanalysators gespeichert worden ist, bestimmt. An dem Zielpegel ICF1 ist die Mittenfrequenz des YTF 20 gleich der Frequenz des Lokaloszillatorsignals 13. Das Minimum der erfaßten Spannung V0 tritt an einem Steuerstrompegel IMIN1 auf, der von dem Zielpegel ICF1 um einen Versatzstrom IDIFF versetzt ist. Der Versatzstrom IDIFF bei einer oder mehreren Frequenzen des Lokaloszil­ latorsignals 13 wird während der Basischarakterisierung erhalten und aufgezeichnet.
Fig. 3B zeigt die erfaßte Spannungsantwort und die Durchlaßbandantwort des YTF 20 bei einer Betriebstemperatur, die sich von der Basistemperatur von Fig. 3A unterscheidet, wäh­ rend der Steuerstrom IC um den Zielpegel ICF1 innerhalb des vordefinierten Strombereichs ΔIC variiert wird. Das Minimum der erfaßten Spannung V0 tritt bei dem Steuerstrompegel IMIN2 auf. Der Steuerstrom IC, der notwendig ist, um die Mittenfrequenz des YTF 20 gleich der Frequenz des Lokal­ oszillatorsignals 13 einzustellen, beträgt IMIN2 minus dem Versatzstrom IDIFF für das gezeigte Beispiel, bei dem ICF1 kleiner als IMIN1 ist, und beträgt IMIN2 plus dem Versatz­ strom IDIFF, wenn ICF1 größer als IMIN1 ist. Die Abstimm­ charakteristik der Kurve T1 (in Fig. 2 gezeigt), die während einer Basischarakterisierung des Spektrumanalysators bei der Basistemperatur erfaßt wird, wird korrigiert, um der Ab­ stimmcharakteristik des YTF bei der Betriebstemperatur (in Kurve T2 von Fig. 2 gezeigt) zu entsprechen, indem der Steu­ erstrompegel IMIN2 bei der Betriebstemperatur erfaßt wird, und indem der Steuerstrompegel IMIN2 um den Versatzstrom IDIFF korrigiert wird. Bei diesem Beispiel wird das Minimum der erfaßten Spannungsantwort, d. h. die minimale erfaßte Spannung V0, verwendet, um die Steuerstrompegel IMIN1 und IMIN2 zu bestimmen. Alternativ werden andere Charakteristika der erfaßten Spannungsantwort verwendet, um die Steuerstrom­ pegel IMIN1 und IMIN2 zu bestimmen. Das Minimum der erfaßten Spannungsantwort, die in den Fig. 3A und 3B gezeigt ist, tritt auf, wenn das reflektierte Signal 19 eine maximale Amplitude hat, wenn die erfaßte Spannung V0, die durch den Mischer 16 geliefert wird, negativ ist. Wenn alternativ die erfaßte Spannung V0, die von dem Mischer 16 geliefert wird, positiv ist, tritt ein Maximum in der erfaßten Spannung auf, wenn das reflektierte Signal eine maximale Amplitude hat.
Fig. 4 zeigt ein Flußdiagramm 40 von Kalibrierschritten, die durch das Filterkalibriersystem 10 implementiert sind, wenn der Spektrumanalysator in dem Kalibriermodus ist. Während der Basischarakterisierung des Spektrumanalysators (nicht gezeigt) bei einer Basistemperatur und bei Basisbetriebs­ parametern wird die Abstimmcharakteristik des YTF 20 (in Kurve T1 von Fig. 2 gezeigt) in einem Speicher gespeichert. Der Versatzstrom IDIFF (in Fig. 3A gezeigt) bei einer oder mehreren vordefinierten Frequenzen wird ebenfalls während der Basischarakterisierung quantifiziert. In einem Schritt 42 des Flußdiagramms 40 wird die Frequenz des Lokaloszilla­ tors 18 auf eine erste vordefinierte Frequenz F1 einge­ stellt. Der Lokaloszillator 18 liefert das Erregungssignal 17 zu dem Ausgangstor 2 des YTF 20. Bei diesem Beispiel ist die erste vordefinierte Frequenz F1 gleich 3 GHZ. In einem Schritt 44 wird der Steuerstrom IC auf einen Zielpegel ICF1 entsprechend der ersten vordefinierten Frequenz F1 einge­ stellt. Der Zielpegel ICF1 wird aus der Abstimmcharakteri­ stika der Kurve T1, die in dem Speicher während der Basis­ charakterisierung gespeichert wird, erhalten. In einem Schritt 46 wird der Steuerstrom IC um den Zielpegel ICF1 innerhalb eines vordefinierten Strombereichs ΔIC variiert, wobei das reflektierte Signal 19 erfaßt wird, um eine er­ faßte Spannungsantwort zu erzeugen. Die erfaßte Spannung V0 bei verschiedenen Steuerstrompegeln innerhalb des Strombe­ reichs ΔIC wird aufgezeichnet. Alternativ wird der Steuer­ strom IC auf den Zielpegel ICF1 eingestellt, während die Frequenz des Anregungssignals 17 innerhalb eines vordefi­ nierten Bereichs um die vordefinierte Frequenz F1 herum variiert wird, um die erfaßte Spannungsantwort zu erzeugen. In einem Schritt 48 wird die aufgezeichnete Antwort verwen­ det, um den Steuerstrompegel IMIN2 zu extrahieren. Der Steu­ erstrompegel IMIN2 wird um IDIFF variiert, um die Durchlaß­ bandmittenfrequenz des YTF 20 gleich der Frequenz des Lokal­ oszillatorsignals 13 einzustellen.
Durch Durchführen der Kalibrierschritte 42-48 in dem Fluß­ diagramm 40 bei einer zweiten vordefinierten Frequenz F2 in­ nerhalb des Abstimmbereichs des YTF 20, wie z. B. 7 GHz, wird die korrigierte Abstimmcharakteristik der Kurve T2 ex­ trapoliert, da Temperaturänderungen und Änderungen von Be­ triebsparametern des Spektrumanalysators typischerweise die Neigung und den Versatz der Abstimmcharakteristik der Kurve T1 verändern, während die Form der Abstimmcharakteristik der Kurve T1 in der Kurve T2 beibehalten wird. Somit ist ein Wiederholen der Kalibrierschritte 42-48 bei der zweiten vordefinierten Frequenz F2 ausreichend, um Änderungen der Neigung und des Versatzes zu korrigieren, und um die Ab­ stimmcharakteristik der Kurve T2 zu bestimmen. Bei der zwei­ ten vordefinierten Frequenz F2 wird der Steuerstrom IC auf einen Zielpegel ICF2 eingestellt, der der zweiten vordefi­ nierten Frequenz F2 entspricht, und von der Abstimmcharakte­ ristik der Kurve T1, die während der Basischarakterisierung in dem Speicher gespeichert wurde, erhalten.

Claims (13)

1. Filterkalibriersystem (10) für ein abgestimmtes Filter (20) mit einer Durchlaßbandmittenfrequenz, die gemäß einem angelegten Steuersignal (In) einstellbar ist, mit folgenden Merkmalen:
einem Oszillator (18), der ein Anregungssignal (17) liefert;
einem Mischer (16) mit drei Toren (I, L, RF), wobei der Mischer (16) an dem ersten Tor (L) mit dem Oszil­ lator (18) gekoppelt ist, und an dem zweiten Tor (RF) mit einem Ausgang (2) des abgestimmten Filters (20) gekoppelt ist, wobei das erste Tor (L) das Anregungs­ signal (17) empfängt und das Anregungssignal (17) zu dem zweiten Tor (RF) weiterleitet, wobei das Anre­ gungssignal ein reflektiertes Signal (19) an dem Aus­ gang (2) des abgestimmten Filters (20) und ein trans­ mittiertes Signal (21) an einem Eingang des abgestimm­ ten Filters (20) erzeugt, wobei der Mischer (16) das reflektierte Signal (19) an dem zweiten Tor (RF) er­ faßt und eine Reflexionsantwort (19) an dem dritten Tor (I) erzeugt, während das angelegte Steuersignal (IC) über einem vorbestimmten Bereich (IC) variiert wird, wodurch die Durchlaßbandmittenfrequenz des ab­ gestimmten Filters (20) auf die Reflexionsantwort abgebildet wird; und
einem Dämpfungsglied (14), das mit dem Eingang (1) des abgestimmten Filters (20) gekoppelt ist und das trans­ mittierte Signal (21) dämpft.
2. Filterkalibriersystem (10) gemäß Anspruch 1, bei dem das Anregungssignal (17) eine vordefinierte Frequenz hat.
3. Filterkalibriersystem (10) für ein abgestimmtes Filter (20) mit einer Durchlaßbandmittenfrequenz, die gemäß einem angelegten Steuersignal (In) einstellbar ist, mit folgenden Merkmalen:
einem Oszillator (18), der ein Anregungssignal (17) liefert;
einem Mischer (16) mit drei Toren (I, L, RF), wobei der Mischer (16) an dem ersten Tor (L) mit dem Oszil­ lator (18) gekoppelt ist, und an dem zweiten Tor (RF) mit einem Ausgang (2) des abgestimmten Filters (20) gekoppelt ist, wobei das erste Tor (L) das Anregungs­ signal (17) empfängt und das Anregungssignal (17) zu dem zweiten Tor (RF) weiterleitet, wobei das Anre­ gungssignal (17) ein reflektiertes Signal (19) an dem Ausgang (2) des abgestimmten Filters (20) und ein transmittiertes Signal (21) an einem Eingang (1) des abgestimmten Filters (20) erzeugt, wobei der Mischer (16) das reflektierte Signal (19) an dem zweiten Tor (RF) erfaßt und eine Reflexionsantwort an dem dritten Tor (I) erzeugt, während die Frequenz des Anregungs­ signals (17) über einem vorbestimmten Frequenzbereich variiert wird, wodurch die Durchlaßbandmittenfrequenz des abgestimmten Filters (20) auf die Reflexionsant­ wort abgebildet wird; und
einem Dämpfungsglied (14), das mit dem Eingang (1) des abgestimmten Filters (20) gekoppelt ist und das trans­ mittierte Signal (21) dämpft.
4. Filterkalibriersystem (10) gemäß Anspruch 3, bei dem das angelegte Steuersignal (IC) auf einen vordefinier­ ten Pegel eingestellt ist.
5. Filterkalibriersystem (10) gemäß Anspruch 2 oder 4, bei dem das reflektierte Signal (19) ein Minimum in der Reflexionsantwort erzeugt, wenn das reflektierte Signal eine maximale Amplitude hat, wobei die Durchlaßbandmittenfrequenz des abgestimmten Filters (20) auf das Minimum der Reflexionsantwort abgebildet wird.
6. Filterkalibriersystem (10) gemäß Anspruch 5, bei dem die Durchlaßbandmittenfrequenz des abgestimmten Fil­ ters (10) auf das Minimum der Reflexionsantwort durch Anlegen eines Versatzes an das Steuersignal (In) abgebildet wird.
7. Filterkalibriersystem (10) gemäß Anspruch 2 oder 4, bei dem das reflektierte Signal (19) ein Maximum in der Reflexionsantwort erzeugt, wenn das reflektierte Signal eine maximale Amplitude hat, wobei die Durch­ laßbandmittenfrequenz des abgestimmten Filters (20) auf das Maximum in der Reflexionsantwort abgebildet wird.
8. Filterkalibriersystem (10) gemäß Anspruch 7, bei dem die Durchlaßbandmittenfrequenz des abgestimmten Fil­ ters auf das Maximum in der Reflexionsantwort abge­ bildet wird, indem ein Versatz an das Steuersignal (IC) angelegt wird.
9. Kalibrierverfahren für ein abgestimmtes Filter (20), das eine Durchlaßbandmittenfrequenz aufweist, die ge­ mäß einem angelegten Steuersignal (IC) einstellbar ist, mit folgenden Schritten:
Anlegen eines Erregungssignals mit einer vordefinier­ ten Frequenz an das abgestimmte Filter (20);
Einstellen des angelegten Steuersignals auf einen Zielpegel;
Variieren des Steuersignals innerhalb eines vorbe­ stimmten Bereichs um den Zielpegel herum;
Erfassen eines reflektierten Signals, das erzeugt wird, während das Anregungssignal an das abgestimmte Filter (20) angelegt wird und während das Steuersignal variiert wird, um eine Reflexionsantwort für das abge­ stimmte Filter (20) zu bilden; und
Korrigieren des Pegels des angelegten Steuersignals gemäß der Reflexionsantwort, um die Durchlaßbandmit­ tenfrequenz gleich der vordefinierten Frequenz einzu­ stellen.
10. Kalibrierverfahren für ein abgestimmtes Filter (20) mit einer Durchlaßbandmittenfrequenz, die gemäß einem angelegten Steuersignal (IC) einstellbar ist, mit fol­ genden Schritten:
Einstellen des angelegten Steuersignals auf einen Zielpegel;
Anlegen eines Erregungssignals mit einer vordefinier­ ten Frequenz an das abgestimmte Filter (20);
Variieren der Frequenz des Anregungssignals innerhalb eines vorbestimmten Frequenzbereichs um die vordefi­ nierte Frequenz herum;
Erfassen eines reflektierten Signals, das erzeugt wird, während das Anregungssignal an das abgestimmte Filter (20) angelegt wird, und während die Frequenz des Anregungssignals variiert wird, um eine Reflexi­ onsantwort für das abgestimmte Filter (20) zu bilden; und
Korrigieren des Pegels des angelegten Steuersignals gemäß der Reflexionsantwort, um die Durchlaßbandmit­ tenfrequenz gleich der vordefinierten Frequenz einzu­ stellen.
11. Verfahren gemäß Anspruch 9 oder 10, bei dem der Schritt des Korrigierens des Pegels des angelegten Steuersignals das Anlegen eines Versatzes an den Zielpegel des angelegten Steuersignals umfaßt.
12. Verfahren gemäß Anspruch 11, bei dem der Versatz des angelegten Steuersignals durch Durchführen einer Ba­ siskalibrierung bestimmt wird, um eine Beziehung zwi­ schen der Durchlaßbandmittenfrequenz des abgestimmten Filters (20) und der Reflexionsantwort für das abge­ stimmte Filter bei der vordefinierten Frequenz zu er­ richten.
13. Verfahren gemäß Anspruch 11, bei dem der Zielpegel des Steuersignals durch Anlegen eines Signals an das abge­ stimmte Filter mit einer vordefinierten Frequenz und durch Einstellen des angelegten Steuersignals bestimmt wird, bis eine Transmission durch das abgestimmte Fil­ ter maximal ist.
DE19908475A 1998-06-22 1999-02-26 Filterkalibriersystem für abgestimmte Filter und Kalibrierverfahren Expired - Fee Related DE19908475C2 (de)

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