DE19648768C2 - Optisches Plattenlaufwerk - Google Patents
Optisches PlattenlaufwerkInfo
- Publication number
- DE19648768C2 DE19648768C2 DE19648768A DE19648768A DE19648768C2 DE 19648768 C2 DE19648768 C2 DE 19648768C2 DE 19648768 A DE19648768 A DE 19648768A DE 19648768 A DE19648768 A DE 19648768A DE 19648768 C2 DE19648768 C2 DE 19648768C2
- Authority
- DE
- Germany
- Prior art keywords
- signal
- optical disk
- substrate
- disk drive
- recording layer
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired - Fee Related
Links
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0945—Methods for initialising servos, start-up sequences
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B19/00—Driving, starting, stopping record carriers not specifically of filamentary or web form, or of supports therefor; Control thereof; Control of operating function ; Driving both disc and head
- G11B19/02—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing
- G11B19/12—Control of operating function, e.g. switching from recording to reproducing by sensing distinguishing features of or on records, e.g. diameter end mark
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0908—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following for focusing only
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B7/08—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers
- G11B7/09—Disposition or mounting of heads or light sources relatively to record carriers with provision for moving the light beam or focus plane for the purpose of maintaining alignment of the light beam relative to the record carrier during transducing operation, e.g. to compensate for surface irregularities of the latter or for track following
- G11B7/0941—Methods and circuits for servo gain or phase compensation during operation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
- G11B7/00—Recording or reproducing by optical means, e.g. recording using a thermal beam of optical radiation by modifying optical properties or the physical structure, reproducing using an optical beam at lower power by sensing optical properties; Record carriers therefor
- G11B2007/0003—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier
- G11B2007/0006—Recording, reproducing or erasing systems characterised by the structure or type of the carrier adapted for scanning different types of carrier, e.g. CD & DVD
Landscapes
- Optical Recording Or Reproduction (AREA)
- Moving Of The Head For Recording And Reproducing By Optical Means (AREA)
- Optical Head (AREA)
Description
Die Erfindung betrifft ein optisches Plattenlaufwerk nach dem Oberbegriff
des Patentanspruchs 1 bzw. 8 bzw. 13 bzw. 22.
Optische Platten werden als Informationsaufzeichnungsträger großer Kapazität
verwendet. Die üblichste im Handel befindliche optische Platte besteht aus ei
nem 1,2 mm dicken Substrat und einer einzelnen Aufzeichnungsschicht auf
einer Oberfläche des Substrats. Ein optisches Plattenlaufwerk zum Abspielen
aufgezeichneter Information von einer optischen Platte umfasst einen Halb
leiterlaser zum Emittieren eines Laserstrahls sowie einen optischen Aufneh
mer mit einer Objektivlinse zum Konvergieren des Laserstrahls auf die Aufzeichnungsschicht
der optischen Platte. Information wird da
durch abgespielt, dass der vom Halbleiterlaser emittierte
Laserstrahl durch die Objektivlinse hindurch auf die Auf
zeichnungsschicht emittiert wird und das an der Aufzeich
nungsschicht reflektierte Licht gelesen wird.
Durch eine Verringerung der Spurganghöhe kann die Kapazität
einer optischen Platte wirkungsvoll erhöht werden, jedoch
muss zum Abspielen von Information von einer optischen Plat
te mit derartig verringerter Spurganghöhe der Laserfleck
verkleinert werden, und es muss auch die Wellenlänge des als
Lichtquelle im optischen Plattenlaufwerk verwendeten Halb
leiterlasers verkürzt werden, oder es muss die numerische
Apertur der Objektivlinse erhöht werden. Jedoch ist es in
keiner Weise einfach, die numerische Apertur zu erhöhen, da
die durch eine Schrägstellung einer optischen Platte erzeug
te Abberation direkt proportional zur Potenz der numerischen
Apertur ansteigt.
Um das obige Problem zu überwinden, wurde eine optische
Platte mit einem 0,6 mm dicken Substrat vorgeschlagen. Da
eine Verringerung der Dicke des Substrats eine größere Nei
gungstoleranz der optischen Platte ermöglicht, ist es mög
lich, die numerische Apertur zu erhöhen.
Alternativ wurde eine optische Platte mit mehr als einer
Aufzeichnungsschicht vorgeschlagen, um die Kapazität der
Platte zu erhöhen. Hierbei wird Information von der mehr als
einen Aufzeichnungsschicht mittels einer Fokusregelung abge
spielt, d. h. durch Einstrahlen eines Laserstrahls auf die
optische Platte mit mehr als einer Aufzeichnungsschicht und
durch Verschieben des Brennpunkts von einer Aufzeichnungs
schicht zur nächsten. Eine optische Platte mit zwei Auf
zeichnungsschichten (Doppelaufzeichnungsschicht) wurde als
besonders bevorzugtes Beispiel vorgeschlagen.
So verfügen typische optische Platten über ein Substrat mit
einer Dicke von entweder 1,2 mm oder 0,6 mm sowie über eine
Einzel- oder eine Doppelaufzeichnungsschicht.
Unter diesen Umständen ist es wichtig, optische Plattenlauf
werke kompatibel auszubilden, damit es Information von opti
schen Platten von Substraten mit verschiedenen Dicken und
verschiedenen Anzahlen von Aufzeichnungsschichten abspielen
kann. Demgemäß wurden verschiedene Techniken zum Herstellen
kompatibler optischer Plattenlaufwerke offenbart.
Z. B. offenbart das Dokument JP-A-7-65409 (1995) eine Tech
nik zum Korrigieren der durch eine Differenz der Substratdi
cken erzeugten Abberation, und das Dokument JP-A-5-54396
(1993) offenbart eine Technik zum Ausführen einer Fokusrege
lung auf einer Zielaufzeichnungsschicht.
Gemäß der im Dokument JP-A-7-65409 (1995) offenbarten Abbe
rationskorrekturtechnik wird zunächst die Dicke des Sub
strats der eingesetzten optischen Platte beurteilt. Wenn die
optische Platte dick ist, wird eine Konvexlinse zwischen
einer für ein 0,6 mm dickes Substrat konzipierten Objektiv
linse und dem Halbleiterlaser angeordnet, wohingegen dann,
wenn die optische Platte dünn ist, eine Konkavlinse zwischen
der obigen Objektivlinse und dem Halbleiterlaser angeordnet
wird. Demgemäß wird Information von einer optischen Platte
abgespielt, ohne dass sphärische Abberation verursacht wird,
und zwar unabhängig von der Dicke des Substrats.
Bei der obigen Abberationskorrekturtechnik wird die Tatsa
che, ob die eingesetzte optische Platte ein Substrat mit
einer Dicke von 1,2 mm oder 0,6 mm aufweist, als erstes be
urteilt, z. B. mittels der im Dokument JP-A-7-65409 (1995)
offenbarten Abberationskorrekturtechnik. Hierbei wird Information
in Form eines Strichcodes oder eingestanzter Löcher,
die den Typ kennzeichnen, an einer Kassette angebracht, in
der die optische Platte enthalten ist, und die optische
Platte wird durch Lesen der hinzurgefügten Information iden
tifiziert.
Auch offenbart das Dokument JP-A-4-162217 (1992) eine rele
vante Technik, bei der eine optische Platte Information zum
Kennzeichnen ihres Typs in einem speziellen Abschnitt im In
formationsbereich speichert und die Kennungsinformation
durch den optischen Aufnehmer gelesen wird.
Außerdem ist im Dokument JP-A-5-54396 (1993) eine Technik
zum Überprüfen der Anzahl von Aufzeichnungsschichten offen
bart. Gemäß dieser Technik wird die Objektivlinse in der
Dickenrichtung der optischen Platte verstellt. Da sich das
Fokusabweichungssignal ändert, wenn der vom Halbleiterlaser
emittierte Laserstrahl auf das Substrat bzw. eine Aufzeich
nungsschicht der optischen Platte konvergiert wird, wird
eine derartige Änderung erfasst und in Form von Impulsen ge
zählt, um zu überprüfen, ob die Aufzeichnungsschicht eine
einzelne ist oder ob zwei vorliegen.
Jedoch kann im Fall einer optischen Platte, die keine Kas
sette verwendet, die obige Technik des Hinzufügens von Ken
nungsinformation an der Kassette nicht verwendet werden.
Darüber hinaus muss zum Lesen von zur Kassette hinzugefügter
Kennungsinformation das optische Plattenlaufwerk außer dem
optischen Aufnehmer einen Lesemechanismus wie einen Refle
xionssensor aufweisen. Ferner muss beim Herstellprozess der
Schritt des Hinzufügens von Kennungsinformation zur Kassette
zusätzlich verwendet werden.
Die relevante Technik zum Aufzeichnen von Kennungsinforma
tion in einem speziellen Informationsbereich ist nicht praxisgerecht,
da die Dicke des Substrats erst dann überprüft
werden kann, wenn die aufgezeichnete Information von der op
tischen Platte abgespielt wird. Genauer gesagt, muss der Typ
(z. B. die Dicke des Substrats) einer optischen Platte er
kannt werden, um die Abberation korrigieren zu können, wie
sie durch Dickendifferenzen von Substraten erzeugt wird, da
mit dann die aufgezeichnete Information von der Platte abge
spielt werden kann. Wie jedoch angegeben, kann der Typ erst
erkannt werden, nachdem aufgezeichnete Information abge
spielt wurde.
Auch ist eine Technik, die die Anzahl von Aufzeichnungs
schichten durch Zählen der Anzahl der Impulse des Fokusab
weichungssignals überprüft, nur dann wirksam, wenn der Zwi
schenraum zwischen den Aufzeichnungsschichten ausreichend
groß in bezug auf den dynamischen Bereich des Fokusabwei
chungssignals ist. Wie es in Fig. 9 dargestellt ist, inter
ferieren, wenn der Zwischenraum zwischen den Aufzeichnungs
schichten höchstens einige 10 Mikrometer beträgt, das von
der ersten Aufzeichnungsschicht alleine erzeugte Fokusabwei
chungssignal FES1 und das von der zweiten Aufzeichnungs
schicht alleine erzeugte Fokusabweichungssignal FES2 mitein
ander, wodurch ein durch eine durchgezogene Linie darge
stelltes Fokusabweichungssignal FES' gebildet wird.
So wird ein Komparator durch Vergleichen des obigen Fokusab
weichungssignals FES' mit einer Schwellenspannung Vref'
nicht dazu in die Lage versetzt, ein digitales Signal CPout'
auszugeben, das einem Impulssignal entspricht, das eine ge
naue Anzahl von Aufzeichnungsschichten repräsentiert. Wenn
die Schwellenspannung Vref' erniedrigt wird, um eine Ände
rung des Fokusabweichungssignals FES' zu erfassen, wie sie
von der zweiten Aufzeichnungsschicht herrührt, tritt durch
Störsignale verursache falsche Erkennung auf, was es unmög
lich macht, die Anzahl der Aufzeichnungsschichten auf zuverlässige
Weise zu erkennen.
In der DE 30 48 708 A1 ist ein Servosteuersystem für optisches Lesen und Auf
zeichnen beschrieben, bei dem ein konvergierendes Lichtbündel auf eine Auf
zeichnungsscheibe fokussierbar ist. Hierzu werden Änderungen eines Fokus
fehlersignales dann erfasst, wenn ein Lichtstrahl auf eine Datenschicht bzw.
die Oberfläche eines Substrates eines optischen Platte gerichtet ist. Dieses be
kannte Servosteuersystem sieht aber keine Möglichkeiten vor, die Dicke des
Substrates einer solchen optischen Platte unter Ausnutzung der Änderung ei
nes Fokusfehlersignales zu bestimmen.
Weiterhin beschäftigen sich die US 4,475,182 mit einem Fokusservosteuersy
stem zum automatischen Einstellen eines Relativabstandes zwischen einer Ob
jektivlinse und einer Aufzeichnungsfläche eines optischen Aufzeichnungsmedi
ums, die US 5,090,003 mit einem Verfahren und einem Gerät zum Einstellen
der Zielposition beim Fokussieren eines Lichtstrahles und die EP 0 658 887 mit
einem optischen Speichermedium. In keiner dieser Druckschriften wird auf
Probleme eingegangen, die es erforderlich machen, die Dicke des Substrates ei
ner optischen Platte auf zuverlässige Weise beurteilen zu können.
Daher ist es Aufgabe der Erfindung, ein optisches Plattenlaufwerk zu schaffen,
das auf zuverlässige Weise die Dicke eines Substrats der optischen Platte
festzustellen vermag.
Diese Aufgabe wird erfindungsgemäß durch eine optische Platte mit den Merk
malen des Patentanspruchs 1 bzw. 8 bzw. 13 bzw. 22 gelöst.
Vorteilhafte Weiterbildungen der Erfindung ergeben sich aus den Unteransprü
chen.
Die Lichtkonvergiereinrichtung wird auf solche Weise durch die Verstellein
richtung verstellt, dass der Brennpunkt des Laserstrahls in der Dickenrich
tung der optischen Platte verstellt wird, um den Brennpunkt auf die Aufzeich
nungsschicht zu bringen. Das optische Plattenlaufwerk wird auf solche Weise
ausgebildet, dass der Brennpunkt in einen Bereich läuft, der sowohl die Auf
zeichnungsschicht als auch die Oberfläche des Substrats überdeckt.
Läuft der Brennpunkt über die Oberfläche des Substrats und dann über die
der Aufzeichnungsschicht oder umgekehrt, ändert sich die vom optischen Auf
nehmer erfasste Signalwelle, wenn der Brennpunkt des Laserstrahls verstellt
wird. Die Erfassungseinrichtung erfasst das Intervall dieser Änderung. Da sich
das Intervall abhängig von der Dicke des Substrats ändert, kann der Beurtei
lungsabschnitt die Dicke des Substrats auf Grundlage des so erfassten Inter
valls beurteilen.
Daher kann das erfindungsgemäße optische Plattenlaufwerk, abweichend
vom herkömmlichen optischen Plattenlaufwerk, die Dicke des Substrats unter
alleiniger Verwendung des optischen Aufnehmers, also unter Weglassen an
derer Lesemechanismen,
wie eines Reflexionssensors, und ohne Hinzufügen von Information mit
Daten zur Dicke des Substrats oder dergleichen zur optischen Platte oder de
ren Kassette auf zuverlässige Weise beurteilen. Außerdem kann das erfin
dungsgemäße optische Plattenlaufwerk die Dicke des Substrats beurteilen, be
vor auf der optischen Platte aufgezeichnete Information von dieser abgespielt
wird.
Demgemäß korrigiert das erfindungsgemäße optische Plattenlaufwerk Abbera
tionseffekte, wie sie durch eine Differenz der Substratdicken erzeugt wird,
und zwar auf Grundlage des obigen Beurteilungsergebnisses, was es ermög
licht, Information von optischen Platten mit Substraten verschiedener Dicken
abzuspielen.
Das Plattenlaufwerk nach Patentanspruch 22 ermöglicht es, die Anzahl der
auf einer optischen Platte vorhandenen Aufzeichnungsschichten zu erken
nen, indem die von einem Halbleiterlaser emittierte Lichtmenge mittels eines
Photodetektors ausgewertet wird.
Bei diesem Plattenlaufwerk wird die Lichtkonvergiereinrichtung auf solche
Weise durch die Verstelleinrichtung eingestellt, dass der Brennpunkt des La
serstrahls entlang der Dickenrichtung der optischen Platte verschoben wird,
um den Brennpunkt auf die Aufzeichnungsschicht zu bringen. Das optische
Plattenlaufwerk ist vorzugsweise auf solche Weise ausgebildet, dass der
Brennpunkt in einen Bereich läuft, der sowohl die Substratfläche als auch die
mindestens eine Aufzeichnungsschicht überdeckt.
Wenn der Brennpunkt des Laserstrahls die Aufzeichnungs
schicht erreicht, steigt der Pegel des Ausgangssignals des
Photodetektors an, da Licht zum Halbleiterlaser zurückge
führt wird. Die Erfassungseinrichtung erfasst das Ansteigen
einer Signalverlaufsform auf das Pegelansteigen hin. Da der
Signalverlauf abrupt ansteigt, zeigen Änderungen des Signal
verlaufs keine Wechselwirkung, und zwar selbst dann, wenn
der Abstand zwischen den Aufzeichnungsschichten klein ist.
Auch kann, da die Anzahl der Anstiege in den Signalverläufen
abhängig von der Anzahl der Aufzeichnungsschichten variiert,
die Beurteilungseinrichtung die Anzahl der Aufzeichnungs
schichten auf zuverlässige Weise beurteilen.
Demgemäß kann das optische Plattenlaufwerk dieser Variante
Information von optischen Platten mit verschiedenen Anzahlen
optischer Aufzeichnungsschichten dadurch abspielen, dass mit
der Fokusregelung auf der Zielaufzeichnungsschicht begonnen
wird oder die Schaltkreisverstärkung abhängig von der Anzahl
der Aufzeichnungsschichten, auf Grundlage des obigen Beur
teilungsergebnisses, umgeschaltet wird.
Für ein vollständigeres Verständnis der Art und der Vorteile
der Erfindung ist auf die folgende detaillierte Beschreibung
in Verbindung mit den beigefügten Zeichnungen Bezug zu neh
men.
Fig. 1 ist eine Ansicht, die den Aufbau eines optischen
Plattenlaufwerks gemäß einem Ausführungsbeispiel 1 der Er
findung zeigt;
Fig. 2(a) ist eine Ansicht zum Erläutern von Fokussierposi
tionen eines Laserstrahls;
Fig. 2(b) ist eine Ansicht, die den Signalverlauf des Aus
gangssignals eines D/A-Umsetzers unter Bezugnahme auf Fig.
2(a) veranschaulicht;
Fig. 2(c) ist eine Ansicht, die den Signalverlauf eines Fo
kusabweichungssignals unter Bezugnahme auf Fig. 2(a) veran
schaulicht;
Fig. 2(d) ist eine Ansicht, die den Signalverlauf des Aus
gangssignals eines Komparators unter Bezugnahme auf Fig.
2(a) veranschaulicht;
Fig. 3 ist ein Flussdiagramm, das detailliert den Zeitmess
betrieb durch eine MPU beim obigen optischen Plattenlaufwerk
zeigt;
Fig. 4 ist ein Flussdiagramm, das detailliert den Pegeler
kennungsbetrieb einer MPU in einem optischen Plattenlaufwerk
gemäß dem Ausführungsbeispiel 2 der Erfindung zeigt;
Fig. 5 ist eine Ansicht, die den Aufbau eines optischen
Plattenlaufwerks gemäß dem Ausführungsbeispiel 3 der Erfin
dung zeigt;
Fig. 6 ist eine Ansicht, die Signalverläufe eines Fokusab
weichungssignals, eines Laserleistungs-Erkennungssignals und
des Ausgangssignals eines Komparators beim obigen optischen
Plattenlaufwerk zeigt;
Fig. 7(a) ist eine Ansicht, die Signalverläufe eines Laser
leistungs-Erkennungssignals und des Ausgangssignals eines
Komparators für den Fall zeigt, dass eine optische Platte
mit einer einzelnen Aufzeichnungsschicht in ein optisches
Plattenlaufwerk gemäß dem Ausführungsbeispiel 4 der Erfin
dung eingesetzt ist;
Fig. 7(b) ist eine Ansicht, die Signalverläufe des Laserleistungs-Erkennungssignals
und des Ausgangssignals des Kom
parators zeigt, wenn eine optische Platte mit Doppelauf
zeichnungsschicht in das obige optische Plattenlaufwerk ein
gesetzt ist;
Fig. 8 ist ein Flussdiagramm, das detailliert einen Vorgang
zum Erkennen der Anzahl von Aufzeichnungsschichten durch
eine MPU beim obigen optischen Plattenlaufwerk zeigt; und
Fig. 9 ist eine Ansicht, die Signalverläufe eines Fokusab
weichungssignals und des Ausgangssignals eines Komparators
zeigt, wenn eine optische Platte mit Doppelaufzeichnungs
schicht in ein herkömmliches optisches Plattenlaufwerk ein
gesetzt ist.
Die folgende Beschreibung erläutert das Ausführungsbeispiel
1 der Erfindung.
Wie es in Fig. 1 dargestellt ist, umfasst das optische Plat
tenlaufwerk dieses Ausführungsbeispiel einen optischen Auf
nehmer 1 zum Aufzeichnen/Abspielen von Information auf/von
einer optischen Platte 20 durch Aufstrahlen eines Laser
strahls P auf dieselbe.
Der optische Aufnehmer 1 umfasst einen Halbleiterlaser 2 zum
Emittieren des Laserstrahls P, eine Kollimatorlinse 3 zum
Konvertieren des Laserstrahls P vom Halbleiterlaser 2 zu
parallelen Strahlen, einen Strahlteiler 4, der die paralle
len Strahlen hindurchlassen kann, und eine Objektivlinse 5,
die als Lichtkonvergiereinrichtung zum Konvergieren der par
allelen Strahlen als Laserfleck auf die optische Platte 20
dient.
Der optische Aufnehmer 1 umfasst ein optisches System zur
Regelungssignalerfassung zum Ausführen von Fokusregelung,
und es umfasst den Strahlteiler 4 zum Reflektieren eines an
der optischen Platte 20 reflektierten Strahls P' zu einer
zweiteiligen Photodiode 8, die weiter unten beschrieben
wird, eine Konvergenzlinse 6 zum Konvergieren des reflek
tierten Lichts P', eine Zylinderlinse 7 zum Erzeugen von
Abberation im reflektierten Licht P', die zweiteilige Photo
diode (Photodetektor zur Regelungssignalerfassung) 8 sowie
einen Differenzverstärker 9 zum Erzeugen eines Fokusabwei
chungssignals FES, durch Subtrahieren der Signale der zwei
teiligen Photodiode 8 voneinander. Es ist zu beachten, dass
der Differenzverstärker 9 beim vorliegenden Ausführungsbei
spiel im optischen Aufnehmer 1 angebracht ist; jedoch kann
er außerhalb des optischen Aufnehmers 1 liegen.
Das vorliegende optische Plattenlaufwerk umfasst ferner eine
Phasenkompensationsschaltung 12, die als Phasenkompensati
onseinrichtung zum Kompensieren der Phase des Fokusabwei
chungssignals FES dient, und einen Leistungsverstärker 14.
Ein Fokussierstellglied 10, das als Antriebseinrichtung
dient, ist mit dem Leistungsverstärker 14 verbunden, um die
Objektivlinse 5 so zu regeln, dass der Brennpunkt Z des
durch diese Objektivlinse 5 emittierten Laserstrahls P auf
einer Aufzeichnungsschicht 22 der optischen Platte 20 liegt.
Kurz gesagt, wird Fokusregelung dadurch ausgeführt, dass das
Fokusabweichungssignal FES durch die Phasenkompensations
schaltung 12 und den Leistungsverstärker 14 an das Fokus
sierstellglied 10 zurückgekoppelt wird.
Bevor die Fokusregelung gestartet wird, wird eine Fokussuche
dadurch ausgeführt, dass die Objektivlinse 5 so verstellt
wird, dass der Brennpunkt Z des Laserstrahls P auf die Auf
zeichnungsschicht 22 geführt wird. Dies, da der Dynamikbe
reich des Fokusabweichungssignals FES den kleinen Wert von
einigen zehn Mikrometern hat, weswegen die Objektivlinse 5
zwangsweise so verstellt werden muss, dass die Aufzeich
nungsschicht 22 innerhalb der Brenntiefe der Objektivlinse 5
liegt. Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel wird die Dicke
eines Substrats 21 der optischen Platte 20 unter Verwendung
dieser Fokussuche überprüft.
Daher umfasst das optische Plattenlaufwerk zum Ausführen der
Fokussuche ferner eine Schaltstufe 13, die als Schaltein
richtung dient, einen D/A(Digital/Analog)-Umsetzer 15, der
als D/A-Umsetzeinrichtung dient, eine MPU (Mikroprozessor)
16, die als Steuerung dient, und einen Komparator 17, der
als Vergleichseinrichtung dient, zusätzlich zum Leistungs
verstärker 14 und zum Fokussierstellglied 10.
Die Schaltstufe 13 ist ein Umschalter zum Verbinden des
Leistungsverstärker 14 entweder mit der Phasenkompensations
schaltung 12 oder dem D/A-Umsetzer 15. Genauer gesagt, ist
der Anschluss B der Schaltstufe 13 mit der Phasenkompensa
tionsschaltung 12 verbunden, während der Anschluss A dersel
ben mit dem D/A-Umsetzer 15 verbunden ist. Diese Schaltstufe
13 wird während der Fokussuche mit dem Anschluss A verbun
den, und Fokusregelung wird gestartet, wenn der Verbindungs
punkt der Schaltstufe 13 auf ein Steuersignal Fon von einer
nicht dargestellten Fokuseinfang-Steuerschaltung vom An
schluss A auf den Anschluss B umgeschaltet wird.
Der D/A-Umsetzer 15 gibt auf Grundlage eines digitalen Ein
gangssignals Din, das als Verstellsignal dient und von der
MPU 16 erzeugt wird, ein analoges Ausgangssignal DAout aus.
Die MPU 16 stellt den Wert für das Ausgangssignal DAout ein.
Genauer gesagt, wird der minimale Ausgangswert DAmin des
Ausgangssignals DAout auf einen solchen Wert eingestellt,
durch den der Brennpunkt Z des durch die Objektivlinse 5
emittierten Laserstrahls P unter der optischen Platte 20 po
sitioniert wird. Andererseits ist der maximale Ausgangswert
DAmax des Ausgangssignals DAout auf einen Wert eingestellt,
der verhindert, dass die Objektivlinse 5 und die optische
Platte 20 einander berühren.
Die MPU 16 misst auch das Zeitintervall zwischen Änderungen
im Signalverlauf des vom Komparator 17 ausgegebenen digita
len Signals CPout, wenn der Brennpunkt Z des durch die Ob
jektivlinse 5 hindurchgestrahlten Laserstrahls P über die
Oberfläche des Substrats 21 (nachfolgend als Substratfläche
21s bezeichnet) der optischen Platte 20 bzw. die Aufzeich
nungsschicht 22 läuft.
Der positive Anschluss des Komparators 17 empfängt das vom
Differenzverstärker 9 ausgegebene Fokusabweichungssignal
FES, während dem negativen Anschluss desselben eine Schwel
lenspannung Vref auferlegt wird, die hier als Bezugsspannung
verwendet wird. Dann vergleicht der Komparator 17 die
Schwellenspannung Vref während der Fokussuche mit dem Fokus
abweichungssignal FES, und er erkennt eine Änderung des Si
gnalverlaufs im Fokusabweichungssignal FES als digitales Si
gnal CPout, um das Erkennungsergebnis an die MPU 16 auszuge
ben. Dieses digitale Signal CPout wechselt auf den hohen Pe
gel (nachfolgend als Pegel H bezeichnet), wenn das Fokusab
weichungssignal FES größer als die Schwellenspannung Vref
ist, und es wechselt andererseits auf den niedrigen Pegel
(nachfolgend als Pegel L bezeichnet).
Es ist zu beachten, dass in den Ansprüchen 1, 10, 15 und 24
die Verstelleinrichtung aus dem Fokussierstellglied 10, der
Schaltstufe 13, dem Leistungsverstärker 14, dem D/A-Umsetzer
15 und der als Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung dienen
den MPU 16 besteht; dass die Erfassungseinrichtung aus der
zweiteiligen Photodiode 8 und dem Differenzverstärker 9 besteht
und dass die Beurteilungseinrichtung der MPU 16 ent
spricht.
Gemäß der obigen Anordnung ändert die MPU 16 das Ausgangs
signal DAout vom D/A-Umsetzer 15 allmählich, und sie ver
stellt die Objektivlinse 5 mittels der Schaltstufe 13, des
Leistungsverstärkers 14 und des Fokussierstellglieds 10, um
die Fokussuche auszuführen.
Die Fokussuche ist in den Fig. 2(a) bis 2(d) veranschau
licht, in denen auf der Abszisse die Zeit aufgetragen ist.
Fig. 2(a) veranschaulicht die Positionen der Objektivlinse 5
und der optischen Platte 20 in bezug zueinander, und Fig.
2(b) veranschaulicht den Signalverlauf des Ausgangssignals
DAout des D/A-Umsetzers 15. Fig. 2(c) veranschaulicht den
Signalverlauf des Fokusabweichungssignals FES, und Fig. 2(d)
veranschaulicht den Signalverlauf des vom Komparator 17 aus
gegebenen digitalen Signals CPout. In diesen Zeichnungen ist
die Aufzeichnungsschicht 22 durch Aufzeichnungsschichten 22a
und 22b gekennzeichnet, wenn das Substrat 21 1,2 mm bzw.
0,6 mm dick ist.
Zunächst wird der Fall beschrieben, dass das Substrat 21 die
Dicke La = 1,2 mm aufweist.
Es sei angenommen, dass die Fokussuche zu einem Zeitpunkt t1
startet; dann wird vom D/A-Umsetzer 15 das Ausgangssignal
DAout der minimale Ausgangswert DAmin ausgegeben. Der Si
gnalverlauf des Fokusabweichungssignals FES ändert sich an
diesem Punkt nicht, da es außerhalb des Dynamikbereichs
liegt.
Das Ausgangssignal DAout wird durch die MPU 16 allmählich
erhöht, und der Brennpunkt Z des Laserstrahls P erreicht zu
einem Zeitpunkt t2 die Substratfläche 21s. Im Fokusabweichungssignal
FES erscheint auf Grundlage des von der Sub
stratfläche 21s reflektierten Lichts ein S-förmiger Signal
verlauf, der an der Fokussierposition 0 V zeigt. Wenn das
Fokusabweichungssignal FES die Schwellenspannung Vref über
steigt, wird ein Impuls des vom Komparator 17 ausgegebenen
digitalen Signals CPout erfasst.
Zu einem Zeitpunkt t3 ändert sich der Signalverlauf des Fo
kusabweichungssignals FES nicht, da der Brennpunkt Z inner
halb des Substrats 21 liegt.
Zu einem Zeitpunkt t4 erreicht der Brennpunkt Z die Auf
zeichnungsschicht 22a. Im Fokusabweichungssignal FES er
scheint auf Grundlage des an der Aufzeichnungsschicht 22a
reflektierten Lichts ein S-förmiger Signalverlauf mit der
Spannung 0 V an der Fokussierposition. Da an der, Aufzeich
nungsschicht 22a eine größere Lichtmenge als an der Sub
stratfläche 21s reflektiert wird, ist die Spitzenspannung
der Änderung des Signalverlaufs des Fokusabweichungssignals
FES zum Zeitpunkt t4 höher als die Spitzenspannung des Fo
kusabweichungssignals FES zum Zeitpunkt t2. Zum Zeitpunkt t2
wird, wenn das Fokusabweichungssignal FES die Schwellenspan
nung Vref übersteigt, ein Impuls des vom Komparator 17 aus
gegebenen digitalen Signals CPout erfasst.
Zu einem Zeitpunkt t5 wird der Laserstrahl P an einem nicht
veranschaulichten Reflexionsfilm reflektiert, der auf der
anderen Seite des Substrats 21 als die Aufzeichnungsschicht
22a angeordnet ist. Da der Brennpunkt Z des reflektierten
Lichts zu diesem Zeitpunkt innerhalb des Substrats 21 liegt,
ändert sich der Signalverlauf des Fokusabweichungssignals
FES nicht.
Anschließend wird das Ausgangssignal DAout bis auf den maxi
malen Ausgangswert DAmax erhöht, um die Fokussuche zu beenden.
Nachfolgend wird der Fall beschrieben, dass das Substrat 21
die Dicke Lb = 0,6 mm aufweist.
Zum Zeitpunkt t1 ändert sich der Signalverlauf des Fokusab
weichungssignals FES aus demselben Grund nicht, wie er für
den obigen Fall (La = 1,2 mm) erläutert wurde. Auch er
scheint zum Zeitpunkt t2 im Fokusabweichungssignals FES auf
Grundlage des an der Substratfläche 21s reflektierten Lichts
auf dieselbe Weise wie oben (La = 1,2 mm) ein S-förmiger
Signalverlauf. Zum Zeitpunkt t3 liegt, da das Substrat 21
die Dicke Lb = 0,6 mm aufweist, die Aufzeichnungsschicht 22b
in der Fokussierposition, wie es durch gestrichelte Linien
in Fig. 2(a) gekennzeichnet ist. Demgemäß erscheint an die
sem Punkt im Fokusabweichungssignal FES ein S-förmiger Si
gnalverlauf, wie es durch die gestrichelte Linie in Fig.
2(c) gekennzeichnet ist. Wenn das Fokusabweichungssignal FES
die Schwellenspannung Vref übersteigt, wird ein Impuls des
vom Komparator 17 ausgegebenen digitalen Signals CPout er
fasst, wie es durch eine gestrichelte Linie in Fig. 2(d) ge
kennzeichnet ist. Zu den Zeitpunkten t4 und t5 ändert sich
der Signalverlauf des Fokusabweichungssignals FES nicht, da
der Brennpunkt Z des Laserstrahls P innerhalb des Substrats
21 liegt.
Wie erläutert, erscheinen die S-förmigen Signalverläufe im
Fokusabweichungssignal FES abhängig von der Dicke des Sub
strats 21 mit verschiedenen Intervallen. So kann die Dicke
des Substrats 21 während der Fokussuche dadurch beurteilt
werden, dass das Zeitintervall zwischen dem ersten und dem
zweiten vom Komparator 17 ausgegebenen Impuls gemessen wird,
wenn der Brennpunkt Z des durch die Objektivlinse 5 hin
durchgestrahlten Laserstrahls P durch die Substratoberfläche
21s bzw. die Aufzeichnungsschicht 22 läuft, was mittels der
MPU 16 erfolgt.
Es ist zu beachten, dass die Fokussuche zum Beurteilen der
Dicke des Substrats 21 gesondert vom Starten der Fokusrege
lung ausgeführt wird. Als erstes wird die Fokussuche ausge
führt, bis der Brennpunkt Z des Laserstrahls P durch die
Aufzeichnungsschicht 22 läuft, so dass die Dicke des Sub
strats 21 auf die obige Weise beurteilt wird. Dann wird die
Abberation auf Grundlage der so verteilten Dicke korrigiert,
wonach ein Vorgang zum Starten der Fokusregelung ausgeführt
wird. Anders gesagt, wird die Fokusregelung dadurch gestar
tet, dass der Verbindungspunkt der Schaltstufe 13 auf das
Steuersignal Fon von der Fokuseinfang-Steuerschaltung vom
Anschluss A auf den Anschluss B geschaltet wird, wenn der
Brennpunkt Z des Laserstrahls P die Aufzeichnungsschicht 22
erreicht.
Nachfolgend wird unter Bezugnahme auf das Flussdiagramm von
Fig. 3 ein von der MPU 16 ausgeführter Zeitmessvorgang er
läutert. Wenn die Fokussuche einmal gestartet ist, wird eine
Zeitmessvariable T in der MPU 16 auf Null gesetzt (S1), und
in der Zwischenzeit steigt das Ausgangssignal DAout des D/A-
Umsetzers 15 allmählich vom minimalen Ausgangswert DAmin an.
Es ist zu beachten, dass der D/A-Umsetzer 15 auf solche Wei
se ausgebildet ist, dass eine Variable D der Eingangsdaten
desselben, die das Eingangssignal Din bestimmt, zeitlich in
einzelnen Schritten ansteigt (wenn sich die Objektivlinse 5
bewegt).
Als nächstes wird beurteilt, ob das vom Komparator 17 ausge
gebene digitale Signal CPout den Pegel H aufweist oder nicht
(S2). Wenn in S2 ein L-H-Übergang im digitalen Signal CPout
erkannt wurde, wird untersucht, ob in diesem anschließend
ein H-L-Pegelübergang auftritt (S3). Wenn ein H-L-Pegelüber
gang erkannt wird, geht die MPU 16 zu S4 weiter. Kurz gesagt,
wird in S2 und S3 die fallende Flanke des ersten Im
pulses dadurch erkannt, dass ein H-L-Pegelübergang des digi
talen Signals CPout folgend auf einen L-H-Pegelübergang des
selben erfasst wird.
Anschließend wird die Variable T um jeweils einen Schritt
erhöht, bis das digitale Signal CPout erneut auf den Pegel H
wechselt (S4). Wenn das digitale Signal CPout auf den Pegel
H gewechselt hat (S5), wird die Variable T weiter um jeweils
einen Schritt erhöht, bis das digitale Signal CPout erneut
auf den Pegel L wechselt (S6 und S7). Kurz gesagt, wird in
den Schritten S4 bis S7 das Zeitintervall zwischen der fal
lenden Flanke des ersten Impulses und der fallenden Flanke
des zweiten Impulses durch Erhöhen der Variablen T bis zum
Erreichen des zweiten Impulses gemessen. Z. B. hat die Va
riable T den Wert Ta, wenn La = 1,2 mm gilt, und sie hat den
Wert Tb, wenn Lb = 0,6 mm gilt (siehe Fig. 2(d)).
Als nächstes wird der Wert der jüngsten Variablen T mit
einem vorbestimmten Bezugswert Tref oder einer Bezugszeit
verglichen (S8). Wenn der erstere in S8 größer als der letz
tere ist, wird beurteilt, dass das Substrat 21 eine Dicke
von 1,2 mm aufweist (S9). Andererseits wird beurteilt, dass
das Substrat 21 eine Dicke von 0,6 mm aufweist, wenn der
erstere kleiner als der letztere ist (S10). Der hier verwen
dete Bezugswert Tref ist der Mittelwert der Standardvariab
len Ta für ein 1,2 mm dickes Substrat 21 und der Standard
variablen Tb für ein 0,6 mm dickes Substrat 21.
Wie erläutert, kann das optische Plattenlaufwerk des vorlie
genden Ausführungsbeispiels, da es Ausgangssignale der zwei
teiligen Photodiode 8 zur Regelungssignalerkennung verwen
det, die Dicke des Substrats 21 beurteilen, ohne dass es zu
sätzliche Komponenten wie einen Sensor enthält. Darüber hin
aus ist es nicht erforderlich, die Dicke des Substrats 21
kennzeichnende Information zur optischen Platte 20 oder de
ren Kassette hinzuzufügen. Ferner kann das optische Platten
laufwerk des vorliegenden Ausführungsbeispiels die Dicke des
Substrats 21 beurteilen, bevor es die aufgezeichnete Infor
mation von der optischen Platte 20 abspielt.
Wenn beim vorstehenden Verfahren die Oberfläche der opti
schen Platte 20 während ihrer Drehung schwingt, kann die Di
cke unter Umständen nicht direkt erfasst werden. Jedoch kann
dieses Problem dadurch beseitigt werden, dass die Dicke er
fasst wird, bevor die optische Platte gedreht wird, oder
dass die Innenseite der optischen Platte verwendet wird, an
der die Schwingung gering ist.
Beim vorliegenden Beispiel wird die Zeit unter Verwendung
der MPU 16 mittels eines Softwareprogramms gemessen. Jedoch
kann dies auch unter Verwendung von Hardware erfolgen, wie
mittels einer Impulszählschaltung.
Unter Bezugnahme auf die Fig. 2(b) und 4 erörtert die fol
gende Beschreibung das Ausführungsbeispiel 2 der Erfindung.
Nachfolgend sind gleiche Komponenten wie beim Ausführungs
beispiel 1 mit denselben Bezugszahlen gekennzeichnet, und
zum Vereinfachen der Erläuterung wird die Beschreibung die
ser Komponenten nicht wiederholt.
Das optische Plattenlaufwerk des vorliegenden Ausführungs
beispiels ist mit dem des Ausführungsbeispiels 1 mit der
Ausnahme identisch, dass die MPU 16 den Pegel eines Objek
tivlinse-Treibersignals auf Grundlage des vom Komparator 17
ausgegebenen digitalen Signals CPout erfasst, anstatt das
Zeitintervall zwischen Änderungen im Signalverlauf des digi
talen Signals CPUout als solchem zu messen.
Das Eingangssignal Din für den D/A-Umsetzer 15 wird als Ob
jektivlinse-Treibersignal verwendet. Da das Eingangssignal
Din ein Ausgangssignal der MPU 16 ist, kann der Wert dessel
ben erkannt werden, ohne irgendwelche Signalerfassungshard
ware zu verwenden.
Nun wird unter Bezugnahme auf das Flussdiagramm von Fig. 4
der von der MPU 16 ausgeführte Pegelerfassungsvorgang erläu
tert.
Zunächst wird die Variable D der Eingangsdaten des D/A-Um
setzers 15, die das Eingangssignal Din bestimmt, auf eine
Untergrenze von 0 eingestellt (S11). Dann gibt die MPU 16
den obigen Wert 0 der Variablen D an den D/A-Umsetzer 15
(S12).
Anschließend wird beurteilt, ob das vom Komparator 17 ausge
gebene digitale Signal CPout den Pegel H aufweist oder ob
dies nicht der Fall ist (S13). Wenn das digitale Signal
CPout den Pegel L hat, wird der Wert der Variablen D um Eins
erhöht (S14), und die aktualisierte Variable D wird an den
D/A-Umsetzer 15 gegeben (S15). Andererseits wird, wenn er
kannt wurde, dass das digitale Signal CPout den Pegel H hat,
beurteilt, ob es anschließend wieder auf den Pegel L gewech
selt hat oder nicht. Wenn das digitale Signal CPout in S16
auf dem Pegel H verblieben ist, wird der Wert der Variablen
D erneut um Eins erhöht (S17), und die aktualisierte Variab
le D wird an den D/A-Umsetzer 15 gegeben (S18). Kurz gesagt,
wird in S13 bis S18 der Wert der Variablen D (der Einstell
wert für den D/A-Umsetzer 15) jeweils um einen Schritt er
höht, bis der erste Impuls erfasst wird, so dass die Objek
tivlinse 5 an die optische Platte 20 angenähert wird. Die
fallende Flanke des ersten Impulses wird dadurch erfasst,
dass der H-L-Pegelübergang des digitalen Signals CPout erkannt
wird, der auf den L-H-Pegelübergang desselben folgt.
Der Wert der Variablen D zum Zeitpunkt, zu dem der erste Im
puls erfasst wird, wird als Variable D1 abgespeichert (S19).
Anschließend wird der Wert der Variablen D (Einstellwert für
den D/A-Umsetzer 15) um jeweils einen Schritt erhöht, bis
der zweite Impuls auf dieselbe Weise wie in S13 bis S18 er
fasst wird (S20 bis S25), so dass die Objektivlinse 5 an die
optische Platte 20 angenähert wird. Die fallende Flanke des
zweiten Impulses wird dadurch erfasst, dass ein H-L-Pegel
übergang des digitalen Signals CPout folgend auf einen L-H-
Pegelübergang desselben erfasst wird.
Der Wert der Variablen D zum Zeitpunkt, zu dem der zweite
Impuls erfasst wird, wird als Variable D2 abgespeichert
(S26). Anschließend wird die Differenz zwischen den Variab
len D1 und D2 als Variable D2-1 abgespeichert (S27). Anders
gesagt, repräsentiert der Wert der Variablen D2-1 die Diffe
renz zwischen den Pegeln des Objektivlinse-Treibersignals,
wenn die fallende Flanke des ersten Impulses erfasst wird
und wenn die fallende Flanke des zweiten Impulses erfasst
wird. Wenn z. B. La = 1,2 mm ist, hat die Variable D2-1 den
Wert Da, und wenn Lb = 0,6 mm gilt, hat die Variable D2-1
den Wert Db (siehe Fig. 2(b).
Wenn die Variable D2-1 größer als ein vorbestimmter Bezugs
wert Dref ist, wird beurteilt, dass die optische Platte 20
ein Substrat 21 mit einer Dicke von 1,2 mm aufweist (S29);
andernfalls wird beurteilt, dass die optische Platte 20 ein
Substrat 21 mit einer Dicke von 0,6 mm aufweist (S30). Der
hier zitierte Bezugswert Dref ist der Mittelwert aus einer
Standardvariablen Da für eine optische Platte 20 mit einem
Substrat 21 von 1,2 mm Dicke und einer Standardvariablen Db
für eine optische Platte mit einem Substrat 21 von 0,6 mm
Dicke.
Wie erläutert, kann das optische Plattenlaufwerk des vorlie
genden Ausführungsbeispiels die Dicke des Substrats 21 da
durch erkennen, dass es die Pegeldifferenz zwischen dem Ob
jektivlinse-Treibersignal, wenn der erste Impuls vom Kompa
rator 17 ausgegeben wird, und dem, wenn der zweite Impuls
von ihm ausgegeben wird, erfasst, was zu den Momenten er
folgt, zu denen der Brennpunkt des durch die Objektivlinse 5
hindurchgestrahlten Laserstrahls P durch die Substratfläche
21s bzw. die Aufzeichnungsschicht 22 läuft.
Die Pegelerfassung wird beim vorliegenden Ausführungsbei
spiel durch ein Softwareprogramm unter Verwendung der MPU 16
ausgeführt, jedoch kann sie auch unter Verwendung einer nie
derfrequenten Schwingschaltung zur Fokussuche erfolgen.
Alternativ kann statt dem Pegel des Objektivlinse-Treiber
signals das Ausgangssignal der obigen niederfrequenten
Schwingschaltung oder der Ausgangsstrom des Leistungsver
stärkers 14 erfasst werden. Jedoch ist die Verwendung eines
Softwareprogramms, wie beim vorliegenden Ausführungsbei
spiel, dahingehend von Vorteil, dass das optische Platten
laufwerk weniger Komponenten aufweisen kann.
Bei den Ausführungsbeispielen 1 und 2 ist das Fokusabwei
chungssignal FES verwendet, das tatsächlich das Differensi
gnal der Ausgangssignale der zweiteiligen Photodiode 8 ist;
jedoch kann statt dessen das Summensignal der Ausgangssigna
le der zweiteiligen Photodiode 8 verwendet werden. In diesem
Fall erscheint nicht ein S-förmiger Signalverlauf im Gesamt
signal, wenn der Brennpunkt Z die Substratoberfläche 21s
bzw. die Aufzeichnungsschicht 22 erreicht, sondern ein Si
gnalverlauf, der proportional zur Menge des reflektierten
Lichts ist.
Alternativ kann statt des Ausgangssignals der zweiteiligen
Photodiode 8 zur Regelsignalerfassung das Ausgangssignal
einer Photodiode zur Spurabweichungssignalerfassung oder das
Ausgangssignal einer Photodiode zur Informationswiedergabe
verwendet werden.
Unter Bezugnahme auf die Fig. 5 und 6 erörtert die folgende
Beschreibung das Ausführungsbeispiel 3 der Erfindung. Nach
folgend sind gleiche Komponenten wie in den Ausführungsbei
spielen 1 und 2 mit denselben Bezugszahlen gekennzeichnet,
und zum Vereinfachen der Erläuterung wird die Beschreibung
dieser Komponenten nicht wiederholt.
Das optische Plattenlaufwerk des vorliegenden Ausführungs
beispiels erfasst die Dicke des Substrats einer optischen
Platte unter Verwendung des Ausgangssignals eines Photode
tektors zum Erfassen der Leistung des Halbleiterlasers. Wie
es in Fig. 5 dargestellt ist, enthält das Plattenlaufwerk
des vorliegenden Ausführungsbeispiels im Vergleich mit dem
des Ausführungsbeispiels 1 zusätzlich einen Photodetektor 11
zum Erfassen der Menge des vom Halbleiterlaser 2 emittierten
Lichts sowie eine APC(Automatic Power Control = automatische
Leistungsregelung)-Schaltung 18.
Der Photodetektor 11 erfasst den vom Halbleiterlaser 2 emit
tierten Laserstrahl P als Laserleistung-Erfassungssignal Mp.
Die APC-Schaltung 18 führt einen sogenannten APC-Vorgang
aus, d. h. einen Vorgang auf Grundlage des Laserleistungs-
Erfassungssignals Mp, um den Halbleiterlaser 2 zu regeln,
dessen Eingangs/Ausgangs-Charakteristik leicht abhängig von
der Temperatur variiert, damit er konstante Lichtmenge emit
tiert. Das Laserleistungs-Erfassungssignal Mp wird auch am
positiven Anschluss des Komparators 17 eingegeben.
Gemäß der vorstehend genannten Anordnung wird der APC-Vor
gang auf die folgende Weise ausgeführt. Zunächst wird der
vom Halbleiterlaser 2 emittierte Laserstrahl P teilweise
durch den Strahlteiler 4 reflektiert und durch den Photode
tektor 11 überwacht. Dann wird das Laserleistungs-Erfas
sungssignal Mp vom Photodetektor 11 über die APC-Schaltung
18 an den Halbleiterlaser 2 zurückgeführt.
Andererseits steigt, wie es in Fig. 6 dargestellt ist, das
Laserleistungs-Erfassungssignal Mp steil an, wenn der Brenn
punkt Z des durch die Objektivlinse 5 hindurchgestrahlten
Laserstrahls P während der Fokussuche durch die Substratflä
che 21s bzw. die Aufzeichnungsschicht 22 hindurchläuft.
Dieser Effekt, d. h. derjenige, dass das Laserleistungs-Er
fassungssignal Mp um die Fokussierposition herum steil an
steigt, ist als Bindungsresonanzeffekt (Schubeffekt) zu ver
stehen, bei dem ein Teil des an der optischen Platte 20 re
flektierten Lichts an den Halbleiterlaser 2 zurückgekoppelt
wird, was bedeutet, dass die optische Platte 20 als externer
Spiegel eines Halbleiterlaseroszillators wirkt, wozu sich
eine Erläuterung "Introduction for Video Disk and DAD", Co
rona Co. Ltd. findet. In der Zeichnung ist der Pegel VAPC
derjenige, bei dem die Menge des vom Halbleiterlaser 2 emit
tierten Lichts durch den APC-Vorgang auf einem bestimmten
Pegel gehalten wird.
Das Laserleistungs-Erfassungssignal Mp wird in den Kompara
tor 17 eingegeben, und mit einer vorbestimmten Schwellen
spannung Vref oder der Bezugsspannung verglichen. Anderer
seits ist das digitale Signal CPout, das auf den Pegel H
wechselt, wenn das Laserleistungs-Erfassungssignal Mp größer
als die Schwellenspannung Vref ist, aber andernfalls auf den
Pegel L wechselt, an die MPU 16 ausgegeben.
Die MPU 16 misst das Zeitintervall zwischen dem vom Kompara
tor 17 ausgegebenen ersten Impuls und dem zweiten Impuls,
wie sie auftreten, wenn der Brennpunkt Z des durch die Ob
jektivlinse 5 gestrahlten Laserstrahls während der Fokussu
che durch die Substratfläche 21s bzw. die Aufzeichnungs
schicht 22 hindurchläuft, auf dieselbe Weise wie beim Aus
führungsbeispiel 1. Demgemäß kann die Dicke des Substrats 21
auf dieselbe Weise wie beim Ausführungsbeispiel 1 erfasst
werden.
Die Menge des vom Halbleiterlaser 2 emittierten Lichts
steigt um die Fokussierposition herum selbst dann an, wenn
er so geregelt wird, dass er mittels des APC-Vorgangs auf
einem bestimmten Pegel bleiben soll. Dies, da der APC-Vor
gang darauf hinzielt, die Temperaturabhängigkeit des Halb
leiterlasers 2 zu kompensieren und daher die Ansprechrate
beim APC-Vorgang auf einen niedrigen Pegel festgelegt ist.
So ist es natürlich, dass der APC-Vorgang keinen plötzlichen
Anstieg der Halbleiterlaserleistung verhindern kann, wenn
der Brennpunkt Z während der Fokussuche durch die Fokussier
position läuft. Wenn ein Ansteigen der Leistung des Halblei
terlasers während der Fokussuche durch Beschleunigen des
APC-Vorgangs verhindert wird, variiert das Halbleiterlaser-
Regelsignal in der APC-Schaltung 18. So kann dieses Halblei
terlaser-Regelsignal dazu verwendet werden, die Dicke des
Substrats 21 zu erfassen.
Bei den Ausführungsbeispielen 1 bis 3 enthält die optische
Platte 20 ein Substrat 21 von entweder 1,2 mm oder 0,6 mm
Dicke. Jedoch kann das optische Plattenlaufwerk eines der
Ausführungsbeispiele 1 bis 3 auch andere Substratdicken op
tischer Platten erkennen.
Wie erläutert, umfasst jedes der optischen Plattenlaufwerke
der Ausführungsbeispiele 1 bis 3 einen optischen Aufnehmer
zum Konvergieren des von einem Halbleiterlaser durch eine
Objektivlinse emittierten Laserstrahls, wobei unter Verwen
dung des optischen Aufnehmers aufgezeichnete Information von
der Aufzeichnungsschicht der optischen Platte abgespielt
wird.
Der Brennpunkt des durch die Objektivlinse gestrahlten La
serstrahls wird in einer Richtung verstellt, die sowohl die
Aufzeichnungsschicht als auch die Substratfläche der opti
schen Platte umfasst, also in der Richtung entlang der Dicke
der optischen Platte, was durch Verstellen der Objektivlinse
erfolgt. Dann wird das Intervall zwischen Änderungen im Si
gnalverlauf des vom optischen Aufnehmer ausgegebenen Signals
erfasst, wie sie auftreten, wenn der Brennpunkt des Laser
strahls durch die Substratfläche bzw. die Aufzeichnungs
schicht läuft.
Anders gesagt, wird der Brennpunkt des Laserstrahls in der
Dickenrichtung der optischen Platte verstellt, so dass der
Brennpunkt durch die Substratfläche bzw. die Aufzeichnungs
schicht läuft. Der Signalverlauf des vom optischen Aufnehmer
ausgegebenen Signals ändert sich, wenn der Brennpunkt durch
die Substratfläche bzw. die Aufzeichnungsschicht läuft. Da
das Intervall zwischen den obigen Änderungen abhängig von
der Dicke des Substrats der optischen Platte variiert, er
möglicht es ein Erfassen des obigen Intervalls, die Dicke
des Substrats zu beurteilen.
Daher können die obigen optischen Plattenlaufwerke, abwei
chend von einem herkömmlichen optischen Plattenlaufwerk, die
Dicke eines Substrats beurteilen, während kein zusätzlicher
Lesemechanismus, wie ein Sensor vom Reflexionstyp, neben dem
optischen Aufnehmer, oder zur optischen Platte oder Kassette
hinzugefügte Information vorhanden ist. Ferner können die
obigen optischen Plattenlaufwerke, die Dicke des Substrats
beurteilen, bevor aufgezeichnete Information von einer opti
schen Platte abgespielt wird.
Das Intervall zwischen den Änderungen im Signalverlauf kann
durch zwei Verfahren erfasst werden. Beim ersten Verfahren
wird das vom optischen Aufnehmer ausgegebene Signal mit
einem vorbestimmten Schwellenwert verglichen, um in ein di
gitales Signal umgesetzt zu werden, und es wird das Zeitin
tervall zwischen den Impulsen gemessen, die der Änderung im
Signalverlauf des ursprünglichen Signalverlaufs entsprechen.
Wie bereits erläutert, ändert sich der Signalverlauf des vom
optischen Aufnehmer ausgegebenen Signals, wenn der Brenn
punkt des Laserstrahls durch die Substratfläche bzw. die
Aufzeichnungsschicht läuft. Das ursprüngliche Signal mit
einem derartigen variierenden Signalverlauf wird mit der
vorbestimmten Schwelle verglichen und in ein digitales Si
gnal umgesetzt. Wenn das Zeitintervall zwischen den Impulsen
des digitalen Signals gemessen wird, ist die Dicke des Sub
strats als zeitliche Funktion wiedergegeben, was es einfach
macht, die Dicke des Substrats zu beurteilen. Demgemäß kann,
wenn einmal Daten zur Korrelation zwischen der Dicke des
Substrats und dem Zeitintervall vorliegen, ein einzelnes op
tisches Plattenlaufwerk leicht Information von optischen
Platten mit Substraten verschiedener Dicken abspielen.
Beim anderen Erfassungsverfahren wird das vom optischen Auf
nehmer ausgegebene Signal mit einer vorbestimmten Schwelle
verglichen und in ein digitales Signal umgesetzt, auf dessen
Grundlage der Pegel eines Objektivlinse-Treibersignals er
fasst wird.
Wie bereits erläutert, ändert sich der Signalverlauf des vom
optischen Aufnehmer ausgegebenen Signals, wenn der Brennpunkt
des Laserstrahls durch die Substratfläche bzw. die
Aufzeichnungsschicht läuft. Das ursprüngliche Signal mit
einem derartig variierenden Signalverlauf wird mit dem vor
bestimmten Schwellenwert verglichen und in das digitale Si
gnal umgesetzt. Wenn der Pegel des Objektivlinse-Treibersi
gnals auf Grundlage der Impulse des obigen digitalen Signals
erfasst wird, ist die Dicke des Substrats als Funktion des
Signalpegels ausgedrückt, was es einfach macht, die Dicke
des Substrats zu beurteilen. So kann, wenn einmal Daten zur
Korrelation zwischen der Dicke des Substrats und dem Signal
pegel vorliegen, ein einzelnes optisches Plattenlaufwerk auf
einfache Weise Information von optischen Platten mit Sub
straten verschiedener Dicken abspielen.
Das vom optischen Aufnehmer ausgegebene Signal kann mittels
eines Photodetektors zum Erfassen des Regelungssignals er
zeugt werden, wie er dazu verwendet wird, den optischen Auf
nehmer auf Grundlage der Menge reflektierten Lichts von der
optischen Platte zu steuern, oder durch einen Photodetektor
zum Erfassen der Leistung des vom Halbleiterlaser emittier
ten Laserstrahls, wie zum Regeln des Halbleiterlasers auf
konstante Ausgangsleistung verwendet.
Im ersteren Fall steigt der Pegel des Signals vom Photode
tektor zur Erfassung des Regelungssignals aufgrund des an
der optischen Platte reflektierten Lichts an, wenn der
Brennpunkt des Laserstrahls die Substratfläche bzw. die Auf
zeichnungsschicht erreicht. Da der Signalverlauf des Signals
auf die obige Weise variiert, können die optischen Platten
laufwerke der Ausführungsbeispiele 1 bis 3 auf einfache Wei
se aufgebaut werden. Im Fall des letzteren steigt der Pegel
des Ausgangssignals des Photodetektors zum Erfassen der
Leistung des vom Halbleiterlaser emittierten Laserstrahls
aufgrund des zum Halbleiterlaser zurückgeführten Lichts an.
Da der Signalverlauf dieses Signals auf die obige Weise variiert,
können auch in diesem Fall die optischen Platten
laufwerke der Ausführungsbeispiele 1 bis 3 leicht aufgebaut
werden.
Unter Bezugnahme auf die Fig. 7(a) und 7(b) sowie Fig. 8 er
örtert die folgende Beschreibung das Ausführungsbeispiel 4
der Erfindung. Nachfolgend sind gleiche Komponenten wie in
den Ausführungsbeispielen 1 bis 3 mit denselben Bezugszahlen
gekennzeichnet, und eine Beschreibung dieser Komponenten
wird zum Vereinfachen der Erläuterung nicht wiederholt.
Das optische Plattenlaufwerk des vorliegenden Ausführungs
beispiels beurteilt, ob eine optische Platte eine einfache
oder doppelte Aufzeichnungsschicht 22 aufweist, wozu es das
Laserleistungs-Erfassungssignal Mp verwendet, das um die Fo
kusposition herum stark ansteigt, wie beim Ausführungsbei
spiel 3 erläutert. Eine optische Platte mit doppelter Auf
zeichnungsschicht 22, auf die hier Bezug genommen wird, ist
eine optische Platte mit einer ersten Aufzeichnungsschicht
und einer zweiten Aufzeichnungsschicht, die mit vorbestimm
tem Abstand auf dem Substrat 21 liegen.
Das optische Plattenlaufwerk des vorliegenden Ausführungs
beispiels ist mit dem des Ausführungsbeispiels 3 mit der
Ausnahme identisch, dass die MPU 16 die Anzahl der Impulse
zählt, wie sie vom Komparator 17 ausgegeben werden, wenn der
Brennpunkt Z des durch die Objektivlinse 7 gestrahlten La
serstrahls P durch die Substratfläche 21s, die erste Auf
zeichnungsschicht bzw. die zweite Aufzeichnungsschicht
läuft.
Fig. 7(a) veranschaulicht Signalverläufe des Laserleistungs-
Erfassungssignals Mp und des digitalen Signals CPout, wenn
die optische Platte 20 eine einzelne Aufzeichnungsschicht 22
aufweist, wie es beim Ausführungsbeispiel 3 erläutert ist.
Fig. 7(b) veranschaulicht die Signalverläufe des Laserleis
tungs-Erfassungssignals Mp und des digitalen Signals CPout,
wenn die optische Platte 20 eine doppelte Aufzeichnungs
schicht 22 aufweist. In diesem Fall steigt das Laserleis
tungs-Erfassungssignal Mp steil an, wenn der Brennpunkt Z
des Laserstrahls P während der Fokussuche durch die erste
bzw. zweite Aufzeichnungsschicht läuft. So kann die Anzahl
von Schichten innerhalb der Aufzeichnungsschicht 22 dadurch
erfasst werden, dass die Anzahl der Impulse gezählt wird,
wie sie im vom Komparator 17 ausgegebenen digitalen Signal
CPout auftreten, wozu die MPU 16 verwendet wird.
Nachfolgend wird unter Bezugnahme auf das Flussdiagramm von
Fig. 8 der Impulszahl-Zählvorgang durch die MPU 16 erläu
tert.
Zunächst wird eine Variable K zum Zählen der Anzahl von
Schichten in der Aufzeichnungsschicht 22 innerhalb der MPU
16 auf Null gesetzt (S31). Dann wird die Variable D des Ein
gangsdatenwerts des D/A-Umsetzer 15 auf die Untergrenze 0
gesetzt (S32), und die aktualisierte Variable D wird durch
die MPU 16 an den D/A-Umsetzer 15 gegeben (S33).
Anschließend wird beurteilt, ob das vom Komparator 17 ausge
gebene digitale Signal CPout den Pegel H hat oder nicht
(S34). Wenn erkannt wird, dass das digitale Signal CPout den
Pegel H hat, wird anschließend überprüft, ob das digitale
Signal CPout auf den Pegel L gewechselt hat oder nicht
(S37). Wenn das digitale Signal CPout in S37 auf dem Pegel H
verblieben ist, wird der Wert der Variablen D um Eins er
höht (S38), und der aktualisierte Wert wird erneut an den
D/A-Umsetzer 15 gegeben (S39). Kurz gesagt, wird in S37 bis
S39 dann, wenn der erste Impuls durch Erfassen eines L-H-
Pegelübergangs des digitalen Signals CPout erfasst ist, der
Wert der Variablen D (Einstellwert für den D/A-Umsetzer 15)
um Eins erhöht, so dass die Objektivlinse 5 an die optische
Platte 30 angenähert wird. Die fallende Flanke des ersten
Impulses wird mittels des H-L-Pegelübergangs des digitalen
Signals CPout erfasst.
Dann wird, nach dem Erfassen des ersten Impulses auf die
obige Weise, der Wert 1 zur Variablen K addiert, um die An
zahl von Schichten innerhalb der Aufzeichnungsschicht 22 zu
zählen (S40). Anschließend wird überprüft, ob die jüngste
Variable D den Maximalwert hat oder nicht, anders gesagt, es
wird klargestellt, ob die Fokussuche zu Ende ist oder nicht
(S41).
Andererseits wird, wenn in S34 erkannt wird, dass das digi
tale Signal CPout nicht den Pegel H hat, der Wert der Vari
ablen D um Eins erhöht (S35), und der aktualisierte Wert
wird erneut an den D/A-Umsetzer 15 gegeben (S36), wonach die
MPU 16 auf S41 übergeht.
S34 bis S39 werden wiederholt, bis die Variable D den Maxi
malwert hat, während die Anzahl der Impulse des digitalen
Signals CPout gezählt wird. Wenn die Variable D in S41 den
Maximalwert erreicht, wird überprüft, ob die Variable K den
Wert 2 oder 3 hat (S42).
Wenn die Variable K den Wert 2 hat, wird beurteilt, dass die
Aufzeichnungsschicht 22 eine einzelne Aufzeichnungsschicht
22 ist, und zwar durch Substrahieren des Impulses, wie er
erzeugt wird, wenn der optische Punkt Z die Substratfläche
21s erreicht (S43). Wenn die Variable K dagegen den Wert 3
hat, wird beurteilt, dass die Aufzeichnungsschicht 22 eine
Doppelaufzeichnungsschicht 22 ist, und zwar durch Substra
hieren des Impulses, wie er erzeugt wird, wenn der optische
Punkt Z die Substratfläche 21s erreicht (S44).
Wie erläutert, führt das optische Plattenlaufwerk des vor
liegenden Ausführungsbeispiel eine Fokussuche in einem Be
reich aus, in den sich der Brennpunkt Z bewegen soll, wenn
eine Doppelaufzeichnungsschicht 22 vorliegt, so dass die An
zahl der Schichten innerhalb der Aufzeichnungsschicht 22 da
durch erkannt werden kann, dass die Anzahl der Änderungen
des Signalverlaufs im Laserleistungs-Erfassungssignal Mp
durch die MPU 16 gezählt wird. Selbst dann, wenn der Abstand
zwischen der ersten und der zweiten Aufzeichnungsschicht
höchstens einige zehn Mikrometer beträgt, wechselwirken die
Änderungen der Signalverläufe des Laserleistungs-Erfassungs
signals Mp, wie durch jede Aufzeichnungsschicht hervorgeru
fen, nicht miteinander, was es ermöglicht, die Anzahl der
Schichten innerhalb der Aufzeichnungsschicht 22 auf zuver
lässige Weise zu erkennen.
Demgemäß kann das optische Plattenlaufwerk des vorliegenden
Ausführungsbeispiels Information von optischen Platten mit
verschiedenen Anzahlen von Aufzeichnungsschichten abspielen,
und zwar durch Ausführen einer Fokusregelung für eine Ziel
aufzeichnungsschicht oder durch Umschalten der Schaltkreis
verstärkung abhängig von der Anzahl der Aufzeichnungsschich
ten.
Beim vorliegenden Ausführungsbeispiel wird beurteilt, ob die
optische Platte eine Einzelaufzeichnungsschicht 22 oder eine
Doppelaufzeichnungsschicht 22 aufweist. Jedoch kann das op
tische Plattenlaufwerk des vorliegenden Ausführungsbeispiels
auch beurteilen, ob eine optische Platte eine aus mehr als
zwei Schichten bestehende Aufzeichnungsschicht 22 aufweist.
Außerdem kann die Technik des vorliegenden Ausführungsbei
spiels dazu verwendet werden, zu überprüfen, ob eine optische
Platte in das optische Plattenlaufwerk eingesetzt ist
oder nicht. D. h., dass dann, wenn die Variable K im Ergeb
nis des obigen Ablaufs den Wert 0 hat, das optische Platten
laufwerk beurteilt, dass keine optische Platten eingesetzt
ist.
Wie erläutert, umfasst das optische Plattenlaufwerk des vor
liegenden Ausführungsbeispiels einen optischen Aufnehmer zum
Konvergieren des vom Halbleiterlaser durch die Objektivlinse
gestrahlten Laserstrahls, wobei die aufgezeichnete Informa
tion unter Verwendung des optischen Aufnehmers von der Auf
zeichnungsschicht der optischen Platte abgespielt wird.
Der Brennpunkt des durch die Objektivlinse gestrahlten La
serstrahls wird im Bereich verstellt, der alle Aufzeich
nungsschichten der optischen Platte abdeckt, und zwar in der
Dickenrichtung der optischen Platte, was durch Verstellen
der Objektivlinse erfolgt. Es wird die Anzahl von Änderungen
im Verlauf des Signals gezählt, wie es vom Photodetektor zum
Erfassen der Leistung des vom Halbleiterlaser emittierten
Laserstrahls erzeugt wird und das dazu verwendet wird, den
Halbleiterlaser so zu regeln, dass er Licht konstanter Leis
tung ausgibt, wobei die Änderungen auftreten, wenn der
Brennpunkt des Laserstrahls durch die Substratfläche bzw.
die mindestens eine Aufzeichnungsschicht läuft.
Anders gesagt, wird der Brennpunkt des Laserstrahls in der
Dickenrichtung der optischen Platte verstellt, so dass die
ser Brennpunkt durch die Substratfläche bzw. die Aufzeich
nungsschichten läuft. Der Pegel des vom obigen Photodetektor
ausgegebenen Signals steigt aufgrund des zu ihm zurückge
führten Lichts an, wenn der Brennpunkt des Laserstrahls die
Substratfläche bzw. eine der Aufzeichnungsschichten er
reicht. Da die Anzahl der Anstiege des Pegels des Signals
abhängig von der Anzahl der Aufzeichnungsschichten variiert,
ermöglicht es das Zählen der Anzahl von Anstiegen des Si
gnalpegels, die Anzahl der Aufzeichnungsschichten zu bestim
men. Es wird darauf hingewiesen, dass der Signalpegel so
stark ansteigt, dass die Änderungen im Signalverlauf selbst
dann nicht miteinander wechselwirken, wenn der Abstand zwi
schen den Aufzeichnungsschichten klein ist.
Demgemäß kann das optische Plattenlaufwerk des vorliegenden
Ausführungsbeispiels Information von einer optischen Platte
mit mehr als einer Aufzeichnungsschicht dadurch abspielen,
dass es eine Fokusregelung für eine Zielaufzeichnungsschicht
ausführt oder die Schaltkreisverstärkung abhängig von der
Anzahl der so erkannten Aufzeichnungsschichten umschaltet.
Claims (23)
1. Optisches Plattenlaufwerk mit:
einer Lichtkonvergiereinrichtung (5) zum Konvergieren eines Laser strahls auf eine optische Platte (20) mit einem Substrat (21) und einer Auf zeichnungsschicht (22);
einer Verstelleinrichtung (10, 13, 14, 15, 16) zum Verstellen der Licht konvergiereinrichtung (5) in der Dickenrichtung der optischen Platte, wobei die Verstelleinrichtung eine Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung (10) zum Erzeu gen eines Verstellsignals und eine Antriebseinrichtung (10, 14) zum Verstellen der Lichtkonvergiereinrichtung in der Dickenrichtung der optischen Platte auf Grundlage des Verstellsignals aufweist,
einer Erfassungseinrichtung (8, 9) zum Erfassen eines Fokusabwei chungssignals auf Grundlage des reflektierten Lichts, wie es von der optischen Platte her durch die Lichtkonvergiereinrichtung auf die Erfassungseinrichtung fällt, und zum Erfassen einer im Fokusabweichungssignal erzeugten Änderung, wenn der Laserstrahl auf das Substrat bzw. die Aufzeichnungsschicht konver giert wird, während die Lichtkonvergiereinrichtung (5) verstellt wird;
einer Beurteilungseinrichtung (16) zum Beurteilen einer Dicke des Substrats (21) auf Grundlage der Änderung des Fokusabweichungssignals, und
einer Phasenkompensationseinrichtung (12) zum Kompensieren der Phase des Fokusabweichungssignals;
gekennzeichnet durch
eine Umschalteinrichtung (13) zum Umschalten des Eingangssignals für die Antriebseinrichtung (10, 14) in solcher Weise, dass der Eingang das Ausgangssignal der Phasenkompensationseinrichtung (12) erhält, wenn eine Fokusregelung ausgeführt wird, er aber das Verstellsignal erhält, wenn die Dicke des Substrats beurteilt wird.
einer Lichtkonvergiereinrichtung (5) zum Konvergieren eines Laser strahls auf eine optische Platte (20) mit einem Substrat (21) und einer Auf zeichnungsschicht (22);
einer Verstelleinrichtung (10, 13, 14, 15, 16) zum Verstellen der Licht konvergiereinrichtung (5) in der Dickenrichtung der optischen Platte, wobei die Verstelleinrichtung eine Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung (10) zum Erzeu gen eines Verstellsignals und eine Antriebseinrichtung (10, 14) zum Verstellen der Lichtkonvergiereinrichtung in der Dickenrichtung der optischen Platte auf Grundlage des Verstellsignals aufweist,
einer Erfassungseinrichtung (8, 9) zum Erfassen eines Fokusabwei chungssignals auf Grundlage des reflektierten Lichts, wie es von der optischen Platte her durch die Lichtkonvergiereinrichtung auf die Erfassungseinrichtung fällt, und zum Erfassen einer im Fokusabweichungssignal erzeugten Änderung, wenn der Laserstrahl auf das Substrat bzw. die Aufzeichnungsschicht konver giert wird, während die Lichtkonvergiereinrichtung (5) verstellt wird;
einer Beurteilungseinrichtung (16) zum Beurteilen einer Dicke des Substrats (21) auf Grundlage der Änderung des Fokusabweichungssignals, und
einer Phasenkompensationseinrichtung (12) zum Kompensieren der Phase des Fokusabweichungssignals;
gekennzeichnet durch
eine Umschalteinrichtung (13) zum Umschalten des Eingangssignals für die Antriebseinrichtung (10, 14) in solcher Weise, dass der Eingang das Ausgangssignal der Phasenkompensationseinrichtung (12) erhält, wenn eine Fokusregelung ausgeführt wird, er aber das Verstellsignal erhält, wenn die Dicke des Substrats beurteilt wird.
2. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 1, dadurch gekennzeichnet,
dass sich das Verstellsignal im Wesentlichen linear über die Zeit ändert und es
die Lichtkonvergiereinrichtung (4) in einem Bereich verstellt, der sowohl die
Oberfläche des Substrats (21) als auch die Aufzeichnungsschicht (22) über
deckt.
3. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 1 oder 2, gekennzeichnet
durch eine D/A-Umsetzeinrichtung (15), durch die das Verstellsignal unter
Steuerung durch die Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung (10) ausgegeben
wird.
4. Optisches Plattenlaufwerk nach einem der Ansprüche 1 bis 3, dadurch
gekennzeichnet, dass die Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung (10) und die
Beurteilungseinrichtung (16) aus einem Mikroprozessor bestehen.
5. Optisches Plattenlaufwerk nach einem der Ansprüche 1 bis 4, gekenn
zeichnet durch eine Vergleichseinrichtung (17) zum Vergleichen der Änderung
des Fokusabweichungssignals mit einer Bezugsspannung, um ein Vergleichs
ergebnis in Form eines Impulssignals auszugeben, wobei die Beurteilungs
einrichtung (16) die Dicke des Substrats (21) auf Grundlage dieses Impuls
signals beurteilt.
6. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 5, dadurch gekennzeichnet,
dass die Beurteilungseinrichtung (16) das Zeitintervall des Impulssignals
misst, um dieses Zeitintervall mit einer Bezugszeit zu vergleichen, und die
Dicke des Substrats (21) auf Grundlage dieses Vergleichsergebnisses beurteilt.
7. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 6, dadurch gekennzeichnet,
dass die Bezugszeit der Mittelwert aus dem Zeitintervall ist, wie es gemessen
wird, wenn ein 1,2 mm dickes Substrat (21) verwendet wird, und dem Zeit
intervall, wie es gemessen wird, wenn ein 0,6 mm dickes Substrat (21) verwen
det wird.
8. Optisches Plattenlaufwerk mit:
einer Lichtkonvergiereinrichtung (4) zum Konvergieren eines Laser strahls auf eine optische Platte (20) mit einem Substrat (21) und einer Auf zeichnungsschicht (22);
einer Verstelleinrichtung (10, 13, 14, 15, 16) zum Verstellen der Licht konvergiereinrichtung (5) in der Dickenrichtung der optischen Platte aufgrund eines Verstellsignales, das sich im Wesentlichen linear über die Zeit ändert;
einer Erfassungseinrichtung (8, 9) zum Erfassen, während die Licht konvergiereinrichtung (5) verstellt wird, dass der Laserstrahl auf das Substrat (21) bzw. die Aufzeichnungsschicht (22) konvergiert wird, und zwar aufgrund des reflektierten Lichts, wie es von der optischen Platte her durch die Licht konvergiereinrichtung (5) auf die Erfassungseinrichtung (8, 9) fällt, und zum Liefern eines Fokusabweichungssignals;
einer Beurteilungseinrichtung (16) zum Beurteilen der Dicke des Sub strats (21) auf Grundlage der Pegeldifferenz zwischen dem Pegel des Verstell signals, wenn der Laserstrahl auf das Substrat (21) konvergiert ist, und dem Pegel des Verstellsignals, wenn er auf die Aufzeichnungsschicht (22) konver giert ist, und
einer Phasenkompensationseinrichtung (12) zum Kompensieren der Phase des Fokusabweichungssignals;
gekennzeichnet durch
eine Umschalteinrichtung (13) zum Umschalten des Eingangssignals für die Antriebseinrichtung (10, 14) in solcher Weise, dass der Eingang das Ausgangssignal der Phasenkompensationseinrichtung (12) erhält, wenn eine Fokusregelung ausgeführt wird, er aber das Verstellsignal erhält, wenn die Dicke des Substrats beurteilt wird.
einer Lichtkonvergiereinrichtung (4) zum Konvergieren eines Laser strahls auf eine optische Platte (20) mit einem Substrat (21) und einer Auf zeichnungsschicht (22);
einer Verstelleinrichtung (10, 13, 14, 15, 16) zum Verstellen der Licht konvergiereinrichtung (5) in der Dickenrichtung der optischen Platte aufgrund eines Verstellsignales, das sich im Wesentlichen linear über die Zeit ändert;
einer Erfassungseinrichtung (8, 9) zum Erfassen, während die Licht konvergiereinrichtung (5) verstellt wird, dass der Laserstrahl auf das Substrat (21) bzw. die Aufzeichnungsschicht (22) konvergiert wird, und zwar aufgrund des reflektierten Lichts, wie es von der optischen Platte her durch die Licht konvergiereinrichtung (5) auf die Erfassungseinrichtung (8, 9) fällt, und zum Liefern eines Fokusabweichungssignals;
einer Beurteilungseinrichtung (16) zum Beurteilen der Dicke des Sub strats (21) auf Grundlage der Pegeldifferenz zwischen dem Pegel des Verstell signals, wenn der Laserstrahl auf das Substrat (21) konvergiert ist, und dem Pegel des Verstellsignals, wenn er auf die Aufzeichnungsschicht (22) konver giert ist, und
einer Phasenkompensationseinrichtung (12) zum Kompensieren der Phase des Fokusabweichungssignals;
gekennzeichnet durch
eine Umschalteinrichtung (13) zum Umschalten des Eingangssignals für die Antriebseinrichtung (10, 14) in solcher Weise, dass der Eingang das Ausgangssignal der Phasenkompensationseinrichtung (12) erhält, wenn eine Fokusregelung ausgeführt wird, er aber das Verstellsignal erhält, wenn die Dicke des Substrats beurteilt wird.
9. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 8, dadurch gekennzeichnet,
dass das Verstellsignal die Lichtkonvergiereinrichtung (5) in einem Bereich
verstellt, der sowohl die Oberfläche des Substrats (21) als auch die Aufzeich
nungsschicht (22) abdeckt.
10. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 8 oder 9, dadurch gekenn
zeichnet, dass die Beurteilungseinrichtung (16) die Pegeldifferenz mit einem
Bezugswert vergleicht und die Dicke des Substrats (21) auf Grundlage des Ver
gleichsergebnisses beurteilt.
11. Optisches Plattenlaufwerk nach einem der Ansprüche 8 bis 10, dadurch
gekennzeichnet, dass die Verstelleinrichtung und die Beurteilungseinrichtung
aus einem Mikroprozessor (16) bestehen.
12. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 10, dadurch gekennzeichnet,
dass der Bezugswert der Mittelwert aus der Pegeldifferenz des Verstellsignals,
wenn der Laserstrahl auf ein 1,2 mm dickes Substrat (21) konvergiert ist, und
der Pegeldifferenz des Verstellsignals, wenn der Laserstrahl auf ein 0,6 mm
dickes Substrat (21) konvergiert ist, ist.
13. Optisches Plattenlaufwerk mit:
einer Lichtkonvergiereinrichtung (5) zum Konvergieren eines Laserstrahls auf eine optische Platte (20) mit einem Substrat (21) und einer Auf zeichnungsschicht (22);
einer Verstelleinrichtung (10, 13, 14, 15, 16) zum Verstellen der Licht konvergiereinrichtung in der Dickenrichtung der optischen Platte;
einer Erfassungseinrichtung (11), und
einer Beurteilungseinrichtung (16) zum Beurteilen einer Dicke des Substrats (21),
dadurch gekennzeichnet, dass
die Erfassungseinrichtung (11) so ausgebildet ist, dass sie die Ände rung eines die Leistung des Laserstrahls angebenden Laserleistungs-Erfas sungssignals erfasst, wenn der Laserstrahl auf das Substrat konvergiert ist bzw. wenn er auf die Aufzeichnungsschicht konvergiert ist, während die Licht konvergiereinrichtung (5) verstellt wird; und
die Beurteilungseinrichtung (16) die Dicke des Substrats (21) auf Grundlage der Änderung des Laserleistungs-Erfassungssignals beurteilt.
einer Lichtkonvergiereinrichtung (5) zum Konvergieren eines Laserstrahls auf eine optische Platte (20) mit einem Substrat (21) und einer Auf zeichnungsschicht (22);
einer Verstelleinrichtung (10, 13, 14, 15, 16) zum Verstellen der Licht konvergiereinrichtung in der Dickenrichtung der optischen Platte;
einer Erfassungseinrichtung (11), und
einer Beurteilungseinrichtung (16) zum Beurteilen einer Dicke des Substrats (21),
dadurch gekennzeichnet, dass
die Erfassungseinrichtung (11) so ausgebildet ist, dass sie die Ände rung eines die Leistung des Laserstrahls angebenden Laserleistungs-Erfas sungssignals erfasst, wenn der Laserstrahl auf das Substrat konvergiert ist bzw. wenn er auf die Aufzeichnungsschicht konvergiert ist, während die Licht konvergiereinrichtung (5) verstellt wird; und
die Beurteilungseinrichtung (16) die Dicke des Substrats (21) auf Grundlage der Änderung des Laserleistungs-Erfassungssignals beurteilt.
14. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 13, dadurch gekennzeichnet,
dass die Verstelleinrichtung folgendes aufweist:
eine Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung (16) zum Erzeugen eines Verstellsignals, durch das die Lichtkonvergiereinrichtung (5) verstellt wird;
eine Antriebseinrichtung (10, 14) zum Verstellen der Lichtkonver giereinrichtung (5) in der Dickenrichtung der optischen Platte auf Grundlage des Verstellsignals.
eine Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung (16) zum Erzeugen eines Verstellsignals, durch das die Lichtkonvergiereinrichtung (5) verstellt wird;
eine Antriebseinrichtung (10, 14) zum Verstellen der Lichtkonver giereinrichtung (5) in der Dickenrichtung der optischen Platte auf Grundlage des Verstellsignals.
15. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 14, dadurch gekennzeichnet,
dass sich das Verstellsignal im Wesentlichen linear über die Zeit ändert und es
die Lichtkonvergiereinrichtung (4) in einem Bereich verstellt, der sowohl die
Oberfläche des Substrats (21) als auch die Aufzeichnungsschicht (22) über
deckt.
16. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 14, gekennzeichnet durch:
eine Phasenkompensationseinrichtung (12) zum Kompensieren der Phase des Fokusabweichungssignals; und
eine Umschalteinrichtung (13) zum Umschalten des Eingangssignals für die Antriebseinrichtung (10, 14) in solcher Weise, dass der Eingang das Ausgangssignal der Phasenkompensationseinrichtung (12) erhält, wenn eine Fokusregelung ausgeführt wird, er aber das Verstellsignal erhält, wenn die Dicke des Substrats (21) beurteilt wird.
eine Phasenkompensationseinrichtung (12) zum Kompensieren der Phase des Fokusabweichungssignals; und
eine Umschalteinrichtung (13) zum Umschalten des Eingangssignals für die Antriebseinrichtung (10, 14) in solcher Weise, dass der Eingang das Ausgangssignal der Phasenkompensationseinrichtung (12) erhält, wenn eine Fokusregelung ausgeführt wird, er aber das Verstellsignal erhält, wenn die Dicke des Substrats (21) beurteilt wird.
17. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 16, gekennzeichnet durch
eine D/A-Umsetzeinrichtung (15), durch die das Verstellsignal, das sich im
Wesentlichen linear mit der Zeit ändert, unter Steuerung durch die Verstell
signal-Erzeugungseinrichtung (16) ausgegeben wird.
18. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 17, dadurch gekennzeichnet,
dass die Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung und die Beurteilungseinrich
tung aus einem Mikroprozessor (16) bestehen.
19. Optisches Plattenlaufwerk nach einem der Ansprüche 13 bis 18,
gekennzeichnet durch eine Vergleichseinrichtung (17) zum Vergleichen der
Änderung des Laserleistungs-Erfassungssignals mit einer Bezugsspannung,
um ein Vergleichsergebnis in Form eines Impulssignals auszugeben, wobei die
Beurteilungseinrichtung die Dicke des Substrats (21) auf Grundlage dieses
Impulssignals beurteilt.
20. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 19, dadurch gekennzeichnet,
dass die Beurteilungseinrichtung das Zeitintervall des Impulssignals misst,
um dieses Zeitintervall mit einer Bezugszeit zu vergleichen, und sie die Dicke
des Substrats (21) auf Grundlage dieses Vergleichsergebnisses beurteilt.
21. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 20, dadurch gekennzeichnet,
dass die Bezugszeit der Mittelwert aus dem Zeitintervall ist, wie es gemessen
wird, wenn ein 1,2 mm dickes Substrat verwendet wird, und dem Zeitintervall,
wie es gemessen wird, wenn ein 0,6 mm dickes Substrat verwendet wird.
22. Optisches Plattenlaufwerk mit:
einer Lichtkonvergiereinrichtung (4) zum Konvergieren eines Laser strahls auf eine optische Platte (20) mit einem Substrat (21) und mindestens einer Aufzeichnungsschicht (22);
einer Verstelleinrichtung (10, 13, 14, 15, 16) zum Verstellen der Licht konvergiereinrichtung (4) in der Dickenrichtung der optischen Platte;
einer Erfassungseinrichtung (11) und
einer Beurteilungseinrichtung (16),
dadurch gekennzeichnet, dass
die Erfassungseinrichtung (11) so ausgebildet ist, dass sie die Ände rung eines die Leistung des Laserstrahls angebenden Laserleistungs-Erfassungssignals erfasst, wie sie entsteht, wenn der Laserstrahl auf das Substrat (21) oder auf eine jeweilige Aufzeichnungsschicht (22) konvergiert wird, während die Lichtkonvergiereinrichtung (4) verstellt wird; und
die Beurteilungseinrichtung (16) beurteilt, dass die Anzahl der Auf zeichnungsschichten (n - 1) ist, wenn n ≧ 2 gilt, wobei n die Anzahl von im Laserleistungs-Erfassungssignal erfassten Änderungen ist, und beurteilt, dass keine optische Platte eingesetzt ist, wenn n = 0 gilt.
einer Lichtkonvergiereinrichtung (4) zum Konvergieren eines Laser strahls auf eine optische Platte (20) mit einem Substrat (21) und mindestens einer Aufzeichnungsschicht (22);
einer Verstelleinrichtung (10, 13, 14, 15, 16) zum Verstellen der Licht konvergiereinrichtung (4) in der Dickenrichtung der optischen Platte;
einer Erfassungseinrichtung (11) und
einer Beurteilungseinrichtung (16),
dadurch gekennzeichnet, dass
die Erfassungseinrichtung (11) so ausgebildet ist, dass sie die Ände rung eines die Leistung des Laserstrahls angebenden Laserleistungs-Erfassungssignals erfasst, wie sie entsteht, wenn der Laserstrahl auf das Substrat (21) oder auf eine jeweilige Aufzeichnungsschicht (22) konvergiert wird, während die Lichtkonvergiereinrichtung (4) verstellt wird; und
die Beurteilungseinrichtung (16) beurteilt, dass die Anzahl der Auf zeichnungsschichten (n - 1) ist, wenn n ≧ 2 gilt, wobei n die Anzahl von im Laserleistungs-Erfassungssignal erfassten Änderungen ist, und beurteilt, dass keine optische Platte eingesetzt ist, wenn n = 0 gilt.
23. Optisches Plattenlaufwerk nach Anspruch 22, dadurch gekennzeichnet,
dass die Verstellsignal-Erzeugungseinrichtung und die Beurteilungseinrich
tung aus einem Mikroprozessor (16) bestehen.
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP30623995A JP3553241B2 (ja) | 1995-11-24 | 1995-11-24 | 光ディスク装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
DE19648768A1 DE19648768A1 (de) | 1997-05-28 |
DE19648768C2 true DE19648768C2 (de) | 2002-06-06 |
Family
ID=17954680
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
DE19648768A Expired - Fee Related DE19648768C2 (de) | 1995-11-24 | 1996-11-25 | Optisches Plattenlaufwerk |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US5831953A (de) |
JP (1) | JP3553241B2 (de) |
DE (1) | DE19648768C2 (de) |
Families Citing this family (19)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US6259668B1 (en) | 1996-02-14 | 2001-07-10 | Samsung Electronics Co., Ltd. | Recording/reproducing apparatus having an optical pickup device to read from and record information to disks of different thicknesses |
JPH1064180A (ja) * | 1996-08-21 | 1998-03-06 | Sony Corp | ディスクドライブ装置 |
DE69727989T2 (de) | 1996-09-25 | 2004-07-22 | Victor Company of Japan, Ltd., Yokohama | Gerät zur Festlegung des Typs einer Platte, Gerät zur Wiedergabe einer optischen Platte |
CN1171221C (zh) * | 1997-01-10 | 2004-10-13 | 索尼公司 | 光盘设备和光盘识别方法 |
JPH10199003A (ja) | 1997-01-10 | 1998-07-31 | Sony Corp | 光ディスク装置 |
WO1999040583A1 (fr) * | 1998-02-03 | 1999-08-12 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Procede servant a identifier un type de disque |
JP2000090554A (ja) * | 1998-09-10 | 2000-03-31 | Pioneer Electronic Corp | 光ディスク判別方法及び装置 |
KR100680657B1 (ko) * | 1998-10-02 | 2007-02-08 | 소니 가부시끼 가이샤 | 광디스크 재생장치 및 방법 |
JP3968984B2 (ja) * | 2000-10-05 | 2007-08-29 | 三菱電機株式会社 | 光ディスク再生装置およびディスク種別判別方法 |
JP3672020B2 (ja) | 2000-12-18 | 2005-07-13 | 日本電気株式会社 | 光ヘッド装置及び光学式情報記録再生装置 |
US6952382B2 (en) * | 2001-04-11 | 2005-10-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Recording/reproduction apparatus, recording/reproduction method and information recording medium |
US7145854B2 (en) * | 2001-07-10 | 2006-12-05 | Sony Computer Entertainment Inc. | Recording layer determination apparatus for determining whether recording layer of recording medium is single-layer or multi-layer |
JP2004055076A (ja) * | 2002-07-23 | 2004-02-19 | Yamaha Corp | 光ピックアップ及び光ディスク記録装置 |
JP3700688B2 (ja) * | 2002-07-30 | 2005-09-28 | 船井電機株式会社 | 光ディスク駆動装置、フォーカス制御装置およびフォーカス制御方法 |
JP4139751B2 (ja) * | 2002-08-26 | 2008-08-27 | 松下電器産業株式会社 | 光ディスク装置 |
JP2004185741A (ja) * | 2002-12-04 | 2004-07-02 | Mitsubishi Electric Corp | 光学式ディスク装置 |
US7512042B2 (en) * | 2004-07-16 | 2009-03-31 | Sanyo Electric Co., Ltd. | Method of controlling focus of optical disk recording and reproducing device |
JP2006031832A (ja) * | 2004-07-16 | 2006-02-02 | Sanyo Electric Co Ltd | 光ディスク記録再生装置のフォーカス制御方法 |
JP2011118959A (ja) | 2009-11-30 | 2011-06-16 | Hitachi-Lg Data Storage Inc | 光ディスク装置 |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4475182A (en) * | 1980-12-29 | 1984-10-02 | Universal Pioneer Corporation | Focus servo control system for automatically adjusting a relative distance between an objective lens unit and a recording surface of an optical recording medium |
US5090003A (en) * | 1988-08-09 | 1992-02-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for adjusting target position of focusing of light beam |
EP0658887A1 (de) * | 1993-12-15 | 1995-06-21 | International Business Machines Corporation | Optisches Medium mit Mehrfachdatenoberfläche und Datenspeichersystem |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH04162217A (ja) * | 1990-10-25 | 1992-06-05 | Mitsubishi Electric Corp | 光記録装置 |
JPH04364229A (ja) * | 1990-11-01 | 1992-12-16 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 光方式記録再生方法および記録媒体、光方式記録再生装置 |
JP3328652B2 (ja) * | 1991-08-28 | 2002-09-30 | 松下電器産業株式会社 | 光方式記録再生方法 |
JP3266627B2 (ja) * | 1991-10-11 | 2002-03-18 | 株式会社日立製作所 | 情報再生装置 |
JPH0814929B2 (ja) * | 1992-12-28 | 1996-02-14 | ティアック株式会社 | 光ディスク装置 |
JPH0765409A (ja) * | 1993-08-20 | 1995-03-10 | Ricoh Co Ltd | 光情報記録再生装置 |
KR960038847A (ko) * | 1995-04-10 | 1996-11-21 | 김광호 | 다층 구조를 가진 디스크의 검출방법 |
KR100234257B1 (ko) * | 1995-08-30 | 1999-12-15 | 윤종용 | 대물렌즈 장치 및 안정된 포커스 서보 신호를 얻는방법 및 이를 적용한 광픽업 장치 및 두께가 다른 디스크를 판별하는 방법 및 두께가 다른 디스크로부터 정보를 재생하고 기록하는 방법 |
-
1995
- 1995-11-24 JP JP30623995A patent/JP3553241B2/ja not_active Expired - Fee Related
-
1996
- 1996-11-21 US US08/754,534 patent/US5831953A/en not_active Expired - Lifetime
- 1996-11-25 DE DE19648768A patent/DE19648768C2/de not_active Expired - Fee Related
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4475182A (en) * | 1980-12-29 | 1984-10-02 | Universal Pioneer Corporation | Focus servo control system for automatically adjusting a relative distance between an objective lens unit and a recording surface of an optical recording medium |
US5090003A (en) * | 1988-08-09 | 1992-02-18 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Method and apparatus for adjusting target position of focusing of light beam |
EP0658887A1 (de) * | 1993-12-15 | 1995-06-21 | International Business Machines Corporation | Optisches Medium mit Mehrfachdatenoberfläche und Datenspeichersystem |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US5831953A (en) | 1998-11-03 |
DE19648768A1 (de) | 1997-05-28 |
JP3553241B2 (ja) | 2004-08-11 |
JPH09147369A (ja) | 1997-06-06 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
DE19648768C2 (de) | Optisches Plattenlaufwerk | |
DE3533647C2 (de) | Optisches Informationsaufzeichnungs- und Wiedergabegerät | |
DE3346114C2 (de) | Optisches Plattengerät | |
DE69030017T2 (de) | Optischer Plattenantrieb | |
DE69219735T2 (de) | Optische Abtasteinrichtung und Fokusservoeinrichtung dafür | |
DE3783406T2 (de) | Geraet zur datenaufzeichnung und -wiedergabe auf oder von einer optischen platte. | |
DE3618720C2 (de) | ||
DE69012945T2 (de) | Optische aufzeichnungs- und/oder -wiedergabegerät. | |
DE69833713T2 (de) | Positionssteuerungsvorrichtung für optischen Lesekopf | |
DE3217701C2 (de) | ||
DE3027318C2 (de) | Optisches Abtastsystem | |
DE60222851T2 (de) | Optisches Informationsverarbeitungsgerät und Verfahren zur Verarbeitung optischer Information | |
DE3414052A1 (de) | Spurfuehrungs-servoschaltung fuer optische abtastgeraete | |
DE69215179T2 (de) | System zur Reduktion des Rauschens in einem optischen Aufzeichnungs- und Wiedergabegerät durch eine Halbleiter-Laservorrichtung mit automatischer Leistungskontrolle | |
DE3730555C2 (de) | ||
DE69933251T2 (de) | Aufzeichnungstechnik für optische Platten zur Bildung von genau spurzentrierten Pits und Servoabgleicheinstellungstechnik zur Aufzeichnung auf optischen Platten | |
DE68923670T2 (de) | Plattenspieler mit Servokreis von variabler Übertragungsfunktion. | |
DE3047788A1 (de) | Optische aufzeichnungseinrichtung | |
DE3137099C2 (de) | Vorrichtung zur Erfassung der Position eines optischen Strahles | |
DE602005003393T2 (de) | Optisches Plattengerät, Verfahren zum Einstellen der Schleifenverstärkung und Programm zum Einstellen der Schleifenverstärkung | |
DE3831923A1 (de) | Optisches geraet zum fokussieren eines lichtstrahls auf ein objekt fuer datenaufzeichnung | |
DE60309542T2 (de) | Verfahren und Gerät zur Korrektur der sphärischen Aberration | |
DE3501609C2 (de) | ||
DE10066026B4 (de) | Scheibenantrieb | |
DE3610589A1 (de) | Aufzeichnungstraeger zur optischen informationsaufzeichnung und verfahren zur aufzeichnung und wiedergabe mit demselben |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
OP8 | Request for examination as to paragraph 44 patent law | ||
D2 | Grant after examination | ||
8364 | No opposition during term of opposition | ||
R119 | Application deemed withdrawn, or ip right lapsed, due to non-payment of renewal fee |
Effective date: 20120601 |