DE19821128C1 - Kontaktelement - Google Patents
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Description
Die Erfindung betrifft ein Kontaktelement nach dem
Oberbegriff des Anspruchs 1.
Ein solches
Kontaktelement ist aus DE-GM 76 37 762 bekannt. Bei
diesem bekannten Kontaktelement ist ein den
Stromweg bildendes Teil von einer Schraubenfeder
rings umgeben, die eine dem Kontaktierungsdruck
entgegenwirkende Kraft auf eine radiale Schulter
des den Stromweg bildenden Teils ausübt.
Das Kontaktelement ist daher in radialer Richtung
weit ausladend.
Zum Testen von Mikrochips auf deren
Funktionstauglichkeit werden als Sonden
ausgebildete Kontaktelemente eingesetzt,
beispielsweise bei sogenannten Nadelkarten oder
Knickdrahtkarten. Diese Karten halten eine Vielzahl
von Kontaktelementen in einer gewünschten Anordnung
derart, daß sie auf einen Prüfling, beispielsweise
auf die Anschlußstellen eines Mikrochips,
aufgedrückt werden können. Die jeweilige
Federeinrichtung der Kontaktelemente sorgt dafür,
daß zur Anschlußstelle ein sicherer
Berührungskontakt erfolgt. Das hintere Ende jedes
Kontaktelements ist mit einer Testeinrichtung, bei
spielsweise über flexible Anschlußleitungen oder
über eine Adapterkarte verbunden, so daß mittels
der Testeinrichtung Prüfströme über die Kontaktele
mente dem Prüfling zugeführt werden können. Hier
durch läßt sich testen, ob der Prüfling elektrisch
einwandfrei ist, das heißt, keine Kurzschlüsse
aufweist oder Leitungsunterbrechungen.
Den Kontaktelementen kommt eine immer wichtiger
werdende Rolle zu, da die sich schnell verändernden
Mikrochips immer höhere Herausforderungen an die
Testkontaktierung stellen. Dies liegt im wesentli
chen daran, daß die Abstände zwischen den Anschluß
punkten des Prüflings immer kleiner werden (bis
0,05 mm), so daß entsprechend geringe Dimensionen
der Kontaktelemente erforderlich sind. Derartig
kleine Abmessungen sind mit dem aus DE-GM 76 37 762
bekannten Meßspitzenhalter nur schwerlich zu
realisieren. Es besteht ferner immer mehr die
Tendenz, mehrere Prüflinge, also zum Beispiel
mehrere Chips gleichzeitig, zu testen, so daß die
Anzahl der gleichzeitig zum Einsatz kommenden
Kontaktelemente entsprechend steigt, wodurch dann
aber auch die Anforderungen hinsichtlich der
Zuverlässigkeit und Reparaturfähigkeit der
Kontaktelemente wesentlich höher angesetzt werden.
Schließlich besteht eine weitere Herausforderung
darin, Chips bei erhöhten Temperaturen (bis 150°C)
zu testen, das heißt, auch die Kontaktelemente müs
sen diese Temperatur problemlos bestehen.
Bekannt ist es bei Nadelkarten beziehungsweise
Knickdrahtkarten, wie zum Beispiel in
DE 90 04 562 U1 gezeigt, Kontaktelemente
einzusetzen, die aus einem elektrisch leitfähigen
Werkstoff bestehen. Dieser Werkstoff besitzt
gleichzeitig Federeigenschaften, so daß er zur
Kontaktierung des Prüflings durch eine Spannplatte
seitlich ausgelenkt werden kann und bei Freigabe
der Spannplatte in dem Bestreben, sich
geradezurichten, an Kontakte eines Prüflings
drückt.
Der Erfindung liegt die Aufgabe zugrunde, ein Kon
taktelement der eingangs genannten Art zu schaffen,
das mit kleinen seitlichen Abmessungen einfach
herstellbar ist, und das für eine zuverlässige und
sichere Kontaktierung verbesserte Eigenschaften
aufweist.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch ein
Kontaktelement nach Anspruch 1 gelöst.
Aufgrund der Wahl zweier unterschiedlicher
Werkstoffe für ein Kontaktelement erfolgt eine
"Arbeitsteilung" derart, daß einer dieser
Werkstoffe so gewählt ist, daß er mit sehr guten
elektrischen Eigenschaften den Stromweg durch das
Kontaktelement bildet und daß der andere Werkstoff
die Federeinrichtung bildet, also dazu dient, die
Kontaktkraft aufzunehmen. Das erfindungsgemäße
Kontaktelement geht hinsichtlich seiner
Eigenschaften elektrische Leitfähigkeit und
Federwirkung somit keine Kompromisse ein, da für
jede dieser beiden Parameter ein optimaler
Werkstoff gewählt werden kann. Demgemäß ist es bei
spielsweise möglich, für den Stromweg den Werkstoff
Silber und/oder Kupfer zu wählen und zur Realisie
rung der Federeigenschaften Federstahl, Wolfram
oder Glasfaser einzusetzen.
Die Teile, die die Federeinrichtung und den
Stromweg bilden, sind an mindestens einer Stelle
miteinander verbunden. Die Verbindung kann
insbesondere durch Schweißung, Lötung, Klebung
und/oder durch eine mechanische Halterung
aneinander gebildet sein.
Das die Federeinrichtung bildende Teil kann quer
zur Längsrichtung aufgrund von seitlicher
Durchbiegung ausfedern.
Die den Stromweg beziehungsweise die
Federeinrichtung bildenden Teile werden als
Leitsonde beziehungsweise Federsonde bezeichnet.
Vorzugsweise ist die Anordnung derart gewählt, daß
ein nicht der Verbindung angehörender Bereich der
Federsonde die Federeinrichtung bildet. Durch die
nicht bestehende Verbindung zur Leitsonde kann so
mit die Federsonde einen entsprechenden Federweg
realisieren, also elastisch verformt werden. Diese
elastische Verformung findet nicht beim Leitelement
statt.
Es ist vorteilhaft, wenn ein Ende der Leitsonde ein
Kontaktelement, insbesondere eine Kontaktspitze,
zur Durchführung des Berührungskontakts bildet. In
einem solchen Falle wird somit das elektrisch hoch
leitfähige Material auch für das Aufsetzen auf den
Prüfling verwendet. Je nach gewähltem Material kann
dies jedoch zu Abnutzungserscheinungen führen. In
einem solchen Falle ist vorgesehen, daß an einem
Ende der Leitsonde ein separates Kontaktelement aus
einem elektrisch leitfähigen, mechanisch wider
standsfähigen Material elektrisch leitend befestigt
ist. Mit diesem separaten, elektrisch aber mit der
Leitsonde verbundenen Kontaktelement wird dann der
Berührungskontakt zum Prüfling hergestellt. Vor
zugsweise handelt es sich bei dem Kontaktelement
nur um ein an das vordere Ende der Leitsonde ange
setztes kurzes Bauteil, beispielsweise eine Spitze
oder dergleichen.
Sofern die Federsonde elektrisch leitfähig ist, ist
es möglich, daß diese die Kontaktspitze bildet und
mit der Leitsonde elektrisch leitend verbunden ist.
Bei einer derartigen Ausgestaltung ragt somit die
Federsonde in Richtung auf den Prüfling über die
Leitsonde hinaus und übernimmt den Berührungskon
takt zum Prüfling. Gleich anschließend an diese Be
rührungskontaktspitze befindet sich die elektrisch
leitfähige Verbindung zur Leitsonde, um einen mög
lichst geringen elektrischen Widerstand zu erhal
ten. Ein vom Prüfling kommender Prüfstrom durch
setzt daher zunächst einen sehr kurzen Abschnitt
der Federsonde, wechselt dann über die Verbindungs
stelle zur Leitsonde über und wird mittels der
Leitsonde und geeigneten weiteren Verbindungsein
richtungen der Prüfeinrichtung zugeführt.
Insbesondere ist vorgesehen, daß in an das Kontakt
element anschließenden Bereich die Verbindung zwi
schen Leitsonde und Federsonde über eine Teillänge
der Länge der Federsonde ausgebildet ist. Die üb
rige Länge der Federsonde ist "frei", das heißt
nicht mit der Leitsonde verbunden, um die Federein
richtung realisieren zu können.
Schließlich ist es vorteilhaft, wenn das Kontakte
lement in einem Aufnahmeschacht eines Isolierkör
pers oder dergleichen angeordnet ist, wobei im Be
reich der Verbindung der Aufnahmeschacht eine Quer
schnittskonfiguration aufweist, die sowohl die
Leitsonde als auch die Federsonde aufnimmt und im
anschließenden Bereich eine Querschnittskonfigura
tion aufweist, die die Leitsonde und die Feder
sonde, letztere mit seitlichem Auslenkspiel, auf
nimmt sowie mit in diesem anschließenden Bereich
eine Stützfläche für eine Abstützung des entspre
chenden Endes der Federsonde aufweist und wobei in
sich daran anschließenden Bereich eine Quer
schnittskonfiguration besitzt, die die Leitsonde
aufnimmt. Auf diese Art und Weise ist das Kontakte
lement längsverschieblich innerhalb des Aufnahme
schachtes gelagert, so daß es aufgrund des elektri
schen Berührungskontakts mit dem Prüfling zurück
weichen kann. Mithin wird bei einem solchen Zurück
weichen die Leitsonde innerhalb des Aufnahme
schachtes verlagert, während sich die Federsonde
mit ihrem dem Prüfling abgewandten Ende an der
Stützfläche abstützt und auf diese Art und Weise
seitlich auslenkt und dadurch die Federkraft der
sie bildenden Federeinrichtung entfaltet.
Die Zeichnung veranschaulicht die Erfindung anhand
eines Ausführungsbeispiels. Gezeigt wird ein aus
einer Vielzahl von Platten bestehender Isolierkör
per mit einem Aufnahmeschacht, in dem ein Kontakte
lement angeordnet ist, das einen Prüfling kontak
tiert.
Die Zeichnung veranschaulicht einen Ausschnitt aus
einem Prüfkopf 1, einer nicht näher dargestellten
Prüfeinrichtung zum elektronischen Prüfen von Prüf
lingen, wie beispielsweise Mikrochips. Der Prüfkopf
1 weist mehrere, aufeinanderliegende, aus elektri
schem Isoliermaterial bestehende Lagerplatten 2
auf, die jeweils von einem Durchbruch 3 durchsetzt
sind. Die Durchbrüche 3 bilden gemeinsam einen Auf
nahmeschacht 4 aus, der längsverschieblich ein Kon
taktelement 5 aufnimmt. Das Kontaktelement 5 dient
der Kontaktierung eines Prüflings 6, der beispiels
weise als Mikrochip 7 ausgebildet ist und elektri
sche Kontaktflächen 8 aufweist. Zur elektrischen
Prüfung dieses Prüflings 6 wird der Prüfkopf 1 in
Richtung auf den Prüfling 6 abgesenkt, wodurch das
Kontaktelement 5 mit seiner ein Kontaktteil 9 bil
denden Kontaktspitze 10 auf die Kontaktfläche 8 des
Prüflings 6 aufsetzt und auf diese Art und Weise
ein Berührungskontakt hergestellt wird. Hierdurch
ist es möglich, mittels einer an der Kontaktspitze
10 gegenüberliegenden Ende 11 des Kontaktelements 5
angeschlossenen, nicht dargestellten Prüfeinrich
tung einen Prüfstrom dem Prüfling 6 zuzuführen, um
diesen auf elektrische Funktionsfähigkeit zu prü
fen. Der Einfachheit halber ist in der Figur ledig
lich ein einziges Kontaktelement 5 dargestellt. In
der Praxis liegen diese Kontaktelemente dicht an
dicht, um eine Vielzahl von Kontaktflächen 8
gleichzeitig prüfen zu können. Je nach Prüfling 6
können die Abstände der einzelnen Kontaktflächen
bis minimal 0,05 mm betragen.
Zwischen der - von unten her gesehen - zweiten und
dritten Lagerplatte 2 ist ein Luftspalt 21 der
Dicke e ausgebildet. Der Luftspalt 21 ermöglicht
beim Kontaktieren, daß die unteren beiden Lager
platten 2 - unter Verringerung des Luftspaltes 21 -
durch Beaufschlagung des Prüflings 6 angehoben wer
den. Hierzu sind die beiden unteren Lagerplatten 2
gegenüber den übrigen Lagerplatten 2 verschieblich
mittels nicht näher dargestellter Mittel geführt.
Die unteren beiden Lagerplatten 2 bewirken durch
die Führung des Kontaktelements 5 in ihren Durch
brüchen 3, daß auch bei leichten Querbewegungen des
Prüflings das Kontaktteil 9 nicht mit Querkräften
beaufschlagt wird, die zu Verbiegungen führen könn
ten.
Das Kontaktelement 5 weist im einzelnen folgenden
Aufbau auf. Es besteht aus einer, einen elektri
schen Stromweg 12 bildenden, Leitsonde 13 sowie aus
einer eine Federeinrichtung 14 bildenden Federsonde
15. Leitsonde 13 und Federsonde 15 verlaufen im we
sentlichen parallel zueinander, wobei die Feder
sonde 15 eine geringere Länge als die Leitsonde 13
aufweist. Mithin überragt das Kontaktteil 9 das
entsprechende Ende 16 der Federsonde 15 und auch
das Ende 11 des Kontaktelements 5, das von der
Leitsonde 13 gebildet wird, überragt das zugehörige
Ende 17 der Federsonde 15.
Die Leitsonde 13 besteht aus einem Werkstoff sehr
guter elektrischer Leitfähigkeit, um einen mög
lichst niederohmigen Stromweg zu bilden. Aus der
Figur ist ersichtlich, daß das Kontaktteil 9, das
als Kontaktspitze 10 ausgebildet ist, Teil der
Leitsonde 13 ist, somit aus dem gleichen Material
wie die Leitsonde 13 besteht, das heißt, es liegt
eine einstückige Bauweise vor. Das Ende 16 der Fe
dersonde 15 erstreckt sich nicht bis zur vorderen
Spitze des Kontaktteils 9, sondern hält einen ge
ringen Abstand s ein, wodurch sichergestellt ist,
daß der Berührungskontakt mit dem Prüfling 6 nur
mit der Leitsonde 13 erfolgt. Die Federsonde 15 be
steht aus einem Werkstoff mit sehr guten Federei
genschaften, um die Federeinrichtung 14 bilden zu
können. Es ist möglich, ein Material zu wählen, das
neben den guten mechanischen Federeigenschaften
auch eine hinreichende elektrische Leitfähigkeit
besitzt oder aber einen Nichtleiter darstellt. Eine
eher geringe elektrische Leitfähigkeit liegt vor,
wenn als Werkstoff Federstahl gewählt wird. Wird
Wolfram eingesetzt, so liegen gegenüber Federstahl
bessere elektrische Werte vor. Wird als Material
Glasfaser gewählt, so liegt ein Nichtleiter vor,
der jedoch ausgezeichnete mechanische Federeigen
schaften aufweist.
Leitsonde 13 und Federsonde 15 sind im Bereich ei
ner Verbindung 18 mechanisch miteinander gekoppelt.
Diese Verbindung kann durch Schweißung, Lötung
und/oder durch mechanische Halterung erzeugt sein.
Aus der Figur ist zu entnehmen, daß diese Verbin
dung 18 sich über eine Teillänge t erstreckt, wobei
diese Teillänge t am Ende 16 der Federsonde 15 be
ginnt. Im Anschluß an die Verbindung 18 folgt ein
Abschnitt a des Kontaktelements 5, in dem keine me
chanische Verbindung zwischen der Leitsonde 13 und
der Federsonde 15 besteht. Im Abschnitt a kann - zur
Realisierung der Federeinrichtung 14 - die Feder
sonde 15 seitlich aufgrund der Kontaktierungskraft
zum Prüfling 6 ausweichen, so daß sie - wie der Fi
gur zu entnehmen ist - wellenförmig gestaucht wird.
Die Durchbrüche 3 der einzelnen Lagerplatten 2 sind
hinsichtlich ihrer Querschnittskonfigurationen der
art gestaltet, daß zur Aufnahme der Verbindung 18
sowie des Kontaktteils 9 ein Querschnitt zur Verfü
gung steht, in dem sowohl die Leitsonde 13 als auch
die Federsonde 15 mit geringem seitlichen Spiel
Platz findet. Daran schließt sich ein Bereich an,
der dem bereits genannten Abschnitt a entspricht,
in dem die Durchbrüche 3 eine Querschnittskonfigu
ration besitzen, um sowohl die Leitsonde 13 als
auch die Federsonde 15 aufzunehmen, letztere jedoch
mit einem erheblichen Spiel, das heißt, die Breite
b der für die Aufnahme der Federsonde 15 vorgese
henen Zone ist erheblich größer als die Dicke d der
Federsonde 15. Hierdurch ist es möglich, daß die
Federsonde 15 bei einem Kontaktierungsvorgang wel
lenförmig seitlich ausweichen kann. Im Bereich des
Endes 11 ist mindestens eine Lagerplatte 2 vorgese
hen, die eine Querschnittskonfiguration ihres
Durchbruchs 3 derart aufweist, daß dort die Leit
sonde 13 nur mit plan anliegender Federsonde 15
passieren kann. Hierdurch ist es möglich, beim Be
stücken des Prüfkopfs 1 mit dem Kontaktelement 5
dieses in den entsprechend ausgebildeten Durchbruch
3 der oberen Lagerplatte 2 einzuschieben. Die Fe
dersonde 15 ist derart im Bereich ihres Endes 17
vorgespannt, daß in der Endstellung der Einschubbe
wegung ihre Tendenz besteht, sich von der Leitsonde
13 wegzubiegen. Da der Durchbruch 3 in der oberen
Lagerplatte 2 insofern eine kleinere Querschnitts
konfiguration aufweist als die Durchbrüche 3 der
übrigen Lagerplatten 2, wird an der Unterseite der
oberen Lagerplatte 2 eine Stützfläche 19 ausgebil
dete, an der sich - nach dem Einschubvorgang - das
obere Ende 17 der Federsonde 15 abstützt. Die er
wähnte Vorspannung der Federsonde 15 verhindert,
daß beim Kontaktieren des Prüflings 6 die Feder
sonde 15 in den Durchbruch 3 der oberen Lagerplatte
2 eintritt. Mithin stellt die Stützfläche 19 ein
Widerlager dar, das dafür sorgt, daß das Kontakt
element 5 durch die Federeinrichtung 14 in Richtung
des Pfeiles 20 vorgespannt ist, sobald die Feder
einrichtung 14 Wirkung entfaltet.
Alternativ zu dem in den Querschnittskonfiguratio
nen kleineren Durchbruch 3 der oberen Lagerplatte 2
kann auch vorgesehen sein, daß die obere Lager
platte 2 einen Durchbruch aufweist, der ebenso groß
oder sogar größer ist als die Durchbrüche 3 der üb
rigen Lagerplatten 2, wobei die obere Lagerplatte 2
jedoch quer zur Längserstreckung des Kontaktele
ments 5 verschiebbar gelagert ist. Diese Verschieb
barkeit ist mit dem Doppelpfeil 22 angedeutet. Zum
Bestücken wird der Durchbruch 3 der oberen Lager
platte 2 fluchtend zu den Durchbrüchen 3 der übri
gen Lagerplatten 2 ausgerichtet. Ist das Kontakt
element 5 von oben her in den Prüfkopf 1 einge
setzt, so wird die obere Lagerplatte 2 nach rechts
derart verschoben, daß sich die Stützfläche 19 für
das Ende 17 der Federsonde 15 ausbildet. Zwar wird
durch diese Maßnahme die Leitsonde 13 im Durchbruch
3 der oberen Lagerplatte 2 dann nicht mehr allsei
tig optimal geführt, jedoch ist dieses unerheblich,
da alle übrigen Lagerplatten 2 eine präzise Führung
vornehmen.
Nach einem nicht dargestellten Ausführungsbeispiel
der Erfindung kann auch vorgesehen sein, daß das
Ende 16 der Federsonde 15 die Leitsonde 13 im Be
reich der Kontaktierungszone überragt. In einem
solchen Falle bildet demgemäß die Federsonde 15 die
Kontaktspitze 10. Voraussetzung ist, daß ein Werk
stoff für die Federsonde 15 gewählt wird, der neben
seinen Federeigenschaften auch eine hinreichend
elektrische Leitfähigkeit besitzt.
Es ist jedoch auch möglich, eine Anordnung gemäß
der Figur vorzusehen, das heißt, die Kontaktierung
des Prüflings 6 erfolgt mittels der Leitsonde 13.
Die Leitsonde 13 ist jedoch nicht homogen aus einem
elektrisch sehr gut leitfähigen Material erstellt,
sondern weist im Bereich der Kontaktierungszone ein
weiteres Material auf, das zwar elektrisch leitfä
hig ist, jedoch hinreichende mechanische Abriebfe
stigkeiten besitzt, so daß eine Vielzahl von Kon
taktierungen des Prüflings 6 möglich ist, ohne daß
Abnutzungen auftreten.
Die Querschnittskonfigurationen von Leitsonde 13
und Federsonde 15 sind in ihrer Formgebung dem je
weiligen Einsatzgebiet anzupassen. So ist es bei
spielsweise möglich, eine entsprechend große Längs
ausdehnung aber nur eine kleine Querausdehnung hin
sichtlich des Querschnittes vorzusehen, um geringe
Kontaktabstände realisieren zu können, gleichzeitig
jedoch eine hohe elektrische Stromtragfähigkeit zu
erzielen. Der elektrische Leiter, also die Leit
sonde 13, sollte eine möglichst hohe Strombelast
barkeit aufweisen, so daß die Querschnittskonfigu
ration nur nach diesem Parameter ausgewählt werden
kann. Bevorzugt wird ein rechteckiger Querschnitt
gewählt, das heißt die Leitsonde 13 besteht aus ei
nem Flachband. Entsprechendes gilt bei der Auswahl
der Form der Federkomponente, also der Federsonde
15. Leitfähigkeitsgesichtspunkte müssen nicht be
rücksichtigt werden, so daß man die für eine Feder
günstigste Form, zum Beispiel einen Runddraht wäh
len kann.
Es ist festzuhalten, daß sowohl die Formgebung als
auch die Wahl der Materialien beider Komponenten
nicht auf das Ausführungsbeispiel beschränkt ist.
So können auch andere, hier nicht erwähnte Materia
lien zum Einsatz kommen. Von grundlegender Bedeu
tung ist jedoch, daß das Kontaktelement 5 zwei Kom
ponenten mit unterschiedlichen Materialeigenschaf
ten in sich vereint und auf diese Art und Weise
ideal die gestellten Anforderungen erfüllt.
Claims (8)
1. Kontaktelement für den elektrischen
Berührungskontakt eines Prüflings, das zwei
verschiedene Werkstoffe aufweist, von denen der
eine eine hohe elektrische Leitfähigkeit besitzt
und den Stromweg (12) durch das Kontaktelement (5)
bildet und von denen der andere aufgrund seiner
guten mechanischen Federeigenschaften eine der
Kontaktierungskraft entgegenwirkende Feder
einrichtung (14) bildet, wobei ein den Stromweg
(12) bildendes Teil (13) und ein die
Federeinrichtung (14) bildendes Teil (15) an
mindestens einer Stelle eine Verbindung (18)
miteinander aufweisen, dadurch gekennzeichnet, daß
im Anschluß an die Verbindung (18) das die
Federeinrichtung (14) bildende Teil (15) quer zur
Längserstreckung aufgrund von seitlicher
Durchbiegung ausfedern kann.
2. Kontaktelement nach Anspruch 1, dadurch gekenn
zeichnet, daß die Verbindung (18) durch Schweißung,
Lötung, Klebung und/oder mechanische Halterung ge
bildet ist.
3. Kontaktelement nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein nicht der
Verbindung (18) angehörender Bereich (Abschnitt a)
des Teils (15) die Federeinrichtung (14) bildet.
4. Kontaktelement nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß ein Ende des
den Stromweg (12) bildenden Teils (13) ein
Kontaktteil (9), insbesondere eine Kontaktspitze
(10), zur Durchführung des Berührungskontakts
bildet.
5. Kontaktelement nach einem der Ansprüche 1 bis 3,
dadurch gekennzeichnet, daß an einem Ende des den
Stromweg (12) bildenden Teils (13) ein separates
Kontaktteil (9) aus einem elektrisch leitfähigen,
mechanisch widerstandsfähigen Material elektrisch
leitend befestigt ist.
6. Kontaktelement nach einem der vorhergehenden An
sprüche, dadurch gekennzeichnet, daß der die
Federeinrichtung (14) bildende Teil (15) elektrisch
leitfähig ist, ein Kontaktteil (9) bildet und mit
dem Stromweg (12) elektrisch leitend verbunden ist.
7. Kontaktelement nach einem der Ansprüche 4 bis 6,
dadurch gekennzeichnet, daß in einem an das Kon
taktteil (9) anschließenden Bereich die Verbindung
(18) zwischen dem den Stromweg (12) bildenden Teil
und dem die Federeinrichtung (14) bildenden Teil
über eine Teillänge (t) der Länge der des die
Federeinrichtung (14) bildenden Teils (15)
ausgebildet ist.
8. Kontaktelement nach einem der vorhergehenden
Ansprüche, gekennzeichnet durch die Anordnung in
einem Aufnahmeschacht (4) eines Isolierkörpers, wo
bei im Bereich der Verbindung (18) der Aufnahme
schacht (4) eine Querschnittskonfiguration auf
weist, die sowohl das den Stromweg (12) bildende
Teil (13) als auch das die Federeinrichtung (14)
bildende Teil (15) mit geringem Spiel aufnimmt und
im anschließenden Bereich (Abschnitt a) eine Quer
schnittskonfiguration aufweist, die das den
Stromweg (12) bildende Teil (13) und das die
Federeinrichtung (14) bildende Teil (15), letzteres
mit seitlichem Auslenkspiel, aufnimmt sowie in
diesem anschließenden Bereich eine Stützfläche (19)
für eine Abstützung des entsprechenden Endes des
die Federeinrichtung (14) bildenden Teils (15)
aufweist.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998121128 DE19821128C1 (de) | 1998-05-12 | 1998-05-12 | Kontaktelement |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE1998121128 DE19821128C1 (de) | 1998-05-12 | 1998-05-12 | Kontaktelement |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19821128C1 true DE19821128C1 (de) | 1999-09-09 |
Family
ID=7867453
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE1998121128 Expired - Fee Related DE19821128C1 (de) | 1998-05-12 | 1998-05-12 | Kontaktelement |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
DE (1) | DE19821128C1 (de) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE19932849A1 (de) * | 1999-07-14 | 2001-02-08 | Herbert Amrhein | Kontaktiereinrichtung zum Herstellen einer elektrisch leitfähigen Verbindung |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE7637762U1 (de) * | 1976-12-02 | 1977-03-24 | Licentia Patent-Verwaltungs-Gmbh, 6000 Frankfurt | Meßspitzenhalter für ein elektrisches Meßinstrument |
DE9004562U1 (de) * | 1989-04-26 | 1990-07-19 | atg electronic GmbH i.K., 97877 Wertheim | Prüfvorrichtung zum Prüfen von elektrischen oder elektronischen Prüflingen |
-
1998
- 1998-05-12 DE DE1998121128 patent/DE19821128C1/de not_active Expired - Fee Related
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DE19932849C2 (de) * | 1999-07-14 | 2003-07-03 | Herbert Amrhein | Kontaktiereinrichtung zum Herstellen einer elektrisch leitfähigen Verbindung |
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Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
8100 | Publication of the examined application without publication of unexamined application | ||
D1 | Grant (no unexamined application published) patent law 81 | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |